JPH1123417A - 光ファイバ線路監視システム - Google Patents
光ファイバ線路監視システムInfo
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- JPH1123417A JPH1123417A JP9177290A JP17729097A JPH1123417A JP H1123417 A JPH1123417 A JP H1123417A JP 9177290 A JP9177290 A JP 9177290A JP 17729097 A JP17729097 A JP 17729097A JP H1123417 A JPH1123417 A JP H1123417A
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- optical fiber
- optical
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- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 すべての光ファイバ線路の障害状態を的確に
把握することができる光ファイバ線路監視システムを提
供することを目的とする。 【解決手段】 本発明は、光ファイバ線路３1〜３nのそ
れぞれに複数の光カプラ８1〜８nを介して分岐光ファイ
バ９1〜９nを接続することにより、試験装置４からの試
験光を各分岐光ファイバから各光ファイバ線路に入射し
後方散乱光を各分岐光ファイバに分岐して各光ファイバ
線路の障害状態を監視する光ファイバ線路監視システム
において、分岐光ファイバ９1〜９nの一部の分岐光ファ
イバを連結光ファイバ１９に選択的に光結合させる光ス
イッチ５と、残りの分岐光ファイバ及び連結光ファイバ
をマスタ側光ファイバに選択的に光結合させる光スイッ
チ６とを備え、連結光ファイバとマスタ側光ファイバと
の端面間隔Ｌ２が残りの分岐光ファイバとマスタ側光フ
ァイバとの端面間隔Ｌ１より小さい構成である。
把握することができる光ファイバ線路監視システムを提
供することを目的とする。 【解決手段】 本発明は、光ファイバ線路３1〜３nのそ
れぞれに複数の光カプラ８1〜８nを介して分岐光ファイ
バ９1〜９nを接続することにより、試験装置４からの試
験光を各分岐光ファイバから各光ファイバ線路に入射し
後方散乱光を各分岐光ファイバに分岐して各光ファイバ
線路の障害状態を監視する光ファイバ線路監視システム
において、分岐光ファイバ９1〜９nの一部の分岐光ファ
イバを連結光ファイバ１９に選択的に光結合させる光ス
イッチ５と、残りの分岐光ファイバ及び連結光ファイバ
をマスタ側光ファイバに選択的に光結合させる光スイッ
チ６とを備え、連結光ファイバとマスタ側光ファイバと
の端面間隔Ｌ２が残りの分岐光ファイバとマスタ側光フ
ァイバとの端面間隔Ｌ１より小さい構成である。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光通信システムに
おける光ファイバ線路を監視する光ファイバ線路監視シ
ステムに関する。
おける光ファイバ線路を監視する光ファイバ線路監視シ
ステムに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来からある光通信システムにおける光
ファイバ線路監視システムでは、例えば、図３に示すよ
うに、伝送装置１００，１００間に敷設される複数本の
光ファイバ線路１０１のそれぞれに複数の光カプラ１０
２を介して分岐光ファイバ１０３1，１０３2，１０
４1，１０４2が接続され、この分岐光ファイバ１０
３1，１０３2，１０４1，１０４2は、第１の光スイッチ
１０５及び第２の光スイッチ１０６同士を光学的に連結
した二段連結型の光スイッチを介してＯＴＤＲ等の試験
装置１０７に接続されている。そして、試験装置１０７
から送出される試験光による各光ファイバ線路１０１か
らの後方散乱光が光カプラ１０２で分岐されて分岐光フ
ァイバ１０３1，１０３2，１０４1，１０４2に入射さ
れ、この後方散乱光が試験装置１０７で受光されること
により各光ファイバ線路１０１における障害状態が監視
されている。なお、一段のみの光スイッチではなく、二
段連結型の光スイッチが用いられるのは、既存の光ファ
イバ線路への新たな光ファイバ線路の増設に応じる等の
理由によるものである。
ファイバ線路監視システムでは、例えば、図３に示すよ
うに、伝送装置１００，１００間に敷設される複数本の
光ファイバ線路１０１のそれぞれに複数の光カプラ１０
２を介して分岐光ファイバ１０３1，１０３2，１０
４1，１０４2が接続され、この分岐光ファイバ１０
３1，１０３2，１０４1，１０４2は、第１の光スイッチ
１０５及び第２の光スイッチ１０６同士を光学的に連結
した二段連結型の光スイッチを介してＯＴＤＲ等の試験
装置１０７に接続されている。そして、試験装置１０７
から送出される試験光による各光ファイバ線路１０１か
らの後方散乱光が光カプラ１０２で分岐されて分岐光フ
ァイバ１０３1，１０３2，１０４1，１０４2に入射さ
れ、この後方散乱光が試験装置１０７で受光されること
により各光ファイバ線路１０１における障害状態が監視
されている。なお、一段のみの光スイッチではなく、二
段連結型の光スイッチが用いられるのは、既存の光ファ
イバ線路への新たな光ファイバ線路の増設に応じる等の
理由によるものである。
【０００３】そして、第１の光スイッチ１０５では、複
数の分岐光ファイバ１０３1，１０３2，１０４1，１０
４2のうちの一部の分岐光ファイバ１０３1，１０４
1と、第２の光スイッチ１０６から延びる連結光ファイ
バ１０９とが一定の端面間隔で光結合される。また、第
２の光スイッチ１０６では、分岐光ファイバ１０３1，
１０３2，１０４1，１０４2のうちの残りの分岐光ファ
イバ１０３2，１０４2と、試験装置１０７から延びるマ
スタ側光ファイバ１０８とが一定の端面間隔で選択的に
光結合される。そして、連結光ファイバ１０９の他端及
び各分岐光ファイバ１０３2，１０４2の各一端は、第２
の光スイッチ１０６において、一定の端面間隔Ｌ３でマ
スタ側光ファイバ１０８により選択的に光結合される。
数の分岐光ファイバ１０３1，１０３2，１０４1，１０
４2のうちの一部の分岐光ファイバ１０３1，１０４
1と、第２の光スイッチ１０６から延びる連結光ファイ
バ１０９とが一定の端面間隔で光結合される。また、第
２の光スイッチ１０６では、分岐光ファイバ１０３1，
１０３2，１０４1，１０４2のうちの残りの分岐光ファ
イバ１０３2，１０４2と、試験装置１０７から延びるマ
スタ側光ファイバ１０８とが一定の端面間隔で選択的に
光結合される。そして、連結光ファイバ１０９の他端及
び各分岐光ファイバ１０３2，１０４2の各一端は、第２
の光スイッチ１０６において、一定の端面間隔Ｌ３でマ
スタ側光ファイバ１０８により選択的に光結合される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た従来からある光ファイバ線路監視システム１１０は、
前述した構成を有するため、以下に示す問題点を有して
いた。
た従来からある光ファイバ線路監視システム１１０は、
前述した構成を有するため、以下に示す問題点を有して
いた。
【０００５】すなわち、従来からある光ファイバ線路監
視システム１１０は、マスタ側光ファイバ１０８が、連
結光ファイバ１０９の他端および第２の光スイッチ１０
６の各分岐光ファイバ１０３2，１０４2の各一端に対し
一定の端面間隔Ｌ３で移動される。このため、マスタ側
光ファイバ１０８から第２の光スイッチ１０６の分岐光
ファイバ１０３2，１０４2に試験光を入射させる場合よ
り、マスタ側光ファイバ１０８から連結光ファイバ１０
９に試験光を入射させる場合の方が光ファイバの接続点
が多くなるため、各光ファイバ線路１０１までの接続損
失が大きくなり、光損失の大きさに差が生じる。その結
果、光ファイバ線路１０１に通信異常等があっても光フ
ァイバ線路１０１のすべてについて同等な条件での試験
ができないという問題があった。
視システム１１０は、マスタ側光ファイバ１０８が、連
結光ファイバ１０９の他端および第２の光スイッチ１０
６の各分岐光ファイバ１０３2，１０４2の各一端に対し
一定の端面間隔Ｌ３で移動される。このため、マスタ側
光ファイバ１０８から第２の光スイッチ１０６の分岐光
ファイバ１０３2，１０４2に試験光を入射させる場合よ
り、マスタ側光ファイバ１０８から連結光ファイバ１０
９に試験光を入射させる場合の方が光ファイバの接続点
が多くなるため、各光ファイバ線路１０１までの接続損
失が大きくなり、光損失の大きさに差が生じる。その結
果、光ファイバ線路１０１に通信異常等があっても光フ
ァイバ線路１０１のすべてについて同等な条件での試験
ができないという問題があった。
【０００６】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たもので、すべての光ファイバ線路の障害状態を的確に
把握することができる光ファイバ線路監視システムを提
供することを目的とする。
たもので、すべての光ファイバ線路の障害状態を的確に
把握することができる光ファイバ線路監視システムを提
供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、複数本の光ファイバ線路のそれぞれに複
数の光カプラを介して複数本の分岐光ファイバを接続す
ることにより、試験装置からの試験光を各分岐光ファイ
バから各光ファイバ線路に入射すると共に、各光ファイ
バ線路からの後方散乱光を各分岐光ファイバに分岐し、
各光ファイバ線路の障害状態を監視する光ファイバ線路
監視システムにおいて、複数の分岐光ファイバのうちの
一部の分岐光ファイバを連結光ファイバに選択的に光結
合させる第１の光スイッチと、複数の分岐光ファイバの
うちの残りの分岐光ファイバ及び連結光ファイバを試験
装置から延びるマスタ側光ファイバに選択的に光結合さ
せる第２の光スイッチとを備え、連結光ファイバとマス
タ側光ファイバの端面間隔が、一部の分岐光ファイバと
マスタ側光ファイバの端面間隔より小さくなっているこ
とを特徴とする。
め、本発明は、複数本の光ファイバ線路のそれぞれに複
数の光カプラを介して複数本の分岐光ファイバを接続す
ることにより、試験装置からの試験光を各分岐光ファイ
バから各光ファイバ線路に入射すると共に、各光ファイ
バ線路からの後方散乱光を各分岐光ファイバに分岐し、
各光ファイバ線路の障害状態を監視する光ファイバ線路
監視システムにおいて、複数の分岐光ファイバのうちの
一部の分岐光ファイバを連結光ファイバに選択的に光結
合させる第１の光スイッチと、複数の分岐光ファイバの
うちの残りの分岐光ファイバ及び連結光ファイバを試験
装置から延びるマスタ側光ファイバに選択的に光結合さ
せる第２の光スイッチとを備え、連結光ファイバとマス
タ側光ファイバの端面間隔が、一部の分岐光ファイバと
マスタ側光ファイバの端面間隔より小さくなっているこ
とを特徴とする。
【０００８】この発明によれば、第２の光スイッチによ
って、連結光ファイバとマスタ側光ファイバとの端面間
隔が、分岐光ファイバとマスタ側光ファイバとの端面間
隔より小さい端面間隔で選択的に光結合されるため、マ
スタ側光ファイバから連結光ファイバに試験光を入射さ
せる場合における接続損失が減少され、試験装置から第
２の光スイッチ、第１の光スイッチを経由して光ファイ
バ線路に至るまでの全体としての光損失が減少される。
従って、この光損失と、マスタ側光ファイバから第２の
光スイッチの分岐光ファイバに試験光を入射させる場合
における試験装置から光ファイバ線路に至るまでの光損
失とを一致させることが可能となる。
って、連結光ファイバとマスタ側光ファイバとの端面間
隔が、分岐光ファイバとマスタ側光ファイバとの端面間
隔より小さい端面間隔で選択的に光結合されるため、マ
スタ側光ファイバから連結光ファイバに試験光を入射さ
せる場合における接続損失が減少され、試験装置から第
２の光スイッチ、第１の光スイッチを経由して光ファイ
バ線路に至るまでの全体としての光損失が減少される。
従って、この光損失と、マスタ側光ファイバから第２の
光スイッチの分岐光ファイバに試験光を入射させる場合
における試験装置から光ファイバ線路に至るまでの光損
失とを一致させることが可能となる。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、図面と共に本発明による光
ファイバ線路監視システムの好適な実施形態について詳
細に説明する。なお、全図中、同一又は相当する構成要
素には同一の符号を付し、重複する説明は省略する。
ファイバ線路監視システムの好適な実施形態について詳
細に説明する。なお、全図中、同一又は相当する構成要
素には同一の符号を付し、重複する説明は省略する。
【００１０】図１は、本発明に係る光ファイバ線路監視
システムの構成を示す概略図である。
システムの構成を示す概略図である。
【００１１】図１に示すように、光ファイバ線路監視シ
ステム１０は、伝送装置１と伝送装置２との間に敷設さ
れる複数本（ｎ本）の光ファイバ線路３1〜３nのそれぞ
れに光カプラ８1，８2，８3，…，８m，８m+1，８m+2，
８m+3，…，８nを設置しており、この光カプラ８1〜８n
のぞれぞれから２本ずつ試験用分岐光ファイバ９1，
９2，９3，９4，９5，９6，…，９m-1，９m，９m+1，９
m+2，９m+3，９m+4，９m +5，９m+6，…，９n-1，９nが
延びている。そして、試験用分岐光ファイバ９1〜９nの
うちの一部の試験用分岐光ファイバ９m+1〜９nは、第２
の光スイッチ６まで延びている。
ステム１０は、伝送装置１と伝送装置２との間に敷設さ
れる複数本（ｎ本）の光ファイバ線路３1〜３nのそれぞ
れに光カプラ８1，８2，８3，…，８m，８m+1，８m+2，
８m+3，…，８nを設置しており、この光カプラ８1〜８n
のぞれぞれから２本ずつ試験用分岐光ファイバ９1，
９2，９3，９4，９5，９6，…，９m-1，９m，９m+1，９
m+2，９m+3，９m+4，９m +5，９m+6，…，９n-1，９nが
延びている。そして、試験用分岐光ファイバ９1〜９nの
うちの一部の試験用分岐光ファイバ９m+1〜９nは、第２
の光スイッチ６まで延びている。
【００１２】更に、試験用分岐光ファイバ９1〜９nのう
ちの残りの試験用分岐光ファイバ９1〜９mは、第１の光
スイッチ５まで延びている。なお、第１の光スイッチ５
及び第２の光スイッチ６は、試験用連結光ファイバ１
９，２０によって連結されている。
ちの残りの試験用分岐光ファイバ９1〜９mは、第１の光
スイッチ５まで延びている。なお、第１の光スイッチ５
及び第２の光スイッチ６は、試験用連結光ファイバ１
９，２０によって連結されている。
【００１３】一方、光ファイバ線路監視システム１０
は、試験装置として、試験光を送り各光ファイバ線路３
1〜３nからの後方散乱光を受光するＯＴＤＲ１２を有し
ている。このＯＴＤＲ１２からは試験用マスタ側光ファ
イバ２６，２７が延びており、これらの各一端は第２の
光スイッチ６に接続されている。
は、試験装置として、試験光を送り各光ファイバ線路３
1〜３nからの後方散乱光を受光するＯＴＤＲ１２を有し
ている。このＯＴＤＲ１２からは試験用マスタ側光ファ
イバ２６，２７が延びており、これらの各一端は第２の
光スイッチ６に接続されている。
【００１４】図２は、第１の光スイッチ５および第２の
光スイッチ６の構成を示す概略平面図である。同図に示
すように、第１の光スイッチ５では、試験用分岐光ファ
イバ９1〜９mの各一端は、平板ベース１７上の光ファイ
バ配列部材１８の一面に並列に形成される複数のＶ溝
（図示せず）に収納されている。また、試験用連結光フ
ァイバ１９，２０の各一端は、第１の光スイッチ５にお
いて、試験用分岐光ファイバ９1〜９mの各一端と対向配
置されている。そして、連結光ファイバ１９，２０の各
一端は、移動機構２１によって分岐光ファイバ９1〜９m
の配列方向（矢印Ａ方向）に沿って一定の端面間隔をも
って移動されることにより、分岐光ファイバ９1〜９mと
選択的に光結合される。このとき、試験用連結光ファイ
バ１９，２０の各一端は、試験用分岐光ファイバ９1〜
９mの各一端に対向配置され、ＯＴＤＲ１２からの試験
光が試験用分岐光ファイバ９1〜９mを通して光ファイバ
線路３1〜３mに入射されるようになっている。
光スイッチ６の構成を示す概略平面図である。同図に示
すように、第１の光スイッチ５では、試験用分岐光ファ
イバ９1〜９mの各一端は、平板ベース１７上の光ファイ
バ配列部材１８の一面に並列に形成される複数のＶ溝
（図示せず）に収納されている。また、試験用連結光フ
ァイバ１９，２０の各一端は、第１の光スイッチ５にお
いて、試験用分岐光ファイバ９1〜９mの各一端と対向配
置されている。そして、連結光ファイバ１９，２０の各
一端は、移動機構２１によって分岐光ファイバ９1〜９m
の配列方向（矢印Ａ方向）に沿って一定の端面間隔をも
って移動されることにより、分岐光ファイバ９1〜９mと
選択的に光結合される。このとき、試験用連結光ファイ
バ１９，２０の各一端は、試験用分岐光ファイバ９1〜
９mの各一端に対向配置され、ＯＴＤＲ１２からの試験
光が試験用分岐光ファイバ９1〜９mを通して光ファイバ
線路３1〜３mに入射されるようになっている。
【００１５】なお、移動機構２１は、例えばベース１７
の一面に垂直に延びる一対の側板２２ａ，２２ｂと、こ
の側板２２ａ，２２ｂ同士を結ぶボールねじ２３と、こ
のボールねじ２３にねじ係合される可動体２４と、可動
体２４に取り付けられ、試験用連結光ファイバ１９，２
０の各一端を矢印Ａ方向に直交するように保持する可動
ヘッド２５とで構成され、また、図示しない別の機構に
より可動ヘッド２５が光ファイバ配列部材１８のＶ溝に
収納される。
の一面に垂直に延びる一対の側板２２ａ，２２ｂと、こ
の側板２２ａ，２２ｂ同士を結ぶボールねじ２３と、こ
のボールねじ２３にねじ係合される可動体２４と、可動
体２４に取り付けられ、試験用連結光ファイバ１９，２
０の各一端を矢印Ａ方向に直交するように保持する可動
ヘッド２５とで構成され、また、図示しない別の機構に
より可動ヘッド２５が光ファイバ配列部材１８のＶ溝に
収納される。
【００１６】一方、第２の光スイッチ６には、試験用分
岐光ファイバ９m+1〜９nの各一端が光ファイバ配列部材
１８のＶ溝（図示せず）に収納されている。また、第２
の光スイッチ６には、試験用マスタ側光ファイバ２６，
２７の各一端が、試験用分岐光ファイバ９m+1〜９nの各
一端と対向配置されている。そして、これらのマスタ側
光ファイバ２６，２７が移動機構２１によって矢印Ａ方
向に沿って一定の端面間隔Ｌ１をもって移動される。
岐光ファイバ９m+1〜９nの各一端が光ファイバ配列部材
１８のＶ溝（図示せず）に収納されている。また、第２
の光スイッチ６には、試験用マスタ側光ファイバ２６，
２７の各一端が、試験用分岐光ファイバ９m+1〜９nの各
一端と対向配置されている。そして、これらのマスタ側
光ファイバ２６，２７が移動機構２１によって矢印Ａ方
向に沿って一定の端面間隔Ｌ１をもって移動される。
【００１７】更に、第２の光スイッチ６では、その光フ
ァイバ配列部材１８のＶ溝に、第１の光スイッチ５から
延びる試験用連結光ファイバ１９，２０の他端（以下、
固定端という）が収納されている。ここで、連結光ファ
イバ１９，２０は、その各固定端の端面が、各試験用分
岐光ファイバ９m+1〜９nの各端面よりマスタ側光ファイ
バ２６，２７側に進出し、マスタ側光ファイバ２６，２
７の端面と連結光ファイバ１９，２０の端面との端面間
隔Ｌ２（例えば１０μｍ）が、端面間隔Ｌ１（例えば４
０μｍ）より小さくなっている。
ァイバ配列部材１８のＶ溝に、第１の光スイッチ５から
延びる試験用連結光ファイバ１９，２０の他端（以下、
固定端という）が収納されている。ここで、連結光ファ
イバ１９，２０は、その各固定端の端面が、各試験用分
岐光ファイバ９m+1〜９nの各端面よりマスタ側光ファイ
バ２６，２７側に進出し、マスタ側光ファイバ２６，２
７の端面と連結光ファイバ１９，２０の端面との端面間
隔Ｌ２（例えば１０μｍ）が、端面間隔Ｌ１（例えば４
０μｍ）より小さくなっている。
【００１８】このような端面間隔Ｌ１，Ｌ２は、第２の
光スイッチ６の光ファイバ配列部材１８の分岐光ファイ
バ９m+1〜９nを固定する際に、マスタ側光ファイバ２
６，２７に試験光を入射し、その試験光を試験用分岐光
ファイバ９1〜９nの途中に設けられた光コネクタ（図示
せず）で検出しつつ適宜調整される。
光スイッチ６の光ファイバ配列部材１８の分岐光ファイ
バ９m+1〜９nを固定する際に、マスタ側光ファイバ２
６，２７に試験光を入射し、その試験光を試験用分岐光
ファイバ９1〜９nの途中に設けられた光コネクタ（図示
せず）で検出しつつ適宜調整される。
【００１９】以上のような構成をもった光ファイバ線路
監視システム１０によれば、ＯＴＤＲ１２から試験用マ
スタ側光ファイバ２６，２７を通って出射された試験光
は、例えば試験用分岐光ファイバ９m+2及び光カプラ８
m+2を通って光ファイバ線路３m+2に入射される。そし
て、その光ファイバ線路３m+2からの後方散乱光が同じ
経路を逆行してＯＴＤＲ１２で受光される。また、ＯＴ
ＤＲ１２から試験用マスタ側光ファイバ２６を通って出
射された試験光は、例えば試験用連結光ファイバ１９を
通って試験用分岐光ファイバ９2に入射され、光カプラ
８2を通って光ファイバ線路３2に入射される。そして、
その光ファイバ線路３2からの後方散乱光が同じ経路を
逆行してＯＴＤＲ１２で受光され、これにより各光ファ
イバ線路３1〜３nの障害状態が検出される。
監視システム１０によれば、ＯＴＤＲ１２から試験用マ
スタ側光ファイバ２６，２７を通って出射された試験光
は、例えば試験用分岐光ファイバ９m+2及び光カプラ８
m+2を通って光ファイバ線路３m+2に入射される。そし
て、その光ファイバ線路３m+2からの後方散乱光が同じ
経路を逆行してＯＴＤＲ１２で受光される。また、ＯＴ
ＤＲ１２から試験用マスタ側光ファイバ２６を通って出
射された試験光は、例えば試験用連結光ファイバ１９を
通って試験用分岐光ファイバ９2に入射され、光カプラ
８2を通って光ファイバ線路３2に入射される。そして、
その光ファイバ線路３2からの後方散乱光が同じ経路を
逆行してＯＴＤＲ１２で受光され、これにより各光ファ
イバ線路３1〜３nの障害状態が検出される。
【００２０】このとき、第２の光スイッチ６によって、
試験用連結光ファイバ１９の固定端が、試験用マスタ側
光ファイバ２６と、端面間隔Ｌ１より小さい端面間隔Ｌ
２で選択的に光結合されるため、試験用マスタ側光ファ
イバ２６，２７から試験用連結光ファイバ１９，２０に
試験光を入射させる場合における接続損失が減少され、
ＯＴＤＲ１２から光ファイバ線路３1〜３mに至るまでの
全体としての光損失が減少される。従って、この光損失
と、試験用マスタ側光ファイバ２６から第２の光スイッ
チ６の試験用分岐光ファイバ９m+1〜９nに試験光を入射
させる場合におけるＯＴＤＲ１２から光ファイバ線路３
m+1〜３nに至るまでの光損失とを一致させることが可能
となる。その結果、第２の光スイッチ６から光ファイバ
線路３m+ 1〜３nに入射される光量と、第１の光スイッチ
５から光ファイバ線路３1〜３mに入射される光量とを一
致させることができ、すべての光ファイバ線路３1〜３n
の障害状態を的確に把握することができる。
試験用連結光ファイバ１９の固定端が、試験用マスタ側
光ファイバ２６と、端面間隔Ｌ１より小さい端面間隔Ｌ
２で選択的に光結合されるため、試験用マスタ側光ファ
イバ２６，２７から試験用連結光ファイバ１９，２０に
試験光を入射させる場合における接続損失が減少され、
ＯＴＤＲ１２から光ファイバ線路３1〜３mに至るまでの
全体としての光損失が減少される。従って、この光損失
と、試験用マスタ側光ファイバ２６から第２の光スイッ
チ６の試験用分岐光ファイバ９m+1〜９nに試験光を入射
させる場合におけるＯＴＤＲ１２から光ファイバ線路３
m+1〜３nに至るまでの光損失とを一致させることが可能
となる。その結果、第２の光スイッチ６から光ファイバ
線路３m+ 1〜３nに入射される光量と、第１の光スイッチ
５から光ファイバ線路３1〜３mに入射される光量とを一
致させることができ、すべての光ファイバ線路３1〜３n
の障害状態を的確に把握することができる。
【００２１】本発明は、前述した実施形態に限定されな
い。例えば、第１の光スイッチ５は、１台に限定され
ず、複数台設けることも可能である。この場合、第１の
光スイッチ５の数に応じて試験用連結光ファイバが設け
られる。
い。例えば、第１の光スイッチ５は、１台に限定され
ず、複数台設けることも可能である。この場合、第１の
光スイッチ５の数に応じて試験用連結光ファイバが設け
られる。
【００２２】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、試験
装置からマスタ側光ファイバ、分岐光ファイバを通って
光ファイバ線路に至るまでの経路における光損失と、試
験装置からマスタ側光ファイバ、連結光ファイバ、およ
び分岐光ファイバを通って光ファイバ線路に至るまでの
経路における光損失とを一致させることができ、すべて
の光ファイバ線路についてその障害状態を的確に把握す
ることができる。
装置からマスタ側光ファイバ、分岐光ファイバを通って
光ファイバ線路に至るまでの経路における光損失と、試
験装置からマスタ側光ファイバ、連結光ファイバ、およ
び分岐光ファイバを通って光ファイバ線路に至るまでの
経路における光損失とを一致させることができ、すべて
の光ファイバ線路についてその障害状態を的確に把握す
ることができる。
【図１】本発明に係る光ファイバ線路監視システムの好
適な実施形態を示す概略図である。
適な実施形態を示す概略図である。
【図２】図１の第１の光スイッチおよび第２の光スイッ
チの構成を示す概略平面図である。
チの構成を示す概略平面図である。
【図３】従来の光ファイバ線路監視システムの構成を示
す概略図である。
す概略図である。
３1〜３n…光ファイバ線路、５…第１の光スイッチ、６
…第２の光スイッチ、８1〜８n…光カプラ、９1〜９n…
試験用分岐光ファイバ（分岐光ファイバ）、１０…光フ
ァイバ線路監視システム、１２…ＯＴＤＲ（試験装
置）、２６，２７…マスタ側光ファイバ、１９，２０…
連結光ファイバ、Ｌ１…端面間隔、Ｌ２…端面間隔。
…第２の光スイッチ、８1〜８n…光カプラ、９1〜９n…
試験用分岐光ファイバ（分岐光ファイバ）、１０…光フ
ァイバ線路監視システム、１２…ＯＴＤＲ（試験装
置）、２６，２７…マスタ側光ファイバ、１９，２０…
連結光ファイバ、Ｌ１…端面間隔、Ｌ２…端面間隔。
Claims (1)
- 【請求項１】 複数本の光ファイバ線路のそれぞれに複
数の光カプラを介して複数本の分岐光ファイバを接続す
ることにより、試験装置からの試験光を前記各分岐光フ
ァイバから前記各光ファイバ線路に入射すると共に、前
記各光ファイバ線路からの後方散乱光を前記各分岐光フ
ァイバに分岐し、前記各光ファイバ線路の障害状態を監
視する光ファイバ線路監視システムにおいて、 前記複数の分岐光ファイバのうちの一部の分岐光ファイ
バを連結光ファイバに選択的に光結合させる第１の光ス
イッチと前記複数の分岐光ファイバのうちの残りの分岐
光ファイバ及び前記連結光ファイバを前記試験装置から
延びるマスタ側光ファイバに選択的に光結合させる第２
の光スイッチとを備え、 前記連結光ファイバと前記マスタ側光ファイバの端面間
隔が、前記残りの分岐光ファイバと前記マスタ側光ファ
イバの端面間隔より小さくなっている、ことを特徴とす
る光ファイバ線路監視システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9177290A JPH1123417A (ja) | 1997-07-02 | 1997-07-02 | 光ファイバ線路監視システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9177290A JPH1123417A (ja) | 1997-07-02 | 1997-07-02 | 光ファイバ線路監視システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1123417A true JPH1123417A (ja) | 1999-01-29 |
Family
ID=16028442
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9177290A Pending JPH1123417A (ja) | 1997-07-02 | 1997-07-02 | 光ファイバ線路監視システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1123417A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6829400B2 (en) | 2001-03-26 | 2004-12-07 | Olympus Corporation | Optical path switching apparatus |
| WO2024047699A1 (ja) * | 2022-08-29 | 2024-03-07 | 日本電信電話株式会社 | 光線路監視システム、光線路監視装置及び光線路監視方法 |
-
1997
- 1997-07-02 JP JP9177290A patent/JPH1123417A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6829400B2 (en) | 2001-03-26 | 2004-12-07 | Olympus Corporation | Optical path switching apparatus |
| WO2024047699A1 (ja) * | 2022-08-29 | 2024-03-07 | 日本電信電話株式会社 | 光線路監視システム、光線路監視装置及び光線路監視方法 |
| JPWO2024047699A1 (ja) * | 2022-08-29 | 2024-03-07 |
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