JPH11281635A - イオン分析装置 - Google Patents
イオン分析装置Info
- Publication number
- JPH11281635A JPH11281635A JP10086076A JP8607698A JPH11281635A JP H11281635 A JPH11281635 A JP H11281635A JP 10086076 A JP10086076 A JP 10086076A JP 8607698 A JP8607698 A JP 8607698A JP H11281635 A JPH11281635 A JP H11281635A
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- Japan
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- sample
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- column
- liquid
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- Pending
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- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 サンプルより濃度が高く安定性の高い校正液
を用いることにより連続測定を可能にしたイオン分析装
置を提供する。 【解決手段】 サンプルに含まれる分析成分を濃縮カラ
ムに濃縮させ、その濃縮された分析成分を溶離液で分離
カラムに搬送して目的成分の電荷イオン種を分離し、こ
の分離カラムからのイオン種の成分を分析するイオン分
析装置において、前記濃縮カラムに一定量のサンプルを
搬送するサンプル搬送手段と、所定時間毎に前記サンプ
ルの濃度より高濃度で、かつ、少量の校正液を搬送液と
共に前記濃縮カラムに搬送する校正液搬送手段を設け
た。
を用いることにより連続測定を可能にしたイオン分析装
置を提供する。 【解決手段】 サンプルに含まれる分析成分を濃縮カラ
ムに濃縮させ、その濃縮された分析成分を溶離液で分離
カラムに搬送して目的成分の電荷イオン種を分離し、こ
の分離カラムからのイオン種の成分を分析するイオン分
析装置において、前記濃縮カラムに一定量のサンプルを
搬送するサンプル搬送手段と、所定時間毎に前記サンプ
ルの濃度より高濃度で、かつ、少量の校正液を搬送液と
共に前記濃縮カラムに搬送する校正液搬送手段を設け
た。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、イオン分析装置に
関し、校正液の劣化を防止すると共に装置の校正時間の
短縮を図ったイオン分析装置に関するものである。
関し、校正液の劣化を防止すると共に装置の校正時間の
短縮を図ったイオン分析装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】イオン分析装置（例えばイオンクロマト
グラフィ）を連続的に使用する場合には所定時間毎（若
しくは随時）に校正液を注入して装置が正常に機能して
いるか否かを監視している。
グラフィ）を連続的に使用する場合には所定時間毎（若
しくは随時）に校正液を注入して装置が正常に機能して
いるか否かを監視している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、この様な装
置において、ｐｐｔやｐｐｂレベルの分析を行う場合に
は、校正液もｐｐｔやｐｐｂレベルのものが必要とな
る。しかしながら、この様な抵濃度の校正液は濃度や成
分の安定性を維持するのが難しく、また、低濃度である
ため汚染を受け易く測定誤差の原因ともなるので校正の
たび毎に慎重に作成する必要があった。そのため連続分
析を阻害するという問題があった。本発明はこのような
従来技術の問題点を解決するためになされたもので、サ
ンプルより濃度が高く安定性の高い校正液を用いた校正
を可能にしたイオン分析装置を提供することを目的とし
ている。
置において、ｐｐｔやｐｐｂレベルの分析を行う場合に
は、校正液もｐｐｔやｐｐｂレベルのものが必要とな
る。しかしながら、この様な抵濃度の校正液は濃度や成
分の安定性を維持するのが難しく、また、低濃度である
ため汚染を受け易く測定誤差の原因ともなるので校正の
たび毎に慎重に作成する必要があった。そのため連続分
析を阻害するという問題があった。本発明はこのような
従来技術の問題点を解決するためになされたもので、サ
ンプルより濃度が高く安定性の高い校正液を用いた校正
を可能にしたイオン分析装置を提供することを目的とし
ている。
【０００４】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本発明では、サンプルに含まれる分析成分を濃
縮カラムに濃縮させ、その濃縮された分析成分を溶離液
で分離カラムに搬送して目的成分の電荷イオン種を分離
し、この分離カラムからのイオン種の成分を分析するイ
オン分析装置において、前記濃縮カラムに一定量のサン
プルを搬送するサンプル搬送手段と、所定時間毎に前記
サンプルの濃度より高濃度で、かつ、少量の校正液を搬
送液と共に前記濃縮カラムに搬送する校正液搬送手段を
設けたことを特徴としている。
るために本発明では、サンプルに含まれる分析成分を濃
縮カラムに濃縮させ、その濃縮された分析成分を溶離液
で分離カラムに搬送して目的成分の電荷イオン種を分離
し、この分離カラムからのイオン種の成分を分析するイ
オン分析装置において、前記濃縮カラムに一定量のサン
プルを搬送するサンプル搬送手段と、所定時間毎に前記
サンプルの濃度より高濃度で、かつ、少量の校正液を搬
送液と共に前記濃縮カラムに搬送する校正液搬送手段を
設けたことを特徴としている。
【０００５】
【作用】成分濃縮時はサンプル搬送手段で所定量のサン
プルを濃縮カラムに搬送し、校正時は校正液搬送手段に
より濃縮カラムに流した所定量のサンプルより濃度が高
く少ない一定量の校正液を搬送すれば、濃縮カラムは短
時間に校正液をトラップする。濃縮カラムに流すサンプ
ルの所定量と校正液の一定量は既知なので、校正液とし
ては濃度や成分が安定したものを使用することができ
る。
プルを濃縮カラムに搬送し、校正時は校正液搬送手段に
より濃縮カラムに流した所定量のサンプルより濃度が高
く少ない一定量の校正液を搬送すれば、濃縮カラムは短
時間に校正液をトラップする。濃縮カラムに流すサンプ
ルの所定量と校正液の一定量は既知なので、校正液とし
ては濃度や成分が安定したものを使用することができ
る。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下図面を用いて本発明を詳しく
説明する。図１は本発明の実施の形態の一例を示す構成
図である。 図において、恒温槽１内には分離カラム２および導電率
検出器３が格納されている。分離カラム２の一端には濃
縮バルブ４が接続されている。この濃縮バルプ４は濃縮
カラム５を有している。更にこの濃縮バルプ４には溶離
液タンク６に貯留された溶離液を搬送するための溶離液
ポンプ７が接続され、サンプル液および校正液を搬送す
るためのサンプルポンプ８が接続されている。
説明する。図１は本発明の実施の形態の一例を示す構成
図である。 図において、恒温槽１内には分離カラム２および導電率
検出器３が格納されている。分離カラム２の一端には濃
縮バルブ４が接続されている。この濃縮バルプ４は濃縮
カラム５を有している。更にこの濃縮バルプ４には溶離
液タンク６に貯留された溶離液を搬送するための溶離液
ポンプ７が接続され、サンプル液および校正液を搬送す
るためのサンプルポンプ８が接続されている。
【０００７】切換バルブ１０は校正液の計量を行う計量
ループ１０ａを有しており、この切換バルブ１０には校
正液を貯留した校正液タンク１１および電磁弁１１ａを
介して校正液呼び水ポンプ１２が接続されている。ま
た、この切換バルブ１０にはサンプルタンク１３および
純水を貯留した純水タンク１４が切換バルブ接続されて
いる。排水タンク１６は導電率検出器３と校正液呼び水
ポンプの廃液を貯留する。
ループ１０ａを有しており、この切換バルブ１０には校
正液を貯留した校正液タンク１１および電磁弁１１ａを
介して校正液呼び水ポンプ１２が接続されている。ま
た、この切換バルブ１０にはサンプルタンク１３および
純水を貯留した純水タンク１４が切換バルブ接続されて
いる。排水タンク１６は導電率検出器３と校正液呼び水
ポンプの廃液を貯留する。
【０００８】上記の構成において、成分濃縮モードでな
い場合、電磁弁１１ａは閉、流路弁１５はサンプルタンク
１３の側が開となっている。そして、サンプルポンプ８の
起動によりサンプルタンク１３からのサンプルが、切換
バルブ１０の接続口５→４→計量ループ１０ａ→１→６
を通って濃縮バルブの接続口４→５を通って排出されて
いる。
い場合、電磁弁１１ａは閉、流路弁１５はサンプルタンク
１３の側が開となっている。そして、サンプルポンプ８の
起動によりサンプルタンク１３からのサンプルが、切換
バルブ１０の接続口５→４→計量ループ１０ａ→１→６
を通って濃縮バルブの接続口４→５を通って排出されて
いる。
【０００９】次に濃縮モードになると濃縮バルブが切換
わり、サンプルは４→３→濃縮カラム５→６→５を通っ
て排出される。この濃縮モードは例えば毎分２ｍｌの流
量で１０分間行われ２０ｍｌのサンプル中の分析成分が
濃縮される。
わり、サンプルは４→３→濃縮カラム５→６→５を通っ
て排出される。この濃縮モードは例えば毎分２ｍｌの流
量で１０分間行われ２０ｍｌのサンプル中の分析成分が
濃縮される。
【００１０】次に濃縮バルブが切換わり、溶離液タンク
６に貯留された溶離液が溶離液ポンプ７により送出され
て濃縮カラム４の１→６濃縮カラム５→３→２と流れ
る。その結果、濃縮された分析成分が分離カラム２を介
して導電率検出器３に搬送され、導電率検出器３で導電
率が測定されて分析成分が特定される。導電率検出器３
を通った溶離液は廃液タンク１４に貯留される。
６に貯留された溶離液が溶離液ポンプ７により送出され
て濃縮カラム４の１→６濃縮カラム５→３→２と流れ
る。その結果、濃縮された分析成分が分離カラム２を介
して導電率検出器３に搬送され、導電率検出器３で導電
率が測定されて分析成分が特定される。導電率検出器３
を通った溶離液は廃液タンク１４に貯留される。
【００１１】次に校正時においては、流路弁１５が純水
タンク１４に貯留された純水を通すように切換わり、始
めに配管の洗浄を行うために純水タンク１４から切換バ
ルブ１０のサンプル接続口５→４→計量ループ１０ａ→
１→６を通り濃縮バルブの接続口４→５を通って排出さ
れる。
タンク１４に貯留された純水を通すように切換わり、始
めに配管の洗浄を行うために純水タンク１４から切換バ
ルブ１０のサンプル接続口５→４→計量ループ１０ａ→
１→６を通り濃縮バルブの接続口４→５を通って排出さ
れる。
【００１２】洗浄後、流路弁１５は開のままで、切り換
バルブ１０のバルブを５→６（実線）の流路となるよう
にして純水を流したままにする。このとき濃縮バルブ４
のバルブは点線側の流路となるように切換えておく。
バルブ１０のバルブを５→６（実線）の流路となるよう
にして純水を流したままにする。このとき濃縮バルブ４
のバルブは点線側の流路となるように切換えておく。
【００１３】次に電磁弁１１ａが開となって校正液呼び
水ポンプ１２が起動する。その結果、校正液タンク１１に
貯留された校正液が切換バルブ１０の２→１→計量ルー
プ１０ａ→４→３を通って呼び水ポンプ１２側に吸引さ
れ、廃液タンク１６に貯留される。その結果、計量ルー
プ１０ａに校正液がトラップされたことになる。なお、ト
ラップされる校正液の量は例えば１００μｌとする。
水ポンプ１２が起動する。その結果、校正液タンク１１に
貯留された校正液が切換バルブ１０の２→１→計量ルー
プ１０ａ→４→３を通って呼び水ポンプ１２側に吸引さ
れ、廃液タンク１６に貯留される。その結果、計量ルー
プ１０ａに校正液がトラップされたことになる。なお、ト
ラップされる校正液の量は例えば１００μｌとする。
【００１４】次に、電磁弁１１ａを閉として呼び水ポン
プ１２を停止して切換バルブ１０を５→４→計量ループ
１０ａ→１→６（実線）の流路に切換える（このときサ
ンプルポンプは純水タンク１４の純水を濃縮ポンプ４側
に送出している）。その結果、計量ループ１０ａにトラ
ップされた校正液は純水に搬送されて濃縮バルブ４に流
入し、バルブ４→３→濃縮カラム５→６→５を通って排
出される。
プ１２を停止して切換バルブ１０を５→４→計量ループ
１０ａ→１→６（実線）の流路に切換える（このときサ
ンプルポンプは純水タンク１４の純水を濃縮ポンプ４側
に送出している）。その結果、計量ループ１０ａにトラ
ップされた校正液は純水に搬送されて濃縮バルブ４に流
入し、バルブ４→３→濃縮カラム５→６→５を通って排
出される。
【００１５】この濃縮モードもサンプルバルブの送水量
は例えば毎分２ｍｌの流量となるが、ここでは計量ルー
プ１０ａにトラップされた校正液が濃縮カラムに達した
後引き続いて例えば１分程度純水を流し配管中の校正液
が完全に洗浄できる程度であればよい。その結果、濃縮
カラム５には１００μｌ中の校正液が濃縮されたことに
なる。
は例えば毎分２ｍｌの流量となるが、ここでは計量ルー
プ１０ａにトラップされた校正液が濃縮カラムに達した
後引き続いて例えば１分程度純水を流し配管中の校正液
が完全に洗浄できる程度であればよい。その結果、濃縮
カラム５には１００μｌ中の校正液が濃縮されたことに
なる。
【００１６】次に前述と同様濃縮バルブが切換わり、溶
離液ポンプ７が起動し、溶離液タンク６に貯留された溶
離液が濃縮カラム４の１→６濃縮カラム５→３→２と流
れ、濃縮された分析成分を分離カラム２を介して導電率
検出器３に搬送し、導電率検出器３で既知成分の成分と
濃度を測定して校正を行う。
離液ポンプ７が起動し、溶離液タンク６に貯留された溶
離液が濃縮カラム４の１→６濃縮カラム５→３→２と流
れ、濃縮された分析成分を分離カラム２を介して導電率
検出器３に搬送し、導電率検出器３で既知成分の成分と
濃度を測定して校正を行う。
【００１７】なお、図では省略するが、各ポンプの起動
や各バルブの切換えのタイミングは予めＣＰＵに記録さ
れたシーケンスに従って行われるものとする。上記の構
成において、例えばサンプル液に含まれる測定成分の濃
度がｐｐｂレベルとし、このサンプル液を２ｍｌ／分の
流量で７分間濃縮カラムを通過させると１４ｍｌ（１４
０００μｌ）分の測定成分がトラップされる。 これに対し１００μｌの校正液は純水でに搬送されて濃
縮カラムを通過するがトラップされるのは１００μｌ中
に含まれる測定成分のみである。
や各バルブの切換えのタイミングは予めＣＰＵに記録さ
れたシーケンスに従って行われるものとする。上記の構
成において、例えばサンプル液に含まれる測定成分の濃
度がｐｐｂレベルとし、このサンプル液を２ｍｌ／分の
流量で７分間濃縮カラムを通過させると１４ｍｌ（１４
０００μｌ）分の測定成分がトラップされる。 これに対し１００μｌの校正液は純水でに搬送されて濃
縮カラムを通過するがトラップされるのは１００μｌ中
に含まれる測定成分のみである。
【００１８】即ち、校正液はサンプル液に対して１４０
倍の濃度のものを用意すればよいことになる。その結
果、例えば、サンプル液はｐｐｔやｐｐｂレベルのもの
であっても校正液としては濃度や成分の安定性の高い
（例えばｐｐｍレベル）ものを使用することができ、
連続分析の可能なイオン分析装置を実現することができ
る。また、校正液は純水で搬送されて濃縮カラムに達し
た時点でトラップされるので、 純水を流す時間は配管の
洗浄程度でよく、校正液をトラップするための時間を短
縮することができる。また、校正液は切換バルブ１０、サ
ンプルポンプ８、濃縮バルブ４、濃縮カラム５を通過する
ので、これらのうちのいずれかが正常に機能しなくなっ
た場合のチェック機能も有することになる。
倍の濃度のものを用意すればよいことになる。その結
果、例えば、サンプル液はｐｐｔやｐｐｂレベルのもの
であっても校正液としては濃度や成分の安定性の高い
（例えばｐｐｍレベル）ものを使用することができ、
連続分析の可能なイオン分析装置を実現することができ
る。また、校正液は純水で搬送されて濃縮カラムに達し
た時点でトラップされるので、 純水を流す時間は配管の
洗浄程度でよく、校正液をトラップするための時間を短
縮することができる。また、校正液は切換バルブ１０、サ
ンプルポンプ８、濃縮バルブ４、濃縮カラム５を通過する
ので、これらのうちのいずれかが正常に機能しなくなっ
た場合のチェック機能も有することになる。
【００１９】なお、本発明の以上の説明は、説明および
例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎな
い。したがって本発明はその本質から逸脱せずに多くの
変更、変形をなし得ることは当業者に明らかである。例
えば、校正のタイミングやポンプ，バルブの位置や種類
および数は実施例に限らず任意であり、要は濃縮カラム
に流すサンプル量に対して既知の量の校正液を流せるよ
うな構成であればよい。 特許請求の範囲の欄の記載に
より定義される本発明の範囲は、その範囲内の変更、変
形を包含するものとする。
例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎな
い。したがって本発明はその本質から逸脱せずに多くの
変更、変形をなし得ることは当業者に明らかである。例
えば、校正のタイミングやポンプ，バルブの位置や種類
および数は実施例に限らず任意であり、要は濃縮カラム
に流すサンプル量に対して既知の量の校正液を流せるよ
うな構成であればよい。 特許請求の範囲の欄の記載に
より定義される本発明の範囲は、その範囲内の変更、変
形を包含するものとする。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、濃
縮カラムに一定量のサンプルを搬送するサンプル搬送手
段と、所定時間毎に前記サンプルの濃度より高濃度で、
かつ、少量の校正液を搬送液と共に前記濃縮カラムに搬
送する校正液搬送手段を設けたので、サンプルより濃度
が高く安定性の高い校正液を用いることができ、校正液
のトラップ時間を短くして連続測定を可能にしたイオン
分析装置を実現することができる。
縮カラムに一定量のサンプルを搬送するサンプル搬送手
段と、所定時間毎に前記サンプルの濃度より高濃度で、
かつ、少量の校正液を搬送液と共に前記濃縮カラムに搬
送する校正液搬送手段を設けたので、サンプルより濃度
が高く安定性の高い校正液を用いることができ、校正液
のトラップ時間を短くして連続測定を可能にしたイオン
分析装置を実現することができる。
【図１】本発明に係るイオン分析装置の実施の形態の一
例を示す構成図である。
例を示す構成図である。
１ 恒温槽 ２ 分離カラム ３ 導電率検出器 ４ 濃縮バルブ ５ 濃縮カラム ６ 溶離液タンク ８ サンプルポンプ １０ 切換えバルブ １０ａ計量ループ １１ 校正液タンク １１ａ校正液電磁弁 １２ 校正液呼び水ポンプ １３ サンプルタンク １４ 純水タンク １５ 流路弁 １６ 流路弁
Claims (3)
- 【請求項１】サンプルに含まれる分析成分を濃縮カラム
に濃縮させ、その濃縮された分析成分を溶離液で分離カ
ラムに搬送して目的成分の電荷イオン種を分離し、この
分離カラムからのイオン種の成分を分析するイオン分析
装置において、前記濃縮カラムに一定量のサンプルを搬
送するサンプル搬送手段と、所定時間毎に前記サンプル
の濃度より高濃度で、かつ、少量の校正液を搬送液と共
に前記濃縮カラムに搬送する校正液搬送手段を設けたこ
とを特徴とするイオン分析装置。 - 【請求項２】前記搬送液は純水であることを特徴とする
請求項１記載のイオン分析装置。 - 【請求項３】前記校正液の濃度は時間の経過による劣化
度の低い濃度であることを特徴とする請求項１記載のイ
オン分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10086076A JPH11281635A (ja) | 1998-03-31 | 1998-03-31 | イオン分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10086076A JPH11281635A (ja) | 1998-03-31 | 1998-03-31 | イオン分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11281635A true JPH11281635A (ja) | 1999-10-15 |
Family
ID=13876626
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10086076A Pending JPH11281635A (ja) | 1998-03-31 | 1998-03-31 | イオン分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11281635A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01113656A (ja) * | 1987-10-27 | 1989-05-02 | Yokogawa Electric Corp | 陰イオン分析装置 |
| JPH03242549A (ja) * | 1990-02-20 | 1991-10-29 | Tokico Ltd | 金属成分分析装置 |
| JPH05126691A (ja) * | 1991-10-30 | 1993-05-21 | Shimadzu Corp | 標準試料供給装置及び液体クロマトグラフ |
-
1998
- 1998-03-31 JP JP10086076A patent/JPH11281635A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01113656A (ja) * | 1987-10-27 | 1989-05-02 | Yokogawa Electric Corp | 陰イオン分析装置 |
| JPH03242549A (ja) * | 1990-02-20 | 1991-10-29 | Tokico Ltd | 金属成分分析装置 |
| JPH05126691A (ja) * | 1991-10-30 | 1993-05-21 | Shimadzu Corp | 標準試料供給装置及び液体クロマトグラフ |
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