JPH11344524A - 多層巻線のレアー判定方法 - Google Patents
多層巻線のレアー判定方法Info
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- JPH11344524A JPH11344524A JP15263198A JP15263198A JPH11344524A JP H11344524 A JPH11344524 A JP H11344524A JP 15263198 A JP15263198 A JP 15263198A JP 15263198 A JP15263198 A JP 15263198A JP H11344524 A JPH11344524 A JP H11344524A
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- 238000004804 winding Methods 0.000 title claims abstract description 85
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 13
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 7
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 abstract description 5
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 6
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 各極の多層巻線（界磁巻線等）のつなぎを切
り離さずに、確実にレアーの判定を行うことができる多
層巻線のレアー判定方法を提供する。 【解決手段】 界磁巻線１の端子ａ，ｂ間のインダクタ
ンスを、各電源周波数ごとに測定し、これら複数点のイ
ンダクタンス測定値の減少傾向から界磁巻線１のレアー
を判定する。具体例としては、界磁巻線１の端子ａ，ｂ
間のインダクタンスを、各電源周波数ごとに測定し、こ
れら複数点のインダクタンス測定値を単位法で作図し
て、接線の式より、前記作図における接線の傾きａを求
め、この接線の傾きａから界磁巻線１のレアーを判定す
る。或いは、界磁巻線１の端子ａ，ｂ間のインダクタン
スを、各電源周波数ごとに測定し、これら複数点のイン
ダクタンス測定値を作図して、この作図した周波数特性
において直線的減少傾向を示す周波数領域の２点のイン
ダクタンス測定値の比α＝Ｌ2 ／Ｌ1 を求め、この比α
から界磁巻線１のレアーを判定する。
り離さずに、確実にレアーの判定を行うことができる多
層巻線のレアー判定方法を提供する。 【解決手段】 界磁巻線１の端子ａ，ｂ間のインダクタ
ンスを、各電源周波数ごとに測定し、これら複数点のイ
ンダクタンス測定値の減少傾向から界磁巻線１のレアー
を判定する。具体例としては、界磁巻線１の端子ａ，ｂ
間のインダクタンスを、各電源周波数ごとに測定し、こ
れら複数点のインダクタンス測定値を単位法で作図し
て、接線の式より、前記作図における接線の傾きａを求
め、この接線の傾きａから界磁巻線１のレアーを判定す
る。或いは、界磁巻線１の端子ａ，ｂ間のインダクタン
スを、各電源周波数ごとに測定し、これら複数点のイン
ダクタンス測定値を作図して、この作図した周波数特性
において直線的減少傾向を示す周波数領域の２点のイン
ダクタンス測定値の比α＝Ｌ2 ／Ｌ1 を求め、この比α
から界磁巻線１のレアーを判定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は多層巻線のレアー判
定方法に関し、回転電機の多層巻線（直流機の界磁巻線
等）のレアー（layer ；層）を判定する場合に適用して
有用なものである。
定方法に関し、回転電機の多層巻線（直流機の界磁巻線
等）のレアー（layer ；層）を判定する場合に適用して
有用なものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、直流機等の回転電機の界磁巻線
（多層巻線）のレアー判定方法は、各極の界磁巻線のつ
なぎを切り離し、交流インピーダンス法により各極のイ
ンピーダンス或いはインダクタンスを測定して、これら
の測定値の相対比較を行うことによりレアーを判定する
という方法であった。
（多層巻線）のレアー判定方法は、各極の界磁巻線のつ
なぎを切り離し、交流インピーダンス法により各極のイ
ンピーダンス或いはインダクタンスを測定して、これら
の測定値の相対比較を行うことによりレアーを判定する
という方法であった。
【０００３】なお、界磁巻線のレアー判定とは、界磁巻
線においてレアーが発生（短絡コイルが発生）している
か否かを判定することである。即ち、図３（ａ）に示す
界磁巻線１のレアー絶縁が破壊されると、図３（ｂ）に
示すように短絡コイルが発生するが、直流電流のため短
絡コイルが発生しても、即、焼損には至らない。そこ
で、レアー判定により短絡コイルが発生したことを初期
段階で発見して回転電機の保全に役立てる。
線においてレアーが発生（短絡コイルが発生）している
か否かを判定することである。即ち、図３（ａ）に示す
界磁巻線１のレアー絶縁が破壊されると、図３（ｂ）に
示すように短絡コイルが発生するが、直流電流のため短
絡コイルが発生しても、即、焼損には至らない。そこ
で、レアー判定により短絡コイルが発生したことを初期
段階で発見して回転電機の保全に役立てる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のレアー判定方法では、各極のインピーダンス或いは
インダクタンスの測定値を相対比較してレアー判定を行
うことから、各極のつなぎを切り離す必要があるため、
手間がかかって容易にレアー判定を行うことができな
い。
来のレアー判定方法では、各極のインピーダンス或いは
インダクタンスの測定値を相対比較してレアー判定を行
うことから、各極のつなぎを切り離す必要があるため、
手間がかかって容易にレアー判定を行うことができな
い。
【０００５】なお、各極の界磁巻線のつなぎを切り離さ
ずに、界磁巻線の端子間のインダクタンスを測定して基
準値と比較する方法も考えられるが、判定基準となるイ
ンダクタンスの計算値には大きなバラツキがあるため、
この方法は用いられていない。
ずに、界磁巻線の端子間のインダクタンスを測定して基
準値と比較する方法も考えられるが、判定基準となるイ
ンダクタンスの計算値には大きなバラツキがあるため、
この方法は用いられていない。
【０００６】従って本発明は上記従来技術に鑑み、各極
の多層巻線（界磁巻線等）のつなぎを切り離さずに、確
実にレアーの判定を行うことができる多層巻線のレアー
判定方法を提供することを課題とする。
の多層巻線（界磁巻線等）のつなぎを切り離さずに、確
実にレアーの判定を行うことができる多層巻線のレアー
判定方法を提供することを課題とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明の多層巻線のレアー判定方法は、多層巻線の端子間の
インダクタンスを、各電源周波数ごとに測定し、これら
複数点のインダクタンス測定値の減少傾向から前記多層
巻線のレアーを判定することを特徴とする。
明の多層巻線のレアー判定方法は、多層巻線の端子間の
インダクタンスを、各電源周波数ごとに測定し、これら
複数点のインダクタンス測定値の減少傾向から前記多層
巻線のレアーを判定することを特徴とする。
【０００８】また、多層巻線の端子間のインダクタンス
を、各電源周波数ごとに測定し、これら複数点のインダ
クタンス測定値を作図して、この作図における接線の傾
きを求め、この接線の傾きから前記多層巻線のレアーを
判定することを特徴とする。
を、各電源周波数ごとに測定し、これら複数点のインダ
クタンス測定値を作図して、この作図における接線の傾
きを求め、この接線の傾きから前記多層巻線のレアーを
判定することを特徴とする。
【０００９】また、多層巻線の端子間のインダクタンス
を、各電源周波数ごとに測定し、これら複数点のインダ
クタンス測定値を作図して、この作図した周波数特性に
おいて直線的減少傾向を示す周波数領域の２点のインダ
クタンス測定値の比を求め、この比から前記多層巻線の
レアーを判定することを特徴とする。
を、各電源周波数ごとに測定し、これら複数点のインダ
クタンス測定値を作図して、この作図した周波数特性に
おいて直線的減少傾向を示す周波数領域の２点のインダ
クタンス測定値の比を求め、この比から前記多層巻線の
レアーを判定することを特徴とする。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づき詳細に説明する。
に基づき詳細に説明する。
【００１１】図１は本発明の実施の形態に係る界磁巻線
のレアー判定方法の説明図である。
のレアー判定方法の説明図である。
【００１２】一般に、うず電流を分布定数モデルとした
場合の巻線の等価回路は図１に示すように仮想うず電流
回路（アドミッタンスＹｅで示す）をＲ0 Ｌ0 の直列回
路に並列接続して構成するという方法がよく用いられて
いる。
場合の巻線の等価回路は図１に示すように仮想うず電流
回路（アドミッタンスＹｅで示す）をＲ0 Ｌ0 の直列回
路に並列接続して構成するという方法がよく用いられて
いる。
【００１３】界磁巻線１のレアーについても、同様に等
価回路が構成されると考えられることから、レアーの程
度（短絡コイルの程度）、即ちＹｅの大きさにより、電
源周波数の増加による界磁巻線１の端子ａ，ｂ間のイン
ダクタンスの減少率が異なってくる。つまり、正常な巻
線の場合には電源周波数を増加させても端子間のインダ
クタンスはほんの少ししか減少しないが、異常な巻線
（レアー発生巻線）の場合には電源周波数を増加させる
と端子間のインダクタンスが大きく減少する（但し、減
少率はレアーの程度によって異なる）。
価回路が構成されると考えられることから、レアーの程
度（短絡コイルの程度）、即ちＹｅの大きさにより、電
源周波数の増加による界磁巻線１の端子ａ，ｂ間のイン
ダクタンスの減少率が異なってくる。つまり、正常な巻
線の場合には電源周波数を増加させても端子間のインダ
クタンスはほんの少ししか減少しないが、異常な巻線
（レアー発生巻線）の場合には電源周波数を増加させる
と端子間のインダクタンスが大きく減少する（但し、減
少率はレアーの程度によって異なる）。
【００１４】そこで、各極の界磁巻線のつなぎは切り離
さずに、図１中に一点鎖線で示すように、界磁巻線１の
端子ａ，ｂ間にＬＲＣメータ２と可変周波数電源３とを
接続して、界磁巻線１の端子ａ，ｂ間のインダクタンス
（Ｌ1 ，Ｌ2 ・・・Ｌn ）を、各電源周波数（ｆ1 ＜ｆ
2 ・・・＜ｆn ）ごとに測定し（２点以上）、これら複
数点のインダクタンス測定値の減少傾向（減少率Ｌ2 ／
Ｌ1 、Ｌn ／Ｌ1 等）からレアーを判定する。
さずに、図１中に一点鎖線で示すように、界磁巻線１の
端子ａ，ｂ間にＬＲＣメータ２と可変周波数電源３とを
接続して、界磁巻線１の端子ａ，ｂ間のインダクタンス
（Ｌ1 ，Ｌ2 ・・・Ｌn ）を、各電源周波数（ｆ1 ＜ｆ
2 ・・・＜ｆn ）ごとに測定し（２点以上）、これら複
数点のインダクタンス測定値の減少傾向（減少率Ｌ2 ／
Ｌ1 、Ｌn ／Ｌ1 等）からレアーを判定する。
【００１５】以下、レアー判定方法の具体例について説
明する。
明する。
【００１６】図２は正常な界磁巻線と異常な界磁巻線の
端子間のインダクタンスの周波数特性の実測例であり、
測定周波数６０Ｈｚにおける界磁巻線１の端子ａ，ｂ間
のインダクタンス測定値を１．０とし、各電源周波数に
おける前記端子ａ，ｂ間のインダクタンス測定値を単位
法で作図したものである。同図示すように、正常な巻線
の場合には電源周波数を増加させても端子ａ，ｂ間のイ
ンダクタンスはほんの少ししか減少していない。一方、
異常な巻線（レアー発生巻線）の場合には電源周波数の
増加に伴って端子ａ，ｂ間のインダクタンスが大きく減
少している。但し、電源周波数が増加するにつれてイン
ダクタンスの減少率は小さくなっている。従って、具体
的なレアー判定方法としては次の２つの例が考えられ
る。
端子間のインダクタンスの周波数特性の実測例であり、
測定周波数６０Ｈｚにおける界磁巻線１の端子ａ，ｂ間
のインダクタンス測定値を１．０とし、各電源周波数に
おける前記端子ａ，ｂ間のインダクタンス測定値を単位
法で作図したものである。同図示すように、正常な巻線
の場合には電源周波数を増加させても端子ａ，ｂ間のイ
ンダクタンスはほんの少ししか減少していない。一方、
異常な巻線（レアー発生巻線）の場合には電源周波数の
増加に伴って端子ａ，ｂ間のインダクタンスが大きく減
少している。但し、電源周波数が増加するにつれてイン
ダクタンスの減少率は小さくなっている。従って、具体
的なレアー判定方法としては次の２つの例が考えられ
る。
【００１７】 第１のレアー判定方法 第１のレアー判定方法は、図２に示すように、多層巻線
１の端子ａ，ｂ間のインダクタンスを、２点以上の各電
源周波数ごとに測定し、これらのインダクタンス測定値
を単位法で作図し、接線の式ＬPU＝１−ａlog(f/60) よ
り、前記作図における接線の傾きａを求め、この接線の
傾きａから界磁巻線１のレアーを判定する方法であり、
ａ≦０．０５を正常な巻線とする。
１の端子ａ，ｂ間のインダクタンスを、２点以上の各電
源周波数ごとに測定し、これらのインダクタンス測定値
を単位法で作図し、接線の式ＬPU＝１−ａlog(f/60) よ
り、前記作図における接線の傾きａを求め、この接線の
傾きａから界磁巻線１のレアーを判定する方法であり、
ａ≦０．０５を正常な巻線とする。
【００１８】例えば図２の場合には接線の傾きａが０．
７であり、ａ＞０．０５となるため、界磁巻線１は異常
な巻線であると判定される。
７であり、ａ＞０．０５となるため、界磁巻線１は異常
な巻線であると判定される。
【００１９】 第２のレアー判定方法 第２のレアー判定方法は、図２に示すように、多層巻線
１の端子ａ，ｂ間のインダクタンスを、２点以上の各電
源周波数ごとに測定し、これらのインダクタンス測定値
を単位法で作図し、この作図した周波数特性において直
線的減少傾向を示す周波数領域の２点のインダクタンス
測定値Ｌ1 ，Ｌ2 の比α＝Ｌ2 ／Ｌ1 を求め、この比α
から界磁巻線１のレアーを判定する方法であり、α＝Ｌ
2 ／Ｌ1≧０．９７５を正常な巻線とする。
１の端子ａ，ｂ間のインダクタンスを、２点以上の各電
源周波数ごとに測定し、これらのインダクタンス測定値
を単位法で作図し、この作図した周波数特性において直
線的減少傾向を示す周波数領域の２点のインダクタンス
測定値Ｌ1 ，Ｌ2 の比α＝Ｌ2 ／Ｌ1 を求め、この比α
から界磁巻線１のレアーを判定する方法であり、α＝Ｌ
2 ／Ｌ1≧０．９７５を正常な巻線とする。
【００２０】例えば図２の場合には、Ｌ1 を電源周波数
６０Ｈｚでのインダクタンス測定値、Ｌ2 を２００Ｈｚ
でのインダクタンス測定値とすると、α＝Ｌ2 ／Ｌ1 ＜
０．９７５となるため、界磁巻線１は異常な巻線である
と判定される。
６０Ｈｚでのインダクタンス測定値、Ｌ2 を２００Ｈｚ
でのインダクタンス測定値とすると、α＝Ｌ2 ／Ｌ1 ＜
０．９７５となるため、界磁巻線１は異常な巻線である
と判定される。
【００２１】なお、上記では６０Ｈｚにおけるインダク
タンス測定値を１．０としているが、これは一例であ
り、他の周波数（例えば５０Ｈｚ）におけるインダクタ
ンス測定値を１．０としてもよい。また、上記の判定値
０．０５、０．９７５も一例であり、実際には実験的に
適切な判定値を設定する。
タンス測定値を１．０としているが、これは一例であ
り、他の周波数（例えば５０Ｈｚ）におけるインダクタ
ンス測定値を１．０としてもよい。また、上記の判定値
０．０５、０．９７５も一例であり、実際には実験的に
適切な判定値を設定する。
【００２２】以上のように、本実施の形態に係る界磁巻
線のレアー判定方法は、界磁巻線１の端子ａ，ｂ間のイ
ンダクタンスを、各電源周波数ごとに測定し、これら複
数点のインダクタンス測定値の減少傾向（接線の傾き
ａ、２点のインダクタンス測定値の比α等）から界磁巻
線１のレアーを判定する方法であるため、各極の界磁巻
線のつなぎを切り離す必要がなく、ＬＲＣメータ２を用
意して界磁巻線１の端子ａ，ｂ間に接続するだけでよ
い。このため手間がかからず容易にレアー判定を行うこ
とができ、また、確実にレアー判定を行うことができ
る。
線のレアー判定方法は、界磁巻線１の端子ａ，ｂ間のイ
ンダクタンスを、各電源周波数ごとに測定し、これら複
数点のインダクタンス測定値の減少傾向（接線の傾き
ａ、２点のインダクタンス測定値の比α等）から界磁巻
線１のレアーを判定する方法であるため、各極の界磁巻
線のつなぎを切り離す必要がなく、ＬＲＣメータ２を用
意して界磁巻線１の端子ａ，ｂ間に接続するだけでよ
い。このため手間がかからず容易にレアー判定を行うこ
とができ、また、確実にレアー判定を行うことができ
る。
【００２３】
【発明の効果】以上、発明の実施の形態と共に具体的に
説明したように、本発明の多層巻線のレアー判定方法
は、多層巻線の端子間のインダクタンスを、各電源周波
数ごとに測定し、これら複数点のインダクタンス測定値
の減少傾向から前記多層巻線のレアーを判定することを
特徴とする。
説明したように、本発明の多層巻線のレアー判定方法
は、多層巻線の端子間のインダクタンスを、各電源周波
数ごとに測定し、これら複数点のインダクタンス測定値
の減少傾向から前記多層巻線のレアーを判定することを
特徴とする。
【００２４】また、多層巻線の端子間のインダクタンス
を、各電源周波数ごとに測定し、これら複数点のインダ
クタンス測定値を作図して、この作図における接線の傾
きを求め、この接線の傾きから前記多層巻線のレアーを
判定することを特徴とする。
を、各電源周波数ごとに測定し、これら複数点のインダ
クタンス測定値を作図して、この作図における接線の傾
きを求め、この接線の傾きから前記多層巻線のレアーを
判定することを特徴とする。
【００２５】また、多層巻線の端子間のインダクタンス
を、各電源周波数ごとに測定し、これら複数点のインダ
クタンス測定値を作図して、この作図した周波数特性に
おいて直線的減少傾向を示す周波数領域の２点のインダ
クタンス測定値の比を求め、この比から前記多層巻線の
レアーを判定することを特徴とする。
を、各電源周波数ごとに測定し、これら複数点のインダ
クタンス測定値を作図して、この作図した周波数特性に
おいて直線的減少傾向を示す周波数領域の２点のインダ
クタンス測定値の比を求め、この比から前記多層巻線の
レアーを判定することを特徴とする。
【００２６】従って、これらの多層巻線のレアー判定方
法によれば、各極の多層巻線のつなぎを切り離す必要が
なく、インダクタンス測定器を用意して多層巻線の端子
間に接続するだけでよい。このため手間がかからず容易
にレアー判定を行うことができ、また、確実にレアー判
定を行うことができる。
法によれば、各極の多層巻線のつなぎを切り離す必要が
なく、インダクタンス測定器を用意して多層巻線の端子
間に接続するだけでよい。このため手間がかからず容易
にレアー判定を行うことができ、また、確実にレアー判
定を行うことができる。
【図１】本発明の実施の形態に係る界磁巻線のレアー判
定方法の説明図である。
定方法の説明図である。
【図２】正常な界磁巻線と異常な界磁巻線の端子間のイ
ンダクタンスの周波数特性の実測例を示す図である。
ンダクタンスの周波数特性の実測例を示す図である。
【図３】界磁巻線におけるレアーの発生を示す説明図で
ある。
ある。
１ 界磁巻線 ２ ＬＲＣメータ ３ 可変周波数電源
Claims (3)
- 【請求項１】 多層巻線の端子間のインダクタンスを、
各電源周波数ごとに測定し、これら複数点のインダクタ
ンス測定値の減少傾向から前記多層巻線のレアーを判定
することを特徴とする多層巻線のレアー判定方法。 - 【請求項２】 多層巻線の端子間のインダクタンスを、
各電源周波数ごとに測定し、これら複数点のインダクタ
ンス測定値を作図して、この作図における接線の傾きを
求め、この接線の傾きから前記多層巻線のレアーを判定
することを特徴とする多層巻線のレアー判定方法。 - 【請求項３】 多層巻線の端子間のインダクタンスを、
各電源周波数ごとに測定し、これら複数点のインダクタ
ンス測定値を作図して、この作図した周波数特性におい
て直線的減少傾向を示す周波数領域の２点のインダクタ
ンス測定値の比を求め、この比から前記多層巻線のレア
ーを判定することを特徴とする多層巻線のレアー判定方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15263198A JPH11344524A (ja) | 1998-06-02 | 1998-06-02 | 多層巻線のレアー判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15263198A JPH11344524A (ja) | 1998-06-02 | 1998-06-02 | 多層巻線のレアー判定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11344524A true JPH11344524A (ja) | 1999-12-14 |
Family
ID=15544619
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15263198A Withdrawn JPH11344524A (ja) | 1998-06-02 | 1998-06-02 | 多層巻線のレアー判定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11344524A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005201897A (ja) * | 2003-12-16 | 2005-07-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電動機用コイル試験方法および装置 |
| JP2005227271A (ja) * | 2003-12-16 | 2005-08-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電動機用コイル試験方法および装置 |
| JP2009014528A (ja) * | 2007-07-05 | 2009-01-22 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 短絡判定装置、短絡判定方法 |
| CN106443315A (zh) * | 2016-08-30 | 2017-02-22 | 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院 | 一种基于多信息融合的电力变压器绕组变形诊断方法 |
| JP2020510815A (ja) * | 2017-02-17 | 2020-04-09 | ドーブル エンジニアリング カンパニー | 変圧器診断を実行するためのシステム及び方法 |
-
1998
- 1998-06-02 JP JP15263198A patent/JPH11344524A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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