JPH11312831A - レーザビーム漏れ検知システム - Google Patents

レーザビーム漏れ検知システム

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JPH11312831A
JPH11312831A JP10119405A JP11940598A JPH11312831A JP H11312831 A JPH11312831 A JP H11312831A JP 10119405 A JP10119405 A JP 10119405A JP 11940598 A JP11940598 A JP 11940598A JP H11312831 A JPH11312831 A JP H11312831A
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JP
Japan
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shutter
laser
laser beam
controller
sensor
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JP10119405A
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English (en)
Inventor
Toru Nakajima
透 中島
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 レーザ装置各部の動作状況を自己診断して、
所望の場合にのみ確実に、レーザ光がレーザ装置外に漏
れるのを防止し、レーザ加工・レーザ溶接等の作業の安
全を確保するレーザビーム漏れ検知システムを提供す
る。 【解決手段】 レーザ光源10を内蔵するレーザ装置か
らのレーザビーム漏れを検知するレーザビーム漏れ検知
システムであって、前記レーザ光源10と前記レーザビ
ームを前記レーザ装置の外部に導く結合光学系30との
間において前記レーザビームを遮断するシャッタ20
と、前記シャッタ20の開閉状態を検知するシャッタセ
ンサ100と、前記結合光学系30で散乱された前記レ
ーザビームの一部を検出する散乱センサ110と、前記
レーザビーム漏れを警告する警告信号発生手段141と
を備え、シャッタ駆動信号cとシャッタセンサ信号bと
散乱センサ信号aとに基づいて、前記警告信号発生手段
141を駆動するようにしている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザビームによ
り加工・溶接等を行うレーザ装置に関し、特に、レーザ
加工・溶接等に用いる高エネルギーのレーザビームが、
不要時にレーザ装置外へ漏れているときは、作業者等の
安全を確保するために、これを検出して警報を出す等の
処理を行うレーザビーム漏れ検知システムに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、部品等の加工・溶接等のために高
出力のレーザビームを照射するレーザ加工機、レーザ溶
接機等がある。
【0003】図4は、一例として、YAGレーザを光フ
ァイバで溶接部位に導くレーザ加工機を示したものであ
る。図4によれば、発振波長1.0641μmで数百ワ
ットから数キロワット程度のレーザ光を、コア径0.4
mmから0.8mmの光ファイバでエネルギー伝送し、
光ファイバの出射端で加工用集光レンズを用いてレーザ
光を微細なスポットとし、部品等の表面を溶解させ、あ
るいは穴を開けることにより、レーザ加工を行うもので
ある。なお、レーザ加工機とレーザ溶接機とを比較する
と、レーザ光源、エネルギー伝送光学系は共通点が多
く、相違点は、レーザ光の走査、部品等の載置方法等の
点に見出されるに過ぎない。
【0004】上述のようなレーザ加工機等により、加工
等を終了した時は、シャッタを用いて、レーザ加工機等
からレーザ光が出射しないようにしている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、シャッタが誤
動作して、レーザ光がレーザ加工機やレーザ溶接機等の
レーザ装置の外部に漏れたままになっていると、加工完
成品が損傷を受け、更には、火災等を発生させかねな
い。又、上述のレーザ装置に使用される高出力レーザ光
の波長の多くは赤外領域にあり、目に見えないため、操
作者にとって危険である。
【0006】このような場合、アラーム等を作動させて
警告することも考えられるが、アラームの警告に依拠し
て作業を行う結果、アラームが誤動作により鳴動しなか
った場合には、むしろ上述した危険はより大きなものと
なる。
【0007】又、アラーム動作に伴って、シャッタを作
動させれば安全は確保される。しかし、シャッタが誤動
作してレーザ光がレーザ装置外に漏れたままとなった場
合には、レーザ発振を停止せざるを得なくなる。ところ
が、この逆に、レーザ光が漏れていないにもかかわら
ず、レーザ発振を停止したのでは、加工作業等に支障を
きたす。又、一旦レーザ発振が停止されれば電源を再投
入しても、レーザ発振が安定するまでは時間がかかる。
【0008】そこで、本発明は、レーザ装置各部の動作
状況を自己診断して、所望の場合にのみ確実に、レーザ
光がレーザ装置外に漏れるのを防止し、レーザ加工・レ
ーザ溶接等の作業の安全を確保するレーザビーム漏れ検
知システムを提供することを課題としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めの本発明のレーザビーム漏れ検知システムは、レーザ
光源を内蔵するレーザ装置からのレーザビーム漏れを検
知するレーザビーム漏れ検知システムであって、前記レ
ーザ光源と前記レーザビームを前記レーザ装置の外部に
導く結合光学系との間において前記レーザビームを遮断
するシャッタと、前記シャッタの開閉状態を検知するシ
ャッタセンサと、前記結合光学系で散乱された前記レー
ザビームの一部を検出する散乱センサと、前記レーザビ
ーム漏れを警告する警告信号発生手段とを備え、前記シ
ャッタ駆動信号と前記シャッタセンサ信号と前記散乱セ
ンサ信号とに基づいて、前記警告信号発生手段を駆動す
るようにしている。
【0010】すなわち、本発明システムにおいては、レ
ーザ光をレーザ装置外に導くためのエネルギー伝送光学
系で散乱された微弱な散乱光を検出することにより、直
接レーザビーム漏れを確認し、なお且つ、レーザ装置の
作動状況を自己診断した上で、所望の場合のみ、アラー
ムを駆動する。
【0011】又、上記の課題を解決するための本発明の
レーザビーム検出装置は、レーザビームを遮断するシャ
ッタと、前記シャッタの開閉状態を検知するシャッタセ
ンサと、前記レーザビームの一部を検出する散乱センサ
とを備え、前記散乱センサは、中空部材と、前記中空部
材に接続された光ファイバと、前記光ファイバに接続さ
れた光電変換素子とを備えている。
【0012】すなわち、本発明装置においては、散乱さ
れたレーザビームを検出する光学系を一体のものとして
独立させている。
【0013】又、本発明のレーザビーム漏れ検知方法
は、レーザ光源を内蔵するレーザ装置からのレーザビー
ム漏れを検知するレーザビーム漏れ検知方法であって、
前記レーザ光源から出射するレーザビームを前記レーザ
装置の外部に出射させないために、シャッタを駆動する
と共に、前記シャッタの開閉状態を検出し、前記シャッ
タを閉状態とするシャッタ駆動信号が送信されているか
否かを判定するステップと、前記シャッタが閉状態にあ
るか否かを判定するステップと、前記レーザビームを前
記レーザ装置の外部に出力するための光学系から前記レ
ーザビームが散乱されているか否かを判定するステップ
とを含み、前記シャッタ駆動信号が閉状態を指示してお
り、且つ、前記シャッタが閉状態にあり、且つ、前記レ
ーザビームが散乱されている場合に、警告信号を発生さ
せるようにしている。
【0014】すなわち、本発明方法においては、レーザ
装置各部の動作状況を示す信号等に基づいてレーザ装置
の動作状況を判定するステップを実行し、所望の場合の
み、アラームによる警告やレーザ発振の停止を行ってい
る。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施の形態を説明する。
【0016】図1は、本発明システムの構成を示すブロ
ック図である。図1に示すように、レーザ光源10から
出力されたレーザビーム11はシャッタ20を経てレー
ザビーム12として結合光学系30に入射し、レーザビ
ーム13として結合光学系30の出射端から出射する。
そして、このレーザビーム13は光ファイバ40のコア
中を伝播し、集束光学系50により微少なスポットとな
り、加工・溶接等の目的物70及び71上に結像され
る。
【0017】上記のような構成のレーザ装置において、
レーザビーム11がレーザ装置の外部に出力されている
か否かをするため、本発明においては、結合光学系30
で散乱されたレーザ光14を検出することとしている。
ここで、結合光学系30によるレーザビームの散乱と
は、光学素子の表面のわずかな凹凸により生じる散乱で
あり、光軸を外れる方向の微弱な光となって、散乱され
る。このように散乱されたレーザ光14の一部を光ファ
イバ112に導入して光検出器111で光電変換する。
【0018】レーザ光源10から出力されたレーザビー
ム11が、上記レーザ装置の外部に出力されているかど
うか、言い換えるとレーザビーム漏れがあるか否かを検
知するために、本発明では、光検出器111の光電変換
出力信号である散乱信号aのみならず、シャッタ20の
開閉状態を検出するシャッタセンサ信号bと、シャッタ
20を開閉するためのシャッタ駆動信号cも用いる。
【0019】すなわち、図1に示す本発明システムは、
レーザ漏れがあるか否かを判定するために、センサコン
トローラ130、シャッタコントローラ140、警告信
号コントローラ150、レーザコントローラ160、入
力手段170とをそれぞれ中央演算処理装置(CPU)
180に接続し、又は、これらのコントローラ同士を接
続している。
【0020】本発明システムの構成は以上のとおりであ
る。そこで、次に、本発明システムの各構成要素につい
て説明する。
【0021】レーザ光源10は、Qスイッチ、紫外線励
起等により、共振器からレーザ光を取り出すものであ
り、たとえば、YAGレーザ、炭酸ガスレーザ等が好適
である。
【0022】シャッタ20は、レーザビームの光路を遮
る機構部品であり、たとえば、反射鏡をソレノイドで回
動させる等すればよい。
【0023】結合光学系30は、一般的にはレンズ系で
ある。但し、図1に示されたように、エネルギー伝送を
光ファイバで行う場合は、単に凸レンズ1枚でよいこと
もある。
【0024】光ファイバ40は、高エネルギーレーザビ
ームによる損傷閾値が高く、端面を仕上げて保護皮膜を
施し、透過率が大きい光ファイバであり、たとえば、光
通信用マルチモードガラスファイバが好適である。
【0025】集束光学系50も一般的には、レンズ系で
ある。但し、図1に示されたように、エネルギー伝送を
光ファイバで行う場合は、単に凸レンズ1枚でよいこと
もある。なお、特に、数μm程度の径の微少なスポット
を用いるレーザ加工、レーザトリミング等の場合は収差
を除去した対物レンズを含む光学系が必要である。
【0026】シャッタセンサ100は、シャッタ20、
すなわち、たとえば、回動等により2つの異なる位置を
占める反射鏡の位置を検出することができるセンサであ
り、たとえば、フォトインタラプタ等が好適である。
【0027】又、散乱センサ110は、光検出器111
と光ファイバ112と中空体113とで構成される。
【0028】ここに、光検出器111は、レーザ波長に
感応する光電変換素子をゲインの高い増幅器に接続した
ものである。たとえば、YAGレーザの波長1.06μ
mのレーザ光に対しては、Geフォトダイオードをオペ
アンプに接続する。ここで、オペアンプのゲインは散乱
光の強度に応じて設定する。
【0029】光ファイバ112は、結合光学系で散乱さ
れた微弱なレーザ光を光検出器111に導くための光ガ
イドであり、伝送距離も、数cm程度であるので、それ
自体高品質である必要はない。但し、そのコア径はレー
ザ装置内部の迷光と上述の散乱光の強度比を考慮して決
定する。
【0030】中空体113は、散乱光14の内特定の微
少角度部分のみを光ファイバ112に入射させるために
光ファイバ112に接続している。この中空体113
は、たとえば、Al等の丸棒又は角棒をその軸に沿って
中空としたものである。
【0031】センサコントローラ130は、散乱信号a
と、シャッタセンサ信号bと、シャッタ駆動信号cとを
入力するとともに、これらの信号を中継して後述するC
PU180に送出するか、又は後述するシャッタコント
ローラ130と、警告信号コントローラ140と、レー
ザコントローラ150とを制御する指令信号dを送出す
る電子回路である。
【0032】シャッタコントローラ130は、センサコ
ントローラ120の指示、又は後述するCPU170の
指示によりシャッタ駆動信号cを出力する電子回路であ
る。
【0033】警告信号コントローラ140は、センサコ
ントローラ120又は後述するCPU170の指示によ
り警告信号発生手段141を駆動させる電子回路であ
る。ここに、警告信号発生手段141は、アラームが好
適であるが、ランプあるいはディスプレイでもよい。
【0034】レーザコントローラ170は、センサコン
トローラ140又は後述するCPU170の指示により
レーザ光源10が備える電源をON/OFFする電子回
路である。
【0035】入力手段160は、加工パターンや溶接個
所及びその他の作業手順等を後述するCPU170に入
力する手段であり、キーボード、マウス、ライトペン等
が用いられる。
【0036】以上、図1を参照して本発明システムの各
構成要素について説明した。
【0037】ところで、本発明システムの特徴の一つ
は、上述の通り、結合光学系30で散乱されたレーザ光
14の検出を以って、レーザ装置外へのレーザビーム漏
れを直接検出するところにある。
【0038】図2は、このような特徴を有する本発明の
実施に特に好適なレーザビーム検出装置の平面図であ
る。
【0039】図2に示すように、このレーザビーム検出
装置は、結合光学系30a、30b、光検出器111
a、111b、光ファイバ112a、112b、中空体
113a,113b、シャッタ20a、20b、シャッ
タセンサ100a、100bシャッタ、を一つの筐体に
一体化したものである。これらの各構成要素の構造・機
能は図1の説明で述べたものと同じである。なお、図2
において、結合光学系30a、30b等が2組ずつ備え
られているのは、同時に2個所の加工・溶接等を行わせ
るためである。
【0040】図2に示すレーザビーム検出装置において
は、加工・溶接等のための高エネルギーレーザビーム、
たとえばYAGレーザビーム11は反射鏡Bで反射さ
れ、半透鏡Cで2分される。そして、半透鏡Cを透過し
たYAGレーザビーム11は結合光学系30aに導かれ
る。一方、半透鏡Cで反射されたYAGレーザビーム1
1は反射鏡Dで反射されて結合光学系30bに導かれ
る。なお、このような光学系の光軸調整のために、可視
のレーザビーム、たとえばHeNeレーザビーム19が
反射鏡AによりYAGレーザビームにカップリングされ
ている。
【0041】以上、図1及び図2を参照して本発明シス
テムの構成について説明した。
【0042】そこで、次に、同じく図1及び図2を参照
して、本発明システムの動作について説明する。
【0043】本発明システムにおいては、レーザ光をレ
ーザ装置外に導くためのエネルギー伝送光学系で散乱さ
れた微弱な散乱光を検出することにより、直接レーザビ
ーム漏れを確認し、レーザ装置の作動状況を自己診断し
た上で、所望の場合のみ、アラームによる警告やレーザ
発振の停止を行っている。
【0044】すなわち、シャッタ駆動信号cとシャッタ
センサ信号bと散乱センサ信号aとを受信したセンサコ
ントローラ120は、この3つの信号からレーザ装置の
作動状況を自己診断し、シャッタを駆動するシャッタコ
ントローラ130と、警告信号発生手段141を駆動す
る警告コントローラ140と、レーザ光源10を駆動す
るレーザコントローラ150に、制御信号dを送出す
る。
【0045】ここで、自己診断の内容は、あらかじめ、
センサコントローラにプログラムされているのであり、
たとえば、シャッタ駆動信号cがシャッタを閉状態とし
て、レーザビーム11を遮断するように指示しているに
もかかわらず、シャッタセンサ信号bがシャッタが開状
態にあることを示し、散乱センサ信号aが散乱光を検出
したことを示している場合は、制御信号dを警告信号コ
ントローラ140に送出する等である。
【0046】上述した本発明システムの説明では、セン
サコントローラ120にプログラムを内蔵させシステム
制御を行わせていたが、これに替えて中央演算処理装置
(CPU)170を設けて、システム制御を行わせても
よい。
【0047】CPU170を設ける場合には、このCP
U170は、センサコントローラ120から散乱センサ
信号a、シャッタセンサ信号b、シャッタ駆動信号cの
3つの信号の入力と、入力手段160から加工・溶接等
の手順等の入力とを受けて、これらの入力を上述したよ
うなプログラムで処理し、シャッタコントローラ13
0、警告信号コントローラ140、レーザ入力手段16
0に制御信号を送出する。
【0048】したがって、CPU170を用いると、レ
ーザ装置の動作状態の自己診断のために入力手段160
からの情報も付加されるので、より的確に警告を発する
ことができる。
【0049】なお、特に、筐体に一体化した図2のレー
ザビーム検出装置を用いる場合には、シャッタ20a、
20bに独立の2系統のシャッタ駆動信号が送出され、
この2系統のシャッタ駆動信号、シャッタセンサ100
a,100bからの2系統のシャッタセンサ信号、及び
光検出器111a、111bからの2系統の散乱センサ
信号がセンサコントローラ120に入力される。
【0050】以上、図1及び図2を参照して、本発明シ
ステムの動作について説明した。
【0051】次に、図1及び図3を参照して、本発明方
法について、説明する。
【0052】図3は、本発明のレーザビーム漏れ検知方
法を実行するためのフローチャートである。本発明方法
においては、レーザ装置各部の作動状況を示す信号等に
基づいてレーザ装置の作動状況を判定するステップを実
行し、所望の場合のみ、アラームによる警告やレーザ発
振の停止を行っている。
【0053】図3に示すように、まず、ステップS10
では、シャッタ20を閉状態とするシャッタ駆動信号c
が送信されているか否かを判定するステップである。こ
こで、もし、シャッタ20を閉状態とするシャッタ駆動
信号cが、送信されているなら、ステップS20に進む
が、送信されていないならステップS11に進む。ステ
ップS11では、入力条件に照らしてシャッタが開状態
でよいならば、処理を終了する。ただし、その後、直ち
に、本フローチャートに示した手順を開始して、常時、
レーザ装置の作動状況を自己診断する。一方、ステップ
S11において、入力条件に照らしてシャッタが開状態
であってはならないならば、ステップS12に進んで、
シャッタ20を閉状態とすべく、シャッタ駆動信号cを
送出する。
【0054】次に、ステップ10からステップ20へ進
むと、ステップS20は、シャッタセンサ100が、シ
ャッタ20は閉状態となっていることを検出したか否か
を判定するステップである。ここで、もし、シャッタ2
0が閉状態にないことが分かったならば、処理を中止す
る。ただし、その後、直ちに、本フローチャートに示し
た手順を開始して、常時、レーザ装置の作動状況を自己
診断する。
【0055】次に、ステップ20からステップ30へ進
むと、ステップ30は、散乱センサ110は散乱光を検
出した否かを判定するステップである。ここで、もし、
散乱光が検出されていないならば、処理を終了する。た
だし、その後、直ちに、本フローチャートに示した手順
を開始して、常時、レーザ装置の作動状況を自己診断す
る。
【0056】次に、ステップ30からステップ40へ進
むと、ステップ40はアラーム等の警告信号発生手段1
41を駆動するステップである。
【0057】そして、ステップS40の処理に引き続い
てステップS50に進む。
【0058】ステップS50においては、アラーム等が
鳴動しつづけると危険であるため、アラーム等を駆動し
てから所定時間が経過したか否かを判定する。ここで、
もし、所定時間が経過したならば、レーザ光源10のレ
ーザ発進を停止して安全を確保する。一方、所定時間が
経過していない場合には、ステップS10に戻って、シ
ャッタ駆動信号の確認を行う。
【0059】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
レーザ装置各部の動作状況を自己診断して、所望の場合
にのみ確実に、レーザ光がレーザ装置外に漏れるのを防
止しレーザ加工・レーザ溶接等の作業の安全を確保する
事ができる。
【0060】具体的には、第1に、シャッタの故障等に
惑わされることなく、所望の場合のみ確実に、レーザビ
ーム漏れを警告し、レーザ発振を停止することができ
る。
【0061】又、第2には、レーザ加工・溶接等の手順
も参照してレーザ宗著の作動状況を自己診断するので、
より適切にレーザ装置を安全に運転することができる。
【0062】又、第3には、レーザビーム漏れを直接検
出することができる小型の装置を提供することができ
る。そして、この装置は小型である杖に、既存のレーザ
加工機・レーザ溶接機等のレーザ装置の内部にも外部に
も、所望の位置に取り付けることができる。
【0063】又、第4には、レーザ装置の動作状況をセ
ンサ信号等から総合的に自己診断することができるの
で、レーザ装置を安全に運転することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のレーザビーム漏れ検出装置の平面図で
ある。
【図2】本発明のレーザビーム漏れ検知システムのブロ
ック図である。
【図3】本発明のレーザビーム漏れ検知方法のフローチ
ャートである。
【図4】従来のレーザ加工機の概念図である。加算器の
入出力を示す回路。
【符号の説明】
10 レーザ光源 20 シャッタ 30 結合光学系 40 光ファイバ 100 シャッタセンサ 110 散乱センサシャッタセンサ 120 センサコントローラ 130 シャッタコントローラ 140 警告信号コントローラ 150 レーザコントローラ 160 入力手段 170 CPU
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI G01M 11/00 G01M 11/00 U

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ光源を内蔵するレーザ装置からの
    レーザビーム漏れを検知するレーザビーム漏れ検知シス
    テムであって、 前記レーザ光源と前記レーザビームを前記レーザ装置の
    外部に導く結合光学系との間において前記レーザビーム
    を遮断するシャッタと、 前記シャッタの開閉状態を検知するシャッタセンサと、 前記結合光学系で散乱された前記レーザビームの一部を
    検出する散乱センサと、 前記レーザビーム漏れを警告する警告信号発生手段とを
    備え、 シャッタ駆動信号とシャッタセンサ信号と散乱センサ信
    号とに基づいて、警告信号発生手段を駆動することを特
    徴とするレーザビーム漏れ検知システム。
  2. 【請求項2】 前記散乱センサは、 中空部材と、 前記中空部材に接続された光ファイバと、 前記光ファイバに接続された光電変換素子とを備えたこ
    とを特徴とする請求項1記載のレーザビーム漏れ検知シ
    ステム。
  3. 【請求項3】 前記シャッタ駆動信号と前記シャッタセ
    ンサ信号と前記散乱センサ信号とを受信するセンサコン
    トローラと、 前記シャッタを駆動するシャッタコントローラと、 前記警告信号発生手段を駆動する警告コントローラと、 前記レーザ光源を駆動するレーザコントローラとを備
    え、 前記センサコントローラが、前記シャッタコントロー
    ラ、前記警告コントローラ、前記レーザコントローラの
    うち少なくとも一つを駆動することを特徴とする請求項
    1記載のレーザビーム漏れ検知システム。
  4. 【請求項4】 前記シャッタ駆動信号と前記シャッタセ
    ンサ信号と前記散乱センサ信号とを受信するセンサコン
    トローラと、 前記シャッタを駆動するシャッタコントローラと、 前記警告信号発生手段を駆動する警告コントローラと、 前記レーザ光源を駆動するレーザコントローラと、 中央演算処理装置(CPU)と、 前記レーザ装置の動作手順を前記CPUに入力する入力
    手段とを備え、 前記CPUが、前記シャッタコントローラ、前記警告コ
    ントローラ、前記レーザコントローラのうち少なくとも
    一つを駆動することを特徴とする請求項1記載のレーザ
    ビーム漏れ検知システム。
  5. 【請求項5】 レーザビームを遮断するシャッタと、 前記シャッタの開閉状態を検知するシャッタセンサと、 前記レーザビームの一部を検出する散乱センサとを備
    え、 前記散乱センサは、 中空部材と、 前記中空部材に接続された光ファイバと、 前記光ファイバに接続された光電変換素子とを備えたこ
    とを特徴とレーザビーム検出装置。
  6. 【請求項6】 レーザ光源を内蔵するレーザ装置からの
    レーザビーム漏れを検知するレーザビーム漏れ検知方法
    であって、 前記レーザ光源から出射するレーザビームを前記レーザ
    装置の外部に出射させないために、シャッタを駆動する
    と共に、前記シャッタの開閉状態を検出し、 前記シャッタを閉状態とするシャッタ駆動信号が送信さ
    れているか否かを判定するステップと、 前記シャッタが閉状態にあるか否かを判定するステップ
    と、 前記レーザビームを前記レーザ装置の外部に出力するた
    めの光学系から前記レーザビームが散乱されているか否
    かを判定するステップとを含み、 前記シャッタ駆動信号が閉状態を指示しており、且つ、
    前記シャッタが閉状態にあり、且つ、前記レーザビーム
    が散乱されている場合に、警告信号を発生させることを
    特徴とするレーザビーム漏れ検知方法。
  7. 【請求項7】 所定時間経過後も前記レーザビームが散
    乱されているときには、前記レーザ光源のレーザ発振を
    停止させることを特徴とする請求項6記載のレーザビー
    ム漏れ検知方法。
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