JPH11293408A - 電子部品用Fe−Ni系合金薄板 - Google Patents

電子部品用Fe−Ni系合金薄板

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JPH11293408A
JPH11293408A JP10281298A JP10281298A JPH11293408A JP H11293408 A JPH11293408 A JP H11293408A JP 10281298 A JP10281298 A JP 10281298A JP 10281298 A JP10281298 A JP 10281298A JP H11293408 A JPH11293408 A JP H11293408A
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JP
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less
alloy thin
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JP10281298A
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Inventor
Takeshi Hirabayashi
武 平林
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Proterial Ltd
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Hitachi Metals Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 プレス打抜き加工性に優れた電子部品用Fe
−Ni系合金薄板を得る。 【解決手段】 重量%にて、Ni:30〜55%(また
はNi:27〜52%、Co:22%以下、30%≦N
i+Co≦55%)、C:0.02%以下、Mn:1.
5%以下、Si:0.3%以下、Zr:0.03〜0.
5%、残部は不純物を除き実質的にFeである組成を有
し、最長径0.5μm以上のZr化合物を、圧延方向お
よび厚さ方向に平行な断面1平方ミリメートル当たり1
0000個〜500000個含有することを特徴とする
電子部品用Fe−Ni系合金薄板。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プレス打抜き加工
性に優れ、リードフレーム等の電子部品材料として使用
するのに適したFe−Ni系合金薄板に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】低熱膨張特性を持ち、加工性、耐食性に
優れるFe−Ni系合金は、電子部品用材料として広く
使用されている。例えば集積回路用素子のリードフレー
ムにはFe−42Ni(42合金)、Fe−29Ni−
17Co(コバール)が、また特に低熱膨張特性を利用
する部材にはFe−36Ni(インバー)、Fe−31
Ni−5Co(スーパーインバー)等のFe−Ni系合
金が使用されている。
【0003】上述したようなFe−Ni系合金を電子部
品用途に適用する場合において、電子部品用Fe―Ni
系合金には、例えばプレス打抜き加工やフォトエッチン
グ加工によって微細な加工が施され、例えばリードフレ
ームにおいては、半導体装置の高集積化に伴う加工形状
の微細化、高精度化がいっそう強く求められている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】Fe―Ni系合金にこ
のような微細なプレス打抜き加工を施す際に、材料の破
断性が劣ることに起因するバリやだれが発生する。従っ
て、薄板化した場合にはプレス打抜きにおける加工精度
を維持することが困難であった。このため電子部品用F
e−Ni系合金薄板に対して、従来の材料よりもプレス
打抜き加工精度に優れた材料が強く求められている。
【0005】このような要求に対し、Fe−Ni系合金
薄板のプレス打抜き加工性の改良について多くの提案が
なされている。
【0006】Fe−Ni系合金のプレス打抜き性の改善
については、酸化物、炭化物、窒化物、硫化物等の非金
属介在物を分散分布させる提案(特公昭64−1109
8)、Sを含有させて硫化物を分散させる提案(特開昭
60−255954号)、Nbを添加して炭化物、窒化
物系の析出物を主として含有させる提案(特開平9−2
63891号)等がある。しかし、硫化物や酸化物は表
面欠陥やめっき不良の原因となるため、電子部品材料と
して使用するのに必ずしも好ましくない。また炭化物や
窒化物は非常に硬いため、プレス打抜き加工時に金型の
摩耗、破損が多くなる。
【0007】本発明は以上の点に鑑み、めっき性、低熱
膨張特性、その他要求される特性を害することなく、良
好なプレス打抜き性を備えた電子部品用Fe−Ni系合
金薄板を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】まず本発明者は、素材の
プレス打抜き加工性に及ぼす各種要因について調査を行
った。その結果、素地に含有した介在物や析出物は、そ
こが剪断加工時のクラック発生や伝播の起点となること
がわかった。従って、このような介在物や析出物を多く
含む材料は、剪断加工時にクラックが多く発生するの
で、素材の塑性変形が大きくなる前に破断が起こり、バ
リやだれを抑制することができ、良好なプレス打抜き性
が得られることがわかった。
【0009】しかし、前記のようにAl23やMnS等
の非金属介在物は、あまり多量に含有させると表面欠陥
やめっき不良の原因となり、電子部品材料としては好ま
しくない。
【0010】本発明者は、様々な介在物、析出物、晶出
物について、その形態を調査した。その結果、Fe−N
i合金にZrを添加した材料で析出あるいは晶出させる
ことができるZr化合物が、材料の破断性を高めるのに
形状、大きさとも最適な形態をとることがわかった。ま
た、Zr化合物はめっき性、低熱膨張特性等、電子部品
材料として必要な他の特性を殆ど害することが無いこと
を確認した。すなわち、Zr化合物を含有させること
で、他の特性を損なうこと無くプレス打抜き加工性が大
きく改善されるという効果を見出し、本発明に至った。
【0011】具体的には本発明は、重量%にて、Ni:
30〜55%(またはNi:27〜52%、Co22%
以下で、30%≦Co+Ni≦55%)、C:0.02
%以下、Mn:1.5%以下、Si:0.3%以下、Z
r:0.03〜0.5%、残部は不純物を除き実質的に
Feである組成を有し、最長径0.5μm以上のZr化
合物を、圧延方向および厚さ方向に平行な断面1平方ミ
リメートル当たり10000個〜500000個含有す
ることを特徴とする電子部品用Fe−Ni系合金薄板で
ある。
【0012】本発明中のZr化合物とは、化合物粒子の
X線分析等によって定量される組成において、Zrが重
量%で20%以上であるものを指す。具体的にはZrと
Ni、Fe、Si等との化合物を主とするものであり、
多く含むと金型摩耗や表面欠陥の原因となる炭化物、窒
化物、炭窒化物、酸化物、硫化物は本発明のZr化合物
には含めない。但し炭化物、窒化物、炭窒化物、酸化
物、硫化物は、金型摩耗や表面欠陥への影響が少ない範
囲、すなわち最長径0.5μm以上の全化合物粒子数の
約2%まで、また粒径約5μmまでであれば、含有する
ことは構わない。本発明のZr化合物は鋼塊溶製時の冷
却条件を制御して生成させた晶出物、熱間加工後や冷間
加工工程の前または途中での析出熱処理によって生成さ
せた析出物のいずれをも指す。Zr化合物の個数や大き
さの調整は、これらの製造条件を制御することによって
達成される。例えば、溶融状態からの冷却において、凝
固開始から凝固完了を経て1100℃まで温度が低下す
るまでの平均冷却速度を4℃/以上となるように冷却条
件を制御することで、晶出物の均一分散が起こり、本発
明で規定した数量のZr化合物を含む材料が得られる。
【0013】
【発明の実施の形態】本発明の最大の特徴は、組織中に
Zr化合物を含有していることである。本発明材料に含
有されるZr化合物は、その形態や析出による材料の硬
化量からビッカース硬さ600HV以下と推察され、2
000HV以上もある炭化物や窒化物のように硬くはな
いので、プレス金型の摩耗が少ない。さらに、酸化物や
硫化物と異なり、めっき性の劣化も起こり難い。また低
熱膨張特性、曲げ加工性も殆ど劣化させない。そして、
粒子の粒径や分布が均一であるので、プレス打抜き加工
を施した場合に、この粒子が破断の起点となり、バリの
小さい極めて滑らかな破断面となる。
【0014】以下に本発明の数値限定理由を述べる。Z
r化合物は、最長径が0.5μm未満ではプレス打抜き
加工性の向上の効果が小さい。本発明でZr化合物の大
きさを最長径で示したのは、Zr化合物は通常線状ある
いは板状の形態をしており、断面で観察したとき、大き
さを容易に表わすことができるからである。本発明にお
ける最長径とは、圧延方向および板厚方向に平行な断面
において観察される析出物または晶出物の、外接円の直
径の長さを表わす。最長径0.5μm未満のような小さ
な粒子は、剪断時の断面に現れ難いのでプレス打抜き加
工時の応力集中源となり難く、したがって破断の起点と
なり難い。このため、Zr化合物は、最長径が0.5μ
m以上であるものが有効である。
【0015】また、最長径が0.5μm以上であるZr
化合物の含有量は、単位断面積あたりの個数を適当な範
囲内にする必要がある。化合物の粒子が10000個よ
り少ないと、プレス打抜き加工時の破断の起点が少ない
ため、バリの抑制が不十分となり、良好な微細加工性が
得られない。また500000個を越えると、めっき性
の劣化が起こる。具体的にはZr化合物は、薄板の圧延
方向および板厚方向に平行な断面上で、1平方ミリメー
トル当たり10000個〜500000個含有させる必
要がある。観察する断面を薄板の圧延方向および板厚方
向に平行な断面としたのは、この方向の断面に現われる
Zr化合物数が最も少なく、すなわちこの方向で前記の
個数の規定を満足していれば全ての方向の断面で良好な
微細加工性を保証できるためである。
【0016】Zrは、Fe−Ni系合金に前述した効果
を持つZr化合物を含有させるために必須であり、本発
明において最も重要な元素である。Zrの含有量は、
0.03%以下ではZr化合物の含有量が不十分となる
ためプレス打抜き性の向上効果は小さい。また0.5%
を超えると表面酸化が起こり易くなるため、めっき性が
劣化し、電子部品材料として不適となる。このため、Z
rの含有量は0.03〜0.5%に規定する。より望ま
しい範囲は0.1〜0.35%である。
【0017】Cは、0.02%を超えると、粒径5μm
を越えるような大きなZr炭化物が多く発生し本発明に
おけるZr化合物の生成を阻害するとともに、プレス打
抜き時の金型摩耗量が大きくなる。このためCは0.0
2%以下に規定する。0.01%以下であればより望ま
しい。このC量の制御によって炭化物の発生は殆ど無く
すことができ、一部発生しても粒径は5μm未満と小さ
く、粒径0.5μm以上の炭化物の個数は1平方ミリメ
ートル当たり500個以下と少ないため、金型寿命の劣
化は殆ど無い。
【0018】Siは脱酸剤として使用するが、Zrを添
加した場合には、0.3%を超えると、表面に濃化して
酸化層を生成し、めっき性を劣化させるので、0.3%
以下に規定する。Siは0.1%以下であればより望ま
しい。
【0019】すなわち、Zr化合物を含有させ、C、S
i等の量を制御することによって、表面性状、めっき
性、低熱膨張特性、プレス金型寿命のいずれをも殆ど劣
化させることなく、プレス打抜き加工性の向上を達成で
きる。
【0020】Mnは脱酸剤として使用するが、1.5%
を超えると熱膨張係数を増大させ、まためっき性を劣化
させるので、1.5%以下に規定する。Mnは0.5%
以下であればより望ましい。
【0021】Niの含有量は、その材料を用いて製造さ
れる電子部品の熱膨張係数を調整するものであり、その
36%付近で熱膨張係数を極小化する。しかし30%未
満または55%を超えると熱膨張係数が大きくなり過
ぎ、電子部品材料として不適となる。このため、Niの
含有量は30〜55%に規定する。
【0022】Coは本発明では必須ではないが、その約
17%または約5%をNiと置換することによって熱膨
張係数を極小化するので、特に低熱膨張が要求される場
合には有効である。しかし22%を超えると熱膨張係数
が大きくなり過ぎ、電子部品材料として不適となる。こ
のため、Coを含有する場合、その含有量は22%以下
に規定する。Coを含有する場合は、熱膨張係数の点か
ら、Niはその一部をCoに置換できるので、Ni含有
量は27〜52%に規定する。また熱膨張係数はCoと
Niの含有量の合計によって決定されるので、CoとN
iの含有量は、30%≦Co+Ni≦55%に規定す
る。
【0023】その他、S、O、Nはそれぞれ硫化物、酸
化物、窒化物をつくってめっき性またはプレス金型寿命
を劣化させるので、それぞれ0.005%以下に抑える
ことが望ましい。
【0024】上述した方法により、他の特性を損なわず
にプレス打抜き加工性の極めて優れたFe−Ni系合金
薄板を得ることができる。
【0025】
【実施例】以下、本発明を実施例により説明する。表1
に示す組成の合金を真空高周波誘導炉にて溶解、鋳造し
た後、鍛造と熱間圧延で厚さ4mmとし、表面のスケー
ル除去により厚さ3.5mmとした。さらに、冷間圧延
と軟化焼鈍を繰り返し、一部の試料には固溶化処理と時
効処理を施し、最終的に厚さ0.2mmの板材とした。
【0026】
【表1】
【0027】これらのFe−Ni系合金薄板に含有され
るZr化合物の粒径および密度を以下の方法で測定し
た。すなわち、倍率5000倍の電子顕微鏡にて30視
野を観察し、確認された最長径0.5μm以上のZr化
合物の個数を1平方ミリメートル当たりに換算した個数
によって、本発明材料および比較材料を区別した。
【0028】表2には、所定の大きさのZr化合物の個
数の他、本発明の効果を評価する項目として、粒径5μ
m以上の炭化物の有無、表面欠陥の有無、めっき性、プ
レス打抜き加工時のバリ高さを示した。
【0029】
【表2】
【0030】5μm以上の炭化物の有無は、Zr化合物
数と同様に倍率5000倍の電子顕微鏡で30視野を観
察し、1個以上存在するものを有で示した。表面欠陥の
有無は板材の表裏5平方センチメートルを光学顕微鏡で
観察し、欠陥が確認されなかったものを無で示した。め
っき性は脱脂、酸処理後、厚さ0.5μmのCuストラ
イクめっきを施し、その上に厚さ3μmのAgめっきを
施した後、450℃で5分間大気中で加熱し、めっき膨
れの無いものを○、膨れの生じたものを×で評価した。
プレス打抜き加工時のバリは、金型のクリアランスを1
0μmに設定して直径1mmの円形孔を打抜いた部分の
バリの高さを測定した。
【0031】表1において、記号(A〜G)が本発明対
象合金、(H〜N)が比較合金である。表中において、
(A〜C)はそれぞれインバー、コバールおよび42合
金に、Zr化合物を含有させたものである。(C〜G)
および(K)、(L)は、42合金へのZrの含有量を
変えたものである。また、(H、I、J)は一般に用い
られるインバー、コバール、42合金であり、Zr化合
物を含有していない。比較材料(H、I、J)はZrを
含有しないか、あるいは含有量が少ないため、粒径0.
5μm以上のZr化合物を含有していない。
【0032】表中において、粒径0.5μm以上のZr
化合物を含有した本発明材料(A〜G)はいずれも、含
有しない比較材料(H、I、J)に比べてプレス打抜き
加工時のバリが極めて小さい。例えば通常のインバー
(H)に比較して、所定量のZr化合物を含有した
(A)のバリの高さは半分以下である。(B’、D’、
F’)はそれぞれ(B、D、F)に固溶化処理および析
出処理を施したものであるが、いずれも所定の大きさの
Zr化合物が極めて多くなり、バリがさらに改善されて
いる。(K)はZrの含有量が本発明の規定より少な
く、所定量のZr化合物を含有していない。このため、
バリの改善が不十分である。逆に(L)はZrの含有量
が本発明の規定より多いため、めっき性が劣化してい
る。(M)はSiの含有量が本発明の規定より高いた
め、めっき性が劣化している。(N)はCが本発明の規
定より高いため、直径5μm以上の炭化物が発生してお
り、プレス金型寿命の劣化が必至である。
【0033】本発明材料はいずれも従来材料と同等の良
好な表面性状、めっき性、低熱膨張特性を示すことか
ら、Zr化合物を含有させ、C、Siを制御することに
よって、これらの基本特性を損なうことなくプレス打抜
き性の向上を達成することが判る。
【0034】
【発明の効果】以上に述べたように、本発明の電子部品
用Fe−Ni系合金薄板であれば、表面性状、めっき
性、低熱膨張特性、金型寿命のいずれをも維持した上
で、優れたプレス打抜き加工性を提供することができ
る。したがって本発明の電子部品用Fe−Ni系合金薄
板は、リードフレーム等の電子部品材料の加工形状の微
細化、高精度化に対応が可能であり、工業上の効果は極
めて大きい。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 重量%にて、Ni:30〜55%、C:
    0.02%以下、Mn:1.5%以下、Si:0.3%
    以下、Zr:0.03〜0.5%、残部は不純物を除き
    実質的にFeである組成を有し、最長径0.5μm以上
    のZr化合物を、圧延方向および厚さ方向に平行な断面
    1平方ミリメートル当たり10000個〜500000
    個含有することを特徴とする電子部品用Fe−Ni系合
    金薄板。
  2. 【請求項2】 重量%にて、Ni:27〜52%、C
    o:22%以下、 C:0.02%以下、Mn:1.5
    %以下、Si:0.3%以下、Zr:0.03〜0.5
    %、残部は不純物を除き実質的にFeである組成を有
    し、CoとNiの含有量は30%≦Co+Ni≦55%
    の関係を満足し、最長径0.5μm以上のZr化合物
    を、圧延方向および厚さ方向に垂直な断面1平方ミリメ
    ートル当たり10000個〜500000個含有するこ
    とを特徴とする電子部品用Fe−Ni系合金薄板。
JP10281298A 1998-04-14 1998-04-14 電子部品用Fe−Ni系合金薄板 Pending JPH11293408A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7641169B2 (en) 2003-05-29 2010-01-05 Sumitomo Metal Industries, Ltd. Substrate for a stamper

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US7641169B2 (en) 2003-05-29 2010-01-05 Sumitomo Metal Industries, Ltd. Substrate for a stamper

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