JPH11258180A - 外観検査方法及びシステム - Google Patents
外観検査方法及びシステムInfo
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- JPH11258180A JPH11258180A JP5999098A JP5999098A JPH11258180A JP H11258180 A JPH11258180 A JP H11258180A JP 5999098 A JP5999098 A JP 5999098A JP 5999098 A JP5999098 A JP 5999098A JP H11258180 A JPH11258180 A JP H11258180A
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 外観自動検査手段において、検査対象物に対
する良否判定基準を、実際の判定結果に基づいて、簡便
に適正な判定基準に変更でき誤判定の少ない外観検査方
法およびシステムを提供する。 【解決手段】 外観自動検査手段において、複数の外観
検査対象事項に対する再判定結果に基づいて判定基準デ
ータを再設定することが可能な判定基準データ再設定手
段を有するようにした。
する良否判定基準を、実際の判定結果に基づいて、簡便
に適正な判定基準に変更でき誤判定の少ない外観検査方
法およびシステムを提供する。 【解決手段】 外観自動検査手段において、複数の外観
検査対象事項に対する再判定結果に基づいて判定基準デ
ータを再設定することが可能な判定基準データ再設定手
段を有するようにした。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、製造物の外観の良
不良を検査する手段が自動化され、しかも再判定手段及
び判定基準データ再設定手段をもつ外観検査方法に関
し、さらに、この外観検査方法を実現する外観検査シス
テムに関する。
不良を検査する手段が自動化され、しかも再判定手段及
び判定基準データ再設定手段をもつ外観検査方法に関
し、さらに、この外観検査方法を実現する外観検査シス
テムに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の外観自動検査工程と再判
定工程との相互における再判定結果の情報のやり取り
は、図６に示すものが一般的に知られている。同図に示
すように、外観自動検査工程１０から検査対象製造物に
関する複数の外観検査対象事項の良否の判定情報Ｊが、
検査対象製造物現品へのマーキングもしくは紙での出力
もしくはコンソール出力で再判定工程２０に対して提示
される。前記判定情報Ｊの提示内容に基づき、再判定工
程２０内において、再判定要員は当該判定情報Ｊに対す
る正誤判定をし、正答すなわち真実の「不良」でしかも
修理可能な個所については修理を行い、誤答すなわち偽
の「不良」すなわち「良」については、そのままの状態
で後工程に流動させる作業を行う。一方、ある製造物の
製造品質の良不良を決める外観検査工程においては、そ
の良不良判定における判定基準が、検査人の官能に基づ
く曖昧としたものが多く、凡その基準に基づき検査がな
されることが多い。従って、従来、この種の外観自動検
査工程１０においては、判定基準データＳの的確な設定
が困難であり、その設定は外観自動検査工程１０の管理
者の経験と感にたよる場合が多かった。また、この判定
基準データＳは、不良品を良品と判定するいわゆる見逃
し現象を完全になくすために出来る限り厳しく設定する
のが通例であった。従って、その判定情報Ｊには、真実
の「不良」と偽の「不良」すなわち「良」の複数の検査
対象事項の良否判定結果が混入されているのが一般的で
ある。ここで、その正誤判定結果Ｆの情報すなわち外観
自動検査工程１０内の判定基準データＳの適正度は、前
記再判定要員の前記判定情報Ｊに対する正誤判定結果Ｆ
を紙上で集計し、当該外観自動検査工程１０の管理者へ
情報として戻すし、当該管理者へ知らしめることで判断
される。さらに、外観自動検査工程１０内の判定基準デ
ータＳの適正度をより的確に把握するために、図７に示
すように、例えば再判定要員は、コンピュータ端末Ｐに
当該正誤判定結果Ｆを入力しサーバコンピュータＨによ
りデータ集約をさせる場合がある。この一連の作業内容
は、複数の再判定要員が存在する場合、同様に行われ
る。さらにサーバコンピュータＨに集約された当該正誤
判定結果Ｆは、例えば別のコンピュータ端末Ｐにより、
当該外観自動検査工程１０の管理者が集計結果を認知す
ることができる。この結果、外観自動検査工程１０の管
理者は、当該外観自動検査工程１０の判定基準データＳ
が適正な状態であるのかどうかの状態を把握することが
できる。この把握結果により、前記外観自動検査工程１
０の判定基準データＳを変更する必要があるか、必要が
ある場合の当該判定基準データＳの変更箇所及び変更内
容を判断し変更作業を行い、外観自動検査工程１０の検
査能力を維持改善するのが一般的であった。
定工程との相互における再判定結果の情報のやり取り
は、図６に示すものが一般的に知られている。同図に示
すように、外観自動検査工程１０から検査対象製造物に
関する複数の外観検査対象事項の良否の判定情報Ｊが、
検査対象製造物現品へのマーキングもしくは紙での出力
もしくはコンソール出力で再判定工程２０に対して提示
される。前記判定情報Ｊの提示内容に基づき、再判定工
程２０内において、再判定要員は当該判定情報Ｊに対す
る正誤判定をし、正答すなわち真実の「不良」でしかも
修理可能な個所については修理を行い、誤答すなわち偽
の「不良」すなわち「良」については、そのままの状態
で後工程に流動させる作業を行う。一方、ある製造物の
製造品質の良不良を決める外観検査工程においては、そ
の良不良判定における判定基準が、検査人の官能に基づ
く曖昧としたものが多く、凡その基準に基づき検査がな
されることが多い。従って、従来、この種の外観自動検
査工程１０においては、判定基準データＳの的確な設定
が困難であり、その設定は外観自動検査工程１０の管理
者の経験と感にたよる場合が多かった。また、この判定
基準データＳは、不良品を良品と判定するいわゆる見逃
し現象を完全になくすために出来る限り厳しく設定する
のが通例であった。従って、その判定情報Ｊには、真実
の「不良」と偽の「不良」すなわち「良」の複数の検査
対象事項の良否判定結果が混入されているのが一般的で
ある。ここで、その正誤判定結果Ｆの情報すなわち外観
自動検査工程１０内の判定基準データＳの適正度は、前
記再判定要員の前記判定情報Ｊに対する正誤判定結果Ｆ
を紙上で集計し、当該外観自動検査工程１０の管理者へ
情報として戻すし、当該管理者へ知らしめることで判断
される。さらに、外観自動検査工程１０内の判定基準デ
ータＳの適正度をより的確に把握するために、図７に示
すように、例えば再判定要員は、コンピュータ端末Ｐに
当該正誤判定結果Ｆを入力しサーバコンピュータＨによ
りデータ集約をさせる場合がある。この一連の作業内容
は、複数の再判定要員が存在する場合、同様に行われ
る。さらにサーバコンピュータＨに集約された当該正誤
判定結果Ｆは、例えば別のコンピュータ端末Ｐにより、
当該外観自動検査工程１０の管理者が集計結果を認知す
ることができる。この結果、外観自動検査工程１０の管
理者は、当該外観自動検査工程１０の判定基準データＳ
が適正な状態であるのかどうかの状態を把握することが
できる。この把握結果により、前記外観自動検査工程１
０の判定基準データＳを変更する必要があるか、必要が
ある場合の当該判定基準データＳの変更箇所及び変更内
容を判断し変更作業を行い、外観自動検査工程１０の検
査能力を維持改善するのが一般的であった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の外観
自動検査工程では、検査対象となる製造物の製造品質の
良不良判定に誤判定、すなわち良品を不良判定する事例
が多く発生し、再判定要員による再判定の工数が多くな
る問題があった。また従来は、このような問題点を解決
するために、外観自動検査工程の外観検査対象事項の検
査結果に基づき、再判定要員が再判定した結果を、たと
えば紙やコンピュータ端末Ｐからの電気的情報等で当該
外観自動検査工程の管理者へ情報を戻し、外観自動検査
工程１０内の判定基準データＳの適正度を判断させるの
に時間を要し、その結果として、引き続き誤判定結果を
多く発生させてしまう問題があった。また、これらの情
報の集約及び戻しには、再判定要員に対して多大な工数
負担を強いることになる。また、当該管理者が、その判
定基準データＳの適正度を判断する定量化措置がなされ
ておらず、的確な判定基準データＳの書き換えがなされ
る保証が無く、その結果として、引き続き誤判定結果を
多く発生させてしまう問題があった。また、その判定基
準データＳの書き換えに当たっては、管理者は所定の作
業時間が必要であり、外観自動検査工程の稼働率を低下
させることにつながる問題点があった。
自動検査工程では、検査対象となる製造物の製造品質の
良不良判定に誤判定、すなわち良品を不良判定する事例
が多く発生し、再判定要員による再判定の工数が多くな
る問題があった。また従来は、このような問題点を解決
するために、外観自動検査工程の外観検査対象事項の検
査結果に基づき、再判定要員が再判定した結果を、たと
えば紙やコンピュータ端末Ｐからの電気的情報等で当該
外観自動検査工程の管理者へ情報を戻し、外観自動検査
工程１０内の判定基準データＳの適正度を判断させるの
に時間を要し、その結果として、引き続き誤判定結果を
多く発生させてしまう問題があった。また、これらの情
報の集約及び戻しには、再判定要員に対して多大な工数
負担を強いることになる。また、当該管理者が、その判
定基準データＳの適正度を判断する定量化措置がなされ
ておらず、的確な判定基準データＳの書き換えがなされ
る保証が無く、その結果として、引き続き誤判定結果を
多く発生させてしまう問題があった。また、その判定基
準データＳの書き換えに当たっては、管理者は所定の作
業時間が必要であり、外観自動検査工程の稼働率を低下
させることにつながる問題点があった。
【０００４】本発明は、従来の外観自動検査工程におけ
るこのような課題に対して、外観自動検査工程１０及び
再判定工程２０の判定結果を連結させることで、単純な
作業で誤判定の少ない外観自動検査工程を実現出来る外
観自動検査方法及び装置を提供することを目的としてい
る。
るこのような課題に対して、外観自動検査工程１０及び
再判定工程２０の判定結果を連結させることで、単純な
作業で誤判定の少ない外観自動検査工程を実現出来る外
観自動検査方法及び装置を提供することを目的としてい
る。
【０００５】
【課題を解決するため手段】上記問題点を解決すべく請
求項１に記載の外観検査方法は、（Ａ）外観検査対象物
の外観を撮像する外観撮像工程１２、この撮像された外
観に基づいて、複数の外観検査対象事項のそれぞれに対
応する複数の画像データを生成する画像データ生成工程
１４、及び前記複数の画像データのそれぞれと前記外観
検査対象事項に対応して予め設定されている複数の判定
基準データのそれぞれとの比較に基づいて、前記複数の
外観検査対象事項の良否を判定する判定工程１６、をこ
の順序で有する外観自動検査工程１０、（Ｂ）前記外観
自動検査工程１０で「不良」と判定された外観検査対象
事項を再検査して、その良否を再判定する再判定工程２
０、（Ｃ）前記再判定工程２０で「良」と再判定された
外観検査対象事項に対応した判定基準データ候補であっ
て、前記判定工程１６で用いた判定基準データより好ま
しい判定基準データ候補を作成する判定基準データ候補
作成工程３０、並びに（Ｄ）前記判定基準データ作成工
程３０で作成された判定基準データ候補に基づいて、前
記判定工程１６で用いる判定基準データを再設定する判
定基準データ再設定工程４０、を有することを特徴とす
る。
求項１に記載の外観検査方法は、（Ａ）外観検査対象物
の外観を撮像する外観撮像工程１２、この撮像された外
観に基づいて、複数の外観検査対象事項のそれぞれに対
応する複数の画像データを生成する画像データ生成工程
１４、及び前記複数の画像データのそれぞれと前記外観
検査対象事項に対応して予め設定されている複数の判定
基準データのそれぞれとの比較に基づいて、前記複数の
外観検査対象事項の良否を判定する判定工程１６、をこ
の順序で有する外観自動検査工程１０、（Ｂ）前記外観
自動検査工程１０で「不良」と判定された外観検査対象
事項を再検査して、その良否を再判定する再判定工程２
０、（Ｃ）前記再判定工程２０で「良」と再判定された
外観検査対象事項に対応した判定基準データ候補であっ
て、前記判定工程１６で用いた判定基準データより好ま
しい判定基準データ候補を作成する判定基準データ候補
作成工程３０、並びに（Ｄ）前記判定基準データ作成工
程３０で作成された判定基準データ候補に基づいて、前
記判定工程１６で用いる判定基準データを再設定する判
定基準データ再設定工程４０、を有することを特徴とす
る。
【０００６】上記構成によれば、外観自動検査工程１０
内で外観検査対象物の外観検査対象事項の良否を判定す
る判定工程１６で「不良」と判定された外観検査対象事
項に対して、再判定工程２０で「良」と判定された外観
検査対象事項に対応して、前記判定工程１６で用いた判
定基準データより好ましい判定基準データ候補を作成す
る判定基準データ候補作成工程３０を経て、判定基準デ
ータ再設定工程４０により、判定工程の１６で用いる判
定基準データをより好ましい状態、すなわち「良」を
「良」、「不良」を「不良」と確実に判定させることに
より、誤判定の少ない外観自動検査方法を簡便に提供す
ることが可能になる一連の手段を提供する効果を有す
る。
内で外観検査対象物の外観検査対象事項の良否を判定す
る判定工程１６で「不良」と判定された外観検査対象事
項に対して、再判定工程２０で「良」と判定された外観
検査対象事項に対応して、前記判定工程１６で用いた判
定基準データより好ましい判定基準データ候補を作成す
る判定基準データ候補作成工程３０を経て、判定基準デ
ータ再設定工程４０により、判定工程の１６で用いる判
定基準データをより好ましい状態、すなわち「良」を
「良」、「不良」を「不良」と確実に判定させることに
より、誤判定の少ない外観自動検査方法を簡便に提供す
ることが可能になる一連の手段を提供する効果を有す
る。
【０００７】請求項２記載の外観検査システムは、
（Ｅ）外観検査対象物の外観を撮像する外観撮像手段１
１２、この撮像された外観に基づいて、複数の外観検査
対象事項のそれぞれに対応する複数の画像データを生成
する画像データ生成手段１１４、及び前記複数の画像デ
ータのそれぞれと前記外観検査対象事項に対応して予め
設定されている複数の判定基準データのそれぞれとの比
較に基づいて、前記複数の外観検査対象事項の良否を判
定する判定手段１１６、をこの順序で有する外観自動検
査手段１１０、（F）前記外観自動検査手段１１０で
「不良」と判定された外観検査対象事項を再検査して、
その良否を再判定する再判定手段１２０、（G）前記再
判定手段１２０で「良」と再判定された外観検査対象事
項に対応した判定基準データ候補であって、前記判定手
段１１６で用いた判定基準データより好ましい判定基準
データ候補を作成する判定基準データ候補作成手段１３
０、並びに（H）前記判定基準データ作成手段１３０で
作成された判定基準データ候補に基づいて、前記判定手
段１１６で用いる判定基準データを再設定する判定基準
データ再設定手段１４０、を有することを特徴とする。
（Ｅ）外観検査対象物の外観を撮像する外観撮像手段１
１２、この撮像された外観に基づいて、複数の外観検査
対象事項のそれぞれに対応する複数の画像データを生成
する画像データ生成手段１１４、及び前記複数の画像デ
ータのそれぞれと前記外観検査対象事項に対応して予め
設定されている複数の判定基準データのそれぞれとの比
較に基づいて、前記複数の外観検査対象事項の良否を判
定する判定手段１１６、をこの順序で有する外観自動検
査手段１１０、（F）前記外観自動検査手段１１０で
「不良」と判定された外観検査対象事項を再検査して、
その良否を再判定する再判定手段１２０、（G）前記再
判定手段１２０で「良」と再判定された外観検査対象事
項に対応した判定基準データ候補であって、前記判定手
段１１６で用いた判定基準データより好ましい判定基準
データ候補を作成する判定基準データ候補作成手段１３
０、並びに（H）前記判定基準データ作成手段１３０で
作成された判定基準データ候補に基づいて、前記判定手
段１１６で用いる判定基準データを再設定する判定基準
データ再設定手段１４０、を有することを特徴とする。
【０００８】上記システムによる手段によれば、外観自
動検査手段１１０内で外観検査対象物の外観検査対象事
項の良否を判定する判定手段１１６で「不良」と判定さ
れた外観検査対象事項に対して、再判定手段１２０で
「良」と判定された外観検査対象事項に対応して、前記
判定手段１１６で用いた判定基準データより好ましい判
定基準データ候補を作成する判定基準データ候補作成手
段３０を経て、判定基準データ再設定手段１４０によ
り、判定手段の１１６で用いる判定基準データをより好
ましい状態、すなわち「良」を「良」、「不良」を「不
良」と確実に判定させることにより、誤判定の少ない外
観自動検査方法を簡便に提供することが可能になるシス
テムを提供する効果を有する。
動検査手段１１０内で外観検査対象物の外観検査対象事
項の良否を判定する判定手段１１６で「不良」と判定さ
れた外観検査対象事項に対して、再判定手段１２０で
「良」と判定された外観検査対象事項に対応して、前記
判定手段１１６で用いた判定基準データより好ましい判
定基準データ候補を作成する判定基準データ候補作成手
段３０を経て、判定基準データ再設定手段１４０によ
り、判定手段の１１６で用いる判定基準データをより好
ましい状態、すなわち「良」を「良」、「不良」を「不
良」と確実に判定させることにより、誤判定の少ない外
観自動検査方法を簡便に提供することが可能になるシス
テムを提供する効果を有する。
【０００９】請求項３に記載の外観検査システムは、
（Ｉ）前記再判定手段２０において、前記外観検査手段
１１０で「不良」と判定された外観検査対象事項を、人
間に知らしめる表示機構２２、（Ｊ）前記再判定手段１
２０において、「良」と判定された外観検査対象事項の
特定化情報の電気的入力機構２４を有することを特徴と
する。
（Ｉ）前記再判定手段２０において、前記外観検査手段
１１０で「不良」と判定された外観検査対象事項を、人
間に知らしめる表示機構２２、（Ｊ）前記再判定手段１
２０において、「良」と判定された外観検査対象事項の
特定化情報の電気的入力機構２４を有することを特徴と
する。
【００１０】上記構成によれば、前記再判定手段１２０
内における再判定要員は、簡単且つ迅速に前記外観自動
検査手段１１０で「不良」と判定された外観検査対象事
項が判ることになり、更に再判定要員は、前記外観自動
検査手段１０で「不良」と判定された外観検査対象事項
に対し、再判定の結果は実は「良」であるという外観自
動検査手段１１０の誤判定の情報を直ちにデータとして
集約ことが出来る。これにより、前記外観自動検査手段
１１０内判定手段１１６内の判定基準データＳの適正度
判断を迅速になす外観自動検査方法を実現する外観自動
検査システムが提供できる。また、今までの再判定要員
が、紙等へ外観検査手段１１０の誤判定情報の集約に要
していた多大な時間も、極めて短時間化され、省力化が
実現できる。
内における再判定要員は、簡単且つ迅速に前記外観自動
検査手段１１０で「不良」と判定された外観検査対象事
項が判ることになり、更に再判定要員は、前記外観自動
検査手段１０で「不良」と判定された外観検査対象事項
に対し、再判定の結果は実は「良」であるという外観自
動検査手段１１０の誤判定の情報を直ちにデータとして
集約ことが出来る。これにより、前記外観自動検査手段
１１０内判定手段１１６内の判定基準データＳの適正度
判断を迅速になす外観自動検査方法を実現する外観自動
検査システムが提供できる。また、今までの再判定要員
が、紙等へ外観検査手段１１０の誤判定情報の集約に要
していた多大な時間も、極めて短時間化され、省力化が
実現できる。
【００１１】請求項４に記載の外観検査システムは、
（Ｇ）前記外観自動検査手段１１０から前記再判定手段
１２０へ、「良」若しくは「不良」の判定結果を伝える
電気的信号伝播機構５２０、（Ｈ）前記再判定手段１２
０から前記外観自動検査手段１１０へ、「良」と判定さ
れた外観検査対象事項の特定化情報の電気的入力機構２
４で入力された情報を伝える電気的信号伝播機構５４
０、（Ｉ）前記電気的信号伝播機構５２０と、前記電気
的信号伝播機構５４０が双方向で機能する電気的信号伝
播機構５００を有することを特徴とする。
（Ｇ）前記外観自動検査手段１１０から前記再判定手段
１２０へ、「良」若しくは「不良」の判定結果を伝える
電気的信号伝播機構５２０、（Ｈ）前記再判定手段１２
０から前記外観自動検査手段１１０へ、「良」と判定さ
れた外観検査対象事項の特定化情報の電気的入力機構２
４で入力された情報を伝える電気的信号伝播機構５４
０、（Ｉ）前記電気的信号伝播機構５２０と、前記電気
的信号伝播機構５４０が双方向で機能する電気的信号伝
播機構５００を有することを特徴とする。
【００１２】上記構成によれば、前記外観自動検査手段
１１０から前記再判定手段１２０へ判定結果を伝えるこ
とや、前記再判定手段１２０内の再判定要員が得る前記
外観検査手段１１０で「不良」と判定された外観検査対
象事項に対し、再判定の結果は実は「良」であるという
外観自動検査手段１１０の誤判定の情報を極めて迅速に
前記外観自動検査工程へ伝播することが可能である。こ
れにより、情報の伝達に紙を用いずに、前記外観自動検
査手段１１０内判定手段１１６内の判定基準データＳの
適正度判断を簡便且つ迅速になす外観自動検査方法を実
現する外観検査システムが提供できる。
１１０から前記再判定手段１２０へ判定結果を伝えるこ
とや、前記再判定手段１２０内の再判定要員が得る前記
外観検査手段１１０で「不良」と判定された外観検査対
象事項に対し、再判定の結果は実は「良」であるという
外観自動検査手段１１０の誤判定の情報を極めて迅速に
前記外観自動検査工程へ伝播することが可能である。こ
れにより、情報の伝達に紙を用いずに、前記外観自動検
査手段１１０内判定手段１１６内の判定基準データＳの
適正度判断を簡便且つ迅速になす外観自動検査方法を実
現する外観検査システムが提供できる。
【００１３】請求項５記載の外観検査システムは、
（Ｊ）前記判定基準データ候補作成手段１３０におい
て、その再設定内容、タイミング等の方法の定義に関わ
る情報を格納する電気的記憶機構３２、（Ｋ）当該情報
を外部から電気的に入力する機構３４を有することを特
徴とする。
（Ｊ）前記判定基準データ候補作成手段１３０におい
て、その再設定内容、タイミング等の方法の定義に関わ
る情報を格納する電気的記憶機構３２、（Ｋ）当該情報
を外部から電気的に入力する機構３４を有することを特
徴とする。
【００１４】上記構成によれば、請求項２及び３に記載
の電気的に伝播される再判定工程内からの外観自動検査
手段１１０で「不良」と判定された外観検査対象事項の
判定結果に対して前記再判定手段１２０内の再判定要員
が得る「良」と判定した情報に対して、前記判定基準デ
ータ候補作成手段１３０内において、その判定基準デー
タの再設定内容、再設定タイミングを、前記当該再設定
内容、再設定タイミング等の再設定方法を外部から電気
的に入力する機構３４において、外観自動検査工程１０
の管理者の任意に定めることが可能となり、またその前
記判定基準データ再設定手段１４０において、その再設
定内容、タイミング等の方法の定義に関わる情報を格納
する電気的記憶機構３２の通りに外観自動検査手段１１
０内の判定手段１１６内の判定基準データＳを書き換え
ることが可能となる。これにより、再判定手段１２０内
での再判定の結果に基づき、管理者が、その判定基準デ
ータＳの適正度を判断する定量化措置がなされ、的確な
判定基準データＳの書き換えが確実になされることにな
り、極めて誤判定の少ない外観検査検査方法及び装置を
提供することが可能になる。
の電気的に伝播される再判定工程内からの外観自動検査
手段１１０で「不良」と判定された外観検査対象事項の
判定結果に対して前記再判定手段１２０内の再判定要員
が得る「良」と判定した情報に対して、前記判定基準デ
ータ候補作成手段１３０内において、その判定基準デー
タの再設定内容、再設定タイミングを、前記当該再設定
内容、再設定タイミング等の再設定方法を外部から電気
的に入力する機構３４において、外観自動検査工程１０
の管理者の任意に定めることが可能となり、またその前
記判定基準データ再設定手段１４０において、その再設
定内容、タイミング等の方法の定義に関わる情報を格納
する電気的記憶機構３２の通りに外観自動検査手段１１
０内の判定手段１１６内の判定基準データＳを書き換え
ることが可能となる。これにより、再判定手段１２０内
での再判定の結果に基づき、管理者が、その判定基準デ
ータＳの適正度を判断する定量化措置がなされ、的確な
判定基準データＳの書き換えが確実になされることにな
り、極めて誤判定の少ない外観検査検査方法及び装置を
提供することが可能になる。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明の実施例を説明する。
明の実施例を説明する。
【００１６】図１は、請求項１に記載の発明に係る実施
例として外観検査方法の実施例のフローチャートを示す
図である。
例として外観検査方法の実施例のフローチャートを示す
図である。
【００１７】そのフローを説明すると、外観検査対象物
は、外観自動検査工程１０内の外観撮像工程１２へ運ば
れ、その外観検査対象事項についての特徴的な外観撮像
をされる。その得られた当該外観撮像結果は、外観自動
検査工程１０内の画像データ作成工程１４へデータとし
て送られ、電気的な画像データとしてとしての生成がな
され、外観自動検査工程１０内の判定工程１６へ送られ
る。当該判定工程１６では、前記画像データを判定基準
データに照らし合わせ、「良」「不良」の識別がなされ
る。この際に、「良」と判定された外観検査対象物は、
外観自動検査工程１０からそのまま後工程に送られ、
「不良」と判定されたものは、外観自動検査工程１０内
から再判定工程２０に送られ、再判定要員により拡大鏡
等の補助具を利用して再度外観観察をされ本当の「不
良」かどうかの再判定がなされる。この再判定後、「不
良」と判定された外観検査対象物は、不良修正工程６０
へ送られ、修理され良品として後工程である良品組立工
程５０へ送られる。再判定工程２０において「良」と判
定された外観検査対象物は、そのまま後工程として良品
組立工程へ送られる。さらに、この際に、「良」と判定
された場合は、その内容として当該外観検査対象事項が
判定基準データ候補作成工程３０へ電気的信号として送
信される。これにより判定基準データ候補作成工程３０
では、ある一定の判断基準データに従って適正な検査が
可能となる、すなわち良品を不良品と判定しない判定基
準データ候補を作成する。作成された当該判定基準デー
タ候補は、電気的信号として判定基準データ再設定工程
４０へ送信される。ここで、判定基準データ再設定工程
４０では、前記判定基準データ候補作成工程３０で作成
された判定基準データ候補に従って、判定基準データを
再設定する。再設定された当該判定基準データは、前記
外観自動検査工程１０に電気的に送信され、前記外観自
動検査工程１０内の判定工程１６内の従来の判定基準デ
ータとされる。以上の過程を経て、外観自動検査工程１
０内の判定基準データは、外観自動検査工程１０での判
定結果の外観検査対象事項に従った再判定工程２０内で
の再判定要員による再判定結果に基づいて、再設定が自
動的になされ、より適正な判定基準データとして改善さ
れる。
は、外観自動検査工程１０内の外観撮像工程１２へ運ば
れ、その外観検査対象事項についての特徴的な外観撮像
をされる。その得られた当該外観撮像結果は、外観自動
検査工程１０内の画像データ作成工程１４へデータとし
て送られ、電気的な画像データとしてとしての生成がな
され、外観自動検査工程１０内の判定工程１６へ送られ
る。当該判定工程１６では、前記画像データを判定基準
データに照らし合わせ、「良」「不良」の識別がなされ
る。この際に、「良」と判定された外観検査対象物は、
外観自動検査工程１０からそのまま後工程に送られ、
「不良」と判定されたものは、外観自動検査工程１０内
から再判定工程２０に送られ、再判定要員により拡大鏡
等の補助具を利用して再度外観観察をされ本当の「不
良」かどうかの再判定がなされる。この再判定後、「不
良」と判定された外観検査対象物は、不良修正工程６０
へ送られ、修理され良品として後工程である良品組立工
程５０へ送られる。再判定工程２０において「良」と判
定された外観検査対象物は、そのまま後工程として良品
組立工程へ送られる。さらに、この際に、「良」と判定
された場合は、その内容として当該外観検査対象事項が
判定基準データ候補作成工程３０へ電気的信号として送
信される。これにより判定基準データ候補作成工程３０
では、ある一定の判断基準データに従って適正な検査が
可能となる、すなわち良品を不良品と判定しない判定基
準データ候補を作成する。作成された当該判定基準デー
タ候補は、電気的信号として判定基準データ再設定工程
４０へ送信される。ここで、判定基準データ再設定工程
４０では、前記判定基準データ候補作成工程３０で作成
された判定基準データ候補に従って、判定基準データを
再設定する。再設定された当該判定基準データは、前記
外観自動検査工程１０に電気的に送信され、前記外観自
動検査工程１０内の判定工程１６内の従来の判定基準デ
ータとされる。以上の過程を経て、外観自動検査工程１
０内の判定基準データは、外観自動検査工程１０での判
定結果の外観検査対象事項に従った再判定工程２０内で
の再判定要員による再判定結果に基づいて、再設定が自
動的になされ、より適正な判定基準データとして改善さ
れる。
【００１８】図２は、請求項２に記載の発明に係る実施
例を示す図である。
例を示す図である。
【００１９】先述の請求項１に記載の発明に係る実施例
である外観検査方法を外観検査システムとして成立させ
たものである。図１に記載の各工程において、それぞれ
を手段としたものである。
である外観検査方法を外観検査システムとして成立させ
たものである。図１に記載の各工程において、それぞれ
を手段としたものである。
【００２０】図３は、請求項３に記載の発明に係る実施
例を示す図である。
例を示す図である。
【００２１】前記外観自動検査工程１０で、「不良」と
判定された外観検査対象事項は、検査結果情報として再
判定工程２０内の表示機構２２０内制御用コンピュータ
２２２へ電気的に送信される。送信された情報は制御用
コンピュータ２２２に従って検査結果表示画面２２４
に、不良個所、不良項目等の情報を表示して、再判定要
員へ知らしめる。再判定要員は、この情報に従って、再
判定をして、再判定結果を外観検査対象事項の特定化情
報の電気的入力機構２４０によって入力し、当該再判定
結果の情報を前記判定基準データ候補作成工程３０へ知
らしめる。その作業内容を説明すると、再判定要員は、
再判定の結果、真の「不良」の場合は、前記外観検査対
象事項の特定化情報の電気的入力機構２４０内の「不
良」スイッチ２４２を押して本当に「不良」であること
を、電気的情報として入力する。また同様に再判定をし
て、本当は「良」の場合は、前記外観検査対象事項の特
定化情報の電気的入力機構２４０内の「良」スイッチ２
４４を押して、前記外観自動検査工程１０の判定結果が
誤っていることを、電気的情報として入力する。検査結
果表示画面２２４に表示される検査結果情報は、特定の
しかも個別の外観検査対象物に対する全ての一括情報で
もよいし、また個別の外観検査対象物に関する複数の情
報を個々に順番に表示して再判定要員に知らしめる方法
でも良い。その場合、順番に表示する手段として、再判
定要員は表示切り替えスイッチ２６０を個々の再判定作
業の終了時に押し、検査情報表示画面２２４の表示を切
り替える。再判定要員は、以上の作業を全ての外観検査
対象事項の全てに渡って繰り返す。以上述べた再判定工
程２０内の機器は、電気的な信号結線２９０により情報
伝達がなされるようになっており、また、外観自動検査
工程１０からの検査結果情報の伝達は電気的な信号結線
５２０によってなされる。
判定された外観検査対象事項は、検査結果情報として再
判定工程２０内の表示機構２２０内制御用コンピュータ
２２２へ電気的に送信される。送信された情報は制御用
コンピュータ２２２に従って検査結果表示画面２２４
に、不良個所、不良項目等の情報を表示して、再判定要
員へ知らしめる。再判定要員は、この情報に従って、再
判定をして、再判定結果を外観検査対象事項の特定化情
報の電気的入力機構２４０によって入力し、当該再判定
結果の情報を前記判定基準データ候補作成工程３０へ知
らしめる。その作業内容を説明すると、再判定要員は、
再判定の結果、真の「不良」の場合は、前記外観検査対
象事項の特定化情報の電気的入力機構２４０内の「不
良」スイッチ２４２を押して本当に「不良」であること
を、電気的情報として入力する。また同様に再判定をし
て、本当は「良」の場合は、前記外観検査対象事項の特
定化情報の電気的入力機構２４０内の「良」スイッチ２
４４を押して、前記外観自動検査工程１０の判定結果が
誤っていることを、電気的情報として入力する。検査結
果表示画面２２４に表示される検査結果情報は、特定の
しかも個別の外観検査対象物に対する全ての一括情報で
もよいし、また個別の外観検査対象物に関する複数の情
報を個々に順番に表示して再判定要員に知らしめる方法
でも良い。その場合、順番に表示する手段として、再判
定要員は表示切り替えスイッチ２６０を個々の再判定作
業の終了時に押し、検査情報表示画面２２４の表示を切
り替える。再判定要員は、以上の作業を全ての外観検査
対象事項の全てに渡って繰り返す。以上述べた再判定工
程２０内の機器は、電気的な信号結線２９０により情報
伝達がなされるようになっており、また、外観自動検査
工程１０からの検査結果情報の伝達は電気的な信号結線
５２０によってなされる。
【００２２】図４は、請求項４に記載の発明に係る実施
例を示す図である。
例を示す図である。
【００２３】前記外観自動検査手段１１０から前記再判
定手段１２０へ、伝達される「良」若しくは「不良」の
判定結果は、電気的信号伝播機構５２０を伝播して情報
伝達される。また、前記再判定手段１２０において前記
外観自動検査手段１１０で「不良」と判定された外観検
査対象事項が「良」と判定された外観検査対象事項の特
定化情報の電気的入力機構２４０で入力された情報を伝
える電気的信号伝播機構５４０を通じて、判定基準デー
タ候補作成手段１３０へ情報伝達される。
定手段１２０へ、伝達される「良」若しくは「不良」の
判定結果は、電気的信号伝播機構５２０を伝播して情報
伝達される。また、前記再判定手段１２０において前記
外観自動検査手段１１０で「不良」と判定された外観検
査対象事項が「良」と判定された外観検査対象事項の特
定化情報の電気的入力機構２４０で入力された情報を伝
える電気的信号伝播機構５４０を通じて、判定基準デー
タ候補作成手段１３０へ情報伝達される。
【００２４】図５は、請求項４に記載の発明に係る実施
例を示す図である。
例を示す図である。
【００２５】電気的信号伝播機構５００は、前記電気的
信号伝播機構５２０と前記電気的信号伝播機構５４０を
双方向で機能させる情報伝達機構となっている。
信号伝播機構５２０と前記電気的信号伝播機構５４０を
双方向で機能させる情報伝達機構となっている。
【００２６】図６は、請求項５に記載の発明に係る実施
例を示す図である。
例を示す図である。
【００２７】前記判定基準データ候補作成手段１３０内
では、前記電気的信号伝播機構５００若しくは前記電気
的信号伝播機構５４０により再判定結果の情報をフィー
ドバックされ、より適正な判定基準データの候補データ
を作成する処理がなされる。これらの処理は一連のコン
ピュータ処理により自動的になされる。この処理に関し
て、具体的な例に従って説明する。例えば、ある外観検
査対象事項Ａに対する従来の判定基準データすなわち前
記判定工程１６内の判定基準データをＳとする。
では、前記電気的信号伝播機構５００若しくは前記電気
的信号伝播機構５４０により再判定結果の情報をフィー
ドバックされ、より適正な判定基準データの候補データ
を作成する処理がなされる。これらの処理は一連のコン
ピュータ処理により自動的になされる。この処理に関し
て、具体的な例に従って説明する。例えば、ある外観検
査対象事項Ａに対する従来の判定基準データすなわち前
記判定工程１６内の判定基準データをＳとする。
【００２８】先述の図２、図３、図４に示される請求項
２、請求項３に記載の発明により、フィードバックされ
た再判定要員による再判定結果が、前記外観自動検査工
程１０の判定結果と一致せずに、前記外観自動検査手段
１１０では「不良」と判定された外観検査対象事項Ａ
が、実は「良」であった場合、前記判定基準データＳは
適正ではなく、適正な検査を遂行するには当該判定基準
データＳをより適正な値に変更する必要がある。この変
更処理は、２通りあり、判定基準データＳの値を「良」
「不良」の判断分岐として、より大きな数値とするか、
より小さな数値とするかである。前者の場合は、その外
観検査対象事項Ａに関する判定基準が、定められた判定
基準データＳより大きい場合に不良判定するものであ
り、後者の場合は、その外観検査対象事項Ａに関する判
定基準が、定められた判定基準データＳより小さい場合
に不良判定するものである。これらの判定基準データＳ
の再設定処理の方法、すなわち再設定内容、再設定タイ
ミング等は、前記外観自動検査工程１０の管理者の意図
を反映させないと適正な再設定処理にならないため、何
らかの方法で、当該再設定処理を司るコンピュータ３６
に前記外観自動検査手段１１０の管理者の意図を指示す
ることが必要となる。前記外観自動検査手段１１０の管
理者は、その判定基準データＳの再設定方法を外部から
電気的に入力する機構３４により入力し、これらの情報
を電気的な情報として格納する電気的記憶機構３２に憶
え込ませる。これらの判定基準データＳの再設定処理の
方法の入力および装置内での記憶により、判定基準デー
タＳは、前記外観自動検査手段１１０の管理者の意図に
従った再設定がなされることになる。例えば、先述のよ
うに、従来の判定基準データＳより大きな数値として新
しく判定基準データＮを設定する時、その数式を、「Ｎ
＝Ｓ＋１」とするのか「Ｎ＝Ｓ＋２」とするのかなどの
ように、「Ｎ＝Ｓ＋ｎ」のｎの数値を前記外観自動検査
工程１０の管理者の任意で設定できる。また、このｎの
数値は、新しい判定基準データＮの数値を従来の判定基
準データＳの数値より小さく設定する場合の、「Ｎ＝Ｓ
−ｎ」のｎについても同様である。、さらに、電気的記
憶機構３２には、判定基準データＳの再設定のタイミン
グとして、フィードバックされた再判定手段１２０内の
再判定結果が、前記外観自動検査手段１１０の判定結果
と一致せずに、すなわち前記外観自動検査手段１１０で
は「不良」と判定された外観検査対象事項Ａが、実は
「良」であったという事象が、何回連続して発生した場
合に、または、何回累積して発生した場合に、または過
去の検査回数の内どの程度の割合で発生した場合に判定
基準データＳを再設定する必要があるかを記憶させ、定
義することが可能である。例えば、ある外観検査対象事
項Ｂの「良」が「不良」と判定された事象が、２回でも
連続すれば先述のように判定基準データＳをＮに再設定
するようにもできるし、当該事象が累積して１０回発生
した場合についてのみ先述のように判定基準データＳを
Ｎに再設定するようにもできるし、または、当該事象が
一定期間内で５０％発生した場合についてのみ先述のよ
うに判定基準データＳをＮに再設定するようにもでき
る。これらの再設定タイミングに関する全ての定義を、
判定基準データ再設定方法の電気的入力機構３４と当該
再設定方法の電気的記憶機構３２はできるようになって
いることが望ましい。
２、請求項３に記載の発明により、フィードバックされ
た再判定要員による再判定結果が、前記外観自動検査工
程１０の判定結果と一致せずに、前記外観自動検査手段
１１０では「不良」と判定された外観検査対象事項Ａ
が、実は「良」であった場合、前記判定基準データＳは
適正ではなく、適正な検査を遂行するには当該判定基準
データＳをより適正な値に変更する必要がある。この変
更処理は、２通りあり、判定基準データＳの値を「良」
「不良」の判断分岐として、より大きな数値とするか、
より小さな数値とするかである。前者の場合は、その外
観検査対象事項Ａに関する判定基準が、定められた判定
基準データＳより大きい場合に不良判定するものであ
り、後者の場合は、その外観検査対象事項Ａに関する判
定基準が、定められた判定基準データＳより小さい場合
に不良判定するものである。これらの判定基準データＳ
の再設定処理の方法、すなわち再設定内容、再設定タイ
ミング等は、前記外観自動検査工程１０の管理者の意図
を反映させないと適正な再設定処理にならないため、何
らかの方法で、当該再設定処理を司るコンピュータ３６
に前記外観自動検査手段１１０の管理者の意図を指示す
ることが必要となる。前記外観自動検査手段１１０の管
理者は、その判定基準データＳの再設定方法を外部から
電気的に入力する機構３４により入力し、これらの情報
を電気的な情報として格納する電気的記憶機構３２に憶
え込ませる。これらの判定基準データＳの再設定処理の
方法の入力および装置内での記憶により、判定基準デー
タＳは、前記外観自動検査手段１１０の管理者の意図に
従った再設定がなされることになる。例えば、先述のよ
うに、従来の判定基準データＳより大きな数値として新
しく判定基準データＮを設定する時、その数式を、「Ｎ
＝Ｓ＋１」とするのか「Ｎ＝Ｓ＋２」とするのかなどの
ように、「Ｎ＝Ｓ＋ｎ」のｎの数値を前記外観自動検査
工程１０の管理者の任意で設定できる。また、このｎの
数値は、新しい判定基準データＮの数値を従来の判定基
準データＳの数値より小さく設定する場合の、「Ｎ＝Ｓ
−ｎ」のｎについても同様である。、さらに、電気的記
憶機構３２には、判定基準データＳの再設定のタイミン
グとして、フィードバックされた再判定手段１２０内の
再判定結果が、前記外観自動検査手段１１０の判定結果
と一致せずに、すなわち前記外観自動検査手段１１０で
は「不良」と判定された外観検査対象事項Ａが、実は
「良」であったという事象が、何回連続して発生した場
合に、または、何回累積して発生した場合に、または過
去の検査回数の内どの程度の割合で発生した場合に判定
基準データＳを再設定する必要があるかを記憶させ、定
義することが可能である。例えば、ある外観検査対象事
項Ｂの「良」が「不良」と判定された事象が、２回でも
連続すれば先述のように判定基準データＳをＮに再設定
するようにもできるし、当該事象が累積して１０回発生
した場合についてのみ先述のように判定基準データＳを
Ｎに再設定するようにもできるし、または、当該事象が
一定期間内で５０％発生した場合についてのみ先述のよ
うに判定基準データＳをＮに再設定するようにもでき
る。これらの再設定タイミングに関する全ての定義を、
判定基準データ再設定方法の電気的入力機構３４と当該
再設定方法の電気的記憶機構３２はできるようになって
いることが望ましい。
【００２９】
【発明の効果】以上の説明のように、本発明のおける外
観検査方法及び装置によれば、外観自動検査工程と再判
定工程の判定結果を電気的信号として情報連結させ、さ
らにその連結された情報に対して特定の処理方法を定義
せしめることで、単純な作業で誤判定の極めて少ない外
観自動検査工程を実現出来る。また、再判定結果に従っ
た全ての判定基準の再設定処理が自動で処理されること
により、確実且つ簡便に誤判定の極めて少ない外観自動
検査工程を実現出来る。さらに、判定基準の再設定処理
が、外観自動検査工程以外の機構でなされるため、当該
外観自動検査工程の稼働率を低減させることなく、誤判
定の極めて少ない外観自動検査工程の提供を実現出来
る。
観検査方法及び装置によれば、外観自動検査工程と再判
定工程の判定結果を電気的信号として情報連結させ、さ
らにその連結された情報に対して特定の処理方法を定義
せしめることで、単純な作業で誤判定の極めて少ない外
観自動検査工程を実現出来る。また、再判定結果に従っ
た全ての判定基準の再設定処理が自動で処理されること
により、確実且つ簡便に誤判定の極めて少ない外観自動
検査工程を実現出来る。さらに、判定基準の再設定処理
が、外観自動検査工程以外の機構でなされるため、当該
外観自動検査工程の稼働率を低減させることなく、誤判
定の極めて少ない外観自動検査工程の提供を実現出来
る。
【図１】本発明の一実施例を示すフローチャートを表し
た図面。
た図面。
【図２】本発明の一実施例を示す図面。
【図３】本発明の一実施例を示す図面。
【図４】本発明の一実施例を示す図面。
【図５】本発明の一実施例を示す図面。
【図６】従来の外観自動検査工程を説明する図面。
【図７】従来の外観自動検査工程を説明する図面。
Ｆ：再判定工程での正誤判定結果 Ｈ：サーバコンピュータ Ｊ：外観自動検査工程による判定情報 Ｎ：再設定された判定基準データ Ｓ：従来の判定基準データ １０：外観自動検査工程 １２：外観撮像工程 １４：画像データ作成工程 １６：判定工程 ２０：再判定工程 ３０：判定基準データ候補作成工程 ３２：電気的記憶機構 ３４：電気的入力機構 ３６：判定基準再設定処理用コンピュータ ４０：判定基準データ再設定工程 ５０：良品組立工程 ６０：不良修理工程 １１０：外観自動検査手段 １１２：外観撮像手段 １１４：画像データ作成手段 １１６：判定手段 １２０：再判定手段 １３０：判定基準データ候補作成手段 １４０：判定基準データ再設定手段 ２２０：再判定工程２０内の表示機構 ２２２：御用コンピュータ ２２４：検査結果表示画面 ２４０：再判定結果の電気的入力機構 ２４２：不良スイッチ ２４４：良スイッチ ２６０：表示切り替えスイッチ ２９０：表示機構２２０内信号線 ５００：電気的信号伝播機構 ５２０：電気的信号伝播機構 ５４０：双方向電気的信号伝播機構
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成１０年６月４日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図面の簡単な説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例を示すフローチャートを表し
た図面。
た図面。
【図２】本発明の一実施例を示す図面。
【図３】本発明の一実施例を示す図面。
【図４】本発明の一実施例を示す図面。
【図５】本発明の一実施例を示す図面。
【図６】本発明の一実施例を示す図面。
【図７】従来の外観自動検査工程を説明する図面。
【図８】従来の外観自動検査工程を説明する図面。
【符号の説明】 Ｆ：再判定工程での正誤判定結果 Ｈ：サーバコンピュータ Ｊ：外観自動検査工程による判定情報 Ｎ：再設定された判定基準データ Ｓ：従来の判定基準データ １０：外観自動検査工程 １２：外観撮像工程 １４：画像データ作成工程 １６：判定工程 ２０：再判定工程 ３０：判定基準データ候補作成工程 ３２：電気的記憶機構 ３４：電気的入力機構 ３６：判定基準再設定処理用コンピュータ ４０：判定基準データ再設定工程 ５０：良品組立工程 ６０：不良修理工程 １１０：外観自動検査手段 １１２：外観撮像手段 １１４：画像データ作成手段 １１６：判定手段 １２０：再判定手段 １３０：判定基準データ候補作成手段 １４０：判定基準データ再設定手段 ２２０：再判定工程２０内の表示機構 ２２２：御用コンピュータ ２２４：検査結果表示画面 ２４０：再判定結果の電気的入力機構 ２４２：不良スイッチ ２４４：良スイッチ ２６０：表示切り替えスイッチ ２９０：表示機構２２０内信号線 ５００：電気的信号伝播機構 ５２０：電気的信号伝播機構 ５４０：双方向電気的信号伝播機構 ─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成１０年６月４日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００２
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の外観自動検査工程と再判
定工程との相互における再判定結果の情報のやり取り
は、図７に示すものが一般的に知られている。同図に示
すように、外観自動検査工程１０から検査対象製造物に
関する複数の外観検査対象事項の良否の判定情報Ｊが、
検査対象製造物現品へのマーキングもしくは紙での出力
もしくはコンソール出力で再判定工程２０に対して提示
される。前記判定情報Ｊの提示内容に基づき、再判定工
程２０内において、再判定要員は当該判定情報Ｊに対す
る正誤判定をし、正答すなわち真実の「不良」でしかも
修理可能な個所については修理を行い、誤答すなわち偽
の「不良」すなわち「良」については、そのままの状態
で後工程に流動させる作業を行う。一方、ある製造物の
製造品質の良不良を決める外観検査工程においては、そ
の良不良判定における判定基準が、検査人の官能に基づ
く曖昧としたものが多く、凡その基準に基づき検査がな
されることが多い。従って、従来、この種の外観自動検
査工程１０においては、判定基準データＳの的確な設定
が困難であり、その設定は外観自動検査工程１０の管理
者の経験と感にたよる場合が多かった。また、この判定
基準データＳは、不良品を良品と判定するいわゆる見逃
し現象を完全になくすために出来る限り厳しく設定する
のが通例であった。従って、その判定情報Ｊには、真実
の「不良」と偽の「不良」すなわち「良」の複数の検査
対象事項の良否判定結果が混入されているのが一般的で
ある。ここで、その正誤判定結果Ｆの情報すなわち外観
自動検査工程１０内の判定基準データＳの適正度は、前
記再判定要員の前記判定情報Ｊに対する正誤判定結果Ｆ
を紙上で集計し、当該外観自動検査工程１０の管理者へ
情報として戻すし、当該管理者へ知らしめることで判断
される。さらに、外観自動検査工程１０内の判定基準デ
ータＳの適正度をより的確に把握するために、図８に示
すように、例えば再判定要員は、コンピュータ端末Ｐに
当該正誤判定結果Ｆを入力しサーバコンピュータＨによ
りデータ集約をさせる場合がある。この一連の作業内容
は、複数の再判定要員が存在する場合、同様に行われ
る。さらにサーバコンピュータＨに集約された当該正誤
判定結果Ｆは、例えば別のコンピュータ端末Ｐにより、
当該外観自動検査工程１０の管理者が集計結果を認知す
ることができる。この結果、外観自動検査工程１０の管
理者は、当該外観自動検査工程１０の判定基準データＳ
が適正な状態であるのかどうかの状態を把握することが
できる。この把握結果により、前記外観自動検査工程１
０の判定基準データＳを変更する必要があるか、必要が
ある場合の当該判定基準データＳの変更箇所及び変更内
容を判断し変更作業を行い、外観自動検査工程１０の検
査能力を維持改善するのが一般的であった。
定工程との相互における再判定結果の情報のやり取り
は、図７に示すものが一般的に知られている。同図に示
すように、外観自動検査工程１０から検査対象製造物に
関する複数の外観検査対象事項の良否の判定情報Ｊが、
検査対象製造物現品へのマーキングもしくは紙での出力
もしくはコンソール出力で再判定工程２０に対して提示
される。前記判定情報Ｊの提示内容に基づき、再判定工
程２０内において、再判定要員は当該判定情報Ｊに対す
る正誤判定をし、正答すなわち真実の「不良」でしかも
修理可能な個所については修理を行い、誤答すなわち偽
の「不良」すなわち「良」については、そのままの状態
で後工程に流動させる作業を行う。一方、ある製造物の
製造品質の良不良を決める外観検査工程においては、そ
の良不良判定における判定基準が、検査人の官能に基づ
く曖昧としたものが多く、凡その基準に基づき検査がな
されることが多い。従って、従来、この種の外観自動検
査工程１０においては、判定基準データＳの的確な設定
が困難であり、その設定は外観自動検査工程１０の管理
者の経験と感にたよる場合が多かった。また、この判定
基準データＳは、不良品を良品と判定するいわゆる見逃
し現象を完全になくすために出来る限り厳しく設定する
のが通例であった。従って、その判定情報Ｊには、真実
の「不良」と偽の「不良」すなわち「良」の複数の検査
対象事項の良否判定結果が混入されているのが一般的で
ある。ここで、その正誤判定結果Ｆの情報すなわち外観
自動検査工程１０内の判定基準データＳの適正度は、前
記再判定要員の前記判定情報Ｊに対する正誤判定結果Ｆ
を紙上で集計し、当該外観自動検査工程１０の管理者へ
情報として戻すし、当該管理者へ知らしめることで判断
される。さらに、外観自動検査工程１０内の判定基準デ
ータＳの適正度をより的確に把握するために、図８に示
すように、例えば再判定要員は、コンピュータ端末Ｐに
当該正誤判定結果Ｆを入力しサーバコンピュータＨによ
りデータ集約をさせる場合がある。この一連の作業内容
は、複数の再判定要員が存在する場合、同様に行われ
る。さらにサーバコンピュータＨに集約された当該正誤
判定結果Ｆは、例えば別のコンピュータ端末Ｐにより、
当該外観自動検査工程１０の管理者が集計結果を認知す
ることができる。この結果、外観自動検査工程１０の管
理者は、当該外観自動検査工程１０の判定基準データＳ
が適正な状態であるのかどうかの状態を把握することが
できる。この把握結果により、前記外観自動検査工程１
０の判定基準データＳを変更する必要があるか、必要が
ある場合の当該判定基準データＳの変更箇所及び変更内
容を判断し変更作業を行い、外観自動検査工程１０の検
査能力を維持改善するのが一般的であった。
Claims (5)
- 【請求項１】（Ａ）外観検査対象物の外観を撮像する外
観撮像工程１２、この撮像された外観に基づいて、複数
の外観検査対象事項のそれぞれに対応する複数の画像デ
ータを生成する画像データ生成工程１４、及び前記複数
の画像データのそれぞれと前記外観検査対象事項に対応
して予め設定されている複数の判定基準データのそれぞ
れとの比較に基づいて、前記複数の外観検査対象事項の
良否を判定する判定工程１６、をこの順序で有する外観
自動検査工程１０、（Ｂ）前記外観自動検査工程１０で
「不良」と判定された外観検査対象事項を再検査して、
その良否を再判定する再判定工程２０、（Ｃ）前記再判
定工程２０で「良」と再判定された外観検査対象事項に
対応した判定基準データ候補であって、前記判定工程１
６で用いた判定基準データより好ましい判定基準データ
候補を作成する判定基準データ候補作成工程３０、並び
に（Ｄ）前記判定基準データ作成工程３０で作成された
判定基準データ候補に基づいて、前記判定工程１６で用
いる判定基準データを再設定する判定基準データ再設定
工程４０、を有することを特徴とする外観検査方法。 - 【請求項２】（Ｅ）外観検査対象物の外観を撮像する外
観撮像手段１１２、この撮像された外観に基づいて、複
数の外観検査対象事項のそれぞれに対応する複数の画像
データを生成する画像データ生成手段１１４、及び前記
複数の画像データのそれぞれと前記外観検査対象事項に
対応して予め設定されている複数の判定基準データのそ
れぞれとの比較に基づいて、前記複数の外観検査対象事
項の良否を判定する判定手段１１６、をこの順序で有す
る外観自動検査手段１１０、（F）前記外観自動検査手
段１１０で「不良」と判定された外観検査対象事項を再
検査して、その良否を再判定する再判定手段１２０、
（G）前記再判定手段１２０で「良」と再判定された外
観検査対象事項に対応した判定基準データ候補であっ
て、前記判定手段１１６で用いた判定基準データより好
ましい判定基準データ候補を作成する判定基準データ候
補作成手段１３０、並びに（H）前記判定基準データ作
成手段１３０で作成された判定基準データ候補に基づい
て、前記判定手段１１６で用いる判定基準データを再設
定する判定基準データ再設定手段１４０、を有すること
を特徴とする外観検査システム。 - 【請求項３】請求項２に記載の外観検査システムにおい
て、（I）前記再判定手段１２０において、前記外観検
査手段１１０で「不良」と判定された外観検査対象事項
を、人間に知らしめる表示機構２２、（J）前記再判定
手段１２０において、「良」と判定された外観検査対象
事項の特定化情報の電気的入力機構２４をさらに有する
ことを特徴とする外観検査システム。 - 【請求項４】（K）前記外観自動検査手段１１０から前
記再判定手段１２０へ、「良」若しくは「不良」の判定
結果を伝える電気的信号伝播機構５２０、（L）前記再
判定手段１２０から前記外観自動検査手段１１０へ、
「良」と判定された外観検査対象事項の特定化情報の電
気的入力機構２４で入力された情報を伝える電気的信号
伝播機構５４０、（M）前記電気的信号伝播機構５２０
と、前記電気的信号伝播機構５４０が双方向で機能する
電気的信号伝播機構５００を有することを特徴とする外
観検査システム。 - 【請求項５】（N）前記判定基準データ候補作成手段１
３０において、その再設定内容、タイミング等の方法の
定義に関わる情報を格納する電気的記憶機構３２、
（O）当該情報を外部から電気的に入力する機構３４を
さらに有することを特徴とする外観検査システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5999098A JPH11258180A (ja) | 1998-03-11 | 1998-03-11 | 外観検査方法及びシステム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5999098A JPH11258180A (ja) | 1998-03-11 | 1998-03-11 | 外観検査方法及びシステム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11258180A true JPH11258180A (ja) | 1999-09-24 |
Family
ID=13129128
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5999098A Withdrawn JPH11258180A (ja) | 1998-03-11 | 1998-03-11 | 外観検査方法及びシステム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11258180A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013211323A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-10 | Omron Corp | 基板検査結果の分析作業支援用の情報表示システムおよび分析作業の支援方法 |
| WO2018088760A3 (ko) * | 2016-11-14 | 2018-08-16 | 주식회사 고영테크놀러지 | 검사체에 대한 양부 판정 조건을 조정하는 방법 및 장치 |
| KR20190057221A (ko) * | 2019-05-16 | 2019-05-28 | 주식회사 고영테크놀러지 | 검사체에 대한 양부 판정 조건을 조정하는 방법 및 장치 |
| KR20200013250A (ko) * | 2020-01-17 | 2020-02-06 | 주식회사 고영테크놀러지 | 검사체에 대한 양부 판정 조건을 조정하는 방법 및 장치 |
| US11366068B2 (en) | 2016-11-14 | 2022-06-21 | Koh Young Technology Inc. | Inspection apparatus and operating method thereof |
-
1998
- 1998-03-11 JP JP5999098A patent/JPH11258180A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2013211323A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-10 | Omron Corp | 基板検査結果の分析作業支援用の情報表示システムおよび分析作業の支援方法 |
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| US11199503B2 (en) | 2016-11-14 | 2021-12-14 | Koh Young Technology Inc. | Method and device for adjusting quality determination conditions for test body |
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| KR20200013250A (ko) * | 2020-01-17 | 2020-02-06 | 주식회사 고영테크놀러지 | 검사체에 대한 양부 판정 조건을 조정하는 방법 및 장치 |
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