JPH11273092A - 光学ヘッド及び光ディスク装置 - Google Patents
光学ヘッド及び光ディスク装置Info
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- JPH11273092A JPH11273092A JP10138972A JP13897298A JPH11273092A JP H11273092 A JPH11273092 A JP H11273092A JP 10138972 A JP10138972 A JP 10138972A JP 13897298 A JP13897298 A JP 13897298A JP H11273092 A JPH11273092 A JP H11273092A
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- objective lens
- focus
- optical system
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 装置全体を大型化することなく、対物レンズ
と光学記録媒体との衝突を防止し、適切なフォーカス引
き込み動作を行うことができる光学ヘッドを提供する。 【解決手段】 第1の光学系11の2群対物レンズ部2
2のフォーカス引き込みを行う際に、第2のフォーカシ
ング制御手段が対物レンズ34のフォーカス引き込みを
行うことにより、2群対物レンズ部22を第1のフォー
カシング制御手段のフォーカス引き込み範囲内に移動さ
せるようにしている。
と光学記録媒体との衝突を防止し、適切なフォーカス引
き込み動作を行うことができる光学ヘッドを提供する。 【解決手段】 第1の光学系11の2群対物レンズ部2
2のフォーカス引き込みを行う際に、第2のフォーカシ
ング制御手段が対物レンズ34のフォーカス引き込みを
行うことにより、2群対物レンズ部22を第1のフォー
カシング制御手段のフォーカス引き込み範囲内に移動さ
せるようにしている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば光ディスク
や光磁気ディスク等の光学記録媒体から情報信号を再生
する光学ヘッド及び光ディスク装置に関する。
や光磁気ディスク等の光学記録媒体から情報信号を再生
する光学ヘッド及び光ディスク装置に関する。
【0002】
【従来の技術】再生専用光ディスク、相変化型光ディス
ク、光磁気ディスク等の光学記録媒体は、映像情報、音
声情報又はコンピュータ用プログラム等のデータを保存
するために、広く使用されている。そして、これら光学
記録媒体に対する高密度記録化及び大容量化の要求は、
近年益々強くなっている。
ク、光磁気ディスク等の光学記録媒体は、映像情報、音
声情報又はコンピュータ用プログラム等のデータを保存
するために、広く使用されている。そして、これら光学
記録媒体に対する高密度記録化及び大容量化の要求は、
近年益々強くなっている。
【0003】このような光学記録媒体の記録密度を向上
させるには、光学ヘッドに搭載される対物レンズの開口
数を大きくするとともに、光学記録媒体の情報信号が記
録される記録層上に形成された光透過層の厚みを薄くし
て、対物レンズによって集光されるレーザ光のスポット
径を小径化することが有効である。
させるには、光学ヘッドに搭載される対物レンズの開口
数を大きくするとともに、光学記録媒体の情報信号が記
録される記録層上に形成された光透過層の厚みを薄くし
て、対物レンズによって集光されるレーザ光のスポット
径を小径化することが有効である。
【0004】また、対物レンズの開口数を大きくするた
めには、対物レンズと光学記録媒体との間の差動距離、
いわゆるワーキングディスタンスを小さく設定すること
が有効である。
めには、対物レンズと光学記録媒体との間の差動距離、
いわゆるワーキングディスタンスを小さく設定すること
が有効である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、光学ヘ
ッドにおいては、高密度記録化を達成すべく対物レンズ
の開口数を大きくした場合、対物レンズのフォーカス引
き込み動作が可能な範囲、いわゆるフォーカス引き込み
範囲が狭くなるという問題がある。
ッドにおいては、高密度記録化を達成すべく対物レンズ
の開口数を大きくした場合、対物レンズのフォーカス引
き込み動作が可能な範囲、いわゆるフォーカス引き込み
範囲が狭くなるという問題がある。
【0006】光学ヘッドにおいては、フォーカス引き込
み範囲が狭いと、フォーカス引き込み範囲を探す動作、
いわゆるフォーカスサーチに手間がかかり、また、ワー
キングディスタンスが小さいために、フォーカスサーチ
の際に、対物レンズが光学記録媒体に衝突してしまう場
合がある。
み範囲が狭いと、フォーカス引き込み範囲を探す動作、
いわゆるフォーカスサーチに手間がかかり、また、ワー
キングディスタンスが小さいために、フォーカスサーチ
の際に、対物レンズが光学記録媒体に衝突してしまう場
合がある。
【0007】また、対物レンズによって集光されるレー
ザ光のスポット径が小さく、光透過層の厚みが薄いと、
光透過層に入射する際のレーザ光のビーム径も小さくな
る。したがって、高密度記録に対応した光学ヘッドにお
いては、光学記録媒体の光透過層の表面に微細な塵挨等
の汚れや微小な傷等があると、対物レンズのフォーカシ
ングサーボ及びトラッキングサーボが外れてしまう場合
がある。
ザ光のスポット径が小さく、光透過層の厚みが薄いと、
光透過層に入射する際のレーザ光のビーム径も小さくな
る。したがって、高密度記録に対応した光学ヘッドにお
いては、光学記録媒体の光透過層の表面に微細な塵挨等
の汚れや微小な傷等があると、対物レンズのフォーカシ
ングサーボ及びトラッキングサーボが外れてしまう場合
がある。
【0008】そして、この光学ヘッドは、対物レンズの
フォーカシングサーボが外れた場合、再度フォーカスサ
ーチを行う必要があるが、この場合も、ワーキングディ
スタンスが小さいために、対物レンズが光学記録媒体に
衝突してしまう場合がある。
フォーカシングサーボが外れた場合、再度フォーカスサ
ーチを行う必要があるが、この場合も、ワーキングディ
スタンスが小さいために、対物レンズが光学記録媒体に
衝突してしまう場合がある。
【0009】そこで、光学ヘッドにおいては、微小なワ
ーキングディスタンスを制御するために、反射型のフォ
トセンサや静電容量検出センサ等を備える構成として、
対物レンズと光学記録媒体との衝突の防止が図られた
が、動作信頼性が乏しく、また光学ヘッド自体が大型化
してしまうという不都合が生じる。
ーキングディスタンスを制御するために、反射型のフォ
トセンサや静電容量検出センサ等を備える構成として、
対物レンズと光学記録媒体との衝突の防止が図られた
が、動作信頼性が乏しく、また光学ヘッド自体が大型化
してしまうという不都合が生じる。
【0010】本発明は、以上のような技術的課題を解決
すべく創案されたものであり、装置全体を大型化するこ
となく、対物レンズと光学記録媒体との衝突を防止し、
適切なフォーカス引き込み動作を行うことができる光学
ヘッド及び光ディスク装置を提供することを目的とす
る。
すべく創案されたものであり、装置全体を大型化するこ
となく、対物レンズと光学記録媒体との衝突を防止し、
適切なフォーカス引き込み動作を行うことができる光学
ヘッド及び光ディスク装置を提供することを目的とす
る。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明に係る光学ヘッド
は、第1の光学系と第2の光学系とを備えている。第1
の光学系は、光学記録媒体に対向配設される第1の対物
レンズと、第1の対物レンズと光学記録媒体との間の距
離を一定に保つための第1のフォーカシング制御手段と
を有し、第2の光学系は、光学記録媒体に対向配設され
る第2の対物レンズと、第1のフォーカシング制御手段
よりも引き込み範囲の広い第2のフォーカシング制御手
段とを有する。
は、第1の光学系と第2の光学系とを備えている。第1
の光学系は、光学記録媒体に対向配設される第1の対物
レンズと、第1の対物レンズと光学記録媒体との間の距
離を一定に保つための第1のフォーカシング制御手段と
を有し、第2の光学系は、光学記録媒体に対向配設され
る第2の対物レンズと、第1のフォーカシング制御手段
よりも引き込み範囲の広い第2のフォーカシング制御手
段とを有する。
【0012】この光学ヘッドは、第1の対物レンズと第
2の対物レンズとが、同一のボビンに支持されている。
2の対物レンズとが、同一のボビンに支持されている。
【0013】そして、この光学ヘッドは、第1の光学系
の第1の対物レンズのフォーカス引き込み動作を行う際
に、第2のフォーカシング制御手段が第2の対物レンズ
のフォーカス引き込み動作を行うことにより、第1の対
物レンズを第1のフォーカシング制御手段のフォーカス
引き込み範囲内に移動させることを特徴としている。
の第1の対物レンズのフォーカス引き込み動作を行う際
に、第2のフォーカシング制御手段が第2の対物レンズ
のフォーカス引き込み動作を行うことにより、第1の対
物レンズを第1のフォーカシング制御手段のフォーカス
引き込み範囲内に移動させることを特徴としている。
【0014】すなわち、この光学ヘッドは、第1の光学
系の第1の対物レンズのフォーカス引き込み動作を行う
際に、まず、第2のフォーカシング制御手段を駆動し
て、第2の光学系の第2の対物レンズのフォーカス引き
込み動作を行う。
系の第1の対物レンズのフォーカス引き込み動作を行う
際に、まず、第2のフォーカシング制御手段を駆動し
て、第2の光学系の第2の対物レンズのフォーカス引き
込み動作を行う。
【0015】第1の対物レンズと第2の対物レンズと
は、それぞれ同一のボビンに支持されているので、第2
の対物レンズのフォーカス引き込み動作を行うことによ
り、第1の対物レンズを第1のフォーカシング制御手段
のフォーカス引き込み範囲内に移動させることが可能と
なる。
は、それぞれ同一のボビンに支持されているので、第2
の対物レンズのフォーカス引き込み動作を行うことによ
り、第1の対物レンズを第1のフォーカシング制御手段
のフォーカス引き込み範囲内に移動させることが可能と
なる。
【0016】本発明に係る光学ヘッドは、このようにフ
ォーカス引き込み範囲の広い第2のフォーカシング制御
手段を利用して、第1の対物レンズを第1のフォーカシ
ング制御手段のフォーカス引き込み範囲内に移動させる
ようにしているので、第1の対物レンズのフォーカス引
き込み動作が容易となる。
ォーカス引き込み範囲の広い第2のフォーカシング制御
手段を利用して、第1の対物レンズを第1のフォーカシ
ング制御手段のフォーカス引き込み範囲内に移動させる
ようにしているので、第1の対物レンズのフォーカス引
き込み動作が容易となる。
【0017】なお、第1の対物レンズは、光軸を一致し
て配設された複数のレンズを備えてなることが望まし
い。
て配設された複数のレンズを備えてなることが望まし
い。
【0018】光学ヘッドは、第1の対物レンズが光軸を
一致して配設された複数のレンズを備えることにより、
第1の対物レンズの開口数が高められ、記録密度の高い
光学記録媒体に対応することが可能となる。
一致して配設された複数のレンズを備えることにより、
第1の対物レンズの開口数が高められ、記録密度の高い
光学記録媒体に対応することが可能となる。
【0019】また、光学ヘッドは、第1の光学系が、第
1の対物レンズによって集束した光を第1の光学記録媒
体に対して照射し、第2の光学系が、第2の対物レンズ
によって集束した光を第1の光学記録媒体と記録密度の
異なる第2の光学記録媒体に対して照射することが望ま
しい。
1の対物レンズによって集束した光を第1の光学記録媒
体に対して照射し、第2の光学系が、第2の対物レンズ
によって集束した光を第1の光学記録媒体と記録密度の
異なる第2の光学記録媒体に対して照射することが望ま
しい。
【0020】光学ヘッドは、以上のように構成されるこ
とにより、複数種の光学記録媒体に対応可能となる。
とにより、複数種の光学記録媒体に対応可能となる。
【0021】また、第1の対物レンズは、開口数が0.
7以上とされ、第1のフォーカシング制御手段により光
学記録媒体との間の距離が0.5mm以下に保たれるこ
とが望ましい。
7以上とされ、第1のフォーカシング制御手段により光
学記録媒体との間の距離が0.5mm以下に保たれるこ
とが望ましい。
【0022】光学ヘッドは、第1の対物レンズを以上の
ように構成することにより、光学記録媒体上に照射され
る光のスポットサイズを小さくして、光学記録媒体に対
して高密度で信号の記録及び/又は再生を行うことが可
能となる。
ように構成することにより、光学記録媒体上に照射され
る光のスポットサイズを小さくして、光学記録媒体に対
して高密度で信号の記録及び/又は再生を行うことが可
能となる。
【0023】また、第2の光学系は、第1の対物レンズ
と光学記録媒体との間の距離を検出する距離検出手段を
備え、第2のフォーカシング制御手段が、この距離検出
手段により検出された信号に基づいて第1の対物レンズ
を第1のフォーカシング制御手段のフォーカス引き込み
範囲内に移動させることが望ましい。
と光学記録媒体との間の距離を検出する距離検出手段を
備え、第2のフォーカシング制御手段が、この距離検出
手段により検出された信号に基づいて第1の対物レンズ
を第1のフォーカシング制御手段のフォーカス引き込み
範囲内に移動させることが望ましい。
【0024】また、この距離検出手段は、第2の対物レ
ンズが光学記録媒体に対して焦点を結ぶ位置よりも光学
記録媒体に近い位置にあるときに、光学記録媒体により
反射された戻り光を受光して、第1の対物レンズと光学
記録媒体との間の距離を検出するようになされているこ
とが望ましい。
ンズが光学記録媒体に対して焦点を結ぶ位置よりも光学
記録媒体に近い位置にあるときに、光学記録媒体により
反射された戻り光を受光して、第1の対物レンズと光学
記録媒体との間の距離を検出するようになされているこ
とが望ましい。
【0025】光学ヘッドは、以上のような距離検出手段
を備えることにより、第2の光学系を用いて光学記録媒
体に対して記録又は再生を行う際に、第1の対物レンズ
が光学記録媒体に衝突してしまうという不都合を回避す
ることができる。
を備えることにより、第2の光学系を用いて光学記録媒
体に対して記録又は再生を行う際に、第1の対物レンズ
が光学記録媒体に衝突してしまうという不都合を回避す
ることができる。
【0026】また、本発明に係る光ディスク装置は、光
学記録媒体に対向配置される第1の対物レンズと、この
第1の対物レンズを介してレーザ光を上記光学記録媒体
に出射する第1のレーザ光出射手段と、上記光学記録媒
体からの反射光を検出して受光信号を生成する第1の受
光手段とを有する第1の光学系と、光学記録媒体に対向
配置され上記第1の対物レンズよりも開口数が小さく上
記第1の対物レンズよりもフォーカスサーボ制御のため
の可動範囲が広い第2の対物レンズと、この第2の対物
レンズを介してレーザ光を上記光学記録媒体に出射する
第2のレーザ光出射手段と、上記光学記録媒体からの反
射光を検出して受光信号を生成する第2の受光手段とを
有する第2の光学系と、上記光学記録媒体に対して接離
する方向に移動可能となっており上記第1の対物レンズ
と上記第2の対物レンズとを支持する支持手段とからな
る光学ヘッドを備えている。
学記録媒体に対向配置される第1の対物レンズと、この
第1の対物レンズを介してレーザ光を上記光学記録媒体
に出射する第1のレーザ光出射手段と、上記光学記録媒
体からの反射光を検出して受光信号を生成する第1の受
光手段とを有する第1の光学系と、光学記録媒体に対向
配置され上記第1の対物レンズよりも開口数が小さく上
記第1の対物レンズよりもフォーカスサーボ制御のため
の可動範囲が広い第2の対物レンズと、この第2の対物
レンズを介してレーザ光を上記光学記録媒体に出射する
第2のレーザ光出射手段と、上記光学記録媒体からの反
射光を検出して受光信号を生成する第2の受光手段とを
有する第2の光学系と、上記光学記録媒体に対して接離
する方向に移動可能となっており上記第1の対物レンズ
と上記第2の対物レンズとを支持する支持手段とからな
る光学ヘッドを備えている。
【0027】また、この光ディスク装置は、上記第1の
受光手段により生成された受光信号に応じて上記支持手
段を移動させて上記第1の光学系を用いたフォーカスサ
ーボ制御を行い、上記第2の受光手段により生成された
受光信号に基づき上記支持手段を移動させて上記第2の
光学系を用いたフォーカスサーボ制御を行う信号処理部
を備えている。
受光手段により生成された受光信号に応じて上記支持手
段を移動させて上記第1の光学系を用いたフォーカスサ
ーボ制御を行い、上記第2の受光手段により生成された
受光信号に基づき上記支持手段を移動させて上記第2の
光学系を用いたフォーカスサーボ制御を行う信号処理部
を備えている。
【0028】そして、この光ディスク装置では、上記第
2の光学系を用いてフォーカスサーボの引き込みを行っ
て第2の光学系を用いたフォーカスサーボループを形成
した後、上記第1の光学系を用いたフォーカスサーボル
ープを形成して、上記第1の光学系を用いたフォーカス
サーボ制御を行う。
2の光学系を用いてフォーカスサーボの引き込みを行っ
て第2の光学系を用いたフォーカスサーボループを形成
した後、上記第1の光学系を用いたフォーカスサーボル
ープを形成して、上記第1の光学系を用いたフォーカス
サーボ制御を行う。
【0029】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る光学ヘッドの
具体的な実施の形態について、図面を参照して説明す
る。ここでは、3種類の異なるディスク状光学記録媒体
(以下、光ディスクという。)に対して記録再生可能に
構成された光ディスク装置に本発明を適用した例を説明
する。
具体的な実施の形態について、図面を参照して説明す
る。ここでは、3種類の異なるディスク状光学記録媒体
(以下、光ディスクという。)に対して記録再生可能に
構成された光ディスク装置に本発明を適用した例を説明
する。
【0030】光ディスクは、一般に信号記録層上に光透
過層を有しており、この光透過層を介して信号記録層に
光が照射されることにより、情報信号の記録や再生が行
われる。
過層を有しており、この光透過層を介して信号記録層に
光が照射されることにより、情報信号の記録や再生が行
われる。
【0031】ここで説明する光学ヘッドは、光透過層の
厚さが約1.1mmとされた第1の光ディスクであるコ
ンパクトディスク(CD)やコンパクトディスク・レコ
ーダブル(CD−R)の記録再生に用いられ、また、光
透過層の厚さが約0.6mmとされた第2の光ディスク
であるディジタルバーサタイルディスク(DVD)の記
録再生に用いられ、また、光透過層の厚さが約0.1m
mとされた第3の光ディスクである高記録密度ディスク
の記録再生に用いられる。これら第1、第2及び第3の
光ディスク6、7、8は、光ディスク装置2に備えられ
る1つのターンテーブル上に載置され、このターンテー
ブルを回転させるスピンドルモータが駆動されることに
より回転する。
厚さが約1.1mmとされた第1の光ディスクであるコ
ンパクトディスク(CD)やコンパクトディスク・レコ
ーダブル(CD−R)の記録再生に用いられ、また、光
透過層の厚さが約0.6mmとされた第2の光ディスク
であるディジタルバーサタイルディスク(DVD)の記
録再生に用いられ、また、光透過層の厚さが約0.1m
mとされた第3の光ディスクである高記録密度ディスク
の記録再生に用いられる。これら第1、第2及び第3の
光ディスク6、7、8は、光ディスク装置2に備えられ
る1つのターンテーブル上に載置され、このターンテー
ブルを回転させるスピンドルモータが駆動されることに
より回転する。
【0032】まず、この光ディスク装置に用いられる光
学ヘッドについて説明する。
学ヘッドについて説明する。
【0033】図1に示すように、光学ヘッド1は、第3
の光ディスク8の記録再生を行う第1の光学系11と、
第1及び第2の光ディスク6、7の記録再生を行う第2
の光学系12とを備えている。
の光ディスク8の記録再生を行う第1の光学系11と、
第1及び第2の光ディスク6、7の記録再生を行う第2
の光学系12とを備えている。
【0034】(第1の光学系)光学ヘッド1が備える第
1の光学系11は、図1に示すように、光路上の順に、
670nm以下の短波長のレーザ光を出射する光源16
と、この光源16から出射されたレーザ光を平行光にす
るコリメータレンズ17と、レーザ光を回折して3ビー
ムに分光する回折格子18と、レーザ光を整形するアナ
モフィックプリズム19と、レーザ光のP直線偏光及び
S直線偏光に光路差を生じさせる1/2波長板20と、
直線偏光を円偏光にする1/4波長板21と、レーザ光
を第3の光ディスク8の信号記録面上に合焦させる2群
対物レンズ部22とを備えている。また、光源16は、
波長が670nm以下の例えば635nmや515nm
程度のレーザ光を出射する半導体レーザを有している。
1の光学系11は、図1に示すように、光路上の順に、
670nm以下の短波長のレーザ光を出射する光源16
と、この光源16から出射されたレーザ光を平行光にす
るコリメータレンズ17と、レーザ光を回折して3ビー
ムに分光する回折格子18と、レーザ光を整形するアナ
モフィックプリズム19と、レーザ光のP直線偏光及び
S直線偏光に光路差を生じさせる1/2波長板20と、
直線偏光を円偏光にする1/4波長板21と、レーザ光
を第3の光ディスク8の信号記録面上に合焦させる2群
対物レンズ部22とを備えている。また、光源16は、
波長が670nm以下の例えば635nmや515nm
程度のレーザ光を出射する半導体レーザを有している。
【0035】2群対物レンズ部22は、図1に示すよう
に、第3の光ディスク8の信号読み取り面に臨む側に設
けられた第1のレンズ23(以下、先玉レンズ23と称
する。)と、この先玉レンズ23に光軸を一致させて設
けられた第2のレンズ24(以下、後玉レンズ24と称
する。)とを有している。そして、この2群対物レンズ
部22は、先玉レンズ23と後玉レンズ24による開口
数NAが、0.7以上であり、例えば0.85程度に設
定されている。
に、第3の光ディスク8の信号読み取り面に臨む側に設
けられた第1のレンズ23(以下、先玉レンズ23と称
する。)と、この先玉レンズ23に光軸を一致させて設
けられた第2のレンズ24(以下、後玉レンズ24と称
する。)とを有している。そして、この2群対物レンズ
部22は、先玉レンズ23と後玉レンズ24による開口
数NAが、0.7以上であり、例えば0.85程度に設
定されている。
【0036】また、この2群対物レンズ部22は、図示
しないが、第3の光ディスク8の厚みのばらつきにより
発生する収差を低減するため、後玉レンズ24に対して
先玉レンズ23を光軸方向に移動することによって、先
玉レンズ23及び後玉レンズ24の光軸方向の離間距離
を調整する調整手段を有している。
しないが、第3の光ディスク8の厚みのばらつきにより
発生する収差を低減するため、後玉レンズ24に対して
先玉レンズ23を光軸方向に移動することによって、先
玉レンズ23及び後玉レンズ24の光軸方向の離間距離
を調整する調整手段を有している。
【0037】また、この第1の光学系11は、図1に示
すように、アナモフィックプリズム19から出射された
レーザ光を反射して1/4波長板21に入射させるとと
もに第3の光ディスク8からの反射レーザ光が通過する
偏光ビームスプリッタ25と、この偏光ビームスプリッ
タ25を通過した反射レーザ光を集光するコリメータレ
ンズ26及びマルチレンズ27と、第3の光ディスク8
の信号記録面からの反射レーザ光を受光するフォトディ
テクタ28とを備えている。
すように、アナモフィックプリズム19から出射された
レーザ光を反射して1/4波長板21に入射させるとと
もに第3の光ディスク8からの反射レーザ光が通過する
偏光ビームスプリッタ25と、この偏光ビームスプリッ
タ25を通過した反射レーザ光を集光するコリメータレ
ンズ26及びマルチレンズ27と、第3の光ディスク8
の信号記録面からの反射レーザ光を受光するフォトディ
テクタ28とを備えている。
【0038】また、この第1の光学系11は、図1に示
すように、アナモフィックプリズム19により反射され
た表面反射レーザ光を集光する集光レンズ29と、この
集光レンズ29に集光されたレーザ光を受光して、受光
量に基づいて光源16から出射されるレーザ光の出力を
自動調整する出力調整用フォトディテクタ30とを備え
ている。
すように、アナモフィックプリズム19により反射され
た表面反射レーザ光を集光する集光レンズ29と、この
集光レンズ29に集光されたレーザ光を受光して、受光
量に基づいて光源16から出射されるレーザ光の出力を
自動調整する出力調整用フォトディテクタ30とを備え
ている。
【0039】(第2の光学系)また、この光学ヘッド1
が備える第2の光学系12は、図1に示すように、半導
体レーザとフォトディテクタとが同一基板上に搭載され
てなり、波長が異なる2種類のレーザ光を出射するとと
もに第1及び第2の光ディスク6、7からの反射レーザ
光をそれぞれ受光する集積光学素子(以下、レーザカプ
ラ31と称する。)と、このレーザカプラ31から出射
されたレーザ光を平行光にするコリメータレンズ32
と、このコリメータレンズ32を通過するレーザ光の一
部を回折するホログラム素子33と、このホログラム素
子33を通過したレーザ光を第1及び第2の光ディスク
6、7の信号記録面に合焦させる対物レンズ34とを備
えている。ここで、ホログラム素子33は、通過するレ
ーザ光の一部を回折させることにより、回折レーザ光と
非回折レーザ光とによって焦点位置を異ならせるように
構成されている。そして、この第2の光学系は、対物レ
ンズ34とホログラム素子33とを組み合わせることに
より、第1の光ディスク6に対応した開口数0.45
と、第2の光ディスク7に対応した開口数0.6の両者
に設定されている。
が備える第2の光学系12は、図1に示すように、半導
体レーザとフォトディテクタとが同一基板上に搭載され
てなり、波長が異なる2種類のレーザ光を出射するとと
もに第1及び第2の光ディスク6、7からの反射レーザ
光をそれぞれ受光する集積光学素子(以下、レーザカプ
ラ31と称する。)と、このレーザカプラ31から出射
されたレーザ光を平行光にするコリメータレンズ32
と、このコリメータレンズ32を通過するレーザ光の一
部を回折するホログラム素子33と、このホログラム素
子33を通過したレーザ光を第1及び第2の光ディスク
6、7の信号記録面に合焦させる対物レンズ34とを備
えている。ここで、ホログラム素子33は、通過するレ
ーザ光の一部を回折させることにより、回折レーザ光と
非回折レーザ光とによって焦点位置を異ならせるように
構成されている。そして、この第2の光学系は、対物レ
ンズ34とホログラム素子33とを組み合わせることに
より、第1の光ディスク6に対応した開口数0.45
と、第2の光ディスク7に対応した開口数0.6の両者
に設定されている。
【0040】(ボビン)そして、この光学ヘッド1は、
図2及び図3に示すように、第1の光学系11の2群対
物レンズ部22及び第2の光学系12の対物レンズ34
とがそれぞれ取り付けられるボビン36と、このボビン
36を図2中矢印X1 方向及び矢印X2方向と、図3中
に示す矢印Y1 方向及び矢印Y2 方向との互いに直交す
る2軸方向に移動する電磁駆動機構37を備えている。
図2及び図3に示すように、第1の光学系11の2群対
物レンズ部22及び第2の光学系12の対物レンズ34
とがそれぞれ取り付けられるボビン36と、このボビン
36を図2中矢印X1 方向及び矢印X2方向と、図3中
に示す矢印Y1 方向及び矢印Y2 方向との互いに直交す
る2軸方向に移動する電磁駆動機構37を備えている。
【0041】ボビン36は、図2に示すように、天板を
有する略円筒状に形成され、中心部が支軸39によって
支持されている。そして、ボビン36は、支軸39の軸
線方向に摺動可能であって支軸39の軸回り方向に回動
可能に支持されている。また、ボビン36は、支軸39
が立設された支持基台40上に、金属片51とフォーカ
シング用マグネット42及びトラッキング用マグネット
45によって構成された中立点支持機構によって中立位
置に保持される。
有する略円筒状に形成され、中心部が支軸39によって
支持されている。そして、ボビン36は、支軸39の軸
線方向に摺動可能であって支軸39の軸回り方向に回動
可能に支持されている。また、ボビン36は、支軸39
が立設された支持基台40上に、金属片51とフォーカ
シング用マグネット42及びトラッキング用マグネット
45によって構成された中立点支持機構によって中立位
置に保持される。
【0042】このボビン36には、2群対物レンズ部2
2と対物レンズ34とが、光軸を互いに平行とされて設
けられており、また2群対物レンズ部22と対物レンズ
34とが支軸39を中心として点対称な位置に設けられ
ている。
2と対物レンズ34とが、光軸を互いに平行とされて設
けられており、また2群対物レンズ部22と対物レンズ
34とが支軸39を中心として点対称な位置に設けられ
ている。
【0043】ここで、第1の光学系11による開口数N
Aが0.7以上であり例えば0.85となっており、第
2の光学系12による開口数NAが0.45〜0.6で
ある。そのため、第1の光学系11の2群対物レンズ部
22により集光されるレーザ光の焦点距離と、第2の光
学系12の対物レンズ34により集光されるレーザ光の
焦点距離とが異なる。これに対し、これら第1、第2及
び第3の光ディスク6、7、8は、光ディスク装置2に
備えられる1つのターンテーブル上に載置される。従っ
て、2群対物レンズ部22と対物レンズ34とでは、タ
ーンテーブルに載置された光ディスクの信号記録面から
の距離が異なっている。2群対物レンズ部22は、その
焦点位置が第3の光ディスク8の信号記録面に合焦可能
となるような位置に設けられている。また、対物レンズ
34は、その焦点位置が第1、第2の光ディスク6、7
の記録面に合焦可能となるような位置に設けられてい
る。
Aが0.7以上であり例えば0.85となっており、第
2の光学系12による開口数NAが0.45〜0.6で
ある。そのため、第1の光学系11の2群対物レンズ部
22により集光されるレーザ光の焦点距離と、第2の光
学系12の対物レンズ34により集光されるレーザ光の
焦点距離とが異なる。これに対し、これら第1、第2及
び第3の光ディスク6、7、8は、光ディスク装置2に
備えられる1つのターンテーブル上に載置される。従っ
て、2群対物レンズ部22と対物レンズ34とでは、タ
ーンテーブルに載置された光ディスクの信号記録面から
の距離が異なっている。2群対物レンズ部22は、その
焦点位置が第3の光ディスク8の信号記録面に合焦可能
となるような位置に設けられている。また、対物レンズ
34は、その焦点位置が第1、第2の光ディスク6、7
の記録面に合焦可能となるような位置に設けられてい
る。
【0044】また、ボビン36には、図4に示すよう
に、第1、第2及び第3の光ディスク6、7、8の回転
中心O0を通る直線L上に、2群対物レンズ部22の第
1の対物レンズ34の中心O1 が位置するように取り付
けられている。この直線Lは、光学ブロック41の移動
方向である図4中矢印W1 方向及び矢印W2 方向と平行
とされている。したがって、このボビン36には、2群
対物レンズ部22及び対物レンズ34に跨って、第1、
第2及び第3の光ディスク6、7、8のトラック方向T
が位置している。
に、第1、第2及び第3の光ディスク6、7、8の回転
中心O0を通る直線L上に、2群対物レンズ部22の第
1の対物レンズ34の中心O1 が位置するように取り付
けられている。この直線Lは、光学ブロック41の移動
方向である図4中矢印W1 方向及び矢印W2 方向と平行
とされている。したがって、このボビン36には、2群
対物レンズ部22及び対物レンズ34に跨って、第1、
第2及び第3の光ディスク6、7、8のトラック方向T
が位置している。
【0045】なお、ここでは、第1、第2及び第3の光
ディスク6、7、8の回転中心O0を通る直線L上に位
置して2群対物レンズ部22を配設した例について説明
しているが、この直線L上に対物レンズ34の中心が位
置するように配設してもよい。
ディスク6、7、8の回転中心O0を通る直線L上に位
置して2群対物レンズ部22を配設した例について説明
しているが、この直線L上に対物レンズ34の中心が位
置するように配設してもよい。
【0046】光ディスク6、7、8の回転中心O0を通
る直線L上に位置する2群対物レンズ部22は、光学ヘ
ッド1の位置によって記録トラックの傾きが変化しない
ため、光ディスク6、7、8のタンジェンシャル方向
(すなわち、光ディスク6、7、8の接線方向)に対す
る2群対物レンズ部22の変位量が少ない。したがっ
て、直線L上に位置する2群対物レンズ部22は、情報
信号の検出方法等を設定する上で制約を受けることがな
く、設定の自由度が大きい。
る直線L上に位置する2群対物レンズ部22は、光学ヘ
ッド1の位置によって記録トラックの傾きが変化しない
ため、光ディスク6、7、8のタンジェンシャル方向
(すなわち、光ディスク6、7、8の接線方向)に対す
る2群対物レンズ部22の変位量が少ない。したがっ
て、直線L上に位置する2群対物レンズ部22は、情報
信号の検出方法等を設定する上で制約を受けることがな
く、設定の自由度が大きい。
【0047】また、ボビン36を支持する支持基台40
は、図4に示すように、光学ブロック41上に取り付け
られており、この光学ブロック41が図示しない駆動軸
及びガイド軸の軸線方向である図4中矢印W1 方向及び
矢印W2 方向に移動自在に支持されている。すなわち、
ボビン36は、第1、第2及び第3の光ディスク6、
7、8のトラッキング方向(すなわち、光ディスク6、
7、8の半径方向)に移動可能に設けられている。
は、図4に示すように、光学ブロック41上に取り付け
られており、この光学ブロック41が図示しない駆動軸
及びガイド軸の軸線方向である図4中矢印W1 方向及び
矢印W2 方向に移動自在に支持されている。すなわち、
ボビン36は、第1、第2及び第3の光ディスク6、
7、8のトラッキング方向(すなわち、光ディスク6、
7、8の半径方向)に移動可能に設けられている。
【0048】ボビン36は、電磁駆動機構37によって
駆動変位されることによって支軸39の軸線方向に摺動
され、さらに支軸39の軸回り方向に回動される。すな
わち、ボビン36が支軸39の軸線方向に摺動変位され
ることによって、2群対物レンズ部22及び対物レンズ
34がその光軸と平行な第1の方向に駆動変位されて第
1、第2又は第3の光ディスク6、7、8に対するフォ
ーカスサーボ制御が行われ、ボビン36が支軸39の軸
回り方向に回動変位されることによって、2群対物レン
ズ部22及び対物レンズ34がその光軸と直交する第2
の方向に駆動変位されて第1、第2又は第3の光ディス
ク6、7、8に対するトラッキング制御が行われる。
駆動変位されることによって支軸39の軸線方向に摺動
され、さらに支軸39の軸回り方向に回動される。すな
わち、ボビン36が支軸39の軸線方向に摺動変位され
ることによって、2群対物レンズ部22及び対物レンズ
34がその光軸と平行な第1の方向に駆動変位されて第
1、第2又は第3の光ディスク6、7、8に対するフォ
ーカスサーボ制御が行われ、ボビン36が支軸39の軸
回り方向に回動変位されることによって、2群対物レン
ズ部22及び対物レンズ34がその光軸と直交する第2
の方向に駆動変位されて第1、第2又は第3の光ディス
ク6、7、8に対するトラッキング制御が行われる。
【0049】(電磁駆動機構)ボビン36を駆動変位さ
せる電磁駆動機構37は、図2及び図3に示すように、
フォーカシング用マグネット42及びフォーカシング用
ヨーク43、44とトラッキング用マグネット45及び
トラッキング用ヨーク46とを有する磁気回路と、フォ
ーカシング用コイル48及びトラッキング用コイル49
とを備えて構成されている。この電磁駆動機構37は、
フレキシブル・ケーブル50を介して、後述する信号処
理部のから所定の制御信号が供給されることによりボビ
ン36を支軸39の軸線方向に駆動変位させ、また、信
号処理部から所定の制御信号が供給されることによりボ
ビン36を支軸39の軸回り方向に回動変位させる。
せる電磁駆動機構37は、図2及び図3に示すように、
フォーカシング用マグネット42及びフォーカシング用
ヨーク43、44とトラッキング用マグネット45及び
トラッキング用ヨーク46とを有する磁気回路と、フォ
ーカシング用コイル48及びトラッキング用コイル49
とを備えて構成されている。この電磁駆動機構37は、
フレキシブル・ケーブル50を介して、後述する信号処
理部のから所定の制御信号が供給されることによりボビ
ン36を支軸39の軸線方向に駆動変位させ、また、信
号処理部から所定の制御信号が供給されることによりボ
ビン36を支軸39の軸回り方向に回動変位させる。
【0050】また、この電磁駆動機構37のトラッキン
グ用コイル49の内方には、図3に示すように、ボビン
36の中立位置を位置決めするための金属片51が固定
されて設けられている。ボビン36は、金属片51が単
面2極分割されたトラッキング用マグネット45の2極
の境界に引きつけられることによって、第2の方向であ
るトラッキング方向の中立位置に位置決めされるととも
に第1の方向であるフォーカシング方向の中立位置に位
置決めされる。
グ用コイル49の内方には、図3に示すように、ボビン
36の中立位置を位置決めするための金属片51が固定
されて設けられている。ボビン36は、金属片51が単
面2極分割されたトラッキング用マグネット45の2極
の境界に引きつけられることによって、第2の方向であ
るトラッキング方向の中立位置に位置決めされるととも
に第1の方向であるフォーカシング方向の中立位置に位
置決めされる。
【0051】(第1の光学系のフォーカスサーボ制御、
トラッキングサーボ制御)この第1の光学系11におい
て、フォーカスサーボ制御を行う際は、後述する信号処
理部が、フォトディテクタ28から供給される受光信号
に基づいて、フォーカスエラー信号を生成する。そし
て、信号処理部は、このフォーカスエラー信号に基づい
て制御信号を生成して電磁駆動機構37を駆動し、ボビ
ン36を支軸39の軸線方向にフォーカスずれ量分だけ
摺動させ、2群対物レンズ部22と第3のディスク8と
の間の距離を一定にする。
トラッキングサーボ制御)この第1の光学系11におい
て、フォーカスサーボ制御を行う際は、後述する信号処
理部が、フォトディテクタ28から供給される受光信号
に基づいて、フォーカスエラー信号を生成する。そし
て、信号処理部は、このフォーカスエラー信号に基づい
て制御信号を生成して電磁駆動機構37を駆動し、ボビ
ン36を支軸39の軸線方向にフォーカスずれ量分だけ
摺動させ、2群対物レンズ部22と第3のディスク8と
の間の距離を一定にする。
【0052】また、この第1の光学系11において、ト
ラッキングサーボ制御を行う際は、信号処理部が、フォ
トディテクタ28から供給される受光信号に基づいて、
トラッキングエラー信号を生成する。そして、信号処理
部は、このトラッキングエラー信号に基づいて制御信号
を生成して電磁駆動機構37を駆動し、ボビン36を支
軸39の軸回り方向にトラッキングずれ量分だけ回動変
位させ、2群対物レンズ部22により集光されるレーザ
光のスポットを第3の光ディスク8の記録トラックに追
従させる。
ラッキングサーボ制御を行う際は、信号処理部が、フォ
トディテクタ28から供給される受光信号に基づいて、
トラッキングエラー信号を生成する。そして、信号処理
部は、このトラッキングエラー信号に基づいて制御信号
を生成して電磁駆動機構37を駆動し、ボビン36を支
軸39の軸回り方向にトラッキングずれ量分だけ回動変
位させ、2群対物レンズ部22により集光されるレーザ
光のスポットを第3の光ディスク8の記録トラックに追
従させる。
【0053】この第1の光学系11において、フォーカ
スエラー信号を得る方法としては、例えば、いわゆる非
点収差法(アスティグマ法)が用いられ、トラッキング
エラー信号を得る方法としては、例えば、いわゆる3ス
ポット(3ビーム)法が用いられている。この非点収差
法は、第3の光ディスク8からの反射レーザ光を例えば
シリンドリカルレンズを介して検出領域が4分割された
フォトディテクタによって検出し、各検出領域から得ら
れる検出出力の和及び/又は差を求めることによって、
レーザ光の信号記録面に対する合焦ずれ成分であるフォ
ーカスエラー信号を得るようにしたものである。また、
3スポット法は、光源から出射される1本のレーザ光を
回折格子等を用いて、1本の主レーザ光と2本の副レー
ザ光に分割し、記録トラックの中心に照射される主レー
ザ光の前後に2本の副レーザ光を照射する。主レーザ光
の前後に照射された副レーザ光の反射レーザ光を、2つ
のフォトディテクタにより検出し、各フォトディテクタ
から得られる検出出力の差を求めることによって、主レ
ーザ光の記録トラックに対するずれ成分であるトラッキ
ングエラー信号を得るようにしたものである。なお、第
1の光学系11がトラッキングサーボ方法として3ビー
ム法を用いる場合には、2群対物レンズ部22が、第3
の光ディスク8のトラッキング方向(すなわち、光ディ
スク8の半径方向)に移動される送り動作時に第3の光
ディスク8のタンジェンシャル方向(すなわち、光ディ
スク8の接線方向)の変位量による影響が少ないよう
に、先玉レンズの中心O1 が直線L上に位置してボビン
36に取り付けられる構成が望ましい。
スエラー信号を得る方法としては、例えば、いわゆる非
点収差法(アスティグマ法)が用いられ、トラッキング
エラー信号を得る方法としては、例えば、いわゆる3ス
ポット(3ビーム)法が用いられている。この非点収差
法は、第3の光ディスク8からの反射レーザ光を例えば
シリンドリカルレンズを介して検出領域が4分割された
フォトディテクタによって検出し、各検出領域から得ら
れる検出出力の和及び/又は差を求めることによって、
レーザ光の信号記録面に対する合焦ずれ成分であるフォ
ーカスエラー信号を得るようにしたものである。また、
3スポット法は、光源から出射される1本のレーザ光を
回折格子等を用いて、1本の主レーザ光と2本の副レー
ザ光に分割し、記録トラックの中心に照射される主レー
ザ光の前後に2本の副レーザ光を照射する。主レーザ光
の前後に照射された副レーザ光の反射レーザ光を、2つ
のフォトディテクタにより検出し、各フォトディテクタ
から得られる検出出力の差を求めることによって、主レ
ーザ光の記録トラックに対するずれ成分であるトラッキ
ングエラー信号を得るようにしたものである。なお、第
1の光学系11がトラッキングサーボ方法として3ビー
ム法を用いる場合には、2群対物レンズ部22が、第3
の光ディスク8のトラッキング方向(すなわち、光ディ
スク8の半径方向)に移動される送り動作時に第3の光
ディスク8のタンジェンシャル方向(すなわち、光ディ
スク8の接線方向)の変位量による影響が少ないよう
に、先玉レンズの中心O1 が直線L上に位置してボビン
36に取り付けられる構成が望ましい。
【0054】(レーザカプラ)また、上述した第2の光
学系12が備えるレーザカプラ31は、図5に示すよう
に、例えば760〜800nmの波長のレーザ光を出射
する第1の半導体レーザ55と、例えば635〜650
nmの波長のレーザ光を出射する第2の半導体レーザ5
6と、これら第1及び第2の半導体レーザ55、56の
反射レーザ光を受光する第1のフォトディテクタ57及
び第2のフォトディテクタ58と、第1及び第2の半導
体レーザ55、56から出射されたレーザ光を反射する
とともに第1又は第2の光ディスク6、7からの反射レ
ーザ光が通過する光学プリズム59とを有している。
学系12が備えるレーザカプラ31は、図5に示すよう
に、例えば760〜800nmの波長のレーザ光を出射
する第1の半導体レーザ55と、例えば635〜650
nmの波長のレーザ光を出射する第2の半導体レーザ5
6と、これら第1及び第2の半導体レーザ55、56の
反射レーザ光を受光する第1のフォトディテクタ57及
び第2のフォトディテクタ58と、第1及び第2の半導
体レーザ55、56から出射されたレーザ光を反射する
とともに第1又は第2の光ディスク6、7からの反射レ
ーザ光が通過する光学プリズム59とを有している。
【0055】第1のフォトディテクタ57は、図6に示
すように、第2の光ディスク7を再生する際にトラッキ
ングエラー信号を得るために、8分割された検出領域5
7a乃至57hを有しており、また第2のフォトディテ
クタ58は、短冊状に4分割された検出領域58a乃至
58dを有している。また、第1及び第2のフォトディ
テクタ57、58は、対物レンズ34を介して照射され
る反射レーザ光の焦点からの距離が等しい位置に設けら
れている。
すように、第2の光ディスク7を再生する際にトラッキ
ングエラー信号を得るために、8分割された検出領域5
7a乃至57hを有しており、また第2のフォトディテ
クタ58は、短冊状に4分割された検出領域58a乃至
58dを有している。また、第1及び第2のフォトディ
テクタ57、58は、対物レンズ34を介して照射され
る反射レーザ光の焦点からの距離が等しい位置に設けら
れている。
【0056】また、第1のフォトディテクタ57上に
は、ハーフミラーが設けられており、この第1のフォト
ディテクタ57が受光する反射レーザ光の一部がハーフ
ミラーにより反射される。光学プリズム59は、ハーフ
ミラーにより反射された反射レーザ光を、反射面59a
によりさらに反射させて、第2のフォトディテクタ58
に入射させる。
は、ハーフミラーが設けられており、この第1のフォト
ディテクタ57が受光する反射レーザ光の一部がハーフ
ミラーにより反射される。光学プリズム59は、ハーフ
ミラーにより反射された反射レーザ光を、反射面59a
によりさらに反射させて、第2のフォトディテクタ58
に入射させる。
【0057】そして、これら第1及び第2のフォトディ
テクタ57、58は、図7に示すように、第1又は第2
の光ディスク6、7に対して対物レンズ34がフォーカ
シング方向(すなわち、レーザカプラ31が有する半導
体レーザ55,56から出射されるレーザ光の光軸方
向)に移動することに伴って、各検出領域57a乃至5
7h及び58a乃至58d上の反射レーザ光のスポット
が同心円状に変化する。
テクタ57、58は、図7に示すように、第1又は第2
の光ディスク6、7に対して対物レンズ34がフォーカ
シング方向(すなわち、レーザカプラ31が有する半導
体レーザ55,56から出射されるレーザ光の光軸方
向)に移動することに伴って、各検出領域57a乃至5
7h及び58a乃至58d上の反射レーザ光のスポット
が同心円状に変化する。
【0058】図7に示すように、対物レンズ34が第1
又は第2の光ディスク6、7に近接した位置(ディスク
Near側)から次第に遠ざかると、第1のフォトディ
テクタ57上のスポット径が徐々に小さくなり、対物レ
ンズ34と第1又は第2の光ディスク6、7間の距離が
所定の値になると、この第1のフォトディテクタ57上
に焦点を結ぶ。そして、第1又は第2の光ディスク6、
7に対して対物レンズ34が更に遠ざかると第1のフォ
トディテクタ57上のスポット径が徐々に大きくなって
焦点が外れる。
又は第2の光ディスク6、7に近接した位置(ディスク
Near側)から次第に遠ざかると、第1のフォトディ
テクタ57上のスポット径が徐々に小さくなり、対物レ
ンズ34と第1又は第2の光ディスク6、7間の距離が
所定の値になると、この第1のフォトディテクタ57上
に焦点を結ぶ。そして、第1又は第2の光ディスク6、
7に対して対物レンズ34が更に遠ざかると第1のフォ
トディテクタ57上のスポット径が徐々に大きくなって
焦点が外れる。
【0059】同様に、対物レンズ34が第1又は第2の
光ディスク6、7に近接した位置(ディスクNear
側)から次第に遠ざかると、第2のフォトディテクタ5
8上のスポット径が徐々に小さくなり、対物レンズ34
と第1又は第2の光ディスク6、7間の距離が所定の値
になると、この第2のフォトディテクタ58上に焦点を
結ぶ。そして、第1又は第2の光ディスク6、7に対し
て対物レンズ34が更に遠ざかると第2のフォトディテ
クタ58上のスポット径が徐々に大きくなって焦点が外
れる。
光ディスク6、7に近接した位置(ディスクNear
側)から次第に遠ざかると、第2のフォトディテクタ5
8上のスポット径が徐々に小さくなり、対物レンズ34
と第1又は第2の光ディスク6、7間の距離が所定の値
になると、この第2のフォトディテクタ58上に焦点を
結ぶ。そして、第1又は第2の光ディスク6、7に対し
て対物レンズ34が更に遠ざかると第2のフォトディテ
クタ58上のスポット径が徐々に大きくなって焦点が外
れる。
【0060】ここで、第1のフォトディテクタ57上に
レーザ光の焦点が結ばれるときの対物レンズ34と第1
又は第2の光ディスク6、7間の距離と、第2のフォト
ディテクタ58上にレーザ光の焦点が結ばれるときの対
物レンズ34と第1又は第2の光ディスク6、7間の距
離とは異なっている。そして、対物レンズ34と第1又
は第2の光ディスク6、7間の距離がある値となるとき
に、第1のフォトディテクタ57上のスポット径と第2
のフォトディテクタ58上のスポット径とが等しくな
る。第2の光学系12は、第1又は第2の光ディスク
6、7に対して対物レンズ34が合焦位置の状態のとき
に、第1のフォトディテクタ57上のスポット径と第2
のフォトディテクタ58上のスポット径とが等しくなる
ように構成されている。
レーザ光の焦点が結ばれるときの対物レンズ34と第1
又は第2の光ディスク6、7間の距離と、第2のフォト
ディテクタ58上にレーザ光の焦点が結ばれるときの対
物レンズ34と第1又は第2の光ディスク6、7間の距
離とは異なっている。そして、対物レンズ34と第1又
は第2の光ディスク6、7間の距離がある値となるとき
に、第1のフォトディテクタ57上のスポット径と第2
のフォトディテクタ58上のスポット径とが等しくな
る。第2の光学系12は、第1又は第2の光ディスク
6、7に対して対物レンズ34が合焦位置の状態のとき
に、第1のフォトディテクタ57上のスポット径と第2
のフォトディテクタ58上のスポット径とが等しくなる
ように構成されている。
【0061】すなわち、第1及び第2のフォトディテク
タ57、58上の各スポット径は、図7中Aに示す状態
が第1又は第2の光ディスク6、7に対して対物レンズ
34が近い位置の状態であり、また図7中Bに示す状態
が第1又は第2の光ディスク6、7に対して対物レンズ
34が合焦位置の状態であり、さらに図7中Cに示す状
態が第1又は第2の光ディスク6、7に対して対物レン
ズ34が遠い位置の状態である。
タ57、58上の各スポット径は、図7中Aに示す状態
が第1又は第2の光ディスク6、7に対して対物レンズ
34が近い位置の状態であり、また図7中Bに示す状態
が第1又は第2の光ディスク6、7に対して対物レンズ
34が合焦位置の状態であり、さらに図7中Cに示す状
態が第1又は第2の光ディスク6、7に対して対物レン
ズ34が遠い位置の状態である。
【0062】(第2の光学系のフォーカスサーボ制御、
トラッキングサーボ制御)第2の光学系12において、
フォーカスサーボ制御を行う際は、信号処理部が、第1
及び第2のフォトディテクタ57、58から供給される
受光信号に基づいて、フォーカスエラー信号を生成す
る。そして、信号処理部は、このフォーカスエラー信号
に基づいて制御信号を生成して電磁駆動機構37を駆動
し、ボビン36を支軸39の軸線方向にフォーカスずれ
量分だけ摺動させ、対物レンズ34と第1の光ディスク
6または第2の光ディスク7との間の距離を一定にす
る。
トラッキングサーボ制御)第2の光学系12において、
フォーカスサーボ制御を行う際は、信号処理部が、第1
及び第2のフォトディテクタ57、58から供給される
受光信号に基づいて、フォーカスエラー信号を生成す
る。そして、信号処理部は、このフォーカスエラー信号
に基づいて制御信号を生成して電磁駆動機構37を駆動
し、ボビン36を支軸39の軸線方向にフォーカスずれ
量分だけ摺動させ、対物レンズ34と第1の光ディスク
6または第2の光ディスク7との間の距離を一定にす
る。
【0063】また、この第2の光学系12において、ト
ラッキング制御を行う際は、信号処理部が、第1及び第
2のフォトディテクタ57、58から供給される受光信
号に基づいて、トラッキングエラー信号を生成する。そ
して、信号処理部は、このトラッキングエラー信号に基
づいて制御信号を生成して電磁駆動機構37を駆動し、
ボビン36を支軸39の軸回り方向にトラッキングずれ
量分だけ回動変位させ、対物レンズ34により集光され
るレーザ光のスポットを第1の光ディスク6または第2
の光ディスク7の記録トラックに追従させる。
ラッキング制御を行う際は、信号処理部が、第1及び第
2のフォトディテクタ57、58から供給される受光信
号に基づいて、トラッキングエラー信号を生成する。そ
して、信号処理部は、このトラッキングエラー信号に基
づいて制御信号を生成して電磁駆動機構37を駆動し、
ボビン36を支軸39の軸回り方向にトラッキングずれ
量分だけ回動変位させ、対物レンズ34により集光され
るレーザ光のスポットを第1の光ディスク6または第2
の光ディスク7の記録トラックに追従させる。
【0064】第2の光学系12においては、フォーカス
エラー信号を得る方法として、例えば差動3分割法が用
いられる。この差動3分割法によれば、フォーカスエラ
ー信号Fが、第1及び第2のフォトディテクタ57、5
8の各検出領域57a乃至57h及び58a乃至58d
の差分を求めて、 F={(57a+57b)+(57c+57d)+58
c+58d}−{58a+58b+(57e+57f)
+(57g+57h)} を算出することにより得られる。そして、第1及び第2
のフォトディテクタ57、58は、第1又は第2の光デ
ィスク6、7に対して対物レンズ34を合焦させるた
め、フォーカスエラー信号Fのゼロクロスを検出してい
る。
エラー信号を得る方法として、例えば差動3分割法が用
いられる。この差動3分割法によれば、フォーカスエラ
ー信号Fが、第1及び第2のフォトディテクタ57、5
8の各検出領域57a乃至57h及び58a乃至58d
の差分を求めて、 F={(57a+57b)+(57c+57d)+58
c+58d}−{58a+58b+(57e+57f)
+(57g+57h)} を算出することにより得られる。そして、第1及び第2
のフォトディテクタ57、58は、第1又は第2の光デ
ィスク6、7に対して対物レンズ34を合焦させるた
め、フォーカスエラー信号Fのゼロクロスを検出してい
る。
【0065】また、差動3分割法においては、第1及び
第2のフォトディテクタ57、58の内側の検出領域5
7e、57f、57g、57h及び58c、58dと、
外側の検出領域57a、57b、57c、57d及び5
8a、58bとの各検出出力の差分を求めたのちに、第
1のフォトディテクタ57と第2のフォトディテクタ5
8との検出出力の差分を求めている。したがって、合焦
時には、第1及び第2のフォトディテクタ57、58の
検出出力が各々0となる。
第2のフォトディテクタ57、58の内側の検出領域5
7e、57f、57g、57h及び58c、58dと、
外側の検出領域57a、57b、57c、57d及び5
8a、58bとの各検出出力の差分を求めたのちに、第
1のフォトディテクタ57と第2のフォトディテクタ5
8との検出出力の差分を求めている。したがって、合焦
時には、第1及び第2のフォトディテクタ57、58の
検出出力が各々0となる。
【0066】(フォーカスサーボ引き込み動作)ここ
で、光学ヘッドにおいては、光ディスク装置の起動時
や、フォーカスサーボが外れた場合に、対物レンズを、
この対物レンズにより集光されるレーザ光が光ディスク
の信号記録層上で焦点を結ぶ位置の近傍、いわゆるフォ
ーカス引き込み範囲内に強制的に移動させ、光学系と信
号処理部とから構成されるフォーカスサーボのループを
ONにする、いわゆるフォーカスサーボ引き込み動作を
行う必要がある。
で、光学ヘッドにおいては、光ディスク装置の起動時
や、フォーカスサーボが外れた場合に、対物レンズを、
この対物レンズにより集光されるレーザ光が光ディスク
の信号記録層上で焦点を結ぶ位置の近傍、いわゆるフォ
ーカス引き込み範囲内に強制的に移動させ、光学系と信
号処理部とから構成されるフォーカスサーボのループを
ONにする、いわゆるフォーカスサーボ引き込み動作を
行う必要がある。
【0067】対物レンズと光ディスクとの間の距離を徐
々に変えながらフォーカスエラー信号の出力を検出する
と、図8に示すようなS字曲線が得られる。そして、対
物レンズを強制的に光ディスクから遠ざけた後に、光デ
ィスクに徐々に近づけるようにすると、まず対物レンズ
がS字曲線の第1の正帰還領域Aに入る。ここでフォー
カスサーボのループをONにすると、対物レンズは合焦
位置に近づくが、ゲインが大きくなっているので加速さ
れて、合焦位置を通り過ぎて第2の正帰還領域Cに飛び
込んでしまい、適切なフォーカス引き込み動作が行われ
ない。
々に変えながらフォーカスエラー信号の出力を検出する
と、図8に示すようなS字曲線が得られる。そして、対
物レンズを強制的に光ディスクから遠ざけた後に、光デ
ィスクに徐々に近づけるようにすると、まず対物レンズ
がS字曲線の第1の正帰還領域Aに入る。ここでフォー
カスサーボのループをONにすると、対物レンズは合焦
位置に近づくが、ゲインが大きくなっているので加速さ
れて、合焦位置を通り過ぎて第2の正帰還領域Cに飛び
込んでしまい、適切なフォーカス引き込み動作が行われ
ない。
【0068】そこで、フォーカス引き込み動作をする場
合は、フォーカスサーチを行って、対物レンズを第1の
正帰還領域Aと第2の正帰還領域Cとの間の領域、すな
わちフォーカス引き込み範囲B内に移動させ、フォーカ
ス引き込み範囲B内においてフォーカスサーボのループ
をONにするようにしている。
合は、フォーカスサーチを行って、対物レンズを第1の
正帰還領域Aと第2の正帰還領域Cとの間の領域、すな
わちフォーカス引き込み範囲B内に移動させ、フォーカ
ス引き込み範囲B内においてフォーカスサーボのループ
をONにするようにしている。
【0069】ところで、光学ヘッド1の第2の光学系1
2では、対物レンズ34の開口数NAが0.45〜0.
6程度となっており、記録再生を行う第1の光ディスク
6及び第2の光ディスク7の光透過層の厚さが0.6m
m〜1.2mm程度となっている。そして、この第2の
光学系12の対物レンズ34の移動可能範囲であるワー
キングディスタンスは1.2mm以上となり、この対物
レンズ34のフォーカスサーボの引き込み範囲は約±1
2μm〜20μmとなっている。従って、この第2の光
学系12では、フォーカスサーボの引き込み範囲が広
く、上述したフォーカスサーボの引き込み動作を行うこ
とが可能となっている。
2では、対物レンズ34の開口数NAが0.45〜0.
6程度となっており、記録再生を行う第1の光ディスク
6及び第2の光ディスク7の光透過層の厚さが0.6m
m〜1.2mm程度となっている。そして、この第2の
光学系12の対物レンズ34の移動可能範囲であるワー
キングディスタンスは1.2mm以上となり、この対物
レンズ34のフォーカスサーボの引き込み範囲は約±1
2μm〜20μmとなっている。従って、この第2の光
学系12では、フォーカスサーボの引き込み範囲が広
く、上述したフォーカスサーボの引き込み動作を行うこ
とが可能となっている。
【0070】これに対して、光学ヘッド1の第1の光学
系11では、2群対物レンズ部22の開口数NAが0.
7〜0.85程度となっており、記録再生を行う第3の
光ディスク8の光透過層の厚さが0.1mm程度となっ
ている。そして、この第1の光学系11の2群対物レン
ズ部22のワーキングディスタンスは約0.1〜0.5
mmとなり、この2群対物レンズ部22のフォーカスサ
ーボの引き込み範囲は約±4μmとなっている。従っ
て、この第1の光学系11では、フォーカスサーボの引
き込み範囲は非常に狭くなっており、上述したフォーカ
スサーボの引き込み動作を行うことは困難となってい
る。
系11では、2群対物レンズ部22の開口数NAが0.
7〜0.85程度となっており、記録再生を行う第3の
光ディスク8の光透過層の厚さが0.1mm程度となっ
ている。そして、この第1の光学系11の2群対物レン
ズ部22のワーキングディスタンスは約0.1〜0.5
mmとなり、この2群対物レンズ部22のフォーカスサ
ーボの引き込み範囲は約±4μmとなっている。従っ
て、この第1の光学系11では、フォーカスサーボの引
き込み範囲は非常に狭くなっており、上述したフォーカ
スサーボの引き込み動作を行うことは困難となってい
る。
【0071】そこで、光学ヘッド1においては、第1の
光学系11のフォーカス引き込み動作を行う際に、第2
の光学系12を利用して、フォーカス引き込み動作を容
易に行うことができるようになされている。
光学系11のフォーカス引き込み動作を行う際に、第2
の光学系12を利用して、フォーカス引き込み動作を容
易に行うことができるようになされている。
【0072】具体的には、この光学ヘッド1において
は、図6に示すように、第2の光学系12の第1及び第
2のフォトディテクタ56、57の検出領域57a乃至
57d及び58a、58bに隣接する位置に、第3の光
ディスク8との離間距離を検出して、第1の光学系11
のフォーカス引き込み動作を補助するための第1及び第
2のフォーカス引き込み補助用フォトディテクタ61、
62がそれぞれ設けられている。
は、図6に示すように、第2の光学系12の第1及び第
2のフォトディテクタ56、57の検出領域57a乃至
57d及び58a、58bに隣接する位置に、第3の光
ディスク8との離間距離を検出して、第1の光学系11
のフォーカス引き込み動作を補助するための第1及び第
2のフォーカス引き込み補助用フォトディテクタ61、
62がそれぞれ設けられている。
【0073】これらフォーカス引き込み補助用フォトデ
ィテクタ61、62は、2分割された検出領域61a、
61b及び62a、62bを有しており、各検出領域6
1a、61b及び62a、62bが、第1及び第2のフ
ォトディテクタ56、57の検出領域57a乃至57h
及び58a乃至58dを挟み込むように設けられてい
る。
ィテクタ61、62は、2分割された検出領域61a、
61b及び62a、62bを有しており、各検出領域6
1a、61b及び62a、62bが、第1及び第2のフ
ォトディテクタ56、57の検出領域57a乃至57h
及び58a乃至58dを挟み込むように設けられてい
る。
【0074】そして、光学ヘッド1は、第1の光学系1
1のフォーカス引き込み動作を行う際に、まず、後述す
る信号処理部が、第1及び第2のフォーカス引き込み補
助用フォトディテクタ61、62の検出信号に応じて、
フォーカスサーチを行い、第1の光学系11の2群対物
レンズ部22と第2の光学系12の対物レンズ34とが
それぞれ取り付けられたボビン36を装填された第3の
光ディスク8に接離する方向に移動させる。
1のフォーカス引き込み動作を行う際に、まず、後述す
る信号処理部が、第1及び第2のフォーカス引き込み補
助用フォトディテクタ61、62の検出信号に応じて、
フォーカスサーチを行い、第1の光学系11の2群対物
レンズ部22と第2の光学系12の対物レンズ34とが
それぞれ取り付けられたボビン36を装填された第3の
光ディスク8に接離する方向に移動させる。
【0075】第2の光学系12は、第1の光学系11の
フォーカス引き込み範囲と比べて広い引き込み範囲を有
しているので、比較的容易にフォーカスサーチを行うこ
とができる。
フォーカス引き込み範囲と比べて広い引き込み範囲を有
しているので、比較的容易にフォーカスサーチを行うこ
とができる。
【0076】続いて、光学ヘッド1は、対物レンズ34
が第2の光学系12のフォーカス引き込み範囲に入った
時点で、この第2の光学系12のフォーカスサーボのル
ープをONにする。対物レンズ34と2群対物レンズ部
22とは、同一のボビン36に取り付けられているの
で、第2の光学系12のフォーカスサーボの引き込み動
作を行うことにより、第1の光学系11の2群対物レン
ズ部22を、第1の光学系11のフォーカス引き込み範
囲内に移動させることができる。
が第2の光学系12のフォーカス引き込み範囲に入った
時点で、この第2の光学系12のフォーカスサーボのル
ープをONにする。対物レンズ34と2群対物レンズ部
22とは、同一のボビン36に取り付けられているの
で、第2の光学系12のフォーカスサーボの引き込み動
作を行うことにより、第1の光学系11の2群対物レン
ズ部22を、第1の光学系11のフォーカス引き込み範
囲内に移動させることができる。
【0077】そして、第2の光学系12のフォーカス引
き込み動作が完了した時点で、第1の光学系11のフォ
ーカスサーボのループをONにすることにより、第1の
光学系11のフォーカス引き込みが完了する。
き込み動作が完了した時点で、第1の光学系11のフォ
ーカスサーボのループをONにすることにより、第1の
光学系11のフォーカス引き込みが完了する。
【0078】光学ヘッド1は、このように、2群対物レ
ンズ部22のフォーカス引き込み動作を行う際に、フォ
ーカス引き込み範囲が広い第2の光学系12を利用する
ことにより、フォーカスサーチを容易に行うことがで
き、2群対物レンズ部22と第3の光ディスク8との衝
突等を回避することができる。
ンズ部22のフォーカス引き込み動作を行う際に、フォ
ーカス引き込み範囲が広い第2の光学系12を利用する
ことにより、フォーカスサーチを容易に行うことがで
き、2群対物レンズ部22と第3の光ディスク8との衝
突等を回避することができる。
【0079】なお、光学ヘッド1では、このフォーカス
引き込み補助用のフォトディテクタ61、62を用いて
フォーカスサーボ制御を行った場合には、第1と第2の
フォトディテクタ56、57によりフォーカスサーボ制
御を行った場合よりも、光ディスクの信号記録面の位置
を対物レンズ34に近づいた位置で保持するように成っ
ている。すなわち、このフォーカス引き込み補助用のフ
ォトディテクタ61、62は、対物レンズ34と光ディ
スクの記録面との距離が、通常より近づいた状態(ディ
スクNear)でフォーカスエラー信号が零となるよう
な位置に設けられている。そして、第2の光学系12の
2群対物レンズ部22は、対物レンズ34に対してディ
スクNearの状態で、光ディスクの記録面がフォーカ
ス引き込み範囲内に入るように、ボビン36に設けられ
ている。
引き込み補助用のフォトディテクタ61、62を用いて
フォーカスサーボ制御を行った場合には、第1と第2の
フォトディテクタ56、57によりフォーカスサーボ制
御を行った場合よりも、光ディスクの信号記録面の位置
を対物レンズ34に近づいた位置で保持するように成っ
ている。すなわち、このフォーカス引き込み補助用のフ
ォトディテクタ61、62は、対物レンズ34と光ディ
スクの記録面との距離が、通常より近づいた状態(ディ
スクNear)でフォーカスエラー信号が零となるよう
な位置に設けられている。そして、第2の光学系12の
2群対物レンズ部22は、対物レンズ34に対してディ
スクNearの状態で、光ディスクの記録面がフォーカ
ス引き込み範囲内に入るように、ボビン36に設けられ
ている。
【0080】つまり、第1及び第2のフォーカス引き込
み補助用フォトディテクタ61、62は、対物レンズ3
4の焦点と第3の光ディスク8との間に対物レンズ34
が位置する状態、すなわち対物レンズ34が第3の光デ
ィスク8に対して対物レンズ34の焦点より近い領域内
に位置する状態で、第3の光ディスク8からの反射レー
ザ光を受光する。
み補助用フォトディテクタ61、62は、対物レンズ3
4の焦点と第3の光ディスク8との間に対物レンズ34
が位置する状態、すなわち対物レンズ34が第3の光デ
ィスク8に対して対物レンズ34の焦点より近い領域内
に位置する状態で、第3の光ディスク8からの反射レー
ザ光を受光する。
【0081】このことにより、第2の光学系12が第1
又は第2の光ディスク6、7に対して、記録又は再生を
行う際に、第1の光学系11の2群対物レンズ部22が
第1又は第2の光ディスク6、7に衝突してしまうとい
う不都合を回避することができる。すなわち、光学ヘッ
ド1では、フォーカス引き込み補助用のフォトディテク
タ61、62を用いて第1の光学系11のフォーカス引
き込みの補助動作を行うことにより、2群対物レンズ部
22のワーキングディスタンスは約0.1〜0.5mm
となっているのに対して第1の光ディスク6及び第2の
光ディスク7の光透過層の厚さが0.6mm〜1.2m
m程度となっていることによる、第1の光ディスク6及
び第2の光ディスク7と2群対物レンズ部22との機械
的な干渉を回避することができる。
又は第2の光ディスク6、7に対して、記録又は再生を
行う際に、第1の光学系11の2群対物レンズ部22が
第1又は第2の光ディスク6、7に衝突してしまうとい
う不都合を回避することができる。すなわち、光学ヘッ
ド1では、フォーカス引き込み補助用のフォトディテク
タ61、62を用いて第1の光学系11のフォーカス引
き込みの補助動作を行うことにより、2群対物レンズ部
22のワーキングディスタンスは約0.1〜0.5mm
となっているのに対して第1の光ディスク6及び第2の
光ディスク7の光透過層の厚さが0.6mm〜1.2m
m程度となっていることによる、第1の光ディスク6及
び第2の光ディスク7と2群対物レンズ部22との機械
的な干渉を回避することができる。
【0082】また、第1及び第2のフォーカス引き込み
補助用フォトディテクタ61、62は、第3の光ディス
ク8と2群対物レンズ部22との離間距離を検出するギ
ャップ検出用フォトディテクタとしても機能する。
補助用フォトディテクタ61、62は、第3の光ディス
ク8と2群対物レンズ部22との離間距離を検出するギ
ャップ検出用フォトディテクタとしても機能する。
【0083】光学ヘッド1は、第3の光ディスク8に対
して記録又は再生動作を行っている際に、例えば第3の
光ディスク8に付着した塵埃等に起因して、2群対物レ
ンズ部22が第1の光学系11のフォーカス引き込み範
囲を大きく外れてしまった場合、第1及び第2のフォー
カス引き込み補助用フォトディテクタ61、62が、第
3の光ディスク8と2群対物レンズ部22との離間距離
を検出する。そして、光学ヘッド1は、第2の光学系1
2を利用して、2群対物レンズ部22のフォーカス引き
込みを行う。
して記録又は再生動作を行っている際に、例えば第3の
光ディスク8に付着した塵埃等に起因して、2群対物レ
ンズ部22が第1の光学系11のフォーカス引き込み範
囲を大きく外れてしまった場合、第1及び第2のフォー
カス引き込み補助用フォトディテクタ61、62が、第
3の光ディスク8と2群対物レンズ部22との離間距離
を検出する。そして、光学ヘッド1は、第2の光学系1
2を利用して、2群対物レンズ部22のフォーカス引き
込みを行う。
【0084】また、上述した第2の光学系12は、第1
及び第2の光ディスク6、7をそれぞれ再生することが
可能とされるが、第2の光学系12をフォーカス引き込
み補助手段としてのみに用いる場合には、例えば第1の
光ディスク6を再生可能な一般的な光ピックアップユニ
ットを、対物レンズの倍率を変更することにより流用す
ることもできる。光ピックアップユニットにおいて、対
物レンズは一般的に横倍率が4.0〜5.5倍程度とさ
れており、またフォーカス引き込み範囲は±5〜15μ
m程度に設定されている。フォーカスエラー信号を得る
方法として、いわゆる非点収差法や差動3分割法などが
用いられている光学系では、フォーカス引き込み範囲
が、対物レンズの前方側と後方側の2箇所の焦点位置の
距離に依存するため、光学的に対物レンズの縦倍率に関
係する。
及び第2の光ディスク6、7をそれぞれ再生することが
可能とされるが、第2の光学系12をフォーカス引き込
み補助手段としてのみに用いる場合には、例えば第1の
光ディスク6を再生可能な一般的な光ピックアップユニ
ットを、対物レンズの倍率を変更することにより流用す
ることもできる。光ピックアップユニットにおいて、対
物レンズは一般的に横倍率が4.0〜5.5倍程度とさ
れており、またフォーカス引き込み範囲は±5〜15μ
m程度に設定されている。フォーカスエラー信号を得る
方法として、いわゆる非点収差法や差動3分割法などが
用いられている光学系では、フォーカス引き込み範囲
が、対物レンズの前方側と後方側の2箇所の焦点位置の
距離に依存するため、光学的に対物レンズの縦倍率に関
係する。
【0085】そして、この光ピックアップユニットのフ
ォーカス引き込み範囲を広げるためには、対物レンズの
横倍率を小さくすることにより実現できる。したがっ
て、対物レンズは、縦倍率=(横倍率)2 であることよ
り縦倍率が16〜30倍であり、±0.2mmの引き込
み範囲にするには、第1のフォトディテクタと第2のフ
ォトディテクタとの空気換算距離を0.74とすれば、 √{0.74/(0.2×2×2)}=1 となり、横倍率が1倍の対物レンズを使用することで、
フォーカス引き込み範囲を±0.2mm=200μmに
広げることができる。
ォーカス引き込み範囲を広げるためには、対物レンズの
横倍率を小さくすることにより実現できる。したがっ
て、対物レンズは、縦倍率=(横倍率)2 であることよ
り縦倍率が16〜30倍であり、±0.2mmの引き込
み範囲にするには、第1のフォトディテクタと第2のフ
ォトディテクタとの空気換算距離を0.74とすれば、 √{0.74/(0.2×2×2)}=1 となり、横倍率が1倍の対物レンズを使用することで、
フォーカス引き込み範囲を±0.2mm=200μmに
広げることができる。
【0086】すなわち、第1の光学系11のフォーカス
引き込み範囲に比して広いフォーカス引き込み範囲を有
する第2の光学系12としては、一般的な光ピックアッ
プユニットの対物レンズを、横倍率が1倍程度の対物レ
ンズに差し替えることによって、容易且つ安価に製造す
ることができる。
引き込み範囲に比して広いフォーカス引き込み範囲を有
する第2の光学系12としては、一般的な光ピックアッ
プユニットの対物レンズを、横倍率が1倍程度の対物レ
ンズに差し替えることによって、容易且つ安価に製造す
ることができる。
【0087】また、対物レンズの横倍率を変更した場合
には、トラックピッチがカットオフ以下になるため、フ
ォーカスエラー信号を得る方法として、いわゆる3分割
法などの他の方法を用いてもよい。
には、トラックピッチがカットオフ以下になるため、フ
ォーカスエラー信号を得る方法として、いわゆる3分割
法などの他の方法を用いてもよい。
【0088】以上のように光学ヘッド1では、第1の光
学系11の2群対物レンズ部22のフォーカス引き込み
を行う際に、フォーカス引き込み範囲の広い対物レンズ
34を利用してフォーカス引き込みを行うようにしてい
るので、フォーカスサーチを容易に行うことができ、2
群対物レンズ部22と第3の光ディスク8との衝突を確
実に防止することができる。
学系11の2群対物レンズ部22のフォーカス引き込み
を行う際に、フォーカス引き込み範囲の広い対物レンズ
34を利用してフォーカス引き込みを行うようにしてい
るので、フォーカスサーチを容易に行うことができ、2
群対物レンズ部22と第3の光ディスク8との衝突を確
実に防止することができる。
【0089】(信号処理部)以上のような光学ヘッド1
が用いられる本発明の実施の形態の光ディスク装置は、
この光学ヘッド1が検出した受光信号に基づき、フォー
カスサーボ制御を行う信号処理部69を備えている。
が用いられる本発明の実施の形態の光ディスク装置は、
この光学ヘッド1が検出した受光信号に基づき、フォー
カスサーボ制御を行う信号処理部69を備えている。
【0090】つぎに、この信号処理部69について図面
を参照して説明する。
を参照して説明する。
【0091】信号処理部69は、図9に示すように、第
1の光学系11により得られる反射レーザ光を受光する
フォトディテクタ28が検出した受光信号が供給される
第1のフォーカスエラー信号生成回路70及び第1の和
信号生成回路71と、第1のフォーカスエラー信号生成
回路70により生成された第1のフォーカスエラー信号
及び第1の和信号生成回路71により生成された第1の
和信号が供給される第1のフォーカス引き込み範囲検出
回路72と、第1の和信号生成回路71により生成され
た第1の和信号が供給されるフォーカス外れ検出回路7
3と、第1のフォーカスエラー信号生成回路70により
生成された第1のフォーカスエラー信号が供給される第
1の位相補償回路74とを備えている。
1の光学系11により得られる反射レーザ光を受光する
フォトディテクタ28が検出した受光信号が供給される
第1のフォーカスエラー信号生成回路70及び第1の和
信号生成回路71と、第1のフォーカスエラー信号生成
回路70により生成された第1のフォーカスエラー信号
及び第1の和信号生成回路71により生成された第1の
和信号が供給される第1のフォーカス引き込み範囲検出
回路72と、第1の和信号生成回路71により生成され
た第1の和信号が供給されるフォーカス外れ検出回路7
3と、第1のフォーカスエラー信号生成回路70により
生成された第1のフォーカスエラー信号が供給される第
1の位相補償回路74とを備えている。
【0092】また、信号処理部69は、第2の光学系1
2により得られる反射レーザ光を受光する第1及び第2
のフォーカス引き込み補助用フォトディテクタ61、6
2が検出した受光信号が供給される第2のフォーカスエ
ラー信号生成回路75及び第2の和信号生成回路76
と、オフセット電圧発生回路77と、第2のフォーカス
エラー信号生成回路により生成された第2のフォーカス
エラー信号にオフセット電圧発生回路77により発生さ
れたオフセット電圧を加える加算回路78と、加算回路
78によりオフセット電圧が加算された第2のフォーカ
スエラー信号及び第2の和信号生成回路76により生成
された第2の和信号が供給される第2のフォーカス引き
込み範囲検出回路79と、加算回路78によりオフセッ
ト電圧が加算された第2のフォーカスエラー信号が供給
される過接近検出回路80と、サーチ信号発生回路81
と、加算回路78によりオフセット電圧が加算された第
2のフォーカスエラー信号が供給される第2の位相補償
回路82とを備えている。
2により得られる反射レーザ光を受光する第1及び第2
のフォーカス引き込み補助用フォトディテクタ61、6
2が検出した受光信号が供給される第2のフォーカスエ
ラー信号生成回路75及び第2の和信号生成回路76
と、オフセット電圧発生回路77と、第2のフォーカス
エラー信号生成回路により生成された第2のフォーカス
エラー信号にオフセット電圧発生回路77により発生さ
れたオフセット電圧を加える加算回路78と、加算回路
78によりオフセット電圧が加算された第2のフォーカ
スエラー信号及び第2の和信号生成回路76により生成
された第2の和信号が供給される第2のフォーカス引き
込み範囲検出回路79と、加算回路78によりオフセッ
ト電圧が加算された第2のフォーカスエラー信号が供給
される過接近検出回路80と、サーチ信号発生回路81
と、加算回路78によりオフセット電圧が加算された第
2のフォーカスエラー信号が供給される第2の位相補償
回路82とを備えている。
【0093】また、信号処理部69は、第1の位相補償
回路74により位相補償がされた第1のフォーカスエラ
ー信号が供給される端子83a、第2の位相補償回路8
2により位相補償がされた第2のフォーカスエラー信号
が供給される端子83b、サーチ信号発生回路81より
発生されたサーチ信号が供給される端子83cを有する
スイッチ83を備えている。
回路74により位相補償がされた第1のフォーカスエラ
ー信号が供給される端子83a、第2の位相補償回路8
2により位相補償がされた第2のフォーカスエラー信号
が供給される端子83b、サーチ信号発生回路81より
発生されたサーチ信号が供給される端子83cを有する
スイッチ83を備えている。
【0094】また、信号処理部69は、第1のフォーカ
ス引き込み範囲検出回路72により生成される第1のフ
ォーカスサーボ引き込み可能ステータス信号、フォーカ
ス外れ検出回路73により生成された第1のフォーカス
サーボのフォーカスサーボ外れステータス信号、第2の
フォーカス引き込み範囲検出回路79により生成される
第2のフォーカスサーボ引き込み可能ステータス信号、
及び、過接近検出回路80により生成される過接近ステ
ータス信号が供給されるループ制御回路84を備えてい
る。
ス引き込み範囲検出回路72により生成される第1のフ
ォーカスサーボ引き込み可能ステータス信号、フォーカ
ス外れ検出回路73により生成された第1のフォーカス
サーボのフォーカスサーボ外れステータス信号、第2の
フォーカス引き込み範囲検出回路79により生成される
第2のフォーカスサーボ引き込み可能ステータス信号、
及び、過接近検出回路80により生成される過接近ステ
ータス信号が供給されるループ制御回路84を備えてい
る。
【0095】また、信号処理部69は、スイッチ83を
介して、第1の位相補償回路74により位相補償がされ
た第1のフォーカスエラー信号、第2の位相補償回路8
2により位相補償がされた第2のフォーカスエラー信
号、サーチ信号発生回路81より発生されたサーチ信号
のいずれかの信号が供給され、光学ヘッド1の電磁駆動
機37を駆動するフォーカスドライバ85とを備えてい
る。
介して、第1の位相補償回路74により位相補償がされ
た第1のフォーカスエラー信号、第2の位相補償回路8
2により位相補償がされた第2のフォーカスエラー信
号、サーチ信号発生回路81より発生されたサーチ信号
のいずれかの信号が供給され、光学ヘッド1の電磁駆動
機37を駆動するフォーカスドライバ85とを備えてい
る。
【0096】第1のフォーカスエラー信号生成回路70
は、いわゆる非点収差法等を用いて、フォトディテクタ
28からの受光信号に基づき第1のフォーカスエラー信
号を生成する。第1のフォーカスエラー信号生成回路7
0は、生成した第1のフォーカスエラー信号を第1のフ
ォーカス引き込み範囲検出回路72及び第1の位相補償
回路74に供給する。
は、いわゆる非点収差法等を用いて、フォトディテクタ
28からの受光信号に基づき第1のフォーカスエラー信
号を生成する。第1のフォーカスエラー信号生成回路7
0は、生成した第1のフォーカスエラー信号を第1のフ
ォーカス引き込み範囲検出回路72及び第1の位相補償
回路74に供給する。
【0097】第1の和信号生成回路71は、フォトディ
テクタ28からの受光信号に所定の和演算を行い、この
フォトディテクタ28に照射された反射レーザ光の総光
量を求める。第1の和信号生成回路71は、生成した第
1の和信号を第1のフォーカス引き込み範囲検出回路7
2及びフォーカス外れ検出回路73に供給する。
テクタ28からの受光信号に所定の和演算を行い、この
フォトディテクタ28に照射された反射レーザ光の総光
量を求める。第1の和信号生成回路71は、生成した第
1の和信号を第1のフォーカス引き込み範囲検出回路7
2及びフォーカス外れ検出回路73に供給する。
【0098】第1のフォーカス引き込み範囲検出回路7
2は、第1の光学系11のフォーカス引き込みを行って
いる際に、光学ヘッド1の2群対物レンズ部22の位置
がフォーカスサーボ引き込み範囲内となったかどうかを
検出する回路である。
2は、第1の光学系11のフォーカス引き込みを行って
いる際に、光学ヘッド1の2群対物レンズ部22の位置
がフォーカスサーボ引き込み範囲内となったかどうかを
検出する回路である。
【0099】この第1のフォーカス引き込み範囲検出回
路72は、例えば、図10に示すように、第1のフォー
カスエラー信号が供給される零クロス検出回路72a
と、第1の和信号が供給されるフォーカス状態検出回路
72bと、零クロス検出回路72aから供給される零ク
ロス信号とフォーカス状態検出回路72bから供給され
るフォーカス状態信号とが供給される判定回路72cと
から構成される。零クロス検出回路72aは、第1のフ
ォーカスエラー信号が零レベルのときに得られる零クロ
ス信号をステータス信号として、判定回路72cに供給
する。フォーカス状態検出回路72bは、第1の和信号
が所定の電圧レベル以上となったときに、すなわち、フ
ォトディテクタ28に照射される反射レーザ光の総光量
が所定の光量以上となったときに、フォーカス状態信号
をステータス信号として、判定回路72cに供給する。
判定回路72cは、零クロス信号とフォーカス状態信号
との両者が供給されたときに、フォーカスサーボが引き
込み可能となった、つまり、2群対物レンズ部22がフ
ォーカス引き込み範囲内に移動されたことを示す第1の
フォーカスサーボ引き込み可能ステータス信号を、ルー
プ制御回路84に供給する。
路72は、例えば、図10に示すように、第1のフォー
カスエラー信号が供給される零クロス検出回路72a
と、第1の和信号が供給されるフォーカス状態検出回路
72bと、零クロス検出回路72aから供給される零ク
ロス信号とフォーカス状態検出回路72bから供給され
るフォーカス状態信号とが供給される判定回路72cと
から構成される。零クロス検出回路72aは、第1のフ
ォーカスエラー信号が零レベルのときに得られる零クロ
ス信号をステータス信号として、判定回路72cに供給
する。フォーカス状態検出回路72bは、第1の和信号
が所定の電圧レベル以上となったときに、すなわち、フ
ォトディテクタ28に照射される反射レーザ光の総光量
が所定の光量以上となったときに、フォーカス状態信号
をステータス信号として、判定回路72cに供給する。
判定回路72cは、零クロス信号とフォーカス状態信号
との両者が供給されたときに、フォーカスサーボが引き
込み可能となった、つまり、2群対物レンズ部22がフ
ォーカス引き込み範囲内に移動されたことを示す第1の
フォーカスサーボ引き込み可能ステータス信号を、ルー
プ制御回路84に供給する。
【0100】フォーカス外れ検出回路73は、第1の和
信号と所定の電圧レベルと比較し、第1の和信号がこの
所定の電圧レベル以下となったときに、第1の光学系1
1により形成されるフォーカスサーボループが外れたこ
とを示すフォーカス外れステータス信号を生成する。す
なわち、このフォーカス外れ検出回路73は、フォトデ
ィテクタ28に照射される反射レーザ光の総光量が所定
の光量以下となったときに、フォーカス外れステータス
信号を生成する。このフォーカス外れ検出回路73は、
フォーカス外れステータス信号を、ループ制御回路84
に供給する。
信号と所定の電圧レベルと比較し、第1の和信号がこの
所定の電圧レベル以下となったときに、第1の光学系1
1により形成されるフォーカスサーボループが外れたこ
とを示すフォーカス外れステータス信号を生成する。す
なわち、このフォーカス外れ検出回路73は、フォトデ
ィテクタ28に照射される反射レーザ光の総光量が所定
の光量以下となったときに、フォーカス外れステータス
信号を生成する。このフォーカス外れ検出回路73は、
フォーカス外れステータス信号を、ループ制御回路84
に供給する。
【0101】第1の位相補償回路74は、第1のフォー
カスエラー信号生成回路70により生成された第1のフ
ォーカスエラー信号に所定の位相補償を行う。
カスエラー信号生成回路70により生成された第1のフ
ォーカスエラー信号に所定の位相補償を行う。
【0102】第2のフォーカスエラー信号生成回路75
は、いわゆる差動3分割法等を用いて、第1及び第2の
フォーカス引き込み補助用フォトディテクタ61、62
からの受光信号に基づき第2のフォーカスエラー信号を
生成する。第2のフォーカスエラー信号生成回路75
は、生成した第2のフォーカスエラー信号を加算回路7
8を介して過接近検出回路80、第2のフォーカス引き
込み範囲検出回路79及び第2の位相補償回路82に供
給する。
は、いわゆる差動3分割法等を用いて、第1及び第2の
フォーカス引き込み補助用フォトディテクタ61、62
からの受光信号に基づき第2のフォーカスエラー信号を
生成する。第2のフォーカスエラー信号生成回路75
は、生成した第2のフォーカスエラー信号を加算回路7
8を介して過接近検出回路80、第2のフォーカス引き
込み範囲検出回路79及び第2の位相補償回路82に供
給する。
【0103】加算回路78は、第2のフォーカスエラー
信号生成回路75が生成した第2のフォーカスエラー信
号に、オフセット電圧発生回路77が発生した所定のオ
フセット電圧を加算する。
信号生成回路75が生成した第2のフォーカスエラー信
号に、オフセット電圧発生回路77が発生した所定のオ
フセット電圧を加算する。
【0104】第2の和信号生成回路76は、第1及び第
2のフォーカス引き込み補助用フォトディテクタ61、
62からの受光信号に所定の和演算を行い、このフォト
ディテクタ28に照射された反射レーザ光の総光量を求
める。第2の和信号生成回路76は、生成した第2の和
信号を第2のフォーカス引き込み範囲検出回路79に供
給する。
2のフォーカス引き込み補助用フォトディテクタ61、
62からの受光信号に所定の和演算を行い、このフォト
ディテクタ28に照射された反射レーザ光の総光量を求
める。第2の和信号生成回路76は、生成した第2の和
信号を第2のフォーカス引き込み範囲検出回路79に供
給する。
【0105】第2のフォーカス引き込み範囲検出回路7
9は、第2の光学系12のフォーカス引き込みを行って
いる際に、光学ヘッド1の対物レンズ34の位置がフォ
ーカスサーボ引き込み範囲内となったかどうかを検出す
る回路である。
9は、第2の光学系12のフォーカス引き込みを行って
いる際に、光学ヘッド1の対物レンズ34の位置がフォ
ーカスサーボ引き込み範囲内となったかどうかを検出す
る回路である。
【0106】この第2のフォーカス引き込み範囲検出回
路79は、例えば、図11に示すように、第2のフォー
カスエラー信号が供給される零クロス検出回路79a
と、第2の和信号が供給されるフォーカス状態検出回路
79bと、零クロス検出回路79aから供給される零ク
ロス信号とフォーカス状態検出回路79bから供給され
るフォーカス状態信号とが供給される判定回路79cと
から構成される。零クロス検出回路79aは、第2のフ
ォーカスエラー信号が零レベルのときに得られる零クロ
ス信号をステータス信号として、判定回路79cに供給
する。フォーカス状態検出回路79bは、第2の和信号
が所定の電圧レベル以上となったときに、すなわち、第
1及び第2のフォーカス引き込み補助用フォトディテク
タ61、62に照射される反射レーザ光の総光量が所定
の光量以上となったときに、フォーカス状態信号をステ
ータス信号として、判定回路79cに供給する。判定回
路79cは、零クロス信号とフォーカス状態信号との両
者が供給されたときに、フォーカスサーボが引き込み可
能となった、つまり、対物レンズ34がフォーカス引き
込み範囲内に移動されたことを示す第2のフォーカスサ
ーボ引き込み可能ステータス信号を、ループ制御回路8
4に供給する。
路79は、例えば、図11に示すように、第2のフォー
カスエラー信号が供給される零クロス検出回路79a
と、第2の和信号が供給されるフォーカス状態検出回路
79bと、零クロス検出回路79aから供給される零ク
ロス信号とフォーカス状態検出回路79bから供給され
るフォーカス状態信号とが供給される判定回路79cと
から構成される。零クロス検出回路79aは、第2のフ
ォーカスエラー信号が零レベルのときに得られる零クロ
ス信号をステータス信号として、判定回路79cに供給
する。フォーカス状態検出回路79bは、第2の和信号
が所定の電圧レベル以上となったときに、すなわち、第
1及び第2のフォーカス引き込み補助用フォトディテク
タ61、62に照射される反射レーザ光の総光量が所定
の光量以上となったときに、フォーカス状態信号をステ
ータス信号として、判定回路79cに供給する。判定回
路79cは、零クロス信号とフォーカス状態信号との両
者が供給されたときに、フォーカスサーボが引き込み可
能となった、つまり、対物レンズ34がフォーカス引き
込み範囲内に移動されたことを示す第2のフォーカスサ
ーボ引き込み可能ステータス信号を、ループ制御回路8
4に供給する。
【0107】過接近検出回路80は、第2のフォーカス
エラー信号生成回路75から供給される第2のフォーカ
スエラー信号と所定の電圧レベルと比較し、第2のフォ
ーカスエラー信号がこの所定の電圧レベル以上となった
ときに、第2の光学系12の対物レンズ34が光ディス
クに過接近をしたことを示す過接近ステータス信号を発
生する。過接近検出回路80は、この過接近ステータス
信号を、ループ制御回路84に供給する。
エラー信号生成回路75から供給される第2のフォーカ
スエラー信号と所定の電圧レベルと比較し、第2のフォ
ーカスエラー信号がこの所定の電圧レベル以上となった
ときに、第2の光学系12の対物レンズ34が光ディス
クに過接近をしたことを示す過接近ステータス信号を発
生する。過接近検出回路80は、この過接近ステータス
信号を、ループ制御回路84に供給する。
【0108】第2の位相補償回路82は、第2のフォー
カスエラー信号生成回路78により生成された第2のフ
ォーカスエラー信号に、所定の位相補償を行う。
カスエラー信号生成回路78により生成された第2のフ
ォーカスエラー信号に、所定の位相補償を行う。
【0109】サーチ信号発生回路81は、フォーカスサ
ーボ引き込み時に、2群対物レンズ部22及び対物レン
ズ34が設けられたボビン36を、光ディスクに対して
接離する方向に動作させるためのランプ信号であるサー
チ信号を発生する。
ーボ引き込み時に、2群対物レンズ部22及び対物レン
ズ34が設けられたボビン36を、光ディスクに対して
接離する方向に動作させるためのランプ信号であるサー
チ信号を発生する。
【0110】スイッチ83の端子83aには第1の位相
補償回路74により位相補償された第1のフォーカスエ
ラー信号が供給され、端子83bには第2の位相補償回
路82により位相補償がされた第2のフォーカスエラー
信号が供給され、端子83cにはサーチ信号発生回路8
1から発生されたサーチ信号が供給される。端子83
a、83b、83cに供給された各信号は、ループ制御
回路84の制御信号に基づき切り換えられて、フォーカ
スドライバ85に供給される。
補償回路74により位相補償された第1のフォーカスエ
ラー信号が供給され、端子83bには第2の位相補償回
路82により位相補償がされた第2のフォーカスエラー
信号が供給され、端子83cにはサーチ信号発生回路8
1から発生されたサーチ信号が供給される。端子83
a、83b、83cに供給された各信号は、ループ制御
回路84の制御信号に基づき切り換えられて、フォーカ
スドライバ85に供給される。
【0111】ループ制御回路84には、第1のフォーカ
ス引き込み範囲検出回路72からの第1のフォーカスサ
ーボ引き込み可能ステータス信号と、フォーカス外れ検
出回路73からのフォーカス外れステータス信号と、第
2のフォーカス引き込み範囲検出回路79からの第2の
フォーカスサーボ引き込み可能ステータス信号と、過接
近検出回路80からの過接近ステータス信号とが供給さ
れ、各信号に応じてスイッチ83の接点を切り換える。
このループ制御回路84は、スイッチ83の接点を端子
83aに切り換えることにより、位相補償をした第1の
フォーカスエラー信号をフォーカスドライバ85に供給
し第1の光学系11を用いたフォーカスサーボループを
形成する。また、このループ制御回路84は、スイッチ
83の接点を端子83bに切り換えることにより、位相
補償をした第2のフォーカスエラー信号をフォーカスド
ライバ85に供給し第2の光学系12を用いたフォーカ
スサーボループを形成する。また、このループ制御回路
84は、スイッチ83の接点を端子83cに切り換える
ことにより、フォーカスサーボの引き込み時に用いられ
るランプ信号であるサーチ信号をフォーカスドライバ8
5に供給する。
ス引き込み範囲検出回路72からの第1のフォーカスサ
ーボ引き込み可能ステータス信号と、フォーカス外れ検
出回路73からのフォーカス外れステータス信号と、第
2のフォーカス引き込み範囲検出回路79からの第2の
フォーカスサーボ引き込み可能ステータス信号と、過接
近検出回路80からの過接近ステータス信号とが供給さ
れ、各信号に応じてスイッチ83の接点を切り換える。
このループ制御回路84は、スイッチ83の接点を端子
83aに切り換えることにより、位相補償をした第1の
フォーカスエラー信号をフォーカスドライバ85に供給
し第1の光学系11を用いたフォーカスサーボループを
形成する。また、このループ制御回路84は、スイッチ
83の接点を端子83bに切り換えることにより、位相
補償をした第2のフォーカスエラー信号をフォーカスド
ライバ85に供給し第2の光学系12を用いたフォーカ
スサーボループを形成する。また、このループ制御回路
84は、スイッチ83の接点を端子83cに切り換える
ことにより、フォーカスサーボの引き込み時に用いられ
るランプ信号であるサーチ信号をフォーカスドライバ8
5に供給する。
【0112】フォーカスドライバ85は、スイッチ83
を介して供給された信号に応じて、光学ヘッド1の電磁
駆動機37を駆動し、2群対物レンズ部22及び対物レ
ンズ34を光ディスクに対して接離する方向に移動させ
る。
を介して供給された信号に応じて、光学ヘッド1の電磁
駆動機37を駆動し、2群対物レンズ部22及び対物レ
ンズ34を光ディスクに対して接離する方向に移動させ
る。
【0113】つぎに、以上のような構成の光ディスク装
置2の信号処理部69による、第3の光ディスク8に対
するフォーカス引き込み処理動作について説明する。
置2の信号処理部69による、第3の光ディスク8に対
するフォーカス引き込み処理動作について説明する。
【0114】まず、この光ディスク装置2の記録或いは
再生動作前、すなわち、信号処理部69によるフォーカ
ス引き込み動作処理動作がされる前には、ボビン36に
設けられている対物レンズ34及び2群対物レンズ部2
2が、第3の光ディスク8から最も離れた初期位置にあ
る。
再生動作前、すなわち、信号処理部69によるフォーカ
ス引き込み動作処理動作がされる前には、ボビン36に
設けられている対物レンズ34及び2群対物レンズ部2
2が、第3の光ディスク8から最も離れた初期位置にあ
る。
【0115】フォーカス引き込み処理動作が開始される
と、ループ制御回路84がスイッチ83を制御し、端子
83cを選択する。すると、図12(a)に示すよう
な、2群対物レンズ部22と対物レンズ34とを第3の
光ディスク8に対して接離する方向に移動させるサーチ
信号が、このスイッチ83の端子83cを介してフォー
カスドライバ85に供給される。フォーカスドライバ8
5は、このサーチ信号に応じて、光学ヘッド1に備えら
れる電磁駆動機構37を駆動することによりボビン36
を移動させ、対物レンズ34及び2群対物レンズ部22
を第3の光ディスク8から最も離れた初期位置から、こ
の第3の光ディスク8に近づける方向に移動させる。な
お、対物レンズ34と2群対物レンズ部22とはともに
ボビン36に取り付けられているため、このボビン36
を移動させることにより、両者がともに移動する。
と、ループ制御回路84がスイッチ83を制御し、端子
83cを選択する。すると、図12(a)に示すよう
な、2群対物レンズ部22と対物レンズ34とを第3の
光ディスク8に対して接離する方向に移動させるサーチ
信号が、このスイッチ83の端子83cを介してフォー
カスドライバ85に供給される。フォーカスドライバ8
5は、このサーチ信号に応じて、光学ヘッド1に備えら
れる電磁駆動機構37を駆動することによりボビン36
を移動させ、対物レンズ34及び2群対物レンズ部22
を第3の光ディスク8から最も離れた初期位置から、こ
の第3の光ディスク8に近づける方向に移動させる。な
お、対物レンズ34と2群対物レンズ部22とはともに
ボビン36に取り付けられているため、このボビン36
を移動させることにより、両者がともに移動する。
【0116】フォーカスドライバ85が対物レンズ34
及び2群対物レンズ部22を移動させるサーチ動作が開
始されると、第2のフォーカスエラー信号生成回路75
は、図12(b)に示すような第2のフォーカスエラー
信号を生成し、第2の和信号生成回路76は、第2の和
信号を生成する。すると、第2のフォーカス引き込み範
囲検出回路79は、第2のフォーカスエラー信号生成回
路75から供給される第2のフォーカスエラー信号の零
クロス検出を行い図12(c)に示すような零クロス信
号を生成するとともに、第2の和信号生成回路76から
供給される第2の和信号を図12(d)に示すように所
定の基準電圧と比較する。このことにより第2のフォー
カスエラー信号生成回路75は、第3の光ディスク8に
レーザ光を照射している対物レンズ34の位置がフォー
カスサーボの引き込み範囲内に入ったかどうかを検出す
る。第2のフォーカス引き込み範囲検出回路79は、こ
の対物レンズ34がフォーカスサーボの引き込み範囲内
に入ったときに、図12(e)に示すような、第2のフ
ォーカスサーボ引き込み可能ステータス信号をループ制
御回路84に供給する。
及び2群対物レンズ部22を移動させるサーチ動作が開
始されると、第2のフォーカスエラー信号生成回路75
は、図12(b)に示すような第2のフォーカスエラー
信号を生成し、第2の和信号生成回路76は、第2の和
信号を生成する。すると、第2のフォーカス引き込み範
囲検出回路79は、第2のフォーカスエラー信号生成回
路75から供給される第2のフォーカスエラー信号の零
クロス検出を行い図12(c)に示すような零クロス信
号を生成するとともに、第2の和信号生成回路76から
供給される第2の和信号を図12(d)に示すように所
定の基準電圧と比較する。このことにより第2のフォー
カスエラー信号生成回路75は、第3の光ディスク8に
レーザ光を照射している対物レンズ34の位置がフォー
カスサーボの引き込み範囲内に入ったかどうかを検出す
る。第2のフォーカス引き込み範囲検出回路79は、こ
の対物レンズ34がフォーカスサーボの引き込み範囲内
に入ったときに、図12(e)に示すような、第2のフ
ォーカスサーボ引き込み可能ステータス信号をループ制
御回路84に供給する。
【0117】ループ制御回路84は、この第2のフォー
カスサーボ引き込み可能ステータス信号が供給される
と、スイッチ83の接点を端子83cから端子83bに
切り換え、第2の位相補償回路82により位相補償がさ
れた第2のフォーカスエラー信号をフォーカスドライバ
85に供給する。このことにより、第2のフォーカスエ
ラー信号によるフォーカスサーボループ、すなわち、第
2の光学系12によるフォーカスサーボループが形成さ
れる。
カスサーボ引き込み可能ステータス信号が供給される
と、スイッチ83の接点を端子83cから端子83bに
切り換え、第2の位相補償回路82により位相補償がさ
れた第2のフォーカスエラー信号をフォーカスドライバ
85に供給する。このことにより、第2のフォーカスエ
ラー信号によるフォーカスサーボループ、すなわち、第
2の光学系12によるフォーカスサーボループが形成さ
れる。
【0118】続いて、この第2のフォーカスエラー信号
によるフォーカスサーボループが形成されると、第1の
フォーカス引き込み範囲検出回路72には、第1のフォ
ーカスエラー信号生成回路70から第1のフォーカスエ
ラー信号が供給されるとともに、第1の和信号生成回路
71から第1の和信号が供給される。そして、第1のフ
ォーカス引き込み範囲検出回路72は、この第1のフォ
ーカスエラー信号の零クロス検出を行い零クロス信号を
生成するとともに、第2の和信号を所定の基準電圧と比
較することにより、第3の光ディスク8にレーザ光を照
射している2群対物レンズ部22の位置がフォーカスサ
ーボの引き込み範囲内に入ったかどうかを検出する。第
1の和信号生成回路71は、この2群対物レンズ部22
がフォーカスサーボの引き込み範囲内に入ったときに、
第1のフォーカスサーボ引き込み可能ステータス信号を
出力する。
によるフォーカスサーボループが形成されると、第1の
フォーカス引き込み範囲検出回路72には、第1のフォ
ーカスエラー信号生成回路70から第1のフォーカスエ
ラー信号が供給されるとともに、第1の和信号生成回路
71から第1の和信号が供給される。そして、第1のフ
ォーカス引き込み範囲検出回路72は、この第1のフォ
ーカスエラー信号の零クロス検出を行い零クロス信号を
生成するとともに、第2の和信号を所定の基準電圧と比
較することにより、第3の光ディスク8にレーザ光を照
射している2群対物レンズ部22の位置がフォーカスサ
ーボの引き込み範囲内に入ったかどうかを検出する。第
1の和信号生成回路71は、この2群対物レンズ部22
がフォーカスサーボの引き込み範囲内に入ったときに、
第1のフォーカスサーボ引き込み可能ステータス信号を
出力する。
【0119】ループ制御回路84は、この第1のフォー
カスサーボ引き込み可能ステータス信号が供給される
と、スイッチ83の接点を端子83bから端子83aに
切り換え、第1の位相補償回路74により位相補償がさ
れた第1のフォーカスエラー信号をフォーカスドライバ
85に供給する。このことにより、第1のフォーカスエ
ラー信号によるフォーカスサーボループ、すなわち、第
1の光学系11によるフォーカスサーボループが形成さ
れる。
カスサーボ引き込み可能ステータス信号が供給される
と、スイッチ83の接点を端子83bから端子83aに
切り換え、第1の位相補償回路74により位相補償がさ
れた第1のフォーカスエラー信号をフォーカスドライバ
85に供給する。このことにより、第1のフォーカスエ
ラー信号によるフォーカスサーボループ、すなわち、第
1の光学系11によるフォーカスサーボループが形成さ
れる。
【0120】以上のように、信号処理部69では、フォ
ーカス引き込み範囲が広い第2の光学系12を利用すし
て、フォーカスサーボの引き込み範囲が狭い2群対物レ
ンズ部22のフォーカス引き込み動作を行う。このこと
により、この信号処理部69では、フォーカスサーボの
引き込み範囲が狭い第1の光学系11のフォーカス引き
込み動作を容易に行うことができ、2群対物レンズ部2
2と第3の光ディスク8との衝突等を回避することがで
きる。
ーカス引き込み範囲が広い第2の光学系12を利用すし
て、フォーカスサーボの引き込み範囲が狭い2群対物レ
ンズ部22のフォーカス引き込み動作を行う。このこと
により、この信号処理部69では、フォーカスサーボの
引き込み範囲が狭い第1の光学系11のフォーカス引き
込み動作を容易に行うことができ、2群対物レンズ部2
2と第3の光ディスク8との衝突等を回避することがで
きる。
【0121】なお、以上のフォーカス引き込み動作にお
いて、フォーカス引き込み動作が失敗した場合、サーチ
信号発生回路81が発生するサーチ信号がフォーカスド
ライバ85に供給され続けてしまう。そのため、2群対
物レンズ部22が第3の光ディスク8に接近し続ける。
過接近検出回路80は、第2のフォーカスエラー信号生
成回路75から供給される第2のフォーカスエラー信号
を所定の基準電圧と比較し、対物レンズ34及び2群対
物レンズ部22がフォーカス引き込み範囲を通過して第
3の光ディスク8に接近したことを判断する。過接近検
出回路80は、第2のフォーカスエラー信号が所定の基
準電圧よりも大きくなったときには、過接近ステータス
信号を出力する。ループ制御回路84は、この過接近ス
テータス信号が供給されると、サーチ信号発生回路81
を制御してサーチ信号を初期電圧にリセットする。この
ことにより、2群対物レンズ部22の過接近が生じた場
合には、この2群対物レンズ部22を第3の光ディスク
8からもっとも離れた位置にもどして再度フォーカスサ
ーボの引き込み動作を行うことができ、フォーカスサー
ボの引き込み時の2群対物レンズ部22の衝突を回避す
ることができる。
いて、フォーカス引き込み動作が失敗した場合、サーチ
信号発生回路81が発生するサーチ信号がフォーカスド
ライバ85に供給され続けてしまう。そのため、2群対
物レンズ部22が第3の光ディスク8に接近し続ける。
過接近検出回路80は、第2のフォーカスエラー信号生
成回路75から供給される第2のフォーカスエラー信号
を所定の基準電圧と比較し、対物レンズ34及び2群対
物レンズ部22がフォーカス引き込み範囲を通過して第
3の光ディスク8に接近したことを判断する。過接近検
出回路80は、第2のフォーカスエラー信号が所定の基
準電圧よりも大きくなったときには、過接近ステータス
信号を出力する。ループ制御回路84は、この過接近ス
テータス信号が供給されると、サーチ信号発生回路81
を制御してサーチ信号を初期電圧にリセットする。この
ことにより、2群対物レンズ部22の過接近が生じた場
合には、この2群対物レンズ部22を第3の光ディスク
8からもっとも離れた位置にもどして再度フォーカスサ
ーボの引き込み動作を行うことができ、フォーカスサー
ボの引き込み時の2群対物レンズ部22の衝突を回避す
ることができる。
【0122】また、ループ制御回路84には、光ディス
ク装置2の記録及び再生動作を制御するメイン制御回路
から、トラッキングサーボループのオン動作及びオフ動
作に応じたスイッチ切り換え制御信号が供給される。ル
ープ制御回路84は、トラッキングサーボのオフ動作を
示すスイッチ切り換え信号が供給されると、スイッチ8
3の接点を端子83aから端子83bに切り換えて、第
2の光学系12によるフォーカスサーボループを形成す
る。そのため、ループ制御回路84は、第3の光ディス
ク8の記録又は再生時において、トラックジャンプ等が
行われトラッキングサーボがオフとなった状態となる
と、フォーカスサーボの引き込み範囲が広い安定したル
ープを形成することができ、トラッキングサーボのオフ
時における攪乱信号が大きい場合であってもフォーカス
サーボループが外れて2群対物レンズ部22と第3の光
ディスク8とが衝突することを回避することができる。
ク装置2の記録及び再生動作を制御するメイン制御回路
から、トラッキングサーボループのオン動作及びオフ動
作に応じたスイッチ切り換え制御信号が供給される。ル
ープ制御回路84は、トラッキングサーボのオフ動作を
示すスイッチ切り換え信号が供給されると、スイッチ8
3の接点を端子83aから端子83bに切り換えて、第
2の光学系12によるフォーカスサーボループを形成す
る。そのため、ループ制御回路84は、第3の光ディス
ク8の記録又は再生時において、トラックジャンプ等が
行われトラッキングサーボがオフとなった状態となる
と、フォーカスサーボの引き込み範囲が広い安定したル
ープを形成することができ、トラッキングサーボのオフ
時における攪乱信号が大きい場合であってもフォーカス
サーボループが外れて2群対物レンズ部22と第3の光
ディスク8とが衝突することを回避することができる。
【0123】また、同様に、ループ制御回路84には、
光ディスク装置2の記録及び再生動作を制御するメイン
制御回路から、光学ヘッド1全体をディスク半径方向に
移動させるスレッドサーチのオン動作及びオフ動作に応
じたスイッチ切り換え制御信号が供給される。ループ制
御回路84は、スレッドサーチのオフ動作を示すスイッ
チ切り換え信号が供給されると、スイッチ83の接点を
端子83aから端子83bに切り換えて、第2の光学系
12によるフォーカスサーボループを形成する。そのた
め、ループ制御回路84は、第3の光ディスク8の記録
又は再生時において、スレッドサーチ等が行われた状態
となると、フォーカスサーボの引き込み範囲が広い安定
したループを形成することができ、スレッドサーチフ時
における攪乱信号が大きい場合であってもフォーカスサ
ーボループが外れて2群対物レンズ部22と第3の光デ
ィスク8とが衝突することを回避することができる。
光ディスク装置2の記録及び再生動作を制御するメイン
制御回路から、光学ヘッド1全体をディスク半径方向に
移動させるスレッドサーチのオン動作及びオフ動作に応
じたスイッチ切り換え制御信号が供給される。ループ制
御回路84は、スレッドサーチのオフ動作を示すスイッ
チ切り換え信号が供給されると、スイッチ83の接点を
端子83aから端子83bに切り換えて、第2の光学系
12によるフォーカスサーボループを形成する。そのた
め、ループ制御回路84は、第3の光ディスク8の記録
又は再生時において、スレッドサーチ等が行われた状態
となると、フォーカスサーボの引き込み範囲が広い安定
したループを形成することができ、スレッドサーチフ時
における攪乱信号が大きい場合であってもフォーカスサ
ーボループが外れて2群対物レンズ部22と第3の光デ
ィスク8とが衝突することを回避することができる。
【0124】また、フォーカス外れ検出回路73は、第
1の光学系11によるフォーカスサーボループが形成さ
れているときに、第1の和信号生成回路71から供給さ
れる第2のフォーカスエラー信号を所定の基準電圧と比
較し、2群対物レンズ部22がフォーカス引き込み範囲
から外れた場合には、フォーカス外れステータス信号を
出力する。ループ制御回路84は、このフォーカス外れ
ステータス信号信号が供給されたときには、スイッチ8
3の接点を端子83aから端子83bに切り換えて第1
の光学系12によるフォーカスサーボループを形成す
る。或いは、ループ制御回路84は、サーチ信号発生回
路81を制御してサーチ信号を初期電圧にリセットし、
この2群対物レンズ部22を第3の光ディスク8からも
っとも離れた位置にもどして再度フォーカスサーボの引
き込み動作を行う。
1の光学系11によるフォーカスサーボループが形成さ
れているときに、第1の和信号生成回路71から供給さ
れる第2のフォーカスエラー信号を所定の基準電圧と比
較し、2群対物レンズ部22がフォーカス引き込み範囲
から外れた場合には、フォーカス外れステータス信号を
出力する。ループ制御回路84は、このフォーカス外れ
ステータス信号信号が供給されたときには、スイッチ8
3の接点を端子83aから端子83bに切り換えて第1
の光学系12によるフォーカスサーボループを形成す
る。或いは、ループ制御回路84は、サーチ信号発生回
路81を制御してサーチ信号を初期電圧にリセットし、
この2群対物レンズ部22を第3の光ディスク8からも
っとも離れた位置にもどして再度フォーカスサーボの引
き込み動作を行う。
【0125】(光ディスク装置の記録再生動作)つぎ
に、以上のような光ディスク装置2について、第1の光
学系11を用いて第3の光ディスク8を再生する動作、
及び第2の光学系12を用いて第1及び第2の光ディス
ク6、7を再生する動作をそれぞれ説明する。
に、以上のような光ディスク装置2について、第1の光
学系11を用いて第3の光ディスク8を再生する動作、
及び第2の光学系12を用いて第1及び第2の光ディス
ク6、7を再生する動作をそれぞれ説明する。
【0126】まず、光ディスク装置2は、図示しないデ
ィスク判別手段によって、装填された光ディスクが、第
1、第2又は第3の光ディスク6、7、8であるかを判
別する。ディスク判別手段の判別信号に応じて、光学ヘ
ッド1は、第3の光ディスク8を再生する場合、第1の
光学系11が例えば波長515nmのレーザ光を出射す
る。
ィスク判別手段によって、装填された光ディスクが、第
1、第2又は第3の光ディスク6、7、8であるかを判
別する。ディスク判別手段の判別信号に応じて、光学ヘ
ッド1は、第3の光ディスク8を再生する場合、第1の
光学系11が例えば波長515nmのレーザ光を出射す
る。
【0127】光ディスク装置2は、第3の光ディスク8
を再生する場合、上述したように光学ヘッド1の第2の
光学系12が、第1の光学系11のフォーカス引き込み
補助手段として機能する。そして、光ディスク装置2
は、第1の光学系11の起動時や、2群対物レンズ部2
2がフォーカス引き込み範囲を大きく外れてしまったと
き、信号処理部69が第1及び第2のフォーカス引き込
み補助用フォトディテクタ61、62の検出信号に応じ
て、フォーカスサーチを行い、第1の光学系11の2群
対物レンズ部22と第2の光学系12の対物レンズ34
とがそれぞれ取り付けられたボビン36を装填された第
3の光ディスク8に接離する方向に移動させる。
を再生する場合、上述したように光学ヘッド1の第2の
光学系12が、第1の光学系11のフォーカス引き込み
補助手段として機能する。そして、光ディスク装置2
は、第1の光学系11の起動時や、2群対物レンズ部2
2がフォーカス引き込み範囲を大きく外れてしまったと
き、信号処理部69が第1及び第2のフォーカス引き込
み補助用フォトディテクタ61、62の検出信号に応じ
て、フォーカスサーチを行い、第1の光学系11の2群
対物レンズ部22と第2の光学系12の対物レンズ34
とがそれぞれ取り付けられたボビン36を装填された第
3の光ディスク8に接離する方向に移動させる。
【0128】そして、光ディスク装置2は、2群対物レ
ンズ部22がフォーカス引き込み範囲内に移動したとき
に、フォーカスサーボのループをONにする。これによ
り、2群対物レンズ部22では、フォーカスサーボ制御
が行われる。
ンズ部22がフォーカス引き込み範囲内に移動したとき
に、フォーカスサーボのループをONにする。これによ
り、2群対物レンズ部22では、フォーカスサーボ制御
が行われる。
【0129】光ディスク装置2は、第1の光学系11に
よるフォーカスサーボ制御及びトラッキングサーボ制御
が行われた状態で、第3の光ディスク8に対して、適切
に信号の記録又は再生を行う。
よるフォーカスサーボ制御及びトラッキングサーボ制御
が行われた状態で、第3の光ディスク8に対して、適切
に信号の記録又は再生を行う。
【0130】また、光ディスク装置2は、第2の光学系
12が第1又は第2の光ディスク6、7を再生する際、
第1の光学系11の2群対物レンズ部22の対物レンズ
34を第1又は第2の光ディスク6、7から遠ざかる方
向に移動させて退避させる。したがって、第2の光学系
12は、フォーカス引き込み補助用フォトディテクタ6
1、62による検出信号に応じて、第1又は第2の光デ
ィスク6、7と2群対物レンズ部22との衝突を防止す
る。
12が第1又は第2の光ディスク6、7を再生する際、
第1の光学系11の2群対物レンズ部22の対物レンズ
34を第1又は第2の光ディスク6、7から遠ざかる方
向に移動させて退避させる。したがって、第2の光学系
12は、フォーカス引き込み補助用フォトディテクタ6
1、62による検出信号に応じて、第1又は第2の光デ
ィスク6、7と2群対物レンズ部22との衝突を防止す
る。
【0131】そして、光学ヘッド1は、第1の光ディス
ク6を再生する場合、第2の光学系12の第1の半導体
レーザ55から例えば波長780nmのレーザ光が出射
され、第2の光学系12によるのフォーカスサーボ制御
及びトラッキングサーボ制御が行われて、第2の光学系
12が第1の光ディスク6に対して適切に信号の記録又
は再生を行う。
ク6を再生する場合、第2の光学系12の第1の半導体
レーザ55から例えば波長780nmのレーザ光が出射
され、第2の光学系12によるのフォーカスサーボ制御
及びトラッキングサーボ制御が行われて、第2の光学系
12が第1の光ディスク6に対して適切に信号の記録又
は再生を行う。
【0132】また、光学ヘッド1は、第2の光ディスク
7を再生する場合、第2の光学系12が、レーザカプラ
31の第2の半導体レーザ56から例えば波長635n
mのレーザ光が出射され、第2の光学系12によるのフ
ォーカスサーボ制御及びトラッキングサーボ制御が行わ
れて、第2の光学系12が第2の光ディスク7に対して
適切に信号の記録又は再生を行う。
7を再生する場合、第2の光学系12が、レーザカプラ
31の第2の半導体レーザ56から例えば波長635n
mのレーザ光が出射され、第2の光学系12によるのフ
ォーカスサーボ制御及びトラッキングサーボ制御が行わ
れて、第2の光学系12が第2の光ディスク7に対して
適切に信号の記録又は再生を行う。
【0133】上述したように、光ディスク装置2によれ
ば、第1の光学系11の2群対物レンズ部22のフォー
カス引き込み動作を行う際に、フォーカス引き込み範囲
の広い第2の光学系12を利用するようにしているの
で、フォーカスサーチを容易に行うことができ、2群対
物レンズ部22と第3の光ディスク8との衝突等を確実
に防止することができる。
ば、第1の光学系11の2群対物レンズ部22のフォー
カス引き込み動作を行う際に、フォーカス引き込み範囲
の広い第2の光学系12を利用するようにしているの
で、フォーカスサーチを容易に行うことができ、2群対
物レンズ部22と第3の光ディスク8との衝突等を確実
に防止することができる。
【0134】また、この光学ヘッド1によれば、同一ボ
ビン36上に2群対物レンズ部22及び対物レンズ34
が配設されたことによって、装置全体の小型化を図るこ
とができる。
ビン36上に2群対物レンズ部22及び対物レンズ34
が配設されたことによって、装置全体の小型化を図るこ
とができる。
【0135】なお、上述した光学ヘッド1は、第2の光
学系12が、第1及び第2のフォトディテクタ57、5
8の外周側に隣接して設けられた第1及び第2のフォー
カス引き込み補助用フォトディテクタ61、62を備
え、これらフォーカス引き込み補助用フォトディテクタ
61、62が、第1及び第2のフォトディテクタ57、
58が受光する反射レーザ光のスポットの外周側部分を
受光するように構成されたが、本発明に係る光学ヘッド
の第2の光学系は、第1及び第2のフォトディテクタを
有するレーザカプラと、このレーザカプラと独立したギ
ャップ検出用フォトディテクタとを備える構成としても
よい。
学系12が、第1及び第2のフォトディテクタ57、5
8の外周側に隣接して設けられた第1及び第2のフォー
カス引き込み補助用フォトディテクタ61、62を備
え、これらフォーカス引き込み補助用フォトディテクタ
61、62が、第1及び第2のフォトディテクタ57、
58が受光する反射レーザ光のスポットの外周側部分を
受光するように構成されたが、本発明に係る光学ヘッド
の第2の光学系は、第1及び第2のフォトディテクタを
有するレーザカプラと、このレーザカプラと独立したギ
ャップ検出用フォトディテクタとを備える構成としても
よい。
【0136】この他の第2の光学系は、図13に示すよ
うに、反射レーザ光を通過させるとともに一部を反射す
るハーフミラー95と、このハーフミラー95により反
射された反射レーザ光を受光する第1及び第2のフォト
ディテクタ96、97を有するレーザカプラ98と、ハ
ーフミラー95を通過した反射レーザ光を受光するフォ
ーカス引き込み補助用フォトディテクタ99とを備えて
構成される。すなわち、この光学系は、ハーフミラー9
5及びフォーカス引き込み補助用フォトディテクタ99
を光路に付加するだけで、一般的なレーザカプラを流用
して容易に製造することができる。
うに、反射レーザ光を通過させるとともに一部を反射す
るハーフミラー95と、このハーフミラー95により反
射された反射レーザ光を受光する第1及び第2のフォト
ディテクタ96、97を有するレーザカプラ98と、ハ
ーフミラー95を通過した反射レーザ光を受光するフォ
ーカス引き込み補助用フォトディテクタ99とを備えて
構成される。すなわち、この光学系は、ハーフミラー9
5及びフォーカス引き込み補助用フォトディテクタ99
を光路に付加するだけで、一般的なレーザカプラを流用
して容易に製造することができる。
【0137】なお、上述した光学ヘッド1の第1の光学
系11は、トラッキングエラー信号を検出する検出方法
として3スポット法が採用されたが、いわゆる1スポッ
ト法(1ビーム法)が用いられてもよい。
系11は、トラッキングエラー信号を検出する検出方法
として3スポット法が採用されたが、いわゆる1スポッ
ト法(1ビーム法)が用いられてもよい。
【0138】また、以上は、光学ヘッド1の第1の光学
系11として、対物レンズとして光軸を一致して配設さ
れた2枚のレンズからなる2群対物レンズ部22を備え
た例について説明したが、本発明に係る光学ヘッドはこ
の例に限定されるものではなく、第1の光学系の対物レ
ンズが1枚のレンズからなる構成としても良いし、3枚
以上のレンズからなる構成としても良い。
系11として、対物レンズとして光軸を一致して配設さ
れた2枚のレンズからなる2群対物レンズ部22を備え
た例について説明したが、本発明に係る光学ヘッドはこ
の例に限定されるものではなく、第1の光学系の対物レ
ンズが1枚のレンズからなる構成としても良いし、3枚
以上のレンズからなる構成としても良い。
【0139】また、本発明に係る光学ヘッドは、光学デ
ィスクとして、CD、DVD、高記録密度ディスク等の
光ディスクに適用されたが、例えば光磁気ディスクや光
記録カード等の他の光記録媒体に適用されてもよい。
ィスクとして、CD、DVD、高記録密度ディスク等の
光ディスクに適用されたが、例えば光磁気ディスクや光
記録カード等の他の光記録媒体に適用されてもよい。
【0140】
【発明の効果】上述したように本発明に係る光学ヘッド
によれば、第1の光学系の第1の対物レンズのフォーカ
ス引き込みを行う際に、フォーカス引き込み範囲の広い
第2のフォーカシング制御手段を利用してフォーカス引
き込みを行うようにしているので、フォーカスサーチを
容易に行うことができ、第1の対物レンズと光学記録媒
体との衝突を確実に防止することができる。
によれば、第1の光学系の第1の対物レンズのフォーカ
ス引き込みを行う際に、フォーカス引き込み範囲の広い
第2のフォーカシング制御手段を利用してフォーカス引
き込みを行うようにしているので、フォーカスサーチを
容易に行うことができ、第1の対物レンズと光学記録媒
体との衝突を確実に防止することができる。
【0141】また、本発明に係る光学ヘッドは、記録密
度の異なる複数の光学記録媒体に対して記録及び/又は
再生を行うことができる。
度の異なる複数の光学記録媒体に対して記録及び/又は
再生を行うことができる。
【0142】さらに、本発明に係る光学ヘッドは、第1
の対物レンズと光学記録媒体との間の距離を検出する距
離検出手段が、第1の対物レンズと光学記録媒体との間
の距離を監視する機能も発揮するので、光学記録媒体上
に付着した塵埃等に起因して、第1の対物レンズが第1
のフォーカシング制御手段のフォーカス引き込み範囲を
外れたときであっても、第1の対物レンズを第1のフォ
ーカシング制御手段の引き込み範囲内に速やかに移動す
ることが可能とされる。
の対物レンズと光学記録媒体との間の距離を検出する距
離検出手段が、第1の対物レンズと光学記録媒体との間
の距離を監視する機能も発揮するので、光学記録媒体上
に付着した塵埃等に起因して、第1の対物レンズが第1
のフォーカシング制御手段のフォーカス引き込み範囲を
外れたときであっても、第1の対物レンズを第1のフォ
ーカシング制御手段の引き込み範囲内に速やかに移動す
ることが可能とされる。
【0143】本発明に係る光ディスク装置によれば、第
1の光学系の第1の対物レンズのフォーカス引き込みを
行う際に、フォーカス引き込み範囲の広い第2の光学系
を利用してフォーカス引き込みを行うようにしているの
で、フォーカスサーチを容易に行うことができ、第1の
対物レンズと光学記録媒体との衝突を確実に防止するこ
とができる。
1の光学系の第1の対物レンズのフォーカス引き込みを
行う際に、フォーカス引き込み範囲の広い第2の光学系
を利用してフォーカス引き込みを行うようにしているの
で、フォーカスサーチを容易に行うことができ、第1の
対物レンズと光学記録媒体との衝突を確実に防止するこ
とができる。
【0144】また、本発明に係る光ディスク装置では、
記録密度の異なる複数の光学記録媒体に対して記録及び
/又は再生を行うことができる。
記録密度の異なる複数の光学記録媒体に対して記録及び
/又は再生を行うことができる。
【0145】さらに、本発明に係る光ディスク装置で
は、第2の光学系が第1の対物レンズと光学記録媒体と
の間の距離を監視する機能も発揮するので、光学記録媒
体上に付着した塵埃等に起因して、第1の対物レンズが
第1のフォーカシング制御手段のフォーカス引き込み範
囲を外れたときであっても、第1の対物レンズを第1の
フォーカシング制御手段の引き込み範囲内に速やかに移
動することが可能とされる。
は、第2の光学系が第1の対物レンズと光学記録媒体と
の間の距離を監視する機能も発揮するので、光学記録媒
体上に付着した塵埃等に起因して、第1の対物レンズが
第1のフォーカシング制御手段のフォーカス引き込み範
囲を外れたときであっても、第1の対物レンズを第1の
フォーカシング制御手段の引き込み範囲内に速やかに移
動することが可能とされる。
【0146】さらに、本発明に係る光ディスク装置で
は、トラッキングサーボのオフ時における攪乱信号が大
きい場合であってもフォーカスサーボループが外れて対
物レンズと光学記録媒体とが衝突することを回避するこ
とができる。
は、トラッキングサーボのオフ時における攪乱信号が大
きい場合であってもフォーカスサーボループが外れて対
物レンズと光学記録媒体とが衝突することを回避するこ
とができる。
【図1】本発明を適用した光学ヘッドの第1の光学系及
び第2の光学系を示す模式図である。
び第2の光学系を示す模式図である。
【図2】上記光学ヘッドが備えるボビン及び電磁駆動機
構を示す平面図である。
構を示す平面図である。
【図3】上記ボビン及び電磁駆動機構を示す側面図であ
る。
る。
【図4】上記光学ヘッドが備える2群対物レンズ部と対
物レンズの位置を示す平面図である。
物レンズの位置を示す平面図である。
【図5】光学ヘッドの第2の光学系が備えるレーザカプ
ラを示す模式図である。
ラを示す模式図である。
【図6】上記レーザカプラの第1及び第2のフォトディ
テクタとギャップ検出用フォトディテクタを示す平面図
である。
テクタとギャップ検出用フォトディテクタを示す平面図
である。
【図7】上記第1及び第2のフォトディテクタの受光状
態を説明するために示す図である。
態を説明するために示す図である。
【図8】フォーカス引き込み範囲を説明する図である。
【図9】本発明を適用した光ディスク装置の信号処理部
のブロック構成図である。
のブロック構成図である。
【図10】上記光ディスク装置の信号処理部の第1のフ
ォーカス引き込み範囲検出回路のブロック構成図であ
る。
ォーカス引き込み範囲検出回路のブロック構成図であ
る。
【図11】上記光ディスク装置の第2のフォーカス引き
込み範囲検出回路のブロック構成図である。
込み範囲検出回路のブロック構成図である。
【図12】上記信号処理部により処理がされる各信号の
波形図である。
波形図である。
【図13】他の第2の光学系を示す模式図である。
1 光学ヘッド、6 第1の光ディスク、7 第2の光
ディスク、8 第3の光ディスク、11 第1の光学
系、12 第2の光学系、22 2群対物レンズ部、2
3 第1のレンズ、24 第2のレンズ、34 対物レ
ンズ、36 ボビン、37 電磁駆動機構、61 第1
のフォーカス引き込み補助用フォトディテクタ、62
第2のフォーカス引き込み補助用フォトディテクタ、6
9 信号処理部
ディスク、8 第3の光ディスク、11 第1の光学
系、12 第2の光学系、22 2群対物レンズ部、2
3 第1のレンズ、24 第2のレンズ、34 対物レ
ンズ、36 ボビン、37 電磁駆動機構、61 第1
のフォーカス引き込み補助用フォトディテクタ、62
第2のフォーカス引き込み補助用フォトディテクタ、6
9 信号処理部
Claims (17)
- 【請求項1】 光学記録媒体に対向配置される第1の対
物レンズと、この第1の対物レンズと光学記録媒体との
間の距離を一定に保つための第1のフォーカシング制御
手段とを有する第1の光学系と、 光学記録媒体に対向配設される第2の対物レンズと、上
記第1のフォーカシング制御手段よりもフォーカス引き
込み範囲が広い第2のフォーカシング制御手段とを有す
る第2の光学系と、 上記第1の対物レンズと上記第2の対物レンズとを支持
するボビンとを備え、 上記第1の対物レンズのフォーカス引き込みを行う際
に、上記第2のフォーカシング制御手段が上記第2の対
物レンズのフォーカス引き込みを行うことにより、上記
第1の対物レンズを上記第1のフォーカシング制御手段
のフォーカス引き込み範囲内に移動させることを特徴と
する光学ヘッド。 - 【請求項2】 上記第1の対物レンズは、光軸を一致し
て配設された複数のレンズを備えてなることを特徴とす
る請求項1記載の光学ヘッド。 - 【請求項3】 上記第1の光学系は、上記第1の対物レ
ンズによって集束した光を第1の光学記録媒体に対して
照射し、 上記第2の光学系は、上記第2の対物レンズによって集
束した光を上記第1の光学記録媒体と記録密度の異なる
第2の光学記録媒体に対して照射することを特徴とする
請求項1記載の光学ヘッド。 - 【請求項4】 上記第1の対物レンズは、開口数が0.
7以上とされ、上記第1のフォーカシング制御手段によ
り上記光学記録媒体との間の距離が0.5mm以下に保
たれることを特徴とする請求項1記載の光学ヘッド。 - 【請求項5】 上記第2の光学系は、上記第1の対物レ
ンズと上記光学記録媒体との間の距離を検出する距離検
出手段を備え、 上記第2のフォーカシング制御手段は、上記距離検出手
段により検出された信号に基づいて上記第1の対物レン
ズを上記第1のフォーカシング制御手段のフォーカス引
き込み範囲内に移動させることを特徴とする請求項1記
載の光学ヘッド。 - 【請求項6】 上記距離検出手段は、上記第2の対物レ
ンズが上記光学記録媒体に対して焦点を結ぶ位置よりも
上記光学記録媒体に近い位置にあるときに、上記光学記
録媒体により反射された戻り光を受光して、上記第1の
対物レンズと上記光学記録媒体との間の距離を検出する
ことを特徴とする請求項5記載の光学ヘッド。 - 【請求項7】 光学記録媒体に対向配置される第1の対
物レンズと、この第1の対物レンズを介してレーザ光を
上記光学記録媒体に出射する第1のレーザ光出射手段
と、上記光学記録媒体からの反射光を検出して受光信号
を生成する第1の受光手段とを有する第1の光学系と、
光学記録媒体に対向配置され上記第1の対物レンズより
も開口数が小さく上記第1の対物レンズよりもフォーカ
スサーボ制御のための可動範囲が広い第2の対物レンズ
と、この第2の対物レンズを介してレーザ光を上記光学
記録媒体に出射する第2のレーザ光出射手段と、上記光
学記録媒体からの反射光を検出して受光信号を生成する
第2の受光手段とを有する第2の光学系と、上記光学記
録媒体に対して接離する方向に移動可能となっており上
記第1の対物レンズと上記第2の対物レンズとを支持す
る支持手段とからなる光学ヘッドと、 上記第1の受光手段により生成された受光信号に応じて
上記支持手段を移動させて上記第1の光学系を用いたフ
ォーカスサーボ制御を行い、上記第2の受光手段により
生成された受光信号に基づき上記支持手段を移動させて
上記第2の光学系を用いたフォーカスサーボ制御を行う
信号処理部とを備え、 上記信号処理部は、上記第2の光学系を用いてフォーカ
スサーボの引き込みを行って第2の光学系を用いたフォ
ーカスサーボループを形成した後、上記第1の光学系を
用いたフォーカスサーボループを形成して、上記第1の
光学系を用いたフォーカスサーボ制御を行うことを特徴
とする光ディスク装置。 - 【請求項8】上記第1の対物レンズは、光軸を一致して
配設された複数のレンズを備えてなることを特徴とする
請求項7に記載の光ディスク装置。 - 【請求項9】 上記第1の光学系は、第1の光学記録媒
体の記録再生を行う際に用いられ、上記第2の光学系
は、上記第1の光学記録媒体よりもデータの記録密度が
低い第2の光学記録媒体の記録再生を行う際に用いられ
ることを特徴とする請求項7に記載の光ディスク装置。 - 【請求項10】 上記第1の光学記録媒体は、上記第2
の光学記録媒体よりも光透過層が薄いことを特徴とする
請求項9に記載の光ディスク装置。 - 【請求項11】 上記信号処理部は、上記第2の光学系
を用いたフォーカスサーボループを形成して上記第2の
光学記録媒体の記録再生を行う場合における位置よりも
第2の対物レンズに近い位置にこの第2の光学記録媒体
を保持した後、上記第1の光学系を用いたフォーカスサ
ーボループを形成することを特徴とする請求項10に記
載の光ディスク装置。 - 【請求項12】 上記第1の対物レンズは、開口数が
0.7以上となっており、光学記録媒体との間の距離が
0.5mm以下に保たれることを特徴とする請求項7に
記載の光ディスク装置。 - 【請求項13】 上記信号処理部は、上記第2の受光手
段により生成された受光信号に基づいて、上記第1の対
物レンズと光学記録媒体との距離が所定距離よりも接近
したことを検出する過接近検出手段を有することを特徴
とする請求項7に記載の光ディスク装置。 - 【請求項14】 上記信号処理部は、上記第1の受光手
段により生成された受光信号に基づいて上記第1の光学
系を用いたフォーカスサーボループが外れたことを検出
するフォーカス外れ検出手段を有し、このフォーカス外
れ検出手段がフォーカス外れを検出した場合には、上記
第2の光学系を用いたフォーカスサーボループを形成す
ることを特徴とする請求項7に記載の光ディスク装置。 - 【請求項15】 上記信号処理部は、上記第1の光学系
を用いて記録又は再生を行っているときに、この第1の
光学系を用いたフォーカスサーボループと第2の光学系
を用いたフォーカスサーボループとを切り換えることを
特徴とする請求項7に記載の光ディスク装置。 - 【請求項16】 上記信号処理部は、トラッキングサー
ボループが形成されていないときに、第2の光学系を用
いたフォーカスサーボループに切り換えることを特徴と
する請求項15に記載の光ディスク装置。 - 【請求項17】 上記信号処理部は、トラッキングサー
ボループが形成された後に、第2の光学系を用いたフォ
ーカスサーボループから第1の光学系を用いたフォーカ
スサーボループに切り換えることを特徴とする請求項1
6に記載の光ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10138972A JPH11273092A (ja) | 1998-01-20 | 1998-05-20 | 光学ヘッド及び光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP896198 | 1998-01-20 | ||
| JP10-8961 | 1998-01-20 | ||
| JP10138972A JPH11273092A (ja) | 1998-01-20 | 1998-05-20 | 光学ヘッド及び光ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11273092A true JPH11273092A (ja) | 1999-10-08 |
Family
ID=26343596
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10138972A Withdrawn JPH11273092A (ja) | 1998-01-20 | 1998-05-20 | 光学ヘッド及び光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11273092A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004319062A (ja) * | 2003-03-31 | 2004-11-11 | Konica Minolta Holdings Inc | 光ピックアップ装置 |
| US6829203B2 (en) | 2001-04-24 | 2004-12-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical disk apparatus and optical disk processing method |
| WO2006098412A1 (ja) * | 2005-03-17 | 2006-09-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 光ディスク装置 |
| JP2011023108A (ja) * | 2003-03-31 | 2011-02-03 | Konica Minolta Holdings Inc | 光ピックアップ装置 |
-
1998
- 1998-05-20 JP JP10138972A patent/JPH11273092A/ja not_active Withdrawn
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6829203B2 (en) | 2001-04-24 | 2004-12-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical disk apparatus and optical disk processing method |
| EP1253587A3 (en) * | 2001-04-24 | 2004-12-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical disk apparatus and optical disk processing method |
| US7133343B2 (en) | 2001-04-24 | 2006-11-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical disk apparatus and optical disk processing method |
| JP2004319062A (ja) * | 2003-03-31 | 2004-11-11 | Konica Minolta Holdings Inc | 光ピックアップ装置 |
| JP2011023108A (ja) * | 2003-03-31 | 2011-02-03 | Konica Minolta Holdings Inc | 光ピックアップ装置 |
| JP2012198985A (ja) * | 2003-03-31 | 2012-10-18 | Konica Minolta Holdings Inc | 光ピックアップ装置 |
| WO2006098412A1 (ja) * | 2005-03-17 | 2006-09-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 光ディスク装置 |
| KR100799811B1 (ko) | 2005-03-17 | 2008-01-31 | 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 | 광디스크 장치 |
| US7921435B2 (en) | 2005-03-17 | 2011-04-05 | Panasonic Corporation | Optical disk drive |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050802 |