JPH1168663A - 光伝送線路監視装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数の光ファイバ線路を個別に監視又は計測
できるようにする。 【解決手段】 光送信装置３０が出力する波長λｓの信
号光は、光合分波器３６を透過して光合分波器３８に入
射し、分波光ポート＃１〜＃ｎから出力される。光合分
波器３８から出力される信号光は、光フィルタ４６−１
〜ｎ及び光ファイバ線路４２−１〜ｎを透過・伝搬して
各光受信装置３２−１〜ｎに到達する。線路４２−ｉ
（ｉ＝１〜ｎ）を監視する場合、光パルス試験器３４
は、波長λｉのプローブ・パルス光を出力する。出力さ
れたプローブ・パルス光は光合分波器３６を介して光合
分波器３８に入射し、ｎ分割されて光フィルタ４０−１
〜ｎに印加される。波長λｉのプローブ光は光フィルタ
４８−ｉのみを通過でき、従って、線路４２−ｉにのみ
入射し得る。線路４２−ｉ上のλｉを反射する反射素子
４４−ｉの反射パルス及びレーリ後方散乱光が、プロー
ブ光とは逆に伝搬して光パルス試験器３４に入射する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光伝送線路監視装
置に関し、より具体的には、分岐を含む光ネットワーク
の障害点等を検出する光伝送線路監視装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ファイバ通信システムの光ファイバ線
路を監視・保守する手段として、短光パルス（プローブ
・パルス光）を光ファイバ線路に入射し、そのレーリ後
方散乱光の光強度を時間軸上で観測することにより、光
ファイバ線路の長手方向距離に対する損失分布などを測
定する装置がある。これにより、局部的な損失増加や破
断障害などを検出できる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】都市型光ネットワーク
又は加入者系光ネットワークには、単一の光送信装置か
ら出力される波長λｓの信号光を光合分波装置により多
数に分波し、個別の光伝送線路を介して多数の光受信装
置に伝送する光伝送システムが多く見受けられる。個々
の光受信装置に異なる信号を伝送する場合には、時分割
多重方式が利用される。

【０００４】このような分岐型の光伝送システムにおけ
る各光ファイバ伝送路の損失増加や破断障害を検出する
には、個々の光ファイバ伝送路を選択的にパルス試験器
に接続し得るようにする光スイッチを設ければよいが、
それでは、必要時には測定できず、継続的な監視は不可
能である。また、光信号を伝送しながら線路を監視する
のも困難である。

【０００５】この問題の解決手段として、例えば、同一
出願人により、図７に示すような障害位置検出装置が提
案されている。なお、この詳細は、平成８年特許出願第
２０５６７７号に図７を参照して、説明されている。

【０００６】光送信装置１０は、多数の光受信装置１２
−１〜１２−ｎに対する波長λｓの光信号を出力する。
同じ内容の情報を各光受信装置１２−１〜１２−ｎに送
信する場合を除いて、個々の光受信装置１２−１〜１２
−ｎ宛の信号は、同じ波長λｓの光信号上で時分割多重
されている。また、光パルス試験器１４は、信号光の波
長λｓとは異なるλ１〜λｎのプローブ・パルス光を発
生し、その反射光を時間軸上で測定する装置である。光
パルス試験器１４は通常、可変波長光源を使用して、λ
１〜λｎの内の所望の波長のプローブ・パルス光を発生
する。

【０００７】光合分波器１６は、光送信装置１０の出力
光と光パルス試験器１４の出力光（プローブ光）を合波
して光合分波器１８のＭ（多重化光）ポートに供給し、
光合分波器１８のＭポートからの反射光を光パルス試験
器１４に戻すように配置されている。

【０００８】光合分波器１８は、Ｍポートに入力した光
をｎ個に分割し、分波光ポート＃１〜＃ｎからそれぞれ
光ファイバ線路２０−１〜２０−ｎに出力する。各光フ
ァイバ線路２０−１〜２０−ｎの終端に、上述の光受信
装置１２−１〜１２−ｎが接続する。各光ファイバ線路
２０−１〜２０−ｎには、それぞれ波長λ１〜λｎを反
射する反射率０．１〜１０％程度の、例えば光ファイバ
・グレーティングからなる反射素子２２−１〜２２−ｎ
が、光ファイバの接続点などの、目標となる場所に配置
される。

【０００９】このような構成において、例えば、光ファ
イバ線路２０−１の状況を監視又は測定したい場合に
は、光パルス試験器１４から波長λ１のプローブ・パル
ス光を出力させる。出力されたプローブ・パルス光は光
合分波器１６を介して光合分波器１８に入射する。光合
分波器１８は、Ｍポートの入射光を全部の光ファイバ線
路２０−１〜２０−ｎに分配する。波長λ１のプローブ
・パルス光は、光ファイバ線路２０−１では反射素子２
２−１により反射されながら光ファイバ線路２０−１を
伝搬し、他の光ファイバ線路２０−２〜２０−ｎでは反
射素子２２−２〜２２−ｎにより反射されることなく、
光ファイバ線路２０−２〜２０−ｎを伝搬する。

【００１０】光合分波器１８の分波光ポート＃１には、
光ファイバ線路２０−１の反射素子２２−１による反射
光とレーリ後方散乱光が入射し、分波光ポート＃２〜＃
ｎには光ファイバ線路２０−２〜２０−ｎからのレーリ
後方散乱光が入射する。光合分波器１８はこれらを合波
してＭポートから光合分波器１６に出力し、光合分波器
１６で分波されて光パルス試験器１４に入射する。即
ち、光パルス試験器１４には、光ファイバ線路２０−１
〜２０−ｎのレーリ散乱光と、光ファイバ線路２０−１
の反射素子２２−１の反射光が入射することになる。

【００１１】光パルス試験器１４は、光ファイバ線路２
０−１〜２０−ｎからの反射光の強度を時間軸上で解析
（モニタ画面への表示及び／又は印刷出力を含む。）す
る。反射素子２２−１〜２２−ｎからの反射パルスが位
置基準、即ち、位置マーカになる。

【００１２】図７に示す構成では、各光ファイバ線路２
０−１〜２０−ｎからの反射光が重畳されて光パルス試
験器１４に戻ってくるので、各光ファイバ線路２０−１
〜２０−ｎの微細な障害をレーリ後方散乱により精密に
測定することは困難である。しかし、例えば、破断又は
亀裂の場合には、その位置からのフレネル反射パルスが
あり、破断又は亀裂より後側の反射素子２２−１〜２２
−ｎからの反射光が存在しなくなるか通常よりも弱くな
るので、破断等の発生した光ファイバ線路２０−１〜２
０−ｎをプローブ光の波長λ１〜λｎにより特定でき、
その破断等の位置も、予め位置が分かっている反射素子
２２−１〜２２−ｎを基準に計測できるので、高い測定
精度を期待できる。例えば、波長λ１のプローブ光で
は、反射素子２２−１の位置を目安に光ファイバ線路２
０−１の破断の有無とその位置を従来よりも高い精度で
計測でき、波長λｎのプローブ光では、反射素子２２−
ｎの位置を目安に光ファイバ線路２０−ｎの破断の有無
とその位置を従来よりも高い精度で計測できる。

【００１３】しかし、図７に示す構成では、各光ファイ
バ線路２０−１〜２０−ｎの損失特性を精密に測定する
のが困難である。例えば、光パルス試験器１４から波長
λ１のプローブ・パルス光を発生させたとき、後方散乱
光については、光ファイバ線路２０−１〜２０−ｎから
の後方散乱光が全て光パルス試験器１４に入射するの
で、光ファイバ線路２０−１のみの損失特性を取り出し
て精密に測定することが困難である。

【００１４】また、同じ光ファイバ線路２０−１〜２０
−ｎには同じ反射波長λ１〜λｎの反射素子２２−１〜
２２−ｎが配置されるので、隣接する反射素子間の距離
が光パルス試験器１４の距離分解能より小さい場合に
は、その反射素子間で起きた破断を検出することが困難
であった。

【００１５】そこで、本発明は、このような問題点を解
決し、複数の光伝送線路に分岐する光伝送システムであ
っても各光伝送線路の状態などを個別に監視可能な光伝
送線路監視装置及び方法を提示することを目的とする。

【００１６】本発明はまた、複数の光伝送線路の状態な
どを継続的に、特に、インサービスで監視できる光伝送
線路監視装置を提示することを目的とする。

【００１７】本発明は更に、複数の光伝送線路の状況を
同時的に検出できる光伝送線路監視装置を提示すること
を目的とする。

【００１８】本発明は更に、障害位置をより高い精度で
検出できる光伝送線路監視装置を提示することを目的と
する。

【００１９】

【課題を解決するための手段】本発明では、光送信装置
から出力される信号光を光分波手段により複数に分波
し、複数の光伝送線路を介して複数の光受信装置に伝送
する光伝送システムにおいて、当該複数の光伝送線路の
各々に所定の反射帯域を具備する１以上の反射手段を設
け、各光伝送線路の状態を、当該光伝送線路に配置され
る当該反射手段の反射帯域に含まれる波長を含む１以上
の所定波長のプローブ・パルス光を印加したときの反射
光を時間軸上で解析することにより、監視及び測定する
光伝送線路監視装置に関し、特徴的には、光分波手段の
各分波光出力と、これに対応する当該光伝送線路との間
に、接続する当該光伝送線路を伝搬すべき当該信号光を
透過すると共に、当該光伝送線路に配備される反射手段
の反射帯域に含まれる所定透過波長の光を透過する光フ
ィルタ手段を設け、これらの光フィルタ手段の所定透過
波長が、光フィルタ手段毎に異なるものにする。

【００２０】これにより、ある波長のプローブ・パルス
光は、特定の１つの光伝送線路にのみ入射できる。この
結果、任意の１つの光伝送線路の伝送特性を他の光伝送
線路とは区別して監視又は測定できる。

【００２１】信号光の波長を、各光伝送線路の状態を監
視するためのプローブ・パルス光の何れの波長とも異な
るものとすることで、インサービスで監視できる。

【００２２】本発明はまた、複数の光伝送線路のそれぞ
れに異なる信号波長を割り当て、光送信装置の信号光出
力を波長依存性光分波手段により各信号波長に分離し、
各信号波長の信号光を、対応する当該光伝送線路を介し
て各光受信装置に伝送する光伝送システムにおいて、当
該複数の光伝送線路の各々に所定の反射帯域を具備する
１以上の反射手段を設け、各光伝送線路に１以上の所定
波長のプローブ・パルス光を印加したときの反射光を時
間軸上で解析することにより、当該複数の光伝送線路の
各々を監視及び測定する光伝送線路監視装置に関し、特
徴的には、同じ当該光伝送線路上に配置される当該反射
手段の反射帯域が、当該光伝送線路に割り当てられた信
号波長を包含するようにする。

【００２３】これにより、インサービスでの監視は困難
又は不可能になるものの、各光伝送線路の状態を個別に
監視又は測定できる。

【００２４】波長依存性光分波手段は、波長依存性を有
しない光分波手段と、当該光分波手段の各分波光出力に
接続され、所定波長のみを透過する複数の光フィルタ手
段とから構成しても、アレイ導波路格子型分波器を使用
しても良い。後者は、波長の選択に制限が生じるもの
の、構成が簡潔になる。

【００２５】反射手段の実質的な反射波長が、同じ光伝
送線路上のもの同士では同じであり、異なる光伝送線路
上のもの同士では互いに異なるようにすることで、各光
伝送線路の状態を単一波長のプローブ・パルス光で監視
できる。

【００２６】本発明はまた、複数の光伝送線路のそれぞ
れに異なる信号波長を割り当て、光送信装置から出力さ
れる波長分割多重光を波長周期性を有する波長依存性光
分波手段により各信号波長に分離し、各信号波長の信号
光を、対応する当該光伝送線路を介して各光受信装置に
伝送する光伝送システムにおいて、当該複数の光伝送線
路の各々に所定の反射帯域を具備する１以上の反射手段
を設け、各光伝送線路に１以上の所定波長のプローブ・
パルス光を印加したときの反射光を時間軸上で解析する
ことにより、当該複数の光伝送線路の各々を監視及び測
定する光伝送線路監視装置に関し、特徴的には、同じ当
該光伝送線路上に配置される反射手段の反射帯域が、当
該光伝送線路に割り当てられた信号波長を包含せず、且
つ、当該光伝送線路の接続する当該波長依存性光分波手
段の分波光ポートで出力可能な少なくとも１波長を包含
するようにする。

【００２７】これにより、信号波長と異なる波長のプロ
ーブ・パルス光を使用できるので、インサービスでの監
視が可能になる。

【００２８】同じ光伝送線路上の当該反射手段は、少な
くとも隣接する反射手段同士では反射帯域の少なくとも
一部が重ならないようにすることで、何れかの反射手段
に近接する障害も、その反射手段の反射帯域から外れた
波長のプローブ・パルス光を使用することで正しく検出
でき、且つまた、他の反射手段の反射パルスによる位置
マーカにより精度良くその障害位置を検出できる。

【００２９】当該波長依存性光分波手段がアレイ導波路
格子型分波器からなることで、簡潔な構成で実現でき
る。

【００３０】本発明は更に、複数の光伝送線路のそれぞ
れに異なる信号波長を割り当て、光送信装置の信号光出
力を波長依存性光分波手段により各信号波長に分離し、
各信号波長の信号光を、対応する当該光伝送線路を介し
て各光受信装置に伝送する光伝送システムにおいて、当
該複数の光伝送線路の各々に所定の反射帯域を具備する
１以上の反射手段を設け、各光伝送線路に１以上の所定
波長のプローブ・パルス光を印加したときの反射光を時
間軸上で解析することにより、当該複数の光伝送線路の
各々を監視及び測定する光伝送線路監視装置に関し、特
徴的には、同じ当該光伝送線路上に配置される当該反射
手段の反射帯域が、当該光伝送線路に割り当てられた信
号波長帯域を更に細分化した波長の何れかを包含する。

【００３１】これにより、インサービスでの監視は不可
能であるが、個々の光伝送線路の特性を他の光伝送線路
とは区別して監視又は測定できる。

【００３２】波長依存性光分波手段は、波長依存性を有
しない光分波手段と、当該光分波手段の各分波光出力に
接続され、所定波長のみを透過する複数の光フィルタ手
段とから構成しても、アレイ導波路格子型分波器を使用
しても良い。後者は、波長の選択に制限が生じるもの
の、構成が簡潔になる。

【００３３】同じ光伝送線路上の当該反射手段は、少な
くとも隣接する反射手段同士では反射帯域の少なくとも
一部が重ならないようにすることで、何れかの反射手段
に近接する障害も、その反射手段の反射帯域に含まれな
い波長のプローブ・パルス光を使用することで正しく検
出でき、且つまた、他の反射手段の反射パルスによる位
置マーカにより精度良くその障害位置を検出できる。

【００３４】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施の形態を詳細に説明する。

【００３５】図１は、本発明の一実施例の概略構成ブロ
ック図を示す。光送信装置３０は、図７の光送信装置１
０と同様に、多数の光受信装置３２−１〜３２−ｎに対
する波長λｓの光信号を出力し、光パルス試験器３４は
光パルス試験器１４と同様に、信号光の波長λｓとは異
なるλ１〜λｎのプローブ・パルス光を発生し、その反
射光を時間軸上で測定する。即ち、光送信装置３０は、
個々の光受信装置３２−１〜３２−ｎ宛の信号を時分割
多重した波長λｓの光信号を出力し、光パルス試験器３
４は通常、可変波長光源を使用して、λ１〜λｎの内の
所望の波長のプローブ・パルス光を発生する。

【００３６】光合分波器３６及び光合分波器３８の機能
も、それぞれ、図７に示す光合分波器１６及び光合分波
器１８と同じである。即ち、光合分波器３６は、光送信
装置３０の波長λｓの出力光と光パルス試験器４４の出
力光（プローブ光）を合波して光合分波器３８のＭポー
トに供給し、光合分波器３８のＭポートからの光（後述
する光ファイバ線路４２−１〜４２−ｎからの反射光）
を光パルス試験器３４に戻すように配置されており、光
合分波器３８は、Ｍポートの入力光をｎ個に分割して分
波光ポート＃１〜＃ｎから出力し、分波光ポート＃１〜
＃ｎの入力光を合波してＭポートから出力する。光合分
波器３８の分波光ポート＃１〜＃ｎはそれぞれ、信号光
の波長λｓ及び波長λ１〜λｎの内の所定波長のみを透
過する光フィルタ４０−１〜４０−ｎ、並びに光ファイ
バ線路４２−１〜４２−ｎを介して光受信装置３２−１
〜３２−ｎに接続する。

【００３７】各光ファイバ線路４２−ｉ（但し、ｉ＝１
〜ｎ、以下、同じ。）は、光ファイバ線路２０−ｉと同
様に、波長λｉを反射する反射率０．１〜１０％程度の
反射素子４４−ｉを、光ファイバの接続点などの、目標
となる場所に具備する。光フィルタ４０−ｉは例えば、
図１に示すように、信号光の波長λｓを透過する光フィ
ルタ４６−ｉに、対応する光ファイバ線路４２−ｉに線
路監視用として割り当てられたプローブ光の波長λｉの
みを透過する光フィルタ４８−ｉを光カップラ５０−
ｉ，５２−ｉにより並列接続した光回路構成からなる。
これにより、本実施例では、光ファイバ線路４２−ｉに
は、波長λｓの光（ここでは、信号光）と、波長λｉの
光（ここでは、プローブ光）のみが入射でき、波長λ
ｓ，λｉの反射光のみが光合分波器３８の分波光ポート
＃ｉに入射できる。

【００３８】なお、光フィルタ４８−ｉ及び反射素子４
４−ｉは、好ましくは、光フィルタ４８−ｉの透過中心
波長が反射素子４４−ｉの反射中心波長と同一となるよ
うに、設計及び製造されることはいうまでもない。

【００３９】本実施例の動作を説明する。光送信装置３
０が出力する信号光（波長λｓ）は、光合分波器３６を
透過して光合分波器３８に入射し、ここでｎ分割され
て、光合分波器３８の分波光ポート＃１〜＃ｎから出力
される。光合分波器３８の分波光ポート＃１〜＃ｎから
出力される波長λｓの信号光は、光フィルタ４０−１〜
４０−ｎの光フィルタ４６−１〜４６−ｎを透過して各
光ファイバ線路４２−１〜４２−ｎに入射し、反射素子
４４−１〜４４−ｎによっても反射されずに伝搬して各
光受信装置３２−１〜３２−ｎに到達する。

【００４０】光ファイバ線路４２−１〜４２−ｎの状況
を監視又は測定したい場合、光パルス試験器３４から対
応する何れかの波長λ１〜λｎのプローブ・パルス光を
出力させる。例えば、光ファイバ線路４２−１の状況を
監視又は測定したい場合、光パルス試験器３４から波長
λ１のプローブ・パルス光を出力させる。出力されたプ
ローブ・パルス光は光合分波器３６を介して光合分波器
３８に入射する。光合分波器３８は、Ｍポートの入射光
をｎ分割し、分波光ポート＃１〜＃ｎから光フィルタ４
０−１〜４０−ｎに出力する。

【００４１】光合分波器３８の分波光ポート＃１の出力
では、波長λ１のプローブ・パルス光は、光フィルタ４
０−１（の光フィルタ４８−１）を透過できるので、光
ファイバ線路４２−１に入射し、反射素子４４−１によ
り反射されながら光ファイバ線路４２−１をその先に伝
搬できる。光ファイバ線路４２−１を伝搬する波長λ１
のプローブ光は、反射素子４４−１により反射されつ
つ、レーリ後方散乱され、破断などがあれば、その位置
でフレネル反射される。これらの反射光は、光ファイバ
線路４２−１を逆方向に伝搬し、光フィルタ４０−１を
透過して、光合分波器３８の分波光ポート＃１に入射す
る。他方、光合分波器３８の他の分波光ポート＃２〜＃
ｎの出力では、波長λ１のプローブ光は、光フィルタ４
０−２〜４０−ｎを透過できないので、光ファイバ線路
４２−２〜４２−ｎの中に入れない。従って、光合分波
器３８の分波光ポート＃２〜＃ｎには、波長λ１のプロ
ーブ光による光ファイバ線路４２−１〜４２−ｎからの
反射光は入射しない。

【００４２】光合分波器３８は、光ファイバ線路４２−
１〜４２−ｎからそれぞれ光フィルタ４０−１〜４０−
ｎを介して各分波光ポート＃１〜＃ｎに入射する光を合
波して、Ｍポートから光合分波器３６に向け出力する。
光パルス試験器３４が波長λ１のプローブ光を出力して
いる状況では、光ファイバ線路４２−１〜４２−ｎから
の光としては、主として、波長λ１のプローブ光の、光
ファイバ線路４２−１からの反射光であり、光合分波器
３８は、光ファイバ線路４２−１からその分波光ポート
＃１に入射した反射光をＭポートから光合分波器３６に
出力する。その光は、光合分波器３６で反射されて光パ
ルス試験器３４に入射する。

【００４３】このようにして、本実施例では、波長λ１
のプローブ・パルス光に対して、光パルス試験器３４に
は、光ファイバ線路４２−１で発生するレーリ散乱光と
反射光のみが入射することになり、光ファイバ線路４２
−１の特性を、他の光ファイバ線路４２−２〜４２−ｎ
と区別して測定できる。光パルス試験器３４は、光ファ
イバ線路４２−１からの反射光の強度を時間軸上で解析
（モニタ画面への表示及び／又は印刷出力を含む。）す
る。

【００４４】光ファイバ線路４２−２を調べたいときに
は、波長λ２のプローブ・パルス光を光パルス試験器３
４から発生させればよく、これにより、光ファイバ線路
４２−２の状態を他の光ファイバ線路４２−１，４２−
３〜４２−ｎとは区別して測定できる。

【００４５】本実施例では、信号光の波長λｓとプロー
ブ光の波長λ１〜λｎが異なるので、信号光の伝送中で
も、即ち、インサービスで光ファイバ線路４２−１〜４
２−ｎの状況を監視又は測定できる。破断及び亀裂等の
障害の位置は、設置位置が予め分かっている反射素子４
４−１〜４４−ｎからの反射パルスを基準に高い精度で
測定できるので、障害位置を精密に決定できる。

【００４６】図１に示す実施例では、光パルス試験器３
４が、任意の単一の波長のプローブ・パルス光を出力す
ると説明したが、光パルス試験器３４が戻り光を波長毎
に分離して解析できる場合、複数の波長のプローブ・パ
ルス光を同時に出力しても良いことはもちろんである。

【００４７】図２は、本発明の第２実施例の概略構成ブ
ロック図を示す。この実施例では、光送信装置は、複数
の光受信装置に波長分割多重方式で信号光を伝送し、プ
ローブ光には、信号光と同じ波長を使用する。即ち、光
送信装置６０は、それぞれ波長λ１〜λｎの信号光を波
長分割多重した信号光を出力し、光受信装置６２−１〜
６２−ｎはそれぞれ、波長λ１〜λｎの信号光を受信処
理する。

【００４８】光パルス試験器６４は、光パルス試験器３
４と同様に、波長λ１〜λｎの任意の波長のプローブ光
を発生し、戻ってくる反射光を時間軸上で解析する。光
合分波器６６及び光合分波器６８の構成及び機能は、図
１の光合分波器３６及び光合分波器３８と全く同じであ
る。光合分波器６８の分波光ポート＃１〜＃ｎはそれぞ
れ、波長λ１〜λｎの内の対応する１波長のみを透過す
る光フィルタ７０−１〜７０−ｎ及び光ファイバ線路７
２−１〜７２−ｎを介して光受信装置６２−１〜６２−
ｎに接続する。

【００４９】各光ファイバ線路７２−ｉ（但し、ｉ＝１
〜ｎ）は、光ファイバ線路２０−ｉと同様に、波長λｉ
を反射する反射率０．１〜１０％程度の反射素子７４−
ｉを、光ファイバの接続点などの、目標となる場所に具
備する。光フィルタ７０−ｉは、対応する光ファイバ線
路４２−ｉ（又は光受信装置６２−ｉ）に割り当てられ
た波長λｉのみを透過する光フィルタからなる。これに
より、本実施例では、光ファイバ線路７２−ｉには、割
り当てられた１波長λｉのみが伝搬できる。

【００５０】なお、光フィルタ７０−ｉ及び反射素子７
４−ｉは、好ましくは、光フィルタ７０−ｉの透過中心
波長が反射素子７４−ｉの反射中心波長と同一となるよ
うに、設計及び製造されることはいうまでもない。

【００５１】図２に示す実施例の動作を説明する。光送
信装置６０は、光受信装置６２−１宛の波長λ１の信号
光、光受信装置６２−２宛の波長λ２の信号光、・・
・、及び光受信装置６２−ｎ宛の波長λｎの信号光を波
長分割多重した信号光を出力する。光送信装置６０から
出力される波長分割多重信号光は、光合分波器６６を透
過して光合分波器６８に入射し、ここでｎ分割されて、
光合分波器６８の分波光ポート＃１〜＃ｎから出力され
る。しかし、光合分波器６８の各分波光ポート＃ｉ（ｉ
＝１〜ｎ）には、対応する波長λｉのみを透過する光フ
ィルタ７０−ｉを配置してあるので、各光ファイバ線路
７２−ｉには、対応する波長λｉの信号光のみが実質的
に入射でき、伝搬し得る。例えば、光ファイバ線路７２
−２に入射し伝搬し得るのは、波長λ２の信号光であ
る。結局、光送信装置６０から出力される波長分割多重
光信号は、光合分波器６８及び光フィルタ７０−１〜７
０−ｎにより各波長λ１〜λｎに波長分離され、対応す
る光ファイバ線路７２−１〜７２−ｎを伝搬して、光受
信装置６２−１〜６２−ｎに到達し、受信処理される。

【００５２】光ファイバ線路７２−１〜７２−ｎの状況
を監視又は測定したい場合、光パルス試験器６４から対
応する何れかの波長λ１〜λｎのプローブ・パルス光を
出力させる。例えば、光ファイバ線路７２−１の状況を
監視又は測定したい場合、光パルス試験器６４から波長
λ１のプローブ・パルス光を出力させる。出力されたプ
ローブ・パルス光は光合分波器６６を介して光合分波器
６８のＭポートに入射する。光合分波器６８は、Ｍポー
トの入射光をｎ分割して各分波光ポート＃１〜＃ｎに分
配するが、光フィルタ７０−１のみが波長λ１を透過し
得るので、波長λ１のプローブ・パルス光は、光ファイ
バ線路７２−１のみに入射し、反射素子７４−１により
反射されながら光ファイバ線路７２−１をその先に伝搬
できる。他の光ファイバ線路７２−２〜７２−ｎでは、
波長λ１のプローブ光は、光フィルタ７０−２〜７０−
ｎを透過できないので、光ファイバ線路７０−２〜７０
−ｎの中に入れない。

【００５３】光合分波器６８は、光ファイバ線路７２−
１〜７２−ｎからそれぞれ光フィルタ７０−１〜７０−
ｎを介して各分波光ポート＃１〜＃ｎに入射する光を合
波して、Ｍポートから光合分波器６６に向け出力する。
光パルス試験器６４が波長λ１のプローブ光を出力して
いる状況では、光ファイバ線路７２−１〜７２−ｎから
の光としては、主として、波長λ１のプローブ光の、光
ファイバ線路７２−１からの反射光であり、光合分波器
６８は、光ファイバ線路７２−１からその分波光ポート
＃１に入射した反射光をＭポートから光合分波器６６に
出力する。その光は、光合分波器６６で反射されて光パ
ルス試験器６４に入射する。

【００５４】このようにして、本実施例では、波長λ１
のプローブ・パルス光に対して、光パルス試験器６４に
は、光ファイバ線路７２−１で発生するレーリ散乱光と
反射光のみが入射することになり、光ファイバ線路７２
−１の特性を、他の光ファイバ線路７２−２〜７２−ｎ
と区別して測定できる。光パルス試験器６４は、光ファ
イバ線路７２−１からの反射光の強度を時間軸上で解析
（モニタ画面への表示及び／又は印刷出力を含む。）す
る。

【００５５】光ファイバ線路７２−２を調べたいときに
は、波長λ２のプローブ・パルス光を光パルス試験器６
４から発生させればよく、これにより、光ファイバ線路
７２−２の状態を他の光ファイバ線路７２−１，７２−
３〜７２−ｎとは区別して測定できる。

【００５６】本実施例では、各光ファイバ線路７２−１
〜７２−ｎの状態を調べるプローブ光の波長が信号光の
波長と同じになるので、インサービスでの監視又は測定
を行なうことはできないものの、各光ファイバ線路７２
−１〜７２−ｎの状態を個別に、即ち他の光ファイバ線
路７２−１〜７２−ｎとは分離して監視又は測定でき
る。破断及び亀裂等の障害の位置は、設置位置が予め分
かっている反射素子７４−１〜７４−ｎからの反射パル
スを基準に高い精度で測定できるので、障害位置を精密
に決定できる。

【００５７】図２に示す実施例では、光パルス試験器６
４が、任意の単一の波長のプローブ・パルス光を出力す
ると説明したが、光パルス試験器６４が戻り光を波長毎
に分離して解析できる場合、複数の波長のプローブ・パ
ルス光を同時に出力しても良いことはもちろんである。

【００５８】図２に示す実施例では、光合分波器６８の
分波光ポート＃１〜＃ｎに、各波長λ１〜λｎのみを透
過する光フィルタ７０−１〜７０−ｎを接続すること
で、波長分離素子を実現している。光合分波器６８と光
フィルタ７０−１〜７０−ｎからなる部分を、同様の波
長分離多重化機能を具備する波長依存性の光合分波器で
代替しても、同様の作用効果を得ることができることは
明らかである。そのような波長依存性光合分波器として
はアレイ導波路格子（ＡＷＧ）が広く知られている。波
長依存性の光合分波器としてアレイ導波路格子を使用し
た場合、λ１〜λｎの波長間隔などに制限が生じるもの
の、Ｍポートの入力光を単純にｎ分割するわけでは無い
ので、波長分離に伴う損失が少なくなる。

【００５９】ところで、アレイ導波路格子の分波光ポー
ト＃１〜＃ｎは、図３に示すような、周期性を有する伝
達係数対波長特性を具備する。即ち、本来用いることを
意図して設計した波長λ１〜λｎの伝達係数対波長特性
がその上下の波長において繰り返される特性を具備す
る。この場合の繰り返しの周期はＦＳＲ（Ｆｒｅｅ Ｓ
ｐｅｃｔｒａｌ Ｒａｎｇｅ）と呼ばれている。例え
ば、ＡＷＧの分波光ポート＃１からは、波長λ１の光の
他に、波長λ１１Ｌ，λ１２Ｌ，・・・及び波長λ１１
Ｓ，λ１２Ｓ，・・・の光が出力される。これを利用す
ると、信号光の波長帯とは異なる波長帯のプローブ光を
使用できるようになる。

【００６０】図４は、インサービスでの監視を可能にす
ると共に、障害位置をより高い精度で測定できる第３実
施例の概略構成ブロック図を示す。この実施例でも、信
号光は波長分割多重方式により伝送され、光送信装置８
０は、各光受信装置８２−１〜８２−ｎに対してそれぞ
れ異なる波長λ１〜λｎの信号光を波長分割多重した信
号光を出力する。光受信装置８２−１〜８２−ｎはそれ
ぞれ、波長λ１〜λｎの信号光を受信処理する。

【００６１】光パルス試験器８４は、詳細は後述する
が、信号光の波長λ１〜λｎとは異なるＦＳＲに属する
波長のプローブ光を発生し、戻ってくる反射光を時間軸
上で解析する。光合分波器８６は、光送信装置８０の出
力光と光パルス試験器８４の出力光（プローブ光）を合
波してアレイ導波路格子（ＡＷＧ）８８のＭ（多重化
光）ポートに供給し、ＡＷＧ８８のＭポートからの光
（後述する光ファイバ線路９０−１〜９０−ｎからの反
射光）を光パルス試験器８４に戻すように配置されてい
る。波長分離多重化素子又は波長依存性光分波器として
のＡＷＧ８８は、周知の通り、Ｍポートの入力光を図３
に示すような所定波長間隔で波長分離し、各波長成分を
対応する各個別波長ポート＃１〜＃ｎから出力すると共
に、個別波長ポート＃１〜＃ｎの対応波長の入力光を波
長多重してＭポートから出力する。ＡＷＧ８８の個別波
長ポート＃１〜＃ｎはそれぞれ、光ファイバ線路９０−
１〜９０−ｎを介して光受信装置８２−１〜８２−ｎに
接続する。

【００６２】各光ファイバ線路９０−ｉ（但し、ｉ＝１
〜ｎ）には、ＡＷＧ８８の個別波長ポート＃ｉに割り当
てられている波長であって、信号光の波長λ１〜λｎと
は異なるＦＳＲに属する波長を反射する反射率０．１〜
１０％程度の反射素子９２−ｉ−１〜４を、光ファイバ
の接続点などの、目標となる場所に配置してある。本実
施例では更には、反射素子９２−ｉ−１〜４は、異なる
ＦＳＲに属する波長を反射するように設定されている。

【００６３】具体的には、光ファイバ線路９０−１の反
射素子９２−１−１は、図３の波長λ１１Ｌを反射し、
反射素子９２−１−２は波長λ１２Ｌを反射し、反射素
子９２−１−３は波長λｌｌＳを反射し、反射素子９２
−１−４は波長λ１２Ｓを反射する。光ファイバ線路９
０−２の反射素子９２−２−１は、波長λ２１Ｌを反射
し、反射素子９２−２−２は波長λ２２Ｌを反射し、反
射素子９２−２−３は波長λ２１Ｓを反射し、反射素子
９２−２−４は波長λ２２Ｓを反射する。光ファイバ線
路９０−ｎの反射素子９２−ｎ−１は、波長λｎ１Ｌを
反射し、反射素子９２−ｎ−２は波長λｎ２Ｌを反射
し、反射素子９２−ｎ−３は波長λｎ１Ｓを反射し、反
射素子９２−ｎ−４は波長λｎ２Ｓを反射する。

【００６４】光ファイバ線路９０−１上の全ての反射素
子９２−１−１〜４が異なるＦＳＲに属する必要はな
く、少なくとも、隣接する反射素子を異なる反射波長の
ものにするのが好ましい。光ファイバ線路９０−２〜９
０−ｎについても、同様である。

【００６５】隣接する反射素子の反射波長を異なる波長
とすることで、隣接する反射素子間の距離が光パルス試
験器８４の距離分解能以内であっても、同じ光ファイバ
線路上にある異なる反射波長の反射素子の反射パルス位
置を参照することで、隣接する反射素子間の障害位置が
検出可能になり、しかも、高い精度で検出できるように
なる。

【００６６】図４に示す実施例の動作を説明する。光送
信装置８０は、光受信装置８２−１宛の波長λ１の信号
光、光受信装置８２−２宛の波長λ２の信号光、・・
・、及び光受信装置８２−ｎ宛の波長λｎの信号光を波
長分割多重した信号光を出力する。光送信装置８０から
出力される波長分割多重信号光は、光合分波器８６を透
過してＡＷＧ８８のＭポートに入射し、ここでλ１〜λ
ｎの各波長成分に波長分離されて、個別波長ポート＃１
〜＃ｎから出力される。これにより、光ファイバ線路９
０−１には波長λ１の信号光が入射し、光ファイバ線路
９０−２には波長λ２の信号光が入射し、光ファイバ線
路９０−ｎには波長λｎの信号光が入射する。各波長λ
１〜λｎの信号光は、光ファイバ線路９０−１〜９０−
ｎを伝搬して光受信装置８２−１〜８２−ｎに到達し、
受信処理される。

【００６７】光ファイバ線路９０−１〜９０−ｎの状況
を監視又は測定したい場合、光パルス試験器８４から、
監視対象の光ファイバ線路９０−ｉ（ｉ＝１〜ｎ）に配
置されている反射素子９２−ｉ−１〜４の反射波長に一
致する波長のプローブ・パルス光を出力させる。例え
ば、光ファイバ線路９０−１の状況を監視又は測定した
い場合、光パルス試験器８４から波長λ１１Ｌ，λ１２
Ｌ，λ１１Ｓ，λ１２Ｓのプローブ・パルス光を時間的
にずらして出力させる。光パルス試験器８４が、異なる
複数の波長の反射光を同じに解析できる場合には、これ
らの複数の波長のプローブ・パルス光を同時に出力して
もよい。

【００６８】光パルス試験器８４から出力されたプロー
ブ・パルス光は光合分波器８６を介してＡＷＧ８８のＭ
ポートに入射する。ＡＷＧ８８は、Ｍポートに入射した
光の波長がλ１２Ｓ，λ１１Ｓ，λ１，λ１１Ｌ，λ１
２Ｌの何れかである場合、その波長多重化分離特性に従
い、入力光を個別波長ポート＃１から出力する。従っ
て、光パルス試験器８４から出力されたプローブ光は光
ファイバ線路９０−１にのみ入射する。光ファイバ線路
９０−１では、プローブ光は、その波長と一致する反射
波長の反射素子９２−１−１，９２−１−２，９２−１
−３又は９２−１−４により反射されながら、光ファイ
バ線路９０−１を伝搬する。

【００６９】例えば、波長λ１１Ｌのプローブ・パルス
光は、反射素子９２−１−１により反射され、その他の
部分ではレーリ後方散乱される。波長λ１２Ｌのプロー
ブ・パルス光は、反射素子９２−１−２により反射さ
れ、その他の部分ではレーリ後方散乱される。波長λ１
１Ｓのプローブ・パルス光は、反射素子９２−１−３に
より反射され、その他の部分ではレーリ後方散乱され
る。波長λ１２Ｓのプローブ・パルス光は、反射素子９
２−１−４により反射され、その他の部分ではレーリ後
方散乱される。

【００７０】ＡＷＧ８８は、光ファイバ線路９０−１〜
９０−ｎから各個別波長ポート＃１〜＃ｎに入射する光
を波長多重して、Ｍポートから光合分波器８６に向け出
力する。光パルス試験器８４が波長λ１２Ｓ，λ１１
Ｓ，λ１１Ｌ，λ１２Ｌのいずれかのプローブ光を出力
している状況では、光ファイバ線路９０−１〜９０−ｎ
からの光としては、主として、そのプローブ光の、光フ
ァイバ線路９０−１からの反射光であり、ＡＷＧ８８
は、光ファイバ線路９０−１からその個別波長ポート＃
１に入射した反射光をＭポートから光合分波器８６に出
力する。その光は、光合分波器８６を介して光パルス試
験器８４に入射する。光パルス試験器８４は、入射光の
強度を時間軸上で解析（モニタ画面への表示及び／又は
印刷出力を含む。）する。

【００７１】このようにして、本実施例では、波長λ１
２Ｓ，λ１１Ｓ，λ１１Ｌ，λ１２Ｌのプローブ・パル
ス光に対して、光パルス試験器８４には、光ファイバ線
路９０−１で発生するレーリ散乱光と反射光のみが入射
することになり、光ファイバ線路９０−１の特性を、他
の光ファイバ線路９０−２〜９０−ｎと区別して測定で
きる。

【００７２】同じ光ファイバ線路を異なる波長で測定す
ることにより、各反射素子の位置を別々に測定できる。
従って、仮に、ある反射素子に対して、光パルス試験器
８４の距離分解能以内の近い位置で障害があったとして
も、別の反射素子の位置を基準にその障害位置を測定で
きるようになる。即ち、本実施例では、反射素子から光
パルス試験器８４の距離分解能以内の距離にある障害も
正しく、且つ高精度に検出できるようになる。

【００７３】なお、光ファイバ線路９０−２を調べたい
ときには、波長λ２１Ｌ，λ２２Ｌ，λ２１Ｓ，λ２２
Ｓのプローブ・パルス光を光パルス試験器８４から発生
させればよく、これにより、光ファイバ線路９０−２の
状態を他の光ファイバ線路９０−１，９０−３〜９０−
ｎとは区別して測定できる。

【００７４】本実施例では、各光ファイバ線路９０−１
〜９０−ｎの状態を調べるプローブ光の波長が信号光の
波長とは異なるので、インサービスでの監視又は測定が
可能になる。また、各光ファイバ線路９０−１〜９０−
ｎの状態を個別に、即ち他の光ファイバ線路９０−１〜
９０−ｎとは分離して監視又は測定できる。破断及び亀
裂等の障害の位置は、設置位置が予め分かっている反射
素子９２−１−１〜４，９２−２−１〜４、・・・、９
２−ｎ−１〜４からの反射パルスを基準に高い精度で測
定できるので、障害位置を精密に決定できる。ＡＷＧ８
８の異なるＦＳＲに属する反射波長の反射素子を同じ光
ファイバ線路上に配置することで、いずれかの反射素子
に近い位置で障害が発生しても、その障害位置を正しく
且つ、精度良く検出できる。

【００７５】図４に示す実施例でも、光パルス試験器８
４は、戻り光を波長毎に分離して解析できる場合には、
複数の波長のプローブ・パルス光を同時に出力しても良
い。

【００７６】反射素子９２−１−１〜４，９２−２−１
〜４、・・・、９２−ｎ−１〜４の帯域は、理論的に
は、ＡＷＧ８８の各個別波長ポート＃１〜＃ｎの帯域幅
を包含すればよく、反射素子９２−１−１〜４，９２−
２−１〜４、・・・、９２−ｎ−１〜４の反射帯域幅を
更に増加することも可能である。例えば、波長λ１１Ｌ
を反射する反射素子９２−１−１の反射帯域としては、
図３で、波長λ１１Ｌを含むＦＳＲ部分全体を上限とし
て帯域幅を設計してもよい。同じＦＳＲに属する波長λ
２１Ｌ，・・・，λｎ１Ｌは、ＡＷＧ８８の個別波長ポ
ート＃１からは出力されないからである。

【００７７】更には、隣のＦＳＲにまで拡張することも
可能である。たとえば、波長λ１２Ｌを中心波長とする
反射素子９２−１−２について考えると、ＡＷＧ８８の
ポート＃１から出力される波長を含まないという条件
で、より広い反射帯域を設定できる。一例として、図３
のλｎ１Ｌ〜λ２２Ｌ又はλ２１Ｌ〜λｎ２Ｌを反射帯
域としてもよい。

【００７８】このように帯域幅を増大させることで、光
パルス試験器８４の出力光の波長安定度に関する要求条
件を軽減できる。広い反射帯域で良いことから、反射素
子の中心波長のトラレンスなどの要求性能を軽減でき、
システムに使用する反射素子の種類を減らすことも可能
になる。これらにより反射素子のコストを大幅に削減で
きる。

【００７９】図５は、本発明の第４実施例の概略構成ブ
ロック図を示す。図５において、図４と同じ構成要素に
は同じ符号を付してある。

【００８０】図４に示す実施例では、各光ファイバ線路
９０−１〜９０−ｎ上に、ＡＷＧ８８の、信号光波長λ
１〜λｎとは異なるＦＳＲに属する波長を反射する反射
素子９２−１−１〜４，９２−２−１〜４、・・・、９
２−ｎ−１〜４を配置したが、図５に示す実施例では、
図６に示すように、ＡＷＧ８８の各個別波長光ポート＃
１〜＃ｎの波長λ１〜λｎの帯域を更に細分し、その細
分された波長を反射する反射素子９６−１−１〜４，９
６−２−１〜４、・・・、９６−ｎ−１〜４を、ＡＷＧ
８８の各個別波長光ポート＃１〜＃ｎと光受信装置８２
−１〜８２−ｎを接続する光ファイバ線路９４−１〜９
４−ｎ上に配置した。図６で、横軸は波長、縦軸は、Ａ
ＷＧ８８の伝達係数をそれぞれ示す。

【００８１】具体的には、光ファイバ線路９４−１の反
射素子９６−１−１は、図６の波長λ１１を反射し、反
射素子９６−１−２は波長λ１２を反射し、反射素子９
６−１−３は波長λ１３を反射し、反射素子９６−１−
４は波長λ１４を反射する。光ファイバ線路９４−２の
反射素子９６−２−１は、波長λ２１を反射し、反射素
子９６−２−２は波長λ２２を反射し、反射素子９６−
２−３は波長λ２３を反射し、反射素子９６−２−４は
波長λ２４を反射する。光ファイバ線路９４−ｎの反射
素子９６−ｎ−１は、波長λｎ１を反射し、反射素子９
６−ｎ−２は波長λｎ２を反射し、反射素子９６−ｎ−
３は波長λｎ３を反射し、反射素子９６−ｎ−４は波長
λｎ４を反射する。

【００８２】図４の場合と同様に、光ファイバ線路９４
−１上の全ての反射素子９６−１−１〜４の反射波長が
互いに異なる必要はなく、少なくとも、隣接する反射素
子の反射波長が異なれば、反射素子に近接した障害も正
しく且つ精確に検出できる。光ファイバ線路９４−２〜
９４−ｎについても、同様である。

【００８３】例えば、光ファイバ線路９４−１に対して
は次のようにする。ＡＷＧ８８の個別波長ポート＃１の
波長λ１の帯域に対し、図６に示すように波長λ１１〜
λ１ｍのｍ波長帯に細分し、λ１１を反射する反射素子
９６−１−１、λ１２を反射する反射素子９６−１−
２、λ１３を反射する反射素子９６−１−３及びλ１４
を反射する反射素子９６−１−４を光ファイバ線路９４
−１上に配置する。他の光ファイバ線路９４−２〜９４
−ｎについても同様である。図５に示す実施例では、ｍ
は４以上であればよいことになる。各反射素子９６−１
−１〜４の反射波長は全て異なる必要はなく、少なくと
も隣接する反射素子の反射波長が異なれば、各反射素子
９６−１−１〜４に隣接する位置での障害も、別の反射
素子９６−１−１〜４からの反射パルスを位置マーカと
して正しく且つ精密に検出できる。

【００８４】光パルス試験器９８は、可変波長光源によ
り、これらの反射素子９６−１−１〜４，９６−２−１
〜４、・・・、９６−ｎ−１〜４の反射波長に一致する
波長のプローブ・パルス光を自在に発生することができ
る。

【００８５】既存のＡＷＧでは、各個別波長光ポート＃
１〜＃ｎの帯域はおよそ１００〜数１００ＧＨｚであ
り、反射素子９６−１−１〜４，９６−２−１〜４、９
６−３−１〜４，９６−４−１〜４の帯域は１０〜数１
０ＧＨｚオーダーになり、充分に実現可能である。

【００８６】なお、図５に示す実施例では、プローブ光
の波長が信号光の波長帯域に包含されるので、インサー
ビスでの監視はできない。

【００８７】

【本発明の効果】以上の説明から容易に理解できるよう
に、本発明によれば、各光伝送線路の状態を個別に監視
又は測定できる。また、各光伝送線路に装備される反射
素子に、光パルス試験器の距離分解能より近い距離で障
害があっても、他の反射素子の反射パルスを位置マーカ
として正しく且つ精確にその障害を検出できる。

【００８８】また、信号光の波長とは異なる波長のプロ
ーブ光を使用することにより、インサービスで各光伝送
線路を監視できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の第１実施例の概略構成ブロック図で
ある。

【図２】 本発明の第２実施例の概略構成ブロック図で
ある。

【図３】 ＡＷＧの伝達特性の模式図である。

【図４】 本発明の第３実施例の概略構成ブロック図で
ある。

【図５】 本発明の第４実施例の概略構成ブロック図で
ある。

【図６】 ＡＷＧ８８の伝達特性と反射素子９６−１−
１〜４，９６−２−１〜４、・・・、９６−ｎ−１〜４
の反射波長との対応を示す模式図である。

【図７】 従来例の概略構成ブロック図である。

【符号の説明】

１０：光送信装置 １２−１〜１２−ｎ：光受信装置 １４： 光パルス試験器 １６： 光合分波器 １８：光合分波器 ２０−１〜２０−ｎ：光ファイバ線路 ２２−１〜２２−ｎ：反射素子 ３０：光送信装置 ３２−１〜３２−ｎ：光受信装置 ３４：光パルス試験器 ３６：光合分波器 ３８：光合分波器 ４０−１〜４０−ｎ：光フィルタ ４２−１〜４２−ｎ：光ファイバ線路 ４４−１〜４４−ｎ：反射素子 ４６−１〜４６−ｎ：光フィルタ ４８−１〜４８−ｎ：光フィルタ ５０−１〜５０−ｎ，５２−１〜５２−ｎ：光カップラ ６０：光送信装置 ６２−１〜６２−ｎ：光受信装置 ６４：光パルス試験器 ６６：光合分波器 ６８：光合分波器 ７０−１〜７０−ｎ：光フィルタ ７２−１〜７２−ｎ：光ファイバ線路 ７４−１〜７４−ｎ：反射素子 ８０：光送信装置 ８２−１〜８２−ｎ：光受信装置 ８４：光パルス試験器 ８６：光合分波器 ８８：アレイ導波路格子（ＡＷＧ） ９０−１〜９０−ｎ：光ファイバ線路 ９２−１−１〜４，９２−２−１〜４，・・・，９２−
ｎ−１〜４：反射素子 ９４−１〜９４−ｎ：光ファイバ線路 ９６−１−１〜４，９６−２−１〜４，・・・，９６−
ｎ−１〜４：反射素子 ９８：光パルス試験器

Claims (13)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光送信装置から出力される信号光を光分
   波手段により複数に分波し、複数の光伝送線路を介して
   複数の光受信装置に伝送する光伝送システムにおいて、
   当該複数の光伝送線路の各々に所定の反射帯域を具備す
   る１以上の反射手段を設け、各光伝送線路の状態を、当
   該光伝送線路に配置される当該反射手段の反射帯域に含
   まれる波長を含む１以上の所定波長のプローブ・パルス
   光を印加したときの反射光を時間軸上で解析することに
   より、監視及び測定する光伝送線路監視装置であって、 １以上の当該所定波長の当該プローブ・パルス光を出力
   し、当該プローブ・パルス光の反射光を時間軸上で解析
   する光パルス試験手段と、 当該光パルス試験手段から出力される当該プローブ・パ
   ルス光を、当該光送信装置から出力される信号光に合波
   して当該光分波手段に供給すると共に、当該光分波手段
   からの、当該プローブ・パルス光の反射光を当該光パル
   ス試験手段に供給する光接続手段と、 当該光分波手段の各分波光出力と、これに対応する当該
   光伝送線路との間にそれぞれ接続され、接続する当該光
   伝送線路を伝搬すべき当該信号光を透過すると共に、当
   該光伝送線路に配備される反射手段の反射帯域に含まれ
   る所定透過波長の光を透過する複数の光フィルタ手段と
   からなり、当該複数の光フィルタ手段の当該所定透過波
   長が、互いに異なることを特徴とする光伝送線路監視装
   置。
2. 【請求項２】 当該信号光の波長が、当該各光伝送線路
   の状態を監視するためのプローブ・パルス光の何れの波
   長とも異なる請求項１に記載の光伝送線路監視装置。
3. 【請求項３】 複数の光伝送線路のそれぞれに異なる信
   号波長を割り当て、光送信装置の信号光出力を波長依存
   性光分波手段により各信号波長に分離し、各信号波長の
   信号光を、対応する当該光伝送線路を介して各光受信装
   置に伝送する光伝送システムにおいて、当該複数の光伝
   送線路の各々に所定の反射帯域を具備する１以上の反射
   手段を設け、各光伝送線路に１以上の所定波長のプロー
   ブ・パルス光を印加したときの反射光を時間軸上で解析
   することにより、当該複数の光伝送線路の各々を監視及
   び測定する光伝送線路監視装置であって、 １以上の当該所定波長の当該プローブ・パルス光を出力
   し、当該プローブ・パルス光の反射光を時間軸上で解析
   する光パルス試験手段と、 当該光パルス試験手段から出力される当該プローブ・パ
   ルス光を、当該光送信装置から出力される信号光に合波
   して当該波長依存性光分波手段に供給すると共に、当該
   光分波手段からの、当該プローブ・パルス光の反射光を
   当該光パルス試験手段に供給する光接続手段とからな
   り、同じ当該光伝送線路上に配置される当該反射手段の
   反射帯域が、当該光伝送線路に割り当てられた信号波長
   を包含することを特徴とする光伝送線路監視装置。
4. 【請求項４】 当該波長依存性光分波手段が、波長依存
   性を有しない光分波手段と、当該光分波手段の各分波光
   出力に接続され、当該所定波長のみを透過する複数の光
   フィルタ手段とからなる請求項３に記載の光伝送線路監
   視装置。
5. 【請求項５】 当該波長依存性光分波手段が、アレイ導
   波路格子型分波器からなる請求項３に記載の光伝送線路
   監視装置。
6. 【請求項６】 当該反射手段の反射帯域が、同じ光伝送
   線路上のもの同士では実質的に同じであり、異なる光伝
   送線路上のもの同士では少なくとも一部が重ならない請
   求項３に記載の光伝送線路監視装置。
7. 【請求項７】 複数の光伝送線路のそれぞれに異なる信
   号波長を割り当て、光送信装置から出力される波長分割
   多重光を波長周期性を有する波長依存性光分波手段によ
   り各信号波長に分離し、各信号波長の信号光を、対応す
   る当該光伝送線路を介して各光受信装置に伝送する光伝
   送システムにおいて、当該複数の光伝送線路の各々に所
   定の反射帯域を具備する１以上の反射手段を設け、各光
   伝送線路に１以上の所定波長のプローブ・パルス光を印
   加したときの反射光を時間軸上で解析することにより、
   当該複数の光伝送線路の各々を監視及び測定する光伝送
   線路監視装置であって、 １以上の当該所定波長の当該プローブ・パルス光を出力
   し、当該プローブ・パルス光の反射光を時間軸上で解析
   する光パルス試験手段と、 当該光パルス試験手段から出力される当該プローブ・パ
   ルス光を、当該光送信装置から出力される信号光に合波
   して当該波長依存性光分波手段に供給すると共に、当該
   光分波手段からの、当該プローブ・パルス光の反射光を
   当該光パルス試験手段に供給する光接続手段とからな
   り、同じ当該光伝送線路上に配置される当該反射手段の
   反射帯域が、当該光伝送線路に割り当てられた信号波長
   を包含せず、且つ、当該光伝送線路の接続する当該波長
   依存性光分波手段の分波光ポートで出力可能な少なくと
   も１つの波長を包含することを特徴とする光伝送線路監
   視装置。
8. 【請求項８】 同じ光伝送線路上の当該反射手段は、少
   なくとも隣接する反射手段同士では反射帯域の少なくと
   も一部が重ならない請求項７に記載の光伝送線路監視装
   置。
9. 【請求項９】 当該波長依存性光分波手段が、アレイ導
   波路格子型分波器からなる請求項７に記載の光伝送線路
   監視装置。
10. 【請求項１０】 複数の光伝送線路のそれぞれに異なる
    信号波長を割り当て、光送信装置の信号光出力を波長依
    存性光分波手段により各信号波長に分離し、各信号波長
    の信号光を、対応する当該光伝送線路を介して各光受信
    装置に伝送する光伝送システムにおいて、当該複数の光
    伝送線路の各々に所定の反射帯域を具備する１以上の反
    射手段を設け、各光伝送線路に１以上の所定波長のプロ
    ーブ・パルス光を印加したときの反射光を時間軸上で解
    析することにより、当該複数の光伝送線路の各々を監視
    及び測定する光伝送線路監視装置であって、 １以上の当該所定波長の当該プローブ・パルス光を出力
    し、当該プローブ・パルス光の反射光を時間軸上で解析
    する光パルス試験手段と、 当該光パルス試験手段から出力される当該プローブ・パ
    ルス光を、当該光送信装置から出力される信号光に合波
    して当該波長依存性光分波手段に供給すると共に、当該
    光分波手段からの、当該プローブ・パルス光の反射光を
    当該光パルス試験手段に供給する光接続手段とからな
    り、同じ当該光伝送線路上に配置される当該反射手段の
    反射帯域が、当該光伝送線路に割り当てられた信号波長
    帯域を更に細分化した波長の何れか１つを包含すること
    を特徴とする光伝送線路監視装置。
11. 【請求項１１】 当該波長依存性光分波手段が、波長依
    存性を有しない光分波手段と、当該光分波手段の各分波
    光出力に接続され、所定波長のみを透過する複数の光フ
    ィルタ手段とからなる請求項１１に記載の光伝送線路監
    視装置。
12. 【請求項１２】 当該波長依存性光分波手段が、アレイ
    導波路格子型分波器からなる請求項１０に記載の光伝送
    線路監視装置。
13. 【請求項１３】 同じ光伝送線路上の当該反射手段は、
    少なくとも隣接する反射手段同士では反射帯域の少なく
    とも一部が重ならない請求項１２に記載の光伝送線路監
    視装置。