JPH11259328A - エミュレーション装置 - Google Patents
エミュレーション装置Info
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- JPH11259328A JPH11259328A JP10058683A JP5868398A JPH11259328A JP H11259328 A JPH11259328 A JP H11259328A JP 10058683 A JP10058683 A JP 10058683A JP 5868398 A JP5868398 A JP 5868398A JP H11259328 A JPH11259328 A JP H11259328A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- logic circuit
- connection
- circuit
- fpga
- fpia
- Prior art date
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 書き込み前に診断プログラム等を流すことに
より、事前に不良個所の故障検出を行い、その不良素子
を避けて、論理回路や結線の書き込みを行うことのでき
るエミュレーション装置を提供すること。 【解決手段】 入力部8と表示部7と記憶部2とを接続
した制御装置1によって、最初に書き込みを行おうとす
るエミュレータ回路全体の各書き込み可能な素子:FP
GA51〜5mとFPIA61〜6nへのマッピングを行
い、次に診断プログラムを流して、このFPGA51〜
5mとFPIA61〜6nの不良個所を検出し、もし検出
された場合には不良の素子を避けて正しい素子のみへの
再マッピングを行った後に、上記FPGA,FPIAへ
の書き込み処理を行う。
より、事前に不良個所の故障検出を行い、その不良素子
を避けて、論理回路や結線の書き込みを行うことのでき
るエミュレーション装置を提供すること。 【解決手段】 入力部8と表示部7と記憶部2とを接続
した制御装置1によって、最初に書き込みを行おうとす
るエミュレータ回路全体の各書き込み可能な素子:FP
GA51〜5mとFPIA61〜6nへのマッピングを行
い、次に診断プログラムを流して、このFPGA51〜
5mとFPIA61〜6nの不良個所を検出し、もし検出
された場合には不良の素子を避けて正しい素子のみへの
再マッピングを行った後に、上記FPGA,FPIAへ
の書き込み処理を行う。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、書き換え可能な論
理回路素子と書き換え可能な結線素子とを備えて、これ
らの素子への書き込み前に、その故障検出を診断プログ
ラムを流すことにより行うエミュレーション装置に関す
る。
理回路素子と書き換え可能な結線素子とを備えて、これ
らの素子への書き込み前に、その故障検出を診断プログ
ラムを流すことにより行うエミュレーション装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】エミュレータ等の装置は、エミュレート
する対象となる回路自体が複雑かつ大規模になっている
ため、その構成が大規模になり、かつその動作速度も高
速化する傾向がある。例えば、あるLSIをエミュレー
トするエミュレータを考えると、その構成上必要とされ
る機能を、ディスクリート素子によって実現するもので
あるから、一般的に複数の論理回路素子を搭載した基板
を複数個必要とし、その基板間の配線を各種ケーブルに
よって行うことになる。そして、そのエミュレータに何
らかの故障が発生した場合、あるいは、回路変更が必要
になった場合に、基板上に搭載されている論理回路素子
や結線素子を、回路変更を施したものと交換したりする
ことが要求されていた。
する対象となる回路自体が複雑かつ大規模になっている
ため、その構成が大規模になり、かつその動作速度も高
速化する傾向がある。例えば、あるLSIをエミュレー
トするエミュレータを考えると、その構成上必要とされ
る機能を、ディスクリート素子によって実現するもので
あるから、一般的に複数の論理回路素子を搭載した基板
を複数個必要とし、その基板間の配線を各種ケーブルに
よって行うことになる。そして、そのエミュレータに何
らかの故障が発生した場合、あるいは、回路変更が必要
になった場合に、基板上に搭載されている論理回路素子
や結線素子を、回路変更を施したものと交換したりする
ことが要求されていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記の従来装置の例で
は、エミュレータの一部の回路もしくは結線の故障や変
更のために、エミュレータ全体が使用不可能になるか
ら、エミュレータを用いた開発全体の作業効率の低下が
避けられない。
は、エミュレータの一部の回路もしくは結線の故障や変
更のために、エミュレータ全体が使用不可能になるか
ら、エミュレータを用いた開発全体の作業効率の低下が
避けられない。
【0004】また、エミュレータの蔵する回路規模の増
加および要求される動作速度の高速化によって、さらな
る回路部品点数の増加および基板上の配線長の短縮のた
めの基板の小型化についての要求がある。しかし、部品
点数の増加は回路の故障確率を増加させ、基板の小型化
はメンテナンスのやりにくさを導く。さらに、エミュレ
ータは、通常のシステムと異なり、開発途中の未完成の
回路をエミュレートするため、操作を誤ったりして、信
号線同士を衝突させ、素子を破壊させたり、素子にスト
レスを与えて性能を劣化させることが起こり易いという
問題がある。
加および要求される動作速度の高速化によって、さらな
る回路部品点数の増加および基板上の配線長の短縮のた
めの基板の小型化についての要求がある。しかし、部品
点数の増加は回路の故障確率を増加させ、基板の小型化
はメンテナンスのやりにくさを導く。さらに、エミュレ
ータは、通常のシステムと異なり、開発途中の未完成の
回路をエミュレートするため、操作を誤ったりして、信
号線同士を衝突させ、素子を破壊させたり、素子にスト
レスを与えて性能を劣化させることが起こり易いという
問題がある。
【0005】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、エミュレーション実行前に走らせる診断プログ
ラムの結果に基づいて、エミュレータの基板上の書き換
え可能な論理回路素子および結線素子の内容を書き換え
ることにより、基板上の素子数や素子間の配線を変更せ
ずに、論理回路素子および結線素子を制御する制御装置
からオンラインで、短時間で回路変更や不良個所の修正
に対応できるエミュレーション装置を提供することを目
的とする。
もので、エミュレーション実行前に走らせる診断プログ
ラムの結果に基づいて、エミュレータの基板上の書き換
え可能な論理回路素子および結線素子の内容を書き換え
ることにより、基板上の素子数や素子間の配線を変更せ
ずに、論理回路素子および結線素子を制御する制御装置
からオンラインで、短時間で回路変更や不良個所の修正
に対応できるエミュレーション装置を提供することを目
的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、内部の論理回路情報が書き換え可能な複数の論理回
路素子と、内部の結線情報が書き換え可能な複数の結線
素子と、上記論理回路情報と上記結線情報とが記憶され
ている記憶部と、上記論理回路情報と上記結線情報の作
成ならびに上記論理回路素子と上記結線素子と上記記憶
部の書き込みおよび読み出しを行う制御回路とからなる
エミュレーション装置において、上記論理回路素子の各
々は上記結線素子の各々との間で、複数の固定的な結線
を予め持っているエミュレーション装置である。請求項
2記載の発明は、請求項1に記載のエミュレーション装
置において、上記制御回路は、上記書き込みを行う前に
診断プログラムによって上記論理回路素子および上記結
線素子の各々が正しく機能するかを診断し、正しくない
場合には新しい論理回路情報および新しい結線情報を作
成して上記の書き込みを行うことを特徴としている。請
求項3記載の発明は、請求項1ないし2に記載のエミュ
レーション装置において、上記の一定の数の固定的な結
線は、2本の固定的な結線であることを特徴としてい
る。請求項4記載の発明は、請求項1ないし3のいずれ
かに記載のエミュレーション装置において、上記結線素
子に代えて、書き換え可能な論理回路素子を用いること
を特徴としている。
は、内部の論理回路情報が書き換え可能な複数の論理回
路素子と、内部の結線情報が書き換え可能な複数の結線
素子と、上記論理回路情報と上記結線情報とが記憶され
ている記憶部と、上記論理回路情報と上記結線情報の作
成ならびに上記論理回路素子と上記結線素子と上記記憶
部の書き込みおよび読み出しを行う制御回路とからなる
エミュレーション装置において、上記論理回路素子の各
々は上記結線素子の各々との間で、複数の固定的な結線
を予め持っているエミュレーション装置である。請求項
2記載の発明は、請求項1に記載のエミュレーション装
置において、上記制御回路は、上記書き込みを行う前に
診断プログラムによって上記論理回路素子および上記結
線素子の各々が正しく機能するかを診断し、正しくない
場合には新しい論理回路情報および新しい結線情報を作
成して上記の書き込みを行うことを特徴としている。請
求項3記載の発明は、請求項1ないし2に記載のエミュ
レーション装置において、上記の一定の数の固定的な結
線は、2本の固定的な結線であることを特徴としてい
る。請求項4記載の発明は、請求項1ないし3のいずれ
かに記載のエミュレーション装置において、上記結線素
子に代えて、書き換え可能な論理回路素子を用いること
を特徴としている。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態による
エミュレーション装置を図面を参照しつつ説明する。図
1は、本実施形態によるエミュレーション装置のブロッ
ク図である。ここで、符号51,52,…,5mは、その
内部に論理回路を持ち、この論理回路情報を外部から書
き換えることが可能なm個のFPGA(Field Programm
able GateArray)である。符号61,62,…,6nは、
その内部に結線回路を持ち、この結線情報を外部から書
き換えることが可能なn個のFPIA(Field Programm
ableInterconnection Array)である。FPGA51,5
2,…,5mの各々は、FPIA61,62,…,6nの各
々と一定の数の2本づつの結線を予め施されているもの
とする。つまり全てのFPGAは全てのFPIAと2本
の接続を持っている。このFPGA7,8,…,nとF
PIA61,62,…,6nとを包含するエミュレータ9
は、エミュレーション装置内部で制御線3とデータ線4
とを介して制御装置1と接続されている。
エミュレーション装置を図面を参照しつつ説明する。図
1は、本実施形態によるエミュレーション装置のブロッ
ク図である。ここで、符号51,52,…,5mは、その
内部に論理回路を持ち、この論理回路情報を外部から書
き換えることが可能なm個のFPGA(Field Programm
able GateArray)である。符号61,62,…,6nは、
その内部に結線回路を持ち、この結線情報を外部から書
き換えることが可能なn個のFPIA(Field Programm
ableInterconnection Array)である。FPGA51,5
2,…,5mの各々は、FPIA61,62,…,6nの各
々と一定の数の2本づつの結線を予め施されているもの
とする。つまり全てのFPGAは全てのFPIAと2本
の接続を持っている。このFPGA7,8,…,nとF
PIA61,62,…,6nとを包含するエミュレータ9
は、エミュレーション装置内部で制御線3とデータ線4
とを介して制御装置1と接続されている。
【0008】また、このエミュレータ9は、エミュレー
ション装置の外部の機器(図示せず)と、制御線10と
データ線11とを介して接続される。記憶部2には、F
PGA51,52,…,5mの論理回路情報とFPIA
61,62,…,6nの結線情報および制御装置1が用い
る診断プログラムが格納される。制御装置1は、上記論
理回路情報と結線情報を記憶部2から必要に応じて読み
出して、制御線3とデータ線4とを使ってFPGA
51,52,…,5mとFPIA61,62,…,6nの各々
に順次それぞれ書き込み、またそれらの情報を各FPG
AやFPIAから読み出して記憶部2に書き込む。ま
た、制御装置1は、これらの書き込みあるいは読み出し
の情報を用いて上記診断プログラムに従って、FPGA
やFPIAの故障検出を行う。
ション装置の外部の機器(図示せず)と、制御線10と
データ線11とを介して接続される。記憶部2には、F
PGA51,52,…,5mの論理回路情報とFPIA
61,62,…,6nの結線情報および制御装置1が用い
る診断プログラムが格納される。制御装置1は、上記論
理回路情報と結線情報を記憶部2から必要に応じて読み
出して、制御線3とデータ線4とを使ってFPGA
51,52,…,5mとFPIA61,62,…,6nの各々
に順次それぞれ書き込み、またそれらの情報を各FPG
AやFPIAから読み出して記憶部2に書き込む。ま
た、制御装置1は、これらの書き込みあるいは読み出し
の情報を用いて上記診断プログラムに従って、FPGA
やFPIAの故障検出を行う。
【0009】さらに、制御装置1は、書き込み情報の各
FPGAと各FPIAへの割り当て処理(以下、これを
マッピングと呼ぶ)も行う。データ線4は、書き込みあ
るいは読み出しのデータの転送に使用され、制御線3
は、その際に使用される各FPGAやFPIAの選択信
号及び書き込み制御信号や読み出し制御信号を含むもの
とする。符号7は、表示部であり、本エミュレーション
装置の操作者に対して各種情報を表示するのに用いられ
る。符号8は、入力部であり、本エミュレーション装置
の操作者が本エミュレーション装置に対して動作や処理
の命令を与える際に入力装置として用いられる。
FPGAと各FPIAへの割り当て処理(以下、これを
マッピングと呼ぶ)も行う。データ線4は、書き込みあ
るいは読み出しのデータの転送に使用され、制御線3
は、その際に使用される各FPGAやFPIAの選択信
号及び書き込み制御信号や読み出し制御信号を含むもの
とする。符号7は、表示部であり、本エミュレーション
装置の操作者に対して各種情報を表示するのに用いられ
る。符号8は、入力部であり、本エミュレーション装置
の操作者が本エミュレーション装置に対して動作や処理
の命令を与える際に入力装置として用いられる。
【0010】次に、本実施形態によるエミュレーション
装置に対する書き込み処理の説明を図1と図2とを併せ
て用いて行う。図2は、本エミュレーション装置に対す
る書き込み処理を示すフローチャートである。このフロ
ーチャートにおいて、まず、処理が開始されると、ステ
ップS20において、制御装置1は、まず全体の回路を
各FPGAの規模に納まる規模の回路ブロックに分割し
た後に、これをFPGA51,52,…,5mの各々にど
のように割り当てるかというマッピング処理を行う。そ
してこの結果を一旦、記憶部2に格納する。
装置に対する書き込み処理の説明を図1と図2とを併せ
て用いて行う。図2は、本エミュレーション装置に対す
る書き込み処理を示すフローチャートである。このフロ
ーチャートにおいて、まず、処理が開始されると、ステ
ップS20において、制御装置1は、まず全体の回路を
各FPGAの規模に納まる規模の回路ブロックに分割し
た後に、これをFPGA51,52,…,5mの各々にど
のように割り当てるかというマッピング処理を行う。そ
してこの結果を一旦、記憶部2に格納する。
【0011】次に、制御装置1は、この結果に基づい
て、各FPGAと各FPIAとの間に予め施されている
2本の配線を用いて、どのように配線処理を行うかを決
定した後に、FPIA61,62,…,6nに書き込む結
線情報をFPIA61,62,…,6nの各々にどのよう
に割り当てるかというマッピング処理を同様に行う。そ
して、この結果を記憶部2に格納する。次に、制御装置
1はステップS21において、各FPGAと各FPI
A、およびエミュレータ上の配線等について、診断プロ
グラムを走らせる。この結果を用いて、制御装置1はス
テップS22で、これらが正常であるか否かを調べる。
ここで、各FPGAおよび各FPIA、配線等が正常で
あることが確認された場合には、ステップS24におい
て、ステップS20でのマッピング結果に基づき、制御
装置1は、記憶部2から上記のマッピング結果を読み出
した後に、各FPGAと各FPIAに対して制御線3と
データ線4とを用いて必要な信号を送り、1個づつ順次
書き込み処理を行う。
て、各FPGAと各FPIAとの間に予め施されている
2本の配線を用いて、どのように配線処理を行うかを決
定した後に、FPIA61,62,…,6nに書き込む結
線情報をFPIA61,62,…,6nの各々にどのよう
に割り当てるかというマッピング処理を同様に行う。そ
して、この結果を記憶部2に格納する。次に、制御装置
1はステップS21において、各FPGAと各FPI
A、およびエミュレータ上の配線等について、診断プロ
グラムを走らせる。この結果を用いて、制御装置1はス
テップS22で、これらが正常であるか否かを調べる。
ここで、各FPGAおよび各FPIA、配線等が正常で
あることが確認された場合には、ステップS24におい
て、ステップS20でのマッピング結果に基づき、制御
装置1は、記憶部2から上記のマッピング結果を読み出
した後に、各FPGAと各FPIAに対して制御線3と
データ線4とを用いて必要な信号を送り、1個づつ順次
書き込み処理を行う。
【0012】ステップS22において、FPGA、FP
IA、配線等のどこかに異常が検出された場合には、ス
テップS23において、制御装置1は、ステップS20
における前回のマッピングとは異なるマッピング処理を
行う。そして、その結果を記憶部2に格納する。ステッ
プS24において、このステップS23でのマッピング
結果に基づき、制御装置1は、記憶部2から上記のマッ
ピング結果を読み出した後に、各FPGAと各FPIA
に対して制御線3とデータ線4とを用いて必要な信号を
送り、1個づつ順次書き込み処理を行う。そして、この
ステップS24における書き込みが完了した後に、本フ
ローチャートの全ての処理を終了する。
IA、配線等のどこかに異常が検出された場合には、ス
テップS23において、制御装置1は、ステップS20
における前回のマッピングとは異なるマッピング処理を
行う。そして、その結果を記憶部2に格納する。ステッ
プS24において、このステップS23でのマッピング
結果に基づき、制御装置1は、記憶部2から上記のマッ
ピング結果を読み出した後に、各FPGAと各FPIA
に対して制御線3とデータ線4とを用いて必要な信号を
送り、1個づつ順次書き込み処理を行う。そして、この
ステップS24における書き込みが完了した後に、本フ
ローチャートの全ての処理を終了する。
【0013】次に、具体的な回路を用いて、上述のフロ
ーチャートである図で示した、エミュレーション装置へ
の書き込み処理例を詳しく説明する。回路例として、図
3の論理回路を取り上げる。ここでは、排他的論理和回
路(EOR)31と論理和回路(OR)32と論理積回
路(AND)33とが使用され、その各回路間の配線
A,B,C,D,Eを図示するごとく定義する。そし
て、制御装置1は、まずこの回路を複数の回路ブロック
に分割する。本例では、EOR31をブロック301
に、OR32をブロック302に、AND33をブロッ
ク303に割り当てる。従って、本回路例を実現するの
に、3個のFPGA310,320,330(後述の図
4に図示)を用いて、上記のブロック301をFPGA
310に、ブロック302をFPGA320に、ブロッ
ク303をFPGA330にそれぞれ対応させて、それ
ぞれの論理回路情報を書き込むものとする。
ーチャートである図で示した、エミュレーション装置へ
の書き込み処理例を詳しく説明する。回路例として、図
3の論理回路を取り上げる。ここでは、排他的論理和回
路(EOR)31と論理和回路(OR)32と論理積回
路(AND)33とが使用され、その各回路間の配線
A,B,C,D,Eを図示するごとく定義する。そし
て、制御装置1は、まずこの回路を複数の回路ブロック
に分割する。本例では、EOR31をブロック301
に、OR32をブロック302に、AND33をブロッ
ク303に割り当てる。従って、本回路例を実現するの
に、3個のFPGA310,320,330(後述の図
4に図示)を用いて、上記のブロック301をFPGA
310に、ブロック302をFPGA320に、ブロッ
ク303をFPGA330にそれぞれ対応させて、それ
ぞれの論理回路情報を書き込むものとする。
【0014】次に、ステップS20に示す各FPGAお
よび各FPIAへのマッピング処理を行う。FPGAへ
のマッピングは本例では1個の論理回路に1個のFPG
Aが対応するので割愛する。各FPGA間の配線A,
B,C,D,Eは、結線素子であるFPIAを用いて、
これに結線情報を書き込むことによって実現される。こ
の結線情報の生成について、以下で詳述する。まず、図
6(a)に示すような信号名リストを作成する。図6
は、横軸にFPGA(本例では3個)を、縦軸には信号
(本例ではA…E)を割り当ててある。これは、図3と
見比べると、例えば信号Aがブロック301の入力とブ
ロック302の入力とに接続されているから、図6
(a)の信号Aが相当する第1行では、FPGA310
とFPGA320の列に*がマークされている。次に、
信号Bに関しては、ブロック301にのみ、接続されて
いるので、図6(a)の第2行において、FPGA31
0の列にのみ*がマークされている。
よび各FPIAへのマッピング処理を行う。FPGAへ
のマッピングは本例では1個の論理回路に1個のFPG
Aが対応するので割愛する。各FPGA間の配線A,
B,C,D,Eは、結線素子であるFPIAを用いて、
これに結線情報を書き込むことによって実現される。こ
の結線情報の生成について、以下で詳述する。まず、図
6(a)に示すような信号名リストを作成する。図6
は、横軸にFPGA(本例では3個)を、縦軸には信号
(本例ではA…E)を割り当ててある。これは、図3と
見比べると、例えば信号Aがブロック301の入力とブ
ロック302の入力とに接続されているから、図6
(a)の信号Aが相当する第1行では、FPGA310
とFPGA320の列に*がマークされている。次に、
信号Bに関しては、ブロック301にのみ、接続されて
いるので、図6(a)の第2行において、FPGA31
0の列にのみ*がマークされている。
【0015】こうして、順次信号Eまでのリストを作成
した後に、これを図6(b)の信号名リストに示すよう
に、分岐の多い順に信号の行を並べ替える。ここでは、
信号Cが3個のブロックつまりFPGAに接続されてお
り分岐数が最も多いので、第1行目に入れ替えられてい
る。本例では、各FPGAと各FPIAとは全て2本の
一定の数の結線が予め施されているので、こうして得ら
れたリストの上の行から順に、なるべく各列が最大値の
2となるように各行の和を取って、詰める。図6(b)
では、第1行と第2行との和を取ると、第2行第2列の
項のみ、空欄となるのでこれにさらに第5行を和する
と、全ての欄が満たされて最大の効率となる。こうして
得られたのが図7(a)に示すFPIA信号リストであ
る。
した後に、これを図6(b)の信号名リストに示すよう
に、分岐の多い順に信号の行を並べ替える。ここでは、
信号Cが3個のブロックつまりFPGAに接続されてお
り分岐数が最も多いので、第1行目に入れ替えられてい
る。本例では、各FPGAと各FPIAとは全て2本の
一定の数の結線が予め施されているので、こうして得ら
れたリストの上の行から順に、なるべく各列が最大値の
2となるように各行の和を取って、詰める。図6(b)
では、第1行と第2行との和を取ると、第2行第2列の
項のみ、空欄となるのでこれにさらに第5行を和する
と、全ての欄が満たされて最大の効率となる。こうして
得られたのが図7(a)に示すFPIA信号リストであ
る。
【0016】図7(a)の各FPIAごとの各2行が、
FPIAの2本の予め施されている接続用結線に対応す
る。この結果を回路図として表したものが図4の回路図
である。ここで、FPIA401の持つ各端子には、各
FPGAに対して2本の接続を持つために、FPGA3
10との間に端子x10,x11、FPGA320との間に
端子y10,y11、FPGA320との間には端子z10,
z11が用意されている。FPIA402も同様に、FP
GA310との間に端子x20,x21、FPGA320と
の間に端子y20,y21、FPGA320との間には端子
z20,z21が用意されている。この端子とFPIA信号
リストとの関係を示したものが図7(c)である。こう
してマッピングを終えた後に、制御装置1は、この結果
を記憶部2に格納し、次のステップS21において、各
FPGA、各FPIAおよび配線等に対して記憶部2に
格納されている診断プログラムを流すことによって、そ
れぞれが正常であるか否かを診断する。この結果、ステ
ップS22において、全てが正常であればステップS2
4において、実際に各FPGAおよび各FPIAに対し
て書き込みを行い、全ての処理を終了する。
FPIAの2本の予め施されている接続用結線に対応す
る。この結果を回路図として表したものが図4の回路図
である。ここで、FPIA401の持つ各端子には、各
FPGAに対して2本の接続を持つために、FPGA3
10との間に端子x10,x11、FPGA320との間に
端子y10,y11、FPGA320との間には端子z10,
z11が用意されている。FPIA402も同様に、FP
GA310との間に端子x20,x21、FPGA320と
の間に端子y20,y21、FPGA320との間には端子
z20,z21が用意されている。この端子とFPIA信号
リストとの関係を示したものが図7(c)である。こう
してマッピングを終えた後に、制御装置1は、この結果
を記憶部2に格納し、次のステップS21において、各
FPGA、各FPIAおよび配線等に対して記憶部2に
格納されている診断プログラムを流すことによって、そ
れぞれが正常であるか否かを診断する。この結果、ステ
ップS22において、全てが正常であればステップS2
4において、実際に各FPGAおよび各FPIAに対し
て書き込みを行い、全ての処理を終了する。
【0017】しかし、ステップS22において、故障個
所が検出された場合にはステップS23において、上記
のステップS20とは異なる再マッピングを施す。ここ
では、図4のFPIA402の端子y20,z20で故障が
検出されたと仮定する。すると図7(a)のDがある第
1行の2つの欄(×)が使用不可能となるので、図7
(b)のFPIA信号リストに示すように今まで空欄だ
ったFPIA402の第2行目のそれぞれの直下にDを
記入する。つまりFPIA402とFPGA320およ
びFPGA330との間の2本の結線の内、1本づつに
故障が検出されたために、残りの1本づつの端子y21,
z21をそれぞれ使用するものである。
所が検出された場合にはステップS23において、上記
のステップS20とは異なる再マッピングを施す。ここ
では、図4のFPIA402の端子y20,z20で故障が
検出されたと仮定する。すると図7(a)のDがある第
1行の2つの欄(×)が使用不可能となるので、図7
(b)のFPIA信号リストに示すように今まで空欄だ
ったFPIA402の第2行目のそれぞれの直下にDを
記入する。つまりFPIA402とFPGA320およ
びFPGA330との間の2本の結線の内、1本づつに
故障が検出されたために、残りの1本づつの端子y21,
z21をそれぞれ使用するものである。
【0018】この再マッピングの結果、図5に示すよう
に、FPIA402の端子y21,z 21があらたにFPG
A320,330との結線に使用される。こうして再マ
ッピングを終えた後に、ステップS24においてこの結
果に基づいて各FPGAおよび各FPIAに対して書き
込み処理を行い、全ての処理を終了する。
に、FPIA402の端子y21,z 21があらたにFPG
A320,330との結線に使用される。こうして再マ
ッピングを終えた後に、ステップS24においてこの結
果に基づいて各FPGAおよび各FPIAに対して書き
込み処理を行い、全ての処理を終了する。
【0019】また、上述した実施形態においては、FP
GAと独立にFPIAの素子を用いたが、本発明の実施
には、このFPIAに代えて、統一的にFPGAを用い
ることも可能である。つまり、基板上にFPGAを予め
多数用意しておき、論理回路の実現にも結線にもどちら
にもFPGAを使用するものである。
GAと独立にFPIAの素子を用いたが、本発明の実施
には、このFPIAに代えて、統一的にFPGAを用い
ることも可能である。つまり、基板上にFPGAを予め
多数用意しておき、論理回路の実現にも結線にもどちら
にもFPGAを使用するものである。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によるエ
ミュレーション装置によれば、下記の効果を得ることが
できる。エミュレーション実行前に走らせる診断プログ
ラムの結果に基づいて、エミュレータの基板上の書き換
え可能な論理回路素子および結線素子の内容を書き換え
ることにより、基板上の素子数や素子間の配線を変更せ
ずに、論理回路素子および結線素子を制御する制御装置
からオンラインで、短時間で回路変更や不良個所の修正
に対応できる。
ミュレーション装置によれば、下記の効果を得ることが
できる。エミュレーション実行前に走らせる診断プログ
ラムの結果に基づいて、エミュレータの基板上の書き換
え可能な論理回路素子および結線素子の内容を書き換え
ることにより、基板上の素子数や素子間の配線を変更せ
ずに、論理回路素子および結線素子を制御する制御装置
からオンラインで、短時間で回路変更や不良個所の修正
に対応できる。
【図1】 本発明による一実施形態によるエミュレーシ
ョン装置のブロック図である。
ョン装置のブロック図である。
【図2】 本発明による一実施形態によるエミュレーシ
ョン装置に対する書き込み処理を示すフローチャートで
ある。
ョン装置に対する書き込み処理を示すフローチャートで
ある。
【図3】 論理回路図である。
【図4】 図3の論理回路のマッピング後の回路図であ
る。
る。
【図5】 図3の論理回路の再マッピング後の回路図で
ある。
ある。
【図6】 本発明による一実施形態における信号名リス
トである。
トである。
【図7】 本発明による一実施形態におけるFPIA信
号リストである。
号リストである。
1…制御装置 2…記憶部 3、10…制御線 4、11…データ線 51,52,…,5m…FPGA 61,62,…,6n…FPIA 7…表示部 8…入力部 9…エミュレータ 31…排他的論理和(EOR)回路 32…論理和(OR)回路 33…論理積(AND)回路 301,302,303…ブロック 310,320,330…FPGA 401,402…FPIA
Claims (4)
- 【請求項1】 内部の論理回路情報が書き換え可能な複
数の論理回路素子と、内部の結線情報が書き換え可能な
複数の結線素子と、上記論理回路情報と上記結線情報と
が記憶されている記憶部と、上記論理回路情報と上記結
線情報の作成ならびに上記論理回路素子と上記結線素子
と上記記憶部の書き込みおよび読み出しを行う制御回路
とからなるエミュレーション装置において、 上記論理回路素子の各々は上記結線素子の各々との間
で、複数の固定的な結線を予め持っているエミュレーシ
ョン装置。 - 【請求項2】 上記制御回路は、上記書き込みを行う前
に診断プログラムによって上記論理回路素子および上記
結線素子の各々が正しく機能するかを診断し、正しくな
い場合には新しい論理回路情報および新しい結線情報を
作成して上記の書き込みを行うことを特徴とする請求項
1に記載のエミュレーション装置。 - 【請求項3】 上記の一定の数の固定的な結線は、2本
の固定的な結線であることを特徴とする請求項1または
2に記載のエミュレーション装置。 - 【請求項4】 上記結線素子に代えて、書き換え可能な
論理回路素子を用いることを特徴とする請求項1ないし
3のいずれかに記載のエミュレーション装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10058683A JPH11259328A (ja) | 1998-03-10 | 1998-03-10 | エミュレーション装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10058683A JPH11259328A (ja) | 1998-03-10 | 1998-03-10 | エミュレーション装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11259328A true JPH11259328A (ja) | 1999-09-24 |
Family
ID=13091367
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10058683A Pending JPH11259328A (ja) | 1998-03-10 | 1998-03-10 | エミュレーション装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11259328A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008164361A (ja) * | 2006-12-27 | 2008-07-17 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体デバイスのマッピング装置 |
| US8683404B2 (en) | 2008-08-05 | 2014-03-25 | Nec Corporation | Semiconductor verification apparatus, method, and program |
-
1998
- 1998-03-10 JP JP10058683A patent/JPH11259328A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008164361A (ja) * | 2006-12-27 | 2008-07-17 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体デバイスのマッピング装置 |
| US8683404B2 (en) | 2008-08-05 | 2014-03-25 | Nec Corporation | Semiconductor verification apparatus, method, and program |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050104 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070626 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20071204 |