JPH1139632A - 被膜付磁気記録媒体 - Google Patents
被膜付磁気記録媒体Info
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- JPH1139632A JPH1139632A JP18836997A JP18836997A JPH1139632A JP H1139632 A JPH1139632 A JP H1139632A JP 18836997 A JP18836997 A JP 18836997A JP 18836997 A JP18836997 A JP 18836997A JP H1139632 A JPH1139632 A JP H1139632A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 均一な凹凸を有すると同時に耐擦傷性などの
耐久性に優れている被膜が基板上に形成された被膜付磁
気記録媒体を提供する。 【解決手段】 ディスク基板と、その上に形成された磁
性層とを含み、前記ディスク基板と前記磁性層との間ま
たは前記磁性層上に、下記一般式(1) 【化1】 (式中、R1、R2およびR3は、それぞれ独立して水素
原子、炭素原子数1〜8のアルキル基またはアリール基
である。)で表される繰り返し単位を有するポリシラザ
ンと、無定形シリカ微粒子とを含む被膜形成用塗布液か
ら形成された凹凸付被膜を有することを特徴とする被膜
付磁気記録媒体。
耐久性に優れている被膜が基板上に形成された被膜付磁
気記録媒体を提供する。 【解決手段】 ディスク基板と、その上に形成された磁
性層とを含み、前記ディスク基板と前記磁性層との間ま
たは前記磁性層上に、下記一般式(1) 【化1】 (式中、R1、R2およびR3は、それぞれ独立して水素
原子、炭素原子数1〜8のアルキル基またはアリール基
である。)で表される繰り返し単位を有するポリシラザ
ンと、無定形シリカ微粒子とを含む被膜形成用塗布液か
ら形成された凹凸付被膜を有することを特徴とする被膜
付磁気記録媒体。
Description
【0001】
【発明の技術分野】本発明は、凹凸付被膜が基材上に積
層されている磁気記録媒体に関し、さらに詳しくは、均
一な凹凸を有すると同時に耐久性に優れている被膜が基
材上に積層された磁気ディスク、光磁気ディスクなどの
被膜付磁気記録媒体に関する。
層されている磁気記録媒体に関し、さらに詳しくは、均
一な凹凸を有すると同時に耐久性に優れている被膜が基
材上に積層された磁気ディスク、光磁気ディスクなどの
被膜付磁気記録媒体に関する。
【0002】
【発明の技術的背景】従来より、ガラス、プラスチッ
ク、金属などの基板の表面に耐久性、耐擦傷性などを付
与するような凹凸付き被膜を形成できる被膜形成用塗布
液が開発されている。たとえば、特開平2−3468号
公報には、アルコキシシランからなる有機ケイ素化合物
の部分縮合物とシリカ微粒子とを含むコーティング組成
物が記載されている。
ク、金属などの基板の表面に耐久性、耐擦傷性などを付
与するような凹凸付き被膜を形成できる被膜形成用塗布
液が開発されている。たとえば、特開平2−3468号
公報には、アルコキシシランからなる有機ケイ素化合物
の部分縮合物とシリカ微粒子とを含むコーティング組成
物が記載されている。
【0003】また、磁気ディスクなどの磁気記録媒体を
製造する際にも、無機酸化物微粒子を含むコロイド溶液
とテトラヒドロキシシランとの混合溶液からなる被膜形
成用塗布液が用いられている(特開昭61−22922
7号公報、特開昭64−33724号公報、特開平2−
137120号公報参照)。
製造する際にも、無機酸化物微粒子を含むコロイド溶液
とテトラヒドロキシシランとの混合溶液からなる被膜形
成用塗布液が用いられている(特開昭61−22922
7号公報、特開昭64−33724号公報、特開平2−
137120号公報参照)。
【0004】このような被膜形成用塗布液を用いて形成
された磁気ディスク、光磁気ディスクなどの被膜付き磁
気記録媒体は、表面に微細な凹凸を有しているため、表
面が平滑な磁気記録媒体と比較して記録装置または再生
装置内で磁気ヘッドとの間に生じる摩擦が小さく、また
磁気ヘッドの基板からの浮上量を表すフライングハイト
も低くすることが可能であり、高い磁気密度で記録・再
生ができる。
された磁気ディスク、光磁気ディスクなどの被膜付き磁
気記録媒体は、表面に微細な凹凸を有しているため、表
面が平滑な磁気記録媒体と比較して記録装置または再生
装置内で磁気ヘッドとの間に生じる摩擦が小さく、また
磁気ヘッドの基板からの浮上量を表すフライングハイト
も低くすることが可能であり、高い磁気密度で記録・再
生ができる。
【0005】しかしながら、上記のような従来の被膜形
成用塗布液から得られた被膜付き基材は、被膜中に含ま
れている無機酸化物微粒子の分布が不均一であり、しか
もこの無機酸化物微粒子同士が凝集している。このた
め、この被膜付き基材の表面には不均一な凹凸が形成さ
れているという問題点がある。すなわち、凸部(粒状突
起)同士の間隔および凸部の高さが一様でないという問
題点がある。
成用塗布液から得られた被膜付き基材は、被膜中に含ま
れている無機酸化物微粒子の分布が不均一であり、しか
もこの無機酸化物微粒子同士が凝集している。このた
め、この被膜付き基材の表面には不均一な凹凸が形成さ
れているという問題点がある。すなわち、凸部(粒状突
起)同士の間隔および凸部の高さが一様でないという問
題点がある。
【0006】また、被膜付磁気記録媒体表面に形成され
た凹凸が不均一であると、記録装置または再生装置内
で、磁気ヘッドが磁気記録媒体表面上を摺動する際に生
じる静摩擦係数および磁気ディスクの表面粗さが増大す
る傾向がある。特に最近では、磁気記録媒体の高記録密
度化が要求されているため、磁気ヘッドの基板からの浮
上量を益々低くする傾向があり、最近では0.1μm以下に
設定されている。このため、より一層、均一な凹凸が表
面に形成された被膜付き磁気記録媒体が求められてい
る。
た凹凸が不均一であると、記録装置または再生装置内
で、磁気ヘッドが磁気記録媒体表面上を摺動する際に生
じる静摩擦係数および磁気ディスクの表面粗さが増大す
る傾向がある。特に最近では、磁気記録媒体の高記録密
度化が要求されているため、磁気ヘッドの基板からの浮
上量を益々低くする傾向があり、最近では0.1μm以下に
設定されている。このため、より一層、均一な凹凸が表
面に形成された被膜付き磁気記録媒体が求められてい
る。
【0007】このような状況下で、本発明者らは、均一
な凹凸を有すると同時に耐久性に優れている被膜が基板
上に形成できるような被膜形成用塗布液およびこのよう
な被膜付き基板を用いて高密度記録が可能な磁気記録媒
体を提供するため、鋭意研究を行った結果、特定のポリ
シラザンと、無定形のシリカ微粒子とを含む塗布液を基
板上に塗布し、凹凸付被膜を形成すると、 a)基板との密着性、耐久性に優れた被膜が形成される b)被膜中に無定形シリカ微粒子が均一に分散し、しかも
この被膜の表面にはほとんど凝集粒子の痕跡が観察され
ない c)被膜表面の凹凸が均一である d)高密度記録が可能であるなど 優れた磁気記録媒体が得られることを見いだし、本発明
を完成するに至った。
な凹凸を有すると同時に耐久性に優れている被膜が基板
上に形成できるような被膜形成用塗布液およびこのよう
な被膜付き基板を用いて高密度記録が可能な磁気記録媒
体を提供するため、鋭意研究を行った結果、特定のポリ
シラザンと、無定形のシリカ微粒子とを含む塗布液を基
板上に塗布し、凹凸付被膜を形成すると、 a)基板との密着性、耐久性に優れた被膜が形成される b)被膜中に無定形シリカ微粒子が均一に分散し、しかも
この被膜の表面にはほとんど凝集粒子の痕跡が観察され
ない c)被膜表面の凹凸が均一である d)高密度記録が可能であるなど 優れた磁気記録媒体が得られることを見いだし、本発明
を完成するに至った。
【0008】
【発明の目的】本発明は、上記従来技術の問題点を解決
するためになされたものであって、均一な凹凸を有する
と同時に耐擦傷性などの耐久性に優れている被膜が基板
上に形成された被膜付磁気記録媒体を提供することを目
的としている。
するためになされたものであって、均一な凹凸を有する
と同時に耐擦傷性などの耐久性に優れている被膜が基板
上に形成された被膜付磁気記録媒体を提供することを目
的としている。
【0009】
【発明の概要】本発明に係る被膜付磁気記録媒体は、デ
ィスク基板と、その上に形成された磁性層とを含み、前
記ディスク基板と前記磁性層との間または前記磁性層上
に、下記一般式(1)
ィスク基板と、その上に形成された磁性層とを含み、前
記ディスク基板と前記磁性層との間または前記磁性層上
に、下記一般式(1)
【0010】
【化2】
【0011】(式中、R1、R2およびR3は、それぞれ
独立して水素原子、炭素原子数1〜8のアルキル基また
はアリール基を示す。)で表される繰り返し単位を有す
るポリシラザンと、無定形シリカ微粒子とを含む被膜形
成用塗布液から形成された凹凸付被膜を有することを特
徴としている。
独立して水素原子、炭素原子数1〜8のアルキル基また
はアリール基を示す。)で表される繰り返し単位を有す
るポリシラザンと、無定形シリカ微粒子とを含む被膜形
成用塗布液から形成された凹凸付被膜を有することを特
徴としている。
【0012】また、該被膜において、無定形シリカ微粒
子の粒径が5〜45nmであり、被膜表面の凹凸が3〜3
0nmであり、かつ被膜中の無定形シリカ微粒子密度が0.
1〜1000個/μm2であることを特徴としている。
子の粒径が5〜45nmであり、被膜表面の凹凸が3〜3
0nmであり、かつ被膜中の無定形シリカ微粒子密度が0.
1〜1000個/μm2であることを特徴としている。
【0013】
【発明の具体的説明】以下、本発明に係る被膜付磁気記
録媒体について具体的に説明する。本発明に係る被膜付
磁気記録媒体は、ディスク基板と、その上に形成された
磁性層とを含み、前記ディスク基板と前記磁性層との間
または前記磁性層上に、上記のような一般式(1)で表
される繰り返し単位を有するポリシラザンと、無定形シ
リカ微粒子とを含む被膜形成用塗布液から形成された凹
凸付被膜を有している。
録媒体について具体的に説明する。本発明に係る被膜付
磁気記録媒体は、ディスク基板と、その上に形成された
磁性層とを含み、前記ディスク基板と前記磁性層との間
または前記磁性層上に、上記のような一般式(1)で表
される繰り返し単位を有するポリシラザンと、無定形シ
リカ微粒子とを含む被膜形成用塗布液から形成された凹
凸付被膜を有している。
【0014】[ポリシラザン]本発明で使用されるポリ
シラザンは、下記一般式(1)で表される繰り返し単位
を有する。
シラザンは、下記一般式(1)で表される繰り返し単位
を有する。
【0015】
【化3】
【0016】式(1)中、R1、R2およびR3は、それ
ぞれ独立して水素原子、炭素原子数1〜8のアルキル基
またはアリール基である。炭素原子数1〜8のアルキル
基としては、メチル基、エチル基、プロピル基などが挙
げられ、アリール基としては、フェニル基などが挙げら
れる。
ぞれ独立して水素原子、炭素原子数1〜8のアルキル基
またはアリール基である。炭素原子数1〜8のアルキル
基としては、メチル基、エチル基、プロピル基などが挙
げられ、アリール基としては、フェニル基などが挙げら
れる。
【0017】本発明で用いられるポリシラザンとして
は、上記式(1)でR1、R2およびR 3がすべて水素原
子であり、1分子中にケイ素原子が55〜65重量%、
窒素原子が20〜30重量%、水素原子が10〜15重
量%であるような量で存在している無機ポリシラザンが
特に好ましい。このような無機ポリシラザンは、例えば
特公昭63-16325号およびUSP-4397828号に開示された方
法によって製造することができる。
は、上記式(1)でR1、R2およびR 3がすべて水素原
子であり、1分子中にケイ素原子が55〜65重量%、
窒素原子が20〜30重量%、水素原子が10〜15重
量%であるような量で存在している無機ポリシラザンが
特に好ましい。このような無機ポリシラザンは、例えば
特公昭63-16325号およびUSP-4397828号に開示された方
法によって製造することができる。
【0018】上記式(1)で表される繰り返し単位を有
するポリシラザンは、直鎖状であっても、環状であって
もよく、直鎖状のポリシラザンと環状のポリシラザンと
が混合して含まれているものであってもよい。
するポリシラザンは、直鎖状であっても、環状であって
もよく、直鎖状のポリシラザンと環状のポリシラザンと
が混合して含まれているものであってもよい。
【0019】このようなポリシラザンの重量平均分子量
は、500〜10000、好ましくは1000〜4000の範囲にあるこ
とが望ましい。重量平均分子量が500未満である場合に
は、塗布液から被膜を形成する際の乾燥工程で低分子量
の化合物が揮発し、その後の加熱工程で被膜が大きく収
縮するようになり、緻密な被膜が得られないことがあ
る。また、分子量が10000を越えると、塗布液の流動性
が低下し、無定形シリカ微粒子を均一に分散することが
できないこともある。
は、500〜10000、好ましくは1000〜4000の範囲にあるこ
とが望ましい。重量平均分子量が500未満である場合に
は、塗布液から被膜を形成する際の乾燥工程で低分子量
の化合物が揮発し、その後の加熱工程で被膜が大きく収
縮するようになり、緻密な被膜が得られないことがあ
る。また、分子量が10000を越えると、塗布液の流動性
が低下し、無定形シリカ微粒子を均一に分散することが
できないこともある。
【0020】[無定形シリカ微粒子]本発明で用いられ
る無定形シリカ微粒子は、化学式:SiO2・nH2Oで
表され、通常、複数のケイ素原子がそれぞれ酸素原子を
介して立体的に結合している重合体であり、しかも該重
合体中のケイ素原子のそれぞれを中心として、ケイ素原
子に隣接する4個の酸素原子がそれぞれ四面体の頂点に
位置するようなSiO4四面体構造が形成され、該重合体
の末端にシラノール基を有している。
る無定形シリカ微粒子は、化学式:SiO2・nH2Oで
表され、通常、複数のケイ素原子がそれぞれ酸素原子を
介して立体的に結合している重合体であり、しかも該重
合体中のケイ素原子のそれぞれを中心として、ケイ素原
子に隣接する4個の酸素原子がそれぞれ四面体の頂点に
位置するようなSiO4四面体構造が形成され、該重合体
の末端にシラノール基を有している。
【0021】このような無定形シリカ微粒子の平均粒径
は、5nm以上、50nm以下、好ましくは45nm以下であ
ることが好ましい。平均粒径が50nmを越えるシリカ粒
子を用いた塗布液から被膜を形成すると、均一に分散し
た粒子による凹凸の間隔が大きくなり、磁気ヘッドの最
低浮上量を低くすることが難しくなる。
は、5nm以上、50nm以下、好ましくは45nm以下であ
ることが好ましい。平均粒径が50nmを越えるシリカ粒
子を用いた塗布液から被膜を形成すると、均一に分散し
た粒子による凹凸の間隔が大きくなり、磁気ヘッドの最
低浮上量を低くすることが難しくなる。
【0022】また、本発明で使用される無定形シリカ微
粒子は、コロイド状態で水または有機溶媒に分散してい
るシリカゾルとして用いることが望ましい。このような
シリカゾルとしては、水分量が1重量%以下である有機
溶媒分散シリカゾルが望ましく、水分量が多いシリカゾ
ルを用いて塗布液を調製すると、ポリシラザンが加水分
解を起こすことがある。
粒子は、コロイド状態で水または有機溶媒に分散してい
るシリカゾルとして用いることが望ましい。このような
シリカゾルとしては、水分量が1重量%以下である有機
溶媒分散シリカゾルが望ましく、水分量が多いシリカゾ
ルを用いて塗布液を調製すると、ポリシラザンが加水分
解を起こすことがある。
【0023】[被膜形成用塗布液]本発明で使用される
被膜形成用塗布液は、上記ポリシラザンと上記無定形シ
リカ微粒子とが、有機溶媒中に分散している。
被膜形成用塗布液は、上記ポリシラザンと上記無定形シ
リカ微粒子とが、有機溶媒中に分散している。
【0024】このような有機溶媒としては、水に対する
溶解度が0.5重量%以下であるような有機溶媒が望ま
しい。具体的には、シクロヘキサン、トルエン、キシレ
ン、メシチレンなどの炭化水素、エチルブチルエーテ
ル、ジブチルエーテル、ジオキサン、テトラヒドロフラ
ンなどのエーテル類が挙げられる。これらの有機溶媒は
単独または2種以上を混合して用いられる。このような
有機溶媒を用いると、塗布液が吸湿して塗布液中のポリ
シラザンが加水分解を起こすのが防止され、これにより
ポットライフの長い塗布液が得られる。
溶解度が0.5重量%以下であるような有機溶媒が望ま
しい。具体的には、シクロヘキサン、トルエン、キシレ
ン、メシチレンなどの炭化水素、エチルブチルエーテ
ル、ジブチルエーテル、ジオキサン、テトラヒドロフラ
ンなどのエーテル類が挙げられる。これらの有機溶媒は
単独または2種以上を混合して用いられる。このような
有機溶媒を用いると、塗布液が吸湿して塗布液中のポリ
シラザンが加水分解を起こすのが防止され、これにより
ポットライフの長い塗布液が得られる。
【0025】塗布液中の固形分濃度(ポリシラザンと上
記無定形シリカ微粒子の合計量)は、1〜30重量%、
好ましくは5〜20重量%であることが望ましい。ま
た、塗布液中の、ポリシラザンと無定形シリカ微粒子の
配合比は、ポリシラザン1重量部に対して、無定形シリ
カ微粒子が0.5〜100重量部であることが好まし
い。無定形シリカ微粒子の配合量が0.5重量部より少
なくなると、被膜にした際に無定形シリカ微粒子が被膜
中に埋もれてしまい、凹凸が形成されない。また、無定
形シリカ微粒子の配合量が100重量部より多いと表面
処理が十分にできずシリカ微粒子の分散状態が不安定と
なって、凝集が起こる。
記無定形シリカ微粒子の合計量)は、1〜30重量%、
好ましくは5〜20重量%であることが望ましい。ま
た、塗布液中の、ポリシラザンと無定形シリカ微粒子の
配合比は、ポリシラザン1重量部に対して、無定形シリ
カ微粒子が0.5〜100重量部であることが好まし
い。無定形シリカ微粒子の配合量が0.5重量部より少
なくなると、被膜にした際に無定形シリカ微粒子が被膜
中に埋もれてしまい、凹凸が形成されない。また、無定
形シリカ微粒子の配合量が100重量部より多いと表面
処理が十分にできずシリカ微粒子の分散状態が不安定と
なって、凝集が起こる。
【0026】このような被膜形成用塗布液は、次のよう
にして調製される。 (1) 上記ポリシラザンと無定形シリカとを溶媒中で混
合する。このとき使用される溶媒としては、水と相溶す
るものであれば特に制限はなく、たとえば、エタノール
などのアルコール類、アセトン、メチルイソブチルケト
ンなどのケトン類などが挙げられる。これらの溶媒は単
独または2種以上を混合して用いてもよい。
にして調製される。 (1) 上記ポリシラザンと無定形シリカとを溶媒中で混
合する。このとき使用される溶媒としては、水と相溶す
るものであれば特に制限はなく、たとえば、エタノール
などのアルコール類、アセトン、メチルイソブチルケト
ンなどのケトン類などが挙げられる。これらの溶媒は単
独または2種以上を混合して用いてもよい。
【0027】上記のようにポリシラザンとシロキサン結
合を有する無定形シリカ微粒子とを有機溶媒中で混合す
ると、ポリシラザンと無定形シリカ微粒子の少なくとも
一部が常温で反応する。
合を有する無定形シリカ微粒子とを有機溶媒中で混合す
ると、ポリシラザンと無定形シリカ微粒子の少なくとも
一部が常温で反応する。
【0028】(2) 次に、上記ポリシラザンと無定形シ
リカ微粒子との反応物を含む液から減圧蒸留などの方法
で、溶媒を水と相溶しない上記のような有機溶媒に置換
する。このような被膜形成用塗布液を用いて被膜を形成
すると、従来のアルコキシシランと無機酸化物微粒子と
を含む被膜形成用塗布液から形成された被膜と比較し
て、微粒子の凝集のない均一な凹凸を有し、緻密で耐久
性に優れている被膜を得ることができる。
リカ微粒子との反応物を含む液から減圧蒸留などの方法
で、溶媒を水と相溶しない上記のような有機溶媒に置換
する。このような被膜形成用塗布液を用いて被膜を形成
すると、従来のアルコキシシランと無機酸化物微粒子と
を含む被膜形成用塗布液から形成された被膜と比較し
て、微粒子の凝集のない均一な凹凸を有し、緻密で耐久
性に優れている被膜を得ることができる。
【0029】被膜付磁気記録媒体 次に、本発明に係る被膜付磁気記録媒体について説明す
る。本発明に係る被膜付磁気記録媒体は、ディスク基板
と、その上に形成された磁性層とを含み、ディスク基板
と磁性層との間または磁性層上に、前記のような被膜形
成用塗布液を用いて形成された凹凸付被膜を有してい
る。
る。本発明に係る被膜付磁気記録媒体は、ディスク基板
と、その上に形成された磁性層とを含み、ディスク基板
と磁性層との間または磁性層上に、前記のような被膜形
成用塗布液を用いて形成された凹凸付被膜を有してい
る。
【0030】凹凸付被膜は、ディッピング、スピナー、
スプレー、ロールコーター、フレキソ印刷などの方法
で、前記被膜形成用塗布液をディスク基板と磁性層との
間または磁性層上に塗布した後、常温〜200℃で乾燥
し、さらに、200℃以上、好ましくは300℃以上に
加熱して硬化するで形成することができる。
スプレー、ロールコーター、フレキソ印刷などの方法
で、前記被膜形成用塗布液をディスク基板と磁性層との
間または磁性層上に塗布した後、常温〜200℃で乾燥
し、さらに、200℃以上、好ましくは300℃以上に
加熱して硬化するで形成することができる。
【0031】また、必要に応じて、塗布した凹凸付被膜
に、紫外線、酸素プラズマなどの電磁波を照射したり、
あるいは得られた被膜付き基材をアンモニア雰囲気中に
晒してもよい。このような処理によって、得られた被膜
の硬化が促進され、低温で被膜硬度を高めることが可能
となる。
に、紫外線、酸素プラズマなどの電磁波を照射したり、
あるいは得られた被膜付き基材をアンモニア雰囲気中に
晒してもよい。このような処理によって、得られた被膜
の硬化が促進され、低温で被膜硬度を高めることが可能
となる。
【0032】本発明では、凹凸付被膜表面の凹凸は、3
〜30nmであることが好ましい。被膜表面の凹凸が3nm
より小さいと磁気ヘッドとの摩擦係数が大きくなり、ま
た、被膜表面の凹凸が30nmより大きくなるとシリカ微
粒子の密着性が悪くなることがある。
〜30nmであることが好ましい。被膜表面の凹凸が3nm
より小さいと磁気ヘッドとの摩擦係数が大きくなり、ま
た、被膜表面の凹凸が30nmより大きくなるとシリカ微
粒子の密着性が悪くなることがある。
【0033】また、凹凸付被膜中のシリカ微粒子の粒子
密度は、0.1〜1000個/μm2(被膜)が好ましい。粒子密度
が0.1個/μm2(被膜)より少ないと微粒子の間隔が大きく
すぎて磁気ヘッドの最低浮上量を低くすることができ
ず、基板との摩擦係数が大きくなる。粒子密度が1000個
/μm2(被膜)より多いと微粒子の凝集が発生し、微粒子
の密着性が悪くなる。
密度は、0.1〜1000個/μm2(被膜)が好ましい。粒子密度
が0.1個/μm2(被膜)より少ないと微粒子の間隔が大きく
すぎて磁気ヘッドの最低浮上量を低くすることができ
ず、基板との摩擦係数が大きくなる。粒子密度が1000個
/μm2(被膜)より多いと微粒子の凝集が発生し、微粒子
の密着性が悪くなる。
【0034】ディスク基板としては、カーボン、強化ガ
ラス、結晶化ガラス、アルミニウム、チタン、セラミッ
クス、樹脂およびこれらの複合材料からなる基板が挙げ
られる。
ラス、結晶化ガラス、アルミニウム、チタン、セラミッ
クス、樹脂およびこれらの複合材料からなる基板が挙げ
られる。
【0035】磁性層としては、CoCr、CoNi、CoCr
X(XはTa,Pt,Au,Ti,V,Ni,W,La,Ce,Pr,Nd,
Pm,Sm,Eu,Li,Si,B,Ca,As,Y,Zr,Nb,Mo,Rh,
Ru,Ag,Sbなどから選ばれる1種または2種以上の金
属を表す)などの磁性合金からなる層が挙げられる。こ
のような磁性層は、通常、PVD(物理的気相成長)法によ
り形成される。
X(XはTa,Pt,Au,Ti,V,Ni,W,La,Ce,Pr,Nd,
Pm,Sm,Eu,Li,Si,B,Ca,As,Y,Zr,Nb,Mo,Rh,
Ru,Ag,Sbなどから選ばれる1種または2種以上の金
属を表す)などの磁性合金からなる層が挙げられる。こ
のような磁性層は、通常、PVD(物理的気相成長)法によ
り形成される。
【0036】また、本発明に係る被膜付磁気記録媒体に
は、Al,Si,Ti,Cr,Zr,Nb,Mo,Ta,Wなどの金属の
酸化物,窒化物,炭化物,カーボン,ボロンナイトライドな
どからなる保護膜、潤滑層などが積層されていてもよ
い。
は、Al,Si,Ti,Cr,Zr,Nb,Mo,Ta,Wなどの金属の
酸化物,窒化物,炭化物,カーボン,ボロンナイトライドな
どからなる保護膜、潤滑層などが積層されていてもよ
い。
【0037】
【発明の効果】本発明に係る磁気記録媒体によれば、シ
リカ微粒子の凝集がなく基材表面上に凹凸が均一に分布
していると同時に密着性、耐久性に優れた被膜が積層さ
れた磁気記録媒体を得ることができる。この被膜上に形
成された凹凸によって、磁気ヘッドが摺動する際の静摩
擦係数を小さくすることができ、また、磁気ヘッドの最
低浮上量を低くすることができる。
リカ微粒子の凝集がなく基材表面上に凹凸が均一に分布
していると同時に密着性、耐久性に優れた被膜が積層さ
れた磁気記録媒体を得ることができる。この被膜上に形
成された凹凸によって、磁気ヘッドが摺動する際の静摩
擦係数を小さくすることができ、また、磁気ヘッドの最
低浮上量を低くすることができる。
【0038】
【実施例】以下、本発明を実施例により説明するが、本
発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
【0039】
【製造例】ポリシラザン(A)の合成 特公昭63-16325号公報記載の製造方法に準じて、以下の
ような製造方法でポリシラザン(A)を合成した。
ような製造方法でポリシラザン(A)を合成した。
【0040】温度が0℃の恒温槽内に設置した反応器内
にピリジン600mlを入れ、撹拌しながらジクロロシラ
ン28.3gを添加して錯体(ピリジンアダクツ)を形
成した。次に、このピリジンアダクツを含む液中にアン
モニアを2時間吹き込み、沈殿を生じさせた。この沈殿
を濾過して除去したのち、濾液を80℃で10時間加熱
し、さらに減圧して濾液からピリジンを除去して、反応
器内に樹脂状のポリシラザンを得た。このポリシラザン
をメチルイソブチルケトンに溶解して、濃度10重量%
のポリシラザン(A)を得た。
にピリジン600mlを入れ、撹拌しながらジクロロシラ
ン28.3gを添加して錯体(ピリジンアダクツ)を形
成した。次に、このピリジンアダクツを含む液中にアン
モニアを2時間吹き込み、沈殿を生じさせた。この沈殿
を濾過して除去したのち、濾液を80℃で10時間加熱
し、さらに減圧して濾液からピリジンを除去して、反応
器内に樹脂状のポリシラザンを得た。このポリシラザン
をメチルイソブチルケトンに溶解して、濃度10重量%
のポリシラザン(A)を得た。
【0041】ポリシラザン(B)の合成 塩化メチレン300mlを入れた1リットルの四つ口フラ
スコを−5℃に冷却した。次いでこの四つ口フラスコ内
にメチルジクロロシラン34.2gを加え、撹拌しなが
らさらにアンモニアを2時間吹き込んで液中に沈殿を生
じさせた。この沈殿を濾過して除去した後、濾液を減圧
し、濾液から塩化メチレンを除去して樹脂状のポリシラ
ザンを得た。
スコを−5℃に冷却した。次いでこの四つ口フラスコ内
にメチルジクロロシラン34.2gを加え、撹拌しなが
らさらにアンモニアを2時間吹き込んで液中に沈殿を生
じさせた。この沈殿を濾過して除去した後、濾液を減圧
し、濾液から塩化メチレンを除去して樹脂状のポリシラ
ザンを得た。
【0042】このポリシラザンをメチルイソブチルケト
ンに溶解して、濃度10重量%のポリシラザン(B)を得
た。上記のポリシラザン(A),(B)の元素分析結果および
重量平均分子量を表1に示す。なおこれらの重量平均分
子量は、ゲルクロマトグラフ法で測定したポリスチレン
換算値である。
ンに溶解して、濃度10重量%のポリシラザン(B)を得
た。上記のポリシラザン(A),(B)の元素分析結果および
重量平均分子量を表1に示す。なおこれらの重量平均分
子量は、ゲルクロマトグラフ法で測定したポリスチレン
換算値である。
【0043】
【表1】
【0044】無定形シリカ微粒子分散シリカゾル(C)の
調製 市販のオルガノシリカゾル(触媒化成工業(株)製、商
品名「オスカル」;平均粒径17nm、濃度10重量%、
溶媒エタノール)70gにポリシラザン(A)(濃度10
重量%、溶媒メチルイソブチルケトン)30gを添加
し、50℃で5時間シリカ微粒子との反応を行った。次
いで液中の溶媒をメチルイソブチルケトンで置換して固
形分濃度2重量%の無定形シリカ微粒子分散シリカゾル
(C)を調製した。
調製 市販のオルガノシリカゾル(触媒化成工業(株)製、商
品名「オスカル」;平均粒径17nm、濃度10重量%、
溶媒エタノール)70gにポリシラザン(A)(濃度10
重量%、溶媒メチルイソブチルケトン)30gを添加
し、50℃で5時間シリカ微粒子との反応を行った。次
いで液中の溶媒をメチルイソブチルケトンで置換して固
形分濃度2重量%の無定形シリカ微粒子分散シリカゾル
(C)を調製した。
【0045】無定形シリカ微粒子分散シリカゾル(D)の
調製 市販のオルガノシリカゾル(触媒化成工業(株)製、商
品名「オスカル」;平均粒径45nm、濃度10重量%、
溶媒エタノール)70gにポリシラザン(B)(濃度10
重量%、溶媒メチルイソブチルケトン)30gを添加
し、50℃で2時間反応させた。次いで溶媒をメチルイ
ソブチルケトンで置換して濃度2重量%の無定形シリカ
微粒子分散シリカゾル(D)を調製した。
調製 市販のオルガノシリカゾル(触媒化成工業(株)製、商
品名「オスカル」;平均粒径45nm、濃度10重量%、
溶媒エタノール)70gにポリシラザン(B)(濃度10
重量%、溶媒メチルイソブチルケトン)30gを添加
し、50℃で2時間反応させた。次いで溶媒をメチルイ
ソブチルケトンで置換して濃度2重量%の無定形シリカ
微粒子分散シリカゾル(D)を調製した。
【0046】
【実施例1】ポリシラザン(A)と無定形シリカ微粒子分
散シリカゾル(C)とを固形分量比が(ポリシラザン/無定
形シリカ微粒子分散シリカゾル=1/9)となるように混合
し、塗布液を調製した。
散シリカゾル(C)とを固形分量比が(ポリシラザン/無定
形シリカ微粒子分散シリカゾル=1/9)となるように混合
し、塗布液を調製した。
【0047】ガラス製の磁気ディスク基板をスピナーに
セットし、前記塗布液3mlを滴下して2000rpmで5秒
間スピナー塗布した。塗布後、塗膜を150℃で3分間
乾燥し、高圧水銀灯を5000mJ/cm2照射したのち、300
℃で30分間加熱し、凹凸付被膜が基板上に形成された
基材を得た。
セットし、前記塗布液3mlを滴下して2000rpmで5秒
間スピナー塗布した。塗布後、塗膜を150℃で3分間
乾燥し、高圧水銀灯を5000mJ/cm2照射したのち、300
℃で30分間加熱し、凹凸付被膜が基板上に形成された
基材を得た。
【0048】得られた被膜付き基材上に、さらに磁性
層、潤滑層を積層し磁気記録媒体を作製した。凹凸付被
膜の表面の凹凸は、触針式の表面粗さ計サーフコム(東
京精密社製)で調べ、被膜中のシリカ微粒子の粒子密度
はSEM写真解析で調べた。また、CSS(contact-start-
stop)耐久テストにより、初期およびCSS5万回後の摩擦
係数の変化を測定した。また、glide-heightテストで磁
気ヘッドの最低浮上量の評価を行った。 [CSS耐久テスト]Al2O3-TiC材スライダからなる薄膜
ヘッドを用い、ヘッド荷重3g、ヘッド浮上量2.0μ
mの条件で、4500rpm−5秒回転−5秒停止のサイ
クルを5万サイクル繰り返し、静摩擦係数の変化を測定
した。 [glide-heightテスト]Al2O3-TiC材スライダからな
る薄膜ヘッドを用い、ヘッド荷重3g、4500rpmで
5秒間回転させ、ハードディスク表面のキズの発生の有
無で、ヘッドの最低浮上量を測定した。
層、潤滑層を積層し磁気記録媒体を作製した。凹凸付被
膜の表面の凹凸は、触針式の表面粗さ計サーフコム(東
京精密社製)で調べ、被膜中のシリカ微粒子の粒子密度
はSEM写真解析で調べた。また、CSS(contact-start-
stop)耐久テストにより、初期およびCSS5万回後の摩擦
係数の変化を測定した。また、glide-heightテストで磁
気ヘッドの最低浮上量の評価を行った。 [CSS耐久テスト]Al2O3-TiC材スライダからなる薄膜
ヘッドを用い、ヘッド荷重3g、ヘッド浮上量2.0μ
mの条件で、4500rpm−5秒回転−5秒停止のサイ
クルを5万サイクル繰り返し、静摩擦係数の変化を測定
した。 [glide-heightテスト]Al2O3-TiC材スライダからな
る薄膜ヘッドを用い、ヘッド荷重3g、4500rpmで
5秒間回転させ、ハードディスク表面のキズの発生の有
無で、ヘッドの最低浮上量を測定した。
【0049】結果を表2に示す。
【0050】
【実施例2】ポリシラザン(A)と無定形シリカ微粒子分
散シリカゾル(C)とを固形分量比が(ポリシラザン/無定
形シリカ微粒子分散シリカゾル=5/95)となるように混合
して、塗布液を調製した。
散シリカゾル(C)とを固形分量比が(ポリシラザン/無定
形シリカ微粒子分散シリカゾル=5/95)となるように混合
して、塗布液を調製した。
【0051】ガラス製の磁気ディスク基板をスピナーに
セットし、前記塗布液3mlを滴下して1000rpmで5秒
間スピナー塗布した。塗布後、塗膜を150℃で3分間
乾燥し、高圧水銀灯を5000mJ/cm2照射したのち、300
℃で30分間加熱し、凹凸付被膜が基板上に形成された
基材を得た。
セットし、前記塗布液3mlを滴下して1000rpmで5秒
間スピナー塗布した。塗布後、塗膜を150℃で3分間
乾燥し、高圧水銀灯を5000mJ/cm2照射したのち、300
℃で30分間加熱し、凹凸付被膜が基板上に形成された
基材を得た。
【0052】得られた被膜付基材上に、得られた被膜付
き基材上に、さらに磁性層、潤滑層を積層し磁気記録媒
体を作成し、実施例1と同様に評価した。結果を表2に
示す。
き基材上に、さらに磁性層、潤滑層を積層し磁気記録媒
体を作成し、実施例1と同様に評価した。結果を表2に
示す。
【0053】
【実施例3】ポリシラザン(A)と無定形シリカ微粒子分
散シリカゾル(C)とを固形分量比が(ポリシラザン/無定
形シリカ微粒子分散シリカゾル=3/7)となるように混合
して、塗布液を調製した。
散シリカゾル(C)とを固形分量比が(ポリシラザン/無定
形シリカ微粒子分散シリカゾル=3/7)となるように混合
して、塗布液を調製した。
【0054】ガラス製の磁気ディスク基板をスピナーに
セットし、前記塗布液3mlを滴下して4000rpmで5秒
間スピナー塗布した。塗布後、塗膜を150℃で3分間
乾燥し、高圧水銀灯を5000mJ/cm2照射したのち、300
℃で30分間加熱し、凹凸付被膜が基板上に形成された
基材を得た。
セットし、前記塗布液3mlを滴下して4000rpmで5秒
間スピナー塗布した。塗布後、塗膜を150℃で3分間
乾燥し、高圧水銀灯を5000mJ/cm2照射したのち、300
℃で30分間加熱し、凹凸付被膜が基板上に形成された
基材を得た。
【0055】得られた被膜付基材上に、得られた被膜付
き基材上に、さらに磁性層、潤滑層を積層し磁気記録媒
体を作成し、実施例1と同様に評価した。結果を表2に
示す。
き基材上に、さらに磁性層、潤滑層を積層し磁気記録媒
体を作成し、実施例1と同様に評価した。結果を表2に
示す。
【0056】
【実施例4】ポリシラザン(B)と無定形シリカ微粒子分
散シリカゾル(C)とを固形分量比が(ポリシラザン/無定
形シリカ微粒子分散シリカゾル=1/9)となるように混合
して、塗布液を調製した。
散シリカゾル(C)とを固形分量比が(ポリシラザン/無定
形シリカ微粒子分散シリカゾル=1/9)となるように混合
して、塗布液を調製した。
【0057】ガラス製の磁気ディスク基板をスピナーに
セットし、前記塗布液3mlを滴下して2000rpmで5秒
間スピナー塗布した。塗布後、塗膜を150℃で3分間
乾燥し、高圧水銀灯を5000mJ/cm2照射したのち、300
℃で30分間加熱し、凹凸付被膜が基板上に形成された
基材を得た。
セットし、前記塗布液3mlを滴下して2000rpmで5秒
間スピナー塗布した。塗布後、塗膜を150℃で3分間
乾燥し、高圧水銀灯を5000mJ/cm2照射したのち、300
℃で30分間加熱し、凹凸付被膜が基板上に形成された
基材を得た。
【0058】得られた被膜付基材上に、得られた被膜付
き基材上に、さらに磁性層、潤滑層を積層し磁気記録媒
体を作成し、実施例1と同様に評価した。結果を表2に
示す。
き基材上に、さらに磁性層、潤滑層を積層し磁気記録媒
体を作成し、実施例1と同様に評価した。結果を表2に
示す。
【0059】
【実施例5】ポリシラザン(B)と無定形シリカ微粒子分
散シリカゾル(D)とを固形分量比が(ポリシラザン/無定
形シリカ微粒子分散シリカゾル=1/9)となるように混合
して、塗布液を調製した。
散シリカゾル(D)とを固形分量比が(ポリシラザン/無定
形シリカ微粒子分散シリカゾル=1/9)となるように混合
して、塗布液を調製した。
【0060】ガラス製の磁気ディスク基板をスピナーに
セットし、前記塗布液3mlを滴下して2000rpmで5秒
間スピナー塗布した。塗布後、塗膜を150℃で3分間
乾燥し、高圧水銀灯を5000mJ/cm2照射したのち、300
℃で30分間加熱し、凹凸付被膜が基板上に形成された
基材を得た。
セットし、前記塗布液3mlを滴下して2000rpmで5秒
間スピナー塗布した。塗布後、塗膜を150℃で3分間
乾燥し、高圧水銀灯を5000mJ/cm2照射したのち、300
℃で30分間加熱し、凹凸付被膜が基板上に形成された
基材を得た。
【0061】得られた被膜付基材上に、得られた被膜付
き基材上に、さらに磁性層、潤滑層を積層し磁気記録媒
体を作成し、実施例1と同様に評価した。結果を表2に
示す。
き基材上に、さらに磁性層、潤滑層を積層し磁気記録媒
体を作成し、実施例1と同様に評価した。結果を表2に
示す。
【0062】
【実施例6】ポリシラザン(A)と無定形シリカ微粒子分
散シリカゾル(C)とを固形分量比で(ポリシラザン/無定
形シリカ微粒子分散シリカゾル=1/9)となるように混合
して、塗布液を調製した。
散シリカゾル(C)とを固形分量比で(ポリシラザン/無定
形シリカ微粒子分散シリカゾル=1/9)となるように混合
して、塗布液を調製した。
【0063】ガラス製の磁気ディスク基板をスピナーに
セットし、前記塗布液3mlを滴下して2000rpmで5秒
間スピナー塗布した。塗布後、塗膜を150℃で3分間
乾燥し、0.1Torrの真空チャンバー内で酸素プラズマ
を10分間照射後、250℃で30分間加熱し、凹凸付
被膜が基板上に形成された基材を得た。
セットし、前記塗布液3mlを滴下して2000rpmで5秒
間スピナー塗布した。塗布後、塗膜を150℃で3分間
乾燥し、0.1Torrの真空チャンバー内で酸素プラズマ
を10分間照射後、250℃で30分間加熱し、凹凸付
被膜が基板上に形成された基材を得た。
【0064】得られた被膜付基材上に、得られた被膜付
き基材上に、さらに磁性層、潤滑層を積層し磁気記録媒
体を作成し、実施例1と同様に評価した。結果を表2に
示す。
き基材上に、さらに磁性層、潤滑層を積層し磁気記録媒
体を作成し、実施例1と同様に評価した。結果を表2に
示す。
【0065】
【実施例7】ポリシラザン(A)と無定形シリカ微粒子分
散シリカゾル(C)とを固形分量比で(ポリシラザン/無定
形シリカ微粒子分散シリカゾル=1/9)となるように混合
して、塗布液を調製した。
散シリカゾル(C)とを固形分量比で(ポリシラザン/無定
形シリカ微粒子分散シリカゾル=1/9)となるように混合
して、塗布液を調製した。
【0066】ガラス製の磁気ディスク基板をスピナーに
セットし、前記塗布液3mlを滴下して2000rpmで5秒
間スピナー塗布した。塗布後、塗膜を100℃で3分間
乾燥し、高圧水銀灯を5000mJ/cm2照射後、5000ppmのN
H3雰囲気中で10時間放置した。放置後、100℃で
10分間加熱し、凹凸付被膜が基板上に形成された基材
を得た。
セットし、前記塗布液3mlを滴下して2000rpmで5秒
間スピナー塗布した。塗布後、塗膜を100℃で3分間
乾燥し、高圧水銀灯を5000mJ/cm2照射後、5000ppmのN
H3雰囲気中で10時間放置した。放置後、100℃で
10分間加熱し、凹凸付被膜が基板上に形成された基材
を得た。
【0067】得られた被膜付基材上に、得られた被膜付
き基材上に、さらに磁性層、潤滑層を積層し磁気記録媒
体を作成し、実施例1と同様に評価した。結果を表2に
示す。
き基材上に、さらに磁性層、潤滑層を積層し磁気記録媒
体を作成し、実施例1と同様に評価した。結果を表2に
示す。
【0068】
【比較例】テトラエトキシシラン7gに、濃度0.5重
量%の塩酸を5g加えて30分間撹拌した後、エタノー
ル88gを加えて希釈し、固形分濃度2重量%の部分加
水分解物を得た。この部分加水分解物に市販のオルガノ
シリカゾル(触媒化成工業(株)製、商品名「オスカ
ル」;平均粒径17nm、濃度2重量%、溶媒エタノー
ル)を固形分量比が(部分加水分解物/シリカゾル=1/9)
となるように混合して、塗布液を調製した。
量%の塩酸を5g加えて30分間撹拌した後、エタノー
ル88gを加えて希釈し、固形分濃度2重量%の部分加
水分解物を得た。この部分加水分解物に市販のオルガノ
シリカゾル(触媒化成工業(株)製、商品名「オスカ
ル」;平均粒径17nm、濃度2重量%、溶媒エタノー
ル)を固形分量比が(部分加水分解物/シリカゾル=1/9)
となるように混合して、塗布液を調製した。
【0069】ガラス製の磁気ディスク基板をスピナーに
セットし、前記塗布液3mlを滴下して1000rpmで5秒
間スピナー塗布した。塗布後、塗膜を150℃で3分間
乾燥し、高圧水銀灯を5000mJ/cm2照射後、300℃で3
0分間加熱し、凹凸付被膜が基板上に形成された基材を
得た。
セットし、前記塗布液3mlを滴下して1000rpmで5秒
間スピナー塗布した。塗布後、塗膜を150℃で3分間
乾燥し、高圧水銀灯を5000mJ/cm2照射後、300℃で3
0分間加熱し、凹凸付被膜が基板上に形成された基材を
得た。
【0070】得られた被膜付基材上に、得られた被膜付
き基材上に、さらに磁性層、潤滑層を積層し磁気記録媒
体を作成し、実施例1と同様に評価した。結果を表2に
示す。
き基材上に、さらに磁性層、潤滑層を積層し磁気記録媒
体を作成し、実施例1と同様に評価した。結果を表2に
示す。
【0071】
【表2】
Claims (2)
- 【請求項1】 ディスク基板と、その上に形成された磁
性層とを含み、前記ディスク基板と前記磁性層との間ま
たは前記磁性層上に、 下記一般式(1) 【化1】 (式中、R1、R2およびR3は、それぞれ独立して水素
原子、炭素原子数1〜8のアルキル基またはアリール基
である。)で表される繰り返し単位を有するポリシラザ
ンと、無定形シリカ微粒子とを含む被膜形成用塗布液か
ら形成された凹凸付被膜を有することを特徴とする被膜
付磁気記録媒体。 - 【請求項2】 前記無定形シリカ微粒子の粒径が5〜4
5nmであり、凹凸付被膜表面の凹凸が3〜30nmであ
り、かつ被膜中の粒子密度が0.1〜1000個/μm 2である
ことを特徴とする請求項1に記載の被膜付磁気記録媒
体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18836997A JPH1139632A (ja) | 1997-07-14 | 1997-07-14 | 被膜付磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18836997A JPH1139632A (ja) | 1997-07-14 | 1997-07-14 | 被膜付磁気記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1139632A true JPH1139632A (ja) | 1999-02-12 |
Family
ID=16222416
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18836997A Pending JPH1139632A (ja) | 1997-07-14 | 1997-07-14 | 被膜付磁気記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1139632A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008120986A (ja) * | 2006-10-19 | 2008-05-29 | Shin Etsu Chem Co Ltd | プライマー組成物及び被覆物品 |
| JP2009041101A (ja) * | 2007-03-28 | 2009-02-26 | Hitachi Chem Co Ltd | 絶縁膜被覆粉体及びその製造方法 |
| JP2009513808A (ja) * | 2005-10-31 | 2009-04-02 | エボニック デグサ ゲーエムベーハー | 改良された処理組成物およびその形成方法 |
| WO2017213097A1 (ja) * | 2016-06-09 | 2017-12-14 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 防汚被覆膜および防汚被覆体 |
-
1997
- 1997-07-14 JP JP18836997A patent/JPH1139632A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009513808A (ja) * | 2005-10-31 | 2009-04-02 | エボニック デグサ ゲーエムベーハー | 改良された処理組成物およびその形成方法 |
| JP2008120986A (ja) * | 2006-10-19 | 2008-05-29 | Shin Etsu Chem Co Ltd | プライマー組成物及び被覆物品 |
| JP2009041101A (ja) * | 2007-03-28 | 2009-02-26 | Hitachi Chem Co Ltd | 絶縁膜被覆粉体及びその製造方法 |
| WO2017213097A1 (ja) * | 2016-06-09 | 2017-12-14 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 防汚被覆膜および防汚被覆体 |
| JPWO2017213097A1 (ja) * | 2016-06-09 | 2019-04-04 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 防汚被覆膜および防汚被覆体 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040630 |
|
| A521 | Written amendment |
Effective date: 20040830 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20040922 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050121 |