JPS58106876A - 光電変換素子 - Google Patents

光電変換素子

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JPS58106876A
JPS58106876A JP56204538A JP20453881A JPS58106876A JP S58106876 A JPS58106876 A JP S58106876A JP 56204538 A JP56204538 A JP 56204538A JP 20453881 A JP20453881 A JP 20453881A JP S58106876 A JPS58106876 A JP S58106876A
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JP
Japan
Prior art keywords
band gap
film
photoelectric conversion
silicon film
conversion element
Prior art date
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Pending
Application number
JP56204538A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuaki Honma
本間 和明
Toyoji Fukami
深海 登世司
Tomoyoshi Aono
青野 朋義
Yoichi Abe
阿部 陽一
Yasumasa Kobayashi
保正 小林
Koji Ebara
幸治 江原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TOKYO DENKI DAIGAKU
Original Assignee
TOKYO DENKI DAIGAKU
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Filing date
Publication date
Application filed by TOKYO DENKI DAIGAKU filed Critical TOKYO DENKI DAIGAKU
Priority to JP56204538A priority Critical patent/JPS58106876A/ja
Publication of JPS58106876A publication Critical patent/JPS58106876A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F10/00—Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells
    • H10F10/10—Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells having potential barriers
    • H10F10/13—Photovoltaic cells having absorbing layers comprising graded bandgaps
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、7モルファスシリプン(以下a−Stとい
5)膜中に、バンド・ギャップを増す元素と減らす元素
、ならびに価電子制御用不純吻t、膜の厚さ方向に練度
勾配をつけて含ませることによって、強い内部電界tも
たせるとともに、バンド・ギヤツノな場所的に変化させ
たいわゆるダレイブイツト・バンド・ギャップ膜を作成
することによって高い光電変換効率な得られるようにし
た光電変換素子に関するものである。
以下、光電変換素子として太陽電池な例にとって説明す
る。
従来、開発されてきたa−8i太陽電池の構造は、ショ
ット千−障壁型およびp−1−n1liであり、活性領
域には王として一定のバンド・ギャップのアモルファス
膜が使用されてきた。
変換効率な高めるための工夫として、1−stct窓効
果に応用したもの、p−1−n素子を多層構造にして高
電圧な得るようにしたもの、さらにp−81/a−81
G@ヘテρ接合を設けたものなどが′報告されているが
、いずれも各領域でのバンド・ギャップは、一定の構造
であり、また、内部電界の効果も十分に活用されていな
いので、6〜7%s度の変換効率にとどまり一普及の最
低線と舊われている10%以上の高い変換効率を得るに
は至っていない。
この発明は、上記の点にかんがみなされたもので、ダレ
イブイツト・バンド・ギャップのa −81膜な用いる
ことによって、太陽光な直接電気エネルギーに変換する
ための有効な光の吸収波長範囲を広げるとともに、強い
内部電界の形成によって、a−8ill[における小さ
なキャリア拡散距離tドリフFで補う構成とすることK
よって、広い波長範囲にわたっての収集効率の改善なは
かった光電変換素子を提供するものである。以下この発
明について説明する。
第1図はこの発明の光電変換素子の一実施N%:示す断
面略図であり、t!1.2図シエそのバンド図である。
KIFIJにおいて、1は*−8i膜で、n層2゜ブレ
イブイツト・バンド・ギャップ層3.および9層4とか
らなる。5は透明導電性電極で、龜−8i膜1の光入射
面側に設けられ、藝は電極で同じく他面側に設けられる
。。
a −81膜1は、第2Iglのバンド図に示されるよ
うに構成される。すなわち、第2図において、E、は価
電子帯、E、は伝導帯、E、は7工ルミ単位、E*pt
はダレイブイツト・バンド・ギャップな示している。第
1図、第2図に示す実施例では、ダレイブイツト・バン
ド・ギャップE、、tY。
E、p亀=ムz+B   (A、Bは定数)として、a
−8i膜1の膜の厚さ方向(X方向)に対し連続的に勾
配tもたせたものである。
さらに、後述するよう(、ブレイブイツト・バンド・ギ
ャップ層3の厚み方向(X方向)に価電子制御用不純物
を連続的に濃度勾配tっけたものである。
上記の構成によると、価電子制御用不純物の濃度勾配に
よって強い内部電界がa−8i腰1の内部に形成される
ので、光の入射によって発生したキャリアの拡散距離を
内部電界によるドリフトで補うことができる。さらに、
a−8i膜1がブレイブイツト・バンド・ギャップ層3
としてバンド・ギャップを連続的に変化させks分な有
するので、上記内部電界と相まって広い波長範囲にわた
って収集効率の向上がはかれる。
第3図はこの発明の他の実施例を示す断面略図であり、
第4因はそのバンド図である。
M3@の実−例では、ブレイブイツト・バンドギャップ
層3が、第4図のバンド図のように、E*1t =Ae
” 十Be−”  (AI  BT  Rk@定数)の
指数関数傾斜11kしている点で第1図の直線傾斜型の
実施例と相違し【いる。
第5図、第6図はこの発明の実施例との効果の比較をす
るための比較例の構成を示す断面略図とそのバンド図で
ある。この比較例では、a−81膜1′は、n層2.ダ
レイブイツト・バンド・ギャップ層3′、および9層4
かうなっており、ダレイブイツト・バンド・ギャップ層
3′のダレイブイツト・バンド・ギャップW’*ptは
一定とし、内部電界のみ有するものとしている。以下第
7図、第8L−GB型、第3図の実施例VEX−GBI
I、第5図の比較例’kc−Bllと定義j6゜第7図
はAMI(赤道上の海抜零の点における′南中時の垂直
日射量)Kおける内部電界と理論変換効率との関係を示
したもので、活性領域であるブレイブイツト・バンド・
ギャップ層3,3′の厚さを0.5μmとし、各試料と
もn層2と9層4の実際の厚さが0.01μm程度に非
常に薄いので無視し、第1図、第3図のブレイブイツト
・バンド・ギャップ層3のダレイブイツト・バンド・ギ
ャップE、いは160〜1.7@Vの範囲で直線的また
は指数関数的に変化するものとし、第5図のブレイブイ
ツト・バンド・ギヤツノE′。、tは1.7eVの一定
とした。
第7図かられかるように、内部電界Eの増加につれて変
換効率が増加し、10@V/mにおいては、EX@GB
型、L−GB型ともC・B型にくらべ1.8倍以上に増
加している。
第8図は同じく理論収集効率の比較を示すもので、内部
電界Eは10’V/mとした場合である。
これから、この発明によるL−GB!、EX−GB型は
波長範囲が大−に広かつ一〇いることがわかる。
第9図はEX−GB型の理論収集効率の内部電界依存性
を示すもので、内部電界Eが強いはと収集効率が向上す
ることがわがる。
次に、この発明の光電変換素子の製造方法について説明
する。
まず、ダレイブイツト・バンド・ギャップ構造とするた
めには、a −8i膜1のバンド・ギャップを増す九X
(例えばC)の含有率と、バンド・ギャップY#らす元
素(例えばGe )の含有率t1膜の厚み方向!に対し
、例えば上述したようにE*pt=AI + B E(1pt= Ae” + Be−” のよ5に変化させるようにする。
このため、電極ε上に9層4を形成後、SiH。
トGeH4)混合ガスのグルー放電分・解によってa 
 S il −x G @x ’111な作成し、次い
で、炭化水素系ガスな希釈ガスとして8iH,vグロー
放電分解によってa−8i、−xCxNY作成し、上記
Xの値を場所的に変化させると、所要のバンド・ギャッ
プtもつダレイブイツト・バンド・ギャップ層3ができ
る。その後、a層2と透明導電性電極5を形成する。、
ブレイブイツト・バンド・ギャップ層3の厚さは構造(
よって種々異なるが、最適値はお!ソ、0.2〜1.5
μmの範H内であり、バンド・ギャップの変化幅は約1
.0〜2.2sVまでが可能である。第10図に膜の厚
み方向の距離xK対するGeとCの含有率の分布の一例
【示す図である1なお、W&工膜の厚みを示す。
次に、内部電界を増すための上記のC,Ge’に:含有
させる工程と同時に行われる不利智濃度について述べる
。
第11図は膜の厚み方向の距離Xに対するn形用不純物
の濃度と、p形相不純物の濃度の分布の一例な示す図で
ある。n形用不純物としてはP。
ムs、Sb、Bi等が、また、P要用不純物としてfl
B、 AI、 Ga、  In等が用いられる。これに
より内部電界を強(し発生したキャリアを有効に取り出
すことができる。
なお、上記の実施例ではブレイブイツト・、バンド・ギ
ャップE*ptの増減の元素としてCとG@な用(・た
が、この発明はこれに限定されるものでな(、同様の作
用を行う他の元素(N、anその他いでもよいことはい
うまでもない。また、第10図、第11図では模式的に
含有率や不純物鹸度を得/)りめのドーピングガスの比
率−を示しであるが、この他種々の形をとることができ
る。さらに、バンド・ギャップに傾斜’に4たせるのは
、第1図。
第3図の実施例のように、ブレイブイツト・バンド・ギ
ャップ層3のみならず、両側のn層2,2層3に及んで
もよい。また、41図、、第3図の実施例では光の入射
fAkn層22反対側Yp層3として説明してきたが、
n形用不純物とp形相不純物の分布の位置間9kを逆に
し、光の入射側kp層3、反対側kn層2としてもよい
ことはいうまでもない。
以上詳細に説明したように、この発明はアモルファスシ
リコン膜を使用した光電変換素子において、アモルファ
スシリコン膜なブレイブイツト・バンド・ギャップ膜と
し、光入射両側な広いバンド・ギャップとし、他面側を
狭いバンド・ギャップとし、その間を連続的に変化させ
るようにし、また、価電子制御用不純物についても連続
的に濃度勾配なつけて強い内部電界な形成させたので、
入射光の広い波長範囲にわたって光電変換が行われ、そ
のため収集効率を格段と向上させることかで7きる。し
たがつ文、アモルファスシリコン膜の低価格性を損5こ
となく為変換効率が実現でき、特に太陽電池として今後
の広い利用が期待されるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例な示す断面略図、第2図は
そのバンド図、第3図はこの発明の他の実施例を示す断
面略図、f@4図・工そのバンド図、第5図は比較例を
示す断面略図、第6図はそのバンド図、第7図を工内部
電界と理論変換効率との関係な示す特性図、第8図は理
論収集効率の比較を示す特性図、第9図はEX・QB屋
の理−収集効率の内部電界依存性を示−tIl#性図、
第1O図はGeとCの含有率の分布の一例奮示す図、第
11図は価電子制御の不純物濃度の分布の−IPlt’
示す図である。 図中、1はa−at膜、2はn層、3はダレイブイツト
・バンド・ギャップ層、4は2層、5は透明導電性電極
、6は電極、E、2.はブレイブイツト・バンド・ギャ
ップである。 ス=OW 第3図        第 ^=U                  W5図 X=OW 第10図 第11図 U        −X             W
第1頁の続き 0発 明 者 小林保止 東京都千代田区神田錦町2丁目 2番地学校法人東京電機大学工 学部内 0発 明 者 江原幸治 東京都千代田区神田錦町2丁目 2番地学校法人東京電機大学工 学部内 手続補正書印釦 昭和57年11月18日 特許庁長官殿 1、事件の表示 特願昭58−204538号2、発明
の名称 光電変換素子 3、補正をする者 事件との関イ系 特許出願人 住所 東京都千代田区神田錦町2丁目2番地名称 学校
法人 東京電機大学 代表者  理事長 蓮 見 孝 雄 4、代 理 人〒150 東京都渋谷区桜丘町31番16号 臭の松ビル6pl明
細書の特許請求の範囲の欄、発明の詳細な説明の欄およ
び図面 6、補正の内容 (1)明細書の特許請求の範囲を別紙のように補正する
。 (2)明細書第4頁9行の「連続的に勾配を」を、「連
続的にバンド・ギャップの変化を」と補正する。 (3)同じく第7頁11行の「・・・・・・に対し、例
えば」を、「・旧・・に対して変化させ、E aptが
、例えば」と補正する。 (4)同じく第8頁7行の「第1O図に」を、「第10
図は」と補正する。 (5)同じく第9頁10〜11行、12行、14〜15
行の「2層3」を、いずれも「2層4」と補正する。 (8)図面の第3図、第4図、第5図、お・よび第6図
を別紙のように・補正する。 以上 2、特許請求の範囲 アモルファスシリコン膜の光入射面側に透明導電性電極
を、他面側に電極を設けてなる光電変換素子において、
前記アモルファスシリコン膜にバンド・ギャップを増す
元素およびバンド・ギャップを減らす元素をその厚さ方
向に連続的に濃度勾配をつけて含有させて前記光入射面
側のバンド・ギャップを広く他面側を狭く連続的に変化
させて前記アモルファスシリコン膜をブレイブイツト舎
バンド・ギャップ−とするとともに、価電子制御用不純
物を前記アモルファスシリコン膜の憚さ方向に連続的に
濃度勾配をつけて含有させキャリア収集を有効に行うた
めの強い内部電界を形成させたことを特徴とする光電変
換素子。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 アモルファスシリコン膜の光入射面側に透明導電性電極
    t、他面側に電極を設けてなる光電変換素子において、
    前記アモルファスシリコン膜にバンド・ギャップを増す
    元素およびバンド・ギャップを減らす元素をその厚さ方
    向に連続的に浸度勾配tつけ【含有させて前記光入射面
    側のバンド・ギャップな広く他面側!狭く連続的に変化
    させて前記7そルファスシリコン膜tグレイデイット・
    バンド・ギャップ膜とするとともに、価電子制御用不純
    物を前記アモルファスシリコン膜の厚さ方向に連続的に
    濃度勾配tつけて含有させ強い内部電界を形成させたこ
    とt’!黴とする光電変換素子。
JP56204538A 1981-12-19 1981-12-19 光電変換素子 Pending JPS58106876A (ja)

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