JPH11287632A - 電子部品のピン曲がり検査方法及びその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ピン曲がりの誤判定を確実に防止できる，電
子部品のピン曲がり検査方法及びその装置を提供するこ
と。 【解決手段】 基板７６の裏側に複数のピン７５を垂直
に立設させてなる電子部品７のピン曲がりを検査する方
法において，少なくとも異なる２方向からそれぞれ上記
ピン７５のピン列７１，７２に対して平行にレーザ光６
を投射し，該レーザ光６をそれぞれ受光して上記ピン列
７１，７２によって生じた影６１，６２の幅を測定する
ことにより，上記ピン曲がりを判定する。また，その装
置１は，上記レーザ光６を投射する複数の光源２１，２
２と，上記レーザ光６をそれぞれ受光して上記影６１，
６２の幅を測定する複数の受光装置３１，３２と，上記
影６１，６２の幅から上記ピン曲がりを判定する判定装
置５とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【技術分野】本発明は，基板と複数のピンとからなる電
子部品について，ピンが基板に対して垂直に立設されて
いるか否かを検査する方法，及びその装置に関する。

【０００２】

【従来技術】基板の裏側に複数のピンを垂直に立設させ
てなる電子部品においては，基板のスルーホールに対す
る未完全なピンの挿入，スルーホールの孔径のバラツ
キ，ピンとスルーホールとの軸芯のズレ等によって，
「ピン曲がり」を起こすことがある。「ピン曲がり」と
は，基板に垂直に立設されていない曲がりピン，又はピ
ン自体が曲がっている曲がりピンが生じることを示す。

【０００３】従来，上記電子部品のピン曲がりを検査す
る装置としては，図９〜図１１に示すごとき，ピン曲が
り検査治具９が知られている。ピン曲がり検査治具９
は，上記電子部品７のピン７５に対応する位置に複数の
ピン穴９０を有する板状体である。一方，被検査体であ
る電子部品７は，基板７６とその裏側に垂直に立設させ
た複数のピン７５とからなる（図６参照）。

【０００４】そして，上記電子部品のピン曲がりを検査
するにあたっては，図９（Ａ）に示すごとく，まず，上
記電子部品７のピン７５を下方に向け，上記ピン曲がり
検査治具９のピン穴９０に対向する位置に，上記ピン７
５の位置を合わせる。次いで，上記ピン曲がり検査治具
９をシリンダ（図示略）により上昇させると共に，上記
電子部品７をその自重により下降させる。これにより，
図９（Ｂ）に示すごとく，上記電子部品７のピン７５
を，上記ピン曲がり検査治具９のピン穴９０に嵌め合わ
せる。

【０００５】次いで，上記電子部品７と上記ピン曲がり
検査治具９との嵌め合い高さを測定する。そして，判定
装置（図示略）によって，その測定値が規定値以下か否
か，即ち電子部品７にピン曲がりが生じていないか否か
を判定する。

【０００６】即ち，上記ピン７５が上記基板７６に対し
て垂直に立設されている場合には，図９（Ｂ）に示すご
とく，上記嵌め合い高さの測定値Ｓは上記規定値以下と
なり，上記電子部品７は，ピン曲がりのない良品である
と判定される。一方，上記基板７６に対して傾斜して立
設された曲がりピン７７が生じている場合には，図１０
に示すごとく，上記曲がりピン７７の頭部７７１が，上
記ピン穴９０の開口部９００に当接する。そのため，上
記嵌め合い高さの測定値Ｌは上記規定値を超え，上記電
子部品７は，ピン曲がりのある不良品であると判定され
る。

【０００７】

【解決しようとする課題】しかしながら，上記従来のピ
ン曲がり検査治具９においては，次の問題がある。即
ち，図１１に示すごとく，ピン曲がり検査時において，
上記電子部品７自体が上記ピン曲がり検査治具９に対し
て傾斜した状態で係合する場合がある。この場合には，
上記ピン７５が上記ピン穴９０の側壁に当接するため，
上記電子部品７と上記ピン曲がり検査治具９との嵌め合
い高さの測定値Ｍが上記規定値を超えてしまう。

【０００８】そのため，上記電子部品７はピン曲がりの
ない良品であるにも拘わらず，誤って不良品であると判
定される場合が生じる。また，このような誤判定は，特
に上記ピン曲がり検査治具９と上記電子部品７との位置
合わせ精度が比較的低い場合に起こり易い。一方，この
位置合わせ精度は，上記のごとく，上記電子部品７の自
重による下降を利用した方法においては，精度向上に限
界がある。

【０００９】本発明は，かかる従来の問題点に鑑みてな
されたもので，ピン曲がりの誤判定を確実に防止でき
る，電子部品のピン曲がり検査方法及びその装置を提供
しようとするものである。

【００１０】

【課題の解決手段】請求項１の発明は，基板の裏側に複
数のピンを垂直に立設させてなる電子部品のピン曲がり
を検査する方法において，少なくとも異なる２方向から
それぞれ上記ピンのピン列に対して平行にレーザ光を投
射し，該レーザ光をそれぞれ受光して上記ピン列によっ
て生じた影の幅を測定することにより，上記ピン曲がり
を判定することを特徴とする電子部品のピン曲がり検査
方法にある。

【００１１】本発明において最も注目すべきことは，レ
ーザ光をピン列に投射することによって生じた影の幅を
測定することにより，ピン曲がりを判定することであ
る。

【００１２】上記レーザ光の投射範囲は，いずれの方向
においても，上記電子部品の基板に立設された全てのピ
ンをカバーする幅と，上記基板に立設されたピンの突出
部分をカバーする厚みとを有する。

【００１３】一方，被検査体である上記電子部品は，同
一直線上に並んだ複数のピンからなる上記ピン列を有し
ている。上記ピン列は，上記電子部品を裏側から見た場
合に，互いに異なる２つ以上の方向において形成されて
いる。また，上記ピン列は，それぞれの方向において各
２列以上ずつ形成されている。そして，上記レーザ光は
少なくとも２列以上の上記ピン列に対してそれぞれのピ
ン列方向に平行に投射する。

【００１４】次に，本発明の作用効果につき説明する。
本発明のピン曲がり検査方法においては，上記ピン列に
対して平行に投射される上記レーザ光は，いずれの方向
においても複数のピン列によって遮られる。そのため，
受光側において複数列の影が生じる。そして，本発明に
おいては，各影の幅を測定する。そして，上記影の幅を
基にしてピン曲がりを判定する。

【００１５】例えば，各影の幅を比較して，互いの影の
幅に差異が生じているか否かを検出することにより，ピ
ン曲がりを判定することができる。即ち，上記ピンが上
記基板に対して全て垂直に立設されており，かつ上記ピ
ン自体が曲がっていない場合には，同一方向に並んだ各
ピン列の影は，すべてが所定の幅，例えば上記ピンの直
径に略等しい幅となり，各影同士の幅を比較してもほと
んど差異は生じない。この場合には，電子部品は，ピン
曲がりのない良品であると判定される。

【００１６】一方，上記基板に対して傾斜して立設され
た曲がりピン，又はピン自体が曲がっている曲がりピン
が生じている場合には，垂直に立設されたピンの影から
上記曲がりピンの影がはみ出す。そのため，このピン列
の影は幅が広くなり，他のピン列の影と比較すると差異
が生じる。この場合には，電子部品は，ピン曲がりのあ
る不良品であると判定される。

【００１７】また，上記判定方法においては，上記影の
幅の差異が所定の大きさ以内である場合には，上記差異
は生じていないとみなし，その電子部品は良品であると
判定することが好ましい。これは，上記差異が誤差とみ
なされる程度に微小であるにもかかわらず，その電子部
品が不良品と判定されることを防止するためである。

【００１８】また，例えば，各影の幅をそれぞれ所定の
目標値と比較して，該目標値を超える幅を有する影がひ
とつでもあれば，不良品であるという判定を行うことも
できる。また，この場合にも，過剰品質を防止し，良品
のスペックを適正に維持するために，許容誤差の分だけ
大きく上記目標値を設定することが好ましい。

【００１９】このように，本発明のピン曲がり検査方法
によれば，上記のごとく，各ピン列の影の幅を測定する
ことよって，容易かつ確実にピン曲がりを判定すること
ができる。

【００２０】また，本発明においては，電子部品を載置
した状態で検査することができ，従来のように，電子部
品とピン曲がり検査治具とを，上記電子部品の自重によ
る落下によって，嵌め合わせることを要しない。そのた
め，上記レーザ光の投射範囲への電子部品の位置決めを
容易に行うことができる。それ故，電子部品の位置決め
不良による誤判定を確実に防止することができる。ま
た，上記ピン曲がり検査方法は，レーザ光を用いた非接
触の検査方法であるため，検査にあたって，被検査体で
ある電子部品，特にピンに損傷を及ぼすことが確実に防
止される。

【００２１】また，少なくとも異なる２方向から，上記
ピン列に対して上記レーザ光を投射する。そのため，曲
がりピンが，いずれか１方向のピン列に対して平行に傾
斜して，上記ピン列の死角となっている場合でも，他方
向からは上記曲がりピンの影を検出することができる。
それ故，確実にピン曲がりを判定することができる。

【００２２】次に，請求項２の発明のように，上記レー
ザ光は，互いに直交する２方向から投射されることが好
ましい。この場合には，本検査方法に用いる装置の構造
を簡単にすることができる。

【００２３】次に，請求項３の発明は，基板の裏側に複
数のピンを垂直に立設させてなる電子部品のピン曲がり
を検査する装置において，上記ピンのピン列に平行にレ
ーザ光を投射するための複数の光源と，各光源から投射
された上記レーザ光をそれぞれ受光して上記ピン列によ
って生じた影の幅を測定するための複数の受光装置と，
該受光装置が測定した上記影の幅から上記ピン曲がりを
判定するための判定装置とを有することを特徴とする電
子部品のピン曲がり検査装置にある。

【００２４】本発明において最も注目すべきことは，ピ
ン曲がり検査装置には，一対の光源と受光装置とを複数
個所に設けていることである。本発明のピン曲がり検査
装置によれば，上記優れた検査方法を容易に実施するこ
とができる。それ故，本検査装置を用いれば，誤判定の
ない高精度のピン曲がり検査を行うことができる。

【００２５】

【発明の実施の形態】実施形態例１ 本発明の実施形態例にかかる電子部品のピン曲がり検出
装置，及びその方法について，図１〜図７を用いて説明
する。本例のピン曲がり検出装置１は，図１，図２に示
すごとく，電子部品７の基板７６の裏側に垂直に立設さ
れた複数のピン７５からなるピン列７１，７２に，平行
にレーザ光６を投射するための複数の光源２１，２２を
有すると共に，各光源２１，２２から投射された上記レ
ーザ光６をそれぞれ受光して上記ピン列７１，７２によ
って生じた影６１，６２の幅を測定するための複数の受
光装置３１，３２を有する。また，該受光装置３１，３
２が測定した上記影６１，６２の幅から上記ピン曲がり
を判定するための判定装置５を有する。

【００２６】図１，図２に示すごとく，光源２１と受光
装置３１とは，電子部品７を挟んで縦方向に配置されて
いる。一方，光源２２と受光装置３２とは，上記電子部
品７を挟んで横方向に配置されている。即ち，光源２１
と光源２２とは互いに９０度異なる方向から電子部品７
にレーザ光６を投射するように配置されている。また，
上記電子部品７は，図２に示すごとく，ピン７５を上方
に向けた状態で載置する。

【００２７】上記光源２１，２２は，上記ピン７５の側
面に対向する位置に，レーザ光６の投射部２６を有して
いる。一方，上記受光装置３１，３２は，それぞれ上記
光源２１，２２の投射部２６に対向する位置に，受光部
３６を有している。また，判定装置５は，接続コード５
３を介して上記受光装置３１，３２に電気的に接続され
ている。

【００２８】上記光源２１から投射される上記レーザ光
６の投射範囲６０は，図３〜図５に示すごとく，上記電
子部品７の基板７６に立設された５列のピン列７１をカ
バーする幅Ｗと，上記基板７６に立設されたピン７５の
突出部分をカバーする厚みＴとを有する。また，上記光
源２２も同様の投射範囲６０を有する。

【００２９】一方，被検査体である上記電子部品７は，
図６に示すごとく，同一直線上に並んだ複数のピン７５
からなる，縦方向におけるピン列７１と，横方向におけ
るピン列７２とを有している。また，上記ピン列７１，
７２は，各５列ずつ形成されている。

【００３０】次に，上記検査装置１を用いたピン曲がり
検査方法の概要について，図１〜図５を用いて，説明す
る。本例の検査方法は，互いに直交する２方向からそれ
ぞれ上記ピン７５のピン列７１，７２に対して平行にレ
ーザ光６を投射し，該レーザ光６をそれぞれ受光して上
記ピン列７１，７２によって生じた影６１，６２の幅を
測定することにより，上記ピン曲がりを判定する。

【００３１】次に，本例の作用につき説明する。本例の
ピン曲がり検査方法においては，図１，図２に示すごと
く，上記光源２１は，縦方向に並んだ複数のピン列７１
に対して平行にレーザ光６を投射する。投射されたレー
ザ光６は上記ピン列７１によって遮られるため，受光側
において複数列の影６１が生じる。そして，上記受光装
置３１は，上記影６１が生じたレーザ光６を受光するこ
とによって，各影６１の幅を測定する。また，横方向に
ついても同様に，上記光源２２と受光装置３２とによっ
て，各ピン列７２の影６２の幅を測定する。

【００３２】次いで，上記判定装置５は，上記受光装置
３１から出力された各ピン列７１の影６１の幅を比較す
ることにより，縦方向における，互いの影６１の幅に差
異が生じているか否かを検出する。また，この場合の上
記差異には，過剰品質等の防止のため，被検査体である
電子部品７の種類に応じて許容誤差を設けることができ
る。また，横方向においても同様に，上記受光装置３２
から出力された各影６２の幅を比較して，差異の有無を
検出する。

【００３３】即ち，ピン７５が基板７６に対して全て垂
直に立設されており，かつ上記ピン７５自体が曲がって
いない場合には，図３に示すごとく，縦方向に並んだ各
ピン列７１の影６１は，すべてが所定の幅ｄとなり，上
記影６１同士の幅を比較しても差異は生じない。また，
図示はしないが，横方向に並んだ各ピン列７２の影６２
同士の幅にも差異は生じない。このように２方向のいず
れにおいても，各影の幅に差異が生じていない場合に
は，電子部品７は，ピン曲がりのない良品であると判定
される。なお，上記影６１，６２の幅ｄは，上記ピン７
５の直径と略等しい。

【００３４】一方，上記基板７６に対して傾斜して立設
された曲がりピン７７が生じている場合には，図４に示
すごとく，垂直に立設されたピン７５の影６５から上記
曲がりピン７７の影６７がはみ出す。そのため，このピ
ン列７１７の影は幅Ｄとなり，他のピン列７１の影６１
の幅ｄと比較すると，はみ出した分（Ｄ−ｄ）だけ差異
が生じる。

【００３５】また，図示していないが，ピン７５自体が
曲がっている場合にも，その曲がりピンの影が他のピン
の影からはみ出すため，そのピン列の影幅と他のピン列
の影幅との間には，上記と同様に，差異が生じる。この
ように２方向のうちのいずれか一方でも，各影の幅に差
異が生じている場合には，電子部品７は，ピン曲がりの
ある不良品であると判定される。

【００３６】このように，本例のピン曲がり検査方法に
よれば，上記のごとく，各ピン列７１，７２の影６１，
６２の幅を測定，比較することよって，容易かつ確実に
ピン曲がりを判定することができる。

【００３７】また，図５に示すごとく，たとえ電子部品
７の載置状態が傾斜している場合においても，電子部品
７にピン曲がりが生じていない限り，各ピン列７１の影
６１は全て同じ角度で傾斜する。そのため，各ピン列７
１の影６１を比較しても，その幅Ｋは等しく広くなるた
め差異が生じることはなく，電子部品７が良品であるに
もかかわらず不良品であると判定されることはない。

【００３８】また，本例においては，電子部品７を載置
した状態で検査することができ，従来のように，電子部
品７とピン曲がり検査装置１とを，上記電子部品７の自
重による落下によって，嵌め合わせることを要しない。
そのため，上記電子部品７自体が，傾斜することが発生
しにくい。そのため，上記レーザ光６の投射範囲６０へ
の電子部品７の位置決めを容易に行うことができる。そ
れ故，電子部品７の位置決め不良による誤判定を確実に
防止することができる。

【００３９】また，上記ピン曲がり検査方法は，レーザ
光６を用いた非接触の検査方法であるため，検査にあた
って，被検査体である電子部品７，特にピン７５に損傷
を及ぼすことが確実に防止される。

【００４０】また，図１に示すごとく，互いに直交する
２方向から，上記ピン列７１，７２に対して上記レーザ
光６を投射する。そのため，曲がりピン７７が，例えば
横方向のピン列７２に対して平行に傾斜して，上記ピン
列７２の死角となっている場合でも，縦方向からは上記
曲がりピン７７の影６７を検出することができる。それ
故，確実にピン曲がりを判定することができる。

【００４１】なお，上記電子部品７としては，図７に示
すごとく，ピン７５の配列が基板７６の対角線方向（斜
め）に配列されていてもよい。この場合には，ピッチＰ
のピン列の影が，縦，横方向にそれぞれ複数形成され，
これにより上記と同様にピン曲がり検査を確実に行うこ
とができる。

【００４２】実施形態例２ 本例は，図８に示すごとく，上記光源２１と受光装置３
１とを，電子部品７を挟んで右斜め上方から左斜め下方
にレーザ光６が投射されるように配置し，上記光源２２
と受光装置３２とを，上記電子部品７を挟んで左斜め上
方から右斜め下方にレーザ光６が投射されるように配置
したものである。この場合には，上記電子部品７のピン
列７３，７４は，図８に示すごとく，実施形態例１とは
異なり，基板７６における対角線方向と平行に存在する
こととなる。また，上記光源２１，２２から投射される
上記レーザ光６の投射範囲６０は，上記電子部品７の基
板７６に立設された９列のピン列７３，７４をカバーす
る幅を有する。その他は，実施形態例１と同様である。

【００４３】本例のピン曲がり検査方法においては，図
８に示すごとく，上記光源２１，２２は，上記電子部品
７に形成された右上がりの斜め方向におけるピン列７
３，及び右下がりの斜め方向におけるピン列７４に対し
て，それぞれ平行にレーザ光６を投射する。そして，上
記ピン列７３によって影６３が生じ，上記ピン列７４に
よって影６４が生じる。その他は実施形態例１と同様の
作用効果を有する。

【００４４】

【発明の効果】上述のごとく，本発明によれば，ピン曲
がりの誤判定を確実に防止できる，電子部品のピン曲が
り検査方法及びその装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施形態例１にかかる，ピン曲がり検査装置の
平面説明図。

【図２】実施形態例１かかる，ピン曲がり検査装置の側
面説明図。

【図３】実施形態例１にかかる，ピン曲がり検査方法に
よって，良品の電子部品を検査した場合のピン列の影を
説明する図。

【図４】実施形態例１にかかる，ピン曲がり検査方法に
よって，不良品の電子部品を検査した場合のピン列の影
を説明する図。

【図５】実施形態例１にかかる，ピン曲がり検査方法に
よって，傾斜して載置された電子部品を検査した場合の
ピン列の影を説明する図。

【図６】実施形態例１にかかる，電子部品の斜視図。

【図７】実施形態例１にかかる，他の電子部品の平面
図。

【図８】実施形態例２にかかる，ピン曲がり検査装置の
平面説明図。

【図９】従来例にかかる，ピン曲がり検査治具によっ
て，良品の電子部品を検査した場合の側面説明図。

【図１０】従来例にかかる，ピン曲がり検査治具によっ
て，不良品の電子部品を検査した場合の側面説明図。

【図１１】従来例にかかる，ピン曲がり検査治具によっ
て，傾斜して載置された電子部品を検査した場合の側面
説明図。

【符号の説明】

１．．．電子部品のピン曲がり検査装置， ２１，２２．．．光源， ３１，３２．．．受光装置， ５．．．判定装置， ６．．．レーザ光， ６１，６２．．．影， ７．．．電子部品， ７１，７２．．．ピン列， ７５．．．ピン， ７６．．．基板，

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 基板の裏側に複数のピンを垂直に立設さ
   せてなる電子部品のピン曲がりを検査する方法におい
   て，少なくとも異なる２方向からそれぞれ上記ピンのピ
   ン列に対して平行にレーザ光を投射し，該レーザ光をそ
   れぞれ受光して上記ピン列によって生じた影の幅を測定
   することにより，上記ピン曲がりを判定することを特徴
   とする電子部品のピン曲がり検査方法。
2. 【請求項２】 請求項１の発明において，上記レーザ光
   は，互いに直交する２方向から投射されることを特徴と
   する電子部品のピン曲がり検査方法。
3. 【請求項３】 基板の裏側に複数のピンを垂直に立設さ
   せてなる電子部品のピン曲がりを検査する装置におい
   て，上記ピンのピン列に平行にレーザ光を投射するため
   の複数の光源と，各光源から投射された上記レーザ光を
   それぞれ受光して上記ピン列によって生じた影の幅を測
   定するための複数の受光装置と，該受光装置が測定した
   上記影の幅から上記ピン曲がりを判定するための判定装
   置とを有することを特徴とする電子部品のピン曲がり検
   査装置。