JPH11317191A - 電離箱を有する放射線測定装置 - Google Patents
電離箱を有する放射線測定装置Info
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- JPH11317191A JPH11317191A JP11070761A JP7076199A JPH11317191A JP H11317191 A JPH11317191 A JP H11317191A JP 11070761 A JP11070761 A JP 11070761A JP 7076199 A JP7076199 A JP 7076199A JP H11317191 A JPH11317191 A JP H11317191A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は、Ｘ線像中に再生されることなく、
測定場電極への電源リード線が供給される信号に影響を
与えない電離箱の提供を目的とする。 【解決手段】 本発明の電離箱は、基板(120) 上に離間
して配置され、電源リード線(134) が設けられている複
数の測定場電極(131,...,133) と、基板から離間し基板
に対向して配置され、Ｘ線の影響下で電荷担体を放出す
る少なくとも１個の電極(180) とを含む。電源リード線
(134) 側、及び／又は、電極(180) 側に設けられた電気
絶縁層(140;190) は、少なくとも電源リード線の領域
で、電離箱からの信号が電源リード線に入射する電荷担
体により変更されることを防止する。電気絶縁層はＸ線
像中に実際に再生されないような高いＸ線透過率を有す
る。
測定場電極への電源リード線が供給される信号に影響を
与えない電離箱の提供を目的とする。 【解決手段】 本発明の電離箱は、基板(120) 上に離間
して配置され、電源リード線(134) が設けられている複
数の測定場電極(131,...,133) と、基板から離間し基板
に対向して配置され、Ｘ線の影響下で電荷担体を放出す
る少なくとも１個の電極(180) とを含む。電源リード線
(134) 側、及び／又は、電極(180) 側に設けられた電気
絶縁層(140;190) は、少なくとも電源リード線の領域
で、電離箱からの信号が電源リード線に入射する電荷担
体により変更されることを防止する。電気絶縁層はＸ線
像中に実際に再生されないような高いＸ線透過率を有す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板上に離間して
配置され、電源リード線が設けられている複数の測定場
電極と、上記基板から離間し上記基板に対向して配置さ
れ、Ｘ線の影響下で電荷担体を放出する少なくとも１個
の電極とを含む電離箱に関する。
配置され、電源リード線が設けられている複数の測定場
電極と、上記基板から離間し上記基板に対向して配置さ
れ、Ｘ線の影響下で電荷担体を放出する少なくとも１個
の電極とを含む電離箱に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種の電離箱は、欧州特許第EP-A 562
762号及びドイツ国特許第P 1 082 989 号により公知で
あり、Ｘ線照射中に所定の照射量に達した後、Ｘ線のス
イッチを切るためにＸ線システムにおいて使用される。
電離箱は、Ｘ線像検出器と被検査患者との間に配置され
るので、電離箱が吸収するＸ線の量は最低限に抑えら
れ、電離箱内の空間吸収率の差は電離箱が像として再生
されることを防止するためできるだけ小さく抑えること
が重要である。
762号及びドイツ国特許第P 1 082 989 号により公知で
あり、Ｘ線照射中に所定の照射量に達した後、Ｘ線のス
イッチを切るためにＸ線システムにおいて使用される。
電離箱は、Ｘ線像検出器と被検査患者との間に配置され
るので、電離箱が吸収するＸ線の量は最低限に抑えら
れ、電離箱内の空間吸収率の差は電離箱が像として再生
されることを防止するためできるだけ小さく抑えること
が重要である。
【０００３】引用文献EP-A 562 762号による電離箱の場
合、基板と電極の間の隙間は、数ミリメートルの厚さを
有し測定場電極の領域だけに窓が設けられた発泡性挿入
物で充填されているので、空気の測定場電極と電極の対
向部との間に空気の容量部が現れる。したがって、電極
からの電荷担体は窓の領域だけで測定場電極に到達す
る。
合、基板と電極の間の隙間は、数ミリメートルの厚さを
有し測定場電極の領域だけに窓が設けられた発泡性挿入
物で充填されているので、空気の測定場電極と電極の対
向部との間に空気の容量部が現れる。したがって、電極
からの電荷担体は窓の領域だけで測定場電極に到達す
る。
【０００４】発泡性挿入物は、Ｘ線照射中に電荷担体測
定場電極用の電源リード線に衝突することを防止するた
め作用する。このように発泡性挿入物を設けない場合、
引用文献DE-PS 1 082 989号に記載されているように、
測定に誤謬が生じる。また、発泡性挿入物は、電離箱の
機械的安定性を高める働きがある。発泡性挿入物による
Ｘ線の吸収は、発泡性挿入物の厚さが薄い場合でも、測
定場電極の領域での空気によるＸ線吸収よりも大きい。
ソフトなＸ線の場合、すなわち、Ｘ線を発生するＸ線管
に印加される電圧が低い場合（例えば、４０ボルト）、
吸収率の差はＸ線像内に電離箱の像を再生するので、従
来のブッキー照射は、屡々、自動照射制御システム又は
電離箱を用いることなく実施される。
定場電極用の電源リード線に衝突することを防止するた
め作用する。このように発泡性挿入物を設けない場合、
引用文献DE-PS 1 082 989号に記載されているように、
測定に誤謬が生じる。また、発泡性挿入物は、電離箱の
機械的安定性を高める働きがある。発泡性挿入物による
Ｘ線の吸収は、発泡性挿入物の厚さが薄い場合でも、測
定場電極の領域での空気によるＸ線吸収よりも大きい。
ソフトなＸ線の場合、すなわち、Ｘ線を発生するＸ線管
に印加される電圧が低い場合（例えば、４０ボルト）、
吸収率の差はＸ線像内に電離箱の像を再生するので、従
来のブッキー照射は、屡々、自動照射制御システム又は
電離箱を用いることなく実施される。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】近年の電気的に読み出
し可能なセンサ（ディジタル画像検出器）を含むＸ線像
変換器は、Ｘ線フィルムを増倍器箔と組み合わせて利用
する従来使用されていたシステムによって再生される吸
収率の差よりも遙かに小さい吸収率の差をＸ線像に再現
することができる。電離箱が再生される危険性は特に高
い。
し可能なセンサ（ディジタル画像検出器）を含むＸ線像
変換器は、Ｘ線フィルムを増倍器箔と組み合わせて利用
する従来使用されていたシステムによって再生される吸
収率の差よりも遙かに小さい吸収率の差をＸ線像に再現
することができる。電離箱が再生される危険性は特に高
い。
【０００６】したがって、本発明の目的は、一方で電離
箱がＸ線像内に再生されることが高度に防止され、他方
で測定場電極への電源リード線は電離箱によって供給さ
れた信号に影響を与えないような上記のタイプの電離箱
を作成することである。
箱がＸ線像内に再生されることが高度に防止され、他方
で測定場電極への電源リード線は電離箱によって供給さ
れた信号に影響を与えないような上記のタイプの電離箱
を作成することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記本発明の目的は、基
板と電極との間の距離よりも小さい厚さを有する電気絶
縁層が電極に対向する電源リード線の側、及び／又は、
測定場電極に対向する電極の側に設けられる本発明によ
って達成される。電気絶縁層を、少なくとも電源リード
線の領域、好ましくは、測定場電極に対向する領域を除
く電極全体で電極側に設けることにより、電極に発生さ
れ電離電流の主要部を構成する電荷担体が測定場電極の
領域の外側に放出されることが防止される。電気絶縁層
を電源リード線側に設ける場合、電源リード線の領域、
例えば、電源リード線の上方の空気の容積部で発生され
る電荷担体が電源リード線に到達することが防止され
る。このような電気絶縁層は、実際上、Ｘ線像内に再生
されない程度に薄くなるように作成することが可能であ
る。
板と電極との間の距離よりも小さい厚さを有する電気絶
縁層が電極に対向する電源リード線の側、及び／又は、
測定場電極に対向する電極の側に設けられる本発明によ
って達成される。電気絶縁層を、少なくとも電源リード
線の領域、好ましくは、測定場電極に対向する領域を除
く電極全体で電極側に設けることにより、電極に発生さ
れ電離電流の主要部を構成する電荷担体が測定場電極の
領域の外側に放出されることが防止される。電気絶縁層
を電源リード線側に設ける場合、電源リード線の領域、
例えば、電源リード線の上方の空気の容積部で発生され
る電荷担体が電源リード線に到達することが防止され
る。このような電気絶縁層は、実際上、Ｘ線像内に再生
されない程度に薄くなるように作成することが可能であ
る。
【０００８】請求項２に記載された本発明の実施例のよ
うに、測定場電極が、基板上に設けられ好ましくはグラ
ファイトを含有する導電ラッカーの層を含む場合、測定
場電極自体はＸ線像中に再生されない。空間的に一様な
電極によるＸ線の吸収によってＸ線像に電極が再生され
ることはないが（電離箱はＸ線像検出器よりも大き
い）、電極によって吸収されたＸ線の量に比例して患者
に対する照射負荷が増加する。
うに、測定場電極が、基板上に設けられ好ましくはグラ
ファイトを含有する導電ラッカーの層を含む場合、測定
場電極自体はＸ線像中に再生されない。空間的に一様な
電極によるＸ線の吸収によってＸ線像に電極が再生され
ることはないが（電離箱はＸ線像検出器よりも大き
い）、電極によって吸収されたＸ線の量に比例して患者
に対する照射負荷が増加する。
【０００９】電極が別の基板に設けられ少なくとも４０
に一致する原子番号を有する金属を含有する一様な層を
含む請求項３に記載された構成は、適当な基板及び薄い
電極層を使用することにより低吸収率を実現することが
できる。この層は少なくとも４０の原子番号を有する金
属を含有するので、電荷担体は、電極が電気絶縁層で覆
われない限り、Ｘ線の影響下で放出される。
に一致する原子番号を有する金属を含有する一様な層を
含む請求項３に記載された構成は、適当な基板及び薄い
電極層を使用することにより低吸収率を実現することが
できる。この層は少なくとも４０の原子番号を有する金
属を含有するので、電荷担体は、電極が電気絶縁層で覆
われない限り、Ｘ線の影響下で放出される。
【００１０】基板の外側に好ましくはグラファイトを含
有する導電層が設けられている請求項４の実施例は、基
板が電気絶縁材から作られているときに、電離箱の電気
的遮蔽を保証する。基板がフレームによって相互接続さ
れている請求項５に記載された実施例によれば、電離箱
に対する適切な機械的安定性が得られる。
有する導電層が設けられている請求項４の実施例は、基
板が電気絶縁材から作られているときに、電離箱の電気
的遮蔽を保証する。基板がフレームによって相互接続さ
れている請求項５に記載された実施例によれば、電離箱
に対する適切な機械的安定性が得られる。
【００１１】請求項６に記載された実施例によれば、絶
縁層が電極に設けられ、絶縁層は、測定場電極に対向し
た領域に、測定場電極の寸法から外れた寸法を有する開
口部が設けられる。Ｘ線像中に測定場が再生される危険
性は、この実施例を用いることにより低減される。請求
項７には上記の本発明による電離箱を含むＸ線システム
が記載されている。
縁層が電極に設けられ、絶縁層は、測定場電極に対向し
た領域に、測定場電極の寸法から外れた寸法を有する開
口部が設けられる。Ｘ線像中に測定場が再生される危険
性は、この実施例を用いることにより低減される。請求
項７には上記の本発明による電離箱を含むＸ線システム
が記載されている。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
を詳細に説明する。図１には、Ｘ線源２とＸ線像検出器
３の間、或いは、被検査患者４とＸ線検出器３の間に配
置された電離箱１が示されている。電離箱１はＸ線像検
出器３よりも大きいので、電離箱の外形輪郭はＸ線像検
出器に映像化され得ない。電離箱は、Ｘ線照射量が測定
される複数の測定場を有し、１個（以上）の測定場が照
射量測定のため選択され得る。
を詳細に説明する。図１には、Ｘ線源２とＸ線像検出器
３の間、或いは、被検査患者４とＸ線検出器３の間に配
置された電離箱１が示されている。電離箱１はＸ線像検
出器３よりも大きいので、電離箱の外形輪郭はＸ線像検
出器に映像化され得ない。電離箱は、Ｘ線照射量が測定
される複数の測定場を有し、１個（以上）の測定場が照
射量測定のため選択され得る。
【００１３】Ｘ線源２は、高圧発生器５及び制御ユニッ
ト６を含むＸ線発生器により給電される。Ｘ線照射中
に、Ｘ線によって発生された電離電流は、電離箱１の先
に選択された測定場内で関連した測定場電極を横切るよ
うに流れる。電離電流は制御ユニット６によって積分さ
れ、所与の積分値、すなわち、選択された測定場内の所
与の照射量に達したとき、Ｘ線照射が自動的に終了され
ることを保証する。
ト６を含むＸ線発生器により給電される。Ｘ線照射中
に、Ｘ線によって発生された電離電流は、電離箱１の先
に選択された測定場内で関連した測定場電極を横切るよ
うに流れる。電離電流は制御ユニット６によって積分さ
れ、所与の積分値、すなわち、選択された測定場内の所
与の照射量に達したとき、Ｘ線照射が自動的に終了され
ることを保証する。
【００１４】以下、図２及び図３を参照して、電離箱の
構成について詳細に説明する。尚、図３に示されている
寸法は、電離箱の正確な寸法を表していない。電離箱
は、平面状、正方形の側壁を備えた平らなハウジングに
より構成される。一方の側壁は測定場電極を支持し、他
方の側壁は、動作条件で測定場電極に対し負電位を伝達
する大面積の電極を支持するので、Ｘ線によって電極に
放出された電子は測定場電極に到達することができる。
構成について詳細に説明する。尚、図３に示されている
寸法は、電離箱の正確な寸法を表していない。電離箱
は、平面状、正方形の側壁を備えた平らなハウジングに
より構成される。一方の側壁は測定場電極を支持し、他
方の側壁は、動作条件で測定場電極に対し負電位を伝達
する大面積の電極を支持するので、Ｘ線によって電極に
放出された電子は測定場電極に到達することができる。
【００１５】図３から分かるように、電離箱ハウジング
の下方の壁は、例えば、１〜２ｍｍの厚さを有するプレ
キシグラス材プレートのような絶縁材の基板１２０を含
む。基板１２０の外側には、薄い導電層１１０が設けら
れる。例えば、この薄い導電層１１０は、例えば、厚さ
０．０１ｍｍの導電ラッカーをスクリーンプリンティン
グ法を用いて沈着することにより形成され得るグラファ
イト層でもよい。
の下方の壁は、例えば、１〜２ｍｍの厚さを有するプレ
キシグラス材プレートのような絶縁材の基板１２０を含
む。基板１２０の外側には、薄い導電層１１０が設けら
れる。例えば、この薄い導電層１１０は、例えば、厚さ
０．０１ｍｍの導電ラッカーをスクリーンプリンティン
グ法を用いて沈着することにより形成され得るグラファ
イト層でもよい。
【００１６】測定場電極は、基板１２０の内側の層１３
０に設けられる。図２から分かるように、測定場電極１
３１を具備した中央の測定場と、水平方向の中心線の上
方で（例えば、胸部照射のため）垂直方向の中心線に対
し対称的に配置され測定場電極１３２を構成する２個の
測定場と、（例えば、四肢の照射のため）中心に対して
相互にオフセットし個々に測定場電極１３３を構成する
３個の小さい測定場とが設けられる。各測定場電極は、
基板上に設けられた電源リード線１３４を介して、制御
ユニットに設けられ高いオーム性入力を有する夫々の積
分器回路に接続され、測定場電極に流れる電離電流が積
分される。約３ｍｍの幅を有する電源リード線１３４
と、測定場電極１３１，１３２，１３３は、接地された
ドレイン電極１３５によって囲まれる。ドレイン電極１
３５は電源リード線及び測定場電極から約６ｍｍの間隔
の場所にある。構成部品１３１，１３２，１３３，１３
４及び１３５により構成される導電層１３０は、層１１
０と同様に約０．０１ｍｍの厚さを有する層であり、ス
クリーンプリンティング処理を用いてグラファイトを含
有する導電ラッカーを沈着することにより形成される。
図２に示された視線Ａ−Ａ’は、断面が図３に示された
平面を定義する。
０に設けられる。図２から分かるように、測定場電極１
３１を具備した中央の測定場と、水平方向の中心線の上
方で（例えば、胸部照射のため）垂直方向の中心線に対
し対称的に配置され測定場電極１３２を構成する２個の
測定場と、（例えば、四肢の照射のため）中心に対して
相互にオフセットし個々に測定場電極１３３を構成する
３個の小さい測定場とが設けられる。各測定場電極は、
基板上に設けられた電源リード線１３４を介して、制御
ユニットに設けられ高いオーム性入力を有する夫々の積
分器回路に接続され、測定場電極に流れる電離電流が積
分される。約３ｍｍの幅を有する電源リード線１３４
と、測定場電極１３１，１３２，１３３は、接地された
ドレイン電極１３５によって囲まれる。ドレイン電極１
３５は電源リード線及び測定場電極から約６ｍｍの間隔
の場所にある。構成部品１３１，１３２，１３３，１３
４及び１３５により構成される導電層１３０は、層１１
０と同様に約０．０１ｍｍの厚さを有する層であり、ス
クリーンプリンティング処理を用いてグラファイトを含
有する導電ラッカーを沈着することにより形成される。
図２に示された視線Ａ−Ａ’は、断面が図３に示された
平面を定義する。
【００１７】電源リード線１３４の領域で、導電層１３
０は、電源リード線及び接地されたドレイン電極１３５
への中間スペースを覆う絶縁層１４０が設けられる。絶
縁層１４０は、Ｘ線透過性を有する（或いは、Ｘ線吸収
率の低い）絶縁性ラッカーの沈着により形成される。絶
縁層１４０は５〜６μｍの厚さを有する。絶縁層１４０
は大きくしても構わないが、測定場電極を覆わないよう
にすることが重要である。
０は、電源リード線及び接地されたドレイン電極１３５
への中間スペースを覆う絶縁層１４０が設けられる。絶
縁層１４０は、Ｘ線透過性を有する（或いは、Ｘ線吸収
率の低い）絶縁性ラッカーの沈着により形成される。絶
縁層１４０は５〜６μｍの厚さを有する。絶縁層１４０
は大きくしても構わないが、測定場電極を覆わないよう
にすることが重要である。
【００１８】電離箱の第２の壁は、基板１２０と同じ材
料及び同じ厚さからなる基板１６０を含む。この基板１
６０の外側には、導電層１１０と同じ機能を有し、同様
に形成される導電層１７０が設けられる。基板１７０の
内側には、例えば、銀又は鉛のような少なくとも４０に
達する原子番号を有する金属を含有する局部的に均一な
導電層１８０が設けられる。導電層１８０は、例えば、
ドイツ国Dornstadt 89160 所在のAcheson 製の"Electro
dog 1415 M" タイプの銀エマルジョンを用いて基板上に
プリンティング処理することにより形成することができ
る。導電層１８０は、Ｘ線の影響下で適当な数の自由電
子を充分に発生させることができる５〜６μｍの厚さを
有するが、この厚さは充分に薄いのでＸ線の全体的な減
衰を僅かしか生じさせない。
料及び同じ厚さからなる基板１６０を含む。この基板１
６０の外側には、導電層１１０と同じ機能を有し、同様
に形成される導電層１７０が設けられる。基板１７０の
内側には、例えば、銀又は鉛のような少なくとも４０に
達する原子番号を有する金属を含有する局部的に均一な
導電層１８０が設けられる。導電層１８０は、例えば、
ドイツ国Dornstadt 89160 所在のAcheson 製の"Electro
dog 1415 M" タイプの銀エマルジョンを用いて基板上に
プリンティング処理することにより形成することができ
る。導電層１８０は、Ｘ線の影響下で適当な数の自由電
子を充分に発生させることができる５〜６μｍの厚さを
有するが、この厚さは充分に薄いのでＸ線の全体的な減
衰を僅かしか生じさせない。
【００１９】電極層１８０には、絶縁層１４０と同じ方
法及び同じ材料を用いて、絶縁層１９０が設けられる。
絶縁層１９０には、測定場電極に対向する領域に開口部
１９１が設けられ、この領域内の電極に発生された電荷
担体はこの開口部から出現し、中間の空気スペースで増
倍された後、反対側に配置された測定場電極に到達す
る。これらの開口部の寸法は、対向する測定場電極と同
じ寸法でもよく、或いは、測定場電極の寸法から僅かに
逸れた、例えば、僅かに小さい寸法でも構わない。
法及び同じ材料を用いて、絶縁層１９０が設けられる。
絶縁層１９０には、測定場電極に対向する領域に開口部
１９１が設けられ、この領域内の電極に発生された電荷
担体はこの開口部から出現し、中間の空気スペースで増
倍された後、反対側に配置された測定場電極に到達す
る。これらの開口部の寸法は、対向する測定場電極と同
じ寸法でもよく、或いは、測定場電極の寸法から僅かに
逸れた、例えば、僅かに小さい寸法でも構わない。
【００２０】絶縁層１９０及び１４０は、電荷担体が電
源リード線の領域で電極１８０によって放出されないこ
と、或いは、電荷担体が電源リード線１３４に当たらな
いこと若しくは入射し得ないことを効果的に保証する。
これらの絶縁層のＸ線透過率は非常に高いため、これら
の層によって形成されるパターンがＸ線像中に再生され
ることは実際的に排除される。また、本発明による測定
箱の更なる利点は、（導電層及び絶縁層による基板の多
重プリンティング処理によって）非常に簡単に製造する
ことができるので、電離箱の製造コストが実質的に削減
されることである。
源リード線の領域で電極１８０によって放出されないこ
と、或いは、電荷担体が電源リード線１３４に当たらな
いこと若しくは入射し得ないことを効果的に保証する。
これらの絶縁層のＸ線透過率は非常に高いため、これら
の層によって形成されるパターンがＸ線像中に再生され
ることは実際的に排除される。また、本発明による測定
箱の更なる利点は、（導電層及び絶縁層による基板の多
重プリンティング処理によって）非常に簡単に製造する
ことができるので、電離箱の製造コストが実質的に削減
されることである。
【００２１】一方の絶縁層が省かれたとしても、依然と
して使用可能な電離箱が得られる。しかし、両方の絶縁
層を使用することによって、一方で電荷担体の電極１８
０からの放射が阻止され、他方で電荷担体の電源リード
線への入射が阻止されるので、一方の絶縁層しか使用し
ない場合よりも優れた結果が得られる。上記の実施例に
よる電離箱は１個の電極だけを含み、測定場電極用の基
板は電離箱の側壁の一方を構成する。しかし、ドイツ国
特許第OS 1 082 983 号に記載されている電離箱のよう
に、補助電極の両側に配置された２個の電極を電離箱に
設け、２個の電極がその電極が設けられた基板と共に電
離箱の側壁を構成するようにすることが可能である。こ
の場合、測定場電極は、２個の電極の中間に置かれた薄
い基板の両側に設けられるべきである。
して使用可能な電離箱が得られる。しかし、両方の絶縁
層を使用することによって、一方で電荷担体の電極１８
０からの放射が阻止され、他方で電荷担体の電源リード
線への入射が阻止されるので、一方の絶縁層しか使用し
ない場合よりも優れた結果が得られる。上記の実施例に
よる電離箱は１個の電極だけを含み、測定場電極用の基
板は電離箱の側壁の一方を構成する。しかし、ドイツ国
特許第OS 1 082 983 号に記載されている電離箱のよう
に、補助電極の両側に配置された２個の電極を電離箱に
設け、２個の電極がその電極が設けられた基板と共に電
離箱の側壁を構成するようにすることが可能である。こ
の場合、測定場電極は、２個の電極の中間に置かれた薄
い基板の両側に設けられるべきである。
【図１】本発明が実施され得るＸ線システムの構成図で
ある。
ある。
【図２】基板上に配置された測定場電極の平面図であ
り、
り、
【図３】本発明による電離箱の断面図である。
１ 電離箱 １１０，１３０，１７０ 導電層 １２０，１６０ 基板 １３１ 測定場電極 １３４ 電源リード線 １３５ ドレイン電極 １４０，１９０ 絶縁層 １５０ フレーム １８０ 電極層 １９１ 開口部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 590000248 Ｇｒｏｅｎｅｗｏｕｄｓｅｗｅｇ １, 5621 ＢＡ Ｅｉｎｄｈｏｖｅｎ， Ｔｈ ｅ Ｎｅｔｈｅｒｌａｎｄｓ
Claims (7)
- 【請求項１】 基板（１２０）上に離間して配置され、
電源リード線（１３４）が設けられている複数の測定場
電極（１３１，．．．，１３３）と、上記基板から離間
し上記基板に対向して配置され、Ｘ線の影響下で電荷担
体を放出する少なくとも１個の電極（１８０）とを含む
電離箱において、 電気絶縁層（１４０；１９０）が上記電極に対向する上
記電源リード線（１３４）の側、及び／又は、上記測定
電極（１３１，．．．，１３３）に対向する上記電極
（１８０）の側に設けられ、 上記電気絶縁層の厚さは、上記基板（１２０）と上記電
極（１８０）の間隔よりも著しく薄いことを特徴とする
電離箱。 - 【請求項２】 上記測定場電極（１３１，．．．，１３
３）は上記基板上に設けられた導電ラッカーの層を含
み、上記導電ラッカーの層は好ましくはグラファイトを
含有することを特徴とする請求項１記載の電離箱。 - 【請求項３】 上記電極は別の基板に設けられた一様な
層（１８０）を含み、上記一様な層は少なくとも４０に
一致する原子番号を有する金属を含有する一様な層を含
むことを特徴とする請求項１記載の電離箱。 - 【請求項４】 上記基板（１２０，１６０）の外側に導
電層（１１０，１７０）が設けられ、上記導電層は好ま
しくはグラファイトを含有することを特徴とする請求項
３記載の電離箱。 - 【請求項５】 上記基板はフレーム（１５０）によって
相互接続されていることを特徴とする請求項３に記載さ
れた電離箱、 - 【請求項６】 絶縁層（１９０）が上記電極（１８０）
に設けられ、 測定場電極に対向する領域で、上記絶縁層は、上記測定
場電極の寸法から外れた寸法を有する開口部が設けられ
ることを特徴とする請求項１記載の電離箱。 - 【請求項７】 Ｘ線像検出器（３）と、Ｘ線管（２）
と、選択可能な照射量に達した後にＸ線照射を終了する
自動照射制御装置が具備され上記Ｘ線管（２）に給電す
るＸ線発生器（５，６）と、電離箱（１）とを有するＸ
線システムにおいて、 上記電離箱は、基板（１２０）上に離間して配置され、
電源リード線（１３４）が設けられている複数の測定場
電極（１３１，．．．，１３３）と、上記基板から離間
し上記基板に対向して配置され、Ｘ線の影響下で電荷担
体を放出する少なくとも１個の電極（１８０）とを含
み、上記照射量を測定するよう動作し、 電気絶縁層（１４０；１９０）が上記電極に対向する上
記電源リード線（１３４）の側、及び／又は、上記測定
電極（１３１，．．．，１３３）に対向する上記電極
（１８０）の側に設けられ、 上記電気絶縁層の厚さは、上記基板（１２０）と上記電
極（１８０）の間隔よりも著しく薄いことを特徴とす
る、Ｘ線システム。
Applications Claiming Priority (2)
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|---|---|---|---|
| DE19811556A DE19811556A1 (de) | 1998-03-17 | 1998-03-17 | Strahlungsmeßeinrichtung mit einer Ionisatonskammer |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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|---|---|---|---|---|
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| DE10313602B4 (de) * | 2003-03-26 | 2013-05-08 | Siemens Aktiengesellschaft | Vorrichtung zur Messung einer Strahlungsdosis |
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-
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-
1999
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- 1999-03-16 US US09/270,442 patent/US6236711B1/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008517693A (ja) * | 2004-10-29 | 2008-05-29 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 携帯型のｘ線検出器装置 |
| WO2019003374A1 (ja) * | 2017-06-29 | 2019-01-03 | 株式会社島津製作所 | 放射線計測器および放射線撮影装置 |
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