JPH11328876A

JPH11328876A - 再生装置

Info

Publication number: JPH11328876A
Application number: JP13716198A
Authority: JP
Inventors: Shigeo Yamaguchi; 茂男山口
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1998-05-19
Filing date: 1998-05-19
Publication date: 1999-11-30

Abstract

(57)【要約】【課題】ＰＬＬ引込性能の向上による再生装置の信頼
性の向上【解決手段】ＰＬＬ引込動作においてＰＬＬロックが
できなかった場合に、引込動作を開始させる所定タイミ
ング位置を変更させて再度ＰＬＬ引込動作（リトライ）
を実行させるようにする。これによって引込動作中にデ
ィスク上の欠陥部分にあたることを避けるようにし、例
え一部に欠陥があっても良好にＰＬＬをロックすること
ができるようにする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は例えば光磁気ディス
ク等の記録媒体に対する再生装置であって、特にそのＰ
ＬＬ引込動作に係るものである。

【０００２】

【従来の技術】光ディスク、磁気ディスク、光磁気ディ
スク、磁気テープ、光テープ等の記録媒体に対する再生
装置では、記録媒体から読み出された信号をＰＬＬ（Ph
ase Locked Loop）回路に注入してＰＬＬをロックさせ
ることで、再生される情報に同期したクロック信号（再
生クロック）を生成し、その再生クロックに基づいて再
生系のデコード動作を行うことが行われている。従っ
て、データの読出を行うためには必ずＰＬＬ回路をロッ
クさせることが必要になる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ところで、光磁気ディ
スクなどでは、そのディスク上のセクターデータフォー
マットとして、ＰＬＬロックのための引込動作に用いる
領域（ＰＬＬ引込領域）が用意されており、再生装置は
そのＰＬＬ引込領域内で引込動作を開始するようにして
いる。通常はそのＰＬＬ引込領域内でＰＬＬ回路がロッ
クし、その後に続く領域において記録されているデータ
を読み込むことができるが、例えばＰＬＬ引込領域内に
欠陥（傷や汚れなど）があるなどの原因でＰＬＬロック
ができないという事態が発生することがある。

【０００４】このような場合は、再度ＰＬＬ引込動作
（つまりリトライ動作）を行うことになるが、このリト
ライ時にはＰＬＬ系のゲインを変えてＰＬＬの応答性を
変更することで、リトライ時にロック引込が成功しやす
いようにしていた。しかしながら欠陥の種類やサイズに
よってはゲイン変更を行ってもＰＬＬがロックできない
こともあり、そのような場合はデータ読出不能として処
理せざるを得ないこととなっていた。

【０００５】また、ディスクの使用前に行われるフォー
マット時にはいわゆる交替処理が行われ、欠陥を有する
セクターは使用されない（代替セクターが用意される）
ようにしている。従ってＰＬＬ引込領域に欠陥があるセ
クターも交替処理してしまうようにすれば上記のような
問題は解消される。ところが近年の高記録密度化の促進
にともなって狭トラックピッチ化やデータ密度の高密度
化が進むと、傷や汚れの影響は相対的に広い範囲にわた
るものとなる。すると欠陥セクターとみなされるセクタ
ーが非常に増加してしまうことになり、ＰＬＬがロック
しにくいセクターを全て交替処理するようにすると、交
替セクター数が著しく増えてしまい、これは好ましいも
のではない。

【０００６】

【課題を解決するための手段】このような問題点に鑑み
て本発明は、欠陥によりＰＬＬがロックしにくいような
場合でも、リトライ時にはロックできるようにし、再生
装置の信頼性の向上を図ることを目的とする。

【０００７】このために再生装置において、記録媒体上
のＰＬＬ引込領域内における所定タイミング位置からＰ
ＬＬ引込動作を開始させる引込動作制御手段と、引込動
作制御手段によって開始されたＰＬＬ引込動作において
ＰＬＬがロックできなかった場合に、引込動作制御手段
に上記の所定タイミング位置を変更させて再度ＰＬＬ引
込動作を開始させるリトライ制御手段とを備えるように
する。例えばリトライ制御手段は、所定タイミング位置
を、より早めたタイミング位置又はより遅らせたタイミ
ング位置に変更させてリトライを実行させる。また複数
回のリトライを行う場合は、それぞれＰＬＬ引込動作を
開始させるタイミング位置を異なるものとする。

【０００８】ＰＬＬのロックについては、その引込動作
中に欠陥部分にあたると、引込が困難なものとなる。一
方、一旦ロックした後においては、欠陥部分によってロ
ックがはずれてしまうということは少ない。従って本発
明では、ＰＬＬ引込領域内の一部に欠陥がある場合に、
引込を開始するタイミングを変化させて、その引込動作
を実行する範囲を変化させることでディスク上の欠陥部
分を避ける。例えば欠陥部分に到達する前にロックさせ
たり、もしくは欠陥部分を通り過ぎてから引込を開始し
てロックさせる。リトライ時にこのようにタイミング位
置を変化させることで、ＰＬＬ引込領域の一部に欠陥が
あっても、良好にＰＬＬがロックできる。

【０００９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の再生装置の実施の
形態として、光磁気ディスクに対応する記録再生装置に
ついて説明していく。説明は次の順序で行う。１．記録再生装置の構成２．ディスクのセクターフォーマット３．ＰＬＬ引込動作

【００１０】１．記録再生装置の構成光磁気ディスクの再生装置としては、そのＲＦ信号再生
系においてビットバイビット復号法やビタビ復号法が用
いられるが、いずれの場合においても元の再生ＲＦ信号
に同期した再生クロックを用いることが必要とされ、こ
のためにＰＬＬによって再生クロックを生成している。
本例の記録再生装置はビタビ復号を行う再生系を有する
記録再生装置とし、その記録再生系のブロック図を図１
に示す。なお、このブロック図は主に記録再生信号の処
理系のみを示し、サーボ系その他は省略してある。

【００１１】光磁気ディスク６は、記録再生装置内にお
いてスピンドルモータ９によって回転駆動された状態
で、光ピックアップ７及び磁気ヘッド５の動作によって
情報の記録、再生、消去が行われる。記録、再生、消去
時の光ピックアップ７及び磁気ヘッド５の位置制御（シ
ーク、トラッキングサーボ、スレッドサーボ）や、光ピ
ックアップ７からのレーザ光のフォーカスサーボ、さら
にはスピンドルモータ９の回転サーボは、図示しないサ
ーボ系によって行われることになる。

【００１２】ドライブコントローラ（以下、コントロー
ラという）２は、この記録再生装置のマスターコントロ
ーラとして各種の動作制御を行うとともに、ホストコン
ピュータ１との通信を行う部位とされる。即ちコントロ
ーラ２はホストコンピュータ１からの記録指示に応じ
て、供給されたデータをディスク６に記録する動作を制
御するとともに、同じくホストコンピュータ１からの指
示に応じて要求されたデータをディスク６から読み出し
てホストコンピュータ１に転送する動作の制御を行う。
またコントローラ２はデータのエンコード、デコードを
行う機能も有している。ＣＰＵ３は、コントローラ２の
指示に基づいて記録再生動作のために各部の制御を行う
部位とされる。

【００１３】記録時には、コントローラ２がホストコン
ピュータ１の指令に従って、記録すべきユーザデータを
受取り、情報語としてのユーザデータに基づいてエンコ
ードを行って、符号語としてのＲＬＬ（１，７）符号を
生成する。この符号語が記録データＷＤＡＴＡとしてレ
ーザパワーコントロール部（以下、ＬＰＣと表記する）
４に供給される。またコントローラ２はＷＧＡＴＥ信号
としてＬＰＣ４に記録モードとしての発光動作及びその
タイミングを指示する。

【００１４】ＬＰＣ４は、再生時、記録時、消去時のそ
れぞれにおいて光ピックアップ７からのレーザ出力を実
行させるようにレーザ駆動電流を発生させる。なお、再
生時、記録時、消去時のそれぞれにおけるレーザ発光レ
ベル、即ちレーザ駆動電流値はＣＰＵ３の指示に応じて
設定される。ＷＧＡＴＥ信号により記録が指示される場
合は、ＬＰＣ４は、供給された記録データＷＤＡＴＡに
対応して、光ピックアップ７のレーザパワーを制御して
光磁気ディスク６上に磁気極性を有するピット列を形成
することにより、記録を行う。この記録の際に、磁気ヘ
ッド５が光磁気ディスク６にバイアス磁界を付与する。

【００１５】再生時においては、コントローラ２及びＣ
ＰＵ３の制御によって次のような動作が行われる。

【００１６】コントローラ２はＲＧＡＴＥ信号、ＩＤＧ
ＡＴＥ信号をＬＰＣ４及びＲＦブロック２０に供給し
て、再生動作制御を行う。即ちコントローラ２はＲＧＡ
ＴＥ信号により、ＬＰＣ４に再生レベルとしてのレーザ
パワーによる連続発光を指示するとともに、ＲＦブロッ
ク２０に対しての再生処理の指示を行う。また後述する
ようにディスク６のセクターフォーマットとしてはアド
レス部とデータ部が存在するが、ＩＤＧＡＴＥ信号は各
領域での動作タイミングを指示するものとなり、これに
応じてＬＰＣ４及びＲＦブロック２０の動作が行われ
る。

【００１７】まずＬＰＣ４はＲＧＡＴＥ信号に応じてレ
ーザ駆動電流を発生させ、光ピックアップ７から再生動
作のためのレーザ出力を実行させる。光ピックアップ７
は、光磁気ディスク６にレーザ光を照射し、それによっ
て生じる反射光を受光する。さらにその反射光量に応じ
た信号の演算処理により各種信号を生成する。即ち、和
信号Ｒ＋、差信号Ｒ−、および図示しないフォーカスエ
ラー信号、トラッキングエラ−信号などである。和信号
Ｒ＋は、アンプ８ａによってゲイン調整等がなされた後
に切替えスイッチ１０に供給される。また、差信号Ｒ−
は、アンプ８ｂによってゲイン調整等がなされた後に切
替えスイッチ１０に供給される。アンプ８ａ、８ｂにお
けるゲインセッティングはＣＰＵ３によって行われる。
なおフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号
は、図示しないサーボ系に供給されサーボ制御に用いら
れる。

【００１８】切替えスイッチ１０には、ＩＤＧＡＴＥ信
号に応じて切替動作を行い、和信号Ｒ＋または差信号Ｒ
−をフィルタ部１１に供給する。すなわち、後述する光
磁気ディスク６のセクタフォーマットにおいて、エンボ
ス加工によって形成されるアドレス部から再生される信
号が切替えスイッチ１０に供給される期間には、和信号
Ｒ＋をフィルタ部１１に供給する。また、光磁気的に記
録が行われているデータ部から再生される信号が切替え
スイッチ１０に供給される期間には、差信号Ｒ−をフィ
ルタ部１１に供給する。

【００１９】フィルタ部１１は、ノイズカットを行うロ
ーパスフィルタおよび波形等化を行う波形等化器から構
成される。そして入力された信号は、ビタビ復号器１３
が行うビタビ復号方法に適合するパーシャルレスポンス
特性が得られるようにイコライジングされるものとな
る。Ａ／Ｄ変換器１２は、フィルタ部１１の出力を再生
クロックＤＣＫに従ってＡ／Ｄ変換を行い、再生信号値
ｚ〔ｋ〕を出力する。ビタビ復号器１３は、再生信号値
ｚ〔ｋ〕に基づいて、ビタビ復号方法によって復号デー
タを生成する。かかる復号データは、記録データに対す
る最尤復号系列である。従って、復号エラーが無い場合
には、復号データは、記録データと一致する。

【００２０】復号データは、コントローラ２に供給され
る。上述したように、記録データは、ユーザデータから
チャンネル符号化等の符号化によって生成された符号語
である。従って、復号エラーレートが充分低ければ、復
号データは、符号語としての記録データとみなすことが
できる。コントローラ２は、復号データに、上述のチャ
ンネル符号化等の符号化に対応する復号化処理を施すこ
とにより、ユーザデータ等を再生する。

【００２１】このような再生処理のための再生クロック
ＤＣＫはＰＬＬ部１４により生成される。即ちフィルタ
部１１の出力はＰＬＬ部１４にも供給され、ＰＬＬ部１
４は、供給された信号に対するＰＬＬ動作により再生ク
ロックＤＣＫを生成する。再生クロックＤＣＫは、コン
トローラ２、Ａ／Ｄ変換器１２、ビタビ復号器１３等に
供給され、これらの部位の動作は、再生クロックＤＣＫ
に従うタイミングで行われる。さらに、再生クロックＤ
ＣＫは、図示しないタイミングジェネレータに供給され
る。タイミングジェネレータは、例えば、記録／再生動
作の切替え等の装置の動作タイミングを制御する信号を
生成する。

【００２２】２．ディスクのセクターフォーマット以上のような構成の記録再生装置に対応するディスク６
のセクタフォーマットを図２に示す。光磁気ディスク６
には、セクタを記録／再生の単位としてユーザデータが
記録される。図２（ａ）に示すように、１セクタは、記
録／再生の順に従って、ヘッダ、ＡＬＰＣ，ギャップ、
ＶＦＯ３、シンク、データフィールド、バッファの各エ
リアに区分されている。なお図中に付した数字はバイト
数を表す。このような１セクターは、大きく分けてアド
レス部（即ちヘッダ）とデータ部が設けられ、その間に
ＡＬＰＣギャップが位置する。

【００２３】なおセクタフォーマットとしては、ユーザ
データ量が１０２４バイトのフォーマットと、５１２バ
イトのフォーマットとが用意されている。ユーザデータ
量が５１２バイトのフォーマットでは、データフィール
ドのバイト数が６７０バイトとされる。また、ユーザデ
ータ量が１０２４バイトのフォーマットでは、データフ
ィールドのバイト数が１２７８バイトとされる。これら
２つのセクタフォーマットにおいて、６３バイトのプリ
フォーマットされたへッダと、ＡＬＰＣギャップエリア
の１８バイトは、同一とされている。

【００２４】図２（ｂ）は、アドレス部としての６３バ
イトのへッダを拡大して示している。へッダは、セクタ
マークＳＭ（８バイト）、ＶＦＯフィールドのＶＦＯ１
（２６バイト）、アドレスマークＡＭ（１バイト）、Ｉ
ＤフィールドのＩＤ１（５バイト）、ＶＦＯフィールド
のＶＦＯ２（１６バイト）、アドレスマークＡＭ（１バ
イト）、ＩＤフィールドのＩＤ２（５バイト）、および
ポストアンブルＰＡ（１バイト）が順に配列された構成
とされている。

【００２５】セクタマークＳＭは、セクタの開始を識別
するためのマークであり、ＲＬＬ（１，７）符号におい
て生じないエンボス加工によって形成されたパターンを
有する。

【００２６】１つのセクターにおけるＶＦＯフィールド
は、上述のＰＬＬ部１４中のＶＦＯ（Variable Frequen
cy Oscillator）を同期させるためのもので、ＶＦＯ
１、ＶＦＯ２およびＶＦＯ３からなる。つまりこれらは
ＰＬＬ引込領域となる。そして、アドレス部にはＶＦＯ
１およびＶＦＯ２がエンボス加工によって形成されてい
る。なお、ＶＦＯ３は図２（ａ）に示したようにデータ
部に設けられ、そのセクタに対して記録動作が行われる
際に光磁気的に書かれる。

【００２７】ＶＦＯ１、ＶＦＯ２、ＶＦＯ３は、それぞ
れチャネルビットの‘０’と‘１’が交互に現れるパタ
ーン（２Ｔパターン）を有する。従って、１チャネルビ
ットの時間長に対応する時間をＴとすると、ＶＦＯフィ
ールドを再生した時に、２Ｔ毎にレベルが反転する再生
信号が得られる。

【００２８】アドレスマークＡＭは、後続のＩＤフィー
ルドのためのバイト同期を装置に対して与えるために使
用され、ＲＬＬ（１，７）符号において生じないエンボ
スされたパターンを有する。ＩＤフィールドは、セクタ
のアドレス、すなわち、トラック番号およびセクタ番号
の情報と、これらの情報に対するエラー検出用のＣＲＣ
バイトを有する。５バイトの各ＩＤフィールドＩＤ１、
ＩＤ２はセクターのアドレス情報となるが、これらは同
一のデータとされている。つまり１つのセクター内には
アドレスが２回記録されるものとなっている。

【００２９】ポストアンブルＰＡは、チャネルビットの
‘０’と‘１’とが交互に現れるパターン（２Ｔパター
ン）を有する。以上のようなアドレス部としてのヘッダ
領域は、エンボス加工によりピットが形成されたプリフ
ォーマットされた領域である。

【００３０】図２（ｃ）は１８バイトのＡＬＰＣギャッ
プエリアを拡大して示す。１８バイトは、ギャップフィ
ールド（５バイト）、フラグフィールド（５バイト）、
ギャップフィールド（２バイト）、ＡＬＰＣ（６バイ
ト）からなる。

【００３１】最初のギャップフィールド（５バイト）
は、プリフォーマットされたへッダの後の最初のフィー
ルドであり、これによって、ヘッダの読取りを完了した
後の処理に装置が要する時間が確保される。２番目のギ
ャップフィールド（２バイト）は、後のＶＦＯ３の位置
のずれを許容するためのものである。

【００３２】５バイトのフラグフィールドは、セクタの
データが記録される時に、連続した２Ｔパターンが記録
される。ＡＬＰＣ（Auto Laser Power Control）フィー
ルドは、記録時のレーザパワーをテストするために設け
られている。

【００３３】また、図２（ａ）のようにデータ部はＶＦ
Ｏ３、シンクフィールド、データフィールド、バッファ
フィールドから構成されるが、シンクフィールド（４バ
イト）は、続くデータフィールドのためのバイト同期を
装置が得るために設けられており、所定のシンクパター
ンを有する。

【００３４】データフィールドは、ユーザデータを記録
するために設けられる。６７０バイト場合は、５１２バ
イトのユーザデータと、１４４バイトのエラー検出、訂
正用のパリティ等と、１２バイトのセクタ書込みフラグ
と、２バイト（ＦＦ）とからなる。また、１２７８バイ
トの場合には、１０２４バイトのユーザデータと、２４
２バイトのエラー検出、訂正用のパリティ等と、１２バ
イトのセクタ書込みフラグとからなる。なお図示してい
ないが、データフィールドには所定の位置に同期のため
のリシンクパターンが配されている。バッファフィール
ドは、電気的、あるいは機械的な誤差に対する許容範囲
として使用される。

【００３５】３．ＰＬＬ引込動作通常の再生時の動作として、コントローラ２はホストコ
ンピュータ１から要求されたデータを再生するために、
まずその要求されたデータのセクターに対する光ピック
アップ７のシークを行わせる。そしてセクターアドレス
を読み込みながら目的のセクターに達したか否かを確認
していき、目的のセクターに達したら、そのセクターの
データ部のデータを読み込み動作を行う。このような一
連の再生動作の中では、まずセクターのアドレスを確認
するためのＩＤフィールドに記録されたアドレスの読出
が行われ、その後にデータフィールドに記録されたデー
タの読出が行われることになる。そしてそのために、ま
ずＩＤフィールド（ＩＤ１又はＩＤ２）の読出のために
はＶＦＯ１又はＶＦＯ２においてＰＬＬ引込を行う必要
がある。またその後にデータフィールドの読出を行う際
には、ＶＦＯ３においてＰＬＬ引込を行う必要がある。
このようにしてＰＬＬ部１４をロックさせてＲＦ信号に
同期した再生クロックＤＣＫを得て、アドレスやデータ
の読出を行う。

【００３６】ところでＰＬＬ引込を行う際には、ＰＬＬ
のループ帯域を高くしている。つまりＰＬＬループゲイ
ンをあげ、応答性を高くすることで引き込みやすくして
いる。このような状態をアクイジションモードという。
一方、ＰＬＬがロックした後はループ帯域を低くする。
つまりＰＬＬループゲインを下げ、応答性を低くするこ
とでロックがはずれにくいようにする。このような状態
をトラッキングモードという。

【００３７】ＶＦＯフィールドにおいてＰＬＬの引込を
行う時点においては、アクイジションモードとしている
ことで迅速な引込が可能とされるが、ＶＦＯフィールド
に本来のＶＦＯパターンとは異なる異常なデータパター
ンが存在すると、うまくロックできない場合がある。こ
のような異常パターンはディスク６の欠陥（例えば傷や
汚れ）によることが多いが、引込動作中にそのような異
常パターンにあたると、ＰＬＬの位相誤差信号が暴走す
ることがあり、再生クロックの発振周波数が大きく変化
するために引込が不能となるものである。

【００３８】一方、ＰＬＬがロックしてトラッキングモ
ードとされている際には、応答性が抑えられていること
から異常なデータパターンによってＰＬＬループが大き
く影響を受けることは少ない。つまり、ディスク上に欠
陥があった場合でも、ＰＬＬがロックしている場合はロ
ックがはずれるような影響を受けることはあまりない
が、ＰＬＬ引込中であると、引込に失敗する可能性は高
いものとなる。もちろん引込に失敗した場合はアドレス
やデータを読み出すことはできない。但し、アクイジシ
ョンモードであっても、既にロックされている時点（ア
クイジションモードで引込を完了してからモードがトラ
ッキングモードに切り替えられるまでの期間）では、不
安定になる（例えばロックがはずれる）ことはあまりな
い。これは、一旦ロックしたＰＬＬはクロックの位相変
化にある程度追従するという性質があるためである。

【００３９】以上のような事情に対して本例では、ＶＦ
Ｏフィールドにおいて欠陥があった場合でも、その欠陥
部分を避けるようにして引込動作を行うことで、ＰＬＬ
引込を達成するようにしている。図３〜図５により本例
のＰＬＬ引込動作を、ＶＦＯ３での引込動作を例にあげ
て説明する。

【００４０】図３はＶＦＯ３において欠陥がなく、適正
にＰＬＬ引込ができる場合を示している。ＰＬＬ引込の
開始タイミングは、ＲＧＡＴＥ信号がアクティブになる
タイミングとなる。一例として本例の場合、２７バイト
のＶＦＯ３においては、通常は１０バイト目の位置でＲ
ＧＡＴＥ信号がアクティブとされるものとする。即ちＶ
ＦＯ３における１０バイト目の位置のタイミングからＰ
ＬＬ引込動作が開始される。またこのときアクイジショ
ンモードとされる。

【００４１】通常は、引込動作を開始してから１０バイ
ト分前後の期間でロック引込が完了できる。引込動作に
要する期間をｔＬとして示している。アクイジションモ
ードとしての期間は、そのような引込にかかる時間を考
慮するとともに、ある程度余裕を持たせた期間として固
定値が設定されている。即ちＲＧＡＴＥ信号がアクティ
ブになってからタイミングカウントが行われて、所定の
カウント値に達した時点でアクイジションモードが終了
され、トラッキングモードになる。

【００４２】ＶＦＯ３に欠陥がなければ、通常は図３の
ようにＰＬＬ引込を開始してから期間ｔＬでロックでき
る。従ってその後トラッキングモードとされ、シンクフ
ィールド、データフィールドでの読出動作が実行でき
る。

【００４３】ところがＶＦＯ３内に例えば図４に示すよ
うに欠陥部分ＤＦが存在すると、引込ができない場合が
ある。この場合、初回の引込動作として、例えば１０バ
イト目の位置タイミングでＲＧＡＴＥ信号がアクティブ
とされ、引込動作が開始されると、引込が完了する前に
欠陥部分ＤＦに達することになり、引込が失敗となる。
そこで本例では、そのような場合はリトライ動作として
再度引込を行うことになるが、このときリトライ＃１と
して示すようにＲＧＡＴＥ信号の立ち上がりタイミング
を早いタイミングに変更する。例えば７バイト目の位置
タイミングでＲＧＡＴＥ信号がアクティブとなるように
する。すると、この７バイト目のタイミング位置から期
間ｔＬでロックが完了し、その後において欠陥部分ＤＦ
に達することになるため、欠陥部分ＤＦの影響を受けず
にＰＬＬ引込ができる。

【００４４】なお、この図の例では欠陥部分ＤＦに達す
る時点ではまだアクイジションモードとなっているが、
上述したようにロックした後においては、アクイジショ
ンモードであってもさほど欠陥部分ＤＦの影響を受けな
いため、ほぼ問題ない。また仮に欠陥部分ＤＦがより後
ろの位置にあって、トラッキングモードとなった後の時
点で到達するのであれば、より影響は少ない。

【００４５】図５は、ＶＦＯ３において欠陥部分ＤＦが
より前方の位置にあった場合の例を示している。この場
合初回の引込動作としてＲＧＡＴＥ信号がアクティブに
なる１０バイト目の位置タイミングで引込動作が開始さ
れると、その時点で欠陥部分ＤＦにあたっていることに
なり、良好な引込動作ができないことになる。このため
リトライ＃１として１回目のリトライ動作を図４の場合
と同様に行うことになるが、より早いタイミングとして
７バイト目の位置タイミングから引込動作を開始して
も、このときもロック完了前に欠陥部分ＤＦに達し、ロ
ックできないものとなる。

【００４６】従ってこのような場合はリトライ＃２とし
て２回目のリトライ動作を実行することになるが、この
場合は、図示するようにＲＧＡＴＥ信号の立ち上がりタ
イミングを初回よりも遅いタイミングに変更する。例え
ば１５バイト目の位置タイミングでＲＧＡＴＥ信号がア
クティブとなるようにする。すると、引込動作中に欠陥
部分ＤＦにあたらないことになるため、この１５バイト
目のタイミング位置から期間ｔＬでロックが完了し、そ
の後のデータ読出が可能となる。

【００４７】例えば以上の例のように本例では、引込動
作の失敗によりリトライを行う場合は、引込動作を行う
タイミング位置を異なるようにする。複数回リトライを
行うのであれば、各リトライ時点毎にタイミング位置を
異なるようにする。これによって欠陥部分ＤＦを避けて
引込動作を行うことができ、つまりＶＦＯフィールドに
おいて多少の欠陥が存在しても、良好にＰＬＬ引込を完
了できるようになる。なお、図３〜図５に示した１０バ
イト目、７バイト目、１５バイト目などのＰＬＬ引込動
作開始のタイミング位置（ＲＧＡＴＥ信号の立ち上がり
タイミング）は一例にすぎないことはいうまでもない。
また、ＶＦＯ１、ＶＦＯ２における引込動作では、異な
るタイミング位置が設定されてもよい。

【００４８】以上のようなＰＬＬ引込動作及びリトライ
動作を行うことになるデータ再生時のコントローラ２の
処理を図６に示す。ホストコンピュータ１からの要求に
よりデータ読出を開始する場合は、コントローラ２はま
ずステップＦ１０１としてリトライ動作制御のためのカ
ウンタＣＴｉｄ、ＣＴｄｔをリセットし、ステップＦ１
０２で光ピックアップ７のシーク動作を指示する。詳述
は避けるが、図示しないサーボ系を制御して光ピックア
ップ７のスライド機構や２軸機構により読出位置を移動
させ、光ピックアップ７を目的とするセクターの近辺に
位置させる。なお説明の簡略化のため、ステップＦ１０
２のシークとはいわゆる粗シーク（スライド機構主体の
移動）と密シーク（１トラックジャンプなど２軸機構主
体の移動）の両方を含むものとする。

【００４９】そしてステップＦ１０３でＲＧＡＴＥ信
号、ＩＤＧＡＴＥ信号により光ピックアップ７及びＲＦ
ブロック２０に、セクターのアドレス部の読出を実行さ
せる。即ちここではＶＦＯ１又はＶＦＯ２でのＰＬＬ引
込、ＩＤフィールドＩＤ１、ＩＤ２でのアドレス読出を
実行させる。

【００５０】ここでＶＦＯ１又はＶＦＯ２に欠陥がな
く、良好にＰＬＬ引込及びアドレス読出が完了できた場
合は、ステップＦ１０４からＦ１０９に進み、読み込ん
だアドレスからそのセクターが目的セクタであるか否か
を判断する。目的アドレスでなければステップＦ１０１
に戻ってカウンタＣＴｉｄ、ＣＴｄｔをリセットし、ス
テップＦ１０２で光ピックアップ７のシークを実行さ
せ、ステップＦ１０３でのアドレス読出を指示する。

【００５１】ところでＶＦＯ１又はＶＦＯ２でうまくＰ
ＬＬがロックせずにステップＦ１０３でのアドレス部の
リードがＮＧとなった場合は、ＰＬＬ引込のリトライの
ためにステップＦ１０４からＦ１０５に進むことにな
る。そしてカウンタＣＴｉｄをインクリメントし、ステ
ップＦ１０６でカウンタＣＴｉｄが限度値Ｍ１を越えて
いなければ、ステップＦ１０７に進む。ここでは、カウ
ンタＣＴｉｄの値、つまり何回目のリトライであるかに
応じて、ＶＦＯ１、ＶＦＯ２に対応するＲＧＡＴＥ信号
の立ち上がりタイミングを変更する。そしてステップＦ
１０２，Ｆ１０３と進んでアドレス部リードのリトラ
イ、つまりＰＬＬ引込のリトライ及びアドレス読出を実
行させる。

【００５２】従って、例えば１回目のリトライの場合
（カウンタＣＴｉｄ＝１のとき）は、図４で説明したよ
うにＲＧＡＴＥ信号をアクティブとするタイミングが通
常より早いタイミングとされてＰＬＬ引込が行われる。
これによってＰＬＬ引込成功の確率が高くなり、つまり
アドレス読出成功に導く可能性が高くなる。また１回目
のリトライでもＰＬＬ引込に失敗してアドレス読出ＮＧ
となってしまった場合は、２回目のリトライを行うこと
になるが、このとき（カウンタＣＴｉｄ＝２のとき）
も、ステップＦ１０７においてＲＧＡＴＥ信号の立ち上
がりタイミングを変更する。このときは図５で説明した
ようにＲＧＡＴＥ信号をアクティブとするタイミングが
通常より遅いタイミングとされてＰＬＬ引込が行われ
る。これによってＰＬＬ引込成功の確率が高くなる。

【００５３】なお、仮にリトライ動作は２回までと設定
する場合は、限度値Ｍ１＝２とされる。従って２回目の
リトライ動作でもアドレス読出ＮＧとなった場合はステ
ップＦ１０６からＦ１０８に進み、エラー処理となる。

【００５４】以上のようにステップＦ１０７でＲＧＡＴ
Ｅ信号の立ち上がりタイミングを変更しながらリトライ
を行うことで、ほとんどの場合は欠陥の影響を避けてア
ドレス読出を実現できる。アドレスセクターにおいてそ
れが目的セクターと判別されたら、処理はステップＦ１
１０に進み、データ部の読出を指示する。つまり続くＶ
ＦＯ３においてＰＬＬ引込を行い、データフィールドの
読出を実行させる。

【００５５】ここでＶＦＯ３に欠陥がなく、良好にＰＬ
Ｌ引込及びデータ読出が完了できた場合は、ステップＦ
１１１からＦ１１６に進み、ＲＧＡＴＥ信号のタイミン
グ設定（ステップＦ１０７でＶＦＯ１、ＶＦＯ２に対す
るタイミング設定が変更されていた場合、及びステップ
Ｆ１１４でＶＦＯ３に対するタイミング設定が変更され
ていた場合）をデフォルト状態に戻すとともに、カウン
タＣＴｉｄ、ＣＴｄｔをリセットし、そのデータセクタ
ーの読出動作を完了する。なお、もちろん読み出したデ
ータのデコードやホストコンピュータ１への送信を行う
ことになる。

【００５６】ところがＶＦＯ３でうまくＰＬＬがロック
せずにステップＦ１１０でのデータ部のリードがＮＧと
なった場合は、ＰＬＬ引込のリトライのためにステップ
Ｆ１１１からＦ１１２に進むことになる。そしてカウン
タＣＴｄｔをインクリメントし、ステップＦ１１３でカ
ウンタＣＴｄｔが限度値Ｍ２を越えていなければ、ステ
ップＦ１１４に進む。ここでは、カウンタＣＴｄｔの
値、つまり何回目のリトライであるかに応じてＲＧＡＴ
Ｅ信号の立ち上がりタイミングを変更する。そしてステ
ップＦ１０２に戻る。

【００５７】目的セクターのデータ部のリードがＮＧと
なった場合は、例えば１トラックジャンプなどで読出位
置を後退し、再度その目的セクターに達することを待つ
ことになるため、ステップＦ１０２でのシーク（例えば
１トラックジャンプ）及び上述したステップＦ１０３〜
Ｆ１０９のアドレス読出処理が行われる。そして目的セ
クタに達したらステップＦ１１０に進んでデータ部リー
ドのリトライ、つまりＰＬＬ引込のリトライ及びデータ
読出を実行させる。

【００５８】例えばデータ部に対する１回目のリトライ
の場合（カウンタＣＴｄｔ＝１のとき）は、図４で説明
したようにＶＦＯ３において、ＲＧＡＴＥ信号をアクテ
ィブとするタイミングが通常より早いタイミングとされ
てＰＬＬ引込が行われる。これによってＰＬＬ引込成功
の確率が高くなり、つまりアドレス読出成功に導く可能
性が高くなる。また１回目のリトライでもＰＬＬ引込が
不能となってデータ読出ＮＧとなってしまった場合は、
２回目のリトライを行うことになるが、このとき（カウ
ンタＣＴｄｔ＝２のとき）も、ステップＦ１１４におい
てＲＧＡＴＥ信号の立ち上がりタイミングを変更する。
即ち図５で説明したようにＲＧＡＴＥ信号をアクティブ
とするタイミングが通常より遅いタイミングとされてＶ
ＦＯ３でＰＬＬ引込が行われる。これによってＰＬＬ引
込成功の確率が高くなる。

【００５９】なお、仮にリトライ動作は２回までと設定
する場合は、限度値Ｍ２＝２とされる。従って２回目の
リトライ動作でもＶＦＯ３でのＰＬＬ引込ができずにデ
ータ読出ＮＧとなった場合はステップＦ１１３からＦ１
１５に進み、エラー処理となる。

【００６０】以上のようにステップＦ１１４でＲＧＡＴ
Ｅ信号の立ち上がりタイミングを変更しながらリトライ
を行うことで、ＶＦＯ３に欠陥があってもほとんどの場
合はその欠陥の影響を避けてデータ読出を実現できる。
そして上述のようにステップＦ１１６に進んだ後、デー
タリード完了となる。

【００６１】なお、実際にはデータ読出又はアドレス読
出がＮＧとなった場合に、コントローラ２が、その原因
がディスク上の欠陥によってＰＬＬがロックできなかっ
たためであったのか否かを知ることは難しい。また、仮
に欠陥によるＰＬＬ引込失敗が原因であるとわかったと
しても、その欠陥部分の位置や大きさを知ることはさら
に困難である。このため、アドレス部に関してはステッ
プＦ１０４として示したように、コントローラ２が正し
くアドレスを読み込めたか否かを判断して、ＰＬＬ引込
開始タイミングを変化させるようにするものとしてい
る。またデータ部に関してはステップＦ１１１としてシ
ンクパターンやリシンクが正しく読み込めたか、もしく
はエラー訂正後にコントローラ２がデータを正しくデコ
ードできたか否かを判断して、ＰＬＬ引込開始タイミン
グを変化させるようにするものとしている。このように
することで、特に困難な検出処理を行わなくとも、欠陥
によるＰＬＬロック不能を排除して読出動作性能を向上
させることができる。

【００６２】なお、図６の処理は一例であり、本発明と
しては多様な処理例が考えられる。もちろんリトライ回
数の上限や、各リトライ時でＰＬＬ引込開始タイミング
（ＲＧＡＴＥ信号タイミング）をどのように変化させる
かなどは、実際の設計上の事情に合わせて多様に考えら
れる。例えばリトライは１回に限るとしてもよいし、３
回以上行うようにしてもよい。また、光磁気ディスクに
対応する記録再生装置で説明したが、他の記録媒体に対
応する再生装置でも本発明は適用できることはいうまで
もない。

【００６３】

【発明の効果】以上説明したように本発明では、ＰＬＬ
引込動作においてＰＬＬロックができなかった場合に、
引込動作を開始させる所定タイミング位置を変更させて
再度ＰＬＬ引込動作（リトライ）を実行させるようにし
ているため、引込動作中にディスク上の欠陥部分にあた
ることを避けることができ、これによって例え一部に欠
陥があっても良好にＰＬＬをロックすることができるよ
うになる。従って、その後のデータ読出が可能となり、
再生装置としての信頼性を大きく向上できるという効果
がある。また、それによってそのようなセクターを交替
処理しなくてもよいことになるため、むやみに交替セク
ターを増加させないという利点も得られる。

【００６４】また、実際にはＰＬＬ引込に失敗しても欠
陥の位置は正確にはわからないが、リトライ時に、ＰＬ
Ｌ引込を開始する所定タイミング位置を、より早めたタ
イミング位置又はより遅らせたタイミング位置に変更さ
せること、さらには複数回のリトライを行う場合は、各
リトライ動作時においてＰＬＬ引込を開始する所定タイ
ミング位置をそれぞれ異なるタイミング位置とすること
で、欠陥部分を避けられる確率を高くでき、ＰＬＬの引
込成功に導くことができる。

【００６５】また、このような動作をデータ領域内での
ＰＬＬ引込動作に適用することでデータ読出動作の信頼
性を向上させることができ、さらに同じくこのような動
作をアドレス領域内のＰＬＬ引込動作に適用することで
アドレス読出動作の信頼性を向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態の記録再生装置のブロック
図である。

【図２】実施の形態の記録再生装置に装填されるディス
クのセクターフォーマットの説明図である。

【図３】実施の形態のＰＬＬ引込動作の説明図である。

【図４】実施の形態のＰＬＬ引込動作のリトライ時の説
明図である。

【図５】実施の形態のＰＬＬ引込動作のリトライ時の説
明図である。

【図６】実施の形態のデータ読出処理のフローチャート
である。

【符号の説明】

１ホストコンピュータ、２ドライブコントローラ、
３ＣＰＵ、４レーザパワーコントロール部、５磁
気ヘッド、６ディスク、７光ピックアップ、８ア
ンプ、９スピンドルモータ、１０切替えスイッチ、
１１フィルタ部、１２Ａ／Ｄ変換器、１３ビタビ
復号器、１４ＰＬＬ部

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】記録媒体から読み出される信号に基づい
てＰＬＬをロックさせることでクロック信号を生成し、
前記クロック信号に基づいて再生系の動作を行う再生装
置において、記録媒体上のＰＬＬ引込領域内における所定タイミング
位置からＰＬＬ引込動作を開始させる引込動作制御手段
と、前記引込動作制御手段によって開始されたＰＬＬ引込動
作においてＰＬＬがロックできなかった場合に、前記引
込動作制御手段に前記所定タイミング位置を変更させて
再度ＰＬＬ引込動作を開始させるリトライ制御手段と、を備えたことを特徴とする再生装置。
【請求項２】前記リトライ制御手段は、前記所定タイ
ミング位置を、より早めたタイミング位置に変更させる
ことを特徴とする請求項１に記載の再生装置。
【請求項３】前記リトライ制御手段は、前記所定タイ
ミング位置を、より遅らせたタイミング位置に変更させ
ることを特徴とする請求項１に記載の再生装置。
【請求項４】前記リトライ制御手段は、ＰＬＬのロッ
クができなかった場合に前記引込動作制御手段によって
再度ＰＬＬ引込動作を実行させるリトライ動作として、
複数回のリトライ動作を実行制御可能とされているとと
もに、各リトライ動作時には、前記所定タイミング位置
をそれぞれ異なるタイミング位置に変更させることを特
徴とする請求項１に記載の再生装置。
【請求項５】前記記録媒体は、セクターデータのフォ
ーマットとして、少なくともアドレス領域とデータ領域
を有するものとされているとともに、前記リトライ制御手段は、前記引込動作制御手段により
前記データ領域内のＰＬＬ引込領域内における所定タイ
ミング位置から開始されたＰＬＬ引込動作においてＰＬ
Ｌのロックができなかった場合に、前記所定タイミング
位置を変更させて再度ＰＬＬ引込動作を開始させること
を特徴とする請求項１に記載の再生装置。
【請求項６】前記記録媒体は、セクターデータのフォ
ーマットとして、少なくともアドレス領域とデータ領域
を有するものとされているとともに、前記リトライ制御手段は、前記引込動作制御手段により
前記アドレス領域内のＰＬＬ引込領域内における所定タ
イミング位置から開始されたＰＬＬ引込動作においてＰ
ＬＬのロックができなかった場合に、前記所定タイミン
グ位置を変更させて再度ＰＬＬ引込動作を開始させるこ
とを特徴とする請求項１に記載の再生装置。