JPH11330333A - 高耐圧ダイオードの製造方法 - Google Patents
高耐圧ダイオードの製造方法Info
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- JPH11330333A JPH11330333A JP10161258A JP16125898A JPH11330333A JP H11330333 A JPH11330333 A JP H11330333A JP 10161258 A JP10161258 A JP 10161258A JP 16125898 A JP16125898 A JP 16125898A JP H11330333 A JPH11330333 A JP H11330333A
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- lead frame
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
Landscapes
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
[課題]ばらばらに分離されたリード線を、整列して製
造する従来の製造方法は、生産性を高めるための大きな
障害であり、更にリード線が変形しやすいため、不良発
生も高かった、本発明はこれら従来製造方法上の問題を
解決することを課題としている。 [解決手段]本発明は、全てのリード線が一体に且つ高
精度で整列され形成されたリードフレームを用い、且つ
リードフレームのリード線の弾性を利用して積層高耐圧
ダイオードチッを挟持させて半田付けさせることによ
り、主要工程を整列されたリード線を利用できるように
した製造方法であり、従来の製造方法による問題点を解
決した製造方法である。
造する従来の製造方法は、生産性を高めるための大きな
障害であり、更にリード線が変形しやすいため、不良発
生も高かった、本発明はこれら従来製造方法上の問題を
解決することを課題としている。 [解決手段]本発明は、全てのリード線が一体に且つ高
精度で整列され形成されたリードフレームを用い、且つ
リードフレームのリード線の弾性を利用して積層高耐圧
ダイオードチッを挟持させて半田付けさせることによ
り、主要工程を整列されたリード線を利用できるように
した製造方法であり、従来の製造方法による問題点を解
決した製造方法である。
Description
【0001】[産業上の利用分野]本発明は、テレビジ
ョン、電子レンジ等10数キロボルトの高電圧回路に用
いる高耐圧ダイオードの製造方法に関する。
ョン、電子レンジ等10数キロボルトの高電圧回路に用
いる高耐圧ダイオードの製造方法に関する。
【0002】[従来の技術]従来の高耐圧ダイオード
は、一対の断面円形のリード線を突き合わせるように配
置し、両リード間に積層高耐圧ダイオードチップを半田
付けしモールドした構成であり、製造に当たっては、ば
らばらに切断されたリード線の整列が製造の主要各工程
で必要となり生産性を高めるための大きなネックとなっ
ている。[1図]は、これら従来の高耐圧ダイオードの
断面略図である。図において1は積層高耐圧ダイオード
チップ、2はリード線、3はモールド用樹脂更に3−1
はPN接合保護用のレジンである。図において一対のリ
ード線と積層高耐圧ダイオードチップは、4で半田付け
接続されている。かかる従来方法による高耐圧ダイオー
ドの代表的な製造方法の概略工程は[2図]のようにな
る。以下主要工程を示す断面略図によって従来の製造方
法を説明する。先ず[2図]Aに示すように、上下のリ
ード線を治具により整列せしめ、更に[2図]B、Cに
示すごとくコインの整列カウンターと同様の治具により
積層高耐圧ダイオードチップと重しが整列せしめられ
る。これらの図に於いて、5−1はリード線の整列治具
であり、5−2は積層高耐圧ダイオードチップの整列治
具、更に5−3は重しの整列治具更に6は重しである。
これらの治具が[2図]Dに示すごとく、下側リード線
整列治具、積層高耐圧ダイオードチップ整列治具、上側
リード線整列治具更に重し整列治具の順にガイドを介し
て整然と組合わされ、かかる状態でベルト炉によ全体的
に加熱されて、一対のリード線間に積層高耐圧ダイオー
ドチップが半田付け固定され、続いてこれら整列治具よ
り取り出される。[2図]Eは取り外した状態を示して
いる。続いて積層高耐圧ダイオードチップのPN接合表
面をエッチング・洗浄更に乾燥し、高耐圧ダイオードの
特性を望ましい状態としする。続いて治具上に整列しレ
ジンのディスペンサー装置に送り込みレジンコート続い
てレジンの乾燥を行う[2図]Fはレジンコートした状
態を示している。なお図において3−1はコーティング
されたレジンである。続いてモールド用治具に整列さ
せ、モールド金型にセットし、樹脂モールドを実施す
る。[2図]Gは治具よりの取り外し状態を示してい
る。続いて測定、マーキング工程と続き終了する。
は、一対の断面円形のリード線を突き合わせるように配
置し、両リード間に積層高耐圧ダイオードチップを半田
付けしモールドした構成であり、製造に当たっては、ば
らばらに切断されたリード線の整列が製造の主要各工程
で必要となり生産性を高めるための大きなネックとなっ
ている。[1図]は、これら従来の高耐圧ダイオードの
断面略図である。図において1は積層高耐圧ダイオード
チップ、2はリード線、3はモールド用樹脂更に3−1
はPN接合保護用のレジンである。図において一対のリ
ード線と積層高耐圧ダイオードチップは、4で半田付け
接続されている。かかる従来方法による高耐圧ダイオー
ドの代表的な製造方法の概略工程は[2図]のようにな
る。以下主要工程を示す断面略図によって従来の製造方
法を説明する。先ず[2図]Aに示すように、上下のリ
ード線を治具により整列せしめ、更に[2図]B、Cに
示すごとくコインの整列カウンターと同様の治具により
積層高耐圧ダイオードチップと重しが整列せしめられ
る。これらの図に於いて、5−1はリード線の整列治具
であり、5−2は積層高耐圧ダイオードチップの整列治
具、更に5−3は重しの整列治具更に6は重しである。
これらの治具が[2図]Dに示すごとく、下側リード線
整列治具、積層高耐圧ダイオードチップ整列治具、上側
リード線整列治具更に重し整列治具の順にガイドを介し
て整然と組合わされ、かかる状態でベルト炉によ全体的
に加熱されて、一対のリード線間に積層高耐圧ダイオー
ドチップが半田付け固定され、続いてこれら整列治具よ
り取り出される。[2図]Eは取り外した状態を示して
いる。続いて積層高耐圧ダイオードチップのPN接合表
面をエッチング・洗浄更に乾燥し、高耐圧ダイオードの
特性を望ましい状態としする。続いて治具上に整列しレ
ジンのディスペンサー装置に送り込みレジンコート続い
てレジンの乾燥を行う[2図]Fはレジンコートした状
態を示している。なお図において3−1はコーティング
されたレジンである。続いてモールド用治具に整列さ
せ、モールド金型にセットし、樹脂モールドを実施す
る。[2図]Gは治具よりの取り外し状態を示してい
る。続いて測定、マーキング工程と続き終了する。
【0003】[本発明が解決しようとする課題][2
図]において明らかなように、従来工程は、複雑な整列
工程が幾度となく繰り返される方法であり、特に変形い
わゆる曲がりやすいリード線を対象とする整列工程の連
続である、このため[2図]A、B、Cにおける部品整
列作業の困難さ、半田付け後の治具よりの取り出し、エ
ッチング・洗浄・乾燥工程更にはレジンコート、モール
ド各々の工程における半田接着部の破断事故、レジンコ
ート工程に於ける不必要箇所へのコーティング或いは逆
に積層高耐圧ダイオードチップ表面へのコーティング不
足、更にモールド工程に於ける金型からリード線のはみ
出しによるモールド不良、時には高価な金型の破損事故
等多くの不良発生及び治具や金型の損傷の問題を引き起
こしている。このためかかる従来の製造方法では、生産
性を高めることが極めて困難であるのみならず、不良発
生、治具・金型の維持管理の困難さ等多くの問題を抱え
ていた。本発明は、これら高耐圧ダイオード生産開始後
20数年にわたり継続されている製造方法を改善しよう
とするものである。
図]において明らかなように、従来工程は、複雑な整列
工程が幾度となく繰り返される方法であり、特に変形い
わゆる曲がりやすいリード線を対象とする整列工程の連
続である、このため[2図]A、B、Cにおける部品整
列作業の困難さ、半田付け後の治具よりの取り出し、エ
ッチング・洗浄・乾燥工程更にはレジンコート、モール
ド各々の工程における半田接着部の破断事故、レジンコ
ート工程に於ける不必要箇所へのコーティング或いは逆
に積層高耐圧ダイオードチップ表面へのコーティング不
足、更にモールド工程に於ける金型からリード線のはみ
出しによるモールド不良、時には高価な金型の破損事故
等多くの不良発生及び治具や金型の損傷の問題を引き起
こしている。このためかかる従来の製造方法では、生産
性を高めることが極めて困難であるのみならず、不良発
生、治具・金型の維持管理の困難さ等多くの問題を抱え
ていた。本発明は、これら高耐圧ダイオード生産開始後
20数年にわたり継続されている製造方法を改善しよう
とするものである。
【0004】[課題を解決する手段]本発明は、前項で
述べたように各々の工程でばらばらなリード線を整列す
るという困難な工程を有する従来の製造方法を、予め高
精度に配列されたリード線を有するリードフレームを使
用することにより、根本から改善した製造方法である。
しかし、高耐圧ダイオードの場合、従来のリードフレー
ムによる半導体デバイス組み立てのようにワイヤーボン
ディングはできない、このため本発明は、リードフレー
ムのリード線の弾性により積層高耐圧ダイオードチップ
を保持し、かかる状態で加熱し半田付けを実施すること
により、各の工程においてリードフレームの状態、即ち
高精度に配列された状態で、作業を行うようにし、極め
て高い生産性を達成し、更に前項で上げられた各種問題
を解決せしめた製造方法を提案したものである。
述べたように各々の工程でばらばらなリード線を整列す
るという困難な工程を有する従来の製造方法を、予め高
精度に配列されたリード線を有するリードフレームを使
用することにより、根本から改善した製造方法である。
しかし、高耐圧ダイオードの場合、従来のリードフレー
ムによる半導体デバイス組み立てのようにワイヤーボン
ディングはできない、このため本発明は、リードフレー
ムのリード線の弾性により積層高耐圧ダイオードチップ
を保持し、かかる状態で加熱し半田付けを実施すること
により、各の工程においてリードフレームの状態、即ち
高精度に配列された状態で、作業を行うようにし、極め
て高い生産性を達成し、更に前項で上げられた各種問題
を解決せしめた製造方法を提案したものである。
【0005】[実施例1]本発明による具体的実施例を
[3図]によって説明する。 [3図]は本発明による
高耐圧ダイオードの製造方法を段階的に示した主要工程
の平面略図である。[3図]Aは、本発明製造方法に好
適なリードフレームの一例を示しており、リードフレー
ムは7によって表示されている。櫛の歯状に設けられた
多数のリード線7−1を有している。かかるリードフレ
ームのリード線の間隔を広げて、一対のリード線間に積
層高耐圧ダイオードチップを挿入し、広げた間隔を元に
戻すと、リード線は弾性によって元の状態に戻り、[3
図]Bに示すように一対のリード線間に積層高耐圧ダイ
オードチップがリード線の弾性によって挟持された状態
となる。この状態で半田付け温度まで昇温すると、1対
のリード線の先端と積層高耐圧ダイオードチップの両端
とが半田付けされ固定される。続いてフレームのまま積
層高耐圧ダイオードチップ部をエッチング液に浸漬し、
積層高耐圧ダイオードチップ表面を処理して良好な電気
的特性を持つようにせしめる、[3図]Cはエッチング
状態を示している。。なお図において10はエッチング
液であり、硝酸・フッ化水素酸等の混合液が用いられ。
続いて[3図]Dに示すように前記積層高耐圧ダイオー
ドチップ表面にPN接合保護レジンをコートする。コー
ティング方法は、図のようにレジン9の中に浸漬する方
法、ディスペンサーによる1個1個のコーティング方法
更にはスプレーコーティング方法等が有効である。続い
て[3図]Eに示すように、積層高耐圧ダイオードチッ
プとそれに隣接するリード線とをモールド樹脂特にエポ
キシ等樹脂によりモールドする。図において3はモール
ド用樹脂である。なおモールド方法としては、トランス
ファーモールド、ポッティングモールド或いは粉体塗装
によるモールド特に流動浸漬等が有効である。続いて
[3図]Fに示すように、一対のリード線の一方を切断
し、一対のリード線間の電気的特性すなわちダイオード
特性を測定する。図で8はリード切断部である。かかる
状態であれば、工程スタート時と同様に正確に配列され
ており、更に電極としてのリード線は、アノードとカソ
ードが交互に配置されているので、電気的特性測定が容
易となる。続いてもう一方のリード線を切断することに
より、[3図]Gのように、高耐圧ダイオードが完成す
る。このとき切断前にマーキング等の工程も連続して実
施することも可能であり、一層の生産性の向上に役立つ
ものである。
[3図]によって説明する。 [3図]は本発明による
高耐圧ダイオードの製造方法を段階的に示した主要工程
の平面略図である。[3図]Aは、本発明製造方法に好
適なリードフレームの一例を示しており、リードフレー
ムは7によって表示されている。櫛の歯状に設けられた
多数のリード線7−1を有している。かかるリードフレ
ームのリード線の間隔を広げて、一対のリード線間に積
層高耐圧ダイオードチップを挿入し、広げた間隔を元に
戻すと、リード線は弾性によって元の状態に戻り、[3
図]Bに示すように一対のリード線間に積層高耐圧ダイ
オードチップがリード線の弾性によって挟持された状態
となる。この状態で半田付け温度まで昇温すると、1対
のリード線の先端と積層高耐圧ダイオードチップの両端
とが半田付けされ固定される。続いてフレームのまま積
層高耐圧ダイオードチップ部をエッチング液に浸漬し、
積層高耐圧ダイオードチップ表面を処理して良好な電気
的特性を持つようにせしめる、[3図]Cはエッチング
状態を示している。。なお図において10はエッチング
液であり、硝酸・フッ化水素酸等の混合液が用いられ。
続いて[3図]Dに示すように前記積層高耐圧ダイオー
ドチップ表面にPN接合保護レジンをコートする。コー
ティング方法は、図のようにレジン9の中に浸漬する方
法、ディスペンサーによる1個1個のコーティング方法
更にはスプレーコーティング方法等が有効である。続い
て[3図]Eに示すように、積層高耐圧ダイオードチッ
プとそれに隣接するリード線とをモールド樹脂特にエポ
キシ等樹脂によりモールドする。図において3はモール
ド用樹脂である。なおモールド方法としては、トランス
ファーモールド、ポッティングモールド或いは粉体塗装
によるモールド特に流動浸漬等が有効である。続いて
[3図]Fに示すように、一対のリード線の一方を切断
し、一対のリード線間の電気的特性すなわちダイオード
特性を測定する。図で8はリード切断部である。かかる
状態であれば、工程スタート時と同様に正確に配列され
ており、更に電極としてのリード線は、アノードとカソ
ードが交互に配置されているので、電気的特性測定が容
易となる。続いてもう一方のリード線を切断することに
より、[3図]Gのように、高耐圧ダイオードが完成す
る。このとき切断前にマーキング等の工程も連続して実
施することも可能であり、一層の生産性の向上に役立つ
ものである。
【0006】[実施例2]本発明製造方法の他の実施例
を[4図]によって説明する。本実施例は、前記実施例
において、本発明のポイントの一つであるリード線によ
り、積層高耐圧ダイオードチップを挟持させるに好適な
る治具に関する具体例である。使用するリードフレーム
7は、[4図]Aに示したものであり、7−1はリード
線である。[4図]Bによって、リードフレームをセッ
トした状態での積層高耐圧ダイオードチップのセット及
び挟持させるための治具及びその動作を説明する。図に
おいて11は治具本体であり、11−1は積層高耐圧ダ
イオードチップのセット部位、11−2は一対のリード
線7−1、7−1’を押し広げる機構である。当該治具
で作業する場合、先ず一対のリード線を押し広げ機構1
1−2によって広げ(図の矢印を双方とも外側に向かっ
て動作させ押し広げる)、かかる状態で積層高耐圧ダイ
オードチップをセット部位11−1にセットし、1フレ
ームに対する全てのチップがセットされた状態で、前記
押し広げる機構を解除し、一対のリード線7−1、7−
1’が、リード線自身の弾性によって内側に戻ることを
自由にすると、一対のリード線7−1、7−1’の先端
対向面7−2、7−2’が積層高耐圧ダイオードチップ
の側面を両サイドから弾性によって押圧し、積層高耐圧
ダイオードチップを挟持するようになる。勿論リード線
先端対向面7−2、7−2’間隔は、フレーム状態に於
いて積層高耐圧ダイオードチップの全長より小さく設計
することが必要である。なお積層高耐圧ダイオードチッ
プの整列方法は、パーツフィーダー、ロボットによる自
動整列方法、コイン整列カウンター方式の整列治具の併
用等が有効である。本実施例で明らかなように積層高耐
圧ダイオードチップをリード線の弾性による挟持は、極
めて容易に達成可能である。
を[4図]によって説明する。本実施例は、前記実施例
において、本発明のポイントの一つであるリード線によ
り、積層高耐圧ダイオードチップを挟持させるに好適な
る治具に関する具体例である。使用するリードフレーム
7は、[4図]Aに示したものであり、7−1はリード
線である。[4図]Bによって、リードフレームをセッ
トした状態での積層高耐圧ダイオードチップのセット及
び挟持させるための治具及びその動作を説明する。図に
おいて11は治具本体であり、11−1は積層高耐圧ダ
イオードチップのセット部位、11−2は一対のリード
線7−1、7−1’を押し広げる機構である。当該治具
で作業する場合、先ず一対のリード線を押し広げ機構1
1−2によって広げ(図の矢印を双方とも外側に向かっ
て動作させ押し広げる)、かかる状態で積層高耐圧ダイ
オードチップをセット部位11−1にセットし、1フレ
ームに対する全てのチップがセットされた状態で、前記
押し広げる機構を解除し、一対のリード線7−1、7−
1’が、リード線自身の弾性によって内側に戻ることを
自由にすると、一対のリード線7−1、7−1’の先端
対向面7−2、7−2’が積層高耐圧ダイオードチップ
の側面を両サイドから弾性によって押圧し、積層高耐圧
ダイオードチップを挟持するようになる。勿論リード線
先端対向面7−2、7−2’間隔は、フレーム状態に於
いて積層高耐圧ダイオードチップの全長より小さく設計
することが必要である。なお積層高耐圧ダイオードチッ
プの整列方法は、パーツフィーダー、ロボットによる自
動整列方法、コイン整列カウンター方式の整列治具の併
用等が有効である。本実施例で明らかなように積層高耐
圧ダイオードチップをリード線の弾性による挟持は、極
めて容易に達成可能である。
【0007】[実施例3]本発明にかかる他の実施例を
[5図]の断面斜視図によって作業の段階を追って説明
する。本実施例では、リードフレーム保持機構と積層高
耐圧ダイオードチップの整列・リード線幅広げ機構とを
分割した治具とした方法であり、量産に好適な製造法法
である。以下図によって詳細を説明する。[5図]A
は、一対の櫛歯状リード線を有するリードフレームを用
いた場合である。図において14はリードフレーム、当
該リードフレームはリードフレーム固定治具12−1及
び12−2によって固定されている。一方[5図]B
は、積層高耐圧ダイオードチップの整列機構とリード線
幅広げ機構を有する治具であり、図において13は治具
全体を示し、13−1は積層高耐圧ダイオードチップ整
列機構部、13−2は、リード線幅広げ機構部、13−
3はリードフレーム固定治具を所定位置に設定するため
のガイドピンある。又13−4はリード線幅広げ機構を
作動させるための高圧ガス導入口である。リードフレー
ムを固定した状態で治具を治具13上にセットし、高圧
ガスを導入してリード線幅広げ機構を作動させると、図
のように、フレームのリード線は上方に突き上げられ対
向するリード線間隔は実質的に拡大即ち幅が広げられ
る。かかる状態で、[5図]Dに示すように積層高耐圧
ダイオードチップ1を整列機構13−1にセットし、幅
広げ機構の動作を停止させる即ち13−4からの高圧ガ
ス導入を止めることにより、突き上げられていたリード
線は元の位置に戻り、積層高耐圧ダイオードチップを挟
持するようになる。かかる状態で治具全体或いは積層高
耐圧ダイオードチップと隣接するリード線部分を部分的
に加熱することによって、積層高耐圧ダイオードチップ
とリード線先端部は半田付けされる、半田付けによる必
要な半田は、積層高耐圧ダイオードチップの側面又はリ
ード線先端部或いはチップとリード線先端部の双方に予
め設けておくことは無論である。[5図]Eは半田付け
完了後、リードフレーム固定治具を取り外した状態を示
している。更に[5図]Fはモールドした状態を示して
おり、14−1と14−1’は、一対の対向するリード
線である。以上の説明でも明らかなように、本発明の製
造方法によれば、従来の製造方法に於ける最大の問題点
であるリード線の整列作業から解放される。これによっ
て生産性の大幅な向上と、インライン化等自動化が容易
となる。無論熟練した手作業は必要なくなるため、取り
扱いのトラブルが無くなり、不良率の大幅低減が可能と
なった。なお本方法によった場合加熱時リード線の熱膨
張によってリード線が長手方向に伸びるため、本方法の
場合は部分加熱が望ましい。
[5図]の断面斜視図によって作業の段階を追って説明
する。本実施例では、リードフレーム保持機構と積層高
耐圧ダイオードチップの整列・リード線幅広げ機構とを
分割した治具とした方法であり、量産に好適な製造法法
である。以下図によって詳細を説明する。[5図]A
は、一対の櫛歯状リード線を有するリードフレームを用
いた場合である。図において14はリードフレーム、当
該リードフレームはリードフレーム固定治具12−1及
び12−2によって固定されている。一方[5図]B
は、積層高耐圧ダイオードチップの整列機構とリード線
幅広げ機構を有する治具であり、図において13は治具
全体を示し、13−1は積層高耐圧ダイオードチップ整
列機構部、13−2は、リード線幅広げ機構部、13−
3はリードフレーム固定治具を所定位置に設定するため
のガイドピンある。又13−4はリード線幅広げ機構を
作動させるための高圧ガス導入口である。リードフレー
ムを固定した状態で治具を治具13上にセットし、高圧
ガスを導入してリード線幅広げ機構を作動させると、図
のように、フレームのリード線は上方に突き上げられ対
向するリード線間隔は実質的に拡大即ち幅が広げられ
る。かかる状態で、[5図]Dに示すように積層高耐圧
ダイオードチップ1を整列機構13−1にセットし、幅
広げ機構の動作を停止させる即ち13−4からの高圧ガ
ス導入を止めることにより、突き上げられていたリード
線は元の位置に戻り、積層高耐圧ダイオードチップを挟
持するようになる。かかる状態で治具全体或いは積層高
耐圧ダイオードチップと隣接するリード線部分を部分的
に加熱することによって、積層高耐圧ダイオードチップ
とリード線先端部は半田付けされる、半田付けによる必
要な半田は、積層高耐圧ダイオードチップの側面又はリ
ード線先端部或いはチップとリード線先端部の双方に予
め設けておくことは無論である。[5図]Eは半田付け
完了後、リードフレーム固定治具を取り外した状態を示
している。更に[5図]Fはモールドした状態を示して
おり、14−1と14−1’は、一対の対向するリード
線である。以上の説明でも明らかなように、本発明の製
造方法によれば、従来の製造方法に於ける最大の問題点
であるリード線の整列作業から解放される。これによっ
て生産性の大幅な向上と、インライン化等自動化が容易
となる。無論熟練した手作業は必要なくなるため、取り
扱いのトラブルが無くなり、不良率の大幅低減が可能と
なった。なお本方法によった場合加熱時リード線の熱膨
張によってリード線が長手方向に伸びるため、本方法の
場合は部分加熱が望ましい。
【0008】[実施例4]本発明に適用して好適なるリ
ードフレームを、[6図]によって説明する。[6図]
に於いて、Aは前記実施例で説明した方式のリードフレ
ームであり、Bは、積層高耐圧ダイオードチップとの接
触面即ち半田付け面を大きくするためリード先端部15
−1を屈曲変形させたリードフレーム15である、接触
面が大きいため半田付け強度が増す効果がある。更に
[6図]Cは半田付け時の加熱によるリード線の熱膨張
によるリード線の変形と作業の困難さを除去するため、
リード線根元部にリード線の熱による長手方向の膨張を
吸収するためのダンパー部分を設けたリードフレーム1
6であり、特に前記実施例3の方式に於いて極めて有効
である。図において16−1は、ダンパー部分で有り、
これは上記の熱による膨張を吸収する他に、半田付け時
に積層高耐圧ダイオードチップへの適度な押圧を持たせ
るためにも効果的である。なおこれらリードフレーム
は、[6図]BとCの組み合わせ等の変形も可能であ
る。
ードフレームを、[6図]によって説明する。[6図]
に於いて、Aは前記実施例で説明した方式のリードフレ
ームであり、Bは、積層高耐圧ダイオードチップとの接
触面即ち半田付け面を大きくするためリード先端部15
−1を屈曲変形させたリードフレーム15である、接触
面が大きいため半田付け強度が増す効果がある。更に
[6図]Cは半田付け時の加熱によるリード線の熱膨張
によるリード線の変形と作業の困難さを除去するため、
リード線根元部にリード線の熱による長手方向の膨張を
吸収するためのダンパー部分を設けたリードフレーム1
6であり、特に前記実施例3の方式に於いて極めて有効
である。図において16−1は、ダンパー部分で有り、
これは上記の熱による膨張を吸収する他に、半田付け時
に積層高耐圧ダイオードチップへの適度な押圧を持たせ
るためにも効果的である。なおこれらリードフレーム
は、[6図]BとCの組み合わせ等の変形も可能であ
る。
【0009】[実施例5]本発明の他の実施例を[7
図]によって説明する。本実施例は、櫛歯状リードフレ
ームを図のように並列に配置し固定して使用する製造方
法を概念的に説明する斜視図である(図では固定方法の
詳細は省略した)。スペーサー18は、積層高耐圧ダイ
オードチップの全長より薄くし、リード先端が適度な弾
性を持って積層高耐圧ダイオードチップを挟持し得るよ
うに設計してある。17はリードフレームであり、19
は積層高耐圧ダイオードチップの整列治具である。図で
整列治具上には積層高耐圧ダイオードチップ1が整列し
てある。[8図]は[7図]製造方法を実施するに好適
な、積層高耐圧ダイオードチップの挟持用治具の断面略
図である。[7図]のようにリードフレーム17及び積
層高耐圧ダイオードチップ1それぞれを整列或いは固定
した治具をセッティング治具21によって組み合わせ
る、セッティング治具には電磁石が取り付けてあり、ガ
イド20によって前記スペーサーを介して固定されたリ
ードフレームと積層高耐圧ダイオードチップが整列され
た治具がセットされる、図で明らかなようにリード線先
端の開きは電磁石によって調整される、このため積層高
耐圧ダイオードチップは、リード線先端部に容易に挟持
させることが可能となる。本発明では、以後の工程をス
ペーサーを有する治具20によって保持した状態で実施
することによって、エッチング・洗浄・乾燥更にはレジ
ンコート及び樹脂モールド工程において、当該治具を連
続使用することによって生産性を大幅に向上させること
が可能となる。なおリードフレームに関し、2枚の櫛歯
状リードフレームを使用したが、両サイドに櫛歯状リー
ドを持つリードフレームを屈曲して使用することも可能
である。
図]によって説明する。本実施例は、櫛歯状リードフレ
ームを図のように並列に配置し固定して使用する製造方
法を概念的に説明する斜視図である(図では固定方法の
詳細は省略した)。スペーサー18は、積層高耐圧ダイ
オードチップの全長より薄くし、リード先端が適度な弾
性を持って積層高耐圧ダイオードチップを挟持し得るよ
うに設計してある。17はリードフレームであり、19
は積層高耐圧ダイオードチップの整列治具である。図で
整列治具上には積層高耐圧ダイオードチップ1が整列し
てある。[8図]は[7図]製造方法を実施するに好適
な、積層高耐圧ダイオードチップの挟持用治具の断面略
図である。[7図]のようにリードフレーム17及び積
層高耐圧ダイオードチップ1それぞれを整列或いは固定
した治具をセッティング治具21によって組み合わせ
る、セッティング治具には電磁石が取り付けてあり、ガ
イド20によって前記スペーサーを介して固定されたリ
ードフレームと積層高耐圧ダイオードチップが整列され
た治具がセットされる、図で明らかなようにリード線先
端の開きは電磁石によって調整される、このため積層高
耐圧ダイオードチップは、リード線先端部に容易に挟持
させることが可能となる。本発明では、以後の工程をス
ペーサーを有する治具20によって保持した状態で実施
することによって、エッチング・洗浄・乾燥更にはレジ
ンコート及び樹脂モールド工程において、当該治具を連
続使用することによって生産性を大幅に向上させること
が可能となる。なおリードフレームに関し、2枚の櫛歯
状リードフレームを使用したが、両サイドに櫛歯状リー
ドを持つリードフレームを屈曲して使用することも可能
である。
【0010】[実施例6]本発明の製造方法に適用して
有効なリードフレームの他の構造を、[9図]に示し
た。[9図]に於いてリードフレームは、リード先端に
積層高耐圧ダイオードチップへの接続電極を設けた櫛歯
状のリードフレームを屈曲させて立体的に積層高耐圧ダ
イオードチップを挟持出来る構造としたものであり、前
記実施例と同様、高耐圧ダイオード製造の生産性向上に
有効である。図において22はリードフレーム本体、2
2−1は上部電極、22−2は下部電極である、上部と
下部電極は、リード線を22−3に於いて屈曲させるこ
とにより形成している。Aは平面図であり、Bはその側
面図である。更にC図は、[7図]の本発明にかかるリ
ードフレームの変形であり、[7図]では2枚の櫛歯状
リードフレームを使用したが、本実施例では、一体構成
のリードフレームを屈曲させたリードフレーム23であ
り、図において23−1と23−2は一体形成されたリ
ードフレームを、屈曲部23−3で屈曲させ対向するよ
うに形成された対向リードである。[7図]の実施例の
場合同様生産性向上に有効である。特に同一フレームで
あるため一対のリード線の相対位置関係が高い精度とな
るメリットがある。
有効なリードフレームの他の構造を、[9図]に示し
た。[9図]に於いてリードフレームは、リード先端に
積層高耐圧ダイオードチップへの接続電極を設けた櫛歯
状のリードフレームを屈曲させて立体的に積層高耐圧ダ
イオードチップを挟持出来る構造としたものであり、前
記実施例と同様、高耐圧ダイオード製造の生産性向上に
有効である。図において22はリードフレーム本体、2
2−1は上部電極、22−2は下部電極である、上部と
下部電極は、リード線を22−3に於いて屈曲させるこ
とにより形成している。Aは平面図であり、Bはその側
面図である。更にC図は、[7図]の本発明にかかるリ
ードフレームの変形であり、[7図]では2枚の櫛歯状
リードフレームを使用したが、本実施例では、一体構成
のリードフレームを屈曲させたリードフレーム23であ
り、図において23−1と23−2は一体形成されたリ
ードフレームを、屈曲部23−3で屈曲させ対向するよ
うに形成された対向リードである。[7図]の実施例の
場合同様生産性向上に有効である。特に同一フレームで
あるため一対のリード線の相対位置関係が高い精度とな
るメリットがある。
【0011】[発明の効果]高耐圧ダイオードの生産
を、一体構成のリードフレームを用いることによって従
来のように製造工程でのリード線1本1本の整列作業か
ら解放され、更に大幅な生産性の向上と、屈曲変形し易
いばらばらのリード線の取り扱いによって発生していた
不良率の大幅な低減が可能となった。
を、一体構成のリードフレームを用いることによって従
来のように製造工程でのリード線1本1本の整列作業か
ら解放され、更に大幅な生産性の向上と、屈曲変形し易
いばらばらのリード線の取り扱いによって発生していた
不良率の大幅な低減が可能となった。
【1図】従来の高耐圧ダイオードを説明する断面略図。
【2図】従来の高耐圧ダイオードの製造方法を説明す
る、主要工程の断面略図。
る、主要工程の断面略図。
【3図】本発明にかかる高耐圧ダイオードの製造方法を
説明する主要工程の平面略図。
説明する主要工程の平面略図。
【4図】本発明にかかる高耐圧ダイオードの製造方法を
説明するリードフレームの平面略図及び製造方法を説明
する斜視図。
説明するリードフレームの平面略図及び製造方法を説明
する斜視図。
【5図】本発明にかかる高耐圧ダイオードの製造方法を
説明する主要工程の断面略図。
説明する主要工程の断面略図。
【6図】本発明にかかる高耐圧ダイオードの製造方法を
説明するリードフレームの斜視図。
説明するリードフレームの斜視図。
【7図】本発明にかかる高耐圧ダイオードの製造方法を
説明する斜視図。
説明する斜視図。
【8図】本発明にかかる高耐圧ダイオードの製造方法を
説明する断面略図。
説明する断面略図。
【9図】本発明にかかる高耐圧ダイオードの製造方法を
説明するリードフレームの平面略図、側面略図及び斜視
図。
説明するリードフレームの平面略図、側面略図及び斜視
図。
1 積層高耐圧ダイオードチップ 2 リード線 3 モールド用樹脂 4 半田付 5−1、5−2、5−3 部品整列治具 7 リードフレーム 8 リード切断部 9 レジン 10 エッチング液 11 積層高耐圧ダイオードチップのセット及び挟持
用治具本体 12−1、12−2 リードフレーム保持用治具 13 リード線幅広げ機構を有する治具 14 リードフレーム 15、16、17 リードフレーム 18 スペーサー 19 積層高耐圧ダイオードチップの整列治具 20 ガイド 21 セッティング治具 22、23 リードフレーム
用治具本体 12−1、12−2 リードフレーム保持用治具 13 リード線幅広げ機構を有する治具 14 リードフレーム 15、16、17 リードフレーム 18 スペーサー 19 積層高耐圧ダイオードチップの整列治具 20 ガイド 21 セッティング治具 22、23 リードフレーム
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成10年8月14日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図面の簡単な説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【図面の簡単な説明】
【1図】従来の高耐圧ダイオードを説明する断面略図で
ある。
ある。
【2図】従来の高い耐圧ダイオードの製造法法を説明す
る、主要工程の断面略図である。
る、主要工程の断面略図である。
【3図】本発明にかかる高耐圧ダイオードの製造方法を
説明するため、リードフレーム7の加工段階毎に示した
平面略図である。
説明するため、リードフレーム7の加工段階毎に示した
平面略図である。
【4図】本発明にかかる高耐圧ダイオードの製造方法を
説明するリードフレーム7の平面略図Aと、当該リード
フレーム7を用いた製造におけるリードフレーム7と積
層高耐圧ダイオードチップ1とのセット状態を説明する
斜視図Bである。
説明するリードフレーム7の平面略図Aと、当該リード
フレーム7を用いた製造におけるリードフレーム7と積
層高耐圧ダイオードチップ1とのセット状態を説明する
斜視図Bである。
【5図】本発明にかかる高耐圧ダイオードの製造方法を
説明する主要工程の断面略図である。
説明する主要工程の断面略図である。
【6図】本発明の高耐圧ダイオードに用いて好適なる、
リードフレームの他の実施例を示す斜視図である。
リードフレームの他の実施例を示す斜視図である。
【7図】本発明にかかる高耐圧ダイオードの製造方法の
他の実施例を説明する斜視図である。
他の実施例を説明する斜視図である。
【8図】本発明にかかる高耐圧ダイオードの製造方法の
他の実施例を説明する断面略図である。
他の実施例を説明する断面略図である。
【9図】本発明にかかる高耐圧ダイオードに用いて好適
なる屈曲形成したリードフレームの実施例を、理解しや
すくするため平面図A、断面図B及び斜視図Cにより示
したものである。
なる屈曲形成したリードフレームの実施例を、理解しや
すくするため平面図A、断面図B及び斜視図Cにより示
したものである。
【符号の説明】 1 積層高耐圧ダイオードチップ 2 リード線 3 モールド用樹脂 4 半田接続 5−1、5−2、5−3 部品整列治具 7 リードフレーム 8 リード切断部 9 レジン 10 エッチング液 11 積層高耐圧ダイオードチップのセット及び挟持
用治具本体 12−1、12−2 リードフレーム保持用治具 13 リード線幅広げ機構を有する治具 14、15、16、17 リードフレームの4種の他
の実施例 18 スペーサー 19 積層高耐圧ダイオードチップの整列治具 20 ガイド 21 セッティング治具 22、23 屈曲構造のリードフレーム
用治具本体 12−1、12−2 リードフレーム保持用治具 13 リード線幅広げ機構を有する治具 14、15、16、17 リードフレームの4種の他
の実施例 18 スペーサー 19 積層高耐圧ダイオードチップの整列治具 20 ガイド 21 セッティング治具 22、23 屈曲構造のリードフレーム
【手続補正2】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【1図】
【2図】
【3図】
【4図】
【7図】
【8図】
【5図】
【6図】
【9図】
Claims (1)
- 【請求項1】一対の板状リードにより積層高耐圧ダイオ
ードチップを板状リードの弾性を利用して挟持し、かか
る状態で加熱処理し、前記一対の板状リードと前記積層
高耐圧ダイオードチップを半田付けににより電気的に接
続させる事を特徴とする高耐圧ダイオードの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10161258A JPH11330333A (ja) | 1998-05-07 | 1998-05-07 | 高耐圧ダイオードの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10161258A JPH11330333A (ja) | 1998-05-07 | 1998-05-07 | 高耐圧ダイオードの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11330333A true JPH11330333A (ja) | 1999-11-30 |
Family
ID=15731685
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10161258A Pending JPH11330333A (ja) | 1998-05-07 | 1998-05-07 | 高耐圧ダイオードの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11330333A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7352583B2 (en) | 2005-10-03 | 2008-04-01 | Remy Technologies, L.L.C. | Flexible lead for a pressfit diode bridge |
| CN113161269A (zh) * | 2021-05-13 | 2021-07-23 | 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂) | 一种u型玻钝表贴器件烧结夹具及使用方法 |
-
1998
- 1998-05-07 JP JP10161258A patent/JPH11330333A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7352583B2 (en) | 2005-10-03 | 2008-04-01 | Remy Technologies, L.L.C. | Flexible lead for a pressfit diode bridge |
| CN113161269A (zh) * | 2021-05-13 | 2021-07-23 | 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂) | 一种u型玻钝表贴器件烧结夹具及使用方法 |
| CN113161269B (zh) * | 2021-05-13 | 2024-11-12 | 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂) | 一种u型玻钝表贴器件烧结夹具及使用方法 |
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