JPH11261302A - 接続電極構造およびそれを用いた電子装置 - Google Patents

接続電極構造およびそれを用いた電子装置

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JPH11261302A
JPH11261302A JP10063281A JP6328198A JPH11261302A JP H11261302 A JPH11261302 A JP H11261302A JP 10063281 A JP10063281 A JP 10063281A JP 6328198 A JP6328198 A JP 6328198A JP H11261302 A JPH11261302 A JP H11261302A
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JP
Japan
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connection electrode
bonding pad
dielectric
electronic device
dielectric substrate
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Pending
Application number
JP10063281A
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English (en)
Inventor
Tsutomu Takai
努 高井
Kazuya Sayanagi
和也 佐柳
Takuya Hashimoto
拓也 橋本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 接続電極と接地電極間の浮遊容量を小さくす
ることのできる接続電極構造を提供する。 【解決手段】 高誘電率の誘電体基板2上に接続電極で
あるボンディングパッド5を形成し、誘電体基板2のボ
ンディングパッド5およびその周辺の下部に低誘電率の
柱状の誘電体15を設ける。 【効果】 ボンディングパッド5と接地電極3との間に
形成される浮遊容量である静電容量C2を小さくするこ
とができるため、使用周波数が高くなっても静電容量C
2のインピーダンスはあまり小さくならず、ボンディン
グパッド5の電気的な特性の劣化を防ぐことができ、さ
らにはボンディングパッド5を形成した回路全体の電気
的な特性の劣化を防ぐことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は接続電極構造および
それを用いた電子装置、特に移動体通信機器のRF段な
どの高周波帯で用いられる部品の接続電極構造およびそ
れを用いた電子装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年の移動体通信機器の発達にともなっ
て、使用される周波数の高周波化が進み、それにともな
って高周波に特有の問題点が出てくるようになってきて
いる。
【0003】図5に、従来の接続電極としてボンディン
グパッドを有する2つの電子装置を電気的に接続してい
る状態を示す。図5において、電子装置1は高誘電率の
誘電体基板2の一方主面のほぼ全面に接地電極3を形成
し、誘電体基板2の他方主面に回路(図示せず)を形成
して構成されている。誘電体基板2の他方主面の端部に
は接続電極であるボンディングパッド5が形成され、接
続配線4を介して回路と接続されている。また、電子装
置7は誘電体基板8の一方主面のほぼ全面に接地電極9
を形成し、誘電体基板8の他方主面に回路(図示せず)
を形成して構成されている。誘電体基板8の他方主面の
端部にはボンディングパッド11が形成され、接続配線
10を介して回路と接続されている。そして、電子装置
1のボンディングパッド5と電子装置7のボンディング
パッド11はワイヤー13を介して接続されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ここで、図6に、図5
の電子装置1のA−A断面図を示す。これより分かるよ
うに、誘電体基板2のボンディングパッド5の下には接
地電極3が大きく形成されている。しかも両者の間には
高誘電率の誘電体基板2が存在する。そのため、ボンデ
ィングパッド5と接地電極3との間には浮遊容量として
比較的大きな静電容量C1が形成される。
【0005】ボンディングパッド5と接地電極3との間
に形成される静電容量C1は、電子装置1を低い周波数
で使用する場合には、そのインピーダンスが高くなるた
めに電気的な影響はほとんど無い。しかしながら、電子
装置1の使用周波数が高くなるにつれてボンディングパ
ッド5と接地電極3との間に形成される静電容量C1の
インピーダンスは小さくなるため、ボンディングパッド
5から接地電極3の方に信号が流れるようになり、電子
装置1およびそれを使用した回路全体の電気的な特性に
悪影響を与えるようになるという問題がある。
【0006】本発明は上記の問題点を解決することを目
的とするもので、接続電極と接地電極との間の浮遊容量
を小さくすることのできる接続電極構造およびそれを用
いた電子装置を提供する。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の接続電極構造は、高誘電率の誘電体基板上
に接続電極を形成するとともに、前記誘電体基板の前記
接続電極の下部およびその周辺の下部の少なくともいず
れか一方に低誘電率の誘電体を設けたことを特徴とす
る。
【0008】また、本発明の接続電極構造は、前記接続
電極をボンディングパッドとしたことを特徴とする。
【0009】また、本発明の電子装置は、上記の接続電
極構造を用いたことを特徴とする。
【0010】このように構成することにより、本発明の
接続電極構造においては、接続電極と接地電極間の浮遊
容量を小さくすることができる。
【0011】また、本発明の電子装置においては、接続
電極と接地電極との間の浮遊容量による高周波特性の劣
化を防止することができる。
【0012】
【発明の実施の形態】図1に、本発明の接続電極構造の
一実施例の斜視図を示す。また、図2に、図1のB−B
断面図を示す。図1および図2において、図5および図
6と同一もしくは同等の部分には同じ記号を付し、その
説明は省略する。
【0013】図1および図2において、誘電体基板2の
接続電極であるボンディングパッド5およびその周辺の
下部には角穴が誘電体基板2を貫通して形成され、角穴
内には角穴を埋めるように四角柱状の低誘電率の誘電体
15が設けられている。低誘電率の誘電体15の高さは
誘電体基板2の厚みと同じに形成されている。そのた
め、ボンディングパッド5、接続電極4の一部および接
地電極3の一部は低誘電率の誘電体15の表面上に直接
形成されている。
【0014】このように構成された接続電極構造の製造
方法の例を以下に述べる。まず、高誘電率の誘電体基板
のボンディングパッドを形成する位置に金型などであら
かじめ角穴を形成しておく。次に、この角穴にたとえば
低誘電率の誘電体である樹脂を充填して硬化させる。こ
れはあらかじめ誘電体基板の角穴に合わせて形成された
四角柱状の低誘電率の誘電体を圧入するような方法でも
構わない。その上で、高誘電率の誘電体基板および低誘
電率の誘電体の上に接地電極やボンディングパッド、接
続電極などを形成する。
【0015】このように、誘電体基板2のボンディング
パッド5およびその周辺の下部に低誘電率の誘電体15
を設けることにより、ボンディングパッド5と接地電極
3との間に形成される浮遊容量としての静電容量C2
を、従来例における静電容量C1に比べて小さくするこ
とができる。その結果、使用周波数が高くなっても静電
容量C2のインピーダンスはあまり小さくならず、ボン
ディングパッドすなわち接続電極の電気的な特性の劣化
を防ぐことができる。
【0016】図3に、本発明の接続電極構造の別の実施
例の断面図を示す。図3で、図2と同一もしくは同等の
部分には同じ記号を付し、その説明は省略する。
【0017】図3において、誘電体基板2のボンディン
グパッド5およびその周辺の下部には誘電体基板2を貫
通しない角穴が形成され、角穴内には角穴を埋めるよう
に、四角柱状で、高さが誘電体基板2の厚みより小さい
低誘電率の誘電体16が設けられている。そのため、ボ
ンディングパッド5、接続電極4の一部は誘電体16の
表面上に直接形成されている。
【0018】なお、このように構成された接続電極構造
も、基本的に図1の接続電極構造と同様の方法で作るこ
とができる。
【0019】このように、低誘電率の誘電体16が誘電
体基板2を貫通せず、誘電体基板2の一部にのみ形成さ
れていても、ボンディングパッド5と接地電極3との間
に形成される浮遊容量としての静電容量C3を、従来例
における静電容量C1に比べて小さくすることができ
る。その結果、使用周波数が高くなっても静電容量C3
のインピーダンスはあまり小さくならず、ボンディング
パッド、すなわち接続電極の電気的な特性の劣化を防ぐ
ことができる。
【0020】なお、図1ないし図3の実施例においては
低誘電率の誘電体を四角柱状としたが、これは四角柱に
限るものではなく円柱や三角柱など別の形状であっても
構わない。また、低誘電率の誘電体をボンディングパッ
ドおよびその周辺の下部の全面に設けているが、これも
必ずしも全面に設ける必要はなく、ボンディングパッド
およびその周辺の下部の一部に設けたものであっても構
わないものである。
【0021】また、接続電極はボンディングパッドに限
るものではなく、半田付けランドなどの別の接続電極で
あっても同様の作用効果を生じるものである。
【0022】図4に、本発明の電子装置の一実施例を示
す。図4において、電子装置20は高誘電率の誘電体基
板21と、誘電体基板21の一方主面のほぼ全面に形成
された接地電極22、誘電体基板21の他方主面に互い
に平行に並べて形成した2本のマイクロストリップ線路
23および24、マイクロストリップ線路23の両端に
接続して形成された接続電極であるボンディングパッド
25および26、マイクロストリップ線路24の両端に
接続して形成されたボンディングパッド27および2
8、誘電体基板21のボンディングパッド25、26、
27、28の下部およびその周辺の下部に設けられた低
誘電率の誘電体25x、26x、27x、28xから構
成されている。ここで、低誘電率の誘電体25x、26
x、27x、28xは図1の誘電体15と同様に誘電体
基板21を貫通して形成されている。
【0023】このように構成された電子装置20におい
て、マイクロストリップ線路23と24の長さは目的の
周波数における波長の約1/4に形成されており、互い
に結合することによって方向性結合器として機能する。
そして、誘電体基板21のボンディングパッド25、2
6、27、28の下に低誘電率の誘電体25x、26
x、27x、28xをそれぞれ設けることによってボン
ディングパッドと接地電極との間に形成される浮遊容量
が小さくなり、各ボンディングパッド25、26、2
7、28と接地電極22との間の浮遊容量による電子装
置20、すなわち方向性結合器の高周波特性の劣化を防
止することができる。
【0024】なお、図4に示した方向性結合器は1つの
例であって、本発明の電子装置は、高誘電率の誘電体基
板の接続電極の下部およびその周辺の下部の少なくとも
いずれか一方に低誘電率の誘電体を設けたものであれば
方向性結合器に限るものではない。
【0025】
【発明の効果】本発明の接続電極構造によれば、誘電体
基板の接続電極の下部およびその周辺の下部の少なくと
も一方に低誘電率の誘電体を設けることにより、接続電
極と接地電極との間に形成される浮遊容量を小さくする
ことができ、接続電極の電気的な特性の劣化を防ぐこと
ができる。これによって、このような接続電極構造を用
いて構成された電子装置においても、高周波における回
路全体の電気的な特性の劣化を防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のボンディングパッドの構造の一実施例
を示す一部透過斜視図である。
【図2】図1のボンディングパッドの構造のB−B断面
図である。
【図3】本発明のボンディングパッドの構造の別の実施
例を示す断面図である。
【図4】本発明の電子装置の一実施例を示す斜視図であ
る。
【図5】従来のボンディングパッドの構造を示す斜視図
である。
【図6】図5のボンディングパッドの構造のA−A断面
図である。
【符号の説明】
2…誘電体基板 3…接地電極 4…接続電極 5…ボンディングパッド 15、16…低誘電率の誘電体 20…電子装置

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 高誘電率の誘電体基板上に接続電極を形
    成するとともに、前記誘電体基板の前記接続電極の下部
    およびその周辺の下部の少なくともいずれか一方に低誘
    電率の誘電体を設けたことを特徴とする接続電極構造。
  2. 【請求項2】 前記接続電極をボンディングパッドとし
    たことを特徴とする、請求項1に記載の接続電極構造。
  3. 【請求項3】 請求項1または2に記載の接続電極構造
    を用いたことを特徴とする電子装置。
JP10063281A 1998-03-13 1998-03-13 接続電極構造およびそれを用いた電子装置 Pending JPH11261302A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113851466A (zh) * 2021-11-29 2021-12-28 北京智芯微电子科技有限公司 隔离电容及隔离电容的制备方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN113851466A (zh) * 2021-11-29 2021-12-28 北京智芯微电子科技有限公司 隔离电容及隔离电容的制备方法

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