JPH11257960A - レーザー照射装置 - Google Patents

レーザー照射装置

Info

Publication number
JPH11257960A
JPH11257960A JP10085055A JP8505598A JPH11257960A JP H11257960 A JPH11257960 A JP H11257960A JP 10085055 A JP10085055 A JP 10085055A JP 8505598 A JP8505598 A JP 8505598A JP H11257960 A JPH11257960 A JP H11257960A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light receiving
light
laser
unit
receiving unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10085055A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4074967B2 (ja
Inventor
Fumio Otomo
文夫 大友
Kunihiro Hayashi
邦広 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to JP08505598A priority Critical patent/JP4074967B2/ja
Priority to DE69917519T priority patent/DE69917519T2/de
Priority to EP99103980A priority patent/EP0943892B1/en
Priority to US09/266,530 priority patent/US6108075A/en
Publication of JPH11257960A publication Critical patent/JPH11257960A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4074967B2 publication Critical patent/JP4074967B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C15/00Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
    • G01C15/002Active optical surveying means
    • G01C15/004Reference lines, planes or sectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 [目的] 本発明は、回転レーザー装置に係わり、特
に、本体の傾き方向が、対象反射体の方向と一致させる
ことのできる回転レーザー装置を提供することを目的と
する。 [構成] 本発明は、発光部がレーザー光を発し、回転
照射部が、発光部からのレーザー光を平面に回転照射さ
せ、第1の受光部が、所定の方向で回転照射部からのレ
ーザー光の少なくとも一部を受光し、第2の受光部が、
対象反射体から反射されるレーザー光を検出し、演算手
段が、第1の受光部と第2の受光部との検出信号に基づ
いて、対象反射体と装置本体との向きの誤差を検出する
様になっている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は回転レーザー装置に
係わり、特に、本体の傾き方向が、対象反射体の方向と
一致させることのできる回転レーザー装置に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】従来の基準平面を形成するための回転レ
ーザー装置は、水平面を形成する他に目標地点を検出
し、往復レーザー走査及びレーザーポイントで視認性を
高めたり、傾斜された傾斜基準面を形成するために使用
されている。
【0003】この目標地点には、位置検出のためにレー
ザー光を反射させる対象反射体が設置されている。回転
レーザー装置から回転照射されたレーザー光が、対象反
射体に当たると、レーザーは装置に向けて反射され、反
射されたレーザー光により対象反射体の位置を装置本体
が検知する。
【0004】図10により、装置本体の構造を説明す
る。
【0005】発光部162により発光されたレーザー光
は、回転照射部13にあるペンタプリズム18により、
直角方向に曲げられ平面上に回転照射される。照射され
たレーザー光は、目標地点に設けられた対象反射体16
8により装置に向けて反射される。反射レーザー光は、
再び回転照射部13にあるペンタプリズム18により入
射し、ハーフミラー103(又は、穴明きミラー)で反
射され受光部104に向かう様に構成されている。
【0006】ここで発光部162は、発光ダイオード1
01と、コリメータレンズ102と、ハーフミラー10
3とから構成されている。そして、受光部104は、コ
ンデンサレンズ110と、第2の受光部114と、反射
光検出回路116とから構成されている。
【0007】反射光検出部164で受光されたレーザー
光は、反射光検出回路116で検出される。反射光検出
回路116からの検出信号と、回転照射部13の回転位
置を示すエンコーダー105の信号とにより、制御部1
17は対象反射体168の方向を算出し、例えば、走査
駆動部165により走査モータ15を制御してレーザー
光を対象反射体に向ける様になっている。
【0008】対象反射体168の方向に傾斜面を形成す
る場合には、反射光検出回路116からの検出信号とエ
ンコーダー105からの信号とから、対象反射体168
の方向及び本体の方向を算出し、方向が一致する様に本
体を回転させる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
レーザー装置では、回転照射部13に連動したエンコー
ダからの信号に基づいて、間接的にレーザー光の照射方
向を検出している。そのため、回転照射部13から照射
されるレーザー方向とエンコーダーからの出力とは、正
確に一致している必要がある。
【0010】ところが可動部分には、ある程度のガタが
あり、そして、このガタは必要なものである。
【0011】このため、水平方向に回転照射部13のガ
タがあると、図11の様に移動して照射光の平行ズレA
を招いてしまう。また回転照射部13が傾くと、図12
の様にペンタプリズム18が傾き、回転方向のズレBを
生じる。この平行ズレAと回転方向のズレBとにより、
エンコーダの信号と実際のレーザー光の出射方向に誤差
が生じ一致しなくなるという問題点があった。
【0012】一般的な工事では、このレーザー光で作成
された基準平面、傾斜面に基づいて数百mの範囲で実施
されるので、僅かな誤差でも被害が増大するという問題
点があった。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
傾斜測量装置は、本体装置をターゲット中心方向に正確
に向けるアライメント精度には、種々の誤差要因がある
ことが知られている。
【0014】固定部では、調整された状態では外的作用
がない限り誤差要因はないと仮定できるから、誤差要因
となるのは、略、回転可動部分のガタである。例えば、
回転照射部が水平に移動すると、照射光の平行ズレが生
じることになる。また、回転部分が傾くと、レーザー光
を傾斜面に反射するペンタプリズムが傾き、回転方向の
誤差を生じることになる。
【0015】これらの誤差により、所定方向に対してズ
レ方向に傾斜面が形成される。一般的に、このレーザー
光で作られた基準平面に基づいて数百メートルの範囲の
工事を行うため、僅かな誤差でも影響が大きくなるとい
う問題点がある。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題に鑑み
案出されたもので、レーザー光を発するための発光部
と、この発光部からのレーザー光を平面に回転照射させ
るための回転照射部と、所定の方向で前記回転照射部か
らのレーザー光の少なくとも一部を受光するための第1
の受光部と、対象反射体から反射されるレーザー光を検
出するための第2の受光部と、前記第1の受光部と該第
2の受光部との検出信号に基づいて、前記対象反射体と
装置本体との向きの誤差を検出するための演算手段とか
ら構成されている。
【0017】また本発明は、レーザー光を発するための
発光部と、この発光部からのレーザー光を平面に回転照
射させるための回転照射部と、所定の方向で前記回転照
射部からのレーザー光の少なくとも一部を受光するため
の第1の受光部と、対象反射体から反射されるレーザー
光を検出するための第2の受光部と、前記回転照射部の
回転位置を検出するためのエンコーダと、前記第1の受
光部と前記第2の受光部と該エンコーダとの検出信号に
基づいて、前記対象反射体と装置本体との向きの誤差を
検出するための演算手段とから構成されている。
【0018】そして本発明は、回転照射部からのレーザ
ー光を、ミラーを介して受光する構成にすることもでき
る。
【0019】更に本発明のミラーは、ハーフミラーにす
ることもできる。
【0020】また本発明の第1の受光部は、第1のセン
サと第2のセンサとから構成することもできる。
【0021】そして本発明の第1の受光部の受光光路に
は、スリットを形成することもできる。
【0022】更に本発明は、レーザー光を発するための
発光部と、この発光部からのレーザー光を平面に回転照
射させるための回転照射部と、所定の方向で前記回転照
射部からのレーザー光の少なくとも一部を受光するため
の第1の受光部と、対象反射体から反射されるレーザー
光を検出するための第2の受光部と、前記第1の受光部
と該第2の受光部との検出信号に基づいて、前記対象反
射体と装置本体との向きの誤差を検出するための演算手
段と、この演算手段の出力信号に基づいて、装置本体を
回動させるための回動手段とから構成されている。
【0023】
【発明の実施の形態】以上の様に構成された本発明は、
発光部がレーザー光を発し、回転照射部が、発光部から
のレーザー光を平面に回転照射させ、第1の受光部が、
所定の方向で回転照射部からのレーザー光の少なくとも
一部を受光し、第2の受光部が、対象反射体から反射さ
れるレーザー光を検出し、演算手段が、第1の受光部と
第2の受光部との検出信号に基づいて、対象反射体と装
置本体との向きの誤差を検出する様になっている。
【0024】また本発明は、発光部がレーザー光を発
し、回転照射部が、発光部からのレーザー光を平面に回
転照射させ、第1の受光部が、所定の方向で回転照射部
からのレーザー光の少なくとも一部を受光し、第2の受
光部が、対象反射体から反射されるレーザー光を検出
し、エンコーダが、回転照射部の回転位置を検出し、演
算手段が、第1の受光部と第2の受光部とエンコーダと
の検出信号に基づいて、対象反射体と装置本体との向き
の誤差を検出する様になっている。
【0025】そして本発明は、回転照射部からのレーザ
ー光を、ミラーを介して受光することもできる。
【0026】更に本発明のミラーをハーフミラーにする
こともできる。
【0027】また本発明の第1の受光部は、第1のセン
サと第2のセンサとから構成することもできる。
【0028】そして本発明の第1の受光部の受光光路に
は、スリットを形成することもできる。
【0029】更に本発明は、発光部がレーザー光を発
し、回転照射部が、発光部からのレーザー光を平面に回
転照射させ、第1の受光部が、所定の方向で回転照射部
からのレーザー光の少なくとも一部を受光し、第2の受
光部が、対象反射体から反射されるレーザー光を検出
し、演算手段が、第1の受光部と第2の受光部との検出
信号に基づいて、対象反射体と装置本体との向きの誤差
を検出し、回動手段が、演算手段の出力信号に基づい
て、装置本体を回動させることができる。
【0030】
【実施例】
【0031】本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。
【0032】「原理」
【0033】そこで図4及び図9に示す様に、ペンタプ
リズム18と対象反射体168との間にミラー100を
形成し、集光レンズ200を介して、受光手段300に
レーザー光を導く様に構成する。
【0034】従って、ペンタプリズム18からの出射レ
ーザー光が所定の方向と一致する場合には、図5に示す
様に鉛直下方にレーザー光が照射され、受光手段300
の中央に入射する。しかしながらペンタプリズム18か
らの出射レーザーが一致しない場合には、レーザー光も
傾いて、受光手段300から離れた位置に入射される。
【0035】以上の様に構成された場合には、受光手段
300に入力がある状態が、ペンタプリズム18から照
射される方向と、本体4の傾き方向とが一致した場合で
ある。
【0036】次に、図6に示す様に、受光手段300に
2分割センサ310を使用することもできる。この2分
割センサ310は、第1センサ311と、第2センサ3
12とから構成されている。
【0037】なお、この受光手段300は、第1の受光
部に該当するものである。
【0038】この2分割センサ310の出力信号は、図
8に示す様な波形となり、第1センサ311の出力と、
第2センサ312の出力とを差し引けば、連続した波形
が得られ、このゼロクロス点が、ペンタプリズム18の
ゼロ基準位置となる。
【0039】即ち、このゼロ基準位置が、ペンタプリズ
ム18から照射される方向と、本体4の向き方向とが一
致する場合である。
【0040】なお、2分割センサ310は、図7に示す
様に、一体型のセンサ320を使用することもできる。
【0041】またミラー100は、ハーフミラーを使用
することもできる。
【0042】「実施例」
【0043】この自動で傾斜設定する回転レーザー装置
1000は、レーザー光を照射するためのレーザー投光
部10と、レーザー光を基準平面に回転照射するための
回転照射部13と、傾斜を設定するための傾斜設定部
と、傾斜方向を検知するための方向検知手段と、装置本
体を傾斜方向に向けるための回動部とから構成されてい
る。
【0044】図1に示す様に、レーザー投光部10は、
球面(又はジンバル)構造で支持されており、鉛直上方
にレーザー光を照射している。レーザー投光部10の上
部には、回転照射部13が設けられ、レーザー光が基準
平面上に回転照射されている。なお、この回転照射部1
3は、走査モータ15により回転又はスキャン(往復走
査)されている。
【0045】レーザー投光部10は、傾斜モータ31が
駆動する傾斜設定部の上下機構によって、直交する2方
向に伸びるアーム25を上下させることにより、1方向
又は2方向に傾斜可能となっている。また、傾斜設定部
は、レーザー投光部10を整準するための整準部として
も機能する様になっている。即ち、装置本体4に設けら
れた傾斜センサー20及び傾斜センサ21からの信号に
基づいて水平に整準される様に構成されている。
【0046】図2は、本実施例の回転レーザー装置10
00の光学的及び電気的を示すもので、本体4は、発光
部162と、回動部163と、反射光検出部164と、
走査駆動部165と、発光素子駆動部166と、制御部
117と、回動駆動部169とから構成されている。
【0047】発光部162は、レーザーダイオード10
1と、コリメータレンズ102と、孔空きミラー103
とから構成されている。レーザーダイオード101から
射出されたレーザー光は、コリメータレンズ102で平
行光束にされ、孔空きミラー103を透過して回動部1
63に射出される様に構成されている。
【0048】受光部104は、コンデンサレンズ110
と、第2の受光部114と、反射光検出回路116とか
ら構成されている。
【0049】またレーザーダイオード101は、発光素
子駆動部166により変調が施され、レーザーダイオー
ド101から発光されるレーザー光は、外部光と識別可
能にされている。
【0050】回動部163は、発光部162から入射さ
れたレーザー光線を水平方向に射出走査させるためのも
のであり、ペンタプリズム18と、このペンタプリズム
18を駆動するための走査モータ15と、ペンタプリズ
ム18の回転位置を検出するためのエンコーダ105と
から形成されている。
【0051】ペンタプリズム18は、発光部162から
入射されたレーザー光線を、90度偏向させて水平方向
に射出させるためのもので、発光部162の光軸を中心
に回転自在に支持されている。
【0052】反射光検出部164は、コンデンサレンズ
110と、第2の受光部114と、反射光検出回路11
6とから構成されている。
【0053】第2の受光部114は、対象反射体168
からの反射光を受光し、反射光検出回路116に送出す
る様に構成されている。
【0054】ここで、対象反射体168を説明する。
【0055】対象反射体168は、回動部163から射
出されたレーザー光を、反射し、再び回動部163に向
かわせるためのものである。
【0056】図3の(A)に示す様に、対象反射体16
8は、反射層122を基板121の両幅端部に形成し、
反射層を122を2つにしたものである。対象反射体1
68からの反射であることを識別しやすくするためであ
る。
【0057】この対象反射体168をレーザー光が走査
すると、図3の(B)に示す様に、中間部が抜けた2つ
のパルス状となる。従って、この反射パルス光は、回動
部163のペンタプリズム18に入射した後、孔空きミ
ラー103で反射されて90度偏向し、反射光検出部1
64に入射する様に構成されている。
【0058】制御部117は、反射光検出回路116の
受信信号とエンコーダ105の検出信号とから、受光信
号の重心位置、即ち、対象反射体168の中心を演算す
るためのものである。
【0059】回動駆動部169は、制御部117で演算
された重心位置に基づいて、回動部163を制御するた
めのものである。
【0060】次に本実施例の作用を説明する。
【0061】本体4はの整準作業が完了した後、走査モ
ータ15により回転照射部13を駆動させ、発光部16
2からのレーザー光を水平面内に走査する。
【0062】図2に示す様に、発光部162から照射さ
れたレーザー光は、回転照射部13のペンタプリズム1
8を平面に回転照射させる。平面上にある対象反射体1
68から反射されたレーザー光は、再び回転照射部13
から入射し、穴明きミラー103で反射される。
【0063】反射された対象反射体168からレーザー
光は、第2の受光部114の受光素子で受光され、反射
光検出回路116により検出される。
【0064】回転照射部13から照射されたレーザー光
の一部は、所定の方向(又は傾斜設定方向)に設けられ
た第1の受光部300に受光される。
【0065】制御部117は、回転照射部13の回転位
置を示すエンコーダの出力信号と、第1の受光部300
と第2の受光部114との出力信号とから、対象反射体
168の位置と本体装置の傾斜方向を算出する。制御部
117は、方向が一致していないと判断した場合には、
ズレ誤差を補正する様に、回動駆動部169を制御し、
回動モータを駆動して対象反射体168の方向に向く様
に本体を回転させる。
【0066】なお、この回動部163が、回動手段に該
当するものである。
【0067】対象反射体168の方向と本体装置の傾斜
方向が一致すると回動は停止する。傾斜方向が一致した
後、傾斜設定がなされる。
【0068】従って本体4が、前記対象反射体168に
正体した状態で高度角θを設定し、走査モータ15を駆
動してレーザー光を走査させれば、目標に対して高度角
θだけ傾斜した基準面が形成される。
【0069】次に、図6に示す様に、ペンタプリズム1
8と対象反射体168との間にミラー100を形成し、
集光レンズ200を介して、2分割センサ310にレー
ザー光を導く様に構成する。この2分割センサ310
は、第1センサ311と、第2センサ312とから構成
されている。
【0070】この2分割センサ310の出力信号は、図
8に示す様な波形となり、第1センサ311の出力と、
第2センサ312の出力とを差し引けば、連続した波形
が得られ、このゼロクロス点が、ペンタプリズム18の
ゼロ基準位置となる。
【0071】なお、2分割センサ310は、図7に示す
様に、一体型のセンサ320を使用することもできる。
【0072】以上の様に構成された本実施例は、装置4
が対象反射体168と正体した時、ペンタプリズム18
と対象反射体168との間にミラー100を挿入し、こ
のレーザー光を取り入れることにより、本体4の傾き方
向を一致させ、回転照射部13の誤差をキャンセルする
ものである。
【0073】本実施例は、回転照射部13から照射され
る照射方向と、本体4の傾き方向とが一致した場合の
み、レーザー光が、2分割センサ310に受光する構成
となっているので、反射光であることを認識するための
制御部117の出力信号と、2分割センサ310の出力
信号とが一致すれば、装置4の傾き方向は、対象反射体
168の方向と一致することになる。
【0074】即ち本実施例は、制御部117の出力信号
と2分割センサ310の出力信号とが一致したとき、本
体の傾き方向は、対象反射体の方向と一致すると判断す
る判断手段を備える構成にすることもできる。
【0075】なお、2分割センサ310は受光手段に該
当するものであり、2分割によるゼロクロス点を正確に
把握できる効果があり、高精度の検出が可能となる。
【0076】また図7に示す様に、受光手段までの光路
上にスリットを設け、所定方向のみを受光する様にすれ
ば、受光位置が限定され、1個の受光素子でも精度の高
い検出が可能である。
【0077】
【効果】以上の様に構成された本発明は、レーザー光を
発するための発光部と、この発光部からのレーザー光を
平面に回転照射させるための回転照射部と、所定の方向
で前記回転照射部からのレーザー光の少なくとも一部を
受光するための第1の受光部と、対象反射体から反射さ
れるレーザー光を検出するための第2の受光部と、前記
第1の受光部と該第2の受光部との検出信号に基づい
て、前記対象反射体と装置本体との向きの誤差を検出す
るための演算手段とから構成されているので、本体の傾
き方向を一致させ、回転照射部の誤差をキャンセルする
ことができるという効果がある。
【0078】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の構成を説明する図である。
【図2】本発明の実施例の光学的及び電気的構成を説明
する図である。
【図3】対象反射体168を説明する図である。
【図4】本実施例の原理を説明する図である。
【図5】本実施例の原理を説明する図である。
【図6】本実施例の原理を説明する図である。
【図7】本実施例の原理を説明する図である。
【図8】本実施例の原理を説明する図である。
【図9】本実施例の原理を説明する図である。
【図10】従来技術を説明する図である。
【図11】従来技術を説明する図である。
【図12】従来技術を説明する図である。
【符号の説明】
1000 回転レーザー装置 4 本体 10 レーザー投光部 13 回転照射部 15 第1のモータ 18 ペンタプリズム 20 傾斜センサ 21 傾斜センサ 25 アーム 31 第2のモータ 101 レーザーダイオード 102 コリメータレンズ 103 孔空きミラー 105 エンコーダ 108 インデックス 100 ミラー 110 コンデンサレンズ 114 受光器 117 制御部 121 基板 122 反射層 160 回動モータ 162 発光部 163 回動部 164 反射光検出部 165 走査駆動部 166 発光素子駆動部 168 対象反射体 169 回動駆動部 200 集光レンズ 300 受光手段 310 2分割センサ 311 第1センサ 312 第2センサ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザー光を発するための発光部と、こ
    の発光部からのレーザー光を平面に回転照射させるため
    の回転照射部と、所定の方向で前記回転照射部からのレ
    ーザー光の少なくとも一部を受光するための第1の受光
    部と、対象反射体から反射されるレーザー光を検出する
    ための第2の受光部と、前記第1の受光部と該第2の受
    光部との検出信号に基づいて、前記対象反射体と装置本
    体との向きの誤差を検出するための演算手段とから構成
    されているレーザー照射装置。
  2. 【請求項2】 レーザー光を発するための発光部と、こ
    の発光部からのレーザー光を平面に回転照射させるため
    の回転照射部と、所定の方向で前記回転照射部からのレ
    ーザー光の少なくとも一部を受光するための第1の受光
    部と、対象反射体から反射されるレーザー光を検出する
    ための第2の受光部と、前記回転照射部の回転位置を検
    出するためのエンコーダと、前記第1の受光部と前記第
    2の受光部と該エンコーダとの検出信号に基づいて、前
    記対象反射体と装置本体との向きの誤差を検出するため
    の演算手段とから構成されているレーザー照射装置。
  3. 【請求項3】 回転照射部からのレーザー光を、ミラー
    を介して受光する請求項1又は2記載のレーザー照射装
    置。
  4. 【請求項4】 前記ミラーは、ハーフミラーである請求
    項3記載のレーザー照射装置。
  5. 【請求項5】 第1の受光部は、第1のセンサと第2の
    センサとから構成されている請求項1〜4記載の何れか
    1つであるレーザー照射装置。
  6. 【請求項6】 第1の受光部の受光光路にスリットが形
    成されている請求項1〜5記載の何れか1つであるレー
    ザー照射装置。
  7. 【請求項7】 レーザー光を発するための発光部と、こ
    の発光部からのレーザー光を平面に回転照射させるため
    の回転照射部と、所定の方向で前記回転照射部からのレ
    ーザー光の少なくとも一部を受光するための第1の受光
    部と、対象反射体から反射されるレーザー光を検出する
    ための第2の受光部と、前記第1の受光部と該第2の受
    光部との検出信号に基づいて、前記対象反射体と装置本
    体との向きの誤差を検出するための演算手段と、この演
    算手段の出力信号に基づいて、装置本体を回動させるた
    めの回動手段とから構成されているレーザー照射装置。
JP08505598A 1998-03-15 1998-03-15 レーザー照射装置 Expired - Fee Related JP4074967B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08505598A JP4074967B2 (ja) 1998-03-15 1998-03-15 レーザー照射装置
DE69917519T DE69917519T2 (de) 1998-03-15 1999-03-10 Laserstrahlemittierendes Gerät
EP99103980A EP0943892B1 (en) 1998-03-15 1999-03-10 Laser beam emitting apparatus
US09/266,530 US6108075A (en) 1998-03-15 1999-03-11 Laser beam emitting apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08505598A JP4074967B2 (ja) 1998-03-15 1998-03-15 レーザー照射装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11257960A true JPH11257960A (ja) 1999-09-24
JP4074967B2 JP4074967B2 (ja) 2008-04-16

Family

ID=13847973

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP08505598A Expired - Fee Related JP4074967B2 (ja) 1998-03-15 1998-03-15 レーザー照射装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6108075A (ja)
EP (1) EP0943892B1 (ja)
JP (1) JP4074967B2 (ja)
DE (1) DE69917519T2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001289634A (ja) * 2000-04-06 2001-10-19 Topcon Corp 位置測定設定装置及び位置測定設定方法
JP2002168625A (ja) * 2000-12-04 2002-06-14 Topcon Corp 振れ検出装置、振れ検出装置付き回転レーザ装置及び振れ検出補正装置付き位置測定設定システム
WO2011118511A1 (ja) 2010-03-25 2011-09-29 株式会社 トプコン 回転レーザ装置及び回転レーザシステム

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4653898B2 (ja) * 2001-03-28 2011-03-16 株式会社トプコン 傾斜検出装置
CN2814337Y (zh) * 2005-08-16 2006-09-06 南京德朔实业有限公司 激光标线器

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB8800031D0 (en) * 1988-01-04 1988-02-10 Gorham B Surveying apparatus & method
US4895440A (en) * 1988-08-22 1990-01-23 Spectra-Physics, Inc. Laser-based measurement system
US5784155A (en) * 1996-02-08 1998-07-21 Kabushiki Kaisha Topcon Laser survey instrument
JP3681198B2 (ja) * 1995-05-25 2005-08-10 株式会社トプコン レーザ測量機
JPH09297025A (ja) * 1996-05-02 1997-11-18 Topcon Corp レーザー照射光検出装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001289634A (ja) * 2000-04-06 2001-10-19 Topcon Corp 位置測定設定装置及び位置測定設定方法
JP2002168625A (ja) * 2000-12-04 2002-06-14 Topcon Corp 振れ検出装置、振れ検出装置付き回転レーザ装置及び振れ検出補正装置付き位置測定設定システム
WO2011118511A1 (ja) 2010-03-25 2011-09-29 株式会社 トプコン 回転レーザ装置及び回転レーザシステム
JP2011203130A (ja) * 2010-03-25 2011-10-13 Topcon Corp 回転レーザ装置及び回転レーザシステム
US8857068B2 (en) 2010-03-25 2014-10-14 Kabushiki Kaisha Topcon Rotary laser irradiating system and rotary laser system

Also Published As

Publication number Publication date
EP0943892B1 (en) 2004-05-26
US6108075A (en) 2000-08-22
DE69917519T2 (de) 2004-09-23
DE69917519D1 (de) 2004-07-01
EP0943892A2 (en) 1999-09-22
EP0943892A3 (en) 2000-11-15
JP4074967B2 (ja) 2008-04-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4531965B2 (ja) 振れ検出装置、振れ検出装置付き回転レーザ装置及び振れ検出補正装置付き位置測定設定システム
JP4320099B2 (ja) 測量装置
CN100397039C (zh) 管道敷设用的激光校平系统
JP4255682B2 (ja) 反射体自動追尾装置
US20080004808A1 (en) Surveying instrument and method of controlling a surveying instrument
WO1997016703A1 (fr) Systeme laser rotatif
WO2006132060A1 (ja) 距離測定装置
JP2000193454A (ja) 回転レ―ザ装置
JPH09250927A (ja) 測量システム
EP1321739B1 (en) Position measuring instrument
JP3937268B2 (ja) レーザー装置
CN111580127B (zh) 具有旋转反射镜的测绘系统
JP4074967B2 (ja) レーザー照射装置
US6151106A (en) Laser irradiation system
JP2002116023A (ja) 無人搬送車の位置検出用反射板及び位置検出装置
JP6749192B2 (ja) スキャナ装置および測量装置
JPH0260124B2 (ja)
JP3623885B2 (ja) レーザ測量装置
JPH07120262A (ja) 測量機
JP2994028B2 (ja) 速度計
JPH0249534Y2 (ja)
WO2024232359A1 (ja) 測量装置及び測量システム
KR20030020110A (ko) 레이저 빔의 자동 측정 및 정렬장치
JP3500683B2 (ja) 鉛直面レーザ投光装置
JPH05341836A (ja) 無人搬送車

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050310

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070122

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070130

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070329

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070515

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070709

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20071116

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20071218

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080117

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110208

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120208

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120208

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130208

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140208

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees