JPS58106479A - 交流遮断器の試験方法 - Google Patents
交流遮断器の試験方法Info
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- JPS58106479A JPS58106479A JP56205145A JP20514581A JPS58106479A JP S58106479 A JPS58106479 A JP S58106479A JP 56205145 A JP56205145 A JP 56205145A JP 20514581 A JP20514581 A JP 20514581A JP S58106479 A JPS58106479 A JP S58106479A
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- Japan
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- circuit
- short
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- breaker
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
- G01R31/333—Testing of the switching capacity of high-voltage circuit-breakers ; Testing of breaking capacity or related variables, e.g. post arc current or transient recovery voltage
- G01R31/3333—Apparatus, systems or circuits therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、電力用交流遮断器の短絡電流の遮断性能の
検証のだめに使用する試験方法に関すふものである。
検証のだめに使用する試験方法に関すふものである。
交流遮断器の短絡遮断性能の検証においては、検証すべ
き事項が幾つかあり、その中に直流分を多く含んだ電流
の短絡遮断性能の検証が含ま釣、ている。
き事項が幾つかあり、その中に直流分を多く含んだ電流
の短絡遮断性能の検証が含ま釣、ている。
近時、火力発電もしくは原子力発電等の大容量発電設備
に使用される発’に機においては、ある極端な例として
短絡電流に零点がない場合がある。すなわち、短絡［流
の中での交流会と直流分とを含む具合によっては、この
ような電流に零点がない現象が発生し得る。例えば、第
１図に示すように、直流分が多く含奮れ、しかも減衰の
時定数が比較的長い短絡ｍｃ流波形においては、交流会
の減衰が早いときに電流が一つの極性のみになってしま
う時間的領域が存在する。
に使用される発’に機においては、ある極端な例として
短絡電流に零点がない場合がある。すなわち、短絡［流
の中での交流会と直流分とを含む具合によっては、この
ような電流に零点がない現象が発生し得る。例えば、第
１図に示すように、直流分が多く含奮れ、しかも減衰の
時定数が比較的長い短絡ｍｃ流波形においては、交流会
の減衰が早いときに電流が一つの極性のみになってしま
う時間的領域が存在する。
通常、交流遮断器は、電流が零点となる時点でのみ電流
を遮断することが可能であるため、このような電流に対
する遮断性能の検証のためには、特別な対策を考ｌばす
る必要がある。
を遮断することが可能であるため、このような電流に対
する遮断性能の検証のためには、特別な対策を考ｌばす
る必要がある。
し力するに、この場合の特別な対策としては、前記のよ
うな零点を含まない短絡ｔＲを４断することの可能な遮
断器を使用することと、この糧の遮断器が前記短絡電流
を遮断し得ること全検証するための試験方法が要求され
る。
うな零点を含まない短絡ｔＲを４断することの可能な遮
断器を使用することと、この糧の遮断器が前記短絡電流
を遮断し得ること全検証するための試験方法が要求され
る。
一般に、交流遮断器の短絡性能の検証のためには、短絡
＠電機を使用する力１、もしくは系統から短絡電流を供
給する。また、通常の短絡試験場所では、機器は略固定
されており、その機器の定数も略固定されている。この
ため、第１図に示すような短絡電流に対して、交流会や
直流分の値もしくは減衰の時定数等を任意に変化させる
ことは殆んど困難である。また、第１図に示すような零
点のない短絡−ｆＩＬ流を供給し得る設備も比較的少な
い。従って、第１図に示すような短絡電流波形に対する
交流！ｉｒｒ器の遮断性能を検証するためには、試験方
法に工夫を要する。
＠電機を使用する力１、もしくは系統から短絡電流を供
給する。また、通常の短絡試験場所では、機器は略固定
されており、その機器の定数も略固定されている。この
ため、第１図に示すような短絡電流に対して、交流会や
直流分の値もしくは減衰の時定数等を任意に変化させる
ことは殆んど困難である。また、第１図に示すような零
点のない短絡−ｆＩＬ流を供給し得る設備も比較的少な
い。従って、第１図に示すような短絡電流波形に対する
交流！ｉｒｒ器の遮断性能を検証するためには、試験方
法に工夫を要する。
そこで、本発明者は、前述した零点のない短絡犠；流の
遮断性能を倹証し得る試験方法を得るべく極々検討を重
ねた結果、短絡ＩＩＬ流中の直流分を、交流電流を供給
すム回路と分離して供給し、この直流電流と交流電流と
を合成して供試遮断器に供給することにより、前記問題
点を解消し得ること全突き止めた。
遮断性能を倹証し得る試験方法を得るべく極々検討を重
ねた結果、短絡ＩＩＬ流中の直流分を、交流電流を供給
すム回路と分離して供給し、この直流電流と交流電流と
を合成して供試遮断器に供給することにより、前記問題
点を解消し得ること全突き止めた。
従って、本発明の目的は、交流遮断器の短絡電流遮断性
能の検証に際し、短絡電流に含む直流分を、交流電流を
供給する回路とは別に設けた直流電源から供給して、遮
断性能を有効に検証し得る交流遮断器の試験方法を提供
するにある。
能の検証に際し、短絡電流に含む直流分を、交流電流を
供給する回路とは別に設けた直流電源から供給して、遮
断性能を有効に検証し得る交流遮断器の試験方法を提供
するにある。
前記目的を達成するため、本発明においては、供試交流
遮断器に所定の周波数の交流′に流源と直流−１Ｉｔ流
源とより供給される合成電流によって直流分を含む短絡
電流全席し遮断性能を検証する方法において、前記直流
電流源は第１、第２の抵抗およびリアクトルを介して供
試交流遮断器に直流・電流を供給すふとともに所定の電
流値において短絡開閉器によって前記Ｍ１の抵抗および
リアクトルを介して短絡せしめられ、この５− 短絡によって供試交流Ｓ断器に流れるところの前記第２
の抵抗およびリアクトルによる減衰時定数を有する直流
′直流に前記交流電流源よりの交流藏＃、を電量させて
なる合成電流を短絡電流とすることを特徴とする。
遮断器に所定の周波数の交流′に流源と直流−１Ｉｔ流
源とより供給される合成電流によって直流分を含む短絡
電流全席し遮断性能を検証する方法において、前記直流
電流源は第１、第２の抵抗およびリアクトルを介して供
試交流遮断器に直流・電流を供給すふとともに所定の電
流値において短絡開閉器によって前記Ｍ１の抵抗および
リアクトルを介して短絡せしめられ、この５− 短絡によって供試交流Ｓ断器に流れるところの前記第２
の抵抗およびリアクトルによる減衰時定数を有する直流
′直流に前記交流電流源よりの交流藏＃、を電量させて
なる合成電流を短絡電流とすることを特徴とする。
次に、本発明に係る交流遮断器の試験方法の実施例につ
き添付図面を参照しながら以下詳細に・説明する。
き添付図面を参照しながら以下詳細に・説明する。
第２図は、本発明試験方法を実施する回路図である。す
なわち、第２図において、供試遮断器１０と直列に補助
遮断器１２を接続し、これらの遮断器１０．１２に対し
、リアクトル１４、投入器１６および遮断器１８を介し
て発電機２０に接続し、供ＢｊＳ遮断器１０に所定の試
験電流’ａｃを供給する回路を構成する。また、前記遮
断器１０．１２に対し、抵抗２２、リアクトル２４、開
閉器２６、抵抗２８およびリアクトル３０を介して直流
′１源３２に接続し、供試遮断器１０に所定の試験直流
’ｄｃを供給する回路を構成する。なお、前記試験電流
’ｄｃを供給する回路において、供試遮断器１０と補助
通断器１２と抵抗２２とリアクトル２４とからなる直列
回路に短絡開閉器３４全並列に接続する。
なわち、第２図において、供試遮断器１０と直列に補助
遮断器１２を接続し、これらの遮断器１０．１２に対し
、リアクトル１４、投入器１６および遮断器１８を介し
て発電機２０に接続し、供ＢｊＳ遮断器１０に所定の試
験電流’ａｃを供給する回路を構成する。また、前記遮
断器１０．１２に対し、抵抗２２、リアクトル２４、開
閉器２６、抵抗２８およびリアクトル３０を介して直流
′１源３２に接続し、供試遮断器１０に所定の試験直流
’ｄｃを供給する回路を構成する。なお、前記試験電流
’ｄｃを供給する回路において、供試遮断器１０と補助
通断器１２と抵抗２２とリアクトル２４とからなる直列
回路に短絡開閉器３４全並列に接続する。
次に、このように構成した回路を使用した場合における
本発明試験方法につき、第３図に示すタイムチャートを
参照しながら説明する。
本発明試験方法につき、第３図に示すタイムチャートを
参照しながら説明する。
薗ず、開閉器２６を閉略することにより、供試遮断器１
０には、直流電源３２より直流電流■４゜が供給される
。この場合、直流電流工ｄ。は、次式で示す突進率 Ｅｏ／（Ｌｏ十Ｌｄｃ） ・・・・（１）で、次
式で示す最終値 Ｅｏ／ （Ｒｏ＋”ｄｃ） ａｍ （２）に向
って増加することになる。
０には、直流電源３２より直流電流■４゜が供給される
。この場合、直流電流工ｄ。は、次式で示す突進率 Ｅｏ／（Ｌｏ十Ｌｄｃ） ・・・・（１）で、次
式で示す最終値 Ｅｏ／ （Ｒｏ＋”ｄｃ） ａｍ （２）に向
って増加することになる。
但し、前記式（１） 、 （２）において、Ｌｏ＝リア
クトル３０のインダクタンス値Ｒｏ＝抵抗２８の抵抗値 ＬｄＣ：リアクトル２４のインダクタンス値几ｄｃ”抵
抗２２の抵抗値 である。
クトル３０のインダクタンス値Ｒｏ＝抵抗２８の抵抗値 ＬｄＣ：リアクトル２４のインダクタンス値几ｄｃ”抵
抗２２の抵抗値 である。
そして、前記直流電流Ｉｄｏが所期の値となる時点で開
閉器３４を短絡する。これにより、前記直流電流’ｄｃ
は、リアクトル２４−抵抗２２−補助遮断器１２−供試
遮断器１〇−開閉器３４ｄ ＩＪアクドル２４の回路で
流れ始める。この場合の直流電流’ｄｃの減衰の時定数
は、Ｌｄｏ／ｌモｄ。
閉器３４を短絡する。これにより、前記直流電流’ｄｃ
は、リアクトル２４−抵抗２２−補助遮断器１２−供試
遮断器１〇−開閉器３４ｄ ＩＪアクドル２４の回路で
流れ始める。この場合の直流電流’ｄｃの減衰の時定数
は、Ｌｄｏ／ｌモｄ。
となる（第４図参照）。一方、前記開閉器３４の閉路に
略同期して、投入器１６を閉路することにより、発電機
２０より供試遮断器１０に交流電流’ａｃが流れ始める
。しかるに、この場合、直流電流工ｄ。と交流＝流’ａ
ｃとは供試遮断器１０に対して合成され、第５図に示す
よりな′１［、原波形となる。すなわち、第４図に増加
特性を有する直流電流’ｄｃが所期の値（例えば’ｄｃ
１）になった時点で、開閉器３４を短絡し、所要の減衰
特性を有する直流・１流に交流′直流’ａｃを重畳する
ことにより、第５図に示すような電流波形を得乙ことが
できる。
略同期して、投入器１６を閉路することにより、発電機
２０より供試遮断器１０に交流電流’ａｃが流れ始める
。しかるに、この場合、直流電流工ｄ。と交流＝流’ａ
ｃとは供試遮断器１０に対して合成され、第５図に示す
よりな′１［、原波形となる。すなわち、第４図に増加
特性を有する直流電流’ｄｃが所期の値（例えば’ｄｃ
１）になった時点で、開閉器３４を短絡し、所要の減衰
特性を有する直流・１流に交流′直流’ａｃを重畳する
ことにより、第５図に示すような電流波形を得乙ことが
できる。
従−って、前述したように、本発明方法によれば、供試
遮断器１０に対して供給する短絡電流につき、短絡電流
の中の直流分の含有率あるいはその減衰時定数を、交流
電流’ａｃを流す発電機２０の回路のｗ数とは分離して
直流電源３２より供給することができる。このため、供
試遮断器１０には、第４図に示すように、直流電流■、
。と交流電流’ａｃとが合成されて、零点を有する短絡
電流を供試遮断器１０に供給し、供試遮断器１０および
補助遮断器１２においてこの遮断電流全遮断することが
できる。
遮断器１０に対して供給する短絡電流につき、短絡電流
の中の直流分の含有率あるいはその減衰時定数を、交流
電流’ａｃを流す発電機２０の回路のｗ数とは分離して
直流電源３２より供給することができる。このため、供
試遮断器１０には、第４図に示すように、直流電流■、
。と交流電流’ａｃとが合成されて、零点を有する短絡
電流を供試遮断器１０に供給し、供試遮断器１０および
補助遮断器１２においてこの遮断電流全遮断することが
できる。
前述したようにして、供試遮断器１０と補助遮断器１２
とにより、短絡電流を遮断した後は、第２図に示すよう
に、供試遮断器１０をリアクトル３６とギャップ３８と
を介して光電コンデンサ４０に並列接続して、供試遮断
器１０の遮断性能を公知の手段により検証することがで
きる。なお、このような遮断性能を検証すふ電源回路は
公知であり、適宜充電用整流器４２、過渡回腹電圧調整
用の抵抗４４およびコンデンサ４６が接続され乙。
とにより、短絡電流を遮断した後は、第２図に示すよう
に、供試遮断器１０をリアクトル３６とギャップ３８と
を介して光電コンデンサ４０に並列接続して、供試遮断
器１０の遮断性能を公知の手段により検証することがで
きる。なお、このような遮断性能を検証すふ電源回路は
公知であり、適宜充電用整流器４２、過渡回腹電圧調整
用の抵抗４４およびコンデンサ４６が接続され乙。
前述した実施例から明らカニなように、本発明によれば
、直流分が過大に含まれた場合、菫たは、保有する試験
設備の短絡発電機での供給が不可能な直流分について、
簡単に供給することができる。また、この場合、直流分
の値および減衰時定数（”ｄｃ”ｄｃ ） ’に比較的
容易に変化させることができる。なお、前記の試験回路
では、各種異常電圧に対［７ての保護について特に説明
していないが、保護を必要とすべき個所には適宜の保護
手段を施すことは勿論である。
、直流分が過大に含まれた場合、菫たは、保有する試験
設備の短絡発電機での供給が不可能な直流分について、
簡単に供給することができる。また、この場合、直流分
の値および減衰時定数（”ｄｃ”ｄｃ ） ’に比較的
容易に変化させることができる。なお、前記の試験回路
では、各種異常電圧に対［７ての保護について特に説明
していないが、保護を必要とすべき個所には適宜の保護
手段を施すことは勿論である。
以上、本発明の好適な実施例について説明したが、本発
明の精神を逸脱しない範囲内において種々の設計変更を
なし得ることは勿論である。
明の精神を逸脱しない範囲内において種々の設計変更を
なし得ることは勿論である。
第１図は直流分を含む短絡電流の波形図、第２図は本発
明に係る交流遮断器の試験方法を実施する試験回路図、
第３図は第２図に示す回路の動作を示すタイムチャート
図、第４図は第２図に示す回路における供試遮断器に供
給される直流ｌｉＬ流の増加および減衰特性曲線図、第
５図は本発明方法により得られる直流分を含む短絡電流
の波形図である。 １０・・・供試遮断器 １２・・・補助遮断器１４・・
・リアクトル １６・・・投 入 器１８・・・遮
断 器 ２０・・・兄 ′＃Ｌ 機２２・・・
抵 抗 ２４・・・リアクトル２６１１．開 閉
器 ２８・・・抵 抗３０９１．リアクトル ３２
・・・直流′電源３４ ・・・開 閉 器 ３６
・・・ リ アク トル３８・・・ギ ャ ッ プ
４０・・・充電コンデンサ４２・・・充電用整流器 ４４・・・過渡回復電圧調整用抵抗 ４６・・・過渡回復電圧調整用コンデンサＦＩＧ、１ へ 匡 ＦＩＧ、５ ＦＩＧ、３ □時間 ＦＩＧ、４
明に係る交流遮断器の試験方法を実施する試験回路図、
第３図は第２図に示す回路の動作を示すタイムチャート
図、第４図は第２図に示す回路における供試遮断器に供
給される直流ｌｉＬ流の増加および減衰特性曲線図、第
５図は本発明方法により得られる直流分を含む短絡電流
の波形図である。 １０・・・供試遮断器 １２・・・補助遮断器１４・・
・リアクトル １６・・・投 入 器１８・・・遮
断 器 ２０・・・兄 ′＃Ｌ 機２２・・・
抵 抗 ２４・・・リアクトル２６１１．開 閉
器 ２８・・・抵 抗３０９１．リアクトル ３２
・・・直流′電源３４ ・・・開 閉 器 ３６
・・・ リ アク トル３８・・・ギ ャ ッ プ
４０・・・充電コンデンサ４２・・・充電用整流器 ４４・・・過渡回復電圧調整用抵抗 ４６・・・過渡回復電圧調整用コンデンサＦＩＧ、１ へ 匡 ＦＩＧ、５ ＦＩＧ、３ □時間 ＦＩＧ、４
Claims (1)
- （１）供試交流遮断器に所定の周波数の交流電流源と直
流゛１流源とより供給される合成電流によって直流分を
含む短絡１ｗ流を流し遮断性能を検証する方法において
、前記直流電流源は第１、第２の抵抗およびリアクトル
を介して供試交流遮断器に直流電流を供給するとともに
所定の電流値において短絡開閉器によって前記第１の抵
抗およびリアクトルを介して短絡せしめられ、この短絡
によって供試交流遮断器に流れるところの前記第２の抵
抗およびリアクトルによる減衰時定数を有する直流電流
に前記交＃、電流源よりの交流′１流を重畳させてなる
合成電流を短絡電流とすることを特徴とする交流遮断器
の試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56205145A JPS58106479A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 交流遮断器の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56205145A JPS58106479A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 交流遮断器の試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58106479A true JPS58106479A (ja) | 1983-06-24 |
Family
ID=16502162
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56205145A Pending JPS58106479A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 交流遮断器の試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58106479A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5287666A (en) * | 1976-01-16 | 1977-07-21 | Mitsubishi Electric Corp | Method of testing breaker |
| JPS52120367A (en) * | 1976-04-02 | 1977-10-08 | Hitachi Ltd | Dc breaker commutation breakage equivalent tester |
-
1981
- 1981-12-21 JP JP56205145A patent/JPS58106479A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5287666A (en) * | 1976-01-16 | 1977-07-21 | Mitsubishi Electric Corp | Method of testing breaker |
| JPS52120367A (en) * | 1976-04-02 | 1977-10-08 | Hitachi Ltd | Dc breaker commutation breakage equivalent tester |
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