JPS58100396A - プラズマ装置 - Google Patents
プラズマ装置Info
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- JPS58100396A JPS58100396A JP56197732A JP19773281A JPS58100396A JP S58100396 A JPS58100396 A JP S58100396A JP 56197732 A JP56197732 A JP 56197732A JP 19773281 A JP19773281 A JP 19773281A JP S58100396 A JPS58100396 A JP S58100396A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plasma
- potential
- anode
- space
- magnetic field
- Prior art date
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/10—Nuclear fusion reactors
Landscapes
- Plasma Technology (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の属する技術分野
本発明は開放系磁場によるプラズマ閉じ込めを可能とす
るプラズマ装置に関する@ 従来技術及び其の問題点 開放系磁場でプラズマを閉じ込める場合、プラズマの閉
じ込め時間を長くすることが核融合デで必畳なことはよ
く知られているが、被鵬合炉以外の用途に使用されるプ
ラズマIilllKm)ても、j119じ込め時間を長
くすればプラズマ発生装置O消費電力が少くて済み、プ
ラズマの会友を高くすることかで龜、更にプラズマを包
囲する―体壁への熱入力が壕滅されるなど、大龜な効果
が得られる〇開放系磁場によるプラズマ閉じ込めで閉じ
込め時間を長くするために杜、開放端におけゐプラギン
グが必畳とされる。このことは、九とえば、C・()・
rm@gano:Reduction of Lo
ll@I in 0pen −jlfadedM
agnetic Traps;NucJear ii’
uaion 、 111(’7G)、8゜1085など
の文献に記載されている〇プラギングには高周波によ4
46と静電場によるものがTob、静電場によるものに
杜電極を用いる電1法と、タンデムミラー形磁場による
両極性電位閉じ込めがあジ、これらはいずれも研究途上
にある。この電極法には、カスプ磁場のポイント及びラ
インカスプに陽極及び#Ik極からなる静電プラグを用
いた電磁トラップがある。第1図は電磁トラップの原珊
図で、文献T 、J 、DOlan、B、L。
るプラズマ装置に関する@ 従来技術及び其の問題点 開放系磁場でプラズマを閉じ込める場合、プラズマの閉
じ込め時間を長くすることが核融合デで必畳なことはよ
く知られているが、被鵬合炉以外の用途に使用されるプ
ラズマIilllKm)ても、j119じ込め時間を長
くすればプラズマ発生装置O消費電力が少くて済み、プ
ラズマの会友を高くすることかで龜、更にプラズマを包
囲する―体壁への熱入力が壕滅されるなど、大龜な効果
が得られる〇開放系磁場によるプラズマ閉じ込めで閉じ
込め時間を長くするために杜、開放端におけゐプラギン
グが必畳とされる。このことは、九とえば、C・()・
rm@gano:Reduction of Lo
ll@I in 0pen −jlfadedM
agnetic Traps;NucJear ii’
uaion 、 111(’7G)、8゜1085など
の文献に記載されている〇プラギングには高周波によ4
46と静電場によるものがTob、静電場によるものに
杜電極を用いる電1法と、タンデムミラー形磁場による
両極性電位閉じ込めがあジ、これらはいずれも研究途上
にある。この電極法には、カスプ磁場のポイント及びラ
インカスプに陽極及び#Ik極からなる静電プラグを用
いた電磁トラップがある。第1図は電磁トラップの原珊
図で、文献T 、J 、DOlan、B、L。
5−tanstield and J、M、Larme
n:pHasma Potentiaj 1nNlec
trostat+cally Pjugged C
u5ps and Mirrors:ThePhyc
lcs of 1ifjuids、1ll(’ 75)
、10.1383に掲載されえものである。
n:pHasma Potentiaj 1nNlec
trostat+cally Pjugged C
u5ps and Mirrors:ThePhyc
lcs of 1ifjuids、1ll(’ 75)
、10.1383に掲載されえものである。
―中O符号(1)12個1組のコイルで2軸のまわりに
軸対称に捲かれ、カスプ磁場を形成する。(2)はポイ
ントカスプに配設され丸中空円筒執の陽極。
軸対称に捲かれ、カスプ磁場を形成する。(2)はポイ
ントカスプに配設され丸中空円筒執の陽極。
(3)はポイントカスプに配設され丸中空円筒状O廁砺
、(4)はラインカスプに配設された2個illの環状
の陽極、(5)はラインカスプに配設された2個1親の
S状の一極である。この2個l躯のコイル(1)に挾ま
れた空間及びコイル(1)の内部の空間には一つの図示
されなi真空容器が配設され、この真空容器にはプラズ
マとなるべ電気体が充填され、一極(3)の少なくとも
一方の陽極(2)の反対の側には図示されない電子銃が
配設され、この電子銃から射出された電子は陰極(3)
及び陽極(2)を貫通して図示されない真空容器内を運
動し、充填された気体をイオン化してプラズマが形成さ
れる。点線(6)は、プラズマの存在する空間の境界を
示す。−極(3)及び陰極(5)の単位を零、陽極(2
)及び陽極(4)の電位をφ人としたと色、2軸近傍の
空間電位φはisZ図に示すIIK分布する0プラズマ
の存在する空間の電位はφ・で、O〈φ。〈φムである
。プラズマの存在する空間の両側には、陽@(2)の内
部に電位の山が形成され、電位の最も高い所で電位線φ
。+φ息となる。
、(4)はラインカスプに配設された2個illの環状
の陽極、(5)はラインカスプに配設された2個1親の
S状の一極である。この2個l躯のコイル(1)に挾ま
れた空間及びコイル(1)の内部の空間には一つの図示
されなi真空容器が配設され、この真空容器にはプラズ
マとなるべ電気体が充填され、一極(3)の少なくとも
一方の陽極(2)の反対の側には図示されない電子銃が
配設され、この電子銃から射出された電子は陰極(3)
及び陽極(2)を貫通して図示されない真空容器内を運
動し、充填された気体をイオン化してプラズマが形成さ
れる。点線(6)は、プラズマの存在する空間の境界を
示す。−極(3)及び陰極(5)の単位を零、陽極(2
)及び陽極(4)の電位をφ人としたと色、2軸近傍の
空間電位φはisZ図に示すIIK分布する0プラズマ
の存在する空間の電位はφ・で、O〈φ。〈φムである
。プラズマの存在する空間の両側には、陽@(2)の内
部に電位の山が形成され、電位の最も高い所で電位線φ
。+φ息となる。
イオンの電価を2・、電子の電価を−・とお−だと自エ
ネルギが2・φゑより小さいイオン′友び運動エネルギ
が6−0より小さい電子はプラズマの存在する空間から
畿鳩方向に脱出できず、イオンは矢印(7)に示す嶺に
、電子は矢印(8)k示す様に反射されてプラグ−?に
1にされる◎すなわち、プラズマのイオン温度をTi
、電子温度をT、とすると龜。
ネルギが2・φゑより小さいイオン′友び運動エネルギ
が6−0より小さい電子はプラズマの存在する空間から
畿鳩方向に脱出できず、イオンは矢印(7)に示す嶺に
、電子は矢印(8)k示す様に反射されてプラグ−?に
1にされる◎すなわち、プラズマのイオン温度をTi
、電子温度をT、とすると龜。
φi >>: kT1/Ze 、φ@ >) kTe/
’e 、 ・・・(1)とすることにより、プラズ
マの開放端におけるプラギングができ、閉じ込め時間を
格段に改善できることが、従来の電磁トラップの効果で
あった。
’e 、 ・・・(1)とすることにより、プラズ
マの開放端におけるプラギングができ、閉じ込め時間を
格段に改善できることが、従来の電磁トラップの効果で
あった。
この電磁トラップに4%次の様な問題点かあつ九。第2
図に示す如く、陽極(2)の内部に於て、空間電位は最
大φi+φ。となるが。
図に示す如く、陽極(2)の内部に於て、空間電位は最
大φi+φ。となるが。
Δφ 二 −□ −(φ 血 + φ 。 )
・・・(2)で与えられる陽極電
位と空間電位の差Δφは零にならず、Δφ〉Oである。
・・・(2)で与えられる陽極電
位と空間電位の差Δφは零にならず、Δφ〉Oである。
Δφが形成される原因は陽極の内部に電子が捕獲されて
電子群を形成し、この電子群が作る空間電荷により電場
が形成されるごとである。ΔφはZ軸からの距離【の関
数であり、Δφ=へφ(「)とあられすことができる。
電子群を形成し、この電子群が作る空間電荷により電場
が形成されるごとである。ΔφはZ軸からの距離【の関
数であり、Δφ=へφ(「)とあられすことができる。
電子群の作る電場の向自を考慮して。
Jl=→」
a、 <Osr>。
であることがわかる。2軸上で電場のr成分はOである
から、Δφは「=0で最大値Δφ。IIX eΔφmf
iX ”Δφ(0) をとる。従って陽極内で2軸上の電位は式(2)よりφ
1+φ6=φ、−ΔφmmN となる0φiとφ6はプラズマの粒子数平衡等で定まる
が概・同様程度の大きさで、φ1〜−8であるから、Z
軸上で、 φi〜φ。〜Σ(φ。−Δφm□) となる。電磁トラップに於ては、Δφmax6’非常に
大きくなり、はとんどφ□に等しくなる結果、Z軸上す
なわち「=0で、 φi〜φ。〜o、r=o ・・・(3)
となり、式+1>が成立しないことが知られている。
から、Δφは「=0で最大値Δφ。IIX eΔφmf
iX ”Δφ(0) をとる。従って陽極内で2軸上の電位は式(2)よりφ
1+φ6=φ、−ΔφmmN となる0φiとφ6はプラズマの粒子数平衡等で定まる
が概・同様程度の大きさで、φ1〜−8であるから、Z
軸上で、 φi〜φ。〜Σ(φ。−Δφm□) となる。電磁トラップに於ては、Δφmax6’非常に
大きくなり、はとんどφ□に等しくなる結果、Z軸上す
なわち「=0で、 φi〜φ。〜o、r=o ・・・(3)
となり、式+1>が成立しないことが知られている。
しかし、陽極内の大部分で線式(1)が成立し、式(3
)は「の非常に小さい部分だけで成立するからl1lE
f&トラツプでは静電プラグのプラズマ閉じ込め時間を
増加させる効果は大龜いが、r〜0で式(3)が成立す
る結果静電プラグにロスアパーチャが形成され、これを
通してプラーズマが漏れるために、プラズマ閉じ込め時
間の増加の効果が制限されてい九0発明の目的 本発明はかかる事情に鑑みてなされた−ので、その目的
とするところは、ロスアパーチャのない静電プラグを提
供し、もって高温密度のプラズマを長い時間閉じ込める
ことので色る開放系プラズマt7&1を実現することで
ある。
)は「の非常に小さい部分だけで成立するからl1lE
f&トラツプでは静電プラグのプラズマ閉じ込め時間を
増加させる効果は大龜いが、r〜0で式(3)が成立す
る結果静電プラグにロスアパーチャが形成され、これを
通してプラーズマが漏れるために、プラズマ閉じ込め時
間の増加の効果が制限されてい九0発明の目的 本発明はかかる事情に鑑みてなされた−ので、その目的
とするところは、ロスアパーチャのない静電プラグを提
供し、もって高温密度のプラズマを長い時間閉じ込める
ことので色る開放系プラズマt7&1を実現することで
ある。
発明の概要
プラズマ境界の近くに磁場方向に貫通した中空部を有す
る第−一極を配設して制御電極への電子の流入を抑制し
、第−一極につづいて配設した陽極−の中空部に延在す
る制御電極を設け、その電位を制御することによって陽
極の中空部の電位分布をm#t、てプラズマの存在する
空間の電位より高く保ち、第二の一極の電位はプラズマ
の電位より低くり、、%、てロスアパーチャがなく制御
電極への電子流入の少ない静電プラグを提供できた0発
明の実施例 #I3図は本発明の一実施例を示すプラズマ装置構成図
である。2111−組のコイルt1)は2軸のまわりに
軸対称に1かれ、図示されない電源とともに、プラズマ
を収容する開放系磁場の一種のカスプ磁場を発生Cる装
置を構成する。(4)はカスプ磁場の開放端のひとつで
あるラインカスプに配設された2個一組の環状の陽極、
(5)はラインカスプに配設された2個一組の環状の陰
極で、ラインカスプに於て磁場の方向と平行な零でない
成分を有する電場を形成する静電プラグを構成し、2個
一組のコイル(1)に挾まれた空間及び咳コイル11)
の内部の空間には、図示されない一つの真空容器が配設
され咳真空容器にはプラズマ境界([(6)を定める図
示されない嬉−壁が収容されている。プラズマの存在す
る空間の電位φ、は、第−壁の電位φ。で制御される。
る第−一極を配設して制御電極への電子の流入を抑制し
、第−一極につづいて配設した陽極−の中空部に延在す
る制御電極を設け、その電位を制御することによって陽
極の中空部の電位分布をm#t、てプラズマの存在する
空間の電位より高く保ち、第二の一極の電位はプラズマ
の電位より低くり、、%、てロスアパーチャがなく制御
電極への電子流入の少ない静電プラグを提供できた0発
明の実施例 #I3図は本発明の一実施例を示すプラズマ装置構成図
である。2111−組のコイルt1)は2軸のまわりに
軸対称に1かれ、図示されない電源とともに、プラズマ
を収容する開放系磁場の一種のカスプ磁場を発生Cる装
置を構成する。(4)はカスプ磁場の開放端のひとつで
あるラインカスプに配設された2個一組の環状の陽極、
(5)はラインカスプに配設された2個一組の環状の陰
極で、ラインカスプに於て磁場の方向と平行な零でない
成分を有する電場を形成する静電プラグを構成し、2個
一組のコイル(1)に挾まれた空間及び咳コイル11)
の内部の空間には、図示されない一つの真空容器が配設
され咳真空容器にはプラズマ境界([(6)を定める図
示されない嬉−壁が収容されている。プラズマの存在す
る空間の電位φ、は、第−壁の電位φ。で制御される。
すなわち#第−壁とプラズマの間に存在するシースを介
するプラズマ電子及びイオンの伝導により、プラズマと
咳第−壁の電位差すなわちシース電圧φ、が定まるから
、 φp=φ6+φ、 ・・・(4
)により、φ、が定まる。(9)は磁場方向に貫通した
中空部を有する嬉−陰極、 (1(Iは皺第−陰極(9
)のプラズマの存在する空間(点線(6)で示される面
の内部の空間)の反対側に該第−の1砺(9)と離間し
て配設され磁場方向に貫通した中空部を有する陽極、α
υは該陽極(11のプラズマの存在する空間の反対側に
骸陽極−と離間して配設され九第二liI!砺、■は鋏
第二#Ikfiに穿設された貫通孔を該第二陰極と接触
せずに貫通し鍍陽極(1(Iの中空部に延在する制御電
極で、第−一極(9)、陽極四、第二陽極aυ及び制御
域fia湯は図示されない第−壁とともに静電プラグ0
を構−成し、本実施例ではカスプ磁場の開放端である二
つのポイントカスプに、それぞれ鋏静電プラグ0が配設
され、鋏静電プラグ轡は以下に詳述するように磁場の方
向と平行な零でない成分を有する電場を形成する。
するプラズマ電子及びイオンの伝導により、プラズマと
咳第−壁の電位差すなわちシース電圧φ、が定まるから
、 φp=φ6+φ、 ・・・(4
)により、φ、が定まる。(9)は磁場方向に貫通した
中空部を有する嬉−陰極、 (1(Iは皺第−陰極(9
)のプラズマの存在する空間(点線(6)で示される面
の内部の空間)の反対側に該第−の1砺(9)と離間し
て配設され磁場方向に貫通した中空部を有する陽極、α
υは該陽極(11のプラズマの存在する空間の反対側に
骸陽極−と離間して配設され九第二liI!砺、■は鋏
第二#Ikfiに穿設された貫通孔を該第二陰極と接触
せずに貫通し鍍陽極(1(Iの中空部に延在する制御電
極で、第−一極(9)、陽極四、第二陽極aυ及び制御
域fia湯は図示されない第−壁とともに静電プラグ0
を構−成し、本実施例ではカスプ磁場の開放端である二
つのポイントカスプに、それぞれ鋏静電プラグ0が配設
され、鋏静電プラグ轡は以下に詳述するように磁場の方
向と平行な零でない成分を有する電場を形成する。
第4図は113図に示す実施例の主1部の構成と作用を
示すもので、(1Nは静電プラグ構成図、(呻は空間電
位φ(r、x)の2依存を示す線図、(C)は空間電位
φ(r、z)のr依存を示す−1である0陽f&鱒には
電fia尋(至)により電位φaが与えられ、制御電極
Iには鋏電#a4により電位φ、が与えられ、第一陰極
(9)には電III[allによυ電位φklが、第二
陽極allには電#Qflより電位φklがそれぞれ与
えられる。各電位の間には、 φkl 9φに!<o<φ、〈φ3 ・・・(
5)の関係が成立する。鱈は第−壁で接地されておシ咳
第−壁の内部にはシースlを介してプラズマ■が接触°
している0プラズマの存在する空・間の電位φ は、式
(4)から、φ、=φ、であるO各電位φ8゜’g*’
k1m1kgの絶対値は静電プラグが有効に作用す石よ
うに大−くとられているから、1φpl<<lφkll
。
示すもので、(1Nは静電プラグ構成図、(呻は空間電
位φ(r、x)の2依存を示す線図、(C)は空間電位
φ(r、z)のr依存を示す−1である0陽f&鱒には
電fia尋(至)により電位φaが与えられ、制御電極
Iには鋏電#a4により電位φ、が与えられ、第一陰極
(9)には電III[allによυ電位φklが、第二
陽極allには電#Qflより電位φklがそれぞれ与
えられる。各電位の間には、 φkl 9φに!<o<φ、〈φ3 ・・・(
5)の関係が成立する。鱈は第−壁で接地されておシ咳
第−壁の内部にはシースlを介してプラズマ■が接触°
している0プラズマの存在する空・間の電位φ は、式
(4)から、φ、=φ、であるO各電位φ8゜’g*’
k1m1kgの絶対値は静電プラグが有効に作用す石よ
うに大−くとられているから、1φpl<<lφkll
。
1φksl Iφ2.φ8であるo(5)を参照して。
φkt oφに2<φ9〈す〈φ8 ・・・(6
)が成立する。
)が成立する。
第二陰極aυには貫通孔QDが穿設され、制御電極Iは
錬貫通孔Q1)を該第二陰極Qllと接触せずに貫通し
、陽極員の中空部@に延在する。
錬貫通孔Q1)を該第二陰極Qllと接触せずに貫通し
、陽極員の中空部@に延在する。
かくして構成され九嬉4図(→に実施例を示し九静電プ
ラグ嗜の作用と 発明の効果 を第4図(b)及び(C)を参照して説明すると *極
の中空部(2)には、電磁トラップのポイントカスプに
おける静電プラグの陽極内部と同様、電子が捕獲されて
電子群を形成し、該電子群が作る空間電荷により電場が
形成されるO 本発明における静電プラグが電磁トラップのボインドカ
スプにおける静電プラグと異なるところは、本発明の静
電プラグにおいては、陽極の中空部(2)に形成される
電子群の密度は制御電極α湯の電位φ、と陽極a・の電
位φ8によって制御され、その結果陽極の中空部@にお
ける空間電位φ(r、x)=φ(r。
ラグ嗜の作用と 発明の効果 を第4図(b)及び(C)を参照して説明すると *極
の中空部(2)には、電磁トラップのポイントカスプに
おける静電プラグの陽極内部と同様、電子が捕獲されて
電子群を形成し、該電子群が作る空間電荷により電場が
形成されるO 本発明における静電プラグが電磁トラップのボインドカ
スプにおける静電プラグと異なるところは、本発明の静
電プラグにおいては、陽極の中空部(2)に形成される
電子群の密度は制御電極α湯の電位φ、と陽極a・の電
位φ8によって制御され、その結果陽極の中空部@にお
ける空間電位φ(r、x)=φ(r。
11)が劃−されることで、電磁トラップのポイントカ
スブにおける静電プラグの様に、(3)弐に示される様
なr〜0における電位障壁の低下とそれによるロスアパ
ーチャの形成は1本発明における静電プラグにおいては
容易に回避できる0鋏陽極の中空部(2)における空間
電位φ(r、zl)は、#1Iliの内面の半極をR1
とし、該制御電極は「=几、にあるとすれば、 である。ここでφ0はφ(r41)の最小値でr=oに
おける電位であり、φ。〉φ、の条件は制御電極aノが
空間電位をflH4できるための必1条件である。
スブにおける静電プラグの様に、(3)弐に示される様
なr〜0における電位障壁の低下とそれによるロスアパ
ーチャの形成は1本発明における静電プラグにおいては
容易に回避できる0鋏陽極の中空部(2)における空間
電位φ(r、zl)は、#1Iliの内面の半極をR1
とし、該制御電極は「=几、にあるとすれば、 である。ここでφ0はφ(r41)の最小値でr=oに
おける電位であり、φ。〉φ、の条件は制御電極aノが
空間電位をflH4できるための必1条件である。
空間電位分布φ(r7zB)は第4図(→に示されてい
る。
る。
°陽極の中空部(2)で、電場はr方向を向いているか
ら、電子群は2軸のまわりをドリフトしている。
ら、電子群は2軸のまわりをドリフトしている。
(7)式に示される電位分布の安定なことは、仮に電位
分布が変化しても、制御電極αりの作用で電位分布が(
1)式に示されるものに戻ることでわかる。(力式が成
立していると趣、 φ(Rg、Z、)=φ、 ・・・(
8)である。仮に1電子帯度が増加すれば電場が強くな
り、φ(Rg、 Zl) <φ、となる。この電位では
、電子は急速に制御電極に衝突し吸収されるから、(8
)式が成立するまで電子密度は滅シつづけ、結局電位線
(8)式に戻る。また、仮に電子密度が減少すれば、φ
(Rg、 zl) >φ、となり、電子は制御電極に衝
突できなくなる。電子密度はプラズマから供給される電
子等により増加する傾向が強く、電子密度増加により、
結局電位は(8)弐に戻る。すなわち。
分布が変化しても、制御電極αりの作用で電位分布が(
1)式に示されるものに戻ることでわかる。(力式が成
立していると趣、 φ(Rg、Z、)=φ、 ・・・(
8)である。仮に1電子帯度が増加すれば電場が強くな
り、φ(Rg、 Zl) <φ、となる。この電位では
、電子は急速に制御電極に衝突し吸収されるから、(8
)式が成立するまで電子密度は滅シつづけ、結局電位線
(8)式に戻る。また、仮に電子密度が減少すれば、φ
(Rg、 zl) >φ、となり、電子は制御電極に衝
突できなくなる。電子密度はプラズマから供給される電
子等により増加する傾向が強く、電子密度増加により、
結局電位は(8)弐に戻る。すなわち。
空間電位は、制御電極の作用により、(7)弐に示され
る分布に、安定に保たれる。
る分布に、安定に保たれる。
次にプラズマ(至)の存在する空間の電位φ(r、z)
=φ(r、xl)を考える。プラズマ■の存在する空間
では、m場は非常に弱いから、電位φ(r、z3)は一
定と考えてよい、即ちφ(r、す)=φ、である。上述
の如く、シース電圧φ、とφ、は等しい。すなわち、φ
、=φ、である。シース電圧φ、は、プラズマを構成す
るイオンと電子のラーマ半径の相異によって負の値をと
り、その大急さは静電プラグの各電極に与える電位の大
きさ1φktl、lφkzl eφ、、φ1にくらべて
非常に小さい。すなわち。
=φ(r、xl)を考える。プラズマ■の存在する空間
では、m場は非常に弱いから、電位φ(r、z3)は一
定と考えてよい、即ちφ(r、す)=φ、である。上述
の如く、シース電圧φ、とφ、は等しい。すなわち、φ
、=φ、である。シース電圧φ、は、プラズマを構成す
るイオンと電子のラーマ半径の相異によって負の値をと
り、その大急さは静電プラグの各電極に与える電位の大
きさ1φktl、lφkzl eφ、、φ1にくらべて
非常に小さい。すなわち。
1φ、1(1φに、l、lφk11.す、φ8 ・・・
(9)である。JI4M!II(→には、2軸上の電位
φ(o、z)及び陽極内面に接し2軸に平行な直線上の
電位φ(R,、Z)が示されている。φ。=φ(’#”
l)がφ(r、sl)の最小値であること及びφに2<
φ、であることから全てのr4Cついて、イオン及び電
子の両方についての電位障−が形成されていて、陽極の
中空部(2)にはロスアパーチャが存在しないことがわ
かる。プラズマ(至)は嬉−鐘−の内部に存在し、陽極
の中空部四に形成された電子群とは隔離されている。イ
オンはポテンシャル障壁(φ(r、zl)−φ、)zに
より反射され、電子はポテンシャル障壁φ、−φに!に
より反射される。tl)に対応する関係。
(9)である。JI4M!II(→には、2軸上の電位
φ(o、z)及び陽極内面に接し2軸に平行な直線上の
電位φ(R,、Z)が示されている。φ。=φ(’#”
l)がφ(r、sl)の最小値であること及びφに2<
φ、であることから全てのr4Cついて、イオン及び電
子の両方についての電位障−が形成されていて、陽極の
中空部(2)にはロスアパーチャが存在しないことがわ
かる。プラズマ(至)は嬉−鐘−の内部に存在し、陽極
の中空部四に形成された電子群とは隔離されている。イ
オンはポテンシャル障壁(φ(r、zl)−φ、)zに
より反射され、電子はポテンシャル障壁φ、−φに!に
より反射される。tl)に対応する関係。
φ。−φp>>kTi/Ze 、φ、−φに鵞))kT
−・・・Q@は、(9)が成立するから、容易に実現で
−る、従って、プラズマの閉じ込め時間を大幅に増加さ
せることのできる開放系プラズマ装置を実現できる。
−・・・Q@は、(9)が成立するから、容易に実現で
−る、従って、プラズマの閉じ込め時間を大幅に増加さ
せることのできる開放系プラズマ装置を実現できる。
次に第一陰極(9)の作用とプラズマ閉じ込めに関する
効果を説明する。第−陰1i (9)の中空部(至)の
電位は、鋏中空部(至)に空間電荷が存在しないとき、
第一陰極(9)の電位φklに近い負の高電位になる。
効果を説明する。第−陰1i (9)の中空部(至)の
電位は、鋏中空部(至)に空間電荷が存在しないとき、
第一陰極(9)の電位φklに近い負の高電位になる。
実11には負の高電位の部分へは、プラズマ電子は反射
さ−れて到達で自ないが、プラズマイオンは加速されて
到達で自る。従って、第一陰極の中空部(至)には−正
の空間電荷が存在し、皺中空部の電位φ(r、gl)は
空間電荷がないと仮定し九ときの電位より、0に近い値
をとる。第一@極の中空部−を飛行するイオンの一部は
捕獲されてイオン群を形成する。該イオン群の粒子損失
が少いときにはイオン密度は上昇して、その最大値であ
るφ(01g、)はプラズマ(至)の存在する空間の電
位φ、に達するがφpを越えることはない。この場合の
第一陰極の中空部(至)における電位分布φ(r、xl
)が、第4図(C)に示されている。制御電極はr ”
= Rgにあり、その位置での嬉−陽極の中空部(2)
Kおける電位φ(Rg、xl)はプラス1電位φ、よプ
負になるようになされている。すなわち。
さ−れて到達で自ないが、プラズマイオンは加速されて
到達で自る。従って、第一陰極の中空部(至)には−正
の空間電荷が存在し、皺中空部の電位φ(r、gl)は
空間電荷がないと仮定し九ときの電位より、0に近い値
をとる。第一@極の中空部−を飛行するイオンの一部は
捕獲されてイオン群を形成する。該イオン群の粒子損失
が少いときにはイオン密度は上昇して、その最大値であ
るφ(01g、)はプラズマ(至)の存在する空間の電
位φ、に達するがφpを越えることはない。この場合の
第一陰極の中空部(至)における電位分布φ(r、xl
)が、第4図(C)に示されている。制御電極はr ”
= Rgにあり、その位置での嬉−陽極の中空部(2)
Kおける電位φ(Rg、xl)はプラス1電位φ、よプ
負になるようになされている。すなわち。
−(R,,12)<−、・U
である0プラズマ(至)から射出された電子は、静電プ
ラグ0の中では電場の0方向成分が実際1零であるから
、「方向には変化しない。従って、仮に箒−陰極が鍼い
としたとき制御成極Q謙に衝央する電子は、蘂−陽極が
存在するために、α9式であられされる電位障壁φ、−
φ(Rg、!3)に出会う。プラズマの電子温度T6に
対応する電位差kTJe (kはボルツマン定*)K対
し、−2−φ・(Rg 、 z 2 )を、充分大−く
することにより、すなわち、 kTa/a <<φ、−φ(Bg、!2) とするこ
とによ)プラズマ(至)から射出されて、制御電極a湯
に遣する電子数を、嬉−一極がないと仮定した場合より
数桁少くすること唸容易にできる。制御電極へ入射する
電子は、制御電極を加熱するが、その熱入力を数桁少く
することが、嬉−陰極(9)の作用であるOプラズマか
ら射出される電子の密度はプラズマ密度と電子温度の平
方根の積に比例するから、蘂−陰極の上述の作用は、本
発明のプラズマ装置の静電プラグにより、高温高密度の
プラズマを閉じ込め得るという効果を奏する。
ラグ0の中では電場の0方向成分が実際1零であるから
、「方向には変化しない。従って、仮に箒−陰極が鍼い
としたとき制御成極Q謙に衝央する電子は、蘂−陽極が
存在するために、α9式であられされる電位障壁φ、−
φ(Rg、!3)に出会う。プラズマの電子温度T6に
対応する電位差kTJe (kはボルツマン定*)K対
し、−2−φ・(Rg 、 z 2 )を、充分大−く
することにより、すなわち、 kTa/a <<φ、−φ(Bg、!2) とするこ
とによ)プラズマ(至)から射出されて、制御電極a湯
に遣する電子数を、嬉−一極がないと仮定した場合より
数桁少くすること唸容易にできる。制御電極へ入射する
電子は、制御電極を加熱するが、その熱入力を数桁少く
することが、嬉−陰極(9)の作用であるOプラズマか
ら射出される電子の密度はプラズマ密度と電子温度の平
方根の積に比例するから、蘂−陰極の上述の作用は、本
発明のプラズマ装置の静電プラグにより、高温高密度の
プラズマを閉じ込め得るという効果を奏する。
次に、イオン群の粒子損失が大きいときKは。
第−陰極の中空部(至)の電位φ(r、sりは、’=R
aだけで#i4図(C)に示す電位に一致し、r (R
1では第4図(C) K示す電位より負の値をとる。こ
の場合、制御電極に向う電子に対する電位障壁φ、→(
Rg、!2)は第4図(C)に示すものよシ大−くなり
、第一#Ik極の上述の作用は一層有効に働くことにな
る。
aだけで#i4図(C)に示す電位に一致し、r (R
1では第4図(C) K示す電位より負の値をとる。こ
の場合、制御電極に向う電子に対する電位障壁φ、→(
Rg、!2)は第4図(C)に示すものよシ大−くなり
、第一#Ik極の上述の作用は一層有効に働くことにな
る。
発明の他の1!1例
本発明は開放系プラズマ装置に関するものである。実施
例ではカスプ磁場を用いたプラズマ装置につ匹て説明し
たが、磁場はカスプに限定せず、開放系なら本発明を適
用できることは言うまでもなく1例えば一様磁場、ンラ
ー磁場に適用してよい。またプラズマ装置の用途は限定
しない。例えば被融合炉、表面加工・処理、溶接、イオ
ン源等のプラズマ装置に適用できる。
例ではカスプ磁場を用いたプラズマ装置につ匹て説明し
たが、磁場はカスプに限定せず、開放系なら本発明を適
用できることは言うまでもなく1例えば一様磁場、ンラ
ー磁場に適用してよい。またプラズマ装置の用途は限定
しない。例えば被融合炉、表面加工・処理、溶接、イオ
ン源等のプラズマ装置に適用できる。
341図は電磁トラップの原場図、第2図は電磁トラッ
プの2軸近傍の空間電位の分布を示す線図、第3図は本
発明の一実施例を示すプラズマ装置構成図、@4図紘第
3図に示す実施例の主畳部の構成と作用を示すもので、
(4は静電プラグ構成図、(b)は空間電位の2依存を
示す線図、(C)は空間電位の「依存を示す線図である
。 11)・・コイル、 12) 、 (4) 、αの・・
・陽極、(3) 、 (5):・頗、 (9)−・・第
−陰極、 aυ・・・第二陰極、働・・・制御電極、
α】・・・静電プラグ。 Ta2.tiS、Ql!、lI’lj・1llfl、
us ・#E−II、四・・・プラズマ、 QB−・
・第二陰極の貢−通孔。 (2)・・・陽極(1(1・・・の中空部、(2)・・
・第−陽極(9)・・・の中空部。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 (ほか1名)
プの2軸近傍の空間電位の分布を示す線図、第3図は本
発明の一実施例を示すプラズマ装置構成図、@4図紘第
3図に示す実施例の主畳部の構成と作用を示すもので、
(4は静電プラグ構成図、(b)は空間電位の2依存を
示す線図、(C)は空間電位の「依存を示す線図である
。 11)・・コイル、 12) 、 (4) 、αの・・
・陽極、(3) 、 (5):・頗、 (9)−・・第
−陰極、 aυ・・・第二陰極、働・・・制御電極、
α】・・・静電プラグ。 Ta2.tiS、Ql!、lI’lj・1llfl、
us ・#E−II、四・・・プラズマ、 QB−・
・第二陰極の貢−通孔。 (2)・・・陽極(1(1・・・の中空部、(2)・・
・第−陽極(9)・・・の中空部。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 (ほか1名)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 プラズマを収容する開放系磁場を発生する装置と、プラ
ズマの存在する空間の電位を制御する手段と、該開放形
磁場の開放端に配設され磁場の方向−と平行な零でない
成分を有する電場を形成する静電プラグとを具備するプ
ラズマ装置に曽て、静電プラグの少くともひとつは磁場
方向に貫通した中”1部を有する嬉−陰極と、磁場方向
に貫通した中空部を有し、鋏嬉−陰極のプラズマの存在
する空間の反対側に鍍嬉−陰極と離間して配設された陽
極と、皺陽極のプラズマの存在する空間の反対側に該陽
極と時間して配設された纂二鴫極と、咳嬉=鴫極に穿設
された貫通孔と、皺貫通孔を皺第二1m1i@と接触せ
ずに貫通し鋏陽極の中空11に蝿在する制御電極と、各
電極に陽極、制御電極、第−及び嬉二鳴@01[K高い
電位を与える手段と、を7°ラス′。 具備することを特徴とする”%Gbマ装!。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56197732A JPS58100396A (ja) | 1981-12-10 | 1981-12-10 | プラズマ装置 |
| US06/423,293 US4584160A (en) | 1981-09-30 | 1982-09-24 | Plasma devices |
| EP82109022A EP0075953B1 (en) | 1981-09-30 | 1982-09-29 | Plasma devices |
| DE8282109022T DE3268687D1 (en) | 1981-09-30 | 1982-09-29 | Plasma devices |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56197732A JPS58100396A (ja) | 1981-12-10 | 1981-12-10 | プラズマ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58100396A true JPS58100396A (ja) | 1983-06-15 |
| JPH0237679B2 JPH0237679B2 (ja) | 1990-08-27 |
Family
ID=16379416
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56197732A Granted JPS58100396A (ja) | 1981-09-30 | 1981-12-10 | プラズマ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58100396A (ja) |
-
1981
- 1981-12-10 JP JP56197732A patent/JPS58100396A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0237679B2 (ja) | 1990-08-27 |
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