JPH11304884A - 大型回路板用プローバ - Google Patents
大型回路板用プローバInfo
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- JPH11304884A JPH11304884A JP11533398A JP11533398A JPH11304884A JP H11304884 A JPH11304884 A JP H11304884A JP 11533398 A JP11533398 A JP 11533398A JP 11533398 A JP11533398 A JP 11533398A JP H11304884 A JPH11304884 A JP H11304884A
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- JP
- Japan
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- circuit board
- probe unit
- moving mechanism
- prober
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 装置の小型化及び軽量化を図り、コスト低減
を図る。 【解決手段】 本体フレーム39側に支持されると共に
回路板に接触して検査を行う複数の探針24を備えたプ
ローブユニット42と、回路板を支持してプローブユニ
ット42に臨ませるワークテーブル35と、このワーク
テーブル35と前記プローブユニット42とをXYZ軸
方向及び回転方向に相対的に動かして微調整を行う移動
機構32,33,34,38とを備えた大型回路板用プ
ローバ30である。Y軸移動機構38を本体フレーム3
9側に設けた。このY軸移動機構38の移動量を大きく
設定して取付け・取外し機構を構成し、プローブユニッ
ト42の交換作業の際に、プローブユニット42をY軸
方向に大きく移動させて交換する。ワークテーブル35
はY軸移動機構38の分だけ低くなり、装置が小型にな
る。
を図る。 【解決手段】 本体フレーム39側に支持されると共に
回路板に接触して検査を行う複数の探針24を備えたプ
ローブユニット42と、回路板を支持してプローブユニ
ット42に臨ませるワークテーブル35と、このワーク
テーブル35と前記プローブユニット42とをXYZ軸
方向及び回転方向に相対的に動かして微調整を行う移動
機構32,33,34,38とを備えた大型回路板用プ
ローバ30である。Y軸移動機構38を本体フレーム3
9側に設けた。このY軸移動機構38の移動量を大きく
設定して取付け・取外し機構を構成し、プローブユニッ
ト42の交換作業の際に、プローブユニット42をY軸
方向に大きく移動させて交換する。ワークテーブル35
はY軸移動機構38の分だけ低くなり、装置が小型にな
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶板等のよう
に、薄板の表面に回路を構成した回路板の回路の特性試
験等を行う際に用いるプローバに関し、特に回路板の大
型化に対応した大型回路板用プローバに関する。
に、薄板の表面に回路を構成した回路板の回路の特性試
験等を行う際に用いるプローバに関し、特に回路板の大
型化に対応した大型回路板用プローバに関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、液晶板等の回路板の検査を行う
プローバ1は、図2に示すように主に、カセット設置台
部2と、ローダ/アンローダ部3と、ワークテーブル部
4と、プリアライメント機構5とから構成されている。
これらのうち、カセット設置台部2は後方(図中の上
方)に位置し、ローダ/アンローダ部3は中央部に、ワ
ークテーブル部4は前方の左側に、プリアライメント機
構5は前方の右側にそれぞれ配設されている。
プローバ1は、図2に示すように主に、カセット設置台
部2と、ローダ/アンローダ部3と、ワークテーブル部
4と、プリアライメント機構5とから構成されている。
これらのうち、カセット設置台部2は後方(図中の上
方)に位置し、ローダ/アンローダ部3は中央部に、ワ
ークテーブル部4は前方の左側に、プリアライメント機
構5は前方の右側にそれぞれ配設されている。
【0003】カセット設置台部2は、検査対象である液
晶板等のガラス基板5を収納するカセット6,7が設置
される台部である。このカセット設置台部2のうち、検
査対象のガラス基板5が収納されたカセット6が右側に
載置され、検査後のガラス基板5が収納される空のカセ
ット7が左側に載置される。各カセット6,7はカセッ
ト設置台部2上で正確に位置決めされる。これは、ロー
ダ/アンローダ部3でのガラス基板5のロード/アンロ
ードが正確に行えるようにするためである。各カセット
6,7は、AGV方式およびMGV方式に対応するよう
に構成されている。なお、AGV方式では、バッテリを
原動力とした無人搬送車が用いられる。この無人搬送車
は、軌道レールを必要とせず、床に貼られたガイドテー
プなどを追従する。また、MGV方式では、作業者の力
で走行させる台車が用いられる。
晶板等のガラス基板5を収納するカセット6,7が設置
される台部である。このカセット設置台部2のうち、検
査対象のガラス基板5が収納されたカセット6が右側に
載置され、検査後のガラス基板5が収納される空のカセ
ット7が左側に載置される。各カセット6,7はカセッ
ト設置台部2上で正確に位置決めされる。これは、ロー
ダ/アンローダ部3でのガラス基板5のロード/アンロ
ードが正確に行えるようにするためである。各カセット
6,7は、AGV方式およびMGV方式に対応するよう
に構成されている。なお、AGV方式では、バッテリを
原動力とした無人搬送車が用いられる。この無人搬送車
は、軌道レールを必要とせず、床に貼られたガイドテー
プなどを追従する。また、MGV方式では、作業者の力
で走行させる台車が用いられる。
【0004】中央のローダ/アンローダ部3には2枚の
搬送アーム8,9が設けられている。各搬送アーム8,
9は一体となって左右に移動できるようになっている。
これにより、各搬送アーム8,9は、カセット設置台部
2の2つのカセット6,7の正面に位置できるようにな
っている。各搬送アーム8,9の先端には、ガラス基板
5を支持してカセット6,7に対して出し入れすると共
に搬送するための支持用フォーク8A,9Aが設けられ
ている。これらのうち、一方の搬送アーム8はカセット
6内に収納されているガラス基板5をプリアライメント
機構5及びワークテーブル部4へ搬送する。他方の搬送
アーム9は、測定終了後のガラス基板をワークテーブル
部4からカセット7内へ搬送する。
搬送アーム8,9が設けられている。各搬送アーム8,
9は一体となって左右に移動できるようになっている。
これにより、各搬送アーム8,9は、カセット設置台部
2の2つのカセット6,7の正面に位置できるようにな
っている。各搬送アーム8,9の先端には、ガラス基板
5を支持してカセット6,7に対して出し入れすると共
に搬送するための支持用フォーク8A,9Aが設けられ
ている。これらのうち、一方の搬送アーム8はカセット
6内に収納されているガラス基板5をプリアライメント
機構5及びワークテーブル部4へ搬送する。他方の搬送
アーム9は、測定終了後のガラス基板をワークテーブル
部4からカセット7内へ搬送する。
【0005】ワークテーブル部4は、図3,4に示すよ
うに構成されている。なお、図3はワークテーブル部4
を示す分解斜視図、図4はワークテーブル部4の概略構
成図である。このワークテーブル部4は、ステージベー
ス11上にY軸移動機構12が搭載され、その上にX軸
移動機構13、θ軸移動機構14、Z軸移動機構15及
びワークテーブル16が順次搭載され、さらにこれらの
機構を囲繞して本体フレーム18がステージベース11
上に取付けられて、全体が構成されている。このワーク
テーブル部4は、ワークテーブル16上にガラス基板を
真空で吸着固定し、Y軸移動機構12、X軸移動機構1
3、θ軸移動機構14及びZ軸移動機構15で特定位置
へ移動させて位置決めを行うようになっている。
うに構成されている。なお、図3はワークテーブル部4
を示す分解斜視図、図4はワークテーブル部4の概略構
成図である。このワークテーブル部4は、ステージベー
ス11上にY軸移動機構12が搭載され、その上にX軸
移動機構13、θ軸移動機構14、Z軸移動機構15及
びワークテーブル16が順次搭載され、さらにこれらの
機構を囲繞して本体フレーム18がステージベース11
上に取付けられて、全体が構成されている。このワーク
テーブル部4は、ワークテーブル16上にガラス基板を
真空で吸着固定し、Y軸移動機構12、X軸移動機構1
3、θ軸移動機構14及びZ軸移動機構15で特定位置
へ移動させて位置決めを行うようになっている。
【0006】ワークテーブル16の上方には、図2に示
すように、プローブコンタクト部20が設けられ、ワー
クテーブル16上のガラス基板の測定を行う。このプロ
ーブコンタクト部20は、ガラス基板と電気的接触によ
る検査を行う部位であり、主にべースプレート22(図
4参照)とプローブユニット23で構成されている。プ
ローブユニット23には、複数本の探針24を有するプ
ローブブロック25が搭載されている。
すように、プローブコンタクト部20が設けられ、ワー
クテーブル16上のガラス基板の測定を行う。このプロ
ーブコンタクト部20は、ガラス基板と電気的接触によ
る検査を行う部位であり、主にべースプレート22(図
4参照)とプローブユニット23で構成されている。プ
ローブユニット23には、複数本の探針24を有するプ
ローブブロック25が搭載されている。
【0007】プリアライメント機構5は、搬送アーム8
の支持用フォーク8A上に支持されたガラス基板の位置
を調整するためのものである。搬送アーム8の支持用フ
ォーク8Aでカセット6から取り出されたガラス基板
は、このプリアライメント機構5で微調整されてワーク
テーブル部4に正確に載置される。
の支持用フォーク8A上に支持されたガラス基板の位置
を調整するためのものである。搬送アーム8の支持用フ
ォーク8Aでカセット6から取り出されたガラス基板
は、このプリアライメント機構5で微調整されてワーク
テーブル部4に正確に載置される。
【0008】[動作]以上のように構成されたプローバ
1は以下のように動作する。
1は以下のように動作する。
【0009】まず、AGVまたはMGV方式のカセット
台車(図示せず)からガラス基板が収納されたカセット
6が、プローバ1のカセット設置台部2の一方に載置さ
れる。また、他方にはガラス基板が収納されていない空
のカセット7が載置される。
台車(図示せず)からガラス基板が収納されたカセット
6が、プローバ1のカセット設置台部2の一方に載置さ
れる。また、他方にはガラス基板が収納されていない空
のカセット7が載置される。
【0010】次いで、ローダ/アンローダ部3の一方の
搬送アーム8がカセット6内からガラス基板を取り出
し、プリアライメント機構5に搬送する。このプリアラ
イメント機構5では、一方の搬送アーム8の支持用フォ
ーク8A上のガラス基板の位置が微調整されてワークテ
ーブル部4に搬送される。
搬送アーム8がカセット6内からガラス基板を取り出
し、プリアライメント機構5に搬送する。このプリアラ
イメント機構5では、一方の搬送アーム8の支持用フォ
ーク8A上のガラス基板の位置が微調整されてワークテ
ーブル部4に搬送される。
【0011】搬送アーム8でワークテーブル部4に搬送
されたガラス基板はワークテーブル16上に載置され、
このワークテーブル16で真空吸着される。このとき、
既に電気的検査が終了したガラス基板がある場合は、そ
のガラス基板が他方の搬送アーム9で取り出され、その
後に一方の搬送アーム8上のガラス基板がワークテーブ
ル16上に載置される。
されたガラス基板はワークテーブル16上に載置され、
このワークテーブル16で真空吸着される。このとき、
既に電気的検査が終了したガラス基板がある場合は、そ
のガラス基板が他方の搬送アーム9で取り出され、その
後に一方の搬送アーム8上のガラス基板がワークテーブ
ル16上に載置される。
【0012】一方の搬送アーム8上のガラス基板が載置
された後は、他方の搬送アーム9上のガラス基板がカセ
ット設置台部2の他方の空のカセット7まで搬送されて
内部に収納される。
された後は、他方の搬送アーム9上のガラス基板がカセ
ット設置台部2の他方の空のカセット7まで搬送されて
内部に収納される。
【0013】ワークテーブル16上に載置されたガラス
基板は、ワークテーブル部4のY軸移動機構12、X軸
移動機構13及びθ軸移動機構14によって、プローブ
ブロック25の探針24に対するアライメントが行われ
る。さらに、Z軸移動機構15が稼動してワークテーブ
ル16が上昇し、ガラス基板が探針24に接触され、オ
ーバードライブがかけられる。
基板は、ワークテーブル部4のY軸移動機構12、X軸
移動機構13及びθ軸移動機構14によって、プローブ
ブロック25の探針24に対するアライメントが行われ
る。さらに、Z軸移動機構15が稼動してワークテーブ
ル16が上昇し、ガラス基板が探針24に接触され、オ
ーバードライブがかけられる。
【0014】次いで、ガラス基板の電気的検査が行われ
る。電気的検査が終了したガラス基板は、前述した他方
の搬送アーム9でカセット設置台部2の他方の空のカセ
ット7まで搬送されて収納される。
る。電気的検査が終了したガラス基板は、前述した他方
の搬送アーム9でカセット設置台部2の他方の空のカセ
ット7まで搬送されて収納される。
【0015】以上の作業は、カセット6内のガラス基板
が空になるまで繰り返される。
が空になるまで繰り返される。
【0016】一方、検査対象となるガラス基板は複数種
類あるので、その種類が変わるときはプローブユニット
23を交換する必要がある。
類あるので、その種類が変わるときはプローブユニット
23を交換する必要がある。
【0017】この交換作業の際には、図5に示すよう
に、オペレータ26がプローブユニット23に手を伸ば
してこのプローブユニット23の固定を解除し、手前に
引き出してP/U品種交換台車21(図12参照)に載
せる。そして、P/U品種交換台車21で保管場所まで
運んで収納保管する。次いで、新しいプローブユニット
23をP/U品種交換台車21に載せて保管場所からプ
ローバまで運び、プローブコンタクト部20に装着す
る。
に、オペレータ26がプローブユニット23に手を伸ば
してこのプローブユニット23の固定を解除し、手前に
引き出してP/U品種交換台車21(図12参照)に載
せる。そして、P/U品種交換台車21で保管場所まで
運んで収納保管する。次いで、新しいプローブユニット
23をP/U品種交換台車21に載せて保管場所からプ
ローバまで運び、プローブコンタクト部20に装着す
る。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】近年のガラス基板等の
回路板は、そのサイズが次第に拡大する傾向がある。そ
して、この回路板のサイズ拡大に伴ってプローブユニッ
ト23等も大きくする必要が生じた。さらに、Y軸移動
機構12等の移動量も大きくする必要が生じた。
回路板は、そのサイズが次第に拡大する傾向がある。そ
して、この回路板のサイズ拡大に伴ってプローブユニッ
ト23等も大きくする必要が生じた。さらに、Y軸移動
機構12等の移動量も大きくする必要が生じた。
【0019】この場合、Y軸移動機構12からZ軸移動
機構15までの装置が大型化するが、装置が大型化して
も各機構の精度は高く維持する必要がある。各機構を高
精度に維持するためには、ステージベース11を単純に
大型化するだけでは足りず、強度を大幅に増大させなけ
ればならない。これは、ワークテーブル16上の回路板
とプローブユニット23との間を数μm単位の精度に維
持する必要があるためである。このため、ステージベー
ス11の強度を高めて、Y軸移動機構12等のステージ
ベース11上での移動による偏荷重に対して、ワークテ
ーブル16の撓みを最小限に抑える必要がある。
機構15までの装置が大型化するが、装置が大型化して
も各機構の精度は高く維持する必要がある。各機構を高
精度に維持するためには、ステージベース11を単純に
大型化するだけでは足りず、強度を大幅に増大させなけ
ればならない。これは、ワークテーブル16上の回路板
とプローブユニット23との間を数μm単位の精度に維
持する必要があるためである。このため、ステージベー
ス11の強度を高めて、Y軸移動機構12等のステージ
ベース11上での移動による偏荷重に対して、ワークテ
ーブル16の撓みを最小限に抑える必要がある。
【0020】さらに、ステージベース11の大型化、高
強度化は、本体フレーム18等を含むプローバ1全体の
大型化及び重量の増大を招いてしまう。このため、プロ
ーバ1が据え付けられる床に対しても十分な強度が要求
されると共に、床の専有面積も増大してしまう。
強度化は、本体フレーム18等を含むプローバ1全体の
大型化及び重量の増大を招いてしまう。このため、プロ
ーバ1が据え付けられる床に対しても十分な強度が要求
されると共に、床の専有面積も増大してしまう。
【0021】また、プローバ1の大型化は、作業効率の
悪化も招いてしまう。即ち、プローバ1の大型化、特に
Y軸移動機構12からZ軸移動機構15までの装置の大
型化に伴ってプローブコンタクト部20の位置が高くな
るため、装置の端からプローブユニット23までの位置
が遠くなる。このため、図5に示すように、プローブユ
ニット23の交換作業の際に、オペレータ26がプロー
ブユニット23を取り外してP/U品種交換台車21に
載せる作業及び新しいプローブユニット23をP/U品
種交換台車21からプローブコンタクト部20に装着す
る作業が困難になる。
悪化も招いてしまう。即ち、プローバ1の大型化、特に
Y軸移動機構12からZ軸移動機構15までの装置の大
型化に伴ってプローブコンタクト部20の位置が高くな
るため、装置の端からプローブユニット23までの位置
が遠くなる。このため、図5に示すように、プローブユ
ニット23の交換作業の際に、オペレータ26がプロー
ブユニット23を取り外してP/U品種交換台車21に
載せる作業及び新しいプローブユニット23をP/U品
種交換台車21からプローブコンタクト部20に装着す
る作業が困難になる。
【0022】本発明はこのような問題点に鑑みてなされ
たもので、測定対象の回路板の大型化に伴う装置の大型
化を最小限に抑えて、装置の大型化に伴う種々の問題を
解消した大型回路板用プローバを提供することを目的と
する。
たもので、測定対象の回路板の大型化に伴う装置の大型
化を最小限に抑えて、装置の大型化に伴う種々の問題を
解消した大型回路板用プローバを提供することを目的と
する。
【0023】
【課題を解決するための手段】第1の発明に係る大型回
路板用プローバは、本体フレーム側に支持されると共に
検査対象の回路板に接触して検査を行う複数の探針を備
えたプローブユニットと、検査対象の回路板を支持して
前記プローブユニットに臨ませるワークテーブルと、こ
のワークテーブルと前記プローブユニットとをXYZ軸
方向及び回転方向に相対的に動かして微調整を行う移動
機構とを備えてなる大型回路板用プローバにおいて、前
記XYZ軸方向及び回転方向の移動機構の一部を本体フ
レーム側に設けて、前記プローブユニットを移動させる
ことを特徴とする。
路板用プローバは、本体フレーム側に支持されると共に
検査対象の回路板に接触して検査を行う複数の探針を備
えたプローブユニットと、検査対象の回路板を支持して
前記プローブユニットに臨ませるワークテーブルと、こ
のワークテーブルと前記プローブユニットとをXYZ軸
方向及び回転方向に相対的に動かして微調整を行う移動
機構とを備えてなる大型回路板用プローバにおいて、前
記XYZ軸方向及び回転方向の移動機構の一部を本体フ
レーム側に設けて、前記プローブユニットを移動させる
ことを特徴とする。
【0024】前記構成により、本体フレーム側に設けら
れた移動機構の分だけワークテーブルを低くすることが
できる。また、可動部である移動機構の一部を本体フレ
ーム側に設けて可動部の重量増加を低減できる。これら
により、装置全体の小型化及び軽量化を図ることができ
る。
れた移動機構の分だけワークテーブルを低くすることが
できる。また、可動部である移動機構の一部を本体フレ
ーム側に設けて可動部の重量増加を低減できる。これら
により、装置全体の小型化及び軽量化を図ることができ
る。
【0025】第2の発明に係るプローバは、本体フレー
ム側に支持されると共に検査対象の回路板に接触して検
査を行う複数の探針を備えたプローブユニットと、検査
対象の回路板を支持して前記プローブユニットに臨ませ
るワークテーブルと、このワークテーブルと前記プロー
ブユニットとをXYZ軸方向及び回転方向に相対的に動
かして微調整を行う移動機構とを備えてなる大型回路板
用プローバにおいて、前記本体フレーム側に設けられ、
前記プローブユニットをその取り出しのために装置端部
まで移動させる取付け・取外し機構を備えたことを特徴
とする。
ム側に支持されると共に検査対象の回路板に接触して検
査を行う複数の探針を備えたプローブユニットと、検査
対象の回路板を支持して前記プローブユニットに臨ませ
るワークテーブルと、このワークテーブルと前記プロー
ブユニットとをXYZ軸方向及び回転方向に相対的に動
かして微調整を行う移動機構とを備えてなる大型回路板
用プローバにおいて、前記本体フレーム側に設けられ、
前記プローブユニットをその取り出しのために装置端部
まで移動させる取付け・取外し機構を備えたことを特徴
とする。
【0026】前記構成により、検査対象の回路板の変更
に対応してプローブユニットを交換する場合は、取付け
・取外し機構でプローブユニットを本体フレームの端部
まで移動させる。これにより、オペレータは、容易にプ
ローブユニットを交換することができる。
に対応してプローブユニットを交換する場合は、取付け
・取外し機構でプローブユニットを本体フレームの端部
まで移動させる。これにより、オペレータは、容易にプ
ローブユニットを交換することができる。
【0027】第3の発明に係るプローバは、第2の発明
に係る大型回路板用プローバにおいて、前記取付け・取
外し機構が、X軸方向又はY軸方向に移動するように設
定されたことを特徴とする。
に係る大型回路板用プローバにおいて、前記取付け・取
外し機構が、X軸方向又はY軸方向に移動するように設
定されたことを特徴とする。
【0028】前記構成により、装置の設置状況等を考慮
して取付け・取外し機構の取り出し方向をX軸方向又は
Y軸方向に設定する。これにより、取り出し作業性が向
上する。
して取付け・取外し機構の取り出し方向をX軸方向又は
Y軸方向に設定する。これにより、取り出し作業性が向
上する。
【0029】第4の発明に係るプローバは、第2の発明
に係る大型回路板用プローバにおいて、前記取付け・取
外し機構が、本体フレーム側に設けられ、移動量を大き
く設定されたX軸移動機構又はY軸移動機構によって構
成されたことを特徴とする。
に係る大型回路板用プローバにおいて、前記取付け・取
外し機構が、本体フレーム側に設けられ、移動量を大き
く設定されたX軸移動機構又はY軸移動機構によって構
成されたことを特徴とする。
【0030】前記構成により、取付け・取外し機構をX
軸移動機構で構成した場合は、X軸方向にプローブユニ
ットが移動されて取り出される。取付け・取外し機構を
Y軸移動機構で構成した場合は、Y軸方向にプローブユ
ニットが移動されて取り出される。これらを装置の設置
状況等に応じて適宜選択する。
軸移動機構で構成した場合は、X軸方向にプローブユニ
ットが移動されて取り出される。取付け・取外し機構を
Y軸移動機構で構成した場合は、Y軸方向にプローブユ
ニットが移動されて取り出される。これらを装置の設置
状況等に応じて適宜選択する。
【0031】第5の発明に係るプローバは、前記本体フ
レーム側に設けられたX軸移動機構又はY軸移動機構に
より、移動しなくなる他の移動機構のX軸方向又はY軸
方向の端部に、制御系部品を収納する収納スペースが設
けられたことを特徴とする。
レーム側に設けられたX軸移動機構又はY軸移動機構に
より、移動しなくなる他の移動機構のX軸方向又はY軸
方向の端部に、制御系部品を収納する収納スペースが設
けられたことを特徴とする。
【0032】前記構成により、各移動機構等を制御する
制御系部品は、本体フレーム内に設けられた収納スペー
スに収納されるため、別体としての制御系部品の収納空
間が不要となり、装置の小型化に寄与し得る。
制御系部品は、本体フレーム内に設けられた収納スペー
スに収納されるため、別体としての制御系部品の収納空
間が不要となり、装置の小型化に寄与し得る。
【0033】第6の発明に係るプローバは、第2乃至第
4の発明のいずれかに係る大型回路板用プローバにおい
て、前記取付け・取外し機構の取り出し側端部の下側
に、作業空間を形成したことを特徴とする。
4の発明のいずれかに係る大型回路板用プローバにおい
て、前記取付け・取外し機構の取り出し側端部の下側
に、作業空間を形成したことを特徴とする。
【0034】前記構成により、オペレータは、取付け・
取外し機構で端部まで移動されたプローブユニットを持
ち上げるときに、作業空間に足を入れて踏ん張る。これ
により、プローブユニットの交換作業が容易になる。
取外し機構で端部まで移動されたプローブユニットを持
ち上げるときに、作業空間に足を入れて踏ん張る。これ
により、プローブユニットの交換作業が容易になる。
【0035】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る大型回路板用
プローバについて、添付図面を参照しながら説明する。
なお、本実施形態の大型回路板用プローバの全体構成
は、その重量及び大きさを除いて、前述した従来のプロ
ーバ1とほぼ同様であるため、同一部材には同一符号を
付してその説明を省略する。本実施形態の大型回路板用
プローバの特徴は、従来のプローバのワークテーブル部
4を改良した点にある。
プローバについて、添付図面を参照しながら説明する。
なお、本実施形態の大型回路板用プローバの全体構成
は、その重量及び大きさを除いて、前述した従来のプロ
ーバ1とほぼ同様であるため、同一部材には同一符号を
付してその説明を省略する。本実施形態の大型回路板用
プローバの特徴は、従来のプローバのワークテーブル部
4を改良した点にある。
【0036】[第1実施形態]図1は本実施形態に係る
大型回路板用プローバ30のワークテーブル部31を示
す斜視図、図6は図1のワークテーブル部31の正面
図、図7は図1のワークテーブル部31の平面図、図8
は図1のワークテーブル部31の側面図、図9は図1の
ワークテーブル部31の分解斜視図、図10は図1のワ
ークテーブル部31の概略構成図、図11はプローブユ
ニット42の取り出し作業例を示す模式図、図12は大
型回路板用プローバの全体構成図である。
大型回路板用プローバ30のワークテーブル部31を示
す斜視図、図6は図1のワークテーブル部31の正面
図、図7は図1のワークテーブル部31の平面図、図8
は図1のワークテーブル部31の側面図、図9は図1の
ワークテーブル部31の分解斜視図、図10は図1のワ
ークテーブル部31の概略構成図、図11はプローブユ
ニット42の取り出し作業例を示す模式図、図12は大
型回路板用プローバの全体構成図である。
【0037】ワークテーブル部31は、図1、図6〜図
10に示すように、X軸移動機構32、θ軸移動機構3
3、Z軸移動機構34、ワークテーブル35、ステージ
ベース36及び本体フレーム39を備えて構成されてい
る。X軸移動機構32はステージベース36の上面に搭
載されている。このX軸移動機構32の上面にθ軸移動
機構33が、さらにその上面にZ軸移動機構34が設け
られ、このZ軸移動機構34上面にワークテーブル35
が搭載されている。さらに、本体フレーム39は、ステ
ージベース36上に前記X軸移動機構32、θ軸移動機
構33、Z軸移動機構34及びワークテーブル35を囲
んで取付けられている。以上の構成のワークテーブル部
31にはY軸移動機構38は設けられていない。
10に示すように、X軸移動機構32、θ軸移動機構3
3、Z軸移動機構34、ワークテーブル35、ステージ
ベース36及び本体フレーム39を備えて構成されてい
る。X軸移動機構32はステージベース36の上面に搭
載されている。このX軸移動機構32の上面にθ軸移動
機構33が、さらにその上面にZ軸移動機構34が設け
られ、このZ軸移動機構34上面にワークテーブル35
が搭載されている。さらに、本体フレーム39は、ステ
ージベース36上に前記X軸移動機構32、θ軸移動機
構33、Z軸移動機構34及びワークテーブル35を囲
んで取付けられている。以上の構成のワークテーブル部
31にはY軸移動機構38は設けられていない。
【0038】本体フレーム39は、従来の本体フレーム
18とほぼ同様に、四角形の棒材を立方体状に組み立て
て構成されている。さらに、本実施形態の本体フレーム
39には、Y軸移動機構38が搭載されるY軸移動機構
搭載部39Aが形成されている。また、本体フレーム3
9のY軸方向前面側(図8の右側)には、プローブユニ
ット42をY軸方向前面側に引き出すときにプローブブ
ロック43が接触しないように窪ませて形成されたプロ
ーブユニット出し入れ用開口39Bが形成されている。
さらに、本体フレーム39のY軸方向前面側には、プロ
ーブユニット出し入れ用開口39Bの両側に張り出し部
39Cが形成されている。各張り出し部39Cには、後
述する摺動部47のリニアレール56とボールスクリュ
ー60が端部まで延長して設けられている。これは、P
/Uスライドベース46を前方へ最大限に引き出せるよ
うにするためである。また、張り出し部39Cの下部に
は、オペレータ26がプローブユニット42を持ち上げ
るときに足を踏ん張るための作業空間39D(図11参
照)が形成されている。
18とほぼ同様に、四角形の棒材を立方体状に組み立て
て構成されている。さらに、本実施形態の本体フレーム
39には、Y軸移動機構38が搭載されるY軸移動機構
搭載部39Aが形成されている。また、本体フレーム3
9のY軸方向前面側(図8の右側)には、プローブユニ
ット42をY軸方向前面側に引き出すときにプローブブ
ロック43が接触しないように窪ませて形成されたプロ
ーブユニット出し入れ用開口39Bが形成されている。
さらに、本体フレーム39のY軸方向前面側には、プロ
ーブユニット出し入れ用開口39Bの両側に張り出し部
39Cが形成されている。各張り出し部39Cには、後
述する摺動部47のリニアレール56とボールスクリュ
ー60が端部まで延長して設けられている。これは、P
/Uスライドベース46を前方へ最大限に引き出せるよ
うにするためである。また、張り出し部39Cの下部に
は、オペレータ26がプローブユニット42を持ち上げ
るときに足を踏ん張るための作業空間39D(図11参
照)が形成されている。
【0039】また、本体フレーム39内には、ワークテ
ーブル部31の各機構や後述するサーボモータ62等を
制御するための制御系部品を収納する収納スペース55
が設けられている。この収納スペース55は、ワークテ
ーブル部31にY軸移動機構38を設けないことにより
できる空間である。即ち、本体フレーム39内に収納さ
れるワークテーブル部31は、Y軸移動機構38がない
ため、Y軸方向に移動することがない。このため、本体
フレーム39内のY軸方向奥部は、ワークテーブル部3
1の移動に関してデッドスペースとなり、収納スペース
55を確保することができることとなる。
ーブル部31の各機構や後述するサーボモータ62等を
制御するための制御系部品を収納する収納スペース55
が設けられている。この収納スペース55は、ワークテ
ーブル部31にY軸移動機構38を設けないことにより
できる空間である。即ち、本体フレーム39内に収納さ
れるワークテーブル部31は、Y軸移動機構38がない
ため、Y軸方向に移動することがない。このため、本体
フレーム39内のY軸方向奥部は、ワークテーブル部3
1の移動に関してデッドスペースとなり、収納スペース
55を確保することができることとなる。
【0040】プローブコンタクト部41は測定対象のガ
ラス基板と電気的に接触して測定を行う部位である。こ
のプローブコンタクト部41は、プローブユニット42
とY軸移動機構38とから構成されている。プローブユ
ニット42は、ガラス基板が搭載されるワークテーブル
35に面した状態でY軸移動機構38に支持されてい
る。このプローブユニット42には、複数のプローブブ
ロック43と、このプローブブロック43を支持してY
軸移動機構38側に取り付けられるブロック支持板44
とから構成されている。プローブブロック43には、そ
の先端に複数の探針24(図2参照)が取り付けられて
いる。この探針24がガラス基板に接触して電気的な測
定が行われる。
ラス基板と電気的に接触して測定を行う部位である。こ
のプローブコンタクト部41は、プローブユニット42
とY軸移動機構38とから構成されている。プローブユ
ニット42は、ガラス基板が搭載されるワークテーブル
35に面した状態でY軸移動機構38に支持されてい
る。このプローブユニット42には、複数のプローブブ
ロック43と、このプローブブロック43を支持してY
軸移動機構38側に取り付けられるブロック支持板44
とから構成されている。プローブブロック43には、そ
の先端に複数の探針24(図2参照)が取り付けられて
いる。この探針24がガラス基板に接触して電気的な測
定が行われる。
【0041】Y軸移動機構38はプローブブロック43
をY軸方向に移動させて、ガラス基板とプローブブロッ
ク43とのY軸方向の微調整を行う機構である。即ち、
Y軸移動機構38は、X軸移動機構32等のようにガラ
ス基板を移動させる代わりに、プローブブロック43を
移動させて、ガラス基板とプローブブロック43との間
の微調整を行う。このY軸移動機構38は具体的には、
P/Uスライドベース46と、摺動部47と、駆動部4
8とから構成されている。
をY軸方向に移動させて、ガラス基板とプローブブロッ
ク43とのY軸方向の微調整を行う機構である。即ち、
Y軸移動機構38は、X軸移動機構32等のようにガラ
ス基板を移動させる代わりに、プローブブロック43を
移動させて、ガラス基板とプローブブロック43との間
の微調整を行う。このY軸移動機構38は具体的には、
P/Uスライドベース46と、摺動部47と、駆動部4
8とから構成されている。
【0042】P/Uスライドベース46は摺動部47に
支持されている。この摺動部47によって、P/Uスラ
イドベース46は本体フレーム39に対してY軸方向に
移動することができるようになっている。P/Uスライ
ドベース46にはプローブユニット42が取り付けられ
ている。このプローブユニット42は、ボルト等の固定
手段でP/Uスライドベース46に固定されている。
支持されている。この摺動部47によって、P/Uスラ
イドベース46は本体フレーム39に対してY軸方向に
移動することができるようになっている。P/Uスライ
ドベース46にはプローブユニット42が取り付けられ
ている。このプローブユニット42は、ボルト等の固定
手段でP/Uスライドベース46に固定されている。
【0043】P/Uスライドベース46は、その中央部
を大きく窪ませて形成されている。これは、本体フレー
ム39とP/Uスライドベース46との間に摺動部47
及び駆動部48を備えた状態で、プローブユニット42
をワークテーブル部31のワークテーブル35に面して
支持できるようにするためである。換言すれば、P/U
スライドベース46と本体フレーム39との間に摺動部
47及び駆動部48を組み込む空間を確保すると共にY
軸移動機構38の分だけ低くなったワークテーブル35
にプローブユニット42を対向させて支持するために、
P/Uスライドベース46の中央部を大きく窪ませて形
成されている。
を大きく窪ませて形成されている。これは、本体フレー
ム39とP/Uスライドベース46との間に摺動部47
及び駆動部48を備えた状態で、プローブユニット42
をワークテーブル部31のワークテーブル35に面して
支持できるようにするためである。換言すれば、P/U
スライドベース46と本体フレーム39との間に摺動部
47及び駆動部48を組み込む空間を確保すると共にY
軸移動機構38の分だけ低くなったワークテーブル35
にプローブユニット42を対向させて支持するために、
P/Uスライドベース46の中央部を大きく窪ませて形
成されている。
【0044】P/Uスライドベース46の中央の窪み部
51は前面が開口した形状になっている。即ち、窪み部
51は、立ち上げ壁52が両側面(図6中の左右両側
面)及び後側面(図1中の左側面)に形成され、前側面
(図中の右側面)が開放して形成されている。さらに、
この窪み部51の底面には、ほぼその全域を占める大き
さの切欠きが形成されている。この切欠きは前面が開放
されている。窪み部51の底面には、前記切欠きのため
に、3面の立ち上げ壁52の底部から水平に僅かに延び
たフランジ部53が形成されている。このフランジ部5
3にプローブユニット42が搭載されてボルト等で固定
されている。
51は前面が開口した形状になっている。即ち、窪み部
51は、立ち上げ壁52が両側面(図6中の左右両側
面)及び後側面(図1中の左側面)に形成され、前側面
(図中の右側面)が開放して形成されている。さらに、
この窪み部51の底面には、ほぼその全域を占める大き
さの切欠きが形成されている。この切欠きは前面が開放
されている。窪み部51の底面には、前記切欠きのため
に、3面の立ち上げ壁52の底部から水平に僅かに延び
たフランジ部53が形成されている。このフランジ部5
3にプローブユニット42が搭載されてボルト等で固定
されている。
【0045】摺動部47は、本体フレーム39側に取り
付けられたリニアレール56と、P/Uスライドベース
46側に取り付けられたリニアガイド57とから構成さ
れている。リニアレール56は、レールベース58を介
して本体フレーム39に、Y軸へ向けて固定されてい
る。このリニアレール56等は本体フレーム39の両側
にプローブユニット42を挟んで2本並列に配設されて
いる。リニアガイド57は、P/Uスライドベース46
の下側面であって、前記本体フレーム39側のリニアレ
ール56に対応する4カ所の位置にそれぞれ固定されて
いる。
付けられたリニアレール56と、P/Uスライドベース
46側に取り付けられたリニアガイド57とから構成さ
れている。リニアレール56は、レールベース58を介
して本体フレーム39に、Y軸へ向けて固定されてい
る。このリニアレール56等は本体フレーム39の両側
にプローブユニット42を挟んで2本並列に配設されて
いる。リニアガイド57は、P/Uスライドベース46
の下側面であって、前記本体フレーム39側のリニアレ
ール56に対応する4カ所の位置にそれぞれ固定されて
いる。
【0046】駆動部48は、2本設けられる摺動部47
のリニアレール56の一方(図1中の右方)に1つだけ
設けられている。この駆動部48は、リニアレール56
に並行して配設されたボールスクリュー60と、このボ
ールスクリュー60に螺合してボールスクリュー60の
回転に従って移動するリードナット61と、ボールスク
リュー60を回転駆動するサーボモータ62とから構成
されている。ボールスクリュー60はその両側を軸受6
3で本体フレーム39に対して回転可能に支持されてい
る。サーボモータ62は、ハウジング65に固定されて
いる。ボールスクリュー60とサーボモータ62とはカ
ップリング64を介して連結されている。リードナット
61はP/Uスライドベース46の裏面に固定されてい
る。これにより、P/Uスライドベース46は、摺動部
47に支持された状態で、サーボモータ62で駆動され
るボールスクリュー60によってリードナット61と共
にY軸方向に移動するようになっている。
のリニアレール56の一方(図1中の右方)に1つだけ
設けられている。この駆動部48は、リニアレール56
に並行して配設されたボールスクリュー60と、このボ
ールスクリュー60に螺合してボールスクリュー60の
回転に従って移動するリードナット61と、ボールスク
リュー60を回転駆動するサーボモータ62とから構成
されている。ボールスクリュー60はその両側を軸受6
3で本体フレーム39に対して回転可能に支持されてい
る。サーボモータ62は、ハウジング65に固定されて
いる。ボールスクリュー60とサーボモータ62とはカ
ップリング64を介して連結されている。リードナット
61はP/Uスライドベース46の裏面に固定されてい
る。これにより、P/Uスライドベース46は、摺動部
47に支持された状態で、サーボモータ62で駆動され
るボールスクリュー60によってリードナット61と共
にY軸方向に移動するようになっている。
【0047】前記X軸移動機構32、θ軸移動機構3
3、Z軸移動機構34及びY軸移動機構38等を制御す
る制御装置(図示せず)が、収納スペース55内に収納
されている。また、前記Y軸移動機構38は、プローブ
ユニット42をその取り出しのために装置端部まで移動
させる取付け・取外し機構を構成している。
3、Z軸移動機構34及びY軸移動機構38等を制御す
る制御装置(図示せず)が、収納スペース55内に収納
されている。また、前記Y軸移動機構38は、プローブ
ユニット42をその取り出しのために装置端部まで移動
させる取付け・取外し機構を構成している。
【0048】[動作]以上のように構成された大型回路
板用プローバ30は、ガラス基板の電気的検査の全体的
動作においては、前記従来のプローバ1とほぼ同様であ
る。そして、本実施形態の大型回路板用プローバ30で
は、ワークテーブル部31およびプローブコンタクト部
41の動作が従来のプローバ1と異なる。
板用プローバ30は、ガラス基板の電気的検査の全体的
動作においては、前記従来のプローバ1とほぼ同様であ
る。そして、本実施形態の大型回路板用プローバ30で
は、ワークテーブル部31およびプローブコンタクト部
41の動作が従来のプローバ1と異なる。
【0049】ガラス基板はワークテーブル35に真空吸
着される。ワークテーブル35はワークテーブル部31
のX軸移動機構32及びθ軸移動機構33によって、X
軸方向へ移動され、また回転される。
着される。ワークテーブル35はワークテーブル部31
のX軸移動機構32及びθ軸移動機構33によって、X
軸方向へ移動され、また回転される。
【0050】さらに、プローブコンタクト部41のY軸
移動機構38によって、プローブブロック43の探針2
4がY軸方向へ移動される。このY軸移動機構38にお
いては、サーボモータ62が制御装置からの制御信号に
よって適宜回転され、カップリング64を介して連結さ
れたボールスクリュー60が時計回り又は反時計回りに
適宜回転駆動される。摺動部47では、P/Uスライド
ベース46の裏面に取り付けられた複数のリニアガイド
57がリニアレール56上を摺動して、P/Uスライド
ベース46をY軸方向に移動させる。これにより、リー
ドナット61がY軸方向の前方又は後方に移動して、摺
動部47に支持されたP/Uスライドベース46が微調
整される。これにより、プローブブロック43の探針2
4とガラス基板との位置決めが行われる。
移動機構38によって、プローブブロック43の探針2
4がY軸方向へ移動される。このY軸移動機構38にお
いては、サーボモータ62が制御装置からの制御信号に
よって適宜回転され、カップリング64を介して連結さ
れたボールスクリュー60が時計回り又は反時計回りに
適宜回転駆動される。摺動部47では、P/Uスライド
ベース46の裏面に取り付けられた複数のリニアガイド
57がリニアレール56上を摺動して、P/Uスライド
ベース46をY軸方向に移動させる。これにより、リー
ドナット61がY軸方向の前方又は後方に移動して、摺
動部47に支持されたP/Uスライドベース46が微調
整される。これにより、プローブブロック43の探針2
4とガラス基板との位置決めが行われる。
【0051】さらに、ワークテーブル部31のZ軸移動
機構34によってワークテーブル35が上昇し、ガラス
基板がプローブユニット42に搭載されたプローブブロ
ック43の探針24と接触する。さらに、Z軸移動機構
34によってワークテーブル35が上昇し、探針24に
オーバードライブがかかる。その後、ガラス基板の電気
的検査が行われる。
機構34によってワークテーブル35が上昇し、ガラス
基板がプローブユニット42に搭載されたプローブブロ
ック43の探針24と接触する。さらに、Z軸移動機構
34によってワークテーブル35が上昇し、探針24に
オーバードライブがかかる。その後、ガラス基板の電気
的検査が行われる。
【0052】一方、ガラス基板には種々の種類があるた
め、検査対象のガラス基板が代わると、それに応じてプ
ローブユニット42を用意する必要がある。このため、
ガラス基板に応じてプローブユニット42を交換するこ
とになる。
め、検査対象のガラス基板が代わると、それに応じてプ
ローブユニット42を用意する必要がある。このため、
ガラス基板に応じてプローブユニット42を交換するこ
とになる。
【0053】このときは、まずY軸移動機構38のサー
ボモータ62によってボールスクリュー60を一方向に
連続して回転させ、リードナット61をY軸方向の前方
に移動させる。これにより、摺動部47に支持されたP
/Uスライドベース46は、張り出し部39Cの端部ま
で延長して設けられたリニアレール56に案内されて前
方へ最大限に引き出されて、オペレータ26の手元まで
移動する。この状態で、オペレータ26は、図11に示
すように、プローブユニット42の固定を解除し、作業
空間39Dに足を出して踏ん張り、プローブユニット4
2を引き出す。引き出したプローブユニット42は、図
12に示すように、P/U品種交換台車21に載せ、収
納場所に運んで収納する。次いで、ガラス基板に対応し
た種類のプローブユニット42をP/U品種交換台車2
1に載せて運び、手前側に引き出されているP/Uスラ
イドペース46に載せて固定する。次いで、Y軸移動機
構38のサーボモータ62を前記と逆方向に回転させて
測定位置まで戻し、前記測定処理を行わせる。
ボモータ62によってボールスクリュー60を一方向に
連続して回転させ、リードナット61をY軸方向の前方
に移動させる。これにより、摺動部47に支持されたP
/Uスライドベース46は、張り出し部39Cの端部ま
で延長して設けられたリニアレール56に案内されて前
方へ最大限に引き出されて、オペレータ26の手元まで
移動する。この状態で、オペレータ26は、図11に示
すように、プローブユニット42の固定を解除し、作業
空間39Dに足を出して踏ん張り、プローブユニット4
2を引き出す。引き出したプローブユニット42は、図
12に示すように、P/U品種交換台車21に載せ、収
納場所に運んで収納する。次いで、ガラス基板に対応し
た種類のプローブユニット42をP/U品種交換台車2
1に載せて運び、手前側に引き出されているP/Uスラ
イドペース46に載せて固定する。次いで、Y軸移動機
構38のサーボモータ62を前記と逆方向に回転させて
測定位置まで戻し、前記測定処理を行わせる。
【0054】[効果]以上のように、Y軸移動機構38
を本体フレーム39側に設けることによってワークテー
ブル35がY軸移動機構38の分だけ低くなり、その分
だけプローブユニット42を低い位置に設けることがで
きる。また、プローブユニット42がY軸移動機構38
により手前に引き出される。さらに、引き出されたプロ
ーブユニット42の下部に足を踏ん張るための作業空間
39Dを形成したので、オペレータ26は容易にプロー
ブユニット42を持ち上げることができる。これらの要
素が相まって、プローブユニット42の交換が容易にな
り、交換作業性が向上する。
を本体フレーム39側に設けることによってワークテー
ブル35がY軸移動機構38の分だけ低くなり、その分
だけプローブユニット42を低い位置に設けることがで
きる。また、プローブユニット42がY軸移動機構38
により手前に引き出される。さらに、引き出されたプロ
ーブユニット42の下部に足を踏ん張るための作業空間
39Dを形成したので、オペレータ26は容易にプロー
ブユニット42を持ち上げることができる。これらの要
素が相まって、プローブユニット42の交換が容易にな
り、交換作業性が向上する。
【0055】また、Y軸移動機構38を本体フレーム3
9側に設けて、プローブユニット42をY軸移動機構3
8の分だけ低い位置に設けることができるため、プロー
ブユニット42に臨ませて設けられた周辺機器の取り付
け位置を低くでき、それらを覆う外枠やカバー等をその
分だけ小さくすることができる。また、ワークテーブル
部31では、Y軸移動機構38を本体フレーム39側に
設けることにより、ステージベース36上を動く可動部
の軽量化を図ることができるため、ステージベース36
の強度をあまり上げる必要がなくなる。また、前記可動
部はY軸方向へ移動しないため、ステージベース36の
Y軸方向の寸法を拡大させる必要がなくなる。ここで仮
に、Y軸移動機構38をX軸移動機構32等と一体的に
設けた場合、検査対象の回路板の拡大に伴ってX軸移動
機構32等が拡大すると共に、偏荷重対策のためのステ
ージベース36の増強及び寸法拡大が必要になる。この
場合はワークテーブル部31の大幅な重量増加をもたら
すことになる。さらに、ワークテーブル部31の寸法の
拡大は装置全体の大型化をもたらしてしまう。これに対
して、前述のようにY軸移動機構38を本体フレーム3
9側に設けると、ワークテーブル部31の大型化と重量
増加を防止することができる。これらの結果、検査対象
の回路板の拡大に伴う装置全体の大型化及び重量の増加
を最小限に抑えることができる。
9側に設けて、プローブユニット42をY軸移動機構3
8の分だけ低い位置に設けることができるため、プロー
ブユニット42に臨ませて設けられた周辺機器の取り付
け位置を低くでき、それらを覆う外枠やカバー等をその
分だけ小さくすることができる。また、ワークテーブル
部31では、Y軸移動機構38を本体フレーム39側に
設けることにより、ステージベース36上を動く可動部
の軽量化を図ることができるため、ステージベース36
の強度をあまり上げる必要がなくなる。また、前記可動
部はY軸方向へ移動しないため、ステージベース36の
Y軸方向の寸法を拡大させる必要がなくなる。ここで仮
に、Y軸移動機構38をX軸移動機構32等と一体的に
設けた場合、検査対象の回路板の拡大に伴ってX軸移動
機構32等が拡大すると共に、偏荷重対策のためのステ
ージベース36の増強及び寸法拡大が必要になる。この
場合はワークテーブル部31の大幅な重量増加をもたら
すことになる。さらに、ワークテーブル部31の寸法の
拡大は装置全体の大型化をもたらしてしまう。これに対
して、前述のようにY軸移動機構38を本体フレーム3
9側に設けると、ワークテーブル部31の大型化と重量
増加を防止することができる。これらの結果、検査対象
の回路板の拡大に伴う装置全体の大型化及び重量の増加
を最小限に抑えることができる。
【0056】本出願人の試算では、回路板の拡大に伴う
ワークテーブル部31及び装置全体の重量増加は、本発
明の手段を講じない場合は6トン程度になる。これに対
して、本発明の手段を講じた場合は、ワークテーブル部
31の重量を3割程度軽減することができ、それに伴っ
て装置全体を3トン程度に軽減することができる。さら
に、これに伴って、大型回路板用プローバ30が据え付
けられる床をあまり補強する必要が無くなる。
ワークテーブル部31及び装置全体の重量増加は、本発
明の手段を講じない場合は6トン程度になる。これに対
して、本発明の手段を講じた場合は、ワークテーブル部
31の重量を3割程度軽減することができ、それに伴っ
て装置全体を3トン程度に軽減することができる。さら
に、これに伴って、大型回路板用プローバ30が据え付
けられる床をあまり補強する必要が無くなる。
【0057】また、ワークテーブル部31からY軸移動
機構38を外して本体フレーム39の奥部に制御系部品
等を収納できる収納スペース55を設けたので、従来は
別部材として必要であった制御系部品の収納スペースが
なくなり、大型回路板用プローバ30の小型化に寄与し
うる。この結果、装置の小型化と相まって、床の専有面
積を低減して、小スペース化を図ることができる。
機構38を外して本体フレーム39の奥部に制御系部品
等を収納できる収納スペース55を設けたので、従来は
別部材として必要であった制御系部品の収納スペースが
なくなり、大型回路板用プローバ30の小型化に寄与し
うる。この結果、装置の小型化と相まって、床の専有面
積を低減して、小スペース化を図ることができる。
【0058】さらに、装置の小型化及び作業性の向上に
伴って、装置の製造コスト及びランニングコストの低減
を図ることができる。
伴って、装置の製造コスト及びランニングコストの低減
を図ることができる。
【0059】[第1変形例]前記実施形態では、駆動部
48を、2本並列に設けられた摺動部47のリニアレー
ル56の一方の側に1つだけ設けたが、2本のリニアレ
ール56にそれぞれ沿わせて2つ設けてもよい。この場
合、各駆動部48のボールスクリュー60にカップリン
グ64を介してサーボモータ62がそれぞれ設けられる
ようにしてもよく、1つのサーボモータ62で2本のボ
ールスクリュー60を同時に駆動させるようにしてもよ
い。
48を、2本並列に設けられた摺動部47のリニアレー
ル56の一方の側に1つだけ設けたが、2本のリニアレ
ール56にそれぞれ沿わせて2つ設けてもよい。この場
合、各駆動部48のボールスクリュー60にカップリン
グ64を介してサーボモータ62がそれぞれ設けられる
ようにしてもよく、1つのサーボモータ62で2本のボ
ールスクリュー60を同時に駆動させるようにしてもよ
い。
【0060】1つのサーボモータ62で2本のボールス
クリュー60を駆動する場合は、2本のボールスクリュ
ー60の一端に、カップリング64の代わりに、歯付き
プーリを取り付ける。さらに、一方のボールスクリュー
60には2つの歯付きプーリを取り付ける。この2つの
プーリのうちの1つは他方のボールスクリュー60に取
り付けられたプーリにタイミングベルト(歯付きベル
ト)で連結される。また、2つのプーリのうちの他の1
つは、サーボモータ62にタイミングベルトで連結され
る。
クリュー60を駆動する場合は、2本のボールスクリュ
ー60の一端に、カップリング64の代わりに、歯付き
プーリを取り付ける。さらに、一方のボールスクリュー
60には2つの歯付きプーリを取り付ける。この2つの
プーリのうちの1つは他方のボールスクリュー60に取
り付けられたプーリにタイミングベルト(歯付きベル
ト)で連結される。また、2つのプーリのうちの他の1
つは、サーボモータ62にタイミングベルトで連結され
る。
【0061】以上のように構成された大型回路板用プロ
ーバでも、前記実施形態同様の作用、効果を奏すること
ができる。
ーバでも、前記実施形態同様の作用、効果を奏すること
ができる。
【0062】[第2変形例]前記実施形態では、摺動部
47のリニアレール56等を2本ずつ並列に配設し、駆
動手段としての駆動部48を摺動部47と別に設けた
が、駆動手段としてリニアサーボモータを用いてもよ
い。このリニアサーボモータの場合は、摺動部47の2
本のリニアレール56のうちの1本をリニアサーボモー
タで置き換える。
47のリニアレール56等を2本ずつ並列に配設し、駆
動手段としての駆動部48を摺動部47と別に設けた
が、駆動手段としてリニアサーボモータを用いてもよ
い。このリニアサーボモータの場合は、摺動部47の2
本のリニアレール56のうちの1本をリニアサーボモー
タで置き換える。
【0063】この場合、制御信号により駆動されるリニ
アサーボモータでP/Uスライドベース46が前方又は
後方に移動されて、Y軸方向の微調整が行われる。
アサーボモータでP/Uスライドベース46が前方又は
後方に移動されて、Y軸方向の微調整が行われる。
【0064】[第3変形例]前記実施形態では、Y軸移
動機構38を本体フレーム39側に設けたが、これに限
らず、X軸移動機構32、θ軸移動機構33、Z軸移動
機構34又はY軸移動機構38のうちの1又は2以上の
機構を本体フレーム39側に設けてもよい。なお、2以
上の機構を本体フレーム39側に設ける場合は、プロー
ブユニット42の交換作業を容易にするために、取付け
・取外し機構として設定するX軸移動機構32又はY軸
移動機構38のいずれかを含めることが望ましい。この
場合も、前記実施形態同様の作用、効果を奏することが
できる。
動機構38を本体フレーム39側に設けたが、これに限
らず、X軸移動機構32、θ軸移動機構33、Z軸移動
機構34又はY軸移動機構38のうちの1又は2以上の
機構を本体フレーム39側に設けてもよい。なお、2以
上の機構を本体フレーム39側に設ける場合は、プロー
ブユニット42の交換作業を容易にするために、取付け
・取外し機構として設定するX軸移動機構32又はY軸
移動機構38のいずれかを含めることが望ましい。この
場合も、前記実施形態同様の作用、効果を奏することが
できる。
【0065】[第4実施形態]前記実施形態では、取付
け・取外し機構としてY軸移動機構38を本体フレーム
39側に設けてプローブユニットをY軸方向に移動させ
るようにしたが、X軸方向に移動させるようにしてもよ
い。この場合、X軸移動機構32を用いて取付け・取外
し機構を構成してもよい。これによっても、前記実施形
態同様の作用、効果を奏することができる。
け・取外し機構としてY軸移動機構38を本体フレーム
39側に設けてプローブユニットをY軸方向に移動させ
るようにしたが、X軸方向に移動させるようにしてもよ
い。この場合、X軸移動機構32を用いて取付け・取外
し機構を構成してもよい。これによっても、前記実施形
態同様の作用、効果を奏することができる。
【0066】
【発明の効果】以上、詳述したように本発明によれば、
次のような効果を奏する。
次のような効果を奏する。
【0067】(1) XYZ軸方向及び回転方向の移動
機構の一部を本体フレーム側に設けたので、本体フレー
ム側に設けた機構の分だけワークテーブルを低くするこ
とができ、その分だけプローブユニットを低い位置に設
けることができる。また、本体フレーム側に設けられた
取付け・取外し機構によってプローブユニットをその取
り出しのために装置端部まで移動させることができる。
さらに、取付け・取外し機構の取り出し側端部の下側に
作業空間を形成したので、オペレータはこの作業空間に
足を入れて踏ん張ることで、容易にプローブユニットを
持ち上げることができる。また、取付け・取外し機構を
X軸方向又はY軸方向に移動するように設定したので、
装置の設置場所やP/U品種交換台車21との関係等の
諸条件に応じて取り出し方向を適宜設定することができ
る。
機構の一部を本体フレーム側に設けたので、本体フレー
ム側に設けた機構の分だけワークテーブルを低くするこ
とができ、その分だけプローブユニットを低い位置に設
けることができる。また、本体フレーム側に設けられた
取付け・取外し機構によってプローブユニットをその取
り出しのために装置端部まで移動させることができる。
さらに、取付け・取外し機構の取り出し側端部の下側に
作業空間を形成したので、オペレータはこの作業空間に
足を入れて踏ん張ることで、容易にプローブユニットを
持ち上げることができる。また、取付け・取外し機構を
X軸方向又はY軸方向に移動するように設定したので、
装置の設置場所やP/U品種交換台車21との関係等の
諸条件に応じて取り出し方向を適宜設定することができ
る。
【0068】これらの要素が相まって、プローブユニッ
トの交換が容易になり、交換作業性が大幅に向上する。
トの交換が容易になり、交換作業性が大幅に向上する。
【0069】(2) XYZ軸方向及び回転方向の移動
機構の一部を本体フレーム側に設けて、プローブユニッ
トを本体フレーム側に設けた移動機構の分だけ低い位置
に設けることができるため、プローブユニットに臨ませ
て設けられた周辺機器の取り付け位置を低くでき、それ
らを覆う外枠やカバー等をその分だけ小さくすることが
できる。また、移動機構の一部を本体フレーム側に設け
ることにより、可動部の軽量化を図ることができるた
め、可動部を支持する部分の強度をあまり上げる必要が
なくなる。また、前記可動部の移動方向にうち、本体フ
レーム側に設けた移動機構の移動方向の分がなくなるた
め、その移動方向の寸法を小さくできる。さらに、制御
系部品は、本体フレーム内に設けられた収納スペースに
収納されるため、装置外に別体として収納空間を作る必
要がなくなり、大型回路板用プローバの小型化に寄与し
得る。
機構の一部を本体フレーム側に設けて、プローブユニッ
トを本体フレーム側に設けた移動機構の分だけ低い位置
に設けることができるため、プローブユニットに臨ませ
て設けられた周辺機器の取り付け位置を低くでき、それ
らを覆う外枠やカバー等をその分だけ小さくすることが
できる。また、移動機構の一部を本体フレーム側に設け
ることにより、可動部の軽量化を図ることができるた
め、可動部を支持する部分の強度をあまり上げる必要が
なくなる。また、前記可動部の移動方向にうち、本体フ
レーム側に設けた移動機構の移動方向の分がなくなるた
め、その移動方向の寸法を小さくできる。さらに、制御
系部品は、本体フレーム内に設けられた収納スペースに
収納されるため、装置外に別体として収納空間を作る必
要がなくなり、大型回路板用プローバの小型化に寄与し
得る。
【0070】これらの要素が相まって、装置の小型化及
び重量軽減を図ることができる。
び重量軽減を図ることができる。
【0071】さらに、装置の小型化及び作業性の向上に
伴って、装置の製造コスト及びランニングコストの低減
を図ることができる。
伴って、装置の製造コスト及びランニングコストの低減
を図ることができる。
【図1】本発明の実施形態に係る大型回路板用プローバ
のワークテーブル部を示す斜視図である。
のワークテーブル部を示す斜視図である。
【図2】従来の大型回路板用プローバを示す平面図であ
る。
る。
【図3】従来の大型回路板用プローバのワークテーブル
部を示す分解斜視図である。
部を示す分解斜視図である。
【図4】従来の大型回路板用プローバのワークテーブル
部を示す概略構成図である。
部を示す概略構成図である。
【図5】従来の大型回路板用プローバにおけるプローブ
ユニットの取り出し作業例を示す模式図である。
ユニットの取り出し作業例を示す模式図である。
【図6】本発明の実施形態に係る大型回路板用プローバ
のワークテーブル部を示す正面図である。
のワークテーブル部を示す正面図である。
【図7】本発明の実施形態に係る大型回路板用プローバ
のワークテーブル部を示す平面図である。
のワークテーブル部を示す平面図である。
【図8】本発明の実施形態に係る大型回路板用プローバ
のワークテーブル部を示す側面図である。
のワークテーブル部を示す側面図である。
【図9】本発明の実施形態に係る大型回路板用プローバ
のワークテーブル部を示す分解斜視図である。
のワークテーブル部を示す分解斜視図である。
【図10】本発明の実施形態に係る大型回路板用プロー
バのワークテーブル部を示す概略構成図である。
バのワークテーブル部を示す概略構成図である。
【図11】本発明の実施形態に係る大型回路板用プロー
バにおけるプローブユニットの取り出し作業例を示す模
式図である。
バにおけるプローブユニットの取り出し作業例を示す模
式図である。
【図12】本発明の実施形態に係る大型回路板用プロー
バを示す全体構成図である。
バを示す全体構成図である。
30:大型回路板用プローバ、31:ワークテーブル
部、32:X軸移動機構、33:θ軸移動機構、34:
Z軸移動機構、35:ワークテーブル、36:ステージ
ベース、38:Y軸移動機構、39:本体フレーム、3
9A:Y軸移動機構搭載部、39B:プローブユニット
出し入れ用開口、39C:張り出し部、39D:作業空
間、42:プローブユニット、43:プローブブロッ
ク、46:P/Uスライドベース、47:摺動部、4
8:駆動部、51:窪み部、52:立ち上げ壁、53:
フランジ部、55:収納スペース、56:リニアレー
ル、57:リニアガイド、58:レールベース、60:
ボールスクリュー、61:リードナット、62:サーボ
モータ、64:カップリング、65:ハウジング。
部、32:X軸移動機構、33:θ軸移動機構、34:
Z軸移動機構、35:ワークテーブル、36:ステージ
ベース、38:Y軸移動機構、39:本体フレーム、3
9A:Y軸移動機構搭載部、39B:プローブユニット
出し入れ用開口、39C:張り出し部、39D:作業空
間、42:プローブユニット、43:プローブブロッ
ク、46:P/Uスライドベース、47:摺動部、4
8:駆動部、51:窪み部、52:立ち上げ壁、53:
フランジ部、55:収納スペース、56:リニアレー
ル、57:リニアガイド、58:レールベース、60:
ボールスクリュー、61:リードナット、62:サーボ
モータ、64:カップリング、65:ハウジング。
Claims (6)
- 【請求項1】 本体フレーム側に支持されると共に検査
対象の回路板に接触して検査を行う複数の探針を備えた
プローブユニットと、検査対象の回路板を支持して前記
プローブユニットに臨ませるワークテーブルと、このワ
ークテーブルと前記プローブユニットとをXYZ軸方向
及び回転方向に相対的に動かして微調整を行う移動機構
とを備えてなる大型回路板用プローバにおいて、 前記XYZ軸方向及び回転方向の移動機構の一部を本体
フレーム側に設けて、前記プローブユニットを移動させ
ることを特徴とする大型回路板用プローバ。 - 【請求項2】 本体フレーム側に支持されると共に検査
対象の回路板に接触して検査を行う複数の探針を備えた
プローブユニットと、検査対象の回路板を支持して前記
プローブユニットに臨ませるワークテーブルと、このワ
ークテーブルと前記プローブユニットとをXYZ軸方向
及び回転方向に相対的に動かして微調整を行う移動機構
とを備えてなる大型回路板用プローバにおいて、 前記本体フレーム側に設けられ、前記プローブユニット
をその取り付け及び取り外しのために装置端部まで移動
させる取付け・取外し機構を備えたことを特徴とする大
型回路板用プローバ。 - 【請求項3】 請求項2に記載の大型回路板用プローバ
において、 前記取付け・取外し機構が、X軸方向又はY軸方向に移
動するように設定されたことを特徴とする大型回路板用
プローバ。 - 【請求項4】 請求項2又は3に記載の大型回路板用プ
ローバにおいて、 前記取付け・取外し機構が、本体フレーム側に設けら
れ、移動量を大きく設定されたX軸移動機構又はY軸移
動機構によって構成されたことを特徴とする大型回路板
用プローバ。 - 【請求項5】 請求項4に記載の大型回路板用プローバ
において、 前記本体フレーム側に設けられたX軸移動機構又はY軸
移動機構により、移動しなくなる他の移動機構のX軸方
向又はY軸方向の端部に、制御系部品を収納する収納ス
ペースが設けられたことを特徴とする大型回路板用プロ
ーバ。 - 【請求項6】 請求項2乃至4のいずれかに記載の大型
回路板用プローバにおいて、 前記取付け・取外し機構の取り出し側端部の下側に、作
業空間を形成したことを特徴とする大型回路板用プロー
バ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11533398A JPH11304884A (ja) | 1998-04-24 | 1998-04-24 | 大型回路板用プローバ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11533398A JPH11304884A (ja) | 1998-04-24 | 1998-04-24 | 大型回路板用プローバ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11304884A true JPH11304884A (ja) | 1999-11-05 |
Family
ID=14659967
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11533398A Pending JPH11304884A (ja) | 1998-04-24 | 1998-04-24 | 大型回路板用プローバ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11304884A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100496656B1 (ko) * | 2003-02-28 | 2005-06-20 | 한성엘컴텍 주식회사 | 점등용 백라이트 조립 및 검사 지그 |
| KR100886988B1 (ko) * | 2001-08-07 | 2009-03-04 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 프로브 카드 반송 장치 및 방법 |
| JP2009539112A (ja) * | 2006-05-31 | 2009-11-12 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | Tft−lcd検査のための小型プローバ |
| JP2010080775A (ja) * | 2008-09-26 | 2010-04-08 | Tokyo Electron Ltd | プローブ装置 |
| JP2010121969A (ja) * | 2008-11-17 | 2010-06-03 | Micronics Japan Co Ltd | 被検査基板のアライメント装置 |
| CN103176121A (zh) * | 2013-02-25 | 2013-06-26 | 深圳市大族激光科技股份有限公司 | 飞针测试机 |
-
1998
- 1998-04-24 JP JP11533398A patent/JPH11304884A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100886988B1 (ko) * | 2001-08-07 | 2009-03-04 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 프로브 카드 반송 장치 및 방법 |
| KR100496656B1 (ko) * | 2003-02-28 | 2005-06-20 | 한성엘컴텍 주식회사 | 점등용 백라이트 조립 및 검사 지그 |
| JP2009539112A (ja) * | 2006-05-31 | 2009-11-12 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | Tft−lcd検査のための小型プローバ |
| JP2010080775A (ja) * | 2008-09-26 | 2010-04-08 | Tokyo Electron Ltd | プローブ装置 |
| JP2010121969A (ja) * | 2008-11-17 | 2010-06-03 | Micronics Japan Co Ltd | 被検査基板のアライメント装置 |
| CN103176121A (zh) * | 2013-02-25 | 2013-06-26 | 深圳市大族激光科技股份有限公司 | 飞针测试机 |
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