JPS58115302A - 加工物の面の平面度検査および表面あらさ測定方法 - Google Patents
加工物の面の平面度検査および表面あらさ測定方法Info
- Publication number
- JPS58115302A JPS58115302A JP57222188A JP22218882A JPS58115302A JP S58115302 A JPS58115302 A JP S58115302A JP 57222188 A JP57222188 A JP 57222188A JP 22218882 A JP22218882 A JP 22218882A JP S58115302 A JPS58115302 A JP S58115302A
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- transmission lever
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- stopper pin
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 21
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 11
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 7
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 claims description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/28—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B5/285—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for controlling eveness
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は加工物の面の平面度検査および表面あらさ測定
方法に関する。
方法に関する。
平面に仕上げられた加工物の面の平面度の検査の公知の
方法には、例えばストレートエラ名を用いての間隙光検
査法、隙間ゲージを挿入して行う方法および定盤を用い
て当りをみる方法がある。
方法には、例えばストレートエラ名を用いての間隙光検
査法、隙間ゲージを挿入して行う方法および定盤を用い
て当りをみる方法がある。
このような方法による平面度の検査では多くの不都合が
ある。すなわち、間隙光検査法は線（複数）に？いての
み適用され、それによって測定される表゛面あらさはそ
の測定できるオーダーを示すに過ぎない。先に挙げた隙
間ゲージを挿入して行う方法は検査しようとする面の周
囲部分でのみ可能であり、このことだけでその適用範囲
は限定、される。終りに挙げた定盤を用いて当りをみる
方法では面の表面あらさが見えるようにはなるが測定さ
れるものではない。 ・ 以上述べたようなこの技術分野の現状における欠点、不
十分さに対処するため、本発明は平面度の検査だけに留
まらず１つの基準面との関係での表面あらさの測定を可
能にするものである。そしてそれは加工物の仕上面の全
体に対して行いつるものである。
ある。すなわち、間隙光検査法は線（複数）に？いての
み適用され、それによって測定される表゛面あらさはそ
の測定できるオーダーを示すに過ぎない。先に挙げた隙
間ゲージを挿入して行う方法は検査しようとする面の周
囲部分でのみ可能であり、このことだけでその適用範囲
は限定、される。終りに挙げた定盤を用いて当りをみる
方法では面の表面あらさが見えるようにはなるが測定さ
れるものではない。 ・ 以上述べたようなこの技術分野の現状における欠点、不
十分さに対処するため、本発明は平面度の検査だけに留
まらず１つの基準面との関係での表面あらさの測定を可
能にするものである。そしてそれは加工物の仕上面の全
体に対して行いつるものである。
本発明では被測定加工物を平らな測定用定盤の上の、望
むらくは３か所に等間隔に配置された支持台の上に載せ
、一方向に長い形の測定装置をその接触子がついた部分
が支持台によって形成される中間空間の中へ入り込むよ
うに測定用定盤の上を動かし、測定装置の上面から突出
している接触子で加工物の面を接触探査する、というこ
とによって上記のことが可能となる。
むらくは３か所に等間隔に配置された支持台の上に載せ
、一方向に長い形の測定装置をその接触子がついた部分
が支持台によって形成される中間空間の中へ入り込むよ
うに測定用定盤の上を動かし、測定装置の上面から突出
している接触子で加工物の面を接触探査する、というこ
とによって上記のことが可能となる。
このような操作方法により、測定用定盤を一定の基準と
しての測定が行われる。あらかじめ加工物をセットする
というような必要はなくなる。この方法を実施するため
の装置は測定用定盤を補助用具として用い、広く加工現
場や、検査場に設置さ□ れる。その取扱いは簡争で確実であり、測定誤差は、伝
達要素の数あ５少いというこきのみによって大巾に減少
する。用いられる伝達レバーを目的に合わせ適当に設計
すればこのような測定装置の測定可能範囲は広範に及ぶ
。
しての測定が行われる。あらかじめ加工物をセットする
というような必要はなくなる。この方法を実施するため
の装置は測定用定盤を補助用具として用い、広く加工現
場や、検査場に設置さ□ れる。その取扱いは簡争で確実であり、測定誤差は、伝
達要素の数あ５少いというこきのみによって大巾に減少
する。用いられる伝達レバーを目的に合わせ適当に設計
すればこのような測定装置の測定可能範囲は広範に及ぶ
。
以下、本発明を、その方法を実施するための装置の図面
を用いて説明する。
を用いて説明する。
第１図に示すように、平面に仕上げられた面２を持つ加
工物１は、その面を下に向け、測定用定盤４の上で加工
物１の形状、大きさに応じほぼ等間隔に配置された、望
むらくは３つの高さの等しい支持台３の上に載せられる
。支持台３はそれによって加工物１と測定用定盤４６間
にできる中２間中間５の高さが、測定装置７の加工物１
の下方に入り込む先端部分の、零点位置での接触子８を
含む全高６に一致するように定められる。
工物１は、その面を下に向け、測定用定盤４の上で加工
物１の形状、大きさに応じほぼ等間隔に配置された、望
むらくは３つの高さの等しい支持台３の上に載せられる
。支持台３はそれによって加工物１と測定用定盤４６間
にできる中２間中間５の高さが、測定装置７の加工物１
の下方に入り込む先端部分の、零点位置での接触子８を
含む全高６に一致するように定められる。
そのあと測定装置７は手によって送入され、加工物の面
２を接触探査することができ、その平面からのずれは正
負両方とも表示器９で読みとられる。
２を接触探査することができ、その平面からのずれは正
負両方とも表示器９で読みとられる。
第２図は測定装置７が零点位置にあると、ころを示す。
測定変位は測定装置７の上面から突出している接触子８
により、支点１１で回転可能に支持されている伝達レバ
ー１０に伝達される。支点１２でもう１つの伝達レバー
１３が回転可能に支、持されており、このものは上記の
第１の伝達レバー１０の旋回運動を表示器９にばねに反
抗して動きうるよう支持されている接触感知棒１４にさ
らに伝える。（ばねは図示していない）各々の伝達レノ
（−１０，１３の有効腕長さは等しい故、接触子８が測
定した変位は直接そのまま表示器９で読みとりうる。表
示器９は、固定用スリーブ１５および第３図で明示され
ている固定ねじ１６によって、その調整の後に固定され
る。
により、支点１１で回転可能に支持されている伝達レバ
ー１０に伝達される。支点１２でもう１つの伝達レバー
１３が回転可能に支、持されており、このものは上記の
第１の伝達レバー１０の旋回運動を表示器９にばねに反
抗して動きうるよう支持されている接触感知棒１４にさ
らに伝える。（ばねは図示していない）各々の伝達レノ
（−１０，１３の有効腕長さは等しい故、接触子８が測
定した変位は直接そのまま表示器９で読みとりうる。表
示器９は、固定用スリーブ１５および第３図で明示され
ている固定ねじ１６によって、その調整の後に固定され
る。
伝達レバー１０．１３の旋回運動、換言すれば接触子８
の上下変位はフレーム７に取付けられたストッパーピン
１８によって制限される。このストッパーピン１８は伝
達レバーＩＯの穴１９に貫入しているがこの穴の直径は
ストッパーピン１８の断面より大きい。それ故、レバー
の腕長さ関係をしかるべく定めて測定変位があらかじめ
決められた値以内に制限されるようにできる。
の上下変位はフレーム７に取付けられたストッパーピン
１８によって制限される。このストッパーピン１８は伝
達レバーＩＯの穴１９に貫入しているがこの穴の直径は
ストッパーピン１８の断面より大きい。それ故、レバー
の腕長さ関係をしかるべく定めて測定変位があらかじめ
決められた値以内に制限されるようにできる。
測定装置の脚２０は、望むらくは３か所とし、その配置
を第３図に示すようにすれば、誤差を避けた測定操作が
保証される。
を第３図に示すようにすれば、誤差を避けた測定操作が
保証される。
第２の伝達レバー１３および接触感細棒１４を覆うよう
にフレーム１７に覗付けられたカバー２１はそれら覆わ
れる部品の汚れを防止する。
にフレーム１７に覗付けられたカバー２１はそれら覆わ
れる部品の汚れを防止する。
第゛３図に示す測定装置７の平面図はその外形および個
々の部品の位置をさらに明らかにするものである。接触
探査により測定された変位を表示器に導く伝達機構の設
計、配置をしかるべく定めることにより、Ｉここに例示
した装置は多様に変形させうるものである。伝達機構は
、場合によっては必ずしも機械的なものとは限らないが
、それを適宜に選定することにより、測定値の表示を、
これに関する技術分野で選択される多様な方法で、例え
ば測定の場所から離れた検査場所でということさえあり
うるが、行うことができるはずである。
々の部品の位置をさらに明らかにするものである。接触
探査により測定された変位を表示器に導く伝達機構の設
計、配置をしかるべく定めることにより、Ｉここに例示
した装置は多様に変形させうるものである。伝達機構は
、場合によっては必ずしも機械的なものとは限らないが
、それを適宜に選定することにより、測定値の表示を、
これに関する技術分野で選択される多様な方法で、例え
ば測定の場所から離れた検査場所でということさえあり
うるが、行うことができるはずである。
第１図は測定を行う際の加エブセおよび測定用装置の配
置を示す図、第２図は測定用装置の断面図、第３図は第
２図に示す装置の平面図７パ看′？ｉｕ９”１：加工物 ２：加工物の面 ３：支持台 ４：測定用定盤 ５：中間空間 ６：全高 ７：測定装置 ８：接触子 ９：表示器 ｌＯ：伝達レバー １１：支点 １２：支点 １３：伝達レバー １４：接触感細棒 １５：固定用スリーブ １６：固定ねじ １７：フレーム １８：ストッパーピン １９：穴 ２０：脚 ２１：カバー
置を示す図、第２図は測定用装置の断面図、第３図は第
２図に示す装置の平面図７パ看′？ｉｕ９”１：加工物 ２：加工物の面 ３：支持台 ４：測定用定盤 ５：中間空間 ６：全高 ７：測定装置 ８：接触子 ９：表示器 ｌＯ：伝達レバー １１：支点 １２：支点 １３：伝達レバー １４：接触感細棒 １５：固定用スリーブ １６：固定ねじ １７：フレーム １８：ストッパーピン １９：穴 ２０：脚 ２１：カバー
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、被測定加工物（１）を平らな測定用定盤（４）上の
、望むらくは３か所に配置された支持台（３）の上に載
せ、一方向に長い形の測定装置（７）を、その接触子（
８）がついた部分が支持台（３）によって形成される中
間空間（５）の中に入り込むように測定用定盤（４）の
上を動かし、測定装置（７）の上面から突出している接
触子（８）で加工物の面（２）を接触探査することを特
徴とする、加工物の面の平面度検査および表面あらさ測
定方法。 ２、中間空間（５）の高さ、すなわち支持台（３）の１
物（１）の下方に入る部分の全体高さく６）に相当する
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の方法。 ３ 望むらくは３個の脚（２０）を備えた一方向に長い
形のフレーム（１７）の中に２個の伝達レバー（１０，
１３）が回転可能に支持されており、その第１の伝達レ
バー（１０）の先端に位置し、フレーム（１７）の上面
から突出した接触子（８）がこれら２つの伝達レバー（
１０，１３）を介して測定変位を表示器（９）の接触検
知棒（１４）に伝えるようになっており、各々の伝達レ
バー（１０゜１３）の有効な腕の長さは相等しい、とい
うことを特徴とする特許請求の範囲第１項の方法を実施
する装置。 ４、第１の伝達レバー（１０）の旋回運動そして接触子
（８）および表示器（９）の測定変位は、フレーム（１
７）に固定されたストッパーピン（１８）が、伝達レバ
ー（１０）に設けられ、直径がこのストッパーピン（１
８）よりも大きい穴（１９）に貫入しているので、その
零点位置から正および負の両方向でこのストッパーピン
（１８）ニＪ：す制限されるということを特徴とする特
許請求の範囲第３項に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE31515827 | 1981-12-28 | ||
| DE19813151582 DE3151582A1 (de) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | "verfahren zur ebenheitspruefung und zum messen der unebenheiten von werkstueckflaechen" |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58115302A true JPS58115302A (ja) | 1983-07-09 |
Family
ID=6149855
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57222188A Pending JPS58115302A (ja) | 1981-12-28 | 1982-12-20 | 加工物の面の平面度検査および表面あらさ測定方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58115302A (ja) |
| CH (1) | CH659319A5 (ja) |
| DE (1) | DE3151582A1 (ja) |
| IT (1) | IT1154646B (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116086287B (zh) * | 2023-02-20 | 2026-01-30 | 宁波市政工程建设集团股份有限公司 | 一种市政工程测绘系统及其测绘方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5337546B2 (ja) * | 1974-08-21 | 1978-10-09 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE425145C (de) * | 1926-02-12 | Duesseldorfer Maschb Akt Ges V | Geraet zum Messen von Eindrucktiefen | |
| FR964293A (ja) * | 1947-04-11 | 1950-08-09 | ||
| US3325904A (en) * | 1963-09-16 | 1967-06-20 | Mycalex Corp Of America | Method and apparatus for assisting in the measurement of surface flatness |
-
1981
- 1981-12-28 DE DE19813151582 patent/DE3151582A1/de active Granted
-
1982
- 1982-12-17 CH CH7386/82A patent/CH659319A5/de not_active IP Right Cessation
- 1982-12-17 IT IT24825/82A patent/IT1154646B/it active
- 1982-12-20 JP JP57222188A patent/JPS58115302A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5337546B2 (ja) * | 1974-08-21 | 1978-10-09 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| IT1154646B (it) | 1987-01-21 |
| IT8224825A1 (it) | 1984-06-17 |
| DE3151582C2 (ja) | 1987-06-19 |
| IT8224825A0 (it) | 1982-12-17 |
| DE3151582A1 (de) | 1983-07-14 |
| CH659319A5 (de) | 1987-01-15 |
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