JPH1196590A - 光記録用媒体 - Google Patents
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- JPH1196590A JPH1196590A JP20781898A JP20781898A JPH1196590A JP H1196590 A JPH1196590 A JP H1196590A JP 20781898 A JP20781898 A JP 20781898A JP 20781898 A JP20781898 A JP 20781898A JP H1196590 A JPH1196590 A JP H1196590A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 記録感度、ジッタ、非線形性、およびウィン
ドウマージンに関して改良特性を有する光記録媒体を提
供する。 【解決手段】 基板１０上に光記録層１２および光反
射層１４を有する記録媒体であって、光記録層１２はＴ
ｅaＧｅbＣcＨdＯeを含み、かつ１０＜ａ＜４０、１０
＜ｂ＜６０、５＜ｃ＜３５、１０＜ｄ＜３５、ｅ≧０で
あり、光記録層１２はひとつ以上の基層を含み、前記基
層は異なる組成を有することが可能であり、光記録層１
２の厚さｔは、エネルギー反射率が極小となる厚さをＴ
ｍｉｎとすると、０．７Ｔｍｉｎ＜ｔ＜１．３Ｔｍｉｎ
である。
ドウマージンに関して改良特性を有する光記録媒体を提
供する。 【解決手段】 基板１０上に光記録層１２および光反
射層１４を有する記録媒体であって、光記録層１２はＴ
ｅaＧｅbＣcＨdＯeを含み、かつ１０＜ａ＜４０、１０
＜ｂ＜６０、５＜ｃ＜３５、１０＜ｄ＜３５、ｅ≧０で
あり、光記録層１２はひとつ以上の基層を含み、前記基
層は異なる組成を有することが可能であり、光記録層１
２の厚さｔは、エネルギー反射率が極小となる厚さをＴ
ｍｉｎとすると、０．７Ｔｍｉｎ＜ｔ＜１．３Ｔｍｉｎ
である。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、改良された性能を
有する光記録要素に関する。
有する光記録要素に関する。
【０００２】
【従来の技術】光記録においては多数の有機および無機
媒体を使用して成功を収めてきたが、これらの媒体を使
用して多数の新たな応用のための必要条件を満足させる
ことは困難である。データ密度、エネルギー反射率の波
長依存性、記録感度、非線形性、ピークシフト、ジッ
タ、およびウィンドウマージンの改良が特に重要である
特別の応用に適する媒体を有することが望まれる。
媒体を使用して成功を収めてきたが、これらの媒体を使
用して多数の新たな応用のための必要条件を満足させる
ことは困難である。データ密度、エネルギー反射率の波
長依存性、記録感度、非線形性、ピークシフト、ジッ
タ、およびウィンドウマージンの改良が特に重要である
特別の応用に適する媒体を有することが望まれる。
【０００３】記録態様のジッタは、リードバック（読み
取り）中にエラーなく検出される性能に関係する。公称
上同一の記録態様からの遷移は、正確に同時にはリード
バックされない。態様長さおよび形状ならびにシステム
ノイズが微少に変動するためである。これによって、検
出時間に広がりが生じる。完全に時間ウィンドウ内に存
在するような狭い分布の場合は、検出時間ウィンドウは
これらのすべての態様を読み取ることができる。他方、
一部の遷移がウィンドウ外にあるような広い分布の場合
は、これら態様はデコーディングエラーとなる。ジッタ
（Ｓ）は、全ノイズの尺度であり、通常、ガウス曲線と
してモデル化される検出時間分布の分散の平方根であ
る。検出時間の分布は時間ウィンドウ内で正確に中央に
そろえられないことがあり、ピークずれによって狭い分
布の場合でもデコーディングエラーとなる可能性が増大
する。ウィンドウマージン（ＷＭ）は誘導パラメータで
あり、ジッタおよびピークずれを含む。ウィンドウマー
ジンは、高いウィンドウマージンを有するディスクは低
いウィンドウマージンを有するディスクよりリードバッ
クで良い結果が得られる可能性が大きいというメリット
を表す数字とみなすことができる。また、高いウィンド
ウマージンを有するディスクは、他の点が同じ場合は、
低いウィンドウマージンを有するディスクより広範囲の
種類のリーダによるリードバックが可能である。
取り）中にエラーなく検出される性能に関係する。公称
上同一の記録態様からの遷移は、正確に同時にはリード
バックされない。態様長さおよび形状ならびにシステム
ノイズが微少に変動するためである。これによって、検
出時間に広がりが生じる。完全に時間ウィンドウ内に存
在するような狭い分布の場合は、検出時間ウィンドウは
これらのすべての態様を読み取ることができる。他方、
一部の遷移がウィンドウ外にあるような広い分布の場合
は、これら態様はデコーディングエラーとなる。ジッタ
（Ｓ）は、全ノイズの尺度であり、通常、ガウス曲線と
してモデル化される検出時間分布の分散の平方根であ
る。検出時間の分布は時間ウィンドウ内で正確に中央に
そろえられないことがあり、ピークずれによって狭い分
布の場合でもデコーディングエラーとなる可能性が増大
する。ウィンドウマージン（ＷＭ）は誘導パラメータで
あり、ジッタおよびピークずれを含む。ウィンドウマー
ジンは、高いウィンドウマージンを有するディスクは低
いウィンドウマージンを有するディスクよりリードバッ
クで良い結果が得られる可能性が大きいというメリット
を表す数字とみなすことができる。また、高いウィンド
ウマージンを有するディスクは、他の点が同じ場合は、
低いウィンドウマージンを有するディスクより広範囲の
種類のリーダによるリードバックが可能である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明の
目的は、特に、記録感度、ジッタ、非線形性、およびウ
ィンドウマージンに関して改良特性を有する記録媒体を
提供することである。
目的は、特に、記録感度、ジッタ、非線形性、およびウ
ィンドウマージンに関して改良特性を有する記録媒体を
提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、基板を含み、基板表面を覆って光学記録
層および光反射層を順次有する記録媒体において、
（ａ）光記録層はＴｅaＧｅbＣcＨd０eを含み、ａ、
ｂ、ｃ、ｄ、およびｅは原子百分率でａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋
ｅ＝１００であり、かつ１０＜ａ＜４０、１０＜ｂ＜６
０、５＜ｃ＜３５、１０＜ｄ＜３５、ｅ≧０であり、
（ｂ）光記録層はひとつ以上の基層を含み、基層は異な
る成分からなることが可能であり、（ｃ）光記録層の厚
さｔは、０．７Ｔｍｉｎ＜ｔ＜１．３Ｔｍｉｎであるこ
とを特徴とする。
に、本発明は、基板を含み、基板表面を覆って光学記録
層および光反射層を順次有する記録媒体において、
（ａ）光記録層はＴｅaＧｅbＣcＨd０eを含み、ａ、
ｂ、ｃ、ｄ、およびｅは原子百分率でａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋
ｅ＝１００であり、かつ１０＜ａ＜４０、１０＜ｂ＜６
０、５＜ｃ＜３５、１０＜ｄ＜３５、ｅ≧０であり、
（ｂ）光記録層はひとつ以上の基層を含み、基層は異な
る成分からなることが可能であり、（ｃ）光記録層の厚
さｔは、０．７Ｔｍｉｎ＜ｔ＜１．３Ｔｍｉｎであるこ
とを特徴とする。
【０００６】かかる媒体の製作方法は、（ａ）ＴｅaＧ
ｅbＣcＨd０eを含む光記録層をスパッタリングすること
によって光記録層を生成するステップを含み、ａ、ｂ、
ｃ、ｄ、およびｅは原子百分率でありａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋
ｅ＝１００であり、かつ１０＜ａ＜４０、１０＜ｂ＜６
０、５＜ｃ＜３５、１５＜（ｃ＋ｄ）＜６５、ｅ≧０で
あり、光記録層はひとつ以上の基層を含み、基層は異な
る成分からなることが可能であり、さらに、（ｂ）光記
録層の厚さｔを、０．７Ｔｍｉｎ＜ｔ＜１．３Ｔｍｉｎ
の範囲に調整するステップと、（ｃ）記録要素を熱処理
し、記録特性を修正するステップとを含む。
ｅbＣcＨd０eを含む光記録層をスパッタリングすること
によって光記録層を生成するステップを含み、ａ、ｂ、
ｃ、ｄ、およびｅは原子百分率でありａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋
ｅ＝１００であり、かつ１０＜ａ＜４０、１０＜ｂ＜６
０、５＜ｃ＜３５、１５＜（ｃ＋ｄ）＜６５、ｅ≧０で
あり、光記録層はひとつ以上の基層を含み、基層は異な
る成分からなることが可能であり、さらに、（ｂ）光記
録層の厚さｔを、０．７Ｔｍｉｎ＜ｔ＜１．３Ｔｍｉｎ
の範囲に調整するステップと、（ｃ）記録要素を熱処理
し、記録特性を修正するステップとを含む。
【０００７】本発明によって生成される媒体は、記録感
度、非線形性、ジッタ、およびウィンドウマージンを含
む改良された性能パラメータを有する。
度、非線形性、ジッタ、およびウィンドウマージンを含
む改良された性能パラメータを有する。
【０００８】
【発明の実施の形態】本発明の重要な特徴は、媒体の記
録層および反射層は、記録層の厚さが適用波長に対する
Ｔｍｉｎに近いように選択されることである。用語Ｔｍ
ｉｎは、エネルギー反射率を記録媒体の記録層厚さの関
数として示す代表的な図である図１によって理解するこ
とができる。図１の場合、記録媒体はポリカーボネート
基板に被着される記録層および記録層に被着されるＡｕ
反射材よりなる。反射層の厚さは、反射層の透過率が無
視できる程度の厚さである。図１に示されるエネルギー
反射率は、波長７８０ｎｍにて測定され、基板を通して
測定される。エネルギー反射率は分光光度計を使用して
測定できることは、当業者には周知である。図表の記録
層の光特性および厚さの単位は、任意である。しかし、
曲線は、この形式のすべての記録媒体を代表するもので
ある。エネルギー反射率は、その最大値から始まり厚さ
の増加と共に減少し、極小値となった後、また別の極大
値まで増加し、このようにして、光干渉効果のため無限
数の極小値および極大値を生成する。最小記録層厚さに
おける弱め合う干渉の結果生じる極小値は、第一のエネ
ルギー反射率極小値であり、以下Ｒｍｉｎと呼ぶ。Ｒｍ
ｉｎに対応する厚さを、説明上Ｔｍｉｎと呼ぶ。好適に
は、光記録層の厚さｔは、０．７Ｔｍｉｎ＜ｔ＜１．３
Ｔｍｉｎである。記録層はひとつ以上の基層を含むこと
ができる。図１を参照すると、Ｒｍｉｎはほぼ６６％で
あり、Ｔｍｉｎは約５８厚さ単位である。しかし、たと
えば、測定波長が６３５ｎｍに変更されるときは、図表
の特性は類似のままであるが、ＲｍｉｎおよびＴｍｉｎ
は図１に示されるものとは異なることを指摘しておく必
要がある。
録層および反射層は、記録層の厚さが適用波長に対する
Ｔｍｉｎに近いように選択されることである。用語Ｔｍ
ｉｎは、エネルギー反射率を記録媒体の記録層厚さの関
数として示す代表的な図である図１によって理解するこ
とができる。図１の場合、記録媒体はポリカーボネート
基板に被着される記録層および記録層に被着されるＡｕ
反射材よりなる。反射層の厚さは、反射層の透過率が無
視できる程度の厚さである。図１に示されるエネルギー
反射率は、波長７８０ｎｍにて測定され、基板を通して
測定される。エネルギー反射率は分光光度計を使用して
測定できることは、当業者には周知である。図表の記録
層の光特性および厚さの単位は、任意である。しかし、
曲線は、この形式のすべての記録媒体を代表するもので
ある。エネルギー反射率は、その最大値から始まり厚さ
の増加と共に減少し、極小値となった後、また別の極大
値まで増加し、このようにして、光干渉効果のため無限
数の極小値および極大値を生成する。最小記録層厚さに
おける弱め合う干渉の結果生じる極小値は、第一のエネ
ルギー反射率極小値であり、以下Ｒｍｉｎと呼ぶ。Ｒｍ
ｉｎに対応する厚さを、説明上Ｔｍｉｎと呼ぶ。好適に
は、光記録層の厚さｔは、０．７Ｔｍｉｎ＜ｔ＜１．３
Ｔｍｉｎである。記録層はひとつ以上の基層を含むこと
ができる。図１を参照すると、Ｒｍｉｎはほぼ６６％で
あり、Ｔｍｉｎは約５８厚さ単位である。しかし、たと
えば、測定波長が６３５ｎｍに変更されるときは、図表
の特性は類似のままであるが、ＲｍｉｎおよびＴｍｉｎ
は図１に示されるものとは異なることを指摘しておく必
要がある。
【０００９】同じ成分を有し記録層の厚さが変化する一
連の記録媒体（以下、厚さシリーズと呼ぶ）を製作し
た。厚さシリーズの研究中に、性能は記録層厚さに強く
依存し、ほぼＴｍｉｎにおいて最大となることを発見し
た。このような結果については、従来技術による示唆ま
たは予測はないと思われるので、これは驚くべきことで
ある。
連の記録媒体（以下、厚さシリーズと呼ぶ）を製作し
た。厚さシリーズの研究中に、性能は記録層厚さに強く
依存し、ほぼＴｍｉｎにおいて最大となることを発見し
た。このような結果については、従来技術による示唆ま
たは予測はないと思われるので、これは驚くべきことで
ある。
【００１０】したがって、記録層厚さがほぼＴｍｉｎに
選択されることは、本発明の重要な特徴である。しか
し、記録層の厚さが０．７Ｔｍｉｎから１．３Ｔｍｉｎ
までの範囲にある場合も、記録層は効果的であることが
測定された。Ｒｍｉｎは、適切な光学常数を有する材料
を選択することと記録層の光学常数に影響を与える被着
パラメータを調整することの少なくとも一方によって便
利に変更できることは、当業者には理解される。
選択されることは、本発明の重要な特徴である。しか
し、記録層の厚さが０．７Ｔｍｉｎから１．３Ｔｍｉｎ
までの範囲にある場合も、記録層は効果的であることが
測定された。Ｒｍｉｎは、適切な光学常数を有する材料
を選択することと記録層の光学常数に影響を与える被着
パラメータを調整することの少なくとも一方によって便
利に変更できることは、当業者には理解される。
【００１１】光記録媒体を、図２に示す。基板１０は、
基板を覆って記録層１２および反射層１４を有する。こ
の例においては、記録層は、二つの基層１２ａおよび１
２ｂを有する二重層である。記録層は、単独層またはひ
とつ以上の基層を含む層であって良いことが分かる。記
録層１２は、厚さに沿って組成勾配を有する材料とする
こともできる。光記録層１２の厚さは、記録層厚さが
０．７Ｔｍｉｎから１．３Ｔｍｉｎまでであるように選
択される。保護層は、反射層を覆って共通で使用される
が、ここでは論じない。
基板を覆って記録層１２および反射層１４を有する。こ
の例においては、記録層は、二つの基層１２ａおよび１
２ｂを有する二重層である。記録層は、単独層またはひ
とつ以上の基層を含む層であって良いことが分かる。記
録層１２は、厚さに沿って組成勾配を有する材料とする
こともできる。光記録層１２の厚さは、記録層厚さが
０．７Ｔｍｉｎから１．３Ｔｍｉｎまでであるように選
択される。保護層は、反射層を覆って共通で使用される
が、ここでは論じない。
【００１２】記録は、記録層１２を記録層１２に焦点を
合わせられる書き込みレーザによってマーキングするこ
とによって実現される。焦点調節されたレーザビームに
よって、記録層は事実上室温を超える温度まで加熱さ
れ、媒体に変化が生ずる。変化は、層内の金属成分の凝
集、または材料の分解によるガス種の形成を含む可能性
があり、次に、ガス種によって気泡、空隙、またはピッ
トなどの形態による媒体パッケージの変形が惹起される
可能性がある。基板材料にいくらかのひずみが導入され
ることもある。いかなる場合にも、これらの変化の一部
または全部の組み合わせによってマークが形成され、次
に、焦点調節された読み取りレーザビームによってマー
クがリードバック（読み取り）される。
合わせられる書き込みレーザによってマーキングするこ
とによって実現される。焦点調節されたレーザビームに
よって、記録層は事実上室温を超える温度まで加熱さ
れ、媒体に変化が生ずる。変化は、層内の金属成分の凝
集、または材料の分解によるガス種の形成を含む可能性
があり、次に、ガス種によって気泡、空隙、またはピッ
トなどの形態による媒体パッケージの変形が惹起される
可能性がある。基板材料にいくらかのひずみが導入され
ることもある。いかなる場合にも、これらの変化の一部
または全部の組み合わせによってマークが形成され、次
に、焦点調節された読み取りレーザビームによってマー
クがリードバック（読み取り）される。
【００１３】光記録および再生方法のさらに完全な説明
ならびに光ディスクの構造については、アラン ビー
マーチャント（Ａｌｌａｎ Ｂ．Ｍａｒｃｈａｎｔ）に
よるＯｐｔｉｃａｌ Ｒｅｃｏｒｄｉｎｇ（１９９０）
を参照されたい。
ならびに光ディスクの構造については、アラン ビー
マーチャント（Ａｌｌａｎ Ｂ．Ｍａｒｃｈａｎｔ）に
よるＯｐｔｉｃａｌ Ｒｅｃｏｒｄｉｎｇ（１９９０）
を参照されたい。
【００１４】＜基板＞基板１０は、表面処理ありまたは
なしの光透過性樹脂によって製作することができる。基
板は、透明であり記録層１２を照明する光は基板１０を
透過する。図２の実施形態の場合に、好適な樹脂はポリ
カーボネートまたはポリアクリレートである。基板１０
は、レーザトラッキングのための導波溝を含むことがあ
る。
なしの光透過性樹脂によって製作することができる。基
板は、透明であり記録層１２を照明する光は基板１０を
透過する。図２の実施形態の場合に、好適な樹脂はポリ
カーボネートまたはポリアクリレートである。基板１０
は、レーザトラッキングのための導波溝を含むことがあ
る。
【００１５】＜エネルギー反射層＞エネルギー反射層１
４は、光記録材料に対して通常使用されるいずれかの金
属とすることができる。このような金属の例は、Ａｕ、
Ａｇ、Ｃｕ、Ａｌおよびこれらの合金からなるグループ
から選択される元素を含み、これらは真空蒸着またはス
パッタリングすることができる。金が、最も普通に使用
される。本明細書において使用される反射層は、純Ａｒ
中でスパッタリングによって被着される７００オングス
トロームのＡｕ層である。
４は、光記録材料に対して通常使用されるいずれかの金
属とすることができる。このような金属の例は、Ａｕ、
Ａｇ、Ｃｕ、Ａｌおよびこれらの合金からなるグループ
から選択される元素を含み、これらは真空蒸着またはス
パッタリングすることができる。金が、最も普通に使用
される。本明細書において使用される反射層は、純Ａｒ
中でスパッタリングによって被着される７００オングス
トロームのＡｕ層である。
【００１６】＜記録層＞本発明においては、ＴｅaＧｅb
ＣcＨd０eを含むひとつ以上の基層を有し、ａ、ｂ、
ｃ、ｄ、およびｅは原子百分率でａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ＝
１００であり、１０＜ａ＜４０、１０＜ｂ＜６０、５＜
ｃ＜３５、１０＜ｄ＜３５、ｅ≧０であり、二つ以上の
基層が使用されるとき各基層は異なる成分を有すること
ができる。
ＣcＨd０eを含むひとつ以上の基層を有し、ａ、ｂ、
ｃ、ｄ、およびｅは原子百分率でａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ＝
１００であり、１０＜ａ＜４０、１０＜ｂ＜６０、５＜
ｃ＜３５、１０＜ｄ＜３５、ｅ≧０であり、二つ以上の
基層が使用されるとき各基層は異なる成分を有すること
ができる。
【００１７】記録層被着の好適な方法は、ＧｅおよびＴ
ｅを含むターゲットのＤＣ反応性スパッタリングであ
る。雰囲気は、ＡｒまたはＫｒのようなスパッタガス、
およびメタン、アセチレン、および他の炭化水素のよう
な反応性ガスを含む。有用な薄膜は、Ｈ2、ＣＯ2のよう
な他のガスを使用して調製することもできる。炭素およ
び水素が反応性ガス混合物に含まれるときは、基層はＧ
ｅ、Ｔｅ、および炭素、水素を含む群から選択される元
素を含むことができる。合金スパッタリング方法を使用
することは可能であり、この場合は単独ターゲットはＴ
ｅおよびＧｅの両者を含む。記録層１２は同時スパッタ
リングによって被着することも可能であり、この場合は
各ターゲットは単独元素によって構成される。異なる組
成を有する二つ以上の基層（異なる流速によって生成さ
れる）が使用されるときは、これらの成分は、それぞれ
が異なる熱および光特性を有するように選択することが
できる。基板に隣接する基層は、好適には反射層に隣接
する基層より炭化水素含量が低い。これは、炭化水素流
速を変化することによって実現される。基層構造を適切
に選択することによって、記録層の感度が向上される。
ｅを含むターゲットのＤＣ反応性スパッタリングであ
る。雰囲気は、ＡｒまたはＫｒのようなスパッタガス、
およびメタン、アセチレン、および他の炭化水素のよう
な反応性ガスを含む。有用な薄膜は、Ｈ2、ＣＯ2のよう
な他のガスを使用して調製することもできる。炭素およ
び水素が反応性ガス混合物に含まれるときは、基層はＧ
ｅ、Ｔｅ、および炭素、水素を含む群から選択される元
素を含むことができる。合金スパッタリング方法を使用
することは可能であり、この場合は単独ターゲットはＴ
ｅおよびＧｅの両者を含む。記録層１２は同時スパッタ
リングによって被着することも可能であり、この場合は
各ターゲットは単独元素によって構成される。異なる組
成を有する二つ以上の基層（異なる流速によって生成さ
れる）が使用されるときは、これらの成分は、それぞれ
が異なる熱および光特性を有するように選択することが
できる。基板に隣接する基層は、好適には反射層に隣接
する基層より炭化水素含量が低い。これは、炭化水素流
速を変化することによって実現される。基層構造を適切
に選択することによって、記録層の感度が向上される。
【００１８】＜熱処理＞記録要素は、熱処理することが
できる。記録要素は、性能を改良するために、熱処理に
よって変化されるその特性を有することができる。熱処
理方法のさらに詳細な説明については、レイチャウズリ
（Ｒａｙｃｈａｕｄｈｕｒｉ）らによる１９９６年１０
月１５日出願の米国特許出願第０８／７３２，８２５
号、発明の名称“Ｒｅｃｏｒｄｉｎｇ Ｍｅｄｉａ ｆ
ｏｒ Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ Ｅｌｅｍｅｎｔ”を参照
されたい。この特許は本願に引用して援用する。
できる。記録要素は、性能を改良するために、熱処理に
よって変化されるその特性を有することができる。熱処
理方法のさらに詳細な説明については、レイチャウズリ
（Ｒａｙｃｈａｕｄｈｕｒｉ）らによる１９９６年１０
月１５日出願の米国特許出願第０８／７３２，８２５
号、発明の名称“Ｒｅｃｏｒｄｉｎｇ Ｍｅｄｉａ ｆ
ｏｒ Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ Ｅｌｅｍｅｎｔ”を参照
されたい。この特許は本願に引用して援用する。
【００１９】＜ディスク測定＞ディスクは、従来の光デ
ィスクテスタ、たとえば、コダック（Ｋｏｄａｋ）ＰＣ
Ｄ ６００ライタ／リーダを含む自動テスタを使用して
検査することができる。記録およびリードバックは２．
８ｍ／ｓの一定線速度において実行される。以下のパラ
メータを測定することができる。すなわち、Ｒｔｏｐ
（記録後の長いランド（land）のエネルギー反射率）、
最適記録電力（ＯＲＰ）、書き込みコントラスト（Ｒｔ
ｏｐによって分割される記録によるエネルギー反射率の
減少）、および非線形性（ＮＬ）（すべての態様間のピ
ーク変位の最大差）、ウィンドウマージン（ＷＭ）、お
よびジッタを測定することができる。コンパクトディス
ク記録スキーマには、１８態様があり、それらの内の９
態様はレーザ露光によって作製され、マーク（ｍａｒ
ｋ）と呼ばれ、残りはレーザビームに対する非露光によ
って生成される態様でありランド（ｌａｎｄ）と呼ばれ
る。リードバック信号は、検出ウィンドウ幅の倍数、Ｔ
（１．４ｍ／ｓの線速度に対するＴ＝２３１．４ｎ
ｓ）、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ．．．．．．．１１Ｔによって
表現される。対応するマークは、３Ｍ、４Ｍ、５
Ｍ、．．．．１１Ｍとして示され、３Ｍはマークの最小
であり，１１Ｍは最大である。同様に、９個のランドが
３Ｌ、４Ｌ、５Ｌ．．．．．１１Ｌとして示される。Ｓ
３Ｍ、Ｓ４Ｍ．．．．．Ｓ１１Ｍは、対応するマークの
ジッタである。Ｓ３Ｌ、Ｓ４Ｌ．．．．．Ｓ１１Ｌは、
マーク間の対応するランドのジッタである。
ィスクテスタ、たとえば、コダック（Ｋｏｄａｋ）ＰＣ
Ｄ ６００ライタ／リーダを含む自動テスタを使用して
検査することができる。記録およびリードバックは２．
８ｍ／ｓの一定線速度において実行される。以下のパラ
メータを測定することができる。すなわち、Ｒｔｏｐ
（記録後の長いランド（land）のエネルギー反射率）、
最適記録電力（ＯＲＰ）、書き込みコントラスト（Ｒｔ
ｏｐによって分割される記録によるエネルギー反射率の
減少）、および非線形性（ＮＬ）（すべての態様間のピ
ーク変位の最大差）、ウィンドウマージン（ＷＭ）、お
よびジッタを測定することができる。コンパクトディス
ク記録スキーマには、１８態様があり、それらの内の９
態様はレーザ露光によって作製され、マーク（ｍａｒ
ｋ）と呼ばれ、残りはレーザビームに対する非露光によ
って生成される態様でありランド（ｌａｎｄ）と呼ばれ
る。リードバック信号は、検出ウィンドウ幅の倍数、Ｔ
（１．４ｍ／ｓの線速度に対するＴ＝２３１．４ｎ
ｓ）、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ．．．．．．．１１Ｔによって
表現される。対応するマークは、３Ｍ、４Ｍ、５
Ｍ、．．．．１１Ｍとして示され、３Ｍはマークの最小
であり，１１Ｍは最大である。同様に、９個のランドが
３Ｌ、４Ｌ、５Ｌ．．．．．１１Ｌとして示される。Ｓ
３Ｍ、Ｓ４Ｍ．．．．．Ｓ１１Ｍは、対応するマークの
ジッタである。Ｓ３Ｌ、Ｓ４Ｌ．．．．．Ｓ１１Ｌは、
マーク間の対応するランドのジッタである。
【００２０】＜実施例 １．＞米国特許第５，５８５，
１５８号に開示の方法に類似の方法に従って、Ａｒ＋Ｃ
Ｈ4雰囲気下において、ポリカーボネートディスク基板
に記録層を被着させた。米国特許第５，５８５，１５８
号の開示内容は本願に引用により援用する。８枚のディ
スクを、図２に従って製作した。基層１２ａに対する被
着時間は３．０秒に固定し、基層１２ｂに対する被着時
間は５秒から１２秒の範囲において１秒刻みで変化させ
た。したがって、これらのディスクは厚さシリーズを形
成した。
１５８号に開示の方法に類似の方法に従って、Ａｒ＋Ｃ
Ｈ4雰囲気下において、ポリカーボネートディスク基板
に記録層を被着させた。米国特許第５，５８５，１５８
号の開示内容は本願に引用により援用する。８枚のディ
スクを、図２に従って製作した。基層１２ａに対する被
着時間は３．０秒に固定し、基層１２ｂに対する被着時
間は５秒から１２秒の範囲において１秒刻みで変化させ
た。したがって、これらのディスクは厚さシリーズを形
成した。
【００２１】被着後、ディスクを７００オングストロー
ムの金反射層によって被覆し、スピン塗布紫外線硬化保
護ラッカー被覆によって仕上げた。ディスクを空気中
で、１６時間、１１０℃熱処理した。
ムの金反射層によって被覆し、スピン塗布紫外線硬化保
護ラッカー被覆によって仕上げた。ディスクを空気中
で、１６時間、１１０℃熱処理した。
【００２２】ディスクを、ＰＣＤ６００ライタ／リーダ
検査システムを使用し、２．４ｍ／ｓの一定線速度で記
録し、リードバックした。性能パラメータとして、Ｒｔ
ｏｐ、最適記録電力（ＯＲＰ）、非線形性（ＮＬ）、ウ
ィンドウマージン（ＷＭ）、およびＳｍａｘ（すべての
態様から選択される最大ジッタ）を測定した。結果を、
表１に示す。
検査システムを使用し、２．４ｍ／ｓの一定線速度で記
録し、リードバックした。性能パラメータとして、Ｒｔ
ｏｐ、最適記録電力（ＯＲＰ）、非線形性（ＮＬ）、ウ
ィンドウマージン（ＷＭ）、およびＳｍａｘ（すべての
態様から選択される最大ジッタ）を測定した。結果を、
表１に示す。
【００２３】
【表１】 基層１２ｂ Ｒｔｏｐ Ｓｍａｘ ＷＭ ＮＬ ＯＲＰ 被着時間（秒） （％） （％） （％） （ｎｓ） （ｍＷ） ５ ６５．８ １４．７ ２８．４ ３７．２ １４．５ ６ ６４．１ １１．８ ３３．２ ３４．０ １３．８ ７ ６１．９ １０．４ ４０．７ ２８．０ １２．２ ８ ６０．１ ９．８ ４９．４ １９．４ １０．２ ９ ６０．１ ９．１ ５６．５ １２．９ ８．５ １０ ６０．６ ９．２ ５７．６ １０．６ ８．５ １１ ６１．９ ８．９ ５４．８ １０．６ ９．２ １２ ６３．２ ９．２ ４８．０ １１．７ １０．８ ディスクの性能データを、図３、４、５、６にも示す。
図３は、Ｒｔｏｐ対基層１２ｂの被着時間の関係を示す
図表である。Ｒｔｏｐは基層１２ｂの被着時間が約９秒
であるときに最小値に達することが分かる。対応する記
録層厚さ（基層１２ａおよび１２ｂの合計厚さ）は、Ｔ
ｍｉｎである。図３では、右側縦軸にＳｍａｘが表示さ
れていることに注意されたい。図３によれば、Ｓｍａｘ
は、基層１２ｂの被着時間（厚さ）の増加と共に低下
し、９秒から１０秒の１２ｂの被着時間において最小値
に達した後、再び増加する。明らかに、記録層厚さがほ
ぼＴｍｉｎであるときに、Ｓｍａｘが最小となる。
図３は、Ｒｔｏｐ対基層１２ｂの被着時間の関係を示す
図表である。Ｒｔｏｐは基層１２ｂの被着時間が約９秒
であるときに最小値に達することが分かる。対応する記
録層厚さ（基層１２ａおよび１２ｂの合計厚さ）は、Ｔ
ｍｉｎである。図３では、右側縦軸にＳｍａｘが表示さ
れていることに注意されたい。図３によれば、Ｓｍａｘ
は、基層１２ｂの被着時間（厚さ）の増加と共に低下
し、９秒から１０秒の１２ｂの被着時間において最小値
に達した後、再び増加する。明らかに、記録層厚さがほ
ぼＴｍｉｎであるときに、Ｓｍａｘが最小となる。
【００２４】図４においては、ＷＭは、基層１２ｂの被
着時間の増加と共に増加し、最大値に達した後、また減
少する。図４によれば、最高のＷＭは１０秒の１２ｂの
被着時間を有するディスクの場合であり、その記録層厚
さはほぼＴｍｉｎであることが明らかである。
着時間の増加と共に増加し、最大値に達した後、また減
少する。図４によれば、最高のＷＭは１０秒の１２ｂの
被着時間を有するディスクの場合であり、その記録層厚
さはほぼＴｍｉｎであることが明らかである。
【００２５】図５によれば、ＮＬは基層１２ｂの被着時
間の増大と共に減少し、最小値に達した後、再び増加す
る。明らかに、ＮＬは１０秒の１２ｂの被着時間のディ
スクの場合に最小であり、その記録層厚さはほぼＴｍｉ
ｎである。
間の増大と共に減少し、最小値に達した後、再び増加す
る。明らかに、ＮＬは１０秒の１２ｂの被着時間のディ
スクの場合に最小であり、その記録層厚さはほぼＴｍｉ
ｎである。
【００２６】図６によれば、ＯＲＰは、基層１２ｂの被
着時間の増加と共に減少した後、また増加する。ＯＲＰ
の減少は、書き込み感度の増加を意味する。図６によれ
ば、書き込み感度は９秒および１０秒の被着時間のディ
スクの場合に最高であり、その記録層厚さはほぼＴｍｉ
ｎであることが明らかである。
着時間の増加と共に減少した後、また増加する。ＯＲＰ
の減少は、書き込み感度の増加を意味する。図６によれ
ば、書き込み感度は９秒および１０秒の被着時間のディ
スクの場合に最高であり、その記録層厚さはほぼＴｍｉ
ｎであることが明らかである。
【００２７】＜実施例 ２．＞９枚のディスクよりなる
別の厚さシリーズを製作した。基層１２ａの被着時間は
４．０秒に固定し、基層１２ｂの被着時間は４秒から１
２秒まで１秒刻みで変化させた。
別の厚さシリーズを製作した。基層１２ａの被着時間は
４．０秒に固定し、基層１２ｂの被着時間は４秒から１
２秒まで１秒刻みで変化させた。
【００２８】被着後、ディスクは７００オングストロー
ムの金反射層で被覆し、スピン塗布紫外線硬化保護ラッ
カー被覆によって仕上げをした。ディスクは、９２℃に
おいて１５時間熱処理した。
ムの金反射層で被覆し、スピン塗布紫外線硬化保護ラッ
カー被覆によって仕上げをした。ディスクは、９２℃に
おいて１５時間熱処理した。
【００２９】ディスクを計測し、前述したＰＣＤ６００
ライタ／リーダを使用してその性能を測定した。結果を
表２に示す。
ライタ／リーダを使用してその性能を測定した。結果を
表２に示す。
【００３０】
【表２】 基層１２ｂ Ｒｔｏｐ Ｓｍａｘ ＷＭ ＮＬ ＯＲＰ 被着時間（秒） （％） （％） （％） （ｎｓ) （ｍＷ） ４ ６１．９ １２．６ ３４．９ ２９．６ １５．４ ５ ５８．４ １１．７ ４１．５ ２７．９ １２．１ ６ ５５．８ １０．１ ４９．０ ２２．７ １１．０ ７ ５４．９ ８．６ ５６．７ １４．５ １０．３ ８ ５４．９ ８．２ ５９．７ １１．１ ９．８ ９ ５５．８ ８．４ ５９．７ ９．８ ９．７ １０ ５５．８ ９．４ ５４．８ １１．１ １０．０ １１ ５８．４ １０．３ ５０．１ １３．３ ９．８ １２ ６１．０ １１．６ ４３．１ １５．６ １０．０ ディスクの性能データは、図７、８、９、１０にも示
す。図７は、Ｒｔｏｐ対基層１２ｂの被着時間の関係を
示す図表である。明らかに、Ｒｔｏｐは、１２ｂの被着
時間が約８秒であるときに最小値に達する。対応する記
録層厚さ（基層１２ａおよび１２ｂの合計厚さ）は、Ｔ
ｍｉｎである。図７においては、右側縦軸にＳｍａｘが
表示されていることに注意されたい。図７によれば、Ｓ
ｍａｘは、基層１２ｂの被着時間（厚さ）の増加と共に
減少し、８秒の基層１２ｂの被着時間において最小値に
達した後、また増加する。明らかに、記録層厚さがほぼ
Ｔｍｉｎであるときに、Ｓｍａｘが最小となる。
す。図７は、Ｒｔｏｐ対基層１２ｂの被着時間の関係を
示す図表である。明らかに、Ｒｔｏｐは、１２ｂの被着
時間が約８秒であるときに最小値に達する。対応する記
録層厚さ（基層１２ａおよび１２ｂの合計厚さ）は、Ｔ
ｍｉｎである。図７においては、右側縦軸にＳｍａｘが
表示されていることに注意されたい。図７によれば、Ｓ
ｍａｘは、基層１２ｂの被着時間（厚さ）の増加と共に
減少し、８秒の基層１２ｂの被着時間において最小値に
達した後、また増加する。明らかに、記録層厚さがほぼ
Ｔｍｉｎであるときに、Ｓｍａｘが最小となる。
【００３１】図８によれば、ＷＭは、基層１２ｂの被着
時間の増加と共に増加し、最大値に達し、以後減少す
る。図８によれば、明らかに、最高ＷＭは８秒および９
秒の１２ｂの被着時間を有するディスクの場合であり、
その記録層厚さはほぼＴｍｉｎである。
時間の増加と共に増加し、最大値に達し、以後減少す
る。図８によれば、明らかに、最高ＷＭは８秒および９
秒の１２ｂの被着時間を有するディスクの場合であり、
その記録層厚さはほぼＴｍｉｎである。
【００３２】図９によれば、ＮＬは、基層１２ｂの被着
時間の増加と共に減少し、最小値に達し、次いで増加す
る。明らかに、ＮＬは９秒の基層１２ｂの被着時間の場
合に最小であり、その記録層厚さはほぼＴｍｉｎであ
る。
時間の増加と共に減少し、最小値に達し、次いで増加す
る。明らかに、ＮＬは９秒の基層１２ｂの被着時間の場
合に最小であり、その記録層厚さはほぼＴｍｉｎであ
る。
【００３３】図１０によれば、ＯＲＰは、基層１２ｂの
被着時間の増加と共に減少した後、また増加する。図１
０によれば、明らかに、書き込み感度は９秒の基層１２
ｂの被着時間を有するディスクの場合に最高であり、そ
の記録層厚さはほぼＴｍｉｎである。
被着時間の増加と共に減少した後、また増加する。図１
０によれば、明らかに、書き込み感度は９秒の基層１２
ｂの被着時間を有するディスクの場合に最高であり、そ
の記録層厚さはほぼＴｍｉｎである。
【００３４】＜実施例 ３．＞９枚のディスクよりなる
また別の厚さシリーズを製作した。基層１２ａの被着時
間は５．０秒に固定し、基層１２ｂの被着時間は４秒か
ら１２秒まで１秒刻みで変化させた。
また別の厚さシリーズを製作した。基層１２ａの被着時
間は５．０秒に固定し、基層１２ｂの被着時間は４秒か
ら１２秒まで１秒刻みで変化させた。
【００３５】被着後、ディスクは７００オングストロー
ムの金反射層で被覆し、スピン塗布紫外線硬化保護ラッ
カー被覆によって仕上げをした。ディスクは、１１６℃
において１６時間熱処理した。
ムの金反射層で被覆し、スピン塗布紫外線硬化保護ラッ
カー被覆によって仕上げをした。ディスクは、１１６℃
において１６時間熱処理した。
【００３６】ディスクを計測し、前述したＰＣＤ６００
ライタ／リーダを使用してその性能を測定した。結果を
表３に示す。
ライタ／リーダを使用してその性能を測定した。結果を
表３に示す。
【００３７】
【表３】 基層１２ｂ Ｒｔｏｐ Ｓｍａｘ ＷＭ ＮＬ ＯＲＰ 被着時間（秒） （％） （％） （％） （ｎｓ） （ｍＷ） ４ ６１．０ １１．５ ４３．７ ２４．９ １１．５ ５ ５８．４ １０．３ ４９．１ ２２．０ １０．３ ６ ５７．５ ８．６ ５７．５ １２．８ ８．６ ７ ５７．５ ７．９ ６１．４ １０．０ ７．９ ８ ５８．４ ８．４ ５９．８ ９．９ ８．４ ９ ６０．１ ９．４ ５４．８ １１．２ ９．４ １０ ６１．９ １０．４ ５０．７ １１．９ １０．４ １１ ｎ／ａ １１．４ ４４．４ １４．２ １１．４ １２ ６６．７ １３．４ ３４．８ １８．６ １３．４ ディスクの性能データは、図１１、１２、１３、１４に
も示す。図１１は、Ｒｔｏｐ対基層１２ｂの被着時間の
関係を示す図表である。明らかに、Ｒｔｏｐは、１２ｂ
の被着時間が６秒から７秒であるときに最小値に達す
る。対応する記録層厚さ（基層１２ａおよび１２ｂの合
計厚さ）は、Ｔｍｉｎである。図１１においては、右側
縦軸にＳｍａｘが表示されていることに注意されたい。
図１１によれば、Ｓｍａｘは、基層１２ｂの被着時間
（厚さ）の増加と共に減少し、７秒の基層１２ｂの被着
時間において最小値に達した後、また増加する。明らか
に、記録層厚さがほぼＴｍｉｎであるときに、Ｓｍａｘ
が最小となる。
も示す。図１１は、Ｒｔｏｐ対基層１２ｂの被着時間の
関係を示す図表である。明らかに、Ｒｔｏｐは、１２ｂ
の被着時間が６秒から７秒であるときに最小値に達す
る。対応する記録層厚さ（基層１２ａおよび１２ｂの合
計厚さ）は、Ｔｍｉｎである。図１１においては、右側
縦軸にＳｍａｘが表示されていることに注意されたい。
図１１によれば、Ｓｍａｘは、基層１２ｂの被着時間
（厚さ）の増加と共に減少し、７秒の基層１２ｂの被着
時間において最小値に達した後、また増加する。明らか
に、記録層厚さがほぼＴｍｉｎであるときに、Ｓｍａｘ
が最小となる。
【００３８】図１２によれば、ＷＭは、基層１２ｂの被
着時間の増加と共に増加し、最大値に達し、また減少す
る。図１２によれば、明らかに、ＷＭは７秒の基層１２
ｂの被着時間を有するディスクの場合に最高であり、そ
の記録層厚さはほぼＴｍｉｎである。
着時間の増加と共に増加し、最大値に達し、また減少す
る。図１２によれば、明らかに、ＷＭは７秒の基層１２
ｂの被着時間を有するディスクの場合に最高であり、そ
の記録層厚さはほぼＴｍｉｎである。
【００３９】図１３によれば、ＮＬは、基層１２ｂの被
着時間の増加と共に減少し、最小値に達し、また増加す
る。明らかに、ＮＬは７秒または８秒の基層１２ｂの被
着時間の場合に最小であり、その記録層厚さはほぼＴｍ
ｉｎである。
着時間の増加と共に減少し、最小値に達し、また増加す
る。明らかに、ＮＬは７秒または８秒の基層１２ｂの被
着時間の場合に最小であり、その記録層厚さはほぼＴｍ
ｉｎである。
【００４０】図１４によれば、ＯＲＰは、基層１２ｂの
被着時間の増加と共に減少した後、また増加する。図１
４によれば、明らかに、書き込み感度は７秒の基層１２
ｂの被着時間を有するディスクの場合に最高であり、そ
の記録層厚さはほぼＴｍｉｎである。
被着時間の増加と共に減少した後、また増加する。図１
４によれば、明らかに、書き込み感度は７秒の基層１２
ｂの被着時間を有するディスクの場合に最高であり、そ
の記録層厚さはほぼＴｍｉｎである。
【００４１】＜実施例 ４．＞８枚のディスクよりなる
別の厚さシリーズを製作した。基層１２ａの被着時間は
２秒から５秒まで０．５秒刻みで変化させたが、基層１
２ｂの被着時間は８．０秒に固定した。
別の厚さシリーズを製作した。基層１２ａの被着時間は
２秒から５秒まで０．５秒刻みで変化させたが、基層１
２ｂの被着時間は８．０秒に固定した。
【００４２】被着後、ディスクは７００オングストロー
ムの金反射層で被覆し、スピン塗布紫外線硬化保護ラッ
カー被覆によって仕上げをした。ディスクは、１００℃
において１６時間熱処理した。
ムの金反射層で被覆し、スピン塗布紫外線硬化保護ラッ
カー被覆によって仕上げをした。ディスクは、１００℃
において１６時間熱処理した。
【００４３】ディスクを計測し、前述したＰＣＤ６００
ライタ／リーダを使用してその性能を測定した。結果を
表４に示す。
ライタ／リーダを使用してその性能を測定した。結果を
表４に示す。
【００４４】
【表４】 基層１２ａ Ｒｔｏｐ Ｓｍａｘ ＷＭ ＮＬ ＯＲＰ 被着時間（秒） （％） （％） （％） （ｎｓ） （ｍＷ） ２．０ ６６．７ １１．０ ４６．７ １４．４ １５．２ ２．５ ６４．９ １０．０ ４９．６ １２．５ １３．４ ３．０ ６４．１ ９．４ ５１．９ １２．１ １１．５ ３．５ ６２．３ ９．３ ５３．８ １１．６ １０．６ ４．０ ６２．３ ９．０ ５５．２ １１ １０．１ ４．５ ６１．９ ９．１ ５４．９ １１．１ ９．７ ５．０ ６１．９ ９．８ ５３．５ １０．５ ９．２ ディスクの性能データは、図１５、１６、１７、１８に
も示す。図１５は、Ｒｔｏｐ対基層１２ｂの被着時間の
関係を示す図表である。図１５によれば、Ｒｔｏｐエネ
ルギー反射率は、基層１２ｂの被着時間が３．５秒から
５．０秒までの範囲で非常に緩やかな変化を示す。明ら
かに、Ｒｔｏｐは、基層１２ａの被着時間が約４．５秒
であるときに最小値を示す。対応する記録層厚さ（基層
１２ａおよび１２ｂの合計厚さ）は、Ｔｍｉｎである。
図１５においては、右側縦軸にＳｍａｘが表示されてい
ることに注意されたい。図１５によれば、Ｓｍａｘは、
基層１２ｂの被着時間（厚さ）の増加と共に減少し、約
４秒の基層１２ｂの被着時間において最小値に達した
後、また増加する。明らかに、記録層厚さがほぼＴｍｉ
ｎであるときに、Ｓｍａｘが最小となる。
も示す。図１５は、Ｒｔｏｐ対基層１２ｂの被着時間の
関係を示す図表である。図１５によれば、Ｒｔｏｐエネ
ルギー反射率は、基層１２ｂの被着時間が３．５秒から
５．０秒までの範囲で非常に緩やかな変化を示す。明ら
かに、Ｒｔｏｐは、基層１２ａの被着時間が約４．５秒
であるときに最小値を示す。対応する記録層厚さ（基層
１２ａおよび１２ｂの合計厚さ）は、Ｔｍｉｎである。
図１５においては、右側縦軸にＳｍａｘが表示されてい
ることに注意されたい。図１５によれば、Ｓｍａｘは、
基層１２ｂの被着時間（厚さ）の増加と共に減少し、約
４秒の基層１２ｂの被着時間において最小値に達した
後、また増加する。明らかに、記録層厚さがほぼＴｍｉ
ｎであるときに、Ｓｍａｘが最小となる。
【００４５】図１６によれば、ＷＭは、基層１２ａの被
着時間の増加と共に増加し、最大値に達し、また減少す
る。図１６によれば、明らかに、ＷＭは約４秒の基層１
２ｂの被着時間を有するディスクの場合に最高であり、
その記録層厚さはほぼＴｍｉｎである。
着時間の増加と共に増加し、最大値に達し、また減少す
る。図１６によれば、明らかに、ＷＭは約４秒の基層１
２ｂの被着時間を有するディスクの場合に最高であり、
その記録層厚さはほぼＴｍｉｎである。
【００４６】図１７によれば、ＮＬは、基層１２ｂの被
着時間の増加と共に減少し、最小値に達し、また増加す
る。明らかに、ＮＬは約４．５秒の基層１２ａの被着時
間の場合に最小であり、その記録層厚さはほぼＴｍｉｎ
である。
着時間の増加と共に減少し、最小値に達し、また増加す
る。明らかに、ＮＬは約４．５秒の基層１２ａの被着時
間の場合に最小であり、その記録層厚さはほぼＴｍｉｎ
である。
【００４７】図１８によれば、ＯＲＰは、基層１２ａの
被着時間の増加と共に減少した後、また増加する。図１
８によれば、明らかに、書き込み感度は約４．５秒また
は５秒の基層１２ａの被着時間を有するディスクの場合
に最高であり、その記録層厚さはほぼＴｍｉｎである。
被着時間の増加と共に減少した後、また増加する。図１
８によれば、明らかに、書き込み感度は約４．５秒また
は５秒の基層１２ａの被着時間を有するディスクの場合
に最高であり、その記録層厚さはほぼＴｍｉｎである。
【００４８】実施例１から４によれば、多様な被着時
間、階層構造、および熱処理を実行することによって多
種の厚さシリーズが生成されることが分かる。各厚さシ
リーズおよび全厚さシリーズの場合に、Ｔｍｉｎの近傍
において、ディスク性能は最高となり、すなわち、Ｓｍ
ａｘ、ＮＬ、およびＯＲＰは最小値となり、ＷＭは最高
値となることが明らかである。
間、階層構造、および熱処理を実行することによって多
種の厚さシリーズが生成されることが分かる。各厚さシ
リーズおよび全厚さシリーズの場合に、Ｔｍｉｎの近傍
において、ディスク性能は最高となり、すなわち、Ｓｍ
ａｘ、ＮＬ、およびＯＲＰは最小値となり、ＷＭは最高
値となることが明らかである。
【００４９】ほぼＴｍａｘに等しい記録層厚さにおいて
性能は最高となるが、記録層厚さが０．７Ｔｍｉｎから
１．３Ｔｍｉｎまでの範囲にあるときは、許容できる性
能を得ることができる。
性能は最高となるが、記録層厚さが０．７Ｔｍｉｎから
１．３Ｔｍｉｎまでの範囲にあるときは、許容できる性
能を得ることができる。
【００５０】以上、本発明を、本発明のある一定の好適
な実施形態を特に参照して述べたが、本発明の思想およ
び範囲内において、異形、拡張、変形を実施できること
は理解される。
な実施形態を特に参照して述べたが、本発明の思想およ
び範囲内において、異形、拡張、変形を実施できること
は理解される。
【図１】 要素エネルギー反射率対光干渉効果より得ら
れる光記録層の厚さの関係を示す図である。
れる光記録層の厚さの関係を示す図である。
【図２】 本発明による要素の断面を示す概略図であ
る。
る。
【図３】 実施例１のＲトップと呼ばれるエネルギー反
射率対基層１２ｂの被着時間の関係およびＳｍａｘ対基
層１２ｂの被着時間の関係を示す図である。
射率対基層１２ｂの被着時間の関係およびＳｍａｘ対基
層１２ｂの被着時間の関係を示す図である。
【図４】 実施例１のウィンドウマージン（ＷＭ）対基
層１２ｂの被着時間の関係を示す図である。
層１２ｂの被着時間の関係を示す図である。
【図５】 実施例１の非線形性（ＮＬ）との関係を示す
図である。
図である。
【図６】 実施例１の最適記録電力（ＯＲＰ）との関係
を示す図である。
を示す図である。
【図７】 実施例２のＲトップと呼ばれるエネルギー反
射率対基層１２ｂの被着時間の関係およびＳｍａｘ対基
層１２ｂの被着時間の関係を示す図である。
射率対基層１２ｂの被着時間の関係およびＳｍａｘ対基
層１２ｂの被着時間の関係を示す図である。
【図８】 実施例２のウィンドウマージン（ＷＭ）対基
層１２ｂの被着時間の関係を示す図である。
層１２ｂの被着時間の関係を示す図である。
【図９】 実施例２の非線形性（ＮＬ）との関係を示す
図である。
図である。
【図１０】 実施例２の最適記録電力（ＯＲＰ）との関
係を示す図である。
係を示す図である。
【図１１】 実施例３のＲトップと呼ばれるエネルギー
反射率対基層１２ｂの被着時間の関係およびＳｍａｘ対
基層１２ｂの被着時間の関係を示す図である。
反射率対基層１２ｂの被着時間の関係およびＳｍａｘ対
基層１２ｂの被着時間の関係を示す図である。
【図１２】 実施例３のウィンドウマージン（ＷＭ）対
基層１２ｂの被着時間の関係を示す図である。
基層１２ｂの被着時間の関係を示す図である。
【図１３】 実施例３の非線形性（ＮＬ）との関係を示
す図である。
す図である。
【図１４】 実施例３の最適記録電力（ＯＲＰ）との関
係を示す図である。
係を示す図である。
【図１５】 実施例４のＲトップと呼ばれるエネルギー
反射率対基層１２ｂの被着時間の関係およびＳｍａｘ対
基層１２ｂの被着時間の関係を示す図である。
反射率対基層１２ｂの被着時間の関係およびＳｍａｘ対
基層１２ｂの被着時間の関係を示す図である。
【図１６】 実施例４のウィンドウマージン（ＷＭ）対
基層１２ｂの被着時間の関係を示す図である。
基層１２ｂの被着時間の関係を示す図である。
【図１７】 実施例４の非線形性（ＮＬ）との関係を示
す図である。
す図である。
【図１８】 実施例４の最適記録電力（ＯＲＰ）との関
係を示す図である。
係を示す図である。
１０ 基板、１２ 記録層、１２ａ、１２ｂ 基層、１
４ 反射層。
４ 反射層。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 プラナブ ケイ レイチャウズリ アメリカ合衆国 ニューヨーク州 ロチェ スター ジェイ ビー レーン 147 (72)発明者 フレデリック バザン アメリカ合衆国 ニューヨーク州 ピッツ フォード バンテージ ドライブ ３
Claims (1)
- 【請求項１】 基板を含み前記基板表面を覆って光記録
層および光反射層を順次有する記録媒体であって、 （ａ）前記光記録層はＴｅaＧｅbＣcＨdＯeを含み、こ
こでａ、ｂ、ｃ、ｄ、およびｅは原子百分率すなわちａ
＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ＝１００であり、かつ１０＜ａ＜４
０、１０＜ｂ＜６０、５＜ｃ＜３５、１０＜ｄ＜３５、
ｅ≧０であり、 （ｂ）前記記録層はひとつ以上の基層を含み、前記基層
は異なる組成を有することが可能であり、 （ｃ）前記記録層の厚さｔは、０．７Ｔｍｉｎ＜ｔ＜
１．３Ｔｍｉｎであることを特徴とする記録媒体。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/902,544 | 1997-07-29 | ||
| US08/902,544 US5843553A (en) | 1997-07-29 | 1997-07-29 | High performance media for optical recording |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1196590A true JPH1196590A (ja) | 1999-04-09 |
Family
ID=25416003
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20781898A Pending JPH1196590A (ja) | 1997-07-29 | 1998-07-23 | 光記録用媒体 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5843553A (ja) |
| EP (1) | EP0895233A3 (ja) |
| JP (1) | JPH1196590A (ja) |
| TW (1) | TW377434B (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5972458A (en) * | 1998-04-01 | 1999-10-26 | Eastman Kodak Company | Optical recording element with an interfacial layer between the recording layer and the reflecting layer |
| JP2007157314A (ja) * | 2005-11-10 | 2007-06-21 | Canon Inc | 追記型光ディスク及び光記録方法 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4219826A (en) * | 1978-07-10 | 1980-08-26 | Rca Corporation | Optical recording medium |
| JPH02171286A (ja) * | 1988-12-26 | 1990-07-02 | Toshiba Corp | 情報記録媒体 |
| GB9017266D0 (en) * | 1990-08-07 | 1990-09-19 | Ici Plc | Optical recording elements |
| US5585158A (en) * | 1995-06-07 | 1996-12-17 | Eastman Kodak Company | Recordable optical element using low absorption materials |
-
1997
- 1997-07-29 US US08/902,544 patent/US5843553A/en not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-06-06 TW TW087108999A patent/TW377434B/zh active
- 1998-07-16 EP EP19980202393 patent/EP0895233A3/en not_active Withdrawn
- 1998-07-23 JP JP20781898A patent/JPH1196590A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW377434B (en) | 1999-12-21 |
| US5843553A (en) | 1998-12-01 |
| EP0895233A2 (en) | 1999-02-03 |
| EP0895233A3 (en) | 1999-05-12 |
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