JPH11326526A - 放射線測定装置 - Google Patents
放射線測定装置Info
- Publication number
- JPH11326526A JPH11326526A JP12580698A JP12580698A JPH11326526A JP H11326526 A JPH11326526 A JP H11326526A JP 12580698 A JP12580698 A JP 12580698A JP 12580698 A JP12580698 A JP 12580698A JP H11326526 A JPH11326526 A JP H11326526A
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- detectors
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 液体シンチレータが混入された放射性試料か
らの放射線を測定する装置において、測定室内で生じる
内部ノイズを除去する。 【解決手段】 検出部１０には、試料検出器２６，２８
と、宇宙線検出器２０，２２，２４と、内部バックグラ
ウンド検出器３０，３２と、が設けられている。試料検
出器で検出された検出パルスの内、宇宙線及び内部バッ
クグラウンドに相当する検出パルスが除去され、これに
よって高精度の放射線検出を行える。試料検出器と内部
バックグラウンド検出器との間には遮光膜３４が設けら
れている。
らの放射線を測定する装置において、測定室内で生じる
内部ノイズを除去する。 【解決手段】 検出部１０には、試料検出器２６，２８
と、宇宙線検出器２０，２２，２４と、内部バックグラ
ウンド検出器３０，３２と、が設けられている。試料検
出器で検出された検出パルスの内、宇宙線及び内部バッ
クグラウンドに相当する検出パルスが除去され、これに
よって高精度の放射線検出を行える。試料検出器と内部
バックグラウンド検出器との間には遮光膜３４が設けら
れている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は放射線測定装置に関
し、特に放射性試料に液体シンチレータを混入させてそ
の発光を光電子増倍管にて検出する装置に関する。
し、特に放射性試料に液体シンチレータを混入させてそ
の発光を光電子増倍管にて検出する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】放射線測定装置として放射性試料の測定
装置が知られている。かかる装置においては、バイアル
内に放射性試料とともに液体シンチレータが混入され、
その液体シンチレータが放射線を受けて発光した光が光
電子増倍管で検出される。できる限りバックグランドを
除去して高精度の測定を実現するために同時計数回路や
宇宙線除去用の検出器などが利用されている。
装置が知られている。かかる装置においては、バイアル
内に放射性試料とともに液体シンチレータが混入され、
その液体シンチレータが放射線を受けて発光した光が光
電子増倍管で検出される。できる限りバックグランドを
除去して高精度の測定を実現するために同時計数回路や
宇宙線除去用の検出器などが利用されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、バック
グランドは宇宙線以外においても生じる。例えば対向し
た２つの光電子増倍管のガラス面に放射性試料からの放
射線が直接当たったり、あるいは宇宙線が当たったりす
ると、そこで発光が生じるが、それは光電子増倍管で検
出されてしまう。また、光電子増倍管のガラスや電極に
は例えば微量の40Ｋなどが含有されているが、そこから
出る放射線が同様にバックグランドとして検出されてし
まう可能性がある。更に測定室を浮遊している放射性物
質からの放射線が検出されてしまう可能性もある。その
ようなバックグランドの中で宇宙線はそれ専用のバック
グランド検出器で検出されるために除外可能であるが、
測定室内部に起因するバックグランドは除外しきれな
い。特に一対の光電子増倍管で同時計数を行う場合、バ
ックグランドを低減可能であるが、両方の光電子増倍管
に同時に進入するものは信号として検出されてしまう。
これをクロストークという場合がある。
グランドは宇宙線以外においても生じる。例えば対向し
た２つの光電子増倍管のガラス面に放射性試料からの放
射線が直接当たったり、あるいは宇宙線が当たったりす
ると、そこで発光が生じるが、それは光電子増倍管で検
出されてしまう。また、光電子増倍管のガラスや電極に
は例えば微量の40Ｋなどが含有されているが、そこから
出る放射線が同様にバックグランドとして検出されてし
まう可能性がある。更に測定室を浮遊している放射性物
質からの放射線が検出されてしまう可能性もある。その
ようなバックグランドの中で宇宙線はそれ専用のバック
グランド検出器で検出されるために除外可能であるが、
測定室内部に起因するバックグランドは除外しきれな
い。特に一対の光電子増倍管で同時計数を行う場合、バ
ックグランドを低減可能であるが、両方の光電子増倍管
に同時に進入するものは信号として検出されてしまう。
これをクロストークという場合がある。
【０００４】本発明は、上記従来の課題に鑑みなされた
ものであり、その目的は、測定室内で生じるノイズ、特
にクロストークをリアルタイムで効果的に排除すること
にある。
ものであり、その目的は、測定室内で生じるノイズ、特
にクロストークをリアルタイムで効果的に排除すること
にある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、放射性試料を収容する測定室内において
前記放射性試料の近傍に設けられ、放射性試料からの放
射線を検出するための試料検出器と、前記測定室を囲ん
で設けられ、宇宙線を検出するための第１のバックグラ
ンド検出器と、前記測定室内に設けられ、前記測定室内
で生じる内部ノイズを検出するための第２のバックグラ
ンド検出器と、少なくとも前記放射性試料と前記第２の
バックグランド検出器との間で遮光を行う遮光体と、前
記第１及び第２のバックグランド検出器の検出結果に基
づいて、前記試料検出器での検出結果からバックグラン
ドを除外する信号処理回路と、を含むことを特徴とす
る。
に、本発明は、放射性試料を収容する測定室内において
前記放射性試料の近傍に設けられ、放射性試料からの放
射線を検出するための試料検出器と、前記測定室を囲ん
で設けられ、宇宙線を検出するための第１のバックグラ
ンド検出器と、前記測定室内に設けられ、前記測定室内
で生じる内部ノイズを検出するための第２のバックグラ
ンド検出器と、少なくとも前記放射性試料と前記第２の
バックグランド検出器との間で遮光を行う遮光体と、前
記第１及び第２のバックグランド検出器の検出結果に基
づいて、前記試料検出器での検出結果からバックグラン
ドを除外する信号処理回路と、を含むことを特徴とす
る。
【０００６】また、本発明は、放射性試料を収容する測
定室内において前記放射性試料の近傍に設けられ、放射
性試料からの放射線を検出するための複数の試料検出器
と、前記複数の試料検出器からの検出パルスが同時に入
力された場合に第１の同時計数パルスを出力する第１の
同時計数回路と、前記測定室を囲んで設けられ、宇宙線
を検出するための第１のバックグランド検出器と、前記
測定室内に設けられ、前記測定室内で生じる内部ノイズ
を検出するための複数の第２のバックグランド検出器
と、前記複数の第２のバックグランド検出器からの検出
パルスが同時に入力された場合に第２の同時計数パルス
を出力する第２の同時計数回路と、少なくとも前記放射
性試料と前記複数の第２のバックグランド検出器との間
で遮光を行う遮光体と、前記第１の同時計数パルスの中
から、前記第２の同時計数パルス又は前記第１のバック
グランド検出器の検出パルスと同時に入力されたものを
除外して、バックグランドが除去されたパルスを出力す
る逆同時計数回路と、を含むことを特徴とする。
定室内において前記放射性試料の近傍に設けられ、放射
性試料からの放射線を検出するための複数の試料検出器
と、前記複数の試料検出器からの検出パルスが同時に入
力された場合に第１の同時計数パルスを出力する第１の
同時計数回路と、前記測定室を囲んで設けられ、宇宙線
を検出するための第１のバックグランド検出器と、前記
測定室内に設けられ、前記測定室内で生じる内部ノイズ
を検出するための複数の第２のバックグランド検出器
と、前記複数の第２のバックグランド検出器からの検出
パルスが同時に入力された場合に第２の同時計数パルス
を出力する第２の同時計数回路と、少なくとも前記放射
性試料と前記複数の第２のバックグランド検出器との間
で遮光を行う遮光体と、前記第１の同時計数パルスの中
から、前記第２の同時計数パルス又は前記第１のバック
グランド検出器の検出パルスと同時に入力されたものを
除外して、バックグランドが除去されたパルスを出力す
る逆同時計数回路と、を含むことを特徴とする。
【０００７】上記構成によれば、第１のバックグランド
検出器によって宇宙線が検出され、第２のバックグラン
ド検出器によって測定室内の内部ノイズが検出される。
そして、試料検出器からの信号の中で両バックグランド
成分が除去される。従って、特にクロストークなどの内
部ノイズを低減して高精度の放射線検出を行えるという
利点がある。
検出器によって宇宙線が検出され、第２のバックグラン
ド検出器によって測定室内の内部ノイズが検出される。
そして、試料検出器からの信号の中で両バックグランド
成分が除去される。従って、特にクロストークなどの内
部ノイズを低減して高精度の放射線検出を行えるという
利点がある。
【０００８】望ましくは、前記複数の第２のバックグラ
ンド検出器は、前記複数の試料検出器の配列と実質的に
同じ配列で設けられる。この構成によれば、試料検出器
と実質的に同一条件で内部ノイズの測定を行って、試料
検出器で検出されてしまう内部ノイズ成分を特定可能で
ある。
ンド検出器は、前記複数の試料検出器の配列と実質的に
同じ配列で設けられる。この構成によれば、試料検出器
と実質的に同一条件で内部ノイズの測定を行って、試料
検出器で検出されてしまう内部ノイズ成分を特定可能で
ある。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施形態を
図面に基づいて説明する。
図面に基づいて説明する。
【００１０】図１には、本発明に係る放射線測定装置の
好適な実施形態が示されており、図１はその全体構成を
示す説明図である。
好適な実施形態が示されており、図１はその全体構成を
示す説明図である。
【００１１】本実施形態の放射線測定装置は、大別し
て、検出部１０と信号処理部１２とで構成される。ま
ず、検出部１０について説明する。
て、検出部１０と信号処理部１２とで構成される。ま
ず、検出部１０について説明する。
【００１２】検出部１０は試料検出器、宇宙線検出器及
び内部バックグランド検出器を有する。測定室１４内に
は放射性試料１８を収容したバイアル１６が配置され
る。ここで、そのバイアル１６内には放射性試料１８と
共に液体シンチレータが混入されている。放射性試料に
て発生した放射線により液体シンチレータが発光を生ず
る。その発光は試料検出器を構成する光電子増倍管２
６，２８にて検出される。本実施形態においては試料検
出器が２つの光電子増倍管２６，２８で構成されている
が、もちろん３つ以上の光電子増倍管によって構成され
ていてもよい。それらの光電子増倍管２６，２８は、バ
イアル１６の近傍かつ両側に設けられている。
び内部バックグランド検出器を有する。測定室１４内に
は放射性試料１８を収容したバイアル１６が配置され
る。ここで、そのバイアル１６内には放射性試料１８と
共に液体シンチレータが混入されている。放射性試料に
て発生した放射線により液体シンチレータが発光を生ず
る。その発光は試料検出器を構成する光電子増倍管２
６，２８にて検出される。本実施形態においては試料検
出器が２つの光電子増倍管２６，２８で構成されている
が、もちろん３つ以上の光電子増倍管によって構成され
ていてもよい。それらの光電子増倍管２６，２８は、バ
イアル１６の近傍かつ両側に設けられている。
【００１３】測定室１４は、宇宙線検出器によって取り
囲まれている。宇宙線検出器は、具体的には箱型あるい
は半球状の形状を有する固体シンチレータ２０と、その
固体シンチレータ２０にて生じる発光を検出する光電子
増倍管２２，２４と、で構成されるものである。もちろ
ん、３つ以上の光電子増倍管によって固体シンチレータ
２０にて生ずる発光を検出してもよい。宇宙線１００が
固体シンチレータ２０に到達すると、そこで発光が生
じ、それがいずれかの光電子増倍管２２，２４にて検出
されることになる。
囲まれている。宇宙線検出器は、具体的には箱型あるい
は半球状の形状を有する固体シンチレータ２０と、その
固体シンチレータ２０にて生じる発光を検出する光電子
増倍管２２，２４と、で構成されるものである。もちろ
ん、３つ以上の光電子増倍管によって固体シンチレータ
２０にて生ずる発光を検出してもよい。宇宙線１００が
固体シンチレータ２０に到達すると、そこで発光が生
じ、それがいずれかの光電子増倍管２２，２４にて検出
されることになる。
【００１４】従来装置においても、上述のような構成は
採用されていたが、本実施形態においては、特に内部バ
ックグラウンド検出器が設けられている。内部バックグ
ラウンド検出器は、本実施形態において一対の光電子増
倍管３０，３２で構成されている。もちろん、３つ以上
の光電子増倍管によって構成されていてもよい。本実施
形態では、試料検出器における光電子増倍管の配置パタ
ーンと同じ配置パターンで内部バックグラウンド検出器
における光電子増倍管が配置されている。したがって、
試料検出器における光電子増倍管の配列と内部バックグ
ラウンド検出器における光電子増倍管の配列は並行であ
って、それぞれの検出器において同一条件で放射線の検
出を行える。ただし、試料検出器と内部バックグランド
検出器との間には遮光膜３４が設けられており、その遮
光膜３４によってそれぞれの検出器にて生ずる光が相手
側の検出器へ到達することが阻止されている。
採用されていたが、本実施形態においては、特に内部バ
ックグラウンド検出器が設けられている。内部バックグ
ラウンド検出器は、本実施形態において一対の光電子増
倍管３０，３２で構成されている。もちろん、３つ以上
の光電子増倍管によって構成されていてもよい。本実施
形態では、試料検出器における光電子増倍管の配置パタ
ーンと同じ配置パターンで内部バックグラウンド検出器
における光電子増倍管が配置されている。したがって、
試料検出器における光電子増倍管の配列と内部バックグ
ラウンド検出器における光電子増倍管の配列は並行であ
って、それぞれの検出器において同一条件で放射線の検
出を行える。ただし、試料検出器と内部バックグランド
検出器との間には遮光膜３４が設けられており、その遮
光膜３４によってそれぞれの検出器にて生ずる光が相手
側の検出器へ到達することが阻止されている。
【００１５】したがって、内部バックグラウンド検出器
が設けられているため、例えば光電子増倍管が有する硝
子にて発光が生ずると、試料検出器においてもそのよう
な内部ノイズが検出されるが、それと同一の条件で、内
部バックグラウンド検出器においてもそのような内部ノ
イズが検出されるため、後述のようにそのような内部バ
ックグラウンドを効果的に除去することが可能となる。
が設けられているため、例えば光電子増倍管が有する硝
子にて発光が生ずると、試料検出器においてもそのよう
な内部ノイズが検出されるが、それと同一の条件で、内
部バックグラウンド検出器においてもそのような内部ノ
イズが検出されるため、後述のようにそのような内部バ
ックグラウンドを効果的に除去することが可能となる。
【００１６】図１に示す構成例では、遮光膜３４が試料
検出器と内部バックグラウンド検出器との間においての
み設けられていたが、いずれかの検出器を個別的に取り
囲むように遮光膜を設けてもよい。
検出器と内部バックグラウンド検出器との間においての
み設けられていたが、いずれかの検出器を個別的に取り
囲むように遮光膜を設けてもよい。
【００１７】なお、宇宙線用検出器は本実施形態におい
て箱型あるいは半球状の形状を有しているが、もちろん
測定室の全体を包むように宇宙線検出器を構成すること
もできる。
て箱型あるいは半球状の形状を有しているが、もちろん
測定室の全体を包むように宇宙線検出器を構成すること
もできる。
【００１８】同時計数回路３６では、試料検出器を構成
する２つの光電子増倍管２６，２８からのそれぞれの出
力パルスが入力され、それらの出力パルスが同時に入力
された場合に同時パルスが出力されている。その一方同
時計数回路３８においても、内部バックグラウンド検出
器を構成する２つの光電子増倍管３０，３２からの出力
パルスが入力されており、それらの出力パルスが同時に
入力された場合に、同時計数回路３８から同時パルスが
出力されている。
する２つの光電子増倍管２６，２８からのそれぞれの出
力パルスが入力され、それらの出力パルスが同時に入力
された場合に同時パルスが出力されている。その一方同
時計数回路３８においても、内部バックグラウンド検出
器を構成する２つの光電子増倍管３０，３２からの出力
パルスが入力されており、それらの出力パルスが同時に
入力された場合に、同時計数回路３８から同時パルスが
出力されている。
【００１９】逆同時計数回路４０では、同時計数回路３
６から出力される同時パルスの中で、同時計数回路３８
から出力される同時パルスの入力タイミングと同じタイ
ミングで入力されたものが除外されている。すなわち内
部バックグラウンドに相当するパルスが除去されてい
る。
６から出力される同時パルスの中で、同時計数回路３８
から出力される同時パルスの入力タイミングと同じタイ
ミングで入力されたものが除外されている。すなわち内
部バックグラウンドに相当するパルスが除去されてい
る。
【００２０】宇宙線検出器を構成する２つの光電子増倍
管２２，２４から出力される検出パルスはＯＲ回路４２
又は同時計数回路で検出し、逆同時計数回路４４に入力
されている。逆同時計数回路４４では、逆同時計数回路
４０から出力されるパルスの内で、ＯＲ回路４２から出
力されるパルスと同時に入力されるパルスを除外してい
る。これによって、宇宙線に相当する検出パルスが排除
される。
管２２，２４から出力される検出パルスはＯＲ回路４２
又は同時計数回路で検出し、逆同時計数回路４４に入力
されている。逆同時計数回路４４では、逆同時計数回路
４０から出力されるパルスの内で、ＯＲ回路４２から出
力されるパルスと同時に入力されるパルスを除外してい
る。これによって、宇宙線に相当する検出パルスが排除
される。
【００２１】したがって、逆同時計数回路４４から、内
部バックグラウンド及び外部バックグラウンドとしての
宇宙線に相当する検出パルスの何れも除去されたパルス
が出力されることになり、演算部４６では、そのような
パルスに基づいて放射線の線量等の演算を行う。その演
算結果は表示器４８に表示される。
部バックグラウンド及び外部バックグラウンドとしての
宇宙線に相当する検出パルスの何れも除去されたパルス
が出力されることになり、演算部４６では、そのような
パルスに基づいて放射線の線量等の演算を行う。その演
算結果は表示器４８に表示される。
【００２２】以上の実施形態によれば、宇宙線以外の内
部ノイズ、特にクロストークを排除できるので、高精度
の放射線測定を行えるという利点がある。例えば、バッ
クグラウンドの内で内部バックグラウンドは３０％も占
めており、そのようなノイズ成分を除去して、放射性試
料からの真の放射線を測定することができる。
部ノイズ、特にクロストークを排除できるので、高精度
の放射線測定を行えるという利点がある。例えば、バッ
クグラウンドの内で内部バックグラウンドは３０％も占
めており、そのようなノイズ成分を除去して、放射性試
料からの真の放射線を測定することができる。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
測定室内で生じるノイズ、特にクロストークをリアルタ
イムで効果的に排除することができる。したがって高精
度の放射線測定を行えるという利点がある。
測定室内で生じるノイズ、特にクロストークをリアルタ
イムで効果的に排除することができる。したがって高精
度の放射線測定を行えるという利点がある。
【図１】 本発明に係る放射線測定装置の実施形態を示
す図である。
す図である。
１０ 検出部、１２ 信号処理部、１４ 測定室、１６
バイアル、１８ 放射性試料、２０，２２，２４ 宇
宙線検出器（第一のバックグラウンド検出器）、２６，
２８ 試料検出器、３０，３２ 内部バックグラウンド
検出器（第二のバックグラウンド検出器）、３４ 遮光
膜、３６，３８ 同時計数回路、４０，４４ 逆同時計
数回路。
バイアル、１８ 放射性試料、２０，２２，２４ 宇
宙線検出器（第一のバックグラウンド検出器）、２６，
２８ 試料検出器、３０，３２ 内部バックグラウンド
検出器（第二のバックグラウンド検出器）、３４ 遮光
膜、３６，３８ 同時計数回路、４０，４４ 逆同時計
数回路。
Claims (3)
- 【請求項１】 放射性試料を収容する測定室内において
前記放射性試料の近傍に設けられ、放射性試料からの放
射線を検出するための試料検出器と、 前記測定室を囲んで設けられ、宇宙線を検出するための
第１のバックグランド検出器と、 前記測定室内に設けられ、前記測定室内で生じる内部ノ
イズを検出するための第２のバックグランド検出器と、 少なくとも前記放射性試料と前記第２のバックグランド
検出器との間で遮光を行う遮光体と、 前記第１及び第２のバックグランド検出器の検出結果に
基づいて、前記試料検出器での検出結果からバックグラ
ンドを除外する信号処理回路と、 を含むことを特徴とする放射線測定装置。 - 【請求項２】 放射性試料を収容する測定室内において
前記放射性試料の近傍に設けられ、放射性試料からの放
射線を検出するための複数の試料検出器と、 前記複数の試料検出器からの検出パルスが同時に入力さ
れた場合に第１の同時計数パルスを出力する第１の同時
計数回路と、 前記測定室を囲んで設けられ、宇宙線を検出するための
第１のバックグランド検出器と、 前記測定室内に設けられ、前記測定室内で生じる内部ノ
イズを検出するための複数の第２のバックグランド検出
器と、 前記複数の第２のバックグランド検出器からの検出パル
スが同時に入力された場合に第２の同時計数パルスを出
力する第２の同時計数回路と、 少なくとも前記放射性試料と前記複数の第２のバックグ
ランド検出器との間で遮光を行う遮光体と、 前記第１の同時計数パルスの中から、前記第２の同時計
数パルス又は前記第１のバックグランド検出器の検出パ
ルスと同時に入力されたものを除外して、バックグラン
ドが除去されたパルスを出力する逆同時計数回路と、 を含むことを特徴とする放射線測定装置。 - 【請求項３】 請求項２記載の装置において、 前記複数の第２のバックグランド検出器は、前記複数の
試料検出器の配列と実質的に同じ配列で設けられたこと
を特徴とする放射線測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12580698A JPH11326526A (ja) | 1998-05-08 | 1998-05-08 | 放射線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12580698A JPH11326526A (ja) | 1998-05-08 | 1998-05-08 | 放射線測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11326526A true JPH11326526A (ja) | 1999-11-26 |
Family
ID=14919382
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12580698A Pending JPH11326526A (ja) | 1998-05-08 | 1998-05-08 | 放射線測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11326526A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008224442A (ja) * | 2007-03-13 | 2008-09-25 | Sd Giken:Kk | 放射能測定装置 |
| JP2011128046A (ja) * | 2009-12-18 | 2011-06-30 | Yokogawa Electric Corp | 放射線検出装置 |
| WO2014081471A1 (en) * | 2012-11-20 | 2014-05-30 | Intel Corporation | On-die electric cosmic ray detector |
| JP2016090228A (ja) * | 2014-10-29 | 2016-05-23 | 鹿島建設株式会社 | 放射能濃度計測装置 |
| KR20210101960A (ko) * | 2020-02-11 | 2021-08-19 | 한국원자력연구원 | 현장 베타선 측정 장치 및 이를 이용한 현장 베타선 측정 방법 |
-
1998
- 1998-05-08 JP JP12580698A patent/JPH11326526A/ja active Pending
Cited By (7)
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