JPH1185476A - 乱数発生装置 - Google Patents
乱数発生装置Info
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- JPH1185476A JPH1185476A JP9245681A JP24568197A JPH1185476A JP H1185476 A JPH1185476 A JP H1185476A JP 9245681 A JP9245681 A JP 9245681A JP 24568197 A JP24568197 A JP 24568197A JP H1185476 A JPH1185476 A JP H1185476A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】所望のノイズ特性に応じて、乱数列のビット幅
を調整することにより、SN比に応じた所定の特性を持つ
乱数列を供給できる乱数発生装置を実現する。 【解決手段】 正規乱数発生器10により、正規分布特
性を有する乱数列S10を発生し、シフタ20に供給す
る。シフタ20は、外部から入力されたビット幅制御信
号SCNT に応じて乱数列S10のビット幅を調整し、ビ
ット幅制御信号SCNT がローレベルのとき、乱数列S1
0の上位の2ビットを切り捨て、ビット幅制御信号S
CNT がハイレベルのとき、乱数列S10を1ビット右シ
フトし、さらに最上位ビットMSBを切り捨てて乱数列
S20を発生する。乱数列S20をディジタル/アナロ
グ変換器30によりアナログ信号に変換し、ノイズとし
て外部に供給するので、所望のSN比に応じて最適な特
性を持つ乱数列およびそれに基づいたノイズを発生でき
る。
を調整することにより、SN比に応じた所定の特性を持つ
乱数列を供給できる乱数発生装置を実現する。 【解決手段】 正規乱数発生器10により、正規分布特
性を有する乱数列S10を発生し、シフタ20に供給す
る。シフタ20は、外部から入力されたビット幅制御信
号SCNT に応じて乱数列S10のビット幅を調整し、ビ
ット幅制御信号SCNT がローレベルのとき、乱数列S1
0の上位の2ビットを切り捨て、ビット幅制御信号S
CNT がハイレベルのとき、乱数列S10を1ビット右シ
フトし、さらに最上位ビットMSBを切り捨てて乱数列
S20を発生する。乱数列S20をディジタル/アナロ
グ変換器30によりアナログ信号に変換し、ノイズとし
て外部に供給するので、所望のSN比に応じて最適な特
性を持つ乱数列およびそれに基づいたノイズを発生でき
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、乱数発生装置、例
えば、SN比に応じて生成される乱数列のビット幅を適
切に調整する機能を有する乱数発生装置に関するもので
ある。
えば、SN比に応じて生成される乱数列のビット幅を適
切に調整する機能を有する乱数発生装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】正規分布を有する乱数列をディジタル的
に発生する場合に、生成した乱数列の最下位ビット(L
SB)に比べて標準偏差σがあまりに小さいと、生成さ
れる乱数列が離散的に見える。そこで、標準偏差σ=3
2LSB程度が望ましい。
に発生する場合に、生成した乱数列の最下位ビット(L
SB)に比べて標準偏差σがあまりに小さいと、生成さ
れる乱数列が離散的に見える。そこで、標準偏差σ=3
2LSB程度が望ましい。
【0003】他方、乱数列の分布特性の裾の方まで表現
するためには、必要なビット数が決まる。例えば、乱数
列の分布特性の裾の方において8σまで表現しようとす
る場合には、乱数列における最大な乱数値は、(32×
8×2=512)であり、これを表現するためには、発
生される乱数には最低限として9ビットのビット幅が必
要である。
するためには、必要なビット数が決まる。例えば、乱数
列の分布特性の裾の方において8σまで表現しようとす
る場合には、乱数列における最大な乱数値は、(32×
8×2=512)であり、これを表現するためには、発
生される乱数には最低限として9ビットのビット幅が必
要である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の乱数列の発生方法において、あまり大きな値を発生
する頻度が低いので、または、乱数列をノイズとして信
号に加える前にレベルを適当に抑制しないと、被テスト
対象に悪影響を与えるおそれがあるという不利益があ
る。
来の乱数列の発生方法において、あまり大きな値を発生
する頻度が低いので、または、乱数列をノイズとして信
号に加える前にレベルを適当に抑制しないと、被テスト
対象に悪影響を与えるおそれがあるという不利益があ
る。
【0005】このため、例えば、上述した乱数発生の例
では、出力する乱数列のビット幅を8ビットに制限する
ことが望ましい。上述した例では、上位ビットを除くこ
とにより、±4σに制限することになる。しかし、従来
の乱数発生装置においては、このようなビット幅の制限
が固定になっており、所望のノイズ特性、例えば、SN
比に関係なくこのように一律でビット幅の制限が行なわ
れるので、SN比などの種々の要望に応えられる乱数列
を発生することが困難である。
では、出力する乱数列のビット幅を8ビットに制限する
ことが望ましい。上述した例では、上位ビットを除くこ
とにより、±4σに制限することになる。しかし、従来
の乱数発生装置においては、このようなビット幅の制限
が固定になっており、所望のノイズ特性、例えば、SN
比に関係なくこのように一律でビット幅の制限が行なわ
れるので、SN比などの種々の要望に応えられる乱数列
を発生することが困難である。
【0006】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、その目的は、所望のノイズ特性に応じて、乱
数列のビット幅を調整することにより、SN比が良好な
場合に分布特性の裾の部分まで表現でき、SN比が悪い
場合にノイズの離散性を少なくする乱数列を発生できる
乱数発生装置を提供することにある。
のであり、その目的は、所望のノイズ特性に応じて、乱
数列のビット幅を調整することにより、SN比が良好な
場合に分布特性の裾の部分まで表現でき、SN比が悪い
場合にノイズの離散性を少なくする乱数列を発生できる
乱数発生装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の乱数発生装置は、所定のビット幅を有する
乱数列を発生する乱数発生手段と、所望のSN比に応じ
て、上記乱数発生手段により生成された乱数列のビット
幅を調整し、ビット幅調整後の乱数列を出力するビット
幅制御手段とを有する。
め、本発明の乱数発生装置は、所定のビット幅を有する
乱数列を発生する乱数発生手段と、所望のSN比に応じ
て、上記乱数発生手段により生成された乱数列のビット
幅を調整し、ビット幅調整後の乱数列を出力するビット
幅制御手段とを有する。
【0008】また、本発明では、好適には上記乱数発生
手段は、正規分布に従う所定のビット幅を有する乱数列
を発生する。
手段は、正規分布に従う所定のビット幅を有する乱数列
を発生する。
【0009】また、本発明では、好適には上記ビット幅
制御手段は、良好なSN比が希望された場合に、上記乱
数発生手段により発生されたk(kは正整数)ビットの
乱数列の内、少なくともm(mは正整数、且つ、m≦
k)ビットを選択して出力し、悪いSN比が希望された
場合に、上記乱数発生手段により発生されたkビットの
乱数列の内、上記mビットより下位桁のnビットを選択
して出力する。
制御手段は、良好なSN比が希望された場合に、上記乱
数発生手段により発生されたk(kは正整数)ビットの
乱数列の内、少なくともm(mは正整数、且つ、m≦
k)ビットを選択して出力し、悪いSN比が希望された
場合に、上記乱数発生手段により発生されたkビットの
乱数列の内、上記mビットより下位桁のnビットを選択
して出力する。
【0010】また、本発明では、好適には上記ビット幅
制御手段は、所望のSN比に応じて上記乱数発生手段に
より発生された乱数列を所定のビット数だけシフトして
出力するシフタを有する。
制御手段は、所望のSN比に応じて上記乱数発生手段に
より発生された乱数列を所定のビット数だけシフトして
出力するシフタを有する。
【0011】さらに、本発明では、好適には上記ビット
幅調整手段により出力された乱数列をアナログ信号に変
換するディジタル/アナログ変換手段を有する。
幅調整手段により出力された乱数列をアナログ信号に変
換するディジタル/アナログ変換手段を有する。
【0012】本発明によれば、乱数発生手段により発生
された、例えば、所定のビット幅を持ち、正規分布特性
を有する乱数列がビット幅調整手段に入力され、当該ビ
ット幅調整手段により所望のSN比に応じてビット幅が
調整されて、新しい乱数列が供給される。
された、例えば、所定のビット幅を持ち、正規分布特性
を有する乱数列がビット幅調整手段に入力され、当該ビ
ット幅調整手段により所望のSN比に応じてビット幅が
調整されて、新しい乱数列が供給される。
【0013】良好なSN比が希望された場合に、乱数発
生手段で発生されたkビットの乱数列の内、少なくとも
m(m≦k)ビットが選択されて出力される。逆に悪い
SN比が希望された場合に、乱数発生手段で発生された
kビットの乱数列の内、mビットより下位桁のnビット
が選択されて出力される。例えば、ビット幅制御手段に
おいては、乱数列を所定のビット分だけシフトするシフ
タが設けられ、SN比に応じて乱数発生手段で発生され
た乱数列が所定のビット分だけ右へシフトされ、所定の
ビット分が切り捨てられる。または、乱数発生手段で発
生された乱数列の最上位ビット(MSB)を切り捨てる
ことにより、ビット幅の調整が実現される。
生手段で発生されたkビットの乱数列の内、少なくとも
m(m≦k)ビットが選択されて出力される。逆に悪い
SN比が希望された場合に、乱数発生手段で発生された
kビットの乱数列の内、mビットより下位桁のnビット
が選択されて出力される。例えば、ビット幅制御手段に
おいては、乱数列を所定のビット分だけシフトするシフ
タが設けられ、SN比に応じて乱数発生手段で発生され
た乱数列が所定のビット分だけ右へシフトされ、所定の
ビット分が切り捨てられる。または、乱数発生手段で発
生された乱数列の最上位ビット(MSB)を切り捨てる
ことにより、ビット幅の調整が実現される。
【0014】上述した乱数発生装置により、所望のSN
比に応じた特性を有する乱数列を発生することができ
る。例えば、良好なSN比が希望された場合に、分布特
性の裾の部分まで表現でき、逆にSN比が悪い場合に、
ノイズの離散性を少なくする乱数列が発生できる。さら
に、このような乱数発生装置により発生された乱数列が
ディジタル/アナログ変換手段により、アナログ信号に
変換されることにより、希望のSN比に応じて、所定の
特性を有するノイズを供給することが可能である。
比に応じた特性を有する乱数列を発生することができ
る。例えば、良好なSN比が希望された場合に、分布特
性の裾の部分まで表現でき、逆にSN比が悪い場合に、
ノイズの離散性を少なくする乱数列が発生できる。さら
に、このような乱数発生装置により発生された乱数列が
ディジタル/アナログ変換手段により、アナログ信号に
変換されることにより、希望のSN比に応じて、所定の
特性を有するノイズを供給することが可能である。
【0015】
【発明の実施の形態】図1は本発明に係る乱数発生装置
の一実施形態を示す回路図である。図示のように、本実
施形態の乱数発生装置は、正規乱数発生器10およびシ
フタ20により構成されている。
の一実施形態を示す回路図である。図示のように、本実
施形態の乱数発生装置は、正規乱数発生器10およびシ
フタ20により構成されている。
【0016】正規乱数発生器10は、正規分布特性を有
する乱数列S10を生成し、シフタ20に供給する。シ
フタ20は、正規乱数発生器10からの乱数列10を受
けて、所望のノイズ特性に応じて、乱数列S10のビッ
ト幅を調整し、所定のビット幅を有する新しい乱数列S
20を外部に供給する。
する乱数列S10を生成し、シフタ20に供給する。シ
フタ20は、正規乱数発生器10からの乱数列10を受
けて、所望のノイズ特性に応じて、乱数列S10のビッ
ト幅を調整し、所定のビット幅を有する新しい乱数列S
20を外部に供給する。
【0017】また、シフタ20からの乱数列S20は、
例えば、ディジタル/アナログ変換器(DAC)30に
入力され、当該ディジタル/アナログ変換器30によ
り、乱数列S20がアナログ信号S30に変換され、当
該アナログ信号S30は、ノイズとして外部に供給され
る。
例えば、ディジタル/アナログ変換器(DAC)30に
入力され、当該ディジタル/アナログ変換器30によ
り、乱数列S20がアナログ信号S30に変換され、当
該アナログ信号S30は、ノイズとして外部に供給され
る。
【0018】なお、本実施形態の正規乱数発生器10
は、例えば、以下に説明する方法(加算法)あるいはそ
の変形法に基づいて乱数列S10を生成することによ
り、図2に示すような良好な正規分布特性を持つ正規乱
数列S10を生成可能である。生成された乱数列S10
の標準偏差σは、28LSB程度に設定される。このた
め、最低でも10ビットの幅を持つ乱数列が得られる。
この乱数列S10は、例えば、2の補数の形で構成され
ている。
は、例えば、以下に説明する方法(加算法)あるいはそ
の変形法に基づいて乱数列S10を生成することによ
り、図2に示すような良好な正規分布特性を持つ正規乱
数列S10を生成可能である。生成された乱数列S10
の標準偏差σは、28LSB程度に設定される。このた
め、最低でも10ビットの幅を持つ乱数列が得られる。
この乱数列S10は、例えば、2の補数の形で構成され
ている。
【0019】また、通常は図2に示すように、正規乱数
列S10の上位2ビットを切り捨て、−127〜+12
6の範囲を出力する。SN比の良好なところでは、シフ
タ20に供給するビット幅制御信号SCNT =1とし、右
に1ビットシフトすることで、標準偏差σを14にし、
σの何倍かという見方で表現範囲を広げる。
列S10の上位2ビットを切り捨て、−127〜+12
6の範囲を出力する。SN比の良好なところでは、シフ
タ20に供給するビット幅制御信号SCNT =1とし、右
に1ビットシフトすることで、標準偏差σを14にし、
σの何倍かという見方で表現範囲を広げる。
【0020】以下に、正規乱数列S10を生成する方法
について、図面に関連付けて説明する。
について、図面に関連付けて説明する。
【0021】正規乱数発生器10は、ハードウェアによ
り高速に正規分布の乱数を発生する機能を付与されてお
り、一般的に、測定の目的により種々の分布特性を有す
るノイズが要求されるが、多くの場合に正規乱数(ホワ
イト・ガウシアン・ノイズともいう)が発生できれば十
分である。
り高速に正規分布の乱数を発生する機能を付与されてお
り、一般的に、測定の目的により種々の分布特性を有す
るノイズが要求されるが、多くの場合に正規乱数(ホワ
イト・ガウシアン・ノイズともいう)が発生できれば十
分である。
【0022】本実施形態において、正規乱数を発生する
方法として、例えば12個の独立した一様な乱数を加算
する方法(加算法)を用いる。この手法は、xi (i=
0,1,…,11)を区間〔0,1〕上の一様乱数とす
ると、これらの乱数の和(x0 +x1 +…+x11)が平
均値6、分散が1の正規分布によく近似することを利用
する。このため、12個の一様乱数を高速に発生させる
必要がある。ここで、例えば正規乱数発生器10を用い
た図示しない任意波形生成装置の出力を8ビットとする
と、正規乱数発生器10により生成した正規乱数も8ビ
ットのビット幅とする。12個の加算で3ビット強増え
るので、元になる一様乱数として5ビット弱が必要であ
る。なお、実際にノイズのレベルが大抵波形信号より小
さいことを考慮すると、4ビットでも十分であり、ここ
では一様乱数に対する量子化誤差を無視できるよう余裕
を見て6ビットの一様乱数を発生する場合を例に説明す
る。
方法として、例えば12個の独立した一様な乱数を加算
する方法(加算法)を用いる。この手法は、xi (i=
0,1,…,11)を区間〔0,1〕上の一様乱数とす
ると、これらの乱数の和(x0 +x1 +…+x11)が平
均値6、分散が1の正規分布によく近似することを利用
する。このため、12個の一様乱数を高速に発生させる
必要がある。ここで、例えば正規乱数発生器10を用い
た図示しない任意波形生成装置の出力を8ビットとする
と、正規乱数発生器10により生成した正規乱数も8ビ
ットのビット幅とする。12個の加算で3ビット強増え
るので、元になる一様乱数として5ビット弱が必要であ
る。なお、実際にノイズのレベルが大抵波形信号より小
さいことを考慮すると、4ビットでも十分であり、ここ
では一様乱数に対する量子化誤差を無視できるよう余裕
を見て6ビットの一様乱数を発生する場合を例に説明す
る。
【0023】ビット幅6の一様乱数を12個加算して正
規乱数を発生する場合、一つの正規分布乱数を発生する
ために合計72ビットの一様乱数が必要である。本実施
形態では、一つの実施例として72ビット長のM系列を
用いる。たとえば任意波形生成装置で要求される速度か
ら考えて、1クロックで1個の正規乱数が要求される。
そこで、M系列を1ビットシフトする度に72ビットの
データを12個に分けて加算することになる。この方法
で得られた乱数列は、M系列の1周期ではほぼ完全な正
規乱数列となる。また得られた乱数の周期も極めて長
い。72ビットのM系列では、(272−1)という長大
な周期を持っている。しかし、1クロックでM系列のデ
ータが1ビットしかシフトさせないことから、こうして
生成した乱数列においては連続する正規乱数間の相関は
大きくなってしまう欠点がある。
規乱数を発生する場合、一つの正規分布乱数を発生する
ために合計72ビットの一様乱数が必要である。本実施
形態では、一つの実施例として72ビット長のM系列を
用いる。たとえば任意波形生成装置で要求される速度か
ら考えて、1クロックで1個の正規乱数が要求される。
そこで、M系列を1ビットシフトする度に72ビットの
データを12個に分けて加算することになる。この方法
で得られた乱数列は、M系列の1周期ではほぼ完全な正
規乱数列となる。また得られた乱数の周期も極めて長
い。72ビットのM系列では、(272−1)という長大
な周期を持っている。しかし、1クロックでM系列のデ
ータが1ビットしかシフトさせないことから、こうして
生成した乱数列においては連続する正規乱数間の相関は
大きくなってしまう欠点がある。
【0024】この問題に対処するため、ずっと大きな周
期を持つM系列の一部のみを用いる方法がある。しか
し、これによりハードウェアによる実現させるために、
回路規模が大きくなる欠点がある。
期を持つM系列の一部のみを用いる方法がある。しか
し、これによりハードウェアによる実現させるために、
回路規模が大きくなる欠点がある。
【0025】そこで、シフト幅を短くするため、必要な
72ビットのデータを一つのM系列ではなく、複数に分
解されるM系列により生成する。周期を長くするため、
分割したM系列の周期が互いに素であることが望まし
い。例えば、72ビットのM系列に対して、13,1
7,19,23ビットの組み合わせと、35,37ビッ
トの組み合わせが有効である。何れの場合でも合計が7
2ビットとなる。
72ビットのデータを一つのM系列ではなく、複数に分
解されるM系列により生成する。周期を長くするため、
分割したM系列の周期が互いに素であることが望まし
い。例えば、72ビットのM系列に対して、13,1
7,19,23ビットの組み合わせと、35,37ビッ
トの組み合わせが有効である。何れの場合でも合計が7
2ビットとなる。
【0026】M系列の連続する出力の相関を小さくする
ため、M系列を生成する原始多項式の項の数を適度に多
くすることが有効である。項数が増えるとエクスクルー
シブORゲートの数が増えるが、ハードウェア量全体か
ら見ればわずかである。また高次項を含む原始多項式を
用いることも有効であり、これはハードウェアの量を増
加させない。さらに、1クロックで複数ビット分シフト
することも有効である。例えば、1度に2ビット分をシ
フトすることでは、必要なエクスクルーシブORゲート
の数が2倍になるが、M系列の周期は必ず奇数なので、
この手法は周期を減少させない。これらの制限を満た
し、13ビット、17ビット、19ビットおよび32ビ
ットのM系列を生成する原始多項式の一例として次のも
のが挙げられる。
ため、M系列を生成する原始多項式の項の数を適度に多
くすることが有効である。項数が増えるとエクスクルー
シブORゲートの数が増えるが、ハードウェア量全体か
ら見ればわずかである。また高次項を含む原始多項式を
用いることも有効であり、これはハードウェアの量を増
加させない。さらに、1クロックで複数ビット分シフト
することも有効である。例えば、1度に2ビット分をシ
フトすることでは、必要なエクスクルーシブORゲート
の数が2倍になるが、M系列の周期は必ず奇数なので、
この手法は周期を減少させない。これらの制限を満た
し、13ビット、17ビット、19ビットおよび32ビ
ットのM系列を生成する原始多項式の一例として次のも
のが挙げられる。
【0027】
【数1】
【0028】さらに、式(1)に基づき構成される13
ビットのM系列を生成するM系列発生器100を図3に
示している。図3において、SR1〜SR13はシフト
レジスタを示し、EGT1〜EGT6はエクスクルーシ
ブORゲートを示す。
ビットのM系列を生成するM系列発生器100を図3に
示している。図3において、SR1〜SR13はシフト
レジスタを示し、EGT1〜EGT6はエクスクルーシ
ブORゲートを示す。
【0029】上述のように生成した72ビットのM系列
のデータを12個の6ビット2進数に変換するには、適
度のビットの並べ替えが必要である。2進法の重み付け
により、25 から20 までが各12回ずつ現れる。同一
の重み付けの中での並べ替えは出力に差がでないので、
12回ずつ繰り返される6種類の数値をもっともランダ
ムに並べる方法がよい。本実施形態では、フーリエ変換
した場合の周波数スペクトラムができるだけ均等になる
という評価関数を用いる。この評価関数は、孤立した
“1”が1ビットずつシフトされていくとき、出力にで
きるだけランダムな値を生成することを要求するもので
ある。均等性の尺度を周波数スペクトラムの分散を最小
にするものと規定すると、数学的に最適な解が存在す
る。このように並べ替えを行うことにより、正規分布に
従うランダムな乱数列が生成できる。
のデータを12個の6ビット2進数に変換するには、適
度のビットの並べ替えが必要である。2進法の重み付け
により、25 から20 までが各12回ずつ現れる。同一
の重み付けの中での並べ替えは出力に差がでないので、
12回ずつ繰り返される6種類の数値をもっともランダ
ムに並べる方法がよい。本実施形態では、フーリエ変換
した場合の周波数スペクトラムができるだけ均等になる
という評価関数を用いる。この評価関数は、孤立した
“1”が1ビットずつシフトされていくとき、出力にで
きるだけランダムな値を生成することを要求するもので
ある。均等性の尺度を周波数スペクトラムの分散を最小
にするものと規定すると、数学的に最適な解が存在す
る。このように並べ替えを行うことにより、正規分布に
従うランダムな乱数列が生成できる。
【0030】なお、回路により並べ替えを実現する方法
は、シフトレジスタと加算器の間の接続関係を設定する
ことであり、並べ替えをどのように選んでも、ハードウ
ェア上必要な素子数は変化しない。
は、シフトレジスタと加算器の間の接続関係を設定する
ことであり、並べ替えをどのように選んでも、ハードウ
ェア上必要な素子数は変化しない。
【0031】このような工夫を加えても、連続する出力
間の相関はある程度存在する。これはM系列では“1”
がシフトアウトされる場合のみ、シフトレジスタ中の
“1”の総数が変化するからである。そのため、最終出
力でも変化できる数値の範囲が限られてしまう。例え
ば、23ビットのM系列の最下位ビット(LSB)にの
み“1”があり、残りはすべて“0”である場合、1ク
ロックで2ビットずつシフトするとしても、12クロッ
ク目まではその乱数列の中で“1”は一つしかない。
間の相関はある程度存在する。これはM系列では“1”
がシフトアウトされる場合のみ、シフトレジスタ中の
“1”の総数が変化するからである。そのため、最終出
力でも変化できる数値の範囲が限られてしまう。例え
ば、23ビットのM系列の最下位ビット(LSB)にの
み“1”があり、残りはすべて“0”である場合、1ク
ロックで2ビットずつシフトするとしても、12クロッ
ク目まではその乱数列の中で“1”は一つしかない。
【0032】本実施形態では、シフトレジスタ中の
“1”の総数をランダムにするため、M系列を構成する
シフトレジスタとは別の系列を設け、両者のエクスクル
ーシブORを取る方法を採用する。以下、このような乱
数列を“EX系列”という。EX系列は幾つかの候補が
ある。例えば、別のM系列を用いる方法や、±1カウン
タを用いる方法がある。ここでは、EX系列のクロック
毎の0/1の変化数が1周期の合計で最大となるように
選定する。例えば、以下の条件を満たす乱数列を選択し
て、EX系列とする。 1.そのビット幅のすべての組み合わせを1周期の間に
1回ずつとること、 2.クロック毎の0/1の変化数(ハミング距離)の1
周期分の合計(いわゆるハミングサム)が最大になるこ
と。 EX系列のビット幅は、その周期がM系列を生成するシ
フトレジスタのシフトアウト長より長くなるべきであ
り、本実施形態の場合では6とした。
“1”の総数をランダムにするため、M系列を構成する
シフトレジスタとは別の系列を設け、両者のエクスクル
ーシブORを取る方法を採用する。以下、このような乱
数列を“EX系列”という。EX系列は幾つかの候補が
ある。例えば、別のM系列を用いる方法や、±1カウン
タを用いる方法がある。ここでは、EX系列のクロック
毎の0/1の変化数が1周期の合計で最大となるように
選定する。例えば、以下の条件を満たす乱数列を選択し
て、EX系列とする。 1.そのビット幅のすべての組み合わせを1周期の間に
1回ずつとること、 2.クロック毎の0/1の変化数(ハミング距離)の1
周期分の合計(いわゆるハミングサム)が最大になるこ
と。 EX系列のビット幅は、その周期がM系列を生成するシ
フトレジスタのシフトアウト長より長くなるべきであ
り、本実施形態の場合では6とした。
【0033】図4はEX系列の発生回路の一構成例を示
している。図示のように、本例のEX系列発生器120
は、6ビットのマスタレジスタMLと5ビットのスレー
ブレジスタSLにより構成されている。マスタレジスタ
MLはクロック信号CLKに応じて動作を行い、例え
ば、クロック信号CLKの立ち上がりエッジで入力端子
D0〜D5に入力されているデータを取り込み、それぞ
れ出力端子Q0〜Q5に出力する。一方、スレーブレジ
スタSLはクロック信号CLKの立ち下がりエッジで入
力端子D1〜D5に入力されているデータを取り込み、
それぞれ出力端子Q1〜Q5に出力する。また、マスタ
レジスタMLおよびスレーブレジスタSLはともにリセ
ット信号RSTによりリセットされる。
している。図示のように、本例のEX系列発生器120
は、6ビットのマスタレジスタMLと5ビットのスレー
ブレジスタSLにより構成されている。マスタレジスタ
MLはクロック信号CLKに応じて動作を行い、例え
ば、クロック信号CLKの立ち上がりエッジで入力端子
D0〜D5に入力されているデータを取り込み、それぞ
れ出力端子Q0〜Q5に出力する。一方、スレーブレジ
スタSLはクロック信号CLKの立ち下がりエッジで入
力端子D1〜D5に入力されているデータを取り込み、
それぞれ出力端子Q1〜Q5に出力する。また、マスタ
レジスタMLおよびスレーブレジスタSLはともにリセ
ット信号RSTによりリセットされる。
【0034】EX系列発生器120により、マスタレジ
スタMLの出力側から6ビットのEX系列の乱数ES1
が得られる。そしてこの6ビットの乱数列を12回ずつ
繰り返して、72ビット幅のM系列の各ビットに対して
エクスクルーシブORを取ることにより、“1”の総数
が適当に散らばる乱数列MOUTが得られる。図5は上
記エクスクルーシブOR演算を行う回路(以下、EX加
算回路という)の構成を示している。図示のように、E
X加算回路130は6個エクスクルーシブOR演算器1
30_0,130_1,…,130_5からなる。これ
らのエクスクルーシブOR演算器はそれぞれ12ビット
の入力データAと12ビットの入力データBの各ビット
のエクスクルーシブORを取り、12ビットのデータを
出力する。EX加算回路130の各エクスクルーシブO
R演算器にそれぞれ並べ替え回路により発生された12
ビットずつ、計6個の乱数列MS0,MS1,…,MS
5と、EX系列発生器120により発生された6ビット
のEX系列ES1が2回繰り返した乱数列EX2が入力
され、これらのエクスクルーシブOR演算器により、そ
れぞれ12ビットの乱数列MOS0〜MOS5、合計7
2ビットの乱数列MOUTが得られる。
スタMLの出力側から6ビットのEX系列の乱数ES1
が得られる。そしてこの6ビットの乱数列を12回ずつ
繰り返して、72ビット幅のM系列の各ビットに対して
エクスクルーシブORを取ることにより、“1”の総数
が適当に散らばる乱数列MOUTが得られる。図5は上
記エクスクルーシブOR演算を行う回路(以下、EX加
算回路という)の構成を示している。図示のように、E
X加算回路130は6個エクスクルーシブOR演算器1
30_0,130_1,…,130_5からなる。これ
らのエクスクルーシブOR演算器はそれぞれ12ビット
の入力データAと12ビットの入力データBの各ビット
のエクスクルーシブORを取り、12ビットのデータを
出力する。EX加算回路130の各エクスクルーシブO
R演算器にそれぞれ並べ替え回路により発生された12
ビットずつ、計6個の乱数列MS0,MS1,…,MS
5と、EX系列発生器120により発生された6ビット
のEX系列ES1が2回繰り返した乱数列EX2が入力
され、これらのエクスクルーシブOR演算器により、そ
れぞれ12ビットの乱数列MOS0〜MOS5、合計7
2ビットの乱数列MOUTが得られる。
【0035】EX系列発生器120により発生されるE
X系列乱数の周期は64で、各M系列の周期と素であ
る。そして12ビットのM系列と6ビットのEX系列が
2回繰り返した12ビットの乱数列の各ビットのエクス
クルーシブORにより得られた乱数列MOUTの周期
は、およそ278となり、長大な周期を持つ乱数列とな
る。また、これにより、乱数列MOUTの一様性が保証
されるので、出力分布の正規性も保証されることにな
る。
X系列乱数の周期は64で、各M系列の周期と素であ
る。そして12ビットのM系列と6ビットのEX系列が
2回繰り返した12ビットの乱数列の各ビットのエクス
クルーシブORにより得られた乱数列MOUTの周期
は、およそ278となり、長大な周期を持つ乱数列とな
る。また、これにより、乱数列MOUTの一様性が保証
されるので、出力分布の正規性も保証されることにな
る。
【0036】EX加算回路130により生成された72
ビットの乱数列MOUTは加算器により加算され、最終
的に10ビットの正規分布乱数列がNS1が得られる。
本実施形態では、キャリー保存加算器(キャリーセーブ
アダー、以下、CSAという)ツリーを用いて加算器を
構成する。CSAは基本的に3入力2出力の論理回路に
より構成されている。図6はCSAの等価回路およびそ
の真理値を示している。図7は、インバータ、ANDゲ
ートおよびORゲートにより構成されたCSAの一例を
示す回路図である。
ビットの乱数列MOUTは加算器により加算され、最終
的に10ビットの正規分布乱数列がNS1が得られる。
本実施形態では、キャリー保存加算器(キャリーセーブ
アダー、以下、CSAという)ツリーを用いて加算器を
構成する。CSAは基本的に3入力2出力の論理回路に
より構成されている。図6はCSAの等価回路およびそ
の真理値を示している。図7は、インバータ、ANDゲ
ートおよびORゲートにより構成されたCSAの一例を
示す回路図である。
【0037】CSAを用いてCSAツリー140を構成
し、これを用いてEX加算回路130から出力された7
2ビットの乱数列MOUTに対して高速なディジタル加
算処理を行う。図8は、CSAツリー140の部分回路
ADDMSBの構成を示している。図示のように、この
部分回路ADDMSBは4ビットのデータci0_3,
ci0_2,ci0_1,ci0_0、3ビットのデー
タci1_2,ci1_1,ci1_0、2ビットのデ
ータci2_1,ci2_0および1ビットのデータc
i3、合計10ビットの入力データに対して、7つのC
SA、即ち、CSA00,CSA01,CSA10,S
CA11,CSA12,CSA20およびCSA21に
より構成されたCSAツリーを用いて加算処理を行い、
2ビットのキャリアデータc_0,c_1および3ビッ
トの和信号s_0,s_1,s_2を生成し、演算結果
として出力する。CSAツリー140は本実施形態の中
で最も論理段数を必要とする部分であるが、フィードバ
ックを含まないので、途中で適当にラッチを配置するこ
とにより、回路のスループット、即ち最高動作周波数を
維持することができる。
し、これを用いてEX加算回路130から出力された7
2ビットの乱数列MOUTに対して高速なディジタル加
算処理を行う。図8は、CSAツリー140の部分回路
ADDMSBの構成を示している。図示のように、この
部分回路ADDMSBは4ビットのデータci0_3,
ci0_2,ci0_1,ci0_0、3ビットのデー
タci1_2,ci1_1,ci1_0、2ビットのデ
ータci2_1,ci2_0および1ビットのデータc
i3、合計10ビットの入力データに対して、7つのC
SA、即ち、CSA00,CSA01,CSA10,S
CA11,CSA12,CSA20およびCSA21に
より構成されたCSAツリーを用いて加算処理を行い、
2ビットのキャリアデータc_0,c_1および3ビッ
トの和信号s_0,s_1,s_2を生成し、演算結果
として出力する。CSAツリー140は本実施形態の中
で最も論理段数を必要とする部分であるが、フィードバ
ックを含まないので、途中で適当にラッチを配置するこ
とにより、回路のスループット、即ち最高動作周波数を
維持することができる。
【0038】なお、CSAツリーを用いる方法では、通
常最終段に全加算器(フルアダー)が必要となる。実際
の回路では、SCAツリーのゲート段数とフルアダーの
遅延は大体同じ程度になるので、両者の間にはラッチを
配置するのが合理的である。また、フルアダーの部分を
二つのDACとアナログ加算器で実現するディジタル・
アナログ・ハイブリッド形式も可能である。
常最終段に全加算器(フルアダー)が必要となる。実際
の回路では、SCAツリーのゲート段数とフルアダーの
遅延は大体同じ程度になるので、両者の間にはラッチを
配置するのが合理的である。また、フルアダーの部分を
二つのDACとアナログ加算器で実現するディジタル・
アナログ・ハイブリッド形式も可能である。
【0039】図9は本実施形態の正規乱数発生器10の
全体の構成を示す回路図である。図示のように、正規乱
数発生器10において、M系列発生器100により、例
えば、72ビットのM系列が発生され、並べ替え回路1
10により組み合わせられ、12ビットを有する6個の
乱数列MS0〜MS5が生成される。そして、EX系列
発生器120により6ビットのEX系列ES1が発生さ
れ、これを2回繰り返すことで12ビットの乱数列ES
2が生成される。EX加算回路130により、12ビッ
トの乱数列ES2と乱数列MS0〜MS5のそれぞれの
ビットのエクスクルーシブORが求められ、計72ビッ
トの乱数列MOUTが得られる。この乱数列MOUTに
は、“1”の総数が適当に散らばることになっており、
一様性および正規性が保証される。
全体の構成を示す回路図である。図示のように、正規乱
数発生器10において、M系列発生器100により、例
えば、72ビットのM系列が発生され、並べ替え回路1
10により組み合わせられ、12ビットを有する6個の
乱数列MS0〜MS5が生成される。そして、EX系列
発生器120により6ビットのEX系列ES1が発生さ
れ、これを2回繰り返すことで12ビットの乱数列ES
2が生成される。EX加算回路130により、12ビッ
トの乱数列ES2と乱数列MS0〜MS5のそれぞれの
ビットのエクスクルーシブORが求められ、計72ビッ
トの乱数列MOUTが得られる。この乱数列MOUTに
は、“1”の総数が適当に散らばることになっており、
一様性および正規性が保証される。
【0040】EX加算回路130からの乱数列MOUT
に対して、CSAから構成された加算回路CSAツリー
140により加算処理が行われ、さらにフルアダー15
0により最終的に、例えば10ビットの乱数列NS1が
得られる。この乱数列NS1が正規分布乱数列となり、
これをDAC70によりアナログ信号に変換され、ノイ
ズ信号として、波形信号に加えることによりノイズを含
んだ任意の波形信号で各種の実験を行うことができる。
に対して、CSAから構成された加算回路CSAツリー
140により加算処理が行われ、さらにフルアダー15
0により最終的に、例えば10ビットの乱数列NS1が
得られる。この乱数列NS1が正規分布乱数列となり、
これをDAC70によりアナログ信号に変換され、ノイ
ズ信号として、波形信号に加えることによりノイズを含
んだ任意の波形信号で各種の実験を行うことができる。
【0041】次に、図1を参照しつつ、本実施形態の乱
数発生装置の動作について説明する。図示のように、正
規乱数発生器10により、正規分布の特性を有する乱数
列S10が発生される。この乱数列S10は、例えば、
10ビットのビット幅を有する。
数発生装置の動作について説明する。図示のように、正
規乱数発生器10により、正規分布の特性を有する乱数
列S10が発生される。この乱数列S10は、例えば、
10ビットのビット幅を有する。
【0042】乱数列S10は、シフタ20に入力され
る。シフタ20において、外部から入力されたビット幅
制御信号SCNT に応じてシフト動作が行なわれ、乱数列
S10のビット幅が制御される。
る。シフタ20において、外部から入力されたビット幅
制御信号SCNT に応じてシフト動作が行なわれ、乱数列
S10のビット幅が制御される。
【0043】例えば、ビット幅制御信号SCNT がローレ
ベルに保持されているとき、シフタ20により、入力さ
れた乱数列S10に対して上位2ビットの切り捨てが行
なわれる。これによって、8ビットの乱数列S20が生
成され、出力される。
ベルに保持されているとき、シフタ20により、入力さ
れた乱数列S10に対して上位2ビットの切り捨てが行
なわれる。これによって、8ビットの乱数列S20が生
成され、出力される。
【0044】逆に、ビット幅制御信号SCNT がハイレベ
ルに保持されているとき、シフタ20により、入力され
た乱数列S10に対して1ビットの右シフトが行なわ
れ、乱数列S10の10ビットの内、上位、下位の各1
ビットが切り捨てられる。これによって、8ビットの乱
数列S20が生成され、出力される。
ルに保持されているとき、シフタ20により、入力され
た乱数列S10に対して1ビットの右シフトが行なわ
れ、乱数列S10の10ビットの内、上位、下位の各1
ビットが切り捨てられる。これによって、8ビットの乱
数列S20が生成され、出力される。
【0045】即ち、良好なSN比が希望される場合に、
外部からハイレベルに設定されているビット幅制御信号
SCNT が入力される。これに応じてシフタ20では、乱
数列S10に対して1ビットの右シフトが行なわれ、8
ビットの乱数列S20が得られる。そして、ビット幅が
調整された後の乱数列S20は、ディジタル/アナログ
変換器30に入力され、アナログ信号S30に変換さ
れ、これがノイズとして外部に供給される。
外部からハイレベルに設定されているビット幅制御信号
SCNT が入力される。これに応じてシフタ20では、乱
数列S10に対して1ビットの右シフトが行なわれ、8
ビットの乱数列S20が得られる。そして、ビット幅が
調整された後の乱数列S20は、ディジタル/アナログ
変換器30に入力され、アナログ信号S30に変換さ
れ、これがノイズとして外部に供給される。
【0046】一方、SN比が悪い場合に、外部からロー
レベルに設定されているビット幅制御信号SCNT が入力
される。これに応じてシフタ20では、乱数列S10の
最上位2ビット(MSB)が切り捨てられる。これによ
って、8ビットの乱数列S20が得られる。このように
ビット幅が調整された後の乱数列S20は、ディジタル
/アナログ変換器30に入力され、アナログ信号S30
に変換され、これがノイズとして外部に供給される。
レベルに設定されているビット幅制御信号SCNT が入力
される。これに応じてシフタ20では、乱数列S10の
最上位2ビット(MSB)が切り捨てられる。これによ
って、8ビットの乱数列S20が得られる。このように
ビット幅が調整された後の乱数列S20は、ディジタル
/アナログ変換器30に入力され、アナログ信号S30
に変換され、これがノイズとして外部に供給される。
【0047】従来の乱数発生装置においては、例えば、
正規分布特性を有する10ビットの乱数列に対して、一
律に上位2ビットを切り捨て、8ビットの乱数列を発生
するが、本実施形態では、上述したように、所望のSN
比に応じて、ビット幅の調整の仕方が制御される。例え
ば、SN比に応じて、正規分布特性を有する乱数列S1
0に対して、1ビットの右シフトにより、最上位ビット
MSBおよび最下位ビットLSBの各1ビットを切り捨
てられる。これによって、生成された8ビットの乱数列
S20において、その表現範囲を標準偏差σ比では、従
来の方法で生成された乱数列に対して、ほぼ2倍までと
れる。
正規分布特性を有する10ビットの乱数列に対して、一
律に上位2ビットを切り捨て、8ビットの乱数列を発生
するが、本実施形態では、上述したように、所望のSN
比に応じて、ビット幅の調整の仕方が制御される。例え
ば、SN比に応じて、正規分布特性を有する乱数列S1
0に対して、1ビットの右シフトにより、最上位ビット
MSBおよび最下位ビットLSBの各1ビットを切り捨
てられる。これによって、生成された8ビットの乱数列
S20において、その表現範囲を標準偏差σ比では、従
来の方法で生成された乱数列に対して、ほぼ2倍までと
れる。
【0048】なお、加算法により発生された正規分布を
持つ乱数列では、その裾の分布特性あがあまり良くない
という事情から、発生しうる範囲よりも分布特性の良好
な範囲がかなり狭い。このため、正規分布を持つ乱数列
に対して最上位ビットMSB側を、例えば、1ビット分
切り捨てても実害は少ない。
持つ乱数列では、その裾の分布特性あがあまり良くない
という事情から、発生しうる範囲よりも分布特性の良好
な範囲がかなり狭い。このため、正規分布を持つ乱数列
に対して最上位ビットMSB側を、例えば、1ビット分
切り捨てても実害は少ない。
【0049】以上説明したように、本実施形態によれ
ば、正規乱数発生器10により、正規分布特性を有する
乱数列S10を発生し、シフタ20に供給する。シフタ
20は、外部から入力されたビット幅制御信号SCNT に
応じて乱数列S10のビット幅を調整し、ビット幅制御
信号SCNT がローレベルのとき、乱数列S10の上位2
ビットを切り捨て、8ビットの乱数列S20を出力し、
ビット幅制御信号SCNTがハイレベルのとき、乱数列S
10を1ビット右シフトし、さらに最上位ビットMSB
を切り捨てることで8ビットの乱数列S20を出力す
る。乱数列S20をディジタル/アナログ変換器30に
よりアナログ信号に変換し、ノイズとして外部に供給す
るので、所望のSN比に応じて最適な特性を持つ乱数列
およびそれに基づいたノイズを供給できる。
ば、正規乱数発生器10により、正規分布特性を有する
乱数列S10を発生し、シフタ20に供給する。シフタ
20は、外部から入力されたビット幅制御信号SCNT に
応じて乱数列S10のビット幅を調整し、ビット幅制御
信号SCNT がローレベルのとき、乱数列S10の上位2
ビットを切り捨て、8ビットの乱数列S20を出力し、
ビット幅制御信号SCNTがハイレベルのとき、乱数列S
10を1ビット右シフトし、さらに最上位ビットMSB
を切り捨てることで8ビットの乱数列S20を出力す
る。乱数列S20をディジタル/アナログ変換器30に
よりアナログ信号に変換し、ノイズとして外部に供給す
るので、所望のSN比に応じて最適な特性を持つ乱数列
およびそれに基づいたノイズを供給できる。
【0050】なお、以上の説明においては正規乱数発生
器10は、加算法により良好な正規分布特性を持つ乱数
列S10を発生するとしたが、本発明はこれに限定され
るものではなく、他の方法で乱数S10を発生できるこ
とは勿論である。
器10は、加算法により良好な正規分布特性を持つ乱数
列S10を発生するとしたが、本発明はこれに限定され
るものではなく、他の方法で乱数S10を発生できるこ
とは勿論である。
【0051】さらに、正規乱数発生器10により発生さ
れた乱数列S10は、2の補数表示であることが望まし
いが、これは単純なシフトにより済むためであるが、本
発明はこれに限定されるものではなく、別の記数法であ
ったとしても、同様に本発明を適用できることはいうま
でもない。
れた乱数列S10は、2の補数表示であることが望まし
いが、これは単純なシフトにより済むためであるが、本
発明はこれに限定されるものではなく、別の記数法であ
ったとしても、同様に本発明を適用できることはいうま
でもない。
【0052】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の乱数発生
装置によれば、限られたビット幅の中で、SN比に応じ
てビット幅の調整を行なえ、良好なSN比の場合に、正
規分布特性の裾の部分まで表現でき、SN比の悪い場合
にノイズの離散性が少なく見える乱数列を発生でき、こ
れに応じて所望のSN比に応じた特性を有するノイズを
生成できる利点がある。
装置によれば、限られたビット幅の中で、SN比に応じ
てビット幅の調整を行なえ、良好なSN比の場合に、正
規分布特性の裾の部分まで表現でき、SN比の悪い場合
にノイズの離散性が少なく見える乱数列を発生でき、こ
れに応じて所望のSN比に応じた特性を有するノイズを
生成できる利点がある。
【図1】本発明に係る乱数発生装置の一実施形態を示す
回路図である。
回路図である。
【図2】本発明に係る正規乱数発生器で生成される正規
乱数列を説明するための図である。
乱数列を説明するための図である。
【図3】M系列発生器の回路図である。
【図4】EX系列発生器の回路図である。
【図5】EX加算回路の回路図である。
【図6】CSAの等価回路およびその真理値を示す図で
ある。
ある。
【図7】CSAの一構成例を示す回路図である。
【図8】CSAツリーの部分回路の回路図である。
【図9】正規乱数発生器の具体的な構成例を示す回路図
である。
である。
10…乱数発生器、20…シフタ、30…ディジタル/
アナログ変換器、SCNT …ビット幅制御信号、100…
M系列発生器、110…並べ替え回路、120…EX系
列発生器、130…EX加算回路、140…CSAツリ
ー、150…フルアダー。
アナログ変換器、SCNT …ビット幅制御信号、100…
M系列発生器、110…並べ替え回路、120…EX系
列発生器、130…EX加算回路、140…CSAツリ
ー、150…フルアダー。
Claims (5)
- 【請求項1】所定のビット幅を有する乱数列を発生する
乱数発生手段と、 所望のSN比に応じて、上記乱数発生手段により生成さ
れた乱数列のビット幅を調整し、ビット幅調整後の乱数
列を出力するビット幅制御手段とを有する乱数発生装
置。 - 【請求項2】上記乱数発生手段は、正規分布に従う所定
のビット幅を有する乱数列を発生する請求項1記載の乱
数発生装置。 - 【請求項3】上記ビット幅制御手段は、良好であるとし
て設定された範囲内にあるSN比が設定された場合に、
上記乱数発生手段により発生されたk(kは正整数)ビ
ットの乱数列の内、少なくともm(mは正整数、且つ、
m≦k)ビットを選択して出力し、 上記設定範囲外のSN比が設定された場合に、上記乱数
発生手段により発生されたkビットの乱数列の内、上記
mビットより下位桁のnビットを選択して出力する請求
項1記載の乱数発生装置。 - 【請求項4】上記ビット幅制御手段は、所望のSN比に
応じて上記乱数発生手段により発生された乱数列を所定
のビット数だけシフトして出力するシフタを有する請求
項1記載の乱数発生装置。 - 【請求項5】上記ビット幅調整手段により出力された乱
数列をアナログ信号に変換するディジタル/アナログ変
換手段を有する請求項1記載の乱数発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9245681A JPH1185476A (ja) | 1997-09-10 | 1997-09-10 | 乱数発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9245681A JPH1185476A (ja) | 1997-09-10 | 1997-09-10 | 乱数発生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1185476A true JPH1185476A (ja) | 1999-03-30 |
Family
ID=17137236
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9245681A Pending JPH1185476A (ja) | 1997-09-10 | 1997-09-10 | 乱数発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1185476A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007090571A (ja) * | 2005-09-27 | 2007-04-12 | Oki Data Corp | 画像形成装置 |
| WO2018207463A1 (ja) * | 2017-05-12 | 2018-11-15 | パナソニック株式会社 | 乱数生成装置、情報処理装置及び乱数生成方法 |
-
1997
- 1997-09-10 JP JP9245681A patent/JPH1185476A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007090571A (ja) * | 2005-09-27 | 2007-04-12 | Oki Data Corp | 画像形成装置 |
| WO2018207463A1 (ja) * | 2017-05-12 | 2018-11-15 | パナソニック株式会社 | 乱数生成装置、情報処理装置及び乱数生成方法 |
| JP2018194917A (ja) * | 2017-05-12 | 2018-12-06 | パナソニック株式会社 | 乱数生成装置、情報処理装置及び乱数生成方法 |
| US11281430B2 (en) | 2017-05-12 | 2022-03-22 | Panasonic Corporation | Random number generation device, information processing device, and random number generation method |
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