JPH11290309A - Ｘ線診断装置 - Google Patents
Ｘ線診断装置Info
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- JPH11290309A JPH11290309A JP10101404A JP10140498A JPH11290309A JP H11290309 A JPH11290309 A JP H11290309A JP 10101404 A JP10101404 A JP 10101404A JP 10140498 A JP10140498 A JP 10140498A JP H11290309 A JPH11290309 A JP H11290309A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】Ｘ線曝射中に被写体に対して何らかの処置を施
す術者のＸ線被曝を少なくする。 【解決手段】術者が被写体に処置を施すためのＩＶＲ領
域を予め設定する。Ｘ線管球４の１回転中に、Ｘ線管球
４が予め設定したＩＶＲ領域に対応する角度範囲を通過
する場合には、Ｘ線照射を停止又は低減し、ＩＶＲ領域
以外の角度範囲Ａ°〜Ｂ°を通過する場合のみ通常通り
Ｘ線照射を行う。これにより、ＩＶＲ領域での術者の大
幅な被曝量低下を達成することができる。
す術者のＸ線被曝を少なくする。 【解決手段】術者が被写体に処置を施すためのＩＶＲ領
域を予め設定する。Ｘ線管球４の１回転中に、Ｘ線管球
４が予め設定したＩＶＲ領域に対応する角度範囲を通過
する場合には、Ｘ線照射を停止又は低減し、ＩＶＲ領域
以外の角度範囲Ａ°〜Ｂ°を通過する場合のみ通常通り
Ｘ線照射を行う。これにより、ＩＶＲ領域での術者の大
幅な被曝量低下を達成することができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はＸ線診断装置に係
り、特にＸ線曝射中に被写体に対して何らかの処置を施
す操作者や医師等が被写体の近くにいる場合に好適なＸ
線診断装置に関する。
り、特にＸ線曝射中に被写体に対して何らかの処置を施
す操作者や医師等が被写体の近くにいる場合に好適なＸ
線診断装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線診断装置では、Ｘ線管球からの漏れ
Ｘ線の他にＸ線計測に関する周辺装置や被写体から発生
する散乱Ｘ線等の多くのＸ線の発生があるため、基本的
にはＸ線曝射中は被写体以外の人はＸ線計測室に入らな
いことが前提となっている。しかしながら、従来から積
極的に診断能を高める目的でＸ線計測とともに高濃度の
血管造影剤を被写体の血管に挿入するダイナミック計測
や、動きが激しく何らかの介添が必要な乳児などのＸ線
計測時には、医師や介添者がＸ線計測中も被写体の近く
にいる必要があった。
Ｘ線の他にＸ線計測に関する周辺装置や被写体から発生
する散乱Ｘ線等の多くのＸ線の発生があるため、基本的
にはＸ線曝射中は被写体以外の人はＸ線計測室に入らな
いことが前提となっている。しかしながら、従来から積
極的に診断能を高める目的でＸ線計測とともに高濃度の
血管造影剤を被写体の血管に挿入するダイナミック計測
や、動きが激しく何らかの介添が必要な乳児などのＸ線
計測時には、医師や介添者がＸ線計測中も被写体の近く
にいる必要があった。
【０００３】また、最近では定脳位手段や各種外科的治
療において、Interventional Radiology (以後、ＩＶＲ
という）と呼ばれる計測画像診断と同時に治療処置を施
す各種外科的手術手技がおこなわれる機会が多くなって
きており、このＩＶＲに適したＸ線診断装置の必要性が
高くなってきた。実際のＩＶＲの計測状況を見ると、Ｘ
線計測中もずっと被写体の近くで医師等（以後、術者と
呼ぶ）が各種治療処置を行うことになるが、従来のＸ線
ＣＴ装置でのＩＶＲ処置例を図６に示す。
療において、Interventional Radiology (以後、ＩＶＲ
という）と呼ばれる計測画像診断と同時に治療処置を施
す各種外科的手術手技がおこなわれる機会が多くなって
きており、このＩＶＲに適したＸ線診断装置の必要性が
高くなってきた。実際のＩＶＲの計測状況を見ると、Ｘ
線計測中もずっと被写体の近くで医師等（以後、術者と
呼ぶ）が各種治療処置を行うことになるが、従来のＸ線
ＣＴ装置でのＩＶＲ処置例を図６に示す。
【０００４】図６に示すように術者２０は、穿刺針２１
を手２０’に持ってスキャナー１の外側近傍からスキャ
ナーガントリカバー２内の寝台に寝ている被写体３に穿
刺針２１を刺し、穿刺針２１の先端を被写体の目的部位
に到達させ目的部位の細胞を抽出する。
を手２０’に持ってスキャナー１の外側近傍からスキャ
ナーガントリカバー２内の寝台に寝ている被写体３に穿
刺針２１を刺し、穿刺針２１の先端を被写体の目的部位
に到達させ目的部位の細胞を抽出する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記Ｉ
ＶＲにおいては、穿刺針の先端と被写体の目的部位との
位置関係を絶えず確認する必要から、穿刺針２１がＸ線
ビーム６内に収まるように手２０’で押さえながら刺し
込んでいるため、術者２０の手２０’は、図７に示すよ
うにＸ線管球４及びＸ線検出器７の回転位置にかかわら
ず常にＸ線ビームに曝され、Ｘ線被曝増加が極端に多く
なり、ＩＶＲ処置上大きな問題になっている。
ＶＲにおいては、穿刺針の先端と被写体の目的部位との
位置関係を絶えず確認する必要から、穿刺針２１がＸ線
ビーム６内に収まるように手２０’で押さえながら刺し
込んでいるため、術者２０の手２０’は、図７に示すよ
うにＸ線管球４及びＸ線検出器７の回転位置にかかわら
ず常にＸ線ビームに曝され、Ｘ線被曝増加が極端に多く
なり、ＩＶＲ処置上大きな問題になっている。
【０００６】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、Ｘ線曝射中に被写体に対して何らかの処置を施
す術者のＸ線被曝を少なくすることができるＸ線診断装
置を提供することを目的としている。
もので、Ｘ線曝射中に被写体に対して何らかの処置を施
す術者のＸ線被曝を少なくすることができるＸ線診断装
置を提供することを目的としている。
【０００７】
【課題を解決する為の手段】本発明は前記目的を達成す
るために、被写体を挟んで互いに対向する位置関係にあ
るＸ線源と検出器とを被写体を中心にして回転させると
ともに前記Ｘ線源からＸ線を照射し、前記検出器で取り
込んだ被写体の透過Ｘ線を示す信号に基づいて画像を表
示するＸ線診断装置において、前記Ｘ線源及び検出器の
１回転中の任意の角度範囲を被写体の処置空間として設
定する処置空間設定手段と、前記Ｘ線源が前記処置空間
設定手段によって設定された角度範囲を通過する期間
中、前記Ｘ線源のＸ線照射量を停止又は低減する制御手
段と、を備えたことを特徴としている。
るために、被写体を挟んで互いに対向する位置関係にあ
るＸ線源と検出器とを被写体を中心にして回転させると
ともに前記Ｘ線源からＸ線を照射し、前記検出器で取り
込んだ被写体の透過Ｘ線を示す信号に基づいて画像を表
示するＸ線診断装置において、前記Ｘ線源及び検出器の
１回転中の任意の角度範囲を被写体の処置空間として設
定する処置空間設定手段と、前記Ｘ線源が前記処置空間
設定手段によって設定された角度範囲を通過する期間
中、前記Ｘ線源のＸ線照射量を停止又は低減する制御手
段と、を備えたことを特徴としている。
【０００８】図７に示すように術者の手２０’が被写体
の上方にある場合には、０°方向にあるＸ線源から直接
Ｘ線が手２０’に当たるため、Ｘ線源が０°を含む所定
の角度範囲にあるときに特に被曝が大きいことが分か
る。Ｘ線源の回転が進行し、Ｘ線が最初に被写体に当た
る場合には、被写体を透過した減弱Ｘ線が術者の手２
０’に当たるようになるため、被曝は極端に少なくな
る。そこで、術者の処置空間を設定し、Ｘ線源がこの処
置空間に対応する所定の角度範囲にあるときは、Ｘ線照
射量を低減又は停止することにより、術者のＸ線被曝は
被写体を透過した減弱Ｘ線のみになり、術者の大幅な被
曝量低下を達成することができる。
の上方にある場合には、０°方向にあるＸ線源から直接
Ｘ線が手２０’に当たるため、Ｘ線源が０°を含む所定
の角度範囲にあるときに特に被曝が大きいことが分か
る。Ｘ線源の回転が進行し、Ｘ線が最初に被写体に当た
る場合には、被写体を透過した減弱Ｘ線が術者の手２
０’に当たるようになるため、被曝は極端に少なくな
る。そこで、術者の処置空間を設定し、Ｘ線源がこの処
置空間に対応する所定の角度範囲にあるときは、Ｘ線照
射量を低減又は停止することにより、術者のＸ線被曝は
被写体を透過した減弱Ｘ線のみになり、術者の大幅な被
曝量低下を達成することができる。
【０００９】上記処置空間の設定は、請求項２に示すよ
うに被写体及びその周囲の処置空間がグラフィック表示
された画面上で処置位置又は処置空間を選択指定するこ
とにより設定することができる。また、処置空間の設定
は、請求項３に示すように自動的に設定することもでき
る。即ち、被写体と異なる手などの異物の存在は、画像
から検知できる。従って、異物を検知した場合には、そ
の位置を基準にして処置空間を設定する。
うに被写体及びその周囲の処置空間がグラフィック表示
された画面上で処置位置又は処置空間を選択指定するこ
とにより設定することができる。また、処置空間の設定
は、請求項３に示すように自動的に設定することもでき
る。即ち、被写体と異なる手などの異物の存在は、画像
から検知できる。従って、異物を検知した場合には、そ
の位置を基準にして処置空間を設定する。
【００１０】尚、Ｘ線源及び検出器の１回転中にＸ線量
を可変にする技術は、スマートスキャンとして知られて
いるが、このスマートスキャンは、被写体の断面形状に
応じてＸ線量を可変にし、被写体の断面形状にかかわら
ず透過Ｘ線量を一定にし、これにより良好な画像を再構
成できるようにしたものであり、本発明のように処置空
間での術者の被曝量を低減させるものではない。
を可変にする技術は、スマートスキャンとして知られて
いるが、このスマートスキャンは、被写体の断面形状に
応じてＸ線量を可変にし、被写体の断面形状にかかわら
ず透過Ｘ線量を一定にし、これにより良好な画像を再構
成できるようにしたものであり、本発明のように処置空
間での術者の被曝量を低減させるものではない。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下添付図面に従って本発明に係
るＸ線診断装置の好ましい実施の形態について詳説す
る。図１は本発明に係るＸ線診断装置の全体構成を示す
ブロック図であり、特にＸ線ＣＴ装置に関して示してい
る。
るＸ線診断装置の好ましい実施の形態について詳説す
る。図１は本発明に係るＸ線診断装置の全体構成を示す
ブロック図であり、特にＸ線ＣＴ装置に関して示してい
る。
【００１２】同図に示すように、このＸ線ＣＴ装置は、
主としてスキャナー１、制御装置１０、Ｘ線高圧発生装
置１１、及び画像処置装置３０等から構成されている。
スキャナー１のガントリカバー２内には、Ｘ線管球４と
Ｘ線検出器７とが１８０度対向した位置関係で配置され
ている。このＸ線管球４から発生したＸ線は、Ｘ線ビー
ム補償装置５に内蔵されたＸ線補償物を通過して、被写
体計測時の検出器入射Ｘ線量がほぼ一定値になるＸ線ビ
ーム強度分布に校正される。このＸ線ビームは、さらに
上記Ｘ線ビーム補償装置５の下部に配置されたＸ線を遮
る金属体から構成されたＸ線側コリメータによりスライ
ス方向にビーム幅が制限されたＸ線ビーム６となって照
射される。
主としてスキャナー１、制御装置１０、Ｘ線高圧発生装
置１１、及び画像処置装置３０等から構成されている。
スキャナー１のガントリカバー２内には、Ｘ線管球４と
Ｘ線検出器７とが１８０度対向した位置関係で配置され
ている。このＸ線管球４から発生したＸ線は、Ｘ線ビー
ム補償装置５に内蔵されたＸ線補償物を通過して、被写
体計測時の検出器入射Ｘ線量がほぼ一定値になるＸ線ビ
ーム強度分布に校正される。このＸ線ビームは、さらに
上記Ｘ線ビーム補償装置５の下部に配置されたＸ線を遮
る金属体から構成されたＸ線側コリメータによりスライ
ス方向にビーム幅が制限されたＸ線ビーム６となって照
射される。
【００１３】Ｘ線ビーム６は、図示されていない寝台上
に寝ている被写体３を通過し、Ｘ線管球４と対向した位
置関係にある複数の検出チャンネルを有したＸ線検出器
７に入射される。尚、Ｘ線ＣＴ装置の一部には、Ｘ線検
出器７の前面に更に入射Ｘ線ビーム幅を規制する検出器
側コリメータが配置されるものもある。Ｘ線検出器７に
入射したＸ線は電流信号に変換され、この電流信号は検
出器増幅器８によって電気信号に変換され、これら計測
電気信号はＡ／Ｄ変換器１３を介して画像処置装置３０
に送出される。
に寝ている被写体３を通過し、Ｘ線管球４と対向した位
置関係にある複数の検出チャンネルを有したＸ線検出器
７に入射される。尚、Ｘ線ＣＴ装置の一部には、Ｘ線検
出器７の前面に更に入射Ｘ線ビーム幅を規制する検出器
側コリメータが配置されるものもある。Ｘ線検出器７に
入射したＸ線は電流信号に変換され、この電流信号は検
出器増幅器８によって電気信号に変換され、これら計測
電気信号はＡ／Ｄ変換器１３を介して画像処置装置３０
に送出される。
【００１４】画像処理装置３０は、Ｘ線ＣＴ装置全体を
制御する中央処理装置（ＣＰＵ）３１、画像の再構成演
算を実行する画像再構成処理回路３２、磁気ディスク３
３、インターフェース３４、表示メモリ３５等を有し、
これらはデータバス３６に接続されている。前記画像再
構成処理回路３２は、スキャン計測によって入力したデ
ータから公知の画像再構成手法によってＣＴ画像を再構
成する。再構成されたＣＴ画像は、データバス３６を介
して表示メモリ３５に送られ、ＣＲＴモニタ３７に表示
され、また再表示等のために磁気ディスク３３に格納さ
れる。
制御する中央処理装置（ＣＰＵ）３１、画像の再構成演
算を実行する画像再構成処理回路３２、磁気ディスク３
３、インターフェース３４、表示メモリ３５等を有し、
これらはデータバス３６に接続されている。前記画像再
構成処理回路３２は、スキャン計測によって入力したデ
ータから公知の画像再構成手法によってＣＴ画像を再構
成する。再構成されたＣＴ画像は、データバス３６を介
して表示メモリ３５に送られ、ＣＲＴモニタ３７に表示
され、また再表示等のために磁気ディスク３３に格納さ
れる。
【００１５】ここで、上記Ｘ線ＣＴ装置の計測動作全体
は制御装置１０の指令により制御されており、コリメー
タ開口幅の制御により複数のＸ線ビーム幅の設定、スキ
ャナー１の回転やスキャナー角度（チルト動作と呼ばれ
る）設定、さらにはＸ線高圧発生装置１１の制御による
Ｘ線の出力制御等、スキャナー計測全体の制御が行われ
ている。
は制御装置１０の指令により制御されており、コリメー
タ開口幅の制御により複数のＸ線ビーム幅の設定、スキ
ャナー１の回転やスキャナー角度（チルト動作と呼ばれ
る）設定、さらにはＸ線高圧発生装置１１の制御による
Ｘ線の出力制御等、スキャナー計測全体の制御が行われ
ている。
【００１６】次に、本発明による低被曝ＩＶＲ用計測手
順について説明する。図１に示す被写体でＩＶＲ処置を
行う際に、通常処置がしやすい被写体３の上方部をＩＶ
Ｒ領域として設定する場合に関して説明する。この場
合、術者は計測前に操作卓３８においてＸ線計測条件と
ＩＶＲ領域の設定を行う。この時のＩＶＲ領域の設定
は、通常の計測プロトコル選択の操作画面に表示された
メニュー画面を用いて設定する。即ち、図２に示すよう
に画面上に被写体とその周囲の処置空間をグラフィック
表示し、被写体から見た角度方向や予め規定されたＩＶ
Ｒ領域を画面上で選択する。例えば、図２では、被写体
３の上方部（０°の方向）を示すマークをマウス等の指
示入力手段によって選択されており、このようにして角
度位置が選択指定されると、その角度位置を中心に所定
の角度範囲（例えば、±４５°）がＩＶＲ処置領域とし
て設定される。
順について説明する。図１に示す被写体でＩＶＲ処置を
行う際に、通常処置がしやすい被写体３の上方部をＩＶ
Ｒ領域として設定する場合に関して説明する。この場
合、術者は計測前に操作卓３８においてＸ線計測条件と
ＩＶＲ領域の設定を行う。この時のＩＶＲ領域の設定
は、通常の計測プロトコル選択の操作画面に表示された
メニュー画面を用いて設定する。即ち、図２に示すよう
に画面上に被写体とその周囲の処置空間をグラフィック
表示し、被写体から見た角度方向や予め規定されたＩＶ
Ｒ領域を画面上で選択する。例えば、図２では、被写体
３の上方部（０°の方向）を示すマークをマウス等の指
示入力手段によって選択されており、このようにして角
度位置が選択指定されると、その角度位置を中心に所定
の角度範囲（例えば、±４５°）がＩＶＲ処置領域とし
て設定される。
【００１７】これらの計測条件の設定が完了すると、Ｃ
ＰＵ３１は設定された計測条件とＩＶＲ領域を読み取
り、予め計測条件に対応した制御手順をスキャナー１、
制御装置１０及び寝台等に伝送し、術者の計測開始指示
により実際のＸ線計測を開始する。この計測が開示され
たスキャナー回転角度とＸ線の制御方法を、スキャナー
回転角度とＸ線照射との関係を示す図３を用いて説明す
る。
ＰＵ３１は設定された計測条件とＩＶＲ領域を読み取
り、予め計測条件に対応した制御手順をスキャナー１、
制御装置１０及び寝台等に伝送し、術者の計測開始指示
により実際のＸ線計測を開始する。この計測が開示され
たスキャナー回転角度とＸ線の制御方法を、スキャナー
回転角度とＸ線照射との関係を示す図３を用いて説明す
る。
【００１８】スキャナーのＸ線管球が被写体の真上にき
たときを０°とすると、通常のＣＴ計測では、３６０°
の１回転にわたってＸ線強度を変えないが、本発明で
は、予めＩＶＲ計測モードにおいてＩＶＲ領域が設定さ
れることにより、図３（ａ）に示すようにＸ線管球が被
写体の上方を通過回転する所定の角度範囲（即ち、予め
設定されたＩＶＲ領域）では、Ｘ線がＯＦＦに制御され
る。
たときを０°とすると、通常のＣＴ計測では、３６０°
の１回転にわたってＸ線強度を変えないが、本発明で
は、予めＩＶＲ計測モードにおいてＩＶＲ領域が設定さ
れることにより、図３（ａ）に示すようにＸ線管球が被
写体の上方を通過回転する所定の角度範囲（即ち、予め
設定されたＩＶＲ領域）では、Ｘ線がＯＦＦに制御され
る。
【００１９】ここで、Ｘ線をＯＮにするスキャナー回転
角度は、ＣＴ計測で良く知られているハーフスキャン計
測が可能な領域を確保する必要があり、図３（ａ）に示
すＡ°〜Ｂ°までのスキャナー計測回転角度は、最低限
Ｘ線ビームファン開き角度（α）＋１８０°以上に設定
する必要がある。また、被写体の左側面方向をＩＶＲ領
域に設定した場合には、図３（ｂ）に示すようにスキャ
ナー計測回転角度は、Ａ’°〜Ｂ’°までの範囲とし、
この範囲だけＸ線をＯＮにする。
角度は、ＣＴ計測で良く知られているハーフスキャン計
測が可能な領域を確保する必要があり、図３（ａ）に示
すＡ°〜Ｂ°までのスキャナー計測回転角度は、最低限
Ｘ線ビームファン開き角度（α）＋１８０°以上に設定
する必要がある。また、被写体の左側面方向をＩＶＲ領
域に設定した場合には、図３（ｂ）に示すようにスキャ
ナー計測回転角度は、Ａ’°〜Ｂ’°までの範囲とし、
この範囲だけＸ線をＯＮにする。
【００２０】次に、本発明でのＸ線制御シーケンスと従
来のＸ線制御シーケンスの違いを、図４のタイミングチ
ャートを用いて説明する。図４は縦軸がＸ線のＯＮ／Ｏ
ＦＦ状態を示し、横軸がスキャナー回転角度を示す。図
４（ａ）は従来のＣＴ計測モードを示しており、このＣ
Ｔ計測モードでは、スキャナー回転角度３６０°（３６
０°以上も含む）全てＸ線を照射し、１断面の計測が完
了すると、Ｘ線をＯＦＦ状態にするとともに寝台を次の
断面位置に移動させ、これを繰り返して一連の計測を完
了する。また、図４（ｃ）は他のＣＴ計測モードを示し
ており、このＣＴ計測モードでは、スキャナー回転と同
時に寝台を移動又は寝台は移動させずに連続してＸ線を
照射し、複数計測する。
来のＸ線制御シーケンスの違いを、図４のタイミングチ
ャートを用いて説明する。図４は縦軸がＸ線のＯＮ／Ｏ
ＦＦ状態を示し、横軸がスキャナー回転角度を示す。図
４（ａ）は従来のＣＴ計測モードを示しており、このＣ
Ｔ計測モードでは、スキャナー回転角度３６０°（３６
０°以上も含む）全てＸ線を照射し、１断面の計測が完
了すると、Ｘ線をＯＦＦ状態にするとともに寝台を次の
断面位置に移動させ、これを繰り返して一連の計測を完
了する。また、図４（ｃ）は他のＣＴ計測モードを示し
ており、このＣＴ計測モードでは、スキャナー回転と同
時に寝台を移動又は寝台は移動させずに連続してＸ線を
照射し、複数計測する。
【００２１】上記図４（ａ）及び（ｃ）に示したモード
に対応する本発明のＩＶＲ計測モードを、図４（ｂ）及
び（ｄ）に示す。図４（ｂ）及び（ｄ）に示すようにス
キャナー計測回転角度は、Ａ°〜Ｂ°までの範囲とし、
この範囲だけＸ線をＯＮにしている。尚、本発明では図
４（ｄ）の寝台移動なしの計測モードを想定している
が、被写体の近くに介助者がいて計測する他の計測モー
ドでも被曝線量の低減を図ることができることは言うま
でもない。
に対応する本発明のＩＶＲ計測モードを、図４（ｂ）及
び（ｄ）に示す。図４（ｂ）及び（ｄ）に示すようにス
キャナー計測回転角度は、Ａ°〜Ｂ°までの範囲とし、
この範囲だけＸ線をＯＮにしている。尚、本発明では図
４（ｄ）の寝台移動なしの計測モードを想定している
が、被写体の近くに介助者がいて計測する他の計測モー
ドでも被曝線量の低減を図ることができることは言うま
でもない。
【００２２】図５はＩＶＲ領域でＸ線を完全にＯＦＦに
しない他の実施の形態を示すタイミングチャートであ
る。即ち、図３及び図４に示した実施の形態は、０°〜
３６０°のうちの所定の角度範囲の間、Ｘ線を完全にＯ
ＦＦにすることができるハーフスキャン計測に適用され
るが、０°〜３６０°の全角度のデータを利用するフル
スキャン計測では、Ｘ線を完全にＯＦＦにすることがで
きない。
しない他の実施の形態を示すタイミングチャートであ
る。即ち、図３及び図４に示した実施の形態は、０°〜
３６０°のうちの所定の角度範囲の間、Ｘ線を完全にＯ
ＦＦにすることができるハーフスキャン計測に適用され
るが、０°〜３６０°の全角度のデータを利用するフル
スキャン計測では、Ｘ線を完全にＯＦＦにすることがで
きない。
【００２３】そこで、フルスキャン計測の場合には、図
５に示すようにＩＶＲ領域（０°〜Ａ°とＢ°〜３６０
°）でＸ線線量を完全にＯＦＦにせずに低減させるよう
にする。図５（ａ）及び（ｂ）は図４（ａ）のモードに
対応してＸ線線量を可変する実施の形態を示し、図５
（ｃ）及び（ｄ）は図４（ｃ）のモードに対応してＸ線
線量を可変する実施の形態を示している。このようにＩ
ＶＲ領域でＸ線線量を低減させる場合でも術者の被曝線
量を大幅に低減することができる。
５に示すようにＩＶＲ領域（０°〜Ａ°とＢ°〜３６０
°）でＸ線線量を完全にＯＦＦにせずに低減させるよう
にする。図５（ａ）及び（ｂ）は図４（ａ）のモードに
対応してＸ線線量を可変する実施の形態を示し、図５
（ｃ）及び（ｄ）は図４（ｃ）のモードに対応してＸ線
線量を可変する実施の形態を示している。このようにＩ
ＶＲ領域でＸ線線量を低減させる場合でも術者の被曝線
量を大幅に低減することができる。
【００２４】尚、Ｘ線線量の可変の仕方はこの実施の形
態に限らない。また、Ｘ線線量を可変する場合について
説明したが、Ｘ線管電圧を下げてＸ線照射量を低減して
もよく、さらにＩＶＲ領域に対応する角度範囲を通過す
る期間のみＸ線ビーム補償装置５のＸ線ビーム通過箇所
でＸ線低減用のフィルター（アルミ板や銅板等）を挿入
して被写体に照射されるＸ線ビーム強度を低下させても
よい。
態に限らない。また、Ｘ線線量を可変する場合について
説明したが、Ｘ線管電圧を下げてＸ線照射量を低減して
もよく、さらにＩＶＲ領域に対応する角度範囲を通過す
る期間のみＸ線ビーム補償装置５のＸ線ビーム通過箇所
でＸ線低減用のフィルター（アルミ板や銅板等）を挿入
して被写体に照射されるＸ線ビーム強度を低下させても
よい。
【００２５】また、ＩＶＲ領域の設定は、この実施の形
態に限らず、例えばダイヤル等で任意の角度範囲を設定
してもよい。更に、ＩＶＲ領域を自動的設定することも
できる。この場合には、再構成された画像から被写体以
外の異物（手や処置具など）が被写体の周囲の処置空間
に存在するか否かを判別し、異物の存在が判別される
と、その異物の位置を検知する。そして、この検知した
異物の位置に基づいてその異物を含む所定の空間をＩＶ
Ｒ領域として設定する。
態に限らず、例えばダイヤル等で任意の角度範囲を設定
してもよい。更に、ＩＶＲ領域を自動的設定することも
できる。この場合には、再構成された画像から被写体以
外の異物（手や処置具など）が被写体の周囲の処置空間
に存在するか否かを判別し、異物の存在が判別される
と、その異物の位置を検知する。そして、この検知した
異物の位置に基づいてその異物を含む所定の空間をＩＶ
Ｒ領域として設定する。
【００２６】さらに、この実施の形態では、本発明をＸ
線ＣＴ装置に適用した場合について説明したが、これに
限らず、検出器としてイメージ・インテンシファイア等
を用い、被検者の回りを同心円的に連続回転しながら所
定の回転角毎に被検者の透過Ｘ線像を撮影し、この透過
Ｘ線像を示す画像信号をモニタに出力して再生するＸ線
装置にも本発明は適用できる。尚、この装置によって再
生された透過Ｘ線像は、撮影角度が刻一刻変化するた
め、人間の目の残像効果により立体画像として認識され
る。
線ＣＴ装置に適用した場合について説明したが、これに
限らず、検出器としてイメージ・インテンシファイア等
を用い、被検者の回りを同心円的に連続回転しながら所
定の回転角毎に被検者の透過Ｘ線像を撮影し、この透過
Ｘ線像を示す画像信号をモニタに出力して再生するＸ線
装置にも本発明は適用できる。尚、この装置によって再
生された透過Ｘ線像は、撮影角度が刻一刻変化するた
め、人間の目の残像効果により立体画像として認識され
る。
【００２７】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係るＸ線診
断装置によれば、Ｘ線源がＩＶＲ処置空間に対応する所
定の角度範囲を通過する期間は、Ｘ線照射量を低減又は
停止するようにしたため、Ｘ線曝射中にＩＶＲ手技を行
う術者のＸ線被曝を少なくすることができる。
断装置によれば、Ｘ線源がＩＶＲ処置空間に対応する所
定の角度範囲を通過する期間は、Ｘ線照射量を低減又は
停止するようにしたため、Ｘ線曝射中にＩＶＲ手技を行
う術者のＸ線被曝を少なくすることができる。
【図１】図１は本発明に係るＸ線診断装置の全体構成を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図２】図２はＩＶＲ領域を画面上で設定する場合の表
示画面の一例を示す図である。
示画面の一例を示す図である。
【図３】図３はＩＶＲ領域設定に基づくスキャナー回転
角度とＸ線照射ＯＮ／ＯＦＦとの関係を示す図である。
角度とＸ線照射ＯＮ／ＯＦＦとの関係を示す図である。
【図４】図４はスキャナー回転角度とＸ線のＯＮ／ＯＦ
Ｆ制御シーケンスを示すタイミングチャートである。
Ｆ制御シーケンスを示すタイミングチャートである。
【図５】図５はスキャナー回転角度とＸ線の可変制御シ
ーケンスを示すタイミングチャートである。
ーケンスを示すタイミングチャートである。
【図６】図６は従来のＸ線ＣＴ装置でのＩＶＲ処置例を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図７】図７はＩＶＲ領域とＸ線ビームとの位置関係を
示す説明図である。
示す説明図である。
１…スキャナー ２…スキャナーガントリカバー ３…被写体 ４…Ｘ線管球 ５…Ｘ線ビーム補償装置 ６…Ｘ線ビーム ７…Ｘ線検出器 ８…検出器増幅器 １０…制御装置 １１…Ｘ線高圧発生装置 ２０…術者 ２０’…術者の手 ２１…穿刺針 ３０…画像処理装置 ３８…操作卓
Claims (3)
- 【請求項１】 被写体を挟んで互いに対向する位置関係
にあるＸ線源と検出器とを被写体を中心にして回転させ
るとともに前記Ｘ線源からＸ線を照射し、前記検出器で
取り込んだ被写体の透過Ｘ線を示す信号に基づいて画像
を表示するＸ線診断装置において、 前記Ｘ線源及び検出器の１回転中の任意の角度範囲を被
写体の処置空間として設定する処置空間設定手段と、 前記Ｘ線源が前記処置空間設定手段によって設定された
角度範囲を通過する期間中、前記Ｘ線源のＸ線照射量を
停止又は低減する制御手段と、 を備えたことを特徴とするＸ線診断装置。 - 【請求項２】 被写体を挟んで互いに対向する位置関係
にあるＸ線源と検出器とを被写体を中心にして回転させ
るとともに前記Ｘ線源からＸ線を照射し、前記検出器で
取り込んだ被写体の透過Ｘ線を示す信号に基づいて画像
を表示するＸ線診断装置において、 前記Ｘ線源及び検出器の１回転中の任意の角度範囲を被
写体の処置空間として設定する処置空間設定手段であっ
て、被写体及びその周囲の処置空間がグラフィック表示
された画面上で処置位置又は処置空間を選択指定するこ
とにより設定する処置空間設定手段と、 前記Ｘ線源が前記処置空間設定手段によって設定された
角度範囲を通過する期間中、前記Ｘ線源のＸ線照射量を
停止又は低減する制御手段と、 を備えたことを特徴とするＸ線診断装置。 - 【請求項３】 被写体を挟んで互いに対向する位置関係
にあるＸ線源と検出器とを被写体を中心にして回転させ
るとともに前記Ｘ線源からＸ線を照射し、前記検出器で
取り込んだ被写体の透過Ｘ線を示す信号に基づいて画像
を表示するＸ線診断装置において、 前記画像から被写体の周囲の処置空間に存在する異物の
位置を検知する検知手段と、 前記Ｘ線源及び検出器の１回転中のある角度範囲を被写
体の処置空間として設定する処置空間設定手段であっ
て、前記検知手段が検知した異物の位置に基づいて該異
物を含む空間を前記処置空間として設定する処置空間設
定手段と、 前記Ｘ線源が前記処置空間設定手段によって設定された
角度範囲を通過する期間、該Ｘ線源のＸ線照射量を停止
又は低減する制御手段と、 を備えたことを特徴とするＸ線診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10140498A JP4178332B2 (ja) | 1998-04-13 | 1998-04-13 | Ｘ線診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10140498A JP4178332B2 (ja) | 1998-04-13 | 1998-04-13 | Ｘ線診断装置 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11290309A true JPH11290309A (ja) | 1999-10-26 |
| JPH11290309A5 JPH11290309A5 (ja) | 2005-09-15 |
| JP4178332B2 JP4178332B2 (ja) | 2008-11-12 |
Family
ID=14299798
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10140498A Expired - Fee Related JP4178332B2 (ja) | 1998-04-13 | 1998-04-13 | Ｘ線診断装置 |
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|---|---|
| JP (1) | JP4178332B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
1998
- 1998-04-13 JP JP10140498A patent/JP4178332B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JP4178332B2 (ja) | 2008-11-12 |
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