JPH11243328A5 - - Google Patents
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- JPH11243328A5 JPH11243328A5 JP1998113771A JP11377198A JPH11243328A5 JP H11243328 A5 JPH11243328 A5 JP H11243328A5 JP 1998113771 A JP1998113771 A JP 1998113771A JP 11377198 A JP11377198 A JP 11377198A JP H11243328 A5 JPH11243328 A5 JP H11243328A5
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Description
【0002】
【従来の技術】
外部から入力された同期信号、例えば、クロック信号に同期して動作する集積回路において、その外部クロック信号に同期して、内部で一定の幅を持つパルスを生成することがある。一般的に、このような機能は単安定マルチバイブレータにより実現できる。単安定マルチバイブレータは、外部クロック信号の波形に依存せず、外部クロック信号のレベル変化のエッジ、例えば、立ち上がりエッジまたは立ち下がりエッジに同期して所望の幅を持つパルスを生成する。このように外部クロック信号に同期して、LSI(集積回路)内部でパルスを生成し、それに応じてLSIの内部動作を制御することによって、内部回路の動作の安定性が図れる。
【従来の技術】
外部から入力された同期信号、例えば、クロック信号に同期して動作する集積回路において、その外部クロック信号に同期して、内部で一定の幅を持つパルスを生成することがある。一般的に、このような機能は単安定マルチバイブレータにより実現できる。単安定マルチバイブレータは、外部クロック信号の波形に依存せず、外部クロック信号のレベル変化のエッジ、例えば、立ち上がりエッジまたは立ち下がりエッジに同期して所望の幅を持つパルスを生成する。このように外部クロック信号に同期して、LSI(集積回路)内部でパルスを生成し、それに応じてLSIの内部動作を制御することによって、内部回路の動作の安定性が図れる。
外部クロック信号波形が変動する要因は、使用条件、装置の特性、ノイズなどによるものがある。例えば、LSIの使用条件に応じて、外部クロック信号の周波数、デューティ比、ロジックの高(ハイ)レベルの電圧および低(ロー)レベルの電圧が変化する。または、装置の特性により、外部クロック信号の立ち上がり時間および立ち下がり時間が影響される。さらに、リンギング、オーバーシュートおよびアンダシュートなどの波形ひずみにより、外部クロック信号の波形が崩れることがある。
パルス幅が伸長されたパルスCに対して、インバータINV2、遅延回路DLY3およびANDゲートAND2からなる信号変化検出回路により、一定の幅を有するパルスEが生成される。ここで、例えば遅延回路DLY3の遅延時間をtd2とすると、図17に示すように、幅td2のパルスEが生成される。且つ、入力信号Aの幅が狭い場合でも、遅延回路DLY2の遅延時間td1を十分長く設定することにより、正常な幅のパルスEを生成可能である。即ち、図14に示す信号変化検出回路が持つ課題をある程度は回避可能である。
【0021】
【発明の実施の形態】
第1実施形態
図1は本発明に係る信号変化検出回路の第1の実施形態を示す回路図である。
図示のように、本例の信号変化検出回路は、セット優先セットリセットフリップフロップ(以下、単にフリップフロップという)RSFF1と、遅延回路DLY1と、高(ハイ)レベルの信号をクロック制御し、低(ロー)レベルの信号を通過させる信号伝達制御回路DCNTL1と、信号変化検出回路の内部ノードND01の信号レベルを保持するラッチ回路LAT1とにより構成されている。
【発明の実施の形態】
第1実施形態
図1は本発明に係る信号変化検出回路の第1の実施形態を示す回路図である。
図示のように、本例の信号変化検出回路は、セット優先セットリセットフリップフロップ(以下、単にフリップフロップという)RSFF1と、遅延回路DLY1と、高(ハイ)レベルの信号をクロック制御し、低(ロー)レベルの信号を通過させる信号伝達制御回路DCNTL1と、信号変化検出回路の内部ノードND01の信号レベルを保持するラッチ回路LAT1とにより構成されている。
次いで、入力信号SINが"1"から"0"に、即ち、ハイレベルからローレベルに変化すると、伝達制御回路DCNTL1において、pMOSトランジスタMP1が導通し、出力が"1"に反転する。また、出力信号SOUT 、即ちフリップフロップRSFF1のセット入力Sが"1"に変化することにより、フリップフロップRSFF1がセットされ、反転出力信号Bは"0"に変化する。反転出力信号Bを遅延させた信号Bdは、遅延回路DLY1の遅延時間τだけ遅れて"0"に反転する。遅延回路DLY1の出力信号Bdが"0"に反転すると、伝達制御回路DCNTL1は入力信号SINの信号レベルにかかわらず信号"0"を通過させるため、信号変化検出回路の出力信号SOUT は"0"に反転し、ほぼ遅延回路DLY1の遅延時間τに相当する幅のパルスを出力する。即ち、図1に示す回路は、入力信号SINの"1"から"0"への信号変化(立ち下がりエッジ)を検出する信号変化検出回路として動作する。
第2実施形態
図3は本発明の第2の実施形態を示す回路図である。本実施形態において、第1の実施形態と異なるのは、フリップフロップRSFF2の入力および出力の極性が第1実施形態と逆になることと、伝達制御回路DCNTL2は入力信号SINが"1"(ハイ)レベルのときデータ信号を通過させ、データ信号の"1"レベルを無条件に通過させることと、ラッチ回路LAT2はノードND02の"1"レベル、即ち、ハイレベルを保持することである。
図3は本発明の第2の実施形態を示す回路図である。本実施形態において、第1の実施形態と異なるのは、フリップフロップRSFF2の入力および出力の極性が第1実施形態と逆になることと、伝達制御回路DCNTL2は入力信号SINが"1"(ハイ)レベルのときデータ信号を通過させ、データ信号の"1"レベルを無条件に通過させることと、ラッチ回路LAT2はノードND02の"1"レベル、即ち、ハイレベルを保持することである。
第5実施形態
優先入力つきセットリセットフリップフロップの例を、図7に示す。
図7(a)は優先入力側のトランジスタの駆動能力を他方に対して大きく設定することにより、セット優先にもリセット優先にもなる例である。
同図(b)及び同図(c)はソースフォロア側の入力に対し、他方の入力が優先入力となる例である。通常同一サイズのトランジスタを用いても、十分駆動能力の比はとれる。
優先入力つきセットリセットフリップフロップの例を、図7に示す。
図7(a)は優先入力側のトランジスタの駆動能力を他方に対して大きく設定することにより、セット優先にもリセット優先にもなる例である。
同図(b)及び同図(c)はソースフォロア側の入力に対し、他方の入力が優先入力となる例である。通常同一サイズのトランジスタを用いても、十分駆動能力の比はとれる。
さらに、入力したクロック信号/CKの波形が、例えば、装置の特性により歪み、立ち上がり時間および立ち下がり時間が延びた場合でも、インバータINV15の働きにより、ノードND1の信号の波形の特性がある程度改善され、立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジがともに急峻に整形される。これによって、本実施形態においては、信号変化検出回路の動作安定性がさらに向上する。
第9実施形態
図12は本発明に係る信号変化検出回路の第9の実施形態を示す回路図である。
図示のように、本実施形態の信号変化検出回路は、図11に示す第8の実施形態の信号変化検出回路に較べて異なる点は、クロック信号/CKと電源投入検出信号/PONを論理合成手段としてNAND1がINV15にかわって設けられている点である。さらに、ノードND2とパルスの出力端子との間に、インバータINV16が接続されている。
図12は本発明に係る信号変化検出回路の第9の実施形態を示す回路図である。
図示のように、本実施形態の信号変化検出回路は、図11に示す第8の実施形態の信号変化検出回路に較べて異なる点は、クロック信号/CKと電源投入検出信号/PONを論理合成手段としてNAND1がINV15にかわって設けられている点である。さらに、ノードND2とパルスの出力端子との間に、インバータINV16が接続されている。
このため、フューズF1が接続した状態では、ノードND6がローレベルに保持され、インバータINV18の出力端子がハイレベルに保持される。このため、トランスファゲートTG1がオン状態、トランスファゲートTG2がオフ状態にそれぞれ設定される。
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-
1998
- 1998-04-23 JP JP11377198A patent/JP3903588B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1998-07-30 US US09/124,830 patent/US6081144A/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-07-31 EP EP98401965A patent/EP0895356A3/de not_active Withdrawn
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