JPH1170106A - X線ct装置 - Google Patents

X線ct装置

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JPH1170106A
JPH1170106A JP9233960A JP23396097A JPH1170106A JP H1170106 A JPH1170106 A JP H1170106A JP 9233960 A JP9233960 A JP 9233960A JP 23396097 A JP23396097 A JP 23396097A JP H1170106 A JPH1170106 A JP H1170106A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 R/R(Rotation/Rotation)方式CT装置
において現れるリング状アーチファクトの低減を計る。 【解決手段】 リング補正処理(205)は、r−θ変
換処理(101)、リング成分抽出処理(102)、x
−y変換処理(103)、補正処理(104)で構成さ
れる。r−θ変換処理(101)では、x−y座標系の
再構成像をr−θ回転座標系に座標変換してr−θ画像
を得る。リング成分抽出処理(102)は、θ方向の誤
差を抽出する。x−y変換処理(103)は、θ方向の
誤差がr−θ座標系であることから、上記原再構成画像
と同じx−y座標系へと座標変換する。補正処理(10
4)では、原再構成画像から座標系へと変換されたθ方
向の誤差分を差し引く。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は特にR/R(Rotati
on/Rotation)方式X線CT装置におけるリング状アー
チファクトの低減をはかる技術に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、CT装置の主流はR/R方式(第
3世代)CT装置で、X線源とX線源の焦点を指向する
円弧状の検出器とが被検体を挟んで互いに対向する位置
に配置されている。X線源からのX線はコリメートさ
れ、扇状のX線ビームを形成し、被検体の撮影断面に照
射される。被検体により減弱した透過X線を回転しなが
ら計測することで撮影動作は行われる。回転中の計測動
作は0.1〜0.5度程度の角度間隔で行われ、合計1
000角度程度投影データを取得する。検出器は多数の
検出素子で構成され、それぞれの素子の出力が計測回路
によってディジタルデータとして収集され、計測角度毎
に素子数分のデータ(ビュー)を構成する。更に、計測
データは画像処理装置によって検出素子の特性補正、線
質補正やログ変換などの前処理を施された後、フィルタ
補正逆投影法などの公知のアルゴリズムによって断層像
として再構成される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】R/R方式CT装置で
は、X線源と検出器とが位置関係を保ったまま回転する
ため、回転中心からある素子(チャンネル)で計測した
X線ビームまでの距離rは全ビューで等しい。従って、
ある検出素子の特性ばらつきが大きいために前述の補正
処理で完全に補正できない場合、画像上にリング状や円
弧状の誤差成分が現れる。これらはリングアーチファク
トと呼ばれ、診断の妨げになるために除去することが望
ましい。
【0004】このリングアーチファクトの補正方法とし
ては、投影空間でリング成分を抽出して補正する投影補
正法と、画像空間でリング成分を抽出して補正する画像
補正法と、が存在する。 (イ)、投影補正法:投影データはチャンネル、ビュー
の2次元配列で、リング成分がビュー(配列)方向の直
線成分となるため、リング成分抽出のアルゴリズムが比
較的単純である。しかし、画像上に現れるリングアーチ
ファクトを構成する誤差成分は、投影データ上では必ず
しも十分なコントラスト差を持たないため、完全に補正
しきれない場合も多い。また、特開平8−252249
では患者の撮影前に検出器の特性劣化を検査するための
特別なデータ取得が必要などシステムが複雑になるなど
の問題点があった。 (ロ)、画像補正:一方、画像空間の処理は画像がx−
yの直行配列で得られ、円弧状のリング成分を抽出する
にはUSP−4670840のようにセクタ領域に分割
するなどの必要がある。しかし、再構成画像の視野サイ
ズは撮影部位や観察目的によって異なり、再構成中心は
スキャナの回転中心に必ずしも一致しない。従って、セ
クタはスキャナの回転中心を基準に分割されるものであ
るから、分割領域を各画像毎に計算して再設定しなけれ
ばならない。
【0005】本発明の目的は、リングアーチファクトの
低減をより一層可能にするX線CT装置を提供すること
にある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、X線ビームの
開き角αと線源の角度位置βとで定義、又は投影角とチ
ャンネル番号とで定義される被検体断層面の投影データ
から2次元の断層画像を再構成するX線CT装置におい
て、投影データから得た直交座標系x−yで定義された
x−y再構成画像を、距離rと角度θとからなる回転座
標系r−θに座標変換してr−θの2次元画像を得、こ
のr−θ画像からθ方向誤差を、r−θの2次元のフィ
ルタ処理によってr−θ誤差画像として抽出し、この抽
出したr−θ誤差画像を、上記直交座標系x−yに座標
変換してx−y誤差画像を得、このx−y誤差画像を前
記x−y再構成画像から差し引いたことを特徴とするX
線CT装置を開示する。
【0007】
【発明の実施の形態】図3、図4に本実施の形態のCT
装置を示した。図4において、X線CT装置は、全体を
統括するホストコンピュータ401と、X線発生系、X
線検出系などを搭載しスリップリングによって連続スキ
ャンが可能なスキャナ402と、前処理、画像再構成処
理や各種解析処理を担当する画像処理装置403と、X
線に高電圧を供給する高電圧発生装置404と、患者テ
ーブル405と、表示装置406とからなる。
【0008】図3はスキャナ402の詳細な構成を示し
た図である。X線管301と2次元検出器302は、回
転板に被検体305を挟み互いに対向する位置に搭載さ
れ、被検体305の透過X線を検出できるようになって
いる。回転盤306は回転制御装置303によって駆動
制御され、高速に連続回転可能となっている。X線管に
は高電圧発生装置404から電力が供給される。プリア
ンプ304によって取得された計測データはスリップリ
ングなどの信号伝達手段を介して画像処理装置403に
転送される。画像処理装置403での処理フローを図2
に示す。画像処理装置403は入力された計測データに
対して、ログ変換や線質補正などの前処理(201)を
施し、フィルタ補正処理(202)を行って正規の投影
データを得、次いで、この投影データから逆投影処理
(203)等によって断層像を得る。更に、後処理(2
04)によって画像フィルタなどの後処理を施し、リン
グ補正(205)によって本発明のリングアーチファク
ト補正処理を施してリングアーチファクトの無い画像を
得、再構成画像として表示装置406に送り、表示(2
06)を行う。ここで、逆投影処理等によって得る断層
像とは、直交座標系x−yで定義された座標系の再構成
画像である。また、投影データとは、X線ビームの開き
角αと線源の角度位置βとで定義、又は投影角とチャン
ネル番号とで定義(この2つの定義は実質同じ)された
ものである。
【0009】次に、リング補正処理(205)について
図1を用いて説明する。リング補正処理(205)は、
r−θ変換処理(101)、リング成分抽出処理(10
2)、x−y変換処理(103)、補正処理(104)
で構成される。 r−θ変換処理(101):後処理(204)まで終了
して得られるリングアーチファクトを含んだ再構成画像
204Aをr−θ変換処理(101)でr−θ変換処理
を施しr−θ画像106を得る。 リング成分抽出処理(102):この処理では、入力し
たr−θ画像からフィルタ処理(例えば再帰型フィルタ
処理)によって、リングアーチファクトを構成する誤差
成分(リング成分)を抽出する。リング成分は、r−θ
座標系では直線成分となるため、一般的な線分抽出アル
ゴリズムで抽出する。 x−y変換処理(103):リング成分が、回転座標系
である故に、これをx−y座標系に戻す。これによっ
て、再構成座標系と同じ座標系に戻る。 補正処理(104):x−y座標系でのリング成分を、
原画像(再構成画像のこと)から差し引く処理を行う。
これによってリングアーチファクトの発生を抑制でき
た。
【0010】図5は、r−θ変換処理(101)の一例
を説明する図である。ここで、図5に示す各パラメータ
は以下の通りである。 x、y…再構成後の座標系である。再構成像の中の座標
(x、y)におけるCT値は、CT(x、y)と表現で
きる。 r、θ…座標系x、yの原点に一致する原点を持つ、回
転座標系である。rが半径方向の大きさ、θが角度を示
す。 Δr、Δθ…座標系r、θのサンプリング間隔を示す。 FOV…再構成画像の視野である。FOVの内側(線上
を含ませるか否かは定義次第)のみの再構成画像を得る
ことを示し、FOVの外側には再構成画像が得られない
(又はFOVの外側の再構成画像は捨てる)。FOVを
適宜設定することで、再構成画像は、任意の領域位置、
任意の領域(図は正方形の領域としている)大きさで得
ることが可能となる。 cFOV…r−θ座標系でのリングアーチファクトの補
正を行うべき視野(計算視野)である。cFOVの内側
(線上を含ませるか否かは定義次第)のみがリングアー
チファクトの補正対象となり、cFOVの外側はリング
アーチファクトの補正対象外となる。cFOVを適宜設
定することで、任意の領域位置、任意の領域大きさでリ
ングアーチファクトの補正が行える。
【0011】FOVとcFOVとの関係(その1)…両
者は任意に独立に設定してもよく、関連を持たせて設定
させてもよい。図5の例は、cFOVがFOVよりも大
きく、且つFOVの中心座標(cx、cy)が座標系x
−y、r−θの原点に一致しない例を示す。また、FO
Vは矩形(正方形を含む)、cFOVは円形を示すが、
cFOVは矩形に設定する例もある。更に、FOVとc
FOVとは少なくとも一部が一致する共通領域を持つよ
うな位置関係及び大きさ関係に設定することは不可欠で
ある。因みに、図5は、FOVが完全にcFOVの領域
内部に存在する如き設定例を示す。 (xa、yb)…FOV内の座標であり、CT値CTab
CT(xa、yb)を有する。 (xc、yd)…FOV外の座標であり、CT値は存在し
ない。座標(xc、yd)はcFOV内に含まれているた
め、リングアーチファクトの補正対象となる。従って、
例えば(xc、yd)のCT値CTcd=0(0を埋め込
み)に強制的に設定して、リングアーチファクトの補正
対象として扱う。 FOVの再構成座標系の扱い…FOVの中心位置G(c
x、cy)は、再構成画像座標系x−yの原点(0、0)
と一致させることは必ずしも必要でない。
【0012】FOVとcFOVとの関係(その2)…図
7は、FOV視野の一部領域MがcFOV視野よりも外
側にある例を示す。外側にある領域Mは、cFOV視野
外のため、補正対象外となる。また、FOV視野の外側
であって且つcFOV視野内に含まれる領域Nは、FO
V視野の外側のため、対応する再構成画素値がなく、こ
の領域からはr−θ画像を得ることができない。そこ
で、FOV視野の外側のN領域については、再構成画素
値をすべて“0”などの一定値に設定しておくことで、
このN領域を原因とする誤差成分の出現を排除できる。
仮にこの領域に誤差成分が現れても、この領域が参照さ
れることはない。また、FOV視野とN領域との境界線
上にあっては、補間してx−y誤差画像を求めるので2
次元線形補間の場合、境界線上に沿った各1画素分が利
用されるが、実用的には問題とならない。図8は、cF
OV視野1の半分程度がFOV視野と重複する例であっ
て、且つcFOV視野1よりも2倍程度の大きさのFO
V視野の例がある。図のような場合もcFOV視野であ
るr−θ画像空間がx−y画像空間からはみ出している
ため、完全なr−θ画像は作成できない。逆に、x−y
画像の半分程度の領域しか補正対象とならない。このよ
うな場合はcFOVを大きく設定(cFOV1よりも大
きなcFOV2)すればよい。ただし、Δr、Δθを大
きくすると、補正精度が低下し、小さくするとr−θ画
像の画素数が多くなり処理時間が増加する。そのため、
実用的に十分な補正領域を確保でき、しかもなるべく小
さくなるようにcFOVは設定するのがよい。
【0013】さて、r−θ座標系への座標変換に先立ち
r−θ空間の視野サイズcFOV、及びr、θそれぞれ
のサンプリング間隔Δr、Δθを決定する。これは部位
や再構成画像の視野サイズFOVによってあらかじめ設
定しておいてもよい。ここで設定したr−θ空間からは
み出した領域は補正処理の対象外となる。今、(x、
y)がr−θ座標系の(i、j)に数2によって対応化
しているとすれば、数1に示したように、求めるr−θ
の座標の(i、j)の画素値q(i、j)は原画像(再
構成画像のこと)の座標(x、y)の画素値p(x、
y)が相当する。ただし、原画像はサンプリング間隔Δ
x、Δyの間隔で定義されているディジタル画像である
ため、p(x、y)は補間、例えば(x、y)の周囲の
ディジタル画素値から2次元線形補間して求める。尚、
数2でr0、θ0は初期値である。またNr、Nθはr方
向、θ方向の画素数である。
【数1】
【数2】
【0014】リング成分抽出処理(102)における線
分抽出アルゴリズムの一例を、数3に示す。
【数3】 数3でλ(i、j)は、回転座標(i、j)でのリング
成分である。この数3によれば、回転座標(i、j)で
の画素値q(i、j)があるCTしきい値Vthよりも小
さい時に、半径方向の前後の位置(i−1、j)、(i
+1、j)の画素値の加重平均値を求め、画素値q
(i、j)からこの加重平均値を差し引いた値がリング
成分λ(i、j)とした。前後の画素値に変化があれ
ば、その変化の程度に応じたλ(i、j)を得る。前後
の画素値に変化が少なければ、λ(i、j)は零に近く
なる。一方、q(i、j)があるしきい値Vthよりも大
きければ、λ(i、j)=0にする。ここで、CTしき
い値Vthとは、骨などの高吸収体と軟部組織の境界から
はリングアーチファクトの補正処理によってアーチファ
クトが生じやすく、これを防止するための設定値であ
る。
【0015】リング成分λ(i、j)を、リング除去の
ために使ってもよいが、回転角方向に加重平均を取るこ
とで、半径方向の距離r(即ちi)毎に、回転角度方向
に、ある幅分n(nはリング成分抽出のためのθ方向フ
ィルタリング重みの点数)だけ平均化した最終的な補正
量を得る。かかる数式例を数4に示す。
【数4】 数4で、S(i、j)が平均化したリング成分である。
更にVthはリング成分λ(i、j)のしきい値であり、
thよりも絶対値的にλ(i、j)が大きいときは加重
平均の対象とせず、小さいλ(i、j)のみを加重平均
の対象とした。また、Wkは、荷重係数であり、移動平
均してリング(直線状)のものを強調するための係数、
重み係数nは、具体的にはその移動平均のためのiを固
定してのjの前後の移動幅であり、n=3とかn=5と
か任意に設定する。また、この種のフィルタ処理には再
帰型フィルタ処理が好適である。荷重係数Wkは、例え
ば、
【数5】 にするのが好ましい。n=3ならば、最も単純には、W
k=1/7(k=−n〜n)となる。図9は、nと重み
係数Wkとの関係を示す。(イ)がリング成分例を示す
図、(ロ)が中心を大きく、周辺を小さくしたWk
例、(ハ)がWk一定の例を示す。(ハ)の例でもよい
が、特に(ロ)のようにWkを設定することで、重み係
数Wkをθ方向に乗じることで平均化してリング抽出性
能を向上させる。重みは2n+1の幅となる。また、特
に重みは左右対称でなくてもよい。尚、図1では抽出し
たリング成分(補正量)を画像107として示してあ
る。x−y変換処理(103)での座標変換式は、数
1、数2の逆変換でよく、具体的には、数6、数7を使
う。rcがx−y座標系の座標(i、j)でのリング成
分となる。
【数6】
【数7】
【0016】Nx、Nyは、それぞれx方向画素数、y方
向画素数である。かかる数6、数7を利用してリング成
分を求める。即ち、原画像のサンプリング間隔Δx、Δ
yから、画素位置(x、y)を求め、x、yから対応す
るr、θを数7で求め、x−y誤差画像108(図5)
であるrc(i、j)にS(r、θ)を代入する。但
し、数1と同様にリング成分S(r、θ)はディジタル
画像S(i、j)から補間して求める。補間式は、例え
ば、2次元線形補間法による。
【0017】補正処理(104)にあっては、x−y変
換処理(103)で得たリング成分rc(i、j)は、
原画像のリング成分であり、これを原画像から差し引く
ことで、リングアーチファクトのない最終画像109
(図5)を得ることができる。当然ながら、補正量を抑
制する補正係数を乗じてから差し引いてもよい。
【0018】以上の説明の中の2ヶ所で、ディジタル画
素値から、2次元線形補間で任意の位置の画素値を算出
するとしたが、その2次元線形補間の説明図を図10に
示す。但し、隣り合う画素値間の距離は、正規化
(“1”)して説明しやすくしている。A、B、C、D
は互いに隣り合う4つのディジタル画素値である。この
4つの画素値A、B、C、Dの間の任意の位置を、画像
Cからx方向にdx、y方向にdyとすると、この位置
での画素値Qは、例えば次式の2次元線形補間により求
まる。
【数8】
【0019】次に、第2の実施の形態を説明する。第1
の実施の形態で述べたr−θ画像は、回転中心(r=
0)に近いほど対応する原画像の画素数が少なくなる。
例えば、原画像で回転中心に接している画素は4画素し
かない。そこで、第2の実施の形態では図6の特性Aに
示すような重みWを用いることにした。この重みWはリ
ング成分抽出しきい値Vthに乗じて回転中心付近の画素
はしきい値が小さくなるようにする。あるいは、回転方
向の平均化画素数を決定するn(数4)をWで除して、
回転中心付近の平均化画素数を増やす。後者の場合、例
えば、r−θ画像における平均化画素数がx−y画像に
おける画素数にほぼ一致するように設定する。尚、図6
の特性Bは、直線状の重みの例である。特性Aは略半円
状の重みの例である。
【0020】各実施の形態によれば、リングアーチファ
クトの低減された再構成画像が得られ、診断能が向上す
る。本発明は、本実施の形態の手法に限定されるもので
はなく種々の改良が考えられる。例えば、後処理とリン
グ補正処理の順序は入れ替えてもよい。また、高速化の
ためにr−θ変換テーブル、x−y変換テーブルなどの
常套手段も当然ながら用いることができる。
【0021】
【発明の効果】本発明によれば、診断の妨げとなるリン
グアーチファクトの発生を抑制することができ、安定し
た画質の断層像を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施の形態でのリング補正処理フロー図であ
る。
【図2】画像処理装置の処理フロー図である。
【図3】スキャナの構成例図である。
【図4】X線CT装置構成図である。
【図5】r−θ変換説明図である。
【図6】重みWの設定例図である。
【図7】FOVとcFOVとの関係図である。
【図8】FOVとcFOVとの他の関係図である。
【図9】重み係数Wkを説明する図である。
【図10】2次元線形補間法の説明図である。
【符号の説明】
401 ホストコンピュータ 402 スキャナ 403 画像処理装置 404 高電圧発生装置 405 患者テーブル 406 表示装置

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 X線ビームの開き角αと線源の角度位置
    βとで定義、又は投影角とチャンネル番号とで定義され
    る被検体断層面の投影データから2次元の断層画像を再
    構成するX線CT装置において、 投影データから得た直交座標系x−yで定義されたx−
    y再構成画像を、距離rと角度θとからなる回転座標系
    r−θに座標変換してr−θの2次元画像を得、 この
    r−θ画像からθ方向誤差を、r−θの2次元のフィル
    タ処理によってr−θ誤差画像として抽出し、 この抽出したr−θ誤差画像を、上記直交座標系x−y
    に座標変換してx−y誤差画像を得、 このx−y誤差画像を前記x−y再構成画像から差し引
    いた、 ことを特徴とするX線CT装置。
  2. 【請求項2】 x−y再構成画像を得る再構成画像視野
    と、r−θ回転座標系での計算視野とは、少なくとも一
    部が座標対応化するように選ばれたものとする請求項1
    のX線CT装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001095793A (ja) * 1999-10-04 2001-04-10 Hitachi Medical Corp X線ct装置
JP2002133399A (ja) * 2000-10-23 2002-05-10 Hitachi Medical Corp 画像処理装置及びそれを用いたx線ct装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001095793A (ja) * 1999-10-04 2001-04-10 Hitachi Medical Corp X線ct装置
JP2002133399A (ja) * 2000-10-23 2002-05-10 Hitachi Medical Corp 画像処理装置及びそれを用いたx線ct装置

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