JPH11248790A - Ｔａｂ用オートハンドラに接続されるテストステーションのメンテナンス構造 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 占有フロア面積を縮小しながらテストステー
ションのメンテナンスを可能とし、かつテストステーシ
ョン裏面からのメンテナンスを行う場合にもその作業を
容易とする。 【解決手段】 オートハンドラ１とテストステーション
３を接続する接続機構８に、テストステーション３を前
方に移動させるスライド機構８３を設け、前方に移動さ
せられるテストステーション３を接続機構８上から受け
るメンテナンステーブル９を接続機構８に近接配置す
る。テストステーション３をメンテナンステーブル９に
移送し、空いている上方の空間からメンテナンスを行
う。また、接続フレーム７にケーブル３ａを保護するケ
ーブルガイド１０を設ける。また、メンテナンステーブ
ル９に、テストステーション３の裏面を前方に向ける跳
ね上げ機構９３を設け、裏面からのメンテナンスを可能
とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、ＴＡＢ（Ｔａｐ
ｅ Ａｕｔｏｍａｔｅｄ Ｂｏｎｄｉｎｇ）用オートハ
ンドラにＩＣテスタのテストステーションを接続した状
態から、その接続を解除してテストステーションのメン
テナンスを行う際に好適なメンテナンス構造に関するも
のである。

【０００２】

【従来の技術】図５は、従来のＴＡＢ用オートハンドラ
（以下、オートハンドラと略称）およびこれに接続され
るテストステーションを示している。同図で符号１はオ
ートハンドラ、２はオートハンドラ１を支持する接続フ
レーム、３はテストステーション、４はテストステーシ
ョン３を支持するとともに、このテストステーション３
をオートハンドラ１と機構的に接続させるための接続機
構、５、６は、それぞれオートハンドラ１内を搬送させ
られるＴＡＢデバイス（図示せず）とテストステーショ
ン３とを電気的に接続させるアタッチメントリングおよ
び接続ボードである。テストステーション３は接続機構
４の上に固定され、オートハンドラ１の下方に配置され
る。オートハンドラ１は接続フレーム２の上に固定さ
れ、テストステーション３の上に配置される。オートハ
ンドラ１とテストステーション３は、オートハンドラ１
内に固定されたアタッチメントリング５と、テストステ
ーション３上に固定された接続ボード６を介して接続さ
れる。

【０００３】このような構成におけるオートハンドラ１
に対するテストステーション３のメンテナンス方法を、
図６を参照して説明する。図６（ａ）は両者が接続され
た状態の側面図、図６（ｂ）は接続を解除した状態の側
面図であり、いずれも左側が装置の前方、右側が装置の
後方とされる。まず、接続機構４内の昇降機構（図示せ
ず）によりテストステーション３を下降させ、オートハ
ンドラ１に対するテストステーション３の接続を解除す
る。次に、接続フレーム２に対するオートハンドラ１の
固定を解除した後、オートハンドラ１を、接続フレーム
２上のスライド機構（図示せず）により後退させる。オ
ートハンドラ１が後退することによりテストステーショ
ン３上は空間となり、テストステーション３の上面か
ら、メンテナンスや接続ボード６の交換作業等を行う。
また、この状態でテストステーション３の裏面からメン
テナンスを行う場合は、接続機構４に対するテストステ
ーション３の固定を解除してから、テストステーション
３を反転させて裏面を上方に向け、その上方に向けた裏
面からメンテナンスを行っていた。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記従来の方法では、
テストステーション３のメンテナンスを行う際にはオー
トハンドラ１を後退させる必要があり、したがって接続
フレーム２を必要以上に大きくせざるを得なかった。こ
のため、１台のオートハンドラ１が占めるフロア面積が
大きくなり、生産拡大に支障を来していた。例えば、図
６に示すように、オートハンドラ１およびテストステー
ション３の標準的な奥行き寸法Ａ、Ｂは、それぞれ約８
５０ｍｍ、約７００ｍｍとされており、この場合、全体
すなわち接続フレーム２の奥行き寸法Ｃは約１６５０ｍ
ｍとなる。また、テストステーション３は通常１００ｋ
ｇｆ以上あり、上記のように裏面からメンテナンスを行
うために反転させるには、相応の複数の作業員を要する
と同時に、テストステーション３に接続されているケー
ブル類等の保護に気を使う必要があった。この発明は上
記事情に鑑みてなされたもので、占有フロア面積を縮小
しながらテストステーションのメンテナンスを可能と
し、かつテストステーション裏面からのメンテナンスを
行う場合にもその作業を容易とするメンテナンス構造を
提供することを目的としている。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明は、接続フレーム
に支持されてＴＡＢデバイスをリール形態で供給し搬送
するＴＡＢ用オートハンドラに接続機構を介して接続さ
れるＴＡＢデバイス測定用テストステーションのメンテ
ナンス構造であって、前記接続機構に、前記テストステ
ーションを略水平方向に移動可能とするスライド機構を
設けるとともに、このスライド機構によって移動するテ
ストステーションが接続機構上から受け渡され、かつテ
ストステーションが着脱自在に固定されるメンテナンス
テーブルを接続機構に近接配置したことを特徴としてい
る。

【０００６】この構造によれば、テストステーションの
メンテナンスを行う際には、まず、接続機構上のテスト
ステーションをスライド機構によりメンテナンステーブ
ルに移送する。メンテナンステーブルに受け渡されたテ
ストステーションはオートハンドラから離れてその上面
が露出するので、その上方の空間からのメンテナンスを
容易に行うことができる。メンテナンス後は、逆の動作
でテストステーションを接続機構上に戻す。従来では、
テストステーションの上面に空間を確保するためにオー
トハンドラを後退させており、そのため接続フレームの
奥行きが必要以上に大きくなっていたが、本発明ではそ
の必要がなく、占有フロア面積が縮小される。さらに、
メンテナンステーブルを、通常操作時のスペースを活用
して専用スペースを必要としないようにすれば、フロア
面積を一層縮小させることができる。

【０００７】また、本発明は、前記接続フレームに、前
記テストステーションに接続されて外部に露出するケー
ブル等の補機類をテストステーションが移動する際に保
護する保護機構を設けたことを特徴としている。この構
成を付加することにより、テストステーションのメンテ
ナンスを行う際に、テストステーションとともに移動す
るケーブル等の補機類が保護機構により保護され、繁雑
さが軽減される。さらに、本発明は、前記メンテナンス
テーブルに、固定されたテストステーションの裏面を略
水平方向もしくはそれ以上の上方に向ける回転機構を設
けたことを特徴としている。この構成によれば、回転機
構を作動させることによりテストステーションの裏面が
メンテナンスのしやすい方向（水平方向もしくはそれ以
上の上方）に簡単に向くので、テストステーションが非
常に重く、その裏面からメンテナンスを行う場合にあっ
ては労力が軽減し、少人数かつ短時間で行うことができ
る。

【０００８】

【発明の実施の形態】以下、図１〜図４を参照して本発
明の一実施形態を説明する。これら図で図５および図６
に示した構成要素と同一の構成要素には同一の符号を付
し、その説明を省略する。図１（ａ）〜（ｃ）は本実施
形態に係るメンテナンス構造に基づくメンテナンス方法
の手順を示す側面図であり、左側が装置の前方、右側が
後方、また紙面裏表方向が左右方向とされる。図１で符
号７はオートハンドラ１を支持する接続フレーム、８は
テストステーション３を支持するとともに、このテスト
ステーション３をオートハンドラ１と機構的に接続させ
るための接続機構である。また、８１はテストステーシ
ョン３を昇降させる昇降機構、３ａはテストステーショ
ン３とＩＣテスタ（図示せず）を電気的に接続するケー
ブル（補機類）、１０はテストステーション３が移動す
るときにケーブル３ａを保護するためのケーブルガイド
（保護機構）、９は接続機構８の前方に近接され、テス
トステーション３のメンテナンスを行うためのメンテナ
ンステーブル、９３はテストステーション３を水平軸を
中心に後方に回転させて跳ね上げる跳ね上げ機構（回転
機構）である。

【０００９】図１（ａ）は、オートハンドラ１とテスト
ステーション３とが接続されている状態を示している。
本実施形態の接続フレーム７が従来の接続フレーム２と
異なる点は、その奥行き寸法Ｃ’が短いところにある。
図６で示したように、従来の接続フレーム２の奥行き
Ｃ：約１６５０ｍｍに比べ、奥行きＣ’は約９００ｍｍ
であり、約７５０ｍｍの短縮が図られている。

【００１０】ケーブルガイド１０は、図２に示すよう
に、両端に鍔部１０ａを有する円筒体である。接続フレ
ーム７の後部には、左右一対のベース１０ｄが固定さ
れ、これらベース１０ｄには、プレート１０ｃが回転軸
１０ｅを介して前後に揺動可能に吊り下げられている。
ケーブルガイド１０は、左右のプレート１０ｃに、左右
方向に延びる回転軸１０ｂを介して回転自在に装着され
ている。ケーブルガイド１０上にはケーブル３ａが屈曲
する状態で載り、ケーブル３ａが前後に移動するに伴い
ケーブルガイド１０は回転軸１０ｂを中心に回転し、ケ
ーブル３ａの損傷を防いで保護しながらその移動をスム
ーズにガイドする機能を果たす。また、ケーブル３ａが
屈曲しにくい硬度を有している場合には、ケーブルガイ
ド１０はプレート１０ｃごと回転軸１０ｅを中心に前後
に揺動し、ケーブル３ａの屈曲状態を補助する。

【００１１】図３および図４を参照して接続機構８およ
びメンテナンステーブル９の詳細を説明する。図３の３
ｂはテストステーション３の両側面に固定された把手で
あり、この把手３ｂを利用して、後述するようにテスト
ステーション３を前後に移動させたり回転させたりす
る。３ｃは同じく両側面に固定されたガイドであり、テ
ストステーション３を前後に移動させるときの高さ方向
を規制し、さらに回転させるときにテストステーション
３の荷重を後に詳述する跳ね上げ機構９３に伝える機能
を果たす。

【００１２】符合８ａ、８ｂは、接続機構８を構成する
第１の基板、第２の基板である。第１の基板８ａはテス
トステーション３の下面に固定されており、第２の基板
８ｂは昇降機構８１上に固定されている。これら基板８
ａ、８ｂの間には、左右一対のスライド機構８３が介在
している。スライド機構８３は、図３の右側のものが詳
しく図示されている。このスライド機構８３は、ガイド
８３ｂに回転自在に支持された複数の回転体８３ａと、
回転体８３ａが転動するレール８３ｄとを備えている。
なお、ガイド８３ｂは第１の基板８ａに、また、レール
８３ｄは第２の基板８ｂに固定されている。８２ａは、
スライド機構８３を固定する固定ツマミである。昇降機
構８１は、スライドシャフト８１ａと、このスライドシ
ャフト８１ａを昇降させるボールネジ、昇降用の把手等
から構成されている。

【００１３】次に、図４を参照してメンテナンステーブ
ル９の詳細を説明する。図４においては、メンテナンス
テーブル９の向かって右側半分を図示しているが、メン
テナンステーブル９は左右対称の構造を有しており、図
示が割愛された左側も同一構造となっている。図４
（ａ）は通常状態、図４（ｂ）は跳ね上げ機構９３を作
動させた状態を示している。

【００１４】符号９１ａは前記レール８３ｄと同様のも
ので、このレール８３ｄと直線的に連続することが可能
なようになされたレール、９２ａはテストステーション
３のガイド３ｃに係合し、テストステーション３を跳ね
上げ機構９３に固定する固定ツマミである。跳ね上げ機
構９３は、内面にガイド３ｃがスライドしながら嵌合す
る溝部（図示略）を有し、その嵌合により跳ね上げ機構
９３とテストステーション３とを結合するガイド基板９
３ａと、メンテナンステーブル９に固定され回転軸９３
ｃを介してガイド基板９３ａが回転自在に装着されるベ
ース基板９３ｂと、ガイド基板９３ａをメンテナンステ
ーブル９に固定するための固定ツマミ９３ｄと、メンテ
ナンステーブル９を上方に付勢して跳ね上げるガスシリ
ンダ９３ｅとから構成されている。

【００１５】次に、上記接続機構８およびメンテナンス
テーブル９の作用ならびにテストステーション３のメン
テナンス方法を説明する。まず、通常は、図１（ａ）に
示すように、テストステーション３は接続機構８の上方
かつオートハンドラ１の下方に配置され、さらに、昇降
機構８１により適宜な高さに設定される。オートハンド
ラ１は、接続フレーム７上に固定される。オートハンド
ラ１とテストステーション３は、オートハンドラ１内に
固定されたアタッチメントリング５と、テストステーシ
ョン３上に固定された接続ボード６を介して接続され
る。また、ケーブル３ａはケーブルガイド１０にガイド
されて後方に延ばされる。

【００１６】テストステーション３をメンテナンスする
場合には、まず、オートハンドラ１に対するテストステ
ーション３の接続を解除してから、昇降機構８１によ
り、接続機構８側のレール８３ｄとメンテナンステーブ
ル９側のレール９１ａとが互いに直線的に連続する位置
までテストステーション３を下降させる。次いで、固定
ツマミ８２ａによる第１の基板８ａと第２の基板８ｂの
互いの固定を解除する。この状態で把手３ｂを持ちテス
トステーション３を前方（図１（ａ）で左方）へ引っ張
ると、回転体８３ａがレール８３ｄ上を転動することに
より、テストステーション３は第１の基板８ａ、ガイド
８３ｂとともに前方に移動する。このようにテストステ
ーション３が前方に移動すると、ガイド８３ｂに回転自
在に支持されている回転体８３ａがレール８３ｄからレ
ール９１ａに乗り移り、図１（ｂ）に示すように、テス
トステーション３はメンテナンステーブル９上に載置さ
れる。この状態で、ガイド３ｃはガイド基板９３ａの内
面の溝部をスライドしながら嵌合して両者の位置決めが
なされるテストステーション３の上面は露出してその上
方は空間となり、上面からのメンテナンスが可能とな
る。

【００１７】次に、固定ツマミ９２ａを締め込むことに
よりガイド基板９３ａにテストステーション３を結合さ
せた後、固定ツマミ９３ｄによるガイド基板９３ａとメ
ンテナンステーブル９との結合を解除する。すると、ガ
イド基板９３ａおよびガイド基板９３ａに結合されたメ
ンテナンステーブル９が、ガスシリンダ９３ｅの付勢力
により、回転軸９３ｃを中心として上方に跳ね上がる。
この場合、図１（ｃ）に示すように、ガスシリンダ９３
ｅのストロークエンドでテストステーション３が９０度
回転する位置に停止し、テストステーション３の裏面が
前方に向く。これにより、テストステーション３の裏面
が前面に向くため、テストステーション３の裏面からの
メンテナンスが可能となる。

【００１８】上記本発明の一実施形態によれば、テスト
ステーション３のメンテナンスを行う際には、接続機構
８上のテストステーション３をレール８３ｄ、９１ａに
沿ってメンテナンステーブル９に移送することにより、
テストステーション３はオートハンドラ１から離れてそ
の上面が露出するので、その上方の空間からのメンテナ
ンスを容易に行うことができる。メンテナンス後は、逆
の動作でテストステーション３を接続機構８上に戻せば
よい。したがって、メンテナンスのために装置全体の占
有フロア面積を大きくする必要がなく、前述のように接
続フレーム７の奥行きが縮小される。さらに、メンテナ
ンステーブル９を通常操作時のスペースを活用して専用
スペースを必要としないようにすれば、フロア面積を一
層縮小させることができる。

【００１９】また、テストステーション３に接続されて
外部に露出するケーブル３ａが、メンテナンス時には接
続フレーム７に設けられたケーブルガイド１０で保護さ
れ、かつ繁雑さが軽減される。さらに、メンテナンステ
ーブル９を跳ね上げ機構９３によって跳ね上げることに
より、テストステーション３の裏面を前方に向けること
が簡単に行えるので、テストステーション３が非常に重
く、その裏面からメンテナンスを行う場合にあっては労
力が軽減し、少人数かつ短時間で行うことができる。

【００２０】

【発明の効果】以上、説明したように、本発明によれ
ば、接続フレームの奥行きが必要以上に大きくならず装
置全体の占有フロア面積の大幅な縮小が可能となり、も
って設備コストの低減が図られる（請求項１）。また、
テストステーションのメンテナンスを行う際に、テスト
ステーションとともに移動するケーブル等の補機類が保
護機構により保護され、繁雑さが軽減される（請求項
２）。さらに、回転機構を作動させることによりテスト
ステーションの裏面がメンテナンスのしやすい方向（水
平方向もしくはそれ以上の上方）に簡単に向くので、テ
ストステーションが非常に重く、その裏面からメンテナ
ンスを行う場合にあっては労力が軽減し、少人数かつ短
時間で行うことができる（請求項３）。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の一実施形態に係るメンテナンス構造
に基づくメンテナンス方法の手順を説明するための側面
図である。

【図２】 本発明の一実施形態に係るメンテナンス構造
を構成するケーブルガイドの斜視図である。

【図３】 本発明の一実施形態に係るメンテナンス構造
を構成するメンテナンステーブルの斜視図である。

【図４】 本発明の一実施形態に係るメンテナンス構造
を構成する接続機構の斜視図である。

【図５】 ＴＡＢ用オートハンドラとテストステーショ
ンの接続状態を示す斜視図である。

【図６】 従来のメンテナンス方法の手順を説明するた
めの側面図である。

【符号の説明】

１ ＴＡＢ用オートハンドラ ３ テストステーション ３ａ ケーブル（補機類） ７ 接続フレーム ８ 接続機構 ９ メンテナンステーブル １０ ケーブルガイド（保護機構） ８３ スライド機構 ９３ 跳ね上げ機構（回転機構）

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 接続フレームに支持されてＴＡＢデバイ
   スをリール形態で供給し搬送するＴＡＢ用オートハンド
   ラに接続機構を介して接続されるＴＡＢデバイス測定用
   テストステーションのメンテナンス構造であって、 前記接続機構に、前記テストステーションを略水平方向
   に移動可能とするスライド機構を設けるとともに、 このスライド機構によって移動するテストステーション
   が接続機構上から受け渡され、かつテストステーション
   が着脱自在に固定されるメンテナンステーブルを接続機
   構に近接配置したことを特徴とするＴＡＢ用オートハン
   ドラに接続されるテストステーションのメンテナンス構
   造。
2. 【請求項２】 前記接続フレームに、前記テストステー
   ションに接続されて外部に露出するケーブル等の補機類
   をテストステーションが移動する際に保護する保護機構
   が設けられていることを特徴とする請求項１に記載のＴ
   ＡＢ用オートハンドラに接続されるテストステーション
   のメンテナンス構造。
3. 【請求項３】 前記メンテナンステーブルには、固定さ
   れた前記テストステーションの裏面を略水平方向もしく
   はそれ以上の上方に向ける回転機構が設けられているこ
   とを特徴とする請求項１または２に記載のＴＡＢ用オー
   トハンドラに接続されるテストステーションのメンテナ
   ンス構造。