JPH11329676A - セラミックスと金属の接合体及びこれを用いたセラミックヒータ、ならびにその製造方法 - Google Patents
セラミックスと金属の接合体及びこれを用いたセラミックヒータ、ならびにその製造方法Info
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- JPH11329676A JPH11329676A JP13201098A JP13201098A JPH11329676A JP H11329676 A JPH11329676 A JP H11329676A JP 13201098 A JP13201098 A JP 13201098A JP 13201098 A JP13201098 A JP 13201098A JP H11329676 A JPH11329676 A JP H11329676A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】セラミックスと金属の接合体において、熱膨張
の差で生じる残留応力による接合強度の低下を防止す
る。 【解決手段】窒化物系セラミックスの表面に、Vの化合
物を含むメタライズ層と、その上にNi及び/又はNi
の化合物を主成分とした気孔率5〜20%の金属層を備
え、この上にロウ材を介して金属部材を接合する。
の差で生じる残留応力による接合強度の低下を防止す
る。 【解決手段】窒化物系セラミックスの表面に、Vの化合
物を含むメタライズ層と、その上にNi及び/又はNi
の化合物を主成分とした気孔率5〜20%の金属層を備
え、この上にロウ材を介して金属部材を接合する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はセラミックと金属の
接合体及びこれを用いたセラミックヒータに関し、特に
セラミックと金属を接合する際に有用な金属層を、セラ
ミック表面のメタライズと同時に形成する方法に関する
ものである。
接合体及びこれを用いたセラミックヒータに関し、特に
セラミックと金属を接合する際に有用な金属層を、セラ
ミック表面のメタライズと同時に形成する方法に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】従来、セラミックスと金属を接合するに
は、セラミックス表面をMo−Mn法でメタライズ(金
属化)し、さらにNiメッキを施したのち、銀ロウ材で
金属とロウ接する方法や、活性金属法などが広く一般的
に利用されている。
は、セラミックス表面をMo−Mn法でメタライズ(金
属化)し、さらにNiメッキを施したのち、銀ロウ材で
金属とロウ接する方法や、活性金属法などが広く一般的
に利用されている。
【0003】しかし、先のMo−Mn法はアルミナ等の
酸化物系セラミックスには広く採用されているが、窒化
珪素セラミックス等の非酸化物系セラミックスへの適用
は困難である。また、活性金属法はメタライズとロウ接
とを同時に行うために、銀ロウ中に活性金属であるTi
を含有させたAg- Cu- Ti系、Ag−Cu- In-
Ti系などのロウ材を使用してセラミックと直接反応さ
せて接合するなど改善が見られるが、十分な強度を有
し、耐酸化性、耐熱性に優れた接合体は得られていない
のが現状である。
酸化物系セラミックスには広く採用されているが、窒化
珪素セラミックス等の非酸化物系セラミックスへの適用
は困難である。また、活性金属法はメタライズとロウ接
とを同時に行うために、銀ロウ中に活性金属であるTi
を含有させたAg- Cu- Ti系、Ag−Cu- In-
Ti系などのロウ材を使用してセラミックと直接反応さ
せて接合するなど改善が見られるが、十分な強度を有
し、耐酸化性、耐熱性に優れた接合体は得られていない
のが現状である。
【0004】通常セラミックスと金属を加熱接合する場
合、両者の熱膨張差により冷却過程で接合部の付近に残
留応力が働き、接合体の接合強度の低下やセラミックス
に割れ等が発生する。そこで、この残留応力を低減する
ため、両者の間にMo、W、Fe- Ni- Co合金等の
低熱膨張金属を挿入して接合したり、Ni、銅、アルミ
ニウム等の軟質金属板を挟み込んで接合するようにして
いる。
合、両者の熱膨張差により冷却過程で接合部の付近に残
留応力が働き、接合体の接合強度の低下やセラミックス
に割れ等が発生する。そこで、この残留応力を低減する
ため、両者の間にMo、W、Fe- Ni- Co合金等の
低熱膨張金属を挿入して接合したり、Ni、銅、アルミ
ニウム等の軟質金属板を挟み込んで接合するようにして
いる。
【0005】これらの軟質金属のなかで、銅は耐力が低
いため応力がかかる接合体に使用すると銅の部分が変形
してしまう。アルミニウムも同様であり、さらに融点が
低いために高温で使用する接合体には使用できない。一
方、Niは耐力があり、耐酸化性、耐熱性の面で優れた
特性を持っているので、セラミックスと金属の接合用の
緩衝材として適している。しかし、熱膨張の小さい高純
度な窒化物系セラミックスと接合される金属の間に単純
にNi板を挿入しても、両者(Ni板とセラミックス)
の熱膨張差により冷却過程での残留応力が大きく影響
し、セラミックスに割れが発生してしまうため、高い接
合強度を有する接合体は得られない。
いため応力がかかる接合体に使用すると銅の部分が変形
してしまう。アルミニウムも同様であり、さらに融点が
低いために高温で使用する接合体には使用できない。一
方、Niは耐力があり、耐酸化性、耐熱性の面で優れた
特性を持っているので、セラミックスと金属の接合用の
緩衝材として適している。しかし、熱膨張の小さい高純
度な窒化物系セラミックスと接合される金属の間に単純
にNi板を挿入しても、両者(Ni板とセラミックス)
の熱膨張差により冷却過程での残留応力が大きく影響
し、セラミックスに割れが発生してしまうため、高い接
合強度を有する接合体は得られない。
【0006】前述したように活性金属法によるメタライ
ズでは、Ag- Cu系のロウ材中に活性金属としてTi
を使用したものが多い。ここで、このAg- Cu- Ti
系ロウ材と窒化物系セラミックス(ここでは窒化珪素質
セラミックス)と金属板の3種類の物質の接合を例にそ
の接合メカニズムと実際の問題点について考えてみる。
ズでは、Ag- Cu系のロウ材中に活性金属としてTi
を使用したものが多い。ここで、このAg- Cu- Ti
系ロウ材と窒化物系セラミックス(ここでは窒化珪素質
セラミックス)と金属板の3種類の物質の接合を例にそ
の接合メカニズムと実際の問題点について考えてみる。
【0007】図3に示すようにAg- Cu- Ti系ロウ
材2と窒化珪素を主成分とするセラミックス4との界面
にはTiN及びTi5 Si3 の反応層によるメタライズ
層3が生成され、この層の形成によりAg- Cu- Ti
系ロウ材と接していた窒化珪素質セラミックスの表面は
メタライズ(金属化)されるものと考えられる。
材2と窒化珪素を主成分とするセラミックス4との界面
にはTiN及びTi5 Si3 の反応層によるメタライズ
層3が生成され、この層の形成によりAg- Cu- Ti
系ロウ材と接していた窒化珪素質セラミックスの表面は
メタライズ(金属化)されるものと考えられる。
【0008】このTiN及びTi5 Si3 のメタライズ
層3の上にAg- Cu合金のロウ材2が流れ、さらにこ
のロウ材2と金属部材1とがロウ付けされることにより
3種類の物質の接合体が得られる。
層3の上にAg- Cu合金のロウ材2が流れ、さらにこ
のロウ材2と金属部材1とがロウ付けされることにより
3種類の物質の接合体が得られる。
【0009】しかし、加熱接合される金属とセラミック
との熱膨張の差が大きいと冷却過程で接合部付近に残留
応力が発生する。この場合に、接合される金属板がNi
板であっても、窒化珪素セラミックとNi板の熱膨張の
差で生じる残留応力がロウ材中あるいはセラミック表面
に働き、接合体の接合強度の低下やセラミックの割れが
問題となる。
との熱膨張の差が大きいと冷却過程で接合部付近に残留
応力が発生する。この場合に、接合される金属板がNi
板であっても、窒化珪素セラミックとNi板の熱膨張の
差で生じる残留応力がロウ材中あるいはセラミック表面
に働き、接合体の接合強度の低下やセラミックの割れが
問題となる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上記のようにNiはセ
ラミックスと金属の接合に使用する緩衝材として優れた
特性を有するが、Ni板そのままでは十分に満足できる
緩衝材とは言えない。それは、先に述べたセラミックス
とNi板との熱膨張の差で生じる残留応力がロウ材中あ
るいはセラミックス表面に働き、接合体の接合強度の低
下やセラミックスの割れにより接合強度がばらつくから
である。
ラミックスと金属の接合に使用する緩衝材として優れた
特性を有するが、Ni板そのままでは十分に満足できる
緩衝材とは言えない。それは、先に述べたセラミックス
とNi板との熱膨張の差で生じる残留応力がロウ材中あ
るいはセラミックス表面に働き、接合体の接合強度の低
下やセラミックスの割れにより接合強度がばらつくから
である。
【0011】また、その他の軟質金属(たとえば銅な
ど)は耐熱性や耐食性に問題があり、十分に満足できる
緩衝材、緩衝層とはならない。
ど)は耐熱性や耐食性に問題があり、十分に満足できる
緩衝材、緩衝層とはならない。
【0012】
【目的】本発明は、セラミックスと金属とを高強度でか
つ安定した接合を行うために必要な緩衝層の形成方法、
およびその緩衝層を有する金属とセラミックスの接合体
を提供するものである。
つ安定した接合を行うために必要な緩衝層の形成方法、
およびその緩衝層を有する金属とセラミックスの接合体
を提供するものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明はセラミックスと
金属との接合において、両者の熱膨張差で生じる残留応
力を吸収・緩和するために、窒化物系セラミックスの表
面に、窒化バナジウム、炭化バナジウムなどのVの化合
物を含むメタライズ面と、その上にNi及び/又はNi
の化合物(珪化ニッケルなど)を主成分とした気孔率5
〜20%の金属層を備え、該金属層上に金属部材を接合
してなる金属とセラミックスの接合体を特徴とする。
金属との接合において、両者の熱膨張差で生じる残留応
力を吸収・緩和するために、窒化物系セラミックスの表
面に、窒化バナジウム、炭化バナジウムなどのVの化合
物を含むメタライズ面と、その上にNi及び/又はNi
の化合物(珪化ニッケルなど)を主成分とした気孔率5
〜20%の金属層を備え、該金属層上に金属部材を接合
してなる金属とセラミックスの接合体を特徴とする。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明の具体的な実施例を図1を
用いて説明する。
用いて説明する。
【0015】図1は、窒化珪素(Si3 N4 )を主成分
とする円柱状のセラミックス4とNi線やFe-Ni-Co合金
等からなる金具の金属部材1を接合したものである。こ
の接合構造は、セラミックス4の表面にVの化合物を含
むメタライズ層3を備え、その上に気孔を有する金属層
5を形成し、該金属層5上にロウ材2によって金属部材
1を接合したものである。
とする円柱状のセラミックス4とNi線やFe-Ni-Co合金
等からなる金具の金属部材1を接合したものである。こ
の接合構造は、セラミックス4の表面にVの化合物を含
むメタライズ層3を備え、その上に気孔を有する金属層
5を形成し、該金属層5上にロウ材2によって金属部材
1を接合したものである。
【0016】このような接合構造を得るためには、活性
金属としてV(バナジウム)を1〜30重量%、好まし
くは2〜10重量%含み、残部がNi金属微粉からな
り、さらに有機バインダーを含む混合物を用意し、この
混合物をセラミックス4上に塗布し、真空雰囲気中で約
1050℃まで加熱して15分間保持する。なお、この
処理温度は1000〜1200℃が最適であり、これ以
上の温度ではNi微粉末が溶融して有効な気孔を有する
金属層5が得られず、これ以下の低い温度では後で述べ
る反応が十分に起きずにメタライズすら出来ない。
金属としてV(バナジウム)を1〜30重量%、好まし
くは2〜10重量%含み、残部がNi金属微粉からな
り、さらに有機バインダーを含む混合物を用意し、この
混合物をセラミックス4上に塗布し、真空雰囲気中で約
1050℃まで加熱して15分間保持する。なお、この
処理温度は1000〜1200℃が最適であり、これ以
上の温度ではNi微粉末が溶融して有効な気孔を有する
金属層5が得られず、これ以下の低い温度では後で述べ
る反応が十分に起きずにメタライズすら出来ない。
【0017】その結果、セラミックス4の表面に塗布し
た前述の混合物は、光沢のない銀色の金属層5及びセラ
ミックス4との界面のメタライズ層3として得られた。
この金属層5と、接合される金属部材1との間にロウ材
2(例えばAg- Cu系、Au- Cu系など)を添加し
加熱ロウ付けすることにより、緩衝材を間に挟んだ構造
のセラミックスと金属の接合体が得られる。
た前述の混合物は、光沢のない銀色の金属層5及びセラ
ミックス4との界面のメタライズ層3として得られた。
この金属層5と、接合される金属部材1との間にロウ材
2(例えばAg- Cu系、Au- Cu系など)を添加し
加熱ロウ付けすることにより、緩衝材を間に挟んだ構造
のセラミックスと金属の接合体が得られる。
【0018】この接合体の接合部の破断強度は、4点曲
げ試験強度で380MPaと高い接合強度が得られた。
この時の破断は、セラミックス4との界面のメタライズ
層3を一部含む気孔を有する金属層5の内部で起きた。
比較のため金属層5なしで接合を行った場合は、一部接
合界面を含むセラミックス4の内部で破断し、その強度
は210MPaと低いものであった。
げ試験強度で380MPaと高い接合強度が得られた。
この時の破断は、セラミックス4との界面のメタライズ
層3を一部含む気孔を有する金属層5の内部で起きた。
比較のため金属層5なしで接合を行った場合は、一部接
合界面を含むセラミックス4の内部で破断し、その強度
は210MPaと低いものであった。
【0019】前記のセラミックス4の表面に得られた光
沢のない銀色の金属層5の断面をSEM(走査電子顕微
鏡)で観察し、断面及び表面をXRD(X線回折)で結
晶構造分析を行ったところ、セラミックス4の表面に窒
化バナジウム(VN)等のV化合物や珪化ニッケル(N
iSiなど)等を含むメタライズ層3が形成され、さら
にそのメタライズ層3上に気孔を有する金属層5が形成
されている事が確認できた。
沢のない銀色の金属層5の断面をSEM(走査電子顕微
鏡)で観察し、断面及び表面をXRD(X線回折)で結
晶構造分析を行ったところ、セラミックス4の表面に窒
化バナジウム(VN)等のV化合物や珪化ニッケル(N
iSiなど)等を含むメタライズ層3が形成され、さら
にそのメタライズ層3上に気孔を有する金属層5が形成
されている事が確認できた。
【0020】この結果から、セラミックス4の表面に塗
布した活性金属V粉末とNi粉末からなる混合物が真空
雰囲気中で加熱されることにより、最初セラミックス4
の表面と接していた反応性の強い活性金属Vが窒化珪素
(Si3 N4 )と反応して珪化バナジウム(V3 S
i5 、VSi3 )および窒化バナジウム(VN)とな
り、その反応の際に発生したフリーなSiとNi粉末と
が反応して低融点の珪化ニッケル(NiSiなど)が生
成され、この低融点の珪化ニッケルを液相として上記の
反応がさらに進み、結果として活性金属Vはセラミック
ス4表面に集まり、珪化バナジウムおよび窒化バナジウ
ムから成る緻密なメタライズ層3と、そのメタライズ層
3面上には珪化ニッケルに包まれたNi粒子による金属
層5が形成されると考えられる。
布した活性金属V粉末とNi粉末からなる混合物が真空
雰囲気中で加熱されることにより、最初セラミックス4
の表面と接していた反応性の強い活性金属Vが窒化珪素
(Si3 N4 )と反応して珪化バナジウム(V3 S
i5 、VSi3 )および窒化バナジウム(VN)とな
り、その反応の際に発生したフリーなSiとNi粉末と
が反応して低融点の珪化ニッケル(NiSiなど)が生
成され、この低融点の珪化ニッケルを液相として上記の
反応がさらに進み、結果として活性金属Vはセラミック
ス4表面に集まり、珪化バナジウムおよび窒化バナジウ
ムから成る緻密なメタライズ層3と、そのメタライズ層
3面上には珪化ニッケルに包まれたNi粒子による金属
層5が形成されると考えられる。
【0021】またこの珪化ニッケルとNiを主成分にし
た金属層5は緻密ではなく気孔が含まれていることが分
かった。この気孔について先のSEM写真を画像解析し
たところ気孔の平均径はおよそ10μmで、気孔率5〜
20%であり、特に8〜16%の領域で4点曲げ強度が
高強度で安定することが分かった。
た金属層5は緻密ではなく気孔が含まれていることが分
かった。この気孔について先のSEM写真を画像解析し
たところ気孔の平均径はおよそ10μmで、気孔率5〜
20%であり、特に8〜16%の領域で4点曲げ強度が
高強度で安定することが分かった。
【0022】この反応は、最初に反応性の強い活性金属
Vが窒化珪素(Si3 N4 )と反応して珪化バナジウム
および窒化バナジウムとなることが必要であり、この反
応を十分に促進させるためには真空中での熱処理が有効
であることが分かった。これは反応性の強い活性金属V
が雰囲気中の物質(たとえば酸素、水素等)と先に反応
する事によってVの持つ反応性が弱まり、窒化珪素セラ
ミックスとの反応力が不足するためと考えられる。さら
に気孔率5〜20%を有するようにするためにも真空中
での熱処理温度が重要であり、前述したように処理温度
はNiの融点より低い1000〜1200℃が最適であ
り、これ以上の温度では珪化ニッケルを液層としてNi
微粉末が溶融して気孔率の低い金属層しか得られず、低
い温度では活性金属Vと珪化物セラミックとの反応が不
十分で満足にメタライズすら出来ない。
Vが窒化珪素(Si3 N4 )と反応して珪化バナジウム
および窒化バナジウムとなることが必要であり、この反
応を十分に促進させるためには真空中での熱処理が有効
であることが分かった。これは反応性の強い活性金属V
が雰囲気中の物質(たとえば酸素、水素等)と先に反応
する事によってVの持つ反応性が弱まり、窒化珪素セラ
ミックスとの反応力が不足するためと考えられる。さら
に気孔率5〜20%を有するようにするためにも真空中
での熱処理温度が重要であり、前述したように処理温度
はNiの融点より低い1000〜1200℃が最適であ
り、これ以上の温度では珪化ニッケルを液層としてNi
微粉末が溶融して気孔率の低い金属層しか得られず、低
い温度では活性金属Vと珪化物セラミックとの反応が不
十分で満足にメタライズすら出来ない。
【0023】そして、この気孔を有する金属層5がセラ
ミックス4と接合される金属部材1との間に存在するこ
とで、加熱接合時の熱膨張差による残留応力が吸収され
接合強度の高い安定した接合体を得ることができる。ま
たこの金属層5はNiおよび珪化ニッケルから成る反応
層であるため、耐熱性、耐酸化性ともに優れており高温
での使用も十分可能である。
ミックス4と接合される金属部材1との間に存在するこ
とで、加熱接合時の熱膨張差による残留応力が吸収され
接合強度の高い安定した接合体を得ることができる。ま
たこの金属層5はNiおよび珪化ニッケルから成る反応
層であるため、耐熱性、耐酸化性ともに優れており高温
での使用も十分可能である。
【0024】実際に、本発明の接合体を600℃酸化雰
囲気中に約200時間放置後、4点曲げ強度を測定して
も、接合直後の初期状態のものと大差ない高い値が得ら
れた。
囲気中に約200時間放置後、4点曲げ強度を測定して
も、接合直後の初期状態のものと大差ない高い値が得ら
れた。
【0025】なお、Niと珪化ニッケルを主成分とした
気孔率5〜20%の金属層5の気孔率は、以下のように
して測定する。
気孔率5〜20%の金属層5の気孔率は、以下のように
して測定する。
【0026】1.接合部を、ダイヤモンドカッターで切
断し、多孔質の金属層5が見えるようにする。
断し、多孔質の金属層5が見えるようにする。
【0027】2.切断面を、5%濃度の希硝酸溶液に3
0秒間浸漬して、研磨ダレを除去する。
0秒間浸漬して、研磨ダレを除去する。
【0028】3.上記処理済みの切断面について500
倍でSEM写真を撮影する。
倍でSEM写真を撮影する。
【0029】4.上記SEM写真をベースに、金属層5
の画像解析により、気孔率を測定する。
の画像解析により、気孔率を測定する。
【0030】気孔を有する金属層5の気孔率が5〜20
%が好ましい理由は、気孔率が5%未満だと、金属層5
の剛性が高く、応力緩和効果が期待できないからであ
る。また、気孔率を20%より大きくすると、気孔を有
する金属層5自体の強度が弱くなり、金属層5部分から
破壊してしまうからである。
%が好ましい理由は、気孔率が5%未満だと、金属層5
の剛性が高く、応力緩和効果が期待できないからであ
る。また、気孔率を20%より大きくすると、気孔を有
する金属層5自体の強度が弱くなり、金属層5部分から
破壊してしまうからである。
【0031】金属層5の厚みは、0.05〜0.50m
mであることが好ましい。厚みが0.05mm未満では
十分な応力緩和が期待できないからである。応力緩和層
としての金属層5の厚みの上限はないが、上限を0.5
0mmとするのは、ペーストを肉盛りする加工上の制約
を考慮したものである。
mであることが好ましい。厚みが0.05mm未満では
十分な応力緩和が期待できないからである。応力緩和層
としての金属層5の厚みの上限はないが、上限を0.5
0mmとするのは、ペーストを肉盛りする加工上の制約
を考慮したものである。
【0032】また、セラミックス4を窒化物系セラミッ
クスとしたのは、窒化珪素、窒化アルミニウム、および
窒化アルミニウムと窒化珪素の混合系もその範疇に含む
ことを意味する。好ましくは、高強度が期待できる窒化
珪素質セラミックとすることが望ましい。
クスとしたのは、窒化珪素、窒化アルミニウム、および
窒化アルミニウムと窒化珪素の混合系もその範疇に含む
ことを意味する。好ましくは、高強度が期待できる窒化
珪素質セラミックとすることが望ましい。
【0033】本発明のセラミックスと金属の接合体は、
セラミックヒータの電極取り出し部や、セラミックタペ
ットの金属とセラミックの接合部、セラミック製の半導
体パッケージの端子の接合部等に利用できる。
セラミックヒータの電極取り出し部や、セラミックタペ
ットの金属とセラミックの接合部、セラミック製の半導
体パッケージの端子の接合部等に利用できる。
【0034】例えば、セラミックヒータに適用した例を
図2に示す。
図2に示す。
【0035】図2に示すように、発熱抵抗体を埋設した
窒素化物系のセラミックス4の一部に、上記発熱抵抗体
の電極取り出し部を形成し、この部分において、上述し
たようなメタライズ層3と金属層5を形成して、ロウ材
2を用いて金属部材1としてリード線を接合することが
できる。
窒素化物系のセラミックス4の一部に、上記発熱抵抗体
の電極取り出し部を形成し、この部分において、上述し
たようなメタライズ層3と金属層5を形成して、ロウ材
2を用いて金属部材1としてリード線を接合することが
できる。
【0036】
【実施例】本発明のセラミックスと金属の接合体につい
て接合強度を評価する試験を行った。
て接合強度を評価する試験を行った。
【0037】まず、図4に示したようなテストサンプル
を作成した。同一形状の窒化珪素を主成分とする円柱状
のセラミックス4と、Niからなる円柱状の金属部材1
を準備し、それぞれの接合する端面を#600番の砥石
で研削仕上げする。その後、セラミックス4の接合面
に、微粉Ni96重量%と微粉V4重量%と若干の有機
系バインダー等を混合したペーストを0.20mm塗布
する。乾燥後、真空炉中1000〜1200℃で焼き付
ける。その後、得られた金属層5上にロウ材2を塗布
し、金属部材1を重ねて固定し、十分乾燥した後、真空
炉中でロウ付けしてテストサンプルを作成した。
を作成した。同一形状の窒化珪素を主成分とする円柱状
のセラミックス4と、Niからなる円柱状の金属部材1
を準備し、それぞれの接合する端面を#600番の砥石
で研削仕上げする。その後、セラミックス4の接合面
に、微粉Ni96重量%と微粉V4重量%と若干の有機
系バインダー等を混合したペーストを0.20mm塗布
する。乾燥後、真空炉中1000〜1200℃で焼き付
ける。その後、得られた金属層5上にロウ材2を塗布
し、金属部材1を重ねて固定し、十分乾燥した後、真空
炉中でロウ付けしてテストサンプルを作成した。
【0038】一方、比較例として、円柱状の窒化珪素を
主成分とするセラミックス4の接合面に直接Au−Ni
ロウを塗布した後、円柱状のNiからなる金属部材1を
重ねて固定し、充分乾燥した後真空炉でロウ付けしたも
のを用いた。
主成分とするセラミックス4の接合面に直接Au−Ni
ロウを塗布した後、円柱状のNiからなる金属部材1を
重ねて固定し、充分乾燥した後真空炉でロウ付けしたも
のを用いた。
【0039】各サンプルの金属層5の焼き付け温度と、
金属部材1のロウ付け温度は、表1中に表記した。ま
た、接合部のメタライズ強度は、4点曲げ強度で評価し
た。
金属部材1のロウ付け温度は、表1中に表記した。ま
た、接合部のメタライズ強度は、4点曲げ強度で評価し
た。
【0040】結果を表1、2に示すように、本発明の範
囲内で多孔質の金属層5を備えたものは曲げ強度が高く
接合強度が高いことがわかる。
囲内で多孔質の金属層5を備えたものは曲げ強度が高く
接合強度が高いことがわかる。
【0041】
【表1】
【0042】
【表2】
【0043】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、熱膨張の
差で生じる残留応力による接合強度の低下を防止し、耐
久性に優れたセラミックスと金属の接合体を提供でき
る。
差で生じる残留応力による接合強度の低下を防止し、耐
久性に優れたセラミックスと金属の接合体を提供でき
る。
【図1】本発明のセラミックスと金属の接合体の断面構
造を示した図である。
造を示した図である。
【図2】本発明のセラミックヒータを示す斜視図であ
る。
る。
【図3】従来のセラミックスと金属の接合体の断面構造
を示した図である。
を示した図である。
【図4】本発明のテストサンプルを示した図である。
1:金属部材 2:ロウ材 3:メタライズ層 4:セラミックス 5:金属層
Claims (4)
- 【請求項1】窒化物系セラミックスの表面に、窒化バナ
ジウム、炭化バナジウムなどのVの化合物を含むメタラ
イズ層と、その上にNi及び/又はNiの化合物を主成
分とした気孔率5〜20%の金属層を備え、該金属層に
金属部材を接合してなる金属とセラミックスの接合体。 - 【請求項2】窒化物系セラミックスの表面に、1〜30
重量%のVの微粉末とNiの微粉末と有機系バインダー
等を加えた混合物を塗布し、1×10-3torr以下の
真空雰囲気中で1000〜1200℃に加熱することに
よって、セラミックス表面に、窒化バナジウム、炭化バ
ナジウムなどのVの化合物を含むメタライズ層と、その
上に接するように、Ni及び/又はNiの化合物を主成
分とした気孔率5〜20%の金属層を同時に形成した
後、この金属層に金属部材を接合する工程からなる金属
とセラミックの接合体の製造方法。 - 【請求項3】窒化物系セラミックスの内部に発熱抵抗体
を埋設し、上記セラミックスの表面に、窒化バナジウ
ム、炭化バナジウムなどのVの化合物を含むメタライズ
層と、その上にNi及び/又はNiの化合物を主成分と
した気孔率5〜20%の金属層を備え、該金属層に金属
端子部を接合したことを特徴とするセラミックヒータ。 - 【請求項4】窒化物系セラミックスの表面に、1〜30
重量%のVの微粉末とNiの微粉末と有機系バインダー
等を加えた混合物を塗布し、1×10-3torr以下の
真空雰囲気中で1000〜1200℃に加熱することに
よって、セラミックス表面に窒化バナジウム、炭化バナ
ジウムなどのVの化合物を含むメタライズ層と、その上
に接するように、Ni及び/又はNiの化合物を主成分
とした気孔率5〜20%の金属層を同時に形成し、この
金属層に金属端子部を接合する工程からなるセラミック
ヒータの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13201098A JPH11329676A (ja) | 1998-05-14 | 1998-05-14 | セラミックスと金属の接合体及びこれを用いたセラミックヒータ、ならびにその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13201098A JPH11329676A (ja) | 1998-05-14 | 1998-05-14 | セラミックスと金属の接合体及びこれを用いたセラミックヒータ、ならびにその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11329676A true JPH11329676A (ja) | 1999-11-30 |
Family
ID=15071437
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13201098A Pending JPH11329676A (ja) | 1998-05-14 | 1998-05-14 | セラミックスと金属の接合体及びこれを用いたセラミックヒータ、ならびにその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11329676A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003223970A (ja) * | 2002-01-29 | 2003-08-08 | Kyocera Corp | ウエハ加熱装置 |
| US7947933B2 (en) | 2003-11-25 | 2011-05-24 | Kyocera Corporation | Ceramic heater and method for manufacture thereof |
| US20230335692A1 (en) * | 2020-12-25 | 2023-10-19 | Coorstek Kk | Silica member and led device |
-
1998
- 1998-05-14 JP JP13201098A patent/JPH11329676A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003223970A (ja) * | 2002-01-29 | 2003-08-08 | Kyocera Corp | ウエハ加熱装置 |
| US7947933B2 (en) | 2003-11-25 | 2011-05-24 | Kyocera Corporation | Ceramic heater and method for manufacture thereof |
| US20230335692A1 (en) * | 2020-12-25 | 2023-10-19 | Coorstek Kk | Silica member and led device |
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