JPH1172761A - 光パルス生成装置、分散測定装置、分散補償装置及び分散測定方法 - Google Patents

光パルス生成装置、分散測定装置、分散補償装置及び分散測定方法

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JPH1172761A
JPH1172761A JP9232011A JP23201197A JPH1172761A JP H1172761 A JPH1172761 A JP H1172761A JP 9232011 A JP9232011 A JP 9232011A JP 23201197 A JP23201197 A JP 23201197A JP H1172761 A JPH1172761 A JP H1172761A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡易な構成で波長分散を測定可能とする。 【解決手段】 光変調手段１は波長チャーピング発生手
段２を備え、波長チャーピング発生手段２は駆動電圧の
増加率に対応した波長チャーピングを発生させ、駆動電
圧設定手段３は駆動電圧の範囲を光出力が増減する範囲
に設定し、駆動電圧設定手段３が光変調手段１にパルス
電圧を１つ入力するだけで、波長の異なる複数の光パル
スを光変調手段１から出力可能とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光パルス生成装
置、分散測定装置、分散補償装置及び分散測定方法に関
し、特に、光ファイバ伝送における分散補償を行う場合
に適用して好適なものである。
【０００２】
【従来の技術】現在、１０Ｇｂ／ｓ光伝送システムの実
用化が始まっているが、近年のネットワーク利用の急激
な増加により、ネットワークのより一層の大容量化の要
求が高まっている。ここで、伝送速度が１０Ｇｂ／ｓ以
上の光伝送システムでは、波長分散による伝送波形の劣
化が発生し、伝送が困難になることから、分散補償を行
うことが不可欠である。例えば、１．３μｍ零分散シン
グルモードファイバを用いた伝送速度１０Ｇｂ／ｓ以上
の光伝送システムに対し、波長１．５５μｍの信号光を
適用すると、波長分散値が約＋１８ｐｓ／ｎｍ／ｋｍと
大きくなり、分散補償が不可欠になる。
【０００３】伝送速度が１０Ｇｂ／ｓまでの光伝送シス
テムでは、分散トレランスが比較的広く、一定の分散値
を有する分散補償器を共通に適用することにより、分散
補償を行うことが可能である。例えば、１．３μｍ零分
散シングルモードファイバ（ＳＭＦ）を用いて、波長が
１．５５μｍの信号光を伝送した場合、分散トレランス
が約８００ｐｓ／ｎｍとなる。このため、１．３μｍ零
分散シングルモードファイバを用いた２０〜４０ｋｍの
短距離伝送システムに対し、分散補償ファイバ（ＤＣ
Ｆ）やファイバグレーティングのような一定の分散値を
有する分散補償器を共通に適用したシステム設計が可能
である。
【０００４】一方、伝送速度が１０Ｇｂ／ｓ以上の光伝
送システムでは、分散補償トレランスが小さくなり、分
散補償を高精度に行う必要があることから、伝送路の分
散の変化量を測定し、分散補償量を伝送路ごとに最適化
する必要がある。
【０００５】図２７は、伝送速度４０Ｇｂｉｔでの分散
補償トレランスの小ささを示す実験結果を説明する図で
ある。図２７において、送信機３４１から４０Ｇｂ／ｓ
の信号を１．３μｍ零分散シングルモードファイバ３４
２で５０ｋｍだけ伝送させてから、受信機３４４で受信
すると、９２０ｐｓ／ｎｍの波長分散が発生する。この
ため、分散補償ファイバ３４３の長さを調節することに
より、１．３μｍ零分散シングルモードファイバ３４２
の波長分散を補償する。
【０００６】ここで、パワーペナルティ１ｄＢ以下を伝
送可能条件とした場合、分散補償トレランスはわずか３
０ｐｓ／ｎｍしかないため、厳密な分散補償を行う必要
がある。ところが、１．３μｍ零分散シングルモードフ
ァイバ３４２を用いた既存伝送路では、正確な分散量が
把握されていない部分も多く、また、温度や光ファイバ
にかかる応力などにより分散量が経時的に変化すること
から、分散量とその変化量を厳密に測定し、中継区間毎
に分散補償量を適切に設定しなければならない。
【０００７】また、近年では、超高速伝送を行うため
に、１．５５μｍ零分散シフトファイバ（ＤＳＦ）の敷
設が行われている。このファイバで波長１．５５μｍの
信号光を伝送したときの波長分散は、約±２ｐｓ／ｎｍ
／ｋｍ以下と小さく、１．３μｍ零分散シングルモード
ファイバと比べて分散による影響は小さくなる。
【０００８】しかし、伝送速度が４０Ｇｂ／ｓ以上にな
ると、分散補償トレランスが非常に小さいために、１．
５５μｍ零分散シフトファイバを用いた場合でも分散補
償が必要となり、１．３μｍ零分散シングルモードファ
イバと同様に経時変化による伝送劣化を防ぐためにも、
分散補償量を常に最適値にする必要がある。
【０００９】図２８は、従来の光伝送システムにおける
分散測定方法を説明する図である。図２８（ａ）は、ツ
インパルス法による波長分散測定方法を示すもので、こ
のツインパルス法では、群遅延時間差をパルス間隔から
直接測定し、波長分散を測定する。
【００１０】図２８（ａ）において、パルス発生器３５
１から出力されたパルス信号は、駆動部３５２、３５３
を介してレーザーダイオード３５４、３５５に供給され
る。レーザーダイオード３５４は、駆動部３５２からパ
ルス信号が送られると、波長λ１の光パルスを出力し、
レーザーダイオード３５５は、駆動部３５３からパルス
信号が送られると、波長λ２の光パルスを出力する。
【００１１】レーザーダイオード３５４から出力された
波長λ１の光パルスと、レーザーダイオード３５５から
出力された波長λ２の光パルスとは、ハーフミラー３５
６を介して光ファイバ３５７に供給され、光ファイバ３
５７により検出器３５８に伝送される。
【００１２】検出器３５８は、光ファイバ３５７により
波長λ１の光パルスと波長λ２の光パルスが伝送されて
くると、その検出結果をサンプリングオシロスコープ３
５９に出力する。サンプリングオシロスコープ３５９
は、パルス発生器３５１から遅延回路３６０を介して送
られてきたパルス信号の到着時刻と、検出器により検出
された光パルスの到着時刻とを比較する。そして、光フ
ァイバ３５７の伝送後の２つの光パルスの遅延差を検出
することにより、分散量を求める。
【００１３】図２８（ｂ）は、位相法による波長分散測
定方法を示すもので、この位相法では、群遅延時間差を
直接測定するのではなく、群遅延時間差により生じる光
の変調信号間の位相差から波長分散を求める。
【００１４】図２８（ｂ）において、シンセサイザ３７
１はレーザーダイオード３７２〜３７４から出力される
光信号を変調し、レーザーダイオード３７２は波長がλ
１の光信号を出力し、レーザーダイオード３７３は波長
がλ２の光信号を出力し、レーザーダイオード３７４は
波長がλ３の光信号を出力する。レーザーダイオード３
７２〜３７４から出力された光信号は、光スイッチ３７
５により切り換えられて、光ファイバ３７６に供給さ
れ、光ファイバ３７６によりアバランシェフォトダイオ
ード３７７に伝送される。
【００１５】アバランシェフォトダイオード３７７は、
光ファイバ３７６により伝送された光信号を電気信号に
変換し、この電気信号を増幅器３７８を介してベクトル
ボルトメータ３７９に出力する。ベクトルボルトメータ
３７９は、シンセサイザ３７１から送られてきた電気信
号と増幅器３７８から送られてきた電気信号とを比較
し、光の変調信号間の位相差を求めることにより、分散
量を算出する。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
光伝送システムでは、分散補償量を最適値に設定するた
めに、図２８に示したような分散測定系を伝送システム
の一部として送受信機内に組み込んだ場合、レーザーダ
イオードや駆動部の部品点数が多数必要になることか
ら、システム全体の規模が大きくなってしまい、コスト
も莫大になるという問題があった。
【００１７】特に、伝送速度が１０Ｇｂ／ｓ以上の光伝
送システムでは、分散補償トレランスが小さく、分散値
を常に測定しなければならないことから、送受信機内に
容易に組み込めるような小規模で低コストな分散測定装
置が必要となっていた。
【００１８】そこで、本発明の目的は、簡易な構成で波
長分散を測定可能とすることである。
【００１９】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、本発明によれば、駆動電圧の増加に伴って光出
力が増減する光変調手段と、前記駆動電圧の範囲を前記
光出力が増減する範囲に設定する駆動電圧設定手段とを
備えている。
【００２０】このことにより、駆動電圧を増加させるだ
けで、光パルスを出力させることが可能となるととも
に、駆動電圧が減少する時にも光パルスを出力させるこ
とが可能となることから、パルス電圧を１つ入力するだ
けで、複数の光パルスを出力させることが可能となり、
短光パルスを簡易な構成で出力することが可能となる。
【００２１】また、本発明の一態様によれば、前記光変
調手段は、前記駆動電圧の増加率に対応した波長チャー
ピングを発生させる波長チャーピング発生手段を備えて
いる。
【００２２】このことにより、駆動電圧が増加する時に
出力される光パルスの波長と、駆動電圧が減少する時に
出力される光パルスの波長とを異なるようにすることが
可能となり、パルス電圧を１つ入力するだけで、波長の
異なる複数の光パルスを出力させることが可能となる。
このため、このようにして生成された波長の異なる複数
の光パルスを波長分散の測定に用いることにより、波長
分散の測定を簡易な構成で行うことが可能となり、光伝
送システムにおける波長分散の測定をきめ細かく行うこ
とが可能となることから、分散補償の精度を向上させ
て、光伝送のより一層の高速化を達成するすることが可
能となる。
【００２３】また、本発明の一態様によれば、光変調手
段は、マッハツェンダ変調器である。このことにより、
駆動電圧の増加に伴って光出力を周期的に変化させるこ
とが可能となり、半波長電圧を超えるパルス電圧を１つ
入力するでけで、複数の光パルスを出力させることが可
能となるとともに、パルス電圧の増加率に対応した波長
チャーピングを発生させて、光パルスの波長を異なるよ
うにすることが可能となる。
【００２４】また、本発明の一態様によれば、マッハツ
ェンダ変調器はＬｉＮｂＯ3 変調器である。このことに
より、外部変調を効率よく行うことが可能となる。
【００２５】また、本発明の一態様によれば、マッハツ
ェンダ変調器は半導体変調器である。このことにより、
レーザーダイオードとマッハツェンダ変調器とを容易に
集積化することが可能となり、マッハツェンダ変調器に
使用する光源とマッハツェンダ変調器とを一体的に構成
することが可能となることから、分散測定装置のより一
層の小型軽量化が可能となる。
【００２６】また、本発明の一態様によれば、波長の異
なる複数の光パルスを分離する光フィルタを備えてい
る。 このことにより、単一波長の短光パルスを簡易な
構成で出力することが可能となり、超高速光伝送におけ
る光源を容易に生成することが可能となる。
【００２７】また、本発明の一態様によれば、入力光を
分波させる分波手段と、前記分波した入力光の位相を異
なる変調効率で変調させる位相変調手段と、前記位相の
変調が行われた入力光を合波させる合波手段と、前記位
相変調手段に半波長電圧を超える電圧を入力する駆動信
号入力手段とを備えている。
【００２８】このことにより、半波長電圧を超える電圧
を位相変調手段に入力するだけで、複数の光パルスを出
力させることが可能となるとともに、分波した入力光の
変調効率を異ならせることにより、駆動信号入力手段か
ら入力される電圧の増加率に対応した波長チャーピング
を発生させることが可能となることから、波長の異なる
複数の光パルスを単一光源を用いただけで生成すること
が可能となる。
【００２９】また、本発明の一態様によれば、第１の光
導波路と、前記第１の光導波路から分岐した第２の光導
波路及び第３の光導波路と、前記第２の光導波路及び前
記第３の光導波路を合流させる第４の光導波路と、前記
第２の光導波路に電圧を加える第１の電極と、前記第３
の光導波路に電圧を加える第２の電極と、半波長電圧を
越える電圧を前記第１の電極または前記第２の電極に入
力する駆動信号入力手段とを備えている。
【００３０】このことにより、半波長電圧を超える電圧
を第１の電極または第２の電極に入力するだけで、複数
の光パルスを出力させることが可能となるとともに、駆
動信号入力手段から入力される電圧の増加率に対応した
波長チャーピングを発生させて、光パルスの波長を異な
るようにすることが可能となり、波長の異なる複数の光
パルスを単一光源を用いただけで生成することが可能と
なる。
【００３１】また、本発明の一態様によれば、前記駆動
信号入力手段は、振幅が半波長電圧の２倍に設定された
パルス状電圧を発生させる。このことにより、１つのパ
ルス状電圧をマッハツェンダ変調器の片方の電極に入力
するだけで、互いに波長の異なる２つの光パルスを生成
することが可能となる。
【００３２】また、本発明の一態様によれば、単一光源
から出力された光を波長の異なる複数の光パルスに変換
し、この光パルスを伝送路に入力することにより、伝送
路の分散量を求めるようにしている。
【００３３】このことにより、伝送後の光パルスの時間
間隔に基づいて伝送路の分散量を容易に求めることが可
能となることから、１つの単一光源を伝送路に設けるだ
けで分散量の測定が可能となり、分散測定を簡易な構成
で行うことが可能となる。また、本発明の一態様によれ
ば、伝送路の送信側から波長の異なる複数の光パルスを
入力し、伝送後の光パルスを伝送路の受信側で検出する
ようにしている。
【００３４】このことにより、伝送路で送られる主信号
に影響を与えることなく、光パルスを伝送路に容易に入
力することが可能となるとともに、伝送後の光パルスを
伝送路から容易に取り出すことが可能となる。
【００３５】また、本発明の一態様によれば、伝送路の
受信側から波長の異なる複数の光パルスを入力し、伝送
後の光パルスを伝送路の送信側で検出するようにしてい
る。このことにより、伝送路で送られる主信号に影響を
与えることなく、光パルスを伝送路に容易に入力するこ
とが可能となるとともに、伝送後の光パルスを伝送路か
ら容易に取り出すことが可能となる。
【００３６】また、本発明の一態様によれば、光パルス
を折り返す折り返し手段を備えている。このことによ
り、光パルスを伝送路で往復させることが可能となり、
伝送路の長さが短い場合や、伝送路の分散が小さい場合
においても、分散量を増加させて検出できることから、
伝送路の分散を精度良く検出することができる。
【００３７】また、本発明の一態様によれば、伝送路の
送信側に折り返し手段を設け、光パルスの入力及び検出
を伝送路の受信側で行うようにしている。このことによ
り、伝送路の分散が小さい場合においても、伝送路の分
散を精度良く検出することが可能となるとともに、光パ
ルスの発生装置及び検出装置を一カ所に配置することが
可能となり、光パルスの発生装置及び検出装置を一体化
することにより、分散測定系の構成をコンパクトにまと
めることが可能となる。
【００３８】また、本発明の一態様によれば、伝送路の
受信側に折り返し手段を設け、光パルスの入力及び検出
を伝送路の送信側で行うようにしている。このことによ
り、伝送路の分散が小さい場合においても、伝送路の分
散を精度良く検出することが可能となるとともに、光パ
ルスの発生装置及び検出装置を一カ所に配置することが
可能となり、光パルスの発生装置及び検出装置を一体化
することにより、分散測定系の構成をコンパクトにまと
めることが可能となる。
【００３９】また、本発明の一態様によれば、伝送後の
光パルスを電気信号に変換し、その電気信号の周波数成
分に基づいて、伝送路の分散量を求めるようにしてい
る。このことにより、伝送路の分散量を容易に求めるこ
とが可能となる。
【００４０】また、本発明の一態様によれば、第１の光
変調手段に入力される光の一部を第２の光変調手段に導
き、第２の光変調手段で生成された光パルスを伝送路で
伝送させることにより、伝送路の分散量を求めるように
している。
【００４１】このことにより、主信号として使用される
光の一部を分散測定に使用することが可能となり、主信
号用の光源と分散測定用の光源とを共通化することが可
能となることから、分散測定系のより一層の小型軽量化
が可能となる。
【００４２】また、本発明の一態様によれば、主信号用
の光源と分散測定用の光源とを別々に設けるようにして
いる。このことにより、分散測定を行う際の主信号の影
響をなくすことが可能となるとともに、主信号の伝送中
に伝送路の分散測定を容易に行うことが可能となる。
【００４３】また、本発明の一態様によれば、主信号用
の光の波長と分散測定用の光の波長とを異なるようにし
ている。このことにより、分散測定を行う際に主信号用
の光が混在している場合においても、主信号用の光を光
フィルタで容易に除去することが可能となり、分散測定
用の光だけを取り出すことが可能となる。
【００４４】また、本発明の一態様によれば、単一光源
から出力された光を波長の異なる複数の光パルスに変換
し、この光パルスを伝送路で伝送させた時の分散量に基
づいて、伝送路の分散補償を行うようにしている。
【００４５】このことにより、１つの単一光源を伝送路
に設けるだけで伝送路の分散補償が可能となり、分散補
償を簡易な構成で行うことが可能となる。また、本発明
の一態様によれば、伝送路の送信側または受信側または
中継器内に分散補償手段を設けるようにしている。
【００４６】このことにより、光パルスの発生装置、検
出装置及び分散補償装置を一カ所に配置することが可能
となり、光パルスの発生装置、検出装置及び分散補償装
置を一体化することにより、分散補償系の構成をコンパ
クトにまとめることが可能となる。
【００４７】また、本発明の一態様によれば、分散補償
量が可変である。このことにより、システム立ち上げ時
に伝送路の分散値の測定を行う場合だけでなく、伝送路
を運用しながら伝送路の分散値をリアルタイムで測定す
る場合においても、伝送路の分散補償を精度良く行うこ
とが可能となり、光伝送のより一層の高速化を達成する
ことが可能となる。
【００４８】また、本発明の一態様によれば、分散補償
量を手動により変化させるようにしている。このことに
より、伝送路の分散補償を定期的に行うことが可能とな
る。
【００４９】また、本発明の一態様によれば、分散補償
量を自動的に変化させるようにしている。このことによ
り、伝送路の分散補償をリアルタイムで精度良く行うこ
とが可能となる。
【００５０】また、本発明の一態様によれば、伝送路の
分散量に基づいて、主信号光の波長を変化させるように
している。このことにより、伝送路の分散量を変化させ
ることが可能となり、光源の波長を調節するだけで伝送
路の分散補償を行うことが可能となることから、分散補
償を行う際に必要な部品数を削減して、分散補償系のよ
り一層の小型軽量化及び低コスト化が可能となる。
【００５１】また、本発明の一態様によれば、伝送路の
分散量に基づいて、主信号光の出力パワーを変化させる
ようにしている。このことにより、主信号光の出力パワ
ーの非線形性に基づいて、伝送路を伝搬する光パルスを
圧縮させたり、広げたりすることが可能となることか
ら、主信号光の分散による影響を軽減することが可能と
なる。
【００５２】また、本発明の一態様によれば、所定の周
波数の電気パルスに基づいて所定の間隔の光パルスを生
成し、その光パルスを伝送路で伝送させ、伝送後の光パ
ルスを電気信号に変換し、その電気信号の周波数成分が
前記所定の周波数となるように、伝送路の分散補償を行
うようにしている。
【００５３】このことにより、伝送路の分散補償を容易
に行うことが可能となる。
【００５４】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例について図
面を参照しながら説明する。図１は、本発明の一実施例
に係わる光パルス生成装置の構成を示すブロック図であ
る。
【００５５】図１において、光変調手段１は、駆動電圧
設定手段３から供給される駆動電圧に基づいて入力光を
変調する。ここで、光変調手段１は、駆動電圧の増加に
伴って光出力が増減する。このため、駆動電圧の範囲を
光出力が増減する範囲に設定することにより、駆動電圧
を増加させるだけで、光パルスを出力させることが可能
となることから、駆動電圧設定手段３が光変調手段１に
パルス電圧を１つ入力するだけで、複数の光パルスを出
力させることが可能となる。
【００５６】また、光変調手段１は波長チャーピング発
生手段２を備え、波長チャーピング発生手段２は駆動電
圧の増加率に対応した波長チャーピングを発生させる。
このため、駆動電圧が増加する時に光変調手段１から出
力される光パルスの波長と、駆動電圧が減少する時に光
変調手段１から出力される光パルスの波長とが異なるよ
うになる。この結果、駆動電圧設定手段３が光変調手段
１にパルス電圧を１つ入力するだけで、光変調手段１は
波長の異なる複数の光パルスを出力させることが可能と
なる。
【００５７】このように、光変調手段１に単一光源から
の入力光を供給するだけで、波長の異なる複数の光パル
スを生成することが可能となることから、波長の異なる
複数の光パルスを簡易な構成により生成することが可能
となり、光変調手段１及び駆動電圧設定手段３を分散測
定の信号源として光伝送システムに組み込んだ場合にお
いても、光伝送システムの規模の増大を抑制することが
可能となる。
【００５８】この結果、光伝送システムで分散測定を常
時行うことが可能となり、光伝送システムにおける分散
補償量を常に最適な値に設定することにより、分散補償
トレランスが小さい場合においも、光伝送を正確に行う
ことが可能となる。
【００５９】図２は、本発明の一実施例に係わる光変調
装置の構成を示すブロック図である。図２において、光
変調手段１２は、切り換え手段１１から供給される変調
信号またはパルス信号に基づいて入力光を変調する。こ
こで、光変調手段１２は、駆動電圧の増加に伴って光出
力が増減する。このため、パルス信号による駆動範囲を
光出力が増減する範囲に設定することにより、パルス信
号の立ち上がり立ち下がり時に、光パルスを出力させる
ことが可能となることから、光変調手段１にパルス電圧
を１つ入力するだけで、複数の光パルスを出力すること
が可能となる。
【００６０】ここで、切り換え手段１１は、主信号の変
調を行う時は変調信号を光変調手段１２に供給し、分散
測定を行う時はパルス信号を光変調手段１２に供給す
る。このため、主信号の変調を行う時と分散測定を行う
時とで、１つの光変調手段１２を兼用することが可能と
なり、光伝送システムの規模の増大を抑制することが可
能となる。
【００６１】以下、光変調手段としてマッハツェンダ変
調器を用いた場合を例にとって、より具体的に説明す
る。図３は、本発明の一実施例に係わるマッハツェンダ
変調器の動作を説明する図である。
【００６２】図３において、光導波路２１と、この光導
波路２１から分岐した光導波路２２ａ及び光導波路２２
ｂと、これらの光導波路２２ａ及び光導波路２２ｂが合
流した光導波路２３とが設けられている。また、光導波
路２２ａ及び光導波路２２ｂを伝播する光を変調する電
極２４ａ、２４ｂがそれぞれ設けられている。
【００６３】光導波路２１に入力光が入射すると、光導
波路２２ａ及び光導波路２２ｂで入力光が分波する。そ
して、光導波路２２ａ及び光導波路２２ｂで入力光に対
する位相変調が行われ、分波した位相変調後の入力光
は、光導波路２３で合波して出力光として出力される。
ここで、マッハツェンダ変調器では、光導波路２２ａ及
び光導波路２２ｂを伝播する光の位相を互いに同じ大き
さで逆方向に変調することにより、変調時の波長チャー
ピングをなくすことが可能である。
【００６４】具体的には、電界がＥ０ｃｏｓ（ω０ｔ）
の入力光を光導波路２１に入力し、光導波路２２ａ及び
光導波路２２ｂでのそれぞれの位相変化をφＡ（Ｖ）、
φＢ（Ｖ）とすると、出力光の電界Ｅｏｕｔ（ｔ）は、 Ｅｏｕｔ（ｔ）＝Ｅ０／√２｛ｃｏｓ（ω0 ｔ−φＡ（Ｖ） ＋ｃｏｓ（ω0 ｔ＋φＢ（Ｖ））｝・・・（３） と表すことができる。ここで、光導波路２２ａ及び光導
波路２２ｂでの変調効率 をそれぞれａ、ｂとすると、位相変化φＡ（Ｖ）及びφＢ（Ｖ）は、 φＡ（Ｖ）＝ａ（Ｖｉｎ＋ＢＩＡ） ・・・（４） φＢ（Ｖ）＝ｂ（Ｖｉｎ＋ＢＩＡ） ・・・（５） となる。ただし、Ｖｉｎは電極２４ａ及び電極２４ｂに
入力される駆動電圧、ＢＩＡはマッハツェンダ変調器の
バイアス電圧である。
【００６５】（３）式を振幅部分と位相部分とに展開す
ると、 Ｅｏｕｔ（ｔ）＝Ｅ０／√２〔｛ｃｏｓ（φＡ（Ｖ）） ＋ｃｏｓ（φＢ（Ｖ））｝ｃｏｓ（ω0 ｔ）＋｛ｓｉｎ（φＡ（Ｖ）） −ｓｉｎ（φＢ（Ｖ））｝ｓｉｎ（ω0 ｔ）〕 ・・・（６） となる。ここで、 ｘ＝ｃｏｓ（φＡ（Ｖ））＋ｃｏｓ（φＢ（Ｖ）） ｙ＝ｓｉｎ（φＡ（Ｖ））−ｓｉｎ（φＢ（Ｖ）） とおくと、（６）式は、 Ｅｏｕｔ（ｔ）＝Ｅ０√（ｘ2 ＋ｙ2 ）／２ ・ｃｏｓ｛ω0 ｔ−ｔａｎ-1（ｙ／ｘ）｝ ・・・（７） となる。ここで、光出力パワーＰは、 Ｐ＝ｘ2 ＋ｙ2 ・・・（８） である。
【００６６】（７）式のｔａｎ-1（ｙ／ｘ）の時間微分
が角周波数の変動となるので、中心波長をλ０とする
と、波長チャーピングΔλは、 Δλ＝λ０2 ／（２π・υ）・Δω ＝ｄ（ｔａｎ-1（ｙ／ｘ））／ｄｔ・λ０2 ／（２π・υ） ・・・（９） と表すことができる。ただし、υは光ファイバ中の光速
である。
【００６７】ｔａｎ-1（ｙ／ｘ）を展開すると、 ｙ／ｘ＝（ｓｉｎ（φＡ（Ｖ））−ｓｉｎ（φＢ（Ｖ））） ／（ｃｏｓ（φＡ（Ｖ））＋ｃｏｓ（φＢ（Ｖ））） ＝ｔａｎ（｛φＡ（Ｖ）−φＢ（Ｖ）｝／２） となる。従って、 ｔａｎ-1（ｙ／ｘ）＝｛φＡ（Ｖ）−φＢ（Ｖ）｝／２ ＝（ａ−ｂ）（Ｖｉｎ＋ＢＩＡ）／２・・・（１０） となる。ただし、ａ、ｂは変調効率である。
【００６８】この結果、波長チャーピングΔλは、 Δλ＝ｄ（ｔａｎ-1（ｙ／ｘ））／ｄｔ・λ０2 ／（２π・υ） 〜ｄＶｉｎ／ｄｔ ・・・（１１） で表すことができ、駆動電圧Ｖｉｎの微分に比例する。
【００６９】（１０）式から明らかなように、波長チャ
ーピングΔλをなくすためには、変調効率をａ、ｂを一
致させる必要がある。図４は、本発明の一実施例に係わ
るマッハツェンダ変調器の駆動方法を説明する図であ
る。
【００７０】図４において、光導波路３１と、この光導
波路３１から分岐した光導波路３２ａ及び光導波路３２
ｂと、これらの光導波路３２ａ及び光導波路３２ｂが合
流した光導波路３３とが設けられる。また、光導波路３
２ａを伝播する光を変調する電極３４が設けられてい
る。
【００７１】光導波路３１に入力光が入射すると、光導
波路３２ａ及び光導波路３２ｂで入力光が分波する。そ
して、光導波路３２ａで入力光に対する位相変調が行わ
れ、光導波路３２ａで位相変調された光と光導波路３２
ｂを伝播した光とは、光導波路３３で合波し出力光とし
て出力される。
【００７２】ここで、駆動電圧Ｖｉｎとして、半波長電
圧Ｖπの２倍の振幅を有するパルス状電圧３５を電極３
４に入力したものとする。この場合、パルス状電圧３５
の立ち上がり時に、光パルス３６が出力されるととも
に、パルス状電圧３５の立ち下がり時に、光パルス３７
が出力される。また、光パルス３６、３７には波長チャ
ーピングΔλが発生し、（１１）式から明らかなよう
に、波長チャーピングΔλの大きさは、パルス状電圧３
５の微分に比例する。
【００７３】このため、波長λのＤＣ光が入力されてい
るマッハツェンダ変調器に対し、１つのパルス状電圧３
５を供給するだけで、波長λ−Δλの光パルス３５と波
長λ＋Δλの光パルス３６とを生成することが可能とな
る。
【００７４】このように、マッハツェンダ変調器を片側
駆動することにより、変調効率ａ、ｂを、ａ：ｂ＝１：
０とすることが可能となり、波長の異なる２つの光パル
ス３６、３７を生成することが可能となる。
【００７５】図５は、本発明の一実施例に係わる光パル
ス生成方法を説明する図である。図５において、波長λ
の入力光を光導波路３１に入力した場合、電極３４に供
給される駆動電圧Ｖｉｎと、光導波路３３から出力され
る光出力パワーＰとの関係は、半波長電圧Ｖπの２倍の
周期で周期的に変化する。このため、パルス状電圧３５
の振幅を半波長電圧Ｖπの２倍に設定した場合、パルス
状電圧３５の立ち上がり時に（）、光出力パワーＰ
は、Ｐ１からＰ２に増加した後、Ｐ２からＰ１に減少す
る。このため、パルス状電圧３５の立ち上がり時に対応
した時刻ｔ１に光パルス３６が光導波路３３から出力さ
れる。また、パルス状電圧３５の立ち上がり時の微分値
は正となることから、光パルス３６の波長がΔλだけシ
フトし、λ＋Δλとなる。
【００７６】次に、時間間隔ｄの経過後（）、パルス
状電圧３５が立ち下がると（）、光出力パワーＰは、
Ｐ１からＰ２に再び増加した後、Ｐ２からＰ１に減少す
る。このため、パルス状電圧３５の立ち下がり時に対応
した時刻ｔ２に、光パルス３７が光導波路３３から出力
される。また、パルス状電圧３５の立ち下がり時の微分
値は負となることから、光パルス３７の波長が−Δλだ
けシフトし、λ−Δλとなる。すなわち、本発明は周期
的な干渉特性を有する干渉器内の光の位相差を利用して
光変を行う変調器に対して、該変調器に与える光の位相
差は該干渉器の周期特性で光出力が最も低くなる第１の
位相差から、光出力が最も高くなる第２の位相差を経由
して、光出力が最も低くなる第３の位相差に変化した
後、光出力が最も高くなる第２の位相差を経由して、光
出力が最も低くなる第１の位相差となるように、変調器
に加える駆動電圧を与えることで、複数の波長の光を１
つの光源から作り出せる。
【００７７】図６は、本発明の一実施例に係わる光パル
ス生成方法を波長チャーピングの発生と対応させて説明
する図である。図６（ａ）において、波長λの入力光が
マッハツェンダ変調器に入力されている場合、時刻ｔ１
に駆動電圧Ｖｉｎが立ち上がると、駆動電圧Ｖｉｎの微
分値に対応した波長チャーピング３６’が発生し、波長
λ＋Δλの光パルス３６が生成される。また、時間間隔
ｄが経過し、時刻ｔ２に駆動電圧Ｖｉｎが立ち下がる
と、駆動電圧Ｖｉｎの微分値に対応した波長チャーピン
グ３７’が発生し、波長λ−Δλの光パルス３７が生成
される。
【００７８】なお、生成された２つの光パルスの時間間
隔は、駆動波形の幅ｄと同一となるめ、駆動波形の幅ｄ
を調節することにより任意に制御可能である。図６
（ｂ）において、時刻ｔ３に駆動電圧Ｖｉｎが立ち下が
ると、駆動電圧Ｖｉｎの微分値に対応した波長チャーピ
ング３８’が発生し、波長λ−Δλの光パルス３８が生
成される。また、時間間隔ｄが経過し、時刻ｔ４に駆動
電圧Ｖｉｎが立ち上がると、駆動電圧Ｖｉｎの微分値に
対応した波長チャーピング３９’が発生し、波長λ＋Δ
λの光パルス３９が生成される。
【００７９】このように、マッハツェンダ変調器では、
通常、半波長電圧Ｖπでデータ変調を行うが、その２倍
の駆動電圧２Ｖπで変調を行うことにより、駆動波形の
立ち上がり及び立ち下がりのそれぞれで短パルスを発生
させることが可能になる。
【００８０】また、マッハツェンダ変調器では、（１
１）式で示したように、波長チャーピングΔλが駆動電
圧Ｖｉｎの微分値に比例するために、駆動波形の立ち上
がり時と立ち下がり時とで波長チャーピングΔλの符号
が逆になり、発生した２つの短パルスはそれぞれλ＋Δ
λとλ−Δλの互いに異なる波長を持つようになる。
【００８１】このため、１組のレーザーダイオードとマ
ッハツェンダ型変調器とから生成された２つの短パルス
を光ファイバにより伝送させると、群遅延差によりパル
ス間隔が広がり、伝送前のパルス間隔ｄが伝送後のパル
ス間隔ｄ＋Δｄに変化する。
【００８２】ここで、このパルス間隔の変化分Δｄ（ｐ
ｓ）には、以下の関係がある。 Δｄ＝Ｄ・Ｌ・Δλｃ ・・・（１２） ただし、Ｄ（ｐｓ／ｎｍ／ｋｍ）は伝送路の分散値、Ｌ
（ｋｍ）は伝送距離、Δλｃはパルスピーク部分のΔλ
である。
【００８３】この結果、パルス間隔の変化分Δｄを検出
することにより、伝送路の分散値Ｄを把握することが可
能になる。なお、パルス間隔の変化分Δｄは、サンプリ
ングオシロスコープ等で直接読み取ることができる。な
お、分散値Ｄの概算ができる伝送路では、あらかじめパ
ルス間隔ｄを調節しておくことにより、制御の簡素化を
行うことが可能である。
【００８４】図７は、駆動電圧Ｖｉｎのパルス幅を変化
させた場合における光パルスの生成方法を示す図であ
る。図７（ａ）において、駆動電圧Ｖｉｎとして、パル
ス幅ｄ１のパルス信号５０１を入力すると、パルス信号
５０１の立ち上がりに対応して時刻ｔ１に光パルス５０
２が生成され、パルス信号５０１の立ち下がりに対応し
て時刻ｔ２に光パルス５０３が生成される。この時、光
パルス５０２に対しては、パルス信号５０１の立ち上が
り時の微分値に対応した波長チャーピングが発生するこ
とから、光パルス５０２の波長はλ１となり、光パルス
５０３に対しては、パルス信号５０１の立ち下がり時の
微分値に対応した波長チャーピングが発生することか
ら、光パルス５０３の波長はλ２となる。
【００８５】次に、駆動電圧Ｖｉｎのパルス幅を変化さ
せ、駆動電圧Ｖｉｎとして、パルス幅ｄ２のパルス信号
５０４を入力すると、図７（ｂ）に示すように、パルス
信号５０４の立ち上がりに対応して時刻ｔ３に光パルス
５０５が生成され、パルス信号５０４の立ち下がりに対
応して時刻ｔ４に光パルス５０６が生成される。この
時、光パルス５０５に対しては、パルス信号５０４の立
ち上がり時の微分値に対応した波長チャーピングが発生
することから、光パルス５０５の波長はλ１となり、光
パルス５０６に対しては、パルス信号５０４の立ち下が
り時の微分値に対応した波長チャーピングが発生するこ
とから、光パルス５０６の波長はλ２となる。
【００８６】図８は、駆動電圧Ｖｉｎの微分値を変化さ
せた場合における光パルスの生成方法を示す図である。
図８（ａ）において、駆動電圧Ｖｉｎとして、立ち上が
り時の微分値がｄＶ１、立ち下がり時の微分値が−ｄＶ
１のパルス信号６０１を入力すると、パルス信号６０１
の立ち上がりに対応して時刻ｔ１に光パルス６０２が生
成され、パルス信号６０１の立ち下がりに対応して時刻
ｔ２に光パルス６０３が生成される。この時、光パルス
６０２に対しては、パルス信号６０１の立ち上がり時の
微分値ｄＶ１に対応した波長チャーピングが発生するこ
とから、光パルス６０２の波長はλ１となり、光パルス
６０３に対しては、パルス信号６０１の立ち下がり時の
微分値−ｄＶ１に対応した波長チャーピングが発生する
ことから、光パルス６０３の波長はλ２となる。
【００８７】次に、駆動電圧Ｖｉｎの微分値を変化さ
せ、駆動電圧Ｖｉｎとして、立ち上がり時の微分値がｄ
Ｖ２、立ち下がり時の微分値が−ｄＶ２のパルス信号６
０４を入力すると、図８（ｂ）に示すように、パルス信
号６０４の立ち上がりに対応して時刻ｔ３に光パルス６
０５が生成され、パルス信号６０４の立ち下がりに対応
して時刻ｔ４に光パルス６０６が生成される。この時、
光パルス６０５に対しては、パルス信号６０４の立ち上
がり時の微分値ｄＶ２に対応した波長チャーピングが発
生することから、光パルス６０５の波長はλ３となり、
光パルス６０６に対しては、パルス信号６０４の立ち下
がり時の微分値−ｄＶ２に対応した波長チャーピングが
発生することから、光パルス６０６の波長はλ４とな
る。
【００８８】図９は、本発明の一実施例に係わる光パル
ス伝送の実験結果を示す波形図である。図９（ａ）に示
すように、送信間隔Ｌ１が４００ｐｓの送信パルス列を
シングルモードファイバで伝送させる。シングルモード
ファイバ２５ｋｍの伝送後では、図９（ｂ）に示すよう
に、光パルスの間隔がＬ２に広がり、シングルモードフ
ァイバ５０ｋｍの伝送後では、図９（ｃ）に示すよう
に、光パルスの間隔がＬ３に広がる。このように、シン
グルモードファイバでの伝送後の光パルス間隔が分散値
の大きさ（伝送路の距離）により変化することが分か
る。なお、この実験で用いたシングルモードファイバの
波長分散は、約１７ｐｓ／ｎｍ／ｋｍである。
【００８９】このため、シングルモードファイバでの伝
送後の光パルス間隔を計測することにより、既存伝送路
を用いた超高速伝送時でのファイバ伝送路の分散測定及
び分散補償を低コストで、かつ容易に行うことが可能に
なる。
【００９０】図１０は、本発明の一実施例に係わる光パ
ルス生成装置の構成例を示すブロック図である。図１０
（ａ）において、レーザーダイオード４１から出射され
るレーザー光がマッハツェンダ変調器４２に入力される
とともに、パルス発生器４３で生成されるパルス信号４
０１がマッハツェンダ変調器４２に入力される。ここ
で、パルス発生器４３は、例えば、マッハツェンダ変調
器４２を片側駆動するとともに、駆動電圧Ｖｉｎを半波
長電圧Ｖπの２倍に設定する。
【００９１】このため、パルス信号を１つ入力するだけ
で、マッハツェンダ変調器４２から２つの光パルス４０
２、４０３を出力させることが可能となるとともに、パ
ルス信号の増加率に対応した波長チャーピングを発生さ
せて、マッハツェンダ変調器４２から出力される光パル
ス４０２、４０３の波長を互いに異なるようにすること
が可能となる。さらに、パルス発生器４３から出力され
るパルス信号４０１のパルス幅を変化させることによ
り、マッハツェンダ変調器４２から出力される光パルス
４０２、４０３の時間間隔ｄを任意に設定することが可
能となる。
【００９２】図１０（ｂ）は、図１０（ａ）のマッハツ
ェンダ変調器４２にＬｉＮｂＯ3 変調器４５を使用した
例を示すブロック図である。図１０（ｂ）において、レ
ーザーダイオード４４から出射されるレーザー光がＬｉ
ＮｂＯ3 変調器４５に入力されるとともに、パルス発生
器４６で生成されるパルス信号４０４がＬｉＮｂＯ3 変
調器４５に入力される。ここで、パルス発生器４６は、
例えば、ＬｉＮｂＯ3 変調器４５を片側駆動するととも
に、駆動電圧Ｖｉｎを半波長電圧Ｖπの２倍に設定す
る。
【００９３】このため、パルス信号４０４を１つ入力す
るだけで、ＬｉＮｂＯ3 変調器４５から２つの光パルス
４０５、４０６を出力させることが可能となるととも
に、パルス信号の増加率に対応した波長チャーピグを発
生させて、ＬｉＮｂＯ3 変調器４５から出力される光パ
ルス４０５、４０６の波長を互いに異なるようにするこ
とが可能となる。さらに、パルス発生器４６から出力さ
れるパルス信号４０４のパルス幅を変化させることによ
り、ＬｉＮｂＯ3 変調器４５から出力される光パルス４
０５，４０６の時間間隔ｄを任意に設定することが可能
となる。
【００９４】なお、ＬｉＮｂＯ3 以外にも、ＫＤＰやＬ
ｉＴａＯ2 などの強誘電体結晶を用いることにより、マ
ッハツェンダ変調器４２を構成することも可能である。
図１０（ｃ）は、図１０（ａ）のマッハツェンダ変調器
４２に半導体変調器４８を使用した例を示すブロック図
である。
【００９５】図１０（ｃ）において、レーザーダイオー
ド４７から出射されるレーザー光が半導体変調器４８に
入力されるとともに、パルス発生器４９で生成されるパ
ルス信号４０７が半導体変調器４８に入力される。ここ
で、パルス発生器４９は、例えば、半導体変調器４８を
片側駆動するとともに、駆動電圧Ｖｉｎを半波長電圧Ｖ
πの２倍に設定する。
【００９６】ことため、パルス信号４０７を１つ入力す
るだけで、半導体変調器４８から２つの光パルス４０
８、４０９を出力させること可能となるとともに、パル
ス信号４０７の増加率に対応した波長チャーピングを発
生させて、半導体変調器４８から出力される光パルス４
０８、４０９の波長を互いに異なるようにすることが可
能となる。さらに、パルス発生器４９から出力されるパ
ルス信号４０７のパルス幅を変化させることにより、半
導体変調器４８から出力される光パルス４０８、４０９
の時間間隔ｄを任意に設定することが可能となる。
【００９７】このように、マッハツェンダ変調器４２に
半導体変調器４８を使用することにより、レーザーダイ
オード４７と半導体変調器４８とを容易に集積化するこ
とが可能となり、レーザーダイオード４７と半導体変調
器４８とを一体的に作成することが可能となることか
ら、分散測定装置の小型軽量化及び低コスト化が可能と
なる。
【００９８】図１１（ａ）は、図１０（ｃ）の半導体変
調器４８の構成例を示す上面図、図１１（ｂ）は図１１
（ａ）のＡ−Ａ’線で切断した時の断面図である。図１
１（ａ）において、ｎ−ＩｎＰ基板５１には、光導波路
５２、光導波路５２を分岐させた光導波路５３ａ、５３
ｂ、光導波路５３ａ、５３ｂを合流させた光導波路５４
が形成され、光導波路５３ａ、５３ｂ上には、電極５５
ａ、５５ｂがそれぞれ形成されている。
【００９９】図１１（ｂ）において、ｎ−ＩｎＰ基板５
１の下面には電極６１が設けられているとともに、ｎ−
ＩｎＰ基板５１上にはｎ−ＩｎＡｌＡｓ層６２が積層さ
れている。さらに、光導波路５３ａ、５３ｂの領域に
は、多重量子井戸層６３ａ、６３ｂ、ｐ−ＩｎＡｌＡｓ
層６４ａ、６４ｂ、ｐ−ＩｎＧａＡｓ層６５ａ、６５
ｂ、が積層され、光導波路５３ａ、５３ｂの間の領域に
はポリイミド樹脂６６が埋め込まれている。なお、多重
量子井戸層６３ａ、６３ｂは、ＩｎＧａＡｓ層とＩｎＡ
ｌＡｓ層とを数ｎｍの厚みで交互に積層したものであ
る。
【０１００】このように、光導波路を多重量子井戸構造
とすることにより、位相変調効率のよい半導体変調器４
８の構成することができる。図１２（ａ）は、本発明の
一実施例に係わる光パルス生成装置を送信側に設置した
分散測定装置の構成を示すブロック図である。
【０１０１】図１２（ａ）において、レーザーダイオー
ド７１、マッハツェンダ変調器７２、及びパルス発生器
７３が光伝送システムの送信側に設置されている。そし
て、レーザーダイオード７１から出射されるレーザー光
がマッハツェンダ変調器７２に入力されるとともに、パ
ルス発生器７３で生成されるパルス信号４１１がマッハ
ツェンダ変調器７２に入力される。ここで、パルス発生
器７３は、例えば、マッハツェンダ変調器７２を片側駆
動するとともに、駆動電圧Ｖｉｎを半波長電圧Ｖπの２
倍に設定する。
【０１０２】このため、パルス信号４１１を１つ入力す
るだけで、マッハツェンダ変調器７２から２つの光パル
ス４１２、４１３を出力させることが可能となるととも
に、パルス信号４１１の増加率に対応した波長チャーピ
ングを発生させて、マッハツェンダ変調器７２から出力
される光パルス４１２、４１３の波長を互いに異なるよ
うにすることが可能となる。
【０１０３】マッハツェンダ変調器７２から出力された
光パルス４１２、４１３は、光ファイバ７４に入力さ
れ、光ファイバ７４を伝送後の光パルス４１２’、４１
３’が検出器７５で検出される。ここで、光パルス４１
２’、４１３’のパルス間隔ｄ＋Δｄを計測し、光パル
ス４１２、４１３のパルス間隔ｄと比較することによ
り、パルス間隔の変化分Δｄを算出する。この結果、こ
のパルス間隔の変化分Δｄに基づいて、光ファイバ７４
の波長分散を（１２）式により求めることができる。
【０１０４】図１２（ｂ）は本発明の一実施例に係わる
光パルス生成装置を受信側に設置した分散測定装置の構
成を示すブロック図である。図１２（ｂ）において、レ
ーザーダイオード７６、マッハツェンダ変調器７７、及
びパルス発生器７８が光伝送システムの受信側に設置さ
れている。そして、レーザーダイオード７６から出射さ
れるレーザー光がマッハツェンダ変調器７７に入力され
るとともに、パルス発生器７８で生成されるパルス信号
４１４がマッハツェンダ変調器７７に入力される。ここ
で、パルス発生器７８は、例えば、マッハツェンダ変調
器７７を片側駆動するとともに、駆動電圧Ｖｉｎを半波
長電圧Ｖπの２倍に設定する。
【０１０５】このため、パルス信号４１４を１つ入力す
るだけで、マッハツェンダ変調器７７から２つの光パル
ス４１５、４１６を出力させることが可能となるととも
に、パルス信号４１４の増加率に対応した波長チャーピ
ングを発生させて、マッハツェンダ変調器７７から出力
される光パルス４１５、４１６の波長を互いに異なるよ
うにすることが可能となる。
【０１０６】マッハツェンダ変調器７７から出力された
光パルス４１５、４１６は、光ファイバ７９に入力さ
れ、光ファイバ７９を伝送後の光パルス４１５’、４１
６’が検出器８０で検出される。ここで、光パルス４１
５’、４１６’のパルス間隔ｄ＋Δｄを計測し、光パル
ス４１５、４１６のパルス間隔ｄと比較することによ
り、パルス間隔の変化分Δｄを算出する。この結果、こ
のパルス間隔の変化分Δｄに基づいて、光ファイバ７９
の波長分散を（１２）式により求めることができる。分
散値を調節するもののそばに設置することにより調整が
容易になる。
【０１０７】図１３は、図１２の検出器７５、８０の構
成例を示すブロック図である。図１３（ａ）は、光パル
スのパルス間隔を直接読み取ることにより、光ファイバ
９３の波長分散を求める構成を示すもので、光ファイバ
９３により伝送されてきた光パルスをフォトダイオード
９４で検出する。そして、フォトダイオード９４の検出
結果をサンプリングオシロスコープ９５に出力すること
により、光パルス４１５、４１６のパルス間隔を読み取
る。
【０１０８】図１３（ｂ）は、光パルスのパルス間隔に
基づく周波数成分を計測することにより、光ファイバ９
６の波長分散を求める構成を示すもので、光ファイバ９
３により伝送されてきた光パルスを光電変換器９７で電
気信号に変換し、電気フィルタ９８で特定の周波数成分
を取り出した後、スペクトラムアナライザ９９で周波数
分析を行うことにより、光ファイバの波長分散を算出す
る。
【０１０９】図１４は、本発明の第２実施例に係わる分
散測定装置の構成例を示すブロック図である。この第２
実施例に係わる分散測定装置は、光パルスを光ファイバ
中で往復させることにより、分散測定の精度を向上させ
るものである。
【０１１０】図１４（ａ）において、レーザーダイオー
ド１０１から出射されるレーザー光が変調器１０２で変
調され、光ファイバ１０４で伝送される。光ファイバ１
０４で伝送された光は折り返し装置１０５で反射され、
光ファイバ１０４を再び通って検出器１０３に入力す
る。
【０１１１】このように、折り返し装置１０５で光を反
射させ、光ファイバ１０４中で光を往復させることによ
り、光ファイバ１０４中で発生する分散量を増加させる
ことができ、光ファイバ１０４の長さが短い場合や、光
ファイバ１０４の分散が小さい場合においても、光ファ
イバ１０４の分散を精度良く検出することが可能とな
る。
【０１１２】図１４（ｂ）において、レーザーダイオー
ド１０６、マッハツェンダ変調器１０７、パルス発生器
１０８及び検出器１０９が光伝送システムの送信側に設
置されている。そして、レーザーダイオード１０６から
出射されるレーザー光がマッハツェンダ変調器１０７に
入力されるとともに、パルス発生器１０８で生成される
パルス信号４２１がマッハツェンダ変調器１０７に入力
される。ここで、パルス発生器１０８は、例えば、マッ
ハツェンダ変調器１０７を片側駆動するとともに、駆動
電圧Ｖｉｎを半波長電圧Ｖπの２倍に設定する。
【０１１３】このため、パルス信号４２１を１つ入力す
るだけで、マッハツェンダ変調器１０７から２つの光パ
ルス４２２、４２３を出力させることが可能となるとと
もに、パルス信号４２１の増加率に対応した波長チャー
ピングを発生させて、マッハツェンダ変調器１０７から
出力される光パルス４２２、４２３の波長を互いに異な
るようにすることが可能となる。マッハツェンダ変調器
１０７から出力された光パルス４２２、４２３は、光フ
ァイバ１１０で伝送され、折り返し装置１１１で反射さ
れて光ファイバ１１０に戻されることにより、光ファイ
バ１１０中を往復する。光ファイバ１１０中を往復した
光パルス４２２’、４２３’は検出器１０９で検出され
る。ここで、光パルス４１２’、４１３’のパルス間隔
の変化分は、光ファイバ１１０を１回だけ通った時のパ
ルス間隔の変化分の２倍となる。
【０１１４】この光パルス４２２’、４２３’のパルス
間隔ｄ＋２Δｄを計測し、光パルス４１２、４１３のパ
ルス間隔ｄと比較することにより、パルス間隔の変化分
２Δｄが算出される。この結果、このパルス間隔の変化
分２Δｄに基づいて、光ファイバ１１０の波長分散を
（１２）式により求めることが可能となり、光ファイバ
１１０の分散値や波長チャーピングΔλが小さい場合で
も、高精度の測定が可能となる。 また、折り返し装置
１１１で光パルス４２２、４２３を折り返すことによ
り、レーザーダイオード１０６、マッハツェンダ変調器
１０７、パルス発生器１０８及び検出器１０９を全て光
伝送システムの送信側に設置することが可能となり、小
規模な構成を実現できる。
【０１１５】図１４（ｃ）において、レーザーダイオー
ド１１２、マッハツェンダ変調器１１３、パルス発生器
１１４及び検出器１１５が光伝送システムの受信側に設
置されている。そして、レーザーダイオード１１２から
出射されるレーザー光がマッハツェンダ変調器１１３に
入力されるとともに、パルス発生器１１４で生成される
パルス信号４２４がマッハツェンダ変調器１１３に入力
される。ここで、パルス発生器１１４は、例えば、マッ
ハツェンダ変調器１１３を片側駆動するとともに、駆動
電圧Ｖｉｎを半波長電圧Ｖπの２倍に設定する。
【０１１６】このため、パルス信号４２４を１つ入力す
るだけで、マッハツェンダ変調器１１３から２つの光パ
ルス４２５、４２６を出力させることが可能となるとと
もに、パルス信号４２４の増加率に対応した波長チャー
ピングを発生させて、マッハツェンダ変調器１１３から
出力される光パルス４２５、４２６の波長を互いに異な
るようにすることが可能となる。
【０１１７】マッハツェンダ変調器１１３から出力され
た光パルス４２５、４２６は、光ファイバ１１６で伝送
され、折り返し装置１１７で反射されて光ファイバ１１
６に戻されることにより、光ファイバ１１６中を往復す
る。光ファイバ１１６中を往復した光パルス４２５’、
４２６’は検出器１１５で検出される。ここで、光パル
ス４２５’、４２６’のパルス間隔の変化分は、光ファ
イバ１１６を１回だけ通った時のパルス間隔の変化分の
２倍となる。
【０１１８】この光パルス４２５’、４２６’のパルス
間隔ｄ＋２Δｄを計測し、光パルス４２５、４２６のパ
ルス間隔ｄと比較することにより、パルス間隔の変化分
２Δｄが算出される。この結果、このパルス間隔の変化
分２Δｄに基づいて、光ファイバ１１６の波長分散を
（１２）式により求めることが可能となり、光ファイバ
１１６の分散値や波長チャーピングΔλが小さくても高
精度の測定が可能となる。
【０１１９】また、折り返し装置１１７で光パルス４２
５、４２６を折り返すことにより、レーザーダイオード
１１２、マッハツェンダ変調器１１３、パルス発生器１
１４及び検出器１１５を全て光伝送システムの受信側に
設置することが可能となり、小規模な構成を実現でき
る。
【０１２０】なお、図１４の例では、光パルスが光ファ
イバを１回だけ往復する場合について説明したが、光パ
ルスが光ファイバを複数回往復するようにしてもよい。
図１５は、本発明の第３実施例に係わる分散測定装置の
構成例を示すブロック図である。この第３実施例に係わ
る分散測定装置は、主信号の光源と分散測定用の光源と
を兼用することにより、光伝送システムの小型軽量化及
び低コスト化を可能とするものである。
【０１２１】図１５において、主信号発生装置１２１に
は、レーザーダイオード１２２及び変調器１２３が設け
られ、レーザーダイオード１２２から出射される波長λ
のレーザー光が変調器１２３で変調されて、光ファイバ
１２６で伝送される。また、レーザーダイオード１２２
から出射される波長λのレーザー光は、マッハツェンダ
変調器１２４にも導かれ、パルス発生器１２５で生成さ
れるパルス信号４３１がマッハツェンダ変調器１２４に
入力される。ここで、パルス発生器１２５は、例えば、
マッハツェンダ変調器１２４を片側駆動するとともに、
駆動電圧Ｖｉｎを半波長電圧Ｖπの２倍に設定する。
【０１２２】このため、パルス発生器１２５がマッハツ
ェンダ変調器１２４にパルス信号４３１を１つ入力する
と、波長がλ−Δλの光パルス４３２と波長がλ＋Δλ
の光パルス４３３とがマッハツェンダ変調器１２４から
出力される。これらの光パルス４３２、４３３は、変調
器１２３から出力される主信号の光パルス４３４ととも
に光ファイバ１２６で伝送される。
【０１２３】光ファイバ１２６で伝送されてきた波長λ
−Δλの光パルス４３２’、波長λ＋Δλの光パルス４
３３’及び波長λの光パルス４３４’の中から、波長λ
−Δλの光パルス４３２’及び波長λ＋Δλの光パルス
４３３’だけが光フィルタ１２７で抽出され、検出器１
２８に送られる。
【０１２４】検出器１２８がこれらの光パルス４３
２’、４３３’を検出すると、光パルス４３２’、４３
３’のパルス間隔ｄ＋Δｄを計測し、伝送前の光パルス
４３２、４３３のパルス間隔ｄと比較することにより、
パルス間隔の変化分Δｄを算出する。この結果、このパ
ルス間隔の変化分Δｄに基づいて、光ファイバ１２６の
波長分散を（１２）式により求めることができる。
【０１２５】このように、レーザーダイオード１２２か
ら出射されるレーザー光の一部をマッハツェンダ変調器
１２４に導き、このレーザー光から分散測定用の光パル
ス４３２、４３３を生成することにより、分散測定のた
めの独自の光源を設ける必要がなくなり、分散測定装置
の小型軽量化及び低コスト化が可能となる。
【０１２６】図１６は、本発明の第４実施例に係わる分
散測定装置の構成例を示すブロック図である。この第４
実施例に係わる分散測定装置は、主信号用の光源と分散
測定用の光源とを別々に設け、主信号用の光の波長と分
散測定用の光の波長とが異なるようにすることにより、
分散測定を行う際の主信号の影響を軽減するようにした
ものである。
【０１２７】図１６において、主信号発生装置１３１に
は、レーザーダイオード１３２及び変調器１３３が設け
られ、レーザーダイオード１３２から出射される波長λ
１のレーザー光が変調器１３３で変調されて、光ファイ
バ１３７で伝送される。また、レーザーダイオード１３
４から出射される波長λ２のレーザー光が、マッハツェ
ンダ変調器１３５に入力されるとともに、パルス発生器
１３６で生成されるパルス信号４４１がマッハツェンダ
変調器１３５に入力される。ここで、パルス発生器１３
６は、例えば、マッハツェンダ変調器１３５を片側駆動
するとともに、駆動電圧Ｖｉｎを半波長電圧Ｖπの２倍
に設定する。
【０１２８】このため、パルス発生器１３６がマッハツ
ェンダ変調器１３５にパルス信号４４１を１つ入力する
と、波長λ２−Δλ２の光パルス４４２と波長λ２＋Δ
λ２の光パルス４４３とがマッハツェンダ変調器１３５
から出力される。これらの光パルス４４２、４４３は、
変調器１３３から出力される主信号の光パルス４４４と
ともに光ファイバ１３７で伝送される。
【０１２９】光ファイバ１３７で伝送されてきた波長λ
２−Δλ２の光パルス４４２’、波長λ２＋Δλ２の光
パルス４４３’及び波長λ１の光パルス４４４’の中か
ら、波長λ２−Δλ２の光パルス４４２’及び波長λ２
＋Δλ２の光パルス４４３’だけが光フィルタ１３８で
抽出され、検出器１３９に送られる。
【０１３０】検出器１３９がこれらの光パルス４４
２’、４４３’を検出すると、光パルス４４２’、４４
３’のパルス間隔ｄ＋Δｄを計測し、伝送前の光パルス
４４２、４４３のパルス間隔ｄと比較することにより、
パルス間隔の変化分Δｄを算出する。この結果、このパ
ルス間隔の変化分Δｄに基づいて、光ファイバ１３７の
波長分散を（１２）式により求めることができる。
【０１３１】このように、主信号の光パルス４４４’の
波長λ１と分散測定用の光パルス４４２’、４４３’の
波長λ２−Δλ２、λ２＋Δλ２とが異なるようにする
ことにより、主信号の光パルス４４４’と分散測定用の
光パルス４４２’、４４３’とが混在している信号の中
から、分散測定用の光パルス４４２’、４４３’だけを
光フィルタ１３８で容易に抽出することが可能となる。
【０１３２】なお、分散測定用の光源の波長が主信号光
の波長と異なる場合、波長の差による光ファイバ１３７
の２次分散を考慮して分散値を測定するようにしてもよ
い。図１７は、本発明の第５実施例に係わる分散測定装
置の構成例を示すブロック図である。この第５実施例に
係わる分散測定装置は、伝送後の光パルスを電気信号に
変換し、その電気信号の周波数成分に基づいて、伝送路
の分散量を求めるものである。なお、以下の実施例で
は、マッハツェンダ変調器として、ＬｉＮｂＯ 3 変調器
を用いた場合を例にとって説明する。
【０１３３】図１７において、レーザーダイオード１４
１から出射されるレーザー光がＬｉＮｂＯ3 変調器１４
２に入力されるとともに、パルス発生器１４３で生成さ
れるパルス信号４５１がＬｉＮｂＯ3 変調器１４２に入
力される。ここで、パルス発生器１４３は、例えば、Ｌ
ｉＮｂＯ3 変調器１４２を片側駆動するとともに、駆動
電圧Ｖｉｎを半波長電圧Ｖπの２倍に設定する。
【０１３４】このため、パルス信号４５１を１つ入力す
るだけで、ＬｉＮｂＯ3 変調器１４２から２つの光パル
ス４５２、４５３を出力させることが可能となるととも
に、パルス信号４５１の増加率に対応した波長チャーピ
ングを発生させて、ＬｉＮｂＯ3 変調器１４２から出力
される光パルス４５２、４５３の波長を互いに異なるよ
うにすることが可能となる。
【０１３５】ＬｉＮｂＯ3 変調器１４２から出力された
光パルス４５２、４５３は光ファイバ１４４に入力され
る。ここで、光パルス４５２と光パルス４５３との時間
間隔ｄを調節することにより、光ファイバ１４４を伝送
後の光パルス４５２’が、光パルス４５３’に吸収され
るようにすることが可能となる。このため、伝送前の光
パルス４５２、４５３による周波数成分を２ｆ０とする
と、光ファイバ１４４の伝送後の光パルス４５３’によ
る周波数成分はｆ０となる。
【０１３６】この光パルス４５３’を光電変換器１４５
で電気信号に変換し、電気フィルタ１４６で周波数成分
２ｆ０の信号を抽出してから、検出器１４７に出力す
る。そして、検出される信号が周波数成分ｆ０の信号だ
けとなり、周波数成分２ｆ０の大きさが０となった時の
時間間隔ｄを読み取ることにより、光ファイバ１４４の
波長分散を求めることが可能となる。
【０１３７】図１８は、伝送前後のパルス列のスペクト
ル成分を比較することにより、分散値を測定する方法を
説明する図である。図１８において、周期が１／ｆ０の
パルス信号４６１、４６５の立ち上がり及び立ち下がり
に対応して、光パルス４６２〜４６４が生成されてい
る。このため、光パルス４６２〜４６４による周波数成
分は２ｆ０となる。この光パルス４６２〜４６４を伝送
すると、パルス信号４６１、４６５の立ち上がり時に生
成された光パルス４６２、４６５とパルス信号４６１の
立ち下がり時に生成された光パルス４６３とは波長が異
なることから、光パルス４６２、４６５と光パルス４６
３との間で群遅延差が発生し、伝送前の光パルス４６２
〜４６４と伝送後の光パルス４６２’〜４６４’との間
で、パルス間隔が異なるようになる。
【０１３８】そして、さらに伝送を続けると、光パルス
４６３’は光パルス４６４’に吸収され、光パルス４６
４’’が生成される。この時、光パルス４６２’’、４
６４’’による周波数成分はｆ０となる。
【０１３９】この伝送後の光パルスによる周波数成分を
検出することにより、伝送路の分散補償量を設定するこ
とが可能となる。図１９（ａ）は、本発明の第１実施例
に係わる分散補償装置を無中継伝送システムに適用した
構成を示すブロック図である。この第１実施例に係わる
分散補償装置は、単一光源から出力された光を波長の異
なる複数の光パルスに変換し、この光パルスを伝送路で
伝送させた時の分散量に基づいて、伝送路の分散補償を
行うものである。なお、この方法は、システム立ち上げ
時に伝送路の分散値の測定が必要な場合に利用可能なも
のである。
【０１４０】図１９（ａ）において、レーザーダイオー
ド１５１から出射されるレーザー光がＬｉＮｂＯ3 変調
器１５２に入力されるとともに、パルス発生器１５３で
生成されるパルス信号がＬｉＮｂＯ3 変調器１５２に入
力される。ここで、パルス発生器１５３は、例えば、Ｌ
ｉＮｂＯ3 変調器１５２を片側駆動するとともに、駆動
電圧Ｖｉｎを半波長電圧Ｖπの２倍に設定する。
【０１４１】このため、パルス信号を１つ入力するだけ
で、ＬｉＮｂＯ3 変調器１５２から２つの光パルスを出
力させることが可能となるとともに、パルス信号の増加
率に対応した波長チャーピングを発生させて、ＬｉＮｂ
Ｏ3 変調器１５２から出力される光パルスの波長を互い
に異なるようにすることが可能となり、分散測定を容易
に行うことが可能となる。
【０１４２】ＬｉＮｂＯ3 変調器１５２から出力された
２つの光パルスは光ファイバ１５５に入力され、光ファ
イバ１５５を伝送後の光パルスが検出器１５６で検出さ
れる。ここで、光ファイバ１５５伝送後の光パルスのパ
ルス間隔ｄ＋Δｄを計測し、光ファイバ１５５伝送前の
光パルスのパルス間隔ｄと比較することにより、パルス
間隔の変化分Δｄを算出する。この結果、このパルス間
隔の変化分Δｄに基づいて、光ファイバ１５５の波長分
散を（１２）式により求めることができる。
【０１４３】検出器１５６は、波長分散の検出結果を分
散補償器１５７に出力する。分散補償器１５７は、検出
器１５６から出力された波長分散の検出結果に基づい
て、光ファイバ１５５の波長分散を補償する。この結
果、主信号発生装置１５４から出力された主信号を光フ
ァイバ１５５で伝送させて主信号検出装置１５８に送る
場合、光ファイバ１５５の伝送中に発生する波長分散を
分散補償器１５７により補償することが可能となり、超
高速光伝送が可能となる。
【０１４４】例えば、４０Ｇｂ／ｓの信号を１．３μｍ
零分散シングルモードファイバで５０ｋｍだけ伝送させ
る場合、検出器１５６から出力された波長分散の検出結
果に基づいて、分散補償ファイバの長さを厳密に調節す
ることにより、１．３μｍ零分散シングルモードファイ
バの波長分散を正確に補償することが可能となり、分散
補償トレランスがわずかしかない場合においても、光信
号を正確に伝送することが可能となる。
【０１４５】図１９（ｂ）は、本発明の第１実施例に係
わる分散補償装置を多中継伝送システムに適用した構成
を示すブロック図である。図１９（ｂ）において、レー
ザーダイオード１６１から出射されるレーザー光がＬｉ
ＮｂＯ3 変調器１６２に入力されるとともに、パルス発
生器１６３で生成されるパルス信号がＬｉＮｂＯ3 変調
器１６２に入力される。ここで、パルス発生器１６３
は、例えば、ＬｉＮｂＯ3 変調器１６２を片側駆動する
とともに、駆動電圧Ｖｉｎを半波長電圧Ｖπの２倍に設
定する。
【０１４６】このため、パルス信号を１つ入力するだけ
で、ＬｉＮｂＯ3 変調器１６２から２つの光パルスを出
力させることを可能とするとともに、パルス信号の増加
率に対応した波長チャーピングを発生させて、ＬｉＮｂ
Ｏ3 変調器１６２から出力される光パルスの波長を互い
に異なるようにすることが可能となり、分散測定を容易
に行うことが可能となる。
【０１４７】ＬｉＮｂＯ3 変調器１６２から出力された
２つの光パルスは光ファイバ１６５に入力され、光ファ
イバ１６５を伝送した後、中継器１６６で増幅される。
中継器１６６で増幅された光パルスは光ファイバ１６７
に入力され、光ファイバ１６７を伝送した後、中継器１
６８で増幅される。中継器１６８で増幅された光パルス
は検出器１６９で検出される。ここで、光ファイバ１６
５、１６７伝送後の光パルスのパルス間隔ｄ＋Δｄを計
測し、光ファイバ１６５、１６７伝送前の光パルスのパ
ルス間隔ｄと比較することにより、パルス間隔の変化分
Δｄを算出する。この結果、このパルス間隔の変化分Δ
ｄに基づいて、光ファイバ１６５、１６７の波長分散を
（１２）式により求めることができる。
【０１４８】検出器１６９は、波長分散の検出結果を分
散補償器１７０に出力する。分散補償器１７０は、検出
器１６９から出力された波長分散の検出結果に基づい
て、光ファイバ１６５、１６７の波長分散を補償する。
この結果、主信号発生装置１６４から出力された主信号
を主信号検出装置１７１に送る際に、光ファイバ１６
５、１６７を介して伝送させた場合においても、光ファ
イバ１６５、１６７の伝送中の損失を中継器１６６、１
６８で補償することが可能となるとともに、光ファイバ
１６５、１６７の伝送中の波長分散を分散補償器１７０
により補償することが可能となり、超高速長距離光伝送
が可能となる。
【０１４９】図２０（ａ）は、本発明の第２実施例に係
わる分散補償装置を無中継伝送システムに適用した構成
を示すブロック図である。この第２実施例に係わる分散
補償装置は、単一光源から出力された光を波長の異なる
複数の光パルスに変換し、この光パルスを伝送路で伝送
させた時の分散量に基づいて、伝送路の分散補償をダイ
ナミックに行うものである。なお、この方法は、システ
ム立ち上げ時に伝送路の分散値の測定が必要な場合に利
用可能だけでなく、運用時常に分散値をモニタし分散補
償量を適切に設定することが必要な場合に適用可能なも
のである。
【０１５０】図２０（ａ）において、レーザーダイオー
ド１８１から出射されるレーザー光がＬｉＮｂＯ3 変調
器１８２に入力されるとともに、パルス発生器１８３で
生成されるパルス信号がＬｉＮｂＯ3 変調器１８２に入
力される。ここで、パルス発生器１８３は、例えば、Ｌ
ｉＮｂＯ3 変調器１８２を片側駆動するとともに、駆動
電圧Ｖｉｎを半波長電圧Ｖπの２倍に設定する。
【０１５１】このため、パルス信号を１つ入力するだけ
で、ＬｉＮｂＯ3 変調器１８２から２つの光パルスを出
力させることを可能とするとともに、パルス信号の増加
率に対応した波長チャーピングを発生させて、ＬｉＮｂ
Ｏ3 変調器１８２から出力される光パルスの波長を互い
に異なるようにすることが可能となり、分散測定を容易
に行うことが可能となる。
【０１５２】ＬｉＮｂＯ3 変調器１８２から出力された
２つの光パルスは光ファイバ１８５に入力され、光ファ
イバ１８５を伝送後の光パルスが検出器１８６で検出さ
れる。ここで、光ファイバ１８５伝送後の光パルスのパ
ルス間隔ｄ＋Δｄを計測し、光ファイバ１８５伝送前の
光パルスのパルス間隔ｄと比較することにより、パルス
間隔の変化分Δｄを算出する。この結果、このパルス間
隔の変化分Δｄに基づいて、光ファイバ１８５の波長分
散を（１２）式により求めることができる。
【０１５３】検出器１８６は、波長分散の検出結果を可
変分散補償器１８７に出力する。可変分散補償器１８７
は、検出器１８６から出力された波長分散の検出結果に
基づいて、光ファイバ１８５の波長分散をリアルタイム
で補償する。ここで、伝送前後のパルス間隔が等しくな
った時、光ファイバ１８５の分散を完全に補償している
ことになる。この結果、主信号発生装置１８４から出力
された主信号を光ファイバ１８５で伝送させて主信号検
出装置１８８に送る場合、光ファイバ１８５の伝送中に
発生する波長分散を常に最適となるように補償すること
が可能となり、超高速光伝送を常に安定させて行うこと
が可能となる。
【０１５４】図２０（ｂ）は、本発明の第２実施例に係
わる分散補償装置を多中継伝送システムに適用した構成
を示すブロック図である。図２０（ｂ）において、レー
ザーダイオード１９１から出射されるレーザー光がＬｉ
ＮｂＯ3 変調器１９２に入力されるとともに、パルス発
生器１９３で生成されるパルス信号がＬｉＮｂＯ3 変調
器１９２に入力される。ここで、パルス発生器１９３
は、例えば、ＬｉＮｂＯ3 変調器１９２を片側駆動する
とともに、駆動電圧Ｖｉｎを半波長電圧Ｖπの２倍に設
定する。
【０１５５】このため、パルス信号を１つ入力するだけ
で、ＬｉＮｂＯ3 変調器１９２から２つの光パルスを出
力させることを可能とするとともに、パルス信号の増加
率に対応した波長チャーピングを発生させて、ＬｉＮｂ
Ｏ3 変調器１９２から出力される光パルスの波長を互い
に異なるようにすることが可能となり、波長分散を容易
に測定することが可能となる。
【０１５６】ＬｉＮｂＯ3 変調器１９２から出力された
２つの光パルスは光ファイバ１９５に入力され、光ファ
イバ１９５を伝送した後、中継器１９６で増幅される。
中継器１９６で増幅された光パルスは光ファイバ１９７
に入力され、光ファイバ１９７を伝送した後、中継器１
９８で増幅される。中継器１９８で増幅された光パルス
は検出器１９９で検出される。ここで、光ファイバ１９
５、１９７伝送後の光パルスのパルス間隔ｄ＋Δｄを計
測し、光ファイバ１９５、１９７伝送前の光パルスのパ
ルス間隔ｄと比較することにより、パルス間隔の変化分
Δｄを算出する。この結果、このパルス間隔の変化分Δ
ｄに基づいて、光ファイバ１９５、１９７の波長分散を
（１２）式により求めることができる。
【０１５７】検出器１９９は、波長分散の検出結果を可
変分散補償器２００に出力する。可変分散補償器２００
は、検出器１９９から出力された波長分散の検出結果に
基づいて、光ファイバ１９５、１９７の波長分散をリア
ルタイムで補償する。ここで、伝送前後のパルス間隔が
等しくなった時、光ファイバ１９５、１９７の分散を完
全に補償していることになる。この結果、光送信機１９
４から出力された主信号を光受信機２０１に送る際に、
光ファイバ１９５、１９７を介して伝送させた場合にお
いても、光ファイバ１９５、１９７の伝送中の損失を中
継器１９６、１９８により補償することが可能となると
ともに、光ファイバ１９５、１９７の伝送中の波長分散
を分散補償器２００により補償することが可能となり、
超高速長距離光伝送が可能となる。
【０１５８】なお、可変分散補償器１８７、２００を固
定分散補償器と組み合わせて使用するようにしてもよ
い。図２１は、図２０の可変分散補償器１８７、２００
の構成例を示すブロック図である。
【０１５９】図２１において、２１１は光スイッチ、２
１２は波長分散の検出信号に基づいて光スイッチ２１１
の切り換えを制御する切り換え制御部、２１３は長さの
異なる分散補償ファイバ２１４〜２２２により構成され
る分散補償器である。
【０１６０】切り換えを制御部２１２は、波長分散の検
出信号が入力されると、入力された波長分散を補償する
分散補償ファイバ２１４〜２２２を選択し、光スイッチ
２１１の切り換えを制御する。切り換えを制御部２１２
により光スイッチ２１１の切り換えが行われると、入力
光は選択された分散補償ファイバ２１４〜２２２に導か
れ、選択された分散補償ファイバ２１４〜２２２に入射
する。そして、選択された分散補償ファイバ２１４〜２
２２を入力光が通過することにより、入力光の分散が補
償される。
【０１６１】図２２（ａ）は、本発明の第３実施例に係
わる分散補償装置を無中継伝送システムに適用した構成
を示すブロック図である。この第３実施例に係わる分散
補償装置は、伝送路の分散量に基づいて主信号光の波長
を変化させることにより、主信号光の波長分散を補償す
るようにしたものである。
【０１６２】図２２（ａ）において、レーザーダイオー
ド２２１から出射されるレーザー光がＬｉＮｂＯ3 変調
器２２２に入力されるとともに、パルス発生器２２３で
生成されるパルス信号がＬｉＮｂＯ3 変調器２２２に入
力される。ここで、パルス発生器２２３は、例えば、Ｌ
ｉＮｂＯ3 変調器２２２を片側駆動するとともに、駆動
電圧Ｖｉｎを半波長電圧Ｖπの２倍に設定する。
【０１６３】このため、パルス信号を１つ入力するだけ
で、ＬｉＮｂＯ3 変調器２２２から２つの光パルスを出
力させることを可能とするとともに、パルス信号の増加
率に対応した波長チャーピングを発生させて、ＬｉＮｂ
Ｏ3 変調器２２２から出力される光パルスの波長を互い
に異なるようにすることが可能となり、分散測定を容易
に行うことが可能となる。
【０１６４】ＬｉＮｂＯ3 変調器２２２から出力された
２つの光パルスは光ファイバ２２５に入力され、光ファ
イバ２２５を伝送後の光パルスが検出器２２６で検出さ
れる。ここで、光ファイバ２２５伝送後の光パルスのパ
ルス間隔ｄ＋Δｄを計測し、光ファイバ２２５伝送前の
光パルスのパルス間隔ｄと比較することにより、パルス
間隔の変化分Δｄを算出する。この結果、このパルス間
隔の変化分Δｄに基づいて、光ファイバ２２５の波長分
散を（１２）式により求めることができる。
【０１６５】検出器２２６は、波長分散の検出結果を波
長制御部２２９に出力する。波長制御部２２９は、検出
器２２６から出力された波長分散の検出結果に基づい
て、主信号発生装置２２４から出力されるレーザー光の
波長を変更し、光ファイバ２２５の波長分散を補償す
る。ここで、主信号発生装置２２４から出力されるレー
ザー光の波長変化量Δλ′（ｎｍ）は、 Δλ′＝Δｄ／（Ｄ・Ｌ） ・・・（１３） の関係から設定する。ただし、Δｄ（ｐｓ）はパルスの
広がり、Ｄ（ｐｓ／ｎｍ／ｋｍ）は伝送路の波長分散、
Ｌ（ｋｍ）は伝送距離である。
【０１６６】この結果、主信号発生装置２２４から出力
された主信号を光ファイバ２２５で伝送させて主信号検
出装置２２８に送る場合、光ファイバ２２５の伝送中に
発生する波長分散を補償することが可能となり、超高速
光伝送が可能となる。
【０１６７】このように、光源の波長を調節することに
より伝送路の分散補償を行うことが可能となり、分散補
償を行う際に必要な部品数を削減して、分散補償装置の
小型軽量化及び低コスト化が可能となる。
【０１６８】なお、主信号発生装置２２４から出力され
るレーザー光の波長を変更するために、主信号発生装置
２２４の光源として波長可変レーザーを用いるようにし
てもよい。
【０１６９】また、伝送路に分散補償器２２７を設け、
この分散補償器２２７により、光ファイバ２２５の分散
補償を大まかに行い、主信号発生装置２２４から出力さ
れるレーザー光の波長を変更することにより、光ファイ
バ２２５の分散補償を精密に行うようにしてもよい。
【０１７０】図２２（ｂ）は、本発明の第３実施例に係
わる分散補償装置を多中継伝送システムに適用した構成
を示すブロック図である。図２２（ｂ）において、レー
ザーダイオード２３１から出射されるレーザー光がＬｉ
ＮｂＯ3 変調器２３２に入力されるとともに、パルス発
生器２３３で生成されるパルス信号がＬｉＮｂＯ3 変調
器２３２に入力される。ここで、パルス発生器２３３
は、例えば、ＬｉＮｂＯ3 変調器２３２を片側駆動する
とともに、駆動電圧Ｖｉｎを半波長電圧Ｖπの２倍に設
定する。
【０１７１】このため、パルス信号を１つ入力するだけ
で、ＬｉＮｂＯ3 変調器２３２から２つの光パルスを出
力させることを可能とするとともに、パルス信号の増加
率に対応した波長チャーピングを発生させて、ＬｉＮｂ
Ｏ3 変調器２３２から出力される光パルスの波長を互い
に異なるようにすることが可能となり、分散測定を容易
に行うことが可能となる。
【０１７２】ＬｉＮｂＯ3 変調器２３２から出力された
２つの光パルスは光ファイバ２３５に入力され、光ファ
イバ２３５を伝送した後、中継器２３６で増幅される。
中継器２３６で増幅された光パルスは光ファイバ２３７
に入力され、光ファイバ２３７を伝送した後、中継器２
３８で増幅される。中継器２３８で増幅された光パルス
は検出器２３９で検出される。ここで、光ファイバ２３
５、２３７伝送後の光パルスのパルス間隔ｄ＋Δｄを計
測し、光ファイバ２３５、２３７伝送前の光パルスのパ
ルス間隔ｄと比較することにより、パルス間隔の変化分
Δｄを算出する。この結果、このパルス間隔の変化分Δ
ｄに基づいて、光ファイバ２３５、２３７の波長分散を
（１２）式により求めることができる。
【０１７３】検出器２３９は、波長分散の検出結果を波
長制御部２４２に出力する。波長制御部２４２は、検出
器２３９から出力された波長分散の検出結果に基づい
て、主信号発生装置２３４から出力されるレーザー光の
波長を変更し、光ファイバ２３６、２３８の波長分散を
補償する。ここで、主信号発生装置２３４から出力され
るレーザー光の波長変化量Δλ′（ｎｍ）は（１３）式
により設定することができる。
【０１７４】この結果、主信号発生装置２３４から出力
された主信号を主信号検出装置２４１に送る際に、光フ
ァイバ２３５、２３７を介して伝送させた場合において
も、伝送中の損失を中継器２３６、２３８で補償するこ
とが可能となるとともに、伝送中の波長分散を補償する
ことが可能となり、超高速長距離光伝送が可能となる。
【０１７５】なお、主信号発生装置２３４から出力され
るレーザー光の波長を変更するために、主信号発生装置
２３４の光源として波長可変レーザーを用いるようにし
てもよい。
【０１７６】また、伝送路に分散補償器２４０を設け、
この分散補償器２４０により、光ファイバ２３５、２３
７の分散補償を大まかに行い、主信号発生装置２３４か
ら出力されるレーザー光の波長を変更することにより、
光ファイバ２３５、２３７の分散補償を精密に行うよう
にしてもよい。
【０１７７】図２３（ａ）は、本発明の第４実施例に係
わる分散補償装置を無中継伝送システムに適用した構成
を示すブロック図である。この第４実施例に係わる分散
補償装置は、伝送路の分散量に基づいて主信号光の出力
パワーを変化させることにより、主信号光の波長分散を
補償するようにしたものである。
【０１７８】図２３（ａ）において、レーザーダイオー
ド２５１から出射されるレーザー光がＬｉＮｂＯ3 変調
器２５２に入力されるとともに、パルス発生器２５３で
生成されるパルス信号がＬｉＮｂＯ3 変調器２５２に入
力される。ここで、パルス発生器２５３は、例えば、Ｌ
ｉＮｂＯ3 変調器２５２を片側駆動するとともに、駆動
電圧Ｖｉｎを半波長電圧Ｖπの２倍に設定する。
【０１７９】このため、パルス信号を１つ入力するだけ
で、ＬｉＮｂＯ3 変調器２５２から２つの光パルスを出
力させることを可能とするとともに、パルス信号の増加
率に対応した波長チャーピングを発生させて、ＬｉＮｂ
Ｏ3 変調器２５２から出力される光パルスの波長を互い
に異なるようにすることが可能となり、分散測定を容易
に行うことが可能となる。
【０１８０】ＬｉＮｂＯ3 変調器２５２から出力された
２つの光パルスは光ファイバ２５５に入力され、光ファ
イバ２５５を伝送後の光パルスが検出器２５６で検出さ
れる。ここで、光ファイバ２５５伝送後の光パルスのパ
ルス間隔ｄ＋Δｄを計測し、光ファイバ２５５伝送前の
光パルスのパルス間隔ｄと比較することにより、パルス
間隔の変化分Δｄを算出する。この結果、このパルス間
隔の変化分Δｄに基づいて、光ファイバ２５５の波長分
散を（１２）式により求めることができる。
【０１８１】検出器２５６は、波長分散の検出結果を光
パワー制御部２５９に出力する。光パワー制御部２５９
は、検出器２５６から出力された波長分散の検出結果に
基づいて、主信号発生装置２４４から出力されるレーザ
ー光の光パワーを変更し、光ファイバ２５５の波長分散
を補償する。ここで、レーザー光の光パワーを変更して
波長分散を補償するために、光ファイバ２５５への光入
力パワーの大きさにより生じる非線形性を利用する。こ
の非線形性により、光ファイバ２５５を伝送する光パル
スは圧縮または広がりを受けるので、光出力パワーを変
化させることにより、主信号光の分散による影響を調節
することができる。
【０１８２】この結果、主信号発生装置２５４から出力
された主信号を光ファイバ２５５で伝送させて主信号検
出装置２５８に送る場合、光ファイバ２５５の伝送中に
発生する波長分散を補償することが可能となり、超高速
光伝送が可能となる。
【０１８３】このように、光出力パワーを調節すること
により伝送路の分散補償を行うことが可能となり、分散
補償を行う際に必要な部品数を削減して、分散補償装置
の小型軽量化及び低コスト化が可能となる。
【０１８４】なお、伝送路に分散補償器２５７を設け、
この分散補償器２５７により、光ファイバ２５５の分散
補償を大まかに行い、主信号発生装置２５４から出力さ
れるレーザー光の光出力パワーを変更することにより、
光ファイバ２５５の分散補償を精密に行うようにしても
よい。
【０１８５】また、主信号発生装置２５４から出力され
るレーザー光の光出力パワーを変更するとともに、主信
号発生装置２５４から出力されるレーザー光の波長も同
時に変更することにより、光ファイバ２５５の分散補償
を行うようにしてもよい。
【０１８６】図２３（ｂ）は、本発明の第４実施例に係
わる分散補償装置を多中継伝送システムに適用した構成
を示すブロック図である。図２３（ｂ）において、レー
ザーダイオード２６１から出射されるレーザー光がＬｉ
ＮｂＯ3 変調器２６２に入力されるとともに、パルス発
生器２６３で生成されるパルス信号がＬｉＮｂＯ3 変調
器２６２に入力される。ここで、パルス発生器２６３
は、例えば、ＬｉＮｂＯ3 変調器２６２を片側駆動する
とともに、駆動電圧Ｖｉｎを半波長電圧Ｖπの２倍に設
定する。
【０１８７】このため、パルス信号を１つ入力するだけ
で、ＬｉＮｂＯ3 変調器２６２から２つの光パルスを出
力させることを可能とするとともに、パルス信号の増加
率に対応した波長チャーピングを発生させて、ＬｉＮｂ
Ｏ3 変調器２６２から出力される光パルスの波長を互い
に異なるようにすることが可能となり、分散測定を容易
に行うことが可能となる。
【０１８８】ＬｉＮｂＯ3 変調器２６２から出力された
２つの光パルスは光ファイバ２６５に入力され、光ファ
イバ２６５を伝送した後、中継器２６６で増幅される。
中継器２６６で増幅された光パルスは光ファイバ２６７
に入力され、光ファイバ２６７を伝送した後、中継器２
６８で増幅される。中継器２６８で増幅された光パルス
は検出器２６９で検出される。ここで、光ファイバ２６
５、２６７伝送後の光パルスのパルス間隔ｄ＋Δｄを計
測し、光ファイバ２６５、２６７伝送前の光パルスのパ
ルス間隔ｄと比較することにより、パルス間隔の変化分
Δｄを算出する。この結果、このパルス間隔の変化分Δ
ｄに基づいて、光ファイバ２６５、２６７の波長分散を
（１２）式により求めることができる。
【０１８９】検出器２６９は、波長分散の検出結果を光
パワー制御部２７２に出力する。光パワー制御部２７２
は、検出器２６９から出力された波長分散の検出結果に
基づいて、主信号発生装置２６４から出力されるレーザ
ー光の光パワーを変更し、光ファイバ２６５、２６７の
波長分散を補償する。ここで、レーザー光の光パワーを
変更して波長分散を補償するために、光ファイバ２６
５、２６７への光入力パワーの大きさにより生じる非線
形性を利用する。この非線形性により、光ファイバ２６
５、２６７を伝送する光パルスは圧縮または広がりを受
けるので、光出力パワーを変化させることにより、主信
号光の分散による影響を調節することができる。
【０１９０】この結果、主信号発生装置２６４から出力
された主信号を主信号検出装置２７１に送る際に、光フ
ァイバ２６５、２６７を介して伝送させた場合において
も、伝送中の損失を中継器２６６、２６８で補償するこ
とが可能となるとともに、伝送中の波長分散を補償する
ことが可能となり、超高速長距離光伝送が可能となる。
【０１９１】なお、伝送路に分散補償器２７０を設け、
この分散補償器２７０により、光ファイバ２６５、２６
３７の分散補償を大まかに行い、主信号発生装置２６４
から出力されるレーザー光の光出力パワーを変更するこ
とにより、光ファイバ２６５、２６７の分散補償を精密
に行うようにしてもよい。
【０１９２】また、主信号発生装置２６４から出力され
るレーザー光の光出力パワーを変更するとともに、主信
号発生装置２６４から出力されるレーザー光の波長も同
時に変更することにより、光ファイバ２６５、２６７の
分散補償を行うようにしてもよい。
【０１９３】図２４は、本発明の第５実施例に係わる分
散補償装置の構成を示すブロック図である。この第５実
施例に係わる分散補償装置は、伝送前後のパルス列のス
ペクトル成分を比較することにより、分散補償量を常に
最適値に設定するようにしたものである。
【０１９４】図２４において、レーザーダイオード２８
１から出射されるレーザー光がＬｉＮｂＯ3 変調器２８
２に入力されるとともに、パルス発生器２８３で生成さ
れるパルス信号４７１がＬｉＮｂＯ3 変調器２８２に入
力される。ここで、パルス発生器２８３は、例えば、Ｌ
ｉＮｂＯ3 変調器２８２を片側駆動するとともに、駆動
電圧Ｖｉｎを半波長電圧Ｖπの２倍に設定する。
【０１９５】このため、パルス信号４７１を１つ入力す
るだけで、ＬｉＮｂＯ3 変調器２８２から２つの光パル
ス４７２、４７３を出力させることを可能とするととも
に、パルス信号４７１の増加率に対応した波長チャーピ
ングを発生させて、ＬｉＮｂＯ3 変調器２８２から出力
される光パルス４７２、４７３の波長を互いに異なるよ
うにすることを可能とする。
【０１９６】ＬｉＮｂＯ3 変調器２８２から出力された
光パルス４７２、４７３は光ファイバ２８５に入力され
る。ここで、光パルス４７２と光パルス４７３との時間
間隔ｄを調節することにより、光ファイバ２８５を伝送
後の光パルス４７２’が、光パルス４７３’に吸収され
るようにすることが可能となる。このため、伝送前の光
パルス４７２、４７３による周波数成分を２ｆ０とする
と、光ファイバ２８５の伝送後の周波数成分を光パルス
４７３’による周波数成分ｆ０とすることが可能とな
る。
【０１９７】この光パルス４７３’を光電変換器２８７
で電気信号に変換し、電気フィルタ２８８で周波数成分
２ｆ０の信号を抽出してから、検出器２８９に出力す
る。そして、検出される信号が周波数成分ｆ０の信号だ
けとなり、周波数成分２ｆ０の大きさが０となった時の
時間間隔ｄを読み取ることにより、光ファイバ２８５の
波長分散を求めることが可能となる。検出器２８９は、
電気フィルタ２８８で抽出したパルス列のスペクトル成
分２ｆ０と伝送前のパルス列のスペクトル成分２ｆ０と
を比較し、こららのスペクトル成分が常に同じ大きさに
なるように分散補償量を設定する。分散補償器２８６
は、検出器２８９により設定された分散補償量に基づい
て、光ファイバ２８５で発生する分散値を補償する。こ
の結果、主信号発生装置２８４から出力された主信号を
光ファイバ２８５で伝送させて主信号検出装置２９０に
送る場合、光ファイバ２８５の伝送中に発生する波長分
散を分散補償器２６６により補償することが可能とな
り、超高速光伝送が可能となる。
【０１９８】図２５（ａ）は、本発明の第５実施例に係
わる分散補償装置の構成を示すブロック図である。この
第５実施例に係わる分散補償装置は、測定した分散値か
ら分散補償量を決定し、分散補償量を手動により変化さ
せるようにしたものである。なお、この方法は、システ
ムの立ち上げ時または測定を定期的に行う場合に適用可
能なものである。
【０１９９】図２５（ａ）において、レーザーダイオー
ド３０１から出射されるレーザー光がＬｉＮｂＯ3 変調
器３０２に入力されるとともに、パルス発生器３０３で
生成されるパルス信号がＬｉＮｂＯ3 変調器３０２に入
力される。ここで、パルス発生器３０３は、例えば、Ｌ
ｉＮｂＯ3 変調器３０２を片側駆動するとともに、駆動
電圧Ｖｉｎを半波長電圧Ｖπの２倍に設定する。
【０２００】このため、パルス信号を１つ入力するだけ
で、ＬｉＮｂＯ3 変調器３０２から２つの光パルスを出
力させることを可能とするとともに、パルス信号の増加
率に対応した波長チャーピングを発生させて、ＬｉＮｂ
Ｏ3 変調器３０２から出力される光パルスの波長を互い
に異なるようにすることが可能となり、分散測定を容易
に行うことが可能となる。
【０２０１】ＬｉＮｂＯ3 変調器３０２から出力された
２つの光パルスは光ファイバ３０５に入力され、光ファ
イバ３０５を伝送後の光パルスが検出器３０６で検出さ
れる。ここで、光ファイバ３０５伝送後の光パルスのパ
ルス間隔ｄ＋Δｄを計測し、光ファイバ３０５伝送前の
光パルスのパルス間隔ｄと比較することにより、パルス
間隔の変化分Δｄを算出する。この結果、このパルス間
隔の変化分Δｄに基づいて、光ファイバ３０５の波長分
散を（１２）式により求めることができる。
【０２０２】検出器３０６は、波長分散の検出結果を手
動設定部３０９に出力する。手動設定部３０９は、検出
器３０６から出力された波長分散の検出結果に基づい
て、分散補償器３０７の分散補償量を手動で設定する。
分散補償器３０７は、手動設定部３０９で設定された分
散補償量に基づいて、光ファイバ３０５の波長分散を補
償する。この結果、主信号発生装置３０４から出力され
た主信号を光ファイバ３０５で伝送させて主信号検出装
置３０８に送る場合、光ファイバ３０５の伝送中に発生
する波長分散を分散補償器３０７により補償することが
可能となり、超高速光伝送が可能となる。
【０２０３】図２５（ｂ）は、本発明の第６実施例に係
わる分散補償装置の構成を示すブロック図である。この
第５実施例に係わる分散補償装置は、測定した分散値か
ら分散補償量を決定し、分散補償量を自動的に変化させ
るようにしたものである。
【０２０４】図２５（ｂ）において、レーザーダイオー
ド３１１から出射されるレーザー光がＬｉＮｂＯ3 変調
器３１２に入力されるとともに、パルス発生器３１３で
生成されるパルス信号がＬｉＮｂＯ3 変調器３１２に入
力される。ここで、パルス発生器３１３は、例えば、Ｌ
ｉＮｂＯ3 変調器３１２を片側駆動するとともに、駆動
電圧Ｖｉｎを半波長電圧Ｖπの２倍に設定する。
【０２０５】このため、パルス信号を１つ入力するだけ
で、ＬｉＮｂＯ3 変調器３１２から２つの光パルスを出
力させることを可能とするとともに、パルス信号の増加
率に対応した波長チャーピングを発生させて、ＬｉＮｂ
Ｏ3 変調器３１２から出力される光パルスの波長を互い
に異なるようにすることが可能となり、分散測定を容易
に行うことが可能となる。
【０２０６】ＬｉＮｂＯ3 変調器３１２から出力された
２つの光パルスは光ファイバ３１５に入力され、光ファ
イバ３１５を伝送後の光パルスが検出器３１６で検出さ
れる。ここで、光ファイバ３１５伝送後の光パルスのパ
ルス間隔ｄ＋Δｄを計測し、光ファイバ３１５伝送前の
光パルスのパルス間隔ｄと比較することにより、パルス
間隔の変化分Δｄを算出する。この結果、このパルス間
隔の変化分Δｄに基づいて、光ファイバ３１５の波長分
散を（１２）式により求めることができる。
【０２０７】検出器３１６は、波長分散の検出結果を自
動設定部３１９に出力する。自動設定部３１９は、検出
器３１６から出力された波長分散の検出結果に基づい
て、分散補償器３１７の分散補償量を自動的に設定す
る。分散補償器３１７は、自動設定部３１９で設定され
た分散補償量に基づいて、光ファイバ３１５の波長分散
を補償する。
【０２０８】この結果、主信号発生装置３１４から出力
された主信号を光ファイバ３１５で伝送させて主信号検
出装置３１８に送る場合、光ファイバ３１５の伝送中に
発生する波長分散を分散補償器３１７によりリアルタイ
ムで補償することが可能となり、超高速光伝送を安定し
て行うことが可能となる。また、ＣＰＵ等を適用するこ
とにより、分散値測定や分散補償量の設定等のシステム
管理が可能になる。
【０２０９】図２６は、本発明の一実施例に係わる光パ
ルス生成装置の構成を示すブロック図である。図２６に
おいて、レーザーダイオード３３１から出射される波長
λのレーザー光がマッハツェンダ変調器３３２に入力さ
れるとともに、パルス発生器３３３で生成されるパルス
信号４８１がマッハツェンダ変調器３３２に入力され
る。ここで、パルス発生器３３３は、例えば、マッハツ
ェンダ変調器３３２を片側駆動するとともに、駆動電圧
Ｖｉｎを半波長電圧Ｖπの２倍に設定する。
【０２１０】このため、パルス信号を１つ入力するだけ
で、マッハツェンダ変調器３３２から２つの光パルス４
８２、４８３を出力させることを可能とするとともに、
パルス信号の増加率に対応した波長チャーピングΔλを
発生させて、マッハツェンダ変調器３３２から出力され
る光パルス４８２、４８３の波長を互いに異なるように
することを可能とする。さらに、パルス発生器３３３か
ら出力されるパルス信号４８１のパルス幅を変化させる
ことにより、マッハツェンダ変調器３３２から出力され
る光パルス４８２、４８３の時間間隔を任意に設定する
ことを可能とする。
【０２１１】マッハツェンダ変調器３３２から出力され
た波長λ＋Δλの光パルス４８２及び波長λ−Δλの光
パルス４８３は、光フィルタ３３４、３３５に入力され
る。光フィルタ３３４は、波長λ＋Δλの光を通過させ
るとともに、波長λ−Δλの光を遮断する。光フィルタ
３３５は、波長λ−Δλの光を通過させるとともに、波
長λ＋Δλの光を遮断する。このため、波長λ＋Δλの
光パルス４８２が光フィルタ３３４から出力されるとと
もに、波長λ−Δλの光パルス４８３が光フィルタ３３
５から出力され、波長の異なる光パルス４８２、４８３
を分離して取り出すことが可能となるこのように、マッ
ハツェンダ変調器３３２から出力される光パルス４８
２、４８３を２つの波長光源として用いることにより、
波長多重（ＷＤＭ）伝送の波長光源として適用すること
が可能となる。
【０２１２】なお、マッハツェンダ変調器３３２から出
力される光パルス４８２、４８３をそのまま短パルス光
源として用いるようにしてもよく、超高速な光時分割多
重（ＯＴＤＭ）伝送やソリトン伝送の波長光源として適
用することが可能となる。
【０２１３】以上、本発明の実施例について説明した
が、本発明は上述した実施例に限定されることなく、本
発明の技術的思想の範囲内で他の様々の変更が可能であ
る。例えば、上述した実施例では、マッハツェンダ変調
器から出力される光パルスに対して波長チャーピングを
発生させることにより、波長の異なる光パルスを生成す
る場合について説明したが、これらの光パルスの波長を
一致させるようにしてもよい。波長が一致した複数の光
パルスを生成する場合、マッハツェンダ変調器の２つの
導波路を伝播する光の位相を同じ大きさで逆方向に変調
する。このことにより、波長チャーピングのない変調を
行うことができ、光時分割多重伝送やソリトン伝送の光
源として適したものとすることが可能となる。
【０２１４】また、マッハツェンダ変調器を駆動するパ
ルス信号の微分値を各パルスごとに変化させるようにし
てもよく、このことにより、波長チャーピングの値を様
々な値に変化させることが可能となることから、様々な
波長を有する光パルスを生成することが可能となり、波
長多重伝送の波長光源として適したものとすることが可
能となる。
【０２１５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
駆動電圧の立ち上がり時に光パルスを生成させるととも
に、駆動電圧の立ち下がり時にも光パルスを生成させる
ようにすることにより、パルス電圧を１つ入力するでけ
で、複数の光パルスを出力させることが可能となり、短
光パルスを簡易な構成で出力することが可能となる。
【０２１６】また、本発明の一態様によれば、駆動電圧
の増加率に対応した波長チャーピングを発生させること
により、駆動電圧が増加する時に出力される光パルスの
波長と、駆動電圧が減少する時に出力される光パルスの
波長とを異なるようにすることが可能となり、パルス電
圧を１つ入力するだけで、波長の異なる複数の光パルス
を出力させることが可能となる。
【０２１７】また、本発明の一態様によれば、マッハツ
ェンダ変調器を用いることにより、駆動電圧の増加に伴
って光出力を周期的に変化させることが可能となり、半
波長電圧を超えるパルス電圧を１つ入力するでけで、複
数の光パルスを出力させることが可能となるとともに、
パルス電圧の増加率に対応した波長チャーピングを発生
させて、光パルスの波長を異なるようにすることが可能
となる。
【０２１８】また、本発明の一態様によれば、ＬｉＮｂ
Ｏ3 変調器を用いることにより、外部変調を効率よく行
うことが可能となる。また、本発明の一態様によれば、
半導体変調器を用いることにより、レーザーダイオード
とマッハツェンダ変調器とを容易に集積化することが可
能となり、分散測定装置のより一層の小型軽量化が可能
となる。
【０２１９】また、本発明の一態様によれば、波長の異
なる複数の光パルスを光フィルタで分離することによ
り、単一波長の短光パルスを簡易な構成で出力すること
が可能となり、超高速光伝送における光源を容易に生成
することが可能となる。
【０２２０】また、本発明の一態様によれば、分岐させ
た片方の光を半波長電圧を超える電圧で変調させること
により、複数の光パルスを出力させることが可能となる
とともに、駆動電圧の増加率に対応した波長チャーピン
グを発生させることが可能となり、波長の異なる複数の
光パルスを単一光源を用いただけで生成することが可能
となる。
【０２２１】また、本発明の一態様によれば、半波長電
圧を超える電圧を片方の電極に入力することにより、分
岐させた光を異なる変調効率で位相変調することが可能
となり、波長の異なる複数の光パルスを単一光源を用い
ただけで生成することが可能となる。
【０２２２】また、本発明の一態様によれば、振幅が半
波長電圧の２倍に設定されたパルス状電圧で変調を行う
ことにより、パルス状電圧を１つ入力するだけで、互い
に波長の異なる２つの光パルスを生成することが可能と
なる。
【０２２３】また、本発明の一態様によれば、単一光源
から出力された光を波長の異なる複数の光パルスに変換
して伝送路に入力することにより、伝送後の光パルスの
間隔に基づいて伝送路の分散量を容易に求めることが可
能となることから、１つの単一光源を伝送路に設けるだ
けで分散量の測定が可能となり、分散測定を簡易な構成
で行うことが可能となる。
【０２２４】また、本発明の一態様によれば、伝送路の
送信側または受信側から波長の異なる複数の光パルスを
入力し、伝送後の光パルスを伝送路の受信側または送信
側で検出することにより、伝送路で送られる主信号に影
響を与えることなく、光パルスを伝送路に容易に入力す
ることが可能となるとともに、伝送後の光パルスを伝送
路から容易に取り出すことが可能となる。
【０２２５】また、本発明の一態様によれば、光パルス
を折り返すことにより、伝送路で発生する分散量を増加
させることができ、伝送路の長さが短い場合や、伝送路
の分散が小さい場合においても、伝送路の分散を精度良
く検出することが可能となる。
【０２２６】また、本発明の一態様によれば、伝送路の
送信側または受信側に折り返し手段を設け、光パルスの
入力及び検出を伝送路の受信側または送信側で行うこと
により、伝送路の分散が小さい場合においても、伝送路
の分散を精度良く検出することが可能となるとともに、
光パルスの発生装置及び検出装置を一カ所に配置するこ
とが可能となり、光パルスの発生装置及び検出装置を一
体化することにより、分散測定系の構成をコンパクトに
まとめることが可能となる。
【０２２７】また、本発明の一態様によれば、主信号光
の一部から分散測定の光パルスを生成することにより、
主信号用の光源と分散測定用の光源とを共通化すること
が可能となり、分散測定系のより一層の小型軽量化が可
能となるとともに、主信号の波長と分散測定時の波長と
を一致させることが可能となり、分散測定を精度よく行
うことが可能となる。
【０２２８】また、本発明の一態様によれば、主信号用
の光源と分散測定用の光源とを別々に設けることによ
り、分散測定を行う際の主信号の影響をなくすことがで
きる。また、本発明の一態様によれば、主信号用の光の
波長と分散測定用の光の波長とを異なるようにすること
により、分散測定を行う際に主信号用の光が混在してい
る場合においても、主信号用の光を光フィルタで容易に
除去することが可能となり、分散測定用の光だけを取り
出すことが可能となる。
【０２２９】また、本発明の一態様によれば、単一光源
から生成された波長の異なる複数の光パルスの伝送結果
に基づいて分散補償を行うことにより、１つの単一光源
を伝送路に設けるだけで伝送路の分散補償が可能とな
り、分散補償を簡易な構成で行うことが可能となる。
【０２３０】また、本発明の一態様によれば、伝送路の
送信側または受信側または中継器内に分散補償手段を設
けることにより、光パルスの発生装置、検出装置及び分
散補償装置を一カ所に配置することが可能となり、光パ
ルスの発生装置、検出装置及び分散補償装置を一体化さ
せて、分散補償系の構成をコンパクトにまとめることが
可能となる。
【０２３１】また、本発明の一態様によれば、分散補償
量を可変とすることにより、システム立ち上げ時に伝送
路の分散値の測定を行う場合だけでなく、伝送路を運用
しながら伝送路の分散値をリアルタイムで測定する場合
においても、伝送路の分散補償を精度良く行うことが可
能となり、光伝送のより一層の高速化を達成することが
可能となる。
【０２３２】また、本発明の一態様によれば、伝送路の
分散量に基づいて主信号光の波長を変化させることによ
り、光源の波長を調節するだけで伝送路の分散補償を行
うことが可能となることから、分散補償を行う際に必要
な部品数を削減して、分散補償系のより一層の小型軽量
化及び低コスト化が可能となる。
【０２３３】また、本発明の一態様によれば、伝送路の
分散量に基づいて主信号光の出力パワーを変化させるよ
ことにより、主信号光の出力パワーの非線形性に基づい
て、伝送路を伝番する光パルスを圧縮させたり、広げた
りすることが可能となることから、主信号光の分散によ
る影響を軽減することが可能となる。
【０２３４】また、本発明の一態様によれば、伝送前後
での周波数成分が一致するように伝送路の分散補償を行
うことにより、伝送路の分散補償を容易に行うことが可
能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例に係わる光パルス生成装置の
構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施例に係わる光変調装置の構成を
示すブロック図である。
【図３】本発明の一実施例に係わるマッハツェンダ変調
器の動作を説明する図である。
【図４】本発明の一実施例に係わるマッハツェンダ変調
器の駆動方法を説明する図である。
【図５】本発明の一実施例に係わる光パルス生成方法を
説明する図である。
【図６】本発明の一実施例に係わる光パルス生成方法を
説明する図である。
【図７】駆動電圧のパルス幅を変化させた場合の光パル
スの生成方法を説明する図である。
【図８】駆動電圧の微分値を変化させた場合の光パルス
の生成方法を説明する図である。
【図９】本発明の一実施例に係わる光パルス伝送の実験
結果を示す波形図である。
【図１０】本発明の一実施例に係わる光パルス生成装置
の構成例を示すブロック図である。
【図１１】（ａ）は本発明の一実施例に係わる半導体変
調器の構成例を示す上面図、（ｂ）は図９（ａ）のＡ−
Ａ’線で切断した時の断面図である。
【図１２】（ａ）は本発明の一実施例に係わる光パルス
生成装置を送信側に設置した分散測定装置の構成を示す
ブロック図、（ｂ）は本発明の一実施例に係わる光パル
ス生成装置を受信側に設置した分散測定装置の構成を示
すブロック図である。
【図１３】本発明の一実施例に係わる検出器の構成例を
示すブロック図である。
【図１４】本発明の第２実施例に係わる分散測定装置の
構成例を示すブロック図である。
【図１５】本発明の第３実施例に係わる分散測定装置の
構成例を示すブロック図である。
【図１６】本発明の第４実施例に係わる分散測定装置の
構成例を示すブロック図である。
【図１７】本発明の第５実施例に係わる分散測定装置の
構成例を示すブロック図である。
【図１８】伝送前後のパルス列のスペクトル成分を比較
することにより、分散値を測定する方法を説明する図で
ある。
【図１９】（ａ）は本発明の第１実施例に係わる分散補
償装置を無中継伝送システムに適用した構成を示すブロ
ック図、（ｂ）は本発明の第１実施例に係わる分散補償
装置を多中継伝送システムに適用した構成を示すブロッ
ク図である。
【図２０】（ａ）は本発明の第２実施例に係わる分散補
償装置を無中継伝送システムに適用した構成を示すブロ
ック図、（ｂ）は本発明の第２実施例に係わる分散補償
装置を多中継伝送システムに適用した構成を示すブロッ
ク図である。
【図２１】本発明の一実施例に係わる可変分散補償器の
構成例を示すブロック図である。
【図２２】（ａ）は本発明の第３実施例に係わる分散補
償装置を無中継伝送システムに適用した構成を示すブロ
ック図、（ｂ）は本発明の第３実施例に係わる分散補償
装置を多中継伝送システムに適用した構成を示すブロッ
ク図である。
【図２３】（ａ）は本発明の第４実施例に係わる分散補
償装置を無中継伝送システムに適用した構成を示すブロ
ック図、（ｂ）は本発明の第４実施例に係わる分散補償
装置を多中継伝送システムに適用した構成を示すブロッ
ク図である。
【図２４】本発明の第５実施例に係わる分散補償装置の
構成を示すブロック図である。
【図２５】（ａ）は本発明の第５実施例に係わる分散補
償装置の構成を示すブロック図、（ｂ）は本発明の第６
実施例に係わる分散補償装置の構成を示すブロック図で
ある。
【図２６】本発明の一実施例に係わる光パルス生成装置
の構成を示すブロック図である。
【図２７】伝送速度４０Ｇｂｉｔでの分散補償トレラン
スの小ささを示す実験結果を説明する図である。
【図２８】従来の分散測定装置の構成例を示すブロック
図である。
【符号の説明】
１、１２ 光変調手段 ２ 波長チャーピング発生手段 ３ 駆動電圧設定手段 １１ 切り換え手段 ２１、２２ａ、２２ｂ、２３、３１、３２ａ、３２ｂ、
３３、５２、５３ａ、５３ｂ、５４ 光導波路 ３４、５５ａ、５５ｂ、６１ 電極 ４１、４４、４７、７１、７６、１０１、１０６、１１
２、１２２、１３２、１３４、１４１、１５１、１６
１、１８１、１９１、２２１、２３１、２５１、２６
１、２８１、３０１、３１１、３３１ レーザーダイオ
ード ４２、７２、７７、１０７、１１３、１２４、１３５、
３３２ マッハツェンダ変調器 ４３、４６、４９、７３、７８、１０８、１１４、１２
５、１３６、１４３、１５３、１６３、１８３、１９
３、２２３、２３３、２５３、２６３、２８３、３０
３、３１３、３３３ パルス発生器 ４５、１４２、１５２、１６２、１８２、１９２、２２
２、２３２、２５２、２６２、２８２、３０２、３１２
ＬｉＮｂＯ3 変調器 ４８ 半導体変調器 ５１ ｎ−ＩｎＰ基板 ６２ ｎ−ＩｎＡｌＡｓ層 ６３ａ、６３ｂ 多重量子井戸層 ６４ａ、６４ｂ ｐ−ＩｎＡｌＡｓ層 ６５ａ、６５ｂ ｐ−ＩｎＧａＡｓ層 ６６ ポリイミド樹脂 ７４、７９、９１、９３、９６、１０４、１１０、１１
６、１２６、１３７、１４４、１５５、１６５、１６
７、１８５、１９５、１９７、２１４〜２２２、２２
５、２３５、２３７、２５５、２６５、２６７、２８
５、３０５、３１５光ファイバ ７５、８０、９２、１０３、１０９、１１５、１２８、
１３９、１４７、１５６、１６９、１８６、１９９、２
２６、２３９、２５６、２６９、２８９、３０６、３１
６ 検出器 ９４ フォトダイオード ９５ サンプリングオシロスコープ ９７、１４５、２８７ 光電変換器 ９８、１４６、２８８ 電気フィルタ ９９ スペクトラムアナライザ １０２、１２３、１３３ 変調器 １０５、１１１、１１７ 折り返し装置 １２１、１３１、１５４、１６４、１８４、２２４、２
３４、２５４、２６４、３０４、３１４ 主信号発生装
置 １２７、１３８、３３４、３３５ 光フィルタ １５７、１７０、２２７、２５７、２７０、２８６、３
０７、３１７ 分散補償器 １５８、１７１、１８８、２２８、２４１、２５８、２
７１、２８４、２９０３０８、３１８ 主信号検出装置 １６６、１６８、１９６、１９８、２３６、２３８、２
６６、２６８ 中継器１８７、２００、２１３ 可変分
散補償器 １９４ 光送信機 ２０１ 光受信機 ２１１ 光スイッチ ２１２ 切り換え制御部 ２２９、２４２ 波長変更部 ２５９、２７２ 光パワー変更部 ３０９ 手動設定部 ３１９ 自動設定部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｈ０４Ｂ 10/142 Ｈ０４Ｂ 9/00 Ｍ 10/04 10/06 10/02 10/18 (72)発明者 大井 寛己 神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番 １号 富士通株式会社内 (72)発明者 渡辺 茂樹 神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番 １号 富士通株式会社内

Claims (35)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 駆動電圧の増加に伴って光出力が増減す
    る光変調手段と、 前記駆動電圧の範囲を前記光出力が増減する範囲に設定
    する駆動電圧設定手段とを備えることを特徴とする光パ
    ルス生成装置。
  2. 【請求項２】 前記光変調手段は、 前記駆動電圧の増加率に対応した波長チャーピングを発
    生させる波長チャーピング発生手段を備えることを特徴
    とする請求項１に記載の光パルス生成装置。
  3. 【請求項３】 前記光変調手段は、変調特性が周期的に
    変化することを特徴とする請求項１または２に記載の光
    パルス生成装置。
  4. 【請求項４】 前記駆動電圧設定手段は、半波長電圧を
    超えるパルス状電圧を前記光変調手段に出力することを
    特徴とする請求項３に記載の光パルス生成装置。
  5. 【請求項５】 前記光変調手段は、マッハツェンダ変調
    器であることを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項
    に記載の光パルス生成装置。
  6. 【請求項６】 前記マッハツェンダ変調器は、ＬｉＮｂ
    Ｏ3 変調器であることを特徴とする請求項５に記載の光
    パルス生成装置。
  7. 【請求項７】 前記マッハツェンダ変調器は、半導体変
    調器であることを特徴とする請求項５に記載の光パルス
    生成装置。
  8. 【請求項８】 変調信号に基づいて入力光を変調する光
    変調手段と、 前記光変調手段に電気パルスを出力することにより、波
    長の異なる複数の光パルスを生成させる電気パルス出力
    手段とを備えることを特徴とする光パルス生成装置。
  9. 【請求項９】 前記波長の異なる複数の光パルスを分離
    する光フィルタをさらに備えることを特徴とする請求項
    ８に記載の光パルス生成装置。
  10. 【請求項１０】 入力光を分波させる分波手段と、 前記分波した入力光の位相を異なる変調効率で変調させ
    る位相変調手段と、 前記位相の変調が行われた入力光を合波させる合波手段
    と、 前記位相変調手段に半波長電圧を超える電圧を入力する
    駆動信号入力手段とを備えることを特徴とする光パルス
    生成装置。
  11. 【請求項１１】 第１の光導波路と、 前記第１の光導波路から分岐した第２の光導波路及び第
    ３の光導波路と、 前記第２の光導波路及び前記第３の光導波路を合流させ
    る第４の光導波路と、 前記第２の光導波路に電圧を加える第１の電極と、 前記第３の光導波路に電圧を加える第２の電極と、 半波長電圧を越える電圧を前記第１の電極または前記第
    ２の電極に入力する駆動信号入力手段とを備えることを
    特徴とする光パルス生成装置。
  12. 【請求項１２】 前記駆動信号入力手段は、 振幅が半波長電圧の２倍に設定されたパルス状電圧を発
    生させることを特徴とする請求項１１に記載の光パルス
    生成装置。
  13. 【請求項１３】 変調信号に基づいて入力光を変調する
    光変調手段と、 前記光変調手段にパルス信号を出力することにより、波
    長の異なる複数の光パルスを生成させるパルス信号発生
    手段と、 前記光パルスを伝送路に入力する入力手段と、 前記伝送路から出力された光パルスを検出する検出手段
    と、 前記光パルスの時間間隔に基づいて、前記伝送路の分散
    量を求める分散量算出手段とを備えることを特徴とする
    分散測定装置。
  14. 【請求項１４】 前記光変調手段は、前記伝送路の送信
    側に設けられ、 前記検出手段は、前記伝送路の受信側に設けられている
    ことを特徴とする請求項１３に記載の分散測定装置。
  15. 【請求項１５】 前記光変調手段は、前記伝送路の受信
    側に設けられ、 前記検出手段は、前記伝送路の送信側に設けられている
    ことを特徴とする請求項１３に記載の分散測定装置。
  16. 【請求項１６】 前記光パルスを折り返す折り返し手段
    をさらに備えることを特徴とする請求項１３に記載の分
    散測定装置。
  17. 【請求項１７】 前記折り返し手段は、前記伝送路の送
    信側に設けられ、 前記光変調手段及び前記検出手段は、前記伝送路の受信
    側に設けられていることを特徴とする請求項１６に記載
    の分散測定装置。
  18. 【請求項１８】 前記折り返し手段は、前記伝送路の受
    信側に設けられ、 前記光変調手段及び前記検出手段は、前記伝送路の送信
    側に設けられていることを特徴とする請求項１６に記載
    の分散測定装置。
  19. 【請求項１９】 変調信号に基づいて入力光を変調する
    光変調手段と、 前記光変調手段にパルス信号を出力することにより、波
    長の異なる複数の光パルスを生成させるパルス信号発生
    手段と、 前記光パルスを伝送路に入力する入力手段と、 前記伝送路で伝送された光パルスを電気信号に変換する
    光電変換手段と、 前記電気信号の周波数成分に基づいて、前記伝送路の分
    散量を求める分散量算出手段とを備えることを特徴とす
    る分散測定装置。
  20. 【請求項２０】 光を出力する発光手段と、 第１の変調信号に基づいて前記光を変調する第１の光変
    調手段と、 第２の変調信号に基づいて前記光を変調する第２の光変
    調手段と、 前記第１の光変調手段からの第１の出力光及び前記第２
    の光変調手段からの第２の出力光を伝送路に入力する入
    力手段と、 前記伝送路から前記第２の出力光を取り出す光フィルタ
    と、 前記第２の出力光に基づいて、前記伝送路の分散量を求
    める分散量算出手段とを備えることを特徴とする光伝送
    装置。
  21. 【請求項２１】 第１の変調信号に基づいて第１の入力
    光を変調する第１の光変調手段と、 第２の変調信号に基づいて第２の入力光を変調する第２
    の光変調手段と、 前記第１の光変調手段からの第１の出力光及び前記第２
    の光変調手段からの第２の出力光を伝送路に入力する入
    力手段と、 前記伝送路から前記第２の出力光を取り出す光フィルタ
    と、 前記第２の出力光に基づいて、前記伝送路の分散量を求
    める分散量算出手段とを備えることを特徴とする光伝送
    装置。
  22. 【請求項２２】 前記第１の入力光の波長と前記第２の
    入力光の波長は異なることを特徴とする請求項２１に記
    載の光伝送装置。
  23. 【請求項２３】 変調信号に基づいて入力光を変調する
    光変調手段と、 前記光変調手段にパルス信号を出力することにより、波
    長の異なる複数の光パルスを生成させるパルス信号発生
    手段と、 前記光パルスを伝送路に入力する入力手段と、 前記伝送路による伝送された光パルスを検出する検出手
    段と、 前記光パルスの時間間隔に基づいて、前記伝送路の分散
    量を求める分散量算出手段と、 前記分散量に基づいて、前記伝送路の分散を補償する分
    散補償手段とを備えることを特徴とする分散補償装置。
  24. 【請求項２４】 前記分散補償手段は、前記伝送路の送
    信側または受信側または中継器内に設けられていること
    を特徴とする請求項２３に記載の分散補償装置。
  25. 【請求項２５】 前記分散補償手段は、前記分散補償量
    が可変であることを特徴とする請求項２３または２４に
    記載の分散補償装置。
  26. 【請求項２６】 前記分散補償手段は、前記分散補償量
    を手動により変化させることを特徴とする請求項２５に
    記載の分散補償装置。
  27. 【請求項２７】 前記分散補償手段は、前記分散補償量
    を自動的に変化させることを特徴とする請求項２５に記
    載の分散補償装置。
  28. 【請求項２８】 前記分散補償手段は、 前記分散量に基づいて、主信号光の波長を変化させる波
    長変更手段を備えることを特徴とする請求項２３〜２７
    のいずれか１項に記載の分散補償装置。
  29. 【請求項２９】 前記分散補償手段は、 前記分散量に基づいて、主信号光の出力パワーを変化さ
    せる光パワー変更手段を備えることを特徴とする請求項
    ２３〜２８のいずれか１項に記載の分散補償装置。
  30. 【請求項３０】 変調信号に基づいて入力光を変調する
    光変調手段と、 前記光変調手段にパルス信号を出力することにより、波
    長の異なる複数の光パルスを生成させるパルス信号発生
    手段と、 前記光パルスを伝送路に入力する入力手段と、 前記伝送路により伝送された光パルスを電気信号に変換
    する光電変換手段と、 前記電気信号の周波数成分を検出する周波数検出手段
    と、 前記電気信号の周波数成分に基づいて、前記伝送路の分
    散量を補償する分散補償手段とを備えることを特徴とす
    る分散補償装置。
  31. 【請求項３１】 光変調器に入力光を供給するステップ
    と、 前記光変調器に変調信号を供給するステップと、 前記変調信号の立ち上がり時に、第１の光パルスを生成
    するステップと、 前記変調信号の立ち下がり時に、第２の光パルスを生成
    するステップとを備えることを特徴とする光パルス生成
    方法。
  32. 【請求項３２】 前記第１の光パルスの生成時に、第１
    の波長チャーピングを付与するステップと、 前記第２の光パルスの生成時に、第２の波長チャーピン
    グを付与するステップとをさらに備えることを特徴とす
    る請求項３１に記載の光パルス生成方法。
  33. 【請求項３３】 入力光を変調することにより、波長の
    異なる複数の光パルスを生成するステップと、 前記複数の光パルスを伝送路により伝送するステップ
    と、 伝送後の光パルスの時間間隔に基づいて、前記伝送路の
    分散量を求めるステップとを備えることを特徴とする分
    散測定方法。
  34. 【請求項３４】 入力光を変調することにより、波長の
    異なる複数の光パルスを生成するステップと、 前記複数の光パルスを伝送路により伝送するステップ
    と、 伝送後の光パルスの時間間隔に基づいて、前記伝送路の
    分散量を求めるステップと、 前記求めた分散量に基づいて、前記伝送路の分散量を補
    償するステップとを備えることを特徴とする分散補償方
    法。
  35. 【請求項３５】 周期的な干渉特性を有する干渉器内の
    光の位相差を利用して光変を行う変調器の駆動方法にお
    いて、 該変調器に与える光の位相差は該干渉器の周期特性で光
    出力が最も低くなる第１の位相差から、光出力が最も高
    くなる第２の位相差を経由して、光出力が最も低くなる
    第３の位相差に変化した後、光出力が最も高くなる第２
    の位相差を経由して、光出力が最も低くなる第１の位相
    差にすることを特徴とする光変調器の駆動方法。
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