JPH11305931A - 座標検出装置 - Google Patents

座標検出装置

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Publication number
JPH11305931A
JPH11305931A JP11700698A JP11700698A JPH11305931A JP H11305931 A JPH11305931 A JP H11305931A JP 11700698 A JP11700698 A JP 11700698A JP 11700698 A JP11700698 A JP 11700698A JP H11305931 A JPH11305931 A JP H11305931A
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JP
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pen
coordinate
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pen down
subtle
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Application number
JP11700698A
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English (en)
Inventor
Shinsuke Moriai
真介 盛合
Makoto Kanekawa
誠 金川
Takashi Baba
隆 馬場
Hiroshi Horii
洋 堀井
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 抵抗膜感圧式デジタイザにおいて、筆圧が弱
い人が入力したり、筆記途中で押圧が少しでも弱くなっ
てしまった場合、処理途中でペンアップ状態になり、異
常な座標データが検出されてしまい、座標とびや不自然
な線切れが発生していた。 【解決手段】 微妙なペンダウン/アップ状態を判定す
る手段を持ち、ペンダウン信号レベルの変動を検出し、
また、XY座標検出時の電圧変動を検出して、その変動
情報を利用して、微妙なペンダウン状態を判定する。こ
の判定を木目細かく制御することにより、高精度な座標
検出を可能とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、座標検出装置およ
びそれによる座標検出方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、軽量で携帯可能な小型の携帯情報
処理装置が多く製品化されており、ペンを用いて手書き
入力やアイコンの操作を行う製品が増加している。中で
も、使用するペンの種類を問わず、安価で、簡単な構成
で実現できる抵抗膜感圧方式デジタイザが採用されてい
る。
【0003】図3に、抵抗膜感圧式デジタイザの構成を
示す。抵抗膜感圧式デジタイザは、樹脂フィルムなどで
形成された上下2枚のパネル(301)を向かい合わせ
て配置し、パネル(301)の内側に蒸着などにより導
電性シート(抵抗膜シート)(302)が形成され、サ
ンドイッチ状の構造となっている。また、何も押圧され
ていない状態(通常状態)では、その2枚の導電性シー
ト(302)が接触しないように、ギャップを作るため
に絶縁スペーサ(303)が配置されている。
【0004】それぞれの導電性シートの両端には、電極
が設けられており、各電極にはリード線が接続され、電
圧の印加や、電圧検出用の端子として使用される。X,
Y座標のように2次元の位置を検出するため、片方をX
座標検出用として左右の両端に電極を設置し、他方をY
座標検出用として上下両端に電極を設定する。つまり、
それぞれの電極が直交するように配置される。
【0005】図4に、従来の抵抗膜感圧式デジタイザを
用いた座標検出装置の構成を示す。図5に、従来の座標
検出処理のフローチャートを示す。ペンダウン時の情報
を一定周期で得るためにサンプリングカウンタ部(40
8)において、一定のサンプリング周期を生成する。そ
のサンプリング周期ごとに、デジタイザ(401)上を
押圧があったかどうかを調べる(ステップ502)。押
圧状態の検出は、電極スイッチ(402)をペンダウン
検出用スイッチ状態にし、デジタイザのX座標検出用導
電性シートとY座標検出用導電性シートとの間に電圧を
印加する。その時のペンダウン信号のレベルを検出する
(ステップ503)。この処理はペンダウン検出回路
(406)にて行われる。
【0006】ペンダウン状態かどうかを判定し(ステッ
プ504)、ペンダウン状態であると判断した場合、X
座標検出(ステップ506)、Y座標検出(ステップ5
07)の処理へと移行する。X座標の検出は、X座標検
出用導電性シートの両端に電圧を印加し、対向するY座
標検出用面の電圧を検出することで行われる。得られた
電圧値をAD変換器(403)でデジタル値に変換し、
演算制御回路(404)で座標値に変換する。
【0007】Y座標の検出については、Y座標検出用導
電性シートに電圧を印加して、X座標検出用面で同様に
検出する。X座標、Y座標とも検出が終了したら、ホス
トCPU(405)にデータを送信する(ステップ50
9)。そして、次の座標データの処理をするためにノイ
ズ処理などに備えて座標出力回数、平均化処理用データ
などの情報を保持する(ステップ510)。この処理を
繰り返す。
【0008】ペンアップ状態と判断した場合は、前に1
座標以上のデータが送られていたかどうかを判定し(ス
テップ513)、出力されていた場合はペンアップコー
ドを送る(ステップ514)。そして、連続ペンダウン
時に必要なノイズ処理用データなど内部で貯えられてい
た状態をクリアして、連続ペンダウン状態から切り離す
(ステップ515)。前に、何も送っていない場合は、
そのままアイドル状態((ステップ501)に戻る。こ
れらの処理を繰り返す。
【0009】従来の抵抗膜感圧式デジタイザ座標検出装
置では、次のような問題がある。手つき防止のためにデ
ジタイザの入力荷重の設定値が高い(接触抵抗が高い)
場合、強い押圧をかけないと入力されない。また、筆記
途中で少しでも弱くなってしまった場合、処理途中でペ
ンアップ状態となり座標検出時に不安定な電圧を検出し
てしまい異常な座標データが検出されてしまう場合があ
る。
【0010】また、筆圧が弱い人が入力する場合や、高
速にペンを移動させた場合にも、上下2枚の抵抗膜の接
触が不十分になり、同様に異常なデータを検出する場合
がある。この場合、座標とびといったノイズ座標データ
が出力されたり、不自然な座標切れといった形で出力さ
れる。これは、抵抗膜感圧式デジタイザをペン入力装置
の入力デバイスとして使用する上で、座標検出性能が低
下し、信頼性を欠く大きな要因となっていた。
【0011】不安定なペンアップ状態を排除する方法と
して次のような技術がある。特平6−318133で
は、ペンアップ状態が規定回数以上連続したときに限り
ペンアップ状態として認定する方法である。しかし、こ
れはペンダウン時、ペンアップ時のチャタリング除去を
目的としており、微妙なペンダウン/アップ状態には対
応できない。また、ペンアップ状態の規定回数は固定さ
れてしまうため、必要とするデータが必要以上に捨てら
れ、不用意な線切れが発生したり、不安定なデータを出
力してしまうことになる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】デジタイザの入力荷重
の設定値が高い(接触抵抗が高い)場合、強い押圧をか
けないと入力されなかったり、途中で少しでも弱くなっ
てしまった場合、処理途中でペンアップ状態となり座標
検出時に不安定な電圧を検出してしまい異常な座標デー
タが検出されてしまう場合がある。
【0013】また、筆圧が弱い人が入力する場合や、高
速にペンを移動させた場合にも、上下2枚の抵抗膜の接
触が不十分になり、同様に異常なデータを検出する場合
がある。この場合、座標とびといったノイズデータが出
力されたり、座標切れといった形で出力される。従来の
抵抗膜感圧式デジタイザ座標入力装置では、微妙なペン
ダウン/アップ時における木目の細かい処理がなされて
いないという問題がある。
【0014】
【課題を解決するための手段】これらを解決するため
に、本発明では、ペンダウン検出信号の電位変動を検出
し、微妙なペンダウン状態かペンアップ状態かを確認す
る。また、ペンダウン検出信号がアクティブになってい
る状態でも、サンプリング内のペンダウン信号の変動、
座標検出時のXY座標検出面の電圧変動を検出し、異常な
変動があった場合は微妙なペンアップ状態と判定する。
この微妙なペンダウン/アップ状態と判定した場合は、
ペンダウン状態と同じように処理を継続するが、その座
標値は使用せず、座標データを出力しない。また、ペン
アップコードを出力しない。
【0015】微妙なペンダウン/アップ時では、各種ペ
ンダウン情報を記憶する手段を設け、連続ペンダウン状
態として処理させることにより異常な線切れを排除でき
る。また、微妙なペンアップ判定回数を任意に設定でき
るようにし、デジタイザの性質にあわせた、より細かい
設定が可能になる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下図面により、本発明の一実施
例について説明する。図1は、本発明の一実施例を示す
回路構成ブロック図である。101は、デジタイザある
いはタブレットと呼ばれる感圧式の座標検出センサであ
る。デジタイザ上をペンあるいは指により指示した時、
その座標位置に対応する電気量に変換され、基本座標値
として出力される。
【0017】102は、デジタイザの各電極に電圧を印
加するために切り替えるスイッチ回路である。ペンダウ
ン検出時ではX座標検出面とY座標検出面間の電圧が印
加されるように切り替える。X座標検出時では、X座標
検出面の両端の電極間に電圧が印加されるように切り替
え、Y座標検出面の電極からX座標位置に対応する電圧
をAD変換器(103)に送れるようにする。Y座標検
出時では、Y座標検出面の両端の電極間に電圧が印加さ
れるように切り替え、X座標検出面の電極からY座標位
置に対応する電圧をAD変換器(103)に送れるよう
にする。
【0018】103は、AD変換器である。デジタイザ
から読みとられた電圧をデジタルのデータに変換する。
104は、演算制御部である。ソフトウェア処理によ
り、サンプリング周期用カウンタ(108)の制御、ス
イッチ(102)の制御、AD変換器(103)の制
御、ペンダウン検出の有無の確認などを行う。また、座
標系の変換のための演算処理、補正処理、ノイズ処理な
どを実施する。
【0019】105は、ホストCPUである。演算制御
部(104)で生成された座標データを解釈して、表示
装置への描画、文字認識処理などの処理を行う。106
は、ペンダウン検出部である。演算制御部(104)に
より、ペンダウン検出用のスイッチに切り替えられたと
き、ペンダウン信号がスイッチ部(102)から送られ
てくる。そのレベルを判定する。
【0020】107は、微妙なペンダウン/アップ状態
かどうかを調べる判定部である。108は、周期的なサ
ンプリング時間を生成するサンプリング周期カウンタ部
である。図2は、本発明の一実施例を示す制御シーケン
ス図である。ステップ201は、アイドル状態である。
【0021】ステップ202は、サンプリング時間に到
達したかどうかを判定するステップである。すなわち、
ここではサンプリング周期カウンタ(108)から通知
されるサンプリング周期が到達したかどうかを判定す
る。サンプリン時間に到達した場合には、次に、ステッ
プ203にてペンダウンの検出が行われる。他方、サン
プリング時間に到達していない場合には、ステップ20
1に戻り、次のサンプリング時間が到達するまでアイド
ル状態で待機する。
【0022】ここで、ステップ203では、スイッチ回
路(102)をペンダウン検出用スイッチ状態に切り替
えて、ペンダウン信号のレベルを検出できるように準備
する。ステップ204は、ペンダウン状態を判定するス
テップである。ここでは、ペンダウン検出部(106)
でペンダウン信号がペンダウンレベルになっているかを
判定する。ここで、ペンダウン状態と判定した場合は、
ステップ206に進み、XY座標検出を行う準備をす
る。一方、ペンアップ状態の場合は、ステップ214に
進み、それまでのペンダウン状態の継続中に、少なくと
も1点以上の座標データが出力されたか否かが判別さ
れ、ここで既に座標データの出力があった場合には、ペ
ンアップ状態をホストCPUに知らせるために、ペンア
ップコードを出力する。また、同時に、例えば後述する
ステップ210または212にて、ノイズ処理や平均化
処理などを行うために、前座標データが保存されていた
ような場合には、演算制御部の内部状態をクリアにする
(ステップ215)。他方、ステップ213にて、未だ
1度も座標データが出力されていないと判別された場合
は、ステップ201に戻り、サンプリング待ち状態(ア
イドル状態)になる。
【0023】205は、微妙なペンダウン/アップ状態
を判定するステップである。ここでは、基準レベルに対
するペンダウン信号の変動を調べることで微妙なペンダ
ウン/アップ状態を検出する。なお、詳細については後
述する。ステップ204にてペンダウン状態と判定した
にも関わらず、当該ステップ205にて微妙なペンアッ
プと判定した場合には、制御部をペンダウン状態に維持
して処理を続行させる。従って、このように微妙なペン
アップ状態を検出した場合でも、ペンアップコード出力
などの処理は行わず(ステップ211)、制御部の内部
状態を保持したまま(ステップ212)、アイドル状態
に移行し(ステップ201)、次のサンプリングまで待
機する。
【0024】ステップ206は、X座標を検出するステ
ップで、ステップ207は、Y座標を検出するステップ
である。ステップ206,207においては、各サンプ
リング時間内毎にそれぞれ3回のX座標値およびY座標
値が検出される。ステップ208は、検出されたX座標
値およびY座標値に基づいて、再度、微妙なペンダウン
/アップ状態を判定するステップである。ここでは、X
座標検出およびY座標検出時に複数回の電圧検出を行
い、検出電圧に変動がみられたかどうかを判定する。な
お、詳細については後述する。
【0025】ステップ208にて、微妙なペンアップ/
ダウン状態と判定された場合は、上記ステップ205に
おける場合と同様、ペンダウン状態として制御部に処理
を続行させるために、ペンアップコード出力などの座標
出力処理は行わず(ステップ211)、制御部の内部状
態を保持したまま(ステップ212)、アイドル状態に
移行し(ステップ201)、次のサンプルまで待機す
る。
【0026】ここで、各サンプリング時間内に行われる
X座標検出、Y座標検出、微妙なペンダウン状態の判定
は、複数回実施するのがよい。本実施例では、後述の図
6にて示す如く、3回実施している。ステップ209
は、検出されたX座標値およびY座標値にノイズ処理等
を施して座標データを出力するステップである。例え
ば、図6に示す3回のX座標およびY座標の検出値を平
均化処理して、一つのX座標データおよびY座標データ
を出力する。
【0027】ステップ210は、制御部の内部状態を保
持するステップである。ここでは、ノイズ処理用データ
など、連続ペンダウン時に必要な情報を保持しておく。
ステップ213では、上述の通り、それまでのペンダウ
ン状態の継続時に少なくとも1回以上座標データを出力
しているかどうかを判定する。ここで、既に1回以上座
標データを出力していた場合は、ペンアップコードを出
力し(ステップ214)、制御部の内部状態をクリアし
てペンダウンの継続状態を解除する(ステップ21
5)。他方、ステップ213にて、それまでのペンダウ
ン状態中継続に未だ座標出力がなかった場合は、そのま
まアイドル状態に戻る(ステップ201)。
【0028】次に、微妙なペンダウン/アップ状態の判
定について、図6を用いて説明する。なお、図ではY抵
抗膜の電圧変化を参照して説明するが、X抵抗膜の電圧
変化を参照する場合も同様である。図において、S0、
S1、S2、S3はそれぞれ1サンプリング時間の開始
タイミングを示す。各サンプリング時間では、それぞれ
3回の座標検出が行われている。ここで、Y01、Y0
2、…、Y23は、Y座標面検出時のY抵抗膜電圧(抵
抗分圧電圧)を示す。また、Y01、 Y02、…、Y
23の左側のハイレベル期間(例えば、S0からY01
の開始までの期間)はX座標面の検出期間であり、この
期間、Y抵抗膜電圧は基準レベルとなっている。なお、
ペンダウン信号は、サンプリング時間内の3回の座標検
出タイミングに連動して変動するようになっている。例
えば、Y11の座標検出期間に対しては、その直前にお
いてペンダウン信号が立ち下がっている(P0)。
【0029】図2では、ペンダウン判別のステップとし
て、3つのステップが準備されている。一つは、ステッ
プ204(ペンダウンの判別)であり、他の2つは、ス
テップ205およびステップ208(微妙なペンダウン
の判別)である。このうち、ステップ204におけるペ
ンダウンの判別は、各サンプリング時間の開始直前のペ
ンダウン信号の状態を見て行われる。たとえば、サンプ
リング周期S1から始まるサンプリング時間のペンダウ
ン状態の判別は、ペンダウン信号P0の状態を見ること
によって行う。上述のように、ペンダウン状態にあると
きは、ペンダウン信号は、ローレベルに立ち下がってい
るので、たとえば、サンプリング周期S1においては、
直前のペンダウン信号P0がローレベルであるため、ペ
ンダウン状態と判別される。なお、このようにして一旦
ペンダウン状態と判別されれば、この判別結果は、当該
サンプリング時間の全ての期間で有効であるものとされ
る。
【0030】同様に、ステップ205における微妙なペ
ンダウンの判別も、各サンプリング時間の開始直前のペ
ンダウン信号の状態を見て行われる。すなわち、図2の
ペンダウン信号は、デジタイザが十分に強く押された場
合にはペンダウンレベルにまで十分に立ち下がるが、反
面、押圧加重が十分でないような場合には、ペンダウン
レベルにまで十分に立ち下がらない。そこで、ステップ
204では、かかるペンダウン信号の立ち下がりレベル
の不十分さを検出することで、図2のステップ205の
微妙なペンダウンを判別する。具体的には、各サンプリ
ング期間開始直前のペンダウン信号のレベルを所定のし
きい値と比較することで、微妙なペンダウンか否かを判
別する。
【0031】なお、かかる微妙なペンダウンの検出は、
各サンプリング期間開始直前のペンダウン信号のレベル
を所定のしきい値と比較する方法のみならず、適宜他の
方法も採用し得る。例えば、各サンプリング期間開始直
前のペンダウン信号のレベルを、それよりも一つ前のペ
ンダウン信号のレベルと比較することで、微妙なペンダ
ウンを検出するようにしても良い。
【0032】次に、ステップ208の微妙なペンダウン
の判別方法について説明する。図6のY座標検出面の電
圧波形において、1サンプリング時間内で3回の電極切
り替えを行い、XY座標検出を行う。本例では、サンプ
リング周期S1のサンプリング時間内で、Y抵抗膜電圧
の値が大きく変動している。(Y11、Y12、Y1
3)。すなわち、Y11とY13は同じレベルにあるに
も関わらず、Y12はこれに比べて大きく変動してい
る。これはY12のタイミングで微妙な接触状態になっ
たため、正確な電圧がよみとれなかったためである。こ
の情報を微妙なペンダウン状態と判定する。通常の人間
の筆記速度では得られない変動が発生した場合は、これ
を微妙なペンダウン/アップ状態と判定する。
【0033】なお、本発明の実施例では、微妙なペンダ
ウン/アップ状態の判定として、各サンプリング内の電
極の切り替えを3回としたがこれによらない。次に、微
妙なペンダウン/アップ状態の回数をカウントし、ある
回数以上微妙なペンアップ状態が続いた場合、ペンアッ
プと判定し、それ以外は、ペンアップ状態とは判定せず
に処理を継続する場合の実施例を示す。
【0034】図7は、微妙なペンダウン/アップ状態の
回数をカウントし、それに伴う処理に関する一実施例の
ブロック構成図である。701は、デジタイザあるいは
タブレットと呼ばれる感圧式の座標検出センサである。
702は、デジタイザの各電極に電圧を印加するための
スイッチ回路である。
【0035】703は、AD変換器である。704は、
演算制御部である。705は、ホストCPUである。7
06は、ペンダウン検出部である。707は、微妙なペ
ンダウン/アップ状態かどうかを調べる判定部である。
【0036】708は、サンプリング周期カウンタ部で
ある。709は、微妙なペンダウン/アップ回数設定部
である。微妙なペンダウンを何回まで許容するかを設定
する記憶部である。ホストCPU(705)から、コマンド
などによって設定できる。710は、微妙なペンダウン
/アップ回数を計数するカウント部である。微妙なペン
ダウン/アップ状態が発生したらカウントアップする。
完全にペンアップした場合は、クリアされる。
【0037】711は、微妙なペンダウン/アップ回数
比較部である。微妙なペンダウン/アップ回数が記憶部
(709)で記憶されている設定値より多くなったかどうか
を判定する。図8は、図7の実施例を示す制御シーケン
ス図である。通常の処理の流れは、図2の場合と基本的
に同じである。サンプリング時間が到達するたびに(ス
テップ802)、ペンダウン信号を確認し(ステップ8
03)、ペンダウンしているか否かを調べる(ステップ
804)。ここで、ペンアップ状態であれば、それまで
ペンダウン継続状態にあり、かつ、1回以上の座標デー
タを出力していた場合には、ペンアップコードを出力す
る(ステップ814)。他方、未だ座標データを出力し
ていなかった場合には、アイドル状態(ステップ80
1)になる。これらの場合、微妙なペンダウン/アップ
回数を計数するカウンタをクリアする(ステップ81
9)。
【0038】ペンダウン時では、微妙なペンダウン/ア
ップ状態かどうかを確認する(ステップ805)。ここ
で、微妙なペンダウン/アップ状態の場合には、微妙な
状態の回数を計数し(ステップ817)、その数が設定
値より多いかどうかを判定する(ステップ818)。設
定値より多い場合は、ペンアップであると判定し、ペン
ダウン判定ステップ804のペンアップ時と同じ処理を
行う。他方、設定値より少ない場合は、微妙な状態とし
て、座標出力を行わず(ステップ811)、内部状態を
保持する(ステップ812)。
【0039】微妙なペンダウン状態と判定されなかった
場合は、X座標の検出(ステップ806)、Y座標検出
(ステップ807)を行う。そして、再度微妙なペンダ
ウン/アップ状態の判定を行い(ステップ808)、位
置座標を計算し出力する(ステップ809)。
【0040】
【発明の効果】本発明によれば、抵抗膜感圧式デジタイ
ザ座標検出装置において、筆圧が弱い場合、抵抗膜間の
接触抵抗の変化を把握し、完全にペンアップしている
か、微妙なペンダウン状態かを識別することができる。
これにより、連続筆記途中で筆圧が弱くなった場合で
も、ペンダウン状態に応じて最適な対応が可能になり、
高精度な座標検出が可能になる。また、線切れなどが発
生しにくい座標位置読み取り装置を実現することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施例に係る座標検出装置の構成
を示すブロック図
【図2】本発明の一実施例の動作を示すためのフローチ
ャート図
【図3】抵抗膜感圧式デジタイザの基本構成図
【図4】従来の座標検出装置の構成を示すブロック図
【図5】従来の座標検出動作を示すためのフローチャー
ト図
【図6】実施例のペンダウン信号とXY電極の電位状態波
形図
【図7】他の実施例に係るペンアップ待機処理の動作を
示す構成図
【図8】他の実施例に係るペンアップ待機処理の動作を
示すシーケンス
【符号の説明】
101、401、701デジタイザ部 102、402、702デジタイザ電極切り替えスイッチ部 103、403、703AD変換部 104、404、704演算制御部 105、405、705ホストCPU 106、406、706ペンダウン検出部 107、407、707微妙なペンダウン状態検出部 108、408、708サンプリング周期カウント部 301シート(ガラス、フィルム) 302導電性シート(抵抗膜) 303スぺーサ 709微妙なペンダウン回数記憶部 710微妙なペンダウン回数カウント部 711微妙なペンダウン回数判定部
フロントページの続き (72)発明者 堀井 洋 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 デジタイザ面に接触することにより接触
    点の位置座標を検出できる座標検出装置おいて、デジタ
    イザ面に対する接触の程度に応じてペンダウン状態を検
    出するペンダウン検出手段と、微妙なペンダウン/アッ
    プ状態を検出する手段と、接触座標位置の検出値を位置
    座標データに変換演算する演算手段とを設け、 前記ペンダウン検出手段によりペンダウンと検出され、
    且つ、前記微妙なペンダウン/アップ検出手段により微
    妙なペンダウン/アップ状態と検出された場合には、座
    標検出処理の状態をペンダウン状態に保持すると共に位
    置座標データの出力を禁止することを特徴とする座標検
    出装置。
  2. 【請求項2】 前記微妙なペンダウン/アップ状態の判
    別は、前記ペンダウン検出手段にて前記接触の程度を参
    照することによって行うことを特徴とする請求項1に記
    載の座標検出装置。
  3. 【請求項3】 前記微妙なペンダウン/アップ状態の判
    別は、前記接触座標位置の検出値の変動を参照すること
    によって行うことを特徴とする請求項1に記載の座標検
    出装置。
  4. 【請求項4】 接触座標位置の検出を1サンプリング時
    間内に複数回行い、前記微妙なペンダウン/アップ状態
    の検出は、当該複数回行われた座標位置の検出値を相互
    に比較することによって行うことを特徴とする請求項3
    に記載の座標検出装置。
  5. 【請求項5】 前記微妙なペンダウン/アップ時には、
    ペンアップ状態であると判定せずにペンアップコードを
    出力しないようにすることを特徴とする請求項1〜4の
    何れかに記載の座標検出装置。
  6. 【請求項6】 所定のサンプリング時間において前記微
    妙なペンダウン/アップを判定した後、次のサンプリン
    グ時間においてペンダウン検出手段がペンアップを判定
    した場合、ペンアップコードを出力してペンダウン状態
    を解除することを特徴とする請求項1〜5に記載の座標
    検出装置。
  7. 【請求項7】 前記微妙なペンアップ状態の時間をカウ
    ントするカウント手段を配し、当該カウント時間が所定
    のしきい値を経過した場合に、ペンアップコードを出力
    してペンダウン状態を解除することを特徴とする請求項
    1〜5に記載の座標検出装置。
  8. 【請求項8】 前記カウント手段は、サンプリング時間
    の到達回数をカウントするものであり、当該到達回数が
    所定のしきい値を経過した場合に、ペンアップコードを
    出力してペンダウン状態を解除することを特徴とする請
    求項7に記載の座標検出装置。
  9. 【請求項9】 前記カウント手段のカウント値と比較す
    るしきい値は、外部からコマンドなどによって任意に設
    定できることを特徴とする請求項7または8に記載の座
    標検出装置。
  10. 【請求項10】 微妙なペンアップ時には、それまでの
    ペンダウンの継続状態において得られた情報を引き続い
    て保持する記憶手段を有することを特徴とする座標検出
    装置。
  11. 【請求項11】 前記デジタイザは、デジタイザ面が押
    下されることにより2枚の導電性シートが接触すること
    により押下座標位置を電圧として検出する抵抗膜感圧式
    であることを特徴とする請求項1〜10の何れかに記載
    の座標検出装置。
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