JPH11322926A - 新規なポリイミドシロキサン、コ−ティング剤、保護膜および被着体の表面安定化処理方法 - Google Patents
新規なポリイミドシロキサン、コ−ティング剤、保護膜および被着体の表面安定化処理方法Info
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- JPH11322926A JPH11322926A JP10241398A JP10241398A JPH11322926A JP H11322926 A JPH11322926 A JP H11322926A JP 10241398 A JP10241398 A JP 10241398A JP 10241398 A JP10241398 A JP 10241398A JP H11322926 A JPH11322926 A JP H11322926A
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Abstract
護膜を与えうるポリイミドシロキサン、コ−ティング
剤、保護膜および表面安定化方法を提供する。 【解決手段】 ビフェニルテトラカルボン酸二無水物と
2,2−ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェニ
ル〕ヘキサフルオロプロパンとジアミノシロキサンとか
ら得られるポリイミドシロキサンに関する。
Description
シロキサン、コ−ティング剤、保護膜および被着体の表
面に該ポリイミドシロキサンによって被覆してなる被着
体の表面安定化処理方法に関する。さらに詳しくは、こ
の発明は有機極性溶媒に可溶で無機基材などの被着体と
の密着性が良好で、さらに耐熱性に優れ、低誘電率でか
つ低吸水率であり半導体素子などの保護膜用などのコ−
ティング剤などに使用される新規なポリイミドシロキサ
ンに関する。
有するため、電気電子産業分野に広く使用されている。
しかし、優れた耐溶剤性を示すために、通常は前駆体で
あるポリアミド酸溶液を塗布し、高温加熱により脱水閉
環させることでポリイミドを得ている。そのため、加工
性の点において、決して優れているとはいえず、塗布に
より被覆する場合でも、高温での処理が必要となり、用
途が限定されている。一方、これらの分野では電子部品
への要求性能がますます厳しくなり、それに用いられる
ポリイミドについてもより高い性能がもとめられてい
る。
ドで被覆する表面処理方法として、例えば、4,4’−
ビス(4−アミノフェノキシ)ジフェニルエ−テルなど
の4個のベンゼン環を有する芳香族ジアミンと3,
3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無
水物やピロメリット酸二無水物などの芳香族テトラカル
ボン酸二無水物とのポリアミド酸の有機溶媒溶液で被覆
し、加熱・乾燥してポリイミド樹脂皮膜を形成する半導
体素子の表面安定化処理方法が特開昭51−76977
号公報に記載されている。また、P−N端部をベンゾフ
ェノンテトラカルボン酸二無水物などの有機テトラカル
ボン酸二無水物とメチレンジアニリンなどのケイ素不含
の有機ジアミンとビス(γ−アミノプロピル)テトラメ
チルジシロキサンなどのポリシロキサンとから得られる
ポリイミドシロキサンで被覆した半導体素子が特公昭5
9−21165号公報に記載されている。しかし、これ
らのポリイミドあるいはポリイミドシロキサンは誘電率
が大きく満足いくものではない。
ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェニル〕ヘキサ
フルオロプロパンや2,2−ビス〔4−(4−アミノフ
ェノキシ)フェニル〕プロパンなどの4個のベンゼン環
を有する芳香族ジアミンと3,3’,4,4’−ベンゾ
フェノンテトラカルボン酸二無水物やピロメリット酸二
無水物などの芳香族テトラカルボン酸二無水物とのポリ
イドからなる有機高分子膜が半導体素子の表面に直接ま
たは絶縁材料を介してコ−トされ、さらに成形材料樹脂
で封止された半導体装置が特公平3−15340号公報
に記載されている。しかし、これらのポリイミドは被着
体との密着性が満足いくものではない。この密着性を改
良するためにシランカップリング剤を添加する試みもな
されているが、コ−ティング剤の安定性を損ない好まし
くない。従って、従来技術では、耐熱性、密着性、低誘
電性および低吸水性を同時に満足するポリイミドを得る
ことはできなかったのである。
熱性を有し、かつ有機極性溶媒に可溶で被着体、例えば
ガラス基板やシリコンウエハ−などの無機基材との密着
性が良好で、さらに低誘電性で且つ低吸水性であり保護
膜などのコ−ティング剤用途に使用可能なポリイミド、
それを用いたコ−ティング剤、保護膜および被着体の表
面安定化処理方法を提供することである。
80−99モル%、好ましくは90−98モル%の式
(1)および20−1モル%、好ましくは10−2モル
%の式(2)
3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無
水物、2,3,3’,4’−ビフェニルテトラカルボン
酸二無水物、またはこれらの混合物の残基であり、Yは
2,2−ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェニ
ル〕ヘキサフルオロプロパンの残基であり、Zはジアミ
ノシロキサンの残基である。〕で示され、対数粘度
(0.5g/dl、N−メチル−2−ピロリドン、30
℃)が0.3−2、好ましくは0.3−1.5で、好適
には誘電率(1Mz)が2.9以下で、プレッシャ−ク
ッカ−テスト(PCT)で50時間以上経過後も100
/100のクロスカットを示し、シリコンチップなどの
被着体と良好な密着性を有するポリイミドシロキサンに
関する。
ポリイミドシロキサンまたはその前駆体を溶解してなる
コ−ティング剤に関する。また、この発明は、被着体上
に前記のポリイミドシロキサンからなる膜を形成してな
る保護膜に関する。さらに、この発明は、被着体の表面
に前記のポリイミドシロキサンまたはその前駆体の有機
極性溶媒溶液であるコ−ティング剤を塗布し、加熱乾燥
してポリイミドシロキサンの被覆層を形成してなる被着
体の表面安定化処理方法に関する。
pn接合面のジャンクションコ−トとしてこの発明のコ
−ティング剤を使用して保護膜を形成した一例である図
1を用いて説明する。この発明の一実施例を示す図1に
おいて、プラスチックパッケ−ジ1は、機能部分である
pn接合2(pn接合は図1のように各1個から形成さ
れてもよく、あるいは多数と半田とによる重層のもので
あってもよい。)を有するシリコンチップ3の端面にこ
の発明のポリイミドシロキサンからなるジャンクション
コ−トである保護膜4が形成され、さらにエポキシ樹脂
5等によってパッケ−ジングがなされており、シリコン
チップの両端は半田からリ−ド6に接続されている。こ
の発明の保護膜4は、前記の構成を有しているためシリ
コンチップなどの被着体と強く接着しており、長期にわ
たり良好な機能を発揮することができる。
を製造後、pn接合の部分の保護のためシリコンチップ
端面にこの発明のコ−ティング剤を、例えば、ロ−ルコ
−トやディップコ−ト等で塗布、熱処理して厚み約20
μm程度のポリイミドシロキサン保護膜を形成する。そ
の後エポキシ樹脂等にてパッケ−ジングを行う。コ−テ
ィング剤は、シリコンチップ端面と一部の金属部分(例
えば、半田)とを被覆することが好ましい。
を得るために酸成分として3,3’,4,4’−ビフェ
ニルテトラカルボン酸二無水物、2,3,3’,4’−
ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、またはこれらの
混合物あるいはこれらの酸、あるいは酸エステルを使用
する。この発明のポリイミドシロキサンの有機溶媒への
可溶性、耐熱性、低誘電性、低吸水性および被着体との
密着性を損なわない範囲で他のテトラカルボン酸二無水
物を混合して用いることができる。使用されるテトラカ
ルボン酸二無水物としては、ピロメリット酸二無水物、
3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸
二無水物、3,3’,4,4’−ジフェニルエ−テルテ
トラカルボン酸二無水物、1, 2, 4, 5 -シクロヘキサン
テトラカルボン酸二無水物、1, 2, 3,4 -シクロヘキサ
ンテトラカルボン酸二無水物、1, 1 -ビス ( 2, 3 - ジ
カルボキシフェニル )エタン二無水物、ビス ( 2, 3 -
ジカルボキシフェニル )メタン二無水物、ビス ( 3, 4
- ジカルボキシフェニル )メタン二無水物、2, 2 -ビス
(3, 4 -ジカルボキシフェニル)プロパン二無水物、2,
2 -ビス(2, 3 -ジカルボキシフェニル)プロパン二無
水物、2, 2 -ビス(3, 4 -ジカルボキシフェニル)- 1,
1, 1, 3, 3, 3 -ヘキサフルオロプロパン二無水物、2,
2 -ビス(2, 3 -ジカルボキシフェニル)- 1, 1, 1,
3, 3, 3 -ヘキサフルオロプロパン二無水物、ビス(3,
4 -ジカルボキシフェニル)スルホン二無水物、ビス
(2, 3 -ジカルボキシフェニル)エーテル二無水物、2,
2', 3, 3' -ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水
物、4, 4 - ( p -フェニレンジオキシ )ジフタル酸二無
水物、4, 4- ( m -フェニレンジオキシ )ジフタル酸二
無水物、1, 2, 5, 6 -ナフタレンジカルボン酸二無水
物、1, 4, 5, 8 -ナフタレンジカルボン酸二無水物、2,
3, 6,7 -ナフタレンジカルボン酸二無水物、1, 2, 3,
4 -ベンゼンテトラカルボン酸二無水物、2, 2', 6, 6'
-ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、3, 4, 9, 10-
ペリレンテトラカルボン酸二無水物、2, 3, 6, 7 -アン
トラセンテトラカルボン酸二無水物、1, 2, 7, 8 -フェ
ナントレンテトラカルボン酸二無水物などが挙げられ
る。これらのテトラカルボン酸二無水物は単独あるいは
二種以上混合して用いることができる。これら他のテト
ラカルボン酸二無水物の使用割合は、全テトラカルボン
酸成分中20モル%以内であることが好ましい。
ンを得るためにジアミン成分として1−20モル%のジ
アミノシロキサンを使用する。前記のジアミノシロキサ
ンとしては、好適には式
フェニレンなどの2価の炭化水素基、R’は炭素数1−
4のアルキル、アルコキシあるいはフェニルなどの1価
の炭化水素基であり、lは0より大きく50以下、好ま
しくは2−5、その中でも特に2の値を有する整数であ
る。)で示されるジアミノシロキサン、例えばビス(3
−アミノプロピル)テトラメチルジシロキサン、ビス
(4−アミノブチル)テトラメチルジシロキサン、ビス
(3−アミノプロピル)ヘキサメチルジシロキサン、ビ
ス(4−アミノブチル)テトラメチルジシロキサン、ビ
ス(3−アミノプロピル)テトラフェニルジシロキサ
ン、ビス(4−アミノフェニル)テトラメチルジシロキ
サン、ビス(5−アミノペンチル)テトラフェニルジメ
トキシジシロキサンを使用することができる。
ロキサンを得るためにジアミン成分中80−99モル
%、好ましくは90−98モル%の2,2−ビス〔4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル〕ヘキサフルオロプ
ロパンを使用する。この発明のポリイミドシロキサンの
有機溶媒の可溶性、耐熱性、低誘電性、低吸水性および
基材との密着性を損なわない範囲で、他のジアミンを混
合して用いることができる。使用される他のジアミンと
しては、例えば、2,2−ビス〔4−(3−アミノフェ
ノキシ)フェニル〕ヘキサフルオロプロパン、2,2−
ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェニル〕プロパ
ン、2,2−ビス〔4−(3−アミノフェノキシ)フェ
ニル〕プロパン、2,2−ビス〔3−(3−アミノフェ
ノキシ)フェニル〕プロパン、1,3−ビス(4−アミ
ノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフ
ェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(3−アミノフェノ
キシ)ベンゼン、1,4−ビス(3−アミノフェノキ
シ)ベンゼン、4,4−ビス(4−アミノフェノキシ)
ジフェニルエ−テル、4,4−ビス(3−アミノフェノ
キシ)ジフェニルエ−テル、ジアミノシクロヘキサン、
ビス(アミノメチル)シクロヘキサン、ビシクロヘキシ
ルジアミン、2,2−ビス(3−アミノシクロヘキシ
ル)プロパン、2,2−ビス(4−アミノシクロヘキシ
ル)プロパン、ビス(3−メチル−4−アミノシクロヘ
キシル)メタン、キシリレンジアミン、ジクロロベンジ
ジン、ジメチルベンジジン、ジメトキシベンジジン、ジ
アミノジフェニルエ−テル、ジアミノジフェニルスルフ
ィド、ジアミノジフェニルスルホキシド、ジアミノジフ
ェニルスルホン、ジアミノベンゾフェノン、ジアミノジ
フェニルメタン、2,2−ビス(3−アミノフェニル)
プロパン、2,2−ビス(4−アミノフェニル)プロパ
ン、2,2−ビス〔4−(3−アミノフェノキシ)フェ
ニル〕−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロ
パン、2,2−ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フ
ェニル〕−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプ
ロパン、4,4’−ビス(3−アミノフェノキシ)ビフ
ェニル、4,4’−ビス(4−アミノフェノキシ)ビフ
ェニル、ビス〔4−(3−アミノフェノキシ)フェニ
ル〕ケトン、ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェ
ニル〕ケトン、ビス〔4−(3−アミノフェノキシ)フ
ェニル〕スルフィド、ビス〔4−(4−アミノフェノキ
シ)フェニル〕スルフィド、ビス〔4−(3−アミノフ
ェノキシ)フェニル〕スルホン、ビス〔4−(4−アミ
ノフェノキシ)フェニル〕スルホン、ビス〔4−(3−
アミノフェノキシ)フェニル〕エ−テル、ビス〔4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル〕エ−テルなどが挙
げられる。これらのジアミンは、単独あるいは二種以上
混合して用いることができる。また、これらのジアミン
の使用量は全ジアミンの50モル%以下、特に20モル
%以下であることが好ましい。
ば上記テトラカルボン酸二無水物成分とジアミン成分の
使用量が、テトラカルボン酸二無水物成分に対してジア
ミン成分を、モル比で0.9〜1.1の範囲内で使用し
て製造することが好ましい。この範囲外でポリイミドシ
ロキサンを製造した場合には、得られたポリイミドシロ
キサンの機械的強度が著しく低下する。特に0.95〜
1.05の範囲内でポリイミドシロキサンを製造するこ
とが望ましい。このとき、得られるポリイミドシロキサ
ンの対数粘度(0.5g/dl、N−メチル−2−ピロ
リドン、30℃)が0.3−2、好ましくは0.3〜
1.5の範囲内である。0.3未満であると、得られる
ポリイミドシロキサンの機械的特性が著しく低下する。
また、2より大きいと有機極性溶媒への溶解が困難であ
る。
ミンを用いてポリイミドシロキサンを製造する手段に特
に制限はない。例えば、(a1)テトラカルボン酸二無水
物とジアミン2成分とを有機溶媒中で重合、加熱脱水、
イミド化する方法、(a2)テトラカルボン酸二無水物と
ジアミンを縮合触媒存在下の有機溶媒中で触媒閉環、イ
ミド化する方法などの公知の手法を用いることができ
る。またポリイミドシロキサンの前駆体は、前記の酸成
分とジアミン2成分を有機溶媒中で重合して得られる。
は、N, N -ジメチルホルムアミド、 N, N - ジメチルア
セトアミド、 N, N - ジメチルメトキシアセトアミド、
N - メチル - 2 -ピロリドン、1, 3 -ジメチル - 2 -イ
ミダゾリジノン、カプロラクタム、N - メチルカプロラ
クタム、ジメチルスルホキシド、ジメチルスルホン、ス
ルホラン、テトラメチル尿素、ヘキサメチルホスホルア
ミド、フェノール、クレゾール、キシレノール、クロロ
フェノール、エチレングリコール、ジエチレングリコー
ル、トリエチレングリコール、グライム、ジグライム、
トリグライムなどが挙げられる。これらの溶媒は単独あ
るいは二種以上混合して用いることができる。またトル
エン、キシレン、テトラリンなどの芳香族炭化水素と混
合して使用することもできる。溶媒の使用量に特に制限
はないが、生成するポリイミドシロキサンの含量が5〜
30重量%とするのが望ましい。またポリイミドシロキ
サン前駆体の場合は、溶媒の使用量は生成するポリイミ
ドシロキサン前駆体の含量が5〜50重量%程度となる
量が望ましい。
℃程度の温度で行う。触媒閉環によるイミド化は室温〜
200℃で行い、ピリジン、ピコリン類、イミダゾール
類、キノリン類、イソキノリン類、トリエチルアミンな
どを添加して反応させる。イミド化は通常常圧で行う
が、加圧下もしくは減圧下で行うこともできる。反応時
間は1〜200時間である。このようにして得られたポ
リイミドシロキサン溶液をそのまま使用してもよく、あ
るいは貧溶媒中に投じてポリイミドシロキサンを析出さ
せる。このとき用いられる貧溶媒としては、メタノー
ル、エタノール、アセトンなどの溶媒が挙げられる。こ
れら貧溶媒の使用量に特に制限はないが、イミド化に使
用した溶媒量の5〜100倍程度が好ましい。さらに好
ましくは、20〜50倍程度である。イミド化に使用し
た溶媒量の5倍未満の貧溶媒のもとでポリイミドを析出
させると、析出したポリイミド粉末から溶媒が完全には
除去されない。溶媒の除去のためには,さらに多量の貧
溶媒を使用してもさしつかえない。析出したポリイミド
シロキサン粉末は、ロ過、洗浄、乾燥を行う。
極性溶媒あるいは有機極性溶媒と前記の芳香族炭化水素
溶媒などとの混合溶媒に前記のポリイミドシロキサンま
たはその前駆体を溶解して得られる。
有機極性溶媒溶液であるコ−ティング剤溶液から、この
発明のポリイミド保護膜を形成する方法に特に制限はな
い。すなわち、被着体、例えば、ガラス基板、炭素基材
やシリコンウエハ−などの無機基材の表面にコ−ティン
グ剤をスピンコ−トなどによって、厚み1−500μm
に塗布し、50−300℃、好ましくは50−270℃
程度の温度で10−300分間程度加熱・乾燥すること
によって得ることができる。
方法は、被着体の表面に前記のポリイミドシロキサンま
たはその前駆体の有機極性溶媒溶液であるコ−ティング
剤を塗布し、加熱乾燥して好適には厚みが0.1−10
0μm程度のポリイミドシロキサンの被覆層を形成する
ことによって行うことができる。
ロキサン、コ−ティング剤、保護膜の製造および被着体
の表面安定化処理方法について詳細説明する。実施例中
の、対数粘度(ηinh)、ガラス転移温度(Tg)、
3%重量減少温度(Td3%)および機械的物性について
の評価は、次のように行った。得られたポリイミドの対
数粘度(ηinh)は30℃の0.5g/dlのN−メ
チル−2−ピロリドン液において、下記式により求め
た。 ηinh=〔ln(T1 /T0 )〕/C T1 : 溶液の落下時間 (sec) T0:溶媒の落下時間 (sec) C: 溶液のポリマー濃度 (g/dL) 得られたポリイミドシロキサンのガラス転移温度(T
g)は、セイコ−インスツルメンツ株式会社製SSC5
200 RDSC220Cより、窒素中10℃/分の昇
温速度で測定した。得られたポリイミドフィルムの3%
熱分解温度(Td3%)は、セイコ−インスツルメンツ株
式会社製SSC5200 TG/DTA 320によ
り、10℃/分の昇温速度で測定した。また、線膨張係
数(CTE)は、TMAにより50−200℃の範囲に
おいて測定した。
機、窒素導入管、還流管を取り付け、N−メチル−2−
ピロリドン(NMP)85g、トルエン10g、2,2
−ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェニル〕ヘキ
サフルオロプロパン(HF−BAPP)9.851g
(0.019モル)、ビス(3−アミノプロピル)テト
ラメチルジシロキサン(DASi)0.248g(0.
001モル)、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラ
カルボン酸二無水物(s−BPDA)5.884g
(0.02モル)、2−メチルイミダゾ−ル(2MZ)
0.80gを室温にて加え均一溶液とした。窒素流通下
180℃に昇温し生成水をトルエンとともに流去しなが
ら3時間反応を継続した。淡黄色粘稠液体が得られた。
冷却後メタノ−ルを再沈殿溶媒としてポリイミドシロキ
サン粉末化した。得られたポリマ−は14.5g(95
%収率)、対数粘度(0.5g/dl、NMP、30
℃)が0.65であった。この粉末2gをNMP/テト
ラリン(8.3g/19.2g)の混合溶媒に溶解しポ
リイミドシロキサンワニスとした。室温、50%の湿度
の条件にてガラス板上に塗布したワニスに吸湿による白
化は認められなかった。このワニスは良好な貯蔵安定性
を有していた。また、このワニスをシリコンウエハ−お
よび熱酸化シリコンウエハ−上にスピンコ−トし、80
℃で30分、180℃で30分、260℃で1時間熱処
理し、膜厚3μmの塗布膜(加熱・乾燥物)を形成し
た。このサンプルの耐水密着性評価のためプレッシャ−
クッカ−テスト(PCT、121℃、2気圧)を行っ
た。評価はクロスカット剥離法である。結果を次に示
す。 PCT結果 65時間後 130時間後 シリコンウエハ− 100/100 100/100 熱酸化Siウエハ− 100/100 99/100 一方、別途にクロスカットを施した各ウエハ−上の塗布
膜を水中(室温)に浸漬したところ剥離は全く認められ
なかった。このポリイミドシロキサンは、熱分解温度
(△3%)が495℃、Tgが260℃、CTEが50
ppm/℃、弾性率が280kg/mm2 、伸びが45
%、引張強度が11kg/mm2 、体積抵抗が3×10
17Ωcm、表面抵抗が7×1015Ω、誘電率が2.85
(100KHz−1MHz)、誘電正接が0.0015
(100Hz−100KHz)、絶縁耐圧が270KV
/mm、吸水率が0.4%(23℃、水中)であった。
69g(0.02モル)のみに変えた他は実施例1と同
様にしてポリイミド15.0g(収率96.5%)を得
た。このポリイミドは対数粘度が0.95で、このポリ
イミド2gを用いて同じ混合溶媒でワニスを調製し、実
施例1と同様にポリイミド塗布膜(厚み3.5μm)を
形成した。これについてのPCT結果は、シリコンウエ
ハ−、熱酸化Siウエハ−トモ60時間後にはクロスカ
ットテスト残存率が0/100であった。また、クロス
カットを施した各ウエハ−上の塗布膜を水中(室温)に
浸漬したところ5分ですべて剥離した。このポリイミド
は、熱分解温度(△3%)が495℃、Tgが263
℃、CTEが50ppm/℃、弾性率が285kg/m
m2 、伸びが45%、引張強度が11k.5kg/mm
2 、体積抵抗が3×1017Ωcm、表面抵抗が7×10
15Ω、誘電率が2.85(100KHz−1MHz)、
誘電正接が0.0015(100Hz−100KH
z)、絶縁耐圧が270KV/mm、吸水率が0.4%
(23℃、水中)であった。
ェニルテトラカルボン酸二無水物(a−BPDA)5.
884g(0.02モル)に変更し、180℃での反応
時間を5時間に変えた以外は実施例1と同様にして、ポ
リイミドシロキサン14.5g(収率95%)を得た。
このポリイミドシロキサンは対数粘度が0.60で、こ
のポリイミドシロキサンを用いて同じ混合溶媒でワニス
を調製し、実施例1と同様にポリイミドシロキサン塗布
膜(厚み2.7μm)を形成した。このワニスは良好な
貯蔵安定性を有していた。また、得られた膜についての
PCT結果を次に示す。 PCT結果 65時間後 130時間後 シリコンウエハ− 100/100 99/100 熱酸化Siウエハ− 100/100 95/100 一方、別途にクロスカットを施した各ウエハ−上の塗布
膜を水中(室温)に浸漬したところ剥離は全く認められ
なかった。このポリイミドシロキサンは、熱分解温度
(△3%)が490℃、Tgが280℃、CTEが59
ppm/℃、弾性率が240kg/mm2 、伸びが15
%、引張強度が10.5kg/mm2 、体積抵抗が3×
1017Ωcm、表面抵抗が7×1015Ω、誘電率が2.
85(100KHz−1MHz)、誘電正接が0.00
15(100Hz−100KHz)、絶縁耐圧が270
KV/mm、吸水率が0.4%(23℃、水中)であっ
た。
PP19.70g(0.038モル)、DASi0.4
97g(0.002モル)を仕込み均一溶液とした後、
s−BPDA11.18g(0.038モル)を徐々に
添加し、ポリアミック酸溶液を作成した。添加終了後2
時間反応を継続した後、この溶液に3,3’,4,4’
−ビフェニルテトラカルボン酸二水和物(s−BPT
A)0.497g(0.002モル)を添加し完全に溶
解した。得られたポリアミック酸溶液は淡黄色液体であ
り25℃における粘度が25ポイズであった。この溶液
(ワニス)は良好な貯蔵安定性を有していた。この溶液
をシリコンウエハ−、熱酸化シリコンウエハ−上にアプ
リケ−タを用いて塗布し、80℃で30分、180℃で
30分、260℃で1時間熱処理し、膜厚20μmのポ
リイミドシロキサン塗布膜を形成した。このサンプルの
物性、密着性、一般物性は実施例1と同じであった。
で無機基材などの被着体との密着性が良好で、さらに耐
熱性に優れ、低誘電率でかつ低吸水率であり半導体素子
などの保護膜用などのコ−ティング剤などに使用される
新規なポリイミドシロキサンを得ることができる。
好で、良好な物性を有する保護膜を与えるコ−ティング
剤を得ることができる。
性、電気絶縁性、耐熱性、機械的特性、耐水・湿性が良
好な保護膜を得ることができる。
で、しかも高温の加熱・乾燥を要することなく、被着体
を高いレベルで表面安定化することができる処理方法を
与えることができる。
サンからなるジャンクションコ−トである保護膜を形成
した一実施例を示す概略図である。
トである保護膜 5 エポキシ樹脂 6 リ−ド
Claims (5)
- 【請求項1】80−99モル%の式(1)および20−
1モル%の式(2) 【化1】 〔式中、mおよびnは重合度であり、Xは3,3’,
4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,
3,3’,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水
物、またはこれらの混合物の残基であり、Yは2,2−
ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェニル〕ヘキサ
フルオロプロパン残基であり、Zはジアミノシロキサン
の残基である。〕で示され、対数粘度(0.5g/d
l、N−メチル−2−ピロリドン、30℃)が0.3−
2であるポリイミドシロキサン。 - 【請求項2】有機極性溶媒に請求項1に記載のポリイミ
ドシロキサンまたはその前駆体を溶解してなるコ−ティ
ング剤。 - 【請求項3】被着体上に請求項1に記載のポリイミドシ
ロキサンからなる膜を形成してなる保護膜。 - 【請求項4】ポリイミドシロキサンは、誘電率(1M
z)が2.9以下で、プレッシャ−クッカ−テスト(P
CT)で50時間以上経過後100/100のクロスカ
ット残存率を示し、吸水率(23℃、24時間浸漬)が
0.7%以下である請求項3記載の保護膜。 - 【請求項5】被着体の表面に請求項1に記載のポリイミ
ドシロキサンまたはその前駆体の有機極性溶媒溶液であ
るコ−ティング剤を塗布し、加熱乾燥してポリイミドシ
ロキサンの被覆層を形成してなる被着体の表面安定化処
理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10241398A JPH11322926A (ja) | 1998-03-20 | 1998-04-14 | 新規なポリイミドシロキサン、コ−ティング剤、保護膜および被着体の表面安定化処理方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7250698 | 1998-03-20 | ||
| JP10-72506 | 1998-03-20 | ||
| JP10241398A JPH11322926A (ja) | 1998-03-20 | 1998-04-14 | 新規なポリイミドシロキサン、コ−ティング剤、保護膜および被着体の表面安定化処理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11322926A true JPH11322926A (ja) | 1999-11-26 |
Family
ID=26413638
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10241398A Pending JPH11322926A (ja) | 1998-03-20 | 1998-04-14 | 新規なポリイミドシロキサン、コ−ティング剤、保護膜および被着体の表面安定化処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11322926A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006199782A (ja) * | 2005-01-19 | 2006-08-03 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ポリイミドシリコーン系樹脂組成物 |
| JP2021097078A (ja) * | 2019-12-13 | 2021-06-24 | 太陽誘電株式会社 | セラミック電子部品およびその製造方法 |
| KR20240001909A (ko) * | 2022-06-28 | 2024-01-04 | 쏠레케미칼 주식회사 | 불소와 세라믹을 포함하는 코팅제 제조방법 |
| CN120647941A (zh) * | 2025-07-11 | 2025-09-16 | 中科苏信(靖江)新材料有限公司 | 一种低介电聚酰亚胺薄膜材料及其制备方法和应用 |
-
1998
- 1998-04-14 JP JP10241398A patent/JPH11322926A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006199782A (ja) * | 2005-01-19 | 2006-08-03 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ポリイミドシリコーン系樹脂組成物 |
| JP2021097078A (ja) * | 2019-12-13 | 2021-06-24 | 太陽誘電株式会社 | セラミック電子部品およびその製造方法 |
| KR20240001909A (ko) * | 2022-06-28 | 2024-01-04 | 쏠레케미칼 주식회사 | 불소와 세라믹을 포함하는 코팅제 제조방법 |
| CN120647941A (zh) * | 2025-07-11 | 2025-09-16 | 中科苏信(靖江)新材料有限公司 | 一种低介电聚酰亚胺薄膜材料及其制备方法和应用 |
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