JPH1155047A - 低雑音増幅器 - Google Patents

低雑音増幅器

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JPH1155047A
JPH1155047A JP20911497A JP20911497A JPH1155047A JP H1155047 A JPH1155047 A JP H1155047A JP 20911497 A JP20911497 A JP 20911497A JP 20911497 A JP20911497 A JP 20911497A JP H1155047 A JPH1155047 A JP H1155047A
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JP
Japan
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inductor
fet
stage
noise amplifier
stage fet
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JP20911497A
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Inventor
Kazuhiko Nakahara
和彦 中原
Makoto Matsunaga
誠 松永
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 多段低雑音増幅器において、入力側の雑音整
合と反射整合のインピーダンスを一致させるための段間
整合回路8を小型・低損失にすることを課題とする。 【解決手段】 ソース電極6、14にインダクタ7、1
5を装荷したFET3、11で多段低雑音増幅器を構成
し、段間整合回路8を構成するリアクタンス素子である
インダクタ9の1つとバイパスコンデンサ10のみで構
成し、入力側の雑音整合と反射整合のインピーダンスを
一致させるようにリアクタンス素子の値と2段目のFE
T11のソース電極14に装荷したインダクタ15の値
に選定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、マイクロ波やミ
リ波等の超高周波数帯で使用される低雑音増幅器に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来の低雑音増幅器について図11を参
照しながら説明する。図11は、例えば特開昭61−1
67207号公報(米国特許公報第4614915号)
に示された従来の低雑音増幅器の構成を示す図である。
この図は、テキサス・インスツルメンツ(TI)社の誘
導性直列帰還を設けたFETを採用した低雑音増幅器の
一例である。
【0003】図11は、3段構成の低雑音増幅器であ
り、直列帰還インダクタンスを実現する伝送線路54、
54’、54”が装荷されたFET39、39’、3
9”と、入力整合回路40と、1−2段の段間整合回路
46と、2−3段の段間整合回路48と、出力整合回路
44とにより構成されている。
【0004】初段増幅器を構成するFET39には、Γ
opt*=S11とするための直列帰還インダクタンスを実現
する伝送線路54が装荷され、2段目増幅器及び3段目
増幅器を構成するFET39’及び39”には3段低雑
音増幅器の安定性を高めるために直列帰還インダクタン
スを実現する伝送線路54’及び54”が装荷されてい
る。ここで、「Γopt*」は雑音最適インピーダンスを、
「S11」は入力反射係数をそれぞれ表す。
【0005】1−2段の段間整合回路46により、初段
FET39においてΓopt*=S11とし、入力整合回路4
0により、雑音最適インピーダンスΓopt*でかつ入力反
射係数S11に整合されているので低雑音で入力側で反射
の少ない低雑音増幅器が得られる。
【0006】また、2−3段の段間整合回路48及び出
力整合回路44は、各々の直列帰還インダクタンスを装
荷したFET39’及び39”に対して低雑音で高利得
が得られるようにそれぞれ設計されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上述したような従来の
低雑音増幅器では、初段増幅器を構成するFET39に
はΓopt*=S11とするための直列帰還インダクタンスを
装荷し、2段目、3段目増幅器を構成するFET3
9’、39”には3段低雑音増幅器の安定性を高めるた
めに直列帰還インダクタンスを装荷するとともに、入力
整合回路、出力整合回路及び段間整合回路は各々の直列
帰還インダクタンスを装荷したFETの最大利得が得ら
れる入出力インピーダンスあるいは雑音最適インピーダ
ンスに対して整合するようにそれぞれ設計されているた
め整合回路が大きくなるという問題点があった。
【0008】また、初段のFETの出力側の整合インピ
ーダンスはΓopt*=S11となる値を設定するため、最大
利得が得られる出力インピーダンスとは異なり、そのた
め利得を犠牲にしなければならないという問題点があっ
た。
【0009】この発明は、前述した問題点を解決するた
めになされたもので、ソース電極にインダクタを装荷し
たFETで構成された多段低雑音増幅器において、段間
整合回路の小型化、低損失化及び高利得化を可能にする
ことができる低雑音増幅器を得ることを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】この発明に係る低雑音増
幅器は、ソース電極に第1のインダクタを装荷した初段
のFETと、ソース電極に第2のインダクタを装荷する
とともに、ドレイン電極に第2の負荷を接続した後段の
FETと、リアクタンス素子とバイパスコンデンサとで
構成した段間整合回路とを備え、前記初段のFETの出
力側に対する任意の第1の負荷に対して共約整合をさせ
るように、前記段間整合回路のリアクタンス素子、前記
後段のFETのソース電極に装荷された第2のインダク
タ、及び前記後段のFETのドレイン電極に接続された
第2の負荷を設定したものである。
【0011】また、この発明に係る低雑音増幅器は、前
記段間整合回路を構成する前記リアクタンス素子が、前
記初段のFETのドレイン電極に直列接続し、前記バイ
パスコンデンサが、前記リアクタンス素子に直列接続し
ているものである。
【0012】また、この発明に係る低雑音増幅器は、前
記初段のFETの出力側にΓopt*=S11とするための第
1の負荷ZL1を接続し、前記後段のFETの出力側に
接続する第2の負荷をZL、使用する周波数の角周波数
をω、正規化インピーダンスをZ0、|ZL1|<1と
なる場合の前記第1のインダクタをLs1とし、前記初
段のFETの小信号SパラメータをSij(i,j=1,2)、
前記後段のFETのインピーダンスパラメータをZ'ij
(i,j=1,2)としたときに、
【0013】
【数7】
【0014】を満たす関係に設定された前記段間整合回
路のリアクタンス素子X1、前記後段のFETのソース
電極に装荷された第2のインダクタLs2、及び前記後
段のFETのドレイン電極に接続された第2の負荷ZL
を備えたものである。
【0015】また、この発明に係る低雑音増幅器は、前
記後段のFETのソース電極に、前記第2のインダクタ
Ls2の代わりに、
【0016】
【数8】
【0017】を満たす関係に設定された第3のインダク
タLs2’と容量素子Cs2とからなる並列回路を装荷し
たものである。
【0018】また、この発明に係る低雑音増幅器は、前
記リアクタンス素子に直列に第1の可変容量素子を接続
するとともに、前記後段のFETのソース電極に、前記
第2のインダクタの代わりに、第3のインダクタと第2
の可変容量素子とからなる並列回路を装荷したものであ
る。
【0019】また、この発明に係る低雑音増幅器は、前
記段間整合回路を構成する前記リアクタンス素子が、前
記初段のFETのドレイン電極に並列接続し、前記バイ
パスコンデンサが、前記初段のFETのドレイン電極に
直列接続しているものである。
【0020】また、この発明に係る低雑音増幅器は、前
記初段のFETの出力側にΓopt*=S11とするための第
1の負荷ZL1を接続し、前記後段のFETの出力側に
接続する第2の負荷をZL、使用する周波数の角周波数
をω、正規化インピーダンスをZ0、|ZL1|<1と
なる場合の前記第1のインダクタをLs1とし、前記初
段のFETの小信号SパラメータをSij(i,j=1,2)、
前記後段のFETのインピーダンスパラメータをZ'ij
(i,j=1,2)としたときに、
【0021】
【数9】
【0022】を満たす関係に設定された前記段間整合回
路のリアクタンス素子X2、前記後段のFETのソース
電極に装荷された第2のインダクタLs2、及び前記後
段のFETのドレイン電極に接続された第2の負荷ZL
を備えたものである。
【0023】また、この発明に係る低雑音増幅器は、前
記後段のFETのソース電極に、前記第2のインダクタ
Ls2の代わりに、
【0024】
【数10】
【0025】を満たす関係に設定された第3のインダク
タLs2’と容量素子Cs2とからなる並列回路を装荷し
たものである。
【0026】また、この発明に係る低雑音増幅器は、前
記リアクタンス素子に直列に第1の可変容量素子を接続
するとともに、前記後段のFETのソース電極に、前記
第2のインダクタの代わりに、第3のインダクタと第2
の可変容量素子とからなる並列回路を装荷したものであ
る。
【0027】また、この発明に係る低雑音増幅器は、前
記初段のFETのソース電極に装荷したインダクタ、前
記後段のFETのソース電極に装荷したインダクタ、及
び前記段間整合回路を構成するリアクタンス素子を分布
定数線路で置き換えたものである。
【0028】また、この発明に係る低雑音増幅器は、前
記初段のFET及び前記後段のFETの少なくとも1つ
をデュアルゲートFETで置き換えたものである。
【0029】また、この発明に係る低雑音増幅器は、前
記初段のFET及び前記後段のFETの少なくとも1つ
をカスコード接続したFETで置き換えたものである。
【0030】また、この発明に係る低雑音増幅器は、ソ
ース電極に第1のインダクタを装荷した初段のFET、
あるいは前記ソース電極に第1のインダクタを装荷した
初段のFETの少なくとも1つの電極に損失を含む素子
を付加した回路の小信号SパラメータをS'ij(i,j=1,
2)としたときに、
【0031】
【数11】
【0032】を満たす関係に設定された前記第1のイン
ダクタLs1を選び、前記初段のFETの出力側の負荷
の利得を最大とするインピーダンスに設定したものであ
る。
【0033】さらに、この発明に係る低雑音増幅器は、
ソース電極に第2のインダクタを装荷した後段のFE
T、あるいは前記ソース電極に第2のインダクタを装荷
した後段のFETの少なくとも1つの電極に損失を含む
素子を付加した回路の小信号SパラメータをS'ij(i,j
=1,2)としたときに、
【0034】
【数12】
【0035】を満たす関係に設定された前記第2のイン
ダクタLs2を選び、前記後段のFETの出力側の負荷
の利得を最大とするインピーダンスに設定したものであ
る。
【0036】
【発明の実施の形態】
実施の形態1.この発明の実施の形態1について図1を
参照しながら説明する。図1は、この発明の実施の形態
1に係る2段の低雑音増幅器の構成を示す等価回路図で
ある。なお、各図中、同一符号は同一又は相当部分を示
す。
【0037】図1において、1は信号源、2は入力整合
回路、3は初段のFET、4は初段のFET3のゲート
電極、5は初段のFET3のドレイン電極、6は初段の
FET3のソース電極、7はインダクタ、8は段間整合
回路、9はインダクタ(リアクタンス素子)、10はバ
イパスコンデンサ、11は後段(2段目)のFET、1
2は後段のFET11のゲート電極、13は後段のFE
T11のドレイン電極、14は後段のFET11のソー
ス電極、15はインダクタ、16は出力整合回路、17
は負荷である。
【0038】すなわち、初段のFET3は、ゲート電極
4とドレイン電極5とソース電極6とを備え、ソース電
極6にインダクタ7が装荷されている。また、2段目の
FET11は、ゲート電極12とドレイン電極13とソ
ース電極14とを備え、ソース電極14にインダクタ1
5が装荷されている。さらに、初段のFET3に直列接
続されたインダクタ9とバイパスコンデンサ10とで段
間整合回路8が構成されている。
【0039】この実施の形態1は、2段低雑音増幅器に
おいて、ソース電極6にインダクタ7を装荷したFET
3に対して、Γopt*=S11とするための負荷インピーダ
ンスZL1を求め、この負荷インピーダンスZL1を基
に段間整合回路8を構成するインダクタ9と2段目のF
ET11に装荷したインダクタ15の値を設定するもの
である。
【0040】段間整合回路8のリアクタンス素子X1
(インダクタ9)の値と、2段目のFET11のソース
電極14に装荷されたインダクタLs2(インダクタ1
5)の値とを、以下に説明する手法により設定する。
【0041】まず、ソース電極6にインダクタ7(Ls
1)を装荷した初段のFET3に対して、Γopt*=S11
とするための負荷インピーダンスZL1を求める。
【0042】ソース電極6にインダクタLs1を装荷し
たFET3の小信号SパラメータをSij(i,j=1,2)と
すると、FET3の入力の反射Γinは、FET3の出力
の反射をΓLとすると次の式(1)で与えられる。 ・・・式(1)
【0043】
【数13】
【0044】上記式(1)において、Γin=Γopt*とお
いて求めたΓLをZL1とすると次の式(2)より負荷
インピーダンスZL1が求まる。 ・・・式(2)
【0045】
【数14】
【0046】次に、インダクタ9とバイパスコンデンサ
10とで構成された段間整合回路8と、ソース電極14
にインダクタLs2(インダクタ15)を装荷した2段
目のFET11とからなる回路Eの段間整合回路側から
みた入力インピーダンスZin(m)を求める。この入力
インピーダンスZin(m)は、次の式(3)で表され
る。なお、ZLはここでは出力整合回路16と負荷17
とからなる負荷インピーダンスである。 ・・・式(3)
【0047】
【数15】
【0048】上記式(3)中のA、B、C、Dは上記回
路Eを表すFマトリクスの要素である。ここで、上記回
路EのFマトリクスを次の式(4)で表す。 ・・・式(4)
【0049】
【数16】
【0050】上記式(4)中のF1は直列接続のリアク
タンス素子X1(インダクタ9)を表すFマトリクス、
2はソース電極14にインダクタLs2(インダクタ1
5)を装荷した2段目のFET11を表すFマトリクス
とする。
【0051】上記のF2に関しては、次の式(5)に示
すZマトリクスを、所定の公式から後で示す式(6)に
示すFマトリクスに変換する。 ・・・式(5)
【0052】
【数17】
【0053】ここで、Zfetは2段目のFET11を表
すZマトリクス、ZlsはインダクタLs2を表すZマト
リクスとする。F2は次の式(6)で表される。 ・・・式(6)
【0054】
【数18】
【0055】上記式(4)のF1と、上記式(6)のF2
とより、上記回路EのFマトリクスは次の式(7)で表
される。 ・・・式(7)
【0056】
【数19】
【0057】従って、上記式(3)及び式(7)より、
入力インピーダンスZin(m)は、次の式(8)で表さ
れる。つまり、式(7)からFマトリスクの各要素A、
B、C、Dを求め、それらを式(3)へ代入する。 ・・・式(8)
【0058】
【数20】
【0059】次に、上記式(2)は反射を表しているの
でインピーダンスに変換して上記の式(8)と等しいと
おくと、次の式(9)で表されるX1とLs2との関係
が求まる。例えば、インダクタLs2と負荷インピーダ
ンスZLを決めると、リアクタンス素子の値X1が一意
に求まる。 ・・・式(9)
【0060】
【数21】
【0061】なお、段間整合回路8を構成するバイパス
コンデンサ10は整合に影響しない値を選ぶので省略し
ている。
【0062】この実施の形態1は、段間整合回路8を直
列接続のリアクタンス素子X1とバイパスコンデンサ1
0とで構成し、初段のFET3の出力側にΓopt*=S11
とするための負荷ZL1を接続し、後段のFET11の
出力側に接続する負荷をZL、使用する周波数の角周波
数をω、正規化インピーダンスをZ0とし、|ZL1|
<1となる場合のインダクタ7をLs1とし、初段のF
ET3の小信号SパラメータをSij(i,j=1,2)、後段
のFET11のインピーダンスパラメータをZ'ij(i,j
=1,2)としたときに、次の式(10)を満たす関係に
設定された直列接続のリアクタンス素子X1と、後段の
FET11のソース電極14に装荷されたインダクタL
s2と、FET11の出力側に接続する負荷ZLとを備
えたものである。 ・・・式(10)
【0063】
【数22】
【0064】また、この実施の形態1では、ソース電極
14にインダクタ15(Ls2)を装荷したFET11
において、安定係数K>1、かつ|S'11S'22−S'12
S'21|<1となる場合のLs2を選び、後段のFET1
1の出力側の負荷の利得を最大とするインピーダンスに
設定したものである。
【0065】さらに、この実施の形態1では、ソース電
極にインダクタを装荷したFETを2つ以上採用して多
段低雑音増幅器を構成し、段間整合回路を直列接続のリ
アクタンス素子とバイパスコンデンサのみで構成したも
のである。
【0066】この実施の形態1によれば、初段のFET
3の出力側はΓopt*=S11とするための負荷に整合した
雑音整合、利得整合あるいは出力が最大となるインピー
ダンスに整合させることができるので、動作が安定な低
雑音増幅器や、高利得あるいは高出力の低雑音増幅器が
構成できる。
【0067】さらに、この実施の形態1によれば、低雑
音増幅器を構成する段間整合回路8を直列接続のリアク
タンス素子(インダクタ9)1つとバイパスコンデンサ
10の2素子みで構成しているので、段間整合回路8の
小型化、低損失化を図ることができる。
【0068】なお、ソース電極6にインダクタ7を装荷
した初段のFET3に対して、任意の負荷インピーダン
スZL1に関し、段間整合回路8を構成するインダクタ
9と後段のFET11に装荷したインダクタ15の値を
設定してもよい。
【0069】つまり、Γopt*=S11とするための負荷Z
L1以外の任意の負荷ZL1に対して、段間整合回路8
のリアクタンス素子X1の値、及びFET11のソース
電極14に装荷されたインダクタ15の値を設定したも
ので、上記式(2)の右辺を任意の値にすればよい。
【0070】すなわち、ソース電極6にインダクタ7
(Ls1)を装荷したFET3を初段とし、後段を同じ
くソース電極14にインダクタ15(Ls2)を装荷し
たFET11とし、段間整合回路8をインダクタ9(リ
アクタンス素子X1)とバイパスコンデンサ10とで構
成した低雑音増幅器において、初段のFET3の出力側
に対する任意の負荷ZL1に対して共約整合をさせるた
めに、段間整合回路8のリアクタンス素子X1の値と、
後段のFET11のソース電極14に装荷されたインダ
クタLs2の値と、FET11の出力側に接続する負荷
ZLを設定してもよい。
【0071】実施の形態2.この発明の実施の形態2に
ついて図2を参照しながら説明する。図2は、この発明
の実施の形態2に係る2段の低雑音増幅器の構成を示す
等価回路図である。
【0072】図2において、信号源1〜ソース電極1
4、出力整合回路16、及び負荷17は図1と同様であ
るので説明を省略する。
【0073】同図に示すように、この実施の形態2で
は、後段のFET11のソース電極14にインダクタ1
5Aとキャパシタ(容量素子)18からなる並列回路を
装荷したものである。
【0074】この実施の形態2は、FET11のソース
電極14に次の式(11)を満たす関係に設定されたイ
ンダクタLs2’とキャパシタCs2の並列回路を装荷し
たものである。この式(11)は、上記並列回路と、上
記図1のインダクタ15とが等しいとおいて求めたもの
である。上記式(10)中のjωLs2をjωLs2’に
置き換えてリアクタンス素子X1等を求めればよい。 ・・・式(11)
【0075】
【数23】
【0076】この実施の形態2によれば、後段のFET
11のソース電極14に装荷されたインダクタ15Aに
並列にキャパシタ18を装荷したので、インダクタのみ
装荷した場合より小さい値のインダクタで同じリアクタ
ンス値を実現できる。
【0077】すなわち、この実施の形態2によれば、後
段のFET11のソース電極14に装荷されたインダク
タ15Aに並列にキャパシタ18を装荷したので、イン
ダクタのみ装荷した場合より小さい値のインダクタで同
じリアクタンス値を実現できるのでインダクタの小型化
ができる。
【0078】実施の形態3.この発明の実施の形態3に
ついて図3を参照しながら説明する。図3は、この発明
の実施の形態3に係る2段の低雑音増幅器の構成を示す
等価回路図である。
【0079】図3において、信号源1〜インダクタ7、
インダクタ9〜ソース電極14、出力整合回路16、及
び負荷17は図1と同様であるので説明を省略する。
【0080】同図に示すように、この実施の形態3で
は、段間整合回路8Aを構成するインダクタ9に直列に
可変容量素子19を接続するとともに、後段のFET1
1のソース電極14にインダクタ15Aと可変容量素子
18Aとからなる並列回路を装荷したものである。
【0081】この実施の形態3は、段間整合回路8Aの
直列接続のリアクタンス素子X1(インダクタ9)に、
直列に可変容量素子19を接続し、さらにFET11の
ソース電極14に装荷したキャパシタを可変容量素子1
8Aで置き換えたものである。
【0082】この実施の形態3によれば、初段のFET
3の出力側の整合状態を可変できる。
【0083】すなわち、この実施の形態3によれば、初
段のFET3の出力側の整合を可変できるので、FET
の製造時の特性バラツキによるインピーダンスの不整合
による低雑音増幅器の特性劣化を防ぐことができる。ま
た、FET3の出力側の整合を利得整合側に変化させる
こともできる。
【0084】実施の形態4.この発明の実施の形態4に
ついて図4及び図5を参照しながら説明する。図4は、
この発明の実施の形態4に係る2段の低雑音増幅器の構
成を示す等価回路図である。また、図5は、この発明の
実施の形態4に係る低雑音増幅器の周波数特性を示す図
である。
【0085】図4において、信号源1〜インダクタ7、
バイパスコンデンサ10〜負荷17は図1と同様である
ので説明を省略する。
【0086】同図に示すように、この実施の形態4で
は、入力整合回路2を直列接続のキャパシタ20と並列
接続のインダクタ21とで構成し、また、段間整合回路
8Bを並列接続のインダクタ9Aと直列接続のバイパス
コンデンサ10とで構成し、さらに、出力整合回路16
を並列接続のインダクタ22と直列接続のキャパシタ2
3とで構成したものである。
【0087】この実施の形態4に係る2段低雑音増幅器
は、2.5GHzを設計中心周波数として設計したもの
で、FETは1、2段ともにゲート幅300μmのGa
AsFETを採用しており、また、各FET3、11の
ソース電極6、14に装荷したインダクタ7、インダク
タ15はともに2nHである。
【0088】また、各整合回路の回路定数は次のとおり
である。入力整合回路2では直列接続のキャパシタ20
は1.3pF、並列接続のインダクタ21は3.9nH
である。段間整合回路8Bでは並列接続のインダクタ9
Aは13nH、直列接続のバイパスコンデンサ10は1
0pFである。出力整合回路16では並列接続のインダ
クタ22は4.9nH、直列接続のキャパシタ23は1
pFである。
【0089】図5は、2段低雑音増幅器の周波数特性の
計算結果を示す。同図に示すように、設計中心周波数
2.5GHzにおいて、入力反射係数S11が−20dB
以上で最小雑音指数と雑音指数とがほぼ一致しているこ
とより、入力側においてΓopt*=S11に対する整合がと
れていることがわかる。
【0090】この実施の形態4では、段間整合回路8B
を並列接続のリアクタンス素子X2(インダクタ9A)
とバイパスコンデンサ10のみで構成したものである。
【0091】すなわち、この実施の形態4によれば、低
雑音増幅器を構成する段間整合回路8Bを並列接続のリ
アクタンス素子X2(インダクタ9A)1つとバイパス
コンデンサ10の2素子みで構成できる。この場合の並
列接続のリアクタンス素子X2とFET11のソース電
極14に装荷されたインダクタLs2との関係は上記実
施の形態1の場合と同様に計算すると次の式(12)の
ようになる。・・・式(12)
【0092】
【数24】
【0093】実施の形態5.この発明の実施の形態5に
ついて図6を参照しながら説明する。図6は、この発明
の実施の形態5に係る2段の低雑音増幅器の構成を示す
等価回路図である。
【0094】図6において、信号源1〜インダクタ7、
バイパスコンデンサ10〜ソース電極14、出力整合回
路16及び負荷17は図1と同様であるので説明を省略
する。
【0095】同図に示すように、この実施の形態5で
は、後段のFET11のソース電極14にインダクタ1
5Aとキャパシタ(容量素子)18からなる並列回路を
装荷したものである。
【0096】この実施の形態5は、FET11のソース
電極14に上記の式(11)を満たす関係に設定された
インダクタLs2’とキャパシタCs2の並列回路を装荷
したものである。
【0097】この実施の形態5によれば、後段のFET
11のソース電極14に装荷されたインダクタ15Aに
並列にキャパシタ18を装荷したので、インダクタのみ
装荷した場合より小さい値のインダクタで同じリアクタ
ンス値を実現できる。
【0098】すなわち、この実施の形態5によれば、後
段のFET11のソース電極14に装荷されたインダク
タ15Aに並列にキャパシタ18を装荷したので、イン
ダクタのみ装荷した場合より小さい値のインダクタで同
じリアクタンス値を実現できるのでインダクタの小型化
ができる。
【0099】実施の形態6.この発明の実施の形態6に
ついて図7を参照しながら説明する。図7は、この発明
の実施の形態6に係る2段の低雑音増幅器の構成を示す
等価回路図である。
【0100】図7において、信号源1〜インダクタ7、
バイパスコンデンサ10〜ソース電極14、出力整合回
路16及び負荷17は図1と同様であるので説明を省略
する。
【0101】同図に示すように、この実施の形態6で
は、段間整合回路8Cを構成するインダクタ9Aに直列
に可変容量素子19Aを接続した回路をFET3のドレ
イン電極5に並列に接続するとともに、後段のFET1
1のソース電極14にインダクタ15Aと可変容量素子
18Aとからなる並列回路を装荷したものである。
【0102】この実施の形態6は、段間整合回路8Cの
並列接続のリアクタンス素子X2に直列に可変容量素子
19Aを接続し、さらにFET11のソース電極14に
装荷したキャパシタを可変容量素子18Aで置き換えた
ものである。
【0103】この実施の形態6では、段間整合回路を構
成する並列接続のリアクタンス素子を可変容量素子30
を含んだリアクタンス素子とし、2段目のFET10の
ソース電極13に装荷したキャパシタを可変容量素子3
2にしたものである。
【0104】この実施の形態6によれば、初段のFET
3の出力側の整合状態を可変できる。
【0105】すなわち、この実施の形態6によれば、初
段のFET3の出力側の整合を可変できるので、FET
の製造時の特性バラツキによるインピーダンスの不整合
による低雑音増幅器の特性劣化を防ぐことができる。ま
た、FET3の出力側の整合を利得整合側に変化させる
こともできる。
【0106】実施の形態7.この発明の実施の形態7に
ついて図8及び図9を参照しながら説明する。図8は、
この発明の実施の形態7に係る2段の低雑音増幅器の構
成を示す等価回路図である。また、図9は、この発明の
実施の形態7に係る低雑音増幅器の周波数特性を示す図
である。
【0107】図8において、信号源1、FET3〜ソー
ス電極6、バイパスコンデンサ10〜ソース電極14、
及び負荷17は図1と同様であり、キャパシタ18は図
2と同様であるので説明を省略する。
【0108】同図に示すように、この実施の形態7で
は、入力整合回路2Aをショートスタブ24とマイクロ
ストリップ線路25とで構成し、また、段間整合回路8
Dをショートスタブ26とバイパスコンデンサ10とで
構成し、さらに、出力整合回路16Aをマイクロストリ
ップ線路27とショートスタブ28とで構成したもので
ある。また、初段のFET3のソース電極6にショート
スタブ7Aを接続し、後段のFET11のソース電極1
4にショートスタブ15Bとキャパシタ18とからなる
並列回路を接続したものである。
【0109】この実施の形態7に係る2段低雑音増幅器
は、28.5GHzを設計中心周波数として設計したも
ので、基板厚100μmのGaAs基板に形成するもの
とした。そして、FETは1、2段ともにゲート幅12
0μmのHEMTとし、FET3のソース電極6に装荷
したショートスタブ7Aは0.15nH、FET11の
ソース電極14に装荷したショートスタブ15Bは0.
03nH、キャパシタ18は0.1pFとした。
【0110】各整合回路に使用した分布定数線路はすべ
て特性インピーダンスが50Ωとなる線路幅70μmと
している。また、回路定数は次のとおりである。入力整
合回路2Aではショートスタブ24の線路長は500μ
m、マイクロストリップ線路25の線路長は270μm
である。段間整合回路8Dではショートスタブ26の線
路長は430μm、バイパスコンデンサ10の容量は1
0pFである。出力整合回路16Aではマイクロストリ
ップ線路27の線路長は150μm、ショートスタブ2
8の線路長は450μmである。
【0111】図9は、この実施の形態7に係る2段低雑
音増幅器の周波数特性の計算結果を示す。設計中心周波
数28.5GHzにおいて、入力反射係数S11が−20
dB以上で最小雑音指数と雑音指数とがほぼ一致してい
ることより、入力側においてΓopt*=S11に対する整合
がとれていることがわかる。
【0112】この実施の形態7では、FETに装荷した
インダクタ、及び段間整合回路を構成するリアクタンス
素子を分布定数線路としたもので、図1等に示す他の実
施の形態にも適用できる。
【0113】つまり、この実施の形態7は、FET3、
11に装荷するインダクタLs1、Ls2、Ls2’及び
段間整合回路を構成するリアクタンス素子X1、X2を
分布定数線路で置き換えたものである。
【0114】この実施の形態7によれば、各整合回路を
分布定数線路で構成するのでマイクロ波帯だけでなくミ
リ波帯でも低損失なインピーダンス整合回路として構成
できる。
【0115】すなわち、この実施の形態7によれば、各
整合回路を分布定数線路で構成するのでマイクロ波帯だ
けでなくミリ波帯でも動作する低雑音増幅器が構成でき
る。
【0116】実施の形態8.この発明の実施の形態8に
ついて説明する。この実施の形態8は、図1等で示した
他の実施の形態のFETの代わりに、ゲート電極を2つ
もったGaAsFETのようなデュアルゲートのものを
用いたものである。
【0117】この実施の形態8は、FET3、11の少
なくとも1つをデュアルゲートFETで置き換えたもの
である。
【0118】すなわち、この実施の形態8では、各段を
構成するFETの少なくとも1つをデュアルゲートFE
Tで構成したものである。
【0119】この実施の形態8によれば、シングルゲー
トFETに対して利得の高いデュアルゲートFETを使
用するので高利得な低雑音増幅器が構成できる。
【0120】実施の形態9.この発明の実施の形態9に
ついて説明する。この実施の形態9は、図1等で示した
他の実施の形態のFETの代わりに、カスコード接続の
ものを用いたものである。
【0121】この実施の形態9は、FET3、11の少
なくとも1つをカスコード接続したFETで置き換えた
ものである。
【0122】すなわち、この実施の形態9では、各段を
構成するFETの少なくとも1つをカスコード接続した
FETで構成したものである。
【0123】この実施の形態9によれば、シングルゲー
トFETに対して利得の高いカスコード接続したFET
を使用するので高利得な低雑音増幅器が構成できる。
【0124】実施の形態10.この発明の実施の形態1
0について図10を参照しながら説明する。図10は、
この発明の実施の形態10に係る2段の低雑音増幅器の
構成を示す等価回路図である。
【0125】図10において、信号源1〜負荷17は図
1と同様であるので説明を省略する。
【0126】同図に示すように、この実施の形態10で
は、初段のFET3のドレイン電極5に、損失を含む素
子として抵抗29を並列に装荷したものである。同様
に、後段のFET11のドレイン電極13に、損失を含
む素子として抵抗30を並列に装荷したものである。
【0127】この実施の形態10は、ソース電極6にイ
ンダクタ7を装荷したFET3、あるいはインダクタ7
を装荷したFET3のドレイン電極5に損失を含む素子
(抵抗29)を付加したFET3において、ソース電極
6にインダクタ7を装荷したFET3、あるいはインダ
クタ7を装荷したFET3のドレイン電極5に損失を含
む素子(抵抗29)を付加した回路の小信号Sパラメー
タをS'ij(i,j=1,2)としたときに、次の式(13)
を満たす関係に設定されたインダクタ7(Ls1)を選
び、FET3の出力側の負荷の利得を最大とするインピ
ーダンスに設定したものである。・・・式(13)
【0128】
【数25】
【0129】また、この実施の形態10は、ソース電極
14にインダクタ15を装荷したFET11、あるいは
インダクタ15を装荷したFET11のドレイン電極1
3に損失を含む素子(抵抗30)を付加したFET11
において、ソース電極14にインダクタ15を装荷した
FET11、あるいはインダクタ15を装荷したFET
11のドレイン電極13に損失を含む素子(抵抗30)
を付加した回路の小信号SパラメータをS'ij(i,j=1,
2)としたときに、上記の式(13)を満たす関係に設
定されたインダクタ15(Ls2)を選び、FET11
の出力側の負荷の利得を最大とするインピーダンスに設
定したものである。
【0130】この実施の形態10によれば、初段のFE
T3及び後段のFET11を安定化させて出力側を利得
整合させて構成するので、動作が安定でかつ高利得な2
段低雑音増幅器が構成できる。
【0131】すなわち、この実施の形態10によれば、
初段のFET3及び後段のFET11を安定化させて出
力側を利得整合させて構成するので、FET3、11と
して高利得であるけれども不安定動作領域であるものも
使用して高利得な低雑音増幅器が構成できる。
【0132】
【発明の効果】この発明に係る低雑音増幅器は、以上説
明したとおり、ソース電極に第1のインダクタを装荷し
た初段のFETと、ソース電極に第2のインダクタを装
荷するとともに、ドレイン電極に第2の負荷を接続した
後段のFETと、リアクタンス素子とバイパスコンデン
サとで構成した段間整合回路とを備え、前記初段のFE
Tの出力側に対する任意の第1の負荷に対して共約整合
をさせるように、前記段間整合回路のリアクタンス素
子、前記後段のFETのソース電極に装荷された第2の
インダクタ、及び前記後段のFETのドレイン電極に接
続された第2の負荷を設定したので、動作を安定にで
き、高利得、高出力を得ることができ、段間整合回路の
小型化、低損失化を図ることができるという効果を奏す
る。
【0133】また、この発明に係る低雑音増幅器は、以
上説明したとおり、前記段間整合回路を構成する前記リ
アクタンス素子が、前記初段のFETのドレイン電極に
直列接続し、前記バイパスコンデンサが、前記リアクタ
ンス素子に直列接続しているので、動作を安定にでき、
高利得、高出力を得ることができ、段間整合回路の小型
化、低損失化を図ることができるという効果を奏する。
【0134】また、この発明に係る低雑音増幅器は、以
上説明したとおり、前記初段のFETの出力側にΓopt*
=S11とするための第1の負荷ZL1を接続し、前記後
段のFETの出力側に接続する第2の負荷をZL、使用
する周波数の角周波数をω、正規化インピーダンスをZ
0、|ZL1|<1となる場合の前記第1のインダクタ
をLs1とし、前記初段のFETの小信号Sパラメータ
をSij(i,j=1,2)、前記後段のFETのインピーダン
スパラメータをZ'ij(i,j=1,2)としたときに、
【0135】
【数26】
【0136】を満たす関係に設定された前記段間整合回
路のリアクタンス素子X1、前記後段のFETのソース
電極に装荷された第2のインダクタLs2、及び前記後
段のFETのドレイン電極に接続された第2の負荷ZL
を備えたので、動作を安定にでき、高利得、高出力を得
ることができ、段間整合回路の小型化、低損失化を図る
ことができるという効果を奏する。
【0137】また、この発明に係る低雑音増幅器は、以
上説明したとおり、前記後段のFETのソース電極に、
前記第2のインダクタLs2の代わりに、
【0138】
【数27】
【0139】を満たす関係に設定された第3のインダク
タLs2’と容量素子Cs2とからなる並列回路を装荷し
たので、インダクタのみを装荷した場合より小さい値の
インダクタで同じリアクタンス値を実現でき、インダク
タの小型化を図ることができるという効果を奏する。
【0140】また、この発明に係る低雑音増幅器は、以
上説明したとおり、前記リアクタンス素子に直列に第1
の可変容量素子を接続するとともに、前記後段のFET
のソース電極に、前記第2のインダクタの代わりに、第
3のインダクタと第2の可変容量素子とからなる並列回
路を装荷したので、FETの製造時の特性バラツキによ
るインピーダンスの不整合による低雑音増幅器の特性劣
化を防ぐことができるという効果を奏する。
【0141】また、この発明に係る低雑音増幅器は、以
上説明したとおり、前記段間整合回路を構成する前記リ
アクタンス素子が、前記初段のFETのドレイン電極に
並列接続し、前記バイパスコンデンサが、前記初段のF
ETのドレイン電極に直列接続しているので、動作を安
定にでき、高利得、高出力を得ることができ、段間整合
回路の小型化、低損失化を図ることができるという効果
を奏する。
【0142】また、この発明に係る低雑音増幅器は、以
上説明したとおり、前記初段のFETの出力側にΓopt*
=S11とするための第1の負荷ZL1を接続し、前記後
段のFETの出力側に接続する第2の負荷をZL、使用
する周波数の角周波数をω、正規化インピーダンスをZ
0、|ZL1|<1となる場合の前記第1のインダクタ
をLs1とし、前記初段のFETの小信号Sパラメータ
をSij(i,j=1,2)、前記後段のFETのインピーダン
スパラメータをZ'ij(i,j=1,2)としたときに、
【0143】
【数28】
【0144】を満たす関係に設定された前記段間整合回
路のリアクタンス素子X2、前記後段のFETのソース
電極に装荷された第2のインダクタLs2、及び前記後
段のFETのドレイン電極に接続された第2の負荷ZL
を備えたので、動作を安定にでき、高利得、高出力を得
ることができ、段間整合回路の小型化、低損失化を図る
ことができるという効果を奏する。
【0145】また、この発明に係る低雑音増幅器は、以
上説明したとおり、前記後段のFETのソース電極に、
前記第2のインダクタLs2の代わりに、
【0146】
【数29】
【0147】を満たす関係に設定された第3のインダク
タLs2’と容量素子Cs2とからなる並列回路を装荷し
たので、インダクタのみを装荷した場合より小さい値の
インダクタで同じリアクタンス値を実現でき、インダク
タの小型化を図ることができるという効果を奏する。
【0148】また、この発明に係る低雑音増幅器は、以
上説明したとおり、前記リアクタンス素子に直列に第1
の可変容量素子を接続するとともに、前記後段のFET
のソース電極に、前記第2のインダクタの代わりに、第
3のインダクタと第2の可変容量素子とからなる並列回
路を装荷したので、FETの製造時の特性バラツキによ
るインピーダンスの不整合による低雑音増幅器の特性劣
化を防ぐことができるという効果を奏する。
【0149】また、この発明に係る低雑音増幅器は、以
上説明したとおり、前記初段のFETのソース電極に装
荷したインダクタ、前記後段のFETのソース電極に装
荷したインダクタ、及び前記段間整合回路を構成するリ
アクタンス素子を分布定数線路で置き換えたので、マイ
クロ波帯だけでなくミリ波帯でも動作することができる
という効果を奏する。
【0150】また、この発明に係る低雑音増幅器は、以
上説明したとおり、前記初段のFET及び前記後段のF
ETの少なくとも1つをデュアルゲートFETで置き換
えたので、高利得を得ることができるという効果を奏す
る。
【0151】また、この発明に係る低雑音増幅器は、以
上説明したとおり、前記初段のFET及び前記後段のF
ETの少なくとも1つをカスコード接続したFETで置
き換えたので、高利得を得ることができるという効果を
奏する。
【0152】また、この発明に係る低雑音増幅器は、以
上説明したとおり、ソース電極に第1のインダクタを装
荷した初段のFET、あるいは前記ソース電極に第1の
インダクタを装荷した初段のFETの少なくとも1つの
電極に損失を含む素子を付加した回路の小信号Sパラメ
ータをS'ij(i,j=1,2)としたときに、
【0153】
【数30】
【0154】を満たす関係に設定された前記第1のイン
ダクタLs1を選び、前記初段のFETの出力側の負荷
の利得を最大とするインピーダンスに設定したので、高
利得を得ることができるという効果を奏する。
【0155】さらに、この発明に係る低雑音増幅器は、
以上説明したとおり、ソース電極に第2のインダクタを
装荷した後段のFET、あるいは前記ソース電極に第2
のインダクタを装荷した後段のFETの少なくとも1つ
の電極に損失を含む素子を付加した回路の小信号Sパラ
メータをS'ij(i,j=1,2)としたときに、
【0156】
【数31】
【0157】を満たす関係に設定された前記第2のイン
ダクタLs2を選び、前記後段のFETの出力側の負荷
の利得を最大とするインピーダンスに設定したので、高
利得を得ることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1に係る低雑音増幅器
の等価回路を示す図である。
【図2】 この発明の実施の形態2に係る低雑音増幅器
の等価回路を示す図である。
【図3】 この発明の実施の形態3に係る低雑音増幅器
の等価回路を示す図である。
【図4】 この発明の実施の形態4に係る低雑音増幅器
の等価回路を示す図である。
【図5】 この発明の実施の形態4に係る低雑音増幅器
の周波数特性を示す図である。
【図6】 この発明の実施の形態5に係る低雑音増幅器
の等価回路を示す図である。
【図7】 この発明の実施の形態6に係る低雑音増幅器
の等価回路を示す図である。
【図8】 この発明の実施の形態7に係る低雑音増幅器
の等価回路を示す図である。
【図9】 この発明の実施の形態7に係る低雑音増幅器
の周波数特性を示す図である。
【図10】 この発明の実施の形態10に係る低雑音増
幅器の等価回路を示す図である。
【図11】 従来の3段低雑音増幅器の構成を示す回路
図である。
【符号の説明】
1 信号源、2、2A 入力整合回路、3 初段のFE
T、4 ゲート電極、5 ドレイン電極、6 ソース電
極、7 インダクタ、7A ショートスタブ、8、8
A、8B、8C、8D 段間整合回路、9、9A イン
ダクタ、10 バイパスコンデンサ、11 後段のFE
T、12 ゲート電極、13 ドレイン電極、14 ソ
ース電極、15、15A インダクタ、15B ショー
トスタブ、16、16A 出力整合回路、17 負荷、
18 キャパシタ、18A、19、19A 可変容量素
子、20 キャパシタ、21 インダクタ、22 イン
ダクタ、23 キャパシタ、24 ショートスタブ、2
5 マイクロストリップ線路、26 ショートスタブ、
27 マイクロストリップ線路、28 ショートスタ
ブ、29、30 抵抗。

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ソース電極に第1のインダクタを装荷し
    た初段のFETと、ソース電極に第2のインダクタを装
    荷するとともに、ドレイン電極に第2の負荷を接続した
    後段のFETと、 リアクタンス素子とバイパスコンデンサとで構成した段
    間整合回路とを備え、 前記初段のFETの出力側に対する任意の第1の負荷に
    対して共約整合をさせるように、前記段間整合回路のリ
    アクタンス素子、前記後段のFETのソース電極に装荷
    された第2のインダクタ、及び前記後段のFETのドレ
    イン電極に接続された第2の負荷を設定したことを特徴
    とする低雑音増幅器。
  2. 【請求項2】 前記段間整合回路を構成する前記リアク
    タンス素子は、前記初段のFETのドレイン電極に直列
    接続し、前記バイパスコンデンサは、前記リアクタンス
    素子に直列接続していることを特徴とする請求項1記載
    の低雑音増幅器。
  3. 【請求項3】 前記初段のFETの出力側にΓopt*=S
    11とするための第1の負荷ZL1を接続し、前記後段の
    FETの出力側に接続する第2の負荷をZL、使用する
    周波数の角周波数をω、正規化インピーダンスをZ0
    |ZL1|<1となる場合の前記第1のインダクタをL
    s1とし、前記初段のFETの小信号SパラメータをSi
    j(i,j=1,2)、前記後段のFETのインピーダンスパ
    ラメータをZ'ij(i,j=1,2)としたときに、 【数1】 を満たす関係に設定された前記段間整合回路のリアクタ
    ンス素子X1、前記後段のFETのソース電極に装荷さ
    れた第2のインダクタLs2、及び前記後段のFETの
    ドレイン電極に接続された第2の負荷ZLを備えたこと
    を特徴とする請求項2記載の低雑音増幅器。
  4. 【請求項4】 前記後段のFETのソース電極に、前記
    第2のインダクタLs2の代わりに、 【数2】 を満たす関係に設定された第3のインダクタLs2’と
    容量素子Cs2とからなる並列回路を装荷したことを特
    徴とする請求項3記載の低雑音増幅器。
  5. 【請求項5】 前記リアクタンス素子に直列に第1の可
    変容量素子を接続するとともに、前記後段のFETのソ
    ース電極に、前記第2のインダクタの代わりに、第3の
    インダクタと第2の可変容量素子とからなる並列回路を
    装荷したことを特徴とする請求項3記載の低雑音増幅
    器。
  6. 【請求項6】 前記段間整合回路を構成する前記リアク
    タンス素子は、前記初段のFETのドレイン電極に並列
    接続し、前記バイパスコンデンサは、前記初段のFET
    のドレイン電極に直列接続していることを特徴とする請
    求項1記載の低雑音増幅器。
  7. 【請求項7】 前記初段のFETの出力側にΓopt*=S
    11とするための第1の負荷ZL1を接続し、前記後段の
    FETの出力側に接続する第2の負荷をZL、使用する
    周波数の角周波数をω、正規化インピーダンスをZ0
    |ZL1|<1となる場合の前記第1のインダクタをL
    s1とし、前記初段のFETの小信号SパラメータをSi
    j(i,j=1,2)、前記後段のFETのインピーダンスパ
    ラメータをZ'ij(i,j=1,2)としたときに、 【数3】 を満たす関係に設定された前記段間整合回路のリアクタ
    ンス素子X2、前記後段のFETのソース電極に装荷さ
    れた第2のインダクタLs2、及び前記後段のFETの
    ドレイン電極に接続された第2の負荷ZLを備えたこと
    を特徴とする請求項6記載の低雑音増幅器。
  8. 【請求項8】 前記後段のFETのソース電極に、前記
    第2のインダクタLs2の代わりに、 【数4】 を満たす関係に設定された第3のインダクタLs2’と
    容量素子Cs2とからなる並列回路を装荷したことを特
    徴とする請求項7記載の低雑音増幅器。
  9. 【請求項9】 前記リアクタンス素子に直列に第1の可
    変容量素子を接続するとともに、前記後段のFETのソ
    ース電極に、前記第2のインダクタの代わりに、第3の
    インダクタと第2の可変容量素子とからなる並列回路を
    装荷したことを特徴とする請求項7記載の低雑音増幅
    器。
  10. 【請求項10】 前記初段のFETのソース電極に装荷
    したインダクタ、前記後段のFETのソース電極に装荷
    したインダクタ、及び前記段間整合回路を構成するリア
    クタンス素子を分布定数線路で置き換えたことを特徴と
    する請求項1から請求項9までのいずれかに記載の低雑
    音増幅器。
  11. 【請求項11】 前記初段のFET及び前記後段のFE
    Tの少なくとも1つをデュアルゲートFETで置き換え
    たことを特徴とする請求項1から請求項9までのいずれ
    かに記載の低雑音増幅器。
  12. 【請求項12】 前記初段のFET及び前記後段のFE
    Tの少なくとも1つをカスコード接続したFETで置き
    換えたことを特徴とする請求項1から請求項9までのい
    ずれかに記載の低雑音増幅器。
  13. 【請求項13】 ソース電極に第1のインダクタを装荷
    した初段のFET、あるいは前記ソース電極に第1のイ
    ンダクタを装荷した初段のFETの少なくとも1つの電
    極に損失を含む素子を付加した回路の小信号Sパラメー
    タをS'ij(i,j=1,2)としたときに、 【数5】 を満たす関係に設定された前記第1のインダクタLs1
    を選び、前記初段のFETの出力側の負荷の利得を最大
    とするインピーダンスに設定したことを特徴とする請求
    項1から請求項9までのいずれかに記載の低雑音増幅
    器。
  14. 【請求項14】 ソース電極に第2のインダクタを装荷
    した後段のFET、あるいは前記ソース電極に第2のイ
    ンダクタを装荷した後段のFETの少なくとも1つの電
    極に損失を含む素子を付加した回路の小信号Sパラメー
    タをS'ij(i,j=1,2)としたときに、 【数6】 を満たす関係に設定された前記第2のインダクタLs2
    を選び、前記後段のFETの出力側の負荷の利得を最大
    とするインピーダンスに設定したことを特徴とする請求
    項1から請求項9までのいずれかに記載の低雑音増幅
    器。
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