JPH1168253A - Optical semiconductor device - Google Patents

Optical semiconductor device

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JPH1168253A
JPH1168253A JP22788797A JP22788797A JPH1168253A JP H1168253 A JPH1168253 A JP H1168253A JP 22788797 A JP22788797 A JP 22788797A JP 22788797 A JP22788797 A JP 22788797A JP H1168253 A JPH1168253 A JP H1168253A
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JP
Japan
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region
optical semiconductor
semiconductor device
optical
electrode
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Application number
JP22788797A
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Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Nakayama
毅 中山
Kazue Kawasaki
和重 川崎
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光半導体素子の電気容量を低減できる光半導
体装置を得ることを課題とする。 【解決手段】 表面電極2が設けられている領域に開口
部を備えたポリイミド層12と、開口部内において電極
2と接続されたポリイミド層12の上面及び開口部の内
側面に配置された金属膜13とを介して、半導体レーザ
1をサブマウント5上に載置するとともに、サブマウン
ト5上の金属配線4と金属膜13とを半田材6を用いて
接着して半導体レーザ1の表面電極2と金属配線4とを
電気的に接続するようにした。
(57) [Problem] To provide an optical semiconductor device capable of reducing the electric capacity of an optical semiconductor element. SOLUTION: A polyimide layer 12 having an opening in a region where the surface electrode 2 is provided, and a metal film disposed on an upper surface of the polyimide layer 12 connected to the electrode 2 and an inner side surface of the opening in the opening. 13, the semiconductor laser 1 is mounted on the submount 5, and the metal wiring 4 on the submount 5 and the metal film 13 are adhered to each other using the solder material 6 to form the surface electrode 2 of the semiconductor laser 1. And the metal wiring 4 are electrically connected.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は光半導体装置に関
し、特に端面出射型,あるいは端面入射型の光半導体素
子をサブマウント等の載置台上に載置してなる光半導体
装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical semiconductor device, and more particularly to an optical semiconductor device having an edge-emitting or edge-illuminated optical semiconductor element mounted on a mounting table such as a submount.

【0002】[0002]

【従来の技術】図5は従来の光半導体素子の構造を示す
斜視図(図5(a))、及びこの光半導体素子を光ファイバ
等とともにサブマウント上に取り付けてモジュール化し
てなる光半導体装置の構造を示す側面図であり、図にお
いて、101は、基板100上に共振器端面に対して垂
直な方向に伸びるストライプ状の活性層107を含む複
数の半導体層を積層してなる半導体積層構造108と、
この半導体積層構造108の上面に配置されてなる表面
電極102と、基板100の裏面に配置してなる裏面電
極109とからなる光半導体素子で、活性層107の上
下には導電型の異なるクラッド層がそれぞれ配置され、
かつメサ形状に成形されたダブルヘテロ構造を形成して
おり、この活性層107近傍が導波路として機能する光
導波路となっている。103はメサ形状のダブルヘテロ
構造と、このダブルヘテロ構造上に配置された半導体層
との間の再成長界面である。また、105は半導体レー
ザを載置するためのサブマウントで、その表面には電気
配線がパターニングされている。104はサブマウント
105に載置される光ファイバ、105aはサブマウン
ト105に形成された光ファイバ104を位置決めして
固定するための溝、106はサブマウント105の表面
に素子101を取り付けるための半田材である。
2. Description of the Related Art FIG. 5 is a perspective view (FIG. 5 (a)) showing the structure of a conventional optical semiconductor device, and an optical semiconductor device formed by mounting this optical semiconductor device together with an optical fiber and the like on a submount to form a module. FIG. 1 is a side view showing the structure of FIG. 1, in which a semiconductor laminated structure 101 is formed by laminating a plurality of semiconductor layers including a stripe-shaped active layer 107 extending on a substrate 100 in a direction perpendicular to the end face of the resonator. 108,
An optical semiconductor device including a front electrode 102 disposed on the upper surface of the semiconductor laminated structure 108 and a back electrode 109 disposed on the back surface of the substrate 100. Cladding layers of different conductivity types are formed above and below the active layer 107. Are arranged respectively,
Further, a double hetero structure formed in a mesa shape is formed, and the vicinity of the active layer 107 is an optical waveguide functioning as a waveguide. Reference numeral 103 denotes a regrowth interface between the mesa-shaped double hetero structure and the semiconductor layer disposed on the double hetero structure. Reference numeral 105 denotes a submount for mounting a semiconductor laser, and electric wiring is patterned on the surface of the submount. 104 is an optical fiber mounted on the submount 105, 105a is a groove for positioning and fixing the optical fiber 104 formed on the submount 105, and 106 is a solder for attaching the element 101 to the surface of the submount 105. Material.

【0003】光加入者系用モジュール,即ち加入者を対
象とした光通信に用いられる光半導体モジュールに採用
される半導体レーザやフォトダイオード等の端面出射
型,あるいは端面入射型の光半導体素子101において
は、素子101の動作を高速に切り換えるために、素子
101の基板100上面側に設けられた表面電極102
と、素子101の半導体積層構造108内の再成長界面
103との間の電気容量を低減することが求められる。
このため、素子101の表面電極102の大きさはなる
べく小さくする必要があり、通常、表面電極102は、
図5に示すように、素子の導波路となる光導波路に沿っ
た領域上にのみ形成される。
[0003] In an optical semiconductor device 101 of an end emission type or an end incidence type such as a semiconductor laser or a photodiode employed in an optical subscriber system module, that is, an optical semiconductor module used for optical communication for a subscriber. Is a surface electrode 102 provided on the upper surface side of the substrate 100 of the element 101 in order to switch the operation of the element 101 at high speed.
It is required to reduce the electric capacitance between the element 101 and the regrowth interface 103 in the semiconductor multilayer structure 108 of the element 101.
Therefore, the size of the surface electrode 102 of the element 101 needs to be as small as possible.
As shown in FIG. 5, it is formed only on the region along the optical waveguide which will be the waveguide of the device.

【0004】また、これらの光半導体素子101は、十
分に厚さの厚い半導体基板100上に光導波路を含む半
導体積層構造108を形成することにより得られるた
め、光導波路は、素子101の上部側に形成される。こ
れらの光半導体素子101を光ファイバ104ととも
に、サブマウント105上に固定したモジュールを得る
場合、光ファイバ104との位置合わせ精度を向上させ
る点から光半導体素子101はその光導波路を有する上
部側がサブマウント105の表面に向かい合うように、
いわゆるジャンクションダウンで電気配線がパターニン
グされたサブマウント105上にマウントされる。即
ち、光半導体素子101の表面電極102側がサブマウ
ント105の表面と向かい合うように、表面電極102
とサブマウント105上の電気配線とを半田材106を
用いて接着することによりマウントされる。
The optical semiconductor device 101 is obtained by forming a semiconductor laminated structure 108 including an optical waveguide on a semiconductor substrate 100 having a sufficiently large thickness. Formed. When a module in which these optical semiconductor elements 101 are fixed together with the optical fiber 104 on the submount 105 is obtained, the optical semiconductor element 101 has an optical waveguide on the upper side in order to improve the alignment accuracy with the optical fiber 104. So that it faces the surface of the mount 105,
The electrical wiring is mounted on the patterned submount 105 by so-called junction down. That is, the surface electrode 102 is formed such that the surface electrode 102 side of the optical semiconductor element 101 faces the surface of the submount 105.
It is mounted by bonding the electrical wiring on the submount 105 using a solder material 106.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の光半導体素子をサブマウント等の載置台上に
載置した光半導体装置においては、載置する際に、融解
した半田材がサブマウント上に拡がってしまい、素子の
表面の表面電極が設けられている領域以外の領域にも接
するようになるために、実質的な電極面積が素子の表面
電極の面積よりも大きくなり、素子の電気容量が大きく
なってしまうという問題があった。
However, in such an optical semiconductor device in which such a conventional optical semiconductor element is mounted on a mounting table such as a submount, when the optical semiconductor device is mounted, the melted solder material is used in the submount. Since it is spread upward and comes into contact with a region other than the region where the surface electrode on the surface of the element is provided, the substantial electrode area becomes larger than the surface electrode area of the element, and the electric power of the element becomes large. There is a problem that the capacity becomes large.

【0006】本発明は上記のような問題点を解消するた
めになされたものであり、光半導体素子の電気容量を低
減できる光半導体装置を得ることを目的とする。
The present invention has been made to solve the above problems, and has as its object to provide an optical semiconductor device capable of reducing the electric capacity of an optical semiconductor element.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】この発明に係る光半導体
装置は、その上部に端面に対して垂直な方向に伸びる所
定幅のストライプ状の光導波路を備えた半導体積層構造
と、該半導体積層構造の上面の、上記光導波路に沿った
領域に設けられたストライプ状の電極とを備えた光半導
体素子と、該半導体積層構造の上面の、上記ストライプ
状の電極が設けられている領域を除く領域上に配置され
た絶縁物質層と、該絶縁物質層の上面及び内面に配置さ
れた上記ストライプ状の電極と接続された金属膜と、そ
の上面に金属配線を有し、該金属配線に対し上記金属膜
が互いに向かい合うよう導電性材料により接着された載
置台とを備えるようにしたものである。
An optical semiconductor device according to the present invention has a semiconductor laminated structure having a stripe-shaped optical waveguide having a predetermined width extending in a direction perpendicular to an end face thereof, and a semiconductor laminated structure. An optical semiconductor element including a stripe-shaped electrode provided in a region along the optical waveguide on the upper surface of the semiconductor device, and a region excluding a region provided with the stripe-shaped electrode on the upper surface of the semiconductor laminated structure An insulating material layer disposed thereon, a metal film connected to the stripe-shaped electrode disposed on the upper surface and inner surface of the insulating material layer, and a metal wiring on the upper surface thereof; A mounting table is provided that has a metal film and a mounting table bonded by a conductive material so as to face each other.

【0008】また、この発明に係る光半導体装置は、そ
の上部に端面に対して垂直な方向に伸びる所定幅のスト
ライプ状の光導波路を備えた半導体積層構造と、該半導
体積層構造の上面の、上記光導波路に沿った領域に設け
られたストライプ状の電極とを備えた光半導体素子と、
その上面に、金属配線が配置された電気的接触領域と、
該電気的接触領域に隣接する所定の深さの溝とを有し、
該金属配線と上記光半導体素子のストライプ状の電極と
が互いに向かい合うよう導電性材料により接着され、そ
の電気的接触領域以外の領域上に上記光半導体素子上面
の電極以外の領域が配置された載置台とを備えるように
したものである。
Further, an optical semiconductor device according to the present invention has a semiconductor laminated structure having a stripe-shaped optical waveguide having a predetermined width extending in a direction perpendicular to an end face, and an upper surface of the semiconductor laminated structure. An optical semiconductor element including a stripe-shaped electrode provided in a region along the optical waveguide,
On its upper surface, an electrical contact area where metal wiring is arranged,
A groove of a predetermined depth adjacent to the electrical contact area,
The metal wiring and the stripe-shaped electrodes of the optical semiconductor element are bonded to each other by a conductive material so as to face each other, and a region other than the electrode on the upper surface of the optical semiconductor device is disposed on the region other than the electrical contact region. And a table.

【0009】また、この発明に係る光半導体装置は、そ
の上部に端面に対して垂直な方向に伸びる所定幅のスト
ライプ状の光導波路を備えた半導体積層構造と、該半導
体積層構造の上面の、上記光導波路に沿った領域に設け
られたストライプ状の電極とを備えた光半導体素子と、
底面上に金属配線を備えた所定の深さの凹部を上面に有
し、該金属配線と上記光半導体素子のストライプ状の電
極とが、上記凹部内に、該凹部との間に所定のスペース
が形成されるよう配置された導電性材料により互いに向
かい合うよう接着され、その凹部以外の領域上に上記光
半導体素子上面のストライプ状の電極以外の領域が配置
された載置台とを備えるようにしたものである。
Further, an optical semiconductor device according to the present invention has a semiconductor laminated structure including a stripe-shaped optical waveguide having a predetermined width extending in a direction perpendicular to an end face on an upper portion thereof, and an optical semiconductor device having an upper surface of the semiconductor laminated structure. An optical semiconductor element including a stripe-shaped electrode provided in a region along the optical waveguide,
A concave portion having a predetermined depth provided with a metal wiring on the bottom surface is provided on the upper surface, and the metal wiring and the stripe-shaped electrode of the optical semiconductor element are provided with a predetermined space between the concave portion and the concave portion. And a mounting table in which a region other than the stripe-shaped electrodes on the upper surface of the optical semiconductor element is disposed on a region other than the concave portion thereof with a conductive material disposed so as to form a conductive material. Things.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

実施の形態1.図1は本発明の実施の形態1に係る光半
導体装置の構造を示す斜視図(図1(a)), 及びこの光半
導体装置に載置される光半導体素子の構造を示す斜視図
(図1(b))であり、図において、半導体積層構造8は半
導体基板10とこの基板10上に配置された基板10に
垂直な端面に対して垂直な方向に伸びるストライプ状の
活性層7を含む複数の半導体層からなり、活性層7の上
下には導電型の異なるクラッド層がそれぞれ配置されて
ダブルヘテロ構造となっているとともに、これらのクラ
ッド層と活性層7とがメサ形状に成形されている。この
活性層7の近傍が導波路として機能する光導波路となっ
ている。この半導体積層構造8とこの半導体積層構造8
の上面の、上記光導波路に沿った領域に配置された表面
電極2と、基板10の裏面に配置された裏面電極9とに
より半導体レーザ1となっている。3はメサ形状部分
と、このメサ形状部分上に配置された半導体層との間の
再成長界面である。5は半導体レーザを載置するための
絶縁性を有するシリコン等からなるサブマウントで、そ
の表面には電気配線4がパターニングされている。12
は半導体レーザの上面に設けられたポリイミド層で、素
子1の表面電極2上の領域にはこの電極2が露出してい
る開口部が設けられている。ポリイミド層の上面、及び
開口部の側面には表面電極2と接続されたチタン,クロ
ム,金等の積層膜からなる金属膜13が設けられてい
る。半導体レーザ1は、サブマウント5上に、ポリイミ
ド層12と金属膜13とを介して半田材により接着され
ている。なお、ポリイミド層12の代わりに、絶縁性樹
脂からなる層等の絶縁物質層を設けるようにしてもよ
い。また、金属膜13としては一般的な電極材料が使用
可能である。
Embodiment 1 FIG. FIG. 1 is a perspective view showing the structure of an optical semiconductor device according to Embodiment 1 of the present invention (FIG. 1A), and a perspective view showing the structure of an optical semiconductor element mounted on the optical semiconductor device (FIG. 1 (b)), in the figure, the semiconductor laminated structure 8 includes a semiconductor substrate 10 and a stripe-shaped active layer 7 extending on the substrate 10 and extending in a direction perpendicular to an end face perpendicular to the substrate 10. A clad layer having a different conductivity type is disposed above and below the active layer 7 to form a double hetero structure. The clad layer and the active layer 7 are formed into a mesa shape. I have. The vicinity of the active layer 7 is an optical waveguide functioning as a waveguide. This semiconductor laminated structure 8 and this semiconductor laminated structure 8
The semiconductor laser 1 is constituted by the front electrode 2 arranged on the upper surface of the substrate along the optical waveguide and the back electrode 9 arranged on the back surface of the substrate 10. Reference numeral 3 denotes a regrowth interface between the mesa-shaped portion and the semiconductor layer disposed on the mesa-shaped portion. Reference numeral 5 denotes a submount made of silicon or the like having an insulating property for mounting the semiconductor laser, and the electric wiring 4 is patterned on the surface thereof. 12
Is a polyimide layer provided on the upper surface of the semiconductor laser, and an opening on which the electrode 2 is exposed is provided in a region on the surface electrode 2 of the element 1. A metal film 13 made of a laminated film of titanium, chromium, gold or the like connected to the surface electrode 2 is provided on the upper surface of the polyimide layer and on the side surface of the opening. The semiconductor laser 1 is bonded on the submount 5 with a solder material via a polyimide layer 12 and a metal film 13. Note that, instead of the polyimide layer 12, an insulating material layer such as a layer made of an insulating resin may be provided. As the metal film 13, a general electrode material can be used.

【0011】図2は本発明の実施の形態1に係る光半導
体装置の組立方法を示すレーザ共振器長方向に垂直な方
向における断面図であり、図において、図1と同一符号
は同一又は相当する部分を示している。
FIG. 2 is a cross-sectional view in a direction perpendicular to the laser resonator length direction showing the method of assembling the optical semiconductor device according to the first embodiment of the present invention. In the figure, the same reference numerals as those in FIG. Shows the part to be performed.

【0012】次に組立方法について説明する。まず、図
2(a) に示すように、通常の半導体レーザの製造方法と
同様の製造方法により得られた、即ち複数回のエピタキ
シャル成長により形成した半導体積層構造8に電極2、
電極9を形成することにより得られた半導体レーザ1を
用意し、この半導体レーザ1の上面に表面電極2を被う
ようにポリイミド12aを塗布する。この厚さとしては
5μm以上が適当である。しかる後、図2(b) に示すよ
うに、半導体レーザ1の表面電極2の上部のみを選択的
にエッチングしてポリイミド12aの表面電極2の上部
領域部分に、表面電極2が露出する開口部を設ける。そ
の後、図2(c) に示すように、スパッタあるいは蒸着等
の方法によりポリイミドの上面及び開口部内の側面に金
属膜13を成膜する。なお、図7に示すようにこの上に
更に金属メッキ14を施しても良い。続いて、半導体レ
ーザ1の上面がサブマウント5の上面に向かい合うよう
半導体レーザ1をサブマウント5上に載置するととも
に、金属膜13の最上面を半田材6によりサブマウント
5上の電気的接触領域に、両者が互いに対向するように
接着して、図1(a) に示すような、光半導体装置を得
る。
Next, an assembling method will be described. First, as shown in FIG. 2A, the electrodes 2 and 4 are applied to a semiconductor multilayer structure 8 obtained by the same manufacturing method as that of a normal semiconductor laser, that is, formed by a plurality of epitaxial growths.
The semiconductor laser 1 obtained by forming the electrode 9 is prepared, and a polyimide 12a is applied on the upper surface of the semiconductor laser 1 so as to cover the surface electrode 2. An appropriate thickness is 5 μm or more. Thereafter, as shown in FIG. 2B, only the upper portion of the surface electrode 2 of the semiconductor laser 1 is selectively etched to form an opening in the upper region of the surface electrode 2 of the polyimide 12a where the surface electrode 2 is exposed. Is provided. Thereafter, as shown in FIG. 2 (c), a metal film 13 is formed on the upper surface of the polyimide and on the side surfaces in the openings by a method such as sputtering or vapor deposition. Incidentally, as shown in FIG. 7, a metal plating 14 may be further provided thereon. Subsequently, the semiconductor laser 1 is placed on the submount 5 so that the upper surface of the semiconductor laser 1 faces the upper surface of the submount 5, and the uppermost surface of the metal film 13 is electrically connected to the submount 5 by the solder material 6. The optical semiconductor device as shown in FIG. 1A is obtained by adhering to the region so that both oppose each other.

【0013】この光半導体装置においては、サブマウン
ト5の金属配線4と半導体レーザ1の表面電極2とが金
属膜13を介して電気的に接続されているとともに、半
導体レーザ1の表面領域200の表面電極2が設けられ
ている表面電極形成領域201をのぞく電極非形成領域
202では、半導体レーザ1とサブマウント5上の金属
配線4あるいは半田材6とが絶縁層であるポリイミド1
2を介して接続されることとなるため、上述した素子表
面の表面電極が形成されていない領域とサブマウント上
に広がった半田材とが直接接している従来の光半導体装
置に対して、半導体レーザ1表面とサブマウント5の表
面の金属配線4あるいは半田材6との間隔をポリイミド
12の厚さの分だけ厚くすることができ、これにより半
導体レーザ1の電極非形成領域202とサブマウント5
上の金属配線4あるいは半田材6との間の容量を小さく
して、半導体レーザ1の再成長界面3と金属配線4ある
いは半田材6との間の容量を小さくでき、半導体レーザ
1の素子容量を低減できる。
In this optical semiconductor device, the metal wiring 4 of the submount 5 and the surface electrode 2 of the semiconductor laser 1 are electrically connected via the metal film 13 and the surface region 200 of the semiconductor laser 1 In the electrode non-forming region 202 except the surface electrode forming region 201 where the surface electrode 2 is provided, the semiconductor laser 1 and the metal wiring 4 or the solder material 6 on the submount 5 are made of polyimide 1 having an insulating layer.
2, the semiconductor device is compared with the conventional optical semiconductor device in which the above-described region of the element surface where the surface electrode is not formed and the solder material spread on the submount are in direct contact. The distance between the surface of the laser 1 and the metal wiring 4 or the solder material 6 on the surface of the submount 5 can be increased by the thickness of the polyimide 12, whereby the electrode non-forming region 202 of the semiconductor laser 1 and the submount 5
The capacitance between the upper metal wiring 4 and the solder material 6 can be reduced, and the capacitance between the regrowth interface 3 of the semiconductor laser 1 and the metal wiring 4 or the solder material 6 can be reduced. Can be reduced.

【0014】このように本実施の形態1によれば、表面
電極形成領域201上に開口部を備えたポリイミド層1
2と、開口部内において電極2と接続されたポリイミド
層12の上面及び開口部の内側面に配置された金属膜1
3とを介して、半導体レーザ1をその上面がサブマウン
ト5の上面に対向するようにサブマウント5上に載置
し、サブマウント5上の金属配線4と金属膜13とを半
田材6を用いて接着して半導体レーザ1の表面電極2と
金属配線4とを電気的に接続するようにしたから、半導
体レーザ1表面とサブマウント5の表面の金属配線4あ
るいは半田材6との間隔をポリイミド12の厚さの分だ
け厚くすることができ、これにより、半導体レーザ1の
電極非形成領域202における再成長界面3とサブマウ
ント5の金属配線4あるいは半田材6との間の容量を小
さくでき、半導体レーザの素子容量を低減した光半導体
装置を得ることができる。
As described above, according to the first embodiment, the polyimide layer 1 having an opening on the surface electrode formation region 201 is formed.
2 and a metal film 1 disposed on the upper surface of the polyimide layer 12 connected to the electrode 2 in the opening and on the inner surface of the opening.
3, the semiconductor laser 1 is mounted on the submount 5 such that the upper surface thereof faces the upper surface of the submount 5, and the metal wiring 4 and the metal film 13 on the submount 5 are soldered to the solder material 6. The surface electrode 2 of the semiconductor laser 1 and the metal wiring 4 are electrically connected to each other, so that the distance between the surface of the semiconductor laser 1 and the metal wiring 4 or the solder material 6 on the surface of the submount 5 is reduced. The thickness between the regrowth interface 3 in the electrode non-forming region 202 of the semiconductor laser 1 and the metal wiring 4 or the solder material 6 of the submount 5 can be reduced by the thickness of the polyimide 12. As a result, an optical semiconductor device in which the element capacitance of the semiconductor laser is reduced can be obtained.

【0015】実施の形態2.図3は本発明の実施の形態
2に係る光半導体装置の構造を示す断面図(図2(a)),
及びこの光半導体装置のサブマウントの構造を示す図
(図2(b))であり、図において図1と同一符号は同一ま
たは相当する部分を示しており、サブマウント25は、
金属配線22を備えた電気的接触領域23と、この電気
的接触領域23の両側に所定の深さの溝21を介して設
けられたボンディング強度を確保するための接着領域2
4とを有するシリコン等の絶縁材料からなり、電気的接
触領域23上には半田材27が、また接着領域24上に
は絶縁性を有する接着剤26が配置され、この半田材2
7によって電気的接触領域23,特に金属配線22と、
半導体レーザ1の表面電極2とが互いに向かい合うよう
に接着され、接着剤26により接着領域24と半導体レ
ーザ1の電極非形成領域202とが互いに向かい合うよ
う接着されている。
Embodiment 2 FIG. 3 is a sectional view showing the structure of an optical semiconductor device according to Embodiment 2 of the present invention (FIG. 2A),
FIG. 2B is a view showing the structure of a submount of the optical semiconductor device (FIG. 2B), in which the same reference numerals as those in FIG. 1 denote the same or corresponding parts.
An electric contact region 23 having a metal wiring 22; and a bonding region 2 provided on both sides of the electric contact region 23 through a groove 21 having a predetermined depth to ensure bonding strength.
4 and an insulating material such as silicon having an insulating property on the electrical contact area 23 and an adhesive 26 having an insulating property on the bonding area 24.
7, an electrical contact area 23, in particular a metal wiring 22,
The surface electrode 2 of the semiconductor laser 1 is bonded so as to face each other, and the bonding region 24 and the electrode non-forming region 202 of the semiconductor laser 1 are bonded to each other by the adhesive 26 so as to face each other.

【0016】この実施の形態2に係る光半導体装置は、
図3(b) のように、表面にエッチング等により溝21を
設けて金属配線22のある電気的接触領域23とボンデ
ィング強度を確保するための接着領域24とを分離した
サブマウント35を用いるようにしたものである。即
ち、図3(a) に示すように、電気的接触領域23では半
田材27を、接着領域24では接着剤26を用いて、半
導体レーザ1をその上面がサブマウント25の上面と向
かい合うようにサブマウント25上に接着するようにし
たものであり、接着時にサブマウント25上を広がる半
田材27が電気的接触領域23からはみ出した場合に
も、はみ出した半田材27は溝21内に流れ込むため、
半田材27は電気的接触領域23から接着領域24へは
広がらず、このように接着時の半田材27の拡がりは溝
21によって抑えられることとなる。この結果、半導体
レーザ1とサブマウント25との電気的な接触面積は上
記電気的接触領域23の面積より増加することがなく、
上述した従来の光半導体装置と比較して、半導体レーザ
1とサブマウント25との電気的接触面積を小さく保つ
ことができ、半導体レーザ1の素子容量を低減できる。
The optical semiconductor device according to the second embodiment is
As shown in FIG. 3B, a groove 21 is formed on the surface by etching or the like to use a submount 35 in which an electric contact region 23 having a metal wiring 22 and an adhesive region 24 for ensuring bonding strength are separated. It was made. That is, as shown in FIG. 3 (a), the semiconductor laser 1 is placed so that its upper surface faces the upper surface of the submount 25 by using a solder material 27 in the electric contact region 23 and an adhesive 26 in the bonding region 24. Since the solder material 27 spreading on the submount 25 protrudes from the electrical contact area 23 at the time of bonding, the protruding solder material 27 flows into the groove 21. ,
The solder material 27 does not spread from the electrical contact region 23 to the bonding region 24, and thus the spread of the solder material 27 during bonding is suppressed by the groove 21. As a result, the electrical contact area between the semiconductor laser 1 and the submount 25 does not increase from the area of the electrical contact region 23,
As compared with the above-described conventional optical semiconductor device, the electrical contact area between the semiconductor laser 1 and the submount 25 can be kept small, and the element capacitance of the semiconductor laser 1 can be reduced.

【0017】また、半導体レーザ1の電極非形成領域2
02は、サブマウント25と接着領域24において接着
されているため、ボンディング強度も十分に確保するこ
とが可能である。
The electrode non-forming region 2 of the semiconductor laser 1
Since No. 02 is bonded to the submount 25 in the bonding area 24, sufficient bonding strength can be ensured.

【0018】なお、半田材の広がりによる素子容量の増
加を十分に小さくするためには、電気的接触領域23の
大きさは半導体レーザ1の表面電極2の大きさ以下とし
ておくことが好ましい。
It is preferable that the size of the electrical contact region 23 be equal to or smaller than the size of the surface electrode 2 of the semiconductor laser 1 in order to sufficiently reduce the increase in element capacitance due to the spread of the solder material.

【0019】このように、本実施の形態2によれば、電
気的接触領域23とその両側に溝21を隔てて設けられ
た接着領域24とを備えたサブマウント25を用いるよ
うにしたから、電気的接触領域23からはみ出した半田
材27が溝21内に流れ込むようにすることができ、半
導体レーザ1とサブマウント25との電気的な接触面積
を電気的接触領域23の面積よりも大きくならないよう
にして、半導体レーザの素子容量を低減した光半導体装
置が得られる効果がある。
As described above, according to the second embodiment, the submount 25 having the electrical contact area 23 and the adhesive area 24 provided on both sides of the groove 21 with the groove 21 therebetween is used. The solder material 27 protruding from the electric contact region 23 can flow into the groove 21, and the electric contact area between the semiconductor laser 1 and the submount 25 does not become larger than the area of the electric contact region 23. Thus, there is an effect that an optical semiconductor device in which the element capacitance of the semiconductor laser is reduced can be obtained.

【0020】実施の形態3.図4は本発明の実施の形態
3に係る光半導体装置の構造を示す断面図(図4(a)),
及びこの光半導体装置のサブマウントの構造を示す断面
図(図4(b))であり、図において図1と同一符号は同一
または相当する部分を示す。35はシリコン層30上に
スパッタ等により成膜されたSiO2 等の絶縁膜31を
配置してなるサブマウントで、この絶縁膜31には上方
からみた大きさが、半導体レーザ1の表面電極2よりも
わずかに大きい凹部32がエッチングにより設けられて
いる。この凹部32の底部にはシリコン層30が露出し
ており、その底部の中央部分に金属配線22が設けられ
ている。また、半田材27は、凹部32の底面上に、こ
の凹部32との間に所定の空間が形成されるよう配置さ
れており、ここでは特に、半田材27と凹部32の内側
面との間に空間が形成されるよう配置している。
Embodiment 3 FIG. 4 is a sectional view showing the structure of an optical semiconductor device according to Embodiment 3 of the present invention (FIG. 4A),
FIG. 4 is a cross-sectional view (FIG. 4B) showing the structure of the submount of the optical semiconductor device. In FIG. 4, the same reference numerals as those in FIG. Reference numeral 35 denotes a submount in which an insulating film 31 such as SiO 2 formed by sputtering or the like is disposed on a silicon layer 30. The size of the insulating film 31 as viewed from above is the surface electrode 2 of the semiconductor laser 1. A slightly larger recess 32 is provided by etching. The silicon layer 30 is exposed at the bottom of the concave portion 32, and the metal wiring 22 is provided at the center of the bottom. The solder material 27 is arranged on the bottom surface of the concave portion 32 so as to form a predetermined space between the solder material 27 and the concave portion 32. Are arranged so that a space is formed in the space.

【0021】この光半導体装置は、その上部に半導体レ
ーザ1の表面電極2よりも上方からみた大きさが大きい
凹部32を有するサブマウント35を用い、この凹部3
2底面に配置された金属配線22と上記半導体レーザ1
の表面電極2とを、この凹部32内に配置したその上面
が半導体レーザ1の表面電極2とのみ接している半田材
27により互いに向かい合うよう接着するようにしてい
る。
This optical semiconductor device uses a submount 35 having a concave portion 32 which is larger than the surface electrode 2 of the semiconductor laser 1 and has a larger size when viewed from above.
2 The metal wiring 22 disposed on the bottom surface and the semiconductor laser 1
The surface electrode 2 is bonded to the surface electrode 2 of the semiconductor laser 1 so that the upper surface thereof is opposed to the surface electrode 2 of the semiconductor laser 1 only by the solder material 27.

【0022】図4(b) に示すように、このサブマウント
35の凹部32の底面の配線22を覆うよう底面上に半
田材25を絶縁膜31の厚さよりも少し厚くなるように
配置し、サブマウント35表面の凹部32の両側部分に
接着剤26を配置しておき、このサブマウント35上
に、上記凹部32に半導体レーザの表面電極2が向かい
合うよう、半導体レーザ1を載置して加熱すると、サブ
マウント35と半導体レーザ1が接着されるとともに、
融解した半田材27のうち、表面電極2と接着されずに
余った半田材27は、凹部32の半田材27が配置され
ていなかった空間に流れ込む。
As shown in FIG. 4B, a solder material 25 is disposed on the bottom surface of the submount 35 so as to be slightly thicker than the insulating film 31 so as to cover the wiring 22 on the bottom surface of the concave portion 32. The adhesive 26 is arranged on both sides of the concave portion 32 on the surface of the submount 35, and the semiconductor laser 1 is placed and heated on the submount 35 so that the surface electrode 2 of the semiconductor laser faces the concave portion 32. Then, while the submount 35 and the semiconductor laser 1 are bonded,
Of the melted solder material 27, the surplus solder material 27 that has not been bonded to the surface electrode 2 flows into the space in the recess 32 where the solder material 27 was not arranged.

【0023】この結果、光半導体装置は、図4(a) に示
すように、半田材27が表面電極形成領域201以外の
領域においては、半導体レーザ1と接触しない構造とな
り、半田材27が半導体レーザ1上面の電極非形成領域
202に広がっていない構造となり、上述した従来の光
半導体装置と比較して、半導体レーザ1とサブマウント
35との電気的な接触領域が減り、半導体レーザ1の素
子容量を減らすことが可能となる。
As a result, as shown in FIG. 4A, the optical semiconductor device has a structure in which the solder material 27 does not come into contact with the semiconductor laser 1 in a region other than the surface electrode forming region 201, and the solder material 27 The structure does not extend to the electrode non-forming region 202 on the upper surface of the laser 1, and the electrical contact region between the semiconductor laser 1 and the submount 35 is reduced as compared with the above-mentioned conventional optical semiconductor device, and the device of the semiconductor laser 1 The capacity can be reduced.

【0024】また、半導体レーザ1表面の電極非形成領
域202はサブマウント25の凹部32に隣接して配置
された接着剤26により接着されているため、ボンディ
ング強度も十分に確保することが可能である。
Further, since the electrode non-forming region 202 on the surface of the semiconductor laser 1 is bonded by the adhesive 26 disposed adjacent to the concave portion 32 of the submount 25, a sufficient bonding strength can be ensured. is there.

【0025】このように本実施の形態3によれば、その
上部に半導体レーザ1の表面電極2よりも上部からみた
大きさが大きい凹部32を有するサブマウント35を用
い、この凹部32底面に配置された金属配線22と上記
光半導体レーザ1の表面電極2とを、この凹部32内に
配置したその上面が半導体レーザ1の表面電極2とのみ
接している半田材27により接着するようにしたから、
表面電極2と接着されない半田材27が凹部32内の半
田材27が配置されていない空間へ移動するため、半導
体レーザ1と半田材27とを表面電極2のみにおいて接
触するようにでき、半導体レーザとサブマウントとの電
気的な接触領域を減らし、半導体レーザの素子容量を減
らした光半導体装置が得ることができる。
As described above, according to the third embodiment, the submount 35 having the concave portion 32 having a size larger than the surface electrode 2 of the semiconductor laser 1 as viewed from above is used, and the submount 35 is disposed on the bottom surface of the concave portion 32. The metal wiring 22 and the surface electrode 2 of the optical semiconductor laser 1 are bonded to each other by the solder material 27 whose upper surface disposed in the recess 32 is in contact only with the surface electrode 2 of the semiconductor laser 1. ,
Since the solder material 27 that is not adhered to the surface electrode 2 moves to the space in the recess 32 where the solder material 27 is not disposed, the semiconductor laser 1 and the solder material 27 can be brought into contact with each other only at the surface electrode 2. It is possible to obtain an optical semiconductor device in which the electrical contact area between the semiconductor laser and the submount is reduced and the element capacitance of the semiconductor laser is reduced.

【0026】なお、図6は本発明の実施の形態3に係る
光半導体装置の変形例を説明するための図で、図におい
て図4と同一符号は同一または相当する部分を示してい
る。上記実施の形態3においては、サブマウントとし
て、シリコン層上にSiO2 膜等の絶縁膜を配置してな
る2層構造を有するとともに、その表面に絶縁膜をパタ
ーニングして形成した凹部を備えたものを用いたが、本
発明においては図6に示すように、単層からなるととも
に、その表面に直接パターニングして形成した凹部32
aを備えたサブマウント35aを用いてもよいものであ
り、このような場合においても上記実施の形態3と同様
の効果を奏する。
FIG. 6 is a view for explaining a modification of the optical semiconductor device according to the third embodiment of the present invention. In the figure, the same reference numerals as those in FIG. 4 denote the same or corresponding parts. In the third embodiment, the submount has a two-layer structure in which an insulating film such as a SiO 2 film is disposed on a silicon layer, and has a concave portion formed by patterning the insulating film on the surface thereof. However, in the present invention, as shown in FIG. 6, a concave portion 32 formed of a single layer and formed by directly patterning the surface thereof is used.
The submount 35a provided with a may be used, and in such a case, the same effect as in the third embodiment can be obtained.

【0027】なお、上記実施の形態1〜3においては半
導体レーザを用いた場合について説明したが、本発明で
はフォトダイオード等の他の光半導体素子を用いてもよ
いものであり、このような場合においても上記実施の形
態1〜3と同様の効果を奏する。
In the first to third embodiments, the case where a semiconductor laser is used has been described. However, in the present invention, another optical semiconductor element such as a photodiode may be used. In this case, the same effects as those of the first to third embodiments can be obtained.

【0028】また、上記実施の形態1〜3においては半
導体レーザとサブマウントの配線との接着に半田材を用
いた場合について説明したが、本発明においては、半田
材の代わりに導電性接着剤等の他の接着可能な導電性材
料を用いてもよいものであり、このような場合において
も上記実施の形態1〜3と同様の効果を奏する。
In the first to third embodiments, the case where a solder material is used for bonding the semiconductor laser and the wiring of the submount has been described. However, in the present invention, a conductive adhesive is used instead of the solder material. Other adherable conductive materials may be used. In such a case, the same effects as those of the first to third embodiments can be obtained.

【0029】また、上記実施の形態1〜3においてはサ
ブマウントを用いた場合を説明したが、本発明において
はサブマウントの代わりに他の載置台を用いてもよいも
のであり、このような場合においても上記実施の形態1
〜3と同様の効果を奏する。
In the first to third embodiments, the case where the submount is used has been described. However, in the present invention, another mounting table may be used instead of the submount. Embodiment 1 also in the case
The same effects as those of Nos. 1 to 3 are obtained.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、その上
部に端面に対して垂直な方向に伸びる所定幅のストライ
プ状の光導波路を備えた半導体積層構造と、該半導体積
層構造の上面の、上記光導波路に沿った領域に設けられ
たストライプ状の電極とを備えた光半導体素子と、該半
導体積層構造の上面の、上記ストライプ状の電極が設け
られている領域を除く領域上に配置された絶縁物質層
と、該絶縁物質層の上面及び内面に配置された上記スト
ライプ状の電極と接続された金属膜と、その上面に金属
配線を有し、該金属配線に対し上記金属膜が互いに向か
い合うよう導電性材料により接着された載置台とを備え
るようにしたから、光半導体素子上面のストライプ状の
電極が設けられている領域をのぞく領域の再成長界面上
に形成される容量を小さくでき、半導体レーザの素子容
量を低減した光半導体装置を得ることができる効果が得
られる。
As described above, according to the present invention, a semiconductor laminated structure having a stripe-shaped optical waveguide of a predetermined width extending in a direction perpendicular to the end face on the upper surface thereof, and an upper surface of the semiconductor laminated structure. An optical semiconductor element including a stripe-shaped electrode provided in a region along the optical waveguide; and an optical semiconductor element disposed on a region on the upper surface of the semiconductor laminated structure except for a region where the stripe-shaped electrode is provided. Insulating material layer, a metal film connected to the stripe-shaped electrode disposed on the upper surface and inner surface of the insulating material layer, and a metal wiring on the upper surface, the metal film with respect to the metal wiring With the mounting table bonded by a conductive material so as to face each other, the capacitance formed on the regrowth interface in the region other than the region where the stripe-shaped electrodes are provided on the upper surface of the optical semiconductor element is reduced. Can fence, the effect can be obtained optical semiconductor device with reduced device capacitance of the semiconductor laser is obtained.

【0031】また、この発明によれば、その上部に端面
に対して垂直な方向に伸びる所定幅のストライプ状の光
導波路を備えた半導体積層構造と、該半導体積層構造の
上面の、上記光導波路に沿った領域に設けられたストラ
イプ状の電極とを備えた光半導体素子と、その上面に、
金属配線が配置された電気的接触領域と、該電気的接触
領域に隣接する所定の深さの溝とを有し、該金属配線と
上記光半導体素子のストライプ状の電極とが互いに向か
い合うよう導電性材料により接着され、その電気的接触
領域以外の領域上に上記光半導体素子上面の電極以外の
領域が配置された載置台とを備えるようにしたから、電
気的接触領域からはみ出した導電性材料が溝内に流れ込
むようにすることができ、光半導体素子と載置台との電
気的に接触する面積を電気的接触領域の面積よりも大き
くならないようにして、光半導体素子の素子容量を低減
した光半導体装置を得ることができる効果がある。
According to the invention, there is provided a semiconductor laminated structure having a stripe-shaped optical waveguide having a predetermined width extending in a direction perpendicular to an end face on an upper portion thereof, and the optical waveguide on an upper surface of the semiconductor laminated structure. An optical semiconductor device including a stripe-shaped electrode provided in a region along
An electrical contact region in which a metal wiring is disposed; and a groove having a predetermined depth adjacent to the electrical contact region, wherein the metal wiring and the stripe-shaped electrode of the optical semiconductor element are electrically conductive to face each other. And a mounting table on which a region other than the electrode on the upper surface of the optical semiconductor element is disposed on a region other than the electrical contact region, the conductive material protruding from the electrical contact region. Can be caused to flow into the groove, and the element capacity of the optical semiconductor element is reduced by preventing the area of electrical contact between the optical semiconductor element and the mounting table from becoming larger than the area of the electrical contact region. There is an effect that an optical semiconductor device can be obtained.

【0032】また、この発明によれば、その上部に端面
に対して垂直な方向に伸びる所定幅のストライプ状の光
導波路を備えた半導体積層構造と、該半導体積層構造の
上面の、上記光導波路に沿った領域に設けられたストラ
イプ状の電極とを備えた光半導体素子と、底面上に金属
配線を備えた所定の深さの凹部を上面に有し、該金属配
線と上記光半導体素子のストライプ状の電極とが、該凹
部との間に所定のスペースが形成されるよう上記凹部内
に配置された導電性材料により互いに向かい合うよう接
着され、その凹部以外の領域上に上記光半導体素子上面
のストライプ状の電極以外の領域が配置された載置台と
を備えるようにしたから、ストライプ状の電極と接着さ
れずに余った導電性材料が、凹部の導電性材料が配置さ
れていない空間へ移動するため、光半導体素子と導電性
材料とをストライプ状の電極のみにおいて接触するよう
にでき、光半導体素子と載置台との電気的な接触面積を
減らし、光半導体素子の素子容量を減らした光半導体装
置が得ることができる効果がある。
Further, according to the present invention, a semiconductor laminated structure having a stripe-shaped optical waveguide having a predetermined width extending in a direction perpendicular to an end face on an upper portion thereof, and the optical waveguide on an upper surface of the semiconductor laminated structure is provided. Semiconductor device having a stripe-shaped electrode provided in a region along the upper surface, a concave portion having a predetermined depth provided with a metal wiring on the bottom surface is provided on the upper surface, and the metal wiring and the optical semiconductor device The stripe-shaped electrodes are adhered to each other by a conductive material disposed in the concave portion so as to form a predetermined space between the electrode and the concave portion, and the upper surface of the optical semiconductor element is formed on a region other than the concave portion. And a mounting table on which a region other than the stripe-shaped electrodes is arranged, so that the remaining conductive material that is not adhered to the stripe-shaped electrodes is transferred to a space where the conductive material in the concave portion is not disposed. As a result, the optical semiconductor element and the conductive material can be brought into contact only with the stripe-shaped electrode, the electrical contact area between the optical semiconductor element and the mounting table is reduced, and the element capacity of the optical semiconductor element is reduced. There is an effect that an optical semiconductor device can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 この発明の実施の形態1に係る光半導体装置
の構造を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a structure of an optical semiconductor device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 この発明の実施の形態1に係る光半導体装置
の製造方法を示す断面図である。
FIG. 2 is a sectional view illustrating the method for manufacturing the optical semiconductor device according to the first embodiment of the present invention.

【図3】 この発明の実施の形態2に係る光半導体装置
の構造を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a structure of an optical semiconductor device according to a second embodiment of the present invention.

【図4】 この発明の実施の形態3に係る光半導体装置
の構造を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a structure of an optical semiconductor device according to a third embodiment of the present invention.

【図5】 従来の光半導体装置の構造を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a structure of a conventional optical semiconductor device.

【図6】 この発明の実施の形態3に係る光半導体装置
の変形例の構造を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a structure of a modification of the optical semiconductor device according to the third embodiment of the present invention.

【図7】 この発明の実施の形態1に係る光半導体装置
の変形例の構造を説明するための図である。
FIG. 7 is a diagram for explaining a structure of a modified example of the optical semiconductor device according to the first embodiment of the present invention;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体レーザ、2,102 表面電極、3,103
再成長界面、4,22 金属配線、5,25,35,
105 サブマウント、6,27,106 半田材、
7,107 活性層、8,108 半導体積層構造、
9,109 裏面電極、10,100 半導体基板、1
2 ポリイミド層、13 金属膜、21 溝、23 電
気的接触領域、24 接着領域、26 接着剤、30
シリコン層、31 絶縁膜、32 凹部、101 光半
導体素子、105a ファイバ載置用溝、104 光フ
ァイバ、200 表面電極、201 表面電極形成領
域、202 電極非形成領域。
1 semiconductor laser, 2,102 surface electrode, 3,103
Regrowth interface, 4,22 metal wiring, 5,25,35,
105 submount, 6, 27, 106 solder material,
7,107 active layer, 8,108 semiconductor laminated structure,
9,109 Back electrode, 10,100 Semiconductor substrate, 1
2 polyimide layer, 13 metal film, 21 groove, 23 electrical contact area, 24 adhesive area, 26 adhesive, 30
Silicon layer, 31 insulating film, 32 recess, 101 optical semiconductor element, 105a fiber mounting groove, 104 optical fiber, 200 surface electrode, 201 surface electrode formation area, 202 electrode non-formation area.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 その上部に端面に対して垂直な方向に伸
びる所定幅のストライプ状の光導波路を備えた半導体積
層構造と、該半導体積層構造の上面の、上記光導波路に
沿った領域に設けられたストライプ状の電極とを備えた
光半導体素子と、 該半導体積層構造の上面の、上記ストライプ状の電極が
設けられている領域を除く領域上に配置された絶縁物質
層と、 該絶縁物質層の上面及び内面に配置された上記ストライ
プ状の電極と接続された金属膜と、 その上面に金属配線を有し、該金属配線に対し上記金属
膜が互いに向かい合うよう導電性材料により接着された
載置台とを備えたことを特徴とする光半導体装置。
1. A semiconductor laminated structure having a stripe-shaped optical waveguide having a predetermined width extending in a direction perpendicular to an end face on an upper portion thereof, and a semiconductor laminated structure provided on a top surface of the semiconductor laminated structure in a region along the optical waveguide. An optical semiconductor device having a striped electrode provided thereon; an insulating material layer disposed on a region of the upper surface of the semiconductor laminated structure other than a region where the striped electrode is provided; A metal film connected to the stripe-shaped electrodes disposed on the upper surface and the inner surface of the layer; and a metal wiring on the upper surface, and the metal films are bonded to the metal wiring by a conductive material so as to face each other. An optical semiconductor device, comprising: a mounting table.
【請求項2】 その上部に端面に対して垂直な方向に伸
びる所定幅のストライプ状の光導波路を備えた半導体積
層構造と、該半導体積層構造の上面の、上記光導波路に
沿った領域に設けられたストライプ状の電極とを備えた
光半導体素子と、 その上面に、金属配線が配置された電気的接触領域と、
該電気的接触領域に隣接する所定の深さの溝とを有し、
該金属配線と上記光半導体素子のストライプ状の電極と
が互いに向かい合うよう導電性材料により接着され、そ
の電気的接触領域以外の領域上に上記光半導体素子上面
の電極以外の領域が配置された載置台とを備えたことを
特徴とする光半導体装置。
2. A semiconductor laminated structure having a stripe-shaped optical waveguide having a predetermined width extending in a direction perpendicular to an end face on an upper portion thereof, and a semiconductor laminated structure provided on an upper surface of the semiconductor laminated structure in a region along the optical waveguide. An optical semiconductor element comprising a striped electrode, an electrical contact area on which metal wiring is arranged,
A groove of a predetermined depth adjacent to the electrical contact area,
The metal wiring and the stripe-shaped electrodes of the optical semiconductor element are bonded to each other by a conductive material so as to face each other, and a region other than the electrode on the upper surface of the optical semiconductor device is disposed on the region other than the electrical contact region. An optical semiconductor device comprising: a mounting table.
【請求項3】 その上部に端面に対して垂直な方向に伸
びる所定幅のストライプ状の光導波路を備えた半導体積
層構造と、該半導体積層構造の上面の、上記光導波路に
沿った領域に設けられたストライプ状の電極とを備えた
光半導体素子と、 底面上に金属配線を備えた所定の深さの凹部を上面に有
し、該金属配線と上記光半導体素子のストライプ状の電
極とが、上記凹部内に、該凹部との間に所定の空間が形
成されるよう配置された導電性材料により互いに向かい
合うよう接着され、その凹部以外の領域上に上記光半導
体素子上面のストライプ状の電極以外の領域が配置され
た載置台とを備えたことを特徴とする光半導体装置。
3. A semiconductor laminated structure having a stripe-shaped optical waveguide having a predetermined width extending in a direction perpendicular to an end face on an upper portion thereof, and a semiconductor laminated structure provided on an upper surface of the semiconductor laminated structure in a region along the optical waveguide. An optical semiconductor device having a striped electrode, a concave portion having a predetermined depth provided with a metal wiring on the bottom surface, and the metal wiring and the striped electrode of the optical semiconductor device are formed on the bottom surface. A stripe-shaped electrode on the upper surface of the optical semiconductor element is adhered to a region other than the concave portion by a conductive material disposed so as to form a predetermined space between the concave portion and the conductive material. An optical semiconductor device, comprising: a mounting table on which a region other than the above is arranged.
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