JPH11273025A - 薄膜磁気ヘッド - Google Patents

薄膜磁気ヘッド

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JPH11273025A
JPH11273025A JP7515898A JP7515898A JPH11273025A JP H11273025 A JPH11273025 A JP H11273025A JP 7515898 A JP7515898 A JP 7515898A JP 7515898 A JP7515898 A JP 7515898A JP H11273025 A JPH11273025 A JP H11273025A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 薄膜磁気ヘッドのトラック幅を狭く形成する
際に、上部磁極と上部磁気コアを精度よく位置合わせで
きる構造の薄膜磁気ヘッドを提供する。 【解決手段】 磁気抵抗効果素子層およびシールド層を
備える磁気抵抗効果型ヘッドと、上部磁気コア層と下部
磁気コア層とコイル層を備える誘導型ヘッドとを、基板
上に積み重ねて形成した薄膜磁気ヘッドにおいて、上部
磁気コア層および下部磁気コア層の先端部がトラック幅
に規制され、前記上部磁気コア層および下部磁気コア層
のトラック幅に規制されている部分の側面に0.5μm
未満の膜厚を有する第一保護膜と備え、前記誘導型ヘッ
ドおよび第一保護膜を覆う第二保護膜を備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気記録装置に用
いる磁気ヘッドに関し、特にハードディスク装置に用い
る薄膜磁気ヘッドに関する。
【0002】
【従来の技術】磁気記録の分野では、高記録密度化に伴
って狭トラック化が進んでおり、記録過程における、ト
ラック幅の両サイドに書きにじみを生ずる現象、即ちサ
イドフリンジングが無視できない問題となっている。こ
のサイドフリンジングを低減する手段として、図11に
示すように、下部磁気コア101の上部磁気コア103
と記録ギャップ102を介して対向する部分を凸状に
し、記録磁界の両サイドへの広がりを抑えるものがあ
る。
【0003】前記凸状の部分を形成するための方法につ
いて、複数の例を挙げて説明する。第1の方法を図12
に示す。先ず、平坦な下部磁気コア上にマスク膜104
を形成し、イオンミリングによりマスク膜に被覆されて
いない領域をエッチングして、凸形状を形成する。エッ
チングによって除去される部分は図中点線で囲った領域
である。その後、記録ギャップ層を形成し、その上に上
部磁気コアを形成するものである。
【0004】第2の方法について図13により説明す
る。先ず、平坦な下部磁気コアおよび記録ギャップ層を
形成し、その上にフレームめっき法により上部磁気コア
103を形成する。この上部磁気コア103をマスクと
するイオンミリングを行うことで、図13の点線で示し
た凸形状を得るものである。
【0005】第3の方法として、特開平6−15024
6に示された方法について図14および図15に示す。
下部磁気コア101、記録ギャップ層102および上部
磁気コア層の一部105を成膜した後、マスク膜104
を形成する。そして、イオンミリングにより図4の点線
で示した凸形状を形成する。その上からスペーサ106
を成膜し、研磨等によって平坦化してマスク膜104を
露出させた後、マスク膜104を除去し、しかる後に上
部磁気コア103を形成するものである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】前記第1の方法では、
下部磁気コアの凸形状形成後に上部磁気コアを形成する
際、位置ずれにより磁極の形状が歪んで図16に示すよ
うな不良が発生する。これに対し、前記第2の方法で
は、位置ずれの問題は無い。しかし、狭トラック化が進
むにつれ、厚膜を有する上部磁気コアを狭い幅にフレー
ムめっき法で形成すること自体が困難であり、トラック
幅を高精度に形成出来ない欠点がある。
【0007】第3の方法は、上部磁気コアのトラック幅
を形成する部分が厚膜である必要が無いため、高精度な
トラック幅形成が可能であるが、平坦化処理設備および
技術が必要となり、また工数が多くなるという欠点があ
る。そこで、本発明はトラック幅を狭く形成するととも
に、トラック幅で規定される構造を精度よく形成するこ
とを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の薄膜磁気ヘッド
は、磁気抵抗効果素子層およびシールド層を備える磁気
抵抗効果型ヘッドと、上部磁気コア層と下部磁気コア層
とコイル層を備える誘導型ヘッドとを、基板上に積み重
ねて形成した薄膜磁気ヘッドにおいて、上部磁気コア層
および下部磁気コア層の先端部がトラック幅に規制さ
れ、前記上部磁気コア層および下部磁気コア層のトラッ
ク幅に規制されている部分の側面に0.5μm未満の膜
厚を有する第一保護膜と備え、前記誘導型ヘッドおよび
第一保護膜を覆う第二保護膜を備えることを特徴とす
る。
【0009】また、本発明の薄膜磁気ヘッドは、後部で
磁気的に接続された膜状の下部磁気コア層および上部磁
気コア層の先端に記録ギャップ層が設けられ、後部の周
囲にコイル層が設けられている薄膜磁気ヘッドであっ
て、前記下部磁気コア層と前記記録ギャップ層の間に下
部磁極層を設け、前記上部磁気コア層と前記記録ギャッ
プ層の間に上部磁極を設け、前記下部磁極層と前記記録
ギャップ層と前記上部磁極を同一のトラック幅Twで規
定する側面を備え、前記側面に非磁性絶縁膜を接合し、
前記非磁性絶縁膜の厚さdと上部磁気コア層の幅Wtに
ついて、Tw+2d>Wtであることを特徴とする。
【0010】また、本発明の薄膜磁気ヘッドは、後部で
磁気的に接続された膜状の下部コア層および上部磁気コ
ア層の先端に記録ギャップ層が設けられ、後部の周囲に
コイル層が設けられている薄膜磁気ヘッドであって、前
記上部磁気コア層は幅Wtの領域を主体にするとともに
凸部を備え、前記凸部はトラック幅Twで前記記録ギャ
ップ層に接合され、前記凸部はその幅がTwからWtま
で連続的に増大するオーバーハング面を備えることを特
徴とする。
【0011】上記の本発明の薄膜磁気ヘッドにおいて、
上部磁気コア層の幅Wtとトラック幅Twが、Tw<W
tの関係にあることを特徴とする。また、上記の本発明
の薄膜磁気ヘッドにおいて、トラック幅の近傍において
前記第一保護膜が0.1から0.5μmの厚さを有し、
前記第一保護層が下部磁気コアと接合する部分の高さh
が、d≦h≦Thの関係にあり、 Thは前記側面の高
さであることを特徴とする。ここでいう高さとは、トラ
ック幅方向に略垂直な向きの寸法または厚さのことを指
す。
【0012】上記の本発明の薄膜磁気ヘッドにおいて、
前記上部磁気コア層と上部磁極の接合面を略円形とする
ことを特徴とする。また、上記の本発明の薄膜磁気ヘッ
ドにおいて、前記第一保護膜をABS面からみた断面形
状が、略L字であることを特徴とする。
【0013】上記本発明によれば、上部および下部磁気
コア、もしくは上部および下部磁気コアの一部である上
部および下部磁極において、記録ギャップ層に接する部
分が同一面でトラック幅に規制されているため、前記位
置ずれの問題は発生しない。また、上部磁気コアのトラ
ック幅に規制する部分(上部磁極とも称する)は、上部
磁気コアの一部で良いため、厚膜を形成する必要が無
く、狭トラック幅の形成、および、高精度なトラック幅
制御が可能である。そして、これらの製造プロセスで
は、特に平坦化処理を行う必要はなく、フォトリソグラ
フィー(イオンミリング、エッチング含む)により形成
が可能である。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、図面によって本発明の実施
の形態について説明する。図1は本発明の薄膜磁気ヘッ
ドの側面図である。この薄膜磁気ヘッドは、絶縁層を設
けた基板(図中では記載を省略)の上に、ボトムシール
ド22と、再生ギャップ層を介してボトムシールドと下
部磁気コアの間に設けた磁気抵抗効果素子21と、シー
ルドとしての機能も備える下部磁気コア10と、記録ギ
ャップ層12を挟んで下部磁気コアと対向する上部磁極
13と、上部磁極に磁気的に一体となって接合された上
部磁気コアと、トラック幅Twの幅に規定された記録ギ
ャップ層12と上部磁極13と下部磁気11の側面に接
合した第一保護膜であるアルミナ膜14を備える構造で
ある。さらに、図中での記載は省略したが、この構造を
覆うように第二の保護膜を積層する。
【0015】ここで、磁気抵抗効果素子21は、磁気記
録媒体からの磁界信号を読み取って再生出力を得るもの
である。図中では省力したが、磁気抵抗効果素子21の
トラック幅方向の両端には夫々、電極膜を設ける。この
電極膜を通じて磁気抵抗効果素子に電流を供給すること
により再生出力を得ることができる。以下の説明で開示
する本発明の薄膜磁気ヘッドは、MR素子を備えた薄膜
磁気ヘッドであり、図中で記載を省略したものの、図1
に示すように下部磁気コアの下に、磁気抵抗効果素子と
ボトムシールド膜を備えた磁気抵抗効果ヘッドの構造
と、絶縁膜を積層した基板を備えるものとする。
【0016】図1において、第一保護膜であるアルミナ
膜14は、下部磁気コアに接合する主要部と、トラック
幅に規定された側面に接合する側部23を備える。図に
示すように、ほぼ直角な二つの面に跨ってアルミナ膜を
接合しているため、厚さを薄くしないとアルミナ膜から
下部磁気コアなどに印加される応力が大きくなる。下部
磁気コアと下部磁極と上部磁極と上部磁気コアは、材料
に磁性膜を用いるため、外部から応力を受けると磁歪を
発生し、再生特性のノイズや記録特性の記録磁界の変動
等の問題を引き起こす。従って、トラック幅を規定した
領域の近傍において、第一保護膜の側部23の厚さは
0.5μm未満にすることが望ましい。また、第一保護
膜をABS面(図1の正面で表される面)から見たとき
の断面形状を略L字型にすることができる。なお、第一
保護膜に使用可能な材料としては、アルミナ、窒化シリ
コン、酸化シリコン等が挙げられる。
【0017】次に、他の実施形態を説明する。図2は本
発明の薄膜磁気ヘッドの側面図である。構成自体は図1
の実施形態とほぼ同様であるが、第一保護膜の側部23
の形状が滑らかな曲線で構成されている。このように側
部23の形状は曲線、直線、またはそれらの組み合わせ
で構成することが可能である。一方、上部磁気コアは、
幅Wtを有する主要部と、上部磁極13と接合する凸部
を備える。前記凸部は前記側部23に接合させるため、
記録ギャップ側から見てその幅がTwからWtまで連続
的に増大する形状とする。従って、上部磁気コアの側面
にはオーバーハング面25が形成される。このようにし
て上部磁気コアの主要部と上部磁極13の側面を連続的
に接合することで、磁気ギャップ層の近傍の上部磁気コ
ア内にて、ノイズの原因となる磁壁の発生を抑制するこ
とができる。また、上部磁気コアの下部磁気コアと対向
する側に、90度以下の鋭角を無くすため、サイドフリ
ンジングも抑制できる。また、オーバーハング面25と
下部磁気コア10の間を第一保護膜で埋めた後に第二の
保護膜を形成するため、保護膜の空隙の発生を防止でき
る。
【0018】以下、図3から図10までに示した斜視図
を用いて、本発明の薄膜磁気ヘッドを製造する際の工程
を順に説明する。図3は下部磁気コア10上に下部磁極
11(もしくは下部磁気コアと一体の凸部)、記録キャ
ップ層12および上部磁極13(もしくは上部磁気コア
凸部)の3層をを形成したものである。前記3層は、一
括ミリングにより成形するため、同一側面によりトラッ
ク幅Twが規制されており、上部および下部磁極の位置
ずれの問題は生じない。
【0019】前記3層の形成後、図4に示すように第一
保護膜であるアルミナ膜14をスパッタ法により形成し
た。前記3層の側面に形成する第一保護膜の膜厚dは、
0.1〜0.5μmである。第一保護膜形成後、図5に
示すように、アルミナを除去する部分に穴をあけたレジ
ストパターン15を形成した。レジストパターン15形
成後、図6に示すようにイオンミリング若しくはウェッ
トエッチングにより、前記3層上のアルミナ膜を除去し
た。この際、アルミナ膜を円形に除去してもよいが、略
方形に除去するほうが上部磁気コアと上部磁極の側面が
連続的に接合するできる。従って記録特性の上から上記
の穴を略方形にすることが望ましい。
【0020】アルミナ除去後、図7に示す様にレジスト
パターン15を除去した。このようにして、浮上面から
見て略L字形の第一保護膜14が形成できた。その後、
図8に示すように、インシュレータ層16およびコイル
層17をフォトリソグラフィーおよびメッキ法により形
成した。図8では、コイル層の一部を記載して、その全
体は記載を省略した。
【0021】その後、上部磁気コア用のメッキ下地膜を
全面に成膜した後、図9に示すように、上部磁気コアを
フレームメッキで形成する為のフレームレジスト18を
形成した。この時、フレームレジストのスリット幅が後
工程の上部磁気コアのABS面側の幅Wtに相当する。
薄膜磁気ヘッドの狭トラック化において、このスリット
幅を狭くすることが、最も困難な技術の一つである。本
発明では、第一保護膜を形成しているため、記録トラッ
ク幅Twに対して、上部磁気コア幅Wtを、Wt<Tw
+2dとすれば良く、スリット形成が容易である。ま
た、上部磁極上にレジストパターンを形成する際の、ト
ラック幅方向の位置ずれ量ΔTは、(Tw+2d−W
t)/2まで許容でき、露光時の位置合わせ精度に対し
ても有利になる。
【0022】フレームレジスト形成後、図10に示すよ
うにフレームメッキ法で上部磁気コア19を形成した。
さらに図10では記載を省略したが、上部磁気コアおよ
び第一保護膜を覆う様に第二保護層である非磁性絶縁膜
を積層した。
【0023】
【発明の効果】本発明を用いることにより、薄膜磁気ヘ
ッドのトラック幅を狭く形成するとともにトラック幅で
規定される構造を精度よく形成することが可能となる。
また、製造工程の工数を低減することもできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の薄膜磁気ヘッドの側面図。
【図2】本発明の薄膜磁気ヘッドの側面図。
【図3】本発明の実施例の一工程を説明する斜視図。
【図4】本発明の実施例の一工程を説明する斜視図。
【図5】本発明の実施例の一工程を説明する斜視図。
【図6】本発明の実施例の一工程を説明する斜視図。
【図7】本発明の実施例の一工程を説明する斜視図。
【図8】本発明の実施例の一工程を説明する斜視図。
【図9】本発明の実施例の一工程を説明する斜視図。
【図10】本発明の実施例の一工程を説明する斜視図。
【図11】従来の薄膜磁気ヘッドの側面図。
【図12】従来の薄膜磁気ヘッドの側面図。
【図13】従来の薄膜磁気ヘッドの側面図。
【図14】従来の薄膜磁気ヘッドの側面図。
【図15】従来の薄膜磁気ヘッドの側面図。
【図16】従来の薄膜磁気ヘッドの側面図。
【符号の説明】
10 下部磁気コア、11 下部磁極、12 記録ギャ
ップ層、13 上部磁極、14 アルミナ膜、15 レ
ジストパターン、16 インシュレータ層、17 コイ
ル層、18 フレームレジスト、19 上部磁極コア、
21 磁気抵抗効果素子、22 ボトムシールド、23
側部、24 第二の保護膜、25 オーバーハング
面、101 下部磁気コア、102 記録キャップ層、
103 上部磁気コア、104 マスク膜、105 上
部磁極の一部、106 スペーサ。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 磁気抵抗効果素子層およびシールド層を
    備える磁気抵抗効果型ヘッドと、上部磁気コア層と下部
    磁気コア層とコイル層を備える誘導型ヘッドとを、基板
    上に積み重ねて形成した薄膜磁気ヘッドにおいて、上部
    磁気コア層および下部磁気コア層の先端部がトラック幅
    に規制され、前記上部磁気コア層および下部磁気コア層
    のトラック幅に規制されている部分の側面に0.5μm
    未満の膜厚を有する第一保護膜と備え、前記誘導型ヘッ
    ドおよび第一保護膜を覆う第二保護膜を備えることを特
    徴とする薄膜磁気ヘッド。
  2. 【請求項2】 後部で磁気的に接続された膜状の下部磁
    気コア層および上部磁気コア層の先端に記録ギャップ層
    が設けられ、後部の周囲にコイル層が設けられている薄
    膜磁気ヘッドであって、前記下部磁気コア層と前記記録
    ギャップ層の間に下部磁極層を設け、前記上部磁気コア
    層と前記記録ギャップ層の間に上部磁極を設け、前記下
    部磁極層と前記記録ギャップ層と前記上部磁極を同一の
    トラック幅Twで規定する側面を備え、前記側面に非磁
    性絶縁膜を接合し、前記非磁性絶縁膜の厚さdと上部磁
    気コア層の幅Wtについて、Tw+2d>Wtであるこ
    とを特徴とする薄膜磁気ヘッド。
  3. 【請求項3】 後部で磁気的に接続された膜状の下部コ
    ア層および上部磁気コア層の先端に記録ギャップ層が設
    けられ、後部の周囲にコイル層が設けられている薄膜磁
    気ヘッドであって、前記上部磁気コア層は幅Wtの領域
    を主体にするとともに凸部を備え、前記凸部はトラック
    幅Twで前記記録ギャップ層に接合され、前記凸部はそ
    の幅がTwからWtまで連続的に増大するオーバーハン
    グ面を備えることを特徴とする薄膜磁気ヘッド。
  4. 【請求項4】 上部磁気コア層の幅Wtとトラック幅T
    wが、Tw<Wtの関係にあることを特徴とする請求項
    3に記載の薄膜磁気ヘッド。
  5. 【請求項5】 トラック幅の近傍において前記第一保護
    膜が0.1から0.5μmの厚さを有し、前記第一保護
    層が下部磁気コアと接合する部分の高さhが、d≦h≦
    Thの関係にあり、 Thは前記側面の高さであること
    を特徴とする請求項1または2のいずれかに記載の薄膜
    磁気ヘッド。
  6. 【請求項6】 前記上部磁気コア層と上部磁極の接合面
    を略円形とすることを特徴とする請求項2に記載の薄膜
    磁気ヘッド。
  7. 【請求項7】 前記第一保護膜をABS面からみた断面
    形状が、略L字であることを特徴とする請求項1に記載
    の薄膜磁気ヘッド。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100363461B1 (ko) * 1999-03-24 2002-11-30 알프스 덴키 가부시키가이샤 박막 자기 헤드 및 박막 자기 헤드의 제조방법

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