JPS58111164A - 磁気デイスク清掃方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は回転するディスクに近接して磁気ヘッドが位置
づけられる磁気ディスク装置に関し、更に具体的に言え
ば、磁気ヘッドとディスク表面との間に汚染粒子や破片
の無い空隙を維持する方法に関するものである・ 現在及び将来の磁気ディスク装置において、ディスク表
面とそれに近接して空気ベアリングの作用により浮動す
る磁気ヘッドとの間の空隙は増々狭くなる傾向にある。

空隙が狭いことは磁気ディスク装置の磁気的パフォーマ
ンスを向上させるために重要であるが、汚染粒子が空隙
内に侵入する場合に問題を生じる。即ち、空隙内に汚染
粒子が存在することにより、ディスクの記録面に大きな
損傷をもたらす様なヘッド−ディスク干渉が起こったり
８、汚染粒子が磁気配録層中へ押し込まれることが起こ
って問題となる。磁気記録層中へ押し込まれた粒子は磁
気的欠陥をもたらすと共に、変換素子を支持しているス
ライダと接触して、その表面を傷つけるおそれがある０
この様な問題は米国特許第一５８５５６２５号に開示さ
れている型の磁気ヘッドが用いられる場合時ＶＣ重大で
ある。この型の磁気ヘッドは、ディスクの移動方向に沿
って延びるサイド・レールとディスクの移動方向に関連
して定められる前線及び後縁を有するスライダ妬変換素
子を装着したものである。変換素子はスライダの後縁に
装着されており、スライダはその後縁と変換素子とがデ
ィスクの半径方向において整列する様に半径方向に移動
可能なアクセス−アームに装着されている。スライダの
サイド・レールの前線には、テーパがつけられている◎
動作中、ディスク上にある汚染粒子はこのテーパ部分に
衝突すると、テーパ部分の下側にもぐり込み、くさび作
用によりディスクの記録層中に押し込まれることがしば
しば起こる。この様に汚染粒子が記録層中に押し込まれ
ると、記録層の磁気的及び物理的性質に悪影響を及ぼす
と共にスライダを損傷することもあるので１．望ましく
ないのである。

本発明はスライダを動かすアクセス機構の制御された動
きによってディスク表面の汚染粒子を追い払う方法を提
供することを意図し−ている０この方法は、スライダの
後縁がディスクの中心から延びる半径線に整列している
ので、スライダの前縁がその半径線に対して少し斜めに
なっているＸきキューを有する）ということを利用して
いる０デイスクの中心に対面しているサイドΦレールは
、後縁から前線のテーパ開始位置まで延びる堅い表面を
有する。通常、この表面の縁はディスクとほぼ平行であ
り、テーパ部分の表面よりもディスクに近くなっている
＠本発明の方法は、スライダがディスクの外側領域から
内側領域へ動かされるとき、前述のスキューに関連して
配置されている内側サイド・レールの直線部分を利用し
てディスクの表面を歩進的に清掃するものである０スラ
イダの前縁のスキューの程度に関連してスライダの歩進
ステップを選択することによって、テーパ部分の下側に
もぐり込めるほど小さく且つスライダのサイド・レニル
の直線部分とディスクとの間の間隔よりも大きな粒子は
、その直線部分の側面に衝突して追い払われ、空気流に
よってディスクの表面から外へ運ばれるので、テーパ部
分の下側にもぐり込んで記録層中に押し込まれる様なこ
とはなくなる。

ナＰｂ、スライダのスキュー配置自体は―＃願昭５５−
２０３７９４号に示されているＯこれから図面を参照し
ながら本発明について詳しく説明する。第１図において
、磁気ディスク１１の記録面１１ａに対面して変換素子
１５を装着したスライダ１２が位置づけられている。ス
ライダ１２は空気ベアリング作用によって記録面１１ａ
かられずかに浮上している０スライダ１２は米国特許第
５８５５６２５号に示されている型のものでよく、又、
変換素子１３は、米国特許４１９０８７２号に示されて
いる型のものでよいＯスライダ１２及び変換素子１３は
概略的に示されているアクセス機構１４によって記録面
１１＆と平行して半径方向に動かされる。実際には、ア
クセス機構１４は米国特許第４１９０８７Ｄ号に示され
ているボイスコイル・モータ型のものでよく、スライダ
１２は米国特許第４１．（５７７６５号に示されている
様な支持体によってアクセス機構１４に装着されて・い
）る。ご戊、ディスク１１は、例えばＩＢＭ５！１５０
．５３７０．５５８０磁気デイスク装置等に組込まれて
いるヘッド拳ディスクーアセンブリ（ＨＤＡ）の複数の
ディスクのうちの１つである。その場合、複数のディス
クの表面の１つ１つにスライダ及び変換素子が関連して
おり、それらはアクセス機構によって一緒に動かされて
複数のディスクの表面にある同心円状トラックに対して
位置づけられる様になっている。この様なＨＤＡ及び駆
動装置は汚染粒子を除くための空気フィルタ手段を備え
ているが、常に有効であるとは限らないのである。

第２ａ図及び第２ｂ図はスライダ１２及び変換素子１′
５の具体的な例を示している。スライダ１２はほぼ矩形
であり、ディスクの回転方向に延びる一対のサイド・レ
ール１６及び１７を有する〇一対の変換素子１３がスラ
イダ１２の後縁に装着されて℃・る。第１図に破線１１
ｂで示されている様に、ス・ライダ１２の後縁及び変換
素子１３はディスク１１の中心から延びる半径線に沿っ
て配置されている。

サイド・レール１６及び１７の前縁には、空気力学的作
用のためのテーパ部分１８及び１９が形成されているＯ
更に、スライダ１２は前線寄りにクロス・レール２１を
有すると共にクロス・レール２１とサイド・レール１６
．１７によって囲まれたくぼみ２２を有する０第２ａ図
に示されている様に、ディスク１１は適当な基板１．１
ｃｌ及びその上に塗布された磁気記録層１１．ｃから成
るＯ第３図はディスク表面１１＆上の汚染粒子を追い払
う本発明の方法による動作を示すための図である。この
図では、スライダ１２の後縁及び変換素子１３がディス
ク１１の半径線上にあることに基くスライダ１２の前縁
のスキューが誇張されている＠このスキューのために、
スライダ１２がディスク１１の中心へ向かって動かされ
、るとき、ディスク表面１１ａの任意の狭い区域はテー
ノく部分１８に出会う前にサイド・レール１６に出会う
ことになる。その区域は図示されている様に幅Ｘを有し
、本発明に従って清掃される相次ぐ区域の１つを表わし
ている。第３図から明らかな様に、もしアクセス機構１
４が正規の速度でスライダ１２をディスク１１の外側か
ら内側へ動かすならば、ディスク表面１１ａにある汚染
粒子のうちの幾つかがテーパ部分１８又は１９に出会っ
て、それによるくさび作用によってディスク表面１１Ｂ
から記録層１１ｃ中へ押し込まれることが起こりうるＯ
しかしながら、本発明によれば、この、様なことは完全
になくなるか又は非常に少なくなる。即ち本発明は、幅
Ｘ以下の歩進ステップでスライダ１２をディスク１１の
外側領域から内側領域へ歩進させ、且つ各歩進位置にお
いてディスク表面１１ａの各歩進区域全体を清掃するの
に十分な回数だけディスク１１が回転する間、スライダ
１２を停止させておくことを特徴としている。第３図か
ら明らかな様に、スライダ１２が半径線に沿って外側領
域から内側領域へ幅Ｘ以下の歩進ステップで歩進され且
つ少なくともディスク１１０１回転の間、各多巻位置に
留められるならば、ディスク表面１１ａの各歩進区域は
サイド・レール１６の直線部分と出会う筈であり、汚染
粒子はこの直線部、分によって追い払われる筈である◎
結局、この方法によってディスク表面１１ｍの全体から
汚染粒子が排除されるので、汚染粒子がスライダ１２の
テーパ部分に出会うことはなくなる。

本発明の方法の効果を調べるために何度もテストを行っ
ているので、次にそれについて詳しく説明する。

先ず１番から１６番までの番号で識別される機械的に良
好な１６個のディスク表面を有するＨＤＡを故意に１２
μのＡＬ２０３粒子で汚した。その結果の１ｃｍ２当り
の汚染の程度は実際にＨＤＡが被る汚染の程度よりも数
桁悪いものであった。サーボ面、即ち３番、４番、１１
番及び１２番のディスク表面に対応しているもの以外の
全てのヘッドの表面が汚染された。使用したヘッドは米
国特許第３８５５６２５号に示されている様な標準的な
ものであった。

次に、アクチュエータＡ及びＢを有する駆動装置にＨＤ
Ａを装着し、且つアクチュエータＡｔ［動する様にプロ
グラマブル・サーボ・システム・コントローラを設定し
た。アクチュエータＡ及びＢを解放し、アクチュエータ
Ａを用いて次の清掃シーケンスを実施した◎ アクチュエータＡを外側停止位置からトラック０１；、
即ち最も°外側のトラックへ移動させた後、このトラッ
クＤ及び後′畿の全てのトラックについて次の動作を行
った〇 （１）１００ミリ秒間トラック上でトラック追従動作を
行う（１回転に要する時間は１６ミリ秒であった）０ （シ）　１／２　トラック幅だけ内側へ動かし、４０ミ
リ秒間トラック追従動作を行う◇ （５）公称トラック上へ戻す・ （４）１）ラック幅だけ内側へ動かし、（１）のステッ
プを繰り返す◇ 内側ガード・バンドに到達した後、アクチュエータＡを
外側領域へ戻し、前記シーケンスを更に２回繰り返した
。結局、各トラックについて延べ３００ミリ秒間にわた
ってトラック追従動作を行ったことになる。もしスライ
ダが粒子をディスク内へ押し込んでいたならば、この時
間はスライダの後縁のアルミナを引っかくのに十分な時
間である。

以上の様に、アクチュエータＡＫついて本発明を実施し
たのである。アクチュエータＢについては清掃シーケン
スは行われなかった。アクチュエータＡを拘束した後、
アクチュエータＢを外側ガード・バンドから内側ガード
・バンドまで動かし、再び外側ガード・バ□ンドへ戻す
動作を１０回繰り返した。なお、その各動作は１秒程度
で行われた。

次に、トラック０から始まって各トラック毎に、５０Ｃ
１！Ｊ秒間トラック追従動作を行い、終ると次のトラッ
クへ移るというステップを内側ガード・バンドに到達す
るまで繰り返した。その後、アクチュエータＢをロック
した後、ＨＤＡを取り外して検査を行った。

どちらのアクチュエータに装着されているヘッドも粒子
を捕捉してディスクに一定の欠陥を生じさせているなら
ば、ヘレ□ドはトラック幅に相当するピッチで傷がつい
ている筈である。検査の結果は次の如くである。

以上の実験結果かられかるように、本発明による清掃方
法はディスクにゆるく付着している粒子若しくは破片を
排除するのに有効である。

【図面の簡単な説明】

第１図は磁気ディスク及びそれに関連したスライダ及び
変換素子を概略的に示す図、第２ａ図及び第２ｂ図は本
発明の実施のために用いられるスライダ及び変換素子の
側面図及び平面図、第３図は本発明による清掃動作を説
明するためにディスク表面の１部分とスライダとの関係
を示す図である０ １１φ・・Φ磁気ディスク、１２１１・・・スライダ、
１３・・・・変換素子、１４・・・・アクセス機構出願
人　　　インタ慴ル・ビジネス・マシ→ンズ・コーポレ
ーション代理人　弁理士　　山　　　本　　　仁　　　
朗（外１名）

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 回転する磁気ディスクの表面に近接して位置づけられて
   該磁気ディスクの半径方向に移動可能であり、旦つテー
   パのついた前縁、テーパのつイテいない側縁、及び上記
   磁気ディスクの半径線に整列した後縁を有するスライダ
   Ｃ具備する磁気ディスク装置において、上記磁気ディス
   クの表面の所定範囲における全ての汚染粒子が十言已ス
   ライダの側縁と出会う様に十分小さな歩進ステップで上
   記スライダを上記磁気ディスクの外側領域から内側領域
   へ歩進させることを特徴とする磁気ディスク清掃方法。