JPH11306784A - 昇圧回路 - Google Patents

昇圧回路

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JPH11306784A
JPH11306784A JP11560998A JP11560998A JPH11306784A JP H11306784 A JPH11306784 A JP H11306784A JP 11560998 A JP11560998 A JP 11560998A JP 11560998 A JP11560998 A JP 11560998A JP H11306784 A JPH11306784 A JP H11306784A
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voltage
transistor
circuit
pulse
booster circuit
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JP11560998A
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Tetsunobu Kouchi
哲伸 光地
Toru Koizumi
徹 小泉
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Canon Inc
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 前記昇圧回路で、所望の電圧に達するまで時
間がかかり、また書き込み終了後に接地電位に立ち下げ
るため、やはり接地電位に電圧を立ち下げる時間が大幅
にかかるといった問題点を解決することを課題とする。 【解決手段】 昇圧回路において、外部電源電圧を昇圧
する昇圧回路ブロックと、前記昇圧回路ブロックにより
発生した電圧をパルスに変換するパルス変換回路とを有
し、該パルス変換回路は、抵抗体とトランジスタからな
り、前記抵抗体は前記昇圧回路ブロックの出力と前記ト
ランジスタのドレインの間に接続され、前記トランジス
タのソースは接地電位に接続され、前記トランジスタの
ゲートが前記パルス変換回路の入力端子になり、前記抵
抗体に接続したドレインが出力端子となるように構成さ
れたことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、外部電圧をチップ
内で昇圧して、書き込み電圧とする不揮発性半導体記憶
装置、スイッチングトランジスタのゲート電圧とする液
晶表示装置、同じくスイッチングトランジスタのゲート
電圧とする光電変換装置に採用される昇圧回路及びこれ
を用いた半導体装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、昇圧回路は、DC−DC回路とし
て一般化され、スイッチング回路とスイッチトランスを
用いているが、近年の半導体製造技術や半導体回路技術
の進展により、同一半導体チップ内で、単一DC電源か
ら複数のDC電圧を生成する試みが盛んに実行されてい
る。特に、半導体技術の低電圧化により、動作的に高電
圧を必要とする場合には、低電圧から高電圧を得る昇圧
回路が欠かせなくなっている。
【0003】例えば、ゲートを浮遊状態として利用する
フローティングゲート型EEPROM又はEPROMセ
ルにデータを書き込む場合に、比較的高い20V程度の
電圧の矩形状パルスを加えるが、5V程度の電源電圧を
使用している不揮発性半導体記憶装置においては、メモ
リ書き込みの際に外部から供給される電源電圧を昇圧す
る必要があり、たとえば図8に示したような構成が開示
されている(特許番号第2589329号)。同図にお
いては、正帰還回路による発振回路31の発振周波数に
応じた電圧上昇率を有する昇圧回路ブロック36が設け
られていて、その昇圧回路ブロック36により昇圧した
直流電圧の出力時間をCPU34によって制御し、定電
圧回路41で電圧を安定化して、EEPROMセル48
に供給する所定の書き込みパルスを得るように構成され
ている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記昇
圧回路では書き込みを行なうタイミングで初めてCPU
34からの制御信号によって昇圧を開始するため、所望
の電圧に達するまで時間がかかり、また書き込み終了後
に接地電位に立ち下げるための電流経路が確保されてお
らず、やはり接地電位に電圧を立ち下げる時間が大幅に
かかるといった問題点を有していた。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題点を
解決する手段として、外部電源電圧を昇圧する昇圧回路
ブロックと、前記昇圧回路ブロックにより発生した電圧
をパルスに変換するパルス変換回路とを有し、該パルス
変換回路を、抵抗体とトランジスタから構成し、前記抵
抗体は前記昇圧回路ブロックの出力と前記トランジスタ
のドレインの間に接続し、前記トランジスタのソースは
接地電位に接続し、ゲートを前記パルス変換回路の入力
端子、前記抵抗体に接続したドレインが出力端子、とな
るよう構成することを特徴とする。このような発明特定
事項により、高速にON/OFF動作することができる
昇圧回路を提供することを特徴としたものである。
【0006】また、本発明は、マトリクス状に液晶セル
を配置したTFTタイプの液晶表示装置において、前記
マトリクス状に液晶セルに接続された前記TFTのソー
スと、該TFTのゲートに接続された垂直シフトレジス
タと、前記TFTのドレインに転送スイッチを介して接
続され画像信号を供給する水平シフトレジスタとを備
え、前記転送スイッチと前記TFTのゲートとに供給す
る電圧は、発振回路と該発振回路の発振信号を入力して
チャープ電圧方式で昇圧する昇圧回路ブロックと該昇圧
回路ブロックの昇圧電圧を前記各レジスタの出力に応じ
てパルス波に変換するパルス変換回路とにより昇圧され
た電圧であることを特徴とする。
【0007】更に、本発明は、マトリクス状に光電変圧
素子を配置した光電変換装置において、前記光電変換素
子に接続された転送スイッチMOSと、前記転送スイッ
チMOSの出力を受けて増幅する増幅回路と、該増幅回
路を動作させる選択MOSと、前記転送スイッチMOS
の出力をリセットするリセットMOSとからなる画素を
前記マトリクス状に配置して、前記各MOSのゲートを
それぞれ駆動する垂直走査回路と、前記増幅回路の出力
を時系列的に読み出す水平走査回路とを備え、前記垂直
走査回路から前記各MOSのゲートに供給する電圧は、
発振回路と該発振回路の発振信号を入力してチャープ電
圧方式で昇圧する昇圧回路ブロックと該昇圧回路ブロッ
クの昇圧電圧を前記各レジスタの出力に応じてパルス波
に変換するパルス変換回路とにより昇圧された電圧であ
ることを特徴とする。
【0008】
【発明の実施の形態】本発明の実施形態について、図面
を参照しつつ詳細に説明する。
【0009】[第1の実施形態]図1は、本発明の第1
の実施形態を説明する模式説明図である。同図におい
て、5はP型MOSトランジスタ、6はN型MOSトラ
ンジスタである。P型MOSトランジスタ5のソース
は、本回路の電源電圧VDに接続し、ドレインはN型M
OSトランジスタ6のドレインに接続する。N型MOS
トランジスタ6のソースは接地電極GNDに接続してい
る。P型MOSトランジスタ5とN型MOSトランジス
タ6のゲートは互いに接続されて入力部とされ、両MO
Sトランジスタのドレイン同士を出力部として、上記構
成により、インバータを形成している。
【0010】また、1はこのインバータを直列に奇数個
接続するとともに、インバータ最終段の出力を初段イン
バータに帰還するループ発振回路である。
【0011】また、2はループ発振回路1の出力と該出
力を1段のインバータを介した出力をうけて、電源電圧
VDを昇圧する昇圧回路ブロックである。この昇圧回路
ブロックは、ソース・ドレインが互いに直列に接続さ
れ、かつゲートをソースに接続した複数個のN型MOS
トランジスタ7を有し、その一端は電源電圧VDに接続
するとともに、各N型MOSトランジスタ7のソース・
ドレインは発振回路1からパルス波を入力するコンデン
サ8と、このパルス波の反転パルスを入力するコンデン
サ9とを一つおきに交互に接続することによって構成し
たチャージポンプを具えていて、発振回路1からパルス
波を入力した時に、電荷を汲み上げるように昇圧しつ
つ、直流電圧に変換するように構成されている。昇圧さ
れる電圧は、直列接続するトランジスタ7の段数を変え
る、図1には図示していないが、クランプ回路を接続し
てクランプ電圧を変えるなどの手段により所望の電圧に
設定することができる。
【0012】さらに、4は本発明の特徴をなすパルス変
換回路であり、11はポリシリコンや半導体拡散層等か
らなる抵抗体であり、その一端は昇圧回路ブロック2の
出力に接続し、もう一端はN型MOSトランジスタ6−
1のドレインと接続して、N型MOSトランジスタ6−
1のゲート入力に対して、両者で抵抗負荷インバータを
構成している。抵抗負荷インバータ4の出力は、パルス
出力端子13に接続している。
【0013】パルス入力端子12はP型MOSトランジ
スタ5−1とN型MOSトランジスタ6−2からなるイ
ンバータに接続し、そのインバータの出力は、N型MO
Sトランジスタ6−1のゲートに接続しており、そのソ
ースは接地電極GNDに接続している。
【0014】つぎに、本実施形態の動作を図2を用いて
説明する。同区でφA1は発振回路1からのパルス波、
φA2はφA1と逆位相のパルス波であり、その振幅は
電源電圧がVDのとき、およそVdとなる。それぞれの
パルス波はコンデンサ8,9の一端に入力される。φ1
Nはパルス変換回路4の入力パルスであり、図1の入力
端子12に入力される。φB1は昇圧回路ブロック2の
出力であり、抵抗体11の一端に入力される。φOUT
はパルス変換回路4のパルス出力端子13の電位であ
る。
【0015】まず、発振回路1が動作を開始し、パルス
波φA1とφA2が昇圧回路ブロック2に供給され、コ
ンデンサ8,9の一端にパルスが印加されると、昇圧回
路ブロック2のチャージポンプが動作を開始するが、時
刻t0においては、パルスφA1がローレベルにいるた
め、また入力パルスφ1Nがローであるので、N型MO
Sトランジスタ6−1が導通しており、抵抗負荷インバ
ータには貫通電流が流れる。φB1の電圧は昇圧回路ブ
ロック2が供給できる電流と抵抗負荷インバータの貫通
電流の関係で決まる。抵抗負荷インバータの抵抗体11
とN型MOSトランジスタ6−1の抵抗比を所望の値に
設定することで、出力端子13には図に示すようにパル
ス波φA1がハイの時わずかに正側の積分波形が生じる
が、ほぼ接地電位が出力される。
【0016】次に、時刻t1に、φlNをハイレベルに
すると、N型MOSトランジスタ6−1のゲートには接
地電位が印加され、抵抗負荷インバータは遮断される。
そのため昇圧回路ブロック2の電圧はチャージポンプの
能力で決まる電圧にまで上昇する。貫通電流が流れない
ため、抵抗体11のもう一端、つまりφOUTが昇圧さ
れ出力される。
【0017】次に、時刻t2に、φ1Nがローレベルに
なると、再度抵抗負荷インバータが導通しするので、出
力端子13の電位を高速に接地電位に立ち下げることが
できる。
【0018】例えば、電源電圧は5Vとし、発振回路が
10数MHzで発振するように発振回路1内のトランジ
スタサイズを設定し、抵抗負荷インバータの抵抗体11
の抵抗値を数KΩにし、図1に示したように4段構成の
昇圧回路ブロック2を用いることで、φ1Nのハイレベ
ルの時、出力端子13の電位をハイレベルが約9V,ロ
ーレベルが約OVの昇圧されたパルスをマイクロ秒のオ
ーダーで発生できる高速な昇圧回路を実現することがで
きた。
【0019】本実施形態の構造を実現するためのMOS
トランジスタの断面構造を図3に示す。図において、3
01はN型半導体基板、302は半導体基板301にイ
オン注入などによって形成されたp型ウエル領域、30
3はポリシリコンなどで基板301上に絶縁膜を介して
形成されるMOSトランジスタのゲート電極、304は
ウエル領域内にイオン注入により形成されたN型不純物
層であり、N型MOSトランジスタのソース・ドレイン
となる。
【0020】また、305はN型半導体基板中にイオン
注入により形成されたP型不純物層であり、P型MOS
トランジスタのソース・ドレインとなる。一般にN型半
導体基板の場合、基板の電位は電源電圧に固定して用い
る。そのため基板とPN接合を形成するp型領域、たと
えばP型MOSトランジスタのソース・ドレインには、
接合に1順方向電流が流れるのを防ぐため、電源電圧よ
り高い電圧を印加することができない。やむを得ずP型
MOSトランジスタのソース・ドレインに電源電圧より
高い電圧を印加する場合には、プロセスとして煩雑で高
コストの二重ウエル構造などを採用する必要がある。
【0021】本発明の構造は、昇圧回路ブロック2で昇
圧した高電圧として、電源電圧より高い電圧が印加され
る部分は、N型MOSトランジスタと抵抗体のみで構成
されるので、図3に示したような簡単で低コストなプロ
セスで実現できるものである。従って、図2で示した入
力パルスφ1Nがハイレベルの時に、その抵抗負荷イン
バータの出力が電源電圧よりも高電圧としても、通常の
MOS構造のトランジスタを正常に動作させることがで
きる。
【0022】[第2の実施形態]第4図は、本発明の第
2の実施形態を説明する模式説明図である。同図におい
て、5はP型MOSトランジスタ、6はN型MOSトラ
ンジスタである。P型MOSトランジスタ5のソースは
回路の電源電圧VDに接続し、ドレインはN型MOSト
ランジスタ6のドレインに接続する。N型MOSトラン
ジスタ6のソースは接地電極GNDに接続している。P
型MOSトランジスタ5とN型MOSトランジスタ6の
ゲートは互いに接続され、上記構成により1段のインバ
ータを形成している。また、1はこのインバータを直列
に奇数個接続するとともにインバータ最終段の出力を初
段インバータに帰還するループ発振回路である。
【0023】また、2は発振回路1の出力と該出力を1
段のインバータを介した出力をうけて、電源電圧Vdを
昇圧する第一の昇圧回路ブロックである。この第一の昇
圧回路ブロック2はソース・ドレインが互いに直列に接
続され、かつゲートをソースに接続した複数個のN型M
OSトランジスタ7を有し、その一端は電源電圧Vdに
接続するととも、各N型MOSトランジスタ7のソース
・ドレインは発振回路1からパルス波を入力するコンデ
ンサ8と、このパルス波の反転パルスを入力するコンデ
ンサ9とを一つおきに交互に接続することによって構成
したチャージポンプを具えていて、発振回路1からパル
ス波を入力した時に、電荷を汲み上げるように昇圧しつ
つ直流電圧に変換するように構成されている。
【0024】さらに、3は基本的に第一の昇圧回路ブロ
ック2と同様の原理で動作する第二の昇圧回路ブロック
であり、第一の昇圧回路ブロック2より低い電圧に昇圧
されるよう構成されている。10は昇圧した電圧を保持
するための保持容量である。昇圧される電圧は、直列接
続するトランジスタ7の段数を変えることで、例えば図
4には図示していないがクランプ回路を接続してクラン
プ電圧を変えるなどの手段により、所望の電圧に設定す
ることができる。
【0025】また、4は本発明の特徴をなすパルス変換
回路で、11はポリシリコンや半導体拡散層等からなる
抵抗体でありその一端は第一の昇圧回路ブロック2の出
力に接続しもう一端はN型MOSトランジスタ6−1の
ドレインと接続して両者で抵抗負荷インバータを構成し
ている。抵抗負荷インバータの出力はN型MOSトラン
ジスタ6−3のゲートに接続している。パルス入力端子
12はP型MOSトランジスタ5−1とN型MOSトラ
ンジスタ6−2からなるインバータに接続し、そのイン
バータの出力は、N型MOSトランジスタ6−1とN型
MOSトランジスタ6−4のゲートに接続している。
【0026】また、N型MOSトランジスタ6−2のド
レインは第二の昇圧回路ブロック3の出力に接続し、ソ
ースはN型MOSトランジスタ6−4のドレインおよび
パルス出力端子13に接続している。N型MOSトラン
ジスタ6−4のソースは、接地電極GNDに接続してい
る。
【0027】本実施形態の動作を、図5を用いて説明す
る。同図でφA1は発振回路1からのパルス波、φA2
はφA1と逆位相のパルス波であり、その振幅は電源電
圧がVDのとき、およそVdとなる。それぞれはコンデ
ンサ8,9の一端に入力される。φlNはパルス変換回
路の入力パルスであり、図1の入力端子12に入力され
る。φB1は第一の昇圧回路ブロック2の出力であり、
抵抗体11の一端に入力される、φB2は第二の昇圧回
路ブロック3の出力である。φOUTはパルス変換回路
4のパルス出力端子13の電位である。
【0028】まず、時刻t0に発振回路が動作を開始
し、コンデンサ8,9の一端にパルスが印加されると、
第一の昇圧回路ブロック2、第二の昇圧回路ブロック3
のチャージポンプが動作してφB1、φB2の電圧が昇
圧する(時刻t1)。
【0029】つぎに、φB2の電圧はチャージポンプの
能力で決まる電圧まで昇圧する。この時φINはLOW
レベルにいるので、N型MOSトランジスタ6−1のゲ
ートにはVdが印加され、抵抗負荷インバータには貫通
電流が流れる。φB1の電圧は昇圧回路ブロック2が供
給できる電流と抵抗負荷インバータの貫通電流の関係で
決まる。抵抗負荷インバータの抵抗体11とN型MOS
トランジスタ6−1の抵抗比を所望の値に設定すること
で、この時点までN型MOSトランジスタ6−3は非導
通、N型MOSトランジスタ6−4は導通状態にあり、
出力端子13には接地電位が出力される。
【0030】次に、時刻t2にφINをHlGHレベル
にするとN型MOSトランジスタ6−1のゲームとに接
地電位が印加され抵抗負荷インバー夕は遮断される。そ
のため昇圧回路ブロック2の電圧はチャージポンプの能
力で決まる電圧にまで上昇する。貫通電流が流れないた
め、抵抗体11のもう一端、つまりN型MOSトランジ
スタ6−3のゲート電圧も同じ電圧にまで上昇し、N型
MOSトランジスタ6−3は導通する、N型MOSトラ
ンジスタ6−4のゲートにはこの時LOWレベルが印加
されるので、非導通となる。
【0031】昇圧回路ブロック2の昇圧電圧 > 昇圧
回路ブロック3の昇圧電圧+ N型MOSトランジスタ
6−2のしきい値電圧 に設定することで、出力端子13に第二の昇圧回路ブロ
ック3と同じ電圧が出力される、実施形態1では、抵抗
負荷型インバータを用いることにより、接地電位への立
ち下げは高速に行なうことができたが、昇圧電圧への昇
圧は入力パルスが印加されてから開始するため、どうし
ても多少波形がなまってしまっっていた、立ち上がり速
度を改善するために抵抗体11の抵抗値を小さく設定す
ると、抵抗負荷型インバータを流れる貫通電流が増加し
消費電力が増大する、抵抗体11とN型MOSトランジ
スタ6−1の抵抗比を確保するためにN型MOSトラン
ジスタ6−1のサイズが大きくなり、チップ面積が増大
するという問題点があった。
【0032】しかるに本実施形態では、パルスを制御す
る昇圧回路ブロックと、実際に外部負荷を充電する昇圧
回路ブロックを別個に設けることにより、きわめて高速
にパルスを立ち上げることのできる昇圧回路を実現した
ものである。たとえば、電源電圧は5Vとし、発振回路
が10数MHzで発振するよう発振回路1内のトランジ
スタサイズを設定し、抵抗体の抵抗値を数百KΩにし、
図4に示したように第一の昇圧回路ブロックを4段で、
第二の昇圧回路ブロックを三段で構成したところ、図5
に示したように、昇圧回路ブロック2で充電する負荷
は、N型MOSトランジスタ6−3のゲート容量であり
非常に小さいため抵抗体11の抵抗値を数百KΩと高く
設定しても十分高速にN型MOSトランジスタ6−3の
ゲート電位を約12Vに昇圧することができた。
【0033】また、抵抗値を大きくできたため、抵抗負
荷型インバータの貫通電流を小さく抑え消費電流を低減
することができた。外部の負荷は第二の昇圧回路ブロッ
ク3から充電されるが、昇圧回路ブロック3の出力端の
電位は、N型MOSトランジスタ6−3が導通するまで
は貫通電流が流れないので、パルスを昇圧する時点で既
に約10Vまで昇圧し、その電位を保持している。よっ
て、N型MOSトランジスタ6−3が導通すると同時に
高速に出力端子13の電位を昇圧することができた。接
地電位への降圧は、実施形態1と同様にN型MOSトラ
ンジスタ6−4を導通させることにより高速に行なえる
ことはいうまでもない。上記実施形態1および2では、
N型MOSトランジスタで構成した昇圧回路について説
明したが、P型MOSトランジスタで構成して、接地電
位より低い電圧を発生させる降圧回路として動作させて
も、同様の効果が得られることはいうまでもない。
【0034】また、上記例では昇圧回路ブロックとして
MOSトランジスタとキャパシタで構成した例を説明し
たが、これに限るものではなく、たとえばダイオードと
キャパシタを用いて構成しても同様な効果が得られるこ
とはいうまでもない。また、本回路を構成する素子をす
べて同一チップ上に形成する必要はなく、たとえば抵抗
体11として外部の抵抗素子を用いてもよい。その場
合、回路の消費電力と動作速度を抵抗値を制御すること
で変化させられる、という効果が得られるものである。
【0035】[第3の実施形態]図6は本発明の第3の
実施形態について、アクティブマトリクス型液晶表示装
置に応用した回路図である。同装置は、共通電極709
と各画素電極の間に液晶材料を封入した液晶セル704
と画素トランジスタ703とからなる画素部、映像信号
配線部710、シフトパルススイッチ705、水平シフ
トレジスタ702、ゲート信号配線711、および垂直
シフトレジスタ701、シフトレジスタ701,702
からのシフトパルスに同期して昇圧されたパルスを生成
するため、発振回路1、昇圧回路ブロック2、第二の昇
圧回路ブロック3、パルス変換回路4から構成されてい
る、液晶に記録されるべき信号は、その映像信号の周波
数に同期した出力を行なう水平シフトレジスタ702に
同期して駆動するシフトパルススイッチ705を介して
映像信号配線部に転送される。転送された信号は、垂直
シフトレジスタ701に同期してオンされた画素スイッ
チ703を通して各液晶セルに映像信号が記録される。
【0036】このように転送された信号電圧に対して、
セルを構成する液晶分子が動くことで、別にクロスポラ
ライザの関係で設けた偏向板の方向により、液晶セルの
透過率が変化する。この透過率の違いを各画素の濃淡と
することで、表示体として動作する。上記のような液晶
表示装置で階調の高い画像を表示するためには、映像信
号としておよそ10Vの映像信号を画素に書き込む必要
があり、そのために画素トランジスタ703、シフトパ
ルススイッチ705を図6のようにN型MOSトランジ
スタで構成した場合、さらにしきい値電圧分高い電圧を
それぞれのゲート電極に印加する必要がある。
【0037】本発明よりなる昇圧回路をもちいて必要な
部分のみを昇圧することで、低消費電力な液晶表示装置
を実現することができた。また、回路の大部分は低い電
源電圧のままで使用できるので、回路の信頼性を向上す
ることができた。
【0038】[第4の実施形態]図7は本発明の第4の
実施形態について、固体撮像装置に応用した回路図であ
る。同図において、光電変換素子(フォトダイオードな
ど)801は、入射光量に応じた電荷を蓄積するもので
あり、2次元状に配置されている。また、光電変換素子
801の一端は、転送MOS(Metal Oxide Silicon Tr
ansistor)802を介してソースフォロワ入力MOS8
03のゲートに接続し、ソースフォロワ入力MOS80
3のドレインは垂直選択スイツチMOS804のソース
に接続し、また、ソースは垂直出力線805を経て負荷
電流源806へと接続し、垂直選択スイッチMOS80
4のドレインは、電源線807を経て電源端子808に
接続されており、これらは全体でソースフォロワ回路を
構成している。809はリセットスイッチであり、その
ソースはソースフォロワ入力MOS803のゲートに接
続し、ドレインは電源線807を経て電源端子808に
接続されている。
【0039】本回路は、各画素の光電変換素子で発生し
た光電荷が転送MOSを通して、ソースフォロワ入力M
OS803のゲートに転送され、転送された電荷に応じ
てソースフォロワ入力MOS803のゲートに信号電圧
が発生し、それをソースフォロワ回路で電流増幅して読
み出すものである。垂直選択スイッチMOS804のゲ
ートは垂直ゲート線810で、パルス変換回路4を経由
して垂直走査回路813に接続する。リセットスイッチ
809のゲートは、リセットゲート線812でパルス変
換回路4を経由して垂直走査回路813に接続する。転
送MOSのゲートは転送ゲート線811を経由して、垂
直走査回路813に接続する。図では説明を簡単にする
ためパルス変換回路4を、ひとつのブロックとして記述
しているが、実際には、各ゲート線810,811,8
12についてそれぞれ設けられているものである。ソー
スフォロワ回路の出力信号は、垂直出力線805、水平
転送MOSスイッチ814、水平出力線815、出力ア
ンプ816を通して、外部に出力される、水平転送MO
Sスイッチ814のゲートは、パルス変換回路4を経由
して水平走査回路817にそれぞれ接続している。
【0040】本回路の動作を説明すると、まずリセット
スイッチ804により光電変換素子をリセットする。次
に蓄積動作にはいり、光電変換素子801に光電荷が蓄
積される。蓄積時間終了後、電荷はソースフォロワ入力
MOS803のゲートに転送され、転送された信号電荷
の量に応じて信号電圧が発生する。その後、垂直走査回
路813および水平走査回路817によって選択された
画素の信号はソースフォロワ回路によって増幅された
後、順次出力アンプ818を通して出力される、より大
きな信号を取り出すためには、たとえば水平転送MOS
スイッチ814のゲート電圧を信号電圧より高くする必
要がある。
【0041】本発明よりなる昇圧回路を用いることによ
り、必要な部分のみの電圧を効率よく昇圧することがで
きるものである。本実施形態では、X−Yアドレス型の
固体撮像素子を例にとって説明したが、これに限るもの
ではなく、電荷結合デバイスを用いた光電変換装置にお
いても、同様な効果が得られることはいうまでもない。
また、上記例に限らず、昇圧された高速なパルスが必要
な回路において、本発明は有効なものである。
【0042】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の構造をと
ることにより、内部で電源電圧を昇圧したパルスを用い
る半導体装置において、高速なパルスを簡単なプロセス
で作成されたトランジスタを用いて発生させることがで
きる、という効果を奏し得る。また、本発明の構造をと
ることにより、高速な書き込みを行なうことが可能で、
低消費電力な不揮発性半導体記憶装置を、低コストで実
現することができる。また、高精細で低消費電力な液晶
表示装置を、低コストで実現することができる。また、
高階調な出力を得られる低消費電力名固体撮像素子を、
低コストで実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一の実施形態の模式説明図である。
【図2】本発明の第一の実施形態の動作タイミング図で
ある。
【図3】本発明のデバイスの断面図である。
【図4】本発明の第二の実施形態の模式説明図である。
【図5】本発明の第二の実施形態の動作タイミング図で
ある。
【図6】本発明を液晶表示装置に応用した第三の実施形
態である。
【図7】本発明を固体撮像素子に応用した第四の実施形
態である。
【図8】従来の昇圧回路の回路例である。
【符号の説明】
1 ループ発振回路 2 第1の昇圧回路ブロック 3 第2の昇圧回路ブロック 4 パルス変換回路 5 P型MOSトランジスタ 6 N型MOSトランジスタ 7 N型MOSトランジスタ 8,9 コンデンサ 11 抵抗体 12 パルス入力端子 13 パルス出力端子 301 N型半導体基板 302 P型ウエル 303 ゲート 304 ドレイン/ソース 305 ドレイン/ソース 801 フォトダイオード 802 転送MOS 803 ソースフォロワMOS 804 選択MOS 805 垂直出力線 806 電流源 807 電源線 808 電源端子 809 リセットMOS 813 垂直走査回路 817 水平走査回路

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 外部電源電圧を昇圧する昇圧回路ブロッ
    クと、前記昇圧回路ブロックにより発生した電圧をパル
    スに変換するパルス変換回路とを有し、該パルス変換回
    路は、抵抗体とトランジスタからなり、前記抵抗体は前
    記昇圧回路ブロックの出力と前記トランジスタのドレイ
    ンの間に接続され、前記トランジスタのソースは接地電
    位に接続され、前記トランジスタのゲートが前記パルス
    変換回路の入力端子になり、前記抵抗体に接続したドレ
    インが出力端子となるように構成されたことを特徴とす
    る昇圧回路。
  2. 【請求項2】 外部電源電圧を昇圧する第一の昇圧回路
    ブロックと第二の昇圧回路ブロックとを有し、前記第二
    の昇圧回路ブロックにより発生した電圧をパルスに変換
    するパルス変換回路とを有し、該パルス変換回路は、抵
    抗体と、第一、第二、第三のトランジスタからなり、前
    記抵抗体は前記第一の昇圧回路ブロックの出力と前記第
    一のトランジスタのドレインの間に接続され、前記第一
    のトランジスタのソースは接地電位に接続され、ゲート
    は前記第三のトランジスタのゲートに接続するとともに
    前記パルス変換回路の入力端子となり、前記抵抗体に接
    続したドレインは前記第二のトランジスタのゲートに接
    続し、前記第二のトランジスタのドレインは前記第二の
    昇圧回路ブロックの出力と接続し、前記第二のトランジ
    スタのソースは前記第三のトランジスタのドレインと接
    続するとともに前記パルス変換回路の出力端子となり、
    前記第三のトランジスタのソースが接地電位に接続され
    ていることを特徴とする昇圧回路。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2に記載の昇圧回路を用い
    たことを特徴とする半導体装置。
  4. 【請求項4】 マトリクス状に液晶セルを配置したTF
    Tタイプの液晶表示装置において、 前記マトリクス状に液晶セルに接続された前記TFTの
    ソースと、該TFTのゲートに接続された垂直シフトレ
    ジスタと、前記TFTのドレインに転送スイッチを介し
    て接続され画像信号を供給する水平シフトレジスタとを
    備え、前記転送スイッチと前記TFTのゲートとに供給
    する電圧は、発振回路と該発振回路の発振信号を入力し
    てチャープ電圧方式で昇圧する昇圧回路ブロックと該昇
    圧回路ブロックの昇圧電圧を前記各レジスタの出力に応
    じてパルス波に変換するパルス変換回路とにより昇圧さ
    れた電圧であることを特徴とする液晶表示装置。
  5. 【請求項5】 マトリクス状に光電変圧素子を配置した
    光電変換装置において、 前記光電変換素子に接続された転送スイッチMOSと、
    前記転送スイッチMOSの出力を受けて増幅する増幅回
    路と、該増幅回路を動作させる選択MOSと、前記転送
    スイッチMOSの出力をリセットするリセットMOSと
    からなる画素を前記マトリクス状に配置して、前記各M
    OSのゲートをそれぞれ駆動する垂直走査回路と、前記
    増幅回路の出力を時系列的に読み出す水平走査回路とを
    備え、前記垂直走査回路から前記各MOSのゲートに供
    給する電圧は、発振回路と該発振回路の発振信号を入力
    してチャープ電圧方式で昇圧する昇圧回路ブロックと該
    昇圧回路ブロックの昇圧電圧を前記各レジスタの出力に
    応じてパルス波に変換するパルス変換回路とにより昇圧
    された電圧であることを特徴とする光電変換装置。
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