JPH11248417A - 観察装置 - Google Patents

観察装置

Info

Publication number
JPH11248417A
JPH11248417A JP10073149A JP7314998A JPH11248417A JP H11248417 A JPH11248417 A JP H11248417A JP 10073149 A JP10073149 A JP 10073149A JP 7314998 A JP7314998 A JP 7314998A JP H11248417 A JPH11248417 A JP H11248417A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mirror
light
observation
plane
branch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10073149A
Other languages
English (en)
Inventor
Masanori Kato
正紀 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP10073149A priority Critical patent/JPH11248417A/ja
Publication of JPH11248417A publication Critical patent/JPH11248417A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】照明光と観察光を分岐する分岐ミラーを照明光
透過にて使用する場合において、使用する照明光の波長
によるm方向での照射角差、及びm方向とs方向での照
射角差が生じず、デフォーカスがあったときでも測定誤
差、位置ズレが発生しない高精度の観察装置を提供す
る。 【解決手段】波長の異なる複数の光束又は波長幅を有す
る光束を発する光源1と、分岐ミラー11と、リレーレ
ンズ系5と、照明光jを物体14に導き且つ物体14か
ら発した観察光kを分岐ミラー11に導く第1対物レン
ズ13と、撮像手段18と、観察光kを撮像手段18に
導く第2対物レンズ15とを有する観察装置において、
物体14を照射する各波長毎の主光線の照射角がm方向
について互いにほぼ等しくなるようにする補正部材10
を、光源1と分岐ミラー11との間に介在させたことを
特徴とする観察装置である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、物体を観察する観
察装置に関し、特にウエハのパターンの検査・測定や、
露光装置におけるウエハの位置合わせ等、高精度に物体
の位置を計測する際に用いる観察装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より観察装置は、落射照明系の一部
にビームスプリッタを用いており、これにより照明光の
光路と観察光の光路とを分岐している。ビームスプリッ
タは、非偏光ハーフミラー又は偏光ハーフミラーを用い
るミラー型と、非偏光ハーフプリズム又は偏光プリズム
を用いるプリズム型とに大別される。更に照明光光路と
観察光光路の分岐方法は、照明光を透過にて使用する照
明光透過型と、反射にて使用する照明光反射型との2つ
に分かれる。プリズム型のビームスプリッタにおいて
は、照明光がプリズムの表面で反射し観察系に入射し
て、これがフレアーとして観察されて、物体のコントラ
ストを低下させていた。しかし近年、反射防止膜の性能
向上と、観察系に使用する撮像素子の発達、更には、画
像処理技術の向上により、こういった問題もかなり改善
されており、プリズム型もそれ程高精度の求められない
観察装置等で制限的に用いられるようになっている。
【0003】一方、分岐方法については、一般に照明光
反射型の方が照明光透過型に比べて、結像の際に分岐ミ
ラーの面精度の影響を受けにくい(約4倍異なる)た
め、照明光反射型が主流であった。しかし、近年の分岐
ミラー研磨技術の向上により、こういった両者の結像の
差異はほとんどなくなっている。よって両者の差異は、
光源やリレーレンズ系や対物レンズ等の構成部材の配置
のみとなっている。このように、高精度の求められる観
察装置においても、その設置スペースとの兼ね合いで、
照明光透過型が選択されるケースが増えている。
【0004】次に、ミラー型・照明光透過型の観察装置
の従来例を図5にて説明する。光源(不図示)から発せ
られた光束は、ライトガイド4にてリレーレンズ系5に
導かれる。リレーレンズ系5の第1リレーレンズ6と第
2リレーレンズ7を通過した光束は、分岐ミラー11
(ハーフミラー)を透過して、第1対物レンズ13を介
して物体14を照明する。この光束すなわち照明光j
は、物体14をムラ無く照明するために、いわゆるケー
ラー照明が用いられており、物体14上でライトガイド
射出部4b(2次光源像)が無限遠になるように、リレ
ーレンズ系5によりライトガイド射出部4bの像を第1
対物レンズ13の後側焦点位置付近に形成している。物
体14から発した観察光kは、第1対物レンズ13を通
過し、分岐ミラー11で反射して、第2対物レンズ15
を介して、撮像素子であるCCD18上に結像される。
ここで、パターンの検査や測定、露光装置のウエハの位
置合わせ等の高精度に物体14の位置を計測する観察装
置では、物体14のデフォーカスにより倍率が異なった
り、位置ズレが生じることを避けるため、第1対物レン
ズ13の後側焦点位置近傍に開口絞り12を配置して、
物体側にテレセントリックとなるようにしている。また
分岐ミラー11の反射面は、高い面精度で研磨されてお
り、面精度による観察光kへの影響を少なくしている。
更に、取り付け等による分岐ミラー11の変形を避ける
ために、分岐ミラー11の厚さは充分厚くしてある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術の観察装
置を、特に高精度に物体の位置を計測する観察装置とし
て使用する場合、2つの収差上の問題が生じる。1つ
は、波長の異なる複数の光束又は波長幅を有する光束が
照明光として使用された場合に、その照明光が分岐ミラ
ーを透過することにより、物体を照射する主光線の照射
角が、分岐ミラーの法線を物体面に投影した方向(以
下、m方向と呼ぶ。)について、各波長毎で異なってし
まうことである。もう1つは、照明光が分岐ミラーを透
過することにより、m方向での主光線の照射角と、物体
面上でm方向と直交する方向(以下、s方向と呼ぶ。)
での主光線の照射角とが異なってしまうことである。ど
ちらにおいても、物体がデフォーカスしたときに測定誤
差、位置ズレを生じることになる。以下に、これらの2
つの問題を詳細に説明する。
【0006】まず、m方向における各波長(d線、g
線、c線)の主光線Rd、Rg、Rcの照射角の違いを、
図6によって説明する。照明光が分岐ミラーを透過する
際、その波長により、m方向について透過後のシフト量
が異なる。波長の基準をd線としたとき、g線、c線の
d線に対するシフト量Δg、Δcは、スネルの式より、 但し、d:分岐ミラーの厚さ nd、ng、nc:分岐ミラーのd線、g線、c線に対す
る屈折率 θ:分岐ミラーの傾斜角 となる。このシフト量Δg、Δcは、開口絞り12上で
のd線に対するm方向の位置ズレであり、これらがその
まま第1対物レンズ13を介し物体14を照明する際の
d線に対する角度ズレとなる。基準となるd線が垂直入
射(照射角αd=0)する場合、物体14を照明するg
線、c線の照射角αg、αcは、 αg=Δg/f1 (3) αc=Δc/f1 (4) 但し、f1:第1対物レンズの焦点距離 となる。
【0007】以下具体的な例を示す。第1対物レンズの
焦点距離をf1=10mm、分岐ミラーの厚さをd=6
mm、分岐ミラーの傾斜角をθ=45°、硝材をBK7
(nd=1.51680、ng=1.52669,nc
1.51432)として、これらを(1)、(2)、
(3)、(4)式に代入すると、 αg=1.85mrad αc=−0.47mrad となる。よって、g線とc線における照射角の差(αg
−αc)は、2.32mradとなる。
【0008】実際に波長依存性のある物体を観察する場
合、例えば、液晶パネル等に用いられているカラーフィ
ルタを製造する際に用いるカラーレジストや、段差構造
をもつ位相物体等を観察する場合には、CCDに撮像可
能な光がある波長域に限定される。これらの物体を測
定、観察するとき、複数の波長の照明光を用いることに
なるため、上述したm方向における波長毎の照射角差が
生じることになる。その際、物体のデフォーカスが生じ
れば、その計測値は誤差を含んだ値となる。仮に、g線
に対して反射特性をもつ物体と、c線に対して反射特性
をもつ物体とを、同じデフォーカス量Δzにて計測する
とき、これら2つの物体間に生じる計測差δは、 δ=(αg−αc)・Δz (5) となる。
【0009】次に、照明光が分岐ミラーを透過すること
によるm方向とs方向の主光線Rm、Rsの照射角の違い
を、図7によって説明する。平行平面板の非点収差の式
より、光源の結像位置のm方向とs方向の非点隔差(ア
ス量)Δm-sは、 Δm-s=d・(n2−1)・sin2θ・(n2−sin2θ)-3/2 (6) 但し、θ:分岐ミラーの傾斜角 n:分岐ミラーの屈折率 d:分岐ミラーの厚さ で求められる。第1対物レンズ13の後側焦点面上に結
ぶ光束は、m方向とs方向で、このアス量Δm-sずれる
ことになる。ここで、s方向の光束が第1対物レンズ1
3の後側焦点位置になるように配置したとき、m方向の
照射角βmは、近似的に求めて、 βm=〔Δm-s・(y′/f1)〕/f1 (7) 但し、f1:第1対物レンズの焦点距離 y′:像高 となる。
【0010】以下具体的な例を示す。光束はd線を使用
して、第1対物レンズの焦点距離をf1=10mm、分
岐ミラーの厚さをd=6mm、分岐ミラーの傾斜角をθ
=45°、硝材をBK7(nd=1.51680)と
し、更に、像高をy′=0.25mmとして、これらを
(6)、(7)式に代入すると、照射角βmdは、 βmd=4.04mrad となる。また、上記具体例と同条件にて、g線(ng
1.52669)を使用したとき、その照射角βmgは、 βmg=4.03mrad となる。このように、波長差によるm方向の照射角βm
の違いは、極僅かである。第1対物レンズの後側焦点位
置で照明光が、m方向、s方向ともに波長による差が僅
かに生じるが、アス量はほとんどない。すなわち、分岐
ミラー等の平行平面板を照明光透過にて用いた場合、m
方向、s方向とも単に平行平面板を挿入したときに生じ
る軸上色収差分だけ波長ずれが発生する。
【0011】このように、物体を測定、観察する際、そ
の視野の位置により平行平面板のm方向とs方向での照
射角が異なるため、デフォーカスが生じればその計測値
に誤差が生じることになる。例えば、s方向の光束が第
1対物レンズの後側焦点位置になるように配置するとす
れば、s方向での照射角βs=0、すなわちテレセンで
入射することになるが、m方向の照射角βmは、像高
y′に応じて、近似的に像高y′に比例して大きくな
る。つまり、デフォーカスが生じた場合には、m方向だ
け倍率が変化した形になる。ここで、像高y′にて、物
体を測定、観察するとき、デフォーカス量Δzが生じた
ときの計測誤差δ′は、δ′=βm・Δzとなる。但
し、計測誤差δ′は、物体を観察する位置により異な
る。したがって本発明は、照明光と観察光を分岐する分
岐ミラーを照明光透過にて使用する場合において、使用
する照明光の波長によるm方向での照射角差、及びm方
向とs方向での照射角差が生じず、デフォーカスがあっ
たときでも測定誤差、位置ズレが発生しない高精度の観
察装置を提供することを課題とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するためになされたものであり、すなわち、添付図面に
付した符号をカッコ内に付記すると、本発明は、波長の
異なる複数の光束又は波長幅を有する光束を発する光源
(1)と、分岐ミラー(11)と、光源(1)からの光
束を分岐ミラー(11)に導くリレーレンズ系(5)
と、分岐ミラー(11)を透過した照明光(j)を物体
(14)に導き且つ物体(14)から発した観察光
(k)を分岐ミラー(11)に導く第1対物レンズ(1
3)と、撮像手段(18)と、分岐ミラー(11)で反
射した観察光(k)を撮像手段(18)に導く第2対物
レンズ(15)とを有する観察装置において、分岐ミラ
ー(11)の法線を物体面に投影した方向をm方向とし
たとき、物体(14)を照射する各波長毎の主光線の照
射角がm方向について互いにほぼ等しくなるようにする
補正部材(10、20)を、光源(1)と分岐ミラー
(11)との間に介在させたことを特徴とする観察装置
である。
【0013】また本発明は、光源(1)と、分岐ミラー
(11)と、光源(1)からの光束を分岐ミラー(1
1)に導くリレーレンズ系(5)と、分岐ミラー(1
1)を透過した照明光(j)を物体(14)に導き且つ
物体(14)から発した観察光(k)を分岐ミラー(1
1)に導く第1対物レンズ(13)と、撮像手段(1
8)と、分岐ミラー(11)で反射した観察光(k)を
撮像手段(18)に導く第2対物レンズ(15)とを有
する観察装置において、分岐ミラー(11)の法線を物
体面に投影した方向をm方向とし、物体面上でm方向と
直交する方向をs方向としたとき、物体(14)を照射
する主光線の照射角が前記m方向とs方向についてほぼ
等しくなるようにする補正部材(9、25a、25b)
を、光源(1)と分岐ミラー(11)との間に介在させ
たことを特徴とする観察装置である。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面によっ
て説明する。図1及び図2にて、本発明による観察装置
の第1実施例を示す。図1は、観察装置、特に画像処理
型の測定時に用いる観察装置の光学系の概略図である。
図1(A)に示すように、ハロゲンランプ等の光源1か
ら発せられた光束は、光源部リレーレンズ系2を介して
ライトガイド入射部4aに入射する。光源部には、ダイ
クロイックフィルタ3が設置されており、これにより複
数の波長、例えばハロゲン光源のg線〜c線の照明光j
が選択される。ライトガイド4を射出した照明光jは、
第1リレーレンズ6、物体14とほぼ共役な位置にある
照明領域を制限する視野絞り8、分岐ミラー11のm方
向とs方向での物体14の主光線の照射角を補正するシ
リンドリカルレンズ9、第2リレーレンズ7を順次通過
する。更に照明光jは、波長毎のm方向の主光線の照射
角差を補正する平行平面板10を通過して、照明光jと
観察光kを分岐する分岐ミラー11(ハーフミラー)を
透過して、第1対物レンズ13を介して物体14を照明
する。ここで照明光jは、物体14をムラ無く照明する
ために、ケーラー照明が用いられ、物体14上でライト
ガイド射出部4b(2次光源像)が無限遠になるよう
に、ライトガイド射出部4bの像が対物レンズの後側焦
点位置付近に形成されている。
【0015】照明された物体14の像、すなわち物体1
4から発した観察光kは、第1対物レンズ13を介し
て、分岐ミラー11で反射して、第2対物レンズ15に
より、物体14と共役な位置に配置してある指標板16
上に結像する。更に指標板16を通過した観察光kは、
撮像部リレーレンズ系17を介して、撮像素子であるC
CD18上に結像される。ここで、パターンの検査や測
定、露光装置のウエハの位置合わせ等で用いられる高精
度に物体14の位置を計測する観察装置では、物体14
のデフォーカスによる倍率差や位置ズレを避けるため、
第1対物レンズ13の後側焦点位置近傍に開口絞り12
を配置して、物体側にテレセントリックとなるようにし
てある。また物体14のコントラストを得るために照明
光jの物体面における開口数を、観察光kの物体面にお
ける開口数より小さく設定している。CCD18上に投
影された物体像が、指標板16を基準にして画像処理さ
れることにより、物体14の位置の測定を行う。ここで
指標板16は、観察装置が主に測長装置として用いられ
る場合には使用されるが、検査装置として用いる場合等
には、指標板16の位置する場所に、指標板16の代わ
りにCCD18を配置することが考えられる。なお、照
射角差の微小補正が可能となるように、平行平面板10
はm方向と光軸との双方に直交する回転軸を中心として
回転可能としても良いし、シリンドリカルレンズ9は光
軸を中心として回転可能としても良い。
【0016】次に、本第1実施例の作用について説明す
る。図1(A)にて、反時計回りを正としたとき、分岐
ミラー11は、光軸に対して+45°傾斜している。前
記課題で述べたように、異なる波長の照明光jが、これ
を透過すると、物体14を照射する照射角差が生じてし
まう。これを補正するために、分岐ミラー11と同じ硝
材、同じ厚さの平行平面板10を、光軸に対して−45
°(分岐ミラー11とは逆方向)傾斜させて、同図の位
置に配置する。平行平面板10においても、分岐ミラー
11同様、波長毎のシフトが生じるが、そのシフト量は
分岐ミラー11のシフト量に対して、逆方向であって、
その絶対値は等しい。これにより、分岐ミラー11で生
じるシフト量が、丁度相殺されて、補正されることにな
る。すなわち、使用する照明光jの波長によるm方向で
の主光線の照射角差が生じることなく、デフォーカスが
あったときでも測定誤差、位置ズレの発生のない高精度
の観察装置を提供することができる。
【0017】このように本第1実施例では、言うなれ
ば、照明光透過にて使用する傾斜した平行平面板10、
11を2個配置していることになる。このため、分岐ミ
ラー11により発生するm方向とs方向の照射角差は、
追加された平行平面板10により、前記課題で述べた照
射角差の2倍となる。この分岐ミラー11及び平行平面
板10により生じるm方向とs方向の照射角差を補正す
るシリンドリカルレンズ9が、視野絞り8付近に配置さ
れている。シリンドリカルレンズ9によって、第1対物
レンズ13の後側焦点位置に、m方向、s方向ともに光
源像が結像される。光源像のm方向とs方向での結像位
置は、分岐ミラー11と平行平面板10を透過すること
により、m方向に長く延びる。よって、補正部材として
シリンドリカルレンズ9が機能するには、m方向に凸の
パワーをもつレンズ、又は、図1(B)に示すようにs
方向に凹のパワーをもつレンズであれば良い。
【0018】図2は、第1実施例の観察装置におけるシ
リンドリカルレンズ9を含むリレーレンズ系5の概略図
である。以下、シリンドリカルレンズ9の焦点距離と分
岐ミラー11、平行平面板10との関係を説明する。図
の見易さのため、シリンドリカルレンズ9は、m方向に
凸のパワーをもつレンズとした。シリンドリカルレンズ
9の無限遠の像は、パワーがある方向(m方向)では、
シリンドリカルレンズ9の焦点位置fcに結像して、パ
ワーがない方向(s方向)では、垂直に置かれた平行平
面板と同様に透過する。第1リレーレンズ6を通過した
光束は、コリメートされて、シリンドリカルレンズ9に
入射する。この光束は、m方向ではシリンドリカルレン
ズ9と第2リレーレンズ7を介して点Aに結像される。
このとき、レンズの公式より、 1/〔−(fc−L)〕+1/La=1/f R 但し、f R:第2リレーレンズ7の焦点距離 fc:シリンドリカルレンズ9の焦点距離 L:シリンドリカルレンズ9と第2リレーレンズ7の主
点間隔 La:第2リレーレンズ7と点Aの距離 が導かれ、これを展開することで、第2リレーレンズ7
と点Aの距離Laは、 La=f R・(L−fc)/(L−fc−f R) となる。
【0019】一方、第1リレーレンズ6を通過した光束
は、s方向ではシリンドリカルレンズ9をパワーなく通
過し、第2リレーレンズ7にてf Rの位置に結像され
る。よって、m方向とs方向の結像位置の差(アス量)
Δ′は、 となる。このアス量Δ′は、分岐ミラー11で生じるア
ス量Δm-sと平行平面板10で生じるアス量Δm-sの双方
を相殺すべきものであるので、次式を満足することが、
補正部材としてのシリンドリカルレンズ9の条件とな
る。 Δ′−2×Δm-s=0 よって、上式に(8)式を代入すると、シリンドリカル
レンズ9の焦点距離fcは、 となる。
【0020】以下具体的な例を示す。分岐ミラー11、
平行平面板10の厚さをd=6mm、分岐ミラー11の
傾斜角をθ=+45°、平行平面板10の傾斜角をθ=
−45°、硝材をBK7(nd=1.51680)と
し、更にシリンドリカルレンズ9は、第2リレーレンズ
7の前側焦点位置に置き、第2リレーレンズ7の焦点距
離をf R=50mmとして、これらを(6)、(9)式
に代入すると、シリンドリカルレンズ9の焦点距離fc
は、 fc≒774.1mm となる。以上のように、分岐ミラー11及び平行平面板
10を照明光透過で用いることにより生じるm方向とs
方向の主光線の照射角差を、シリンドリカルレンズ9を
配置することでなくすことができ、デフォーカスがあっ
たときでも測定誤差、位置ズレの発生のない高精度の観
察装置を提供することができる。ここで、シリンドリカ
ルレンズ9を物体面とほぼ共役な照明視野絞り8近傍に
配置したのは、第1対物レンズ13の開口絞り12の面
内で、シリンドリカルレンズ9の効果を同じように出す
ためである。
【0021】図3は、本発明による観察装置の第2実施
例を示す。本第2実施例は、平行平面板10をライトガ
イド射出部4bとリレーレンズ系5との間に配置した点
が、第1実施例と異なる。そして、第1実施例同様、平
行平面板20は分岐ミラー11と同一平面内にて傾斜し
ているが、その方向は分岐ミラー11と平行、すなわち
光軸に対して+45°の傾斜にて配置されている。これ
は、リレーレンズ系5の入射部と射出部とは、倒立の関
係にあるためである。これにより、第1実施例同様、m
方向における異なる波長毎の照射角差をなくすことがで
きる。また、第1リレーレンズ6と第2リレーレンズ7
との間には、分岐ミラー11と平行平面板20によるm
方向とs方向の照射角差を補正する補正部材として、凸
のシリンドリカルレンズ9が、m方向にパワーを有する
方向に配置されている。
【0022】ここで、分岐ミラー11と平行平面板20
の硝材と傾斜角θが等しいとき、分岐ミラー11の厚さ
dと平行平面板20の厚さd′とが、次式を満足すれば
波長毎の照射角を等しくすることができる。 d=γR・d′ (10) 但し、γR:リレーレンズ系5の倍率 このとき、第1対物レンズ13の開口絞り12上で生じ
る分岐ミラー11及び平行平面板20で発生するm方向
とs方向とのアス量Δm-s′は、 但し、Δp:平行平面板20のアス量 Δh:分岐ミラー11のアス量 となる。
【0023】このアス量Δm-s′を、第1対物レンズ1
3の開口絞り12位置で補正するためには、アス量Δ
m-s′と、第1実施例で求めたシリンドリカルレンズ9
とリレーレンズ系5で生じるアス量Δ′とが、次式を満
足すれば良い。 Δ′−Δm-s′=0 上式と(8)、(11)式より、シリンドリカルレンズ
9の焦点距離fcは、 となる。また、(6)式より、厚さd′の平行平面板2
0と、厚さdの分岐ミラー11のそれぞれのアス量
Δp、Δhは、 Δp=d′・(n2−1)・sin2θ・(n2−sin2
θ)-3/2 Δh=d・(n2−1)・sin2θ・(n2−sin
2θ)-3/2 で表わすことができる。上記2式と(10)式より、ア
ス量Δp、Δhの関係は、 Δp=1/γR・Δh となる。よって、(12)式のシリンドリカルレンズ9
の焦点距離fcは、次式のように表わすことができる。
【0024】以下具体的な例を示す。第1実施例同様、
分岐ミラー11の厚さをd=6mm、分岐ミラー11と
平行平面板20の傾斜角をθ=+45°、リレーレンズ
系5の倍率をγR=2倍、硝材をBK7(nd=1.51
680)として、更にシリンドリカルレンズ9は、リレ
ーレンズの前側焦点位置に置き、リレーレンズの焦点距
離をf R=50mmとして、これらを(6)、(13)
式に代入すると、シリンドリカルレンズ9の焦点距離f
cは、 fc≒516mm となる。以上のように、本第2実施例においては、(1
0)、(13)式の条件を満足すれば、物体14を照明
する波長毎のm方向の照射角差、及び分岐ミラー11及
び平行平面板10によるm方向とs方向の照射角差をな
くすことができる。
【0025】図4は、本発明による観察装置の第3実施
例を示す。本第3実施例は、シリンドリカルレンズ9の
代わりに、一対のアス補正用平行平面板25a、25b
を配置した点が、第1実施例と異なる。アス補正用平行
平面板25a、25bは、第1実施例のシリンドリカル
レンズ9同様、分岐ミラー11及び平行平面板10で生
じるm方向とs方向との照射角差を、相殺するためのも
のである。この2枚のアス補正用平行平面板25a、2
5bの法線と光軸とを含む平面は、互いに平行であっ
て、光軸に対して正負逆の傾斜(±45°)にて、対向
するように設置されている。更に、アス補正用平行平面
板25a、25bの法線と光軸とを含む平面は、分岐ミ
ラー11及び平行平面板10の法線と光軸とを含む平面
と直交するように配置されている。また、アス補正用平
行平面板25a、25bの厚さと硝材は、分岐ミラー1
1及び平行平面板10のそれと同等に形成されている。
これにより、分岐ミラー11及び平行平面板10で生じ
るアス量と等しいアス量がアス補正用平行平面板25
a、25bにも発生して、各々が相殺され、物体面上m
方向とs方向との照射角は等しくなる。
【0026】ここで、アス補正用平行平面板25a、2
5bの厚さと硝材が、分岐ミラー11及び平行平面板1
0のそれと同等に形成されないとき、例えば、分岐ミラ
ー11と同一の屈折率をもつが、分散が異なるアス補正
用平行平面板25a、25bであるとき、僅かではある
が異なる波長毎のm方向とs方向の照射角差が生じるこ
とになる。なお実施例には示さないが、第3実施例のア
ス補正用平行平面板25a、25bは、第2実施例の分
岐ミラー11と平行平面板20のように、リレーレンズ
系5を間に挟み、設置しても同等の効果を得ることがで
きる。
【0027】なお以上の実施例では、g線〜c線のよう
な異なる波長の照明光jを用いているが、波長帯域が非
常に狭くて、分散を無視できる光束を照明光jとして用
いる場合には、m方向の照明角差は無視できる。このよ
うなとき、平行平面板10、20は不要となり、残る分
岐ミラー11にて生じるm方向とs方向の照射角のみを
補正すれば良いので、第1、第2実施例の場合であれ
ば、平行平面板10、20を除去した構成で充分であ
り、第3実施例の場合であれば、平行平面板10とこれ
に対応したアス補正用平行平面板25a、25bの1枚
を除去した構成で充分である。また実施例では、本発明
を画像処理型の測定時に用いる観察装置に適用した場合
について説明したが、本発明は露光装置におけるウエハ
等の位置合わせ時に用いるオフアクシスアライメント系
についても当然に適用することができる。
【0028】また、以上の図1、図3及び図4に示した
各実施例に示した観察光学系を投影露光装置のTTLア
ライメント系に応用することができる。例えば、図1、
図3及び図4において、物体14上に所定のパターンが
形成されたマスクを配置し、さらに、そのマスクの像を
投影する投影光学系とその投影光学系の像面上に感光性
基板(ウエハ等)とをそれぞれ配置して、マスクのパタ
ーン像を感光性基板(ウエハ等)上に投影する露光装置
を考える。この場合、図1、図3及び図4に示す観察光
学系は、検出光学系(13、15、17又は13、1
5)を介してマスク上に形成されたマスクマークの像
と、投影光学系及び検出光学系(13、15、17又は
13、15)を介して感光性基板上に形成された基板マ
ークの像とを光電検出器としてのCCD18にて光電検
出する。その後、不図示の処理系で双方のマーク像の相
対的なずれを検出し、不図示の位置補正装置(感光性基
板(ウエハ等)を保持する基板ステージ)によって感光
性基板の位置を補正することにより、マスクと感光性基
板との相対的なずれを補正することができる。あるい
は、図1、図3及び図4に示す観察光学系は、投影光学
系及び検出光学系(13、15、17又は13、15)
を介して感光性基板上に形成された基板マークの像を光
電検出器としてのCCD18にて光電検出しても良い。
この場合、不図示の処理系で所定の基準位置に対するウ
エハマーク像のずれを検出し、不図示の位置補正装置
(感光性基板(ウエハ等)を保持する基板ステージ)に
よって感光性基板の位置を補正することにより、感光性
基板の位置ずれを補正することができる。
【0029】
【発明の効果】以上のように本発明では、装置設置上の
制約により分岐ミラーを照明光透過にて用いる場合にお
いて、波長の異なる複数の光束、又は波長幅を有する光
束を発する光源に対して、物体を照明するm方向の照射
角を同一にすることが可能である。また、像高をもつ照
明光に対して、分岐ミラーのm方向とs方向の照射角を
同じにすることも可能である。ひいては、物体がデフォ
ーカスする場合においても、正確に物体の位置、倍率、
更には、物体の波長特性に依らず正確に測定、観察する
ことが可能な観察装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例による観察装置を示す
(A)概略図と、(B)図A中XーX矢視図である。
【図2】本発明の第1実施例による観察装置のリレーレ
ンズ系を示す概略図である。
【図3】本発明の第2実施例による観察装置を示す概略
図である。
【図4】本発明の第3実施例による観察装置を示す概略
図である。
【図5】従来の観察装置を示す概略図である。
【図6】m方向におけるg線〜c線の主光線の照射角差
を示す断面図である。
【図7】主光線の照射角を示す(A)s方向断面図と
(B)m方向断面図である。
【符号の説明】
1…光源 2…光源部リレーレ
ンズ系 3…ダイクロイックフィルタ 4…ライトガイド 4a…ライトガイド入射部 4b…ライトガイド
射出部 5…リレーレンズ系 6…第1リレーレン
ズ 7…第2リレーレンズ 8…視野絞り 9…シリンドリカルレンズ 10、20…平行平
面板 11…分岐ミラー 12…開口絞り 13…第1対物レンズ 14…物体 15…第2対物レンズ 16…指標板 17…撮像部リレーレンズ系 18…CCD 25a、25b…アス補正用平行平面板 j…照明光 k…観察光

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】波長の異なる複数の光束又は波長幅を有す
    る光束を発する光源と、分岐ミラーと、前記光源からの
    光束を前記分岐ミラーに導くリレーレンズ系と、前記分
    岐ミラーを透過した照明光を物体に導き且つ該物体から
    発した観察光を前記分岐ミラーに導く第1対物レンズ
    と、撮像手段と、前記分岐ミラーで反射した観察光を前
    記撮像手段に導く第2対物レンズとを有する観察装置に
    おいて、 前記分岐ミラーの法線を物体面に投影した方向をm方向
    としたとき、前記物体を照射する各波長毎の主光線の照
    射角が前記m方向について互いにほぼ等しくなるように
    する補正部材を、前記光源と前記分岐ミラーとの間に介
    在させたことを特徴とする観察装置。
  2. 【請求項2】前記補正部材は前記分岐ミラーと同等の屈
    折率と分散とを有した平行平面板によって形成され、該
    平行平面板の法線と光軸とを含む平面と、前記分岐ミラ
    ーの法線と光軸とを含む平面とが平行となるように配置
    されたことを特徴とする請求項1記載の観察装置。
  3. 【請求項3】前記平行平面板と光軸とがなす傾斜角の絶
    対値が、前記分岐ミラーと光軸とがなす傾斜角に対して
    等しくなるように前記平行平面板を配置したことを特徴
    とする請求項2記載の観察装置。
  4. 【請求項4】光源と、分岐ミラーと、該光源からの光束
    を前記分岐ミラーに導くリレーレンズ系と、前記分岐ミ
    ラーを透過した照明光を物体に導き且つ該物体から発し
    た観察光を前記分岐ミラーに導く第1対物レンズと、撮
    像手段と、前記分岐ミラーで反射した観察光を前記撮像
    手段に導く第2対物レンズとを有する観察装置におい
    て、 前記分岐ミラーの法線を物体面に投影した方向をm方向
    とし、物体面上で該m方向と直交する方向をs方向とし
    たとき、前記物体を照射する主光線の照射角が前記m方
    向とs方向についてほぼ等しくなるようにする補正部材
    を、前記光源と分岐ミラーとの間に介在させたことを特
    徴とする観察装置。
  5. 【請求項5】前記補正部材は前記m方向とs方向につい
    てパワーの異なる光学部材によって形成されたことを特
    徴とする請求項4記載の観測装置。
  6. 【請求項6】前記補正部材は少なくとも1つの平行平面
    板によって形成され、該平行平面板の法線と光軸とを含
    む平面と、前記分岐ミラーの法線と光軸とを含む平面と
    が直交するように前記平行平面板を配置したことを特徴
    とする請求項4記載の観察装置。
JP10073149A 1998-03-06 1998-03-06 観察装置 Pending JPH11248417A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10073149A JPH11248417A (ja) 1998-03-06 1998-03-06 観察装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10073149A JPH11248417A (ja) 1998-03-06 1998-03-06 観察装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11248417A true JPH11248417A (ja) 1999-09-17

Family

ID=13509853

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10073149A Pending JPH11248417A (ja) 1998-03-06 1998-03-06 観察装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11248417A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009097988A (ja) * 2007-10-17 2009-05-07 Nikon Corp 表面検査装置
JP2010261839A (ja) * 2009-05-08 2010-11-18 Ccs Inc 光照射装置
WO2013094068A1 (ja) * 2011-12-22 2013-06-27 キヤノン株式会社 インプリント装置及びデバイス製造方法
JP2018101084A (ja) * 2016-12-21 2018-06-28 ローム株式会社 ビームスプリッタ、照明ユニットおよび検査システム

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009097988A (ja) * 2007-10-17 2009-05-07 Nikon Corp 表面検査装置
JP2010261839A (ja) * 2009-05-08 2010-11-18 Ccs Inc 光照射装置
WO2013094068A1 (ja) * 2011-12-22 2013-06-27 キヤノン株式会社 インプリント装置及びデバイス製造方法
JPWO2013094068A1 (ja) * 2011-12-22 2015-04-27 キヤノン株式会社 インプリント装置及びデバイス製造方法
US9718234B2 (en) 2011-12-22 2017-08-01 Canon Kabushiki Kaisha Imprint lithography apparatus and device manufacturing method therefor
JP2018101084A (ja) * 2016-12-21 2018-06-28 ローム株式会社 ビームスプリッタ、照明ユニットおよび検査システム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3064433B2 (ja) 位置合わせ装置およびそれを備えた投影露光装置
US5995198A (en) Exposure apparatus
JPS59100805A (ja) 物体観察装置
US4521082A (en) Exposure apparatus
US4856905A (en) Projection exposure apparatus
US9534888B2 (en) Detection apparatus, measurement apparatus, exposure apparatus, method of manufacturing article, and measurement method
US7528954B2 (en) Method of adjusting optical imaging system, positional deviation detecting mark, method of detecting positional deviation, method of detecting position, position detecting device and mark identifying device
JPH10223517A (ja) 合焦装置、それを備えた観察装置及びその観察装置を備えた露光装置
JP2633028B2 (ja) 観察方法及び観察装置
KR20250153169A (ko) 특히 마이크로리소그래피 마스크를 특징화하기 위한 광학 시스템
US4710029A (en) Projection type exposing apparatus
CN120275280A (zh) 一种双焦面成像系统以及多向分束器
JP3019505B2 (ja) 露光装置及びそれを用いた半導体チップの製造方法
JP3352161B2 (ja) 露光装置及びそれを用いた半導体チップの製造方法
US6081335A (en) Phase difference measuring device with visible light source for providing easy alignment of optical axes and method therefor
JP4269378B2 (ja) 観察方法及び観察装置
JPH05312510A (ja) 位置検出装置
JPH0950959A (ja) 投影露光装置
JP4639808B2 (ja) 測定装置及びその調整方法
JP3679782B2 (ja) 露光装置及びそれを用いた半導体チップの製造方法
JP3004076B2 (ja) 試料面位置測定装置
JP2003344219A (ja) 偏心測定方法、偏心測定装置、投影光学系の製造方法、及び投影光学系
JPH10209029A (ja) アライメント系を備える露光装置
JP2004264127A (ja) マーク位置検出装置
Drazkiewicz et al. Micrascan adaptive x-cross correlative independent off-axis modular (AXIOM) alignment system