JPH11269228A - 単量体とその製造方法、共重合体樹脂とその製造方法、前記共重合体樹脂を含むフォトレジスト組成物とその製造方法、および半導体素子 - Google Patents
単量体とその製造方法、共重合体樹脂とその製造方法、前記共重合体樹脂を含むフォトレジスト組成物とその製造方法、および半導体素子Info
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- JPH11269228A JPH11269228A JP10367517A JP36751798A JPH11269228A JP H11269228 A JPH11269228 A JP H11269228A JP 10367517 A JP10367517 A JP 10367517A JP 36751798 A JP36751798 A JP 36751798A JP H11269228 A JPH11269228 A JP H11269228A
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Abstract
その製造方法、及びこの樹脂を含むフォトレジスト組成
物を提供する。 【解決手段】 下記一般式(1)で示される5−ヒドロ
キシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレート誘導体を含
む原料から得られることを特徴とする共重合体樹脂とそ
の製造方法、およびこの樹脂を含むフォトレジスト組成
物である。 【化1】 (前記式で、Rは2−t−ブトキシカルボニル基、2−
カルボキシル基、2−ヒドロピラニルオキシカルボニル
基、2−ヒドロフラニルカルボニル基、又は2−エトキ
シエチルオキシカルボニル基を示し、R1は水素又はメ
チル基を示す。)
Description
波長光源用共重合体樹脂とその製造方法及び該樹脂を利
用したフォトレジストに関する。特にフォトレジスト用
共重合体構造にノルボニル(メタ)アクリレート単量体
を導入するとにより、1G、4GDRAM等の次世代メモリ
素子への適用が予想されるKrF(248nm)或いはArF(193
nm)光源を利用するリソグラフィ(lithography)工程
に用いることができる共重合体樹脂と、その製造方法及
び該樹脂を含むフォトレジストに関する。さらにこのフ
ォトレジストを用いて形成されるパターンを有する半導
体素子に関する。加えて、前記ノルボニル(メタ)アク
リレート単量体とその製造方法に関する。
れる共重合体樹脂は193nm波長での低い光吸収度、エ
ッチング耐性、接着性等が求められており、さらに2.
38w%テトラメチルアンモニウムヒト゛ロキシト゛(TMAH)水溶液で現像が可能
でなければならないが、このような全ての特性を満足す
る共重合体樹脂を合成することは非常に難しい。現在ま
での多くの研究は、193nm波長で透明性を高めエッチ
ング耐性を増加させるための樹脂としてノボラック系列
の樹脂探索に集中されてきた。これによれば、(メタ)
アクリレート樹脂系統の高い透明性を有する特性を利用
し、耐エッチング性の不足を樹脂側鎖に脂環式化合物を
導入して解決を図る試みが主な研究方向となっている。
で示される共重合体樹脂を提案している。
基を示す。
(14)の共重合体樹脂では、側鎖に脂環式化合物を導
入することによって、感光膜自体の親油性(hydrophobi
city)増加が現像液に対する溶解度低下及び接着力の弱
化を招くことになることから、一定水準以下にしか共重
合体樹脂に含むことができない。これとは逆に、脂環式
化合物が一定水準以上含まれなければ望む耐エッチング
物性を満足できなくなる。即ち、耐エッチング性と接着
力を同時に満足させ得る構造を有する樹脂の合成が求め
られているのが実情である。
ニル、アダマンチル等のグループが耐エッチング性の面
で一番効果的であると知られている。しかし、前記式
(14)を始め従来の共重合体樹脂は樹脂組成中環状化
合物が占める分率が高くなるほど親油性の増加に伴う接
着力の弱化が最大の問題点になっている。
述した従来技術の問題点を解決するための数多い研究と
実験を重ねた結果、フォトレジスト用共重合体樹脂の種
類の中にノルボニル(メタ)アクリレート単量体を導入
することにより、通常のラジカル重合方法による重合が
容易であり、193nm波長で透明性が高くエッチング耐
性が増加するだけでなく、ノルボニルグループ内に親水
性基を導入して接着力の増加をもたらすことができ、さ
らに適切な保護基を導入して露光及び後加熱工程を経る
間、脱保護基作用を介し現像液に対する露光部と非露光
部の著しい溶解度の差を与え得るという驚くべき事実を
見出し、本発明を完成するに至った。
は、下記式(1)で示される5−ヒドロキシ−6−ノル
ボニル(メタ)アクリレート誘導体であることを特徴と
する単量体である。
カルボキシル基、2−ヒドロピラニルオキシカルボニル
基、2−ヒドロフラニルオキシカルボニル基、又は2−
エトキシエチルオキシカルボニル基を示し、R1は水素
又はメチル基を示す。)
上記請求項1に記載の5−ヒドロキシ−6−ノルボニル
(メタ)アクリレート誘導体を含む原料から得られるこ
とを特徴とする共重合体樹脂である。
項9に記載の共重合体樹脂と、有機溶媒と、光酸発生剤
を含むフォトレジスト組成物である。
明する。
単量体は、下記式(1)で示される5−ヒドロキシ−6
−ノルボニル(メタ)アクリレート誘導体である。
カルボキシル基、2−ヒドロピラニルオキシカルボニル
基、2−ヒドロフラニルオキシカルボニル基、又は2−
エトキシエチルオキシカルボニル基を示し、R1は水素
又はメチル基を示す。)
ブトキシカルボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル
(メタ)アクリレート、2−カルボキシル−5−ヒドロ
キシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレート、2−ヒド
ロピラニルオキシカルボニル−5−ヒドロキシ−6−ノ
ルボニル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシフラニ
ルオキシカルボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル
(メタ)アクリレート、及び2−エトキシエチルオキシ
カルボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)
アクリレートのいずれかが挙げられる。
造される。たとえば、2−t−ブトキシカルボニル−5
−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレート
は、シクロペンタジエンとt−ブチルアクリレートを反
応させ、2−t−ブトキシカルボニル−5−ノルボルネ
ンを合成し、次に、前記2−t−ブトキシカルボニル−
5−ノルボルネンをアセトンに入れて冷却させた後、こ
の溶液にKMnO4とアルカリ水溶液を入れて反応させ2−
t−ブトキシカルボニルノルボルナン−5、6−ジオー
ルを得て、前記2−t−ブトキシカルボニルノルボルナ
ン−5、6−ジオールとトリエチルアミンをテトラヒド
ロフランに溶解し、前記溶液に(メタ)アクリロイルク
ロライドを入れて反応させることによって、合成され
る。
ノルボニル(メタ)アクリレートは、シクロペンタジエ
ンとアクリル酸を反応させ、5−ノルボルネンカルボン
酸を合成し、前記5−ノルボルネンカルボン酸を溶媒に
溶解して反応させ、5−ノルボルネンカルボキシル−
5、6−ジオールを得て、前記5−ノルボルネンカルボ
キシル−5、6−ジオールとトリエチルアミンを溶媒に
溶解して反応させることによって合成される。
−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレート
は、シクロペンタジエンとヒドロピラニルアクリレート
を反応させ、2−ヒドロピラニルオキシカルボニル−5
−ノルボルネンを合成し、前記2−ヒドロピラニルオキ
シカルボニル−5−ノルボルネンを溶媒に溶解して反応
させ、2−ヒドロピラニルオキシカルボニルノルボルナ
ン−5、6−ジオールを得て、前記2−ヒドロピラニル
オキシカルボニルノルボルナン−5、6−ジオールとト
リエチルアミンを溶媒に溶解して反応させることによっ
て合成される。
−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレート
は、シクロペンタジエンとヒドロフラニルアクリレート
を反応させ、2−ヒドロフラニルオキシカルボニル−5
−ノルボルネンを合成し、前記2−ヒドロフラニルオキ
シカルボニル−5−ノルボルネンを溶媒に溶解して反応
させ、2−ヒドロフラニルオキシカルボニルノルボルナ
ン−5、6−ジーオルを得て、前記2−ヒドロフラニル
オキシカルボニルノルボルナン−5、6−ジオールとト
リエチルアミンを溶媒に溶解して反応させることによっ
て合成される。
−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレート
は、シクロペンタジエンとエトキシエチルアクリレート
を反応させ、2−エトキシエチルオキシカルボニル−5
−ノルボルネンを合成し、前記2−エトキシエチルオキ
シカルボニル−5−ノルボルネンを溶媒に溶解して反応
させ、2−エトキシエチルオキシカルボニルノルボルナ
ン−5、6−ジオールを得て、前記2−エトキシエチル
オキシカルボニルノルボルナン−5、6−ジオールとト
リエチルアミンを溶媒に溶解して反応させることによっ
て合成される。
(1)で示される5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メ
タ)アクリレート誘導体を含む原料から得られる。
カルボキシル基、2−ヒドロピラニルオキシカルボニル
基、2−ヒドロキシフラニルオキシカルボニル基、又は
2−エトキシエチルオキシカルボニル基を示し、R1は
水素又はメチル基を示す。
しては、下記式(2)〜(6)で示される共重合体樹脂
が挙げられる。
5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレート
/2−カルボキル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル
(メタ)アクリレート]共重合体樹脂(分子量:4、0
00〜100、000)。
り、x及びyはそれぞれ0.001〜0.99のモル分率
である。
5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレート
/2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリル酸(メタ)/
(メタ)アクリル酸]共重合体樹脂(分子量:4、00
0〜100、000)。
であり、x、y及びzはそれぞれ0.001〜0.99の
モル分率である。
カルボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)
アクリレート/2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレ
ート/(メタ)アクリル酸]共重合体樹脂(分子量:
4、000〜100、000)。
であり、x、y及びzはそれぞれ0.001〜0.99の
モル分率である。
ボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アク
リレート/2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート
/(メタ)アクリル酸]共重合体樹脂(分子量:4、0
00〜100、000)。
であり、x、y及びzはそれぞれ0.001〜0.99の
モル分率である。
ボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アク
リレート/2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート
/(メタ)アクリル酸]共重合体樹脂(分子量:4、0
00〜100、000)。
であり、x、y及びzはそれぞれ0.001〜0.99
のモル分率である。
2−t−ブトキシカルボニル−5−ヒドロキシ−6−ノ
ルボニル(メタ)アクリレート(7)及び2−カルボキ
シル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アクリ
レート(8)を通常の重合開始剤の存在下で反応させて
製造することができる。
す。
2−t−ブトキシカルボニル−5−ヒドロキシ−6−ノ
ルボニル(メタ)アクリレート(7)、2−ヒドロキシ
エチル(メタ)アクリレート(9)及び(メタ)アクリ
ル酸(10)を通常の重合開始剤の存在下で反応させて
製造することができる。
を示す。
2−ヒドロキシピラニルオキシカルボニル−5−ヒドロ
キシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレート(11)、
2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート(9)及び
(メタ)アクリル酸(10)を通常の重合開始剤の存在
下で反応させて製造することができる。
を示す。
2−ヒドロフラニルオキシカルボニル−5−ヒドロキシ
−6−ノルボニル(メタ)アクリレート(12)、2−
ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート(9)及び(メ
タ)アクリル酸(10)を通常の重合開始剤の存在下で
反応させて製造することができる。
を示す。
2−エトキシエチルオキシカルボニル−5−ヒドロキシ
−6−ノルボニル(メタ)アクリレート(13)、2−
ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート(9)及び(メ
タ)アクリル酸(10)を通常の重合開始剤の存在下で
反応させて製造することができる。
を示す。
又は溶液重合等の通常の重合方法に従い製造することが
できる。本発明の共重合体樹脂の製造方法で使用可能で
ある重合開始剤としては、ベンゾイルパーオキサイド、
2、2′−アゾビスイソブチロニトリル(AIBN)、アセ
チルパーオキサイド、ラウリルパーオキサイド、t−ブ
チルパーアセテート、ジ−t−ブチルパーオキサイド等
が挙げられる。さらに、重合時の溶媒としては、シクロ
ヘキサノン、メチルエチルケトン、ベンゼン、トルエ
ン、ジオキサン、ジメチルホルムアミド等の単独溶媒又
はこれ等の混合溶媒を用いることができる。
重合反応条件は、一般的なラジカル重合温度及び圧力を
反応物の特性に従い調節して用いることができ、60〜
200℃の温度、及び窒素又はアルゴン雰囲気下で4〜
24時間行うのが好ましい。
有するノルボニルグループを側鎖に導入した(メタ)ア
クリレート誘導体と、これ等の重合を介していろいろ多
様な保護基等で保護した誘導体等を利用した化学増幅形
レジストであり、加工工程上求められる高い遊離転移温
度を有し、遠紫外線部、特に193μmで光吸収が殆ど
なく保護基の脱離が容易である。これとともに、親水性
を有するよう合成されたノルボニル グループは接着性
を増加させる作用を有する。さらに、本発明により製造
された共重合体樹脂は、1G、4GDRAMへの適用が予想
されるリソグラフィ工程(lithography)に有用に用い
ることができる。
トレジスト組成物の製造方法に従い有機溶媒に一般的な
光酸発生剤とともに混合されて、フォトレジスト溶液を
製造することによりポジティブ微細画像形成に用いるこ
とができる。半導体素子の感光膜パターン形成工程にお
いて、本発明に係る共重合体樹脂の使用量は、有機溶
媒、光酸発生剤及びリソグラフィ条件等に伴い変化する
こともあるが、フォトレジスト調製時に用いる有機溶媒
に対し約10〜30重量%用いる。
体素子の感光膜パターンを形成する方法を具体的に説明
すれば次の通りである。
シクロヘキサノンに10〜30重量%溶解し、光酸発生
剤としてオニウム塩又は有機スルホン酸を共重合体樹脂
に対し0.1〜10重量%に配合し、次に、超微細フィ
ルタで濾過してフォトレジスト溶液を製造する。ここで
使用可能な光酸発生剤としては、トリフェニルスルホニ
ウム トリフレート、ジブチルナフチルスルホニウム ト
リフレート、2、6−ジメチルフェニルスルホネート、
ビス(アリルスルホニル)−ジアゾメタン、オキシムス
ルホネート、2、1−ジアゾナフトキノン−4−スルホ
ネート等を含む。また、フォトレジスト調製用の有機溶
媒としては、メチル−3−メトキシプロピオネートを用
いてもよい。
ェーハにスピン塗布して薄膜を製造し、80〜150℃
のオーブン又は熱板で1〜5分間、加熱処理し、遠紫外
線露光装置又はエキシマーレーザ露光装置を利用して露
光した後、100〜200℃の温度で1秒〜5分間、後
加熱処理する。このように露光・加熱処理を施したウェ
ーハを2.38w% TMAH水溶液に1〜1分30秒間浸
漬することによりポジティブ レジスト パターンを得る
ことができる。
するが、これら実施例で本発明の技術的範囲が限定され
るものと理解してはならない。
5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレート
の合成 シクロペンタジエンとt−ブチルアクリレートとのDiel
s−Alder反応を介し、2−t−ブトキシカルボニル−5
−ノルボルネンを合成した。このように合成された2−
t−ブトキシカルボニル−5−ノルボルネン25gを1
50mlのアセトンに入れよく混合した後−60℃に冷却
した。この溶液中にKMnO4 8.15gを少しずつ投入後
−60℃で1時間反応させた。その後、アルカリ水溶液
を徐々に投入してから温度を少しずつ上げ常温で15時
間反応させた。反応物中のMnO2を濾過した後、アセトン
で数回洗浄してから減圧真空蒸留器を利用して溶液を濃
縮した。前記反応溶液をジクロロメタンを利用して抽
出、減圧蒸留した後、カラムクロマトグラフィを利用し
て22.7g(yield 80%)の2−t−ブトキシカルボニ
ルノルボナン−5、6−ジオールを得た。500ml丸型
フラスコにテトラヒドロフラン100mlを投入後、先に
合成した2−t−ブトキシカルボニルノルボルナン−
5、6−ジオール10gとトリエチルアミン13.4g
を共に入れて溶解してから、(メタ)アクリロイルクロ
ライド4.6gを徐々に添加後−10℃で6時間反応さ
せた。反応物を濾過した後、減圧蒸留した溶液からカラ
ムクロマトグラフィを利用して9.4g(yield 72
%)の2−t−ブトキシカルボニル−5−ヒドロキシ−
6−ノルボニル(メタ)アクリレートを得た。
キシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレートの合成 シクロペンタジエンとアクリル酸とのDiels−Alder反応
を介し5−ノルボルネンカルボン酸を合成した。このよ
うに合成された5−ノルボルネンカルボン酸20gを1
50mLのアセトンに投入後よく撹拌してから−60℃に
冷却した。この溶液内にKMnO4 8.15gを少しずつ投
入後−60℃で1時間反応させた。その後、アルカリ水
溶液を徐々に投入してから、また温度を徐々に上げ常温
で1.5時間反応させた。反応物MnO2を濾過しアセトン
で数回洗浄してから減圧真空蒸留器を利用して溶液を濃
縮させた。反応溶液をジクロロメタンを利用して抽出、
減圧蒸留した後、カラムクロマトグラフィを利用して1
4.7g(yield73%)の5−ノルボルネンカルボキシル
−5、6−ジオールを得た。500ml丸型フラスコにテ
トラヒドロヒフラン100mlを投入後、先に合成した5
−ノルボルネンカルボキシル−5、6−ジオール8gと
トリエチルアミン11.4gを共に入れて溶解後、(メ
タ)アクリロイルクロライド3.5gを徐々に添加し−
10℃で6時間反応させた。反応物を濾過してから減圧
蒸留した溶液でカラムクロマトグラフィを利用して8.
3g(yield 70%)の2−カルボキシル−5−ヒドロ
キシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレートを合成し
た。
ボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アク
リレートの合成 シクロペンタジエンとヒドロピラニルアクリレートとの
Diels−Alder反応を介し、2−ヒドロピラニルオキシカ
ルボニル−5−ノルボルネンを合成し、このように合成
された2−ヒドロピラニルオキシカルボニル−5−ノル
ボルネン22gを150mLのアセトンに入れ良く混合し
た後、−60℃に冷却した。この溶液内にKMnO4 7.5
gを少しずつ投入し、−60℃で1時間反応させた。そ
の後、アルカリ水溶液を徐々に投入してから温度を徐々
に上げて常温で1.5時間反応させた。反応物中のMnO2
を濾過した後、アセトンで数回洗浄し減圧真空蒸留器を
利用して溶液を濃縮させた。反応溶液をジクロロメタン
を利用して抽出、減圧蒸留後、カラムクロマトグラフィ
を利用して20.6g(yield77%)の2−ヒドロピラ
ニルオキシカルボニル ノルボルナン−5、6−ジオール
を得た。500ml丸型フラスコにテトラヒドロフラン1
00mlを投入後、先に合成した2−ヒドロピラニルオキ
シカルボニル ノルボルナン−5、6−ジオール9gとト
リエチルアミン12.1gを共に入れて溶解後、(メ
タ)アクリロイルクロライド4.8gを徐々に添加し−
10℃で6時間反応させた。反応物を濾過した後減圧蒸
留した溶液からカラムクロマトグラフィを利用して9.
8g(yield76%)の2−ヒドロピラニルオキシカル
ボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アク
リレートを得た。
ボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アク
リレートの合成 シクロペンタジエンとヒドロフラニルアクリレートとの
Diels−Alder反応を介し、2−ヒドロフラニルオキシカ
ルボニル−5−ノルボルネンを合成し、このように合成
された2−ヒドロフラニルオキシカルボニル−5−ノル
ボルネン21gを150mLのアセトンに入れ良く混合し
た後、−60℃に冷却した。この溶液内にKMnO4 7.4
0gを少しずつ入れ−60℃で1時間反応させた。その
後、アルカリ水溶液を徐々に投入してから温度を徐々に
上げ常温で1.5時間反応させた。反応物中のMnO2を濾
過してからアセトンで数回洗浄し減圧真空蒸留器を利用
して溶液を濃縮させた。反応溶液をジクロロメタンを利
用して抽出、減圧蒸留した後、カラムクロマトグラフィ
を利用して20.1g(yield76%)の2−ヒドロキシ
フラニルオキシカルボニル ノルボルナン−5、6−ジオ
ールを得た。500ml丸型フラスコにテトラヒドロフラ
ン100mlを投入後、先に合成した2−ヒドロフラニル
オキシカルボニル ノルボルナン−5、6−ジオール8.
8gとトリエチルアミン11.1gを共に入れ溶解後、
(メタ)アクリロイルクロライド4.6gを徐々に添加
してから−10℃で6時間反応させた。反応物を濾過し
た後、減圧蒸留した溶液でカラムクロマトグラフィを利
用して9.4g(yield75%)の2−ヒドロフラニル
オキシカルボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル
(メタ)アクリレートを合成した。
ボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アク
リレートの合成 シクロペンタジエンとエトキシエチルアクリレートとの
Diels−Alder反応を介し、2−エトキシエチルオキシカ
ルボニル−5−ノルボルネンを合成した。このように合
成された2−エトキシエチルオキシカルボニル−5−ノ
ルボルネン20gを150mLのアセトンに入れ良く混合
した後−60℃に冷却した。この溶液内にKMnO4 7.1
2gを少しずつ入れてから−60℃で1時間反応させ
た。その後、アルカリ水溶液を徐々に投入してから温度
を徐々に上げ常温で1.5時間反応させた。反応物中の
MnO2を濾過した後、アセトンで数回洗浄してから減圧真
空蒸留器を利用して溶液を濃縮した。反応溶液をジクロ
ロメタンを利用して抽出、減圧蒸留した後、カラムクロ
マトグラフィを利用して18.1g(yield74%)の2
−エトキシエチルオキシカルボニル ノルボルナン−5、
6−ジオールを得た。500ml丸型フラスコにテトラヒ
ドロフラン100mlを投入後、先に合成した2−エトキ
シエチルオキシカルボニル ノルボルナン−5、6−ジオ
ール8.5gとトリエチルアミン11.7gを共に入れ
て溶解後、(メタ)アクリロイルクロライド5.6gを
徐々に添加し−10℃で6時間反応させた。反応物を濾
過した後、減圧蒸留した溶液からカラムクロマトグラフ
ィを利用して9.9g(yield79%)の2−エトキシ
エチルオキシカルボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボ
ニル(メタ)アクリレートを得た。
ニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アクリ
レート/2−カルボキシル−5−ヒドロキシ−6−ノル
ボニル(メタ)アクリレート]共重合体樹脂(式
(2))の合成 2−t−ブトキシカルボニル−5−ヒドロキシ−6−ノ
ルボニル(メタ)アクリレート0.05モル、及び2−
カルボキシル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メ
タ)アクリレート0.05モルをテトラヒドロフラン又
はトルエン25gに溶解させた。次いで、重合開始剤と
して2、2′−アゾビスイソブチロニトリル(AIBN)
0.05gを投入後、窒素又はアルゴン雰囲気下で70
℃の温度で4〜24時間の間反応させた。このようにし
て生成された粗生成物をエチルエーテル、或いはヘキサ
ンで沈澱乾燥させ分子量4、000〜100、000の前
記共重合体樹脂(式(2))23.2gを得た(収率:
89%)。ここで合成した式(2)で表される共重合体
樹脂は、感光膜の接着性及び感度を増加させた化学増幅
型レジストであり、加工工程上求められる高い遊離伝移
温度を有し、遠紫外線部、特に193μmで光吸収が殆
どなく保護基の脱離が容易であり、実際にパターニング
実験において0.15μmのパターンを形成することが
できた。
ニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アクリ
レート/2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート/
(メタ)アクリル酸]共重合体樹脂(式(3))の合成 2−t−ブトキシカルボニル−5−ヒドロキシ−6−ノ
ルボニル(メタ)アクリレート0.05モル、2−ヒド
ロキシエチル(メタ)アクリレート0.04モル及び
(メタ)アクリル酸0.01モルをテトラヒドロフラン
又はトルエン25gに溶解させた。次いで、重合開始剤
として2、2′−アゾビスイソブチロニトリル(AIBN)
0.04gを投入後、窒素又はアルゴン雰囲気下で65
〜70℃の温度で4〜24時間反応させた。このように
して生成された粗生成物をエチルエーテル、或いはヘキ
サンで沈澱乾燥させ分子量4、000〜100、000の
表題共重合体樹脂(式(3))21gを得た(収率:8
3%)。ここで合成した共重合体樹脂は実施例1の共重
合体樹脂と類似の性質を有し、実際のパターニング実験
において、0.14μmのパターンを形成することがで
きた。
シカルボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メ
タ)アクリレート/2−ヒドロキシエチル(メタ)アク
リレート/(メタ)アクリル酸]共重合体樹脂(式
(4))の合成 2−ヒドロキシピラニルオキシカルボニル−5−ヒドロ
キシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレート0.07モ
ル、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート0.0
2モル及び(メタ)アクリル酸0.01モルをテトラヒ
ドロフラン又はトルエン20gに溶解した。次いで、重
合開始剤として2、2′−アゾビスイソブチロニトリル
(AIBN)0.04gを投入後、窒素又はアルゴン雰囲気
下で65〜70℃の温度で4〜24時間の間反応させ
た。このようにして生成された粗生成物をエチルエーテ
ル、或いはヘキサンで沈澱乾燥させ分子量4、000〜
100、000の表題共重合体樹脂(式(4))26g
を得た(収率:81%)。ここで合成した共重合体樹脂
は実施例2の樹脂を変化させ、保護基がアセタルグルー
プに変化するに従い耐エッチング特性の低下なく感度を
向上させた優れた共重合体樹脂であった(感度100mJ
/cm2)。
シカルボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メ
タ)アクリレート/2−ヒドロキシエチル(メタ)アク
リレート/(メタ)アクリル酸]共重合体樹脂(式
(5))の合成 2−ヒドロフラニルオキシカルボニル−5−ヒドロキシ
−6−ノルボニル(メタ)アクリレート0.07モル、
2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート0.02モ
ル、及び(メタ)アクリル酸0.01モルをテトラヒド
ロフラン又はトルエン20gに溶解させた。次いで、重
合開始剤として2、2′−アゾビスイソブチロニトリル
(AIBN)0.04gを投入後、窒素又はアルゴン雰囲気
下で65〜70℃の温度で4〜24時間反応させた。こ
のようにして生成された粗生成物をエチルエーテル、或
いはヘキサンで沈澱乾燥させ分子量4、000〜100、
000の表題共重合体樹脂(式(5))25gを得た
(収率:80%)。ここで合成した共重合体樹脂の性質
は実施例3で得られた共重合体樹脂と類似する。
シカルボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メ
タ)アクリレート/2−ヒドロキシエチル(メタ)アク
リレート/(メタ)アクリル酸]共重合体樹脂(式
(6))の合成 2−エトキシエチルオキシカルボニル−5−ヒドロキシ
−6−ノルボニル(メタ)アクリレート0.07モル、
2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート0.02モ
ル、及び(メタ)アクリル酸0.01モルをテトラヒド
ロフラン又はトルエン20gに溶解させた。次いで、重
合開始剤として2、2′−アゾビスイソブチロニトリル
(AIBN)0.04gを投入後、窒素又はアルゴン雰囲気
下で65〜70℃の温度で4〜24時間反応させた。こ
のようにして生成された粗生成物をエチルエーテル、或
いはヘキサンで沈澱乾燥させ分子量4、000〜100、
000の表題共重合体樹脂(式(6))20gを得た
(収率:81%)。ここで合成した共重合体樹脂の性質
は実施例3の樹脂と類似するが、コントラスト(contra
st)の面ではさらに優れた特性を有する。
ターンの形成 実施例1〜5で合成した共重合体樹脂(式(2)〜
(6))中いずれか一つの樹脂10gを、3−メトキシ
メチルプロピオネート溶媒40gに溶解した後、光酸発
生剤としてトリフェニル スルホニウム トリフレート又
はジブチルナフチルスルホニウム トリフレートの約
0.2〜1gを入れて撹拌後、フィルタで濾過してフォ
トレジスト溶液(組成物)を得た。その後、フォトレジ
スト溶液をウェーハの表面にスピン塗布して薄膜を作っ
てから70〜150℃のオーブン又は熱板で1〜5分間
加熱処理し、露光装置を用いて250nm波長の光源で露
光した後、90〜160℃で加熱処理する。その後、前
記露光・加熱処理したウェーハを現像液(0.01〜5
重量%濃度のTMAH水溶液)に、1分30秒間浸漬するこ
とにより、超微細感光膜パターンを得た(解像力:0.
15μm)。
ジスト用共重合体構造にノルボニル(メタ)アクリレー
ト単量体を導入することにより通常のラジカル重合で重
合が容易であり、193nm波長で透明性が高くエッチン
グ耐性が増加するだけでなく、実際にパターニング実験
ではノルボニル グループ内の親水性基による接着力を
大きく増加させることができ、0.15μmという優れ
た解像力を表す。
Claims (27)
- 【請求項1】 下記式(1)で示される5−ヒドロキシ
−6−ノルボニル(メタ)アクリレート誘導体であるこ
とを特徴とする単量体。 【化1】 (前記式で、Rは2−t−ブトキシカルボニル基、2−
カルボキシル基、2−ヒドロピラニルオキシカルボニル
基、2−ヒドロフラニルオキシカルボニル基、又は2−
エトキシエチルオキシカルボニル基を示し、R1は水素
又はメチル基を示す。) - 【請求項2】 前記単量体が、2−t−ブトキシカルボ
ニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アクリ
レート、2−カルボキシル−5−ヒドロキシ−6−ノル
ボニル(メタ)アクリレート、2−ヒドロピラニルオキ
シカルボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メ
タ)アクリレート、2−ヒドロキシフラニルオキシカル
ボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アク
リレート、及び2−エトキシエチルオキシカルボニル−
5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレート
のいずれかであることを特徴とする請求項1記載の単量
体。 - 【請求項3】 シクロペンタジエンとt−ブチルアクリ
レートを反応させ、2−t−ブトキシカルボニル−5−
ノルボルネンを合成する工程と、 前記2−t−ブトキシカルボニル−5−ノルボルネンを
アセトンに入れて冷却させた後、この溶液にKMnO4とア
ルカリ水溶液を入れて反応させ2−t−ブトキシカルボ
ニルノルボルナン−5、6−ジオールを得る工程と、 前記2−t−ブトキシカルボニルノルボルナン−5、6
−ジオールとトリエチルアミンをテトラヒドロフランに
溶解し、前記溶液に(メタ)アクリロイルクロライドを
入れて反応させ2−t−ブトキシカルボニル−5−ヒド
ロキシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレートを合成す
る工程からなることを特徴とする単量体の製造方法。 - 【請求項4】 シクロペンタジエンとt−ブチルアクリ
レートを反応させ、2−t−ブトキシカルボニル−5−
ノルボルネンを合成する工程と、 前記2−t−ブトキシカルボニル−5−ノルボルネンを
溶媒に入れて反応させ、2−t−ブトキシカルボニルノ
ルボルナン−5、6−ジオールを得る工程と、 前記2−t−ブトキシカルボニル ノルボルナン−5、6
−ジオールとトリエチルアミンを溶媒に溶解して反応さ
せ、2−t−ブトキシカルボニル−5−ヒドロキシ−6
−ノルボニル(メタ)アクリレートを合成する工程から
なることを特徴とする単量体の製造方法。 - 【請求項5】 シクロペンタジエンとアクリル酸を反応
させ、5−ノルボルネンカルボン酸を合成する工程と、 前記5−ノルボルネンカルボン酸を溶媒に溶解して反応
させ、5−ノルボルネンカルボキシル−5、6−ジオー
ルを得る工程と、 前記5−ノルボルネンカルボキシル−5、6−ジオール
とトリエチルアミンを溶媒に溶解して反応させ、2−カ
ルボキシル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)
アクリレートを合成する工程からなることを特徴とする
単量体の製造方法。 - 【請求項6】 シクロペンタジエンとヒドロピラニルア
クリレートを反応させ、2−ヒドロピラニルオキシカル
ボニル−5−ノルボルネンを合成する工程と、 前記2−ヒドロピラニルオキシカルボニル−5−ノルボ
ルネンを溶媒に溶解して反応させ、2−ヒドロピラニル
オキシカルボニルノルボルナン−5、6−ジオールを得
る工程と、 前記2−ヒドロピラニルオキシカルボニルノルボルナン
−5、6−ジオールとトリエチルアミンを溶媒に溶解し
て反応させ、2−ヒドロピラニルオキシカルボニル−5
−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレートを
合成する工程からなることを特徴とする単量体の製造方
法。 - 【請求項7】 シクロペンタジエンとヒドロフラニルア
クリレートを反応させ、2−ヒドロフラニルオキシカル
ボニル−5−ノルボルネンを合成する工程と、 前記2−ヒドロフラニルオキシカルボニル−5−ノルボ
ルネンを溶媒に溶解して反応させ、2−ヒドロフラニル
オキシカルボニルノルボルナン−5、6−ジーオルを得
る工程と、 前記2−ヒドロフラニルオキシカルボニルノルボルナン
−5、6−ジオールとトリエチルアミンを溶媒に溶解し
て反応させ、2−ヒドロフラニルオキシカルボニル−5
−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレートを
合成する工程からなることを特徴とする単量体の製造方
法。 - 【請求項8】 シクロペンタジエンとエトキシエチルア
クリレートを反応させ、2−エトキシエチルオキシカル
ボニル−5−ノルボルネンを合成する工程と、 前記2−エトキシエチルオキシカルボニル−5−ノルボ
ルネンを溶媒に溶解して反応させ、2−エトキシエチル
オキシカルボニルノルボルナン−5、6−ジオールを得
る工程と、 前記2−エトキシエチルオキシカルボニルノルボルナン
−5、6−ジオールとトリエチルアミンを溶媒に溶解し
て反応させ、2−エトキシエチルオキシカルボニル−5
−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレートを
合成する工程からなることを特徴とする単量体の製造方
法。 - 【請求項9】 下記一般式(1)で示される5−ヒドロ
キシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレート誘導体を含
む原料から得られることを特徴とする共重合体樹脂。 【化2】 (前記式で、Rは2−t−ブトキシカルボニル基、2−
カルボキシル基、2−ヒドロピラニルオキシカルボニル
基、2−ヒドロフラニルカルボニル基、又は2−エトキ
シエチルオキシカルボニル基を示し、R1は水素又はメ
チルを示す。) - 【請求項10】 下記式(2)で示されることを特徴と
する請求項9記載の共重合体樹脂。 【化3】 (前記式で、R2及びR3はそれぞれ水素又はメチルで、
x、yはそれぞれ0.001〜0.99のモル分率であ
る。 - 【請求項11】 下記式(3)で示されることを特徴と
する請求項9記載の共重合体樹脂。 【化4】 (前記式で、R1、R2及びR3はそれぞれ水素又はメチ
ルで、x、y及びzはそれぞれ0.001〜0.99のモ
ル分率である。) - 【請求項12】 下記式(4)で示される化合物である
ことを特徴とする請求項9記載の共重合体樹脂。 【化5】 (前記式で、R1、R2及びR3はそれぞれ水素又はメチ
ルで、x、y及びzはそれぞれ0.001〜0.99のモ
ル分率である。) - 【請求項13】 下記式(5)で示されることを特徴と
する請求項9記載の共重合体樹脂。 【化6】 (前記式で、R1、R2及びR3はそれぞれ水素又はメチ
ルで、x、y及びzはそれぞれ0.001〜0.99のモ
ル分率である。) - 【請求項14】 下記式(6)で示されることを特徴と
する請求項9記載の共重合体樹脂。 【化7】 (前記式で、R1、R2及びR3はそれぞれ水素又はメチ
ルで、x、y及びzはそれぞれ0.001〜0.99のモ
ル分率である。) - 【請求項15】 請求項10に記載の式(2)で表され
る共重合体樹脂の製造方法であって、 下記式(7)で表される2−t−ブトキシカルボニル−
5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレート
及び式(8)で表される2−カルボキシル−5−ヒドロ
キシノルボニル−6−(メタ)アクリレートを通常の重
合開始剤の存在下で反応させて重合することを特徴とす
る共重合体樹脂の製造方法。 【化8】 (前記式で、R2、R3はそれぞれ水素又はメチルを示
す。) - 【請求項16】 請求項11に記載の式(3)で表され
る共重合体樹脂の製造方法であって、 下記式(7)で表される2−t−ブトキシカルボニル−
5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)アクリレー
ト、式(9)で表される2−ヒドロキシエチル(メタ)
アクリレート、及び式(10)で表される(メタ)アク
リル酸を通常の重合開始剤の存在下で反応させて重合す
ることを特徴とする共重合体樹脂の製造方法。 【化9】 (前記式で、R1、R2及びR3はそれぞれ水素又はメチ
ルを示す。) - 【請求項17】 請求項12に記載の式(4)で表され
る共重合体樹脂の製造方法であって、 下記式(11)で表される2−ヒドロピラニルオキシカ
ルボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)ア
クリレート、式(9)で表される2−ヒドロキシエチル
(メタ)アクリレート及び式(10)で表される(メ
タ)アクリル酸を、通常の重合開始剤の存在下で反応さ
せて重合することを特徴とする共重合体樹脂の製造方
法。 【化10】 (前記式で、R1、R2及びR3はそれぞれ水素又はメチ
ルを示す。) - 【請求項18】 請求項13に記載の式(5)で表され
る共重合体樹脂の製造方法であって、 下記式(12)で表される2−ヒドロフラニルオキシカ
ルボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)ア
クリレート、式(9)で表される2−ヒドロキシエチル
(メタ)アクリレート、及び式(10)で表される(メ
タ)アクリル酸を通常の重合開示剤の存在下で反応させ
て重合することを特徴とする共重合体樹脂の製造方法。 【化11】 (前記式で、R1、R2及びR3はそれぞれ水素又はメチ
ルを示す。) - 【請求項19】 請求項14に記載の式(6)で表され
る共重合体樹脂の製造方法であって、 下記式(13)で表される2−エトキシエチルオキシカ
ルボニル−5−ヒドロキシ−6−ノルボニル(メタ)ア
クリレート、式(9)で表される2−ヒドロキシエチル
(メタ)アクリレート及び式(10)で表される(メ
タ)アクリル酸を、通常の重合開示剤の存在下で反応さ
せることを特徴とする共重合体樹脂の製造方法。 【化12】 (前記式で、R1、R2及びR3はそれぞれ水素又はメチ
ルを示す。) - 【請求項20】 前記重合開示剤が、ベンゾイルパーオ
キサイド、2、2′−アゾビスイソブチロニトリル、ア
セチルパーオキサイド、ラウリルパーオキサイド、t−
ブチルパーアセテート、又はジ−t−ブチルパーオキサ
イドであることを特徴とする請求項15〜19のいずれ
かに記載の共重合体樹脂の製造方法。 - 【請求項21】 前記重合反応は、シクロヘキサノン、
メチルエチルケトン、ベンゼン、トルエン、ジオキサン
及びジメチルホルムアミドの中で選択された1種又は2
種以上の有機溶媒の存在下で行われることを特徴とする
請求項15〜19のいずれかに記載の共重合体樹脂の製
造方法。 - 【請求項22】 請求項9〜14のいずれかに記載の共
重合体樹脂と、有機溶媒と、光酸発生剤とを含むことを
特徴とするフォトレジスト組成物。 - 【請求項23】 前記光酸発生剤が、トリフェニルスル
ホニウム トリフレート、又はジブチルナフチル スルホ
ニウム トリフレートであることを特徴とする請求項2
2記載のフォトレジスト組成物。 - 【請求項24】 請求項9〜14のいずれかに記載の共
重合体樹脂を溶媒に溶解する第1段階と、 前記第1段階の結果物に光酸発生剤を入れて撹拌する第
2段階と、 前記第2段階の結果物を濾過してフォトレジストを形成
する第3段階を有することを特徴とするフォトレジスト
組成物の製造方法。 - 【請求項25】 前記第1段階の溶媒が、メチル−3−
メトキシプロピオネートであることを特徴とする請求項
24記載のフォトレジスト組成物の製造方法。 - 【請求項26】 前記第2段階の光酸発生剤が、トリフ
ェニルスルホニウムトリフレート、又はジブチルナフチ
ル スルホニウム トリフレートであることを特徴とする
請求項24記載のフォトレジスト組成物の製造方法。 - 【請求項27】 請求項22に記載のフォトレジスト組
成物を用いて形成されたパターンを備えることを特徴と
する半導体素子。
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|---|---|
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002193884A (ja) * | 2000-12-21 | 2002-07-10 | Daicel Chem Ind Ltd | (メタ)アクリル酸エステルの製造法 |
| JP2007213001A (ja) * | 2006-01-13 | 2007-08-23 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 樹脂、レジスト組成物およびレジストパターン形成方法 |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6808859B1 (en) * | 1996-12-31 | 2004-10-26 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | ArF photoresist copolymers |
| KR100647379B1 (ko) * | 1999-07-30 | 2006-11-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 신규의 포토레지스트용 단량체, 그의 공중합체 및 이를 이용한포토레지스트 조성물 |
| KR20010016972A (ko) * | 1999-08-06 | 2001-03-05 | 박종섭 | 신규한 포토레지스트 단량체, 그의 공중합체 및 이를 이용한포토레지스트 조성물 |
| US6294309B1 (en) * | 2000-06-30 | 2001-09-25 | Everlight Usa, Inc. | Positive photoresist composition containing alicyclic dissolution inhibitors |
| US6376700B1 (en) * | 2000-06-30 | 2002-04-23 | Everlight Usa, Inc. | Alicyclic compound |
| KR100557543B1 (ko) * | 2000-06-30 | 2006-03-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | 신규한 포토레지스트 단량체, 그의 중합체 및 이를함유하는 포토레지스트 조성물 |
| TW576864B (en) * | 2001-12-28 | 2004-02-21 | Toshiba Corp | Method for manufacturing a light-emitting device |
| WO2005010061A1 (en) * | 2003-07-24 | 2005-02-03 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Heavy-hydrogenated norbornyl (meth)acrylates, process for producing them, polymers thereof and optical members |
| ATE418570T1 (de) * | 2003-08-05 | 2009-01-15 | Jsr Corp | Acrylpolymere und strahlungsempfindliche harzzusammensetzung |
| CN1320007C (zh) * | 2005-05-24 | 2007-06-06 | 苏州华飞微电子材料有限公司 | 含硅偶联剂的共聚物成膜树脂及其193nm光刻胶 |
| GB0903458D0 (en) | 2009-03-02 | 2009-04-08 | Ct Angewandte Nanotech Can | A method for the manufavturing of a cross-linked micellar nanoparticle complex and products thereof |
| KR20140120212A (ko) * | 2013-04-02 | 2014-10-13 | 주식회사 동진쎄미켐 | 미세패턴 형성용 코팅 조성물 및 이를 이용한 미세패턴 형성방법 |
| CN111138280A (zh) * | 2019-12-24 | 2020-05-12 | 上海博栋化学科技有限公司 | 由3-乙基双环[3.3.1]壬烷-2,4-二酮合成的光刻胶树脂单体及其合成方法 |
| CN113121940B (zh) | 2019-12-31 | 2022-12-30 | 广东生益科技股份有限公司 | 一种热固性树脂组合物及使用其的预浸料、层压板和印制线路板 |
| CN118108890B (zh) * | 2024-04-29 | 2024-07-02 | 广东粤港澳大湾区黄埔材料研究院 | g线、h线光吸收树脂及其制备方法 |
Family Cites Families (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL6914466A (ja) | 1969-09-24 | 1971-03-26 | ||
| JPS5818369B2 (ja) | 1973-09-05 | 1983-04-12 | ジェイエスアール株式会社 | ノルボルネンカルボンサンアミドオヨビ / マタハイミドルイノ ( キヨウ ) ジユウゴウタイノセイゾウホウホウ |
| US4106943A (en) | 1973-09-27 | 1978-08-15 | Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. | Photosensitive cross-linkable azide containing polymeric composition |
| US4491628A (en) | 1982-08-23 | 1985-01-01 | International Business Machines Corporation | Positive- and negative-working resist compositions with acid generating photoinitiator and polymer with acid labile groups pendant from polymer backbone |
| US4986648A (en) * | 1987-06-18 | 1991-01-22 | Hitachi Chemical Company, Ltd. | Lens and optical disc base plate obtained from copolymer of norbornyl (meth)acrylate |
| DE3721741A1 (de) | 1987-07-01 | 1989-01-12 | Basf Ag | Strahlungsempfindliches gemisch fuer lichtempfindliche beschichtungsmaterialien |
| WO1989007786A1 (en) | 1988-02-17 | 1989-08-24 | Tosoh Corporation | Photoresist composition |
| JPH0251511A (ja) | 1988-08-15 | 1990-02-21 | Mitsui Petrochem Ind Ltd | 極性基含有環状オレフイン系共重合体およびその製法 |
| DE3922546A1 (de) | 1989-07-08 | 1991-01-17 | Hoechst Ag | Verfahren zur herstellung von cycloolefinpolymeren |
| US5252427A (en) | 1990-04-10 | 1993-10-12 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Positive photoresist compositions |
| KR950009484B1 (ko) | 1990-06-06 | 1995-08-23 | 미쓰이세끼유 가가꾸고오교오 가부시끼가이샤 | 폴리올레핀 수지 조성물 |
| JP2776273B2 (ja) * | 1994-01-31 | 1998-07-16 | 日本電気株式会社 | ビニル基を有する単量体 |
| US5705503A (en) | 1995-05-25 | 1998-01-06 | Goodall; Brian Leslie | Addition polymers of polycycloolefins containing functional substituents |
| US6037416A (en) * | 1995-08-10 | 2000-03-14 | Mitsubishi Rayon Co., Ltd. | Thermosetting coating composition |
| WO1997033198A1 (en) | 1996-03-07 | 1997-09-12 | The B.F. Goodrich Company | Photoresist compositions comprising polycyclic polymers with acid labile pendant groups |
| US5843624A (en) | 1996-03-08 | 1998-12-01 | Lucent Technologies Inc. | Energy-sensitive resist material and a process for device fabrication using an energy-sensitive resist material |
| US6071670A (en) * | 1996-10-11 | 2000-06-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Transparent resin, photosensitive composition, and method of forming a pattern |
| KR100261022B1 (ko) | 1996-10-11 | 2000-09-01 | 윤종용 | 화학증폭형 레지스트 조성물 |
-
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Cited By (2)
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| JP2007213001A (ja) * | 2006-01-13 | 2007-08-23 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 樹脂、レジスト組成物およびレジストパターン形成方法 |
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