JPH11271626A - 走査型レーザ顕微鏡 - Google Patents
走査型レーザ顕微鏡Info
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- JPH11271626A JPH11271626A JP10074513A JP7451398A JPH11271626A JP H11271626 A JPH11271626 A JP H11271626A JP 10074513 A JP10074513 A JP 10074513A JP 7451398 A JP7451398 A JP 7451398A JP H11271626 A JPH11271626 A JP H11271626A
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 47
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 abstract description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 17
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
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- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
- Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】レーザビームでサンプルを走査するスキャナ
と、サンプルからのデータを任意の走査位置でサンプリ
ングする検出器とを備えた走査型レーザ顕微鏡におい
て、該ミラーの駆動信号と実際の走査位置とに位相遅延
を生じる場合でも、歪みのない画像を高速に取得する。 【解決手段】 スキャナを駆動するための駆動波形デー
タと任意の走査位置でサンプルデータをサンプリングす
るためのサンプリングクロックパターンとを同一のアド
レスに保存するメモリ30と、メモリ30に保存されている
駆動波形データに対してサンプリングクロックパターン
を任意の時間遅延させて出力するデジタル遅延回路34と
を備え、メモリ30の駆動波形データに基づいてスキャナ
を駆動し、デジタル遅延回路34によってサンプリングク
ロックを上記駆動波形データに対応させて任意の時間遅
延させる。
と、サンプルからのデータを任意の走査位置でサンプリ
ングする検出器とを備えた走査型レーザ顕微鏡におい
て、該ミラーの駆動信号と実際の走査位置とに位相遅延
を生じる場合でも、歪みのない画像を高速に取得する。 【解決手段】 スキャナを駆動するための駆動波形デー
タと任意の走査位置でサンプルデータをサンプリングす
るためのサンプリングクロックパターンとを同一のアド
レスに保存するメモリ30と、メモリ30に保存されている
駆動波形データに対してサンプリングクロックパターン
を任意の時間遅延させて出力するデジタル遅延回路34と
を備え、メモリ30の駆動波形データに基づいてスキャナ
を駆動し、デジタル遅延回路34によってサンプリングク
ロックを上記駆動波形データに対応させて任意の時間遅
延させる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ガルバノメータミ
ラーを使用した走査型レーザ顕微鏡に関する。
ラーを使用した走査型レーザ顕微鏡に関する。
【0002】
【従来の技術】走査型レーザ顕微鏡は、点光源であるレ
ーザビームを対物レンズを介してサンプルのX軸及びY
軸方向に走査しながら照射し、サンプルからの蛍光また
は反射光を再び対物レンズ、光学系を介して検出器で検
出し、二次元画像の濃淡情報を得るようにしたもので、
この濃淡情報の2次元分布をX−Y走査位置に対応させ
てCRTモニタ、カラープリンタ等の画像出力装置に輝
点の分布として表示することで画像化し、観察できるよ
うにしている。
ーザビームを対物レンズを介してサンプルのX軸及びY
軸方向に走査しながら照射し、サンプルからの蛍光また
は反射光を再び対物レンズ、光学系を介して検出器で検
出し、二次元画像の濃淡情報を得るようにしたもので、
この濃淡情報の2次元分布をX−Y走査位置に対応させ
てCRTモニタ、カラープリンタ等の画像出力装置に輝
点の分布として表示することで画像化し、観察できるよ
うにしている。
【0003】さらに、検出光学系のサンプルと共役な位
置に照明光あるいは、被測定光の回折限界程度の直径を
持つ絞りを設けることにより、焦点の合っている面の情
報のみを検出するようにしたものが、共焦点走査型レー
ザ顕微鏡である。
置に照明光あるいは、被測定光の回折限界程度の直径を
持つ絞りを設けることにより、焦点の合っている面の情
報のみを検出するようにしたものが、共焦点走査型レー
ザ顕微鏡である。
【0004】このような走査型レーザ顕微鏡において、
光源のレーザビームを2次元走査する手段としては、主
にガルバノメータミラーが用いられてきた。そして、ガ
ルバノメータミラーを2次元走査手段として用いる場
合、特公平6−27905号公報などに開示されている
ように、駆動信号波形を三角波あるいは鋸歯状波とし、
ミラーの変位が時間とともに直線的に移動する部分で一
定周期のサンプリングクロックでデータをサンプリング
するようにしたものがあり、これによって歪みのない画
像を取り込むようにしていた。
光源のレーザビームを2次元走査する手段としては、主
にガルバノメータミラーが用いられてきた。そして、ガ
ルバノメータミラーを2次元走査手段として用いる場
合、特公平6−27905号公報などに開示されている
ように、駆動信号波形を三角波あるいは鋸歯状波とし、
ミラーの変位が時間とともに直線的に移動する部分で一
定周期のサンプリングクロックでデータをサンプリング
するようにしたものがあり、これによって歪みのない画
像を取り込むようにしていた。
【0005】また、三角波や鋸歯状波のように、波形中
の山や谷の頂点部分に高周波成分を持った波形の駆動信
号でガルバノメータミラーを駆動するよりも、駆動信号
を単一の周波数、例えば正弦波にして、該ミラーの走査
速度の変動を補償するように上記サンプリングクロック
の周期を変調することで、得られる画像の歪みを抑えな
がら高速で画像を取得することが実現できることも公知
である。
の山や谷の頂点部分に高周波成分を持った波形の駆動信
号でガルバノメータミラーを駆動するよりも、駆動信号
を単一の周波数、例えば正弦波にして、該ミラーの走査
速度の変動を補償するように上記サンプリングクロック
の周期を変調することで、得られる画像の歪みを抑えな
がら高速で画像を取得することが実現できることも公知
である。
【0006】しかして、上述したミラーの走査速度の変
動を補償するようにサンプリングクロックの周期を変調
して発生させる方法としては、以下に述べる2つの方法
が一般的に知られている。
動を補償するようにサンプリングクロックの周期を変調
して発生させる方法としては、以下に述べる2つの方法
が一般的に知られている。
【0007】第1の方法は、特開平5−2135号公
報、特開平5−136954号公報、特開平6−148
525号公報などに開示されているものであり、レーザ
ビームによりサンプルを走査し、それと同時にリニアス
ケールパターン上を走査し、このパターンからの反射あ
るいは透過光強度から、サンプリングクロックを生成す
るようにした方法である。
報、特開平5−136954号公報、特開平6−148
525号公報などに開示されているものであり、レーザ
ビームによりサンプルを走査し、それと同時にリニアス
ケールパターン上を走査し、このパターンからの反射あ
るいは透過光強度から、サンプリングクロックを生成す
るようにした方法である。
【0008】第2の方法は、駆動信号波形の正弦波に対
して、直線的な走査位置でデータをサンプリングできる
ようにサンプルクロックのパターンをメモリ上に作成し
ておく方法である。
して、直線的な走査位置でデータをサンプリングできる
ようにサンプルクロックのパターンをメモリ上に作成し
ておく方法である。
【0009】
【発明が解決しようとする問題点】しかしながら、これ
らの補償方法には、以下に述べるような問題点があっ
た。すなわち上記第1の方法では、サンプルを走査する
光学系とは別に、リニアスケールを走査する光学系を設
置する必要があり、さらにサンプルを走査する光学系の
中にそのリニアスケールを走査する光学系を設置するよ
うになるため、光量の損失が大きいという問題があっ
た。
らの補償方法には、以下に述べるような問題点があっ
た。すなわち上記第1の方法では、サンプルを走査する
光学系とは別に、リニアスケールを走査する光学系を設
置する必要があり、さらにサンプルを走査する光学系の
中にそのリニアスケールを走査する光学系を設置するよ
うになるため、光量の損失が大きいという問題があっ
た。
【0010】また上記第2の方法では、駆動信号波形と
実際のミラーによる走査位置との間に、ミラー自体およ
びドライブ回路の位相特性などによって位相遅延が生じ
てしまうという問題があった。
実際のミラーによる走査位置との間に、ミラー自体およ
びドライブ回路の位相特性などによって位相遅延が生じ
てしまうという問題があった。
【0011】このような位相遅延は、図8にその変化特
性を示すように駆動周波数の変更に伴って変化し、さら
に振幅の変更に対してもその量が変化していた。このよ
うな位相遅延の変化に対して、駆動信号波形とサンプル
クロックパターンとの位相遅延量を適宜変化させなけれ
ば、得られる画像に歪みが生じてしまうという問題があ
った。
性を示すように駆動周波数の変更に伴って変化し、さら
に振幅の変更に対してもその量が変化していた。このよ
うな位相遅延の変化に対して、駆動信号波形とサンプル
クロックパターンとの位相遅延量を適宜変化させなけれ
ば、得られる画像に歪みが生じてしまうという問題があ
った。
【0012】さらに、往路と復路の双方でデータをサン
プリングする場合には、サンプリング開始位置を示す同
期信号のタイミングを微妙に調整しなければならないた
め、往路と復路で同じ位置をサンプリングすることは極
めて困難であるという問題もあった。
プリングする場合には、サンプリング開始位置を示す同
期信号のタイミングを微妙に調整しなければならないた
め、往路と復路で同じ位置をサンプリングすることは極
めて困難であるという問題もあった。
【0013】本発明は上記のような実情に鑑みてなされ
たもので、その目的とするところは、ガルバノメータミ
ラーを用いたスキャナで該ミラーの駆動信号と実際の走
査位置とに位相遅延を生じる場合でも、歪みのない画像
を高速に取得することが可能で、往復走査の往路と復路
の双方を利用してデータのサンプリングを行なう場合で
も、歪みや画素ずれのない画質のよい画像を収集するこ
とが可能な走査型レーザ顕微鏡を提供することにある。
たもので、その目的とするところは、ガルバノメータミ
ラーを用いたスキャナで該ミラーの駆動信号と実際の走
査位置とに位相遅延を生じる場合でも、歪みのない画像
を高速に取得することが可能で、往復走査の往路と復路
の双方を利用してデータのサンプリングを行なう場合で
も、歪みや画素ずれのない画質のよい画像を収集するこ
とが可能な走査型レーザ顕微鏡を提供することにある。
【0014】
【問題点を解決するための手段】請求項1記載の発明
は、レーザビームでサンプルを走査するスキャナと、上
記サンプルからのデータを任意の走査位置でサンプリン
グする検出器とを備えた走査型レーザ顕微鏡において、
上記スキャナを駆動するための駆動波形データと任意の
走査位置でサンプルデータをサンプリングするためのサ
ンプリングクロックパターンとを同一のアドレスに保存
する記憶手段と、上記記憶手段に保存されている駆動波
形データに対して上記サンプリングクロックパターンを
任意の時間遅延させて出力する遅延手段とを備え、上記
記憶手段の駆動波形データに基づいて上記スキャナを駆
動し、上記遅延手段によって上記検出器でサンプリング
を行なうためのサンプリングクロックを上記駆動波形デ
ータに対応させて任意の時間遅延させることを特徴とす
る。
は、レーザビームでサンプルを走査するスキャナと、上
記サンプルからのデータを任意の走査位置でサンプリン
グする検出器とを備えた走査型レーザ顕微鏡において、
上記スキャナを駆動するための駆動波形データと任意の
走査位置でサンプルデータをサンプリングするためのサ
ンプリングクロックパターンとを同一のアドレスに保存
する記憶手段と、上記記憶手段に保存されている駆動波
形データに対して上記サンプリングクロックパターンを
任意の時間遅延させて出力する遅延手段とを備え、上記
記憶手段の駆動波形データに基づいて上記スキャナを駆
動し、上記遅延手段によって上記検出器でサンプリング
を行なうためのサンプリングクロックを上記駆動波形デ
ータに対応させて任意の時間遅延させることを特徴とす
る。
【0015】このような構成とした結果、スキャナを駆
動する駆動信号と、実際の走査位置に位相遅延が生じ、
その遅延量が、駆動信号の周波数、振幅により変化して
も、保存されている駆動波形データを書換えることな
く、駆動波形データとサンプリングクロックパターンと
の時間遅延を調整することで、常に歪みのない画像を取
得することが可能となる。
動する駆動信号と、実際の走査位置に位相遅延が生じ、
その遅延量が、駆動信号の周波数、振幅により変化して
も、保存されている駆動波形データを書換えることな
く、駆動波形データとサンプリングクロックパターンと
の時間遅延を調整することで、常に歪みのない画像を取
得することが可能となる。
【0016】請求項2記載の発明は、上記請求項1記載
の発明において、上記記憶手段のアドレスを制御するア
ドレス制御手段と、上記アドレス制御手段から出力され
るアドレスと比較される比較アドレスを設定する設定部
と、上記アドレス制御手段から出力されるアドレスと設
定された比較アドレスとを比較し、一致した際に一致信
号を出力するアドレス比較手段とをさらに備え、上記一
致信号をサンプリング開始を示す同期信号としたことを
特徴とする。
の発明において、上記記憶手段のアドレスを制御するア
ドレス制御手段と、上記アドレス制御手段から出力され
るアドレスと比較される比較アドレスを設定する設定部
と、上記アドレス制御手段から出力されるアドレスと設
定された比較アドレスとを比較し、一致した際に一致信
号を出力するアドレス比較手段とをさらに備え、上記一
致信号をサンプリング開始を示す同期信号としたことを
特徴とする。
【0017】このような構成とした結果、上記請求項1
記載の発明の作用に加えて、サンプリング開始位置を調
整する場合、保存されている駆動波形データを書換える
ことなく、またデジタル遅延回路の回路規模を増大させ
ずに微妙なタイミング調整を行なうことが可能となる。
記載の発明の作用に加えて、サンプリング開始位置を調
整する場合、保存されている駆動波形データを書換える
ことなく、またデジタル遅延回路の回路規模を増大させ
ずに微妙なタイミング調整を行なうことが可能となる。
【0018】請求項3記載の発明は、上記請求項2記載
の発明において、上記アドレス比較手段は、複数のアド
レスに対して一致信号を出力することを特徴とする。こ
のような構成とした結果、請求項2記載の発明の作用に
加えて、往復走査の往路と復路双方でサンプリングを行
なう場合、双方のサンプリング範囲を精確に一致させて
歪みや、画素ずれのない画質の高い画像を取得すること
が可能となる。
の発明において、上記アドレス比較手段は、複数のアド
レスに対して一致信号を出力することを特徴とする。こ
のような構成とした結果、請求項2記載の発明の作用に
加えて、往復走査の往路と復路双方でサンプリングを行
なう場合、双方のサンプリング範囲を精確に一致させて
歪みや、画素ずれのない画質の高い画像を取得すること
が可能となる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の一形態に係る
共焦点走査型レーザ顕微鏡について図面を参照して説明
する。図1はその基本構成を示すもので、1は光源であ
るレーザ発振器、2はビームエキスパンダ、3は光路分
割素子、4,5はガルバノメータミラーで構成されるX
方向スキャナ及びY方向スキャナ、6は瞳投影レンズ、
7は結像レンズ、8は対物レンズ,9は観察対象として
のサンプル、14は共焦点光学系、15は波長選択素
子、16は検出器としての光電変換素子、17はデータ
処理装置、18は画像表示装置としてのCRTモニタ、
19は駆動波形発生回路である。
共焦点走査型レーザ顕微鏡について図面を参照して説明
する。図1はその基本構成を示すもので、1は光源であ
るレーザ発振器、2はビームエキスパンダ、3は光路分
割素子、4,5はガルバノメータミラーで構成されるX
方向スキャナ及びY方向スキャナ、6は瞳投影レンズ、
7は結像レンズ、8は対物レンズ,9は観察対象として
のサンプル、14は共焦点光学系、15は波長選択素
子、16は検出器としての光電変換素子、17はデータ
処理装置、18は画像表示装置としてのCRTモニタ、
19は駆動波形発生回路である。
【0020】レーザ発振器1より射出されたレーザビー
ムによる照明光は、ビームエキスパンダ2及びビームス
プリッタやダイクロイックミラーなどの光路分割素子3
を介して、ガルバノメータミラー等を用いたX方向スキ
ャナ4及びY方向スキャナ5に入射し、2次元を走査す
るように偏向される。
ムによる照明光は、ビームエキスパンダ2及びビームス
プリッタやダイクロイックミラーなどの光路分割素子3
を介して、ガルバノメータミラー等を用いたX方向スキ
ャナ4及びY方向スキャナ5に入射し、2次元を走査す
るように偏向される。
【0021】X方向スキャナ4及びY方向スキャナ5
は、それぞれスキャナドライブ回路21,22により駆
動されるもので、これらスキャナドライブ回路21,2
2の駆動信号は後述する駆動波形発生回路19から供給
される。
は、それぞれスキャナドライブ回路21,22により駆
動されるもので、これらスキャナドライブ回路21,2
2の駆動信号は後述する駆動波形発生回路19から供給
される。
【0022】X方向スキャナ4及びY方向スキャナ5を
介した照明光は、瞳投影レンズ6、結像レンズ7を介し
て対物レンズ8に入射し、サンプル9を2次元走査する
もので、サンプル9からの蛍光が照明光と同じ光路をた
どって光路分割素子3に到達し、この光路分割素子3及
び共焦点光学系14を透過して、ダイクロイックミラ
ー、干渉フィルタ等からなる波長選択素子15を介して
光電変換素子16へ導かれる。
介した照明光は、瞳投影レンズ6、結像レンズ7を介し
て対物レンズ8に入射し、サンプル9を2次元走査する
もので、サンプル9からの蛍光が照明光と同じ光路をた
どって光路分割素子3に到達し、この光路分割素子3及
び共焦点光学系14を透過して、ダイクロイックミラ
ー、干渉フィルタ等からなる波長選択素子15を介して
光電変換素子16へ導かれる。
【0023】ここでは説明を容易にするために光電変換
素子16が1つの場合を記述しているが、これに限定さ
れるものではなく、複数の波長選択素子と光電変換素子
永久くみあわせることにより複数の蛍光波長を測定する
場合にも適応できる。
素子16が1つの場合を記述しているが、これに限定さ
れるものではなく、複数の波長選択素子と光電変換素子
永久くみあわせることにより複数の蛍光波長を測定する
場合にも適応できる。
【0024】光電変換素子16によりその輝度に応じた
電気信号に変換された蛍光の輝度情報は、駆動波形発生
回路19から供給されるサンプリングクロックに同期し
てA/D変換回路23でデジタル化され、データ処理装
置17により必要な処理が施された後にCRTモニタ1
8で2次元画像として表示出力される。
電気信号に変換された蛍光の輝度情報は、駆動波形発生
回路19から供給されるサンプリングクロックに同期し
てA/D変換回路23でデジタル化され、データ処理装
置17により必要な処理が施された後にCRTモニタ1
8で2次元画像として表示出力される。
【0025】図2は上記駆動波形発生回路19の詳細な
回路構成を示すもので、この駆動波形発生回路19は実
際には上記X方向スキャナ4とY方向スキャナ5の2つ
のスキャナに対応してスキャナドライブ回路21,22
に駆動信号を発生出力するものであるが、その構成、動
作は同等であるので、ここでは1系統分のスキャナに対
する構成と動作を説明する。
回路構成を示すもので、この駆動波形発生回路19は実
際には上記X方向スキャナ4とY方向スキャナ5の2つ
のスキャナに対応してスキャナドライブ回路21,22
に駆動信号を発生出力するものであるが、その構成、動
作は同等であるので、ここでは1系統分のスキャナに対
する構成と動作を説明する。
【0026】同図に示す如く駆動波形発生回路19は、
2つのスキャナをそれぞれ駆動するための駆動波形のデ
ータ及び後述する任意の走査位置でサンプルデータをサ
ンプリングするサンプリングクロックパターンが書込ま
れ保存された記憶手段としてのメモリ30、このメモリ
30からのデータバス31に接続されて、送られてきた
デジタルデータから実際の駆動波形を生成するD/A変
換回路32、上記データバス31のうちサンプリングク
ロックパターンデータが出力されるビットライン33に
接続され、A/D変換回路23に送出する該パターンデ
ータの遅延量を可変設定可能なデジタル遅延回路34、
上記メモリ30のアドレスバス35に接続され、上記メ
モリ30のアドレス制御を行なうメモリアドレス制御回
路36、同じくアドレスバス35に接続され、同期信号
を発生するアドレス比較回路37、及び上記各回路に対
してデータの書込み及び各種設定を行なう設定部として
のCPU38により構成される。
2つのスキャナをそれぞれ駆動するための駆動波形のデ
ータ及び後述する任意の走査位置でサンプルデータをサ
ンプリングするサンプリングクロックパターンが書込ま
れ保存された記憶手段としてのメモリ30、このメモリ
30からのデータバス31に接続されて、送られてきた
デジタルデータから実際の駆動波形を生成するD/A変
換回路32、上記データバス31のうちサンプリングク
ロックパターンデータが出力されるビットライン33に
接続され、A/D変換回路23に送出する該パターンデ
ータの遅延量を可変設定可能なデジタル遅延回路34、
上記メモリ30のアドレスバス35に接続され、上記メ
モリ30のアドレス制御を行なうメモリアドレス制御回
路36、同じくアドレスバス35に接続され、同期信号
を発生するアドレス比較回路37、及び上記各回路に対
してデータの書込み及び各種設定を行なう設定部として
のCPU38により構成される。
【0027】上記のような構成にあって、その動作につ
いて説明する。CPU38は、スキャナを駆動するに当
たってまずメモリ30に対し、図3に示すようにD/A
変換回路32の分解能に応じたビット幅、ここではnビ
ットの駆動波形データと、この波形データを基に駆動さ
れたスキャナ位置においてサンプリングを行なうかどう
かを決定する単一ビットのサンプリングクロックパター
ンデータを示すクロックビットとを同一のメモリアドレ
スに書込む。
いて説明する。CPU38は、スキャナを駆動するに当
たってまずメモリ30に対し、図3に示すようにD/A
変換回路32の分解能に応じたビット幅、ここではnビ
ットの駆動波形データと、この波形データを基に駆動さ
れたスキャナ位置においてサンプリングを行なうかどう
かを決定する単一ビットのサンプリングクロックパター
ンデータを示すクロックビットとを同一のメモリアドレ
スに書込む。
【0028】ここで、正弦波を出力するための駆動波形
データDは、アドレスA、有効アドレス範囲N、振幅G
として、次式で表すことができる。すなわち D(A)=G・sin(2πA/N) …(1) となるもので、このような波形データに合わせて生成さ
れるサンプリングクロックパターンデータは、図4に示
すように駆動波形データDの変化量が一定間隔になる位
置毎に、クロックが出力されるように1ビットの「0」
「1」の連続するパターンデータを作成し、上記駆動波
形データDの書込みと共にメモリ30に書込む。このメ
モリ30への書込み動作を、駆動波形データDの最低1
周期分を構成するパターンデータの数、ここでは、N回
繰返し実行する。
データDは、アドレスA、有効アドレス範囲N、振幅G
として、次式で表すことができる。すなわち D(A)=G・sin(2πA/N) …(1) となるもので、このような波形データに合わせて生成さ
れるサンプリングクロックパターンデータは、図4に示
すように駆動波形データDの変化量が一定間隔になる位
置毎に、クロックが出力されるように1ビットの「0」
「1」の連続するパターンデータを作成し、上記駆動波
形データDの書込みと共にメモリ30に書込む。このメ
モリ30への書込み動作を、駆動波形データDの最低1
周期分を構成するパターンデータの数、ここでは、N回
繰返し実行する。
【0029】次にCPU38は、メモリアドレス制御回
路36に対して、メモリ30の先頭アドレス、有効アド
レス範囲、アドレス出力速度などを設定した後、メモリ
アドレスの出力を開始するように設定する。
路36に対して、メモリ30の先頭アドレス、有効アド
レス範囲、アドレス出力速度などを設定した後、メモリ
アドレスの出力を開始するように設定する。
【0030】メモリアドレス制御回路36は、設定され
た上記先頭アドレスから、順にアドレスをカウントアッ
プし、有効アドレス範囲のアドレス値を出力した後、先
頭アドレスに戻ってアドレスのカウントアップを繰り返
す。このように出力されるアドレスにより、波形データ
がメモリ30からD/A変換回路32に対して出力さ
れ、D/A変換回路32から図4の波形が、電圧波形と
して出力される。
た上記先頭アドレスから、順にアドレスをカウントアッ
プし、有効アドレス範囲のアドレス値を出力した後、先
頭アドレスに戻ってアドレスのカウントアップを繰り返
す。このように出力されるアドレスにより、波形データ
がメモリ30からD/A変換回路32に対して出力さ
れ、D/A変換回路32から図4の波形が、電圧波形と
して出力される。
【0031】以上のように作成した駆動波形データDに
よりX方向スキャナ4またはY方向スキャナ5を構成す
るガルバノメータミラーを駆動した場合の、駆動波形と
ミラーの実位置との関係を図5に示す。実線が駆動波
形、破線がミラーの実位置を示す。
よりX方向スキャナ4またはY方向スキャナ5を構成す
るガルバノメータミラーを駆動した場合の、駆動波形と
ミラーの実位置との関係を図5に示す。実線が駆動波
形、破線がミラーの実位置を示す。
【0032】同図からわかるように、駆動波形に対して
ミラーの実位置は遅延Δtを生じている。これは、スキ
ャナドライブ回路21,22及びX,Y方向スキャナ
4,5自体の位相特性によるものである。このように遅
延を生じた状態で、そのまま上記サンプリングクロック
パターンを用いてデータをサンプリングすると、得られ
る画像は大きく歪んだものとなってしまう。
ミラーの実位置は遅延Δtを生じている。これは、スキ
ャナドライブ回路21,22及びX,Y方向スキャナ
4,5自体の位相特性によるものである。このように遅
延を生じた状態で、そのまま上記サンプリングクロック
パターンを用いてデータをサンプリングすると、得られ
る画像は大きく歪んだものとなってしまう。
【0033】そこでCPU38は、デジタル遅延回路3
4に実位置の遅延量Δt分だけサンプリングクロックパ
ターンを遅延させて出力する設定を行ない、デジタル遅
延回路34から出力される信号によりA/D変換回路2
3でデータをサンプリングさせることで、実位置の遅延
を補償した、歪みのない画像が得られるようにする。
4に実位置の遅延量Δt分だけサンプリングクロックパ
ターンを遅延させて出力する設定を行ない、デジタル遅
延回路34から出力される信号によりA/D変換回路2
3でデータをサンプリングさせることで、実位置の遅延
を補償した、歪みのない画像が得られるようにする。
【0034】ここで、1画像を取得するまでの時間を変
更するために駆動周波数を変更した場合には、上記図8
で示すように遅延量が変化する。さらに走査範囲を変更
するためにX方向スキャナ4及びY方向スキャナ5を構
成するガルバノメータミラーの振幅範囲を変更した場合
も、生じる遅延量は図6に示すように振幅の増大に伴っ
て拡大するようになる。
更するために駆動周波数を変更した場合には、上記図8
で示すように遅延量が変化する。さらに走査範囲を変更
するためにX方向スキャナ4及びY方向スキャナ5を構
成するガルバノメータミラーの振幅範囲を変更した場合
も、生じる遅延量は図6に示すように振幅の増大に伴っ
て拡大するようになる。
【0035】そこでデジタル遅延回路34では、その遅
延量を可変できるようにFIFOメモリなどで構成して
おくことで、ガルバノメータミラーの振幅を変更した場
合にも適切なサンプリングクロックを発生させることが
できる。
延量を可変できるようにFIFOメモリなどで構成して
おくことで、ガルバノメータミラーの振幅を変更した場
合にも適切なサンプリングクロックを発生させることが
できる。
【0036】なお、上記した遅延量については、予め駆
動周波数、駆動振幅をパラメータとしてその遅延量をデ
ータテーブルあるいは近似式として持っておくものとし
ておいてもよいし、あるいは実際の走査位置を検出でき
るような検出手段を別途設けておいてもよい。
動周波数、駆動振幅をパラメータとしてその遅延量をデ
ータテーブルあるいは近似式として持っておくものとし
ておいてもよいし、あるいは実際の走査位置を検出でき
るような検出手段を別途設けておいてもよい。
【0037】一方、一走査線内で、サンプリングの開始
位置を示す同期信号は、通常の構成では、上記サンプリ
ングクロックパターン同様にメモリ30に専用のビット
を設け、任意の位置で同期信号パルスが出力できるよう
に構成するが、本発明の駆動波形発生回路19で同様の
構成を採ると、デジタル遅延回路34の回路規模、具体
的に該遅延回路をFIFOメモリで構成した場合にはそ
のメモリ容量が2倍必要になるという欠点がある。
位置を示す同期信号は、通常の構成では、上記サンプリ
ングクロックパターン同様にメモリ30に専用のビット
を設け、任意の位置で同期信号パルスが出力できるよう
に構成するが、本発明の駆動波形発生回路19で同様の
構成を採ると、デジタル遅延回路34の回路規模、具体
的に該遅延回路をFIFOメモリで構成した場合にはそ
のメモリ容量が2倍必要になるという欠点がある。
【0038】そこで本実施の形態ではアドレス比較回路
37を設置している。このアドレス比較回路37は、メ
モリアドレス制御回路36からアドレスバスに出力され
るアドレス値と、CPU38により設定された比較アド
レス値とが一致した場合に同期信号を発生してA/D変
換回路23に出力する。
37を設置している。このアドレス比較回路37は、メ
モリアドレス制御回路36からアドレスバスに出力され
るアドレス値と、CPU38により設定された比較アド
レス値とが一致した場合に同期信号を発生してA/D変
換回路23に出力する。
【0039】このように構成することで、上記デジタル
遅延回路34の遅延量に合わせて比較アドレスの変更を
行なうのみで同期信号の出力されるタイミングを任意に
設定することが可能となる。ここで比較アドレスの設定
についても、上記サンプリングクロックパターンデータ
の遅延量と同様に、データテーブルとして予め保存して
いたものを使用するか、あるいは実際の走査位置を検出
する手段を別途設けるようにすることで、最適な設定値
を得ることができる。
遅延回路34の遅延量に合わせて比較アドレスの変更を
行なうのみで同期信号の出力されるタイミングを任意に
設定することが可能となる。ここで比較アドレスの設定
についても、上記サンプリングクロックパターンデータ
の遅延量と同様に、データテーブルとして予め保存して
いたものを使用するか、あるいは実際の走査位置を検出
する手段を別途設けるようにすることで、最適な設定値
を得ることができる。
【0040】以上のような駆動波形発生回路19を用い
ることで、X方向スキャナ4及びY方向スキャナ5を構
成するガルバノメータミラーの駆動信号と実際の走査位
置との遅延を補償し、駆動周波数、振幅の変更に対して
も適宜遅延量を調整できることから、高速に且つ歪みの
ない2次元画像を取得することが可能となるものであ
る。
ることで、X方向スキャナ4及びY方向スキャナ5を構
成するガルバノメータミラーの駆動信号と実際の走査位
置との遅延を補償し、駆動周波数、振幅の変更に対して
も適宜遅延量を調整できることから、高速に且つ歪みの
ない2次元画像を取得することが可能となるものであ
る。
【0041】次に、走査の往路と復路の双方で同一範囲
のデータを得る場合について考える。この場合、上記ア
ドレス比較回路37に複数の比較アドレスを設定できる
ように構成し、それぞれのアドレスが一致した場合にA
/D変換回路23に対して同期信号を出力できるように
すると、図7のように正弦波駆動波形の1周期内で複数
の同期信号を得ることができるようになり、相互のサン
プリング位置を細かく調整可能とすることができる。
のデータを得る場合について考える。この場合、上記ア
ドレス比較回路37に複数の比較アドレスを設定できる
ように構成し、それぞれのアドレスが一致した場合にA
/D変換回路23に対して同期信号を出力できるように
すると、図7のように正弦波駆動波形の1周期内で複数
の同期信号を得ることができるようになり、相互のサン
プリング位置を細かく調整可能とすることができる。
【0042】すなわち、図7の駆動波形において、<1
>の位置から往路のサンプリングを開始し、n画素のデ
ータをサンプリングを終了する位置を<3>とすると、
復路のサンプリング開始位置は、正確に<2>の位置に
設定しなければならない。
>の位置から往路のサンプリングを開始し、n画素のデ
ータをサンプリングを終了する位置を<3>とすると、
復路のサンプリング開始位置は、正確に<2>の位置に
設定しなければならない。
【0043】このような場合、上記のような構成を用い
れば、2つの同期信号位置は、それぞれ任意な位置に設
定することができるため、<1>,<2>の位置に対応
するような同期信号を容易に設定することが可能とな
る。
れば、2つの同期信号位置は、それぞれ任意な位置に設
定することができるため、<1>,<2>の位置に対応
するような同期信号を容易に設定することが可能とな
る。
【0044】このように本実施の形態によれば、往路と
復路の双方を利用してデータのサンプリングを行なう往
復走査を実施する場合においても、歪みや画素ずれを生
じることがなく、画質の高い鮮明な画像を得ることがで
きる。
復路の双方を利用してデータのサンプリングを行なう往
復走査を実施する場合においても、歪みや画素ずれを生
じることがなく、画質の高い鮮明な画像を得ることがで
きる。
【0045】なお、本発明は上記実施の形態に限定され
るものではなく、その要旨を逸脱しない範囲内で種々変
形して実施することが可能であるものとする。前述した
本実施の形態では、ガルバノメータミラーの駆動信号と
して正弦波を例に説明したが、これに限られるものでは
なく、例えばサンプリングクロックと駆動波形データと
の対応関係を各種波形に応じて設定してやることで、ガ
ルバノメータミラーの駆動信号波形に三角波あるいは鋸
歯状波を用いたとしても、駆動しこと走査位置との遅延
を補償することが可能となる。
るものではなく、その要旨を逸脱しない範囲内で種々変
形して実施することが可能であるものとする。前述した
本実施の形態では、ガルバノメータミラーの駆動信号と
して正弦波を例に説明したが、これに限られるものでは
なく、例えばサンプリングクロックと駆動波形データと
の対応関係を各種波形に応じて設定してやることで、ガ
ルバノメータミラーの駆動信号波形に三角波あるいは鋸
歯状波を用いたとしても、駆動しこと走査位置との遅延
を補償することが可能となる。
【0046】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、ガ
ルバノメータミラーの駆動信号と実際の走査位置との遅
延を補償し、駆動周波数、振幅の変更に対しても、適宜
遅延量が調整できることから、高速かつ歪みのない画像
の取得が可能になる。さらに、往復走査の往路と復路両
方を利用してデータのサンプリングを行う場合において
も、歪みや、画素ずれのない画像を収集することが可能
となる。
ルバノメータミラーの駆動信号と実際の走査位置との遅
延を補償し、駆動周波数、振幅の変更に対しても、適宜
遅延量が調整できることから、高速かつ歪みのない画像
の取得が可能になる。さらに、往復走査の往路と復路両
方を利用してデータのサンプリングを行う場合において
も、歪みや、画素ずれのない画像を収集することが可能
となる。
【図1】本発明の実施の一形態に係る走査型レーザ顕微
鏡の基本構成示す図。
鏡の基本構成示す図。
【図2】図1の主として駆動波形発生回路内の詳細な回
路構成を示すブロック図。
路構成を示すブロック図。
【図3】同実施の形態に係る波形データのフォーマット
構成を示す図。
構成を示す図。
【図4】同実施の形態に係る動作を説明するための図。
【図5】同実施の形態に係る動作を説明するための図。
【図6】同実施の形態に係る動作を説明するための図。
【図7】同実施の形態に係る動作を説明するための図。
【図8】ガルバノメータミラーに与えられる駆動信号と
該ミラーの実位置との遅延量を説明する図。
該ミラーの実位置との遅延量を説明する図。
1…レーザ発振器 2…ビームエキスパンダ 3…光路分割素子 4…X方向スキャナ 5…Y方向スキャナ 6…瞳投影レンズ 7…結像レンズ 8…対物レンズ 9…サンプル 14…共焦点光学系 15…ダイクロイックミラー 16…光電変換回路 17…データ処理装置 18…CRTモニタ 19…駆動波形発生回路 21,22…スキャンドライブ回路 23…A/D変換回路 30…メモリ 32…D/A変換回路 34…ディジタル遅延回路 36…メモリアドレス制御回路 37…アドレス比較回路 38…CPU
Claims (3)
- 【請求項1】 レーザビームでサンプルを走査するスキ
ャナと、 上記サンプルからのデータを任意の走査位置でサンプリ
ングする検出器とを備えた走査型レーザ顕微鏡におい
て、 上記スキャナを駆動するための駆動波形データと任意の
走査位置でサンプルデータをサンプリングするためのサ
ンプリングクロックパターンとを同一のアドレスに保存
する記憶手段と、 上記記憶手段に保存されている駆動波形データに対して
上記サンプリングクロックパターンを任意の時間遅延さ
せて出力する遅延手段とを備え、 上記記憶手段の駆動波形データに基づいて上記スキャナ
を駆動し、 上記遅延手段によって上記検出器でサンプリングを行な
うためのサンプリングクロックを上記駆動波形データに
対応させて任意の時間遅延させることを特徴とする走査
型レーザ顕微鏡。 - 【請求項2】 上記記憶手段のアドレスを制御するアド
レス制御手段と、 上記アドレス制御手段から出力されるアドレスと比較さ
れる比較アドレスを設定する設定部と、 上記アドレス制御手段から出力されるアドレスと設定さ
れた比較アドレスとを比較し、一致した際に一致信号を
出力するアドレス比較手段とをさらに備え、 上記一致信号をサンプリング開始を示す同期信号とした
ことを特徴とする請求項1記載の走査型レーザ顕微鏡。 - 【請求項3】 上記アドレス比較手段は、複数のアドレ
スに対して一致信号を出力することを特徴とする請求項
2記載の走査型レーザ顕微鏡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10074513A JPH11271626A (ja) | 1998-03-23 | 1998-03-23 | 走査型レーザ顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10074513A JPH11271626A (ja) | 1998-03-23 | 1998-03-23 | 走査型レーザ顕微鏡 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11271626A true JPH11271626A (ja) | 1999-10-08 |
Family
ID=13549499
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10074513A Withdrawn JPH11271626A (ja) | 1998-03-23 | 1998-03-23 | 走査型レーザ顕微鏡 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11271626A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001159734A (ja) * | 1999-09-24 | 2001-06-12 | Olympus Optical Co Ltd | レーザ走査顕微鏡 |
| EP1178344A1 (de) * | 2000-08-03 | 2002-02-06 | Leica Microsystems Heidelberg GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Bildentzerrung in der Scanmikroskopie und Scanmikroskop |
| JP2004510295A (ja) * | 2000-09-20 | 2004-04-02 | エフ・イ−・アイ・カンパニー | 荷電粒子ビームシステムにおける同時の映像化と照射のためのリアルタイムモニタリング |
| WO2004031832A1 (ja) * | 2002-10-01 | 2004-04-15 | Sony Corporation | 光走査装置、像の位置の較正方法、及び画像表示装置 |
| JP2004138947A (ja) * | 2002-10-21 | 2004-05-13 | Keyence Corp | 走査モード選択可能な共焦点顕微鏡システム |
| WO2012020811A1 (ja) * | 2010-08-12 | 2012-02-16 | 株式会社ニコン | 走査型顕微鏡 |
| JP2016105968A (ja) * | 2016-03-22 | 2016-06-16 | 株式会社トプコン | 走査型眼底撮像装置、眼底撮像方法 |
| JP2016105967A (ja) * | 2016-03-22 | 2016-06-16 | 株式会社トプコン | 走査型眼底撮像装置、眼底撮像方法 |
-
1998
- 1998-03-23 JP JP10074513A patent/JPH11271626A/ja not_active Withdrawn
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001159734A (ja) * | 1999-09-24 | 2001-06-12 | Olympus Optical Co Ltd | レーザ走査顕微鏡 |
| EP1178344A1 (de) * | 2000-08-03 | 2002-02-06 | Leica Microsystems Heidelberg GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Bildentzerrung in der Scanmikroskopie und Scanmikroskop |
| US6677579B2 (en) * | 2000-08-03 | 2004-01-13 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Method and apparatus for phase correction of position and detection signals in scanning microscopy, and scanning microscope |
| JP2013138023A (ja) * | 2000-09-20 | 2013-07-11 | Fei Co | 荷電粒子ビームシステムにおける同時の映像化と照射のためのリアルタイムモニタリング |
| JP2004510295A (ja) * | 2000-09-20 | 2004-04-02 | エフ・イ−・アイ・カンパニー | 荷電粒子ビームシステムにおける同時の映像化と照射のためのリアルタイムモニタリング |
| WO2004031832A1 (ja) * | 2002-10-01 | 2004-04-15 | Sony Corporation | 光走査装置、像の位置の較正方法、及び画像表示装置 |
| JPWO2004031832A1 (ja) * | 2002-10-01 | 2006-02-02 | ソニー株式会社 | 光走査装置、像の位置の較正方法、及び画像表示装置 |
| US7079297B2 (en) | 2002-10-01 | 2006-07-18 | Sony Coporation | Optical scan device, image position calibration method, and image display device |
| CN1311270C (zh) * | 2002-10-01 | 2007-04-18 | 索尼株式会社 | 光学扫描设备、图像位置的校正方法和图像显示设备 |
| EP1455217A4 (en) * | 2002-10-01 | 2009-12-23 | Sony Corp | OPTICAL SCREENING DEVICE, METHOD FOR IMAGE POSITION CALIBRATION AND PICTURE DISPLAY DEVICE |
| JP4595543B2 (ja) * | 2002-10-01 | 2010-12-08 | ソニー株式会社 | 画像表示装置および較正方法 |
| JP2004138947A (ja) * | 2002-10-21 | 2004-05-13 | Keyence Corp | 走査モード選択可能な共焦点顕微鏡システム |
| WO2012020811A1 (ja) * | 2010-08-12 | 2012-02-16 | 株式会社ニコン | 走査型顕微鏡 |
| JPWO2012020811A1 (ja) * | 2010-08-12 | 2013-10-28 | 株式会社ニコン | 走査型顕微鏡 |
| US9091861B2 (en) | 2010-08-12 | 2015-07-28 | Nikon Corporation | Scanning microscope |
| JP2016105968A (ja) * | 2016-03-22 | 2016-06-16 | 株式会社トプコン | 走査型眼底撮像装置、眼底撮像方法 |
| JP2016105967A (ja) * | 2016-03-22 | 2016-06-16 | 株式会社トプコン | 走査型眼底撮像装置、眼底撮像方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050607 |