JPH1170106A - X線ct装置 - Google Patents
X線ct装置Info
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- JPH1170106A JPH1170106A JP9233960A JP23396097A JPH1170106A JP H1170106 A JPH1170106 A JP H1170106A JP 9233960 A JP9233960 A JP 9233960A JP 23396097 A JP23396097 A JP 23396097A JP H1170106 A JPH1170106 A JP H1170106A
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Abstract
において現れるリング状アーチファクトの低減を計る。 【解決手段】 リング補正処理(205)は、r−θ変
換処理(101)、リング成分抽出処理(102)、x
−y変換処理(103)、補正処理(104)で構成さ
れる。r−θ変換処理(101)では、x−y座標系の
再構成像をr−θ回転座標系に座標変換してr−θ画像
を得る。リング成分抽出処理(102)は、θ方向の誤
差を抽出する。x−y変換処理(103)は、θ方向の
誤差がr−θ座標系であることから、上記原再構成画像
と同じx−y座標系へと座標変換する。補正処理(10
4)では、原再構成画像から座標系へと変換されたθ方
向の誤差分を差し引く。
Description
on/Rotation)方式X線CT装置におけるリング状アー
チファクトの低減をはかる技術に関する。
3世代)CT装置で、X線源とX線源の焦点を指向する
円弧状の検出器とが被検体を挟んで互いに対向する位置
に配置されている。X線源からのX線はコリメートさ
れ、扇状のX線ビームを形成し、被検体の撮影断面に照
射される。被検体により減弱した透過X線を回転しなが
ら計測することで撮影動作は行われる。回転中の計測動
作は0.1〜0.5度程度の角度間隔で行われ、合計1
000角度程度投影データを取得する。検出器は多数の
検出素子で構成され、それぞれの素子の出力が計測回路
によってディジタルデータとして収集され、計測角度毎
に素子数分のデータ(ビュー)を構成する。更に、計測
データは画像処理装置によって検出素子の特性補正、線
質補正やログ変換などの前処理を施された後、フィルタ
補正逆投影法などの公知のアルゴリズムによって断層像
として再構成される。
は、X線源と検出器とが位置関係を保ったまま回転する
ため、回転中心からある素子(チャンネル)で計測した
X線ビームまでの距離rは全ビューで等しい。従って、
ある検出素子の特性ばらつきが大きいために前述の補正
処理で完全に補正できない場合、画像上にリング状や円
弧状の誤差成分が現れる。これらはリングアーチファク
トと呼ばれ、診断の妨げになるために除去することが望
ましい。
ては、投影空間でリング成分を抽出して補正する投影補
正法と、画像空間でリング成分を抽出して補正する画像
補正法と、が存在する。 (イ)、投影補正法:投影データはチャンネル、ビュー
の2次元配列で、リング成分がビュー(配列)方向の直
線成分となるため、リング成分抽出のアルゴリズムが比
較的単純である。しかし、画像上に現れるリングアーチ
ファクトを構成する誤差成分は、投影データ上では必ず
しも十分なコントラスト差を持たないため、完全に補正
しきれない場合も多い。また、特開平8−252249
では患者の撮影前に検出器の特性劣化を検査するための
特別なデータ取得が必要などシステムが複雑になるなど
の問題点があった。 (ロ)、画像補正:一方、画像空間の処理は画像がx−
yの直行配列で得られ、円弧状のリング成分を抽出する
にはUSP−4670840のようにセクタ領域に分割
するなどの必要がある。しかし、再構成画像の視野サイ
ズは撮影部位や観察目的によって異なり、再構成中心は
スキャナの回転中心に必ずしも一致しない。従って、セ
クタはスキャナの回転中心を基準に分割されるものであ
るから、分割領域を各画像毎に計算して再設定しなけれ
ばならない。
低減をより一層可能にするX線CT装置を提供すること
にある。
開き角αと線源の角度位置βとで定義、又は投影角とチ
ャンネル番号とで定義される被検体断層面の投影データ
から2次元の断層画像を再構成するX線CT装置におい
て、投影データから得た直交座標系x−yで定義された
x−y再構成画像を、距離rと角度θとからなる回転座
標系r−θに座標変換してr−θの2次元画像を得、こ
のr−θ画像からθ方向誤差を、r−θの2次元のフィ
ルタ処理によってr−θ誤差画像として抽出し、この抽
出したr−θ誤差画像を、上記直交座標系x−yに座標
変換してx−y誤差画像を得、このx−y誤差画像を前
記x−y再構成画像から差し引いたことを特徴とするX
線CT装置を開示する。
装置を示した。図4において、X線CT装置は、全体を
統括するホストコンピュータ401と、X線発生系、X
線検出系などを搭載しスリップリングによって連続スキ
ャンが可能なスキャナ402と、前処理、画像再構成処
理や各種解析処理を担当する画像処理装置403と、X
線に高電圧を供給する高電圧発生装置404と、患者テ
ーブル405と、表示装置406とからなる。
た図である。X線管301と2次元検出器302は、回
転板に被検体305を挟み互いに対向する位置に搭載さ
れ、被検体305の透過X線を検出できるようになって
いる。回転盤306は回転制御装置303によって駆動
制御され、高速に連続回転可能となっている。X線管に
は高電圧発生装置404から電力が供給される。プリア
ンプ304によって取得された計測データはスリップリ
ングなどの信号伝達手段を介して画像処理装置403に
転送される。画像処理装置403での処理フローを図2
に示す。画像処理装置403は入力された計測データに
対して、ログ変換や線質補正などの前処理(201)を
施し、フィルタ補正処理(202)を行って正規の投影
データを得、次いで、この投影データから逆投影処理
(203)等によって断層像を得る。更に、後処理(2
04)によって画像フィルタなどの後処理を施し、リン
グ補正(205)によって本発明のリングアーチファク
ト補正処理を施してリングアーチファクトの無い画像を
得、再構成画像として表示装置406に送り、表示(2
06)を行う。ここで、逆投影処理等によって得る断層
像とは、直交座標系x−yで定義された座標系の再構成
画像である。また、投影データとは、X線ビームの開き
角αと線源の角度位置βとで定義、又は投影角とチャン
ネル番号とで定義(この2つの定義は実質同じ)された
ものである。
図1を用いて説明する。リング補正処理(205)は、
r−θ変換処理(101)、リング成分抽出処理(10
2)、x−y変換処理(103)、補正処理(104)
で構成される。 r−θ変換処理(101):後処理(204)まで終了
して得られるリングアーチファクトを含んだ再構成画像
204Aをr−θ変換処理(101)でr−θ変換処理
を施しr−θ画像106を得る。 リング成分抽出処理(102):この処理では、入力し
たr−θ画像からフィルタ処理(例えば再帰型フィルタ
処理)によって、リングアーチファクトを構成する誤差
成分(リング成分)を抽出する。リング成分は、r−θ
座標系では直線成分となるため、一般的な線分抽出アル
ゴリズムで抽出する。 x−y変換処理(103):リング成分が、回転座標系
である故に、これをx−y座標系に戻す。これによっ
て、再構成座標系と同じ座標系に戻る。 補正処理(104):x−y座標系でのリング成分を、
原画像(再構成画像のこと)から差し引く処理を行う。
これによってリングアーチファクトの発生を抑制でき
た。
を説明する図である。ここで、図5に示す各パラメータ
は以下の通りである。 x、y…再構成後の座標系である。再構成像の中の座標
(x、y)におけるCT値は、CT(x、y)と表現で
きる。 r、θ…座標系x、yの原点に一致する原点を持つ、回
転座標系である。rが半径方向の大きさ、θが角度を示
す。 Δr、Δθ…座標系r、θのサンプリング間隔を示す。 FOV…再構成画像の視野である。FOVの内側(線上
を含ませるか否かは定義次第)のみの再構成画像を得る
ことを示し、FOVの外側には再構成画像が得られない
(又はFOVの外側の再構成画像は捨てる)。FOVを
適宜設定することで、再構成画像は、任意の領域位置、
任意の領域(図は正方形の領域としている)大きさで得
ることが可能となる。 cFOV…r−θ座標系でのリングアーチファクトの補
正を行うべき視野(計算視野)である。cFOVの内側
(線上を含ませるか否かは定義次第)のみがリングアー
チファクトの補正対象となり、cFOVの外側はリング
アーチファクトの補正対象外となる。cFOVを適宜設
定することで、任意の領域位置、任意の領域大きさでリ
ングアーチファクトの補正が行える。
者は任意に独立に設定してもよく、関連を持たせて設定
させてもよい。図5の例は、cFOVがFOVよりも大
きく、且つFOVの中心座標(cx、cy)が座標系x
−y、r−θの原点に一致しない例を示す。また、FO
Vは矩形(正方形を含む)、cFOVは円形を示すが、
cFOVは矩形に設定する例もある。更に、FOVとc
FOVとは少なくとも一部が一致する共通領域を持つよ
うな位置関係及び大きさ関係に設定することは不可欠で
ある。因みに、図5は、FOVが完全にcFOVの領域
内部に存在する如き設定例を示す。 (xa、yb)…FOV内の座標であり、CT値CTab=
CT(xa、yb)を有する。 (xc、yd)…FOV外の座標であり、CT値は存在し
ない。座標(xc、yd)はcFOV内に含まれているた
め、リングアーチファクトの補正対象となる。従って、
例えば(xc、yd)のCT値CTcd=0(0を埋め込
み)に強制的に設定して、リングアーチファクトの補正
対象として扱う。 FOVの再構成座標系の扱い…FOVの中心位置G(c
x、cy)は、再構成画像座標系x−yの原点(0、0)
と一致させることは必ずしも必要でない。
7は、FOV視野の一部領域MがcFOV視野よりも外
側にある例を示す。外側にある領域Mは、cFOV視野
外のため、補正対象外となる。また、FOV視野の外側
であって且つcFOV視野内に含まれる領域Nは、FO
V視野の外側のため、対応する再構成画素値がなく、こ
の領域からはr−θ画像を得ることができない。そこ
で、FOV視野の外側のN領域については、再構成画素
値をすべて“0”などの一定値に設定しておくことで、
このN領域を原因とする誤差成分の出現を排除できる。
仮にこの領域に誤差成分が現れても、この領域が参照さ
れることはない。また、FOV視野とN領域との境界線
上にあっては、補間してx−y誤差画像を求めるので2
次元線形補間の場合、境界線上に沿った各1画素分が利
用されるが、実用的には問題とならない。図8は、cF
OV視野1の半分程度がFOV視野と重複する例であっ
て、且つcFOV視野1よりも2倍程度の大きさのFO
V視野の例がある。図のような場合もcFOV視野であ
るr−θ画像空間がx−y画像空間からはみ出している
ため、完全なr−θ画像は作成できない。逆に、x−y
画像の半分程度の領域しか補正対象とならない。このよ
うな場合はcFOVを大きく設定(cFOV1よりも大
きなcFOV2)すればよい。ただし、Δr、Δθを大
きくすると、補正精度が低下し、小さくするとr−θ画
像の画素数が多くなり処理時間が増加する。そのため、
実用的に十分な補正領域を確保でき、しかもなるべく小
さくなるようにcFOVは設定するのがよい。
r−θ空間の視野サイズcFOV、及びr、θそれぞれ
のサンプリング間隔Δr、Δθを決定する。これは部位
や再構成画像の視野サイズFOVによってあらかじめ設
定しておいてもよい。ここで設定したr−θ空間からは
み出した領域は補正処理の対象外となる。今、(x、
y)がr−θ座標系の(i、j)に数2によって対応化
しているとすれば、数1に示したように、求めるr−θ
の座標の(i、j)の画素値q(i、j)は原画像(再
構成画像のこと)の座標(x、y)の画素値p(x、
y)が相当する。ただし、原画像はサンプリング間隔Δ
x、Δyの間隔で定義されているディジタル画像である
ため、p(x、y)は補間、例えば(x、y)の周囲の
ディジタル画素値から2次元線形補間して求める。尚、
数2でr0、θ0は初期値である。またNr、Nθはr方
向、θ方向の画素数である。
分抽出アルゴリズムの一例を、数3に示す。
成分である。この数3によれば、回転座標(i、j)で
の画素値q(i、j)があるCTしきい値Vthよりも小
さい時に、半径方向の前後の位置(i−1、j)、(i
+1、j)の画素値の加重平均値を求め、画素値q
(i、j)からこの加重平均値を差し引いた値がリング
成分λ(i、j)とした。前後の画素値に変化があれ
ば、その変化の程度に応じたλ(i、j)を得る。前後
の画素値に変化が少なければ、λ(i、j)は零に近く
なる。一方、q(i、j)があるしきい値Vthよりも大
きければ、λ(i、j)=0にする。ここで、CTしき
い値Vthとは、骨などの高吸収体と軟部組織の境界から
はリングアーチファクトの補正処理によってアーチファ
クトが生じやすく、これを防止するための設定値であ
る。
ために使ってもよいが、回転角方向に加重平均を取るこ
とで、半径方向の距離r(即ちi)毎に、回転角度方向
に、ある幅分n(nはリング成分抽出のためのθ方向フ
ィルタリング重みの点数)だけ平均化した最終的な補正
量を得る。かかる数式例を数4に示す。
更にVthはリング成分λ(i、j)のしきい値であり、
Vthよりも絶対値的にλ(i、j)が大きいときは加重
平均の対象とせず、小さいλ(i、j)のみを加重平均
の対象とした。また、Wkは、荷重係数であり、移動平
均してリング(直線状)のものを強調するための係数、
重み係数nは、具体的にはその移動平均のためのiを固
定してのjの前後の移動幅であり、n=3とかn=5と
か任意に設定する。また、この種のフィルタ処理には再
帰型フィルタ処理が好適である。荷重係数Wkは、例え
ば、
k=1/7(k=−n〜n)となる。図9は、nと重み
係数Wkとの関係を示す。(イ)がリング成分例を示す
図、(ロ)が中心を大きく、周辺を小さくしたWkの
例、(ハ)がWk一定の例を示す。(ハ)の例でもよい
が、特に(ロ)のようにWkを設定することで、重み係
数Wkをθ方向に乗じることで平均化してリング抽出性
能を向上させる。重みは2n+1の幅となる。また、特
に重みは左右対称でなくてもよい。尚、図1では抽出し
たリング成分(補正量)を画像107として示してあ
る。x−y変換処理(103)での座標変換式は、数
1、数2の逆変換でよく、具体的には、数6、数7を使
う。rcがx−y座標系の座標(i、j)でのリング成
分となる。
向画素数である。かかる数6、数7を利用してリング成
分を求める。即ち、原画像のサンプリング間隔Δx、Δ
yから、画素位置(x、y)を求め、x、yから対応す
るr、θを数7で求め、x−y誤差画像108(図5)
であるrc(i、j)にS(r、θ)を代入する。但
し、数1と同様にリング成分S(r、θ)はディジタル
画像S(i、j)から補間して求める。補間式は、例え
ば、2次元線形補間法による。
換処理(103)で得たリング成分rc(i、j)は、
原画像のリング成分であり、これを原画像から差し引く
ことで、リングアーチファクトのない最終画像109
(図5)を得ることができる。当然ながら、補正量を抑
制する補正係数を乗じてから差し引いてもよい。
素値から、2次元線形補間で任意の位置の画素値を算出
するとしたが、その2次元線形補間の説明図を図10に
示す。但し、隣り合う画素値間の距離は、正規化
(“1”)して説明しやすくしている。A、B、C、D
は互いに隣り合う4つのディジタル画素値である。この
4つの画素値A、B、C、Dの間の任意の位置を、画像
Cからx方向にdx、y方向にdyとすると、この位置
での画素値Qは、例えば次式の2次元線形補間により求
まる。
の実施の形態で述べたr−θ画像は、回転中心(r=
0)に近いほど対応する原画像の画素数が少なくなる。
例えば、原画像で回転中心に接している画素は4画素し
かない。そこで、第2の実施の形態では図6の特性Aに
示すような重みWを用いることにした。この重みWはリ
ング成分抽出しきい値Vthに乗じて回転中心付近の画素
はしきい値が小さくなるようにする。あるいは、回転方
向の平均化画素数を決定するn(数4)をWで除して、
回転中心付近の平均化画素数を増やす。後者の場合、例
えば、r−θ画像における平均化画素数がx−y画像に
おける画素数にほぼ一致するように設定する。尚、図6
の特性Bは、直線状の重みの例である。特性Aは略半円
状の重みの例である。
クトの低減された再構成画像が得られ、診断能が向上す
る。本発明は、本実施の形態の手法に限定されるもので
はなく種々の改良が考えられる。例えば、後処理とリン
グ補正処理の順序は入れ替えてもよい。また、高速化の
ためにr−θ変換テーブル、x−y変換テーブルなどの
常套手段も当然ながら用いることができる。
グアーチファクトの発生を抑制することができ、安定し
た画質の断層像を提供することができる。
る。
Claims (2)
- 【請求項1】 X線ビームの開き角αと線源の角度位置
βとで定義、又は投影角とチャンネル番号とで定義され
る被検体断層面の投影データから2次元の断層画像を再
構成するX線CT装置において、 投影データから得た直交座標系x−yで定義されたx−
y再構成画像を、距離rと角度θとからなる回転座標系
r−θに座標変換してr−θの2次元画像を得、 この
r−θ画像からθ方向誤差を、r−θの2次元のフィル
タ処理によってr−θ誤差画像として抽出し、 この抽出したr−θ誤差画像を、上記直交座標系x−y
に座標変換してx−y誤差画像を得、 このx−y誤差画像を前記x−y再構成画像から差し引
いた、 ことを特徴とするX線CT装置。 - 【請求項2】 x−y再構成画像を得る再構成画像視野
と、r−θ回転座標系での計算視野とは、少なくとも一
部が座標対応化するように選ばれたものとする請求項1
のX線CT装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23396097A JP4010607B2 (ja) | 1997-08-29 | 1997-08-29 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23396097A JP4010607B2 (ja) | 1997-08-29 | 1997-08-29 | X線ct装置 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1170106A true JPH1170106A (ja) | 1999-03-16 |
| JPH1170106A5 JPH1170106A5 (ja) | 2005-05-26 |
| JP4010607B2 JP4010607B2 (ja) | 2007-11-21 |
Family
ID=16963334
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23396097A Expired - Lifetime JP4010607B2 (ja) | 1997-08-29 | 1997-08-29 | X線ct装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4010607B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001095793A (ja) * | 1999-10-04 | 2001-04-10 | Hitachi Medical Corp | X線ct装置 |
| JP2002133399A (ja) * | 2000-10-23 | 2002-05-10 | Hitachi Medical Corp | 画像処理装置及びそれを用いたx線ct装置 |
-
1997
- 1997-08-29 JP JP23396097A patent/JP4010607B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001095793A (ja) * | 1999-10-04 | 2001-04-10 | Hitachi Medical Corp | X線ct装置 |
| JP2002133399A (ja) * | 2000-10-23 | 2002-05-10 | Hitachi Medical Corp | 画像処理装置及びそれを用いたx線ct装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4010607B2 (ja) | 2007-11-21 |
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