JPH11345882A - 半導体回路の配線レイアウト方法 - Google Patents

半導体回路の配線レイアウト方法

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JPH11345882A
JPH11345882A JP14952598A JP14952598A JPH11345882A JP H11345882 A JPH11345882 A JP H11345882A JP 14952598 A JP14952598 A JP 14952598A JP 14952598 A JP14952598 A JP 14952598A JP H11345882 A JPH11345882 A JP H11345882A
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JP
Japan
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wiring
power supply
output
substrate
semiconductor circuit
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Application number
JP14952598A
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English (en)
Inventor
Michinori Sugawara
道則 菅原
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電源ノイズを抑制する。 【解決手段】 電源配線10aを基板40と出力配線3
0との間に配置する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体回路に関
し、特に、半導体回路の配線レイアウト方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図5は、従来の半導体回路の一例として
バッファ回路を示す図であり、(a)は回路図、(b)
は出力配線を示すための基板の上面図、(c)は(b)
に示したA−A断面図である。また、図6は、図5に示
したバッファ回路における電源配線及び出力配線におけ
る波形を示す図である。
【0003】図5に示すバッファ回路において、L1=
L2=1nH、R=100Ωとして定電流I0の値を
3.6mAとなるようにし、また、電源配線10aと出
力配線30間の寄生容量をC1=0.5pF、電源配線
10bと接続された基板40と出力配線30間の寄生容
量をC2=1pFとし、100MHzの矩形波を入力し
た場合、図6に示すように、電源配線10a,10bに
は約470mVp-pのノイズが発生することになる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述したように出力配
線と基板との間に大きな寄生容量を有するバッファ回路
においては、電源ノイズが大きくなってしまうという問
題点がある。
【0005】本発明は、上述したような従来の技術が有
する問題点に鑑みてなされたものであって、電源ノイズ
を抑制することができるバッファ回路の配線レイアウト
方法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、基板上に電源配線及び出力配線を有する半
導体回路の配線レイアウト方法であって、前記電源配線
を前記基板と前記出力配線との間に配置することを特徴
とする。
【0007】また、基板上に第1及び第2の電源配線並
びに出力配線を有し、前記出力配線が前記第2の電源配
線と前記基板との間に配置された半導体回路の配線レイ
アウト方法であって、前記第1の電源配線を、前記基板
と前記出力配線との間及び前記第2の電源配線と前記出
力配線との間に配置することを特徴とする。
【0008】また、基板上に第1及び第2の電源配線並
びに出力配線を有し、前記第2の電源配線が前記出力配
線と前記基板との間に配置された半導体回路の配線レイ
アウト方法であって、前記第1の電源配線を前記第2の
電源配線と前記出力配線との間に配置することを特徴と
する。
【0009】また、前記半導体回路は、バッファ回路で
あることを特徴とする。
【0010】(作用)上記のように構成された本発明に
おいては、電源配線が基板と出力配線との間に配置され
ているので、基板と出力配線との間の寄生容量が低減
し、それにより、電源ノイズが抑制される。
【0011】また、出力配線が第2の電源配線と基板と
の間に配置された半導体回路においては、第1の電源配
線が、基板と出力配線との間及び第2の電源配線と出力
配線との間に配置されているので、基板と出力配線との
間の寄生容量が低減するとともに、出力配線と第2の電
源配線との間の寄生容量が低減し、それにより、電源ノ
イズが抑制される。
【0012】また、第2の電源配線が出力配線と基板と
の間に配置された半導体回路においては、第1の電源配
線が第2の電源配線と出力配線との間に配置されている
ので、基板と出力配線との間の寄生容量が低減するとと
もに、出力配線と第2の電源配線との間の寄生容量が低
減し、それにより、電源ノイズが抑制される。
【0013】特に、長配線などの大きな負荷を駆動する
ための定電流源を用いたバッファ回路においては、上記
作用により電源ノイズの抑制が有効的である。
【0014】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。
【0015】図1は、本発明の半導体回路の実施の一形
態としてバッファ回路の一例を示す図であり、(a)は
回路図、(b)は出力配線を示すための基板の上面図、
(c)は(b)に示したA−A断面図である。
【0016】本形態は図1(a)に示すように、バイポ
ーラトランジスタQ2と抵抗Rとで定電流源が構成され
ており、また、第1の電源配線10a及び第2の電源配
線10bは、ボンディングワイヤー等を介して外部の供
給電源(不図示)と接続されている。さらに、電源配線
10bは、定電流源及び基板40と接続されている。
【0017】図1(b),(c)に示すように本形態に
おいては、電源配線10aが基板40と出力配線30と
の間に設けられ、それにより、基板40と出力配線30
間の寄生容量C2が小さくなっている。
【0018】以下に、寄生容量C2と電源ノイズとの関
係について説明する。
【0019】電源配線10a,10bにおける電位レベ
ルをそれぞれV1,V2とすると、 V1=L1×dI/dt V2=L2×dI/dt となる。
【0020】ここで、寄生容量C2を流れる電流をI
2、出力電圧をVoutとすると、 dI/dt=dI0/dt+dI2/dt=dI2/dt
=C2×d2Vout/dt2 であるので、寄生容量C2を小さくした場合、電源ノイ
ズを小さくすることができる。なお、L1,L2におい
ては、電源配線やボンディングワイヤーやパッケージの
インダクタンス等をまとめて表したものである。
【0021】図2は、図1に示したバッファ回路におけ
る電源配線及び出力配線における波形を示す図である。
【0022】図1に示すバッファ回路において、L1=
L2=1nH、R=100Ωとして定電流I0の値を
3.6mAとなるようにし、また、電源配線10aと出
力配線30間の寄生容量をC1=2pF、電源配線10
bと接続された基板40と出力配線30間の寄生容量を
C2=0.25pFとし、100MHzの矩形波を入力
した場合、図2に示すように、電源配線10a,10b
における電源ノイズは約140mVp-pに抑制されてい
る。
【0023】ここで、寄生容量C1,C2の値において
は、出力配線30と基板40とが直接面していた長さの
3/4に電源配線10aを挿入した場合を想定し、ま
た、出力配線30と電源配線10a間の距離は出力配線
30と基板40間の距離よりも短いので、単位長さあた
り2倍の容量になるとして、寄生容量C2は元の1/4
の0.25pF、寄生容量C1は元の値に1.5pFを
加えて2pFとした。
【0024】上述したように本形態においては、電源配
線10aを出力配線30と基板40との間に設けたこと
により、電源ノイズが抑制されている。
【0025】(他の実施の形態)図3は、本発明の半導
体回路の配線レイアウト方法の他の実施の形態を示す図
である。
【0026】図3に示すものは、基板40に対して出力
配線30の上方に電源配線10bが設けられているもの
であって、出力配線30と電源配線10bとの間及び出
力配線30と基板40との間に電源配線10aが挿入さ
れ、それにより、出力配線30と電源配線10b間及び
出力配線30と基板40間の寄生容量が低減されてい
る。
【0027】図4は、本発明の半導体回路の配線レイア
ウト方法の他の実施の形態を示す図である。
【0028】図4に示すものは、出力配線30と基板4
0との間に電源配線10bが設けられているものであっ
て、出力配線30と電源配線10bとの間に電源配線1
0aが挿入され、それにより、出力配線30と電源配線
10b間の寄生容量が低減されている。
【0029】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、以下に記載するような効果を奏する。
【0030】請求項1に記載のものにおいては、電源配
線を基板と出力配線との間に配置したため、基板と出力
配線との間の寄生容量が低減し、それにより、電源ノイ
ズを抑制することができる。
【0031】請求項2に記載のものにおいては、出力配
線が第2の電源配線と基板との間に配置された半導体回
路において、第1の電源配線を、基板と出力配線との間
及び第2の電源配線と出力配線との間に配置したため、
基板と出力配線との間の寄生容量が低減するとともに、
出力配線と第2の電源配線との間の寄生容量が低減し、
それにより、電源ノイズを抑制することができる。
【0032】請求項3に記載のものにおいては、第2の
電源配線が出力配線と基板との間に配置された半導体回
路において、第1の電源配線を第2の電源配線と出力配
線との間に配置したため、基板と出力配線との間の寄生
容量が低減するとともに、出力配線と第2の電源配線と
の間の寄生容量が低減し、それにより、電源ノイズを抑
制することができる。
【0033】特に、請求項4に記載のもののように、長
配線などの大きな負荷を駆動するための定電流源を用い
たバッファ回路においては、上記効果が顕著に現れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の半導体回路の実施の一形態としてバッ
ファ回路の一例を示す図であり、(a)は回路図、
(b)は出力配線を示すための基板の上面図、(c)は
(b)に示したA−A断面図である。
【図2】図1に示したバッファ回路における電源配線及
び出力配線における波形を示す図である。
【図3】本発明の半導体回路の配線レイアウト方法の他
の実施の形態を示す図である。
【図4】本発明の半導体回路の配線レイアウト方法の他
の実施の形態を示す図である。
【図5】従来の半導体回路の一例としてバッファ回路の
一例を示す図であり、(a)は回路図、(b)は出力配
線を示すための基板の上面図、(c)は(b)に示した
A−A断面図である。
【図6】図5に示したバッファ回路における電源配線及
び出力配線における波形を示す図である。
【符号の説明】 10a,10b 電源配線 20 入力 30 出力配線 40 基板

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上に電源配線及び出力配線を有する
    半導体回路の配線レイアウト方法であって、 前記電源配線を前記基板と前記出力配線との間に配置す
    ることを特徴とする半導体回路の配線レイアウト方法。
  2. 【請求項2】 基板上に第1及び第2の電源配線並びに
    出力配線を有し、前記出力配線が前記第2の電源配線と
    前記基板との間に配置された半導体回路の配線レイアウ
    ト方法であって、 前記第1の電源配線を、前記基板と前記出力配線との間
    及び前記第2の電源配線と前記出力配線との間に配置す
    ることを特徴とする半導体回路の配線レイアウト方法。
  3. 【請求項3】 基板上に第1及び第2の電源配線並びに
    出力配線を有し、前記第2の電源配線が前記出力配線と
    前記基板との間に配置された半導体回路の配線レイアウ
    ト方法であって、 前記第1の電源配線を前記第2の電源配線と前記出力配
    線との間に配置することを特徴とする半導体回路の配線
    レイアウト方法。
  4. 【請求項4】 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の
    半導体回路の配線レイアウト方法において、 前記半導体回路は、バッファ回路であることを特徴とす
    る半導体回路の配線レイアウト方法。
JP14952598A 1998-05-29 1998-05-29 半導体回路の配線レイアウト方法 Pending JPH11345882A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016179574A (ja) * 2015-03-24 2016-10-13 セイコーエプソン株式会社 ヘッドユニットおよび液体吐出装置
JP2016179571A (ja) * 2015-03-24 2016-10-13 セイコーエプソン株式会社 ヘッドユニットおよび液体吐出装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016179574A (ja) * 2015-03-24 2016-10-13 セイコーエプソン株式会社 ヘッドユニットおよび液体吐出装置
JP2016179571A (ja) * 2015-03-24 2016-10-13 セイコーエプソン株式会社 ヘッドユニットおよび液体吐出装置

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