JPH11312330A - ビームスプリッタおよびこれを具備した複合光学素子、ならびに光学ピックアップ装置および光記録再生装置 - Google Patents

ビームスプリッタおよびこれを具備した複合光学素子、ならびに光学ピックアップ装置および光記録再生装置

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JPH11312330A
JPH11312330A JP10119515A JP11951598A JPH11312330A JP H11312330 A JPH11312330 A JP H11312330A JP 10119515 A JP10119515 A JP 10119515A JP 11951598 A JP11951598 A JP 11951598A JP H11312330 A JPH11312330 A JP H11312330A
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JP
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layer film
refractive index
film
beam splitter
receiving element
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JP10119515A
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Satohiko Memesawa
聡彦 目々澤
Takashi Sato
敬 佐藤
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Sony Corp
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Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光吸収ロス、入射角度依存性、偏光分離差が
何れも小であるビームスプリッタを提供し、これを具備
する複合光学素子を提供し、高品質な記録再生特性、小
消費電力、小型薄型な光学ピックアップ装置、光記録再
生装置の提供。 【解決手段】 ビームスプリッタ膜(ハーフミラー膜
2)が、屈折率n1 の第1層膜2a(例えばn1 2.2
8のTiO2 膜)、第1層膜2a上の屈折率n2 がn2
<n1 の第2層膜2b(例えばn2 1.63のAl2
3 膜)、第2層膜2b上の屈折率n3 がn3 <n2 の第
3層膜2c(例えばn3 1.46のSiO2膜)、第3
層膜2c上の屈折率n4 がn4 ≒n2 の第4層膜2d
(例えばn4 1.63のAl2 3 膜)、第4層膜2d
上の屈折率n5 がn5 ≒n1 の第5層膜2e(例えばn
5 2.28のTiO2 膜)、第5層膜2e上の屈折率n
6 がn6≦n3 の第6層膜2f(例えばn6 1.38の
MgF2 膜)を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はビームスプリッタお
よびこれを具備した複合光学素子、ならびに光学ピック
アップ装置および光記録再生装置に関し、さらに詳しく
は、半導体レーザから出射された往路光ビームを反射
し、光記録媒体で反射されて戻る復路光ビームを透過す
るビームスプリッタ膜が形成されたビームスプリッタお
よびこれを具備した複合光学素子、ならびに光学ピック
アップ装置および光記録再生装置に関する。
【0002】
【従来の技術】ROM(Read Only Memory)ディスクや
RAM(Random Access Memory)ディスク等の光記録媒
体に記録された情報を再生する、あるいは光記録媒体に
情報を記録する光記録再生装置には、半導体レーザを光
源とする光学ピックアップ装置が用いられている。近年
では光記録再生装置の小型薄型化の要求とともに光学ピ
ックアップ装置の小型薄型化も求められており、この観
点から光源である半導体レーザと光記録媒体で反射され
た戻りの復路光ビームを受光して光電変換する受光素子
とを同一の半導体基板上に一体的に構成した複合光学素
子を用いた光学ピックアップ装置および光記録再生装置
が注目されている。この複合光学素子を用いた光学ピッ
クアップ装置および光記録再生装置の一例について、光
学ピックアップ装置の概略構成図である図6および光記
録再生装置の概略構成図である図7を参照し、その概略
構成について説明する。
【0003】複合光学素子8は、図6に示したように、
半導体基板4に形成された一対の第1の受光素子7aお
よび第2の受光素子7bと、この第1の受光素子7aお
よび第2の受光素子7b上に接着剤等により固着され、
半導体基板4の第1の受光素子7aおよび第2の受光素
子7bが形成された面とほぼ45度傾斜するビームスプ
リッタ膜形成面3aとほぼ平行な高反射面3bとが形成
されたビームスプリッタ3と、ビームスプリッタ膜形成
面3aに対向する側の半導体基板4上のスペーサ5上面
に固着された半導体レーザ6で概略構成されている。
【0004】そして、複合光学素子8上には2軸アクチ
ュエータ等のサーボアクチュエータ9が配設されてい
る。たとえば、サーボアクチュエータ9が2軸アクチュ
エータである場合には、たとえば図7に示したように、
対物レンズ9aを保持した可動部9bが固定部9dから
延設された一対の平行バネ9cにより支持されており、
可動部9bには、ともに図示を省略するフォーカシング
コイルおよびトラッキングコイルが固着されている。フ
ォーカシングコイルおよびトラッキングコイルは固定部
9dに固着されて鉄等の磁性材で構成され、ともに図示
を省略するヨークと、このヨークに固着されたマグネッ
トとで構成された磁気回路の空隙部に配置される。フォ
ーカシングコイルおよびトラッキングコイルには、後に
説明するフォーカシングエラー信号およびトラッキング
エラー信号に基づく大きさと方向の電流が流され、対物
レンズ9aを保持した可動部9bをフォーカシング方向
およびトラッキング方向に制御駆動する。そして、光学
ピックアップ装置は上記した複合光学素子8やサーボア
クチュエータ9等を接着剤やネジ等により光学ブロック
11に固着した状態で概略構成されている。
【0005】光記録再生装置は、たとえば図7に示した
ように、光学ピックアップ装置が構成された光学ブロッ
ク11をトラッキング方向に案内するとともに、フォー
カシング方向とトラッキング方向の何れの方向も規制す
るメインガイド軸12a、メインガイド軸12aとほぼ
平行であり、フォーカシング方向のみを規制するサブガ
イド軸12b、光学ブロック11をトラッキング方向に
駆動し、リニアモータ等で構成された移動手段の他、何
れも図示を省略するが、光記録媒体10を回転させるス
ピンドルモータ、信号処理やシステムコントローラ等の
回路等で概略構成されている。図7は移動手段を一対の
リニアモータで構成した一例であり、マグネット13を
固着した外ヨーク14と内ヨーク15とで磁気回路を構
成し、光学ブロック11に固着されたコイル16の内側
に内ヨーク15を挿通した事例である。
【0006】以下、光学系について再び図6を参照して
説明する。半導体レーザ6の発光面6aから出射された
往路光ビーム(図中の1点鎖線)は、ビームスプリッタ
3のビームスプリッタ膜形成面3aで反射され、2軸ア
クチュエータ等のサーボアクチュエータ9に具備された
対物レンズ9aを介して光記録媒体10の信号記録面に
集光される。そして、信号記録面で反射された復路光ビ
ームは再び対物レンズ9aを透過してビームスプリッタ
膜形成面3aからビームスプリッタ3内に導かれ、第1
の受光素子7aに照射される(図中の2点鎖線)。さら
に、ビームスプリッタ3の第1の受光素子7aとの対向
面で反射された復路光ビームは高反射面3bで反射され
て第2の受光素子7bに照射される。この第1の受光素
子7aおよび第2の受光素子7bで光電変換した信号か
ら、フォーカシングエラー信号、トラッキングエラー信
号およびRF信号等が検出される。このフォーカシング
エラー信号、トラッキングエラー信号およびRF信号の
検出法の一例について、図6におけるA方向からみた第
1の受光素子7aおよび第2の受光素子7bの概略A矢
視図である図8を参照して説明する。
【0007】第1の受光素子7aおよび第2の受光素子
7bは何れも4分割された受光部を有している。そし
て、第1の受光素子7aに有する受光部をa、b、c、
dとし、第2の受光素子7bに有する受光部をe、f、
g、hとすれば、フォーカシングエラー信号は((ad
−bc)−(eh−fg))で検出され、トラッキング
エラー信号は、たとえばTPP法(Top-hold and Push-
Pull)と称される(cdgh−abef)−Kt((c
dghのミラーレベル)−(abefのミラーレベ
ル))で検出され(但し、Ktはトラッキングエラー信
号のオフセット量を調整する係数)、RF信号はabc
defghで検出される。
【0008】ビームスプリッタ膜形成面3aに形成され
るビームスプリッタ膜は、往路光ビームに対して、たと
えば20%は反射して対物レンズ9aを介して光記録媒
体10へと導き、80%は透過する膜が形成されてい
る。また、ビームスプリッタ3の第1の受光素子7aと
の対向面にもこのようなビームスプリッタ膜が形成され
ており、復路光ビームに対して、たとえば42%は反射
して高反射面3bを介して第2の受光素子7bへと導
き、58%は透過させて第1の受光素子7aに導く膜が
形成されている。これらのビームスプリッタ膜では光吸
収ロスが小であることが求められており、ビームスプリ
ッタ3の2カ所に形成されるビームスプリッタ膜の特性
は、複合光学素子8の光学特性、強いては光学ピックア
ップ装置および光記録再生装置の記録再生特性を大きく
左右する。とくに、往路光ビームを反射させ、復路光ビ
ームを透過させるビームスプリッタ膜形成面3aに形成
されるビームスプリッタ膜は、高性能な光学特性が要求
される。
【0009】複合光学素子8を用いる光学ピックアップ
装置では、一般的にコリメータレンズを用いない有限光
学系で構成される。しかしながら、コリメータレンズを
用いない有限光学系で構成され、複合光学素子8を用い
る光学ピックアップ装置には、以下のような問題点があ
る。第1の問題点は、ビームスプリッタ膜における反射
率および透過率が入射光の入射角度に大きく依存性を有
することである。ビームスプリッタ3のビームスプリッ
タ膜形成面3aや第1の受光素子7aとの対向面に形成
されたビームスプリッタ膜への入射光は発散光およびあ
るいは収束光であり、これらのビームスプリッタ膜に入
射する入射角度はさまざまである。とくに、ビームスプ
リッタ膜形成面3aに形成されたビームスプリッタ膜に
は、空気媒質からの入射であるとともに対物レンズ9a
のNA(Numerical Aperture )から決定される収束光
である復路光ビームが直接入射するので、たとえばビー
ムスプリッタ膜形成面3aの垂直軸と復路光ビームの光
軸中心とのなす角度45度±8度の範囲内において反射
率がほぼ一定の20%であることが求められる。第2の
問題点は、ビームスプリッタ膜形成面3aの垂直軸と往
路光ビームおよび復路光ビームの光軸中心とのなす入射
角度が、たとえば45度±8度のような範囲があると、
P偏光成分とS偏光成分の光学特性の違いが大となるこ
とである。すなわち、有限光学系で構成された光学ピッ
クアップ装置においては、P偏光成分とS偏光成分との
特性差である偏光分離差のないことが求められる。そし
て、偏光分離差がなければ、レーザ光の偏光比や光記録
媒体10の複屈折の影響等による偏光性のばらつきに対
して、記録再生特性の劣化を招く虞がなくなる。したが
って、ビームスプリッタ膜形成面3aに形成されたビー
ムスプリッタ膜には、たとえばビームスプリッタ膜形成
面3aの垂直軸と往路光ビームおよび復路光ビームの光
軸中心とのなす入射角度が45度±8度の範囲内にある
とき、Rs=Rp=20%で偏光分離差が生じない、あ
るいは生じても極めて小であることが求められる。
【0010】以下、ビームスプリッタ3のビームスプリ
ッタ膜形成面3aに形成されるビームスプリッタ膜につ
いて説明する。一般的にビームスプリッタ膜等の光学機
能膜は、その膜厚を記録再生に用いられる光の波長とほ
ぼ等しくして生じる光の干渉を利用したものである。た
とえば単層のビームスプリッタ膜に垂直に入射する光に
干渉を生じさせる条件はn×d=m×4/λ(ただし、
nは単層のビームスプリッタ膜の屈折率、dは単層のビ
ームスプリッタ膜の膜厚、mは干渉次数(位相膜厚ある
いはQuarter Wave Optical Thicknessとも言い、以下位
相膜厚mと記す)、λは光の波長)で求めることができ
る。そして、単層のビームスプリッタ膜には、空気と単
層のビームスプリッタ膜との第1の境界面および単層の
ビームスプリッタ膜と光学素子との第2の境界面の2つ
の屈折率が異なる境界面がある。位相膜厚mが奇数の場
合は、第1の境界面からの反射波と第2の境界面からの
反射波は位相がπずれるので干渉作用による反射光の弱
めあう効果が最大となる。これとは逆に、位相薄膜mが
偶数の場合では位相が揃い、反射光の強めあう効果が最
大となる。
【0011】前記の干渉を生じさせる条件のn×d=m
×4/λから明らかなように、干渉条件は光学機能膜の
屈折率nと光学機能膜の膜厚dによりその効果を制御す
ることができ、任意の光学的な機能を得ることができ
る。しかしながら任意の光学機能膜を得ることができる
光学材料は限られており、実際には安定した光学機能膜
の形成が可能な光学材料を用いて高屈折率薄膜と低屈折
率薄膜とを交互に積層し、積層薄膜構造の光学機能膜を
形成するのが一般的である。したがって、干渉による光
学特性は、光学インピーダンスを用いたマトリックス法
で計算することができる。ここで、単層のビームスプリ
ッタ膜の屈折率をn、単層のビームスプリッタ膜の膜厚
をd、単層のビームスプリッタ膜への入射角をθとした
とき、単層のビームスプリッタ膜の特性マトリックスM
は、下記の式1の2行2列で表される。
【0012】
【数1】
【0013】また、多層のビームスプリッタ膜の特性マ
トリックスMは各層のマトリックスの積であり、M=
(M1)(M2)…(Mi)で表される。このとき、多
層のビームスプリッタ膜の反射率Rは、このマトリック
ス積の要素と入射媒質の屈折率n0 、光学素子の屈折率
s から下記の式2で算出することができる。
【0014】
【数2】
【0015】ところで、複合光学素子8を構成するビー
ムスプリッタ3の、ビームスプリッタ膜形成面3aに形
成されるビームスプリッタ膜の特性には、 1.光吸収ロスが小であること 2.入射角度依存性が小であること 3.偏光分離差が小であること の3点が求められることは先に述べた。これらのうち、
3.偏光分離差が小であることについては、ビームスプ
リッタ膜を金属膜で構成すれば、偏光分離差が小である
ビームスプリッタ膜を得ることができる。しかしなが
ら、金属膜は半導体レーザ6の波長が可視ないし近赤外
域における光吸収ロスが大であるので、記録再生時での
半導体レーザ6の出射パワーに大出力が必要になる。し
たがって、この複合光学素子8を具備した光学ピックア
ップ装置および光記録再生装置では、記録再生時におけ
る消費電力が大であるとともに、これを考慮した電源や
回路およびこれらに付属する周辺装置が大型化し、小型
薄型化を阻害する一要因となっていた。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、光吸
収ロス、入射角度依存性および偏光分離差が何れも小で
あるビームスプリッタを提供し、これを複合光学素子に
具備させて記録再生時における高品質な記録再生特性が
得られ、且つ消費電力が小であるとともにさらなる小型
薄型化が可能な光学ピックアップ装置ならびに光記録再
生装置を提供することである。
【0017】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明のビームスプリッタでは、少なくとも入射光
の光軸に対してほぼ45度の斜面であるビームスプリッ
タ膜形成面上にビームスプリッタ膜が形成されているビ
ームスプリッタにおいて、たとえば光の波長780nm
に対するビームスプリッタ膜が、屈折率がn1 である第
1層膜、たとえば屈折率2.28のTiO2 膜と、第1
層膜上に形成されるとともに、屈折率n2 が第1層膜の
屈折率n1 に対してn2 <n1 の関係にある第2層膜、
たとえば屈折率1.63のAl2 3 膜と、第2層膜上
に形成されるとともに、屈折率n3 が第2層膜の屈折率
2 に対してn3 <n2 の関係にある第3層膜、たとえ
ば屈折率1.46のSiO2 膜と、第3層膜上に形成さ
れるとともに、屈折率n4 が第2層膜の屈折率n2 に対
してn4 ≒n2 の関係にある第4層膜、たとえば屈折率
1.63のAl2 3 膜と、第4層膜上に形成されると
ともに、屈折率n5 が第1層膜の屈折率n1 に対してn
5 ≒n1 の関係にある第5層膜、たとえば屈折率2.2
8のTiO2 膜と、第5層膜上に形成されるとともに、
屈折率n6 が第3層膜の屈折率n3 に対してn6 ≦n3
の関係にある第6層膜、たとえば屈折率1.38のMg
2 膜とを有することを特徴とする。
【0018】本発明の複合光学素子では、少なくとも半
導体基板上に形成された第1の受光素子および第2の受
光素子と、半導体基板上に形成されてこの半導体基板と
ほぼ垂直な発光面を有する半導体レーザと、第1の受光
素子および第2の受光素子上に固着されるとともに、半
導体レーザの発光面から出射された往路光ビームを反射
し、反射されて戻る復路光ビームを第1の受光素子に導
くビームスプリッタ膜が形成されたビームスプリッタ膜
形成面と、第1の受光素子上面で反射された復路光ビー
ムを反射して第2の受光素子に導く高反射面とが形成さ
れたビームスプリッタとを有する複合光学素子におい
て、たとえば光の波長780nmに対するビームスプリ
ッタ膜が、屈折率がn1 である第1層膜、たとえば屈折
率2.28のTiO2 膜と、第1層膜上に形成されると
ともに、屈折率n2 が第1層膜の屈折率n1 に対してn
2 <n1 の関係にある第2層膜、たとえば屈折率1.6
3のAl2 3 膜と、第2層膜上に形成されるととも
に、屈折率n3 が第2層膜の屈折率n2 に対してn3
2 の関係にある第3層膜、たとえば屈折率1.46の
SiO2 膜と、第3層膜上に形成されるとともに、屈折
率n4 が第2層膜の屈折率n2 に対してn4 ≒n2 の関
係にある第4層膜、たとえば屈折率1.63のAl2
3 膜と、第4層膜上に形成されるとともに、屈折率n5
が第1層膜の屈折率n1 に対してn5 ≒n1 の関係にあ
る第5層膜、たとえば屈折率2.28のTiO2 膜と、
第5層膜上に形成されるとともに、屈折率n6 が第3層
膜の屈折率n3 に対してn6 ≦n3 の関係にある第6層
膜、たとえば屈折率1.38のMgF2 膜とを有するこ
とを特徴とする。
【0019】本発明の光学ピックアップ装置では、少な
くとも半導体基板上に形成された第1の受光素子および
第2の受光素子と、半導体基板上に形成されてこの半導
体基板とほぼ垂直な発光面を有する半導体レーザと、第
1の受光素子および第2の受光素子上に固着されるとと
もに、半導体レーザの発光面から出射された往路光ビー
ムを反射し、反射されて戻る復路光ビームを第1の受光
素子に導くビームスプリッタ膜が形成されたビームスプ
リッタ膜形成面と、第1の受光素子上面で反射された復
路光ビームを反射して第2の受光素子に導く高反射面と
が形成されたビームスプリッタとを有する複合光学素子
と、往路光ビームを光記録媒体に集光する対物レンズと
を有する光学ピックアップ装置において、たとえば光の
波長780nmに対するビームスプリッタ膜が、屈折率
がn1 である第1層膜、たとえば屈折率2.28のTi
2 膜と、第1層膜上に形成されるとともに、屈折率n
2 が第1層膜の屈折率n1 に対してn2 <n1 の関係に
ある第2層膜、たとえば屈折率1.63のAl2 3
と、第2層膜上に形成されるとともに、屈折率n3 が第
2層膜の屈折率n2 に対してn3 <n2 の関係にある第
3層膜、たとえば屈折率1.46のSiO2 膜と、第3
層膜上に形成されるとともに、屈折率n4 が第2層膜の
屈折率n2 に対してn4 ≒n2 の関係にある第4層膜、
たとえば屈折率1.63のAl2 3 膜と、第4層膜上
に形成されるとともに、屈折率n5 が第1層膜の屈折率
1 に対してn5 ≒n1 の関係にある第5層膜、たとえ
ば屈折率2.28のTiO2 膜と、第5層膜上に形成さ
れるとともに、屈折率n6 が第3層膜の屈折率n3 に対
してn6 ≦n3 の関係にある第6層膜、たとえば屈折率
1.38のMgF2 膜とを有することを特徴とする。
【0020】本発明の光記録再生装置では、少なくとも
半導体基板上に形成された第1の受光素子および第2の
受光素子と、半導体基板上に形成されてこの半導体基板
とほぼ垂直な発光面を有する半導体レーザと、第1の受
光素子および第2の受光素子上に固着されるとともに、
半導体レーザの発光面から出射された往路光ビームを反
射し、反射されて戻る復路光ビームを第1の受光素子に
導くビームスプリッタ膜が形成されたビームスプリッタ
膜形成面と、第1の受光素子上面で反射された復路光ビ
ームを反射して第2の受光素子に導く高反射面とが形成
されたビームスプリッタとを有する複合光学素子と、往
路光ビームを光記録媒体に集光する対物レンズとを有す
る光学ピックアップ装置と、光学ピックアップ装置をト
ラッキング方向に制御駆動する移動手段とを有する光記
録再生装置において、たとえば光の波長780nmに対
するビームスプリッタ膜が、屈折率がn1 である第1層
膜、たとえば屈折率2.28のTiO2 膜と、第1層膜
上に形成されるとともに、屈折率n2 が第1層膜の屈折
率n1 に対してn2 <n1 の関係にある第2層膜、たと
えば屈折率1.63のAl2 3 膜と、第2層膜上に形
成されるとともに、屈折率n3 が第2層膜の屈折率n2
に対してn3 <n2 の関係にある第3層膜、たとえば屈
折率1.46のSiO2 膜と、第3層膜上に形成される
とともに、屈折率n4 が第2層膜の屈折率n2 に対して
4 ≒n2 の関係にある第4層膜、たとえば屈折率1.
63のAl2 3 膜と、第4層膜上に形成されるととも
に、屈折率n5 が第1層膜の屈折率n1 に対してn5
1 の関係にある第5層膜、たとえば屈折率2.28の
TiO2 膜と、第5層膜上に形成されるとともに、屈折
率n6 が第3層膜の屈折率n3 に対してn6 ≦n3 の関
係にある第6層膜、たとえば屈折率1.38のMgF2
膜とを有することを特徴とする。なお、ここで言う光記
録再生装置は、再生のみを行う再生専用装置、記録のみ
を行う記録専用装置、記録と再生の何れも可能な装置を
含むものである。
【0021】上述した手段によれば、光吸収ロス、入射
角度依存性および偏光分離差が何れも小であるビームス
プリッタ膜を有するビームスプリッタの提供が可能とな
る。したがって、このビームスプリッタを具備した複合
光学素子を用いて光学ピックアップ装置および光記録再
生装置を構成すれば、記録再生時における半導体レーザ
の出射パワーが小で良く、電源や回路およびこれらに付
属する周辺構成部品の小型薄型化を図ることができ、結
果的に光学ピックアップ装置および光記録再生装置の小
消費電力化および小型薄型化を図ることができる。ま
た、入射角度依存性が小であるビームスプリッタの提供
が可能となることから、NAが大である対物レンズを用
いて、さらなる高密度化を図った光記録媒体に対応する
光学ピックアップ装置および光記録再生装置の提供が可
能となる。
【0022】
【発明の実施の形態】本発明は、少なくとも入射光の光
軸に対してほぼ45度の斜面であるビームスプリッタ膜
形成面上にビームスプリッタ膜が形成されているビーム
スプリッタ、このビームスプリッタ、受光素子、半導体
レーザ等を半導体基板上に構成した複合光学素子、少な
くともこの複合光学素子と対物レンズとを有する光学ピ
ックアップ装置、この光学ピックアップ装置と光学ピッ
クアップ装置をトラッキング方向に制御駆動する移動手
段とを有する光記録再生装置に適用することができる。
【0023】
【実施例】以下、本発明を適用した具体的な実施例につ
いて、図1〜図5を参照して説明する。なお、図中の構
成要素で従来の技術と同様の構造を成しているものにつ
いては、同一の参照符号を付すものとする。また、本発
明が適用されるビームスプリッタ、複合光学素子、光学
ピックアップ装置および光記録再生装置の概略構成は、
たとえば従来の技術において図6および図7を参照して
説明した事例と同様であるので、重複する説明を省略す
る。
【0024】実施例1 本実施例は、光の波長780nmで屈折率が1.76の
光学ガラスSF11を用いて台形のプリズムを作製し、
このプリズムの斜面、すなわちビームスプリッタ膜形成
面に、ビームスプリッタ膜の一例であるハーフミラー膜
を形成してビームスプリッタを作製した事例である。こ
れを図1〜図3を参照して説明する。
【0025】まず、ビームスプリッタの概略断面図であ
る図1に示したように、ビームスプリッタ膜形成面3a
に、第1層膜2aとして屈折率2.28であるとともに
膜厚90.0nm(光学膜厚205.2nm)のTiO
2 膜を形成する。つぎに、第1層膜2a上に、第2層膜
2bとして屈折率1.63であるとともに膜厚125.
6nm(光学膜厚204.7nm)のAl2 3 膜を形
成する。つぎに、第2層膜2b上に、第3層膜2cとし
て屈折率1.46であるとともに膜厚104.0nm
(光学膜厚151.8nm)のSiO2 膜を形成する。
つぎに、第3層膜2c上に、第4層膜2dとして屈折率
1.63であるとともに膜厚183.3nm(光学膜厚
298.8nm)のAl2 3 膜を形成する。つぎに、
第4層膜2d上に、第5層膜2eとして屈折率2.28
であるとともに膜厚92.8nm(光学膜厚211.6
nm)のTiO2 膜を形成する。つぎに、第5層膜2e
上に、第6層膜2fとして屈折率1.38であるととも
に膜厚166.8nm(光学膜厚230.2nm)のM
gF2 膜を形成することにより、台形のプリズム1の斜
面に膜厚762.5nmのハーフミラー膜2を形成した
ビームスプリッタ3の作製を終えた。
【0026】そして、作製したビームスプリッタ3のハ
ーフミラー膜2に、波長450nm〜850nmのレー
ザ光を入射角度45度で入射し、ハーフミラー膜2の偏
光分離差を測定した。この結果のグラフを図2に示す。
図2から明らかなように、とくにレーザ光の波長780
nmのところでみればRp=19.8%、Rs=20.
7%であり、偏光分離差Rs−Rp=0.9%と1%以
下であった。また、レーザ波長は製造ばらつきや使用環
境温度変化により±20nm程度変動するが、たとえば
780nm−20nmの760nmで偏光分離差をみれ
ば1.4%であり、780nm+20nmの800nm
で偏光分離差をみれば1.1%と非常に波長依存性が小
であることがわかる。
【0027】また、作製したビームスプリッタ3のハー
フミラー膜2に、波長780nmのレーザ光を入射角度
35度〜55度変化させて入射し、ハーフミラー膜2の
入射角度依存性を測定した。この結果のグラフを図3に
示す。図3から明らかなように、Rsは入射角度45度
±8度の範囲で20.7±0.5%以内であるととも
に、Rpは入射角度45度±8度の範囲で19.9±
1.0%以内であり、さらに偏光分離差Rs−Rp=
1.4%であった。
【0028】以上のことから、本発明を適用してハーフ
ミラー膜2を形成した本実施例のビームスプリッタ3
は、金属膜を用いていないので光吸収ロスが小であると
ともに、入射角度依存性および偏光分離差を極めて小と
することができた。
【0029】実施例2 本実施例は、光の波長655nmで屈折率が1.78の
光学ガラスSF11を用いて台形のプリズムを作製し、
このプリズムの斜面、すなわちビームスプリッタ膜形成
面に、ビームスプリッタ膜の一例であるハーフミラー膜
を形成してビームスプリッタを作製した事例である。こ
れを再び図1と図4〜図5を参照して説明する。
【0030】まず、図1に示したように、ビームスプリ
ッタ膜形成面3aに、第1層膜2aとして屈折率2.3
2であるとともに膜厚74.3nm(光学膜厚172.
4nm)のTiO2 膜を形成する。つぎに、第1層膜2
a上に、第2層膜2bとして屈折率1.63であるとと
もに膜厚98.0nm(光学膜厚159.7nm)のA
2 3 膜を形成する。つぎに、第2層膜2b上に、第
3層膜2cとして屈折率1.46であるとともに膜厚1
57.4nm(光学膜厚229.8nm)のSiO2
を形成する。つぎに、第3層膜2c上に、第4層膜2d
として屈折率1.63であるとともに膜厚92.6nm
(光学膜厚150.9nm)のAl2 3 膜を形成す
る。つぎに、第4層膜2d上に、第5層膜2eとして屈
折率2.32であるとともに膜厚74.2nm(光学膜
厚172.1nm)のTiO2 膜を形成する。つぎに、
第5層膜2e上に、第6層膜2fとして屈折率1.38
であるとともに膜厚132.2nm(光学膜厚182.
4nm)のMgF2 膜を形成することにより、台形のプ
リズム1の斜面に膜厚628.7nmのハーフミラー膜
2を形成したビームスプリッタ3の作製を終えた。
【0031】そして、作製したビームスプリッタ3のハ
ーフミラー膜2に、波長450nm〜850nmのレー
ザ光を入射角度45度で入射し、ハーフミラー膜2の偏
光分離差を測定した。この結果を図4に示す。また、作
製したビームスプリッタ3のハーフミラー膜2に、波長
655nmのレーザ光を入射角度35度〜55度変化さ
せて入射し、ハーフミラー膜2の入射角度依存性を測定
した。この結果を図5に示す。図4および図5から明ら
かなように、本実施例においても実施例1と同様に光吸
収ロスが小であり、入射角度依存性および偏光分離差を
極めて小とすることができた。
【0032】上記した実施例1,2では、第6層膜2f
をMgF2 膜で構成する事例を示したが、本発明はこれ
に限定されるものではなく、たとえばSiO2 膜であっ
ても良い。また、上記した実施例1,2では、第2層膜
2bおよび第4層膜2dをAl2 3 膜で構成する事例
を示したが、本発明はこれに限定されるものではなく、
たとえばCeF3 、LaF3 、ZrO2 とAl2 3
の混合膜であっても良い。さらに、上記した実施例1,
2では、第3層膜2cをSiO2 膜で構成する事例を示
したが、本発明はこれに限定されるものではなく、たと
えばMgF2 膜であっても良い。さらにまた、上記した
実施例1,2では、第1層膜2aおよび第5層膜2eを
TiO2 膜で構成する事例を示したが、本発明はこれに
限定されるものではなく、たとえばイオンアシスト蒸着
やスパッタ等により緻密膜の形成が可能であるとともに
TiO2 膜と同等な屈折率を有するものを用いても良
い。
【0033】上記した実施例1あるいは実施例2の事例
のハーフミラー膜2が形成されたビームスプリッタ3は
複合光学素子8に用いることができ、また、この複合光
学素子8を用いて光学ピックアップ装置を構成すること
ができ、さらにこの光学ピックアップ装置を用いて光記
録再生装置を構成することができる。
【0034】
【発明の効果】本発明のビームスプリッタによれば、光
吸収ロス、入射角度依存性および偏光分離差が小である
ビームスプリッタを提供することができる。このビーム
スプリッタを具備した複合光学素子では、記録再生時で
の半導体レーザの出射パワーが小で良いので、小電力で
動作が可能であるとともに半導体レーザの長寿命化、す
なわち複合光学素子自体の長寿命化を図ることができ
る。また、この複合光学素子を具備した光学ピックアッ
プ装置およびこの光学ピックアップ装置を具備した光記
録再生装置では、高品質な記録再生特性が得られるとと
もに、記録再生時における小電力化が図られ、結果的に
光学ピックアップ装置および光記録再生装置の小型薄型
化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のビームスプリッタの概略断面図であ
る。
【図2】 実施例1におけるハーフミラー膜の反射率特
性のグラフである。
【図3】 実施例1におけるハーフミラー膜の入射角度
依存性のグラフである。
【図4】 実施例2におけるハーフミラー膜の反射率特
性のグラフである。
【図5】 実施例2におけるハーフミラー膜の入射角度
依存性のグラフである。
【図6】 従来の光学ピックアップ装置の概略構成図で
ある。
【図7】 従来の光記録再生装置の概略構成図である。
【図8】 図6のA方向からみた概略A矢視図である。
【符号の説明】
1…プリズム、2…ハーフミラー膜、2a…第1層膜、
2b…第2層膜、2c…第3層膜、2d…第4層膜、2
e…第5層膜、2f…第6層膜、3…ビームスプリッ
タ、3a…ビームスプリッタ膜形成面、3b…高反射
面、4…半導体基板、5…スペーサ、6…半導体レー
ザ、7a…第1の受光素子、7b…第2の受光素子、8
…複合光学素子、9…サーボアクチュエータ、9a…対
物レンズ、9b…可動部、9c…平行バネ、9d…固定
部、10…光記録媒体、11…光学ブロック、12a…
メインガイド軸、12b…サブガイド軸、13…マグネ
ット、14…外ヨーク、15…内ヨーク、16…コイル

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも、入射光の光軸に対してほぼ
    45度の斜面にビームスプリッタ膜が形成されているビ
    ームスプリッタにおいて、 前記ビームスプリッタ膜が、 屈折率がn1 である第1層膜と、 前記第1層膜上に形成されるとともに、屈折率n2 が前
    記第1層膜の屈折率n1 に対してn2 <n1 の関係にあ
    る第2層膜と、 前記第2層膜上に形成されるとともに、屈折率n3 が前
    記第2層膜の屈折率n2 に対してn3 <n2 の関係にあ
    る第3層膜と、 前記第3層膜上に形成されるとともに、屈折率n4 が前
    記第2層膜の屈折率n2 に対してn4 ≒n2 の関係にあ
    る第4層膜と、 前記第4層膜上に形成されるとともに、屈折率n5 が前
    記第1層膜の屈折率n1 に対してn5 ≒n1 の関係にあ
    る第5層膜と、 前記第5層膜上に形成されるとともに、屈折率n6 が前
    記第3層膜の屈折率n3 に対してn6 ≦n3 の関係にあ
    る第6層膜とを有することを特徴とするビームスプリッ
    タ。
  2. 【請求項2】 前記ビームスプリッタ膜の膜厚が、前記
    入射光の波長とほぼ等しいことを特徴とする請求項1に
    記載のビームスプリッタ。
  3. 【請求項3】 少なくとも半導体基板上に形成された第
    1の受光素子および第2の受光素子と、 前記半導体基板上に形成され、前記半導体基板とほぼ垂
    直な発光面を有する半導体レーザと、 前記第1の受光素子および第2の受光素子上に固着され
    るとともに、前記発光面から出射された往路光ビームを
    反射し、反射されて戻る復路光ビームを前記第1の受光
    素子に導くビームスプリッタ膜が形成されたビームスプ
    リッタ膜形成面と、 前記第1の受光素子上面で反射された前記復路光ビーム
    を反射して前記第2の受光素子に導く高反射面とが形成
    されたビームスプリッタとを有する複合光学素子におい
    て、 前記ビームスプリッタ膜が、 屈折率がn1 である第1層膜と、 前記第1層膜上に形成されるとともに、屈折率n2 が前
    記第1層膜の屈折率n1 に対してn2 <n1 の関係にあ
    る第2層膜と、 前記第2層膜上に形成されるとともに、屈折率n3 が前
    記第2層膜の屈折率n2 に対してn3 <n2 の関係にあ
    る第3層膜と、 前記第3層膜上に形成されるとともに、屈折率n4 が前
    記第2層膜の屈折率n2 に対してn4 ≒n2 の関係にあ
    る第4層膜と、 前記第4層膜上に形成されるとともに、屈折率n5 が前
    記第1層膜の屈折率n1 に対してn5 ≒n1 の関係にあ
    る第5層膜と、 前記第5層膜上に形成されるとともに、屈折率n6 が前
    記第3層膜の屈折率n3 に対してn6 ≦n3 の関係にあ
    る第6層膜とを有することを特徴とする複合光学素子。
  4. 【請求項4】 前記ビームスプリッタ膜の膜厚が、前記
    往路光ビームの波長とほぼ等しいことを特徴とする請求
    項3に記載の複合光学素子。
  5. 【請求項5】 少なくとも半導体基板上に形成された第
    1の受光素子および第2の受光素子と、 前記半導体基板上に形成され、前記半導体基板とほぼ垂
    直な発光面を有する半導体レーザと、 前記第1の受光素子および第2の受光素子上に固着され
    るとともに、前記発光面から出射された往路光ビームを
    反射し、反射されて戻る復路光ビームを前記第1の受光
    素子に導くビームスプリッタ膜が形成されたビームスプ
    リッタ膜形成面と、 前記第1の受光素子上面で反射された前記復路光ビーム
    を反射して前記第2の受光素子に導く高反射面とが形成
    されたビームスプリッタとを有する複合光学素子と、 前記往路光ビームを光記録媒体に集光する対物レンズと
    を有する光学ピックアップ装置において、 前記ビームスプリッタ膜が、 屈折率がn1 である第1層膜と、 前記第1層膜上に形成されるとともに、屈折率n2 が前
    記第1層膜の屈折率n1 に対してn2 <n1 の関係にあ
    る第2層膜と、 前記第2層膜上に形成されるとともに、屈折率n3 が前
    記第2層膜の屈折率n2 に対してn3 <n2 の関係にあ
    る第3層膜と、 前記第3層膜上に形成されるとともに、屈折率n4 が前
    記第2層膜の屈折率n2 に対してn4 ≒n2 の関係にあ
    る第4層膜と、 前記第4層膜上に形成されるとともに、屈折率n5 が前
    記第1層膜の屈折率n1 に対してn5 ≒n1 の関係にあ
    る第5層膜と、 前記第5層膜上に形成されるとともに、屈折率n6 が前
    記第3層膜の屈折率n3 に対してn6 ≦n3 の関係にあ
    る第6層膜とを有することを特徴とする光学ピックアッ
    プ装置。
  6. 【請求項6】 前記ビームスプリッタ膜の膜厚が、前記
    往路光ビームの波長とほぼ等しいことを特徴とする請求
    項5に記載の光学ピックアップ装置。
  7. 【請求項7】 少なくとも半導体基板上に形成された第
    1の受光素子および第2の受光素子と、 前記半導体基板上に形成され、前記半導体基板とほぼ垂
    直な発光面を有する半導体レーザと、 前記第1の受光素子および第2の受光素子上に固着され
    るとともに、前記発光面から出射された往路光ビームを
    反射し、反射されて戻る復路光ビームを前記第1の受光
    素子に導くビームスプリッタ膜が形成されたビームスプ
    リッタ膜形成面と、 前記第1の受光素子上面で反射された前記復路光ビーム
    を反射して前記第2の受光素子に導く高反射面とが形成
    されたビームスプリッタとを有する複合光学素子と、 前記往路光ビームを光記録媒体に集光する対物レンズと
    を有する光学ピックアップ装置と、 前記光学ピックアップ装置をトラッキング方向に制御駆
    動する移動手段とを有する光記録再生装置において、 前記ビームスプリッタ膜が、 屈折率がn1 である第1層膜と、 前記第1層膜上に形成されるとともに、屈折率n2 が前
    記第1層膜の屈折率n1 に対してn2 <n1 の関係にあ
    る第2層膜と、 前記第2層膜上に形成されるとともに、屈折率n3 が前
    記第2層膜の屈折率n2 に対してn3 <n2 の関係にあ
    る第3層膜と、 前記第3層膜上に形成されるとともに、屈折率n4 が前
    記第2層膜の屈折率n2 に対してn4 ≒n2 の関係にあ
    る第4層膜と、 前記第4層膜上に形成されるとともに、屈折率n5 が前
    記第1層膜の屈折率n1 に対してn5 ≒n1 の関係にあ
    る第5層膜と、 前記第5層膜上に形成されるとともに、屈折率n6 が前
    記第3層膜の屈折率n3 に対してn6 ≦n3 の関係にあ
    る第6層膜とを有することを特徴とする光記録再生装
    置。
  8. 【請求項8】 前記ビームスプリッタ膜の膜厚が、前記
    往路光ビームの波長とほぼ等しいことを特徴とする請求
    項7に記載の光記録再生装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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