JPH112738A - コネクタ端面検査方法 - Google Patents

コネクタ端面検査方法

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JPH112738A
JPH112738A JP17284397A JP17284397A JPH112738A JP H112738 A JPH112738 A JP H112738A JP 17284397 A JP17284397 A JP 17284397A JP 17284397 A JP17284397 A JP 17284397A JP H112738 A JPH112738 A JP H112738A
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JP
Japan
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connector
face
inspected
inspection
inspection method
Prior art date
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Pending
Application number
JP17284397A
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English (en)
Inventor
Taisuke Masuda
泰介 増田
Tadayoshi Sayama
忠嘉 佐山
Sadao Shinoda
貞夫 篠田
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Fujikura Ltd
Original Assignee
Fujikura Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、コネクタ端面の鉛直度を検査する
コネクタ端面検査方法を提供せんとするものである。 【解決手段】 かゝる本発明は、コネクタ端面の鉛直度
を検査する検査方法において、予め端面の鉛直度が高精
度で形成されたマスターコネクタ11を用意し、このマ
スターコネクタ11の端面11aに、被検査コネクタ1
の端面1aを突き合わせると共に、これらの両端面11
a,1aの突き合わせ部分に少なくとも一方向から検査
光を照射し、この光照射側とは反対側での漏光を捉え
て、その漏光量から被検査コネクタ端面1aの鉛直度を
検査するコネクタ端面検査方法にあり、これによって、
簡単かつ迅速な検査が可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コネクタ端面の鉛直度
を検査するコネクタ端面検査方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光ファイバ接続用のコネクタには、種々
の構造のものがあり、その中に一対のコネクタの各端面
を正確に突き合わせて、光ファイバを接続する方式のも
のがある。この方式の具体的なものとしては、例えば図
7〜図9に示した如き、MTコネクタが挙げられる。
【0003】このMTコネクタは、ほぼ対象構造の一対
のコネクタ1,1からなり、これらのコネクタ1,1の
突き合わせ端面1a,1a側には、図7に示すように
(他方を省略)、2個の嵌合穴2,2が形成してある。
そして、光ファイバ、例えばテープ型光ファイバF,F
を接続するには、図8〜図9に示すように、一対のコネ
クタ1,1のファイバ接続部1b,1b側に光ファイバ
F,Fを装着する一方、各コネクタ1,1の嵌合穴2・
・・には2本の嵌合ピン3,3を挿入させて、それぞの
端面1a,1a同士を突き合わせればよい。これによっ
て、各コネクタ1,1の端面1a,1a側に面一に埋め
込れている各光ファイバF,Fの端面同士(図示省略)
が当接して、光学的に接続されるようになっている。
【0004】このような各端面の突き合わせ方式によっ
て、高精度での光学的な接続を確保するためには、光フ
ァイバF,Fの埋め込れた各コネクタ1,1の端面1
a,1a側を面一に形成する際、正確に研磨することが
要求される。つまり、コネクタ1の端面1aにあって
は、複数の方向、少なくとも図8に示すように、端面の
幅方向(Y方向)の角度Aや、図9に示すように、端面
の高さ方向(X方向)の角度Bが、正確に鉛直(直角)
に形成されていることが必要とされる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、このように
コネクタ1の端面1aを正確に研磨することは、結構難
しく、鉛直度(直角度)に誤差が生じ易いため、実際の
使用にあたっては、従来、図7に示すように、コネクタ
1の4隅の長さa〜dをマイクロメータなどで測定し、
最長〜最短の差が所定の範囲内に収まっているが否かを
検査している。
【0006】しかしながら、この検査方法によると、1
個のコネクタに付き4回もマイクロメータなどで測定す
る必要があり、検査時間が掛かり過ぎる。すなわち、1
個の.ネクタに付き約2分程度の測定時間が必要とされ
る。また、MTコネクタは、通常プラスチック製である
ため、検査の都度、コネクタ1の4隅にマイクロメータ
などを当てると、端面1a側に傷を付けたり、凹ませた
り、ときには損傷してしまうなどの問題もあった。
【0007】本発明は、このような観点に立ってなされ
たもので、検査時間が短縮できると共に、コネクタに損
傷などの悪影響を殆ど与えることのない、優れたコネク
タ端面検査方法を提供せんとするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の本発明
は、コネクタ端面の鉛直度を検査する検査方法におい
て、予め端面の鉛直度が高精度で形成されたマスターコ
ネクタを用意し、このマスターコネクタの端面に、被検
査コネクタの端面を突き合わせると共に、これらの両端
面の突き合わせ部分に少なくとも一方向から検査光を照
射し、この光照射側とは反対側での漏光を捉えて、その
漏光量から被検査コネクタ端面の鉛直度を検査すること
を特徴とするコネクタ端面検査方法にある。
【0009】請求項2記載の本発明は、前記漏光量を光
センサで捉えるか、又は目視で捉えることを特徴とする
請求項1記載のコネクタ端面検査方法にある。
【0010】請求項3記載の本発明は、前記マスターコ
ネクタを所定の位置に固定しておき、このマスターコネ
クタの端面に対して、オートハンド機構によって、被検
査コネクタを前進移動させつつその端面を突き合わせ、
前記検査光による検査の終了後、被検査コネクタの突き
合わせを解除して後退移動させることを特徴とする請求
項1又は2記載のコネクタ端面検査方法にある。
【0011】
【発明の実施の形態】図1は、本発明に係るコネクタ端
面検査方法の実施において必要とされるマスターコネク
タ11を示したものであり、その端面11aの嵌合穴
(図示省略)には、予め嵌合ピン3,3を嵌合させてあ
ると共に、そ鉛直度(直角度)は、予め高精度で形成し
てある。つまり、この端面11aの幅方向(Y方向)及
び高さ方向(X方向)の最長〜最短の差は所定の範囲内
に収めてある。
【0012】図2〜図3は、本発明に係るコネクタ端面
検査方法の1つの実施の形態を示したものである。この
方法では、先ず、上記マスターコネクタ11を所定の位
置に固定しておき、次に、このマスターコネクタ11の
端面11aに対して、上記図7とほぼ同構造の被検査コ
ネクタ1の端面1aを、マスターコネクタ11の嵌合ピ
ン3,3をその嵌合穴2,2(図示省略)に挿入させつ
つ突き合わせる。
【0013】この状態で、先ず、図2に示すように、こ
のマスターコネクタ11及び被検査コネクタ1の両端面
11a,1aの幅方向(Y方向)の一方に、検査光(入
射光)を送り出すためのLD、LED、発光ランプなど
からなる光源21を設置すると共に、対向する他方に、
ADP(アバランシェフォトダイオード)、PINフォ
トダイオード、ホトトランジスタ、光電子増倍管、SC
dなどからなる受光用のセンサ22を設置する。
【0014】そして、上記光源21からの検査光(入射
光)を、上記両端面11a,1aの突き合わせ部分に照
射させ、その漏光をセンサ22で受光する。このとき、
その漏光量(受光量)が所定の値より大きければ、マス
ターコネクタ11側の端面11aは予め高精度で形成し
てあることから、被検査コネクタ1の端面1aの幅方向
における鉛直度に問題があることが判る。つまり、漏光
量の大小から、幅方向の鉛直度の良否が簡単かつ迅速に
判る。
【0015】次に、このようにして幅方向の鉛直度の検
査が終了したら、図3に示すように、上記マスターコネ
クタ11及び被検査コネクタ1の両端面11a,1aの
向きを変えるなどして、高さ方向(X方向)の一方に上
記光源21を設置すると共に、対向する他方に上記セン
サ22を設置する。そして、上記幅方向のときと同様、
光源21からの検査光(入射光)を、上記両端面11
a,1aの突き合わせ部分に照射させ、その漏光をセン
サ22で受光する。この場合も、その漏光量(受光量)
の大小によって、上記両端面11a,1aにおける高さ
方向の鉛直度の良否が簡単かつ迅速に判る。
【0016】このような本発明のコネクタ端面検査方法
にあっては、個々の被検査コネクタ1について、作業者
が手作業で行うこともできが、図4に示すような自動搬
送装置やロボット装置のオートハンド機構などを有する
装置系を設けて、検査を自動的に行うことも可能であ
る。つまり、マスターコネクタ11を所定の設置台31
に固定しておくと共に、多数の被検査コネクタ1を、自
動搬送装置の載置パレット32上に整列させておく。そ
して、この載置パレット32の側方に設置されたロボッ
ト装置のオートハンド機構33によって、上記載置パレ
ット32から1個の被検査コネクタ1をピックアップす
る。
【0017】この後,引き続き、このオートハンド機構
33によって、被検査コネクタ1を上記マスターコネク
タ11の端面11a側に前進移動させつつその端面1a
を突き合わせ、光源21とセンサ22による検査の終了
後、やはり上記ロボット装置のオートハンド機構33に
よって、被検査コネクタ1の突き合わせを解除して後退
移動させ、上記載置パレット32上に検査済みのコネク
タとして戻す。この検査終了によって、上記自動搬送装
置の載置パレット32は、図中下方に1個分走行し、次
の検査前の被検査コネクタ1をスタート位置にセットす
る。したがって、これらの各工程を順次繰り返せば、多
数の被検査コネクタ1の検査を自動的に行うことができ
る。
【0018】図5〜図6は、本発明に係るコネクタ端面
検査方法の他の1つの実施の形態を示したものでる。こ
の場合も、基本的には、上記図2〜図3の検査方法と同
様であるが、上記センサ22に代えて、漏光を作業者の
目視で、手軽に確認する方法である。もちろん、この方
法でも、上記図4に示すような装置系を設けて、検査を
自動的に行うことも可能である。
【0019】なお、上記実施の形態においては、嵌合ピ
ン3,3とこれに対応した嵌合穴2,2のあるMTコネ
クタの場合についての説明であったが、本発明は、これ
に限定されず、嵌合ピン3に代わる他のガイド機構を有
して、単にマスターコネクタ11の端面11aと被検査
コネクタ1の端面1aを突き合わせる形のコネクタにも
応用することが可能である。
【0020】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
に係るコネクタ端面検査方法によれば、次のような優れ
た効果が得られる。
【0021】(1)センサや目視による、漏光量の大小
によって、被検査コネクタの端面の幅方向及び高さ方向
の鉛直度を簡単かつ迅速に検査することができる。因
に、従来のマイクロメータなどでコネクタの4隅の長さ
を測定する方法の場合、コネクタ1個に付き約2分程度
の作業時間が必要とされるのに対して、本発明の場合、
コネクタ1個に付き約0.5分の作業時間でよかった。
【0022】(2)マスターコネクタの端面に予め嵌合
ピンを設けてあると、端面の鉛直度の検査と同時に、こ
の嵌合ピンと被検査コネクタの嵌合穴との嵌まり具合に
よって、この嵌合穴への研磨剤や削り屑などの詰まり具
合など簡単に確認することができる。従来のマイクロメ
ータなどで長さを測定する方法では、この詰まり具合の
検査は、別工程として、別個に行う必要があり、作業性
が悪かった。
【0023】(3)また、自動搬送装置やロボット装置
のオートハンド機構などを有する装置系の設置によっ
て、検査の自動化を図ることも可能である。これによっ
て、大量の被検査コネクタについて、極めて迅速で、信
頼性の高い検査が可能となり、検査コストの大幅なコス
トダウンも可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るコネクタ端面検査方法の実施する
ためのマスターコネクタを示した平面図である。
【図2】本発明に係るコネクタ端面検査方法によって、
コネクタ端面の幅方向の鉛直度を検査する場合を示した
概略説明図である。
【図3】本発明に係るコネクタ端面検査方法によって、
コネクタ端面の高さ方向の鉛直度を検査する場合を示し
た概略説明図である。
【図4】本発明に係るコネクタ端面検査方法の自動化を
図った装置系の一例を示した概略説明図である。
【図5】本発明に係る他のコネクタ端面検査方法によっ
て、コネクタ端面の幅方向の鉛直度を検査する場合を示
した概略説明図である。
【図6】本発明に係る他のコネクタ端面検査方法によっ
て、コネクタ端面の高さ方向の鉛直度を検査する場合を
示した概略説明図である。
【図7】コネクタの一例を示した斜視図である。
【図8】コネクタ同士の接続直前の状態を示した概略平
面図である。
【図9】コネクタ同士の接続直前の状態を示した概略側
面図である。
【符号の説明】
1 被検査コネクタ 1a 被検査コネクタの端面 2 嵌合穴 3 嵌合ピン 11 マスターコネクタ 11a マスターコネクタの端面 21 光源 22 センサ 31 設置台 32 載置パレット 33 オートハンド機構 F 光ファイバ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 コネクタ端面の鉛直度を検査する検査方
    法において、予め端面の鉛直度が高精度で形成されたマ
    スターコネクタを用意し、このマスターコネクタの端面
    に、被検査コネクタの端面を突き合わせると共に、これ
    らの両端面の突き合わせ部分に少なくとも一方向から検
    査光を照射し、この光照射側とは反対側での漏光を捉え
    て、その漏光量から被検査コネクタ端面の鉛直度を検査
    することを特徴とするコネクタ端面検査方法。
  2. 【請求項2】 前記漏光量を光センサで捉えるか、又は
    目視で捉えることを特徴とする請求項1記載のコネクタ
    端面検査方法。
  3. 【請求項3】 前記マスターコネクタを所定の位置に固
    定しておき、このマスターコネクタの端面に対して、オ
    ートハンド機構によって、被検査コネクタを前進移動さ
    せつつその端面を突き合わせ、前記検査光による検査の
    終了後、被検査コネクタの突き合わせを解除して後退移
    動させることを特徴とする請求項1又は2記載のコネク
    タ端面検査方法。
JP17284397A 1997-06-13 1997-06-13 コネクタ端面検査方法 Pending JPH112738A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6831738B2 (en) * 2001-06-26 2004-12-14 Adc Telecommunications, Inc. Method and apparatus for inspecting end surfaces on optical connectors

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6831738B2 (en) * 2001-06-26 2004-12-14 Adc Telecommunications, Inc. Method and apparatus for inspecting end surfaces on optical connectors
US7012686B2 (en) 2001-06-26 2006-03-14 Adc Telecommunications, Inc. Method and apparatus for inspecting end surfaces on optical connectors

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