JPH11316912A - 薄膜磁気ヘッド用素材およびその製造方法ならびに薄膜磁気ヘッドの製造方法 - Google Patents
薄膜磁気ヘッド用素材およびその製造方法ならびに薄膜磁気ヘッドの製造方法Info
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- JPH11316912A JPH11316912A JP10123718A JP12371898A JPH11316912A JP H11316912 A JPH11316912 A JP H11316912A JP 10123718 A JP10123718 A JP 10123718A JP 12371898 A JP12371898 A JP 12371898A JP H11316912 A JPH11316912 A JP H11316912A
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Abstract
できるようにする。 【解決手段】 ウェハ1には、薄膜磁気ヘッドとなるヘ
ッド予定部2が複数列に配列されている。また、ウェハ
1は、隣接する列間の切断位置となる列間切断予定部3
と、各列において隣接するヘッド予定部2間の切断位置
となる列内切断予定部4とを有している。ウェハ1に
は、各列内切断予定部4における媒体対向面側の端部近
傍の位置に、加工量を検出するための加工量検出素子1
5が形成されている。また、ウェハ1には、列間切断予
定部3内に、各加工量検出素子15と外部との電気的な
接続のためのモニタ用電極16a,16bが形成され、
更に、各列内切断予定部4に、各加工量検出素子15と
各モニタ用電極16a,16bとを電気的に接続するモ
ニタ用リード17a,17bが形成されている。
Description
有する薄膜磁気ヘッド用素材およびその製造方法、なら
びに加工量検出素子を利用した薄膜磁気ヘッドの製造方
法に関する。
薄膜磁気ヘッドは、一般的に、後端部に薄膜磁気ヘッド
素子が形成された薄膜磁気ヘッドスライダ(以下、単に
スライダとも言う。)によって構成されるようになって
いる。スライダは、一般的に、表面が媒体対向面(エア
ベアリング面)となるレール部を有すると共に、空気流
入側の端部近傍にテーパ部またはステップ部を有し、テ
ーパ部またはステップ部より流入する空気流によってレ
ール部が磁気ディスク等の記録媒体の表面からわずかに
浮上するようになっている。
込み用の誘導型磁気変換素子と読み出し用の磁気抵抗
(以下、MR(Magneto Resistive )と記す。)素子と
を積層した構造の複合型の薄膜磁気ヘッド素子が広く用
いられている。
ぞれ薄膜磁気ヘッド素子を含むスライダとなる部分(以
下、スライダ部分と言う。)が複数列に配列されたウェ
ハを一方向に切断して、スライダ部分が一列に配列され
たバーと呼ばれるブロックを形成し、このバーに対して
レール部を形成した後に、バーを切断して各スライダに
分離することによって製造される。
の媒体対向面に対して研削(グラインディング)や研磨
(ラッピング)等の加工を施す媒体対向面の加工工程
と、ウェハよりバーを切り出すバー切断工程とが含まれ
る。なお、バーの媒体対向面の加工工程とバー切断工程
の順序は、バーの媒体対向面の加工およびウェハからの
バーの切り出しの方法によって異なる。
る各薄膜磁気ヘッド素子におけるMRハイトやスロート
ハイトを全て許容範囲内に収める必要があると共に、被
加工面の加工精度を所定の許容範囲内に収める必要があ
る。なお、MRハイトとは、MR素子の媒体対向面側の
端部から反対側の端部までの長さ(高さ)を言う。ま
た、スロートハイトとは、誘導型磁気変換素子におい
て、媒体対向面から、誘導型磁気変換素子における磁極
部分の長さ(高さ)を言う。
まれる各薄膜磁気ヘッド素子におけるMRハイトやスロ
ートハイトを正確に制御する方法としては、ウェハに予
め、加工量を検出するための加工量検出素子(ラッピン
グガイドとも呼ばれる。)を形成しておき、媒体対向面
の加工工程において、加工量検出素子の出力信号をモニ
タ(監視)し、その出力信号に応じて加工を高精度に制
御する方法がある。加工量検出素子としては、例えば、
その寸法に応じて抵抗値が変化する抵抗素子が用いられ
る。
出素子の出力信号をモニタできるようにするためには、
ウェハに予め、加工量検出素子の他に、加工量検出素子
を外部の加工装置の制御部に電気的に接続するためのモ
ニタ用電極と、このモニタ用電極と加工量検出素子とを
電気的に接続するモニタ用リード(導体部)とを形成し
ておく必要がある。
ウェハにおける加工量検出素子、モニタ用電極およびモ
ニタ用リードの配置の一例を示したものである。この例
では、ウェハ100内に、薄膜磁気ヘッド素子101が
複数列に配列されている。各薄膜磁気ヘッド素子101
は、それぞれ、誘導型磁気変換素子とMR素子とを含む
素子部102と、この素子部102と外部との電気的な
接続のための複数の電極103とを有している。図13
に示した例では、ウェハ100内において、各列におけ
る隣接する薄膜磁気ヘッド素子101間に、加工量検出
素子111と、2つのモニタ用電極112a,112b
と、加工量検出素子111と各モニタ用電極112a,
112bとを電気的に接続する2本のモニタ用リード1
13a,113bとを配置している。
ウェハにおける加工量検出素子、モニタ用電極およびモ
ニタ用リードの配置の他の例を示したものである。この
例は、例えば特開平8−287424号公報に示される
ような例である。この例では、図13に示した例と同様
に、ウェハ100内において、各列における隣接する薄
膜磁気ヘッド素子101間に、加工量検出素子111、
モニタ用電極112a,112bおよびモニタ用リード
113a,113bを配置しているが、一方のモニタ用
電極112aを、接地用として、薄膜磁気ヘッド素子1
01の電極103の1つと共通にしている。
は、各列における隣接する薄膜磁気ヘッド素子101間
に、加工量検出素子111、モニタ用電極112a,1
12bおよびモニタ用リード113a,113bを配置
しているため、これらを配置しない場合に比べて、これ
らの分だけ、各列における薄膜磁気ヘッド素子101の
ピッチが大きくなり、同じ長さのバーからの薄膜磁気ヘ
ッドの取り個数が少なくなってしまうという問題点があ
る。
3に示した例に比べて、各列における薄膜磁気ヘッド素
子101のピッチを小さくでき、同じ長さのバーからの
薄膜磁気ヘッドの取り個数を増やすことができる。しか
しながら、この例でも、各列における隣接する薄膜磁気
ヘッド素子101間に、1つのモニタ用電極112bは
余分に配置されることになり、モニタ用電極112bを
配置しない場合に比べると、やはり、各列における薄膜
磁気ヘッド素子101のピッチが大きくなり、同じ長さ
のバーからの薄膜磁気ヘッドの取り個数が少なくなって
しまうという問題点がある。特に、モニタ用電極112
bのような電極は、ボンディングワイヤと接続する必要
があることから、あまり小さくすることはできないた
め、その影響は大きい。例えば、ボンディングワイヤの
径が30μm程度であるとすると、モニタ用電極112
bは、1辺の長さが100μm程度は必要になる。
タ用電極112aを、薄膜磁気ヘッド素子101の電極
103の1つと共通にしているため、バーを各薄膜磁気
ヘッド(スライダ)に分割する際に、加工量検出素子1
11の部分でバーを切断したとしても、モニタ用リード
の一部が外部に露出した状態で残り、これがノイズを拾
ったり、静電破壊の原因になったりするおそれがあると
いう問題点がある。
ので、その第1の目的は、薄膜磁気ヘッドの取り個数を
多くすることができるようにした薄膜磁気ヘッド用素材
およびその製造方法ならびに薄膜磁気ヘッドの製造方法
を提供することにある。
加え、加工量検出素子に接続される導体部が残らないよ
うに薄膜磁気ヘッドを製造できるようにした薄膜磁気ヘ
ッド用素材およびその製造方法ならびに薄膜磁気ヘッド
の製造方法を提供することにある。
用素材は、薄膜磁気ヘッドとなるヘッド予定部が複数列
に配列され、隣接する列間の切断位置となる列間切断予
定部と、各列において隣接するヘッド予定部間の切断位
置となる列内切断予定部とを有する薄膜磁気ヘッド用素
材であって、薄膜磁気ヘッド用素材に対して所定の加工
を行う際の加工量を検出するための加工量検出素子と、
列間切断予定部に形成され、加工量検出素子と外部との
電気的な接続のための電極と、この電極と加工量検出素
子とを電気的に接続する導体部とを備えたものである。
出素子に接続された電極が、列間切断予定部に形成され
ているので、列内のヘッド予定部のピッチを小さくする
ことが可能となる。
は、例えば、加工量検出素子および導体部は、列内切断
予定部に形成されている。この場合、薄膜磁気ヘッド用
素材を列内切断予定部で切断する際に、加工量検出素子
および導体部が除去される。
は、薄膜磁気ヘッドとなるヘッド予定部が複数列に配列
され、隣接する列間の切断位置となる列間切断予定部
と、各列において隣接するヘッド予定部間の切断位置と
なる列内切断予定部とを有する薄膜磁気ヘッド用素材の
製造方法であって、薄膜磁気ヘッド用素材に対して所定
の加工を行う際の加工量を検出するための加工量検出素
子と、この加工量検出素子と外部との電気的な接続のた
めの電極と、この電極と加工量検出素子とを電気的に接
続する導体部とを設けると共に、電極を、列間切断予定
部に形成するものである。
は、加工量検出素子に接続された電極を、列間切断予定
部に形成するので、列内のヘッド予定部のピッチを小さ
くすることが可能となる。
造方法では、例えば、加工量検出素子および導体部を、
列内切断予定部に形成する。この場合、薄膜磁気ヘッド
用素材を列内切断予定部で切断する際に、加工量検出素
子および導体部が除去される。
膜磁気ヘッドとなるヘッド予定部が複数列に配列され、
隣接する列間の切断位置となる列間切断予定部と、各列
において隣接するヘッド予定部間の切断位置となる列内
切断予定部とを有する薄膜磁気ヘッド用素材を用いて薄
膜磁気ヘッドを製造する薄膜磁気ヘッドの製造方法であ
って、薄膜磁気ヘッド用素材に対して所定の加工を行う
際の加工量を検出するための加工量検出素子と、列間切
断予定部に形成され、加工量検出素子と外部との電気的
な接続のための電極と、この電極と加工量検出素子とを
電気的に接続する導体部とを備えた薄膜磁気ヘッド用素
材を製造する薄膜磁気ヘッド用素材製造工程と、電極を
介して得られる加工量検出素子の出力信号を監視しなが
ら、薄膜磁気ヘッド用素材に対して所定の加工を行う加
工工程と、この加工工程の実行後の薄膜磁気ヘッド用素
材を、列間切断予定部で切断して、ヘッド予定部が一列
に配列されたヘッド集合体を形成するヘッド集合体形成
工程と、このヘッド集合体形成工程によって形成された
ヘッド集合体を、列内切断予定部で切断して、薄膜磁気
ヘッドを形成する薄膜磁気ヘッド形成工程とを含むもの
である。
磁気ヘッド用素材製造工程によって、加工量検出素子に
接続された電極が列間切断予定部に形成された薄膜磁気
ヘッド用素材が製造され、加工工程によって、電極を介
して得られる加工量検出素子の出力信号を監視しなが
ら、薄膜磁気ヘッド用素材に対して所定の加工が行わ
れ、ヘッド集合体形成工程によって、加工工程の実行後
の薄膜磁気ヘッド用素材が、列間切断予定部で切断され
て、ヘッド集合体が形成され、薄膜磁気ヘッド形成工程
によって、ヘッド集合体が列内切断予定部で切断され
て、薄膜磁気ヘッドが形成される。
では、薄膜磁気ヘッド用素材製造工程において、例え
ば、加工量検出素子および導体部を、列内切断予定部に
形成する。この場合、薄膜磁気ヘッド形成工程におい
て、ヘッド集合体を列内切断予定部で切断する際に、加
工量検出素子および導体部が除去される。
て図面を参照して詳細に説明する。
磁気ヘッド用素材としてのウェハの一部を示したもので
ある。このウェハ1には、薄膜磁気ヘッドとなるヘッド
予定部2が複数列に配列されている。また、ウェハ1
は、隣接する列間の切断位置となる列間切断予定部3
と、各列において隣接するヘッド予定部2間の切断位置
となる列内切断予定部4とを有している。
ヘッド素子11が形成されている。各薄膜磁気ヘッド素
子11は、それぞれ、誘導型磁気変換素子とMR素子と
を含む素子部12と、この素子部12と外部との電気的
な接続のための複数の電極13とを有している。
における媒体対向面側の端部近傍の位置に、加工量を検
出するための加工量検出素子15が形成されている。ま
た、ウェハ1には、列間切断予定部3内に、各加工量検
出素子15と外部との電気的な接続のためのモニタ用電
極16a,16bが形成されている。更に、ウェハ1内
には、各列内切断予定部4に、各加工量検出素子15と
各モニタ用電極16a,16bとを電気的に接続する導
体部としての2本のモニタ用リード17a,17bが形
成されている。加工量検出素子15としては、例えば、
その寸法に応じて抵抗値が変化する抵抗素子が用いられ
る。
の形態に係る薄膜磁気ヘッド用素材の製造方法、すなわ
ち図1に示したウェハ1の製造方法について説明する。
図2は、ウェハ1の製造工程を示す流れ図、図3は、ウ
ェハ1内の薄膜磁気ヘッド素子11部分の断面図、図4
は、ウェハ1内の加工量検出素子15の近傍を示す断面
図である。図5ないし図7は、加工量検出素子15、モ
ニタ用電極16(16a,16bを代表して表す。)お
よびモニタ用リード17(17a,17bを代表して表
す。)の製造過程を表したものである。
ばアルティック(Al2 O3 ・TiC)よりなる基板7
2上に、例えばアルミナ(Al2 O3 )よりなる絶縁膜
73を形成する(ステップS101)。次に、絶縁膜7
3上に、再生ヘッド用の下部シールド層74を形成する
(ステップS102)。次に、下部シールド層74上
に、例えばアルミナよりなるシールドギャップ膜75を
形成する(ステップS103)。次に、シールドギャッ
プ膜75上に、再生用のMR素子76を形成する。この
とき、同時に、図4および図5に示したように、シール
ドギャップ膜75上に、加工量検出素子15を形成する
(ステップS104)。
素子76上に、それぞれの一端部がMR素子76に接続
されるように、図示しない2本のリードを形成する。こ
のとき、同時に、図4および図6に示したように、シー
ルドギャップ膜75および加工量検出素子15上に、そ
れぞれの一端部が加工量検出素子15に電気的に接続さ
れるように、2本のモニタ用リード17(17a,17
b)を形成する(ステップS105)。
素子76上に、シールドギャップ膜77を形成し(ステ
ップS106)、MR素子76をシールドギャップ膜7
5,77内に埋設する。次に、シールドギャップ膜77
上に、上部シールド兼下部磁極78を形成する(ステッ
プS107)。次に、上部シールド兼下部磁極78上
に、例えばアルミナよりなる記録ギャップ層79を形成
する(ステップS108)。次に、記録ギャップ層79
上に、フォトレジスト層80を介して、薄膜コイル81
を形成する(ステップS109)。次に、フォトレジス
ト層80上に、上部磁極82を形成する(ステップS1
10)。なお、上部磁極82は、後方(図3における右
側)の位置において、下部磁極78と接触し、磁気的に
連結している。
いバンプ(電極)と薄膜コイル81に接続される図示し
ないバンプ(電極)を形成する。このとき、同時に、図
4および図7に示したように、下端部がモニタ用リード
17(17a,17b)に電気的に接続されるように、
モニタ用電極16(16a,16b)となるバンプ16
0を形成する(ステップS111)。次に、上部磁極8
2上に、例えばアルミナよりなる保護層83を形成する
(ステップS112)。各バンプは、この保護層83に
覆われる。最後に、保護層83の上面を研磨して、各バ
ンプを露出させる(ステップS113)。
の製造方法について説明する。この製造方法における最
初の工程は、ウェハ1を製造する工程であるが、これは
既に説明した通りである。薄膜磁気ヘッドの製造方法で
は、次に、ウェハ1内のヘッド予定部2に対して所定の
加工を行うが、本実施の形態では、この加工は、図8に
示したように、ウェハ1より切り出したウェハブロック
21を用いて行う。このウェハブロック21は、複数列
のヘッド予定部2を含み、また、列間切断予定部3と列
内切断予定部4とを有している。従って、このウェハブ
ロック21も、本発明における薄膜磁気ヘッド用素材に
相当する。
方法は、モニタ用電極16を介して得られる加工量検出
素子15の出力信号を監視しながら、ウェハブロック2
1に対して所定の加工を行う加工工程と、この加工工程
の実行後のウェハブロック21を、列間切断予定部3で
切断して、ヘッド予定部2が一列に配列されたヘッド集
合体(バーとも呼ばれる。)を形成するヘッド集合体形
成工程と、このヘッド集合体形成工程によって形成され
たヘッド集合体を、列内切断予定部4で切断して、薄膜
磁気ヘッドを形成する薄膜磁気ヘッド形成工程とを含ん
でいる。
各工程について説明する。始めに、加工工程に先立っ
て、図9(a)に示したように、ウェハブロック21
と、ウェハブロック21における全てのヘッド予定部を
支持するためのサポート板22と、ウェハブロック21
を補助的に支持するためのダミーブロック23とを用意
し、図9(b)に示したように、これらを互いに接合す
る。具体的には、サポート板22上に、ウェハブロック
21における全てのヘッド予定部の一面を含む面がサポ
ート板22の上面と対向するようにウェハブロック21
を配置すると共に、サポート板22上において、ウェハ
ブロック21における媒体対向面21aとは反対側にダ
ミーブロック23を配置し、ウェハブロック21とサポ
ート板22の互いに対向する面同士、ウェハブロック2
1とダミーブロック23の互いに対向する面同士、およ
びダミーブロック23とサポート板22の互いに対向す
る面同士を、それぞれ接着剤によって接合する。なお、
ウェハブロック21は、サポート板22に接合する際、
薄膜磁気ヘッド素子11が形成された面とは反対側の面
がサポート板22に対向するように配置する。
たウェハブロック21の媒体対向面21a側における一
列分のヘッド予定部の媒体対向面に対して所定の加工を
施す。この工程では、研削装置を用いた研削(グライン
ディング)や、研磨装置を用いた研磨(ラッピング)等
を行い、MRハイトやスロートハイトを正確に規定す
る。
ロック図である。この研磨装置は、研磨板31と、この
研磨板31を回転駆動する回転駆動部32と、ウェハブ
ロック21を、研磨板31上において位置変更可能に保
持すると共に、ウェハブロック21に対する押圧力を部
分毎に調整可能なアクチュエータ33と、ウェハブロッ
ク21の媒体対向面側の一列内の各モニタ用電極16を
介して得られる各加工量検出素子15の出力信号を入力
し、所定の処理を行って出力する電気信号処理部34
と、回転駆動部32を制御すると共に、電気信号処理部
34の出力信号を入力し、この出力信号に応じてアクチ
ュエータ33を制御する制御部35とを備えている。
モニタ用電極16を介して得られる各加工量検出素子1
5の出力信号を監視し、この出力信号に応じてウェハブ
ロック21に対する押圧力を部分毎に調整することによ
って、ウェハブロック21の媒体対向面側の薄膜磁気ヘ
ッド素子のパターンの真直度を修正しながら、ウェハブ
ロック21の媒体対向面の研磨を行う。これにより、列
内の各薄膜磁気ヘッド素子において、MRハイトやスロ
ートハイトが正確に規定される。
向面に対して所定の加工が施された一列分のヘッド予定
部を含むヘッド集合体が、ウェハブロック21より分離
されるように、列間切断予定部3で、ウェハブロック2
1とサポート板22とを一緒に切断する。ウェハブロッ
ク21とサポート板22の切断が行われて、ヘッド集合
体が得られたら、ウェハブロック21の残りがある限
り、残りのウェハブロック21について、再度、媒体対
向面の加工と、ウェハブロック21とサポート板22の
切断を、繰り返し実行する。なお、ウェハブロック21
の薄膜磁気ヘッド素子が形成されている面には、列間切
断予定部3を示す加工マーカが形成されており、ウェハ
ブロック21とサポート板22の切断の際には、この加
工マーカを基準にして、切断位置を合わせる。
形成工程の繰り返しを表したものである。この図におい
て、(a)は、サポート板22に接合された状態でのウ
ェハブロック21の媒体対向面の加工を表しており、こ
の加工が終了したら、(b)に示したように、媒体対向
面に対して加工が施された一列分のヘッド予定部を含む
ヘッド集合体がウェハブロック21より分離されるよう
に、ウェハブロック21とサポート板22とを一緒に切
断する。そして、(c)に示したように、得られたヘッ
ド集合体51およびサポート板22の断片52は、後工
程に回される。また、ウェハブロック21の残りがある
場合には、残りのウェハブロック21について、再度、
(a)に示したように媒体対向面の加工が行われる。
22の断片52は、分離され、ヘッド集合体51の媒体
対向面にレール部が形成される。
2に示したように、ヘッド集合体51を、列内切断予定
部4で切断して、各ヘッド予定部2を分離して、薄膜磁
気ヘッドを形成する。
ば、ウェハ1において、加工量検出素子15に接続され
たモニタ用電極16を、列間切断予定部3に形成したの
で、加工量検出素子15を用いた高精度の加工を可能と
しながら、列内のヘッド予定部2のピッチを小さくする
ことが可能となり、薄膜磁気ヘッドの取り個数を多くす
ることができる。
素子15およびモニタ用リード17を、列内切断予定部
4に形成したので、更に、加工量検出素子15に接続さ
れるモニタ用リード17が残らないように薄膜磁気ヘッ
ドを製造することができる。これにより、モニタ用リー
ドがノイズを拾ったり、静電破壊の原因となったりする
ことを防止することができる。
れず、種々変更が可能である。例えば、上記実施の形態
では、ウェハ1より切り出したウェハブロック21を、
ダミーブロック23と共に、サポート板22に接合し、
この状態で、媒体対向面の加工とヘッド集合体の切断と
を行うようにしたが、ウェハブロック21における媒体
対向面とは反対側の端面を所定の治具に接合して、媒体
対向面の加工とヘッド集合体の切断とを行うようにして
もよいし、ウェハ1の状態で、媒体対向面の加工とヘッ
ド集合体の切断とを行うようにしてもよい。
載の薄膜磁気ヘッド用素材、請求項3または4記載の薄
膜磁気ヘッド用素材の製造方法、もしくは請求項5また
は6記載の薄膜磁気ヘッドの製造方法によれば、加工量
検出素子に接続された電極を、列間切断予定部に形成し
たので、列内のヘッド予定部のピッチを小さくすること
が可能となり、薄膜磁気ヘッドの取り個数を多くするこ
とができるという効果を奏する。
材、請求項4記載の薄膜磁気ヘッド用素材の製造方法、
もしくは請求項6記載の薄膜磁気ヘッドの製造方法によ
れば、加工量検出素子および導体部を、列内切断予定部
に形成したので、更に、加工量検出素子に接続される導
体部が残らないように薄膜磁気ヘッドを製造することが
できるという効果を奏する。
素材としてのウェハの一部を示す説明図である。
程を示す流れ図である。
磁気ヘッド素子部分の断面図である。
量検出素子の近傍を示す断面図である。
子、モニタ用電極およびモニタ用リードの製造過程を示
す説明図である。
子、モニタ用電極およびモニタ用リードの製造過程を示
す説明図である。
子、モニタ用電極およびモニタ用リードの製造過程を示
す説明図である。
ェハブロックを示す説明図である。
をサポート板に接合する工程を説明するための斜視図で
ある。
成の一例を示すブロック図である。
ッド集合体形成工程の繰り返しを示す説明図である。
ド形成工程を示す説明図である。
る加工量検出素子、モニタ用電極およびモニタ用リード
の配置の一例を示す説明図である。
る加工量検出素子、モニタ用電極およびモニタ用リード
の配置の他の例を示す説明図である。
4…列内切断予定部、11…薄膜磁気ヘッド素子、15
…加工量検出素子、16(16a,16b)…モニタ用
電極、17(17a,17b)…モニタ用リード。
Claims (6)
- 【請求項1】 薄膜磁気ヘッドとなるヘッド予定部が複
数列に配列され、隣接する列間の切断位置となる列間切
断予定部と、各列において隣接するヘッド予定部間の切
断位置となる列内切断予定部とを有する薄膜磁気ヘッド
用素材であって、 薄膜磁気ヘッド用素材に対して所定の加工を行う際の加
工量を検出するための加工量検出素子と、 前記列間切断予定部に形成され、前記加工量検出素子と
外部との電気的な接続のための電極と、 この電極と前記加工量検出素子とを電気的に接続する導
体部とを備えたことを特徴とする薄膜磁気ヘッド用素
材。 - 【請求項2】 前記加工量検出素子および前記導体部
が、前記列内切断予定部に形成されていることを特徴と
する請求項1記載の薄膜磁気ヘッド用素材。 - 【請求項3】 薄膜磁気ヘッドとなるヘッド予定部が複
数列に配列され、隣接する列間の切断位置となる列間切
断予定部と、各列において隣接するヘッド予定部間の切
断位置となる列内切断予定部とを有する薄膜磁気ヘッド
用素材の製造方法であって、 薄膜磁気ヘッド用素材に対して所定の加工を行う際の加
工量を検出するための加工量検出素子と、この加工量検
出素子と外部との電気的な接続のための電極と、この電
極と前記加工量検出素子とを電気的に接続する導体部と
を設けると共に、 前記電極を、前記列間切断予定部に形成することを特徴
とする薄膜磁気ヘッド用素材の製造方法。 - 【請求項4】 前記加工量検出素子および前記導体部
を、前記列内切断予定部に形成することを特徴とする請
求項3記載の薄膜磁気ヘッド用素材の製造方法。 - 【請求項5】 薄膜磁気ヘッドとなるヘッド予定部が複
数列に配列され、隣接する列間の切断位置となる列間切
断予定部と、各列において隣接するヘッド予定部間の切
断位置となる列内切断予定部とを有する薄膜磁気ヘッド
用素材を用いて薄膜磁気ヘッドを製造する薄膜磁気ヘッ
ドの製造方法であって、 薄膜磁気ヘッド用素材に対して所定の加工を行う際の加
工量を検出するための加工量検出素子と、前記列間切断
予定部に形成され、前記加工量検出素子と外部との電気
的な接続のための電極と、この電極と前記加工量検出素
子とを電気的に接続する導体部とを備えた薄膜磁気ヘッ
ド用素材を製造する薄膜磁気ヘッド用素材製造工程と、 前記電極を介して得られる前記加工量検出素子の出力信
号を監視しながら、前記薄膜磁気ヘッド用素材に対して
所定の加工を行う加工工程と、 この加工工程の実行後の薄膜磁気ヘッド用素材を、前記
列間切断予定部で切断して、ヘッド予定部が一列に配列
されたヘッド集合体を形成するヘッド集合体形成工程
と、 このヘッド集合体形成工程によって形成されたヘッド集
合体を、前記列内切断予定部で切断して、薄膜磁気ヘッ
ドを形成する薄膜磁気ヘッド形成工程とを含むことを特
徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方法。 - 【請求項6】 前記薄膜磁気ヘッド用素材製造工程は、
前記加工量検出素子および前記導体部を、前記列内切断
予定部に形成することを特徴とする請求項5記載の薄膜
磁気ヘッドの製造方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12371898A JP3926032B2 (ja) | 1998-05-06 | 1998-05-06 | 薄膜磁気ヘッド用素材およびその製造方法ならびに薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
| SG9905334A SG93218A1 (en) | 1998-05-06 | 1999-10-25 | Thin-film magnetic head material and method of manufacturing same and method of manufacturing thin-film magnetic heads |
| US09/865,445 US6807722B2 (en) | 1998-05-06 | 2001-05-29 | Thin-film magnetic head material and method of manufacturing same and method of manufacturing thin-film magnetic head |
| US09/865,719 US6581271B2 (en) | 1998-05-06 | 2001-05-29 | Method of manufacturing thin-film magnetic head |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12371898A JP3926032B2 (ja) | 1998-05-06 | 1998-05-06 | 薄膜磁気ヘッド用素材およびその製造方法ならびに薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
| CNB991213025A CN1192361C (zh) | 1999-09-07 | 1999-10-10 | 薄膜磁头坯料及其制造方法和薄膜磁头的制造方法 |
| SG9905334A SG93218A1 (en) | 1998-05-06 | 1999-10-25 | Thin-film magnetic head material and method of manufacturing same and method of manufacturing thin-film magnetic heads |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11316912A true JPH11316912A (ja) | 1999-11-16 |
| JP3926032B2 JP3926032B2 (ja) | 2007-06-06 |
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ID=28045819
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12371898A Expired - Fee Related JP3926032B2 (ja) | 1998-05-06 | 1998-05-06 | 薄膜磁気ヘッド用素材およびその製造方法ならびに薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3926032B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011060419A (ja) * | 2005-08-22 | 2011-03-24 | Headway Technologies Inc | 磁気ヘッドおよびその製造方法ならびに磁気ヘッド用基礎構造物 |
| JP2011181160A (ja) * | 2010-03-04 | 2011-09-15 | Sae Magnetics (Hk) Ltd | 磁気ヘッドスライダの製造方法 |
-
1998
- 1998-05-06 JP JP12371898A patent/JP3926032B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011060419A (ja) * | 2005-08-22 | 2011-03-24 | Headway Technologies Inc | 磁気ヘッドおよびその製造方法ならびに磁気ヘッド用基礎構造物 |
| JP2011181160A (ja) * | 2010-03-04 | 2011-09-15 | Sae Magnetics (Hk) Ltd | 磁気ヘッドスライダの製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3926032B2 (ja) | 2007-06-06 |
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