JPH11340367A - 多層配線基板およびその製造方法 - Google Patents
多層配線基板およびその製造方法Info
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- JPH11340367A JPH11340367A JP10149381A JP14938198A JPH11340367A JP H11340367 A JPH11340367 A JP H11340367A JP 10149381 A JP10149381 A JP 10149381A JP 14938198 A JP14938198 A JP 14938198A JP H11340367 A JPH11340367 A JP H11340367A
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Abstract
可能であり、また、コネクタや金具類、電池等の部材を
接続したり、大電流を印加することも可能な種々の配線
回路層を備えた多層配線基板を提供する。 【解決手段】少なくとも熱硬化性樹脂を含む絶縁材料か
らなる絶縁層2a〜2dを積層してなる絶縁基板2と、
絶縁基板2の表面および/または内部に形成された配線
回路層3と、配線回路層3間を電気的に接続するための
ビアホール導体4を具備する多層配線基板1において、
少なくとも1つの絶縁層2a〜2d内に、金属箔等から
なる厚さの異なる複数の配線回路層3a〜3dを形成す
るとともに、それらの配線回路層3のうち、少なくとも
絶縁基板2表面に形成された配線回路層3a、3b、3
cは絶縁基板2表面に埋設し、その断面形状が埋設側の
辺が露出側の辺よりも長い略逆台形形状とする。
Description
る絶縁基板に対して複数層の配線回路層が形成され、半
導体素子搭載用基板等に適した多層配線基板および多層
配線基板の製造方法に関するものである。
が、近年携帯情報端末の発達や、コンピューターを持ち
運んで操作する、いわゆるモバイルコンピューティング
の普及によってさらに小型、薄型、軽量化が要求されて
いる。
ためには半導体の実装方法の変更が特に有効である。従
来から、ワイヤーボンディング法と呼ばれる金線やアル
ミニウム線を使用してシリコンチップと配線基板とを接
続する従来法に代えて、最近では、配線基板に直接シリ
コンチップを接続するフリップチップが多用されつつあ
り、これにより、半導体素子を搭載した配線基板の薄型
化が可能になるだけでなく、高周波信号を取扱う半導体
素子に対しても適した構造となるために、コンピュータ
の性能を大幅に向上させることができる。
て、セラミックスや熱硬化性樹脂を絶縁基板とし、メタ
ライズ配線回路層や、金属箔からなる配線回路層を形成
したものが知られ、最近では、高密度配線化のために、
配線回路層を多層に形成した、いわゆる多層配線基板が
多用されている。
性質を有することから、欠けや割れ等が発生しやすく、
また焼成による収縮によって変形や寸法のばらつきなど
のが発生しやすく、平坦度が要求されるフリップチップ
に十分に対応できないことから、熱硬化性樹脂を含有す
る絶縁基板を用いた高密度多層配線化が望まれている。
配線基板としては、一般には、銅箔などの金属箔を絶縁
基板上に貼り、次いで金属箔の不要部分をエッチング除
去して配線回路層が形成されており、さらには、配線基
板に貫通孔を形成し、その孔の内壁に金属メッキを施し
たスルーホール導体を形成することにより表裏間の配線
回路層を接続する構造が知られている。
行なうためには、実装される配線基板側の配線密度を高
めることが必要であるが、ICチップにおける配線は
0.2μm以下にまで微細となる一方、配線基板では未
だ50μm程度の配線が一般的であり、最近になって、
そのような高性能ICチップの性能向上に適合し得るた
めに、配線幅が50μm以下、特に30μm以下の線幅
の配線の形成が可能な多層配線基板の開発が現在、続け
られている。
どの金属箔によって形成する場合、用いる金属箔の厚み
が10μm以下と薄く、金属の結晶粒子が小さく、さら
にはマット面(絶縁層との接触側面)の表面粗さが小さ
いことが望まれる。これは、金属箔側面のエッチング
(サイドエッチング) をできるだけ小さくし、また、結
晶面によるエッチングの異方性の影響を無くし、さらに
は、前記接触側の表面粗さが大きいと突起部分が、金属
箔のエッチング時に十分に除去されず、回路の間に残留
することを防ぐためである。
薄く、且つ結晶粒径が小さく、さらにマット面(粗化
面) の表面粗さを小さくすると、必然的に金属箔の絶縁
層に対する接着強度が低くなる。このため、金属箔から
なる配線回路層の一部にコネクタなどの金具を取り付け
る場合、その取付部分において金属箔が絶縁層から剥が
れる等の問題が生じることから、このような金属箔は厚
いことが望まれる。
御系やバッテリーの制御系等において、大電流を流す場
合があり、このような回路においては、配線回路層の厚
みを厚くすることが必要とされる。
おいては、まず、絶縁基板の全面に一枚の銅箔を張り合
わせ、樹脂を硬化させた後にエッチングして配線回路層
を形成するために、絶縁基板の同一平面内において、単
一の金属箔の配線回路層しか形成できないために、上記
のような要求を満たすためには、配線回路層の機能に応
じて個別の配線基板を作製する必要があり、その結果、
全体としての回路基板が大型化してしまうという問題が
あった。
フリップチップ実装が可能であり、また、コネクタや金
具類、電池等の部材を接続したり、大電流を印加するこ
とも可能な種々の配線回路層を備えた多層配線基板を提
供することを目的とするものである。また、本発明は、
上記種々の配線回路層を容易に作製することのできる多
層配線基板の製造方法を提供することを目的とするもの
である。
度配線化と、配線回路層の絶縁層への密着性を高めるた
めの改善について検討を重ねた結果、複数層の配線回路
層を具備する多層配線基板において、同一平面内の配線
回路層に、厚さの異なる複数種の配線回路層を設けるこ
とにより、半導体素子のフリップチップ実装に適した配
線回路層や、コネクタなどの部材を接続した場合におい
ても優れた密着性を有する配線回路層、あるいは大電流
を流すこともできる配線回路層などを具備し、高密度に
回路設計が可能な配線基板が得られることを見いだし、
本発明に至った。
も熱硬化性樹脂を含む絶縁材料からなる絶縁層を積層し
てなる絶縁基板と、該絶縁基板の表面および/または内
部に形成された配線回路層と、前記配線回路層間を電気
的に接続するためのビアホール導体を具備する多層配線
基板において、少なくとも1層の絶縁層内に、厚さの異
なる複数の配線回路層が形成されてなることを特徴とす
るものである。
の異なる複数の配線回路層が、前記絶縁基板の表面およ
び/または前記絶縁基板の内部に形成されてなるもので
ある。
とが望ましく、また配線回路層の厚みは、半導体素子ま
たは半導体素子が収納されたパッケージが実装される配
線回路層は18μm以下、金具取り付け部、コネクタ取
り付け部、他の基板の金具との接触部となる配線回路層
が12μm以上、10A以上の大電流が印加される配線
回路層が35μm以上の厚さを有していることがそれぞ
れ望ましい。
前記配線回路層が、前記絶縁基板表面に埋設されている
とともに、配線回路層の断面形状が、埋設側の辺が露出
側の辺よりも長い略逆台形形状からなることが望まし
い。
法としては、複数の転写シートの表面に、それぞれ厚さ
の異なる複数の配線回路層を形成する工程と、少なくと
も熱硬化性樹脂を含む未硬化または半硬化状態の絶縁シ
ートの表面に、前記転写シートの配線回路層を順次、加
圧転写させる工程と、前記絶縁シートを前記熱硬化性樹
脂が完全硬化するに十分な温度で加熱する工程とを具備
することを特徴とするものであって、前記配線回路層が
金属箔からなることが望ましい。
トの表面の配線回路層が、転写シート全面に形成された
金属層をエッチング処理して断面形状が台形状を有し、
且つ表面が平均表面粗さ200nm以上に粗化処理され
てなることが望ましい。
図を図1に示した。図1によれば、本発明の多層配線基
板1は、少なくとも熱硬化性樹脂を含む絶縁材料からな
る絶縁層2a〜2dを積層してなる絶縁基板2の表面、
あるいはその内部に配線回路層3が被着形成されてい
る。また、絶縁基板2の内部には、異なる層の配線回路
層間を接続するためにビアホール導体4が設けられてい
る。
一平面内に形成された配線回路層3において、少なくと
も1つの同一平面内に、厚さの異なる複数の配線回路層
3a,3b、3c、3dが形成されてなることが大きな
特徴である。本発明によれば、この厚さの異なる複数の
配線回路層3a〜3dは、いずれも銅、銀、アルミニウ
ム等の金属又は金属箔、特に金属箔からなることが望ま
しい。
類の厚みの配線回路層3a,3b,3c、3d(厚みは
3a<3b<3c<3dの順)が形成されており、かか
る配線回路層3a〜3dは、その機能に応じて使い分け
られている。
子5をフリップチップ実装する配線回路層3としては、
厚みが薄く高密度配線パターン化されることが要求され
るために、最も厚みの薄い配線回路層3aによって形成
する。この半導体素子5または半導体素子5が収納され
たパッケージが実装される配線回路層3aの厚みは18
μm以下、特に12μm以下、最適には9〜12μmで
あることが望ましい。
子または半導体素子が収納されたパッケージとの接続に
必要な微細配線が得られないからである。
より取り付ける部分には、強度が要求されるために比較
的厚さの大きい配線回路層3cによって形成する。この
金具取り付け部、コネクタ取り付け部、他の基板の金具
との接触部となる配線回路層3cの厚みは12μm以
上、特に18μm以上の厚さを有していることが望まし
い。この厚みが12μmよりも薄いと、十分なピール強
度が得られないからである。
層の厚みは厚いことが要求され、例えば、絶縁基板2内
の配線回路層3においては、配線回路層3dによって形
成される。特に、10A以上の大電流が印加される配線
回路層3dの厚さは35μm以上、特に50μm以上で
あることが望ましい。但し、50μmよりも厚くなる場
合には、この配線回路層を積層によって絶縁基板2内部
に設けると、積層時の配線回路層の隅に空隙が形成され
る場合があり、積層不良を来す虞があるため、配線回路
層形成部の絶縁基板を一部切り取ることが望ましい。
る配線回路層以外の一般的な配線回路層は配線回路層3
bによって形成される。この一般的な配線回路層3bの
厚さは、15〜25μmが適当である。
に、絶縁基板2の表面に形成された配線回路層3a、3
b、3cは、その厚さに拘らず、いずれの配線回路層も
絶縁基板2の表面に埋設されており、その断面形状は、
図2に示すように、埋設側の辺w1が露出側の辺w2よ
りも長い略逆台形形状からなる。また、基板内部の配線
回路層も同様な断面形状からなることが望ましい。
の形成角θが45°〜80°、特に、50°〜75°の
鋭角を形成していることが望ましい。上記形成角θが8
0°より大きいと配線側面を粗化するのが困難となり絶
縁基板2と表面の配線回路層3の密着強度が低下する
他、後述の転写シート上の回路パターンをプリプレグに
圧着する際、埋設するのが難しくなり、45°より小さ
いと絶縁基板2と表面の配線回路層3との密着力が不足
する恐れがあるためである。
板表面に形成される配線回路層は、図2に示すように、
絶縁基板2と接触する面が、200nm以上、特に40
0nm以上の表面粗さ(Ra)に粗面化されていること
が望ましく、このように粗面化することにより絶縁基板
2と間のアンカーリングによって配線回路層3の絶縁基
板2への密着性を高めることができる。なお、上記表面
粗さが200nmより小さいと絶縁基板2と配線回路層
3との密着強度が不足する恐れがあり、特に、図1にお
いて、金具取り付け部、コネクタ取り付け部、他の基板
の金具との接触部となる配線回路層3cにおいては、金
具、コネクタ等の配線基板への取り付け信頼性を損ねる
虞がある。
いては、絶縁基板2は、少なくとも熱硬化性樹脂を含有
するものであるが、含有される熱硬化性樹脂としては、
絶縁材料としての電気的特性、耐熱性、および機械的強
度を有する熱硬化性樹脂であれば特に限定されるもので
なく、例えば、アラミド樹脂、フェノール樹脂、エポキ
シ樹脂、イミド樹脂、フッ素樹脂、フェニレンエーテル
樹脂、ビスマイレイドトリアジン樹脂、ユリア樹脂、メ
ラミン樹脂、シリコーン樹脂、ウレタン樹脂、不飽和ポ
リエステル樹脂、アリル樹脂等が、単独またはそれらの
2種以上の組み合わせ等によって構成される。
あるいは配線基板全体の強度を高めるために、前記有機
樹脂に対してフィラーを複合化させることもできる。有
機樹脂と複合化されるフィラーとしては、SiO2 、A
l2 O3 、ZrO2 、TiO2 、AlN、SiC、Ba
TiO3 、SrTiO3 、ゼオライト、CaTiO3、
ほう酸アルミニウム等の無機質フィラーが好適に用いら
れる。また、ガラスやアラミド樹脂からなる不織布、織
布などに上記樹脂を含浸させて用いてもよい。
0:70〜70:30の比率で複合化されるのが適当で
ある。
導体4は、銅粉末、銀粉末、銀被覆銅粉末、銅銀合金な
どの、平均粒径が0.5〜50μmの金属粉末を充填し
て形成されたものであることが望ましい。このような金
属粉末の充填によれば、後述する通り、ビアホール導体
を任意の層間に形成することができるために、高密度配
線化を図る上で非常に有効である。
ム、金、銀の群から選ばれる少なくとも1種、または2
種以上の合金からなることが望ましく、特に、銅、また
は銅を含む合金が最も望ましい。また、場合によって
は、導体組成物として回路の抵抗調整のためにNi−C
r合金などの高抵抗の金属を混合、または合金化しても
よい。
は、低抵抗化のために、前記低抵抗金属よりも低融点の
金属、例えば、半田、錫などの低融点金属を導体組成物
中の金属成分中に70重量%以下の割合で含んでもよ
い。
要に応じて、上記のようにして作製された配線基板の表
面に、さらに微細で高密度の配線回路層を形成すること
を目的として、例えば、この配線基板をコア基板とし、
その表面にビルドアップ法により感光性樹脂からなる絶
縁層と、メッキなどの薄膜形成法により形成された配線
回路層やビアホール導体を順次積層して、高密度の配線
基板を作製することもできる。
図面をもとに説明する。図3は、本発明の多層配線基板
の製造工程を説明するための図である。
うに、熱硬化性樹脂を含む未硬化または軟質(Bステー
ジ状態)の第1の絶縁シート11を作製する。また、こ
の絶縁シート11には、図3(b)に示すように、所望
により厚み方向に貫通するスルーホール12を形成し、
そのスルーホール内に前述したような金属粉末と、適宜
有機樹脂、ビヒクル等を添加し混合した導体ペーストを
スクリーン印刷や吸引処理しながら充填して、ビアホー
ル導体13を形成する。
箔を接着した転写シートを、フォトレジストなどの方法
で加工して、図3(c)に示すような、配線回路層15
aを表面に形成した転写シート16aを作製する。
ート11に配線回路層15aが対面するように転写シー
ト16aを積層し、圧力10〜500kg/cm2 程度
の圧力で印加して、絶縁シート11の表面に配線回路層
15aを埋設させた後、図3(e)に示すように、転写
シート16aを剥離することにより、配線回路層15a
を絶縁シート11に転写させる。
厚さt2 の金属箔を加工して、配線回路層15bを表面
に形成した転写シートを作製し、これを前記配線回路層
15aが形成された絶縁シート11に積層、圧力印加
後、転写シートを剥離して、絶縁シート11の表面に配
線回路層15bを転写させる。
応じ繰り返し、図3(f)に示すような絶縁シート11
の表面に、厚みの異なる複数種の配線回路層15a、1
5b、15cを形成することができる。
程と同様にして、また、必要に応じして厚さの異なる複
数種の配線回路層15a,15b,15cを形成した、
複数の絶縁シート17、18を積層圧着する。
化性樹脂が硬化するに十分な温度に加熱して一括して完
全硬化させることにより、本発明の多層配線基板を形成
することができる。
る熱硬化性樹脂を含有する絶縁シートは、前述した熱硬
化性有機樹脂、または熱硬化性有機樹脂とフィラーなど
の組成物を混練機や3本ロールなどの手段によって十分
に混合し、これを圧延法、押し出し法、射出法、ドクタ
ーブレード法などによってシート状に成形する。また、
所望により熱処理して熱硬化性樹脂を半硬化させる。半
硬化には、樹脂が完全硬化するに十分な温度よりもやや
低い温度に加熱する。
ホール)の形成は、ドリル、パンチング、サンドブラス
ト、あるいは炭酸ガスレーザ、YAGレーザ、及びエキ
シマレーザ等の照射による加工など公知の方法が採用さ
れる。これらの絶縁シートは、前述した種々の絶縁材料
の中でも、パンチング又はレーザーによる加工の容易性
の点から、エポキシ樹脂、イミド樹脂およびフェニレン
エーテル樹脂のうちの少なくとも1種と、シリカ、ガラ
ス繊維およびアラミド不織布のうちの少なくとも1種と
の複合体からなることが最も望ましい。
の表面に転写する配線回路層15a、15b,15cの
断面形状を前記図2に示したように所定の略台形形状と
することにより、配線回路層15を絶縁シート11表面
に圧接した際に、絶縁シート11における配線回路層1
5の周辺部の変形が抑制される結果、その圧力が配線回
路層15の略逆台形の横辺、底辺にわたって、絶縁シー
トと圧接される結果、配線回路層15の断面が矩形(長
方形)の場合に比較して、配線回路層15の絶縁シート
11への密着性を大幅に向上させることができる。
断面を前述したような略台形形状、特に形成角θが45
°〜80°の略台形形状とするには、例えば、転写シー
ト表面に張りつけた金属箔の表面に回路パターンのレジ
スト層を付設した後、エッチング法により非レジスト領
域をエッチング除去する際に、エッチング速度を2〜5
0μm/分にすればよい。
転写される配線回路層15の絶縁シート11側の表面粗
さを200nm以上とするには、転写シート表面に形成
された配線回路層15の表面を、例えばギ酸あるいはN
aClO2 、NaOH、Na3 PO4 の混合液等で表面
処理する。この表面粗さは、粗化速度で制御でき、1μ
m/分以上の粗化速度で良好に粗化できる。
ーテルを含浸して作製した100μmのプリプレグに、
炭酸ガスレーザーで直径0.1mmのビアホールを形成
し、そのホール内に銀をメッキした銅粉末(平均粒径6
μm)を含む銅ペーストを充填してビアホール導体を形
成した。
(PET)樹脂からなる転写シートの表面に接着剤を塗
布し、厚さ9μm、表面粗さ0.6μmの銅箔を一面に
接着した。そして、フォトレジスト(ドライフィルム)
を塗布し露光現像を行った後、これを塩化第二鉄溶液中
に浸漬して非パターン部をエッチング除去して配線回路
層を形成した。なお、作製した配線回路層は、線幅が2
0μm、配線と配線との間隔が20μmの微細なパター
ンである。
(PET)樹脂からなる別の転写シートの表面に接着剤
を塗布し、厚さ18μm、表面粗さ0.8μmの銅箔を
一面に接着した。そして、フォトレジスト(ドライフィ
ルム)を塗布し露光現像を行った後、これを塩化第二鉄
溶液中に浸漬して非パターン部をエッチング除去して配
線回路層を形成した。なお、作製した配線回路層は、線
幅が50μm、配線と配線との間隔が50μmのパター
ンである。
ト(PET)樹脂からなるさらに別の転写シートの表面
に接着剤を塗布し、厚さ50μm、表面粗さ1.2μm
の銅箔を一面に接着した。そして、フォトレジスト(ド
ライフィルム)を塗布し露光現像を行った後、これを塩
化第二鉄溶液中に浸漬して非パターン部をエッチング除
去して配線回路層を形成した。なお、作製した配線回路
層は、線幅が200μm、配線と配線との間隔が200
μmのパターンである。なお、上記配線回路層の形成に
あたっては、エッチング速度を40μm/分に設定し、
形成角θが65°〜75°の略台形形状となっているこ
とを確認した。
グに対して、(2)転写シートを、位置決めして30k
g/cm2 の圧力を加えて圧着した後、転写フィルムを
剥離して、配線回路層をプリプレグに転写し、同様に、
(3)(4)で作製した配線回路層を順次転写させた。
らなる配線回路層が形成されたプリプレグを中心に、そ
の上下面に(5)のようにして配線回路層が転写された
プリプレグを上下各2層づつ積層し30kg/cm2 の
圧力で圧着し、200℃で1時間加熱して完全硬化させ
て多層配線基板を作製した。
ける配線回路層やビアホール導体の形成付近を観察した
結果、ビアホール導体と配線回路層とは良好な接続状態
であり、各配線間の導通テストを行った結果、配線の断
線も認められなかった。得られた多層配線基板を湿度8
5%、温度85℃の高温多湿雰囲気に100時間放置し
たが、目視で判別できる程度の変化は生じていなかっ
た。
からなる配線回路層に対して、回路を1cm幅に加工し
てピール強度(引き剥がし強度)を測定した結果、1.
5kg/cm2 であり、高いピール強度を示した。
微細な回路形成、特にフリップチップ接続が可能なレベ
ルの微細な回路を形成可能な微細回路の形成が可能であ
り、かつ、コネクターや金具類、電池等大型の部品を接
続する部位に対して基板と銅箔との十分なピール強度を
確保しする多層配線基板を実現することを目的とするも
のである。さらに、本発明は、一部大電流が必要な回路
の形成も可能することができ、これにより高密度、高精
細、且つ多機能の配線基板を容易に形成できる。
面図である。
めの図である。
Claims (12)
- 【請求項1】少なくとも熱硬化性樹脂を含む絶縁材料か
らなる絶縁層を積層してなる絶縁基板と、該絶縁基板の
表面および/または内部に形成された配線回路層と、前
記配線回路層間を電気的に接続するためのビアホール導
体を具備する多層配線基板において、少なくとも1層の
絶縁層内に、厚さの異なる配線回路層が形成されてなる
ことを特徴とする多層配線基板。 - 【請求項2】前記厚さの異なる複数の配線回路層が、前
記絶縁基板の表面に形成されてなる請求項1記載の多層
配線基板。 - 【請求項3】前記厚さの異なる複数の配線回路層が、前
記絶縁基板の内部に形成されてなる請求項1記載の多層
配線基板。 - 【請求項4】前記配線回路層が金属箔からなる請求項1
記載の多層配線基板。 - 【請求項5】前記配線回路層のうち、半導体素子または
半導体素子が収納されたパッケージが実装される配線回
路層が18μm以下の厚さを有していることを特徴とす
る請求項1記載の多層配線基板。 - 【請求項6】前記配線回路層のうち、金具取り付け部、
コネクタ取り付け部、他の基板の金具との接触部となる
配線回路層が12μm以上の厚さを有していることを特
徴とする請求項1記載の多層配線基板。 - 【請求項7】前記配線回路層のうち、10A以上の大電
流が印加される配線回路層が35μm以上の厚さを有し
ていることを特徴とする請求項1記載の多層配線基板。 - 【請求項8】前記配線回路層のうち、前記絶縁基板表面
に形成された配線回路層が前記絶縁基板表面に埋設され
ており、その断面形状が、埋設側の辺が露出側の辺より
も長い略逆台形形状からなる請求項1記載の多層配線基
板。 - 【請求項9】前記ビアホール導体が、少なくとも金属粉
末の充填によって形成されてなることを特徴とする請求
項1記載の多層配線基板。 - 【請求項10】複数の転写シートの表面に、それぞれ厚
さの異なる複数の配線回路層を形成する工程と、少なく
とも熱硬化性樹脂を含む未硬化または半硬化状態の絶縁
シートの表面に、前記転写シートの配線回路層を順次、
加圧転写させる工程と、前記絶縁シートを前記熱硬化性
樹脂が完全硬化するに十分な温度で加熱する工程とを具
備することを特徴とする多層配線基板の製造方法。 - 【請求項11】前記配線回路層が金属箔からなる請求項
10記載の多層配線基板の製造方法。 - 【請求項12】前記転写シートの表面の配線回路層が、
転写シート全面に形成された金属層をエッチング処理し
て断面形状が台形状を有し、且つ表面が平均表面粗さ2
00nm以上に粗化処理されてなる請求項10記載の多
層配線基板の製造方法。
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|---|---|---|---|
| JP14938198A JP3441368B2 (ja) | 1998-05-29 | 1998-05-29 | 多層配線基板およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP14938198A JP3441368B2 (ja) | 1998-05-29 | 1998-05-29 | 多層配線基板およびその製造方法 |
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| JP3441368B2 JP3441368B2 (ja) | 2003-09-02 |
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1998
- 1998-05-29 JP JP14938198A patent/JP3441368B2/ja not_active Expired - Fee Related
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