JPH11264767A - 光応用電流変成器 - Google Patents

光応用電流変成器

Info

Publication number
JPH11264767A
JPH11264767A JP10068116A JP6811698A JPH11264767A JP H11264767 A JPH11264767 A JP H11264767A JP 10068116 A JP10068116 A JP 10068116A JP 6811698 A JP6811698 A JP 6811698A JP H11264767 A JPH11264767 A JP H11264767A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
light source
optical
unit
faraday rotator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10068116A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3410015B2 (ja
Inventor
Isamu Sone
曽根  勇
Toshiji Shirokura
利治 白倉
Tadashi Kiuchi
正 木内
Hiroshi Hayashida
弘 林田
Yoshiaki Nakagama
義昭 中釜
Toshihisa Hakari
俊久 秤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kansai Electric Power Co Inc
Hitachi Ltd
Original Assignee
Kansai Electric Power Co Inc
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kansai Electric Power Co Inc, Hitachi Ltd filed Critical Kansai Electric Power Co Inc
Priority to JP06811698A priority Critical patent/JP3410015B2/ja
Publication of JPH11264767A publication Critical patent/JPH11264767A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3410015B2 publication Critical patent/JP3410015B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Transformers For Measuring Instruments (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】光源の発光量変動を補償した、高精度の測定方
法を提供する。 【解決手段】ファラデー回転子6に、お互いに直交する
2つの光を入射して、両者の和差演算を行う全体構成
で、光分岐での光の漏れを測定することで光源発光量を
モニターして参照光とし、ファラデー回転子を通過する
信号光との除算演算を実施する。 【効果】光源の発光量が変動しても、光分岐器でモニタ
ーした参照光とファラデー回転子を通過した信号光との
比率は一定であるから、両者の除算演算によって発光量
変動を補償できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はファラデー効果を応
用した光応用電流変成器(以下、略して光CTともい
う)に係わり、特に、磁気光学センサ部での温度変化と
光源での発光量変動とを補償した測定精度の高い光応用
電流変成器に関する。
【0002】
【従来の技術】ファラデー効果を応用した光CTでは、
温度変化などの環境条件が変化しても、測定精度が長期
的に安定していることが不可欠である。特開平8−22693
6 号公報に記載のものでは、ファラデー効果の非相反特
性に着目して、互いに逆方向からファラデー回転子へ光
を入射する構造で、ファラデー回転子の温度依存性、光
伝送系の光量変動を補正する方法を提案している。直線
偏光面が互いに直交している2つの光を準備して、この
2つの光が磁気光学センサ部を互いに逆方向に進行する
ように光CTを構成すると、例えば磁気光学センサ部が
温度変化を受けて、ファラデー効果による光量変化と温
度変化による光量変化が混在する場合にも、ファラデー
効果の非相反特性によって温度変化による光量変化が相
殺されるので、ファラデー効果による光量変化のみを検
知することを可能としているものであった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、特開平8−226
936 号公報に記載の従来方法では、温度変化・経時変化
などによって光源の発光量が変化すると、光CT出力の
ゼロ点がドリフトして、その結果、直流電流測定用光C
Tとしては測定精度が低下する欠点があった。
【0004】本発明の目的は、磁気光学センサ部での温
度変化と光源での発光量変動とを補償した測定精度の高
い光応用電流変成器を提供する。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の光応用電流変成器は、2対1光分岐器にお
ける光の漏れを用いて光源の発光量をモニターして参照
光とし、ファラデー回転子を通過してファラデー回転を
受けた光を信号光とした。また、光電変換部に入射した
光を電気信号に変換した後、バンドパスフィルタで各光
源の参照光と信号光を抽出する構成とした。各光源に対
して、参照光と信号光の除算を含む演算処理を実施して
光源の発光量の変動に依存しない光CTとした。
【0006】
【発明の実施の形態】本発明の一実施例を図1から図3
により説明する。図1は、本発明の一実施例である光応
用電流変成器の全体構成を示すブロック図、図2は、本
実施例の信号処理回路の演算処理を示すブロック図、図
3は、本実施例である周回積分型センサの構造を示す斜
視図である。
【0007】被測定電流の通電導体1の近傍に設置した
ファラデー回転子6の両端には、通過偏光方向が互いに
異なる2つの偏光子4と5が配置されている。偏光子
4,5とファラデー回転子6で磁気光学センサ部を構成
する。一般には、光が入射する側の偏光子を“偏光
子”、光が出射する側の偏光子を“検光子”と呼ぶが、
本実施例では、2つの光が互いに逆方向に進行するの
で、混乱を避けるために、以下、偏光子4,偏光子5と
呼称している。
【0008】光源7は電源11で駆動されて発光する。
光源7から発光した光を以下J1とする。光J1は光分
岐器9に入射して、収束レンズ3を経由して偏光子4か
ら磁気光学センサ部に入射して、偏光子5から出射す
る。偏光子5から出射した光J1は、収束レンズ3aを
経由して光分岐器9aに入射し、さらに光電変換部8と
光源7aに入射する。図1で、符号2,2aは光ファイ
バを示す。光電変換部8に入射した光J1は磁気光学セ
ンサ部を偏光子4から偏光子5の方向に通過する間にフ
ァラデー効果による光量変化を受けている。
【0009】光源7aは電源11aで駆動されて発光す
る。光源7aから発光する光を以下J2とする。光J2
は光分岐器9aに入射して収束レンズ3aを経由し、偏
光子5から磁気光学センサ部に入射した後、偏光子4か
ら出射する。偏光子4から出射した光J2は収束レンズ
3を経由して、光分岐器9に入射して、光電変換部8a
と光源7に入射する。光電変換部8aに入射した光J2
は磁気光学センサ部を偏光子5から偏光子4の方向に通
過する間にファラデー効果による光量変化を受けてい
る。
【0010】ファラデー効果の非相反特性とは、光の進
行方向を逆方向にしてもファラデー回転の方向が変わら
ないことである。通過偏光面が45度回転するように偏
光子4と偏光子5を配置して磁気光学センサを構成する
と、ファラデー回転子の内部では、光J1と光J2は直
交する直線偏光になる。この結果、ファラデー効果によ
る光量変化率は、光J1と光J2では同量で正負が逆に
なる。
【0011】一方、磁気光学センサ部および光伝送部を
2つの光J1とJ2が同一経路で逆方向に進行するの
で、温度変化,振動などの外部要因で光量変化するとき
の光量変化率は、光J1と光J2では、同量で正負が同
じになる。この結果、光J1と光J2の差動演算を実施
すれば、温度変化・振動などの外部要因による光量変化
を補償してファラデー効果による光量変化のみを検出す
ることが可能になる。
【0012】しかし、光源の発光量が変動した場合に
は、従来の方式では、光CT出力のゼロ点が変動して測
定誤差が発生する。このため、本実施例では、2対1光
分岐器における光源からの光の漏れを用いて光源発光量
をモニターして、光源発光量の変動を補償する方式を追
加している。
【0013】本実施例では、波長特性がほぼ同じ光源
7,7aとして、中心波長λp,半値幅Δλに着目し
て、中心波長が±0.01μm 、半値幅が±10nmの
範囲で同じ波形特性の発光ダイオードを選択して光源7
および光源7aとした。また、直流に18kHz(以
下、周波数f1)の交流正弦波が重畳した電流で光源7
を駆動して、周波数f1で強度変調した光J1とし、直
流に30kHz(以下、周波数f2)の交流正弦波が重
畳した電流で光源7aを駆動して、周波数f2で強度変
調した光J2とした。
【0014】また、本実施例では、ファラデー回転子6
として、図3に示す周回積分型センサを用い、センサ材
質は鉛ガラスSF03,定格電流1000Aの光CTと
して評価した。
【0015】光源7からの光J1は、ファラデー回転子
6を通過して光電変換部8に入射するとともに、光分岐
器9における光の漏れによって、光電変換部8aへも入
射する。同様に、光源7aからの光J2は、ファラデー
回転子6を通過して光電変換部8aに入射するととも
に、光分岐器9aにおける光の漏れによって、光電変換
部8へも入射する。この結果、各光電変換部では2つの
光が混在するが、変調周波数が異なることを利用して分
離することができる。
【0016】図2に示すように、光電変換部8の出力
を、バンドパスフィルタ12(中心周波数f1)とバン
ドパスフィルタ13(中心周波数f2)に入力して、そ
れぞれを16,17でAC/DC変換する。同様に、光
電変換部8aの出力を、バンドパスフィルタ14(中心
周波数f1)とバンドパスフィルタ15(中心周波数f
2)に入力して、それぞれを18,19でAC/DC変
換する。
【0017】例えば、光源7の発光量が変化すると、交
直変換素子16と18は同じ比率で変化する。従って、
両者を入力した除算器20の出力は、光源7の発光量変
動には依存しない一定値V1になる。同様に、除算器2
1の出力は、光源7aの発光量変動には依存しない一定
V2になる。
【0018】その後、加算器22でV1+V2を求め、
引算器23でV1−V2を求め、両者の出力を(V1−
V2)/(V1+V2)となるように除算器24に入力
する。
【0019】本実施例の測定結果の一例を表1に示す。
【0020】
【表1】
【0021】光源として、LED(発光ダイオード)と
SLD(スーパー・ルミネッセンス・ダイオード)の2
種類を用いた。センサ部温度を20±2℃で一定に保持
し、処理回路部の温度を0℃〜50℃で変化させて光C
T出力のゼロ点ドリフトを測定して、誤差を求めた。定
電流駆動LEDの場合には、従来方式では誤差100%
を超過したが、本実施例では誤差±5%程度であった。
一方、SLDチップをサーミスタなどとモジュール化し
た発光素子をAPC駆動およびATC駆動した場合に
は、従来方式で±10%程度であった。これは、SLD
の駆動方式として、発光量一定かつ温度一定になるよう
にしている効果である。本実施例では、±3%程度まで
に更に測定誤差が低下した。
【0022】このように、ファラデー回転子を互いに逆
方向に進行する2つの光には、波長特性がほぼ同じであ
る2つの光源を選択して、この2つの光を互いに異なる
周波数で強度変調して発光させる。磁気光学センサ部を
互いに逆方向に進行した2つの光は、光源の反対側にあ
る光電変換部に入射する。一方、光源から出た光は2対
1光分岐器での光の漏れによって、光源に隣接した光電
変換部にも入射する。したがって、各光電変換部には、
2つの光源からの光が入射することになる。各光電変換
部で電気信号に変換したあと、前記の強度変調周波数成
分をバンドパスフィルタで選択的に抽出して演算処理す
る。演算処理では、各光源に対して、まず参照光と信号
光の除算を行う。除算演算した結果は、光源の発光量変
動に依存しない測定量になる。2つの光源に対して上記
の除算を実施して、次に、この除算結果を用いて従来方
式と同様に和差演算して、被測定電流に比例した出力を
求めることができる。特に、ファラデー回転子として、
周回積分型ファラデーセンサを用いた磁気光学センサ部
を用いることで高精度の電流測定が可能になる。
【0023】
【発明の効果】本発明によれば、光源の発光量変動があ
っても光CTゼロ点のドリフトが発生しないので、測定
誤差が低下しない。かつ、同一波長特性の2つの光で磁
気光学センサ部を逆方向に進行させるので、磁気光学セ
ンサ部の波長特性の影響を受けることがない。また、2
つの光を互いに異なる周波数で強度変調して、光電変換
後の電気信号をバンドパスフィルタで2つの光を分離す
るので、光学系のハーフミラー,光分岐器などで生じる
光の漏れの影響を受けない。また、ファラデー効果によ
る光量変化を差動演算するので、被測定電流が直流,交
流のいずれの場合にも高精度で測定できる。特に、ファ
ラデー回転子が周回積分型センサを用いる場合には、セ
ンサ内部で楕円偏光になる位置の誤差も補償できるので
最も高精度の電流計測が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例である光応用電流変成器の全
体構成を示すブロック図である。
【図2】本実施例の信号処理回路の演算処理を示すブロ
ック図である。
【図3】本実施例である周回積分型センサの構造を示す
斜視図である。
【符号の説明】
1…通電導体、2,2a…光ファイバ、3,3a…収束
レンズ、4,5…偏光子、6…ファラデー回転子、7,
7a…光源、8,8a…光電変換部、9,9a…光分岐
器、10…信号処理回路、11,11a…駆動電源、1
2〜15…バンドパスフィルタ、16〜19…交/直変
換素子、20,21,24…除算器、22…加算器、2
3…引算器。
フロントページの続き (72)発明者 木内 正 茨城県日立市国分町一丁目1番1号 株式 会社日立製作所国分工場内 (72)発明者 林田 弘 大阪府大阪市北区中之島三丁目3番22号 関西電力株式会社内 (72)発明者 中釜 義昭 大阪府大阪市北区中之島三丁目3番22号 関西電力株式会社内 (72)発明者 秤 俊久 大阪府大阪市北区中之島三丁目3番22号 関西電力株式会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ファラデー効果を応用した光電流変成器に
    おいて、通過偏光方向が互いに異なる2つの偏光子の間
    にファラデー回転子を配置した磁気光学センサ部と、該
    磁気光学センサ部に互いに逆方向に光を入射する光伝送
    部と、入射光を発光する光源部と、前記磁気光学センサ
    部からの出射光を検知する光電変換部と、該光電変換部
    により光電変換された電気信号を演算処理する信号処理
    回路を備え、前記磁気光学センサ部を互いに逆方向に進
    行する光が互いに異なる周波数で強度変調されるもので
    あって、前記信号処理回路が、強度変調された周波数成
    分を選択的に抽出する回路部と、光分岐器における光源
    からの漏れ光とファラデー回転子を通過した光との除算
    部とを含むことを特徴とする光応用電流変成器。
  2. 【請求項2】前記ファラデー回転子に周回積分型ファラ
    デーセンサを用いた請求項1に記載の光応用電流変成
    器。
JP06811698A 1998-03-18 1998-03-18 光応用電流変成器 Expired - Lifetime JP3410015B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP06811698A JP3410015B2 (ja) 1998-03-18 1998-03-18 光応用電流変成器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP06811698A JP3410015B2 (ja) 1998-03-18 1998-03-18 光応用電流変成器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11264767A true JPH11264767A (ja) 1999-09-28
JP3410015B2 JP3410015B2 (ja) 2003-05-26

Family

ID=13364461

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP06811698A Expired - Lifetime JP3410015B2 (ja) 1998-03-18 1998-03-18 光応用電流変成器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3410015B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN120222635A (zh) * 2025-05-28 2025-06-27 登高电气有限公司 基于光学测量10kv户外互感器的自适应控制系统

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN120222635A (zh) * 2025-05-28 2025-06-27 登高电气有限公司 基于光学测量10kv户外互感器的自适应控制系统

Also Published As

Publication number Publication date
JP3410015B2 (ja) 2003-05-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4564754A (en) Method and apparatus for optically measuring a current
US5834933A (en) Method for magnetooptic current measurement and magnetooptic current-measuring device
JP4853474B2 (ja) 光センサおよび光電流・電圧センサ
JPH08226939A (ja) 光応用電流変成器
JPS6356924B2 (ja)
JP2744728B2 (ja) ガス濃度測定方法およびその測定装置
JPH11264767A (ja) 光応用電流変成器
JPH11264766A (ja) 光応用電流変成器
JPS5963513A (ja) 光フアイバ・ジヤイロスコ−プ
JPH07306095A (ja) 偏光変調光信号の偏光分析評価方法
JPS59669A (ja) 光フアイバ磁界センサ
JPS6235627B2 (ja)
JPH05264687A (ja) 光式磁界センサ
JPH07191060A (ja) 光電流センサ
JPH02143173A (ja) 光学式直流変成器
JPS585632A (ja) 試料の原子吸収分析装置
JPH0530217B2 (ja)
JPS63138208A (ja) 位相変調方式光フアイバジヤイロ
JPH0843448A (ja) 光方式電磁物理量測定装置のドリフト補償方法とこれを用いた光方式電磁物理量測定装置
JPS5957136A (ja) 光源のam・fm雑音の特性評価方法
JPH01276074A (ja) 光復調器
JP3011244B2 (ja) 光応用直流電流変成器
JP4213877B2 (ja) マッハツェンダ干渉計光センサ
JP2638312B2 (ja) 光センサ
JPS5963511A (ja) 光フアイバ・ジヤイロスコ−プ

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090320

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090320

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100320

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110320

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110320

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120320

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130320

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130320

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140320

Year of fee payment: 11

EXPY Cancellation because of completion of term