JPH11250736A - 導電ペースト - Google Patents

導電ペースト

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JPH11250736A
JPH11250736A JP5231298A JP5231298A JPH11250736A JP H11250736 A JPH11250736 A JP H11250736A JP 5231298 A JP5231298 A JP 5231298A JP 5231298 A JP5231298 A JP 5231298A JP H11250736 A JPH11250736 A JP H11250736A
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JP
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molecular weight
thermosetting resin
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conductive paste
conductive
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JP5231298A
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English (en)
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秀次 ▲桑▼島
Hideji Kuwajima
Akitsugu Tashiro
了嗣 田代
Shozo Yamana
章三 山名
Shuichiro Shimoda
修一郎 下田
Toshiyuki Hachiya
利幸 八矢
Kuniaki Sato
国昭 佐東
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Resonac Corp
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Hitachi Chemical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】印刷または塗布し易く、だれが少なく、且つス
ルーホールの肩の部分に必要な厚さの導電層を安定して
形成することができる導電ペーストを提供する。 【解決手段】導電粉および熱硬化性樹脂を必須成分とし
て含有し、前記熱硬化性樹脂が2種類からなり、且つ、
この熱硬化性樹脂の1種類がゲルパーミエーションクロ
マトグラフィーで測定した高分子量側と低分子量側に各
々1つづつ分子量ピークを有してなる導電ペースト並び
に導電粉および熱硬化性樹脂を必須成分として含有し、
前記熱硬化性樹脂が2種類からなり、且つこの熱硬化性
樹脂の1種類は、平均分子量の異なる高分子量熱硬化性
樹脂および低分子量熱硬化性樹脂の混合物とした導電ペ
ースト。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、導電ペーストに関
する。
【0002】
【従来の技術】印刷配線板上に導電回路を形成する方法
の1つに、電子材料、1994年10月号の42〜46
頁に記載されているように、導電ペーストを用いる方法
がある。特に、導電粉として銀粉を用いた導電ペースト
は、導電性が良好なことから印刷配線基板、電子部品な
どの配線導体や電極となる導電層の形成に使用されてい
る。
【0003】このように導電ペーストを用いる方法は、
導電粉をバインダに分散させ、ペースト状にした導電ペ
ーストを基板に塗布(印刷)して所定のパターン形状の
導電層を形成する方法である。
【0004】従来の導電ペーストは、エポキシ樹脂、フ
ェノール樹脂等の熱硬化性樹脂をバインダ成分とし、こ
のバインダ成分を有機溶剤に溶解させ、それに銀粉等の
導電粉を加えてペースト状に混練したものである。
【0005】このような導電ペーストは、基板に印刷
(塗布)し、また、スルーホール接続を行うために適し
た粘度をもつことが必要である。しかしながら、従来の
導電ペーストは、印刷後の断面形状にだれが起きやすく
十分なものではなかった。特に基板に形成されたスルー
ホールの周囲および内壁面に導電ペーストを塗布,乾燥
および硬化させて導電層を形成する際に、スルーホール
の肩の部分の導電層が薄くなり、電気抵抗が大きくなる
ことがあった。
【0006】電気抵抗を低くするために導電粉の銀粉の
配合量を増加させ、また、導電ペーストの粘度を高くし
てだれを防止する方法を検討してきたが、塗布(印刷)
作業が困難であり、だれ防止と塗布(印刷)作業の容易
さの両方を満足することができなかった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】請求項1および3記載
の発明は、印刷または塗布し易く、だれが少なく、且つ
スルーホールの肩の部分に必要な厚さの導電層を安定し
て形成することができる導電ペーストを提供するもので
ある。
【0008】請求項2および4記載の発明は、請求項1
および3記載の発明のうち、特にだれが少なく、且つス
ルーホールの肩の部分に必要な厚さの導電層を安定して
形成することができる導電ペーストを提供するものであ
る。
【0009】請求項5記載の発明は、請求項1および3
記載の発明に加えて、接着性および導電性に優れた導電
層を形成することができる導電ペーストを提供するもの
である。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、導電粉および
熱硬化性樹脂を必須成分として含有し、前記熱硬化性樹
脂が2種類から成り、且つこの熱硬化性樹脂の1種類が
ゲルパーミエーションクロマトグラフィーで測定した高
分子量側と低分子量側に各々1つづつ分子量ピークを有
してなる導電ペーストに関する。
【0011】また、本発明は、熱硬化性樹脂の1種類が
エポキシ樹脂であり、ゲルパーミエーションクロマトグ
ラフィーで測定した高分子量側と低分子量側に各々1つ
づつ分子量ピークを有する熱硬化性樹脂がフェノール樹
脂である導電ペーストに関する。
【0012】また、本発明は、導電粉および熱硬化性樹
脂を必須成分として含有し、前記熱硬化性樹脂が2種類
から成り、且つこの熱硬化性樹脂の1種類は、平均分子
量の異なる高分子量熱硬化性樹脂および低分子量熱硬化
性樹脂の混合物とした導電ペーストに関する。
【0013】また、本発明は、高分子量熱硬化性樹脂の
分子量が低分子量熱硬化性樹脂の2倍以上である導電ペ
ーストに関する。
【0014】更に、本発明は、熱硬化性樹脂の他の1種
類がエポキシ樹脂であり、分子量の異なる熱硬化性樹脂
がフェノール樹脂である導電ペーストに関する。
【0015】
【発明の実施の形態】導電ペーストの印刷(塗布)性と
だれ性を制御するには、熱硬化性樹脂が単一であるより
は、2種類を組み合わせたものが好ましく、組み合わせ
ることで反応性や接着性あるいは導電性を制御し易いも
のとすることができる。
【0016】また、その熱硬化性樹脂の1種類に高分子
量熱硬化性樹脂と低分子量熱硬化性樹脂を併用すること
により、ペースト状態にあるときの粘度と乾燥過程の粘
度上昇を容易に且つ任意に制御することがきる。
【0017】高分子量熱硬化性樹脂を配合したことによ
り、硬化反応を速くすることができ、粘度上昇を速くす
ることができる。このために、乾燥および硬化過程にお
ける乾燥に伴い、粘度が速やかに上昇してだれの発生が
抑制される。更に、低分子量熱硬化性樹脂を併用してい
るために、導電層(回路導体)の表面が平滑になる特徴
を有する。このために、導電性が安定して得られる。
【0018】また、高分子量熱硬化性樹脂の分子量は、
低分子量熱硬化性樹脂の2倍以上にすることが好まし
い。特にペースト状態にあるときの粘度と乾燥過程の粘
度上昇を容易に且つ任意に制御するためには、高分子量
熱硬化性樹脂の分子量を低分子量熱硬化性樹脂の2倍以
上にするのが好ましく、3倍以上とするのがより好まし
く、5倍以上とするのが特に好ましい。
【0019】また、前記熱硬化性樹脂の1つとしてエポ
キシ樹脂を使用し、分子量の異なる熱硬化性樹脂として
フェノール樹脂を使用することが好ましい。
【0020】エポキシ樹脂は、接着性や機械的強度を改
善する。また、分子量の異なる2種類のフェノール樹脂
は、高分子量熱硬化性樹脂の分子量を低分子量熱硬化性
樹脂の分子量の2倍以上とすることにより硬化性を改善
し、信頼性を高める。また、高分子量熱硬化性樹脂の分
子量を低分子熱硬化性樹脂の3倍以上、更には5倍以上
とすることにより、導電ペーストの導電性も優れたもの
にすることができる。
【0021】本発明において使用される熱硬化性樹脂と
しては、上記に示すエポキシ樹脂、フェノール樹脂の他
にメラミン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂等を
あげることができる。そのうち、分子量の異なる熱硬化
性樹脂としては、上記に示すフェノール樹脂の他にエポ
キシ樹脂が分子量の異なるオリゴマーを製造し易く、且
つ、電気的性質,機械的性質等のバランスも良く使用し
易い。
【0022】これらの樹脂は、硬化剤,硬化触媒等を組
み合わせて使用される。
【0023】硬化剤の含有量は、熱硬化性樹脂100重
量部に対して0.05〜3重量部の範囲であることが好
ましい。また、硬化触媒は、熱硬化性樹脂100重量部
に対して0.01〜1重量部の範囲であることが好まし
い。
【0024】本発明において使用される高分子量熱硬化
性樹脂および低分子量熱硬化性樹脂の分子量は、エポキ
シ樹脂の場合は、高分子量が重量平均分子量で1,20
0以上、好ましくは1,500〜10,000の範囲内
であり、低分子量が重量平均分子量で1,000以下、
好ましくは300〜800の範囲内である。また、フェ
ノール樹脂の場合は、高分子量が重量平均分子量で2
5,000以上、好ましくは30,000〜120,0
00の範囲内であり、低分子量が重量平均分子量で2
0,000以下、好ましくは1,000〜15,000
の範囲内である。
【0025】本発明において重量平均分子量は、ゲルパ
ーミエーションクロマトグラフィー法により標準ポリス
チレンの検量線を用いて求めた値である。
【0026】導電粉としては、銅粉、銅合金粉、銀粉又
は銀合金粉等のように従来から導電ペーストにおいて使
用されている導電粉を用いることができ、特に、導電性
の観点から、りん片状の銀粉または銀合金粉が好まし
い。りん片状の導電粉と不定形状導電粉を併用すると、
導電性を特に良くすることができるので好ましい。不定
形状導電粉とは、球状、立方体状、四面体状、塊状、略
球状、こんぺい糖の表面のように突起のある形状の導電
粉のことである。
【0027】導電粉の粒度は、ペースト内に均一に分散
させ且つ導電ペーストにより形成された導電層内での導
電性を均一にすることから、0.5〜60μmの範囲と
するのが好ましく、0.5〜40μmの範囲とするのが
より好ましい。なお、0.5μm以下の粒子が含まれて
いても差しつかえない。
【0028】熱硬化性樹脂(Aとする)と導電粉(Bと
する)とは、導電性を良好にすることから、(A+B)
に対して(B)が75重量%以上となるように配合する
のが好ましく、78重量%以上となるように配合するの
がより好ましい。また、形成される導電層の密着性や強
度等の観点から、(A+B)に対して(B)が93重量
%以下となるように配合するのが好ましく、90重量%
以下となるように配合するのがより好ましい。
【0029】熱硬化性樹脂および導電粉のほかに、カッ
プリング剤、腐食防止剤、分散剤等の成分を、必要に応
じて添加することができる。もし、添加する場合、その
含有量は、カップリング剤は、熱硬化性樹脂および導電
粉100重量部に対して0.01〜3重量部の範囲であ
ることが好ましい。腐食防止剤は、導電粉100重量部
に対して0.01〜1重量部の範囲であることが好まし
い。分散剤は、導電粉100重量部に対して0.01〜
1重量部の範囲であることが好ましい。
【0030】熱硬化性樹脂、硬化剤、硬化触媒、導電粉
および必要に応じて添加されるカップリング剤、腐食防
止剤、分散剤等は、通常は、溶剤と共に撹拌らいかい
機、3本ロールなどを用いてペースト状にする。
【0031】使用する溶剤としては、エチルカルビトー
ル,ブチルカルビトール等を単独または混合して使用す
ることができる。また、この溶剤は、導電ペーストを乾
燥および硬化させる過程で揮発してしまうことから、ペ
ースト化できる範囲で可及的に少ない使用量とするのが
好ましい。例えば、熱硬化性樹脂および導電粉85〜5
5重量%に対して15〜45重量%の範囲であることが
好ましく、熱硬化性樹脂および導電粉82〜58重量%
に対して18〜42重量%の範囲であることが好まし
い。
【0032】
【実施例】以下、本発明の実施例を説明する。
【0033】実施例1 熱硬化性樹脂として、重量平均分子量が2500のビス
フェノールA型エポキシ樹脂[油化シェルエポキシ株式
会社製のエピコート1007(商品名)]5重量部、重
量平均分子量が19000のレゾール型フェノール樹脂
[日立化成工業株式会社製のヒタノール4011(商品
名)]5重量部および重量平均分子量が80000のレ
ゾール型フェノール樹脂[日立化成工業株式会社製のヒ
タノール4011A(商品名)]5重量部を予め混合
し、これに2−エチル−4−メチルイミダゾールを0.
3重量部加えて混合し、更に、エチルカルビトールおよ
びブチルセロソルブの等量混合溶剤30重量部を加えて
均一に混合して樹脂溶液とした。
【0034】得られた樹脂溶液のゲルパーミエーション
クロマトグラフィー(GPC)による分子量測定条件を
以下に示す。
【0035】試料は、THF(テトラヒドロフラン)5
mlあたり120mgを溶解した樹脂溶液を樹脂溶液を
200マイクロリットル用いた。分離に用いたカラム
は、日立化成工業株式会社製のゲルパツク(Gelpa
k)(商標名)GL−R440+GL−R450+GL
−400Mで、検出器は、株式会社日立製作所製のL3
300RI(商品名)を用い、溶離液はTHF、流量は
2.05ml/分の条件で行った。また、検量線は、標
準ポリスチレンを使用して作製した。以下の実施例およ
び比較例も同じ条件で行った。
【0036】上記の測定条件で分子量分布を測定した結
果、重量平均分子量80,000をピークにするものお
よび重量平均分子量2,500をピークにするものの混
合物であることを確認した。
【0037】次に、この樹脂溶液に、りん片状の導電粉
として平均粒径が4.8μmの銀粉[株式会社徳力化学
研究所製のTCG−1(商品名)]55重量部および不
定形状導電粉として平均粒径が5μmの還元銀粉30重
量部を添加し、撹拌らいかい機で均一に分散して導電ペ
ーストを調製した。
【0038】一方、厚さが1.6mmの紙フェノール銅
張積層基板[日立化成工業株式会社製のMCL−437
F(商品名)]の銅箔をエッチングで除去し、その上
に、前記で得た導電ペーストを用いて乾燥硬化後に、厚
さが15μm、幅が1mmおよび長さが130mmとな
るようなテストパターンを印刷し、80℃で30分間乾
燥させ、その後、30分間かけて150℃に昇温し、1
50℃で30分間保持して熱硬化性樹脂を硬化させて導
電回路を形成した。
【0039】その結果、この導電回路の導電層の幅のだ
れは5μmであり、表面は平滑で接着性も良好であっ
た。また、導電回路の比抵抗は72μΩ・cmであり、
はんだ耐熱試験(260±5℃のはんだ槽に10秒間浸
せきを5回繰り返す)後の抵抗変化率も±10%以内で
良好であった。
【0040】実施例2 熱硬化性樹脂として、実施例1で用いた重量平均分子量
が2,500のビスフェノールA型エポキシ樹脂に代え
て重量平均分子量が800のビスフェノールA型エポキ
シ樹脂[チバガイギー社製のアラルダイトCT−200
(商品名)]5重量部を用いたほかは前記実施例1と同
様の工程を経て樹脂溶液を得た後に導電ペーストを作製
した。なお、樹脂溶液について実施例1と同様の測定条
件で分子量分布を測定した結果、重量平均分子量80,
000をピークにするもの、重量平均分子量19,00
0をピークにするものおよび重量平均分子量800をピ
ークにするものの混合物であることを確認した。
【0041】次に、厚さが1.6mmの紙フェノール銅
張積層基板[日立化成工業株式会社製のMCL−437
F(商品名)]に直径が0.5mmのスルーホールを形
成し、このスルーホール内に前記導電ペーストを充填し
て70℃で45分間乾燥させ、その後、40分間かけて
150℃に昇温し、150℃で30分間保持して熱硬化
性樹脂を硬化させてスルーホール接続(面間接続導電層
の形成)を行った。
【0042】その結果、スルーホールの肩の部分におい
ても十分な厚さで導電ペーストが硬化して導電層を形成
しており、スルーホール接続の電気抵抗は200個のス
ルーホール接続の平均値で16.4mΩ/穴であり、は
んだ耐熱試験後の抵抗変化率も±10%以内であった。
【0043】実施例3 熱硬化性樹脂として実施例2で用いた重量平均分子量が
800のビスフェノールA型エポキシ樹脂2.5重量
部、実施例1で用いた重量平均分子量が2,500のビ
スフェノールA型エポキシ樹脂2.5重量部および重量
平均分子量が60,000のレゾール型フェノール樹脂
[日立化成工業株式会社製のヒタノール4011B(商
品名)]10重量部を予め混合して用いたほかは実施例
1と同様の工程を経て樹脂溶液を得た後、導電ペースト
を作製した。なお、樹脂溶液に付いて実施例1と同様の
測定条件で分子量分布を測定した結果、重量平均分子量
60,000をピークにするもの、重量平均分子量2,
500をピークにするものおよび重量平均分子量800
をピークにするものの混合物であることを確認した。
【0044】次に、この導電ペーストを使用して、実施
例2と同様に、スルーホール接続を行って特性を評価し
た結果、スルーホールの肩の部分においても十分な厚さ
で導電ペーストが硬化して導電層を形成しており、スル
ーホール接続の電気抵抗は200個のスルーホールの平
均値で16.7mΩ/穴であり、はんだ耐熱試験後の抵
抗変化率も±10%以内であった。
【0045】実施例4 熱硬化性樹脂として実施例2で用いた重量平均分子量が
800のビスフェノールAエポキシ樹脂2.5重量部、
実施例1で用いた重量平均分子量が2,500のビスフ
ェノールA型エポキシ樹脂2.5重量部および重量平均
分子量20,000のレゾール型フェノール樹脂[日立
化成工業株式会社製のヒタノール4011F(商品
名)]10重量部を予め混合して用いたほかは実施例1
と同様の工程を経て樹脂溶液を得た後、導電ペーストを
作製した。なお、樹脂溶液について実施例1と同様の測
定条件で分子量分布を測定した結果、重量平均分子量2
0,000をピークにするもの、重量平均分子量2,5
00をピークにするものおよび重量平均分子量800を
ピークにするものの混合物であることを確認した。
【0046】次に、この導電ペーストを使用して、実施
例2と同様に、スルーホール接続を行って特性を評価し
た結果、スルーホールの肩の部分においても十分な厚さ
で導電ペーストが硬化して導電層を形成しており、スル
ーホール接続の電気抵抗は200個のスルーホールの平
均値で17.4mΩ/穴であり、はんだ耐熱試験後の抵
抗変化率も±10%以内であった。
【0047】実施例5 熱硬化製樹脂として、実施例1で用いた重量平均分子量
が2,500のビスフェノールA型エポキシ樹脂5重量
部、実施例1で用いた重量平均分子量が19,000の
レゾール型フェノール樹脂5重量部および重量平均分子
量が50,000のレゾール型フェノール樹脂[日立化
成工業株式会社製のヒタノール4011C(商品名)]
5重量部を予め混合して用いたほかは実施例1と同様の
工程を経て樹脂溶液を得た後、導電ペーストを作製し
た。なお、樹脂溶液について実施例1と同様の測定条件
で分子量分布を測定した結果、重量平均分子量50,0
00をピークにするもの、重量平均分子量19,000
をピークにするものおよび重量平均分子量2,500を
ピークにするものの混合物であることを確認した。
【0048】次に、この導電ペーストを使用して、実施
例1と同様に、導電回路を形成して特性を評価した結
果、導電回路の導電層の幅のだれは5μmであり、表面
は平滑で接着性も良好であった。また、導電回路の比抵
抗は65μΩ・cmであり、はんだ耐熱試験後の抵抗変
化率も±10%以内で良好であった。
【0049】比較例1 熱硬化性樹脂として、実施例1で用いた重量平均分子量
が19,000のレゾール型フェノール樹脂15重量部
を単独で、エチルカルビトールおよびブチルセロソルブ
の等量混合溶剤30重量部に溶解させるようにしたほか
は実施例1と同様の工程を経て樹脂溶液を得た後、導電
ペーストを作製した。なお、樹脂溶液について実施例1
と同様の測定条件で分子量分布を測定した結果、重量平
均分子量19,000をピークにするものであることを
確認した。
【0050】次に、この導電ペーストを使用して、実施
例1と同様に、導電回路を形成した。
【0051】その結果、この導電回路の導電層の幅のだ
れは10μmに悪化した。但し、導電層の表面は平滑で
良好であった。
【0052】比較例2 比較例1で得た導電ペーストを用いて、実施例2と同様
に、スルーホール接続を行った。
【0053】その結果、スルーホール接続の電気抵抗は
200個のスルーホール接続の平均値で29mΩ/穴に
悪化した。
【0054】
【発明の効果】請求項1および3記載の導電ペースト
は、印刷または塗布し易く、だれが少なく、且つスルー
ホールの肩の部分に必要な厚さの導電層を安定に形成す
ることができる導電ペーストである。
【0055】請求項2および4記載の導電ペーストは、
請求項1および3記載の導電ペーストのうち、特にだれ
が少なく、且つスルーホールの肩の部分に必要な厚さの
導電層を安定に形成することができる導電ペーストであ
る。
【0056】請求項5記載の導電ペーストは、請求項1
および3記載の導電ペーストに加えて、接着性および導
電性に優れた導電層を形成することができる導電ペース
トである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 下田 修一郎 茨城県日立市鮎川町三丁目3番1号 日立 化成工業株式会社山崎工場内 (72)発明者 八矢 利幸 茨城県鹿島郡波崎町大字砂山五番壱 日立 化成工業株式会社鹿島工場内 (72)発明者 佐東 国昭 茨城県鹿島郡波崎町大字砂山五番壱 日立 化成工業株式会社鹿島工場内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】導電粉および熱硬化性樹脂を必須成分とし
    て含有し、前記熱硬化性樹脂が2種類から成り、且つこ
    の熱硬化性樹脂の1種類がゲルパーミエーションクロマ
    トグラフィーで測定した高分子量側と低分子量側に各々
    1つづつ分子量ピークを有してなる導電ペースト。
  2. 【請求項2】熱硬化性樹脂の1種類がエポキシ樹脂であ
    り、ゲルパーミエーションクロマトグラフィーで測定し
    た高分子量側と低分子量側に各々1つづつ分子量ピーク
    を有する熱硬化性樹脂がフェノール樹脂である請求項1
    記載の導電ペースト。
  3. 【請求項3】導電粉および熱硬化性樹脂を必須成分とし
    て含有し、前記熱硬化性樹脂が2種類から成り、且つこ
    の熱硬化性樹脂の1種類は、平均分子量の異なる高分子
    量熱硬化性樹脂および低分子量熱硬化性樹脂の混合物と
    した導電ペースト。
  4. 【請求項4】高分子量熱硬化性樹脂の分子量が低分子量
    熱硬化性樹脂の2倍以上である請求項3記載の導電ペー
    スト。
  5. 【請求項5】熱硬化性樹脂の他の1種類がエポキシ樹脂
    であり、分子量の異なる熱硬化性樹脂がフェノール樹脂
    であることを特徴とする請求項3または4記載の導電ペ
    ースト。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012092201A (ja) * 2010-10-26 2012-05-17 Kyocera Chemical Corp 導電性樹脂組成物およびそれを用いた半導体装置
KR20190024414A (ko) * 2017-08-31 2019-03-08 삼성에스디아이 주식회사 전자파 차폐용 도전성 조성물, 이로부터 제조된 전자파 차폐층 및 이를 포함하는 회로기판 적층체
KR20190120669A (ko) * 2018-04-16 2019-10-24 삼성에스디아이 주식회사 전자파 차폐용 도전성 조성물, 이로부터 제조된 전자파 차폐층 및 이를 포함하는 회로기판 적층체

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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