JPH11281402A - Waveform shaping circuit, rotation detection device, and rotation detection method - Google Patents

Waveform shaping circuit, rotation detection device, and rotation detection method

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JPH11281402A
JPH11281402A JP10087218A JP8721898A JPH11281402A JP H11281402 A JPH11281402 A JP H11281402A JP 10087218 A JP10087218 A JP 10087218A JP 8721898 A JP8721898 A JP 8721898A JP H11281402 A JPH11281402 A JP H11281402A
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JP
Japan
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signal
detection
level
peak hold
peak
Prior art date
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Application number
JP10087218A
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Japanese (ja)
Inventor
Motomu Hayakawa
求 早川
Akira Shinpo
晃 真保
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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  • Electric Clocks (AREA)
  • Indicating Or Recording The Presence, Absence, Or Direction Of Movement (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Optical Transform (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 調整工程を設けず、経時変化の影響を受ける
ことなく、より高精度で回転方向及び回転角度を検出す
る。 【解決手段】 初期動作時においては所定の信号レベル
に基づいて、また、初期動作時を除く動作状態では各検
出信号に対応するそれぞれ二つのピークホールド信号に
基づいて、第1基準レベル信号SREF1及び第2基準レベ
ル信号SREF2を生成し、第1検出信号A及び第2検出信
号の波形整形を行うので、波形整形を行う第1基準信号
レベルSREF1及び第2基準信号レベルSREF2を自動的に
最適な値とすることができ、調整工程を設けることな
く、経時変化の影響も低減して、確実に回転方向及び回
転角度を検出することが可能となる。さらに初期動作状
態においては、ピークホールド信号のサンプリング周波
数を高くするので、より迅速に第1基準信号レベルSRE
F1及び第2基準信号レベルSREF2を自動的に最適な値と
することができる。
(57) [Problem] To detect a rotation direction and a rotation angle with higher accuracy without an adjustment process and without being affected by a change with time. A first reference level signal SREF1 and a first reference level signal SREF1 are set based on a predetermined signal level during an initial operation, and based on two peak hold signals corresponding to each detection signal in an operation state other than the initial operation. Since the second reference level signal SREF2 is generated and the waveforms of the first detection signal A and the second detection signal are shaped, the first reference signal level SREF1 and the second reference signal level SREF2 to be shaped are automatically optimized. The rotation direction and the rotation angle can be reliably detected without providing an adjustment step, reducing the influence of a change over time. Further, in the initial operation state, the sampling frequency of the peak hold signal is increased, so that the first reference signal level SRE is more quickly.
F1 and the second reference signal level SREF2 can be automatically set to optimal values.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、波形整形回路、回
転検出装置及び回転検出方法に係り、特に、回転体を用
いて情報を入力することが可能な情報処理装置に用いら
れ、回転方向及び回転角度を検出するために用いられる
波形整形回路、回転検出装置及び回転検出方法に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a waveform shaping circuit, a rotation detecting device, and a rotation detecting method, and more particularly to an information processing device capable of inputting information by using a rotator, in which a rotation direction and a rotation direction are detected. The present invention relates to a waveform shaping circuit, a rotation detection device, and a rotation detection method used for detecting a rotation angle.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、腕時計などの小型機器のモード切
替装置や時刻修正装置などとして、図21に示すような
回転ベゼルBZを使用したものが知られている。これら
の装置は、メカニカルスイッチを回転ベゼルBZの動作
により切り替えるものであり、例えば、腕時計の胴にピ
ンを貫通させて、このピンで回路バネを押すことによっ
てモードの切り替えを行う装置がある。この装置では、
ピンが回転ベゼルBZの裏側の面に係合されており、使
用者が回転ベゼルBZを回転させてピンの位置を移動さ
せることにより複数の回路の切り替えを行うようになっ
ている。また、卓上テープ印字装置などでは、ロータリ
ースイッチを使用する回転式文字入力装置が用いられて
いる。
2. Description of the Related Art Conventionally, a device using a rotating bezel BZ as shown in FIG. 21 has been known as a mode switching device or a time correction device for a small device such as a wristwatch. In these devices, a mechanical switch is switched by the operation of a rotating bezel BZ. For example, there is a device in which a pin is made to penetrate a body of a wristwatch and a mode is switched by pressing a circuit spring with the pin. In this device,
The pin is engaged with the back surface of the rotating bezel BZ, and the user switches the plurality of circuits by rotating the rotating bezel BZ to move the position of the pin. In a desktop tape printer and the like, a rotary character input device using a rotary switch is used.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上述したよう
なピン等のメカニカルスイッチを回転ベゼルの回転動作
により切り替える構成の入力装置で、文字入力のように
数十個にもおよぶ多数の回路の切り替えを行うには構造
が複雑となるため、装置が大がかりなものになってしま
い、腕時計などの小型携帯情報機器などに搭載すること
は困難であるという問題点があった。
However, this is an input device configured to switch the mechanical switch such as a pin or the like by rotating the rotating bezel as described above, and to switch a large number of tens of circuits such as character input. However, there is a problem in that the structure becomes complicated, and the device becomes large-scale, and it is difficult to mount the device on a small portable information device such as a wristwatch.

【0004】また、上述した回転式文字入力装置には、
小型・薄型化されているものがなく、腕時計型などの小
型情報処理装置には搭載されていなかった。さらに他種
類の文字入力を行う回転式文字入力装置を腕時計などの
小型携帯情報器に搭載した場合を想定すると、装置構成
が簡単で、経時変化の影響を受けずに、高精度で回転位
置を検出し、正確に文字を入力することが可能な装置が
望まれる。
[0004] In the above-mentioned rotary character input device,
There is no one that is small and thin, and it is not mounted on a small information processing device such as a wristwatch. Furthermore, assuming that a rotary character input device that performs other types of character input is mounted on a small portable information device such as a wristwatch, the device configuration is simple, and the rotational position can be accurately determined without being affected by aging. A device capable of detecting and accurately inputting characters is desired.

【0005】さらにまた、回転検出を光エンコーダで行
う場合を想定すると、光センサ(発光ダイオード+フォ
トダイオード)の出力信号の波形整形を行う波形整形回
路を設ける必要があるが、この波形整形回路において、
光センサの出力レベルの個体差及び経時変化の影響を受
けないように構成できれば、出荷時の出力レベル調整工
程を省略でき、製造コストを低減できるとともに、メン
テナンスフリーの回転位置検出装置を構成することがで
きる。
Further, assuming that rotation detection is performed by an optical encoder, it is necessary to provide a waveform shaping circuit for shaping the output signal of the optical sensor (light emitting diode + photodiode). ,
If the configuration can be made so as not to be affected by the individual difference and the aging of the output level of the optical sensor, the output level adjustment process at the time of shipment can be omitted, the manufacturing cost can be reduced, and the maintenance-free rotational position detecting device can be configured. Can be.

【0006】そこで、本発明の第1の目的は、光センサ
の個体差及び経時変化の影響を受けることなく、より高
精度な波形整形を行うことが可能な波形整形回路及び波
形整形方法並びにより高精度で回転方向及び回転角度を
検出することが可能な検出装置及び回転検出方法を提供
することにある。また、本発明の第2の目的は、光セン
サの出力信号の波形整形を行うに際し、迅速に基準レベ
ル信号(スレッショルド信号)を設定することができる
波形整形回路、回転検出装置、波形整形方法及び回転検
出方法を提供することにある。
Accordingly, a first object of the present invention is to provide a waveform shaping circuit, a waveform shaping method, and a waveform shaping method capable of performing more accurate waveform shaping without being affected by individual differences of optical sensors and aging. An object of the present invention is to provide a detection device and a rotation detection method capable of detecting a rotation direction and a rotation angle with high accuracy. A second object of the present invention is to provide a waveform shaping circuit, a rotation detecting device, a waveform shaping method, and a waveform shaping circuit that can quickly set a reference level signal (threshold signal) when shaping a waveform of an output signal of an optical sensor. It is to provide a rotation detection method.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1記載の構成は、初期状態において所定の信
号レベルを保持するとともに、入力信号の正ピーク信号
レベルを第1ピークホールド信号として保持する第1ピ
ークホールド手段と、初期状態において前記所定の信号
レベルを保持するとともに、前記入力信号の負ピーク信
号レベルを第2ピークホールド信号として保持する第2
ピークホールド手段と、前記第1ピークホールド信号及
び前記第2ピークホールド信号に基づいて、基準レベル
信号を生成し出力する基準レベル信号生成手段と、前記
入力信号を前記基準レベル信号と比較することにより前
記入力信号の波形整形を行って波形整形信号として出力
する波形整形手段と、を備えたことを特徴としている。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a configuration for holding a predetermined signal level in an initial state and using a positive peak signal level of an input signal as a first peak hold signal. First peak hold means for holding, and a second peak hold means for holding the predetermined signal level in an initial state and holding a negative peak signal level of the input signal as a second peak hold signal
A peak hold means, a reference level signal generation means for generating and outputting a reference level signal based on the first peak hold signal and the second peak hold signal, and comparing the input signal with the reference level signal. Waveform shaping means for shaping the waveform of the input signal and outputting it as a waveform shaping signal.

【0008】請求項2記載の構成は、請求項1記載の構
成において、前記第1ピークホールド手段は、所定周期
を有するタイミングにおいてサンプリングを行い前記入
力信号の信号レベルを前記第1ピークホールド信号とし
て保持し、前記第2ピークホールド手段は、所定周期を
有するタイミングにおいてサンプリングを行い前記入力
信号の信号レベルを前記第2ピークホールド信号として
保持する、ことを特徴としている。
According to a second aspect of the present invention, in the configuration of the first aspect, the first peak hold means performs sampling at a timing having a predetermined period, and uses a signal level of the input signal as the first peak hold signal. Holding, wherein the second peak hold means performs sampling at a timing having a predetermined period and holds the signal level of the input signal as the second peak hold signal.

【0009】請求項3記載の構成は、請求項2記載の構
成において、前記タイミングの周期は、動作開始時から
所定時間の間、前記所定時間経過後おける前記タイミン
グの周期よりも短く設定される、ことを特徴としてい
る。
According to a third aspect of the present invention, in the configuration of the second aspect, the timing cycle is set shorter than the timing cycle after a lapse of the predetermined time for a predetermined time from the start of operation. , Is characterized.

【0010】請求項4記載の構成は、請求項1ないし請
求項3のいずれかに記載の構成において、前記初期状態
において保持される前記所定の信号レベルは、想定され
る前記入力信号のうち最も信号レベルが低い前記入力信
号の最大信号レベルと、想定される前記入力信号の信号
レベルのうち最も信号レベルが高い前記入力信号の最小
信号レベルと、の間の信号レベルに設定される、ことを
特徴としている。
According to a fourth aspect of the present invention, in the configuration according to any one of the first to third aspects, the predetermined signal level held in the initial state is the highest among the assumed input signals. A signal level between the maximum signal level of the input signal having a low signal level and the minimum signal level of the input signal having the highest signal level among the assumed signal levels of the input signal, Features.

【0011】請求項5記載の構成は、初期状態において
所定の信号レベルを保持するとともに、入力信号の正ピ
ーク信号レベルを第1ピークホールド信号として保持す
る第1ピークデテクタと、初期状態において前記所定の
信号レベルを保持するとともに、前記入力信号の負ピー
ク信号レベルを第2ピークホールド信号として保持する
第2ピークデテクタと、前記第1ピークホールド信号及
び前記第2ピークホールド信号に基づいて、基準レベル
信号を生成し出力する基準レベル信号生成回路と、前記
入力信号を前記基準レベル信号と比較することにより前
記入力信号の波形整形を行って波形整形信号として出力
するコンパレータと、を備えたことを特徴としている。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a first peak detector which holds a predetermined signal level in an initial state, and holds a positive peak signal level of an input signal as a first peak hold signal, and the first peak detector in an initial state. A second peak detector that holds a negative peak signal level of the input signal as a second peak hold signal, and a reference level based on the first peak hold signal and the second peak hold signal. A reference level signal generation circuit that generates and outputs a signal; and a comparator that performs waveform shaping of the input signal by comparing the input signal with the reference level signal and outputs the input signal as a waveform shaped signal. And

【0012】請求項6記載の構成は、吸収領域と反射領
域とを有する所定の光学パターンが形成された反射部材
と、前記反射部材に第1検出光を照射し、前記反射部材
により反射された前記第1検出光を受光して前記光学パ
ターンに対応する第1検出信号を出力する第1検出手段
と、前記第1検出手段と回転中心に対して所定角度離間
して配設され、前記反射部材に第2検出光を照射し、反
射された前記第2検出光を受光して前記光学パターンに
対応する第2検出信号を出力する第2検出手段と、初期
状態において所定の第1信号レベルを保持するととも
に、前記第1検出信号の正ピーク信号レベルを第1ピー
クホールド信号として保持する第1ピークホールド手段
と、初期状態において所定の第1信号レベルを保持する
とともに、前記第1検出信号の負ピーク信号レベルを第
2ピークホールド信号として保持する第2ピークホール
ド手段と、前記第1ピークホールド信号及び前記第2ピ
ークホールド信号に基づいて、第1基準レベル信号を生
成し出力する第1基準レベル信号生成手段と、前記第1
検出信号を前記第1基準レベル信号と比較することによ
り前記第1検出信号の波形整形を行って波形整形信号と
して出力する第1波形整形手段と、初期状態において所
定の第2信号レベルを保持するとともに、前記第2検出
信号の正ピーク信号レベルを第3ピークホールド信号と
して保持する第3ピークホールド手段と、初期状態にお
いて所定の第2信号レベルを保持するとともに、前記第
2検出信号の負ピーク信号レベルを第4ピークホールド
信号として保持する第4ピークホールド手段と、前記第
3ピークホールド信号及び前記第4ピークホールド信号
に基づいて、第2基準レベル信号を生成し出力する第2
基準レベル信号生成手段と、前記第2検出信号を前記第
2基準レベル信号と比較することにより前記第2検出信
号の波形整形を行って第2波形整形信号として出力する
第2波形整形手段と、前記第1波形整形信号及び前記第
2波形整形信号に基づいて前記反射部材の前記第1検出
手段及び前記第2検出手段に対する相対的な回転方向及
び回転角度を算出する信号処理手段と、を備えたことを
特徴としている。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a reflecting member on which a predetermined optical pattern having an absorbing area and a reflecting area is formed, and the reflecting member is irradiated with first detection light and reflected by the reflecting member. A first detection unit that receives the first detection light and outputs a first detection signal corresponding to the optical pattern; and a first detection unit that is disposed at a predetermined angle from a rotation center with respect to the first detection unit; A second detection unit that irradiates the member with the second detection light, receives the reflected second detection light, and outputs a second detection signal corresponding to the optical pattern; and a predetermined first signal level in an initial state. And a first peak hold means for holding a positive peak signal level of the first detection signal as a first peak hold signal; and holding a predetermined first signal level in an initial state, and Second peak hold means for holding the negative peak signal level of the output signal as a second peak hold signal; and generating and outputting a first reference level signal based on the first peak hold signal and the second peak hold signal. First reference level signal generating means;
First waveform shaping means for shaping the waveform of the first detection signal by comparing the detection signal with the first reference level signal and outputting it as a waveform shaping signal; and holding a predetermined second signal level in an initial state. A third peak hold means for holding a positive peak signal level of the second detection signal as a third peak hold signal; and a predetermined second signal level in an initial state, and a negative peak of the second detection signal. Fourth peak holding means for holding a signal level as a fourth peak hold signal, and a second reference level signal for generating and outputting a second reference level signal based on the third peak hold signal and the fourth peak hold signal.
Reference level signal generation means, second waveform shaping means for performing waveform shaping of the second detection signal by comparing the second detection signal with the second reference level signal, and outputting the resulting signal as a second waveform shaping signal; Signal processing means for calculating a relative rotation direction and a rotation angle of the reflection member with respect to the first detection means and the second detection means based on the first waveform shaping signal and the second waveform shaping signal. It is characterized by that.

【0013】請求項7記載の構成は、吸収領域と透過領
域とを有する所定の光学パターンが形成された光透過部
材と、前記光透過部材に第1検出光を照射し、前記光透
過部材を透過した前記第1検出光を受光して前記光学パ
ターンに対応する第1検出信号を出力する第1検出手段
と、前記第1検出手段と回転中心に対して所定角度離間
して配設され、前記光透過部材に第2検出光を照射し、
前記光透過部材を透過した前記第2検出光を受光して前
記光学パターンに対応する第2検出信号を出力する第2
検出手段と、初期状態において所定の第1信号レベルを
保持するとともに、前記第1検出信号の正ピーク信号レ
ベルを第1ピークホールド信号として保持する第1ピー
クホールド手段と、初期状態において所定の第1信号レ
ベルを保持するとともに、前記第1検出信号の負ピーク
信号レベルを第2ピークホールド信号として保持する第
2ピークホールド手段と、前記第1ピークホールド信号
及び前記第2ピークホールド信号に基づいて、第1基準
レベル信号を生成し出力する第1基準レベル信号生成手
段と、前記第1検出信号を前記第1基準レベル信号と比
較することにより前記第1検出信号の波形整形を行って
波形整形信号として出力する第1波形整形手段と、初期
状態において所定の第2信号レベルを保持するととも
に、前記第2検出信号の正ピーク信号レベルを第3ピー
クホールド信号として保持する第3ピークホールド手段
と、初期状態において所定の第2信号レベルを保持する
とともに、前記第2検出信号の負ピーク信号レベルを第
4ピークホールド信号として保持する第4ピークホール
ド手段と、前記第3ピークホールド信号及び前記第4ピ
ークホールド信号に基づいて、第2基準レベル信号を生
成し出力する第2基準レベル信号生成手段と、前記第2
検出信号を前記第2基準レベル信号と比較することによ
り前記第2検出信号の波形整形を行って第2波形整形信
号として出力する第2波形整形手段と、前記第1波形整
形信号及び前記第2波形整形信号に基づいて前記反射部
材の前記第1検出手段及び前記第2検出手段に対する相
対的な回転方向及び回転角度を算出する信号処理手段
と、を備えたことを特徴としている。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a light transmitting member on which a predetermined optical pattern having an absorption area and a transmission area is formed, and the light transmitting member is irradiated with first detection light, and the light transmitting member is irradiated with the first detection light. A first detection unit that receives the transmitted first detection light and outputs a first detection signal corresponding to the optical pattern; and is disposed at a predetermined angle from the rotation center with respect to the first detection unit; Irradiating the light transmitting member with second detection light;
Receiving a second detection light transmitted through the light transmitting member and outputting a second detection signal corresponding to the optical pattern;
Detecting means; first peak hold means for holding a predetermined first signal level in an initial state, and holding a positive peak signal level of the first detection signal as a first peak hold signal; A second peak hold unit that holds one signal level and holds a negative peak signal level of the first detection signal as a second peak hold signal, based on the first peak hold signal and the second peak hold signal. First reference level signal generating means for generating and outputting a first reference level signal, and performing waveform shaping of the first detection signal by comparing the first detection signal with the first reference level signal. First waveform shaping means for outputting a signal as a signal, holding a predetermined second signal level in an initial state, and outputting the second detection signal. A third peak hold means for holding a positive peak signal level as a third peak hold signal, and a fourth peak hold for holding a predetermined second signal level in an initial state and a negative peak signal level of the second detection signal. Fourth peak hold means for holding as a signal, second reference level signal generation means for generating and outputting a second reference level signal based on the third peak hold signal and the fourth peak hold signal,
A second waveform shaping means for performing waveform shaping of the second detection signal by comparing the detection signal with the second reference level signal and outputting the same as a second waveform shaping signal; and the first waveform shaping signal and the second waveform shaping signal. Signal processing means for calculating a rotation direction and a rotation angle of the reflection member relative to the first detection means and the second detection means based on a waveform shaping signal.

【0014】請求項8記載の構成は、請求項6または請
求項7記載の構成において、前記第1ピークホールド手
段は、所定第1周期を有するタイミングにおいてサンプ
リングを行い前記第1検出信号の信号レベルを前記第1
ピークホールド信号として保持し、前記第2ピークホー
ルド手段は、所定第1周期を有するタイミングにおいて
サンプリングを行い前記第1検出信号の信号レベルを前
記第2ピークホールド信号として保持し、前記第3ピー
クホールド手段は、所定第2周期を有するタイミングに
おいてサンプリングを行い前記第2検出信号の信号レベ
ルを前記第3ピークホールド信号として保持し、前記第
4ピークホールド手段は、所定第2周期を有するタイミ
ングにおいてサンプリングを行い前記第2検出信号の信
号レベルを前記第4ピークホールド信号として保持す
る、ことを特徴としている。
According to an eighth aspect of the present invention, in the configuration of the sixth or seventh aspect, the first peak hold means performs sampling at a timing having a predetermined first cycle and performs signal level of the first detection signal. The first
The second peak hold means holds the signal level of the first detection signal as the second peak hold signal by sampling at a timing having a predetermined first period, and holds the third peak hold signal. The means performs sampling at a timing having a predetermined second cycle and holds the signal level of the second detection signal as the third peak hold signal, and the fourth peak hold means performs sampling at a timing having a predetermined second cycle. And holding the signal level of the second detection signal as the fourth peak hold signal.

【0015】請求項9記載の構成は、請求項8記載の構
成において、前記第1周期は、動作開始時から所定時間
の間、前記所定時間経過後における前記第1周期よりも
短く設定され、前記第2周期は、動作開始時から所定時
間の間、前記所定時間経過後における前記第2周期より
も短く設定される、ことを特徴としている。
According to a ninth aspect of the present invention, in the configuration of the eighth aspect, the first cycle is set to be shorter than the first cycle after the lapse of the predetermined time for a predetermined time from the start of the operation, The second cycle is set to be shorter than the second cycle after the lapse of the predetermined time for a predetermined time from the start of the operation.

【0016】請求項10記載の構成は、請求項6ないし
請求項9のいずれかに記載の構成において、前記初期状
態において保持される前記所定の第1信号レベルは、想
定される前記第1検出信号のうち最も信号レベルが低い
前記第1検出信号の最大信号レベルと、想定される前記
第1検出信号のうち最も信号レベルが高い前記第1検出
信号の最小信号レベルと、の間の信号レベルに設定さ
れ、前記初期状態において保持される前記所定の第2信
号レベルは、想定される前記第2検出信号のうち最も信
号レベルが低い前記第2検出信号の最大信号レベルと、
想定される前記第2検出信号のうち最も信号レベルが高
い前記第2検出信号の最小信号レベルと、の間の信号レ
ベルに設定される、ことを特徴としている。
According to a tenth aspect, in the configuration according to any one of the sixth to ninth aspects, the predetermined first signal level held in the initial state is the expected first detection level. A signal level between a maximum signal level of the first detection signal having the lowest signal level among the signals and a minimum signal level of the first detection signal having the highest signal level among the assumed first detection signals. Is set in the initial state, the predetermined second signal level is the maximum signal level of the second detection signal having the lowest signal level among the assumed second detection signals,
The signal level is set to a signal level between the minimum signal level of the second detection signal having the highest signal level among the assumed second detection signals.

【0017】請求項11記載の構成は、請求項6ないし
請求項10のいずれかに記載の構成において、前記第1
基準レベル信号生成手段は、前記第1ピークホールド信
号及び前記第2ピークホールド信号の電圧差を所定の第
1分圧比で分圧して前記第1基準レベル信号を生成し、
前記第2基準レベル信号生成手段は、前記第3ピークホ
ールド信号及び前記第4ピークホールド信号の電圧差を
所定の第2分圧比で分圧して前記第2基準レベル信号を
生成する、ことを特徴としている。
According to an eleventh aspect of the present invention, in the configuration according to any one of the sixth to tenth aspects, the first
A reference level signal generation unit configured to generate the first reference level signal by dividing a voltage difference between the first peak hold signal and the second peak hold signal by a predetermined first voltage division ratio;
The second reference level signal generation means generates the second reference level signal by dividing a voltage difference between the third peak hold signal and the fourth peak hold signal by a predetermined second voltage division ratio. And

【0018】請求項12記載の構成は、請求項6ないし
請求項11のいずれかに記載の構成において、前記光学
パターンを前記第1検出手段及び前記第2検出手段に対
して相対的に回転させた場合に出力される前記第1検出
信号の位相と前記第2検出信号の位相とが1/4波長ず
れるように前記第1検出手段と前記第2検出手段との間
の離間角度を設定したことを特徴としている。
According to a twelfth aspect of the present invention, in the configuration according to any one of the sixth to eleventh aspects, the optical pattern is rotated relatively to the first detection means and the second detection means. The separation angle between the first detection means and the second detection means is set such that the phase of the first detection signal and the phase of the second detection signal output in the event of It is characterized by:

【0019】請求項13記載の構成は、請求項6ないし
請求項11のいずれかに記載の構成において、前記光学
パターンは、前記吸収領域と、前記反射領域あるいは前
記透過領域とが、前記回転中心を中心とした角度θ2が
360/n[゜](nは偶数)となるように交互に形成
され、前記第1検出手段または前記第2検出手段のそれ
ぞれと、前記回転中心とを結ぶ線がなす角度θ1が θ1=(θ2×m)+θ2/2 (ただし、mは整数 ) とされていることを特徴としている。
According to a thirteenth aspect of the present invention, in the configuration according to any one of the sixth to eleventh aspects, the optical pattern is such that the absorption area and the reflection area or the transmission area include the rotation center. Are formed alternately so that the angle θ2 around the center is 360 / n [゜] (n is an even number), and a line connecting each of the first detecting means or the second detecting means and the rotation center is The angle θ1 to be formed is characterized in that θ1 = (θ2 × m) + θ2 / 2 (where m is an integer).

【0020】請求項14記載の構成は、請求項6記載の
構成において、前記反射部材は、円環状の回転ベゼルに
形成されており、前記第1検出手段及び前記第2検出手
段は、使用者の手首に巻き付けることが可能なバンド部
を有し、前記回転ベゼルが回転可能の取り付けられる腕
時計型本体側に形成されていることを特徴としている。
According to a fourteenth aspect of the present invention, in the configuration of the sixth aspect, the reflecting member is formed in an annular rotating bezel, and the first detecting means and the second detecting means are provided by a user. And a band portion that can be wound around the wrist, and the rotating bezel is formed on the side of the wristwatch-type main body that is rotatably mounted.

【0021】請求項15記載の構成は、吸収領域と反射
領域とを有する所定の光学パターンが形成された反射部
材と、前記反射部材に第1検出光を照射し、前記反射部
材により反射された前記第1検出光を受光して前記光学
パターンに対応する第1検出信号を出力する第1光セン
サと、前記第1検出手段と回転中心に対して所定角度離
間して配設され、前記反射部材に第2検出光を照射し、
反射された前記第2検出光を受光して前記光学パターン
に対応する第2検出信号を出力する第2光センサと、初
期状態において所定の第1信号レベルを保持するととも
に、前記第1検出信号の正ピーク信号レベルを第1ピー
クホールド信号として保持する第1ピークデテクタと、
初期状態において所定の第1信号レベルを保持するとと
もに、前記第1検出信号の負ピーク信号レベルを第2ピ
ークホールド信号として保持する第2ピークデテクタ
と、前記第1ピークホールド信号及び前記第2ピークホ
ールド信号に基づいて、第1基準レベル信号を生成し出
力する第1基準レベル信号生成回路と、前記第1検出信
号を前記第1基準レベル信号と比較することにより前記
第1検出信号の波形整形を行って波形整形信号として出
力する第1コンパレータと、初期状態において所定の第
2信号レベルを保持するとともに、前記第2検出信号の
正ピーク信号レベルを第3ピークホールド信号として保
持する第3ピークデテクタと、初期状態において所定の
第2信号レベルを保持するとともに、前記第2検出信号
の負ピーク信号レベルを第4ピークホールド信号として
保持する第4ピークデテクタと、前記第3ピークホール
ド信号及び前記第4ピークホールド信号に基づいて、第
2基準レベル信号を生成し出力する第2基準レベル信号
生成回路と、前記第2検出信号を前記第2基準レベル信
号と比較することにより前記第2検出信号の波形整形を
行って第2波形整形信号として出力する第2コンパレー
タと、前記第1波形整形信号の信号レベル遷移タイミン
グに前記第2波形整形信号のサンプリングを行って第1
サンプリングデータを得るとともに、前記第2波形整形
信号の信号レベル遷移タイミングに前記第1波形整形信
号のサンプリングを行って第2サンプリングデータを
得、前記第1サンプリングデータ及び前記第2サンプリ
ングデータに基づいて前記反射部材の前記第1検出手段
及び前記第2検出手段に対する相対的な回転方向及び回
転角度を算出する信号処理回路と、を備えたことを特徴
としている。
According to a fifteenth aspect of the present invention, there is provided a reflecting member on which a predetermined optical pattern having an absorbing area and a reflecting area is formed, and the reflecting member is irradiated with the first detection light and reflected by the reflecting member. A first optical sensor that receives the first detection light and outputs a first detection signal corresponding to the optical pattern; and a first optical sensor that is arranged at a predetermined angle away from the rotation center with respect to the first detection unit; Irradiating the member with second detection light;
A second optical sensor that receives the reflected second detection light and outputs a second detection signal corresponding to the optical pattern; and holds a predetermined first signal level in an initial state, and the first detection signal A first peak detector for holding the positive peak signal level of the first peak hold signal as a first peak hold signal;
A second peak detector that holds a predetermined first signal level in an initial state and holds a negative peak signal level of the first detection signal as a second peak hold signal; and the first peak hold signal and the second peak signal. A first reference level signal generation circuit that generates and outputs a first reference level signal based on a hold signal; and a waveform shaping of the first detection signal by comparing the first detection signal with the first reference level signal. And a third comparator that holds a predetermined second signal level in an initial state and holds a positive peak signal level of the second detection signal as a third peak hold signal. A detector for maintaining a predetermined second signal level in an initial state and a negative peak signal level of the second detection signal; A fourth peak detector that holds the second peak level as a fourth peak hold signal, a second reference level signal generation circuit that generates and outputs a second reference level signal based on the third peak hold signal and the fourth peak hold signal. A second comparator that performs waveform shaping of the second detection signal by comparing the second detection signal with the second reference level signal and outputs the resulting signal as a second waveform shaping signal; and a signal of the first waveform shaping signal. The second waveform shaping signal is sampled at the level transition timing to perform the first waveform shaping.
While obtaining sampling data, the first waveform shaping signal is sampled at a signal level transition timing of the second waveform shaping signal to obtain second sampling data, and based on the first sampling data and the second sampling data. A signal processing circuit for calculating a rotation direction and a rotation angle of the reflection member relative to the first detection means and the second detection means.

【0022】請求項16記載の構成は、吸収領域と反射
領域とを有する所定の光学パターンが形成された反射部
材に第1検出光を照射し、前記反射部材により反射され
た前記第1検出光を受光して前記光学パターンに対応す
る第1検出信号を出力する第1検出工程と、前記第1検
出光の照射位置と、回転中心に対して所定角度離間した
位置に第2検出光を照射し、反射された前記第2検出光
を受光して前記光学パターンに対応する第2検出信号を
出力する第2検出工程と、初期状態において所定の第1
信号レベルを保持するとともに、前記第1検出信号の正
ピーク信号レベルを第1ピークホールド信号として保持
する第1ピークホールド工程と、初期状態において所定
の第1信号レベルを保持するとともに、前記第1検出信
号の負ピーク信号レベルを第2ピークホールド信号とし
て保持する第2ピークホールド工程と、前記第1ピーク
ホールド信号及び前記第2ピークホールド信号に基づい
て、第1基準レベル信号を生成し出力する第1基準レベ
ル信号生成工程と、前記第1検出信号を前記第1基準レ
ベル信号と比較することにより前記第1検出信号の波形
整形を行って波形整形信号として出力する第1波形整形
工程と、初期状態において所定の第2信号レベルを保持
するとともに、前記第2検出信号の正ピーク信号レベル
を第3ピークホールド信号として保持する第3ピークホ
ールド工程と、初期状態において所定の第2信号レベル
を保持するとともに、前記第2検出信号の負ピーク信号
レベルを第4ピークホールド信号として保持する第4ピ
ークホールド手段と、前記第3ピークホールド信号及び
前記第4ピークホールド信号に基づいて、第2基準レベ
ル信号を生成し出力する第2基準レベル信号生成工程
と、前記第2検出信号を前記第2基準レベル信号と比較
することにより前記第2検出信号の波形整形を行って第
2波形整形信号として出力する第2波形整形工程と、前
記第1波形整形信号及び前記第2波形整形信号に基づい
て前記反射部材の前記第1検出手段及び前記第2検出手
段に対する相対的な回転方向及び回転角度を算出する信
号処理工程と、を備えたことを特徴としている。
According to a sixteenth aspect of the present invention, the first detection light is irradiated on the reflection member on which the predetermined optical pattern having the absorption area and the reflection area is formed, and the first detection light is reflected by the reflection member. Receiving a first detection signal corresponding to the optical pattern and outputting a first detection signal corresponding to the optical pattern; and irradiating a second detection light to a position irradiated by the first detection light and a position separated by a predetermined angle with respect to a rotation center. A second detection step of receiving the reflected second detection light and outputting a second detection signal corresponding to the optical pattern;
A first peak hold step of holding a signal level and a positive peak signal level of the first detection signal as a first peak hold signal; and holding a predetermined first signal level in an initial state, A second peak hold step of holding a negative peak signal level of the detection signal as a second peak hold signal; and generating and outputting a first reference level signal based on the first peak hold signal and the second peak hold signal. A first reference level signal generating step, a first waveform shaping step of performing a waveform shaping of the first detection signal by comparing the first detection signal with the first reference level signal, and outputting the waveform as a waveform shaping signal; In the initial state, the predetermined second signal level is maintained, and the positive peak signal level of the second detection signal is changed to the third peak signal level. A third peak hold step of holding a predetermined second signal level in an initial state, and a negative peak signal level of the second detection signal as a fourth peak hold signal. A second reference level signal generating step of generating and outputting a second reference level signal based on the third peak hold signal and the fourth peak hold signal; and transmitting the second detection signal to the second reference level signal. A second waveform shaping step of performing waveform shaping of the second detection signal by comparing with the second waveform shaping signal and outputting the second detection signal as a second waveform shaping signal; A signal processing step of calculating a rotation direction and a rotation angle relative to the first detection means and the second detection means. To have.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】次に図面を参照して本発明の好適
な実施形態について説明する。 [1] 実施形態 [1.1] 実施形態の構成 [1.1.1] 腕時計型データ情報処理装置の構成 図1に本発明の回転検出装置を有する腕時計型データ情
報処理装置の正面図を示す。腕時計型情報処理装置10
0の本体101の上部(紙面手前側)には、円環状に形
成された回転ベゼル102が本体101に対して摺動可
能に配置されている。また、回転ベゼル102の上面に
は、等間隔に「ア、イ、ウ、……、9、:、〜」の文字
等が印刷等により形成されている。回転ベゼル102の
内周側には、カバーガラス103が配設されており、こ
のカバーガラス103の下面側(紙面奥側)に、腕時計
型情報処理装置100に入力された情報等が表示される
表示部104が配設されている。表示部104の図面上
側には回転ベゼル102上に形成された文字等の1つを
指示する指示マーク110が印刷等により形成されてい
る。また、本体101の周囲には、確定スイッチ10
5、削除スイッチ106、濁点スイッチ107および原
点スイッチ108がそれぞれ配設されている。なお、こ
れらのスイッチは、カバーガラス103上に設けるよう
にしてもよい。
Preferred embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings. [1] Embodiment [1.1] Configuration of Embodiment [1.1.1] Configuration of Wristwatch-Type Data Information Processing Apparatus FIG. 1 is a front view of a wristwatch-type data information processing apparatus having a rotation detection device of the present invention. Show. Wristwatch type information processing device 10
A rotating bezel 102 formed in an annular shape is slidably disposed on the upper portion (front side in the drawing) of the main body 101 of the main body 101. On the upper surface of the rotating bezel 102, characters such as "A, I, U, ..., 9, ..." are formed at regular intervals by printing or the like. A cover glass 103 is provided on the inner peripheral side of the rotating bezel 102, and information and the like input to the wristwatch-type information processing apparatus 100 are displayed on the lower surface side (back side of the paper) of the cover glass 103. A display unit 104 is provided. On the upper side of the display unit 104 in the drawing, an instruction mark 110 for indicating one of characters and the like formed on the rotating bezel 102 is formed by printing or the like. A decision switch 10 is provided around the main body 101.
5, a delete switch 106, a turbid spot switch 107, and an origin switch 108 are provided. Note that these switches may be provided on the cover glass 103.

【0024】図2に腕時計型情報処理装置100から回
転ベゼル102を取り外した状態を示す。図2に示すよ
うに、本体101には孔31a,31bが形成されてお
り、この孔31a,31b内に第1検出手段として機能
する第1センサユニット32と第2検出手段として機能
する第2センサユニット33とがそれぞれ配置されてい
る。この場合において、第1センサユニット32と回転
ベゼル102の回転中心Oとを結ぶ線と、第2センサユ
ニット33と回転中心Oとを結ぶ線とが角度θ1を形成
するように第1センサユニット32および第2センサユ
ニット33がそれぞれ配置されている。また、第1セン
サユニット32は、上述した指示マーク110が指示す
る文字等(図2の場合「ア」)の下方(図2の紙面奥
側)に配置されている。なお、角度θ1については後述
する。
FIG. 2 shows a state in which the rotating bezel 102 has been removed from the wristwatch-type information processing apparatus 100. As shown in FIG. 2, holes 31a and 31b are formed in the main body 101, and a first sensor unit 32 functioning as a first detecting means and a second sensor functioning as a second detecting means are formed in the holes 31a and 31b. The sensor units 33 are arranged respectively. In this case, the first sensor unit 32 and the line connecting the first sensor unit 32 and the rotation center O of the rotating bezel 102 and the line connecting the second sensor unit 33 and the rotation center O form an angle θ1. And the second sensor unit 33 are arranged. In addition, the first sensor unit 32 is disposed below (in the back side of the paper of FIG. 2) below the character or the like (“A” in FIG. 2) indicated by the above-described instruction mark 110. The angle θ1 will be described later.

【0025】図3に、図2のIV−IV線に沿って視た図を
示す。図3に示すように、回転ベゼル102の下面に
は、回転ベゼル102の上面に形成された文字等に対応
する位置に光学パターン41が形成されている。この光
学パターン41が形成された面の下方にはセンサーカバ
ーガラス42が本体101に取り付けられている。この
とき、本体101とセンサカバーガラス42の間にはパ
ッキン43が配設されており、これによりセンサカバー
ガラス42の下部への水等の侵入を防止することができ
る。センサカバーガラス42の下方には、第1センサユ
ニット32が配設されている。第1センサユニット32
は、LED(Light Emitting Diode)44と、フォトダ
イオード45と、LED44とフォトダイオード45と
の間に配置される遮光板44aと、基板46とから構成
されており、LED44が光学パターン41に向けて第
1検出光L1を射出、照射し、その反射光をフォトダイ
オード45が受光し、受光した第1検出光L1に基づい
て第1検出信号Aを生成する。同様に第2センサユニッ
ト33は、LED46(図7参照)と、フォトダイオー
ド47(図7参照)と、LED46とフォトダイオード
47との間に配置される遮光板と、基板とから構成され
ており、LED46が光学パターン41に向けて第2検
出光L2を射出、照射し、その反射光をフォトダイオー
ド47が受光し、受光した第2検出光L2に基づいて第
2検出信号Bを生成する。このように第1センサユニッ
ト32の生成した第1検出信号A及び第2センサユニッ
ト33が生成した第2検出信号Bが後述する情報処理部
81(図6参照)によってカウントされ、これにより回
転ベゼル102の回転角度及び回転っ方向を検出してい
る。
FIG. 3 is a view taken along the line IV-IV in FIG. As shown in FIG. 3, an optical pattern 41 is formed on a lower surface of the rotating bezel 102 at a position corresponding to a character or the like formed on an upper surface of the rotating bezel 102. A sensor cover glass 42 is attached to the main body 101 below the surface on which the optical pattern 41 is formed. At this time, a packing 43 is provided between the main body 101 and the sensor cover glass 42, thereby preventing entry of water or the like into a lower portion of the sensor cover glass 42. The first sensor unit 32 is provided below the sensor cover glass 42. First sensor unit 32
Is composed of an LED (Light Emitting Diode) 44, a photodiode 45, a light-shielding plate 44a disposed between the LED 44 and the photodiode 45, and a substrate 46. The LED 44 faces the optical pattern 41. The first detection light L1 is emitted and irradiated, the reflected light is received by the photodiode 45, and the first detection signal A is generated based on the received first detection light L1. Similarly, the second sensor unit 33 includes an LED 46 (see FIG. 7), a photodiode 47 (see FIG. 7), a light shielding plate disposed between the LED 46 and the photodiode 47, and a substrate. The LED 46 emits and irradiates the second detection light L2 toward the optical pattern 41, the photodiode 47 receives the reflected light, and generates the second detection signal B based on the received second detection light L2. As described above, the first detection signal A generated by the first sensor unit 32 and the second detection signal B generated by the second sensor unit 33 are counted by the information processing unit 81 (see FIG. 6) described later. The rotation angle and the rotation direction of 102 are detected.

【0026】第1センサユニット32の基板46の下側
には、接点バネ47が設けられており、この接点バネ4
7により第1センサユニット32及び第2センサユニッ
ト33と腕時計型情報処理装置100のCPU等が電気
的に接続されている。なお、接点バネ47の代わりにリ
ード線を設けるようにしてもよい。図2および図3に示
すように、本体101の上部には、円周上に溝34が形
成されている。一方、図3に示すように回転ベゼル10
2の下面には、下側に突出する突条46が形成されてお
り、この突条46が溝34に摺動可能に嵌合されてい
る。また、回転ベゼル102の図中右側の側面と本体1
01との間にはOリング47が配置されており、これに
より腕時計型情報処理装置100内部への水や光などの
侵入を防止している。
A contact spring 47 is provided below the substrate 46 of the first sensor unit 32.
7, the first sensor unit 32 and the second sensor unit 33 are electrically connected to the CPU of the wristwatch-type information processing apparatus 100 and the like. Note that a lead wire may be provided instead of the contact spring 47. As shown in FIGS. 2 and 3, a groove 34 is formed on the circumference of the upper part of the main body 101. On the other hand, as shown in FIG.
On the lower surface of 2, a ridge 46 projecting downward is formed, and the ridge 46 is slidably fitted in the groove 34. The right side of the rotating bezel 102 in the figure and the main body 1
An O-ring 47 is arranged between the wristwatch-type information processing apparatus 100 and the O-ring 47.

【0027】[1.1.2] 光学パターンについて 次に、光学パターン41について説明する。図4は、反
射部材として機能する回転ベゼル102の下面を示す図
である。光学パターン41は、図4に示すように、LE
D44の照射する光を吸収する吸収領域41aとLED
44の光を反射する反射領域41bとが交互に形成され
ている。このとき、吸収領域41aと反射領域41bと
は、回転中心Oを中心とした角度θ2毎に形成されてい
る。この場合において、上述した回転ベゼル102の上
面に形成された文字等がn個(nは偶数)の場合には、
θ2=360/n[゜]となる。
[1.1.2] Optical Pattern Next, the optical pattern 41 will be described. FIG. 4 is a diagram illustrating the lower surface of the rotating bezel 102 functioning as a reflecting member. The optical pattern 41 is, as shown in FIG.
D44 and an absorption area 41a for absorbing the light emitted by D44
Forty-four reflection areas 41b for reflecting light are formed alternately. At this time, the absorption region 41a and the reflection region 41b are formed at every angle θ2 about the rotation center O. In this case, when the number of characters formed on the upper surface of the rotating bezel 102 is n (n is an even number),
θ2 = 360 / n [゜].

【0028】第1センサユニット32は、使用者が回転
ベゼル102を回転させたときに、図5(a)に示す光
学パターン41の吸収領域41aと反射領域41bとを
交互に読み取ることにより、図5(b)に示すような略
正弦波形を有する第1検出信号Aを生成することができ
る。一方、第2センサユニット33も同様に、図5
(c)に示すような略正弦波形を有する第2検出信号B
を生成することとなる。この場合において、第1検出信
号Aと第2検出信号Bの位相は、後に詳述するように、
1/4波長だけずれるように吸収領域41a及び反射領
域41b並びに第1センサユニット32及び第2センサ
ユニット33の配置が設定されている。
When the user rotates the rotating bezel 102, the first sensor unit 32 alternately reads the absorption area 41a and the reflection area 41b of the optical pattern 41 shown in FIG. The first detection signal A having a substantially sinusoidal waveform as shown in FIG. 5 (b) can be generated. On the other hand, the second sensor unit 33 also
The second detection signal B having a substantially sinusoidal waveform as shown in FIG.
Will be generated. In this case, the phases of the first detection signal A and the second detection signal B are as described in detail below.
The arrangement of the absorption region 41a and the reflection region 41b, and the first sensor unit 32 and the second sensor unit 33 is set so as to be shifted by 1 / wavelength.

【0029】[1.1.3] センサユニットの配置 次に、第1センサユニット32と第2センサユニット3
3との間の角度θ2について説明する。本実施形態で
は、 θ1=(θ2×m)+θ2/2 (ただし、mは整数) となるように第1センサユニット32および第2センサ
ユニット33が配置されている。これにより、回転ベゼ
ル102が使用者により回転させられた場合には、第1
センサユニット32が生成する第1検出信号Aと第2セ
ンサユニット33が生成する第2検出信号Bに1/4の
位相差が生じることになる。
[1.1.3] Arrangement of Sensor Unit Next, the first sensor unit 32 and the second sensor unit 3
3 will be described. In the present embodiment, the first sensor unit 32 and the second sensor unit 33 are arranged such that θ1 = (θ2 × m) + θ2 / 2 (where m is an integer). Thereby, when the rotating bezel 102 is rotated by the user, the first
A 1/4 phase difference occurs between the first detection signal A generated by the sensor unit 32 and the second detection signal B generated by the second sensor unit 33.

【0030】図5に示すように、回転ベゼル102を時
計回りに回転させた場合には、第2センサユニット33
の生成する第2検出信号Bに第1センサユニット32の
生成する第1検出信号Aより1/4の位相進みが生じ、
回転ベゼル102を反時計回りに回転させた場合には、
第2センサユニット33の生成するパルス信号に第1セ
ンサユニット32の生成するパルス信号より1/4の位
相遅れが生じることになる。このような位相遅れ・位相
進みを検知することによって後述するように回転ベゼル
102の回転方向を検出することが可能となっている。
As shown in FIG. 5, when the rotating bezel 102 is rotated clockwise, the second sensor unit 33 is rotated.
Generates a 1/4 phase advance from the first detection signal A generated by the first sensor unit 32 in the second detection signal B generated by
When the rotating bezel 102 is rotated counterclockwise,
The pulse signal generated by the second sensor unit 33 has a 遅 れ phase delay from the pulse signal generated by the first sensor unit 32. By detecting such a phase delay / phase advance, it is possible to detect the rotation direction of the rotating bezel 102 as described later.

【0031】[1.1.4] 機能構成 次に、上述のように検出された回転ベゼル102の回転
角度および回転方向から文字等の情報を生成して表示部
104に表示し、情報を格納する機能構成について図6
を用いて説明する。情報処理部111は、パルス数カウ
ンタ及び正/逆反転検出部を有しており、第1センサユ
ニット32が生成する第1検出信号Aおよび第2センサ
ユニット33が生成する第2検出信号Bに基づいて情報
データを生成し、ユーザにより確定された情報データの
メモリ113への格納を行うものである。このとき、情
報処理部111は、回転ベゼル102の回転位置に対応
した情報データが記憶された情報テーブル112を参照
することにより情報信号を生成する。このようにして生
成された情報信号に基づいてキャラクタージェネレータ
114が表示部104に文字等の情報を表示する。
[1.1.4] Functional Configuration Next, information such as characters is generated from the rotation angle and rotation direction of the rotating bezel 102 detected as described above, displayed on the display unit 104, and stored. Fig. 6
This will be described with reference to FIG. The information processing section 111 has a pulse number counter and a forward / reverse inversion detecting section, and outputs a first detection signal A generated by the first sensor unit 32 and a second detection signal B generated by the second sensor unit 33. The information data is generated based on the information data, and the information data determined by the user is stored in the memory 113. At this time, the information processing unit 111 generates an information signal by referring to the information table 112 in which information data corresponding to the rotation position of the rotating bezel 102 is stored. The character generator 114 displays information such as characters on the display unit 104 based on the information signal thus generated.

【0032】原点スイッチ108は、腕時計型情報処理
装置100を情報入力状態に切り替えるものであり、原
点スイッチ108がオンされると、情報処理部81のパ
ルス数カウンタが0にリセットされ、第1センサユニッ
ト32および第2センサユニット33により回転ベゼル
102の回転角度および回転方向の検出を開始するよう
になっている。確定スイッチ105、削除スイッチ10
6は、情報処理部81において生成された情報データを
それぞれ確定あるいは削除するものである。濁点スイッ
チ107は、情報処理部111において生成された情報
が仮名文字の場合には、濁点を付加するものである。ま
た、情報が英文字の場合には、濁点スイッチ107は小
文字と大文字とを切り替える機能を持っている。なお、
情報処理部111が生成する情報は文字情報に限らず、
改行などの文字編集や、この情報処理装置におけるモー
ド切換(例えば、時間表示モードと文字入力モードとを
切り換える)などの指令データを生成することも可能で
ある。この場合、情報テーブル112には、文字編集や
モード切換などの指令情報が回転ベゼル102の回転位
置に対応して記憶されており、検出された回転ベゼル1
02の回転位置に基づいて情報処理部81が指令データ
を生成することとなる。
The origin switch 108 switches the wristwatch type information processing apparatus 100 to an information input state. When the origin switch 108 is turned on, the pulse number counter of the information processing section 81 is reset to 0, and the first sensor The detection of the rotation angle and the rotation direction of the rotating bezel 102 by the unit 32 and the second sensor unit 33 is started. Confirm switch 105, delete switch 10
Reference numeral 6 is for confirming or deleting the information data generated in the information processing section 81, respectively. When the information generated by the information processing unit 111 is a kana character, the voiced dot switch 107 is used to add a voiced dot. When the information is in English characters, the voiced dot switch 107 has a function of switching between lowercase and uppercase. In addition,
The information generated by the information processing unit 111 is not limited to character information.
It is also possible to generate command data such as character editing such as line feed and mode switching (for example, switching between a time display mode and a character input mode) in the information processing apparatus. In this case, command information such as character editing and mode switching is stored in the information table 112 in correspondence with the rotation position of the rotating bezel 102, and the detected rotating bezel 1
The information processing section 81 generates the command data based on the rotational position 02.

【0033】[1.1.5] 情報処理部及びセンサユ
ニットの構成 [1.1.5.1] 情報処理部の原理説明 次に情報処理部111、第1センサユニット32及び第
2センサユニット33の構成の説明に先立ち、情報処理
部111の主要部の原理説明を行う。図7に情報処理部
111の主要部の原理説明図を示す。情報処理部111
は、電源電圧VDDを所定分圧比で分圧して所定の信号レ
ベル(第1信号レベル及び第2信号レベル相当)の初期
信号電圧VINITを生成する初期信号レベル生成回路PIN
ITと、初期状態において初期信号電圧VINITを保持する
とともに、第1センサユニット32の出力した第1検出
信号Aの正ピーク信号レベルを第1ピークホールド信号
SPH1として保持する第1ピークホールド回路PH1
と、初期状態において初期信号電圧VINITを保持すると
ともに、第1検出信号Aの負ピーク信号レベルを第2ピ
ークホールド信号SPH2として保持する第2ピークホー
ルド回路PH2と、第1ピークホールド信号SPH1及び
第2ピークホールド信号SPH2を分圧し、第1基準レベ
ル信号SR1を生成し出力する第1分圧回路SP1(第1
基準レベル信号生成手段相当)と、第1検出信号Aを第
1基準レベル信号SR1と比較することにより第1検出信
号Aの波形整形を行って波形整形信号SAとして出力す
る第1コンパレータCP1(第1波形整形手段相当)
と、初期状態において初期信号電圧VINITを保持すると
ともに、第2検出信号Bの正ピーク信号レベルを第3ピ
ークホールド信号SPH3として保持する第3ピークホー
ルドPH3と、初期状態において初期信号電圧VINITを
保持するとともに、第2検出信号Bの負ピーク信号レベ
ルを第4ピークホールド信号SPH4として保持する第4
ピークホールド回路PH4と、第3ピークホールド信号
SPH3及び第4ピークホールド信号SPH4を分圧し、第2
基準レベル信号SR2を生成し出力する第2分圧回路SP
2(第2基準レベル信号生成手段相当)と、第2検出信
号Bを第2基準レベル信号SR2と比較することにより第
2検出信号Bの波形整形を行って第2波形整形信号SB
として出力する第2コンパレータCP2(第2波形整形
手段相当)と、第1波形整形信号SAの信号レベル遷移
タイミングに第2波形整形信号SBのサンプリングを行
って第1サンプリングデータを得るとともに、第2波形
整形信号SBの信号レベル遷移タイミングに第1波形整
形信号SAのサンプリングを行って第2サンプリングデ
ータを得、第1サンプリングデータ及び第2サンプリン
グデータに基づいて光学パターンの第1センサユニット
32及び第2センサユニット33に対する相対的な回転
方向及び回転角度を算出する信号処理ユニットSPU
と、初期化信号INIT入力時に初期信号レベル生成回
路PINITを第1〜第4ピークホールド回路PH1〜PH
4を接続するとともに、第1センサユニット32を第1
ピークホールド回路PH1及び第2ピークホールド回路
PH2から切り離し、第2センサユニット33を第3ピ
ークホールド回路PH3及び第4ピークホールド回路P
H4から切り離すスイッチSW1〜SW4と、を備えて
構成されている。
[1.1.5] Configuration of information processing section and sensor unit [1.1.5.1] Explanation of principle of information processing section Next, information processing section 111, first sensor unit 32, and second sensor unit Prior to the description of the configuration of 33, the principle of the main part of the information processing unit 111 will be described. FIG. 7 is a diagram illustrating the principle of the main part of the information processing unit 111. Information processing unit 111
Is an initial signal level generation circuit PIN that divides the power supply voltage VDD by a predetermined voltage division ratio to generate an initial signal voltage VINIT of a predetermined signal level (corresponding to the first signal level and the second signal level).
IT and a first peak hold circuit PH1 that holds the initial signal voltage VINIT in the initial state and holds the positive peak signal level of the first detection signal A output from the first sensor unit 32 as the first peak hold signal SPH1.
A second peak hold circuit PH2 that holds the initial signal voltage VINIT in the initial state and holds the negative peak signal level of the first detection signal A as the second peak hold signal SPH2; A first voltage dividing circuit SP1 (first circuit) that divides the two peak hold signal SPH2 to generate and outputs a first reference level signal SR1.
A first comparator CP1 (corresponding to a reference level signal generating means) which compares the first detection signal A with the first reference level signal SR1 to shape the waveform of the first detection signal A and outputs it as a waveform shaping signal SA. (Equivalent to one waveform shaping means)
And a third peak hold PH3 that holds the initial signal voltage VINIT in the initial state and holds the positive peak signal level of the second detection signal B as the third peak hold signal SPH3, and holds the initial signal voltage VINIT in the initial state. And holding the negative peak signal level of the second detection signal B as the fourth peak hold signal SPH4.
The peak hold circuit PH4, the third peak hold signal SPH3, and the fourth peak hold signal SPH4 are divided into second and third signals.
Second voltage dividing circuit SP for generating and outputting reference level signal SR2
2 (corresponding to the second reference level signal generating means) and the second detection signal B are compared with the second reference level signal SR2 to perform the waveform shaping of the second detection signal B to perform the second waveform shaping signal SB.
A second comparator CP2 (corresponding to a second waveform shaping means) which outputs the second waveform shaping signal SB at the signal level transition timing of the first waveform shaping signal SA to obtain first sampling data, The first waveform shaping signal SA is sampled at the signal level transition timing of the waveform shaping signal SB to obtain second sampling data, and the first sensor unit 32 of the optical pattern and the second sampling data are obtained based on the first sampling data and the second sampling data. Signal processing unit SPU for calculating the relative rotation direction and rotation angle with respect to two sensor unit 33
And the first to fourth peak hold circuits PH1 to PH1 when the initialization signal INIT is input.
4 and connect the first sensor unit 32 to the first
The second sensor unit 33 is disconnected from the peak hold circuit PH1 and the second peak hold circuit PH2, and the second sensor unit 33 is connected to the third peak hold circuit PH3 and the fourth peak hold circuit P.
And switches SW1 to SW4 for disconnecting from H4.

【0034】本構成によれば、初期信号レベル生成回路
PINITは、電源電圧VDDを所定分圧比で分圧して所定の
信号レベル(第1信号レベル及び第2信号レベル相当)
の初期信号電圧VINITを生成する。そして、初期化信号
INITが入力されると、スイッチSW1〜SW4は、
初期信号レベル生成回路PINITを第1〜第4ピークホー
ルド回路PH1〜PH4を接続するとともに、第1セン
サユニット32を第1ピークホールド回路PH1及び第
2ピークホールド回路PH2から切り離し、第2センサ
ユニット33を第3ピークホールド回路PH3及び第4
ピークホールド回路PH4から切り離す。これにより、
第1ピークホールド回路PH1〜第4ピークホールド回
路PH4は、初期信号電圧VINITを保持する。これによ
り第1分圧回路SP1は、第1基準レベル信号SR1の電
圧として初期信号電圧VINITを第1コンパレータCP1
出力し、第2分圧回路SP2は、第2基準レベル信号S
R2として、初期信号電圧VINITを第2コンパレータCP
2に出力する。
According to this configuration, the initial signal level generation circuit PINIT divides the power supply voltage VDD at a predetermined voltage dividing ratio to a predetermined signal level (corresponding to the first signal level and the second signal level).
Is generated. Then, when the initialization signal INIT is input, the switches SW1 to SW4 become
The initial signal level generation circuit PINIT is connected to the first to fourth peak hold circuits PH1 to PH4, and the first sensor unit 32 is separated from the first peak hold circuit PH1 and the second peak hold circuit PH2. To the third peak hold circuit PH3 and the fourth peak hold circuit PH4.
Disconnect from the peak hold circuit PH4. This allows
The first peak hold circuit PH1 to the fourth peak hold circuit PH4 hold the initial signal voltage VINIT. As a result, the first voltage dividing circuit SP1 converts the initial signal voltage VINIT as the voltage of the first reference level signal SR1 into the first comparator CP1.
And the second voltage dividing circuit SP2 outputs the second reference level signal S
As R2, the initial signal voltage VINIT is applied to the second comparator CP
Output to 2.

【0035】これらの結果、第1コンパレータCP1
は、第1検出信号Aを第1基準レベル信号SR1、すなわ
ち、初期信号電圧VINITと比較することにより第1検出
信号Aの波形整形を行って波形整形信号SAとして出力
する。また、第2コンパレータCP2は、第2検出信号
Bを第2基準レベル信号SR2、すなわち、初期信号電圧
VINITと比較することにより第2検出信号Bの波形整形
を行って波形整形信号SBとして出力する。信号処理ユ
ニットSPUは、第1波形整形信号SAの信号レベル遷
移タイミングに第2波形整形信号SBのサンプリングを
行って第1サンプリングデータを得るとともに、第2波
形整形信号SBの信号レベル遷移タイミングに第1波形
整形信号SAのサンプリングを行って第2サンプリング
データを得、第1サンプリングデータ及び第2サンプリ
ングデータに基づいて光学パターンの第1センサユニッ
ト32及び第2センサユニット33に対する相対的な回
転方向及び回転角度を算出する。
As a result, the first comparator CP1
Performs the waveform shaping of the first detection signal A by comparing the first detection signal A with the first reference level signal SR1, that is, the initial signal voltage VINIT, and outputs the waveform as the waveform shaping signal SA. The second comparator CP2 shapes the waveform of the second detection signal B by comparing the second detection signal B with the second reference level signal SR2, that is, the initial signal voltage VINIT, and outputs it as a waveform shaping signal SB. . The signal processing unit SPU samples the second waveform shaping signal SB at the signal level transition timing of the first waveform shaping signal SA to obtain the first sampling data, and obtains the first sampling data at the signal level transition timing of the second waveform shaping signal SB. The second sampling data is obtained by sampling the one waveform shaping signal SA, and based on the first sampling data and the second sampling data, the relative rotation direction of the optical pattern with respect to the first sensor unit 32 and the second sensor unit 33 and Calculate the rotation angle.

【0036】従って、第1センサユニット32及び第2
センサユニット33の特性、より具体的には、第1検出
信号Aあるいは第2検出信号Bの電圧及び振幅の影響を
受けることなく、波形整形のための初期値(スレッショ
ルド電圧初期値)の設定を行え、調整工程を設けなくと
も、確実に正確な回転方向及び回転角度を算出すること
ができる。そして、初期化信号INITの入力が終了す
ると、スイッチSW1〜SW4は、初期信号レベル生成
回路PINITを第1〜第4ピークホールド回路PH1〜P
H4から切り離すとともに、第1センサユニット32を
第1ピークホールド回路PH1及び第2ピークホールド
回路PH2に接続し、第2センサユニット33を第3ピ
ークホールド回路PH3及び第4ピークホールド回路P
H4に接続する。これにより、第1ピークホールド回路
PH1は、第1センサユニット32の出力した第1検出
信号Aの正ピーク信号レベルを第1ピークホールド信号
SPH1として保持し、第2ピークホールド回路PH2
は、第1センサユニット32の出力した第1検出信号A
の負ピーク信号レベルを第2ピークホールド信号SPH2
として保持する。
Therefore, the first sensor unit 32 and the second
The initial value (threshold voltage initial value) for waveform shaping can be set without being affected by the characteristics of the sensor unit 33, more specifically, the voltage and amplitude of the first detection signal A or the second detection signal B. It is possible to accurately calculate the accurate rotation direction and rotation angle without providing an adjustment step. When the input of the initialization signal INIT is completed, the switches SW1 to SW4 switch the initial signal level generation circuit PINIT to the first to fourth peak hold circuits PH1 to PH4.
H4, the first sensor unit 32 is connected to the first peak hold circuit PH1 and the second peak hold circuit PH2, and the second sensor unit 33 is connected to the third peak hold circuit PH3 and the fourth peak hold circuit P2.
Connect to H4. Thereby, the first peak hold circuit PH1 holds the positive peak signal level of the first detection signal A output from the first sensor unit 32 as the first peak hold signal SPH1, and the second peak hold circuit PH2
Is the first detection signal A output from the first sensor unit 32
Of the second peak hold signal SPH2
Hold as.

【0037】一方、第3ピークホールド回路PH3は、
第2センサユニット33の出力した第2検出信号Bの正
ピーク信号レベルを第3ピークホールド信号SPH3とし
て保持し、第4ピークホールド回路PH4は、第2セン
サユニット33の出力した第2検出信号Bの負ピーク信
号レベルを第4ピークホールド信号SPH4として保持す
る。これにより第1分圧回路SP1は、第1ピークホー
ルド信号SPH1及び第2ピークホールド信号SPH2を分圧
し、第1基準レベル信号SR1として第1コンパレータC
P1に出力する。
On the other hand, the third peak hold circuit PH3
The positive peak signal level of the second detection signal B output from the second sensor unit 33 is held as the third peak hold signal SPH3, and the fourth peak hold circuit PH4 outputs the second detection signal B output from the second sensor unit 33. Is held as the fourth peak hold signal SPH4. As a result, the first voltage dividing circuit SP1 divides the first peak hold signal SPH1 and the second peak hold signal SPH2 and generates the first reference level signal SR1 by the first comparator C1.
Output to P1.

【0038】また、第2分圧回路SP2は、第3ピーク
ホールド信号SPH3及び第4ピークホールド信号SPH4を
分圧し、第2基準レベル信号SR2として第2コンパレー
タCP2に出力する。これらの結果、第1コンパレータ
CP1は、第1検出信号Aを第1基準レベル信号SR1と
比較することにより第1検出信号Aの波形整形を行って
波形整形信号SAとして出力する。また、第2コンパレ
ータCP2は、第2検出信号Bを第2基準レベル信号S
R2と比較することにより第2検出信号Bの波形整形を行
って波形整形信号SBとして出力する。
Further, the second voltage dividing circuit SP2 divides the third peak hold signal SPH3 and the fourth peak hold signal SPH4 and outputs them as a second reference level signal SR2 to the second comparator CP2. As a result, the first comparator CP1 shapes the waveform of the first detection signal A by comparing the first detection signal A with the first reference level signal SR1, and outputs the same as the waveform shaping signal SA. Further, the second comparator CP2 converts the second detection signal B into the second reference level signal S
By comparing with R2, the waveform of the second detection signal B is shaped and output as a waveform shaping signal SB.

【0039】信号処理ユニットSPUは、第1波形整形
信号SAの信号レベル遷移タイミングに第2波形整形信
号SBのサンプリングを行って第1サンプリングデータ
を得るとともに、第2波形整形信号SBの信号レベル遷
移タイミングに第1波形整形信号SAのサンプリングを
行って第2サンプリングデータを得、第1サンプリング
データ及び第2サンプリングデータに基づいて光学パタ
ーンの第1センサユニット32及び第2センサユニット
33に対する相対的な回転方向及び回転角度を算出する
こととなる。従って、第1センサユニット32及び第2
センサユニット33の特性、より具体的には、第1検出
信号Aあるいは第2検出信号Bの電圧及び振幅の影響を
受けることなく、回転方向及び回転角度を算出すること
ができるので、経時変化の影響を受けることなく回転方
向及び回転角度を算出することができる。
The signal processing unit SPU samples the second waveform shaping signal SB at the signal level transition timing of the first waveform shaping signal SA to obtain the first sampling data, and obtains the signal level transition of the second waveform shaping signal SB. At the timing, the first waveform shaping signal SA is sampled to obtain second sampling data, and the optical pattern is relative to the first sensor unit 32 and the second sensor unit 33 based on the first sampling data and the second sampling data. The rotation direction and the rotation angle will be calculated. Therefore, the first sensor unit 32 and the second
The rotation direction and the rotation angle can be calculated without being affected by the characteristics of the sensor unit 33, more specifically, the voltage and the amplitude of the first detection signal A or the second detection signal B. The rotation direction and the rotation angle can be calculated without being affected.

【0040】[1.1.5.2] 情報処理部及びセン
サユニットの具体的構成 次に情報処理部及びセンサユニットの具体的構成につい
て図8を参照して説明する。第1センサユニット32
は、第1検出光L1を射出するLED(Light Emitting
Diode)44と、光学パターン41により反射された第
1検出光L1を受光し、第1トランジスタQ1を介して
第1検出信号Aとして出力するフォトダイオード45
と、を備えて構成されている。また、第2センサユニッ
ト33も同様に第2検出光L2を射出するLED46
と、光学パターン41により反射された第2検出光L2
を受光し、第2トランジスタQ2を介して第2検出信号
Bとして出力するフォトダイオード47と、を備えて構
成されている。
[1.1.5.2] Specific Configuration of Information Processing Unit and Sensor Unit Next, a specific configuration of the information processing unit and the sensor unit will be described with reference to FIG. First sensor unit 32
Is an LED (Light Emitting) that emits the first detection light L1.
A photodiode 45 which receives the first detection light L1 reflected by the optical pattern 41 and outputs the first detection light A via the first transistor Q1.
And is provided. Similarly, the second sensor unit 33 also has an LED 46 for emitting the second detection light L2.
And the second detection light L2 reflected by the optical pattern 41
, And a photodiode 47 that outputs the second detection signal B via the second transistor Q2.

【0041】情報処理部111は、大別すると、第1検
出信号Aを第1サンプリングタイミング信号SAMP1
に基づいてサンプリングし、ホールドする第1サンプリ
ングホールド回路120と、第1サンプリングホールド
回路120にホールドされた第1検出信号Aに基づいて
第1基準レベル信号SREF1を生成し、出力する第1基準
レベル信号生成回路121と、第1サンプリングホール
ド回路120の出力信号、すなわち、第1検出信号Aと
第1基準レベル信号SREF1とを比較することにより第1
検出信号Aの波形整形を行って第1波形整形信号SAを
出力する第1コンパレータ122と、第2検出信号Bを
第2サンプリングタイミング信号SAMP2に基づいて
サンプリングし、ホールドする第2サンプリングホール
ド回路123と、第2サンプリングホールド回路123
にホールドされた第2検出信号Bに基づいて第2基準レ
ベル信号SREF2を生成し、出力する第2基準レベル信号
生成回路124と、第2サンプリングホールド回路12
3の出力信号、すなわち、第2検出信号Bと第2基準レ
ベル信号SREF2とを比較することにより第2検出信号B
の波形整形を行って第2波形整形信号SBを出力する第
2コンパレータ125と、第1波形整形信号SA及び第
2波形整形信号SBに基づいて光学パターンの第1セン
サユニット32及び第2センサユニット33に対する相
対的な回転方向及び回転角度を算出する信号処理ユニッ
ト126と、第1サンプリングタイミング信号SAMP
1に基づいて第1センサユニット32を動作可能状態と
し、第1サンプリングホールド回路120に第1検出信
号Aのサンプリングを行わせるための第1スイッチS1
及び第2スイッチS2と、第2サンプリングタイミング
信号SAMP2に基づいて第2センサユニット33を動
作可能状態とし、第2サンプリングホールド回路123
に第2検出信号Bのサンプリングを行わせるための第3
スイッチS3及び第4スイッチS4と、を備えて構成さ
れている。
The information processing section 111 roughly divides the first detection signal A into the first sampling timing signal SAMP1.
A first sampling and holding circuit 120 that samples and holds the first reference level signal SREF1 based on the first detection signal A held by the first sampling and holding circuit 120 and outputs the first reference level signal SREF1 By comparing the signal generation circuit 121 with the output signal of the first sampling and holding circuit 120, that is, the first detection signal A and the first reference level signal SREF1, the first signal is obtained.
A first comparator 122 for shaping the waveform of the detection signal A and outputting a first waveform shaping signal SA; and a second sampling and holding circuit 123 for sampling and holding the second detection signal B based on the second sampling timing signal SAMP2. And the second sampling and holding circuit 123
A second reference level signal generation circuit 124 for generating and outputting a second reference level signal SREF2 based on the second detection signal B held by the second sampling signal B;
3 by comparing the second detection signal B, ie, the second detection signal B with the second reference level signal SREF2.
A second comparator 125 for performing waveform shaping to output a second waveform shaping signal SB, and a first sensor unit 32 and a second sensor unit of an optical pattern based on the first waveform shaping signal SA and the second waveform shaping signal SB. A signal processing unit 126 for calculating a rotation direction and a rotation angle relative to the first sampling timing signal SAMP
1, a first switch S1 for enabling the first sensor unit 32 to be in an operable state and causing the first sampling and holding circuit 120 to sample the first detection signal A.
And the second sensor unit 33 is enabled based on the second switch S2 and the second sampling timing signal SAMP2, and the second sampling and holding circuit 123
For sampling the second detection signal B
A switch S3 and a fourth switch S4 are provided.

【0042】[1.1.5.2.1] 信号処理ユニッ
トの構成 信号処理ユニット126は、第1波形整形信号SA及び
第2波形整形信号SBに基づいて光学パターンの第1セ
ンサユニット32及び第2センサユニット33に対する
相対的な回転方向(=正方向あるいは逆方向)を検出
し、正逆判定信号SRDを出力する正/逆判定回路130
と、第1波形整形信号SAのエッジ検出を行い、第1エ
ッジ検出信号SE1を出力する第1エッジ検出回路131
と、正逆判定信号SRD及び第1エッジ検出信号SE1に基
づいて光学パターンの第1センサユニット32及び第2
センサユニット33に対する回転角度に対応するカウン
ト値を求める第1アップダウンカウンタ132と、第1
アップダウンカウンタ132のLSB値を1/2分周し
て第1コントロール信号CNT1を生成する1/2分周
回路133と、第1コントロール信号CNT1に基づい
て第1サンプリングタイミング信号SAMP1を生成し
出力する第1タイミングジェネレータ134と、第2波
形整形信号SBのエッジ検出を行い、第2エッジ検出信
号SE2を出力する第2エッジ検出回路135と、正逆判
定信号SRD及び第2エッジ検出信号SE2に基づいて光学
パターンの第1センサユニット32及び第2センサユニ
ット33に対する回転角度に対応するカウント値を求め
る第2アップダウンカウンタ136と、第2アップダウ
ンカウンタ136のLSB値を1/2分周して第2コン
トロール信号CNT2を生成する1/2分周回路137
と、第2コントロール信号CNT2に基づいて第2サン
プリングタイミング信号SAMP2を生成し出力する第
2タイミングジェネレータ138と、を備えて構成され
ている。
[1.1.5.2.1] Configuration of Signal Processing Unit The signal processing unit 126 is configured to output the first sensor unit 32 of the optical pattern based on the first waveform shaping signal SA and the second waveform shaping signal SB. A forward / reverse determination circuit 130 that detects a relative rotation direction (= forward direction or reverse direction) with respect to the second sensor unit 33 and outputs a forward / reverse determination signal SRD.
And a first edge detection circuit 131 that detects an edge of the first waveform shaping signal SA and outputs a first edge detection signal SE1
And the first sensor unit 32 and the second sensor unit of the optical pattern based on the forward / reverse determination signal SRD and the first edge detection signal SE1.
A first up / down counter 132 for obtaining a count value corresponding to a rotation angle with respect to the sensor unit 33;
A 分 frequency divider circuit 133 that divides the LSB value of the up / down counter 132 by を to generate a first control signal CNT1, and generates and outputs a first sampling timing signal SAMP1 based on the first control signal CNT1. The first timing generator 134 performs the edge detection of the second waveform shaping signal SB, and outputs the second edge detection signal SE2, and outputs the second edge detection signal SE2 to the forward / reverse determination signal SRD and the second edge detection signal SE2. A second up / down counter 136 for obtaining a count value corresponding to a rotation angle of the optical pattern with respect to the first sensor unit 32 and the second sensor unit 33, and dividing the LSB value of the second up / down counter 136 by 1 / 1/2 frequency divider 137 for generating the second control signal CNT2
And a second timing generator 138 that generates and outputs a second sampling timing signal SAMP2 based on the second control signal CNT2.

【0043】[1.1.5.2.2] 基準レベル信号
生成回路の構成 次に基準レベル信号生成回路の構成について説明する。
この場合において、第1基準レベル信号生成回路121
と第2基準レベル信号生成回路124とは、同一構成で
あるので、第1基準レベル信号生成回路121について
図9を参照して説明する。第1基準レベル信号生成回路
121は、第1検出信号Aの正ピーク信号レベルを第1
ピークホールド信号SP1として保持する第1ピークホー
ルド回路140と、第1検出信号Aの負ピーク信号レベ
ルを第2ピークホールド信号SP2として保持する第2ピ
ークホールド回路141と、第1ピークホールド信号S
P1と第2ピークホールド信号SP2の差電圧を分圧して、
第1基準レベル信号SREF1を生成し出力する分圧回路1
42と、初期化信号INIT入力時に第1検出信号Aの
第1ピークホールド回路140への入力を禁止する第1
スイッチ143と、初期化信号SINIT入力時に第1検出
信号Aの第2ピークホールド回路141への入力を禁止
する第2スイッチ144と、電源電圧を所定分圧比で分
圧して初期信号電圧VINITを生成する分圧回路145
と、初期化信号INIT入力時に分圧回路145を第1
ピークホールド回路140に接続する第3スイッチ14
6と、初期化信号INIT入力時に分圧回路145を第
2ピークホールド回路141に接続する第4スイッチ1
47と、を備えて構成されている。
[1.1.5.2.2] Configuration of reference level signal generation circuit Next, the configuration of the reference level signal generation circuit will be described.
In this case, the first reference level signal generation circuit 121
Since the first reference level signal generation circuit 124 and the second reference level signal generation circuit 124 have the same configuration, the first reference level signal generation circuit 121 will be described with reference to FIG. The first reference level signal generation circuit 121 sets the positive peak signal level of the first detection signal A to the first
A first peak hold circuit 140 for holding as a peak hold signal SP1, a second peak hold circuit 141 for holding a negative peak signal level of the first detection signal A as a second peak hold signal SP2, and a first peak hold signal S
Divide the voltage difference between P1 and the second peak hold signal SP2,
Voltage divider circuit 1 for generating and outputting first reference level signal SREF1
42 and a first for inhibiting the input of the first detection signal A to the first peak hold circuit 140 when the initialization signal INIT is input.
A switch 143, a second switch 144 for inhibiting input of the first detection signal A to the second peak hold circuit 141 when the initialization signal SINIT is input, and a power supply voltage divided at a predetermined voltage division ratio to generate an initial signal voltage VINIT Voltage divider 145
When the initialization signal INIT is input, the voltage dividing circuit 145 is switched to the first
Third switch 14 connected to peak hold circuit 140
6 and a fourth switch 1 that connects the voltage dividing circuit 145 to the second peak hold circuit 141 when the initialization signal INIT is input.
47.

【0044】ここで、図10を参照して、初期信号電圧
VINITの設定について説明する。初期信号電圧VINIT
は、想定される第1検出信号Aのうち最も信号レベルが
低い、すなわち、第1センサユニット32の感度が最も
小の場合に得られるであろう第1検出信号Aの最大信号
電圧VMINMAXと、想定される第1検出信号Aのうち最も
信号レベルが高い、すなわち、第1センサユニット32
の感度が最も大の場合に得られるであろう第1検出信号
Aの最小信号電圧VMAXMINと、の間の電圧(信号レベ
ル)に設定される。これにより確実に波形整形を行うこ
とができる。
Here, the setting of the initial signal voltage VINIT will be described with reference to FIG. Initial signal voltage VINIT
Is the maximum signal voltage VMINMAX of the first detection signal A that would be obtained when the signal level is the lowest among the assumed first detection signals A, that is, when the sensitivity of the first sensor unit 32 is the minimum. The signal level of the assumed first detection signal A is the highest, that is, the first sensor unit 32
Is set to a voltage (signal level) between the minimum signal voltage VMAXMIN of the first detection signal A which would be obtained when the sensitivity is the highest. This makes it possible to reliably perform waveform shaping.

【0045】[1.1.5.2.2] タイミングジェ
ネレータの構成 次にタイミングジェネレータの構成について説明する。
この場合において、第1タイミングジェネレータ134
と第2タイミングジェネレータ138とは、同一構成で
あるので、第1タイミングジェネレータ134について
図11を参照して説明する。第1タイミングジェネレー
タ134は、所定の基準周波数を有する基準周波数信号
fREFを生成し出力する発振器150と、基準周波数信
号fREFを分周して、高い周波数(例えば、8k[H
z])を有する第1周波数信号fHと、低い周波数(例
えば、512[Hz])を有する第2周波数信号fL
と、を生成し出力する分周器151と、第2周波数信号
fL及び第1コントロール信号CNT1の論理積(AN
D)をとって、第1論理積信号AND1を出力するAN
D回路152と、第1周波数信号fH及び第1コントロ
ール信号CNT1の反転信号の論理積(AND)をとっ
て、第2論理積信号AND2を出力するAND回路15
3と、第1論理積信号AND1及び第2論理積信号AN
D2の論理和(OR)をとって、論理和信号OR1を出
力するOR回路154と、論理和信号OR1を所定時間
遅延させて遅延論理和信号DOR1として出力する遅延
回路155と、論理和信号OR1及び遅延論理和信号D
OR1の論理積(AND)をとって、第1サンプリング
タイミング信号SAMP1を出力するAND回路156
と、を備えて構成されている。
[1.1.5.2.2] Configuration of Timing Generator Next, the configuration of the timing generator will be described.
In this case, the first timing generator 134
Since the first and second timing generators 138 have the same configuration, the first timing generator 134 will be described with reference to FIG. The first timing generator 134 generates and outputs a reference frequency signal fREF having a predetermined reference frequency, and an oscillator 150 that divides the frequency of the reference frequency signal fREF to a higher frequency (for example, 8 k [H]).
z]) and a second frequency signal fL having a low frequency (eg, 512 [Hz]).
, And a logical product (AN) of the second frequency signal fL and the first control signal CNT1.
D) to output a first AND signal AND1
AND circuit 15 which obtains the logical product (AND) of the D circuit 152 and the inverted signal of the first frequency signal fH and the first control signal CNT1, and outputs the second logical product signal AND2
3, the first AND signal AND1 and the second AND signal AN
An OR circuit 154 that takes the logical sum (OR) of D2 and outputs a logical sum signal OR1, a delay circuit 155 that delays the logical sum signal OR1 for a predetermined time and outputs the result as a delayed logical sum signal DOR1, and a logical sum signal OR1 And the delayed OR signal D
AND circuit 156 that takes the logical product (AND) of OR1 and outputs first sampling timing signal SAMP1
And is provided.

【0046】ここで、第1タイミングジェネレータ13
4の動作について図8及び図12を参照して説明する。
第1タイミングジェネレータ134の発振器150は、
所定の基準周波数を有する基準周波数信号fREFを分周
器151に出力する。分周器151は、基準周波数信号
fREFを分周して、高い周波数(例えば、8k[H
z])を有する第1周波数信号fHと、低い周波数(例
えば、512[Hz])を有する第2周波数信号fL
と、を生成し、第1周波数信号fHをAND回路153
に出力し、第2周波数信号fLをAND回路152に出
力する。これらの動作と並行して、初期化信号INIT
が“H”レベルとなると、1/2分周回路133は、リ
セットされ、第1コントロール信号CNT1は、“L”
レベルとなる。
Here, the first timing generator 13
4 will be described with reference to FIG. 8 and FIG.
The oscillator 150 of the first timing generator 134
A reference frequency signal fREF having a predetermined reference frequency is output to the frequency divider 151. The frequency divider 151 divides the frequency of the reference frequency signal fREF to a higher frequency (for example, 8 k [H
z]) and a second frequency signal fL having a low frequency (eg, 512 [Hz]).
Is generated, and the first frequency signal fH is output to the AND circuit 153.
And outputs the second frequency signal fL to the AND circuit 152. In parallel with these operations, the initialization signal INIT
Becomes "H" level, the 1/2 frequency dividing circuit 133 is reset, and the first control signal CNT1 becomes "L".
Level.

【0047】この結果、AND回路152から出力され
る第1論理積信号AND1は、“L”レベルとなる。一
方、第1コントロール信号CNT1の反転信号の信号レ
ベルは“H”レベルとなり、第1周波数信号fH及び第
1コントロール信号CNT1の反転信号の論理積(AN
D)をとることにより、第1周波数信号fHに同期し
て、AND回路153の出力する第2論理積信号AND
2は“H”レベルとなる。従って、OR回路154は、
第1周波数信号fHの周波数で“H”レベルとなる論理
和信号OR1を遅延回路155及びAND回路156に
出力する。これにより、遅延回路155は、論理和信号
OR1を所定時間遅延させて遅延論理和信号DOR1と
してAND回路156に出力し、AND回路156は、
遅延論理和信号DOR1及び論理和信号OR1の論理積
をとり、第1サンプリング信号SAMP1を生成する。
As a result, the first AND signal AND1 output from the AND circuit 152 becomes "L" level. On the other hand, the signal level of the inverted signal of the first control signal CNT1 becomes “H” level, and the logical product (AN) of the first frequency signal fH and the inverted signal of the first control signal CNT1 is obtained.
D), the second AND signal AND output from the AND circuit 153 is synchronized with the first frequency signal fH.
2 becomes "H" level. Therefore, the OR circuit 154
An OR signal OR1 that becomes “H” level at the frequency of the first frequency signal fH is output to the delay circuit 155 and the AND circuit 156. As a result, the delay circuit 155 delays the OR signal OR1 by a predetermined time and outputs the result as the delayed OR signal DOR1 to the AND circuit 156.
The logical AND of the delayed OR signal DOR1 and the OR signal OR1 is calculated to generate a first sampling signal SAMP1.

【0048】これらの結果、第1サンプリング信号SA
MP1は、遅延回路155により所定時間遅延された後
に、第1周波数信号fHの周波数(例えば、8k[H
z])で“H”レベルとなる信号となる。その後、第1
エッジ検出信号SE1が“H”レベルとなることにより、
第1アップダウンカウンタ132のLSB値が“H”と
なることにより、第1コントロール信号CNT1がH”
レベルとなる。この結果、AND回路153から出力さ
れる第2論理積信号AND2は、“L”レベルとなる。
一方、第2周波数信号fH及び第1コントロール信号C
NT1の反転信号の論理積(AND)をとることによ
り、第2周波数信号fLに同期して、AND回路152
の出力する第1論理積信号AND1は“H”レベルとな
る。従って、OR回路154は、第2周波数信号fLの
周波数で“H”レベルとなる論理和信号OR1を遅延回
路155及びAND回路156に出力する。
As a result, the first sampling signal SA
MP1 is delayed by the delay circuit 155 for a predetermined time, and then the frequency of the first frequency signal fH (for example, 8 k [H
z]), the signal becomes “H” level. Then the first
When the edge detection signal SE1 becomes “H” level,
When the LSB value of the first up / down counter 132 becomes “H”, the first control signal CNT1 becomes “H”.
Level. As a result, the second logical product signal AND2 output from the AND circuit 153 becomes “L” level.
On the other hand, the second frequency signal fH and the first control signal C
By taking the logical product (AND) of the inverted signal of NT1, the AND circuit 152 is synchronized with the second frequency signal fL.
Output at the "H" level. Therefore, the OR circuit 154 outputs the logical sum signal OR1 which becomes “H” level at the frequency of the second frequency signal fL to the delay circuit 155 and the AND circuit 156.

【0049】これにより、遅延回路155は、論理和信
号OR1を所定時間遅延させて遅延論理和信号DOR1
としてAND回路156に出力し、AND回路156
は、遅延論理和信号DOR1及び論理和信号OR1の論
理積をとり、第1サンプリング信号SAMP1を生成す
る。これらの結果、第1サンプリング信号SAMP1
は、遅延回路155により所定時間遅延された後に、第
2周波数信号fLの周波数(=例えば、512[H
z])で“H”レベルとなる信号となり、その後、再び
初期化信号INITが“H”レベルとなるまで、動作を
継続することとなる。従って、初期動作時のみ、第1サ
ンプリングタイミング信号SAMP1の周波数を高くす
ることができるため、迅速に第1基準レベル信号SREF1
を通常動作状態の信号レベルに移行させることができ、
迅速、かつ、正確に通常動作状態に移行させることが可
能となるのである。
As a result, the delay circuit 155 delays the logical sum signal OR1 by a predetermined time to delay the logical sum signal DOR1.
Is output to the AND circuit 156, and the AND circuit 156
Takes the logical product of the delayed logical sum signal DOR1 and the logical sum signal OR1, and generates a first sampling signal SAMP1. As a result, the first sampling signal SAMP1
Is, after being delayed by the delay circuit 155 for a predetermined time, the frequency of the second frequency signal fL (= for example, 512 [H
z]), the signal goes to the “H” level, and then the operation is continued until the initialization signal INIT goes to the “H” level again. Therefore, only at the time of the initial operation, the frequency of the first sampling timing signal SAMP1 can be increased, so that the first reference level signal SREF1 can be quickly increased.
Can be shifted to the signal level of the normal operation state,
It is possible to quickly and accurately shift to the normal operation state.

【0050】[1.1.6] 情報処理部及びセンサユ
ニットの具体的動作 次に、情報処理部11、1第1センサユニット32及び
第2センサユニット33の具体的な初期動作及び通常動
作について図8を参照して説明する。 [1.1.6.1] 初期動作 初期動作においては、初期化信号INITが“H”レベ
ルとされる。まず、基準レベル信号生成回路の動作につ
いて説明する。以下の説明においては、第1基準レベル
信号生成回路121と第2基準レベル信号生成回路12
4とは、同一構成であるので、第1基準レベル信号生成
回路121の動作を主として説明する。初期化信号IN
ITが“H”レベルとなると、第1スイッチ143入力
時に第1検出信号Aの第1ピークホールド回路140へ
の入力を禁止すべく、オフ(開)状態となる。また、第
2スイッチ144は、第1検出信号Aの第2ピークホー
ルド回路141への入力を禁止すべく、オフ(開)状態
となる。一方、第3スイッチ146は、分圧回路145
を第1ピークホールド回路140に接続すべく、オン
(閉)状態となる。また、第4スイッチ147は、初期
化信号INIT入力時に分圧回路145を第2ピークホ
ールド回路141に接続すべく、オン(閉)状態とな
る。さらに分圧回路145は、電源電圧を所定分圧比で
分圧して初期信号電圧VINITを生成する。
[1.1.6] Specific Operation of Information Processing Unit and Sensor Unit Next, specific initial operation and normal operation of the information processing unit 11, the first sensor unit 32, and the second sensor unit 33 will be described. This will be described with reference to FIG. [1.1.6.1] Initial Operation In the initial operation, the initialization signal INIT is set to the “H” level. First, the operation of the reference level signal generation circuit will be described. In the following description, the first reference level signal generation circuit 121 and the second reference level signal generation circuit 12
4 has the same configuration, and therefore the operation of the first reference level signal generation circuit 121 will be mainly described. Initialization signal IN
When IT becomes “H” level, the first switch 143 is turned off (opened) to inhibit the input of the first detection signal A to the first peak hold circuit 140 when the first switch 143 is input. Further, the second switch 144 is turned off (open) to inhibit the input of the first detection signal A to the second peak hold circuit 141. On the other hand, the third switch 146 includes a voltage dividing circuit 145.
Is turned on (closed) to connect the first peak hold circuit 140 to the first peak hold circuit 140. The fourth switch 147 is turned on (closed) to connect the voltage dividing circuit 145 to the second peak hold circuit 141 when the initialization signal INIT is input. Further, voltage dividing circuit 145 generates an initial signal voltage VINIT by dividing the power supply voltage by a predetermined voltage dividing ratio.

【0051】これらの結果、第1ピークホールド回路1
40は、初期信号電圧VINITを第1ピークホールド信号
SP1として保持し、第2ピークホールド回路141は、
初期信号電圧VINITを第2ピークホールド信号SP2とし
て保持する。分圧回路142は、第1ピークホールド信
号SP1と第2ピークホールド信号SP2の差電圧を分圧し
て、初期信号電圧VINITを有する第1基準レベル信号S
REF1を第1コンパレータ122に出力する。同様にし
て、第2基準レベル信号生成回路124は、初期信号電
圧VINITを有する第2基準レベル信号SREF2を第2コン
パレータ125に出力する。また、第1アップダウンカ
ウンタ132、1/2分周回路133、第2アップダウ
ンカウンタ136及び1/2分周回路137は、初期化
信号INITが“H”レベルとされることにより初期化
される。このとき、第1タイミングジェネレータ134
は、“L”レベルの第1コントロール信号CNT1(図
12参照)に基づいて第1サンプリングタイミング信号
SAMP1を生成し第1スイッチS1及び第2スイッチ
S2に出力する。
As a result, the first peak hold circuit 1
40 holds the initial signal voltage VINIT as a first peak hold signal SP1, and the second peak hold circuit 141
The initial signal voltage VINIT is held as the second peak hold signal SP2. The voltage dividing circuit 142 divides a difference voltage between the first peak hold signal SP1 and the second peak hold signal SP2 to generate a first reference level signal S having an initial signal voltage VINIT.
REF1 is output to the first comparator 122. Similarly, the second reference level signal generation circuit 124 outputs the second reference level signal SREF2 having the initial signal voltage VINIT to the second comparator 125. Further, the first up / down counter 132, the 1/2 frequency divider 133, the second up / down counter 136, and the 1/2 frequency divider 137 are initialized by setting the initialization signal INIT to "H" level. You. At this time, the first timing generator 134
Generates a first sampling timing signal SAMP1 based on the "L" level first control signal CNT1 (see FIG. 12) and outputs the first sampling timing signal SAMP1 to the first switch S1 and the second switch S2.

【0052】同様に、第2タイミングジェネレータ13
8は、“L”レベルの第2コントロール信号CNT2に
基づいて第2サンプリングタイミング信号SAMP2を
生成し第3スイッチS3及び第4スイッチS4に出力す
ることとなる。このとき、第1サンプリング信号SAM
P1は、上述したように、遅延回路155により所定時
間遅延された後に、第1周波数信号fHの周波数(例え
ば、8k[Hz])で“H”レベルとなる信号となって
いるので、第1スイッチS1及び第2スイッチS2は、
第1サンプリングタイミング信号SAMP1に基づい
て、すなわち、第1周波数信号fHの周波数で第1セン
サユニット32を動作可能状態とし、第1サンプリング
ホールド回路120に第1検出信号Aのサンプリングを
行わせることとなる。同様に、第2サンプリング信号S
AMP2は、第2タイミングジェネレータ138により
第1周波数信号fHと同様の初期動作状態における高い
周波数を有する信号となっているので、第3スイッチS
3及び第4スイッチS4は、第2サンプリングタイミン
グ信号SAMP2に基づいて、高い周波数で第2センサ
ユニット33を動作可能状態とし、第2サンプリングホ
ールド回路123に第2検出信号Bのサンプリングを行
わせることとなる。
Similarly, the second timing generator 13
8 generates the second sampling timing signal SAMP2 based on the "L" level second control signal CNT2, and outputs it to the third switch S3 and the fourth switch S4. At this time, the first sampling signal SAM
As described above, P1 is a signal that becomes the “H” level at the frequency of the first frequency signal fH (for example, 8 kHz) after being delayed by the delay circuit 155 for a predetermined time. The switch S1 and the second switch S2 are
Making the first sensor unit 32 operable based on the first sampling timing signal SAMP1, that is, at the frequency of the first frequency signal fH, and causing the first sampling and holding circuit 120 to sample the first detection signal A; Become. Similarly, the second sampling signal S
AMP2 is a signal having a high frequency in the same initial operation state as the first frequency signal fH by the second timing generator 138, so that the third switch S
The third and fourth switches S4 make the second sensor unit 33 operable at a high frequency based on the second sampling timing signal SAMP2, and cause the second sampling and holding circuit 123 to sample the second detection signal B. Becomes

【0053】これらにより、第1コンパレータ122
は、第1サンプリングホールド回路120にホールドさ
れた第1検出信号A及び第1基準レベル信号生成回路1
21の出力した第1基準レベル信号SREF1、すなわち、
第1検出信号Aと初期信号電圧VINITとを比較すること
により第1検出信号Aの波形整形を行って第1波形整形
信号SAを信号処理ユニット126の第1エッジ検出回
路及び正/逆判定回路130に出力する。また、第2コ
ンパレータ125は、第2サンプリングホールド回路1
23にホールドされた第2検出信号B及び第2基準レベ
ル信号SREF2、すなわち、第2検出信号Bと初期信号電
圧VINITとを比較することにより第2検出信号Bの波形
整形を行って第2波形整形信号SBを信号処理ユニット
126の第2エッジ検出回路135及び正/逆判定回路
130に出力することとなる。
Thus, the first comparator 122
Is the first detection signal A held by the first sampling and holding circuit 120 and the first reference level signal generation circuit 1
21, the first reference level signal SREF1,
The waveform of the first detection signal A is shaped by comparing the first detection signal A with the initial signal voltage VINIT, and the first waveform shaping signal SA is converted to the first edge detection circuit and the forward / reverse determination circuit of the signal processing unit 126. Output to 130. Further, the second comparator 125 is connected to the second sampling and holding circuit 1
By comparing the second detection signal B and the second reference level signal SREF2 held at 23, that is, the second detection signal B with the initial signal voltage VINIT, the second detection signal B is shaped into a second waveform. The shaped signal SB is output to the second edge detection circuit 135 and the forward / reverse determination circuit 130 of the signal processing unit 126.

【0054】[1.1.6.2] 通常動作 上記初期動作の後、初期化信号INITが“L”レベル
となると、通常胴債に移行する。まず、基準レベル信号
生成回路の動作について説明する。以下の説明において
は、第1基準レベル信号生成回路121と第2基準レベ
ル信号生成回路124とは、同一構成であるので、第1
基準レベル信号生成回路121の動作を主として説明す
る。初期化信号INITが“L”レベルとなると、第1
スイッチ143は、第1検出信号Aの第1ピークホール
ド回路140への入力を許可すべく、オン(閉)状態と
なる。また、第2スイッチ144は、第1検出信号Aの
第2ピークホールド回路141への入力を許可すべく、
オン(閉)状態となる。一方、第3スイッチ146は、
分圧回路145を第1ピークホールド回路140と非接
続とすべく、オフ(開)状態となる。また、第4スイッ
チ147は、分圧回路145を第2ピークホールド回路
141と非接続とすべく、オフ(開)状態となる。
[1.1.6.2] Normal Operation After the above-described initial operation, when the initialization signal INIT goes to the "L" level, the operation shifts to the normal body bond. First, the operation of the reference level signal generation circuit will be described. In the following description, the first reference level signal generation circuit 121 and the second reference level signal generation circuit 124 have the same configuration.
The operation of the reference level signal generation circuit 121 will be mainly described. When the initialization signal INIT goes to "L" level, the first
The switch 143 is turned on (closed) to permit the input of the first detection signal A to the first peak hold circuit 140. Further, the second switch 144 allows the input of the first detection signal A to the second peak hold circuit 141.
It is turned on (closed). On the other hand, the third switch 146
In order to disconnect the voltage dividing circuit 145 from the first peak hold circuit 140, the voltage dividing circuit 145 is turned off (open). Further, the fourth switch 147 is turned off (open) to disconnect the voltage dividing circuit 145 from the second peak hold circuit 141.

【0055】これらの結果、第1ピークホールド回路1
40は、第1検出信号Aの正ピーク信号レベルを第1ピ
ークホールド信号SP1として保持し、第2ピークホール
ド回路141は、第1検出信号Aの負ピーク信号レベル
を第2ピークホールド信号SP2として保持する。従っ
て、分圧回路142は、第1ピークホールド信号SP1と
第2ピークホールド信号SP2の差電圧を分圧して、第1
基準レベル信号SREF1を生成し、第1基準レベル信号S
REF1を第1コンパレータ122に出力する。同様にし
て、第2基準レベル信号生成回路124は、第2基準レ
ベル信号SREF2を生成し、第2基準レベル信号SREF2を
第2コンパレータ125に出力する。このとき、第1タ
イミングジェネレータ134は、“L”レベルの第1コ
ントロール信号CNT1(図12参照)に基づいて第1
サンプリングタイミング信号SAMP1を生成し第1ス
イッチS1及び第2スイッチS2に出力する。同様に、
第2タイミングジェネレータ138は、“L”レベルの
第2コントロール信号CNT2に基づいて第2サンプリ
ングタイミング信号SAMP2を生成し第3スイッチS
3及び第4スイッチS4に出力することとなる。このと
き、第1サンプリング信号SAMP1は、上述したよう
に、遅延回路155により所定時間遅延された後に、第
1周波数信号fHの周波数(例えば、8k[Hz])で
“H”レベルとなる信号となっているので、第1スイッ
チS1及び第2スイッチS2は、第1サンプリングタイ
ミング信号SAMP1に基づいて、すなわち、第1周波
数信号fHの周波数で第1センサユニット32を動作可
能状態とし、第1サンプリングホールド回路120に第
1検出信号Aのサンプリングを行わせることとなる。
As a result, the first peak hold circuit 1
40 holds the positive peak signal level of the first detection signal A as the first peak hold signal SP1, and the second peak hold circuit 141 sets the negative peak signal level of the first detection signal A as the second peak hold signal SP2. Hold. Therefore, the voltage dividing circuit 142 divides the voltage difference between the first peak hold signal SP1 and the second peak hold signal SP2, and
A reference level signal SREF1 is generated, and the first reference level signal S
REF1 is output to the first comparator 122. Similarly, the second reference level signal generation circuit 124 generates a second reference level signal SREF2, and outputs the second reference level signal SREF2 to the second comparator 125. At this time, the first timing generator 134 outputs the first control signal CNT1 (refer to FIG. 12) at the “L” level.
A sampling timing signal SAMP1 is generated and output to the first switch S1 and the second switch S2. Similarly,
The second timing generator 138 generates a second sampling timing signal SAMP2 based on the "L" level second control signal CNT2, and generates a third switch SAMP2.
This is output to the third and fourth switches S4. At this time, the first sampling signal SAMP1 is, as described above, a signal that becomes “H” level at the frequency of the first frequency signal fH (for example, 8 k [Hz]) after being delayed by the delay circuit 155 for a predetermined time. Therefore, the first switch S1 and the second switch S2 make the first sensor unit 32 operable based on the first sampling timing signal SAMP1, that is, at the frequency of the first frequency signal fH, This causes the hold circuit 120 to sample the first detection signal A.

【0056】同様に、第2サンプリング信号SAMP2
は、第2タイミングジェネレータ138により第1周波
数信号fHと同様の初期動作状態における高い周波数を
有する信号となっているので、第3スイッチS3及び第
4スイッチS4は、第2サンプリングタイミング信号S
AMP2に基づいて、高い周波数で第2センサユニット
33を動作可能状態とし、第2サンプリングホールド回
路123に第2検出信号Bのサンプリングを行わせるこ
ととなる。これらにより、第1コンパレータ122は、
第1サンプリングホールド回路120にホールドされた
第1検出信号A及び第1基準レベル信号生成回路121
の出力した第1基準レベル信号SREF1とを比較すること
により第1検出信号Aの波形整形を行って第1波形整形
信号SAを信号処理ユニット126の第1エッジ検出回
路及び正/逆判定回路130に出力する。
Similarly, the second sampling signal SAMP2
Is a signal having a high frequency in the same initial operation state as the first frequency signal fH by the second timing generator 138, the third switch S3 and the fourth switch S4 output the second sampling timing signal SH.
Based on AMP2, the second sensor unit 33 is made operable at a high frequency, and the second sampling and holding circuit 123 performs sampling of the second detection signal B. As a result, the first comparator 122
First detection signal A held by first sampling and holding circuit 120 and first reference level signal generation circuit 121
Is compared with the first reference level signal SREF1 output from the first processing unit 126, and the first detection signal A is subjected to waveform shaping, and the first waveform shaping signal SA is converted into the first edge detection circuit and the forward / reverse determination circuit 130 of the signal processing unit 126. Output to

【0057】また、第2コンパレータ125は、第2サ
ンプリングホールド回路123にホールドされた第2検
出信号B及び第2基準レベル信号SREF2とを比較するこ
とにより第2検出信号Bの波形整形を行って第2波形整
形信号SBを信号処理ユニット126の第2エッジ検出
回路135及び正/逆判定回路130に出力することと
なる。これにより、信号処理ユニット126の正/逆判
定回路130は、、第1波形整形信号SA及び第2波形
整形信号SBに基づいて光学パターンの第1センサユニ
ット32及び第2センサユニット33に対する相対的な
回転方向(=正方向あるいは逆方向)を検出し、正逆判
定信号SRDを第1アップダウンカウンタ132及び第2
アップダウンカウンタ136に出力する。一方、第1エ
ッジ検出回路131は、第1波形整形信号SAのエッジ
(立ち上がり及び立下がり)検出を行い、第1エッジ検
出信号SE1を第1アップダウンカウンタ132に出力す
る。
The second comparator 125 shapes the waveform of the second detection signal B by comparing the second detection signal B held by the second sampling and holding circuit 123 with the second reference level signal SREF2. The second waveform shaping signal SB is output to the second edge detection circuit 135 and the forward / reverse determination circuit 130 of the signal processing unit 126. Thereby, the forward / reverse determination circuit 130 of the signal processing unit 126 determines the relative position of the optical pattern with respect to the first sensor unit 32 and the second sensor unit 33 based on the first waveform shaping signal SA and the second waveform shaping signal SB. The rotation direction (= forward direction or reverse direction) is detected, and the forward / reverse determination signal SRD is supplied to the first up / down counter 132 and the second
Output to the up / down counter 136. On the other hand, the first edge detection circuit 131 detects the edge (rising and falling) of the first waveform shaping signal SA, and outputs the first edge detection signal SE1 to the first up / down counter 132.

【0058】この結果、第1アップダウンカウンタ13
2は、第1エッジ検出信号SE1及び正逆判定信号SRDに
基づいてカウント値のアップカウントあるいはダウンカ
ウントを行うこととなり、第1アップダウンカウンタ1
32のカウント値は、光学パターンの第1センサユニッ
ト32及び第2センサユニット33に対する回転角度に
相当するものとなる。また、第2エッジ検出回路135
は、第2波形整形信号SBAのエッジ(立ち上がり及び立
下がり)検出を行い、第2エッジ検出信号SE2を第1ア
ップダウンカウンタ132に出力する。この結果、第2
アップダウンカウンタ136は第2エッジ検出信号SE2
及び正逆判定信号SRDに基づいてカウント値のアップカ
ウントあるいはダウンカウントを行うこととなり、第2
アップダウンカウンタ136のカウント値は、光学パタ
ーンの第1センサユニット32及び第2センサユニット
33に対する回転角度に相当するものとなる。
As a result, the first up / down counter 13
2 is to count up or down the count value based on the first edge detection signal SE1 and the forward / reverse determination signal SRD.
The count value of 32 corresponds to the rotation angle of the optical pattern with respect to the first sensor unit 32 and the second sensor unit 33. Also, the second edge detection circuit 135
Detects the edge (rising and falling) of the second waveform shaping signal SBA and outputs the second edge detection signal SE2 to the first up / down counter 132. As a result, the second
The up / down counter 136 outputs the second edge detection signal SE2
And the count value is counted up or down based on the forward / reverse determination signal SRD.
The count value of the up / down counter 136 corresponds to the rotation angle of the optical pattern with respect to the first sensor unit 32 and the second sensor unit 33.

【0059】これに伴い、1/2分周回路133は、第
1アップダウンカウンタ132のLSB値を1/2分周
して第1コントロール信号CNT1を生成し、第1タイ
ミングジェネレータ134に出力し、1/2分周回路1
37は、第2アップダウンカウンタ136のLSB値を
1/2分周して第2コントロール信号CNT2を生成
し、第2タイミングジェネレータに出力する。第1タイ
ミングジェネレータ134は、第1コントロール信号C
NT1に基づいて第1サンプリングタイミング信号SA
MP1を生成し第1スイッチS1及び第2スイッチS2
に出力する。また、第2タイミングジェネレータ138
は、第2コントロール信号CNT2に基づいて第2サン
プリングタイミング信号SAMP2を生成し第3スイッ
チS3及び第4スイッチS4に出力することとなる。こ
のとき、第1サンプリング信号SAMP1は、上述した
ように、遅延回路155により所定時間遅延された後
に、第2周波数信号fLの周波数(例えば、512[H
z])で“H”レベルとなる信号となっているので、第
1スイッチS1及び第2スイッチS2は、第1サンプリ
ングタイミング信号SAMP1に基づいて、すなわち、
第2周波数信号fLの周波数で第1センサユニット32
を動作可能状態とし、第1サンプリングホールド回路1
20に第1検出信号Aのサンプリングを行わせることと
なる。
Along with this, the 3 divider circuit 133 divides the LSB value of the first up / down counter 132 by 第 to generate a first control signal CNT 1 and outputs it to the first timing generator 134. , 1/2 frequency divider 1
37 generates the second control signal CNT2 by dividing the LSB value of the second up / down counter 136 by 1 /, and outputs the second control signal CNT2 to the second timing generator. The first timing generator 134 outputs the first control signal C
First sampling timing signal SA based on NT1
MP1 is generated and the first switch S1 and the second switch S2
Output to Also, the second timing generator 138
Generates the second sampling timing signal SAMP2 based on the second control signal CNT2, and outputs it to the third switch S3 and the fourth switch S4. At this time, as described above, the first sampling signal SAMP1 is delayed by the delay circuit 155 for a predetermined time, and then the frequency of the second frequency signal fL (for example, 512 [H
z]), the first switch S1 and the second switch S2 are based on the first sampling timing signal SAMP1, that is,
The first sensor unit 32 at the frequency of the second frequency signal fL
In an operable state, and the first sampling and holding circuit 1
20 causes the first detection signal A to be sampled.

【0060】同様に、第2サンプリング信号SAMP2
は、第2タイミングジェネレータ138により第2周波
数信号fLと同様の低い周波数を有する信号となってい
るので、第3スイッチS3及び第4スイッチS4は、第
2サンプリングタイミング信号SAMP2に基づいて、
低い周波数で第2センサユニット33を動作可能状態と
し、第2サンプリングホールド回路123に第2検出信
号Bのサンプリングを行わせることとなる。これらによ
り、第1コンパレータ122は、第1サンプリングホー
ルド回路120にホールドされた第1検出信号A及び第
1基準レベル信号生成回路121の出力した第1基準レ
ベル信号SREF1とを比較することにより第1検出信号A
の波形整形を行って第1波形整形信号SAを信号処理ユ
ニット126の第1エッジ検出回路及び正/逆判定回路
130に出力する。また、第2コンパレータ125は、
第2サンプリングホールド回路123にホールドされた
第2検出信号B及び第2基準レベル信号SREF2とを比較
することにより第2検出信号Bの波形整形を行って第2
波形整形信号SBを信号処理ユニット126の第2エッ
ジ検出回路135及び正/逆判定回路130に出力する
こととなる。
Similarly, the second sampling signal SAMP2
Is a signal having the same low frequency as the second frequency signal fL by the second timing generator 138. Therefore, the third switch S3 and the fourth switch S4 operate based on the second sampling timing signal SAMP2.
The second sensor unit 33 is made operable at a low frequency, and the second sampling and holding circuit 123 performs sampling of the second detection signal B. As a result, the first comparator 122 compares the first detection signal A held by the first sampling and holding circuit 120 with the first reference level signal SREF1 output from the first reference level signal generation circuit 121, thereby obtaining the first signal. Detection signal A
And outputs the first waveform shaping signal SA to the first edge detection circuit and the forward / reverse determination circuit 130 of the signal processing unit 126. Also, the second comparator 125
The waveform of the second detection signal B is shaped by comparing the second detection signal B held by the second sampling and holding circuit 123 with the second reference level signal SREF2, and the second
The waveform shaping signal SB is output to the second edge detection circuit 135 and the forward / reverse determination circuit 130 of the signal processing unit 126.

【0061】これにより、信号処理ユニット126の正
/逆判定回路130は、第1波形整形信号SA及び第2
波形整形信号SBに基づいて光学パターンの第1センサ
ユニット32及び第2センサユニット33に対する相対
的な回転方向(=正方向あるいは逆方向)を検出し、正
逆判定信号SRDを第1アップダウンカウンタ132及び
第2アップダウンカウンタ136に出力する。一方、第
1エッジ検出回路131は、第1波形整形信号SAのエ
ッジ(立ち上がり及び立下がり)検出を行い、第1エッ
ジ検出信号SE1を第1アップダウンカウンタ132に出
力する。この結果、第1アップダウンカウンタ132
は、第1エッジ検出信号SE1及び正逆判定信号SRDに基
づいてカウント値のアップカウントあるいはダウンカウ
ントを行うこととなり、第1アップダウンカウンタ13
2のカウント値は、光学パターンの第1センサユニット
32及び第2センサユニット33に対する回転角度に相
当するものとなる。また、第2エッジ検出回路135
は、第2波形整形信号SBAのエッジ(立ち上がり及び立
下がり)検出を行い、第2エッジ検出信号SE2を第1ア
ップダウンカウンタ132に出力する。この結果、第2
アップダウンカウンタ136は第2エッジ検出信号SE2
及び正逆判定信号SRDに基づいてカウント値のアップカ
ウントあるいはダウンカウントを行うこととなり、第2
アップダウンカウンタ136のカウント値は、光学パタ
ーンの第1センサユニット32及び第2センサユニット
33に対する回転角度に相当するものとなる。
Thus, the forward / reverse determination circuit 130 of the signal processing unit 126 outputs the first waveform shaping signal SA and the second
A relative rotation direction (= forward or reverse direction) of the optical pattern with respect to the first sensor unit 32 and the second sensor unit 33 is detected based on the waveform shaping signal SB, and a forward / reverse determination signal SRD is detected by a first up / down counter. 132 and the second up / down counter 136. On the other hand, the first edge detection circuit 131 detects the edge (rising and falling) of the first waveform shaping signal SA, and outputs the first edge detection signal SE1 to the first up / down counter 132. As a result, the first up / down counter 132
Performs up-counting or down-counting of the count value based on the first edge detection signal SE1 and the forward / reverse determination signal SRD.
The count value of 2 corresponds to the rotation angle of the optical pattern with respect to the first sensor unit 32 and the second sensor unit 33. Also, the second edge detection circuit 135
Detects the edge (rising and falling) of the second waveform shaping signal SBA and outputs the second edge detection signal SE2 to the first up / down counter 132. As a result, the second
The up / down counter 136 outputs the second edge detection signal SE2
And the count value is counted up or down based on the forward / reverse determination signal SRD.
The count value of the up / down counter 136 corresponds to the rotation angle of the optical pattern with respect to the first sensor unit 32 and the second sensor unit 33.

【0062】以上の説明のように、信号処理ユニット1
26は、第1波形整形信号SA及び第2波形整形信号SB
に基づいて光学パターン、ひいては、回転ベゼル102
の第1センサユニット32及び第2センサユニットに対
する相対的な回転角度及び回転方向を算出することとな
る。このようにして、図13に示すように、第1検出信
号Aの振幅が小さく、第2検出信号Bの振幅が大きい場
合でも、図14(a)に示すように、第1基準レベル信
号SREF1を第1検出信号Aの変動に合わせて順次適正な
信号レベルとするため、図14(b)に示した理想的な
第1波形整形信号に近い第1波形整形信号SAを得るこ
とができ、調整工程を設けなくても、調整工程を設ける
ことなく、自動的に順次検出精度を高くして、確実に回
転ベゼル102の回転方向及び回転角度を検出すること
が可能となる。また図15に示すように、第1検出信号
Aの振幅が大きく、第2検出信号Bの振幅が小さい場合
でも、図16(a)に示すように、第1基準レベル信号
SREF1を第1検出信号Aの変動に合わせて順次適正な信
号レベルとするため、図16(b)に示した理想的な第
1波形整形信号に近い第1波形整形信号SAを得ること
ができ、調整工程を設けることなく、自動的に順次検出
精度を高くして、確実に回転ベゼル102の回転方向及
び回転角度を検出することが可能となる。
As described above, the signal processing unit 1
26 is a first waveform shaping signal SA and a second waveform shaping signal SB
Based on the optical pattern and thus the rotating bezel 102
The rotation angle and the rotation direction relative to the first sensor unit 32 and the second sensor unit are calculated. In this way, as shown in FIG. 13, even when the amplitude of the first detection signal A is small and the amplitude of the second detection signal B is large, as shown in FIG. Are sequentially adjusted to an appropriate signal level in accordance with the variation of the first detection signal A, the first waveform shaping signal SA close to the ideal first waveform shaping signal shown in FIG. Even without the adjustment step, the rotation direction and the rotation angle of the rotating bezel 102 can be reliably detected without sequentially providing the adjustment accuracy without providing the adjustment step. Also, as shown in FIG. 15, even when the amplitude of the first detection signal A is large and the amplitude of the second detection signal B is small, the first reference level signal SREF1 is detected by the first detection signal as shown in FIG. Since the signal level is sequentially set to an appropriate level in accordance with the fluctuation of the signal A, a first waveform shaping signal SA close to the ideal first waveform shaping signal shown in FIG. 16B can be obtained, and an adjustment step is provided. Without this, it is possible to automatically increase the detection accuracy sequentially and reliably detect the rotation direction and the rotation angle of the rotating bezel 102.

【0063】[1.1.6.3] 動作のまとめ 上記動作を要約すれば、初期動作状態においては、第1
検出信号A及び第2検出信号Bを波形整形を行う初期ス
レッショルド電圧として初期信号電圧VINITを用いて、
波形整形して第1波形整形信号SA及び第2波形整形信
号SBを生成するとともに、サンプリング周波数を高く
することにより、迅速に波形整形を行うコンパレータの
第1基準信号レベルSREF1及び第2基準信号レベルSRE
F2を自動的に最適な値とすることができる。従って、調
整工程を設けることなく、経時変化の影響も低減して、
確実に回転ベゼル102の回転方向及び回転角度を検出
することが可能となる。
[1.1.6.3] Summary of Operation To summarize the above operation, the first operation state is the first operation state.
Using the initial signal voltage VINIT as an initial threshold voltage for performing waveform shaping on the detection signal A and the second detection signal B,
The first waveform shaping signal SA and the second waveform shaping signal SB are generated by performing waveform shaping, and the first reference signal level SREF1 and the second reference signal level of the comparator for rapidly performing waveform shaping by increasing the sampling frequency. SRE
F2 can be automatically set to an optimal value. Therefore, without providing an adjustment step, the influence of the change over time is reduced,
The rotation direction and the rotation angle of the rotating bezel 102 can be reliably detected.

【0064】[1.2]次に回転方向検出及び回転位置
検出動作について図17ないし図19を参照して説明す
る。 [1.2.1] 正方向に回転している場合 回転ベゼル102が正方向に回転している場合には、図
17に符号で示す場合のように第2波形整形信号SB
のピークの手前で回転方向を逆転した場合及び図11に
符号で示す場合のように第2波形整形信号SBのピー
クを越えてから回転方向を逆転した場合のいずれにおい
ても、図18に示すように、第1波形整形信号SAの立
ち上がりタイミングにおいては、第2波形整形信号SB
=“L”となり、第1波形整形信号SAの立ち下がりタ
イミングにおいては、第2波形整形信号SB=“H”と
なる。同様に、回転ベゼル102が正方向に回転してい
る場合には、第2波形整形信号SBの立ち上がりタイミ
ングにおいては、第1波形整形信号SA=“H”とな
り、第2波形整形信号SBの立ち下がりタイミングにお
いては、第1波形整形信号SA=“L”となる。
[1.2] Next, the operation of detecting the rotation direction and the rotation position will be described with reference to FIGS. [1.2.1] When Rotating in the Forward Direction When the rotating bezel 102 is rotating in the forward direction, the second waveform shaping signal SB as indicated by the reference numeral in FIG.
In both the case where the rotation direction is reversed just before the peak and the case where the rotation direction is reversed after exceeding the peak of the second waveform shaping signal SB as shown by reference numerals in FIG. 11, as shown in FIG. In addition, at the rising timing of the first waveform shaping signal SA, the second waveform shaping signal SB
= "L", and at the fall timing of the first waveform shaping signal SA, the second waveform shaping signal SB = "H". Similarly, when the rotating bezel 102 is rotating in the forward direction, at the rising timing of the second waveform shaping signal SB, the first waveform shaping signal SA = “H”, and the rising edge of the second waveform shaping signal SB. At the falling timing, the first waveform shaping signal SA becomes "L".

【0065】従って、信号処理ユニット53は、例え
ば、図19に示すように、第1波形整形信号SAの立ち
上がりタイミング→第2波形整形信号SBの立ち上がり
タイミング→第1波形整形信号SAの立ち下がりタイミ
ング→第2波形整形信号SBの立ち下がりタイミング→
……における第2波形整形信号SB及び第2波形整形信
号SBを観測し、第2波形整形信号SB=“L”→第1波
形整形信号SA=“H”→第2波形整形信号SB=“H”
→第1波形整形信号SA=“L”→……となっていれ
ば、回転ベゼル102が正方向に回転していると判断
し、正方向に対応するカウントアップ(またはカウント
ダウン)を行い、原点位置にカウント値を加算して回転
ベゼル102の回転位置を検出することとなる。この場
合において、第1波形整形信号SAの信号遷移タイミン
グ及び第2波形整形信号SDIFの信号遷移タイミングの
双方を用いて相互に信号レベルを参照しているので、位
置検出精度は、第1検出信号及び第2検出信号の周期の
1/8周期となる。従って、一のセンサユニットを用い
る場合と比較して、倍の精度で位置を検出することがで
きる。
Accordingly, for example, as shown in FIG. 19, the signal processing unit 53 calculates the rising timing of the first waveform shaping signal SA → the rising timing of the second waveform shaping signal SB → the falling timing of the first waveform shaping signal SA. → Fall timing of the second waveform shaping signal SB →
Observe the second waveform shaping signal SB and the second waveform shaping signal SB in..., And the second waveform shaping signal SB = “L” → the first waveform shaping signal SA = “H” → the second waveform shaping signal SB = “ H "
→ If the first waveform shaping signal SA = “L” →..., It is determined that the rotating bezel 102 is rotating in the forward direction, and a count-up (or count-down) corresponding to the forward direction is performed. By adding the count value to the position, the rotational position of the rotating bezel 102 is detected. In this case, the signal level is mutually referred to using both the signal transition timing of the first waveform shaping signal SA and the signal transition timing of the second waveform shaping signal SDIF. 1 / of the cycle of the second detection signal. Therefore, the position can be detected with double accuracy as compared with the case where one sensor unit is used.

【0066】[1.2.2] 逆方向に回転している場
合 また、回転ベゼル102が逆方向に回転している場合に
は、図17に示すように、第1波形整形信号SAの立ち
上がりタイミングにおいては、第2波形整形信号SB=
“H”となり、第1波形整形信号SAの立ち下がりタイ
ミングにおいては、第2波形整形信号SB=“L”とな
る。同様に、回転ベゼルが逆方向に回転している場合に
は、第2波形整形信号SBの立ち上がりタイミングにお
いては、第1波形整形信号SA=“L”となり、第2波
形整形信号SBの立ち下がりタイミングにおいては、第
1波形整形信号SA=“H”となる。従って、信号処理
ユニット53は、例えば、図19に示すように、第1波
形整形信号SAの立ち上がりタイミング→第2波形整形
信号SBの立ち下がりタイミング→第1波形整形信号SA
の立ち下がりタイミング→第2波形整形信号SBの立ち
上がりタイミング→……における第1波形整形信号SA
及び第2波形整形信号SBを観測し、第2波形整形信号
SB=“H”→第1波形整形信号SA=“H”→第2波形
整形信号SB=“L”→第1波形整形信号SA=“L”→
……となっていれば、回転ベゼル102が逆方向に回転
していると判断し、逆方向に対応するカウントアップ
(またはカウントダウン)を行い、原点位置にカウント
値を加算して回転ベゼル102の回転位置を検出するこ
ととなる。この場合においても、第1波形整形信号SA
の信号遷移タイミング及び第2波形整形信号SDIFの信
号遷移タイミングの双方を用いて相互に信号レベルを参
照しているので、位置検出精度は、第1検出信号及び第
2検出信号の周期の1/8周期となる。従って、一のセ
ンサユニットを用いる場合と比較して、倍の精度で位置
を検出することができる。
[1.2.2] When rotating in the reverse direction When the rotating bezel 102 is rotating in the reverse direction, as shown in FIG. 17, the rising of the first waveform shaping signal SA At the timing, the second waveform shaping signal SB =
It becomes "H", and at the falling timing of the first waveform shaping signal SA, the second waveform shaping signal SB becomes "L". Similarly, when the rotating bezel is rotating in the reverse direction, at the rising timing of the second waveform shaping signal SB, the first waveform shaping signal SA = “L”, and the falling edge of the second waveform shaping signal SB At the timing, the first waveform shaping signal SA becomes "H". Therefore, for example, as shown in FIG. 19, the signal processing unit 53 generates the rising timing of the first waveform shaping signal SA → the falling timing of the second waveform shaping signal SB → the first waveform shaping signal SA.
Of the second waveform shaping signal SB → the rising timing of the second waveform shaping signal SB →.
And the second waveform shaping signal SB is observed, and the second waveform shaping signal SB = “H” → the first waveform shaping signal SA = “H” → the second waveform shaping signal SB = “L” → the first waveform shaping signal SA. = “L” →
If so, it is determined that the rotating bezel 102 is rotating in the reverse direction, a count-up (or countdown) corresponding to the reverse direction is performed, a count value is added to the origin position, and the rotation bezel 102 is rotated. The rotation position will be detected. Also in this case, the first waveform shaping signal SA
, And the signal transition timing of the second waveform shaping signal SDIF, the signal level is referred to each other. Therefore, the position detection accuracy is 1/1 of the period of the first detection signal and the second detection signal. There are eight periods. Therefore, the position can be detected with double accuracy as compared with the case where one sensor unit is used.

【0067】[1.3] 腕時計型情報処理装置の情報
入力方法および動作 次に、上記の腕時計型情報処理装置100の情報入力方
法および動作について説明する。まず、使用者は、予め
定められた原点位置に回転ベゼル102を合わせてお
く。本実施形態では、原点位置を図2に示す状態、すな
わち、「ア」が指示マーク110に指示されている状態
にする。この状態で使用者は原点スイッチ108を押下
し、これにより腕時計型情報処理装置100は情報入力
状態となり、第1センサユニット32および第2センサ
ユニット33が回転ベゼル102の回転角度および回転
方向の検出を開始する。そして、使用者は入力したい情
報、例えば、文字「カ」を入力したい場合には、図20
に示すように、回転ベゼル102上に形成された「カ」
が指示マーク110に指示される位置に回転ベゼルを反
時計回りに回転させる。このとき、パルス数検出センサ
ユニット32は回転ベゼル102の回転角度θを検出
し、第2センサユニット33は、回転ベゼル102の回
転方向を検出する。このように検出された回転角度およ
び回転方向に基づいて入力情報「カ」が情報処理部81
により生成され、表示部104に表示される。この状態
で確定スイッチ105を押下すると文字「カ」が確定
し、次の情報の入力待ち状態になる。また、削除スイッ
チ106を押下すると、「カ」が削除され、入力待ち状
態となる。また、濁点スイッチ107を押下すると、
「ガ」が表示部104に表示される。
[1.3] Information Input Method and Operation of Wrist Watch Information Processing Apparatus Next, an information input method and operation of the wrist watch information processing apparatus 100 will be described. First, the user adjusts the rotating bezel 102 to a predetermined origin position. In the present embodiment, the origin position is set to the state shown in FIG. 2, that is, the state where “A” is indicated by the instruction mark 110. In this state, the user presses the origin switch 108, whereby the wristwatch-type information processing apparatus 100 enters an information input state, and the first sensor unit 32 and the second sensor unit 33 detect the rotation angle and the rotation direction of the rotating bezel 102. To start. Then, when the user wants to input information to be input, for example, the character “f”, the user can input the information shown in FIG.
As shown in FIG.
Turns the rotating bezel counterclockwise to the position indicated by the instruction mark 110. At this time, the pulse number detection sensor unit 32 detects the rotation angle θ of the rotating bezel 102, and the second sensor unit 33 detects the rotation direction of the rotating bezel 102. Based on the rotation angle and the rotation direction detected in this way, the input information “f” is
And is displayed on the display unit 104. When the confirm switch 105 is pressed in this state, the character "f" is decided, and a state of waiting for input of the next information is entered. When the delete switch 106 is pressed, the character "" is deleted, and the input wait state is entered. Also, when the cloud spot switch 107 is pressed,
“Ga” is displayed on the display unit 104.

【0068】[1.4] 効果 本発明に係る情報処理装置は、文字などの情報やモード
選択など指令情報などの多数の情報の入力を可能とする
場合にも、構成が簡易であるため小型化が容易である。
従って、上述したように腕時計型とすることが可能であ
る。また、腕時計型情報処理装置100は、上述したよ
うに回転ベゼル102を回転させて情報を入力するに際
し、第1波形整形信号SAの信号遷移タイミング及び第
2波形整形信号SBの信号遷移タイミングの双方を用い
て相互に信号レベルを参照しているので、位置検出精度
は、第1検出信号及び第2検出信号の周期の1/8周期
とすることができ、高精度で回転ベゼル102の回転位
置を検出して、確実に情報入力を行うことが可能とな
る。また、互いに連関する第1波形整形信号SA及び第
2波形整形信号SBを相互に参照しているため、センサ
ユニットの経時変化の影響を低減することができる。
[1.4] Effects The information processing apparatus according to the present invention has a simple configuration even when it is possible to input a large amount of information such as information such as characters and command information such as mode selection. Conversion is easy.
Therefore, it is possible to use a wristwatch type as described above. In addition, when inputting information by rotating the rotating bezel 102 as described above, the wristwatch-type information processing apparatus 100 performs both the signal transition timing of the first waveform shaping signal SA and the signal transition timing of the second waveform shaping signal SB. , The signal level is referred to each other, so that the position detection accuracy can be set to 1/8 of the period of the first detection signal and the second detection signal, and the rotational position of the rotating bezel 102 can be accurately determined. Is detected, and information can be input reliably. Further, since the first waveform shaping signal SA and the second waveform shaping signal SB associated with each other are referred to each other, it is possible to reduce the influence of the change over time of the sensor unit.

【0069】[2] 変形例 [2.1] 第1変形例 上記実施形態においては、第1センサユニット32及び
第2センサユニット33として、反射型のセンサを用い
ていたが、光学パターン41を光透過部材で形成し、光
学パターン41に吸収領域(非透過領域)及び透過領域
を設けることにより透過型のセンサユニットを用いても
同様の効果を得ることが可能となる。 [2.2] 第2変形例 また、本発明に係る回転検出装置は、上述した腕時計型
の情報処理装置に限らず、携帯電話などの他のタイプの
情報処理装置等にも応用することも可能である。この場
合、回転部分は回転ベゼルに限らず、円盤状、円筒状、
半球状等の他の形状を用いることができる。
[2] Modified Example [2.1] First Modified Example In the above embodiment, a reflection type sensor was used as the first sensor unit 32 and the second sensor unit 33. By forming the optical pattern 41 with an absorption area (non-transmission area) and a transmission area by using a light transmission member, the same effect can be obtained even if a transmission type sensor unit is used. [2.2] Second Modification The rotation detecting device according to the present invention is not limited to the wristwatch-type information processing device described above, and may be applied to other types of information processing devices such as a mobile phone. It is possible. In this case, the rotating part is not limited to the rotating bezel, but may be a disk, a cylinder,
Other shapes such as hemispheres can be used.

【0070】[0070]

【発明の効果】本発明によれば、初期動作時においては
所定の第1信号レベルに基づいて、また、初期動作時を
除く動作状態においては、第1ピークホールド信号及び
第2ピークホールド信号に基づいて、第1基準レベル信
号を生成し、第1検出信号を第1基準レベル信号と比較
することにより前記第1検出信号の波形整形を行って波
形整形信号として出力するとともに、初期状態において
は所定の第2信号レベルに基づいて、また、通常動作状
態においては、第3ピークホールド信号及び第4ピーク
ホールド信号に基づいて、第2基準レベル信号を生成
し、第2検出信号を第2基準レベル信号と比較すること
により第2検出信号の波形整形を行って第2波形整形信
号として出力するので、波形整形を行う第1基準信号レ
ベル及び第2基準信号レベルを自動的に最適な値とする
ことができ、調整工程を設けることなく、経時変化の影
響も低減して、確実に回転方向及び回転角度を検出する
ことが可能となる。
According to the present invention, in the initial operation, the first peak hold signal and the second peak hold signal are changed based on the predetermined first signal level, and in the operation state other than the initial operation. A first reference level signal is generated based on the first detection signal, and the first detection signal is compared with the first reference level signal to perform waveform shaping of the first detection signal and output as a waveform shaping signal. A second reference level signal is generated based on a predetermined second signal level, and in a normal operation state, based on a third peak hold signal and a fourth peak hold signal, and the second detection signal is generated based on a second reference signal. Since the waveform of the second detection signal is shaped by comparing with the level signal and output as the second waveform shaping signal, the first reference signal level and the second reference signal for shaping the waveform are output. Level can be automatically optimum value, without providing the adjusting step, to reduce the influence of aging, it is possible to reliably detect the rotation direction and the rotation angle.

【0071】さらに動作開始時から所定時間の間、すな
わち、初期動作状態において、第1ピークホールド手段
及び第2ピークホールド手段におけるサンプリングのタ
イミング周期である第1周期を所定時間経過後、すなわ
ち、通常動作状態における第1周期よりも短く設定し、
動作開始時から所定時間の間、すなわち、初期動作状態
において、第3ピークホールド手段及び第4ピークホー
ルド手段におけるサンプリングのタイミングの周期であ
る第2周期を所定時間経過後、すなわち、通常動作状態
における第2周期よりも短く設定するので、迅速に波形
整形を行う第1基準信号レベル及び第2基準信号レベル
を自動的に最適な値とすることができ、より迅速な回転
検出が行える。
Further, during a predetermined time from the start of the operation, that is, in the initial operation state, after the first period, which is the sampling timing period in the first peak hold means and the second peak hold means, has passed a predetermined time, Set shorter than the first cycle in the operating state,
During a predetermined time from the start of operation, that is, in the initial operation state, after a lapse of a predetermined time from the second period, which is the period of the sampling timing in the third peak hold means and the fourth peak hold means, that is, in the normal operation state. Since the period is set shorter than the second period, the first reference signal level and the second reference signal level for rapidly shaping the waveform can be automatically set to optimal values, and more rapid rotation detection can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の実施形態に係る腕時計型情報処理装
置の正面図である。
FIG. 1 is a front view of a wristwatch-type information processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】 図1の腕時計型情報処理装置から回転ベゼル
を取り外した状態を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a state in which a rotating bezel is removed from the wristwatch-type information processing apparatus of FIG. 1;

【図3】 図1のIV−IV線に沿って視た図である。FIG. 3 is a view taken along line IV-IV in FIG. 1;

【図4】 回転ベゼルの下面を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a lower surface of a rotating bezel.

【図5】 回転ベゼルに形成された光学パターンと、第
1検出信号及び第2検出信号との関係を説明する図であ
る。
FIG. 5 is a diagram illustrating a relationship between an optical pattern formed on a rotating bezel, a first detection signal, and a second detection signal.

【図6】 腕時計型情報処理装置の入力情報信号を生成
するための機能構成ブロック図である。
FIG. 6 is a functional configuration block diagram for generating an input information signal of the wristwatch-type information processing apparatus.

【図7】 情報処理部の原理説明図である。FIG. 7 is a diagram illustrating the principle of an information processing unit.

【図8】 センサユニット及び情報処理部の具体的構成
ブロック図である。
FIG. 8 is a specific configuration block diagram of a sensor unit and an information processing unit.

【図9】 第1基準レベル信号生成回路の概要構成ブロ
ック図である。
FIG. 9 is a schematic configuration block diagram of a first reference level signal generation circuit.

【図10】 初期信号電圧VINITの設定の説明図であ
る。
FIG. 10 is an explanatory diagram of setting of an initial signal voltage VINIT.

【図11】 第1タイミングジェネレータの概要構成ブ
ロック図である。
FIG. 11 is a schematic block diagram of a first timing generator.

【図12】 第1タイミングジェネレータの動作タイミ
ングチャートである。
FIG. 12 is an operation timing chart of the first timing generator.

【図13】 実施形態の波形整形動作を説明する図(そ
の1)である。
FIG. 13 is a diagram (part 1) illustrating a waveform shaping operation according to the embodiment.

【図14】 実施形態の波形整形動作を説明する図(そ
の2)である。
FIG. 14 is a diagram (part 2) for explaining the waveform shaping operation of the embodiment.

【図15】 実施形態の波形整形動作を説明する図(そ
の3)である。
FIG. 15 is a diagram (part 3) for explaining the waveform shaping operation of the embodiment.

【図16】 実施形態の波形整形動作を説明する図(そ
の4)である。
FIG. 16 is a diagram (part 4) for explaining the waveform shaping operation of the embodiment.

【図17】 回転方向検出及び回転位置検出動作を説明
する図(その1)である。
FIG. 17 is a diagram (part 1) for explaining a rotation direction detection and a rotation position detection operation.

【図18】 回転方向検出及び回転位置検出動作を説明
する図(その2)である。
FIG. 18 is a diagram (part 2) for explaining the rotation direction detection and the rotation position detection operation.

【図19】 回転方向検出及び回転位置検出動作を説明
する図(その2)である。
FIG. 19 is a diagram (part 2) for explaining the rotation direction detection and the rotation position detection operation.

【図20】 図2に示す腕時計型情報処理装置の回転ベ
ゼルを反時計回りにθ[゜]回転させた状態を示す図で
ある。
20 is a diagram showing a state in which the rotating bezel of the wristwatch-type information processing device shown in FIG. 2 is rotated counterclockwise by θ [゜].

【図21】 従来の回転ベゼルを備える腕時計を示す斜
視図である。
FIG. 21 is a perspective view showing a wristwatch equipped with a conventional rotating bezel.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

32…第1センサユニット 33…第2センサユニット 41…光学パターン 41a…吸収領域 41b…反射領域、 44、46…LED 45、47…フォトダイオード 50…第1波形整形回路 51…第1アップダウン判定回路 52…第1正/逆判定回路 53…第2波形整形回路 54…第2アップダウン判定回路 55…第2正/逆判定回路 56…第1検出タイミング生成回路 57…第2検出タイミング生成回路 100…腕時計型情報処理装置 102…回転ベゼル 111…情報処理部 112…情報テーブル 113…メモリ 114…キャラクタジェネレータ 120…第1サンプリングホールド回路 121…第1基準レベル生成回路 122…第1コンパレータ 123…第2サンプリングホールド回路 124…第2基準レベル生成回路 125…第2コンパレータ 126…信号処理ユニット 130…正/逆反転回路 131…第1エッジ検出回路 132…第1アップダウンカウンタ 133…1/2分周回路 134…第1タイミングジェネレータ 135…第2エッジ検出回路 136…第2アップダウンカウンタ 137…1/2分周回路 138…第2タイミングジェネレータ 32 first sensor unit 33 second sensor unit 41 optical pattern 41a absorption area 41b reflection area 44, 46 LED 45, 47 photodiode 50 first waveform shaping circuit 51 first up / down determination Circuit 52: First normal / reverse determination circuit 53: Second waveform shaping circuit 54: Second up / down determination circuit 55: Second normal / reverse determination circuit 56: First detection timing generation circuit 57: Second detection timing generation circuit DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Wristwatch type information processing apparatus 102 ... Rotating bezel 111 ... Information processing section 112 ... Information table 113 ... Memory 114 ... Character generator 120 ... 1st sampling and holding circuit 121 ... 1st reference level generation circuit 122 ... 1st comparator 123 ... 1st 2 sampling hold circuit 124... 2nd reference level generation circuit 1 5 Second comparator 126 Signal processing unit 130 Forward / reverse inverting circuit 131 First edge detecting circuit 132 First up / down counter 133 1/2 frequency divider 134 First timing generator 135 Second edge Detection circuit 136: second up / down counter 137: 1/2 frequency divider 138: second timing generator

Claims (16)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 初期状態において所定の信号レベルを保
持するとともに、入力信号の正ピーク信号レベルを第1
ピークホールド信号として保持する第1ピークホールド
手段と、 初期状態において前記所定の信号レベルを保持するとと
もに、前記入力信号の負ピーク信号レベルを第2ピーク
ホールド信号として保持する第2ピークホールド手段
と、 前記第1ピークホールド信号及び前記第2ピークホール
ド信号に基づいて、基準レベル信号を生成し出力する基
準レベル信号生成手段と、 前記入力信号を前記基準レベル信号と比較することによ
り前記入力信号の波形整形を行って波形整形信号として
出力する波形整形手段と、 を備えたことを特徴とする波形整形回路。
1. A signal level is maintained in an initial state, and a positive peak signal level of an input signal is set to a first level.
First peak hold means for holding as a peak hold signal, second peak hold means for holding the predetermined signal level in an initial state, and holding a negative peak signal level of the input signal as a second peak hold signal, Reference level signal generation means for generating and outputting a reference level signal based on the first peak hold signal and the second peak hold signal; and a waveform of the input signal by comparing the input signal with the reference level signal A waveform shaping circuit, comprising: a waveform shaping unit configured to perform shaping and output as a waveform shaping signal.
【請求項2】 請求項1記載の波形整形回路において、 前記第1ピークホールド手段は、所定周期を有するタイ
ミングにおいてサンプリングを行い前記入力信号の信号
レベルを前記第1ピークホールド信号として保持し、 前記第2ピークホールド手段は、所定周期を有するタイ
ミングにおいてサンプリングを行い前記入力信号の信号
レベルを前記第2ピークホールド信号として保持する、 ことを特徴とする波形整形回路。
2. The waveform shaping circuit according to claim 1, wherein the first peak hold means performs sampling at a timing having a predetermined period, and holds a signal level of the input signal as the first peak hold signal. The waveform shaping circuit, wherein the second peak hold means performs sampling at a timing having a predetermined period and holds the signal level of the input signal as the second peak hold signal.
【請求項3】 請求項2記載の波形整形回路において、 前記タイミングの周期は、動作開始時から所定時間の
間、前記所定時間経過後における前記タイミングの周期
よりも短く設定される、 ことを特徴とする波形整形回路。
3. The waveform shaping circuit according to claim 2, wherein the period of the timing is set shorter than a period of the timing after the lapse of the predetermined time for a predetermined time from the start of the operation. Waveform shaping circuit.
【請求項4】 請求項1ないし請求項3のいずれかに記
載の波形整形回路において、 前記初期状態において保持される前記所定の信号レベル
は、想定される前記入力信号のうち最も信号レベルが低
い前記入力信号の最大信号レベルと、想定される前記入
力信号の信号レベルのうち最も信号レベルが高い前記入
力信号の最小信号レベルと、の間の信号レベルに設定さ
れる、 ことを特徴とする波形整形回路。
4. The waveform shaping circuit according to claim 1, wherein the predetermined signal level held in the initial state has the lowest signal level among the assumed input signals. A waveform characterized by being set to a signal level between a maximum signal level of the input signal and a minimum signal level of the input signal having the highest signal level among the assumed signal levels of the input signal. Shaping circuit.
【請求項5】 初期状態において所定の信号レベルを保
持するとともに、入力信号の正ピーク信号レベルを第1
ピークホールド信号として保持する第1ピークデテクタ
と、 初期状態において前記所定の信号レベルを保持するとと
もに、前記入力信号の負ピーク信号レベルを第2ピーク
ホールド信号として保持する第2ピークデテクタと、 前記第1ピークホールド信号及び前記第2ピークホール
ド信号に基づいて、基準レベル信号を生成し出力する基
準レベル信号生成回路と、 前記入力信号を前記基準レベル信号と比較することによ
り前記入力信号の波形整形を行って波形整形信号として
出力するコンパレータと、 を備えたことを特徴とする波形整形回路。
5. A method according to claim 1, wherein a predetermined signal level is maintained in an initial state, and a positive peak signal level of the input signal is set to a first level.
A first peak detector for holding as a peak hold signal, a second peak detector for holding the predetermined signal level in an initial state, and holding a negative peak signal level of the input signal as a second peak hold signal; A reference level signal generation circuit for generating and outputting a reference level signal based on the one peak hold signal and the second peak hold signal; and a waveform shaping of the input signal by comparing the input signal with the reference level signal. A waveform shaping circuit, comprising:
【請求項6】 吸収領域と反射領域とを有する所定の光
学パターンが形成された反射部材と、 前記反射部材に第1検出光を照射し、前記反射部材によ
り反射された前記第1検出光を受光して前記光学パター
ンに対応する第1検出信号を出力する第1検出手段と、 前記第1検出手段と回転中心に対して所定角度離間して
配設され、前記反射部材に第2検出光を照射し、反射さ
れた前記第2検出光を受光して前記光学パターンに対応
する第2検出信号を出力する第2検出手段と、 初期状態において所定の第1信号レベルを保持するとと
もに、前記第1検出信号の正ピーク信号レベルを第1ピ
ークホールド信号として保持する第1ピークホールド手
段と、 初期状態において所定の第1信号レベルを保持するとと
もに、前記第1検出信号の負ピーク信号レベルを第2ピ
ークホールド信号として保持する第2ピークホールド手
段と、 前記第1ピークホールド信号及び前記第2ピークホール
ド信号に基づいて、第1基準レベル信号を生成し出力す
る第1基準レベル信号生成手段と、 前記第1検出信号を前記第1基準レベル信号と比較する
ことにより前記第1検出信号の波形整形を行って波形整
形信号として出力する第1波形整形手段と、 初期状態において所定の第2信号レベルを保持するとと
もに、前記第2検出信号の正ピーク信号レベルを第3ピ
ークホールド信号として保持する第3ピークホールド手
段と、 初期状態において所定の第2信号レベルを保持するとと
もに、前記第2検出信号の負ピーク信号レベルを第4ピ
ークホールド信号として保持する第4ピークホールド手
段と、 前記第3ピークホールド信号及び前記第4ピークホール
ド信号に基づいて、第2基準レベル信号を生成し出力す
る第2基準レベル信号生成手段と、 前記第2検出信号を前記第2基準レベル信号と比較する
ことにより前記第2検出信号の波形整形を行って第2波
形整形信号として出力する第2波形整形手段と、 前記第1波形整形信号及び前記第2波形整形信号に基づ
いて前記反射部材の前記第1検出手段及び前記第2検出
手段に対する相対的な回転方向及び回転角度を算出する
信号処理手段と、 を備えたことを特徴とする回転検出装置。
6. A reflection member on which a predetermined optical pattern having an absorption area and a reflection area is formed, and a first detection light is applied to the reflection member, and the first detection light reflected by the reflection member is irradiated with the first detection light. A first detection unit that receives light and outputs a first detection signal corresponding to the optical pattern; a first detection unit that is disposed at a predetermined angle from the rotation center with respect to the first detection unit; And a second detection unit that receives the reflected second detection light and outputs a second detection signal corresponding to the optical pattern, while maintaining a predetermined first signal level in an initial state, First peak hold means for holding a positive peak signal level of the first detection signal as a first peak hold signal; and holding a predetermined first signal level in an initial state and negative peak of the first detection signal. Second peak hold means for holding a signal level as a second peak hold signal; a first reference level signal for generating and outputting a first reference level signal based on the first peak hold signal and the second peak hold signal Generating means, first waveform shaping means for performing waveform shaping of the first detection signal by comparing the first detection signal with the first reference level signal, and outputting the shaped signal as a waveform shaping signal; Third peak holding means for holding the second signal level and holding the positive peak signal level of the second detection signal as a third peak hold signal, and holding a predetermined second signal level in an initial state; Fourth peak hold means for holding a negative peak signal level of the second detection signal as a fourth peak hold signal; A second reference level signal generating means for generating and outputting a second reference level signal based on the peak hold signal and the fourth peak hold signal; and comparing the second detection signal with the second reference level signal. A second waveform shaping unit configured to perform waveform shaping of the second detection signal and output as a second waveform shaping signal; and a first detection of the reflection member based on the first waveform shaping signal and the second waveform shaping signal. And a signal processing means for calculating a rotation direction and a rotation angle relative to the second detection means.
【請求項7】 吸収領域と透過領域とを有する所定の光
学パターンが形成された光透過部材と、 前記光透過部材に第1検出光を照射し、前記光透過部材
を透過した前記第1検出光を受光して前記光学パターン
に対応する第1検出信号を出力する第1検出手段と、 前記第1検出手段と回転中心に対して所定角度離間して
配設され、前記光透過部材に第2検出光を照射し、前記
光透過部材を透過した前記第2検出光を受光して前記光
学パターンに対応する第2検出信号を出力する第2検出
手段と、 初期状態において所定の第1信号レベルを保持するとと
もに、前記第1検出信号の正ピーク信号レベルを第1ピ
ークホールド信号として保持する第1ピークホールド手
段と、 初期状態において所定の第1信号レベルを保持するとと
もに、前記第1検出信号の負ピーク信号レベルを第2ピ
ークホールド信号として保持する第2ピークホールド手
段と、 前記第1ピークホールド信号及び前記第2ピークホール
ド信号に基づいて、第1基準レベル信号を生成し出力す
る第1基準レベル信号生成手段と、 前記第1検出信号を前記第1基準レベル信号と比較する
ことにより前記第1検出信号の波形整形を行って波形整
形信号として出力する第1波形整形手段と、 初期状態において所定の第2信号レベルを保持するとと
もに、前記第2検出信号の正ピーク信号レベルを第3ピ
ークホールド信号として保持する第3ピークホールド手
段と、 初期状態において所定の第2信号レベルを保持するとと
もに、前記第2検出信号の負ピーク信号レベルを第4ピ
ークホールド信号として保持する第4ピークホールド手
段と、 前記第3ピークホールド信号及び前記第4ピークホール
ド信号に基づいて、第2基準レベル信号を生成し出力す
る第2基準レベル信号生成手段と、 前記第2検出信号を前記第2基準レベル信号と比較する
ことにより前記第2検出信号の波形整形を行って第2波
形整形信号として出力する第2波形整形手段と、 前記第1波形整形信号及び前記第2波形整形信号に基づ
いて前記反射部材の前記第1検出手段及び前記第2検出
手段に対する相対的な回転方向及び回転角度を算出する
信号処理手段と、 を備えたことを特徴とする回転検出装置。
7. A light transmitting member on which a predetermined optical pattern having an absorption area and a transmission area is formed, and a first detection light is applied to the light transmitting member, and the first detection transmitted through the light transmitting member. A first detection unit that receives light and outputs a first detection signal corresponding to the optical pattern; a first detection unit that is disposed at a predetermined angle away from the rotation center with respect to the first detection unit; A second detection unit that irradiates the second detection light, receives the second detection light transmitted through the light transmitting member, and outputs a second detection signal corresponding to the optical pattern; A first peak hold means for holding a positive peak signal level of the first detection signal as a first peak hold signal, and holding a predetermined first signal level in an initial state, and A second peak hold means for holding a negative peak signal level of the signal as a second peak hold signal; and a second reference level signal for generating and outputting a first reference level signal based on the first peak hold signal and the second peak hold signal. First reference level signal generation means, first waveform shaping means for performing waveform shaping of the first detection signal by comparing the first detection signal with the first reference level signal, and outputting as a waveform shaping signal, Third peak hold means for holding a predetermined second signal level in a state and holding a positive peak signal level of the second detection signal as a third peak hold signal; and holding a predetermined second signal level in an initial state. And a fourth peak hole for holding a negative peak signal level of the second detection signal as a fourth peak hold signal. Means, a second reference level signal generating means for generating and outputting a second reference level signal based on the third peak hold signal and the fourth peak hold signal, and the second detection level as the second reference level. A second waveform shaping unit configured to perform waveform shaping of the second detection signal by comparing the signal with a signal, and to output the resulting signal as a second waveform shaping signal; Signal processing means for calculating the direction and angle of rotation of the member relative to the first detection means and the second detection means.
【請求項8】 請求項6または請求項7記載の回転検出
装置において、 前記第1ピークホールド手段は、所定第1周期を有する
タイミングにおいてサンプリングを行い前記第1検出信
号の信号レベルを前記第1ピークホールド信号として保
持し、 前記第2ピークホールド手段は、所定第1周期を有する
タイミングにおいてサンプリングを行い前記第1検出信
号の信号レベルを前記第2ピークホールド信号として保
持し、 前記第3ピークホールド手段は、所定第2周期を有する
タイミングにおいてサンプリングを行い前記第2検出信
号の信号レベルを前記第3ピークホールド信号として保
持し、 前記第4ピークホールド手段は、所定第2周期を有する
タイミングにおいてサンプリングを行い前記第2検出信
号の信号レベルを前記第4ピークホールド信号として保
持する、 ことを特徴とする回転検出装置。
8. The rotation detecting device according to claim 6, wherein the first peak hold means performs sampling at a timing having a predetermined first period to change the signal level of the first detection signal to the first level. The second peak hold means performs sampling at a timing having a predetermined first period, holds the signal level of the first detection signal as the second peak hold signal, and holds the third peak hold signal. The means performs sampling at a timing having a predetermined second cycle and holds the signal level of the second detection signal as the third peak hold signal. The fourth peak hold means performs sampling at a timing having a predetermined second cycle. And the signal level of the second detection signal is changed to the fourth peak signal. Held as field signal, rotation detection device, characterized in that.
【請求項9】 請求項8記載の回転検出装置において、 前記第1周期は、動作開始時から所定時間の間、前記所
定時間経過後における前記第1周期よりも短く設定さ
れ、 前記第2周期は、動作開始時から所定時間の間、前記所
定時間経過後における前記第2周期よりも短く設定され
る、 ことを特徴とする回転検出装置。
9. The rotation detection device according to claim 8, wherein the first cycle is set shorter than the first cycle after the lapse of the predetermined time for a predetermined time from the start of the operation, and the second cycle Is set to be shorter than the second cycle after the lapse of the predetermined time for a predetermined time from the start of the operation.
【請求項10】 請求項6ないし請求項9のいずれかに
記載の回転検出装置において、 前記初期状態において保持される前記所定の第1信号レ
ベルは、想定される前記第1検出信号のうち最も信号レ
ベルが低い前記第1検出信号の最大信号レベルと、想定
される前記第1検出信号のうち最も信号レベルが高い前
記第1検出信号の最小信号レベルと、の間の信号レベル
に設定され、 前記初期状態において保持される前記所定の第2信号レ
ベルは、想定される前記第2検出信号のうち最も信号レ
ベルが低い前記第2検出信号の最大信号レベルと、想定
される前記第2検出信号のうち最も信号レベルが高い前
記第2検出信号の最小信号レベルと、の間の信号レベル
に設定される、 ことを特徴とする回転検出装置。
10. The rotation detection device according to claim 6, wherein the predetermined first signal level held in the initial state is the highest among the assumed first detection signals. A signal level between a maximum signal level of the first detection signal having a low signal level and a minimum signal level of the first detection signal having a highest signal level among the assumed first detection signals; The predetermined second signal level held in the initial state is a maximum signal level of the second detection signal having the lowest signal level among the assumed second detection signals, and the assumed second detection signal. A signal level between the minimum signal level of the second detection signal having the highest signal level and the second detection signal.
【請求項11】 請求項6ないし請求項10のいずれか
に記載の回転検出装置において、 前記第1基準レベル信号生成手段は、前記第1ピークホ
ールド信号及び前記第2ピークホールド信号の電圧差を
所定の第1分圧比で分圧して前記第1基準レベル信号を
生成し、 前記第2基準レベル信号生成手段は、前記第3ピークホ
ールド信号及び前記第4ピークホールド信号の電圧差を
所定の第2分圧比で分圧して前記第2基準レベル信号を
生成する、 ことを特徴とする回転検出装置。
11. The rotation detecting device according to claim 6, wherein the first reference level signal generating unit calculates a voltage difference between the first peak hold signal and the second peak hold signal. The first reference level signal is generated by dividing the voltage by a predetermined first voltage dividing ratio, and the second reference level signal generating means calculates a voltage difference between the third peak hold signal and the fourth peak hold signal by a predetermined voltage. A rotation detecting device, wherein the second reference level signal is generated by dividing a voltage by a 2 division ratio.
【請求項12】 請求項6ないし請求項11のいずれか
に記載の回転検出装置において、 前記光学パターンを前記第1検出手段及び前記第2検出
手段に対して相対的に回転させた場合に出力される前記
第1検出信号の位相と前記第2検出信号の位相とが1/
4波長ずれるように前記第1検出手段と前記第2検出手
段との間の離間角度を設定したことを特徴とする回転検
出装置。
12. The rotation detection device according to claim 6, wherein the optical pattern is output when the optical pattern is rotated relatively to the first detection unit and the second detection unit. The phase of the first detection signal and the phase of the second detection signal are 1 /
A rotation detecting device, wherein a separation angle between the first detecting means and the second detecting means is set so as to be shifted by four wavelengths.
【請求項13】 請求項6ないし請求項11のいずれか
に記載の回転検出装置において、 前記光学パターンは、前記吸収領域と、前記反射領域あ
るいは前記透過領域とが、前記回転中心を中心とした角
度θ2が360/n[゜](nは偶数)となるように交
互に形成され、 前記第1検出手段または前記第2検出手段のそれぞれ
と、前記回転中心とを結ぶ線がなす角度θ1が θ1=(θ2×m)+θ2/2 (ただし、mは整数 ) とされていることを特徴とする回転検出装置。
13. The rotation detecting device according to claim 6, wherein the optical pattern is such that the absorption area and the reflection area or the transmission area are centered on the rotation center. The angle θ2 is alternately formed so that the angle θ2 becomes 360 / n [゜] (n is an even number). A rotation detecting device, wherein θ1 = (θ2 × m) + θ2 / 2 (where m is an integer).
【請求項14】 請求項6記載の回転検出装置におい
て、 前記反射部材は、円環状の回転ベゼルに形成されてお
り、 前記第1検出手段及び前記第2検出手段は、使用者の手
首に巻き付けることが可能なバンド部を有し、前記回転
ベゼルが回転可能の取り付けられる腕時計型本体側に形
成されていることを特徴とする回転検出装置。
14. The rotation detection device according to claim 6, wherein the reflection member is formed in an annular rotation bezel, and the first detection unit and the second detection unit are wound around a user's wrist. A rotation detecting device, comprising a band portion capable of being rotated, and wherein the rotating bezel is formed on a wristwatch-type main body to which the rotating bezel is attached.
【請求項15】 吸収領域と反射領域とを有する所定の
光学パターンが形成された反射部材と、 前記反射部材に第1検出光を照射し、前記反射部材によ
り反射された前記第1検出光を受光して前記光学パター
ンに対応する第1検出信号を出力する第1光センサと、 前記第1検出手段と回転中心に対して所定角度離間して
配設され、前記反射部材に第2検出光を照射し、反射さ
れた前記第2検出光を受光して前記光学パターンに対応
する第2検出信号を出力する第2光センサと、 初期状態において所定の第1信号レベルを保持するとと
もに、前記第1検出信号の正ピーク信号レベルを第1ピ
ークホールド信号として保持する第1ピークデテクタ
と、 初期状態において所定の第1信号レベルを保持するとと
もに、前記第1検出信号の負ピーク信号レベルを第2ピ
ークホールド信号として保持する第2ピークデテクタ
と、 前記第1ピークホールド信号及び前記第2ピークホール
ド信号に基づいて、第1基準レベル信号を生成し出力す
る第1基準レベル信号生成回路と、 前記第1検出信号を前記第1基準レベル信号と比較する
ことにより前記第1検出信号の波形整形を行って波形整
形信号として出力する第1コンパレータと、 初期状態において所定の第2信号レベルを保持するとと
もに、前記第2検出信号の正ピーク信号レベルを第3ピ
ークホールド信号として保持する第3ピークデテクタ
と、 初期状態において所定の第2信号レベルを保持するとと
もに、前記第2検出信号の負ピーク信号レベルを第4ピ
ークホールド信号として保持する第4ピークデテクタ
と、 前記第3ピークホールド信号及び前記第4ピークホール
ド信号に基づいて、第2基準レベル信号を生成し出力す
る第2基準レベル信号生成回路と、 前記第2検出信号を前記第2基準レベル信号と比較する
ことにより前記第2検出信号の波形整形を行って第2波
形整形信号として出力する第2コンパレータと、 前記第1波形整形信号及び前記第2波形整形信号に基づ
いて前記反射部材の前記第1検出手段及び前記第2検出
手段に対する相対的な回転方向及び回転角度を算出する
信号処理回路と、 を備えたことを特徴とする回転検出装置。
15. A reflection member on which a predetermined optical pattern having an absorption area and a reflection area is formed, and a first detection light is applied to the reflection member, and the first detection light reflected by the reflection member is irradiated with the first detection light. A first optical sensor that receives light and outputs a first detection signal corresponding to the optical pattern; a first detection sensor that is disposed at a predetermined angle from the rotation center of the first detection unit; And a second optical sensor that receives the reflected second detection light and outputs a second detection signal corresponding to the optical pattern, while maintaining a predetermined first signal level in an initial state, A first peak detector for holding a positive peak signal level of the first detection signal as a first peak hold signal; and a first peak detector for holding a predetermined first signal level in an initial state and for receiving a negative peak signal of the first detection signal. A second peak detector that holds a level as a second peak hold signal; and a first reference level signal generation circuit that generates and outputs a first reference level signal based on the first peak hold signal and the second peak hold signal. A first comparator that shapes the waveform of the first detection signal by comparing the first detection signal with the first reference level signal and outputs the shaped signal as a waveform shaping signal; and a predetermined second signal level in an initial state. And a third peak detector that holds a positive peak signal level of the second detection signal as a third peak hold signal, and holds a predetermined second signal level in an initial state, A fourth peak detector for holding a negative peak signal level as a fourth peak hold signal; A second reference level signal generating circuit for generating and outputting a second reference level signal based on the signal and the fourth peak hold signal; and comparing the second detection signal with the second reference level signal. A second comparator for shaping the waveform of the second detection signal and outputting it as a second waveform shaping signal; the first detection means of the reflection member and the second comparator based on the first waveform shaping signal and the second waveform shaping signal. A signal processing circuit for calculating a rotation direction and a rotation angle relative to the second detection means.
【請求項16】 吸収領域と反射領域とを有する所定の
光学パターンが形成された反射部材に第1検出光を照射
し、前記反射部材により反射された前記第1検出光を受
光して前記光学パターンに対応する第1検出信号を出力
する第1検出工程と、 前記第1検出光の照射位置にと、回転中心に対して所定
角度離間した位置に第2検出光を照射し、反射された前
記第2検出光を受光して前記光学パターンに対応する第
2検出信号を出力する第2検出工程と、 初期状態において所定の第1信号レベルを保持するとと
もに、前記第1検出信号の正ピーク信号レベルを第1ピ
ークホールド信号として保持する第1ピークホールド工
程と、 初期状態において所定の第1信号レベルを保持するとと
もに、前記第1検出信号の負ピーク信号レベルを第2ピ
ークホールド信号として保持する第2ピークホールド工
程と、 前記第1ピークホールド信号及び前記第2ピークホール
ド信号に基づいて、第1基準レベル信号を生成し出力す
る第1基準レベル信号生成工程と、 前記第1検出信号を前記第1基準レベル信号と比較する
ことにより前記第1検出信号の波形整形を行って波形整
形信号として出力する第1波形整形工程と、 初期状態において所定の第2信号レベルを保持するとと
もに、前記第2検出信号の正ピーク信号レベルを第3ピ
ークホールド信号として保持する第3ピークホールド工
程と、 初期状態において所定の第2信号レベルを保持するとと
もに、前記第2検出信号の負ピーク信号レベルを第4ピ
ークホールド信号として保持する第4ピークホールド手
段と、 前記第3ピークホールド信号及び前記第4ピークホール
ド信号に基づいて、第2基準レベル信号を生成し出力す
る第2基準レベル信号生成工程と、 前記第2検出信号を前記第2基準レベル信号と比較する
ことにより前記第2検出信号の波形整形を行って第2波
形整形信号として出力する第2波形整形工程と、 前記第1波形整形信号及び前記第2波形整形信号に基づ
いて前記反射部材の前記第1検出手段及び前記第2検出
手段に対する相対的な回転方向及び回転角度を算出する
信号処理工程と、 を備えたことを特徴とする回転検出方法。
16. A method of irradiating a reflection member on which a predetermined optical pattern having an absorption region and a reflection region is formed with first detection light, receiving the first detection light reflected by the reflection member, and performing the optical detection. A first detection step of outputting a first detection signal corresponding to the pattern; and irradiating the first detection light with a second detection light at a position separated by a predetermined angle from a rotation center with respect to an irradiation position of the first detection light and reflected. A second detection step of receiving the second detection light and outputting a second detection signal corresponding to the optical pattern; and maintaining a predetermined first signal level in an initial state, and a positive peak of the first detection signal. A first peak hold step of holding the signal level as a first peak hold signal; holding a predetermined first signal level in an initial state, and setting a negative peak signal level of the first detection signal to a second peak level; A second peak hold step of holding as a hold signal; a first reference level signal generation step of generating and outputting a first reference level signal based on the first peak hold signal and the second peak hold signal; A first waveform shaping step of performing waveform shaping of the first detection signal by comparing the one detection signal with the first reference level signal and outputting the waveform as a waveform shaping signal; and holding a predetermined second signal level in an initial state. A third peak hold step of holding a positive peak signal level of the second detection signal as a third peak hold signal; and holding a predetermined second signal level in an initial state, and holding a negative level of the second detection signal. Fourth peak hold means for holding a peak signal level as a fourth peak hold signal; and the third peak hold signal And a second reference level signal generating step of generating and outputting a second reference level signal based on the fourth peak hold signal; and comparing the second detection signal with the second reference level signal to generate the second reference level signal. A second waveform shaping step of shaping the waveform of the detection signal and outputting it as a second waveform shaping signal; and the first detecting means and the first detecting means of the reflecting member based on the first waveform shaping signal and the second waveform shaping signal. A signal processing step of calculating a rotation direction and a rotation angle relative to the second detection means.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002071840A (en) * 2000-08-29 2002-03-12 Seiko Instruments Inc Electronic apparatus

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