JPS5811751B2 - ハンドウタイソウチ - Google Patents
ハンドウタイソウチInfo
- Publication number
- JPS5811751B2 JPS5811751B2 JP49132998A JP13299874A JPS5811751B2 JP S5811751 B2 JPS5811751 B2 JP S5811751B2 JP 49132998 A JP49132998 A JP 49132998A JP 13299874 A JP13299874 A JP 13299874A JP S5811751 B2 JPS5811751 B2 JP S5811751B2
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- diffusion region
- region
- drain
- gate voltage
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- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体装置に関し、詳しくは一次元または二次
元の光情報を半導体装置を介して電気信号として得る装
置に関するものである。
元の光情報を半導体装置を介して電気信号として得る装
置に関するものである。
従来光情報を電気信号に変換する装置としてたとえば、
自己走査機能を有したものとしては、光センサーと電荷
転送素子(BBD、CCD)との組合せにより、光情報
を電気信号に変換し読み出す装置がある。
自己走査機能を有したものとしては、光センサーと電荷
転送素子(BBD、CCD)との組合せにより、光情報
を電気信号に変換し読み出す装置がある。
この場合光センサーとしては、たとえばホトダイオード
等がある。
等がある。
又電荷転送素子に直接光を照射し光電変換と読出し機能
を同一素子で行わせる装置があるが、この方式は信号電
荷転送中に常に光があたっているために光学ひずみが大
きく現在ではあまり行われない。
を同一素子で行わせる装置があるが、この方式は信号電
荷転送中に常に光があたっているために光学ひずみが大
きく現在ではあまり行われない。
本発明は前者の装置に関するもので、光センサ一部と電
荷転送部との結合を特別のゲート回路(スイッチ回路)
を付加することなく、転送のためのクロック信号ライン
に制御パルスを印加することにより光センサーの情報を
電荷転送段に読み込み、読出すことを可能とし、センサ
ーの高密度化をはかり、2次元光情報読取装置としての
性能を著しく改善するものである。
荷転送部との結合を特別のゲート回路(スイッチ回路)
を付加することなく、転送のためのクロック信号ライン
に制御パルスを印加することにより光センサーの情報を
電荷転送段に読み込み、読出すことを可能とし、センサ
ーの高密度化をはかり、2次元光情報読取装置としての
性能を著しく改善するものである。
まず、第1図は従来の光センサーを半導体基板上に構成
した場合の平面配置を示すものであり、第2図はその等
何回路である。
した場合の平面配置を示すものであり、第2図はその等
何回路である。
第1図の数字で示される領域1,2,3,4,5,6.
7は第2の等何回路上でそれぞれ10,20,30,4
0゜50.60.70に対応している。
7は第2の等何回路上でそれぞれ10,20,30,4
0゜50.60.70に対応している。
第1図、第2図における端子1,10は、ホトダイオー
ド3゜30を一定電位に設定するための電源端子、2゜
20はそれを制御するゲート端子、4.40はホトダイ
オードの光電変換信号を信号転送用トランジスタTr2
に読込むための制御端子、5.50は転送トランジスタ
のドレイン端子、6.60はソース端子、7.71は転
送のためのクロック信号を印加するゲート端子、Trl
はホトダイオード(資)を一定電位に設定するMOSト
ランジスタ、Tr2は読込みゲート用MOSトランジス
タ、 Tr3.Tr4は転送用トランジスターである。
ド3゜30を一定電位に設定するための電源端子、2゜
20はそれを制御するゲート端子、4.40はホトダイ
オードの光電変換信号を信号転送用トランジスタTr2
に読込むための制御端子、5.50は転送トランジスタ
のドレイン端子、6.60はソース端子、7.71は転
送のためのクロック信号を印加するゲート端子、Trl
はホトダイオード(資)を一定電位に設定するMOSト
ランジスタ、Tr2は読込みゲート用MOSトランジス
タ、 Tr3.Tr4は転送用トランジスターである。
この方式によれば、これを2次元に配列せんとする場合
、ホトセンサ一部を制御するための端子は10,20で
あり読込み制御の端子は40で、合計3個の制御ライン
が、クロックライン70゜80以外に必要となり、この
制御ラインが必要な面積を占有し画素(センサーと転送
段の1組)の高密度化をはかるための障害となっている
。
、ホトセンサ一部を制御するための端子は10,20で
あり読込み制御の端子は40で、合計3個の制御ライン
が、クロックライン70゜80以外に必要となり、この
制御ラインが必要な面積を占有し画素(センサーと転送
段の1組)の高密度化をはかるための障害となっている
。
本発明はかかる制御ラインを全く使わずに同じ機能を2
種のクロックラインのみで行わせ、上記不都合を解決す
る装置を提供するものである。
種のクロックラインのみで行わせ、上記不都合を解決す
る装置を提供するものである。
第3図は本発明による素子を半導体基板上に構成した場
合の配置を第1図と同じ方法で示したものである。
合の配置を第1図と同じ方法で示したものである。
第3図において、13は電荷転送を行わせるためのMO
Sトランジスタのソース拡散領域、14は同トランジス
ターのドレイン拡散領域、15は同トランジスタのゲー
ト電極であり、これと隣接するゲート電極16にクロッ
クパルスを交互罠印加して電荷の転送を行う。
Sトランジスタのソース拡散領域、14は同トランジス
ターのドレイン拡散領域、15は同トランジスタのゲー
ト電極であり、これと隣接するゲート電極16にクロッ
クパルスを交互罠印加して電荷の転送を行う。
17は信号電荷転送のためMOSトランジスタのドレイ
ン領域に隣接して形成された基板と反対導電型を有する
浮遊拡散領域でホトダイオードを形成するものである。
ン領域に隣接して形成された基板と反対導電型を有する
浮遊拡散領域でホトダイオードを形成するものである。
以下この構成を例に本発明の動作原理を説明する。
第4図は第3図に於ける一点鎖線■−■′線の断面を示
すもので、第3図と対応する部分には同一番号を付して
いる。
すもので、第3図と対応する部分には同一番号を付して
いる。
まずゲート電極15のゲート端子Gに+Vパルス電圧を
印加した場合にゲート電極15とn+型ドレイン領域1
4は誘電体酸化膜(図示せず)を介して重なっており容
量性結合しているためにドレイン領域15下には、P型
半導体基板200の中に空乏領域100が第4図aのよ
うに広がる。
印加した場合にゲート電極15とn+型ドレイン領域1
4は誘電体酸化膜(図示せず)を介して重なっており容
量性結合しているためにドレイン領域15下には、P型
半導体基板200の中に空乏領域100が第4図aのよ
うに広がる。
ところが、前述の半導体基板200と名対導電型のn十
型浮遊拡散領域17が隣接して形成されているために、
この間に絶縁破壊が起り(一般にパンチスループレーク
ダウンと呼がれる)、浮遊拡散領域17のエレクトロン
eはより高い電位のドレイン領域14に流れこみ、その
結果すに示すように浮遊拡散領域17の電位は上がった
状態となる。
型浮遊拡散領域17が隣接して形成されているために、
この間に絶縁破壊が起り(一般にパンチスループレーク
ダウンと呼がれる)、浮遊拡散領域17のエレクトロン
eはより高い電位のドレイン領域14に流れこみ、その
結果すに示すように浮遊拡散領域17の電位は上がった
状態となる。
さらに上記パルス電圧が除去されるとcに示す空乏層状
態となる。
態となる。
さらにdで示すように、上記浮遊拡散領域17(ホトダ
イオード)に光が照射されると、上記浮遊拡散領域11
の電位は、pn接合面でのホールとエレクトロンの再結
合の結果基板への一定時間の放電の後に下がる。
イオード)に光が照射されると、上記浮遊拡散領域11
の電位は、pn接合面でのホールとエレクトロンの再結
合の結果基板への一定時間の放電の後に下がる。
この量は光の強さに一般に比例する。
そこで再びゲート端子Gにeのごとく前述したパルス電
圧+Vを印加すると、同aと同様の状態となり再び絶縁
破壊が起り、ホトダイオードからエレクトロンがドレイ
ン領域14に流れこむ。
圧+Vを印加すると、同aと同様の状態となり再び絶縁
破壊が起り、ホトダイオードからエレクトロンがドレイ
ン領域14に流れこむ。
との場合に流れこむエレクトロンの量は一定時間の前記
光照射により放電した電荷の竜に比例している。
光照射により放電した電荷の竜に比例している。
こうしてエレクトロンが流れこんでfのごとく安定状態
となってから、ゲート端子Gからクロックパルスを取り
除くとgのごとく、一定時間の光照射により、光の強さ
に応じた信号がドレイン領域14に読み込まれる。
となってから、ゲート端子Gからクロックパルスを取り
除くとgのごとく、一定時間の光照射により、光の強さ
に応じた信号がドレイン領域14に読み込まれる。
このようにして、ドレイン領域14に読込まれた信号は
通常の電荷転送手段(ここではパケットフリゲート方式
で示した)で順次転送し出力回路を介して読み出すこと
ができる。
通常の電荷転送手段(ここではパケットフリゲート方式
で示した)で順次転送し出力回路を介して読み出すこと
ができる。
以上のように本発明の装置によれば、読込みと同時に光
情報を検出するホトダイオードの電圧設定が行われ、電
荷転送素子のゲートにホトダイオード読み込み制御パル
スを印加するだけで上記読みこみ機能を行わせることが
でき、前述の従来の装置にはみられない合理的な高密度
化に適した光電変換装置を得ることができる。
情報を検出するホトダイオードの電圧設定が行われ、電
荷転送素子のゲートにホトダイオード読み込み制御パル
スを印加するだけで上記読みこみ機能を行わせることが
でき、前述の従来の装置にはみられない合理的な高密度
化に適した光電変換装置を得ることができる。
本発明によれば2次元アレーは上記構造を複数使用する
ことにより容易に実現することができる。
ことにより容易に実現することができる。
第1図は光センサーと電荷転送素子とを組合せた光電変
換素子の半導体基板上での一部の配置構成図、第2図は
第1図の等何回路、第3図は本発明の一実施例の光電変
換素子の半導体基板上での平面配置構成図、第4図は第
3図のIV−IV′線に沿った概略断面図であって、第
4図a〜gはその動作態様を示すものである。 14・・・・・・MOSトランジスタのドレイン領域、
15.16・・・・・・ゲート電極、17・・・・・・
浮遊拡散領域、100・・・・・・空乏領域、200・
・・・・・半導体基板。
換素子の半導体基板上での一部の配置構成図、第2図は
第1図の等何回路、第3図は本発明の一実施例の光電変
換素子の半導体基板上での平面配置構成図、第4図は第
3図のIV−IV′線に沿った概略断面図であって、第
4図a〜gはその動作態様を示すものである。 14・・・・・・MOSトランジスタのドレイン領域、
15.16・・・・・・ゲート電極、17・・・・・・
浮遊拡散領域、100・・・・・・空乏領域、200・
・・・・・半導体基板。
Claims (1)
- 1 一導電型の半導体基板内に形成専れた反対導電型の
ソースおよびドレイン領域とゲート電極とが容量結合さ
れたMOSトランジスタの直列結合よりなる複数の素子
列を配列し、上記ドレイン領域に隣接して上記半導体基
板内に上記ドレイン領域と同一導電型の浮遊拡散領域を
形成し、上記ゲート電極にゲート電圧を印加しそ上船ド
レイン端子と浮遊拡散領域との間に絶縁破壊を起させた
のち、上記ゲート電圧を除去して上記浮遊拡散領域に光
を照射して上記浮遊拡散領域に蓄積された電荷を一定時
間放電させ、再び上記ゲート電圧を印加して上記ドレイ
ン領域から上記浮遊拡散領域に上記放電した電荷に対応
する電荷を供給し、さらに上記ドレイン領域に残された
電荷を上記ゲート電圧により順次転送して光情報を読出
すことを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP49132998A JPS5811751B2 (ja) | 1974-11-18 | 1974-11-18 | ハンドウタイソウチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP49132998A JPS5811751B2 (ja) | 1974-11-18 | 1974-11-18 | ハンドウタイソウチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5158880A JPS5158880A (ja) | 1976-05-22 |
| JPS5811751B2 true JPS5811751B2 (ja) | 1983-03-04 |
Family
ID=15094384
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP49132998A Expired JPS5811751B2 (ja) | 1974-11-18 | 1974-11-18 | ハンドウタイソウチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5811751B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5350990A (en) * | 1976-10-20 | 1978-05-09 | Fujitsu Ltd | Line photo sensor using charge transfer device |
-
1974
- 1974-11-18 JP JP49132998A patent/JPS5811751B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5158880A (ja) | 1976-05-22 |
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