JPH09250927A - 測量システム - Google Patents

測量システム

Info

Publication number
JPH09250927A
JPH09250927A JP8060664A JP6066496A JPH09250927A JP H09250927 A JPH09250927 A JP H09250927A JP 8060664 A JP8060664 A JP 8060664A JP 6066496 A JP6066496 A JP 6066496A JP H09250927 A JPH09250927 A JP H09250927A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
surveying instrument
signal light
surveying
light
target point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP8060664A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3741477B2 (ja
Inventor
Yasutaka Katayama
康隆 片山
Kazuaki Kimura
和昭 木村
Jun Sasagawa
潤 笹川
Kazue Koshikawa
和重 越川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to JP06066496A priority Critical patent/JP3741477B2/ja
Priority to DE69734623T priority patent/DE69734623T2/de
Priority to US08/820,653 priority patent/US6023326A/en
Priority to EP97250082A priority patent/EP0797076B1/en
Publication of JPH09250927A publication Critical patent/JPH09250927A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3741477B2 publication Critical patent/JP3741477B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C15/00Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
    • G01C15/002Active optical surveying means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 自動測量機がその望遠鏡部を目視により確認
でき難い程目標点から遠くにある場合でも、自動測量機
の望遠鏡部の視準軸を目標点に合致させることのできる
測量システムの提供。 【解決手段】 測量システムは、基準点Aに配設され
て、水平方向と鉛直方向とに測量機本体を自動的に回転
させる自動回転機構を有する測量機11と、目標点B側
に設置されて前記測量機に向けて信号光を投光する信号
光投光装置16と、測量機本体側に設置されて、信号光
P3を受光して信号光投光装置16が存在する方向を粗
く検出する粗方向検出装置20と、測量機本体側に設置
されて、信号光P3を受光して信号光投光装置16が存
在する方向を精密に検出する精密方向検出装置21と、
測量機本体側に設置されて、粗方向検出装置の検出出力
に基づき測量機11を制御する制御装置24とを備えて
いる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、測量機を遠隔操作して
測量を行う測量システムの改良に関する。
【0002】
【従来の技術】測量を行うための測量システムは、例え
ば基準点に置かれた測量機と、測量機が視準する目標点
に置かれた視準目標である反射鏡(コーナーキューブ
等)から構成されている。測量システムに使用される測
量機は、一般に測距・測角を電気的に処理する測量機で
あって、手動操作型の測量機、水平回転および垂直回転
をモーターで駆動する自動測量機、走査光を投光し、目
標点の反射鏡を追尾する機能を備えた自動追尾式の自動
測量機等がある。
【0003】測量には、測量機が視準する目標点に視準
目標を一致させる場合と、目標点に置かれた視準目標を
測量機が視準する場合とがあるが、このとき、目標点に
いる作業員が基準点に置かれた測量機を確認するため、
その測量機にポイント設定装置を設けたものがある。そ
のポイント設定装置は、左右(又は上下左右)と中央と
で発光色が異なるポイント設定光を出射し、測量機の視
準方向を概略示唆させるものである。
【0004】手動操作型の測量機による測量では、基準
点側の作業員が測量機を操作し、目標点に設置された視
準目標の反射鏡を探して測量を行う。測量機の視準する
目標点に視準目標を一致させる場合には、測量機側の作
業員と視準目標側の作業員とが無線連絡しながら行う
か、あるいはポイント設定光によって概略位置決めして
から無線連絡することにより行っている。
【0005】自動測量機による測量の場合も、手動操作
型の測量機とその視準作業は大略同様であるが、自動測
量機の場合、これに加えてポイント設定光を頼りに目標
点側から無線等により自動測量機を操作することができ
る。また、視準方向と一致するガイドレーザー光を投光
するガイドレーザー装置を装備している自動測量機の場
合には、視準目標に一致させることが可能であるため、
測量機側に原則として作業員はいなくても良く、図1は
その自動測量機による測量システムを示している。
【0006】その図1において、1は測量機、2は望遠
鏡部、3は無線通信機である。この測量機1は基準点A
に設置される。この測量機1は目標点Bに向かって距離
測定光P1を出射する。望遠鏡部2の視準軸は距離測定
光P1と同軸(又は平行)とされている。この測量機1
は零位置からの水平角及び鉛直角を測角することが可能
で、水平方向及び垂直方向に自動的に回転させる自動回
転機構が備えている(その自動回転機構の詳細構成につ
いては、例えば、特願平4−131078号を参照)。
【0007】目標点Bにはポール4が立てられる。ポー
ル4には反射鏡5が設置されると共に、無線通信機6、
メモリ機能付制御装置7が取り付けられている。その目
標点Bに設置の反射鏡5と測量機1の望遠鏡部2の視準
軸とを一致させることにより、測量機1から目標点Bま
での距離及びその角度を測量機1に測定させることがで
きる。なお、メモリ機能付制御装置7は無線通信機3、
6を介して測量機1の制御を行うほか、測量機1の測定
結果を目標点B側で記録し、読出す場合に用いられる。
自動追尾式の自動測量機の場合、自動測量機による測量
に比べてより一層省力化が可能であり、ポイント設定装
置等により概略視準目標を一致させ、自動追尾式の自動
測量機からの走査光により目標点の反射鏡を検知して視
準する。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】そのポイント設定光
は、望遠鏡部2の視準軸と反射鏡5とを合致させるため
に用いられる。従って、測量機1の望遠鏡部2が肉眼で
概略見える距離のところが好ましく、基準点Aから基準
点Bまでの距離が遠すぎて肉眼で測量機1の望遠鏡部2
を概略確認できない場合には、どの方向からポイント設
定光が目標点Bに到来するか予測がつかず、望遠鏡部2
の視準軸を反射鏡5に合致させ難いという不都合があ
る。
【0009】また、自動追尾式の自動測量機を用いて測
量を行う測量システムは、障害物が基準点Aと目標点B
との間に存在せず、かつ、目標点Bに設置したポール4
をゆっくりと移動させる場合、複数個の予め定められた
目標点Bを繰り返し測定する場合には、非常に優れてい
るが、複数個の目標点をマーキングする場合、移動測定
を行う場合、反射鏡5を自動追尾させなければならず、
車、人等が基準点Aと目標点Bとの間を通過して、自動
追尾用の光束を遮断するようなこと、目標点Bを変更す
るためにポール4を移動させる途中に、樹木、建物等の
障害物があって自動追尾用の光束を遮断するようなこと
があると、その自動測量機が反射鏡5を見失うことにな
り、その結果、自動測量機が広範囲を探索する反射鏡サ
ーチモード(反射鏡を探索するモード)となり、反射鏡
5を探索するのにかなりの時間を要するという不都合が
ある。
【0010】無線通信機3、6により作業中断、作業開
始を無線波P2により送受信し、自動測量機1を制御す
る場合も、基準点Aから目標点Bまでの距離が遠くて、
測量機1を目視で確認し難いときには、望遠鏡部2の視
準を反射鏡5に合致させ難いという不都合がある。ま
た、無線波P2の規制が世界各国で異なり、各国毎に無
線通信機3、6の周波数、出力を変更する必要がある。
【0011】本発明は、上記の事情に鑑みて為されたも
ので、その目的とするところは、自動測量機の検知範囲
を越えて自動測量機が全く別の方向を向いていたとして
も容易に自動測量機を目標点が存在する方向に向けるこ
とができ、かつ、各国毎の規制を極力受けることなく、
自動測量機がその望遠鏡部を目視により確認でき難い程
目標点から遠くにある場合でも、自動測量機の望遠鏡部
の視準軸を目標点に合致させることのできる測量システ
ムを提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に記載
の測量システムは、上記の課題を解決するため、基準点
に配設されて、水平方向と鉛直方向とに測量機本体を自
動的に回転させる自動回転機構を有する測量機と、目標
点側に設置されて前記測量機に向けて信号光を投光する
信号光投光装置と、測量機本体側に設置されて、前記信
号光を受光して前記信号光投光装置が存在する方向を粗
く検出する粗方向検出装置と、測量機本体側に設置され
て、前記信号光を受光して前記信号光投光装置が存在す
る方向を精密に検出する精密方向検出装置と、前記測量
機本体側に設置されて、前記粗方向検出装置の検出出力
に基づき前記測量機を制御する制御装置とを備えてい
る。
【0013】
【発明の実施の形態】
【0014】
【発明の実施の形態1】図2において、11は三脚に設
置された自動測量機を示している。この自動測量機11
は基準点Aに設置されている。この自動測量機11は図
3に示すように基盤12、測量機本体の一部を構成する
托架部13、望遠鏡部14を有する。托架部13は垂直
軸Vの回りに水平方向に回転される。望遠鏡部14は水
平軸Hの回りに鉛直方向に回転される。基盤12の内部
には、図示は略すが托架部13を水平方向に回転させる
自動回転機構が設けられ、托架部13の内部には、図示
は略すが望遠鏡部14を鉛直方向に回転させる自動回転
機構が設けられている。これらの自動回転機構は托架部
13の内部に設置のCPU24(図5、図7参照)によ
って制御される。望遠鏡部14は望遠鏡を有し、図3に
おいて15はその望遠鏡の一部を構成する対物レンズを
示している。
【0015】この測量機11は測距光束P1を目標点B
に設置のポール4に取り付けられた反射鏡(例えば、コ
ーナーキューブ)5に向けて出射する。その測距光束P
1の出射方向は対物レンズ15の光軸、すなわち、望遠
鏡部14の視準軸と同軸又は平行とされている。測距光
束P1は反射鏡5により反射され、測量機11はその反
射光束を受光することにより、基準点Aから目標点Bま
での距離を測定する。ポール4には、図2に示すように
測量機11に向けて信号光P3を投光する信号光投光装
置16が設けられている。
【0016】この信号光投光装置16は、図4に示すよ
うに、CPU17Aと変調回路17Bとドライブ回路1
7Cとこのドライブ回路17Cによって点灯・消灯され
る発光素子17Dと、必要に応じてセットされる集光用
の投光レンズ17Eとから構成されている。CPU17
Aはメモリ機能付制御装置7により制御され、17Fは
CPU17Aとメモリ機能付制御装置7とを接続するイ
ンタフェースである。その信号光P3は投光レンズ17
Eを介して放射状に出射され、例えばパルス光から構成
される。
【0017】図3に示す測量機11には、信号光P3を
受光して信号光投光装置16が存在する方向を粗検出す
る粗方向検出装置20と、信号光P3を受光して信号光
投光装置16が存在する方向を精密検出する精密方向検
出装置21とが設けられている。その粗方向検出装置2
0は例えば左右の托架部13、望遠鏡部14の接眼レン
ズ(図示を略す)の側に設けられており、精密方向検出
装置21は望遠鏡部14の対物レンズ15の側に設けら
れている。図5に示すように、粗方向検出部20は、概
略受光窓20E、受光素子20A、電気フィルター回路
20B、復調回路20C、A/D変換回路20Dとから
構成されている。信号光P3は変調されて信号光投光装
置16から出射され、その信号光P3は受光素子20A
で受光される。受光素子20Aはその信号光P3を光電
変換し、その光電変換信号は電気フィルター回路20B
により変調信号を除去され、その変調信号が除去された
光電変換信号は復調回路20Cで復調され、A/D変換
回路20Dによりデジタル信号に変換されて、測量機1
1のCPU24に入力される。粗方向検出部20では、
信号光投光装置16の位置を判断する必要はなく、信号
光P3が照射されているか、又はその強弱を判断すれば
よいので、受光素子20Aには比較的簡単な構造のもの
を用いることができる。
【0018】例えば、測量機11の後部の粗方向検出装
置20とその右部の粗方向検出装置20とが同時に信号
光P3を受光した場合、受光した粗方向検出装置20の
位置により受光時点の測量機本体の視準方向と目標点の
方向との差異が把握でき、これに基づいて測量機11を
目標点に概略向けることができ、光電変換信号の強弱を
検知することにより、その信号光P3の到来方向の判断
の精度がより一層向上する。粗方向検出部20により目
標点Bに測量機11の視準方向を概略向けられると、精
密方向検出装置21が信号光P3を受光する。
【0019】図6は精密方向検出装置21の受光部21
Fの概略図を示している。その図6において、22は集
光レンズ、23は受光素子である。精密方向検出装置2
1は粗方向検出装置20の電気回路と同様の電気回路を
有する。信号光P3は集光レンズ22により受光素子2
3上に集光される。受光素子23には、例えばCCD、
PSD、二分割型あるいは四分割型素子が用いられ、受
光素子23は視準方向と信号光P3の到来方向との差異
を検出する。精密方向検出装置21は、測量機11が目
標点Bを視準できる程度の受光精度を必要とし、自動測
量機のガイドレーザー光が投光する視準目標の範囲及び
走査光の走査範囲が角度にして数分であるので、ここで
は、この自動測量機の精度と同程度の精度としている。
【0020】図6に示すように、集光レンズ22の光軸
L2は望遠鏡部14の視準軸と平行(あるいは同軸)に
なるように配設されている。光軸L2が受光素子23と
垂直に交わる点aを原点(0,0)とする。図7におい
て、例えば、信号光P3が矢印F方向から測量機11に
到来するものとすると、接眼側の面Xに設けられた粗方
向検出装置20と托架部13の一面Y側に設けられた粗
方向検出装置20とに信号光P3が同時に受光され、托
架部13の一面Z側に設けられた粗方向検出装置20に
設けられた粗方向検出装置20には信号光P3が受光さ
れない。各粗方向検出装置20の検出出力は測量機11
のCPU24に入力される。また、例えば、信号光P3
が矢印F´方向から測量機11に到来するものとする
と、面Xに設けられた粗方向検出装置20のみに信号光
P3が受光される。更に、信号光P3が矢印F´´方向
から測量機11に到来するものとすると、面Xに設けら
れた粗方向検出装置20の受光出力よりも面Yに設けら
れた粗方向検出装置20の受光出力が大きくなる。CP
U24は各面X、Y、Zに設けられた粗方向検出装置2
0の受光出力の有無とその相対的な大きさとによって、
測量機11の対物レンズ15が概略信号光P3の到来方
向に向けられるように測量機11を水平方向に回転させ
るための指令を出力する。
【0021】ここでは、図7において、信号光P3が矢
印F方向から測量機11に到来するものとし、測量機1
1が水平方向に回転されると、対物レンズ15が概略信
号光P3の到来方向に向けられる。これによって、図6
に示すように、信号光P3が精密方向検出装置21の集
光レンズ22の視野内に入り、信号光P3の光点P4が
受光素子23に形成される。この光点P4の形成位置が
例えば座標値b(x,y)であるとする。制御装置24
はこの座標値b(x,y)に基づきこの座標値b(x,
y)が座標値b(0,0)となるように測量機本体を水
平方向に回動させると共に垂直方向に回動させる。これ
により、信号光P3の到来方向Fと光軸L2とを一致さ
せることができる。
【0022】この発明の実施の形態1に示す自動測量機
11の場合、対物レンズ15の配設箇所の上方に精密方
向位置検出装置21が設けられているので、例えば、望
遠鏡部14が信号光P3を受光しにくい上向きを向いて
いると、図6に示すように、光点P4´が受光素子23
から外れた位置に形成されるため、受光しにくい状態と
なる。これを避けるためには、望遠鏡部14を鉛直方向
の回りに定期的に回動させる構成とすれば良い。また、
粗方向位置検出装置を受光素子23を挟んで上下方向両
側に設ける構成、あるいは、図3に示すように、望遠鏡
部14の精密位置検出装置21を挟んでその両側に粗方
向位置検出装置20´を設ける構成としても良い。
【0023】
【発明の実施の形態2】図8はハンドル部25に筺体2
6を設け、筺体26の両側面27と背面28とに粗方向
検出装置20を設け、前面29に精密方向検出装置21
を設ける構成としたものであり、この構成によれば、現
存の測量機11を大幅に変更することなく本発明を実施
できる。
【0024】この発明の実施の形態2の場合、粗方向検
出装置20、精密方向検出装置21を測量機本体の托架
部13の上部に設けられているので、発明の実施の形態
1に示す一体型の自動測量機11(図3参照)に較べて
上下方向の動作が制限される。例えば、鉛直方向斜め
上、あるいは斜め下方から信号光P3が到来する場合、
その受光面積が見掛け上小さくなるので、鉛直方向斜め
上、あるいは斜め下方から測量機11に信号光P3が到
来する場合には、その光電変換信号の出力は水平方向か
ら到来する場合に較べて相対的に小さくなる。例えば、
信号光P3が鉛直斜め上方から到来する場合、発明の実
施の形態1で説明したと同様に、交点P4が受光素子2
3から外れた位置に形成されるので、信号光P3の到来
方向を精密に検出することが不可能となる。鉛直方向真
上、鉛直方向真下から信号光P3が到来する場合、受光
が困難となる。もしも、鉛直方向真上、鉛直方向真下か
ら信号光P3が測量機11に到来する可能性がある場合
には、測量機11の鉛直方向真上、鉛直方向真下の面に
粗方向検出装置20を設ければ良いし、各粗方向検出装
置20に集光レンズを設けて集光量を向上させる構成と
しても良く、要するに、死角が存在しないように各粗方
向検出装置20を設ける構成とすれば良い。更に、同一
面に複数個の粗方向検出装置20を設けて、受光光量を
増大させるようにしても良い。
【0025】図9に示すように、精密方向位置検出装置
21の受光部21Fを回転中心Oを中心に上下方向に回
動可能の構成とし、光点P4が受光素子23の原点a
(0,0)に位置するように精密方向位置検出装置21
の受光部21Fを回転させ、精密方向位置検出装置21
の受光部21Fの基準位置からの回動角を測定検知し、
その値を測量機11のCPU24に入力することにより
測量機11の視準軸を信号光P3の到来方向に向けさせ
ることができる。この他、図10に示すように、反射鏡
30を精密方向位置検出装置21の受光部21Fに設
け、パルスモータ、あるいは、エンコーダ付のモータに
より光点P4が受光素子23の原点a(0,0)に位置
するようにこの反射鏡30を鉛直方向に回動させ、基準
位置からの反射鏡30の回動角を測定し、これにより信
号光P3の到来方向を精密に検出する構成とし、同様に
その値を測量機11のCPU24に入力させることによ
り測量機11の視準軸を信号光P3の到来方向に向けさ
せることができる。この場合、受光素子23には小面積
のものを使用することができる。
【0026】信号光P3には、測量機11の制御情報を
重畳させることができ、例えば、測量機11の電源オ
ン、オフコマンド、測量機11の水平方向右回り、水平
方向左回りの制御情報、鉛直方向上回り、鉛直方向下回
りの制御情報を測量機11に向けて送信することにすれ
ば、測量機11を効率よく制御できることになり、更に
は、望遠鏡部14にポイント設定光部31を設け、作業
員がそのポイント光を目視することによって、より一層
精確な視準を行わせる構成とすることもできる。
【0027】加えて、図2に示すように、望遠鏡部14
に光データ送信機33を設け、ポール4に光データ受信
機34を設けることにすれば、必要に応じて、測定結果
の情報、測量機11の制御データ等の測量機11の情報
を目標点B側の作業員に知らせることができ、この場
合、光データ送信機による送信光として測距光P1ある
いは追尾式測量機の場合には追尾光束を用いる構成とす
れば、測量機11の構成を大幅に複雑化することなく、
測量データ送信機能を追加できる。
【0028】本発明は、以上説明したように、粗方向位
置検出装置20により信号光P3の到来方向を検出して
精密方向位置検出装置21をその到来方向に向け、精密
方向位置検出装置21によりその信号光P3の到来方向
を精密に検出し、測量機11の視準軸を目標点Bに合致
させるものであり、受光素子23は二次元位置を検出す
るCCDに限られるものではなく、一次元検出素子を互
いに直交する方向に配設して光点P4の二次元位置を検
出する構成、一次元検出素子のみを鉛直方向に設け、粗
方向検出装置20により検出された検出結果に基づいて
測量機11を水平方向に回動させて、交点P4がその一
次元検出素子を横切る直前で一旦その回動を停止させ、
その後、測量機11をゆっくりと同方向に回動させて交
点P4がその一次元検出素子を横切った時点を検出し、
測量機11の回動慣性により一次元検出素子を横切って
停止した時点から反対方向に測量機11をゆっくりと回
動させ、これを数回繰り返すことにより暫時交点P4の
結像位置を一次元検出素子上に収束させる構成とすれ
ば、一次元検出素子のみを用いても、信号光P3の到来
方向を検出することができる。
【0029】
【発明の効果】本発明に係わる測量システムは、以上説
明したように構成したので、自動測量機の検知範囲を越
えて自動測量機が全く別の方向を向いていたとしても容
易に自動測量機を目標点が存在する方向に向けることが
でき、かつ、各国毎の規制を極力受けることなく、自動
測量機がその望遠鏡部を目視により確認でき難い程目標
点から遠くにある場合でも、自動測量機の望遠鏡部の視
準軸を目標点に合致させることのできる測量システムを
提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 従来の測量システムの一例を示す説明図であ
る。
【図2】 本発明の測量システムの一例を示す説明図で
ある。
【図3】 本発明の発明の実施の形態1に係わる測量機
の一例を示す斜視図である。
【図4】 本発明に係わる信号光投光装置の一例を示す
ブロック回路図である。
【図5】 本発明に係わる粗方向検出装置の一例を示す
ブロック回路図である。
【図6】 本発明に係わる精密方向検出装置の一例を示
すブロック回路図である。
【図7】 本発明に係わる測量システムの作用を説明す
るための説明図である。
【図8】 本発明の発明の実施の形態2に係わる測量機
の他の例を示す斜視図である。
【図9】 本発明に係わる精密方向検出装置の変形例を
示す図である。
【図10】 本発明に係わる精密方向検出装置の他の変
形例を示す図である。
【符号の説明】
11…測量機 16…信号光投光装置 20…粗方向検出装置 21…精密方向検出装置 24…制御装置(CPU) A…基準点 B…目標点
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 越川 和重 東京都板橋区蓮沼町75番1号株式会社トプ コン内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基準点に配設されて、水平方向と鉛直方
    向とに測量機本体を自動的に回転させる自動回転機構を
    有する測量機と、 目標点側に設置されて前記測量機に向けて信号光を投光
    する信号光投光装置と、 測量機本体側に設置されて、前記信号光を受光して前記
    信号光投光装置が存在する方向を粗く検出する粗方向検
    出装置と、 測量機本体側に設置されて、前記信号光を受光して前記
    信号光投光装置が存在する方向を精密に検出する精密方
    向検出装置と、 前記測量機本体側に設置されて、前記粗方向検出装置の
    検出出力に基づき前記測量機を制御する制御装置とを備
    えた測量システム。
  2. 【請求項2】 前記信号光が前記測量機の制御データで
    ある請求項1に記載の測量システム。
  3. 【請求項3】 測量機に設置されて測量データを送光す
    る光データ送信機と目標点側に設置されて前記測量デー
    タを受光する光データ受信機とを有する請求項1又は請
    求項2に記載の測量システム。
JP06066496A 1996-03-18 1996-03-18 測量システム Expired - Fee Related JP3741477B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP06066496A JP3741477B2 (ja) 1996-03-18 1996-03-18 測量システム
DE69734623T DE69734623T2 (de) 1996-03-18 1997-03-18 Vermessungssystem
US08/820,653 US6023326A (en) 1996-03-18 1997-03-18 Surveying system
EP97250082A EP0797076B1 (en) 1996-03-18 1997-03-18 Surveying system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP06066496A JP3741477B2 (ja) 1996-03-18 1996-03-18 測量システム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09250927A true JPH09250927A (ja) 1997-09-22
JP3741477B2 JP3741477B2 (ja) 2006-02-01

Family

ID=13148836

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP06066496A Expired - Fee Related JP3741477B2 (ja) 1996-03-18 1996-03-18 測量システム

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6023326A (ja)
EP (1) EP0797076B1 (ja)
JP (1) JP3741477B2 (ja)
DE (1) DE69734623T2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104011502A (zh) * 2011-12-06 2014-08-27 天宝导航有限公司 自动水准测量
JP2018189575A (ja) * 2017-05-10 2018-11-29 株式会社トプコン 測量システム

Families Citing this family (60)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3784154B2 (ja) * 1997-11-14 2006-06-07 株式会社トプコン 測量機の通信システム
JP3805504B2 (ja) * 1997-11-14 2006-08-02 株式会社トプコン 測量機の通信システム
DE19833996C1 (de) * 1998-07-29 1999-12-09 Zeiss Carl Jena Gmbh Elektronisches Nivellier und Verfahren zur Videoanzielung
US6138367A (en) * 1998-08-14 2000-10-31 Trimble Navigation Limited Tilt prediction for total station
JP4320099B2 (ja) * 1999-03-26 2009-08-26 株式会社トプコン 測量装置
DE19914174A1 (de) 1999-03-29 2000-10-12 Wernicke & Co Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Formbearbeiten des Umfangsrandes von Brillengläsern
JP4210792B2 (ja) * 1999-06-15 2009-01-21 株式会社トプコン 位置検出装置
US6619406B1 (en) * 1999-07-14 2003-09-16 Cyra Technologies, Inc. Advanced applications for 3-D autoscanning LIDAR system
US6633290B1 (en) 2000-05-18 2003-10-14 Cyra Technologies, Inc. Apparatus and method for forming 2D views of a structure from 3D point data
US6804380B1 (en) 2000-05-18 2004-10-12 Leica Geosystems Hds, Inc. System and method for acquiring tie-point location information on a structure
US6771840B1 (en) * 2000-05-18 2004-08-03 Leica Geosystems Hds, Inc. Apparatus and method for identifying the points that lie on a surface of interest
US6604068B1 (en) 2000-05-18 2003-08-05 Cyra Technologies, Inc. System and method for concurrently modeling any element of a model
DE10025110C2 (de) * 2000-05-20 2003-01-16 Zsp Geodaetische Sys Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Realisierung eines Informations- und Datenflusses für geodätische Geräte
JP4614506B2 (ja) * 2000-07-24 2011-01-19 株式会社トプコン 携帯型測距装置
WO2002063241A1 (fr) 2001-02-08 2002-08-15 Nkk Corporation Procede de mesure de coordonnees tridimensionnelles, dispositif de mesure de coordonnees tridimensionnelles et procede permettant la construction d"une structure de grande dimension
JP4127503B2 (ja) 2002-11-22 2008-07-30 株式会社トプコン 反射体自動追尾装置
SE525290C2 (sv) * 2002-12-20 2005-01-25 Trimble Ab Geodetiskt system för mätning/utsättning och metod för användning av detsamma
US6874239B1 (en) 2004-01-06 2005-04-05 Troy White Self-holding and self-leveling device for survey range pole and method of use
JP4177765B2 (ja) * 2004-01-30 2008-11-05 株式会社 ソキア・トプコン 測量システム
JP4177784B2 (ja) * 2004-05-14 2008-11-05 株式会社 ソキア・トプコン 測量システム
EP1734336A1 (de) * 2005-06-13 2006-12-20 Leica Geosystems AG Geodätisches Zielobjekt und Vermessungssystem
US7243434B1 (en) * 2006-01-08 2007-07-17 Fred Zucker Laser theodolite and kit for converting a new or pre-existing theodolite into a laser theodolite
USD573907S1 (en) 2007-06-11 2008-07-29 Black & Decker Inc. Rotary laser
DE102007055439A1 (de) * 2007-11-21 2009-05-28 Hilti Aktiengesellschaft Rotationslaser mit Fernsteuerung
JP5150229B2 (ja) * 2007-12-07 2013-02-20 株式会社トプコン 測量システム
JP5150234B2 (ja) * 2007-12-14 2013-02-20 株式会社トプコン 測量装置
US8024866B2 (en) * 2008-10-21 2011-09-27 Agatec Height recording system comprising a telescopic rule with two ends cooperating with an optical beam scanning in a horizontal plane
US9482755B2 (en) 2008-11-17 2016-11-01 Faro Technologies, Inc. Measurement system having air temperature compensation between a target and a laser tracker
WO2012141810A1 (en) 2011-03-03 2012-10-18 Faro Technologies, Inc. Target apparatus and method
EP2194399A1 (de) * 2008-12-03 2010-06-09 Leica Geosystems AG Positionsbestimmungsverfahren und geodätisches Vermessungssystem
EP2224205A1 (de) * 2009-02-25 2010-09-01 Leica Geosystems AG Nivelliergerät und Verfahren zum Nivellieren
US8769838B2 (en) * 2009-09-28 2014-07-08 Warren Dale Ward Surveyor 's rod and magnetic locator
US8619265B2 (en) 2011-03-14 2013-12-31 Faro Technologies, Inc. Automatic measurement of dimensional data with a laser tracker
US9377885B2 (en) 2010-04-21 2016-06-28 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for locking onto a retroreflector with a laser tracker
US9772394B2 (en) 2010-04-21 2017-09-26 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for following an operator and locking onto a retroreflector with a laser tracker
US8724119B2 (en) 2010-04-21 2014-05-13 Faro Technologies, Inc. Method for using a handheld appliance to select, lock onto, and track a retroreflector with a laser tracker
US8422034B2 (en) 2010-04-21 2013-04-16 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker
US8537371B2 (en) 2010-04-21 2013-09-17 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker
US9400170B2 (en) 2010-04-21 2016-07-26 Faro Technologies, Inc. Automatic measurement of dimensional data within an acceptance region by a laser tracker
GB2504890A (en) 2011-04-15 2014-02-12 Faro Tech Inc Enhanced position detector in laser tracker
US9686532B2 (en) 2011-04-15 2017-06-20 Faro Technologies, Inc. System and method of acquiring three-dimensional coordinates using multiple coordinate measurement devices
US9164173B2 (en) 2011-04-15 2015-10-20 Faro Technologies, Inc. Laser tracker that uses a fiber-optic coupler and an achromatic launch to align and collimate two wavelengths of light
US9482529B2 (en) 2011-04-15 2016-11-01 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
US9222771B2 (en) 2011-10-17 2015-12-29 Kla-Tencor Corp. Acquisition of information for a construction site
JP6099675B2 (ja) 2012-01-27 2017-03-22 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド バーコード識別による検査方法
US9041914B2 (en) 2013-03-15 2015-05-26 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
US9234742B2 (en) 2013-05-01 2016-01-12 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker
EP2801839B1 (de) * 2013-05-10 2020-03-04 Leica Geosystems AG Handhaltbares Messhilfsmittel zur Verwendung mit einem 6-DoF-Lasertracker
JP6227324B2 (ja) 2013-08-23 2017-11-08 株式会社トプコン 測量機及び測量作業システム
JP6209021B2 (ja) 2013-08-23 2017-10-04 株式会社トプコン 測量機
US9395174B2 (en) 2014-06-27 2016-07-19 Faro Technologies, Inc. Determining retroreflector orientation by optimizing spatial fit
WO2016073208A1 (en) 2014-11-03 2016-05-12 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for locking onto a retroreflector with a laser tracker
JP6490401B2 (ja) * 2014-11-12 2019-03-27 株式会社トプコン 傾斜検出システム及び傾斜検出方法
EP3423866A1 (en) 2016-02-29 2019-01-09 Faro Technologies, Inc. Laser tracker system
JP6963909B2 (ja) 2017-05-10 2021-11-10 株式会社トプコン 測量システム
US11320263B2 (en) * 2019-01-25 2022-05-03 Stanley Black & Decker Inc. Laser level system
EP3734222B1 (en) * 2019-05-02 2024-12-11 Leica Geosystems AG Coordinate measuring and/or stake out device
CN110411408A (zh) * 2019-07-11 2019-11-05 浙江大学 一种基于计算机视觉的地表沉降监测方法
CN112815929B (zh) * 2020-12-31 2022-03-29 美国西北仪器公司 使用激光扫平仪追踪探测器的方法及激光追踪系统
JP7731230B2 (ja) * 2021-07-14 2025-08-29 株式会社トプコン 情報投影システムおよび情報投影方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE787649A (fr) * 1971-09-20 1973-02-19 Blount & George Inc Systeme de poursuite ou de depistage a l'aide d'un instrument d'optiqu
CH640050A5 (de) * 1978-07-20 1983-12-15 Kern & Co Ag Verfahren und vorrichtung zur messung der relativlage zwischen einem ersten und mindestens einem zweiten punkt.
US4413907A (en) * 1980-11-07 1983-11-08 Robert F. Deike Remote control surveying
US4830489A (en) * 1986-08-20 1989-05-16 Spectra-Physics, Inc. Three dimensional laser beam survey system
US4820041A (en) * 1986-11-12 1989-04-11 Agtek Development Co., Inc. Position sensing system for surveying and grading
CH676041A5 (en) * 1988-07-22 1990-11-30 Wild Leitz Ag Surveying unit with theodolite and range finder - determines fine coordinates from coarsely determined target points and has light pulse transmitter and receiver
SE500856C2 (sv) * 1989-04-06 1994-09-19 Geotronics Ab Arrangemang att användas vid inmätnings- och/eller utsättningsarbete
JPH032513A (ja) * 1989-05-30 1991-01-08 Tatsushi Miyahara 自動測量装置
JP3090781B2 (ja) * 1992-05-22 2000-09-25 株式会社トプコン 測量機
JP3075384B2 (ja) * 1993-09-16 2000-08-14 株式会社トプコン 測量装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104011502A (zh) * 2011-12-06 2014-08-27 天宝导航有限公司 自动水准测量
JP2018189575A (ja) * 2017-05-10 2018-11-29 株式会社トプコン 測量システム

Also Published As

Publication number Publication date
US6023326A (en) 2000-02-08
EP0797076A2 (en) 1997-09-24
DE69734623D1 (de) 2005-12-22
EP0797076A3 (en) 1998-10-07
DE69734623T2 (de) 2006-07-13
JP3741477B2 (ja) 2006-02-01
EP0797076B1 (en) 2005-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH09250927A (ja) 測量システム
US5610711A (en) Remote pointing system for a self-leveling laser instrument
JP4177784B2 (ja) 測量システム
JP4210792B2 (ja) 位置検出装置
JP4499261B2 (ja) タキメータ望遠鏡
JP3268608B2 (ja) 測量装置
JP4648025B2 (ja) 測量システム
JP4177765B2 (ja) 測量システム
US6462810B1 (en) Surveying system
CN1688867B (zh) 测量仪器用的电子显示和控制装置
CN102239424B (zh) 位置确定方法和大地测量系统
EP2103902B1 (en) Surveying Device and Surveying System
US7966739B2 (en) Laser surveying system
JP7314447B2 (ja) スキャナシステム及びスキャン方法
US5936736A (en) Focusing method and apparatus for a surveying instrument having an AF function, and arrangement of an AF beam splitting optical system therein
JP2004132914A (ja) 位置測定装置
JPH11148825A (ja) 測量機の通信システム
JP6749192B2 (ja) スキャナ装置および測量装置
JP3609901B2 (ja) 測距装置
JPH0783657A (ja) 測量機
JPH08150582A (ja) 移動ロボット走行システム
JPH07117414B2 (ja) 自動視準式光波距離計
JP4412803B2 (ja) 位置測定設定装置及び位置測定設定方法
JP2521754B2 (ja) 測量装置
JPS6118809A (ja) 非接触式多数点変位計測法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20041029

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20041116

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041210

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050524

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050624

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20051108

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20051108

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091118

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091118

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101118

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111118

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121118

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121118

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131118

Year of fee payment: 8

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees